DE3410547A1 - Pruefgeraet zum untersuchen elektrisch leitender pruefteile - Google Patents

Pruefgeraet zum untersuchen elektrisch leitender pruefteile

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DE3410547A1
DE3410547A1 DE19843410547 DE3410547A DE3410547A1 DE 3410547 A1 DE3410547 A1 DE 3410547A1 DE 19843410547 DE19843410547 DE 19843410547 DE 3410547 A DE3410547 A DE 3410547A DE 3410547 A1 DE3410547 A1 DE 3410547A1
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Peter Dipl.-Ing. 7441 Neckartailfingen Neumaier
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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Description

  • Prüfgerät zum Untersuchen elektrisch leitender Prüfteile
  • Die Erfindung betrifft ein Prüfgerät zum Untersuchen elektrisch leitender Prüfteile durch Wirbelströme, mit einer Geberanordnung zum Erregen von Wirbel strömen im Prüfteil und zum Empfangen von Signalen, die aufgrund von Rückwirkung dieser Wirbel ströme entstehen, bestehend aus mindestens einer Erreger- und einer Empfängerwicklung oder aus mindestens einer Erreger- und Empfangerfunktion gleichermaßen ausübenden Erreger/Empfänger-Wicklung sowie aus mindestens einer Wicklung, in der ein vom Erregerwechselstrom in der Phasenlage abweichender Wechselstrom fließt, mit einer Speiseanordnung zum Speisen der Geberanordnung mit einem Erregerwechselstrom einer Frequenz f und mit Mitteln zum Weiterverarbeiten und Auswerten der empfangenen Signale.
  • Ein derartiges Prüfgerät ist bekannt aus US-PS 3 197 693. Es besitzt neben einer Erreger/Empfänger-Spule eine koaxial und koplanar mit der letzteren angeordneten Kompensationsspule. Während die Erreger/Empfänger-Spule in der gewohnten Weise aus einem Leistungsverstärker mit dem Erregerwechselstrom gespeist wird, erhält die Kompensationsspule ihren Erregerstrom aus einem zusätzlichen Leistungsverstarker, der über ein Phasendrehglied von einem den beiden Leistungsverstärkern gemeinsamen Oszillator gesteuert wird.
  • Ein altbekanntes Problem bei der Wirbelstromprüfung besteht darin, daß nicht nur die zu untersuchenden Werkstoffeigenschaften, etwa Unregelmäßigkeiten wie Risse, Einschlüsse, Löcher oder dergleichen eine Signalspannung in einem Geber hervorrufen. Insbesondere bei der Prüfung mit Tastspulgebern bewirkt jede Anderung des Abstandes zwischen Geber und Prüfteil eine Signalspannung, deren Amplitude in der gleichen Größenordnung wie bei den gesuchten Werkstoffeigenschaften liegen kann. Das gleiche gilt für Unebenheiten der Prüfteiloberfläche, wie sie z. B. in der Form von Oszillationsmarken bei stranggegossenen Brammen vorliegen. Man unterdrückt die unerwünschten Störsignale meist in der Weise, daß man nur solche Signalkomponenten auswertet, die auf den Störsignalen senkrecht stehen. Dies ist einfach durchführbar, wenn man am Bildschirm eines Kathodenstrahloszillographen die Bahn verfolgen kann, die die Spitze des Signalspannungsvektors in der komplexen Ebene durchführt, während der Geber sich relativ zum Prüfteil bewegt. Ein auf Abstandsänderungen beruhendes Störsignal läßt sich leicht realisieren, indem man den Geber senkrecht zur Prüfteiloberfläche bewegt. Mit Hilfe eines Phasenschiebers kann man anschließend die Phasenlage des Prüfsignales so verändern, daß die am Bildschirm sichtbare Signalbahn des Störsignales weitgehend in der Horizontalen verläuft. Die gewünschte Störunterdrückung ergibt sich dadurch, daß man in der Folge nur die vertikale Komponente des Prüfsignals auswertet. Obwohl man auf diese Weise in vielen Fällen ausreichende Ergebnisse erzielen kann, stößt man doch auch recht häufig an die Grenzen dieses Verfahrens, nämlich immer dann, wenn entweder die Signalbahn des Störsignals stark gekrümmt ist, oder wenn die Signal bahnen von Stör- und Nutzsignal einen zu kleinen Winkel einschließen, praktisch den gleichen Verlauf nehmen.
  • Geber mit Kompensationsspulen, die in einer abweichenden Phasenlage erregt sind, eignen sich, hier Abhilfe zu schaffen. Durch geeignete Wahl von Phase und Amplitude des Erregerstromes in einer oder mehreren Kompensationsspulen gelingt es, den gekrümmten Verlauf der Signal bahn eines Störsignales zu begradigen oder auch den Winkel zwischen den Signal bahnen von Stör- und Nutzsignal zu vergrößern.
  • Von Nachteil ist jedoch dabei, daß ein Mehraufwand in Kauf genommen werden muß, nämlich ein zusätzlicher Leistungsverstärker und ein Phasenschieber. Ein anderes Problem erwächst daraus, daß die mehrphasige Erregung des Gebers über das Zuleitungskabel des Gebers erfolgen muß. Hier kann es durch gegenseitiges Obersprechen zu unerwünschten störenden Beeinflussungen kommen, zumal dann, wenn ein längeres Zuleitungskabel erforderlich ist. Die Erfindung macht sich daher zur Aufgabe, eine einfache ldöglichkeit zur mehrphasigen Erregung von Wirbelstromgebern zu verwirklichen, bei der die genannten Nachteile entfallen. Die Aufgabe wird gelöst durch ein Prüfgerät der eirigangs beschriebenen Gattung, das gemäß Anspruch 1 gekennzeichnet ist.
  • Nach der erfindungsgemäßen Lösung entfallen Leistungsverstärker und Phasenschieber ganz, ohne daß mehr als ein so einfaches Schaltelement wie ein Kondensator an ihre Stelle treten müßte. Da über das Zuleitungskabel nur eine einphasige Erregung erfolgen muß, brauchen auch keinerlei Maßnahmen gegen ein übersprechen durchgeführt zu werden. Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung ermöglicht auf einfache Weise, daß die Phasenlage des Erregerstromes der Kompensationsspule des Gebers durch ein Gleichstromsignal gesteuert werden kann. Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung macht die selbsttätige Anpassung der Erregung der Kompensationsspule an eine geänderte Frequenz f des Erregerstromes möglich. Eine andere Ausgestaltung bewirkt die selbsttätige Anpassung der Erregung der Kompensationsspule an abweichende Grundabstände zwischen Geber und Prüfteiloberfläche. Noch weitere Ausgestaltunyen der Erfindung sind in den Unteransprüchen enthalten.
  • Im folgenden soll die Erfindung anhand von Figuren und durch Anwendungsbeispiele ausführlich beschrieben werden.
  • Es zeigen im einzelnen: Figur 1 eine Geberanordnung Figur 2 Signalverläufe, graphisch dargestellt Figur 3 ein erfindungsgemäßes Prüfgerät Figur 4 ein solches mit steuerbarer Kapazität Figur 5 ein solches mit Steuerung nach der Frequenz Figur 6 ein solches mit Steuerung nach dem Abstand In Figur 1 ist in schematischer Darstellung eine Geberanordnung 10 über der Ober fläche eines Prüfteils 12, z. B. einer Bramme, wiedergegeben. Mit Hiife der Gebe anordnung, die zu diesem Zweck in einem mittleren Abstand s über die Oberfläche der Bramme geführt wird, sollen Fehler in der letzteren wie etwa ein Riss 14 ermittelt werden. Die Geberanordnung besitzt eine Erregerspule 16, die mit einem VJechselstrom 1E der Frequenz f erregt wird, und eine zur Erregerspule 16 koaxiale Empfängerspule 18, an deren Anschlüssen die Signal spannung US abgenommen wird. Zur Geberanordnung 10 gehört ferner eine Kompensationsspule 20, die ebenfalls koaxial zur Erregerspule 16 und koplanar mit ihr angeordnet ist, jedoch einen grc.ßeren Durchmesser aufweist.
  • In Figur 2 sind die Kurven dargestellt, auf denen sich die Spitzen der Vektoren der Signalspannung U5 bewegen, wenn die Geberanordnung 10 über die Oberfläche der Bramme 12 geführt wird. Dabei sollen zunächst die Anschlüsse der Kompensationsspule 20 offen sein, sodaß in ihr kein Strom fließen kann. Kurve 22 nach Figur 2 a beschreibt den Verlauf der Signalbahn beim Oberlaufen des Risses 14 mit einer Tiefe von 1 mm. Kurve 24 zeigt den Verlauf der Signalbahn beim Oberlaufen einer Oszillationsmarke 26, einer flachen Oberflächenunebenheit, die im Verlauf des Produktionsprozesses der Bramme aufgrund der Oberfiachenoszillation während des Erstarrens des Gießstranges entstanden ist. Die vorliegende Oszillationsmarke 26 soll ebenfalls eine Tiefe von etwa 1 mm aufweisen. Wegen der stark gekrümmten Bereiche 28 der Kurve 24 lassen sich die ihr zugrunde liegenden Störsignale nicht in der gewohnten Weise unterdrücken. Auch wenn in der bekannten Weise nur die y-Koniponente der Signale ausgewertet wird, erreicht die Störsignalkomponente noch etwa die Hälfte der Nutzsignalkomponente. Läßt man in der Konipensationsspule 20 einen vom Erregerwechselstrom IE in der Phasenlage abweichenden Wechselstrom 1K fließen, so kann man damit den Verlauf der Signalbahnen von Stör- und Nutzsignal in unterschiedlicher Weise beeinflussen. Im vorliegenden Beispiel wurden durch eine entsprechende Bemessung von Amplitude und Phase des Kompensationsstromes IK' wie in Verbindung mit Figur 3 noch näher erläutert wird, Verläufe gemäß Figur 2 b erzielt. Dabei gibt Kurve 30 den beim Oberlaufen des Risses 14, Kurve 32 den beim Oberlaufen der Oszillationsmarke 26 entstehenden Verlauf wieder. Wie ohne weiteres erkennbar, läßt sich jetzt das sich entlang Kurve 32 bewegende Störsignal fast vollständig unterdrticken, indem man nur die y-Komponente der Signalspannung auswertet.
  • Figur 3 zeigt, auf welche verblüffend einfache Weise die Kompensation gemä,3 Figur 2 b zustande gebracht wird. Erregerspule 16 der Geberanordnung 10 wird auf herkömmliche Art von einem Leistungsverstärker 34 gespeist, der von einer Wechselspannungsquelle 36 ausgesteuert wird. In bekannter Art wird auch die Signalspannung US in einer Signalverarbeitungseinheit 38 aufbereitet und in einer Auswerteeinheit 40 ausgewertet. Eine in der Signalverarbeitungseinheit 38 enthaltene phasenselektive Gleichrichtung erhält ihr Referenzsignal über eine Steuerleitung 37. Die genannten Baugruppen 34 - 40 sind in einen Steuergerät 42 zusammengefaßt. Den Kompensationswechselstrom 1K in der geeigneten Phasenlage erhält zu t man durch Induktion des Erreyerwechselstromes IE, indem man die Anschlußklemmen der Kompensationsspule 20 mit einem entsprechend dimensionierten Kondensator 44 der Kapazität CK beschaltet. Dieser ist unmittelbar in der Geberanordnung 10 angebracht, so daß der Kompensationswechselstrom 1K das Zuleitungskabel 46 zwischen Geberanordnung 10 und Steuergerät 42 nicht zu benutzen braucht. Auf diese Weise wird auch vermieden, daß die Kabel kapazität sich zur Kapazität CK addiert und die Phasenlage des Kompensationswechselstromes 1K beeinflußt.
  • Wie im folgenden noch deutlich gemacht wird, gibt es Fälle, wo es wünschenswert erscheint, den Kompensationswechselstrom IE in seiner Phasenlage veränderlich zu haben, um diese verschiedenen Gegebenheiten anpassen zu können. Im einfachsten Fall kann diesem Wunsch mit einem Prüfgerät gemäß Figur 4 Rechnung getragen werden. Die Geberanordnung 50 stimmt weitgehend mit der Anordnung 10 überein, so daß insoweit die gleichen Bezugszahlen benutzt werden können und eine Beschreibung eingespart werden kann. Statt des Kondensators 44 schließt ein Paar von gegeneinander geschaltetet Kapazitätsdioden 52 die Kompensationswicklung 20 ab. Die letztere liegt mit einem Anschluß an Masse, so daß die Kapazität CK der Kapazitätsdioden 52 durch eine an deren Verbindungsstelle 54 gelegte Gleichspannung Ust gesteuert;werden kann. Auch hcim-Steuergerät 56 sind die Baugruppen, die mit denen des Steuergerätes.42 übereinstimmen, mit den gleichen Bezugszahlen bezeichnet, so daß eine entsprechende Beschreibung entfallen kann. Neu hinzugekommen ist beim Steuergerät 56 eine- Steuereinheit -58, in der die jeweils benötigte Steuerspannung Ust.eingestellt werden kann. Das Verbindungskabel 60 zwischen Geberanordnung 50 und Steuergerät 56 enthält eine tuzusätzliche Gleichstroinleitung.
  • Gelegentlich kann es vorkommen, daß die gewünschte Wirkung sich mit nur einer Kompensationsspule nicht erreichen läßt. In solchen Fällen kommt man jedoch gewöhnlich mit einer oder mehreren zusätzlichen Kompensationsspulen zum Ziel.
  • Bei den bisher behandelten Geberanordnunyen handelte es sich ausschließlich um Absolutwertgeber. Das bei diesen auftretende Problem der stark gekrümmten Störsignalverläufe läßt sich wie gezeigt mit Hilfe der mchrphasiycn Erregung zufriedenstellend lösen. Bei Geberanordnungen mit Differenzwertbfldung tritt ein anderes Problem in den Vordergrund. Oft verläuft hier zwar die Bahn eines Störsignales innerhalb gewisser Grenzen linear, jedoch erweist sich derWinkel zwischen den Verläufen von Störsignal und Nutzsignal als nicht ausreichend groß, um gute Trennung zwischen Nutz- und Störsignalen zu gewährleisten. An zwei in Differenz geschalteten, der Prüfteiloberfläche in gleichem Abstand gegenüberstehende, im wesentlichen gleich aufgebauten Spulen ergibt sich beim gleichförmigen Abheben von der Prüfteiloberfläche ein Störsignal, datum Größenordnunyen unter dei eines in gleicher Weise abgehobenen Absolutwertgebers liegt.
  • Abstandsgradienten, die beim überlaufen von flachen Oberflächenunebenheiten auftreten, etwa den zuvor genannten Oszillationsmarken, wer.den von Differenzspulenanordnungen nur ungenügend unterdrückt. Leider fallen die sich bei ihnen ergebenden Störsignale fast in die gleiche Richtung wie die Nutzsignale. Erfreulicherweise lassen sich auch hier gute Ergebnisse mit der mehrphasigen Erregung erzielen. Es gelingt nämlich bei optimaler Dimensionierung der Kapazität CK an den Klemmen der Koinpensationsspule 20, zwischen den Verläufen von Stör-und Nutzsignalen hinreichende Winkel abstände herzustellen, die eine gute Trennung von Stör- und Nutzsignalen in einer nachfolgenden Komponentenauswertung möglich nachen. Allerdings trifft dies nur für jeweils eine bestimmte Prüffrequenz zu. Kommen in ciiicn Prüfgerät verschiedene Prüffrequenzen zum Einsatz, etwa weil verschiedene Fehlerspezifikationen vorliegen, so wird für jede Prüffrequenz eine andere Kapazität CK erforderlich.
  • Figur 5 zeigt, wie ein für diesen Fall geeignetes Prüfgerät aussieht. In der Geberanordnung 62 sind zwei elektrisch gegeneinander geschaltete Differenzspulen 64 mit der Erregerspule 16 und der Kompensationsspule 20 gekoppelt.
  • Die Erregerspule 16 wird von einem Leistungsverstärker 34 gespeist, der von einer Wechselspannungsquelle 36 ausgesteuert wird. An den Klemmen der Kompensationsspule 20 liegt wie weiter oben im Zusammenhang mit Figur 4 beschrieben ein Paar von Kapazitätsdioden 52. Von der Frequenz f der Wechselspannungsquelle 36 wird in einer Stelleinheit 66 ein Signal abqclcitet, das zum Einstellen der Steuerspannung U5T auf den erforderlichen Wert dient. Die Ablcitung dieses Signales erfolgt in der Weise, daß sich stets ein optimaler Winkel zwischen den Verläufen von Stör- und Nutzsignal ergibt. Die Signale aus de Diff(?renzspulen 64 werden in einer Signalverarbeitungseinheit 68 aufbereitet und in einer Auswertet einheit 70 ausgewertet. Eine in der Signalverarbeitungseinheit 68 enthaltene phasenselektive Gleichrichtung erhält über eine Steuerleitung 37 das notwendige Referenzsignal. Statt in Differenz können die beiden Spulen 64 auch mit Bauelementen innerhalb der Signalverarbeitungseinheit 68 zu einer Brücke geschaltet sein.
  • In diesem-Fall entfollt die Erregerspule 16 und der Leistungsverstärker 34 speist statt der Erregerspule 16 die Brückenschaltung in der Signalverarbeitungseinheit 68.
  • Eine weitere Problematik kann sich daraus ergeben, daß der für einen optimalen Winkel zwischen den Verläufen von Stör- und Nutzsignal erforderliche Wert der Kapazität CK streng nur für einen bestimmten Grundabstand s zwischen Prüfteiloberfläche und Geberanordnung gilt. Ändert sich s in sl, so ändert sich auch der genannte Winkel oder anders gesagt, so ändert sich auch der erforderliche Wert CK für einen optimalen Winkel zwischen den Verläufen von Stör- und Nutzsignal. Steuert man CK soweit nach, daß sich für den geänderten Abstand sl wieder der gewünschte optimale Winkel einstellt, so hat sich auch die Grundphasenlage der Signal spannung geändert, d. h. die Phasenlage der Signal spannung gegenüber dern Erregersignal.
  • Ein Prüfgerät, bei dem diese Zusammenhänge berücksichtigt sind, ist in Figur 6 tiargestellt. Geberanordnung 72 entspricht weitgehend der Anordnung 62 nach Figur 5. Sie enthält lediglich zusätzlich einen Abstandsgeber 74, der in Verbindung mit einer Meßeinheit 76 ein dem Abstand s proportionales Signal UA erzeugt.
  • Die Fierstellung des Erregerstromes IE zum Speisen der Erregerspule 16 erfolgt wie oben angegeben mit Hilfe einer Wechselspannungsquelle 36 und einem Leistungsverstärker 34. Die Prüfsignale aus den Differenzspulen 64 werden in einer Signalverarbeitungseinheit 68 aufbereitet. Eine in der letzteren enthaltene phasensel ekti ve Gleichrichtung erhält ihre Referenzspannung über eine Leitung 37 von der Wechselspannungsquelle 36. In einer Stelleinheit 78 wird in Abhängigkeit von Abstandssignal UA eine Steuerspannung Ust erzeugt, die innerhalb des interessierenden Abstandsbereiches die Kapazität CK der Kapazitätsdioden 52 so verändert, daß stets der optimale Winkel zwischen den Verläufen von Stör-und Nutzspannung erhalten bleibt. Eine weitere Stelleinheit 80 erzeugt in Abhallgigkeit von Abstandssignal UA Steuersignale, die mit Hilfe eines Phasenstellyliedes 82 und eines Alllplitudenstellgliedes 84 die Grundphasenlage und die Amplitude der aufbereiteten Signalspannung aus Signalverarbeitungseinheit 68 unabhängig vom jeweiligen Abstand s auf einem konstanten Wert halten. Hierfür können u. a. digitale Schaltmittel verwendet werden, wie sie in der deutschen Patentanmeldung P 3313820.6 beschrieben sind. Für die Auswertung der Signalspannung wird eine Auswerteeinheit 86 benutzt.

Claims (6)

  1. Prüfgerät zum Untersuchen elektrisch leitender Prüfteile Patentansprüche: o;s Prüfgerat zum Untersuchen elektrisch leitender Prüfteile durch Wirbelströme, mit einer Geberanordnung zum Erregen von Wirbelströmen im Prüfteil und zum Empfangen von Signalen, die aufgrund von Rückwirkungen dieser Wirbelströme entstehen, bestehend aus mindestens einer Erreger- und einer Empfängerwicklung oder .ausjnindestens einer Erreger- und Empfängerfunktion gleichermaßen ausübenden Erreger/Empfänger-llicklung sowie aus mindestens einer Wicklung, in der ein vom Erregerwechselstrom in der Phasenlage abweichender Wechselstrom fließt, mit einer Speiseanordnung zum Speisen der Geberanordnung mit einem Erregerwechselstrom einer Frequenz f und mit Mitteln zum Weiterverarbeiten und Auswerten der empfangenen Signale, dadurch gekennzeichnet, daß der in einer Wicklung (20) fließende, vom Erregerwechselstrom in der Phasenlage abweichende Wechselstrom erzielt wird, indem die Wicklung (20) durch unmittelbar in der Geberanordnung (10) angebrachte Schaltelemente (44; 52) mit einem bestimmten Scheinwiderstand abgeschlossen ist.
  2. 2) Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltelemente (44; 52) im wesentlichen einen kapazitiven Scheinwiderstand aufweisen.
  3. 3) Prüfgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei den Schaltelementen (52) um solche mit steuerbarem Scheinwiderstand, z. B. um Kapazitätsdioden, handelt und daß zusätzliche Mittel (58) zum Steuern der Kapazität der Schaltelemente vorgesehen sind.
  4. 4) Prüfgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzliche Mittel (66) zum Ableiten eines Steuersignales in Abhängigkeit von der Frequenz f des Wechsel stromes der Speiseanordnung (34, 36) vorgesehen sind und daß die Schaltelemente (52) mit diesem Steuersignal gesteuert werden.
  5. 5) Prüfgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzliche Mittel zum Ableiten eines Steuersignales in Abhängigkeit vom Abstand der Geberanordnung (74, 76, 78) von der Oberfläche des Prüfteiles vorgesehen sind und daß die Schaltelemente (52) mit diesem Signal gesteuert werden.
  6. 6) Prüfgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Wicklung (20), in der ein gegenüber dem Erregerwechset strom in der Phasenlage abweichender Wechselstrom fließt, gegenüber Erreger- (16) und/oder Empfängerspule (18, 64) eine abweichende Geometrie, t. B. einen anderen Durchmesser oder einen anderen Abstand zum Prüfteil aufweist.
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