DE3339006A1 - Schlitzmechanismus zur verwendung in einem monochromator - Google Patents
Schlitzmechanismus zur verwendung in einem monochromatorInfo
- Publication number
- DE3339006A1 DE3339006A1 DE19833339006 DE3339006A DE3339006A1 DE 3339006 A1 DE3339006 A1 DE 3339006A1 DE 19833339006 DE19833339006 DE 19833339006 DE 3339006 A DE3339006 A DE 3339006A DE 3339006 A1 DE3339006 A1 DE 3339006A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- slot
- pair
- slots
- pairs
- dipl
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003292 diminished effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/04—Slit arrangements slit adjustment
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
Π /% ···· O "-*.." '..·'..* Dipl.-Ing. H.Tiedtke Γ
KLLMANN - VaRAMS " OTRUIF Dipl.-Chem. G. Bühling
O ο O Q η η c Dipl.-Ing. R. Kinne
G003UUD Dipl.-Ing. R Grupe
" " "* Dipl.-Ing. B. Pellmann
Dipl.-Ing. K. Grams Dipl.-Chem. Dr. B. Struif
Bavariaring 4, Postfach 20 2403 8000 München 2
Tel.:089-539653 Telex: 5-24845 tipat Telecopier: 0 89-537377
cable: Germaniapatent München
27. Oktober 1983 DE 3406 / case Shimadzu-70
Shimadzu Corporation
Kyoto, Japan
Kyoto, Japan
Die Erfindung bezieht sich auf einen Schlitzmechanismus zur
Verwendung in einem Monochromator, bei dem die Schlitzbreite verändert wird, indem wahlweise ein Schlitz aus einer Vielzahl
von Schlitzen verwendet wird, von denen jeder seine eigene festgesetzte Breite hat.
Bei einem bekannten Schlitzmechanismus, bei dem viele
Schlitze mit einer festen Breite zur wahlweisen Verwendung ausgetauscht werden, haben alle Schlitze die
gleiche Höhe, die in Abhängikeit der Höhe des Schlitzes mit der kleinsten Breite festgesetzt ist. Diese Festsetzung hat
jedoch keine zu begründende theoretische Grundlage. Um ein ausreichendes Auflösungsvermögen der Wellenlänge zu erhalten,
wird ein Schlitz mit enger Breite verwendet. Falls ein Schlitz eine zu große Höhe hat, verringert die Krümmung des
Spektralbildes des Schlitzes entlang seiner Höhe während der Messung die Monochromasie des Ausgangslichts. Deshalb
wird die Höhe des Schlitzes in Hinsicht darauf bestimmt, eine erforderliche Wellenlängenauflosung zu erhalten. Zum
F/24
- 5 - DE 3406
Erreichen einer hohen Intensität wird ein Schlitz mit
großer Breite ausgewählt. In diesem Fall wird jedoch das Auflösungsvermögen durch eine Vergrößerung der Schlitzbreite
vermindert, und es .."]ibt keinen Gestaltungsfaktor, mit
dem die Höhe eines jeden Schlitzes bestimmt wäre, so daß die Höhe sämtlicher Schlitze einfach so festgesetzt ist, daß
sie mit derjenigen des Schlitzes kleinster Breite übereinstimmt
.
Die Intensität des Ausgangs 1ichts, das aus einem Monochrommator
austritt, ist proportional zum Quadrat der Breite des Austrittsschlitzes. Falls insbesondere der Eintritts- und
Austrittsschlitz eine Höhe h und eine Breite w hat, ist die Intensität des aus dem Austrittsschlitz kommenden Lichts
durch Khw gegeben,wobei K eine Konntante ist. Falls deshalb
die Breite des Schlitzes bei unveränderter Höhe verdoppelt wird, wird die Intensität des Ausgangslichts vervierfacht,
und falls die Höhe des Schlitzes mit der doppelten Breite halbiert wird, verringert sich die Intensität
des Lichts aus dem Schlitz um die Hälfte, d. h. , wird auf das zweifache der ursprünglichen Intensität verringert.
Andererseits streut die Oberfläche eines Beugungsgitters
das darauf auftreffende Licht beträchtlich, und ein Teil des gestreuten Lichts erreicht den Austrittsschlitz als
Streulicht, das die Spektralmessung stört. Bei einem Monochromator verursacht das von verschiedenen anderen optischen
Elementen^wie z. B. Kollimationsspiegel und die innere
Wandlungsfläche des Gehäuses,gestreute Licht zusätzlich
ow: zum oben erwähnten vom Beugungsgitter gestreuten Licht
Streulicht. Die Menge des Streulichts ist proportional sowohl zur Menge des auf das Beugungsgitter und andere Elemente
aufgetroffenen Lichts als auch zur Fläche des Austrittsschlitzes, d. h., zum Quadrat der Schlitzbreite w und zum
qc 2 2
Quadrat der Schlitzhöhe h und ist gegeben durch K'h w , wo-
- 6 - DE 3406
bei K1 einf} Konstante ist. Deshalb ergibt sich für das Verhältnis
der Intensität des Streulichts zu der des austretenden
Lichts, d. h. für das Streulicht maß P: P = K·h2w2/Khw2
=rK'/K)h.
Falls die Schiitzbreite verdoppelt wird, werden sowohl die
Intensität des erhaltenen Spektrums als auch die Intensität den Streulichts vervierfacht, d. h. viermal die mit der ursprünglichen
Schlitzbreite erhaltene Intensität, so daß das
IQ Streulichtmaß P unverändert bleibt. Falls jedoch die Höhe
beider Schlitze halbiert wird, wird die Intensität des Spektrums halbiert bzw. wird zum zweifachen der mit der ursprünglichen
Schlitzhöhe erhaltenen Intensität, da 4 χ 1/2=2, während die Intensität des Streulichts auf 1/4 reduziert
wird oder gleich der mit der ursprünglichen Schlitzhöhe erhaltenen
Intensität wird, da 4 χ (1 / 2) = 1, so daß das
Streulichtmaß P auf die Hälfte des Maßes bei der ursprünglichen
Schlitzhöhe reduziert ist.
Bei herkömmlichen Monochromatoren, bei denen die Schlitzbreite
variabel ist, wurde das Streulicht nicht in Betracht gezogen und die Schlitzhöhe unverändert beibehalten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Schlitzmechanismus
für einen Monochromator zu schaffen, durch den die oben erwähnten Nachteile vermieden sind.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch Merkmale im kennzeichnenden
Teil des Patentanspruchs 1 gelöst.
Hierbei sieht die Erfindung ausgehend von dem Prinzip, daß
das Streulichtmaß proportional zur Höhe des Schlitzes ist,
einen Schlitzmechanismus zur Verwendung in einem Monochrommator
vor, bei dem sowohl die Höhe als auch die Breite des Schlitzes verändert werden kann. Der Schlitzmechanismus um-
- 7 - DE 3 40 6
faßt eine Vielzahl von Schiitzpaaren, die in einer Schlitzscheibe
aus festem, lichundurchlässigem Werkstoff, die um eine Achse drehbar ist, gebildet sind. Dip bei dpη Schi it ^o
jeden Paares haben die gleiche Breite und die gleiche Hohe,
und jedes Schlitzpaar unterscheidet, sich in der Breite von den anderen Schlitzpaaren. Der Schlitzmechanismus umfaßt
ferner wenigstens ein zusätzliches Schlitzpaar :nit der
gleichen Breite, jedoch einer anderen Höhe wie ein bestimmtes Schlitzpaar aus der Vielzahl der Schlitzpaare.
10
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung sind
alle Schlitzpaare auf der Scheibe am Umfang eines zur Drehachse der Scheibe konzentrischen Kreises so angeordnet, daß
sich die Schlitze eines jeden Paares diametral auf dem ^ Kreis gegenüber liegen und hierdurch als ein Eintritts- bzw.
Austrittsschlitz für den Monochromator dienen.
Bei einem weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung
sind die Schlitze auf der Scheibe am Umfang zweier
Kreise mit verschiedenen Durchmessern angeordnet, die konzentrisch
zueinander und zur Drehachse der Schlitzscheibe
sind, so daß ein Schlitz eines jeden Paares auf dem einen konzentrischen Kreis liegt, während der andere Schlitz
dieses Paares auf dem anderen Kreis diametral gegenüber dem einem Schlitz liegt.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend anhand
schematischer Zeichnungen ausführlich erläutert. Es
zeigen:
30
30
Fig. 1 eine Ausführungsform einer Schlitzscheibe in Vorderansicht
zusammen mit einer schematischen perspektivischen Ansicht eines Beugungsgitter,
Fig. 2 eine Fig. 1 ähnliche Ansicht, die eine weitere Aun-
- 8 - . DE 3406 f iihrungif orm der Schi i tzscheibe darstellt, und
Fig. 3 eine Draufsicht auf einen Monochromator, der die
Schlitzscheibe gemäß den Fig. 1 oder 2 verwendet.
fiq. 1 zeigt eine Schlitzscheibe D aus festem, lichtundurchlänsigem
Material, die um eine Achse 0 drehbar ist. Mehrere Schlitzpaare 1, I1; 2, 2(; 3, 31; 4, 41; 5, 5f; 5a, 5a'; 6,
6'; 6a, 6a1 sind in der Scheibe ausgebildet und entlang
IQ eines zur Achse 0 konzentrischen Kreises auf der Scheibe
unter einem geeigneten Winkelabstand voneinander entfernt. Beide Schlitze eines jeden Paares, die auf diametral gegenüberliegenden
Seiten des Kreises liegen, haben die gleiche Breite und die gleiche Höhe. Ein Schlitz eines jeden
Schlitzpaares ist ein Eintrittsschlitz, während der andere
ein Austrittsschlitz ist.
In Fig. 1 nehmen die Schlitze 3 und 3' eine Betriebsstellung ein, wobei ein Lichtstrahl L aus einer Quelle (nicht gezeigt)
durch den Eintrittsschlitz 3 hindurch auf ein Gitter
G auftrifft und dadurch in verschiedene Wellenlängen gestreut
wird, von denen eine ausgewählte durch den Austrittsschlitz 3' hindurch geht. Wie leicht ersichtlich ist, kann
jedes gewünschte Schlitzpaar in die Betriebsposition gebracht
werden, in dem die Schlitzscheibe D um einen entsprechenden
Winkel gedreht wird.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel haben die Schlitze
und 1' die engste Breite, die einer spektralen Bandbreite von 0,2nm entspricht; die Schlitze 2 und 2' haben die zweitengste
Breite entsprechend einer spektralen Bandbreite von 0,5nm; die Schlitze mit größer werdenden Bezugszeichen
haben eine größer werdende Breite, die in dieser Reihenfolge
einer spektralen Bandbreite von 1, 2, 3 bzw. 5nm entspricht.
- 9 - DF *406
Es gibt zwei Schlitzpaare 6, 6' und 6n, 6a1, die die gl eic ti e
größte Breite von 5nm haben. Die Schlitze 6 ur.-i 6' haben
Standardhöhe, während die Schlitze 6a und 6a1 halbe Standardhöhe
haben. Ähnlich haben die Schlitze 5 und 5' die zweitgrößte
Breite von 3nm und die Standardhöhe, während die Schlitze 5a und 5a' ebenfalls die zweitgrößte Breite 3nm und
die halbe Standardhöhe haben. Hierbei ist die Standardhöhe diejenige Höhe, die die Schlitze mit Breiten von 0,2; 0,5;
1 bzw. 2nm aufweisen.
Fig. 2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel drr Erfindung,
bei demeine Schlitzscheibe D mit einer Vielzahl von Schlitzen
1, I1, la, la1, 2, 2\ 2a, 2a1, 3, 3', ,η, η1, η , η
a a
versehen ist, die entlang zweier zueinander und zur Achse 0
der Schlitzscheibe D konzentrischer Kreise unterschiedlichen
Durchmessers angeordnet sind. Wenn die 5chlitze 1, la, 2, 2a,
3, 3a,...., η, η auf dem äußeren Kreis als Eintrittsschlitz
in Betrieb sind, arbeiten die Schlitze 1', la1, 2', 2a1, 3',
....η', η , auf dem inneren Kreis als Austrittsschlitze. Da?:
heißt, jeder der Schlitze auf einem der Kreise ist mit demjenigen
der Schlitze auf dem anderen Kreis gepaart, der die gleiche Breite und die gleiche Höhe hat, wobei sich diese
beiden Schlitze diametrisch gegenüberliegen.
Beim Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 2 gibt es acht verschiedene Schlitzbreiten, d.h. 0,1; 0,2; 0,3; 1; 2; 3; A und
5nm, und es sind zwei verschiedene Schlitzhöhen vorhanden, -wobei die kleinere Höhe 1/3 der größeren Höhe ist.
Wie bekannt ist, ermöglicht im allgemeinen bei der Absorbtions-Sepktralphotometrie
-Analyse, die ein Spektralphotometer
verwendet, eine Schlitzbreite, die kleiner als 1/10 der halben Bandbreite einer Absorbtionsspektrumspitze ist, eine
Messung mit einem ausreichend hohen Maße an Zuverlässigkeit.
Bei Absorbtionsspektren im sichtbaren und ultravioletten
- 10 - DE 3406
Bereich liegt die halbe Bandbreite zwischen 20 und 50nm, so daß die Messung gewöhnlich mit einer Schlitzbreite von 2 bis
5nm ausgeführt wird.
Die Schlitzscheibe gemäß Fig. 1 ist mit zwei Schlitzpaaren
von 5nm Breite mit einer größeren und kleineren Höhe versehen. Wie zuvor erwähnt^wird, falls die Höhe eines Schlitzes
auf die halbe Standardhöhe reduziert ist,das Streulichtmaß
auf die Hälfte dessen verringert, das von einem Schlitz mit der Standardhöhe x&sultiert, so daß die Beziehung
zwischen der Konzentration und der Absorbtion eines Musters im wesentlichen linear gehalten werden kann, bis eine hohe
Absorbtion erreicht ist.
Fig. 3 zeigt schematisch einen Monochromator MC, der mit einem erfindungsgemäßen Schlitzmechanismus versehen ist. Der
Monochromator umfaßt ein Gehäuse H, das in einer Endwandung W ein Paar von Öffnungen H, und H ? hat. Eine fest auf einer ,
Welle SF angebrachte Schlitzscheibe D ist neben der inneren
Fläche der Endwandung W angeordnet, so daß das Licht L aus piner Lichtquelle (nicht gezeigt) durch die Öffnung H. in
das Gehäuse eintritt und durch einen der Schlitze in der
Schlitzscheibe hindurchgeht Der durch den Schlitz hindurchgehende
Lichtstrahl wird an einem Spiegel M-, der nahe der gegenüberliegenden Endwandung des Gehäuses angeordnet ist,
reflektiert und trifft auf ein Beugungsgitter G auf.
Das Beugungsgitter streut das Licht in verschiedene Wellenlängen,
die durch einen weiteren Spiegel M„ reflektiert werden, der nahe der gegenüberliegenden Endwandung des Gehäuses
so angeordnet ist, daß der reflektierte Lichtstrahl die Schlitzscheibe D erreicht, woraufhin das monochromatische
Licht L1 einer ausgewählten Wellenlänge durch denjenigen entsprechenden
der Schlitze in der Schlitzscheibe geht, der
mit dem zuvor erwähnten Schlitz gepaart ist, durch den das
- 11 - DF 3406
lLicht L in den Monochromη tor eingetreten ist; anschließend
tritt das monochroma1ι sehe Lieh
Gehäuse des Monochromators aus.
Gehäuse des Monochromators aus.
tritt das monochromatische Licht durch die anctereÖ f f nung H_ im
Die Welle SF der Schlitzscheibe D wird durch einen Impulsmotor
M gedreh** , dessen Drehung von einer Steuereinrichtung
TL gesteuert wird, wodurch ein ausgewähltes Schlitzpaar in
den optischen Weg des Monochromators gebracht wird.
fit dem erfindungsgemäßen Schlitzmechanismus ist es möglich,
nicht nur die Breite,sondern auch die Höhe des Schlitzes zu
verändern und wahlweise zwei Arten von Messungen auszuführen: Eine mit einer erhöhten Ausgangslichtintensität und einem
hohen Maß an _mpfindlichkeit, und eine andere mit einem verringerten
Streulichtmaß und einem hohen optischen Signal-Störspannungsverhältnis.
Offenbart ist ein Schlitzmechanismus zur Verwendung in einem Monochromator, der in der Lage ist, nicht nur die Schlitzbreite,
sondern auch die Schlitzhöhe zu verändern. Der Schlitz·
20
w mechanismus ist mit einer Vielzahl von Schlitzpaaren in einer um eine Achse drehbaren Scheibe versehen. Beide Schlitze eines jeden Paars haben die gleiche Breite und die gleiche Höhe, und jedes Schlitzpaar hat bezüglich der anderen Paare eine unterschiedliche Breite. Der Schlitzmechanismus ist ferner wenigstens mit einem zusätzlichen Schlitzpaar versehen, das die gleiche Breite, jedoch eine unterschiedliche Höhe wie ein bestimmtes Paar aus der Vielzahl von Schlitzpaaren hat. Alle Schlitzpaare sind am Umfang eines zur Drehachse der Scheibe konzentrischen Kreises auf der Scheibe angeordnet, so
w mechanismus ist mit einer Vielzahl von Schlitzpaaren in einer um eine Achse drehbaren Scheibe versehen. Beide Schlitze eines jeden Paars haben die gleiche Breite und die gleiche Höhe, und jedes Schlitzpaar hat bezüglich der anderen Paare eine unterschiedliche Breite. Der Schlitzmechanismus ist ferner wenigstens mit einem zusätzlichen Schlitzpaar versehen, das die gleiche Breite, jedoch eine unterschiedliche Höhe wie ein bestimmtes Paar aus der Vielzahl von Schlitzpaaren hat. Alle Schlitzpaare sind am Umfang eines zur Drehachse der Scheibe konzentrischen Kreises auf der Scheibe angeordnet, so
daß sich die Schlitze eines Paars diametral auf dem Kreis gegenüberliegen und dadurch als Eintritts- bzw. Austrittsschlitz für den Monochromator dienen. Die Schlitze können
auch auf einer Scheibe am Umfang zweier Kreise verschiedenen Durchmessers angeordnet sein, die konzentrisch zueinander
und zur Drehachse der Scheibe sind, so daß ein Schlitz jedes
- 12 - DE 3406
1 Paaren auf" einem der beiden Kreise ist, während der andere
Sch]it/ dieses Paares auf dem anderen Kreis diametral gegenüber
des einen Schlitzes liegt.
Claims (6)
- Ί" ^. D-. 1^.**. ***! /TS .*\* .".'"I Patentanwälte und gmIEDTKE - DUHLING - Ι\Μ\Ι·Νρ - CJFfe'Jl?F: . ·. ·. Vertreter beim EPA *jjw\ f\. ····*% -I.*-.* "..**..* Dipl.-Ing. H Tiedtke I ΓΈίίΜΑΝΝ - V3RAMS - OTRUIFDipl.-Chem G. BuhlingΟ ο ο Q Π η C Dipl· lng- R Kinne O O O ο U U D Dipl.-Ing. R GrupeDipl.-Ing. B Pellmann Dipl.-Ing. K. Grams Dipl.-Chem. Dr. B. StruifBavariaring 4, Postfach 2C 8000 München 2Tel.: 089-5396 Telex: 5-24845 tipat Telecopier: O 89 537377 cable: Germaniapatent Mi27. Oktober 198S h i m a d /. ti C ο r ρ ο r a t ionDU 3406 / case fjhj ma d/u- 7 ΠPatentansprüche.-)Schlitzmechani.smus zur Verwendung in einem Monochromator, gekennzeichnet durch eine Vielzahl von Schlit/-paaren (I, 1',...6a, 6a1), wobei die beiden Schlitze eines jeden Paars die gleiche Breite und die gleiche Höhe haben und jedes Paar bezüglich der anderen Paare eine unterschiedliche Breite hat, und durch mindestens ein zusätzlicher; Paar von Schlitzen (6a, 6a') mit der gleichen Breite wie, jedoch einer anderen Höhe als ein bestimmtes anderes Paar (6, 6') aus der Vielzahl von Schlitzpaaren, un1 durch eine Einrichtung (D) zur Bildung der Schlitze.
- 2. Schiitzmechanismui nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (D) eine Scheibe nun festem, lichtundurchlässigem Werkstoff umfafit, die um eine Achse (0) drehbar ist.
- 3, Schlitzmechanismus nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß pile Schlitzpaare (1, Γ, ... 6a, 6a') auf der Scheibe (D) am Umfang eines mit der Achse (0) konzentrischen Kreises so angeordnet sind, daß jedes Sehlitzpanr mit der gleichen Breite und der gleichen Höhe diametral gegenüber auf dem Kreis angeordnet ist, und somit als Fintritts-hn^ Ki < =,0H "Mi- 2 - DE 3406und Austrittsschlitz für den Monochromator (MC) dient.
- 4. Schlitzmechanismus nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß alle Schlitzpaare am Umfang zweier zueinander und zur Achse (0) konzentrischer Kreise mit unterschiedlichen Durchmessern angeordnet sind, so daß ein Schlitz eines jeden Schlitzpaars auf dem einen der konzentrischen Kreise liegt, während dessen anderer Schlitz diametral gegenüber des einen Schlitzes auf dem anderen konzentrischen Kreis liegt.
- 5. Monochromator, gekennzeichnet durch eine Lichtquelle, eine Einrichtung (G) zur Streuung des Lichts (L) aus der Lichtquelle in verschiedene Wellenlängen, eine Einrichtung (M1) zur Führung des Lichts (L) zur Streueinrichtung entlang eines ersten optischen Wegs, eine Einrichtung (M„) zur Führung des gestreuten Lichts (L1) entlang eines zweiten optischen Wegs, einen Schlitzmechanismus gemäß Anspruch 3, der so angeordnet ist, daß sich ein Schlitz eines ausgewählten Paars von Schlitzpaaren in einem der beiden optischen Wege befindet, während sich gleichzeitig der andere Schlitz des ausgewählten Schlitzpaars im anderen optischen Weg befindet, eine Einrichtung (M, S, F) zur Drehung der Scheibe (D) des Schlitzmechanismus so, daß das eine Schlitzpaar im ersten und zweiten optischen Weg durch ein anderes aus den Schlitzpaaren ausgewähltes Schlitz paar ersetzt ist, und durch eine Einrichtung (CL) zur Steuerung des Betriebs der Dreheinrichtung.
- 6. Monochromator, gekennzeichnet durch eine Lichtquelle, eine Einrichtung (G) zur Streuung des Lichts (L) aus der Lichtquelle in verschiedene Wellenlängen, eine Einrichtung (M1) zur Führung des Lichts (L) zur Streueinrichtung entlang eines ersten optischen Weqs, eine Einrichtung (M..} zur Führung des gestreuten Lichts (L') entlang einesL ι- "Ί - DF 3406zweiten optischen Wegs, einen Srhl i t /mechanismun gemäß Anspruch 4, der so angeordnet ist, daß sich ein Schlitz einrs ausgewählten Paars von Schlitzpnaron in einem dor beiden optischen Wege befindet, während sich gleichzeitig dor andere Schlitz des ausgewählten Schlitzpaars im anderen optischen Weg befindet, eine Einrichtung (M, S, F) zur Drehung der Scheibe (D) des Schlitzmechanismus so, daß das eine Schlitzpaar im ersten und zweite.n optischen Weg . durch ein anderes aus den Schlitzpaaren ausgewähltes Schlitz· \q paar ersetzt ist, und durch eine Einrichtung (CL) zur Steuerung des Betriebs der Dreheinrichtung.3AD ORIGINAL
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57191305A JPS5979819A (ja) | 1982-10-29 | 1982-10-29 | 分光器におけるスリツト機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3339006A1 true DE3339006A1 (de) | 1984-05-03 |
DE3339006C2 DE3339006C2 (de) | 1997-11-27 |
Family
ID=16272347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3339006A Expired - Fee Related DE3339006C2 (de) | 1982-10-29 | 1983-10-27 | Schlitzmechanismus zur Verwendung in einem Monochromator |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4575242A (de) |
JP (1) | JPS5979819A (de) |
DE (1) | DE3339006C2 (de) |
GB (1) | GB2131200B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3539977A1 (de) * | 1984-11-12 | 1986-05-22 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Spektrofluorophotometer |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6317423U (de) * | 1986-07-17 | 1988-02-05 | ||
US5088823A (en) * | 1989-09-29 | 1992-02-18 | Thermo Jarrell Ash Corporation | Spectroanalytical systems |
US5283624A (en) * | 1989-10-18 | 1994-02-01 | Hitachi, Ltd. | Multi-element simultaneous analysis atomic absorption spectroscopy photometer and multi-element simultaneous analytic method |
US5040932A (en) * | 1989-12-04 | 1991-08-20 | Kennametal Inc. | Locator mechanism for a tool holder assembly |
US5177512A (en) * | 1990-10-25 | 1993-01-05 | Konan Camera Research Institute Inc. | Eyeball microscope |
JP2700607B2 (ja) * | 1993-11-08 | 1998-01-21 | 日本分光株式会社 | 分光器用スリット切替機構 |
DE19651677A1 (de) * | 1996-12-12 | 1998-06-18 | Spectro Analytical Instr | Optisches Emmissionsspektrometer mit steuerbarer Blende |
US5995221A (en) * | 1997-02-28 | 1999-11-30 | Instruments S.A., Inc. | Modified concentric spectrograph |
DE10207742B4 (de) * | 2002-02-22 | 2008-11-20 | Berthold Gmbh & Co. Kg | Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer |
CN104267505B (zh) * | 2014-10-13 | 2017-03-15 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种光楔延迟消偏振的光栅转动分光装置及方法 |
DE102017130772A1 (de) * | 2017-12-20 | 2019-06-27 | Analytik Jena Ag | Spektrometeranordnung, Verfahren zur Erzeugung eines zweidimensionalen Spektrums mittels einer solchen |
CN116429959A (zh) * | 2023-06-14 | 2023-07-14 | 山东悟空仪器有限公司 | 检测器用多狭缝切换结构 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1525141A (fr) * | 1966-02-21 | 1968-05-17 | Perkin Elmer Corp | Installation de fentes à largeur réglable pour appareils optiques |
GB1118969A (en) * | 1965-10-27 | 1968-07-03 | Parsons & Co Sir Howard G | Improvements in and relating to monochromators |
DE1772024B1 (de) * | 1967-03-24 | 1971-06-09 | Instrumentation Labor Inc | Spaltblendenanordnung fuer einen spektralapparat |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3708227A (en) * | 1971-04-19 | 1973-01-02 | Optical Coating Laboratory Inc | Spectral analysis instrument with programmed spectral slit width |
JPS5946332B2 (ja) * | 1976-03-31 | 1984-11-12 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置 |
JPS56137117A (en) * | 1980-03-28 | 1981-10-26 | Hitachi Ltd | Slit for spectroscope |
JPS5888625A (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-26 | Shimadzu Corp | 分光器 |
-
1982
- 1982-10-29 JP JP57191305A patent/JPS5979819A/ja active Pending
-
1983
- 1983-10-14 US US06/542,151 patent/US4575242A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-10-18 GB GB08327842A patent/GB2131200B/en not_active Expired
- 1983-10-27 DE DE3339006A patent/DE3339006C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1118969A (en) * | 1965-10-27 | 1968-07-03 | Parsons & Co Sir Howard G | Improvements in and relating to monochromators |
FR1525141A (fr) * | 1966-02-21 | 1968-05-17 | Perkin Elmer Corp | Installation de fentes à largeur réglable pour appareils optiques |
DE1772024B1 (de) * | 1967-03-24 | 1971-06-09 | Instrumentation Labor Inc | Spaltblendenanordnung fuer einen spektralapparat |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
J.F. James, R.S. Sternberg: The Desgin of Optical Spectrometers, London 1969, S. 62-70 * |
JP 55-134323 A. In: Patents Abstr. of Japan, Sect. P, Vol. 5 (1981), No. 1 (P-43) * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3539977A1 (de) * | 1984-11-12 | 1986-05-22 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Spektrofluorophotometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB8327842D0 (en) | 1983-11-16 |
US4575242A (en) | 1986-03-11 |
GB2131200A (en) | 1984-06-13 |
JPS5979819A (ja) | 1984-05-09 |
GB2131200B (en) | 1986-01-22 |
DE3339006C2 (de) | 1997-11-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3901869C2 (de) | Optischer Codierer | |
DE2364069C3 (de) | Spektralphotometer | |
DE2731775A1 (de) | Interferenzfiltermonochromator | |
DE3339006A1 (de) | Schlitzmechanismus zur verwendung in einem monochromator | |
EP0362562A2 (de) | Spektrometer zur gleichzeitigen Intensitätsmessung in verschiedenen Spektralbereichen | |
EP0959346A2 (de) | Simultanes Röntgenfluoreszenz-Spektrometer | |
WO2005121723A1 (de) | Echelle-spektrometer mit verbesserter detektorausnutzung durch die verwendung zweier spektrometeranordnungen | |
DE3511676A1 (de) | Monochromator | |
EP0442596B1 (de) | Echelle-Polychromator | |
DE2229541A1 (de) | Spektrometer | |
DE3311954A1 (de) | Zweistrahliges spektralfotometer | |
DE2539183C2 (de) | Optisches Meßinstrument | |
DE2730613A1 (de) | Doppelmonochromator | |
DE2523160A1 (de) | Spektrometer | |
DE19961908C2 (de) | Hochauflösendes Littrow-Spektrometer und Verfahren zur quasi-simultanen Bestimmung einer Wellenlänge und eines Linienprofils | |
DE2460274A1 (de) | Geraet zur ausbildung eines linearen bilds | |
DE2038963B2 (de) | Spektrometer zur schnellen periodischen abtastung einer oberflaeche | |
DE4410036B4 (de) | Zweistrahl-Polychromator | |
EP1498707B1 (de) | Schlitzblende in einem Monochromator | |
DE3005352A1 (de) | Optische anordnung zum erzeugen von zeitlich aufeinanderfolgenden messstrahlenbuendeln unterschiedlicher wellenlaenge | |
EP0420816A1 (de) | Belichtungssteuerungsverfahren und fotografisches Farbkopiergerät | |
DE3326868A1 (de) | Anordnung zur auswahl von spektrenabschnitten aus einem gesamtspektrum | |
DE19962503B4 (de) | Röntgenfluoreszenzanalysator mit Wegumschaltvorrichtung | |
DE2604666A1 (de) | Monochromator zur nutzung zweier wellenlaengen | |
DE3608468A1 (de) | Lichtquellenoptik fuer ein spektrometer zur multielementanalyse |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |