DE2356535A1 - Verfahren zur bestimmung einer flaechenungleichmaessigkeit - Google Patents
Verfahren zur bestimmung einer flaechenungleichmaessigkeitInfo
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Description
Institut für Textiltechnik ^
741 Reutlingen, Burgstr, 29 23 56 5 3
Verfahren zur Bestimmung einer Flächen-.ungleicnmäßigkeit
Die Erfindung "betrifft ein "Verfahren zur Bestimmung einer
Flächenungleichmäßigkeit9 insbesondere "bei Textilien und
Papieren9 mit dem ZiB« Wolkigkeit^ d.he die Verteilung
der Strahlungsdichte strahlungsdurchlässiger Flächen oder Körperj die Oberflächenunebenheiten strahlungsdurchlässiger
oder strahlungsundurchlässiger !lachen oder Körper sowie
die Rück- bzwo Eigenstrahlungsverteilung von Flächen oder
Körpern quantitativ erfaßt werden kanne Dieses Verfahren
wird nachfolgend als Flächenungleichmäßigkeits-Meßverfahren bezeichnete
Es gibt verschiedene visuell leicht erfaßbare Eigenschaften von Flächen oder Körperns die bis heute einer objektiven
quantitativen Messung bzw., Auswertung verschlossen sind.
Diese Eigenschaften werden dem Begriff "Flächenungleichmäßigkeit" zugeordnet, der nachfolgend allgemein verwendet
wird. Dazu gehören zum Beispiel die Wolkigkeit eines Papiers, eines Faserflores, eines Faservlieses, einer Folie, jeweils
im Durchlicht betrachtet,, Dazu gehören auch die Unebenheiten
einer Oberfläche, z»B. einer Papier- oder Stoffbahn nach
einer Knitterung bzw. einer Kreppung, die Rauheit eines Garnes und die Veränderung einer Oberfläche nach einer
entsprechenden Oberflächenbehandlung, Z0B0 eine Stoffbahn
nach einer Pilling hervorrufenden Behandlung, eine beliebige Bahn oder ein Werkstück nach einer Scheuerung im Sinne
einer Oberflächenabtragung. Dazu gehören ebenfalls die Unregelmäßigkeiten in der Ruckstrahlungs- bzw«, in der Eigenstrahlungsverteilung
im sichtbaren und im unsichtbaren Wellenlängenbereich, also z.B, die Schipprigkeit, die
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Streifigkeit oder überhaupt das unruhige Bild einer Oberfläche, das unregelmäßige Bild eines auf kontrastierenden
Untergrund gewickelten Garnes oder anderer fadenförmiger Gebilde oder die ungleichmäßige Temperaturverteilung einer
strahlenden lläche. lerner gehören zu diesem Komplex auch Teilchengrößenverteilungen bei konstanter Teilchenzahl im
Betrachtungsfeld sowie die Verteilung von Teilchenzahlen
je Betrachtungsfeld bei konstanter Teilchengröße. Zwar sind diese beiden Verteilungen schon heute durch optisch-elektronische
Einrichtungen quantitativ erfaßbar, wenn die Teilchen genügend Kontrast zum Untergrund haben. Aber nur in diesem
Pail ist die angewandte digitale Auswertung sicher. Dagegen erfolgt die Auswertung bei dem erfindungsgemäßen Verfahren
analog, so daß keine diskreten Teilchen und kein starker Konrtrast vorliegen müssen, um eine sichere Auswertung zu gewährleisten.
Die bisher fehlende Möglichkeit, die Ungleichmäßigkeiten objektiv zu erfassen/durch eine oder mehrere Meßzahlen zu
charakterisieren und zu vergleichen, führt ständig zu Mißverständnissen
und Schwierigkeiten zwischen dem Hersteller eines entsprechenden Produktes und dem Abnehmer. Diese Schwierigkeiten
treten trotz der Festlegung von Vergleichsstandards auf, was nicht nur auf den unterschiedlichen Erfahrungsgrad
im Umgang mit Standards, sondern auch auf psychologische Barrieren zurückzuführen ist.
Es ist zwar immer wieder versucht worden, die subjektive Beurteilung
durch ein objektives Meßverfahren zu ersetzen. Weil derartige Verfahren aber entweder zu arbeitsaufwendig oder zu
kostenaufwendig sind, hat sich bisher kein Verfahren durchgesetzt.
Als Beispiele für solche aufwendige Verfahren wären zu nennen: das Schneiden und Wiegen von llächenabschnitten, wobei
die Streuung zwischen den Gewichten dieser Abschnitte als Maß der llächenungleichmäßigkeit angesehen wird. Dabei reichen
llächenabschnitte nur einer Größe nicht zur Beurteilung der
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_ . 5t _
Ungleichmäßigkeit aus; es müssen zumindest zwei Abschnitt-
2 2
größen, z.B. 5 cm und 30 cm untersucht werden. TJm die statistische
Unsicherheit nicht zu groß werden zu lassen, müssen je Abschnittgröße mindestens 20, besser aber 30 Abschnitte
ausgeschnitten und gewogen sowie die Meßwerte statistisch ausgewertet werden. Ein anderes Verfahrensprinzip, das neben
dem Schneiden und Wiegen immer wieder zur Diskussion steht,
basiert auf der "Erfassung der Strahlungsdichte im Durchstrahloder
Rückstrahlverfahren, und zwar unter Verwendung einer Strahlenquelle,
z.B. einer lichtquelle oder einer radioaktiven Strahlenquelle, und eines entsprechenden Detektors. Schwankungen
der Strahlungsintensität als Folge einer unterschiedlichen Strahlungsdichte korrelieren dabei mit der Flächenungleichmäßigkeit.
Dieses Verfahren ist aber nur dann praktisch verwendbar, wenn die lineare Ungleichmäßigkeit längs einer Warenbahn für
2 2 eine Abtastfläche von 1 mm bis 1 cm erfaßt werden soll, und
zwar bei stehendem Meßteil und linienförmig bewegter Warenbahn.
2 2
Wenn dagegen ein Flächenbereich von z.B. 100 cm bis 1000 cm
erfaßt werden soll, müßten Strahlenquelle und Detektor einerseits und Warenbahn andererseits eine zweidimensionale Relativbewegung
zueinander ausführen. Die dafür erforderliche Steuerung würde das Verfahren sehr komplizieren und verteuern. Deshalb
hat sich kein derartiges Verfahren bisher in der Praxis durchgesetzt.
Die Beurteilung von Oberflächen-Unebenheiten im genannten Sinn, also geknitterte oder gekreppte Stoffe bzw. Papiere bzw. die
Rauhigkeit eines Garnes usw., erfolgt ebenso wie die Beurteilung
einer Schipprigkeit, Streifigkeit usw. bis heute rein visuell und damit subjektiv. Der Nachteil der subjektiven Beurteilung
ist hier besonders gravierend, weil es sich speziell
im Textilsektor bei den genannten Merkmalen um wichtige Qualität
smerkmale handelt.
Die Erfindung, mit der die obengenannten Nachteile vermieden
werden sollen, besteht aus einem Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, daß durch die von einer ungleichmäßigen
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Fläche ausgehenden Strahlen/in Form einer Strahlungsdichteverteilung/'diese
Fläche/als Ganzes gleichzeitig auf einer opto-elektronischen Wandlerschicht abgebildet wird, dieses
Abbild zeilenweise elektronisch erfaßt und in ein der Strahlungsdichteverteilung
proportionales elektrisches Signal umgewandelt wird, und die leistung des um den jeweiligen Mittelwert
schwankenden Signals mittels eines breitbandigen Leistungsmessers gemessen wird, wobei der gefundene elektrische Meßwert
ρ
proportional der Streuung s ist-, und damit ein statistisch definiertes Maß für die Flächenungleichmäßigkeit darstellt. Diese leistung P (nachstehend Wechselleistung genannt) einer an einem Widerstand R abfallenden zeitabhängigen elektrischen Spannung u (t) ist
proportional der Streuung s ist-, und damit ein statistisch definiertes Maß für die Flächenungleichmäßigkeit darstellt. Diese leistung P (nachstehend Wechselleistung genannt) einer an einem Widerstand R abfallenden zeitabhängigen elektrischen Spannung u (t) ist
Cu (t) - Uj^ dt
Dabei sind Ü der Signalmittelwert und T die Zeit, innerhalb welcher die leistung ermittelt wird.
ρ
Andererseits ist die Streuung s eines zeitabhängigen Signals u(t) durch die Gleichung
Andererseits ist die Streuung s eines zeitabhängigen Signals u(t) durch die Gleichung
tJt / Lu Ct) - ü}2 dt
gekennzeichnet, wobei wiederum Ü den Signalmittelwert bedeutet
und T die Zeit ist, innerhalb welcher die Streuung ermittelt wird.
Die beiden G-leichungen unterscheiden sich demnach nur durch
den Faktor R, der sich durch eine entsprechende Eifaung eliminieren
läßt. Der Zusammenhang zwischen der Flächenungleichmäßigkeit der beschriebenen Arten und dem zeitabhängigen Signal
wird durch die beschriebene zeilenweise Abtastung erreicht.
Der Variationskoeffizient der Ungleichmäßigkeit ist beispielsweise
zu erhalten, indem die Wechselleistung durch die Leistung des Signalmittelwertes dividiert und der gefundene Wert radiziert
wird.
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— 5 —
Die Erfindung ist ferner auf die Entwicklung eines Verfahrens
gerichtet, "bei dem die Ungleichmäßigkeit der geschilderten
Art, bezogen auf einen bestimmten Flächenbereich, zeilenweise vorzugsweise mit Hilfe eines opto-elektronischen
Wandlers in ein elektrisches Signal umgewandelt wird. Der
Flächenbereich kann im makroskopischen oder, unter Verwendung z.B. eines Mikroskops, im mikroskopischen Bereich liegen.
Beim Einsatz von Elektronenstrahl-Abtaströhren ist beispielsweise an Röhren, wie sie üblicherweise als Orthikon-,
Plumbikon- und Vidikon-Fernsehröhren verwendet werden, oder an Fotodiodenmatrizen gedacht.
Bei der Erfindung wird die Wechselleistung beispielsweise mit handelsüblichen Meßgeräten, wie zum Beispiel Rauschleistungsmessern,
Frequenzanalysatoren, Autokorrelatoren ausgewertet. So kann aus der Wechselleistung, wie schon erwähnt, die Streuung
ermittelt werden, wohingegen durch eine Frequenzanalyse oder durch eine Autokorrelation des Frequenzspektrums eventuelle
Periodizitäten der Flächenumgleichmäßigkeit erkannt werden.
Mit der Erfindung kann die Flächenungleichmäßigkeit
entweder als Verteilung der Strahlungsdichte im Durchstrahlverfahren
oder als Verteilung einer Strahlungsdichte, die die betrachtete Fläche als Rückstrahlung oder als Eigenstrahlung
im Infrarot-, im sichtbaren oder im Ultraviolettbereich aussendet,
erfaßt werden. Die zeilenweise Abtastung kann sich dabei z.B. auf nur eine Zeile beschränken, vorzugsweise bei bewegtem Objekt,
oder auf mehrere Zeilen erstrecken, wobei das Objekt vorzugsweise
stillsteht.
Die Proportionalität des elektrischen Signals mit der zu erfassenden
Flächenungleichmäßigkeit wird dadurch erreicht, daß
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1. dem elektrischen Signal aufgeprägte Impulse, hervorgerufen
z.B. durch den Zeilensprung oder den Bildsprung, durch eine geeignete elektronische Schaltung elfiminiert
werden,
2. die Zeilenlänge und die Zeilenzahl bei der zeilenweisen Erfassung der Ungleichmäßigkeit durch eine weitere geeignete
elektronische Schaltung soweit begrenzt werden kann, daß durch die Geometrie der Abtaströhre und des Objektivs
bedingte Randfehler eliminiert werden können.
Im folgenden wird die Erfindung anhand einer bevorzugten Ausfuhr
ungsform beschrieben:
Mr das Verfahren nach der Erfindung kann man eine Fernseh-Kamera
verwenden, deren Bildsignal neben dem Nutzsignal einen Gleichspannungsanteil sowie die Zeilen- und Bildimpulse enthält,
Nur das Uutzsignal, das heißt das jeweils um den Mittelwert
schwankende Signal, ist der Flächenungleichmäßigkeit proportional, zweckmäßigerweise werden deshalb die anderen drei
Anteile eliminiert, was beispielsweise duroh die in Bild 1 wiedergegebene Schaltung geschieht.
Das von der Fernsehkamera abgegebene Bildsignal wird über einen Impedanzwandler gegeben, der u.a. den Gleichanteil
eliminiert, und erreicht die abgebildete Schaltung in Punkt a. Die im Impulsdiagramm (Bild 2) des Punktes a angegebenen kurzzeitigen
Spannungseinbrüche stellen die Zeilenimpulse dar, die langzeitigen Spannungseinbrüche geben die Bildimpulse
wieder. Daneben werden die Zeilenimpulse und die Bildimpulse auf getrennten Leitungen aus der Kamera heraus den Punkten b
bzw. e zugeführt. Die negative Planke eines Zeilenimpulses
kippt den mono stabilen Multivibrator MF 1, der nach einer
Zeit, die einstellbar ist und im allgemeinen etwas größer als die Zeilenimpulsdauer gewählt wird, wieder zurückkippt. Hierdurch
wird der monostabile Multivibrator MF 2 gekippt, der nach einer Zeit, die ebenfalls einstellbar ist und im allgemeinen
etwas kurzer als die Zeilendauer gewählt wird, wieder zurückgekippt.
Durch Einstellen von MF 1 und MF 2 läßt sich somit erreichen, daß der monostabile Multivibrator MF 2 während
eines 509820/1091
wählbaren Zeitabschnittes innerhalb der Zeilendauer ein "High"-Signal abgibt. Dies läßt sich dazu verwenden, aus
einer Zeile einen beliebigen Ausschnitt auszublenden.
Mit den beiden monostabilen Multivibratoren MF 3 und MF 4
wird der Bildimpuls durch Einstellungen, die denen der MuI-tivibratoren
MF 1 und MF 2 völlig analog sind, so aufbereitet, daß die Zeitdauer des High-Signals eine beliebige Zeilenzahl
aus dem gesamten Bildsignal auszublenden gestattet.
Es sei zunächst das Ausblenden eines Zeilenausschnitts erläutert. Dazu werde für die Erklärung angenommen, die Bildabtastung befände sich gerade etwa in Bildmitte, so daß der
Multivibrator MF 4- ein High-Signal abgibt. Innerhalb einer Zeile wird auch, der Multivibrator MF 2 ein High-Signal abgeben,
so daß über die beiden Und-G-atter G- 1 und G-2 ·»& High- Signale
an den elektronischen Schaltern ES 1 und ES 2 anliegen. Das heißt, der elektronische Schalter ES 1 ist geschlossen. Der
Widerstand R und der' Speicherkondensator G sind so bemessen,
daß sich auf dem Kondensator 0 der Mittelwert des im Punkt a
anliegenden Signals bildet. G-leichzeitig ist am Schalter ES
der Arbeitskontakt geschlossen, so daß das Signal vom Punkt a zum Punkt i durchgeschaltet wird. Der Ruhekontakt der Schal-"tung
ES 2 ist geöffnet.
Gegen Ende der laufenden Zeile wird der Multivibrator MF 2 zum
"Low"-Signal zurückkippen und dadurch den Schalter ES 1 sowie
den Arbeitskontakt des Schalters ES 2 öffnen und den Ruhekontakt des Schalters ES 2 schließen« Hierdurch wird der Bildsignal-Fluß
von Punkt a nach Punkt i sowie zum Kondensator Ce
unterbrochen. Stattdessen gelangt der auf dem Kondensator gespeicherte
Signalmittelwert über den als Impedanzwandler gesohalteten Verstärker V zum Punkt i.
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Etwas völlig Analoges geschieht am Ende eines Bildes. Dadurch
liegt am Punkt i stetsi wie dem Impulsdiagramm i entnommen
werden kann, entweder das Bildsignal oder der zeitliche Mittelwert des Bildsignals, wodurch die Zeilen- und Bildimpulse
eliminiert sind.
Über einen Koppelkondensator C, wird das aufbereitete Signal dem Leistungsmesser zugeführt.
Die Eichung der gesamten Meßschaltung kann "beispielsweise
folgendermaßen durchgeführt werden: Vor der Fernsehkamera wird eine !lache bekannter Ungleichmäßigkeit (z.B. ein Graukeil
oder ein. Schachbrettmuster) ausgebreitet. Mit Hilfe der
Kamerablende und der Beleuchtung wird ein bestimmter mittlerer Signalpegel, der in Punkt a gemessen werden kann, eingestellt.
Die hierbei gemessene Wechselleistung ist wie oben gezeigt proportional der bekannten Ungleichmäßigkeit. Dadurch,
daß die beschriebene Einstellung mit Flächen weiterer bekannter Ungleiclunäßigkeiten wiederholt wird, läßt sich eine Eichkurve
aufbauen. Um bei der eigentlichen Messung die absolute Helligkeit des Meßobjektes zu eliminieren, wird der Signalmittelwert
mittels Kamerablende und Beleuchtung auf denselben Wert wie bei der Eichung eingestellt.
Zwei Versuchsbeispiele werden im folgenden näher beschrieben, wobei die Beispiele lediglich zur Erläuterung der Erfindung
dienen.
Es wurde eine Milchglasscheibe rückseitig mit Hilfe eines Dia-Projektors gleichmäßig beleuchtet. Auf die Vorderseite
der Scheibe wurde eine Fernsehkamera gerichtet, an welche die bereits beschriebene Schaltung angeschlossen wurde.
Hieran wurde ein Leistungsmesser in der bereits beschriebenen Art angekoppelt. Anschließend wurden auf die Milchglasscheibe
nacheinander Vliesstüoke mit unterschiedlichen
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Ungleichmäßigkeiten aufgelegt. Die Rangfolge der abgelesenen
Leistungswerte entsprach der Rangfolge der subjektiv von mehreren Personen bewerteten Ungleichmäßigkeit der Vliesstücke.
Einige Vliesmuster stimmten in ihrer Wolkigkeit annähernd
überein, so daß diese Muster von Person zu Person unterschiedlich
eingestuft wurden.Dagegen konnte anhand der gemessenen Leistungswerte eine exakt reproduzierbare Rangfolge ermittelt
werden.
Auf eine weiße Fläche wurde eine Fernsehkamera gerichtet,
an welche die bereits beschriebene Schaltung angeschlossen
war. Hieran war ein Leistungsmesser in der bereits beschriebenen Art angekoppelt. Die Fläche wurde einseitig schräg beleuchtet
und nacheinander mit unterschiedlich geknitterten Vliesstücken belegt. Die Rangfolge der abgelesenen Rauschleistungswerte entsprach der Rangfolge der subjektiv bewerteten
Knitter stärke der Vliesstücke«,
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Claims (6)
1. Verfahren zur Bestimmung einer Flächenungleichmäßigkeit,
insbesondere bei Textilien und Papieren,
dadurch geken nze i c h η e t , daß durch die von einer ungleichmäßigen Fläche ausgehenden
Strahlen JtLn !Form einer Strahl ungsdichteverteilung j
diese FlächeCals Ganzes gleichzeitig auf einer optoelektronischen Wandlerschicht abgebildet wird, dieses
Abbild zeilenweise elektronisch erfaßt und in ein der Strahlungsdichteverteilung proportionales elektrisches
Signal umgewandelt wird und die Leistung des um den jeweiligen Mittelwert schwankenden Signals mittels eines
breitbandigen Leistungsmessers gemessen wird, wobei der gefundene elektreische Meßwert proportional der Streu-
p
ung s ist.
ung s ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das Frequenzsp/Oktrum durch eine Frequenz- oder Autokorellationsanalyse
erfaßt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsdichteverteilung im Durchstrahlungsbzw.
Aufstrahlungsverfahren oder als Verteilung der von einer Fläche oder einem Körper unmittelbar ausgehenden
Rück- oder Eigenstrahlung gewonnen wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3»
dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei der Strahlung um eine solche Im infraroten,
im sichtbaren bzw. im ultravioletten Wellenli»genbereich
handelt. 509820/1091
5. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß sich das der Flächenungleichmäßigkeit proportionale
elektrische Signal im Frequenzbereich bis 10 MHz erstreckt,
6. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß nach der Abbildung der Flächenungleichmäßigkeit auf
einer elektronischen Wandlerschicht eine Speicherung dieser Abbildung vorgesehen ist.
5 0 9 8 2 0/1091
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732356535 DE2356535C3 (de) | 1973-11-13 | Verfahren zur Bestimmung einer Flächenungleichmäßigkeit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732356535 DE2356535C3 (de) | 1973-11-13 | Verfahren zur Bestimmung einer Flächenungleichmäßigkeit |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2356535A1 true DE2356535A1 (de) | 1975-05-15 |
DE2356535B2 DE2356535B2 (de) | 1977-03-10 |
DE2356535C3 DE2356535C3 (de) | 1977-10-20 |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3037622A1 (de) * | 1980-10-04 | 1982-04-22 | Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast | Optoelektronisches messverfahren und einrichtungen zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oberflaechen |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3037622A1 (de) * | 1980-10-04 | 1982-04-22 | Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast | Optoelektronisches messverfahren und einrichtungen zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oberflaechen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2356535B2 (de) | 1977-03-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |