DE2362515A1 - Elektromechanische resonatoranordnung - Google Patents
Elektromechanische resonatoranordnungInfo
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Classifications
-
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- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
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Description
LICEIiTIA
Patent-Verwaltungs-GmbH
6000 Frankfurt (Main) 70, Theodor-Stera-Kai 1
7900 Ulm (Donau), 14. Dez. 1973
PT-UL/Seha/wi - UL 72/186
"Elektromechanische Besonatoranordnung"
Die Erfindung "betrifft eine elektromechanische Resonatoranordnung,
vorzugsweise zur Verwendung als Frequenznormal oder Filter honer Güte mit einem Schwingkristall in Form
einer aus Quarz !bestehenden planparallelen Scheine, welche
mindestens einen Resonatorbereich enthält, der eine geringere Resonanzfrequenz aufweist als seine Umgebung.
Die vorteilhafte Verwendung von Quarz in elektromechanischen Filtern hoher Güte oder in Frequenznormalien ist insbesondere
auf die ausgezeichneten Eigenschaften dieses Werkstoffes hinsichtlich Güte, Alterungs- und Temperaturstabilität
zurückzuführen. So liegen zo B0 die theoretisch aufgrund
von kristallphysikalischen Verlustmechanismen mit der für Quarzschwinger im MHz-Bereich üblicherweise verwendeten
Dickenseherschwingung maximal erreichbaren Gütewerte für den AT-Schnitt bei cae 1,6 . 10^/f
(f in MHz) sowie bei ca. 3,3 ο 107/f (f in MHz)
509825/0576 . - 2 -
- 2 - UL 72/186
für den BT-Schnitt. Bisher ist es jedoch noch nicht gelungen,
diese Gütewerte auch nur annähernd zu erreichen.
Die Ursache hierfür liegt in zusätzlichen Dämpfungsmechanismen, welche im wesentlichen auf Wechselwirkungen mit
den ebenfalls angeregten Hebenwellen, mit dem Scherbenrand
und mit der Halterung sowie mit den Elektrodenmaterialien zurückzuführen sind.
Es ist "bekannt, die für die Elimination von Einflüssen
der Verstärkerbetriebsphasenschwankungen auf die Frequenzstabilität erforderliche Mindestwerte für die Schwinggüte
von Uormalienquarzen von mehr als ca. 0,5 . 10 durch Unterdrückung der Wechselwirkung mit Hebenwellen und
Randeffekten durch eine genau definierte,.empirisch ermittelte M- oder plankonvexe Linsenstruktur des Quarzes
zu gewährleisten. Das genannte Verfahren führt jedoch bisher
nur bei Frequenzen < 10 MHz zu den gewünschten hohen Gütewerten.
Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, eine elektromechanische
Resonatoranordnung unter Verwendung eines Schwingkristalls in Form einer aus Quarz "bestehenden planparallelen
Scheibe, die wenigstens einen Resonatorbereich enthält, anzugeben, wobei der Schwingkristall einerseits hohe Gütewerte
aufweisen und andererseits in der einfachen ebenen Technik herstellbar sein soll.
SO9825/0S7*
- 3 - UL 72/186
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der Resonatorbereich durch die Eandbedingung
1,5 . 10~4 >
δ ν 0,5 . 10'4 Cn » 1 5 5
n (*/t)1'5 n Cn - 1,3,5...
definiert ist, worin η die Ordnung der angeregten Schwingung,
Δ die relative !Frequenzerniedrigung des Resonatorbereiches gegenüber seiner Umgebung, t die Dicke der Scheine im Resonatorbereich
und φ =| φ . φ , das geometrische Mittel
der Abmessungen ψ und φ_, des Resonatorbereiches in Richte
ζ
tung der kristallographischen x- und ζ'-Achse bedeutet;
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Lösung ist darin zu sehen, daß im Gegensatz zu bisher bekannten Lösungen mit
Linsenquarzen, deren Krümmung ein wegen der erforderlichen Genauigkeit äußerst kompliziertes Herstellungsverfahren
bedingt, die Herstellung einer planparallelen Quarzscheibe mit Hilfe der technologisch wesentlich einfacheren e"benen
Technik möglich ist. So können "beispielsweise mit der erfindungsgemäßen
Anordnung sogar im !Frequenzbereich > 10 MHz noch Gütewerte von fast 10 erreicht werden. DJe erfindungsgemäße
Lösung ist bei Quarzscheiben anwendbar, welche vorzugsweise in BT-, FC- oder RT-Orientierung geschnitten sind.
509825/0574
UL 72/186
Die Randbedingung beinhaltet die Feststellung, daß "bei
gegebener Resonatorabmessung (t,<j>
) -und vorgegebener Ordnung der angeregten Schwingung ein ganz bestimmter
f Tj - f ρ
Bereich für die relative Frequenzerniedrigung '—* —,
1E welche auch als "Plateback" bezeichnet wird, zwischen
der Frequenz f-g des Resonatorbereiches und der Frequenz
f-g der Eesonatorumgebung eingehalten werden muß. Physikalisch
ist die untere Grenze von Δ dadurch gegeben, daß durch Gewährleistung eines Mindestgrades an Konzentration
der Schwingungsenergie unter die Elektroden durch Anwendung
des als Energieeinfangprinzips bekannten Effektes die Wechselwirkungen des Resonators mit dem Rand^ den elektrischen
Kontaktvorrichtungen sowie der Halterung in ausreichendem Maße unterdrückt wird. Besteht der Resonatorbereich
ganz oder teilweise aus Metallelektroden, so machen außerdem die ohmschen Verluste in diesen einen
Mindestwert für Δ erforderlich. Mit zunehmendem Δ wächst jedoch einmal die Wahrscheinlichkeit einer schwingungsenergieentziehenden,
also giitemindernden Verkopplung der Hutζschwingung mit Hebenresonanzen, zu denen der Resonator
ebenfalls angeregt werden kann. Im Falle von Metallelektroden nimmt außerdem die Dämpfung durch Verlustmechanismen
in den Elektroden ebenfalls mit wachsendem Δ zu. Es ergibt sich bei gegebener Resonatorgeometrie demnach
eine obere Grenze von Δ, wenn ein vorgeschriebener Wert für die Schwinggute erreicht werden soll.
509825/0574 - 5 -
- 5 ~ UL 72/186
Die Bedingung ,mit der bei planen Quarz scheiben Schwinggütewerte
von über 5 . ΙΟ-7 sichergestellt werden, ist
durch die erfindungsgemäße Beziehung zwischen der Resonatordicke
t, den seitlichen Abmessungen j ," der relativen Frequenzerniedrigung Δ sowie der Ordnung n,
der angeregten Schwingung gegeben. Bei rechteckigen Resonatoren mit Abmessungen S und f>
, in Richtung der kristallographischen x- und ζ'-Achse ist für das
geometrische Mittel φ = |ΦΧ · ^2· einzusetzeil, während
bei runden Resonatoren <j> einfach dem Resonatordurchmesser
gleichzusetzen ist.
Um den Einfluß von Elektrodenrandeffekten auf die
Schwinggüte des Resonators gering zu halten, sollte zweckmäßig die Beziehung ±
> 5 erfüllt sein. Weiterhin sollte zur Unterdrückung der gütemindernden Wechselwirkung
mit dem Scheibenrand die Abmessung der Scheibe
größer
in x-Richtung mindestens um den Faktor 2 / als die Abmessung
<j> des Resonatorbereiches und die Abmessung der
größer Scheibe in ζ'-Richtung mindestens um den Faktor 1,5 /als
die Abmessung ψ , des Resonatorbereiches sein.
Um gütemindernde ohmsche Yerluste in den Metallelektroden
insbesondere bei geringen Schichtdicken, wie sie bei hohen Frequenzen notwendig werden, gering zu halten, ist es vor-
- 6 5Q9825/Q574
- 6 - OL 72/186
teilhaft, den Resonatorbereich durch gegebenenfalls aus mehreren Schichten bestehende Beläge zu realisieren, die
aus einem Material bestehen, welches die Bedingung
f > 4 . 1O4 |S- erfüllt, wobei ^C die Leitfähigkeit und
f die mittlere Dichte der Gesamtschicht bedeutet. Ein Metall, welches die Bedingung in besonders vorteilhafter
Veise erfüllt, ist Aluminium.
Figur 1 zeigt eine Quarzplatte 1, bei der der Resonatorbereich
durch Metallelektroden 2 abgegrenzt wurde,.Figur
zeigt eine Ausführungsform, bei der ein Resonatorbereich
durch Strukturätzung festgelegt wurde. Bei einer weiteren
Ausführungsform gemäß Figur 3» welche insbesondere für hohe Frequenzen interessant ist, sind beide vorgenannten
Verfahren, d. h. Struktur ätzung und Aufbringen von Elektroden,
miteinander kombiniert..,. In Figur 4- ist eine mögliche Ausführungsform in perspektivischer Darstellung aufgezeichnet.
Die Figuren 5 tmd 6 zeigen die Abhängigkeit
der Schwinggüte Q vom Plateback Δ für verschiedene Resonatorgeometrien,
wobei die Resonatorbereiche durch Aluminiumelektroden abgegrenzt wurden, und zwar für die
Grundwelle η » 1 (Figur 5) und die dritte Harmonische
η s 3 (Figur 6). In Figur 7 sind die durch die Randbedingung
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- 7 - UL 72/186
«5 - 10"*
> Δ > 0,3 . 10~4 Cn « 1 3 5
festgelegten Bereiche fux Δ in Abhängigkeit von +· für
Grund- lind Oberwelle dargestellt.
8 -
509825/0S74
Claims (7)
- - 8 - UL 72/186PatentansprücheiJ Elektromechanische Eesonatoranordiiung, vorzugsweise zur Verwendung als Frequenznormal oder Filter hoher Güte mit einem Schwingkristall in Form einer.aus Quarz bestehenden planparallelen Scheibe, welche mindestens einen Resonatorbereich enthält, der eine geringere Resonanzfrequenz aufweist als seine Umgebung, dadurch gekennzeichnet, daß der Resonatorbereich durch die Randbedingung0.5 .> 0.5 . ΙΟ / ndefiniert ist, worin η die Ordnung der angeregten Schwingung', Δ die relative Frequenzerniedrigung des Resonatorbereiches gegenüber seiner Umgebung, t die Dicke der Scheibe im Resonatorbereich und φ »y φ . $z, das geometrische Mittel der Abmessungen 6 und 9. des Resonatorbereiches in Sichtung der kristallographischen x- und fc1-Achse bedeutet.
- 2. Resonatoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abmessung und die Dicke t des Eesonatorbereiches durch die. Randbedingung % > 5 definiert ,ist. ,- 9 -50982S/057A- 9 - ' " XU· 72/186
- 3. Resonator anordnung nach. Anspruch. 1 oder 2, dadurch. gekennzeichnet, daß die Abmessung der Scheibe in x-Rich-größer .tung mindestens um den Faktor 2 / als die Abmessung ψ des Eesonatorbereich.es und die Abmessung der Scheibe ingrößerζ'-Richtung mindestens um den Faktor 1,5 /als die Abmessung φ, des Resonatorbereiches ist.
- 4. Resonatoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein Resonatorbereich durch Beläge auf oder in der Oberfläche der Scheibe gebildet ist, die aus einem Material bestehen, welchesder Bedingung -r- > 4- . 10 τπ=: genügt, worin <*■ die mittlere spezifische Leitfähigkeit und % die mittlere Dichte des Resonatorbelages bedeutet.
- 5. Resonatoranordnung nach Anspruch 4-, dadurch gekennzeichnet, daß die Beläge im wesentlichen aus Aluminium bestehen.
- 6. Resonatoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein Resonatorbereich durch eine erhabene Struktur in der Quarzscheibe gebildet ist.
- 7. Resonatoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Quarzscheibe in BT-, FC- oder RT-Orientierung geschnitten ist.509825/0674, 40.Leerseite
Priority Applications (1)
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DE2362515A1 true DE2362515A1 (de) | 1975-06-19 |
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DE2362515A Withdrawn DE2362515A1 (de) | 1973-12-15 | 1973-12-15 | Elektromechanische resonatoranordnung |
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DE (1) | DE2362515A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0459631A2 (de) * | 1990-04-27 | 1991-12-04 | Seiko Epson Corporation | In AT-Richtung geschnittenes vibrierendes Kristallelement und sein Herstellungsverfahren |
-
1973
- 1973-12-15 DE DE2362515A patent/DE2362515A1/de not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0459631A2 (de) * | 1990-04-27 | 1991-12-04 | Seiko Epson Corporation | In AT-Richtung geschnittenes vibrierendes Kristallelement und sein Herstellungsverfahren |
EP0459631A3 (en) * | 1990-04-27 | 1992-04-01 | Seiko Epson Corporation | At-cut crystal oscillating element and method of making the same |
US5304459A (en) * | 1990-04-27 | 1994-04-19 | Seiko Epson Corporation | At-cut crystal oscillating reed and method of etching the same |
US5376861A (en) * | 1990-04-27 | 1994-12-27 | Seiko Epson Corporation | At-cut crystal oscillating reed and method of etching the same |
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