DE3317215A1 - Verfahren zur quantitativen bestimmung von probenpartikeln - Google Patents

Verfahren zur quantitativen bestimmung von probenpartikeln

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DE3317215A1 DE19833317215 DE3317215A DE3317215A1 DE 3317215 A1 DE3317215 A1 DE 3317215A1 DE 19833317215 DE19833317215 DE 19833317215 DE 3317215 A DE3317215 A DE 3317215A DE 3317215 A1 DE3317215 A1 DE 3317215A1
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more

Description

  • Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Probenpartikeln
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Probenpartikeln, insbesonders von partikelförmigen Verbrennungsrückständen von Verbrennungskraftmaschinen.
  • Bei bekannten derartigen Verfahren bzw. Einrichtungen zu deren Durchführung wird beispielsweise die Änderung der Lichtreflexion von mit den Probenpartikeln geschwärztem Filtermaterial, oder die Lichtschwächung beim Durchgang durch ein die Pyobenpartikeln in einem gasförmigen Träger enthaltendes Meßvolumen, gemessen.
  • Ebenfalls bekannt ist beispielsweise die quantitative Bestimmung von Probenpartikeln durch Wägung der auf einem Probenträger angelagerten Partikeln. Die Nachteile dieser bekannten Verfahren liegen einerseits in ihrer relativ geringen Genauigkeit - so ist beispielsweise bei den genannten optischen Meßverfahren die Schichtdicke bzw. auch die Partikelgröße ein die Messung sehr wesentlich beeinflussender Parameter - und andererseits im relativ großen zeitlichen Aufwand zum Ermitteln einzelner Meßwerte - so beispielsweise bei dem angeführten Wägeverfahren - was wiederum die Anwendung für eine kontinuierliche bzw. quasikontinuierliche Bestimmung der Partikelmenge verhindert.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, welches auf einfache, genaue und auch für kontinuierliche Messungen ausreichend schnelle Art und Weise Aussagen über die vorhandene Menge von Probenpartikeln erlaubt, Dies wird gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß die Probenpartikeln in das von einem Mikrowellen- Generator erzeugte elektromagnetische Feld gebracht werden, daß zumindest ein sich aufgrund der Probenpartikeln ändernder Parameter des elektromagnetischen Feldes gemessen wird und daß aus den gemessenen Änderungen auf die Menge der Probenpartikeln geschlossen wird. Aufgrund der Schnelligkeit und Einfachheit, mit der Messungen von Parametern eines elektromagnetischen Feldes durchgeführt werden können, ist eine kontinuierliche Messung an den eingebrachten Probenpartikeln möglich, wobei durch die Verwendung von Mikrowellen (als solche ist elektromagnetische Strahlung in einem Wellenlängenbereich von 300 MHz bis GHz zu verstehen) sehr genau quantitative Messungen möglich sind, und auch die Partikelbelegung von optisch undurchlässigen Körpern, wie z.B. Keramikfiltern, gemessen werden kann.
  • In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Probenpartikeln in den Innenraum eines vom Mikrowellen-Generator angespeisten Hohlraum-Resonators eingebracht werden. Unter einem Hohlraum-Resonator versteht man einen leeren oder mit einem dielektrischen Material mit relativ geringen Verlusten erfüllten Raum, der allseitig von elektrisch gut leitenden Wänden begrenzt ist. Über eine Kopplungseinrichtung, z.B. über Öffnungen in den elektrisch leitenden Wänden, wird die elektromagnetische Energie ein- bzw. ausgekoppelt. Von den in den Hohlraum-Resonator eingebrachten Probenpartikeln wird ein Teil der eingekoppelten Mikrowellenenergie absorbiert, bzw. das ursprüngliche, ohne Probenpartikeln vorhandene elektromagnetische Feldbild gestört. Über die sich dabei ändernden Parameter des elektromagnetischen Feldes-kann auf die Menge der im Hohlraum-Resonator befindlichen Probenpartikeln geschlossen werden.
  • In diesem Zusammenhang ist nach einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung vorgesehen, daß die Änderung der Güte und/oder der Resonanzfrequenz einer Resonanz des Hohlraum-Resonators gemessen wird. Ein Hohlraum-Resonator der beschriebenen Art hat eine unendliche An- zahl von Eigenfrequenzen, welche für einen gegebenen Resonator praktisch nur mehr von der Dielektrizitätskonstante des im Innenraum des Resonators befindlichen Materials abhängen. Betrachtet man eine einzelne Resonanzfrequenz, so kommt es durch Änderung der Dielektrizitätskonstante des im Innenraum befindlichen Materials - wie dies durch Einbringung von Probenpartikeln geschieht - zu einer Verschiebung der Resonanz frequenz. Außerdem- ändert sich aufgrund der absorbierenden Eigenschaften der eingebrachten Probenpartikeln die Güte Q des Hohlraum"Resonators, die folgendermaßen definiert ist: Q = wo . W mit tJo Kreisfrequenz bei Resonanz W . ... die im Resonator gespei cherte Energie P v ... Verlustleistung Die Beeinflussung des elektromagnetischen Feldes im Hohlraum-Resonator bei Einbringung von Probenpartikeln kann auch nach einer anderen Weiterbildung der Erfindung dadurch bestimmt werden, daß die Anderung eines vom Hohlraum-Resonator reflektierten Signals bei einer bestimmten Frequenz gemessen wird. Diese Ausgestaltung des Verfahrens ist für rasche Messungen vorzuziehen, da damit nicht mehr eine komplette Resonanzkurve aufgezeichnet werden muß, was insbesonders dynamische bzw.
  • kontinuierliche Messungen sehr erleichtert.
  • Bei einer anderen Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist vorgesehen, daß die Dämpfung des Ausgangssignals einer übertragungsstrecke in deren Innenraum die Probenpartikeln einbringbar sind und die vom Mikrowellen-Generator mit einer bestimmten Frequenz angespeist wird, gemessen wird. Es kann auch hier wiederum ein einfacher Mikrowellen-Generator, der einen bei einer festen Frequenz schwingenden Oszillator hat, verwendet werden.
  • Nach einer weiteren bevorzugten Ausbildung der Erfindung werden die Probenpartikeln mittels eines Trägers aus verlustarmem Material in das Mikrowelienfeld gebracht, wobei besonders vorteilhaft ist, wenn die Probenpartikeln in kontinuierlicher oder zumindest quasikontinuierlicher Weise auf das Trägermaterial aufgebracht und mit einer Abdeckung versehen werden und vorzugsweise sowohl Trägermaterial als auch Abdeckung nach der Messung gereinigt und der Wiederverwendung zugeführt werden. Prinzipiell wäre es natürlich auch möglich, die Probenpartikeln in Form von Schwebeteilchen über eine Gasströmung in den Hohlraum-Resonator bzw. den Hohlleiter einzubringen, wobei allerdings ebenfalls ein Hüllrohr von großem Vorteil ist, um Verschmutzungen bzw.
  • unkontrollierbare Strömungswege zu vermeiden. Besonders die Verwendung eines Trägermaterials, auf welchem die Probenpartikeln beispielsweise elektrostatisch aufgebracht sind, bietet jedoch den Vorteil, daß nach Reinigung desselben auf einfache Weise Serienmessungen bzw.
  • kontinuierliche Messungen durchgeführt werden können.
  • Das Trägermaterial weist dabei ebenso wie die über den Probenpartikeln aufgebrachte Abdeckung einen möglichst geringen Verlustwinkel für die eingekoppelte Mikrowellenstrahlung auf, wodurch unerwünschte Leistungsverluste möglichst gering gehalten werden.
  • Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung besteht darin, daß als Träger für die Probenpartikeln unmittelbar ein Teil einer Abgasnachbehandlungseinrichtung einer Verbrennungskraftmaschine, vorzugsweise eine Partikelfalle in Form eines keramischen Filters, verwendet wird. Damit ist beispielsweise auf sehr einfache Weise erstmals die kontinuierliche Beobachtung der Partikelbeladung in Abgasnachbehandlungseinrichtun gen möglich. Dabei kann die Partikelfalle wieder im Innenraum eines Hohlraum-Resonators liegen, aus dessen Resonanzeigenschaften in oben beschriebener Art, die augenblickliche Partikelbelegung der Partikelfalle (z.B.
  • des Filters) bestimmt werden kann. Aus dem zeitlichen Verlauf dieser Partikelbelegung kann auch die Menge der pro Zeiteinheit von der Verbrennungskraftmaschine ausgestoßenen Partikeln bestimmt werden. Ebenso kann damit die Wirkung von Reinigungs- bzw. Regenerationsverfahren (z.B. Nachverbrennen der Partikeln in einem keramischen Filter) beobachtet werden.
  • Die Abgasnachbehandlungseinrichtung oder der die Partikelfalle beinhaltende Teil dieser Einrichtung kann statt in einen Hohlraum-Resonator, natürlich in vorstehend beschriebener Art auch in eine übertragungsstrecke des Mikrowellenfeldes gebracht werden. Aus der Änderung des Übertragungsverhaltens dieser Strecke kann ebenfalls die augenblickliche Partikelbelegung bestimmt werden.
  • Diese Verfahren haben den großen Vorteil, daß mit ihnen die Funktion von Abgasnachbehandlungseinrichtungen in situ und mit einem Echtzeit-Verfahren überprüft werd.en können. Da die Partikelfallen häufig aus optisch undurchsichtigen Keramikfiltern bestehen, welche für Mikrowellen aber fast vollkommen durchlässig sind, eignet sich dieses Verfahren hervorragend zur kontinuierlichen Messung der Partikelbelegung dieser keramischen Filter, und es wird das bisher durchgeführte komplizierte und zeitraubende Ausbauen und Abwägen der Filter, welche auch gegen Feuchtigkeitsannahme geschützt werden müssen, vermieden.
  • Die Erfindung wird im folgenden anhand der in der Zeichnung schematisch dargestellten Ausführungsbeispie le für Einrichtungen zur Anwendung des Verfahrens näher erläutert: Fig. 1 zeigt ein Blockschaltbild einer Einrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
  • Fig. 2 zeigt ein Detail aus einem weiteren Ausführungsbeispiel und Fig. 3 zeigt ein Blockschaltbild einer anderen Einrichtung zur Anwendung des Verfahrens pach der Erfindung Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel ist ein Mikrowellen-Generator 1 als sogenannter ldobbelsender ausgebildet, dessen vorzugsweise im X-Band liegende Frequenzen (Um 10GHz) und Wobbelgeschwindigkeit eingestellt werden können. Die vom Mikrowellen-Generator 1 gelieferte Mikrowellenenergie gelangt über eie Abschwächereiheit 2 - diese weist in der Regel mehrere einzelne Abschwächer auf, da damit auch große Dämpfungswerte noch präzise einstellbar sind - sowie einen Frequenzmesser 3 zu einem Richtkoppler oder Zirkulator 4.
  • Der Frequenzmesser 3 dient zur exakten Frequenzskalierung und besteht üblicherweise aus einem Hohlleiter mit einem angekoppelten abstimmbaren Resonator, der der Leitung bei seiner Resonanzfrequenz Energie entzieht. Die dadurch entstehenden Einbrüche in der Frequenzkennlinie können als Frequenzmarken in die aufgenommene Frequenz/ Leistungs-Kennlinie eingeblendet werden.
  • über den Zirkulator 4 wird die Mikrowellenenergie vom Tor 5 zum Tor 6 gekoppelt, von wo ein Hohlraum-Resonator 7 über eine Kopplungseinrichtung 11 (z.B. ein hier nicht dargestelltes Loch in einer der Resonatorwände) angespeist wird. Das vom Hohlraum-Resonator 7 reflektierte Signal wird vom Zirkulator 4 vom Tor 6 zum Tor 8 gekoppelt und einem Detektor 9 zugeführt. Das Ausgangssignal des Detektors 9 sowie ein Referenzsignal des Mikrowellengenerators 1 werden an eine Auswerte-bzw. Registriereinheit 10 weitergeleitet. Diese ist im einfachsten Fall ein x-y Schreiber. Zur Echtzeitauswertung ist es jedoch vorteilhafter, die genannten Signale über Analogdigitalwandler einer digitalen Weiterverarbeitung zuzuführen.
  • In den Innenraum des Hoglraum-Resonators 7 sind auf hier nicht dargestellte Weise Probenpartikeln, deren Menge bestimmt werden soll, einbringbar. Dadurch wird das ohne Probenpartikeln im Hohlraum-Resonator vorhandene ursprüngliche elektromagnetische Feldbild gestört, was über die Messung von Änderungen von Parametern des elektromagnetischen Feldes einen Rückschluß auf die Menge der in den Hohlraum-Resonator eingebrachten Probenpartikeln erlaubt. Mit der in Fig. 1 dargestellten Anordnung kann beispielsweise die Güteänderung des Hohlraum-Resonators bestimmt werden. Pro Mengenmessung müssen dabei zwei Resonanzkurven aufgezeichnet werden.
  • Eimal die Resonanzkurve des unbeladenen Resonators -d.h. des Resonators ohne Probenpartikeln - und einmal die Resonanzkurve des Resonators mit den zu messenden Probenpartikeln. Aus diesen beiden Kurven können in der Auswerteeinheit die Güte QO 0 des ungestörten Resonators sowie die Güte Q des gestörten Resonators berechnet und zum Beispiel aus dem Quotienten Qo/Q1 dieser beiden Größen die Masse der Probenpartikeln eventuell mit Hilfe einer vorher bestimmten Zuordnung&funktion berechnet werden.
  • Anstelle des in Fig. 1 als Abschlußresonator ausgebildeten Hohlraum-Resonators 7 kann auch ein Durchgangs-Resonator verwendet -werden, der neben einer Einkoppelungsvorrichtung auch eine Auskoppelungsvorrichtung für Mikrowellenenergie aufweist, wodurch auch der Zirkulator 4 entfallen könnte.
  • In Fig. 2 ist ein Beispiel für die Einbringung der Probenpartikeln in den Innenraum des Hohlraum-Resonators 7 dargestellt. An einer durch Pfeile 13 gekennzeichneten Stelle werden Probenpartikeln, wie beispiels weise partikelförmige Verbrennungsrückstände von Verbrennungskraftmaschinen, auf ein bandförmiges Träger material 12 aufgebracht, welches sich in Richtung des Teiles 14 über Rollen 15 bewegt. Die Aufbringung kann beispielsweise elektrostatisch oder auf sonstige geeignete Weise erfolgen. Über Schlitze 16 in der Wand des Hohlraum-Resonators 7 wird das Trägermaterial 12 durch den Innenraum des Resonators geführt, wobei mit Hilfe einer bandförmigen Abdeckung 17 eine Verunreinigung des Innenraumes des Resonators durch vom Trägermaterial 12 abfallende Probenpartikeln verhindert wird Sowohl Trägermaterial 12 als auch Abdeckung 17 sind in Form von Endlosbändern ausgeführt und werden nach dem Durchgang der Probenpartikeln durch den Innenraum des Hohlraum-Resonators -7 durch nur schematisch dargestllte Einrichtungen 18 gesäubert.
  • Die dargestellte Einrichtung eignet sich insbesonders zur Durchführung von raschen Messungen, wie sie beispielsweise zur Überwachung von dynamischen Vorgängen - z.B. Bestimmung von Verbrennungsrückständen als Funktion der Drehzahl bei Verbrennungskraftmaschlnen -erforderlich sind. Dazu ist allerdings die oben besprochene Art der Messung von Änderungen des elektromagnetischen Feldes im Hohlraum-Resonator über die Gütebestimmung desselben weniger geeignet, da die Aufnahme der gesamten Resonanzkurve doch gewisse Zeit in Anspruch nimmt. Für derartige dynamische Messungen kann jedoch anstelle der Güte messung des Hohlraum-Resonators beispielsweise eine Messung des reflektierten Signals bei einer festen Frequenz durchgeführt werden, woraus ebenfalls auf die im Resonator befindliche Menge an Probenpartikeln geschlossen werden kann. Der dazu erforderliche Meßaufbau ist prinzipiell der gleiche wie in Fig.
  • 1 dargestellt, wobei für den Mikrowellengenerator 1 aber kein relativ aufwendiger Wobbelsender mehr erforderlich ist, sondern mit einem einfachen Oszillator, z.B. einem sogenannten Gunn-Oszillator, das Auslangen gefunden wird.
  • In Fig. 3 ist eine weitere Möglichkeit zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt, wobei als Mikrowellen-Generator 1 wiederum ein einfacher Oszillator, der bei einer festen Frequenz schwingt, verwendet werden kann. über einen Richtkoppler 19 und einen Detektor 20 wird ein Referenzsignal ausgekoppelt und an einen Eingang (+) eines Differenzverstärkers 21 gelegt.
  • Anstelle des bei den Ausführungen nach den Fig. 1 und 2 vorhandenen Hohlraum-Resonator 7 ist hier eine z.B. als Hohlleiter 22 ausgebildete Übertragungsstrecke vorgesehen, welche vom Mikrowellen-Generator 1 angespeist wird und deren Ausgangssignal über einen einstellbaren Abschwächer 23 einem Detektor 24 zugeführt wird. Das Meß- signal des Detektors 24 liegt am anderen Eingang (-) des Differenzverstärkers 21.
  • Die Probenpartikeln werden hier z.B. in einem Keramikfilter 25 in der Übertragungsstrecke gesammelt, wodurch deren Ubertragungseigenschaften beeinflußt werden und eine Dämpfung ihres Ausgangssignals auftritt. Der Abschwächer 23 wird so eingestellt, daß zu einer Zeit t die vom Differenzverstärker 21 festgestellte Signaldifferenz Null wird. Ändert sich nun die Partikelbelegung, so wird sich am Ausgang des Differenzverstärkers 21 ein Meßsignal ergeben, das eine Funktion der Menge nach der Zeit to eingebrachten Probenpartikeln ist.
  • Anstelle der in Fig. 2 dargestellten Möglichkeit der Einbringung der Probenpartikeln über bandförmiges und mit einer Abdeckung versehenes Trägermaterial ist es auch möglich, die Probenpartikeln in Form von Schwebeteilchen über eine Gasströmung in den Hohlraurn-Resonator bzw. in die Übertragungsleitung einzubringen. Um Ablagerungen der Probenpartikeln in den Mikrowellen-Bauelementen zu verhindern, könnte dabei der Gasstrom auch in einem verlustarmen Füllrohr geführt werden. Leerseite

Claims (8)

  1. Patentansprüche 1verfahren zur quantitativen Bestimmung von Probenpartikeln, insbesonders von partikelförmigen Verbrennungsrückständen von Verbrennungskraftmaschinen, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die Probenpartikeln in das von einem Mikrowellen-Generator (1) erzeugte elektromagnetische Feld gebracht werden, daß zumindest ein sich aufgrund der Probenpartikeln ändernder Parameter des elektromagnetischen Feldes gemessen wird und daß aus den gemessenen Änderungen auf die Menge der Probenpartikeln geschlossen wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Probenpartikeln in den Innenraum eines vom Mikrowellen-Generator (1) angespeisten Hohlraum-Resonators {7) eingebracht werden.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Änderung der Güte und/oder der Resonanzfrequenz einer Resonanz des Hohlraum-Resonators (7) gemessen wird.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Änderung eines vom Hohlraum-Resonators (7) reflektierten Signals bei einer bestimmten Frequenz gemessen wird.
  5. 5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Dämpfung des Ausgangssignals einer Übertragungsstrecke (22), in deren Innenraum die Probenpartikeln einbringbar sind und die vom Mikrowellen-Generator (1) mit einer bestimmten Frequenz angespeist wird, gemessen wird.
  6. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Probenpartikeln mittels eines Trägers (12) aus verlustarmem Material in das Mikrowellenfeld gebracht werden.
  7. 7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, da3 die Probenpartikeln in kontinuierlicher oder zumindest quasi-kontinuierlicher Weise auf das Trägermaterial (12) aufgebracht und mit einer Abdeckung (17) versehen werden, und daß vorzugsweise sowohl Trägermaterial (12) als auch Abdeckung (17) nach der Messung gereinigt und der Wiederverwendung zugeführt werden.
  8. 8. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß als Träger für die Probenpartikeln unmittelbar ein Teil einer Abgasnachbehandlungseinrichtung einer Verbrennungskraftmaschine, vorzugsweise eine Partikelfalle in Form eines keramischen Filters, verwendet wird.
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