DE3333369C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Eichen eines
auf einer Oberfläche angeordneten Bearbeitungsfühlers
für die Herstellung eines Magnetkopfes,
wobei eine erste Kante der Oberfläche von ihrer ursprünglichen
Lage ausgehend bis zu einer idealen Endpositionslinie
bearbeitet wird, die einen vorbestimmten
Abstand von einer durch ein Strukturmerkmal des
Magnetkopfes festgelegten Strukturlinie besitzt.
Bei gewissen Bearbeitungsoperationen, insbesondere solchen
zur Herstellung von Plattenspeicher-Dünnfilmmagnetköpfen
in ihrer Lage auf dem Luftgleiter, der vom Kopfarm
getragen wird, ist es wünschenswert, die Flugoberfläche
zu bearbeiten, bis eine genau lokalisierte Linie
auf einer anderen Oberfläche, die die Flugoberfläche
schneidet, die Überschneidungslinie der beiden Oberflächen
wird. Beim Beispiel des Dünnfilmkopfes wird der
Kopf an einer Endfläche des Gleiters getragen, welche
ungefähr senkrecht zur Flugoberfläche ist, und die
Linie ist angeordnet,
um sehr genau die Spalthöhe des Dünnfilmkopfes
zu bestimmen; das ist die Abmessung des Flußspaltes
senkrecht zu der Umwandlungsoberfläche.
Die Umwandlungsoberfläche ist während des
Betriebs des Plattenspeichers nahezu parallel zur
Oberfläche des Mediums. Eine Genauigkeit bezüglich
der Spalthöhe im µm-Bereich ist wünschenswert,
um optimale elektronische und magnetische
Eigenschaften sicherzustellen. Die Bearbeitung
der Flugoberfläche, bis sie mit der gewünschten
Überschneidungslinie übereinstimmt, ergibt
automatisch eine Genauigkeit der Spalthöhe, die
der Genauigkeit entspricht, mit der die Überschneidungslinie
gesetzt wurde.
Die Steuerung dieser Abmessung während der Herstellung
ist immer ein schwieriges Problem gewesen
wegen der extrem kleinen Abmessungen und
Toleranzen. Die einfache Verwendung der oberen
Fläche des Gleiterprismas als Bezugsoberfläche
für die Steuerung der Spalthöhe war ausreichend
beim Schleifen von Ferritköpfen, wie die US-PS
39 82 318 zeigt. Jedoch sind die
Abmessungen und Toleranzen in der Ferritkopf-Technologie
viel größer.
In bezug auf Dünnfilmköpfe zeigt die jüngere Entwicklung
der genauen Steuerung der Spalthöhe
die Verwendung sogenannter Läppführungen oder
Bearbeitungsfühler, wie zum Beispiel in "IBM Technical
Disclosure Bulletin", Band 23, No. 6, November 1980,
S. 2550 gezeigt ist. Diese Führungen oder Fühler
sind auf der den Dünnfilmkopf tragenden Oberfläche
aufgebrachte leitende Materialien. Es
sind zwei Typen von Fühlern im allgemeinen Gebrauch.
Bei den sogenannten diskreten Fühlern wird einfach
deren elektrischer Durchgang an einem bestimmten
Punkt während der Bearbeitung unterbrochen und
somit eine Anzeige für den Bearbeitungsfortschritt
in nur einem einzigen Zeitpunkt geschaffen.
Analoge Fühler weisen eine Fläche von Widerstandsmaterial
auf, die langsam durch die Bearbeitung
abgetragen wird und daher eine kontinuierliche
Anzeige liefern, bis der Durchgang unterbrochen
wird. Hinsichtlich der diskreten Fühler werden
normalerweise mehrere von diesen in verschiedenen
Höhen verwendet. Die Durchgänge dieser einzelnen
Fühler werden aufeinanderfolgend durch den Bearbeitungsprozeß
unterbrochen, wodurch eine Serie
von Anzeigen geschaffen wird, die genau angeben,
wie weit die Bearbeitung noch fortgesetzt werden
kann, um die gewünschte Endpositionslinie zu
erreichen. An den Grenzen des oder innerhalb des
gewünschten Bereiches der Spalthöhe wird der
leitende Pfad eines letzten Fühlers unterbrochen,
wodurch angezeigt wird, daß der Bearbeitungsvorgang
beendet werden soll.
Die Verwendung dieser Bearbeitungsfühler erhöht die
Genauigkeit, mit der die Kante relativ zu dem
Merkmal positioniert werden kann, drastisch.
Jedoch kann man bei der Behandlung von Dünnfilmmagnetköpfen
die konventionellen Bearbeitungsfühler
nicht im gleichen Verfahrensschritt ausbilden,
welcher den Spalt bestimmt. Dies rührt daher, daß
der Spalt durch Aufbringen einer isolierenden
Schicht gebildet wird, während die Bearbeitungsfühler
leitende Muster darstellen und daher in den Verfahrensschritten
aufgebracht werden, in denen die
Magnetschichten des Kopfes geschaffen werden.
Es ist eine bekannte Schwierigkeit, daß aufeinanderfolgende
Schichten von durch die Verwendung
von fotooptischen Masken aufgebrachtem Material
die eine zusammengesetzte Dünnfilmstruktur bilden,
nicht gegeneinander mit absoluter Genauigkeit
ausgerichtet werden können. Das heißt, die Masken
oder Muster, welche jeweils die Gestalt von aufeinanderfolgenden
Schichten wie der unteren Magnetschicht,
des Spaltes und der oberen Magnetschicht
definieren, können nicht in genauer Ausrichtung
mit den durch frühere Maskierungsschritte geschaffenen
Mustern erhalten werden. Daher kann die Spalthöhe
eines typischen Dünnfilmkopfes nicht mit einer
Genauigkeit gesteuert werden, die größer ist
als die Ausrichtung zwischen dem Muster der
Spaltisolierung und dem Muster der Magnetschichten
bzw. Bearbeitungsfühler. Die Erfahrung zeigt, daß
diese inhärente Ungenauigkeit zu einem erheblichen
Prozentsatz von Köpfen führt, deren Spalthöhen
außerhalb der geforderten Toleranzen liegen.
Besonders nachteilig ist, daß, obgleich der die
Spalthöhe bestimmende Schritt während des Verfahrens
erfolgt, man nicht feststellen kann, ob der Kopf
von guter Qualität ist, bis der Herstellungsvorgang
abgeschlossen ist, so daß eine relativ hohe Anzahl
von Köpfen nicht ausreichender Qualität zu einer
erheblichen Kostenerhöhung führt.
Das Problem der Ausrichtung von Bearbeitungsfühlern
mit einem aus Isoliermaterial wie der spaltbestimmenden
Schicht eines Dünnfilmkopfes gebildeten
Strukturmerkmal besteht sowohl für diskrete als auch
für analoge Fühler. In einem gegenwärtigen Herstellungsverfahren
werden analoge Fühler verwendet
zur Anzeige des Fortschritts der Bearbeitung eines
Werkstücks, das mehrere Dünnfilmköpfe trägt.
Der Bearbeitungsvorgang setzt die Spalthöhen
gleichzeitig für alle Dünnfilmköpfe. Zwischen
jeweils zwei Köpfen ist ein analoger Fühler
angeordnet. Es ist notwendig, daß die Position
jedes analogen Fühlers gegenüber seinen angrenzenden
Köpfen sehr genau bekannt ist, so daß die
Bearbeitung beendet werden kann, wenn die Spalthöhen
von so viel Köpfen wie möglich innerhalb
der gewünschten Toleranzen liegen. Wegen der verschiedenen
Ungenauigkeiten im Prozeß ist es
möglich, daß nicht alle Spalthöhen zur gleichen
Zeit auf einen Wert innerhalb des Toleranzbereiches
reduziert werden können.
"IBM Technical Disclosure Bulletin", Band 18, No. 1,
Juni 1975, S. 227, erkennt die Schwierigkeit beim
Ausrichten von Strukturmerkmalen verschiedener
aufgebrachten Schichten und gibt offensichtlich
die Lehre, die Läpp-Steuerschicht mit dem gleichen
Verfahrensschritt aufzubringen, welcher die Ausrichtung
der Isolierschicht, die als Spalt dient
oder die Spaltschicht bedeckt, bildet. Wie jedoch
die Isolierschicht im gleichen Verfahrensschritt
wie die Aufbringung der Läpp-Steuerschicht ausgerichtet
werden kann, ist nicht erläutert.
"IBM Technical Disclosure Bulletin", Band 23, No. 2,
Juli 1980, S. 776, lehrt ein Verfahren zum Eichen
eines analogen Läpp-Fühlers oder Bearbeitungsfühlers
zur Kompensation von Variationen des spezifischen
Volumenwiderstandes und der Filmdicke. Dieses Verfahren
bezieht sich jedoch nicht auf die Bestimmung
der Position eines analogen Fühlers relativ zu
einem Strukturmerkmal einer isolierenden Schicht.
Weitere Bearbeitungsfühler für Magnetköpfe sind z. B.
aus den US-PSen 41 55 106, 37 87 638 und 38 21 815
bekannt.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren
zum Eichen eines auf einer Oberfläche eines Blockes
angeordneten Bearbeitungsfühlers zu schaffen, bei dem
die Bearbeitungsgenauigkeit erhöht ist, mit welcher die
Kante einer Oberfläche relativ zu einem Strukturmerkmal
auf der Oberfläche hergestellt werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren
mit den im Patentanspruch 1 enthaltenen Merkmalen gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich
aus den Patentansprüchen 2 bis 4.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ist die Bearbeitungsgenauigkeit
erhöht. Dadurch ergibt sich eine Senkung
der Ausschußrate. Die Verfahrensschritte der Bildung
des Spaltfüllmaterials eines Dünnfilmkopfes und
der Ausbildung des Bearbeitungsfühlers sind kombiniert,
wenn eine Umwandlereinheit, die einen Dünnfilmkopf
trägt, bearbeitet wird. Eine genauere Messung des jeweiligen
Zustandes des Bearbeitungsvorganges ist möglich.
Der Maschinenfühler wird mit der gleichen Maske hergestellt,
die das isolierende Strukturmerkmal, das in genauer
räumlicher Beziehung zu der Endposition der bearbeiteten
Kante steht, definiert. Dies wird erreicht
durch Aufbringen einer ersten leitenden Schicht auf der
Oberfläche, welche das Strukturmaterial trägt, die sich
von nahe der ursprünglichen Lage der zu bearbeitenden
Kante bis über den zulässigen Toleranzbereich der Endposition
der Kante erstreckt. Dies kann im Falle von
Dünnfilmmagnetköpfen in geeigneter Weise in den Verfahrensschritt
der Aufbringung der unteren Schicht des
Dünnfilmkopfes eingeschlossen sein. Während des Schrittes,
der das
Strukturmerkmal schafft, von welchem die Endposition
der bearbeiteten Kante bestimmt wird,
wird eine zusätzliche Sperrschicht aus isolierendem
Material auf der ersten leitenden Schicht
aufgebracht, die entlang einer sogenannten Fühlliniengrenze
liegt, die sich im wesentlichen parallel
zu der durch die Bearbeitung geschaffenen Kante erstreckt,
wobei die gleiche Maske für die Erzeugung
beider Schichten verwendet wird. Die eine Kante
der Sperrschicht definierende Fühlliniengrenze ist genau
positioniert in bezug auf das Strukturmerkmal,
da beide mit Hilfe der gleichen Maske im gleichen
Beschichtungsschritt hergestellt wurden.
Es wird dann eine zweite leitende Schicht auf der
Sperrschicht aufgebracht, die die erste leitende
Schicht direkt nur zwischen der ursprünglichen
Lage der Kante und der Fühlliniengrenze berührt. Bei der
Herstellung von Dünnfilmköpfen wird dieser Schritt
typischerweise zusammen mit dem Aufbringen der
oberen Magnetschicht für den magnetischen Flußpfad
vorgenommen. Es ist selbstverständlich, daß jede
dieser drei Schichten durch eine Anzahl von Einzelschritten
hergestellt werden, die die Verwendung
einer Präzisionsmaske, um auf optischem Wege das
gewünschte Muster in der Schicht mit hoher Präzision
herzustellen, einschließt.
Die Kante der Oberfläche wird dann von ihrer ursprünglichen
Lage ausgehend zur Fühlliniengrenze hin
bearbeitet. Wenn die bearbeitete Kante die Fühlliniengrenze
erreicht, wird der elektrische Durchgang
zwischen der ersten und der zweiten leitenden
Schicht unterbrochen, wobei angenommen wird, daß
das Werkzeug nichtleitend ist. Ein zwischen die
zweite leitende Schicht und die erste leitende Schicht
geschalteter Durchgangsprüfer zeigt hierdurch die
Lage der bearbeiteten Kante an. Wenn die Fühlliniengrenze
die ideale Endposition der Schnittlinie
der beiden Oberflächen darstellt, dann wird die
Bearbeitung beendet.
Tatsächlich ist die bevorzugte Anwendung dieses
diskreten Maschinenfühlers die Eichung eines
konventionellen analogen Fühlers, um genau dessen
Position in bezug auf eine Strukturlinie, die
genau die Kante einer isolierenden Merkmalsstruktur
definiert, zu bestimmen. Dies wird erreicht durch
Verwendung eines oder mehrerer diskreter Fühler,
von denen jeder eine andere Fühlliniengrenze besitzt,
die die Fühlfläche des analogen Fühlers schneidet,
und von denen jeder genau in bezug zu der Strukturlinie
positioniert ist. In jedem Zeitpunkt, in
dem durch den Bearbeitungsvorgang einer der
diskreten Fühler anspricht, wird der Widerstand
des analogen Fühlers gemessen. Diese Widerstandswerte
können in einer allgemeinen Gleichung der
Form h=K/R betreffend den analogen Fühlerwiderstand
R mit dem Abstand h der oberen Kante des
analogen Fühlers von der bearbeiteten Kante ersetzt
werden. Die Gleichung kann dann gelöst werden,
um einen Wert für die Konstante K und beliebige
andere Konstanten zu liefern, um eine Gleichung
zu ergeben, die den Fühlerwiderstand direkt mit
dem Abstand der bearbeiteten Kante von der Strukturlinie
in Beziehung setzt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines in
den Figuren dargestellten Ausführungsbeispieles
näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht
eines Prismas mit einer Oberfläche,
auf welcher ein Dünnschichtmagnetkopf
und Bearbeitungsfühler ausgebildet
sind;
Fig. 2 und 4 Querschnitte durch einen der in
Fig. 1 gezeigten Bearbeitungsfühler
vor bzw. nach dem Bearbeitungsvorgang;
Fig. 3 und 5 Querschnitte des Strukturmerkmals,
auf welches die bearbeitete Kante
bezogen wird, vor und nach der
Bearbeitung;
Fig. 6 eine Struktur mit einem diskreten
Fühler in einem bevorzugten zusammengesetzten
Fühler, der für die
Massenproduktion von Elementen,
wie Dünnfilmköpfen, verwendet wird,
welche enge Toleranzabmessungen
basierend auf der Position einer
Kante einer isolierenden Fläche
haben;
Fig. 7a eine vergrößerte perspektivische
Ansicht eines einzelnen Dünnfilmwiderstandes
gemäß Fig. 6; und
Fig. 7b einen schematischen Schaltkreis
des Netzwerkes des analogen Fühlers
von Fig. 6.
Da der vorliegende diskrete Fühler speziell für
Zwecke der Steuerung der Spalthöhe von Dünnfilmköpfen
entwickelt wurde, basiert die Beschreibung
auf einer Anwendung in diesem Bereich. Sie kann
jedoch in gleicher Weise in jedem Fall angewendet
werden, in dem eine Bearbeitung relativ
zu einem durch ein aufgetragenes isolierendes
Material definierten Strukturmerkmal gesteuert
werden muß.
Fig. 1 zeigt eine erheblich vergrößerte perspektivische
Ansicht eines zu bearbeitenden Prismas
oder Blocks 9, der aus keramischem Material gebildet
ist und der einen lufttragenden Dünnfilmkopfgleiter
umfaßt. Der Block 9 befindet sich in
dem Zustand gerade vor der endgültigen Bearbeitung
der lufttragenden Oberfläche. Eine Linie 15 stellt
die ursprüngliche Lage der Kante der Endfläche 10
dar, die durch die Überschneidung der ursprünglichen
Lage der Flugoberfläche 26 (Fig. 2 und 4) mit der
Fläche 10 definiert wird. Die Oberfläche 26 wird
bearbeitet, bis ihre Schnittlinie mit der Endfläche
10 ihre ideale Position erreicht, die
mit einer Fühlebene 13 übereinstimmt, die durch
die beiden Linien 13a und 13b definiert ist.
Auf der Endfläche 10 ist ein Bearbeitungsfühler
21 angeordnet worden, der eine leitende Schicht
11 enthält, die von der Fühllinie 13a oder -ebene
13 geschnitten wird und jede geeignete Form besitzen
kann. Fig. 2 zeigt diesen Fühler 21 im
Querschnitt vor der endgültigen Bearbeitung. Auf
der leitenden Schicht 11 ist eine isolierende
Schicht mit einer Sperrfläche 12 aufgetragen,
deren eine Kante entlang der Fühlebene 13 verläuft
und die sich von der ursprünglichen Position der
Linie 15 an der Kante der Fläche 10 weg erstreckt.
Die Fühlebene 13 sollte im wesentlichen parallel
zur ursprünglichen Lage der Linie 15 an der
Kante der Fläche 10 verlaufen. Ein vorläufiger
Bearbeitungsschritt kann erforderlich sein, um
den Block 9 so zu gestalten, daß diese Beziehung
gegeben ist. Eine weitere aufgetragene leitende
Schicht 14, die eine leitende Fläche bildet, ist
auf einer Seite der Fühllinie 13a vollständig
innerhalb des Bereiches der Sperrfläche 12 angeordnet
und erstreckt sich über die Linie 13a,
wobei sie zwischen dieser und der ursprünglichen
Lage der Kante bei der Linie 15 die leitende Schicht
11 berührt. Daher ist die leitende Schicht 14
von der leitenden Schicht 11 im Bereich der Fläche
14b vollständig isoliert, das heißt im Bereich
oberhalb der Linie 13a, während ein elektrischer
Kontakt mit der Schicht 11 im Bereich 14a, das
heißt unterhalb der Linie 13a besteht.
In Fig. 1 ist eine vereinfachte Darstellung eines
typischen Dünnfilmkopfes 20 angrenzend an den Betätigungsfühler
21 gezeigt, und in Fig. 3 ist
dieser vor dem Bearbeitungsvorgang im Querschnitt
gezeigt. Dieser umfaßt ein Paar von magnetischen
Flußpfaden 17 und 18, eine Wicklung 19 und ein
aufgetragenes isolierendes Material 24, das typischerweise
aus Aluminiumoxid gebildet ist und zwischen
den Pfaden 17 und 18 des magnetischen Flusses angeordnet
ist, wodurch der Flußspalt 25 geschaffen
wird. Eine zweite Isolierschicht 16 isoliert
die Wicklung 19 und definiert das innere Ende
des Flußspaltes 25. Dieses innere Ende des Flußspaltes
25 liegt entlang eines Segmentes einer
Strukturlinie 27, gezeigt als Punkte in Fig. 2 bis
5. Der Abstand zwischen der Strukturlinie 27 und
der Fühllinie 13a ist im selben Beschichtungsvorgang
und mit derselben Maske hergestellt und
daher mit großer Genauigkeit bekannt, da keine
Maskenausrichtfehler auftreten können.
Um einen Flußspalt 25 mit der geeigneten Flußhöhe
zu schaffen, ist es erforderlich, die Oberfläche
26 solange zu bearbeiten, bis sie mit der Ebene
13 innerhalb eines Toleranzbereiches von 1,5 µm
übereinstimmt. Der Flußspalt 25 wird durch nichtmagnetisches
isolierendes Material gebildet.
Es ist selbstverständlich, daß durch die Ausbildung
der Kante der Sperrfläche 12 entlang der Fühllinie
13a, welche die Stelle bestimmt, an der die Bearbeitung
zu beenden ist, mit derselben Maske und
im selben Beschichtungsschritt, durch die das innere
Ende des Spaltes 25 entlang der Strukturlinie 27
definiert wird, die Höhe des Spaltes 25 sehr genau
bestimmt werden kann, und zwar sehr viel genauer,
als wenn die Strukturlinie 27 und die Fühllinie 13a
während verschiedener Beschichtungsschritte oder
mit verschiedenen Masken geschaffen würden. Es
ist auch selbstverständlich, daß die Steuerung
der Spalthöhe eines Dünnfilmkopfes nur eine der
vielen möglichen Anwendungen dieses Verfahrens ist.
Die Bearbeitung ist konventionell und kann durch
Läppen oder eine andere hoch-präzise Bearbeitung
erfolgen, wobei sie jedoch mit einem Werkzeug
durchgeführt werden muß, das keinen Kurzschluß
zwischen den Schichten 11 und 14 herstellt.
Durchgangsprüfer 22 sind über Leitungen 23 mit
den leitenden Schichten 11 und 14b verbunden.
Die Bearbeitung trägt langsam das Material zwischen
der Ebene 13 und der ursprünglichen Lage der Kante
der Fläche 10, das heißt der Linie 15, ab.
Wenn das Material zwischen der Ebene 13 und der
Linie 15 vollständig abgetragen ist, wird der
elektrische Kontakt zwischen den Schichten 14a
und 11 unterbrochen und die Durchgangsprüfer
22 zeigen diesen Zustand an. Die endgültige
Ausbildung eines Betätigungsfühlers 21 ist in
Fig. 4 gezeigt. Die Bedienungsperson überwacht
die Durchgangsprüfer 22 und kann bei entsprechender
Anzeige die Bearbeitung beenden. Auch kann die
Bearbeitungsvorrichtung mit den Durchgangsprüfern
22 verbunden sein, um den Bearbeitungsvorgang
anzuhalten, wenn die Unterbrechung eines Durchganges
festgestellt wird.
Der Grund, warum die ursprüngliche Lage der Linie
15 nahezu parallel zur Fühlebene 13 liegen muß,
ist nun offensichtlich. Wenn die Kante der Fläche
10 bearbeitet wird, bis sie mit der Ebene 13 übereinstimmt,
dann wird, wenn sie zu diesem Zeitpunkt
nicht parallel sind, einiges Material über die
Ebene 13 hinaus entfernt, und bei den einzelnen
Fühlern 21 erfolgt die Unterbrechung des Durchganges
zu verschiedenen Zeiten. Daher sollte zu
irgendeinem Zeitpunkt während des Bearbeitungsvorganges
die Kante 15 angenähert parallel zur
Fühlebene 13 sein. Die Position der Kante der
Fläche 10 in diesem Zeitpunkt kann als ihre ursprüngliche
Position betrachtet werden. Die entsprechende
Bearbeitung, um diese Beziehung zu erreichen,
kann lediglich als ein vorläufiger Schritt
betrachtet werden. Die Wirkung dieser Nicht-Parallelität
kann dadurch verringert werden, daß man die
Schicht 14 enger macht und die Fühler 21 näher
zusammen anordnet. Jedoch ist die Wahrscheinlichkeit
eines Defekts im elektrischen Kontakt zwischen ihnen,
der den ursprünglichen Durchgang total zerstört,
dann größer. Die inhärente Breite der Merkmalsstruktur
und ihrer zugehörigen Struktur (Kopf 20)
begrenzt die Annäherung zwischen den Fühlern 21.
Während die Fühler 21 und das zugeordnete Verfahren,
wie sie gerade beschrieben wurden, zufriedenstellend
für gewisse Anforderungen bei geringen Produktionszahlen
funktionieren, hat das kommerzielle Erfordernis
nach der Herstellung vieler tausender magnetischer
Köpfe 20 zu einer bevorzugten Anwendung
dieser Fühler 21 geführt. Um diese Köpfe 20 billig
und wirkungsvoll herzustellen, werden vorzugsweise
mehrere an einer einzelnen Stange angeordnet und
ihre Flugoberflächen 26 gleichzeitig bearbeitet.
Um den jeweiligen Zustand der Spalthöhe jedes
Kopfes zu bestimmen, sind häufige Messungen jeder
dieser Spalthöhen während der abschließenden Bearbeitungsphase
erforderlich. Genau geeichte analoge
Bearbeitungsfühler sind neben jedem Kopf auf der
Stange angeordnet. Ergeben frühere Anzeigen von diesen
Fühlern während des abschließenden Bearbeitungsvorganges,
daß gewisse Spalthöhen außerhalb
der Toleranz liegen werden, wenn durch die Bearbeitung
alle anderen innerhalb des gewünschten
Toleranzbereiches gebracht werden, dann wird die
Stange gebogen, um eine zusätzliche Bearbeitung
der Flugoberflächen nur bestimmte Köpfe zu bewirken.
Durch geeignete Wahl des Ausmaßes und der
Lage dieser Biegung kann erreicht werden, daß ein
viel größerer Prozentsatz der Kopfspalthöhen bei
Beendigung der Bearbeitung in den Toleranzbereich
fällt. Jedoch müssen die die Information liefernden
Fühler die Spalthöhe in häufigen Intevallen genau
messen. Da diese analogen Fühler wesentliche Elemente
besitzen, die aus leitenden Materialien bestehen,
unterliegen sie ebenfalls den Ausrichtfehlern
wie die konventionellen diskreten Fühler.
Ein zusammengesetzter Bearbeitungsfühler, welcher
einen analogen Fühler 28 enthält, der kontinuierlich
ein Signal liefert, das die Position der
bearbeiteten Kante 15 wiedergibt, ist in Fig. 6
gezeigt. Die Spalthöhen-Nullinie oder Strukturlinie
58 definiert im wesentlichen die Position
des Strukturmerkmals, in bezug zu welchem die
durch die Bearbeitung erreichte Lage der Linie
oder Kante 15 bestimmt wird. Der zusammengesetzte
Fühler ist auf der Endfläche 10 des Prismas 9 angeordnet
und enthält einen Analogfühler 31, der aus
einem leitenden Widerstandsstreifen und drei diskreten
Fühlern aus den Leiterpfaden 46 bis 48, einer
isolierenden Sperrfläche 33 unter diesen, und
einer leitenden Fläche 49 unterhalb der Sperrfläche
33, die in elektrischem Kontakt mit den Enden
50 bis 52 der Leiterpfade 46 bis 48 steht, gebildet
wird. Fühlliniensegmente 38 bis 40 weisen entlang
der unteren Kante der Sperrfläche 33 ein treppenförmiges
Muster auf und sind gegeneinander versetzt
sowie angenähert parallel zur ursprünglichen
Lage der Kante 15 und besitzen Verlängerungen,
die einen vorbestimmten Abstand voneinander aufweisen.
Jedes der Fühlliniensegmente 38 bis 40 ist
in einem genau bekannten Abstand von der Spalthöhen-Nullinie
oder Strukturlinie 58 aufgrund ihrer Herstellung
durch den gleichen Verfahrensschritt und
die gleiche Maske wie der des inneren Endes des
Flußspaltes des zugehörigen Kopfes oder eines
anderen Elementes angeordnet. Die Leiterpfade 46
bis 48 haben merkliche elektrische Widerstände
und sind gemeinsam verbunden zu einer Anschlußstelle 43.
Die Leiterpfade 46 bis 48 kreuzen die Liniensegmente
40 bis 38 und alle befinden sich in
elektrischem Kontakt mit der leitenden Fläche 49.
Die Anschlußstelle 43 ist mit dem oberen wählbaren
Anschluß eines einpoligen Umschalters 52 und
mit jeweils einem Anschluß von Voltmetern 55
und 57 verbunden.
Der analoge Fühler 31 ist einheitlich mit der
leitenden Fläche 49, die einen Teil des diskreten
Fühlers 29 bildet. Die Enden des analogen Fühlers
sind über Brücken 35 und 36 mit Widerstands-Leiterpfaden
34 bzw. 32 verbunden. Der Fühler 31
hat einen merklichen Widerstand, ursprünglich R₁,
zwischen den Brücken 35 und 36. Die nominelle
Höhe h₁ und Länge L₁ bestimmen während der Bearbeitung
dessen Widerstand. Wenn die untere Kante
15 der Fläche 10 beim Bearbeiten sich langsam nach
oben bewegt, nimmt die Höhe h₁ des Fühlers 31 ab,
so daß dessen Widerstand ansteigt.
Die Pfade 34 und 32 verbinden die leitenden Brücken
35 und 36 mit Anschlußstellen 41 bzw. 42. Die
Leiterpfade 34 und 32 selbst haben in einem bevorzugten
Ausführungsbeispiel merkbare Widerstände,
die ebenfalls von ihren Längen L₄ bzw. L₂ und
Höhen h₄ und h₂ abhängen. Der Widerstand in den
Leiterpfaden 34 und 32 ist unvermeidbar, da diese
ebenfalls einheitlich mit dem analogen Fühler 31
ausgebildet sind, welcher einen inneren Widerstand
aufweisen muß, um seine Fühlfunktion ordnungsgemäß
ausüben zu können. Die Anschlußstelle 41 ist mit
dem nicht mit der Anschlußstelle 43 verbundenen
Anschluß des Voltmeters 55 verbunden, so daß dieses
die Spannung zwischen den Anschlußstellen 41 und 43
mißt. (Die Voltmeter 55 und 57, der Schalter 52 und
die Konstantstromquelle 53 sind entfernt von der
Fläche 10 angeordnet). Die Anschlußstelle 41 ist
auch mit der unteren wählbaren Klemme des einpoligen
Umschalters 52 verbunden. Die Anschlußstelle
42 ist mit einem Anschluß der Konstantstromquelle
53 und dem nicht mit der Anschlußstelle 43
verbundenen Anschluß des Voltmeters 57 verbunden.
Der Anschluß der Konstantstromquelle 53, der nicht
mit der Anschlußstelle 42 verbunden ist, ist mit
der mittleren bzw. gemeinsamen Klemme des einpoligen
Umschalters 52 verbunden.
Es wurde eine Gleichung der Form h=K/R entwickelt,
welche den Wert der Höhe h₁=h des Fühlers 31 mit
den Abmessungen der Leiterpfade 34 und 32, die
in der Konstante K enthalten ist, und zu den von
den Voltmetern 55 und 57 gemessenen Spannungen,
welche eine gegenwärtige Anzeige des Widerstandes R
des analogen Fühlers 31 liefern, in Beziehung setzt.
Wie die noch folgende Ableitung zeigt, ist die
Fühlerhöhe h₁=V₂h₂/Q(V₁-xV₂), wobei V₁ und V₂
in der gezeigten unteren Stellung des Schalters 52
gemessen werden. Es ist daher offensichtlich, daß
die
Spalthöhe=V₂h₂/Q(V₁-xV₂)-Yoff=h₁-Yoff
ist, worin Yoff den Abstand zwischen der Oberkante des
analogen Fühlers 31 und der Spalthöhen-Nullinie
oder Strukturlinie 58, die eine Kante des Strukturmerkmals,
in bezug zu welchem der diskrete Fühler
29 angeordnet ist, darstellt, bildet. In diesen
Gleichungen sind Q=L₂/L₁ und x=L₄/L₂. Es ist
relativ leicht, die Auftragung zu steuern, so daß
die Pfade 34 und 32 nahezu identische Dimensionen
besitzen, wodurch L₁=L₂ bzw. x=1 mit einer Abweichung
innerhalb ±2% oder weniger ist, so wie dies
im Ausführungsbeispiel bevorzugt ist. Selbst größere
(±4%) Abweichungen beeinträchtigen die Spalthöhenmessungen
nur im Bereich von wenigen hundertstel µm.
Es ist auch möglich, den Pfad 34 mit einer sehr
kleinen effektiven Länge L₄ (L₄«L2)
aufzutragen, indem der Pfad
34 mit einer wesentlich größeren Höhe und Dicke
als der Pfad 32 ausgebildet wird. Durch geeignete
Bestimmung der Abmessungen des Pfades 34 während
des Auftragungsvorganges kann x so eingestellt werden,
daß es in den Bereich von 0,01 bis 0,1 fällt.
Obwohl die Genauigkeit, mit der die Größe x bekannt
ist, in diesem Fall nicht besser als ±10% oder sogar
±20% ist, ist, da der Wert von x sehr klein ist,
der Einfluß auf die Spalthöhenmessungsgenauigkeit
der gleiche wie für den Fall, in dem x=1 und
mit einer Genauigkeit von ±2% bekannt ist. Wenn
der Auftragungsvorgang einmal stabilisiert ist,
kann ein durchschnittlicher Wert von x entweder
durch Berechnungen oder direkte Messungen des
Widerstandes der Pfade 34 und 32 auf den entsprechenden
Prismenoberflächen 10 bestimmt werden, wodurch
die Behandlung von x als einer Konstante möglich ist.
Es gibt daher in jedem Ausführungsbeispiel zwei
Unbekannte in der Gleichung für die Spalthöhe,
nämlich h₂/Q und Yoff. Wenn V₁/V₂ und x bekannt sind,
ist es möglich, die Werte für h₂/Q und Yoff durch
Messung der Werte für V₁ und V₂ bei bekannten Spalthöhen
zu bestimmen. Dies wird erreicht unter Bezugnahme
auf die diskreten Sensoren 29. Wenn die Bearbeitung
des Prismas 9 beginnt, bewegt sich die
Linie 15 langsam auf die Linie 38 zu, wobei der
Widerstand von und die Spannung über die Linie 38
und der Widerstand des und die Spannung über den
analogen Fühler 31 erhöht werden. Wenn die Linie 15
mit der Linie 38 zusammenfällt, wird der Durchgang
des den Leiterpfad 48 enthaltenden Fühlers geöffnet.
Wenn der Schalter 52 in dieser Zeit in
der oberen Stellung ist, nimmt die vom Voltmeter
55 gemessene Spannung V₁ plötzlich zu, wenn der
Durchgang unterbrochen ist, da hierdurch der Widerstand
zwischen der leitenden Fläche 49 und der
Anschlußstelle 43 erhöht wurde, während der Strom
Ic der Konstantstromquelle 53 unverändert geblieben
ist. Da angenommen wird, daß das Voltmeter 55
einen sehr großen Widerstand im Vergleich zu den
Widerständen im Pfad 34 und im Fühler 31 besitzt,
stellt V₁/Ic sehr genau den Widerstand zwischen
der Fläche 49 und der Anschlußstelle 43 dar.
Zu diesem Zeitpunkt ist die Spalthöhe mit größerer
Genauigkeit bekannt als der vorbestimmte genaue
Abstand zwischen dem Liniensegment 38 und der
Spalthöhen-Nullinie 58.
Sobald der Anstieg der Spannung V₁ festgestellt
ist, muß der Schalter 52 in seine untere Stellung
bewegt werden, wodurch sich der Wert für die
Spannung V₁ ergibt, der in der die Spalthöhe bestimmenden
Gleichung verwendet wird. Ebenso wird
in diesem Zeitpunkt die Spannung V₂ zur Verwendung
in der Gleichung abgelesen. Obwohl die Abmessungen
der aufgetragenen Widerstände nicht genau eingehalten
werden können während des Auftragungsvorganges,
sind sowohl L₁ und L₂ als auch h₂ und yoff mit
ausreichender ursprünglicher Genauigkeit bekannt,
da sie mit Hilfe derselben Maske gebildet wurden.
In dem Zeitpunkt, in dem die Linie 15 mit der Linie
38 zusammentrifft, ist die Spalthöhe mit großer
Genauigkeit bekannt. Das Ersetzen der Annäherungen
für Q (=L₂/L₁) und h₂ durch die gemessenen Werte
für V₁, V₂ und die genaue Spalthöhe in die obige
Gleichung für die Spalthöhe ergibt eine bessere
Annäherung für Yoff, wodurch die Genauigkeit seines
Wertes wesentlich erhöht wird.
Mit dem Umschalter 52 wieder in der oberen Stellung
wird die Bearbeitung fortgesetzt, bis die Linie
15 mit der Linie 39 übereinstimmt, wodurch der
Durchgang durch den diskreten Fühler, der den
Pfad 47 enthält, unterbrochen wird und ein weiterer
Sprung im Spannungswert V₁ auftritt. Hierdurch
ist ein zweiter genauer Wert für die Spalthöhe
erhältlich. Mit Hilfe von zwei mit großer Genauigkeit
bekannten Werten für die Spalthöhe und zwei
ebenso mit großer Genauigkeit bekannten Werten
für V₁ und V₂ für diese Spalthöhen ist es möglich,
zwei Spalthöhengleichungen gleichzeitig für die
Werte h₂/Q und Yoff zu lösen. Hinter diesem Punkt
kann die Spalthöhe mit großer Genauigkeit festgestellt
werden, indem einfach die Werte für V₁ und
V₂ gemessen und die Spalthöhe unter Verwendung
der gerade bestimmten Werte für h₂/Q und Yoff
berechnet werden. Die Voltmeter 55 und 57 haben
somit die Funktion von Ohmmetern in Verbindung mit
der vorstehenden Gleichung für die Spalthöhe,
um den Widerstand R₁ nach der Eichung zu bestimmen.
Für die besondere Anwendung, für die dieses Verfahren
entwickelt wurde, ist es erforderlich,
daß jeder zusammengesetzte Fühler eine besonders
wirksame Anzeige liefert, wenn die Spalthöhen
im Bereich von 0,5 bis 2,0 µm liegen. Bei diesem
Toleranzbereich ist es geeignet, die erste Fühllinie
38 der Sperrfläche 33 in einem Abstand von
5 µm, die zweite Fühllinie 39 in einem Abstand
von 2 µm und die Fühllinie 40 in einem Abstand
von 0,5 µm von der Spalthöhen-Nullinie, bzw. Strukturlinie 58 anzuordnen.
Wie erwähnt, können diese diskreten
Fühler in genau bekannten Abständen von der
Spalthöhen-Nullinie bzw. Strukturlinie 58 aufgetragen werden.
Wenn daher während der Bearbeitung der durch die
Linie 39 und den Leiter 47 gebildete individuelle
Fühler getrennt wird, dann weiß die Bedienungsperson,
daß die obere Grenze für die Spalthöhe
bei den angrenzenden Köpfen erreicht ist.
Wenn der die Fühllinie 40 und den Pfad 46 aufweisende
Fühler geöffnet wird, dann weiß die
Bedienungsperson, daß der angrenzende Kopf aus
dem Toleranzbereich herausgefallen ist und nicht
verwendet werden kann. Die ideale Endpositionslinie,
bis zu welcher die Linie 15 durch die
Bearbeitung herangebracht wird, kann irgendwo
im Bereich der Spalthöhe von 0,5 bis 2,0 µm liegen.
Wegen der relativ großen Genauigkeit, mit der
L₁, L₂ und h₂ ursprünglich bekannt sind, da sie
alle durch die gleiche Maske bestimmt werden,
im Gegensatz zu der geringeren ursprünglichen
Genauigkeit, mit der Yoff bekannt ist, erlaubt die
große Genauigkeit, mit welcher die Spalthöhe bekannt
ist, wenn der Durchgang des den Leiter 48
und die Sperrlinie 38 enthaltenden Fühlers unterbrochen
wird, die Bestimmung von Yoff mit wesentlich
erhöhter Genauigkeit. Im vorliegenden Beispiel
ist Yoff ursprünglich mit einer Genauigkeit von
etwa ±1,25 µm bekannt, während der Wert von h₂/Q
eine inhärente Ungenauigkeit von nur etwa ±0,25 µm
aufweist. Wenn die Bearbeitung so weit fortgeschritten
ist, daß die Linie 15 mit der Linie 39
übereinstimmt und der den Pfad 47 aufweisende
diskrete Fühler seinen elektrischen Durchgang verliert,
dann kann ein genauerer Wert für h₂/Q und Yoff
durch gleichzeitige Lösung der Gleichungen für
h₂/Q und Yoff unter Verwendung der beiden vorher für
die Spalthöhe gemessenen Werte errechnet werden.
Dies ergibt eine größere Genauigkeit von etwa
±0,125 µm für die endgültigen Berechnungen
der Spalthöhe, die aus der entsprechenden
Gleichung bestimmt wird, wenn die Bearbeitung
des Prismas 9 entlang der Linie 15 erfolgt.
Wenn demgemäß eine große Anzahl dieser zusammengesetzten
Fühler gleichzeitig während der Bearbeitung
eines viele Dünnfilmköpfe tragenden Prismas 9
verwendet wird, dann ist es möglich, die Bearbeitung
in einem Zeitpunkt zu beenden, in welchem die
maximale Anzahl von den Fühlern benachbarten
Köpfen die richtige Spalthöhe besitzen. Wenn man
alternativ hierzu eine Biegung des Prismas 9 gemäß
dem vorbeschriebenen Verfahren durchführen will,
dann kann man feststellen, welche Biegungsrichtung
erforderlich ist, um die größtmögliche Ausbeute
an guten Köpfen zu erhalten.
Fig. 7a zeigt einen stilisierten Dünnfilmwiderstand 32
mit Längen-, Höhen- und Dickenabmessungen L₂, h₂
und t₂. Der Stromfluß verläuft parallel zur
Längenabmessung.
Das schematische Schaltbild in Fig. 7b gibt den
elektrischen Stromkreis auf der Oberfläche 10
in Fig. 6 wieder und ist einer mathematischen
Analyse unter Verwendung der folgenden Symbole
zugänglich:
R = Widerstand
P = spezifischer Widerstand der Schicht
t = Schichtdicke
h = Widerstandshöhe
L = Widerstandslänge
A = Querschnittsfläche des Widerstandes.
P = spezifischer Widerstand der Schicht
t = Schichtdicke
h = Widerstandshöhe
L = Widerstandslänge
A = Querschnittsfläche des Widerstandes.
Die Leiterpfade oder Flächen in Fig. 6 werden
in der folgenden Analyse als Widerstände behandelt,
jedoch werden in den Fig. 6, 7a und 7b die gleichen
Bezugszeichen verwendet.
Es können die folgenden die Widerstandswerte jedes
Widerstandes bestimmenden Gleichungen aufgestellt
werden:
R₄ = PL₄/th₄ = CL₄/h₂
R₂ = PL₂/th₂ = CL₂/h₂
R₁ = PL₁/th₁ = CL₁/h₁
R₂ = PL₂/th₂ = CL₂/h₂
R₁ = PL₁/th₁ = CL₁/h₁
Es wird angenommen, daß P und t über die gesamte
Oberfläche des Prismas 9 gleichförmig sind und
daß h₂=h₄ es erlaubt, P/t durch C zu ersetzen.
Dies sind angemessene Annahmen.
Als nächstes wird h₁ in den Begriffen des Widerstands
und der Widerstandsgröße ausgedrückt:
R₁+R₄=C[(L₄/h₂)+(L₁/h₁)]
Das Ersetzen des Wertes für C=R₂h₂/L₂ in dieser
Gleichung ergibt
R₁+R₄=(R₂h₂/L₂) (L₄/h₂)+(R₂h₂/L₂) (L₁/h₁),
welche umgeschrieben werden kann in
h₁L₂(R₁+R₄)-h₁L₄R₂=R₂h₂L₁.
Somit erhält man
h₁=R₂h₂L₁/[L₂(R₁+R₄)-L₄R₂] (1)
Da Ic definitionsgemäß konstant ist, sind
R₁+R₄=V₁/Ic und R₂=V₂/Ic,
worin V₁ den mit dem Voltmeter
55 gemessenen Spannungsabfall über beide
Widerstände 31 und 34 und V₂ den mit dem Voltmesser
57 gemessenen Spannungsabfall über den Widerstand
32 darstellen. Beide Messungen erfolgen, wenn der
Umschalter 52 sich in seiner unteren Stellung befindet.
Beide Voltmeter 55 und 57 haben interne
Widerstände, die sehr groß sind im Vergleich zu
denen der Reihenschaltungen aus der Fläche 49,
den Pfaden 46 bis 48 und der Anschlußstelle 43
(Fig. 6). Daher ist die Spannung über diesen
Reihenpfaden vernachlässigbar, wenn die Spannungen
zwischen den Anschlußstellen 43 und 41 bzw. 42
gemessen wird. Die Pfade 46 bis 48 haben eine
doppelte Funktion in dem Sinn, als sie als Elemente
der diskreten Fühler 29 und außerdem als Leiterpfade
zwischen den Voltmetern 55 und 57 und
der Verbindung zwischen den Widerständen 31 und
32 dienen. Wenn die Bearbeitung das Liniensegment
40 erreicht, können die Spannungen V₁ und V₂ nicht
länger gemessen werden, da die an die Brücke 36
angrenzende Spannung nicht verfügbar ist. Zu
beachten ist, daß die Abmessungen des gesamten
Fühlers 29 sich etwa im Bereich von 1 µm bewegen.
Das Ersetzen dieser Werte für R₁ und R₂ in der
Gleichung (1) ergibt
h₁=(V₂/Ic) (h₂L₁)/[(V₁/Ic)L₂-(V₂/Ic)L₄]
oder
h₁=V₂h₂L₁/(V₁L₂-V₂L₄) (2)
Wenn x=L₄/L₂ und Q=L₂/L₁ gesetzt werden, so
daß L₄=xL₂ und L₂=QL₁ ergeben, dann ist L₄=xQL₁.
Das Ersetzen dieser Werte von L₂ und L₄
in Gleichung (2) ergibt
h₁=V₂h₂/Q(V₁-xV₂) (3)
In Fig. 6 ist definitionsgemäß h₁=Yoff+Spalthöhe,
wobei h₁ die jeweilige gegenwärtige Höhe des
Fühlers 31 darstellt. Das Ersetzen des Wertes von
h₁ in Gleichung (3) in diese Gleichung ergibt
Spalthöhe=[V₂h₂/Q(V₁-xV₂)]-Yoff.
Claims (6)
1. Verfahren zum Eichen eines auf einer Oberfläche
eines Blockes (9) angeordneten Bearbeitungsfühlers
für die Herstelung eines Magnetkopfes aus dem Block
(9), wobei eine erste Kante (15) der Oberfläche (10)
von ihrer ursprünglichen Lage ausgehend bis zu einer
idealen Endpositionslinie bearbeitet wird, die einen
vorbestimmten Abstand von einer durch ein Strukturmerkmalö
des Magnetkopfes festgelegten Strukturlinie
(27) besitzt, mit den Merkmalen:
der Bearbeitungsfühler ist vom Typ eines diskreten Fühlers und weist auf:
der Bearbeitungsfühler ist vom Typ eines diskreten Fühlers und weist auf:
- (a) eine untere leitende Fläche (11) auf der Oberfläche (10), die von der ursprünglichen Lage der ersten Kante (15) ausgeht und sich mindestens bis zur idealen Endpositionslinie (13a) erstreckt;
- (b) eine isolierende, auf die untere leitende Fläche (11) aufgetragene Sperrfläche (12), deren eine Kante eine Fühlliniengrenze (13) festlegt, die mindestens ein Liniensegment (13a) umfaßt, von denen jedes einen genauen bekannten Abstand von der Strukturlinie (27) aufweist und zwischen der idealen Endpositionslinie und der ursprünglichen Lage der ersten Kante (15) liegt, wobei sich die isolierende Sperrfläche (12) von der ursprünglichen Lage der ersten Kante (15) weg erstreckt;
- (c) eine wenigstens einen leitenden Pfad enthaltende Schicht (14), die außerhalb der Fläche zwischen der ursprünglichen Lage der ersten Kante (15) und der Fühlliniengrenze (13) vollständig auf der Sperrfläche (12) liegt, wobei jeder leitende Pfad sich über eines der Liniensegmente (13a) erstreckt und einen leitenden Kontakt mit der leitenden Fläche (11) herstellt; und
- (d) einen Durchgangsprüfer (22), der zwischen dem von der Fühlliniengrenze (13) entfernten Ende jedes leitenden Pfades und der unteren leitenden Fläche (11) angeschlossen ist und der eine Anzeige liefert, wenn der Durchgang zwischen dem leitenden Pfad und der unteren leitenden Fläche (11) beim Abtragen des Materials zwischen der ersten Kante (15) und der Fühlliniengrenze bei Erreichen der Fühlliniengrenze (13) unterbrochen wird;
ein analoger Fühler (28) mit folgenden Merkmalen ist
vorgesehen:
- (a) einem leitenden Widerstandsstreifen (31), der
sich entlang der ursprünglichen ersten Kante
(15) erstreckt und gekreuzt wird von
- (i) Verlängerungen von allen Liniensegmenten (38-40) der Fühlliniengrenze, die von den leitenden Pfaden (46-48) gekreuzt werden, und
- (ii) der idealen Endpositionslinie;
- (b) einer Widerstandsmeßvorrichtung (52, 53, 55, 57), die elektrisch über den leitenden Widerstandsstreifen (31) angeschlossen ist, um ein den Widerstand dieses Streifens anzeigendes Signal zu liefern;
und das Verfahren umfaßt folgende Schritte:
- (a) Bearbeiten der ersten Kante (15) der Oberfläche zur Strukturlinie hin, bis der Durchgangsprüfer (22) anzeigt, daß der Durchgang zwischen einem leitenden Pfad und der leitenden Fläche (11) unterbrochen wird; dann ohne weitere Bearbeitung
- (b) Analysieren des Signals der Widerstandsmeßvorrichtung (52, 53, 55, 57), um den Widerstand des leitenden Streifens (31) zu bestimmen;
- (c) Berechnen einer Konstante inverser Proportionalität
K aus einer Gleichung der Form h=K/R
durch Ersetzen
- (i) des bekannten Abstandes desjenigen Liniensegments, das vom unterbrochenen leitenden Pfad gekreuzt wird, dessen Durchgang mit der leitenden Fläche (11) unterbrochen wurde, für den Abstand h zwischen der Strukturlinie und der ersten Kante (15), und
- (ii) des durch die Widerstandsmeßvorrichtung (52, 53, 55, 57) angezeigten Widerstandswerts für den Widerstand R des leitenden Streifens (31), und Auflösen der Gleichung nach K;
- (d) Fortsetzen der Bearbeitung der ersten Kante (15) zur idealen Endpositionslinie hin;
- (e) periodisches Analysieren des Signals der Widerstandsmeßvorrichtung während des Bearbeitens, um den Widerstandswert des leitenden Streifens (31) zu bestimmen, und Berechnung des Wertes h hieraus; und
- (f) Beenden der Bearbeitung, wenn h auf einen Wert in einem vorbestimmten Bereich des Abstandes zwischen der idealen Endpositions- und der Strukturlinie verringert ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der analoge Fühler (28) weiter erste und zweite
Leiterpfade mit einem bekannten effektiven Längenverhältnis
x, von denen wenigstens der zweite Leiterpfad
einen merklichen Widerstand aufweist und von
denen jeder mit einem Ende des leitenden Widerstandsstreifens
(31) verbunden ist, und einen dritten Leiterpfad,
der mit der Verbindung zwischen dem zweiten
Leiterpfad und dem leitenden Widerstandsstreifen
(31) verbunden ist, umfaßt;
daß die von der ersten Kante (15) entfernte Kante des leitenden Widerstandsstreifens (31) einen Abstand Yoff von der Strukturlinie besitzt;
daß die Widerstandsmeßvorrichtung (52, 53, 55, 57) eine Konstantstromquelle aufweist, die in der Weise angeschlossen ist, daß sie einen Strom durch die Reihenschaltung von erstem Leiterpfad, leitendem Widerstandsstreifen und zweitem Leiterpfad schickt, wobei ein erstes und ein zweites Voltmeter Spannungen V₁ bzw. V₂ zwischen den nicht mit dem leitenden Widerstandsstreifen (31) verbundenen Enden der ersten und dritten sowie der zweiten und dritten Leiterpfade messen;
und daß die Fühlliniengrenze (13) des diskreten Fühlers wenigstens zwei voneinander abgesetzte Liniensegmente enthält, über die sich jeweils ein leitender Pfad quer erstreckt;
wobei das Verfahren folgende Schritte umfaßt:
daß die von der ersten Kante (15) entfernte Kante des leitenden Widerstandsstreifens (31) einen Abstand Yoff von der Strukturlinie besitzt;
daß die Widerstandsmeßvorrichtung (52, 53, 55, 57) eine Konstantstromquelle aufweist, die in der Weise angeschlossen ist, daß sie einen Strom durch die Reihenschaltung von erstem Leiterpfad, leitendem Widerstandsstreifen und zweitem Leiterpfad schickt, wobei ein erstes und ein zweites Voltmeter Spannungen V₁ bzw. V₂ zwischen den nicht mit dem leitenden Widerstandsstreifen (31) verbundenen Enden der ersten und dritten sowie der zweiten und dritten Leiterpfade messen;
und daß die Fühlliniengrenze (13) des diskreten Fühlers wenigstens zwei voneinander abgesetzte Liniensegmente enthält, über die sich jeweils ein leitender Pfad quer erstreckt;
wobei das Verfahren folgende Schritte umfaßt:
- a) Bearbeiten der ersten Kante der Oberfläche zur idealen Endpositionslinie (13a) hin, bis der Durchgangsprüfer (22) anzeigt, daß der Durchgang zwischen mindestens zwei leitenden Pfaden und der leitenden Fläche (11) unterbrochen wurde;
- b) Aufzeichnungen der Spannungen V₁ und V₂ in jedem Zeitpunkt, in dem der Durchgang für einen leitenden Pfad unterbrochen wird;
- c) Einsetzen der bekannten Werte der Spalthöhe für den Abstand zwischen den Liniensegmenten der Fühlliniengrenze (13) und der Strukturlinie und der entsprechenden Werte für die Spannungen V₁ und V₂, die aufgezeichnet wurden, als der Durchgang zwischen den zugeordneten leitenden Pfaden und der leitenden Fläche (11) unterbrochen wurde, in die Gleichung Spalthöhe=V₂h₂/Q (V₁-xV₂)-Yoff,um zwei lineare Gleichungen mit den beiden Unbekannten h₂/Q und Yoff zu bilden, wobei h₂ die Höhe des entsprechenden leitenden Pfades (32) und Q das Längenverhältnis L₂/L₁ der Länge L₂ des entsprechenden leitenden Pfades (32) zur Länge L₁ des leitenden Widerstandsstreifens (31) bedeuten;
- d) gleichzeitiges Lösen der beiden linearen Gleichungen für die Werte von h₂/Q und Yoff und Einsetzen dieser Werte in die die Spalthöhe bestimmende Gleichung;
- e) Fortsetzen der Bearbeitung der ersten Kante zur
idealen Endpositionslinie hin,
periodisches Aufzeichnen der Spannungen V₁ und V₂ während des Bearbeitens und Berechnung der Spalthöhe aus der entsprechenden Gleichung unter Verwendung der zuletzt aufgezeichneten Werte für Spannungen der zuletzt aufgezeichneten Werte für Spannungen V₁ und V₂ und der Werte für h₂/Q und Yoff aus der Lösung der beiden linearen Gleichungen; und - f) Beenden der Bearbeitung, wenn die Spalthöhe in den gewünschten Bereich fällt.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der erste und der zweite Leiterpfad nahezu
gleiche Abmessungen aufweisen und daß die die Spalthöhe
bestimmende Gleichung in den Größen V₁, V₂,
h₂/Q und Yoff lautet:
Spalthöhe=[V₂h₂/Q (V₁-V₂)]-Yoff.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der analoge Fühler (28) weiter erste und zweite
Leiterpfade mit einem bekannten effektiven Längenverhältnis
x, von denen wenigstens der zweite Leiterpfad
einen merklichen Widerstand aufweist und von
denen jeder mit einem Ende des leitenden Widerstandsstreifens
(31) verbunden ist, und einen dritten Leiterpfad,
der mit der Verbindung zwischen dem Leiterpfad
und dem leitenden Widerstandsstreifen (31) verbunden
ist, umfaßt;
daß die von der ersten Kante (15) entfernte Kante des leitenden Widerstandsstreifens (31) einen Abstand Yoff von der Strukturlinie besitzt;
daß die Widerstandsmeßvorrichtung (52, 53, 55, 57) eine Konstantstromquelle aufweist, die in der Weise angeschlossen ist, daß sie einen Strom durch die Reihenschaltung von erstem Leiterpfad, leitendem Widerstandsstreifen und zweitem Leiterpfad schickt, wobei ein erstes und ein zweites Voltmeter Spannungen V₁ bzw. V₂ zwischen den nicht mit dem leitenden Widerstandsstreifen (31) verbundenen Enden der ersten und dritten sowie der zweiten und dritten Leiterpfade messen; und
daß die Fühlliniengrenze (13) des diskreten Fühlers wenigstens ein Liniensegment enthält, über das sich quer ein leitender Pfad erstreckt;
wobei das Verfahren folgende Schritte umfaßt:
daß die von der ersten Kante (15) entfernte Kante des leitenden Widerstandsstreifens (31) einen Abstand Yoff von der Strukturlinie besitzt;
daß die Widerstandsmeßvorrichtung (52, 53, 55, 57) eine Konstantstromquelle aufweist, die in der Weise angeschlossen ist, daß sie einen Strom durch die Reihenschaltung von erstem Leiterpfad, leitendem Widerstandsstreifen und zweitem Leiterpfad schickt, wobei ein erstes und ein zweites Voltmeter Spannungen V₁ bzw. V₂ zwischen den nicht mit dem leitenden Widerstandsstreifen (31) verbundenen Enden der ersten und dritten sowie der zweiten und dritten Leiterpfade messen; und
daß die Fühlliniengrenze (13) des diskreten Fühlers wenigstens ein Liniensegment enthält, über das sich quer ein leitender Pfad erstreckt;
wobei das Verfahren folgende Schritte umfaßt:
- a) Bearbeiten der ersten Kante der Oberfläche zur idealen Endpositionslinie (13a) hin, bis der Durchgangsprüfer (22) anzeigt, daß der Durchgang zwischen mindestens einem leitenden Pfad und der leitenden Fläche (11) unterbrochen wurde;
- b) Aufzeichnen der Spannungen V₁ und V₂ in dem Zeitpunkt, in dem der Durchgang für einen leitenden Pfad unterbrochen wird;
- c) Einsetzen der bekannten Werte des Abstands zwischen dem Liniensegment der Fühlliniengrenze (13) und der Strukturlinie für die Spalthöhe, einem Schätzwert für h₂/Q und der entsprechenden Werte für die Spannungen V₁ und V₂, die aufgezeichnet wurden, als der Durchgang zwischen dem zugeordneten leitenden Pfad und der leitenden Fläche (11) unterbrochen wurde, in die Gleichung Spalthöhe=V₂h₂/Q (V₁-xV₂)-Yoff,um eine lineare Gleichung mit der Unbekannten Yoff zu bilden, wobei h₂ die Höhe des entsprechenden leitenden Pfades (32) und Q das Längenverhältnis L₂/L₁ der Länge L₂ des entsprechenden leitenden Pfades (32) zur Länge L₁ des leitenden WiderstandsstreifenS (31) bedeuten;
- d) Lösen der linearen Gleichung für den Wert von h₂/Q und Yoff und Einsetzen dieses Wertes in die die Spalthöhe bestimmende Gleichung;
- e) Fortsetzen der Bearbeitung der ersten Kante zur idealen Endpositionslinie hin, periodisches Aufzeichnen von den Spannungen V₁ und V₂ während des Bearbeitens und Berechnen der Spalthöhe aus der entsprechenden Gleichung unter Verwendung der zuletzt aufgezeichneten Werte für die Spannungen V₁ und V₂ und des Wertes für Yoff aus der Lösung der linearen Gleichung;
- f) Beenden der Bearbeitung, wenn die Spalthöhe in den gewünschten Bereich fällt.
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Family Cites Families (4)
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|---|---|---|---|---|
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-
1983
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- 1983-09-29 JP JP17945383A patent/JPS5984103A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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