DE3033028A1 - Praezisionswiderstand und verfahren zu dessen herstellung. - Google Patents
Praezisionswiderstand und verfahren zu dessen herstellung.Info
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 109
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 109
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 76
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 63
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 54
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 44
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 33
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 25
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims description 25
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims 1
- 239000010953 base metal Substances 0.000 claims 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 claims 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims 1
- 229920006334 epoxy coating Polymers 0.000 description 10
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 6
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 2
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 2
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006355 external stress Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 230000001012 protector Effects 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/06—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material including means to minimise changes in resistance with changes in temperature
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49082—Resistor making
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49082—Resistor making
- Y10T29/49087—Resistor making with envelope or housing
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
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Description
Präzisionswiderstand und Verfahren zu dessen Herstellung
Priorität: 4. September 1979 U.S.A. 072,005
Die Erfindung bezieht sich auf ein elektrisches Bauelement, insbesondere einen Widerstand, und insbesondere einen
Hochpräzxsionswiderstand, der einen Metallfilm aus Widerstandsmaterial aufweist, der geätzt ist, um
einen langgestreckten, gewundenen Streifen zu bilden, der durch ein Substrat getragen ist.
Ein solcher Widerstand ist in den US-PS 3,405,381 und
3,517,4-36 beschrieben.
Eine der Eigenschaften, die ein Präeisionswiderstand
dieser Art aufweisen soll, besteht darin, daß er einen so niedrig wie möglichen Widerstandstemperaturkoeffizienten
hat. Ein Weg zu diesem Ziel, der auch in den oben genannten US-Patentschriften offenbart ist,
besteht darin, eine geeignete Auswahl des Metallfilms, des Substrats und des Materials, das den Film an dem
Substrat befestigt bzw. klebt, zu treffen.
Insbesondere ist es bekannt, beispielsweise einen Nickel-Chrom-Metallfilm zu verwenden, in d*a der
gewünschte gewundene Weg gebildet wird. Dieser Film hat, bevor er an dem Substrat befestigt wird, einen eigenen
Widerstandstemperaturkoeffizienten, beispielsweise 20 Teile je Million pro Grad Celsius (ppm/°C) bei
einem gegebenen Temperaturwert. Die Kennlinie der elastischen Spannung gegen die Widerstandsänderung
des Metallfilins, die durch die Gleichung
■ρ» Λ Η elastische Spannung » -Ä- ·
gegeben ist,
130011/0829
worin E der Elastizitätsmodul des Films, K eine Konstante,
R der Anfangswiderstandswert und Λ fi die Widerstandsänderung sind,
ist derart, daß K beispielsweise etwa +2 ist.
Der Metallfilm wird fest auf das Substrat geklebt, so daß die elastische Spannung zwischen dem Metallfilm
und dem Substrat im wesentlichen ohne Kriechdehnung übertragen wird. Das Substrat selbst besteht aus einem
solchen Material, beispielsweise Glas oder Keramik, daß die Differenz zwischen seinem Expansionstemperaturkoeffizienten
(o( o) und dem des Metallfilms (o( -)
beispielsweise im wesentlichen gleich 10 ppm/ C ist.
(λ « kann beispielsweise 16 ppm/°C und (k kann
X S
6 ppm/ C sein, was zu einer Differenz von ((A f - <λ s)
von 10 ppm/°C führt. O\ ist hierbei definiert als Δ1/1 pro 0C, wobei Δ1/1 die relative Expansion oder
Kontraktion ist.
Als Ergebnis erzeugen Temperaturänderungen durch elastische Spannungen verursachte Widerstandsänderungen
in dem Metallfilm entsprechend 2 χ 10 oder 20 ppm/°C (20 χ 10" 0hm pro 0hm pro Grad Celsius). Diese durch
elastische Spannungen verursachten Widerstandsänderungen müssen jedoch die entgegengesetzte Richtung zu
denen haben, die durch den Temperaturkoeffizienten des Metallfilms selbst verursacht werden. In diesem
Fall hat das Substrat einen niedrigeren Koeffizienten
der thermischen Expansion als der Metallfilm und folglich wird der Metallfilm so ausgewählt, daß er
einen positiven Widerstandstemperaturkoeffizienten hat. Eine
gegebene Temperaturänderung erzeugt somit eine Änderung des spezifischen Widerstands des Films, was
zu einer Widerstandsänderung in einer Richtung (positiv) führt, während die entsprechende Änderung
der durch das Substrat bedingten elastischen Spannung
I 3001 1/0829 ORIGINAL INSPECTED
eine Widerstandsänderung in entgegengesetzter Richtung (negativ) ergibt.
Wenn diese entgegengesetzten Erscheinungen im wesentliehen
gleich gemacht werden, wird eine wesentliche Verringerung der Temperaturempfindlichkeit des
Präzisionswiderstands erreicht.
Obwohl die oben beschriebenen bekannten Maßnahmen sehr erfolgreich waren, ist damit nicht gesagt, daß noch
weitere Verbesserungen nicht möglich sind. Insbesondere ist anzuerkennen, daß ein Präzisionswiderstand, der
praktisch keine Temperaturempfindlichkeit hat, durch die oben beschriebenen Maßnahmen nur genau bei oder
in der Nähe eines gegebenen Temperaturwerts hergestellt
werden kann.
Dies ist darauf zurückzuführen, daß der Widerstandstemperaturkoeffizient
dee Metallfilms selbst sich als nichtlineare Funktion der Temperatur ändert, während
die Differenz zwischen den Koeffizienten der thermischen Expansion des Substrats und des Films, welche die
durch die elastischen Spannungen verursachten entgegengesetzten Änderungen erzeugt, sich als im wesentlichen
lineare Funktion der Temperatur ändert. Mit Ausnahme eines relativ schmalen Temperaturbereichs um den
optimalen Wert ist als Ergebnis der Widerstand auf Temperaturänderungen empfindlich.
Die Aufgabe der Erfindung besteht deshalb darin, einen Präzisionswiderstand der eingangs erwähnten Art zu
schaffen, der eine verringerte Temperaturempfindlichkeit • über einen weiteren Bereich der Temperatur als bisher
aufweist.
Der Präzisionswiderstand soll praktisch einen Temperaturkoeffizienten
von Null bei mehr als einem Temperaturwert aufweisen.
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Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch, gelöst, daß
für das Substrat des Präzisionswiderstands nicht eine einzelne Materialplatte, beispielsweise -ius Keramik,
Glas oder Metall, sondern ein geschichteter Aufbau verwendet wird. Dieser zusammengesetzt« Aufbau
weist einen Teil oder eine Schicht auf, die aus sehr festem Material, beispielsweise übliche Keramik,
besteht, und einen weiteren Teil oder eine Schicht, die aus Kunststoff, wie beispielsweise Epoxy, besteht.
Der Kunststoff und die Keramik sind durch Zusammenkleben fest aneinander angebracht, so daß, wenn sie
einer unterschiedlichen elastischen Spannung während Temparaturänderungen unterworfen sind, keine Kriechdehnung
zwischen ihnen auftritt. Die keramischen und Kunststoff-Materialien sind gewählt unter Berücksichtigung
der eigenen temperaturabhängigen Expansionseigenschaften, der geometrischen Eigenschaften (Abmessung
von Dicke und Oberfläche), des Elastizitätsmoduls und des Poissonschen Verhältnisses, so daß die Oberfläche der
festen (keramischen) Schicht, die von dar Epoxyschicht weg
weist, eine nichtlineare Änderung der Abmessungen als Funktion der Temperatur zeigt.
Der Metallfilm, der das Widerstandsmaterial des Präzisions-Widerstands
bildet, wird auf die Oberfläche der Keramik, die von der Epoxyschicht weg weist, aufgeklebt.
Da Kunststoffe visko-elastische Eigenschaften (zeitabhängige
Kriechdehnung) aufweisen, war zu erwarten, daß der Widerstand nur in der Gegend der Raumtemperatur
gut arbeitet. Überraschenderweise ist d.-r voranstehend für den Metallfilm erwähnte nicht lineare Widerstandstemperaturkoeffizient
offenbar geeignet, um wesentlich der Widerstandsänderung entgr-gen zu wirken,
die durch den jetzt auch nicht Linearen .xpansionstemperaturkoeffizienten
der benachbarter, keramischen Oberfläche erzeugt wird, der auf die Oberfläche durch
den zusammengesetzten Keramik-Kunststoff-Aufbau übertragen
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wird. Dies führt zu einem Widerstandstemperaturkoeffizienten, der über einen weiten Temperaturbereich und
nicht nur in der Nähe der Raumtemperatur viel niedriger ist.
In der Praxis ist es für den Kunststoffteil (Epoxy) des zusammengesetzten Aufbaus notwendig, daß er
eine Dicke aufweist, die in derselben Größenordnung des festen Teils (Keramik) liegt. Jeder dieser
Teile kann beispielsweise etwa 500 -um dick sein,
während der Widerstandsmetallfilm eine übliche Dicke von etwa 0,75 bis 5 /um hat.
Die Erfindung wird beispielhaft anhand der Zeichnung beschrieben, in der sind
Fig. 1 ein schematischer Querschnitt einer Ausführungsform der Erfindung,
Pig. 2a bis e graphische Darstellungen, die verschiedene Erscheinungen zeigen, die in der Praxis bei der
Erfindung auftreten,
Fig. 3 eine schematische Teilansicht einer weiteren
Fig. 3 eine schematische Teilansicht einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung und
Fig. 4-a bis c schematische Darstellungen von weiteren
Ausführungsformen.
Die Abmessungen der verschiedenen Figuren sind nicht im gleichen Maßstab, noch haben die einzelnen Teile
in einer Figur denselben Maßstab. Dieselben Bezugszeichen sind zum Bezeichnen gleichartiger Elemente
in verschiedenen Figuren verwendet.
Fig. 1 zeigt in stark vergrößerter Form einen schematischen Querschnitt durch einen Präzisionswiderstand
in einer Ausführungsform der Erfindung.
Die Grundwiderstandseinheit 10, oft als Chip bezeichnet, enthält den Metallfilm 11, der durch eine
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Klebstoffschicht 12 fest an einem keramischen
Substratteil 13 angebracht ist. Zusätzlich ist gemäß
der Erfindung ein Epoxysubstrat 14 vorgesehen, das
fest an der Keramikschicht 13 angebracht ist. Dies
kann durch Kleben, Gießen oder andere Niederschlagsverfahren
erreicht werden. Der Metallfilm 11 hat das gewünschte Widerstandsmuster, das darin gebildet
wird, vor oder nachdem er auf das Substrat aufgeklebt ist.
Elektrische Verbindungen zu dem Chip 10 werden durch Leitungen hergestellt, von denen eine Leitung 16 in
Fig. 1 sichtbar ist, die mit einem Ende 15 an dem Metallfilm 11 angeschweißt oder angelötet ist. Das
andere Ende der Leitung 16 ist an dem Anschlußstift über eine Verbindung 16a angebracht. Die Leitung 17
erstreckt sich durch das äußere Metallgehäuse 18 über eine Isolierdurchführung 19. Eine thermische Bindung
oder eine Ultraschallbindung können auch an den Verbindungen I5 und/oder 16a verwendet werden. Um dies
zu vereinfachen, wird der Metallfilm mit Gold oder einer anderen Legierung im Bereich der Verbindungen
plattiert.
Vor oder nach dem Einsetzen in das Gehäuse 18 wird der Chip in ein sehr flexibles Polster (beispielsweise
Veichsiliziumgummi) 21 eingesetzt. Der Raum zwischen dem Polster 21 und dem Gehäuse 18 wird mit
Epoxyharz gefüllt.
Das Weichgummipolster 21 kann alternativ im wesentlichen den Innenraumm des Gehäuses 18 ausfüllen oder
der Chip kann innerhalb des Gehäuses 18 durch seine Verbindungsleitungen aufgehängt werden, die
dann stark und fest sein müssen, und kann von Luft, Gas, Vakuum oder öl innerhalb des Gehäuses 18 umgeben
sein.
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Ein dünner Epoxyschutz und eine Abdichtschicht 22 können
auch direkt auf dem Metallfilm 11 vorhanden sein.
Fig. 2a bis 2e zeigen graphische Darstellungen der verschiedenen Beziehungen, die zur Erläuterung der
Erfindung dienen. In allen Figuren ist auf der Abszisse die Temperatur aufgetragen, beispielweise ein Temperaturbereich
von O bis 10O0C. In Fig. 2a sind auf der
Ordinate die Werte der thermischen Expansion an der Oberfläche 13a des keramischen Teils 13 in Fig. 1,
die von dem Epoxyteil 14 weg weist, aufgetragen. Die graphische Darstellung der Fig. 2a zeigt die Änderung
der thermischen Expansion Δ 1/1 der Oberfläche 13a des
Substrats als Funktion der Temperatur. Zu beachten ist vor allem die nichtlineare Beziehung, auch wenn die
Änderung der thermischen Expansion Δ 1/1 der Keramik allein und des Films selbst (nicht verbunden) nahezu
linear sein würde.
Fig. 2b zeigt die entsprechende Änderung des Widerstands des Metallfilms 11 (Fig. 1), die .der thermisch beeinflußten
elastischen Spannung zuzuschreiben ist, die sich aus der Differenz zwischen den thermischen Expansionskoeffizienten des Substrats und des Films (oC_ - °C )
S X ergibt. Diese Beziehung ist nichtlinear, daoC nichtlinear
ist.
Fig. 2c zeigt die Temperaturänderung des Widerstands Δ R/R des Metallfilms 11 selbst, wie sie sein würde,
wenn sie unbeeinflußt durch das Aufkleben auf das zusammengesetzte Keramik-Epoxy-Substrat der Fig. 1
wäre. Diese Beziehung der Fig. 2c ist gleichartig zur Fig. 2b in der allgemeinen Form, jedoch mit
entgegengesetztem Vorzeichen.
Die sich ergebende Gesamtwirkung ist in den Fig. 2d (ausgezogene Linie) oder 2e dargestellt, wo die in den
Fig. 2b und 2c dargestellten Einflüsse im wesentlichen
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aufgehoben sind. Dies führt zu einem Chip 10 mit einer Widerstandsänderung als Funktion der Temperatur, die
vergleichsweise gering ist und die klein über den gesamten berücksichtigten Temperaturbereich bleibt.
Die Kurven der Fig. 2a bis 2e stellen verallgemeinerte Beziehungen der Ausführungsformen der Erfindung dar.
Diese Kurven sollen nicht die genauen Kurvenformen oder besondere gemessene Verte darstellen.
Die sinusförmig schwankenden Formen der Kurven in Fig. 2d (ausgezogene Linie) und 2e sind kennzeichnend für die
Tatsache, daß eine vollständige Kompensation aller Temperaturen in der Praxis nicht erhältlich ist, und
zwar auch beider vorliegenden Erfindung. Dies ist darauf zurückzuführen, daß die Temperaturabhängigkeit des
Widerstandsmetallfilms selbst nicht genau dieselbe Form (auch mit entgegengesetztem Vorzeichen) wie die des
zusammengesetzten Substrats haben kann. Die Krümmung einer Kurve kann beispielsweise angenähert durch die
2
Gleichung y=ax + b gegeben sein und die Krümmung einer
Gleichung y=ax + b gegeben sein und die Krümmung einer
■5 2 anderen Kurve ist durch y=cx^ + d χ + ex + f gegeben.
Eine Überlagerung dieser Kurven würde zu einer Kurve führen, wie sie in Fig. 2d gezeigt ist. Wie jedoch in
Fig. 2e gezeigt ist, kann die Widerstandsänderung auch im wesentlichen Null über einen sehr wesentlichen
Temperaturbereich sein. Das Ergebnis hängt hauptsächlich von der besonderen Form der Kurven in Fig. 2b und 2c ab.
Durch geeignete Wahl der verschiedenen Materialien und deren Dicken können verschiedene besonlere Formen der
Widerstands-Temperatur-Kurven erhalten werden. In jedem Fall stellen diese jedoch eine solche wesentliche Verringerung
der Änderung des Widerstands mit der Temperatur im Vergleich mit bekannten Widerständen dar, daß das
Ergebnis ein wesentlicher Fortschritt in der Technik der Fräzisionswiderstände ist.
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Im Vergleich zur Erfindung ist in I1Ig. 2d mittels einer
gestrichelten Linie auch die Widerstandsänderung-Temperatur-Kurve gezeigt, die sich bei den Widerständen nach den
US-PS 3,405,381 und 3,517,4-36 ergibt. Fig. 2d (ausgezogene
Linie) und 2e zeigen einen viel besseren Widerstandstemperaturkoeffizienten als Pig. 2d (gestrichelte
Linie).
Durch die vorliegende Erfindung wird die Änderung des Chip-Widerstands der Temperatur, d.h. der Chip- (und
Widerstands)-T.C. linearisiert. Der lineare T.C. muß
aber nicht notwendigerweise parallel zur Abszisse verlaufen, wie dies in Fig. 2d und 2e gezeigt ist. Vielmehr
kann er geneigt, jedoch noch im wesentlichen linear, durch geeignete Wahl der Eigenschaften des Substrats
gemacht werden.
In den US-PS 3,405,381 und 3,517,4-36 ist der Aufbau eines
Präzisionswiderstands unter Verwendung eines Metallfilms beschrieben, der ein Muster im wesentlichen in
derselben Form wie bei der vorliegenden Erfindung aufweist und der auf ein Substrat geklebt ist. Dabei ist auch
die Verwendung von zwei Epoxyschichten beschrieben, eine an der Oberseite des gemusterten Metallfilms und
die andere an der Fläche des Substrats, die von dem Metallfilm weg weist. Auf den ersten Blick erscheint eine
gewisse Ähnlichkeit zwischen diesem Stand der Technik und der Erfindung zu bestehen, die auch einen Epoxyfilm
auf dem Metallfilm und wiederum einen Epoxyfilm auf der
Fläche des keramischen Substratteils, der von dem Film weg weist, enthält. Bei der Ausführungsform der Fig. 1
der Erfindung ist der erstere beispielsweise durch die Schicht 22 und der letztere durch die Schicht 14 gebildet-
Tatsächlich besteht jedoch folgender wesentlicher Unterschied.
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Bei dem erwähnten Stand der Technik sind die beiden Epoxyschichten an gegenüberliegenden Seiten der Metallfilm-Substrat-Kombination
gewählt, um ausgleichende Biegewirkungen zu erzeugen, die gleich jedoch in verschiedenen Eichtungen auf den Metallfilm und das
Substrat, die zwischen den Epoxyschichten liegen, wirken. Dieser Ausgleich wirkt dem Bestreben des Substrats, sich
zu biegen oder zu krümmen, was aufgrund von Temperatur- und/oder Feuchtigkeitsänderungen auftreten würde, wenn
nur einer dieser bekannten Epoxyüberzüge verwendet würde, entgegen.
Bei der Erfindung wird das Konzept des Ausgleichs der
Biegung mittels zweier Epoxyschichten von im wesentlichen derselben Dicke absichtlich nicht angewendet.
Bei der Erfindung hat die Epoxyschicht 22, die den Metallfilm bedeckt, eine Dicke in derselben Größenordnung
wie bei dem genannten Stand der Technik,und dient im wesentlichen demselben Zweck, nämlich den
Metallfilm zu schützen.
Andererseits ist die zweite Epoxyschicht nach der Erfindung, nämlich der Teil 14 des zusammengesetzten Substrats;
(Fig. 1) mehrmals dicker als die in gleicher Weise angeordnete Epoxyschicht, die bei dem genannten Stand
der Technik verwendet wird, um die Biegetendenz der zuerst genannten Epoxyschicht auszugleichen. Bei der
Erfindung wird tatsächlich das keramische Substrat selbst einer wesentlichen Biegung aufgrund der Schicht
unterworfen, wenn sich die Temperatur ändert.
Bei einer speziellen Ausführungsform der Erfindung hat
der Epoxyteil 14 des zusammengesetzten Substrats eine Dicke, die in derselben Größenordnung wie der Keramikteil
13 des zusammengesetzten Substrats liegt. In der
Praxis kann dieser Keramikteil eine Dicke von etwa
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500/iim haben, in welchem Fall die Dicke des Epoxyteils
14- ebenfalls etwa 500 /um beträgt. Dies steht
im Gegensatz zu der Dicke des in gleicher Weise angeordneten Epoxyüberzugs bei den oben erwähnten US-PS,
welche in der Größenordnung von 25 /um liegt, da es
der Epoxyüberzug des Metallfilms selbst ist, der im wesentlichen derselbe bei der Erfindung bleibt.
Der Grund für diesen Unterschied besteht tatsächlich darin, daß unterschiedliche Aufgaben in den beiden
Fällen, nämlich bei den erwähnten US-PS einerseits und der Erfindung andererseits, gelöst werden sollen.
Bei der Erfindung ist es ein besonderer Zweck dieses viel dickeren Epoxyteils 14 des zusammengesetzten
Substrats, auf die Oberfläche 13a dieses zusammengesetzten
Substrats eine nichtlineare thermische Expansion zu übertragen. Dies wiederum macht es möglich, im
wesentlichen in der Form jedoch mit entgegengesetztem Vorzeichen die Widerstands-Temperatur-Kennlinie des
Metallfilms selbst, die auch nichtlinear ist, anzupassen. Bei dem genannten Stand der Technik wird
die Oberfläche entsprechend der Oberfläche 15a»
nämlich die Zwischenfläche zwischen Substrat und Film,
einer linearen Expansion mit der Temperatur unterworfen, während bei der Erfindung diese Oberfläche 13a einer
nichtlinearen Expansion mit der Temperatur unterworfen wird. Die Form und der Grad der Nichtlinearität hängen
von der nichtlinearen Widerstands-Temperatur-Kurve des Metallfilms ab. In den oben erwähnten US-PS ist nichts,
was diesem Konzept gleicht, offenbart.
Verschiedene Techniken können verwendet werden, um Präzisionswiderstände nach der Erfindung herzustellen.
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Eine dieser Techniken beginnt mit einer Platte aus keramischem Material mit der für den keramischen Teil
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des zusammengesetzten Substrats gewünschten Dicke, beispielweise 5OQ/11111* jedoch mit einer viel größeren
Fläche, als diese für einen einzigen besonderen Widerstandschip 10 erforderlich ist. Praktische
Keramiksubstratdicken liegen im Bereich zwischen 125/um
und 0,63 cm. Meistens wird eine Dicke zwischen 500/um
und 1000/Um verwendet. Ein Epoxyüberzug mit einer
beispielhaften Dicke von 0,5 mm wird auf eine Oberfläche
der Keramikplatte aufgebracht. Der Epoxyüberzug kann mit einer Spachtel oder durch Walzen, Gießen oder
Kleben einer Epoxyplatte angebracht werden. Dieser Epoxyüberzug ist dazu bestimmt, der Epoxyteil 14 des
zusammengesetzten Substrats zu sein. Ein besonderes Epoxyharzmaterial, das verwendet werden kann, ist unter
dem Namen "Photolastic PL 1" im Handel erhältlich.
Ein Metallfilm wird auch in dem gewünschten gewundenen Widerstandswegmuster photogeätzt und dann auf die Seite
der Keramikplatte geklebt, die der Seite gegenüberliegt, die vorher mit Epoxy beschichtet worden ist. Dar Metallfilm
kann alternativ auf die Keramik aufgeklebt werden und dann in das gewünschte Muster photogeätzt werden.
Der Epoxyüberzug kann des weiteren alternativ angebracht werden, nachdem der (photogeätzte oder noch nicht
photogeätzte) Film auf die Fläche der Keramik aufgeklebt worden ist.
Der Aufbau einer Keramikplatte mit einem dicken Überzug aus Epoxy an einer Seite und dem photogeätzten Metallfilm
an der anderen Seite wird dann in einzelne Widerstandschips mit einem Laser oder einer Diamantsäge oder
einer anderen geeigneten Technik geschnitten, so daß die einzelnen Widerstandschips erhalten werden. Ein
Chip kann tatsächlich viele miteinander verbundene oder einzelne Widerstände enthalten.
Nach dem Photoätzen kann der Film auch mit der dünnen Epoxyschicht 22 gemäß Fig. 1 zum Schütze während der
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Bearbeitung und Widerstandseinstellung und für eine bessere Leistungsfähigkeit bei der Verwendung bedeckt
werden.
Nötigenfalls werden die Chips 10 daraufhin einzeln auf den geeigneten Temperaturkoeffizienten der Widerstandskennlinie
eingestellt (feinjustiert), indem die Dicke des dicken Epoxyüberzugs auf dem Keramikteil
des zusammengesetzten Substrats in geeigneter Weise geändert wird.
Dann könuen Leitungen, beispielsweise die. Leitungen 16
und 17 in Fig. 1, angebracht werden oder es können alternativ solche Leitungen vor der Feinjustierung der
Temperaturkennlinie angebracht werden. Die Leitungen und 17 können zwei getrennte Stücke oder ein Stück
(monolithisch) sein.
Die Einstellung des Widerstandswerts der Widerstände innerhalb einer gewünschten Toleranz kann in üblicher
Weise vor, während oder nach der Temperaturkennlinieneinstellung ausgeführt werden.
Zuletzt wird die Anordnung in eine hermetisch abgedichtete Büchse, beispielsweise die Büchse 18 in Fig. 1,
mit einem geeigneten Schutz gegen mechanische Störung, wie der Schicht 21 aus Silikongummi oder einem anderen
Polster, angeordnet. Wenn hohe Temperaturbedingungen auftreten, kann sich somit der Chip ausdehnen oder
zusammenziehen, ohne daß er einer äußeren Beanspruchung ausgesetzt ist. Es ist auch ein Schutz gegen Stöße und
Schwingungen gegeben. Das Epoxy 20 wird um das Kissen angeordnet. Gewünschtenfalls kann öl, Luft oder ein
inertes Gas um das Kissen oder anstelle des Kissens verwendet werden.
Ein alternatives Verfahren enthält zuerst die Herstellung
der im wesentlichen vollständigen Chips, wobei nur der
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Epoxyteil 14 des zusammengesetzten Substrats fehlt. Diese Chips werden dann einzeln mit einer dicken Schicht aus
Epoxy überzogen, indem eine gegebene Dicke dieses Materials in der Lage des Epoxyteils 14 relativ zu der
Keramik niedergeschlagen wird. Der Widerstandstemperaturkoeffizient
(T.C.) der sich ergebenden Anordnung wird gemessen und die Dicke des Epoxyüberzugs wird nötigenfalls
entsprechend eingestellt.
In jedem Fall, d.h. ob die Epoxyschicht auf der großen
Keramikplatte oder den einzelnen Keramikchips angebracht wird, wird die Einstellung der Epoxydicke durch
Abschleifen eines wesentlichen Teils des Epoxys ausgeführt, falls dieses anfänglich zu dick ist, oder durch
Anbringen von zusätzlichent vergleichsweise dünnen
Schichten aus Epoxy, um die gesamte Dicke aufzubauen, falls durch Messungen bestimmt worden ist, daß diese
anfänglich zu dünn war.
Die Einstellung der Schicht 14 ist nur für eine sehr feine Abstimmung des Widerstandstemperaturkoeffizienten
notwendig, da aufgrund der Inhomogenität des Films und der Herstellungsverfahren nicht alle Chips denselben
T.C. zeigen. Wenn der Chip anfänglich nicht den gewünschten T.C. zeigt, bringt dann eine Einstellung der Dicke der
Schicht 14 den T.C. auf den gewünschten Wert.
Eine weitere Ausführungsform der Erfindung ist schematisch
in Fig. 3 dargestellt, die im Querschnitt ein Stück
$0 eines Chips 30 nach der Erfindung zeigt. Der Chip
enthält einen keramischen Teil 31, an dessen eine Seite
ein Metallfilm 32 durch die Klebstoffschicht 33 geklebt
ist. An der freien Oberfläche des Metallfilms 32 ist
eine Epoxyschutζschicht JA- angebracht. An der Seite des
Keramikteils 31» die derjenigen gegenüberliegt, an
welcher der Metallfilm 32 angeklebt ist, ist ein dicker
Epoxyteil 35 mit derselben Größenordnung der Dicke wie
die Dicke des Keramikteils 31 vorgesehen'. Insoweit ist
130011/0829
der Chipaufbau der Fig. 3 dem Chipaufbau 10 in Fig. 1
gleichartig. Der Unterschied besteht gemäß Fig. 3 darin, daß eine Metallplatte 36 zwischen dem keramischen
Teil 31 und dem Epoxyteil 35 des zusammengesetzten
Substrats vorgesehen ist. Diese Metallplatte 36 ermöglicht des weiteren die Steuerung der Temperaturkennlinie
des Chips.
Wie vorangehend erläutert wurde, ergeben das zusammengesetzte Substrat des keramischen Teils und des Epoxyteils
eine nichtlineare Funktion der thermischen Expansion. Diese zusammengesetzte Funktion der thermischen
Expansion kann als aus zwei beitragenden Komponenten bestehend betrachtet werden. Die eine ist eine im
wesentlichen lineare Komponente, während die andere eine nichtlineare Komponente ist, die von dem Epoxy
beigetragen wird. Es ist möglich, daß die lineare Komponente nicht vollständig für eine gute Kompensation
geeignet ist. Es wird beispielsweise angenommen, daß die lineare Komponente gleich 6 Teile pro Million/°C
(ppm/°C) ist, während ein Wert von 8 ppm/°C zum Kompensieren des speziellen Metallfilms 32 bevorzugt ware.
In diesem Fall ist die Anwesenheit des Metallblechs mit entsprechender Dicke und geeignetem thermischen
Expansionskoeffizienten und Elastizitätsmodul in der Lage, dem sich ergebenden zusammengesetzten Aufbau
von Keramik und Metall einen im wesentlichen linearen thermischen Expansionskoeffizienten des gewünschten
Werts von 8 ppm/°C an der Fläche 31a des keramischen
Teils 31» die zu dem Widerstandsfilm 32 weist, zu
erteilen. Mit dieser nun beim gewünschten Wert vorgesehenen linearen Komponente kann der Epoxyteil 35
des zusammengesetzten Substrats (Epoxyteil 35 und
keramischer Teil 3Ό wieder seine Rolle gemäß der Erfindung ausüben. Diese Holle besteht darin, dem
zusammengesetzten Substrat den gewünschten Grad der Nichtlinearität zu erteilen, welche die nichtlineare
130Qt1/0829
Widerstands-Temperatur-Kennlinie des Widerstandsmetallfilms
selbst kompensiert.
Wenn auf die thermische Expansion des zusammengesetzten Substrats Bezug genommen wird, bezieht sich dies auf die
thermische Expansion an der Oberfläche des Substrats, die zu dem Metallfilm weist, beispielsweise 13a in
Fig. 1 und 31a in Fig. 3· Dies ist darauf zurückzuführen,
daß das Substrat einer derartigen Biegung unterworfen wird, daß die in Rede stehende Fläche positiv
expandieren kann, während andere gleichzusetzende Oberflächen des zusammengesetzten Substrats unterschiedlich
expandieren.
Es hat sich auch herausgestellt, daß die Folge der Anordnung von Keramik 3I, Metall 36 und Epoxy 35» wie
in Fig. 3 gezeigt, geändert werden kann, so daß Keramik 31 und Epoxy 35 einander unmittelbar benachbart sind,
wie dies bei Fig. 1 der Fall ist, während die Metallplatte 36 an der äußersten Fläche des Epoxyteils 35
angeordnet ist, nämlich an der Fläche, die von dem keramischen Teil 31 weg weist. Anstelle des Metalls 36
kann ein anderes festes Material verwendet werden, beispielsweise Glas oder Keramik mit verschiedenem
thermischen Expansionskoeffizienten.
Darüber hinaus eignet sich ein zusammengesetztes Substrat, das nicht nur den keramischen Teil und den Epoxyteil,
wie bei I3 und 14 in Fig. 1 gezeigt, sondern auch einen
Metallteil verwendet, dazu, zur Feinabstimmung des Widerstandstemperaturkoeffizienten des Chips verwendet
zu werden.
Anordnungen, die dieses Merkmal der Erfindung aufweisen, sind schematisch in den Fig. 4a bis 4c anhand einer
perspektivischen Ansicht eines Chips nach, der Erfindung gezeigt. 40 ist der Widerstandsmetallfilm, während
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41 den keramischen Teil des Substrats zeigt. Jeder keramische Teil 41 weist eine Metallanordnung auf.
In Fig. 4a hat diese Metallanordnung die Form von
im Abstand angeordneten parallelen Rippen 42. In Fig. 4b ist die Form eines Gitters aus Metallrippen
43 und 44 vorgesehen, die einander kreuzen. Gemäß Fig. 4c hat die Metallanordnung die Form einer Platte 45,
die mit einem Muster von Perforationen 46 versehen ist.
In jedem Fall sind die Metallrippen oder die perforierte Platte an der Keramik angeklebt.
Bei jeder dieser Ausführungsformen sind Zwischenräume
zwischen den Metallteilen mit Epoxy gefüllt, das den Epoxyteil des zusammengesetzten Substrats nach der
Erfindung bildet, oder die Metallanordnung ist an der Oberseite der Epoxyschicht 35 angebracht. In Fig. 4a
haben diese Epoxyteile die Form von Streifen 47. In
Fig. 4b haben sie die Form von Rechtecken 48 und in Fig. 4c haben sie die Form von runden Teilen 49, welche
die Löcher 46 füllen. Die Metallanordnung kann auch an die Oberseite der Epoxyschicht gekittet sein.
Bei jedem Beispiel wird die Einstellung der Chip-Widerstandskennlinie
mit der dargestellten Anordnung möglich, indem auf die Metallteile eingewirkt wird.
Gemäß den Fig. 4a und 4b kann beispielsweise der thermische Expansionskoeffizient des zusammengesetzten
Substrats an der Fläche, die zu dem Metallfilm weist, stufenweise eingestellt werden, indem verschiedene
Teile der Metallstreifen 42 in Fig. 4a bzw. des Gitters 43, 44 in Fig. 4b durchgeschnitten werden.
In gleicher Weise können gemäß Fig. 4c Schnitte in dem Metall 45 ausgeführt werden, um Löcher 46 mit entsprechender
Wirkung zu verbinden. Bei jedem dieser Beispiele wird durch Schneiden des Metalls eine Änderung
der linearen Komponente der thermischen Expansion
130011/0829
ORIGINAL INSPECTED
des zusammengesetzten Substrats an der Fläche, die zu dem Metallfilm weist, erzeugt. Hierbei dreht es sich tatsächlich
um den Ursprung der Kiirvenart, die in Fig. 2a gezeigt ist.
Auch andere Anordnungen können zur Erzeugung derselben Wirkung verwendet werden. Durch Ändern der Geometrie
der Metallplatte 36 oder auch der Geometrie des keramischen Substrats wird die lineare Komponente der
thermischen Expansion an der Fläche 31a geändert.
Durch Ändern der Geometrie des Epoxy wird die nichtlineare Komponente der thermischen Expansion an der
Fläche 31a geändert. Die Kombination der Änderung
dieser geometrischen Anordnungen ergibt eine Feineinstellung des T.C.
Es sind auch Präzisionswiderstände der beschriebenen allgemeinen Art bekannt, bei denen die Verbindungsleitungen zu dem Widerstandsmetallfilm aus monolithi-
sehen metallischen Bändern bestehen, die um eine Kante des Chips gebogen sind und sich dann längs der Seite
des Chips erstrecken, die der Seite gegenüberliegt, auf der der Widerstandsmetallfilm angeordnet ist
(US-PS 4,138,656). Bei dieser Anordnung sind die Metal1-leitungen fest an dem Epoxyteil des zusammengesetzten
Substrats nach der Erfindung angebracht. Die Einstellung der Temperaturkennlinie kann dann ausgeführt werden,
indem die Dicke des Epoxyteils, der angrenzenden monolithischen Verbindungsleitungen oder beider geändert
wird oder indem Schlitze teilweise in die Leitungen geschnitten werden.
Die monolithischen Leitungen gemäß der US-PS 4,138,656 können in dem dicken Epoxyteil des zusammengesetzten
Substrats oder zwischen den Epoxyteil und den keramischen Teil geschichtet werden.
1 3001 1/0829 ORIQiNAL1INSPECTED
Prüfungen der Präzisionswiderstände nach, der Erfindung
haben gezeigt, daß ein Widerstand erzeugt werden kann, der zufriedenstellend in Temperafcurhereichen arbeitet,
die normalerweise für militärische Zwecke erforderlieh,
sind, d.h.. zwischen -55°C und +175°C Weitere
Temperaturbereiche (z.B. -10O0O bis +25O0C) werden
auch, mit wesentlicher Verbesserung erfaßt. Die Reproduzierbarkeit der Ergebnisse ist sehr gut.
Wiederholte Zyklen zwischen KaLt und Heiß und wieder umgekehrt veranlassen nur geringe Änderungen der
Widerstandscharakteristik, trotz der Tatsache, daß das Epoxy in typischer Weise einen bestimmten Betrag
von Kriechdehnung zeigt. Solche geringen Änderungen sind in der Praxis vernachlässigbar. Prüfungen unter Last-
und Temperaturbedingungen haben auch gezeigt, daß bei
einer geeigneten Wahl der Materialien der Widerstand für viele tausend Stunden betriebsfähig bleibt.
Noch größere Stabilität kann erreicht werden, indem der Epoxyteil des zusammengesetzten Substrats nach Anbringung
auf dem Chip einem Aushärtvorgang bei Temperaturen unterworfen wird, welche diejenigen überschreiten,
die während der Verwendung auftreten. Dies hat das Bestreben, das Auftreten von Abmessungsänderungen in dem
Epoxyteil in Abhängigkeit von Zeit und Temperatur zu verringern. Nach der Ausführung dieses Aushartvorgangs
zeigt der fertige Widerstand eine noch größere Stabilität.
Der feste Teil des zusammengesetzten Substrats kann auch ein Metall sein, vorausgesetzt, daß er elektrisch von
dem Widerstandsfilm und den Leitungen isoliert ist.
Das Gehäuse 18 kann auch nichtmetallisch sein, beispielsweise Keramik oder Kunststoff. Ein Kunststoffgehäuse
oder -form wird nicht empfohlen, falls eine hermetische Abdichtung gewünscht wird. Ein Gießen kann auch verwendet
werden, um den Chip zu schützen, der mit einem weichen Polster überzogen ist.
13 0011/0829
Claims (31)
- PATENTANWÄLTE26/8 Orthstraße 12D-8000 München 60Vishay Intertechnology, Inc.63, Lincoln HighwayMalvern, Penna. 19355, U.S.A.PatentansprüchePräzisionswiderstand mit einem Metallfilm, der das Widerstandsmaterial bildet, und mit einem Substrat, das den FiIm trägt und auf dem dieser mit einer Klebstoffschicht fest angebracht ist,dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat eine zusammengesetzte Anordnung aus wenigstens zwei Teilen aus verschiedenen Materialien ist, die parallel zu dem Widerstandsmetallfilm liegen, wobei der Teil nahe dem Widerstandsmetallfilm im wesentlichen fest ist und der Teil weiter weg von dem Metallfilm ein Kunststoff mit einer Dicke ist, die der Dicke des festen Teils vergleichbar ist.
- 2. Widerstand nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallfilm einen spezifischen Widerstand aufweist, der sich als nichtlineare Funktion der Temperatur über einen vorbestimmten Betriebsbereich ändert, und daß der feste Teil und der Kunststoffteil des zusammengesetzten Substrats bezüglich Dicke, Elastizitätsmodul und thermischem Ausdehnungskoeffizienten so gewählt sind, daß die Abmessungen der Oberfläche des festen Teils nahe dem Metallfilm sich nichtlinear innerhalb des Widerstandsbetriebstemperaturbereichs in solcher Weise ändern, daß die durch die Beanspruchung veranlaßten Widerstandsänderungen, die auf den Film durch die Fläche des benachbarten festen Teils übertragen werden, im wesentlichen die nichtlineare Widerstandsänderung des Films selbst im Betriebsbereich kompensieren.130011/0829
- 3. Widerstand nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Kompensation derart ist, daß der T.C. des Widerstands im wesentlichen Null im Betriebsbereich ist.
- 4. Widerstand nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der feste Teil aus der Gruppe von Keramik, Glas und Metall ausgewählt ist.
- 5- Widerstand nach Anspruch 4-, dadurch gekennzeichnet, daß der feste Teil nahe dem Widerstandsfilm aus Metall besteht und von dem Widerstandsfilm isoliert ist.
- 6. Widerstand nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindung des zusammengesetzten Substrats und des Films durch einen Klebstoff, der im wesentlichen frei von Kriechdehnungen ist, ausgeführt ist.
- 7· Widerstand nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallfilm mit einer Schutzschicht aus Kunststoffmaterial bedeckt ist, die mehrfach dünner als der Kunststoffteil des zusammengesetzten Substrats ist.
- 8. Widerstand nach Anspruch 7* dadurch gekennzeichnet, daß der Metallfilm, die Schutzschicht und das Substrats in ein weiches Polster eingeschlossen sind, das wiederum in ein Gehäuse eingeschlossen ist.
- 9. Widerstand nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der feste Teil des zusammengesetzten Substrats eine im allgemeinen lineare thermische Expansion aufweist, während der Kunststoffteil des zusammengesetzten Substrats eine nichtlineare thermische Expansion aufweist, und daß die Dicke des Kunststoffteils vor dem Einkapseln eingestellt wird, um die gewünschte Abmessungsänderung als Funktion der Temperatur, die zu dem gewünschten T.C. führt, vorzusehen.
- 10. Widerstand nach Anspruch 9» dadurch gekennzeichnet, daß die Einstellung durch wenigstens eine wenigstens teilweise Eindringung in die Dicke des Kunststoffteils ausgeführt wist.13001 1/0829
- 11. Widerstand nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der feste Teil des zusammengesetzten Substrats aus Keramik besteht und daß der Kunststoffteil aus Epoxyharz besteht.
- 12. Widerstand nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß der keramische Teil des zusammengesetzten Substrats etwa dick ist und daß der Epoxyteil des zusammengesetzten Substrats auch etwa ^OO/Vtm dick ist.
- 13· Widerstand nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Widerstandsmetallfilm etwa 2,5/um dick ist und daß die Kunststoffschutzschicht etwa 12,5/um dick ist.
- 14. Widerstand nach Anspruch 11, gekennzeichnet durch einen Metallteil, der auch einen Teil des zusammengesetzten Substrats bildet, wobei der Metallteil auf der Seite des keramischen Teils angeordnet ist, die von dem Metallfilm weg weist, und wobei der Metallteil auch eine im allgemeinen lineare thermische Expansion aufweist, welche die lineare Komponente des zusammengesetzten Substrats ändert.
- 15· Widerstand nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallteil die Form einer Schicht hat, die zwischen den keramischen Teil und den Epoxyteil des zusammengesetzten Substrats eingesetzt ist.
- 16. Widerstand nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallteil die Fore einer Schicht auf der Seite des Epoxyteils hat, die von . dem Widerstandsmetallfilm weg weist.
- 17- Widerstand nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallschicht nicht kontinuierlich ist.
- 18. Widerstand nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallschicht die Form von Streifen hat, die Teile von monolithischen Verbindungsleitungen für den Widerstand bilden.130011/0829
- 19. Widerstand nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein Teilschnitt durch wenigstens eine Verbindungsleitung zum Einstellen des T.C. des Widerstands ausgeführt ist.
- 20. Widerstand nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallteil die Form von Streifen hat, die Teile von monolithischen Verbindungsleitungen für den Widerstand bilden, und daß die Streifen zwischen dem keramischen Teil und der Seite des Epoxyteils angeordnet sind, die von dem Metallfilm weg weist.
- 21. Widerstand nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallteil die !form von Streifen auf der Seite des keramischen Teils aufweist, der von dem Widerstandsmetallfilm weg weist, und daß der Epoxyteil die Räume zwischen den Metallstreifen füllt.
- 22. Widerstand nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallstreifen die Form eines Gitters aus sich kreuzenden Streifen haben.
- 23· Widerstand nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallteil die Form einer perforierten Schicht hat und daß der Epoxyteil die Perforationen ausfüllt.
- 24. Widerstand nach Anspruch 21 oder 23, dadurch gekennzeichnet, daß der Metallteil so ausgebildet ist, daß er darin gebildete Einschnitte aufweist, un die Abmessungsänderung des zusammengesetzten Substrats als Funktion der Temperatur einzustellen.
- 25. Verfahren zum Herstellen eines Widerstands mit einem Metallfilm, der das Widerstandsmaterial bildet, und mit einem Substrat, auf das der Jil« aufgeklebt ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat als ein· zusammengesetzte Anordnung von wenigsten« ewti ia wesentlichen parallelen Teilen gebildet wird, wobei ein Teil im wesentlichen fest und der andere Teil ein Kunststoff iet, daß der Widerstandsmetallfilm an der Fläche des130011/0829festen Teils, die von dem Kunststoffteil weg weist, entweder vor oder nach der Bildung der zusammengesetzten Anordnung fest angeklebt wird und daß der Kunststoffteil mit einer Dicke vorgesehen wird, die vergleichbar mit der Dicke des festen Teils ist.
- 26. Verfahren nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß der Kunststoff Epoxyharz ist und daß der Epoxyteil einem Aushärtvorgang bei einer Temperatur über dem Betriebsbereich des Widerstands unterworfen wird.
- 27. Verfahren nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke des Epoxy eingestellt wird, um den T.C. des Widerstands fein abzustimmen.
- 28. Verfahren nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß ein Metallteil nahe dem keramischen Teil vorgesehen wird und daß der Metallteil wahlweise durchschnitten wird, um den T.C. des Widerstands fein einzustellen.
- 29. Verfahren nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß die Aushärttemperatur wenigstens etwa 1O0C über dem Betriebsbereich des Widerstands liegt.
- 30. Chip zur Verwendung in einem Präzisionswiderstand, wobei der Chip einen Metallfilm, der das Widerstandsmaterial bildet, und ein Substrat enthält, das den PiIm trägt und an dem der PiIa mit einer Klebstoffschicht fest angebracht ist,dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat eine zusammengesetzte Anordnung von wenigstens zwei Teilen aus verschiedenen Materialien ist, die im wesentlichen parallel zu dem Widerstandsmetallfila liegen, wobei der Teil nahe den Widerstandsmetallfilm in wesentlichen fest ist und der Teil weiter weg von dem Metallfilm ein Kunststoff einer Dicke ist, die vergleichbar mit der Dicke des festen Teils ist.13001 1/0829 BAD ORIGINAL
- 31. Verfahren zum Herstellen eines Chips zur Verwendung in einem Präzisionswiderstand, wobei der Chip einen Grundmetallfilm, der das Widerstandsmaterial bildet, und ein Substrat aufweist, an dem der Film angeklebt wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat als zusammengesetzte Anordnung von wenigstens zwei im wesentlichen parallelen Teilen gebildet wird, wobei ein Teil im wesentlichen fest ist und der andere Teil ein Kunststoff ist, daß der Widerstandsmetallfilm an der Oberfläche des festen Teils, die von dem Kunststoffteil weg weist, vor oder nach dem Bilden der zusammengesetzten Anordnung fest angeklebt wird und daß der Kunststoffteil mit einer Dicke vorgesehen wird, die vergleichbar mit der Dicke des festen Teils ist.13001 1/0829
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: REINLAENDER, C., DIPL.-ING. DR.-ING., PAT.-ANW., 8 |
|
8141 | Disposal/no request for examination |