DE2427236C2 - Beugung von interferenzfähigem Licht - Google Patents
Beugung von interferenzfähigem LichtInfo
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- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/42—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
- G02B27/4233—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application
- G02B27/4255—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application for alignment or positioning purposes
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Abstract
Die Anmeldung betrifft eine Anordnung zur Beugung von interferenzfaehigem Licht, welches im Interferenzstrahlengang veraenderliche Phasen aufweist, mittels optischer, vorzugsweise strukturierter Bauelemente und mit Mitteln zur fotoelektrischen Auswertung der unterschiedlichen Phasenlagen. Es ist bekannt, interferenzfaehiges Licht z. B. durch Gitterstrukturen oder Spiegel zu beugen. Fuer diese bekannten Anordnungen ist es zur Steigerung der Genauigkeit erforderlich, dass nur ganz bestimmte Beugungsordnungen zur Interferenz kommen koennen, damit das modulierte Signal noch interpoliert werden kann. Man hat dazu beispielsweise eine Blende vorgesehen, die die ersten von der nullten Beugungsordnung trennt. Die Anwendung solcher Beugungsordnungsblenden ist problematisch, weil die Blenden nur schwer gefertigt und justiert werden koennen und es oft gar nicht moeglich ist, solche Blenden in einer Apparatur anzubringen, weil kein Platz vorhanden ist. Es ist eine Anordnung angegeben, die sich dadurch auszeichnet, dass zwecks Bevorzugung definierter Beugungsordnungen bzw. Ortsfrequenzen ohne Notwendigkeit der Verwendung von mechanischen Blenden die wirksame Halbwaertsbreite der Wellenlaenge des verwendeten Lichts und/oder die Abstaende und/oder die Strukturen der optischen Bauelemente so gewaehlt sind, dass die optischen Wege von Strahlungsanteilen benachbarter Ordnungen so stark differieren, dass eine die Signalauswertung stoerende Interferenz vermieden ist. ...U.S.W
Description
2. Anordnung jach Anspruch 1, dadurch gekenn- 20 werden können.
zeichnet, daß die Abstimmung der Hslbwertsbreite Diese Aufgabe wird bei einer Anordnung der ein-
und/oder der Abstände und/oder der Strukturen der gangs genannten Art erfindungsgemäß durch die im
optischen Bauelemente gemäß der Formel kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 genannten
Merkmale gelöst Vorteilhafte Ausgestaltungen erge-
(P 25 ben sich aus den Ansprüchen 2 und 3.
e = Die Erfindung nutzt die Erkenntnis aus, daß von derselben
Lichtquelle herrührende Lichtstrahlen nur dann
vorgenommen ist, wobei e der Abstand der Struktu- miteinander interferieren können, wenn ihr optischer
ren, d die Strukturkonstante, M die wirksame Halb- Gangunterschied kleiner als die Kohärenzlänge ist Die-
wertsbreite der Wellenlänge, K der Überlappungs- 30 se hängt von der Monochromaisie des verwendeten
faktorundaeinStnmetriefaktcrist Lichtes ab und ist bekanntlich durch das Verhältnis
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekenn- /P/2 Δλ bestimmt, wobei λ die Wellenlänge der Lichtzeichnet
daß für symmetrische Abfände der Faktor emission und Δλ deren Halbwertsbreite ist Beim Ana
_ 2 ist meldungsgegenstand wird im Zusammenwirken mit ei-
35 ner geeigneten Lichtquelle dafür gesorgt daß die durch die lichtbeugenden Bauelemente erzeugten optischen
Wegdifferenzen benachbarter Beugungsordnungen so
groß sind, daß ihre Interferenzen die Signaiauswertung
nicht stören.
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Beugung 40 Dies wird bei der neuen Anordnung beispielsweise
von interferenzfähigem Licht, welches im Interferenz- dadurch erreicht, daß die Abstimmung der Halbwertsstrahlengang
veränderliche Phasen aufweist, mittels breite und/oder der Abstände und/oder der Strukturen
lichtbeugender optischer Bauelemente und mit Mitteln der optischen Bauelemente gemäß der Formel
zur fotoelektrischen Auswertung der unterschiedlichen
Phasenlagen. 45 e = K rf \
Es ist bekannt, interferenzfähiges Licht z.B. durch a ■ Δλ
$ Gitterstrukturen oder Spiegel (Prismen) zu beugen (vgl.
P DE-OS 20 03 492; Applied Optics, Vol.6, Nr. 11 [No- vorgenommen ist, wobei eder Abstand der Strukturen,
f\ vember 1967], S. 1861 ff, und Journal of Scientific In- d die Strukturkonstanfe.-, Δλ die wirksame Halbwertsstruments,
Vol. 36 [Mai 1959], S. 228). Die Beugung fin- 50 breite der Wellenlänge, K der Überlappungsfaktor und
!? det an optischen, vorzugsweise strukturierten (Gitter-)- a ein Symmetriefaktor ist. K ist gleich 1, wenn sich die
|· Bauelementen mit relativ zueinander veränderlicher Beugungsordnungen nicht mehr überlappen und für den
U Position statt. Bei der in der DE-OS 20 03 492, Fig. 2, Spezialfall symmetrischer Abstände ist a = 2.
i,? beschriebenen Anordnung wird z.B. ein von einer Um eine kompakte Bauweise zu erzielen, wird man K
■Ά Lichtquelle erzeugtes Lichtstrahlenbündel durch ein er- 55 und damit auch den Abstand e gerade so groß wählen,
$ stes lichibeugendes Gitter in mindestens zwei auseinan- daß die wegen der unerwünschten Interferenz auftreif
derlaufende Teilstrahlenbündel zerlegt. Nachfolgende tende störende Doppeiperiode die vorgesehene Interim
lichtumlenkende Mittel führen die gebeugten Teilstrah- polation des modulierten Signals noch nicht beeinträchil
lenbündel wieder zusammen und mit Hilfe eines zweiten tigt
·' - lichtbeugenden Gitters werden aus unterschiedlichen 60 Die Formel muß in dieser neuen Anordnung lediglich
Beugungsordnungen stammende Teilstrahlenbündel in zwischen zwei der strukturierten Bauelemente einge·
jil dieselbe Richtung gelenkt, so daß sie miteinander inter- halten werden, kann aber auch zwischen mehreren gcl-
{?' ferieren können. ten, wenn sie wirksam werdensoll.
$ Fotoelektrische Systeme werten die unterschiedli- In den Zeichnungen sind schematische Beispiele der
$ chen Phasenlagen der bei einer gegenseitigen Bewe- 65 erfindungsgemäßen Anordnung dargestellt. Es zeigt
B gung der Gitter durch die Interferenz modulierten F i g. 1 ein Beispiel mit drei gitterförmig beugenden
vi Strahlenbündel aus. Strukturen; ..,.,.
*5 In bleicher Weise ist z. B. bei Interferenzrefraktome- F i g. 2 ein Beispiel mit zwei gitterförmig beugenden
Strukturen und dazwischengeschalteten Reflexionsflächen.
Das ankommende interferenzfähige Licht / wird an der ersten Sti-uktur 1 in verschiedene Beugungsordnungen
/o, /+1, /_i zerlegt Verantwortlich für die Größe der
Aufspaltung in Beugungsordnungen, die einen Winkel a einschließen, ist lediglich die Gitterkonstante d der ersten
beugenden Struktur 1 sowie die verwendete Wellenlänge A.
Der als Gitter ausgebildeten ersten Struktur 1 ist ein zweites Gitter 2 zur weiteren Beugung nachgeordnet,
das die von dem Gitter 1 kommenden verschiedenen Beugungsordnungen nach unterschiedlichen Weglängen
erreichen. Diesem Gitter ist ein weiteres Gitter 3 nachgeordnet, an welchem vom Gitter 2 kommende
Beugungsordnungen sich vereinigen und interferieren. Bei der neuen Anordnung darf nun der Gangunterschied
der Beugungsordnung k zu den Beugungsordnungen /+1 und /_ ι nicht wesentlich kleiner als die Kohärenzlänge
lc sein, damit diese einander benachbarten Beugungscrdnungen nicht miteinander interferieren.
Aus der Bedingung für die Kohärenzlänge:
gemäßen Lehre bei allen bekannten Einrichtungen zur Weg- und Geschwindigkeitsmessung möglich, die die
Interferenzen nicht unmittelbar benachbarter Beugungsordnungen zur Signalgewinnung ausnutzen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
und dem Beugungsgesetz
λ
λ
ergibt sich mit dem Abstand eder beiden Gitter 1 und 2
in linearer Näherung die im Unteranspruch 2 wiedergegebene Bedingung.
Den verschiedenen Richtungen der interferierenden Lichtbündel können an sich bekannte, entsprechend gestaffelte
fotoelektrische Empfänger nachgeschaltet werden. Um möglichst hohe Interpolation der durch Interferenz
moduiierten Lichtflüsse zuzulassen, wird der Abstand e so gewählt, daß z. B. die 0. Ordnung wegen des
zu großen Gangunterschiedes dieser Beugungsordnung nicht mehr mit i'.sr 1. Ordnung interferieren kann.
In Fig.2 ist eine dem in obengenannter Offenlegungsschrift
(Fig. 2) Gezeigten ähnliche Anordnung dargestellt, wobei der Abstand der beiden Gitter 13 und
33 gleich 2e ist. Daher kann die Blende 34 (gestrichelt dargestellt) entfallen, denn sie verhindert lediglich einen
konstanten Gl-jichlichtanteil in den Meß-ignalen.
Die Figuren veranschaulichen die Zusammenhänge, die den optischen Wegunterschied zwischen benachbarten
Beugungsordnungen beeinflussen. Bei Einhaltung der erfindungsgemäßen Bedingungen interferieren in
den die Gitter 3 und 33 verlassenden Lichtflüssen nur die mit /+i um'. /_i bezeichneten Lichtbündel miteinander.
Die liiterferenzphase (Aufhellung, Auslöschung) hängt dabei bekanntlich von der relativen Lage der beugenden
Strukturen zueinander ab. Bei einer Relativver-Schiebung der beugenden Strukturen in ihrer Ebene
senkrecht zur Teilungsrichtung ändert sich die Interferenzphase periodisch. Das von den nicht dargestellten
fotoelektrischen Empfängern abgegebene elektrische Signal ist entsprechend dieser Periode moduliert. Durch
Abzählen der Signalperioden kann die Verschiebestrekke und durch Zeitmessung auch die Geschwindigkeit
des bewegten Gitters gemessen werden. Durch elektronische Unterteilung der Signalperioden kann das Meßsignal
auch interpolier', werden. Die Feinheit der Interpolation hängt dabei von der Güte der periodischen
Modulation des Meßsignals ?i>.
Selbstverständlich ist die Anwendung der erfindungs-
Claims (1)
1 2
tern eine Brechzahländerung im Lichtweg zwischen den
Patentansprüche: Beugungen dafür verantwortlich, daß die nachgeschal
teten Empfänger ein moduliertes Signal erhalten.
1 Anordnung zur Beugung von interferenzfähi- Für diese bekannten Anordnungen ist es zur Steige-
gem Licht, welches im Interferenzstrahiengang ver- 5 rung der Genauigkeit erforderlich, daß nur ganz beänderliche
Phasen aufweist, mittels lichtbeugender stimmte Beugungsordnungen zur Interferenz kommen
optischer Bauelemente und mit Mitteln zur fotoelek- können, damit das modulierte Signal noch interpoliert
frischen Auswertung der unterschiedlichen Phasen- werden kann. Man hat dazu beispielsweise in der oben
lagen, dadurch gekennzeichnet, daß angegebenen deutschen Offenlegungsschnft eine Bhnzwecks
Bevorzugung definierter Beugungsordnun- io de vorgesehen (vgL Fig. 2), die die erste von der nullten
gen ohne Notwendigkeit der Verwendung von me- Beugungsordnung trennt
chanischen Blenden die wirksame Halbwertsbreite Die Anwendung solcher Beugungsordnungsblenden
der Wellenlänge des verwendeten Lichtes und/oder ist problematisch, weil einmal die Blenden nur schwer
die Abstände und/oder die Gitterkonstanten der gefertigt und justiert werden können, zum anderen es
lichtbeugenden optischen Bauelemente so gewählt I5 oft g-*r nicht möglich ist, solche Blenden in einer Appasind,
daß die Länge der optischen Wege von Strah- ratur anzubringen, weil kein Platz vorhanden ist
lungsanteilen benachbarter Ordnungen so stark dif- Es ist daher Aufgabe der Erfindung, Bedingungen da-
ferieren, daß eine die Signalauswertung störende In- für anzugeben, wie ohne zusätzliche Blenden die die
terferenz vermieden ist Signalauswertung störenden Interferenzen vermieden
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742427236 DE2427236C2 (de) | 1974-06-06 | 1974-06-06 | Beugung von interferenzfähigem Licht |
NL7505650A NL182985C (nl) | 1974-06-06 | 1975-05-14 | Inrichting voor het meten van verplaatsingen met behulp van twee ten opzichte van elkaar beweegbare buigingsroosters. |
GB2054075A GB1504001A (en) | 1974-06-06 | 1975-05-15 | Apparatus for determining the properties of movement of anobject |
CH659075A CH606988A5 (de) | 1974-06-06 | 1975-05-22 | |
JP50066119A JPS5826002B2 (ja) | 1974-06-06 | 1975-06-03 | 移動距離及び速度を測定する装置 |
FR7517495A FR2274056A1 (fr) | 1974-06-06 | 1975-06-04 | Dispositif de diffraction d'une lumiere apte a interferer |
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---|---|---|---|
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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---|---|---|---|---|
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US4584484A (en) * | 1983-10-03 | 1986-04-22 | Hutchin Richard A | Microscope for producing high resolution images without precision optics |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2003492A1 (de) * | 1970-01-27 | 1971-08-12 | Leitz Ernst Gmbh | Messverfahren fuer Schrittgeber zum Messen von Laengen oder Winkeln sowie Anordnungen zur Durchfuehrung dieses Messverfahrens |
US3768911A (en) * | 1971-08-17 | 1973-10-30 | Keuffel & Esser Co | Electro-optical incremental motion and position indicator |
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-
1975
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- 1975-05-22 CH CH659075A patent/CH606988A5/xx not_active IP Right Cessation
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Also Published As
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NL182985C (nl) | 1988-06-16 |
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CH606988A5 (de) | 1978-11-30 |
GB1504001A (en) | 1978-03-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: WILD LEITZ GMBH, 6330 WETZLAR, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |