DE3149138A1 - METHOD AND DEVICE FOR EMISSION DEGREE-INDEPENDENT TEMPERATURE MEASUREMENT - Google Patents

METHOD AND DEVICE FOR EMISSION DEGREE-INDEPENDENT TEMPERATURE MEASUREMENT

Info

Publication number
DE3149138A1
DE3149138A1 DE19813149138 DE3149138A DE3149138A1 DE 3149138 A1 DE3149138 A1 DE 3149138A1 DE 19813149138 DE19813149138 DE 19813149138 DE 3149138 A DE3149138 A DE 3149138A DE 3149138 A1 DE3149138 A1 DE 3149138A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
temperature
spectral ranges
computer
spectral
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19813149138
Other languages
German (de)
Inventor
Franz Dr.-Ing. DDR 3090 Magdeburg Engel
Manfred Dr.-Ing. DDR 8020 Dresden Zimmerhackl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
WEINERT E MESSGERAETEWERK
Original Assignee
WEINERT E MESSGERAETEWERK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by WEINERT E MESSGERAETEWERK filed Critical WEINERT E MESSGERAETEWERK
Publication of DE3149138A1 publication Critical patent/DE3149138A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/60Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0896Optical arrangements using a light source, e.g. for illuminating a surface
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/80Calibration
    • G01J5/802Calibration by correcting for emissivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/58Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using absorption; using extinction effect
    • G01J2005/583Interferences, i.e. fringe variation with temperature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

3U91383U9138

Titel der ErfindungTitle of the invention

Verfahren und Einrichtung zur emissionsgradunabhängigen Temperatürme s sungProcess and device for temperature measurement independent of the emission level

Anwendungsgebiet der ErfindungField of application of the invention

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Einrichtung zur berührungslosen emissionsgradunabhängigen Messung der Temperatur von Meßobjektoberflächen auf der Basis der Strahlungspyrometrie, wobei die Erfindung insbesondere innerhalb von Forschungsarbeiten und bei Voruntersuchungen für den Einsatz von Temperaturmeßeinrichtungen in technologischen Prozessen angewendet werden kann·The invention relates to a method and a device for non-contact measurement of the temperature of test object surfaces, regardless of the degree of emission, on the basis of radiation pyrometry, the invention in particular within research work and in preliminary studies for use of temperature measuring devices can be used in technological processes

Charakteristik der bekannten technischen LösungenCharacteristics of the known technical solutions

Es sind bereits ein Verfahren und eine Einrichtung vorgeschlagen worden, bei denen zur Messung der wahren Objekttemperatur mehrere feste Arbeitsspektralbereiche benutzt werden. Dieses Verfahren und diese Einrichtung sind dafür sehr geeignet, wenn Vorinformationen über den Verlauf des Emissionsgrades der Meßobjektoberfläche in Abhängigkeit von der Wellenlänge und über die Strahlungsverhältnisse des Meßobjektraumes vorhanden sind. Sie sind ungeeignet, wenn keine Vorinformationen vorliegen.A method and an apparatus have been proposed in which to measure the true object temperature several fixed working spectral ranges can be used. This procedure and this facility are very suitable for if prior information about the course of the emissivity of the measurement object surface as a function of the wavelength and are available via the radiation conditions of the test object space. They are unsuitable if there is no prior information are present.

" *:*31 A91"* : * 31 A91

Ziel der ErfindungObject of the invention

Das Ziel der Erfindung besteht darin, die berührungslose Untersuchung von Meßobjektoberflachen und Meßobjekträumen zum Zwecke der Messung der wahren Objekttemperatur mit rein pyrometrischen Mitteln in der Forschung und bei Voruntersuchungen für den Einsatz von Temperaturmeßeinrichtungen in technologischen Prozessen zu ermöglichen. Der nützliche Effekt bei der Anwendung der Erfindung ist darin zu sehen, daß die bekannten Vorteile der berührungslosen Temperaturmessung auch in solchen Anwendungsbereichen genutzt werden können, wo dies bisher wegen der komplizierten Meß be din gun gen nicht möglich war. Ferner wird durch die Anwendung der Erfindung der Aufwand bei Voruaborsuchungen zum Einsatz von Temperaturmeßeinrichtungen wesentlich vermindert.The aim of the invention is to enable the contactless investigation of measurement object surfaces and measurement object spaces for the purpose of measuring the true object temperature with purely pyrometric means in research and in preliminary investigations for the use of temperature measuring devices in technological processes. The useful effect of using the invention can be seen in the fact that the known advantages of non-contact temperature measurement can also be used in areas of application where this was previously not possible because of the complicated measuring conditions. Furthermore, the use of the invention significantly reduces the effort involved in investigations for the use of temperature measuring devices, among other things.

Darlegung des Wesens der ErfindungExplain the essence of the invention

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine berührungslose Bestimmung der wahren Objekttemperatür an Meßobjektoberflächen und in Meßobjekträumen zu ermöglichen, ohne daß Vorinformationen über den Verlauf des Emissionsgrades der Meßobjektoberfläche in Abhängigkeit der Wellenlänge und über die Strahlungsverhältnisse des MeßObjektraumes vorhanden sind. Darüber hinaus sollen dabei Informationen, die den Einsatz bekannter Verfahren ermöglichen, gewonnen und gespeichert werden.The invention is based on the object of a non-contact Determination of the true object temperature on the surface of the object to be measured and in test object rooms without prior information are available via the course of the emissivity of the measurement object surface as a function of the wavelength and via the radiation conditions of the measurement object space. Furthermore information that enables the use of known processes is to be obtained and stored.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß das gesamte Spektrum der Temperaturstrahlung der Meßobjektoberflnche einschließlich der von ihr reflektierten Umgebungsstrahlung aufgenommen und ausgewertet wird. Als Hilfsmittel wird ein Hilfsstrahler mit bekannter spektraler Zusammensetzung verwendet, dessen Spektrum nach Reflexion an der Meßobjektoberfläche aufgenommen und in die Auswertung einbezogen wird. Liegt im KFiedertemperaturbere&ch(5O.#.3OO°C) ein präparierter Meßraum(Schwarze Umgebungsstrahlung) vor, kann auf den Hilfsstrahler verzichtet werden und die über dieAccording to the invention, the object is achieved in that the entire spectrum of the temperature radiation of the measurement object surface, including the ambient radiation reflected by it, is recorded and evaluated. An auxiliary radiator with a known spectral composition is used as an aid, the spectrum of which is recorded after reflection on the surface of the measurement object and included in the evaluation. Located in the & KFiedertemperaturbere ch (5O. # .3OO ° C) a prepared measuring space (Black ambient radiation) before, can be dispensed with the auxiliary radiator and on the

3H91383H9138

Meßobjektoberfläche in die Meßeinrichtung reflektierte Umgebungsstrahlung in bekannter Weise als Eingangsgröße für die Informationsverarbeitung verwendet werden.Ambient radiation reflected in the measuring object surface can be used in a known manner as an input variable for information processing.

Die Auswertung erfolgt derart, daß mittels eine3 Suchalgorithmus ein Rechner die Bandstrahlungsmeßwerte aller Spektralbereiche des aufgenommenen Spektrums solange verknüpft, bis die Auswertung von zwei verschiedenen Spektralbereichskombinationen bei einer willkürlich angenommenen Emissionsgradverknüpfung zu gleichen Temperaturwerten führt. Diese sind dann auch mit der wahren Objekttemperatur der Meßobjektoberfläche identisch.The evaluation is carried out in such a way that by means of a search algorithm a computer links the band radiation measurements of all spectral ranges of the recorded spectrum as long as until the evaluation of two different spectral range combinations leads to the same temperature values in the case of an arbitrarily assumed emissivity link. These are then also with the true object temperature of the measuring object surface identical.

Mit Hilfe von Reflexionsverhältnismessungen werden die spektralen Emissionsgrade, wie bereits vorgeschlagen, ermittelt und gespeichert. Erfindungsgemäß werden mit dem beschriebenen Verfahren die Spektralbereiche aus dem Spektrum der Temperaturstrahlung des Meßobjektes ermittelt, in denen es grau strahlt oder wo der Emissionsgradverlauf in Abhängigkeit von der Wellenlänge linear ist. Das Verhalten des Emissionsgrades zwischen den ermittelten Spektralbereichen kann dabei beliebig sein.As already proposed, the spectral emissivities are determined with the help of reflection ratio measurements and saved. According to the invention, with the method described, the spectral ranges are derived from the spectrum of the temperature radiation of the measuring object is determined in which it shines gray or where the emissivity curve depends on the wavelength is linear. The behavior of the emissivity between the determined spectral ranges can be arbitrary be.

Der Rechner wertet die an der Meßobjektoberfläche reflektierte Strahlung des Hilfsstrahlers und der Meßobjektumgebung derart aus, daß solche Spektralbereiche ermittelt werden, wo die Meßobjektumgebung grau strahlt und ihr Einfluß ermittelt bzw. eliminiert werden kann.The computer evaluates the amount reflected on the surface of the object to be measured Radiation of the auxiliary radiator and the measurement object environment in such a way from that such spectral ranges are determined where the measurement object environment shines gray and its influence can be determined or eliminated.

Die Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, daß zur Messung des Spektrums der Temperatürstrahlung der MeßobjektoberflMche eine Interferometeranordnung eingesetzt ist. Diese ist dadurch gekennzeichnet, daß entweder ein beweglicher Spiegel auf einen piezoelektrischen Schwinger angeordnet ist und nach dem Strahlungsdetektor elektronische Filter,, welche wie im optischen Kanal befindlicheThe device for carrying out the method is according to the invention characterized in that an interferometer arrangement is used to measure the spectrum of the temperature radiation of the measurement object surface is used. This is characterized in that either a movable mirror on a piezoelectric Oscillator is arranged and after the radiation detector electronic filters, which are located as in the optical channel

■·■ "'3U9138■ · ■ "'3U9138

Filter wirken, zur Abgrenzung der auszuwerteenden Spektralbereiche geschaltet sind oder daß ein fester Spiegel schräg zur Strahlungsrichtung angeordnet ist und zur Auflösung des Spektrums eine Detektorzeile eingesetzt ist.Filters act to delimit the spectral ranges to be evaluated are switched or that a fixed mirror is arranged obliquely to the direction of radiation and to resolve the Spectrum a detector line is used.

AusführungsbeispielEmbodiment

Anhand von Ausführungsbeispielen soll die Erfindung näher erläutert werden. Die Meßeinrichtung zur Messung der wahren Objekttemperatur besteht aus einem Fourier-Interferometer für den Infrarotbereich von 3...15/um (Niedertemperaturbereich von 50...30O0G) mit einer spektralen Auflösung von Δ X « 2/um und einer Temperaturauflösung von besser als 0,05 K beiThe invention is to be explained in more detail on the basis of exemplary embodiments. The measuring device for measuring the true object temperature consists of a Fourier interferometer for the infrared range of 3 ... 15 / um (low temperature range of 50 ... 30O 0 G) with a spectral resolution of Δ X «2 / um and a temperature resolution of better than 0.05 K at

λ = 10 ,um. Das Fourier-Interferometer ist bekanntermaßen aufgebaut. Im Unterschied zu den bekannten Verfahren wird der bewegliche Spiegel des Interferometers mittels eines piezoelektrischen Schwingers bewegt und das Detektorsignal wird mittels elektronischer Filter einschließlich Gleichrichter "und Spitzenwertspeicher verarbeitet. Das elektronische Filter hat praktisch die gleiche Wirkung wie ein Filter im optischen Kanal. Es werden z.B. 6 Filter parallel geschaltet und die Meßwerte multiplex bei einem Spiegelhub aufgenommen. Zusätzlich wird der Mittelwert über mehrere Spiegelhübe gebildet, wodurch die Genauigkeit des Verfahrens wesentlich gesteigert wird. Die Gehäusetemperaturkompensation erfolgt mittels eines Rechners, welcher auch die Verknüpfung der spektralen Meßwerte vornimmt und die wahre Objekttemperatür berechnet. Die Verknüpfung erfolgt derart, daß der Rechner jeweils zwei Meßwerte der Strahlungsintensität der einzelnen Spektralbereiche miteinander ins Verhältnis setzt und mittels eines Suchalgorithmus die Bereiche bestimmt, wo die Auswertung der Verhältnisbildung gleiche Werte für die Objekttemperatur ergibt. Das trifft nur auf solche Spektralbereiche zu, in denen die MeßobjektoberflHche gleiche spektrale Emissionsgrade aufweist, d. h. in denen sie als grauer Strahler wirkt. Die so ermittelte Objekttemperatür ist mit der wahren Objekttemperatur identisch.λ = 10 µm. The Fourier interferometer is well known built up. In contrast to the known method, the movable mirror of the interferometer is made by means of a piezoelectric Oscillator is moved and the detector signal is processed by means of an electronic filter including a rectifier "and peak value memory processed. The electronic filter has practically the same effect as a filter in the optical Channel. For example, 6 filters are connected in parallel and the measured values are recorded multiplexed with a mirror lift. Additionally the mean value is formed over several mirror strokes, which significantly increases the accuracy of the method will. The housing temperature compensation takes place by means of a computer, which also links the spectral measured values and calculates the true object temperature. The link takes place in such a way that the computer combines two measured values of the radiation intensity of the individual spectral ranges and uses a search algorithm to determine the areas where the evaluation of the ratio formation results in the same values for the object temperature. This only applies to those spectral ranges in which the object surface has the same spectral emissivity, d. H. in which it acts as a gray spotlight. The so determined The object temperature is with the true object temperature identical.

-■ '-31A9138- ■ '-31A9138

Ss ist aber auch möglich, einen zur Strahlungsrichtung schräg angeordneten festen Spiegel zu benützen, wodurch die Auflösung des Spektrums mittels einer Detektorzeile in einzelne Spektral bereiche erfolgen kann·But Ss is also possible, one inclined to the direction of radiation arranged fixed mirror to use, whereby the resolution of the spectrum by means of a detector line in individual spectral areas can be done

Die Verknüpfung der Bandstrahlungsmeßwerte kann auch derart erfolgen, daß der Rechner jeweils drei Meßwerte der Strahlungs intensität der einzelnen Spektralbereiche so verknüpft, daß die Lösung des nichtlinearen GleichungssystemsThe linkage of the strip radiation measurement values can also be carried out in this way take place that the computer links three measured values of the radiation intensity of the individual spectral ranges so that the solution of the nonlinear system of equations

Vf (λι, ει> V V
Vf(X2, ε 2. ν V
V f (λ ι, ε ι> VV
Vf (X 2 , ε 2. Ν V

U3= f (λ3, g3, T0, I11)U 3 = f (λ 3 , g 3 , T 0 , I 11 )

S1= a ·λS 1 = a * λ

S2= a ' * 2 S3= a · X3 S 2 = a '* 2 S 3 = a * X 3

die Objekttemperatur ergibt. Mittels eines Suchalgorithmus werden die Spektralbereichskombinationen bestimmt, für die sich gleiche Objekttemperaturen ergeben· Diese Spektralbereichskombinationen haben spektrale Emissionsgrade, welche sich linear mit der Wellenlänge ändern. Die ermittelte Objekttemperatur ist die wahre Objekttemperatur.the object temperature results. Using a search algorithm the spectral range combinations are determined for which the same object temperatures result · These spectral range combinations have spectral emissivities that change linearly with wavelength. The determined object temperature is the true object temperature.

Im Hochtemperaturbereich oder wenn im Hiedertemperaturbereich die Strahlungsverhältnisse im Meßobjektraum nicht bekannt sind, wird zusätzlich ein Hilfsstrahler benutzt. Die Meßeinrichtung mißt die spektrale Meßobjektstrahlung mit und ohne die an der Meßobjektoberfläche reflektierte Hilfsstrahlung. Der Rechner bestimmt mittels eines Suchalgorithmus die Spektralbereiche, in denen die Meßobjektofoerfläche und die Meßobjektumgebung grau strahlen und somit die Ermittlung der wahren Objekttemperatür ermöglichen.In the high temperature range or when in the low temperature range If the radiation conditions in the test object space are not known, an auxiliary radiator is also used. The measuring device measures the spectral target radiation with and without the auxiliary radiation reflected on the surface of the measurement object. By means of a search algorithm, the computer determines the spectral ranges in which the measuring object surface and the area around the measuring object shine gray and thus enable the determination of the true object temperature.

Claims (1)

"3U9138"3U9138 ErfindungsanspruchInvention claim J Verfahren zur emissionsgradunabhängigen Temperaturmessung dadurch gekennzeichnet, daß das gesamte Infrarotspektrum einer Meßobjektoberflgche einschließlich der an ihr reflektierten Umgebungsstrahlung eines präparierten Meßraumes aufgenommen und in der Weise ausgewertet wird, daß ein Rechner die Umgebungsstrahlung in bekannter V/eise in die Auswertung einbezieht und die Bandstrahlungsmeßwerte in den einzelnen Spektralbereichen unter Verwendung eines Suchalgorithmus solange miteinander verknüpft werden, bis die Auswertung bei mindestens zwei verschiedenen Spektralbereichskombinationen und einer willkürlich angenommenen Emissionsgradverknüpfung zu gleichen·Temperaturwerten führt und somit die wahre Objekttemperatur und die unbekannten Emissionsgrade ausgegeben werden·A method for temperature measurement independent of the emission level, characterized in that the entire infrared spectrum of a measurement object surface including the ambient radiation reflected on it from a prepared measurement room is recorded and evaluated in such a way that a computer includes the ambient radiation in the known manner in the evaluation and the strip radiation measured values in the individual spectral ranges are linked with one another using a search algorithm until the evaluation leads to the same temperature values for at least two different spectral range combinations and an arbitrarily assumed emissivity link and thus the true object temperature and the unknown emissivities are output 2, Verfahren nach Punkt 1 dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich das Spektrum eines Hilfsstrahlers bekannter spektraler Zusammensetzung nach der Reflexion an der Meßobjektoberfläche aufgenommen und als Eingangsgröße für die Informationsverarbeitung verwendet wird, vom Rechner die Spektralbereiche ermittelt werden und bei unbekannter Umgebungstemperaturstrahlung die wahre Objekttemperatür ausgegeben wird«2, method according to item 1, characterized in that in addition the spectrum of an auxiliary emitter of known spectral Composition after reflection on the surface of the measurement object is recorded and used as an input variable for information processing, the spectral ranges are used by the computer can be determined and if the ambient temperature radiation is unknown, the true object temperature is output will" 3. Verfahren nach Punkt 1 dadurch gekennzeichnet, daß jeweils die Bandstrahlungsmeßwerte zweier Spektralbereicite des Infrarotspektrums vom Rechner ins Verhältnis gesetzt und die Bereiche gesucht werden, bei denen die Auswertung gleiche Temperaturwerte und somit gleiche Emissionsgrade ergibt.3. The method according to item 1, characterized in that each the band radiation measured values of two spectral ranges of the Infrared spectrum from the computer in relation to each other and the areas are sought in which the evaluation has the same temperature values and thus the same emissivities results. 4· Verfahren nach Punkt 1 dadurch gekennzeichnet, daß jeweils die Bandstrahlungsmeßwerte von drei Spektralbereichen des Infrarotspektrums vom Rechner verknüpft werden und die Bereiche gesucht werden» die gleiche Tempersturwerte und4 · The method according to item 1, characterized in that the strip radiation measured values of three spectral ranges of the Infrared spectrum can be linked by the computer and the areas are searched for »the same temperature values and einen linearen Verlauf des Emissionsgrad.es in Abhängigkeit von der Wellenlänge ergeben.a linear course of the emissivity as a function of result from the wavelength. 5. "Verfahren nach Punkt 1 und 2 dadurch gekennzeichnet, daß vom Rechner die Spektralbereiche des Infrarotspektrums gesucht werden, in denen die MeßObjektumgebung und die Meßobjektoberfläche grau strahlen.5. "Method according to items 1 and 2, characterized in that the computer searches for the spectral ranges of the infrared spectrum in which the measuring object environment and the Blast the surface of the measurement object gray. 6. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Punkt 1 dadurch gekennzeichnet, daß ein beweglicher Spiegel der Interferometeranordnung auf einem piezoelektrischen Schwinger angeordnet ist und nach dem Strahlungsdetektor elektronische Filter, welche wie im optischen Kanal befindliche Filter wirken, zur Abgrenzung der auszuwertenden Spektralbereiche geschaltet sind.6. Device for performing the method according to item 1, characterized in that a movable mirror of the Interferometer arrangement is arranged on a piezoelectric oscillator and after the radiation detector electronic Filters, which act like filters located in the optical channel, to delimit the spectral ranges to be evaluated are switched. 7. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Punkt 1 dadurch gekennzeichnet, daß in der Interferometeranordnung ein fester Spiegel zur Strahlungsrichtung schräg angeordnet ist und zur Auflösung des Infrarotspektrums eine Detektorzeile eingesetzt ist.7. Facility for carrying out the procedure according to point 1 characterized in that a fixed mirror is arranged in the interferometer arrangement at an angle to the direction of radiation and a line of detectors is used to resolve the infrared spectrum.
DE19813149138 1980-12-29 1981-12-11 METHOD AND DEVICE FOR EMISSION DEGREE-INDEPENDENT TEMPERATURE MEASUREMENT Withdrawn DE3149138A1 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD80226678A DD158493A3 (en) 1980-12-29 1980-12-29 METHOD AND DEVICE FOR EMISSION LEVEL HAVING TEMPERATURE MEASUREMENT

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3149138A1 true DE3149138A1 (en) 1982-08-12

Family

ID=5528399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19813149138 Withdrawn DE3149138A1 (en) 1980-12-29 1981-12-11 METHOD AND DEVICE FOR EMISSION DEGREE-INDEPENDENT TEMPERATURE MEASUREMENT

Country Status (5)

Country Link
BG (1) BG43650A1 (en)
DD (1) DD158493A3 (en)
DE (1) DE3149138A1 (en)
FR (1) FR2497343A1 (en)
GB (1) GB2090402A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991003715A1 (en) * 1989-09-04 1991-03-21 Rolf Hernberg Method and apparatus for measuring of surface temperature of fuel particles in a fluidized bed
DE19613229A1 (en) * 1996-04-02 1997-10-09 Braun Ag Procedure for calibration of a radiation thermometer

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4561786A (en) * 1984-03-15 1985-12-31 Williamson Corporation Temperature measuring apparatus
DE19536237B4 (en) * 1995-09-28 2005-06-09 Siemens Ag Method and device for determining internal temperatures in metallurgical plants
DE19536236B4 (en) * 1995-09-28 2005-06-09 Siemens Ag Method and device for the determination of internal wall temperatures in multi-walled vessels, especially of high-temperature equipment, such. As furnaces in metallurgy or chemical engineering
CN114152344A (en) * 2021-12-08 2022-03-08 北京市农林科学院智能装备技术研究中心 Thermal infrared temperature measurement system suitable for object real temperature measurement

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1207984A (en) * 1967-10-06 1970-10-07 Inst Metallurgii Imeni Aa Baik Improvements in or relating to radiation measurement
US3922550A (en) * 1973-12-28 1975-11-25 Raytheon Co Radiometric system

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991003715A1 (en) * 1989-09-04 1991-03-21 Rolf Hernberg Method and apparatus for measuring of surface temperature of fuel particles in a fluidized bed
DE19613229A1 (en) * 1996-04-02 1997-10-09 Braun Ag Procedure for calibration of a radiation thermometer
DE19613229C2 (en) * 1996-04-02 1999-01-28 Braun Ag Procedure for calibration of a radiation thermometer

Also Published As

Publication number Publication date
DD158493A3 (en) 1983-01-19
BG43650A1 (en) 1988-07-15
FR2497343B1 (en) 1985-05-10
FR2497343A1 (en) 1982-07-02
GB2090402A (en) 1982-07-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3751924T2 (en) Method and device for detecting or determining one or more properties or for identifying a sample
EP1193488B1 (en) Method and device for determining the gaseous quality of natural gas
DE69315607T2 (en) Method and device for standardizing and calibrating a spectrometric instrument
DE3887641T2 (en) Spectroscopic method and device for measuring the sugar content.
DE68911376T2 (en) MOSFET with drain voltage detector function.
EP0777853B1 (en) Device for carrying out spectroscopic measurements
DE69033111T2 (en) Apparatus and method for the measurement of thin multilayered layers
DE19958136B4 (en) Self-calibrating interference spectroscopic measuring arrangement
DE69729360T2 (en) Analysis of spectrometric data
DE2414034A1 (en) METHOD OF MEASURING THE THICKNESS OF SEVERAL OVERLAYING LAYERS
DE4204857A1 (en) Interferometer for measuring shape of object - analyses wavefronts with spatial carrier then subtracts carrier from result
DD254114A3 (en) PYROMETRIC MEASURING PROCEDURE
DE69616859T2 (en) Process for stabilizing spectra in spectrometry
EP0453977A2 (en) Method and process for optical inspection of test objects
DE69732597T2 (en) Method for measuring a spectral response
DE3149138A1 (en) METHOD AND DEVICE FOR EMISSION DEGREE-INDEPENDENT TEMPERATURE MEASUREMENT
EP0453880A2 (en) Method for optically inspecting of test objects
DE4203587A1 (en) Quantitative spectral analytical processes - e.g. for analysing exhaust gas from methanol-driven automobile
EP0420108A1 (en) Multiwavelength pyrometer
DE102016216842A1 (en) Method and device for operating a spectrometer
DE69514379T2 (en) METHOD FOR EVALUATING NON-EUCLIDIC EFFECTS IN AN IMAGE GENERATED BY AN AIR RADAR, AND SATELLITE FOR IMPLEMENTING IT
DE3149523A1 (en) Method and device for contactless temperature measurement
DE2658399A1 (en) INTERFEROMETRIC PROCEDURE
DE69316919T2 (en) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE TEMPERATURE OF AN OBJECT, ESPECIALLY A SEMICONDUCTOR, BY MEANS OF ELLIPSOMETRY
DE69829845T2 (en) Data acquisition for spectroscopy

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee