DE2312247A1 - Einrichtung zur auswertung holographisch rekonstruierter wellenfelder mit zwei frequenzen - Google Patents
Einrichtung zur auswertung holographisch rekonstruierter wellenfelder mit zwei frequenzenInfo
- Publication number
- DE2312247A1 DE2312247A1 DE2312247A DE2312247A DE2312247A1 DE 2312247 A1 DE2312247 A1 DE 2312247A1 DE 2312247 A DE2312247 A DE 2312247A DE 2312247 A DE2312247 A DE 2312247A DE 2312247 A1 DE2312247 A1 DE 2312247A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- frequency
- frequencies
- wave
- storage medium
- oscillates
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/021—Interferometers using holographic techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
Description
21/73 Lü/er
Aktiengesellschaft Brown, Boveri & Cie., Baden (Schweiz)
Einrichtung zur Auswertung holographisch rekonstruierter Wellenfelder mit zwei Frequenzen
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Auswertung der Rekonstruktion holographisch gespeicherter Wellenfelder,
die durch Streuung eines kollinearen Beleuchtungsbündels mit zwei optischen Frequenzen Uj-. und tu 2 an einem zu untersuchenden Objekt entstanden und mit ReferenzwelJ.en der gleichen
Frequenzen U) und U) holographisch gespeichert
sind, wobei JLU1 - ω 2!"7* 1 SHz.
Es ist bekannt CAppl. Phys. Lett.' 15_ Cl July 1959) No. 1,
409834/0666
S« 28 - 30), dass sich, bei der Hologrammrekonstruktion eines
Objektes, das mittels eines Lasers aufgenommen wurde, der auf zwei -Frequenzen UJ. und Lo schwingt, deren DifferenzfrequenzjVx)
- "UJ I grosser ist als 1 GHz, im Bild des Objektes
Streifen verminderter Lichtintensität ergeben, deren Abstand proportional ist zur Tiefe des Objektes in einer
Richtung ζ der Winkelhalbierenden zwischen der Richtung der Beleuchtungswelle und der Beobachtung. Das Bild des
Objektes ist also mit "Tiefenkonturen" durchzogen.
Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Einrichtung zu schaffen"',
mittels welcher die Tiefe des "Objektes über die erwähnten Tiefenkonturen einfach und genau ermittelt werden kann.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass erfindungsgemäss
die Einrichtung bei der Rekonstruktion bzgl. des holographischen Speichermediums und der Referenzwellen räumlich identisch
aufgebaut ist wie bei der Aufnahme, nämlich derart, dass zwei räumlich getrennte und zu dem an dem Objekt gestreuten
Wellenfeld geneigte, und das holographische Speiohermedium
beaufschlagende Referenzwellen vorgesehen sind, diese Referenzwellen jedoch nicht wie bei der Aufnahme jeweils mit
einer Frequenz ^-> oder Uj „ schwingen, sondern jeweils mit
einer optischen Frequenz LU ' oder LJ^* wotiei die Differenz-
409834/06 6 6
frequenz dieser beiden Frequenzen grosser Null und kleiner
als 1 GHz, ist, und dass eine geometrisch-optisqhe Vorrichtung
.zur Abbildung der derart rekonstruierten Wellenfelder
in eine'Bildebene vorgesehen ist, welche mittels eines optoelektronischen Detektors abtastbar ist, welcher
das in der Bildebene auftretende Licht-Wechselsignal auch bzgl. seiner Phase auszuwerten vermag.
Bei der Erfindung wird von der Erkenntnis Gebrauch gemacht,
dass durch die Einführung der beiden Frequenzen vüj und LOI
im Punkt P der Bildebene E -ein Lichtwechselsignal I CP, t) entsteht, das eine Trägerfrequenz Si. = Uj ' - UO' aufweist,
und dessen Phase ^ CP) direkt porportional ist zur Tiefe ζ des in dem Bildpunkt P abgebildeten ObjektPunktes. Da-Q.
erfindungsgemäss ^. 1 GHz, z.B. 10 kHz, sein soll, kann das
Signal I CP, t)- leicht in konventionellen Phasendetektoren verarbeitet und die Phase r\y CP) in Abhängigkeit vom Ort P
in der Bildebene E ermittelt werden.
Nähere Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus den nachstehend
anhand von Figuren erläuterten Ausführungsbeispielen. Dabei zeigt:
Fig. 1 eine Einrichtung mit einem einteiligen holographischen Speichermedium und zwei zueinander geneigten Referenzwellen
, und
409834/0 666
21/73
Fig. 2 eine Einrichtung mit einem zweiteiligen holographischen Speichermedium und zwei parallelen Referenzwel'len.
In Fig. la) ist ein Objekt 0 dargestellt, welches mit einem Beleuchtungsbündel B beleuchtet wird, welches mit zwei diskreten,
verschiedenen Frequenzen Uj und Uj _ schwingt. Das
Beleuchtungsbündel B kann als aus zwei kollinearen, derselben Laser-QuaLle entstammenden, kollimierten oder divergenten
Lichtwellen der Frequenzen Uj und UJ bestehend aufgefasst
werden, es kann aber auch als Wellenfeld mit der Kohärenzlänge 1,,Qj1 = C^C ÜJ -Ou-) interpretiert werden, wobei dann
die Kohärenzlänge relativ klein ist, da JUJ - UJ-I erfindungsgemäss
ja > 1 GHz sein soll.
Von dem Objekt 0 läuft dann das Wellenfeld B1 CUJ.., UJ ) zu
dem holographischen Speichermedium H, d.h. einer Photoplatte,
einem Film, einem thermoplastischen Substrat od. dgl, B1 umfasst
wieder die Frequenzen Co und UJ und kann wie vorstehend
•beschrieben interpretiert werden.^
B' wird auf H mittels der zueinander und zu B1 geneigten
•Referenzwellen R1 C UJ1) und R„ CUJ ) holographisch gespeichert.
R, schwingt mit der einen in B enthaltenen Frequenz UX , R„
409834/0668
21/73
mit der anderen Frequenz Lu9. Auf diese Weise wird das gestreute
Wellenfeld B1 C U) ) für die Frequenz UjL unabhängig j
von dem anderen Teil B1 C U)0) für die Frequenz U)0 ge- I
speichert. Der-für UK gespeicherte Teil ist mit O C tu, )
= O bezeichnet, der für UJ 9 gespeicherte Teil mit O
Cw2) = oC2).
Ferner sind noch Koordinatenachsen χ, ζ angegeben, von denen
ζ in Richtung der Winkelhalbierenden zwischen B und B1 weist.
Gemäss Fig. Ib) wird, in räumlich identischer Anordnung wie
bei der Aufnahme, das Speichermedium H mit den Referenzwellen R, CU)-J) und R9 CU)') beaufschlagt. Dabei sind Co-!
und LO ' optische Frequenzen, d.h. jedenfalls grosser als
6 . 10 Hz C Λ f& 50 ^u), z.B. 6,5 . 10 Hz CAr-Laser),
und ihre Differenz \tu' ~ ^?! ist konstant ^11^ kleiner als
1 GHz, z.B. 10 kHz.
Die Frequenzen ^-!s UJ9 können z.B. in bekannter Weise mittels
mechano-optischer Modulation CBeleuchten eines rotierenden
Gitters) eines Laserstrahles erzeugt werden. Es kann aber z.B'. auch ein Zeemann-Laser C"Laser", Kleen'u. Muller,
Springer 19 69, S. 274 ff.) verwendet werden, der gleichzeitig zwei verschiedene Frequenzen mit entgegengesetzt zirkularer
.409834/0666
Polarisation liefert, so dass sie beispielsweise durch Λ/^-Plättchen und Polarisatoren trennbar sind. Die
Differenzier beiden Frequenzen kann etwa zwischen 10 und 100 MHz variiert werden.
Mit den Referenzwellen R, CmJ') und R. (UJ') werden die gespeicherten
Wellenfelder 0 und 0 rekonstruiert und mittels des Linsensystems L geometrisch-optisch in die
Bildebene E abgebildet. Sie weisen jedoch jetzt die Frequenzen U) -I und Uj' auf.
Dadurch sind die Tiefenkonturenlinien nicht mehr stationär, sondern wandern über die Bildebene E dahin. Γη der Bildebene
E ist ein optoelektronischer Detektor D mit zwei Messfühlern F, und F2, z.B. Photodioden, vorgesehen. Dieser Detektor D
misst dann ein Wechselsignal I CP, t).
Im Punkt P der Bildebene kann dieses Signal wie folgt be schrieben werden:
I CP, t) A^a + b cos [CMJ^ -ω^) t + Λα/]
-ω
=- ζ CP).
.4 09834/0666
21/73
a und b sind Konstante, ζ CP) ist die Tiefe ζ des dem Bildpunkt
P, an dem das Wechselsignal aufgenommen wird, ent— '
sprechenden Objektpunktes. ·
Wie ersichtlich, ist also I CP, t) ein in bekannter Weise hochfrequenztechnisch verarbeitbares Signal, dessen Phase ^
unmittelbar ein Mass für die Tiefe des beobachteten Objektpunktes ist.
Im Ausführungsbeispi,el sind nun zwei Messfühler F und F_
vorgesehen. Von diesen ist F1 ortsfest, während mit F_ die
Bildebene E abgefahren wird. Γη F1 wird dann eine Referenz-
phase /\γ CP, ) *j
ζ CP..) gemessen, und in F„ eine Phase
tu-, - uL
ru; CP2) tyj — ζ CP2). Durch Differenzbildung au CP,) -
ru; CP2) tyj — ζ CP2). Durch Differenzbildung au CP,) -
ol> CP2) ergibt sich dann unmittelbar die Abweichung der
Tiefe des Punktes P2 von der des Punktes P,. Es wird also
ein Höhenlinienbild des betrachteten Objektes mit höchster Auflösung ClO u) erhalten. Wie ersichtlich, ändert sich λλ/
mit ζ umso stärker, d.h. wird die Auflösung umso besser, je grosser 1^, - UJ ist. Es hat jedoch keinen Sinn, zu allzu
grossen Werten!UJ "^o I zu &e^ieni ^a dann die Konturenlinien
C rvy ändert um 2 U ) so eng zusammenrücken, dass die Messfühler
F1, F2 sie I nicht mehr aufzulösen
vermögen. Bei tu - U; R5* 1 GHz haben die Konturenlinien
beispielsweise einen Abstand von etwa 15 cm, bei 10 GHz jedoch nur noch 15 mm.
L Π q 8 2 L I 0 6 R G
21/73
Die In Fig. Ib) noch, angedeuteten Wellenfelder 0 C Lül)
C2)
und 0 (UU-! ) sind Kreuzmodulationsterme, d.h., Wellenfelder,
di'e durch Rekonstruktion der gespeicherten Wellenfelder 0 und 0 mit den "falschen" Referenzwellen R
(LUi) und R1 Clü-J) entstehen. Es ist klar, dass die Neigung
der Richtungen B1, R-. und R„ so gewählt sein muss, dass die
sich überlagernden Wellenfelder 0 CW ·) und 0 (ω^)
nicht von den Kreuzmodulationstermen, den Referenzwellen und den konjugierten .Objektwellen gestört werden.
Das Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 unterscheidet sich von
dem nach Fig. 1 dadurch, dass das Wellenfeld BT C<O ) mittels
der Referenzwelle R1 (UJ1) auf dem ersten Speicherteil H ,
z.B. einer Photoplatte, gespeichert wird, und das Wellenfeld B1 (U) ) mittels der Referenzwelle R CUJ ) auf dem
Speicherteil H-. Die durch H durchtretende Welle B1 (üü..), bzw.
die auf H1 auf treffen de Welle B' CuJ9), stören nich't wesentlich,
da sie mit den speichernden Referenzwellen R9 C-U9)
bzw. R CuJ1 ) inkohärent sind. Es kann jedoch auch so vorgegangen
werden, dass zuerst nur das Objekt und H1 mit B (W )
und R CuJ ) beaufschlagt werden, und dann nur das Objekt und mit B CuJ2) und R CUj9).
Bei der Rekonstruktion werden mit den bei der Speicherung
409834/0666
_ 9 _ 21/73
verwendeten räumlich identische Referenzwellen R (lü ')
und R- Cu;') verwendet. Dadurch ergeben sich hinter H die
gleichen .Wellenfelder 0Cl) Cu;') und 0C2) CoU') wie
in Fig. 1, so dass die Auswertung in der gleichen Weise erfolgen kann.
Ein besonderer Vorteil der Ausführungsart nach Fig. 2 liegt
darin, dass hier Referenzwellen aus demselben kolliriierten
Strahlenbündel, beispielsweise durch mechanische Blenden, verwendet werden können. Dadurch ist die Anordnung bei
weitem unkritischer als die in Fig. 1, was die Störung des rekonstruierten Objektes durch konjugierte Wellen,
Referenzwellen und Kreuzmodulationsterme betrifft.
In die Erfindung vorteilhaft ergänzender Weise können auch mehrere Messfühler in vielfältigen Konfigurationen und mit
mehreren Phasenmetern vorgesehen sein. Dadurch können bei Bedarf die Differentialquotienten der ermittelten Höhenlinien,
d.h. der Phasen Λγ nach den Ortskoordinaten, in einfacher
Weise ermittelt werden. Dies ist Im einzelnen In den
• en
beiden Patentanmeldung*' der gleichen Erfinder desselben Anmeldedatums
mit den Titeln "Einrichtung zur Auswertung holographischer Interferogramme" und "Einrichtung zur Auswertung
von Interferogrammen für Oberflächendeformationen" beschrieben, auf welche insoweit Bezug genommen wird.
409834/0666
21/73
An dem optoelektronischen Detektor D kann ein konventioneller x-y-Schreiber angeschlossen sein. Auf diesem kann für
einen beliebigen Schnitt des Objektes das Profil der sichtbaren Oberfläche, also ζ als Funktion von χ in der Bildebene
E, direkt mit hoher Genauigkeit C Δ ζ A^O9I mm) dargestellt
werden.
409 8 34/066 6
Claims (3)
1./Einrichtung zur Auswertung der Rekonstruktion holograpiiisch
gespeicherter Wellenfelder, die durch Streuung eines kollinearen Beleuchtungsbündels mit zwei optischen
Frequenzen CJ-. und OJ ^ an einem zu untersuchenden
Objekt entstanden und mit Referenzwellen der gleichen Frequenzen OJ-. und OJy holographisch gespeichert sind,
wobei CO, - OJ9 >" 1 GHz, dadurch gekennzeichnet, dass
die Einrichtung bei der Rekonstruktion bzgl. des holographischen
Speichermediums (H; H-, H„) und der Referenzwellen
(R-. , R„) räumlich identisch aufgebaut ist
wie bei der Aufnahme.nämlich derart, dass zwei räumlich getrennte und zu dem an dem Objekt (0) gestreuten Wellen
feld (B1) geneigte und das holographische Speichermedium
(H; H , H) beaufschlagende Referenzwellen (R, , R„) vorgesehen
sind, diese Referenzwellen (R-, , R„) jedoch nicht
wie bei der Aufnahme jeweils mit einer Frequenz C^-, oder
Gu 2 schwingen, sondern jeweils mit einer optischen Frequenz
CJ \ oder <^ό» w°bei die Dxfferenzfrequenz dieser
beiden Frequenzen grosser Null und kleiner als GHz, ist, und dass eine geometrisch-optische Vorrichtung (L) zur
Abbildung der derart rekonstruierten Wellenfelder (0
(2)
p, 0 y (6Jp) in eine Bildebene (E) vorgesehen ist,
p, 0 y (6Jp) in eine Bildebene (E) vorgesehen ist,
40 9 8 34/0666
- 21/73
welche mittels eines optoelektronischen Detektors (D) abtastbar ist, welcher das in der Bildebene (E) auftretende
Licht-Wechselsignal (I (P, t)) auch bzgl. seiner Phase C^(P)) auszuwerten vermag.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Aufnahme ein das Objekt (0) beaufschlagendes,
die Frequenzen co -, und CO^ enthaltendes Beleuchtungsbündel (B (Cu-., co»)), ein einteiliges holographisches
Speichermedium (H), und zwei zu dem an dem Objekt (0) gestreuten Wellenfeld (B') und zueinander geneigte Referenzwellen (R (oi-.), R„ (COo)) vorgesehen sind, wobei
die eine Referenzwelle (R,) mit 0O1 und die andere (R-)
mit OO schwingt, und bei der Rekonstruktion, bei räumlich identischer Anordnung, die eine Referenzwelle (R
(öü -! )) mit der Frequenz Od ' , und die andere (R„ (.Go ^))
mit der Frequenz gü ' schwingt.
3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Aufnahme ein das Objekt (0) beaufschlagendes,
die Frequenzen co , und OJ~ enthaltendes kollineares
Beleuchtungsbündel (B (CJ ), B (6O?)), ein holographisches
Speichermedium mit zwei in Beobachtungsrichtung hintereinander angeordneten Speicherteilen (H , H), und zwei
409834/0666
21/73
jeweils einen der Speicherteile beaufschlagende, zu dem an dem Objekt (0) gestreuten Wellenfeld (B1) geneigte und
zueinander vorzugsweise parallele Referenzwellen (R, (CO1 ) ,
R^ (.0Jn))- vorgesehen sind, wobei die eine Referenzwelle
(R-.) mit Cö Ί und die andere (R„) mit co,, schwingt, und bei
J- J- * L-C.
der Rekonstruktion, bei räumlich identischer Anordnung, die eine Referenzwelle (R (.0Jl)) mit der Frequenz CC ' ,
und die andere (R„ (OJl)) mit der Frequenz CO A schwingt.
Aktiengesellschaft BROWN, BOVERI & CIE.
409834/0666
Leersei te
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH201073A CH560922A5 (de) | 1973-02-14 | 1973-02-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2312247A1 true DE2312247A1 (de) | 1974-08-22 |
Family
ID=4223792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2312247A Ceased DE2312247A1 (de) | 1973-02-14 | 1973-03-12 | Einrichtung zur auswertung holographisch rekonstruierter wellenfelder mit zwei frequenzen |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3914056A (de) |
JP (1) | JPS49114945A (de) |
AT (1) | AT336922B (de) |
CH (1) | CH560922A5 (de) |
DE (1) | DE2312247A1 (de) |
FR (1) | FR2217709B3 (de) |
GB (1) | GB1433067A (de) |
NL (1) | NL7401912A (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4289372A (en) * | 1979-05-29 | 1981-09-15 | Rca Corporation | Technique for recording a hologram suitable for use in optical retrieval system |
US5305123A (en) * | 1992-01-09 | 1994-04-19 | Physical Optics Corporation | Light controlled spatial and angular electromagnetic wave modulator |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1266785A (de) * | 1968-03-14 | 1972-03-15 | ||
US3767307A (en) * | 1971-08-30 | 1973-10-23 | Itek Corp | Real time interferometer |
-
1973
- 1973-02-14 CH CH201073A patent/CH560922A5/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-03-12 DE DE2312247A patent/DE2312247A1/de not_active Ceased
- 1973-11-20 AT AT973973A patent/AT336922B/de not_active IP Right Cessation
- 1973-12-14 JP JP48140206A patent/JPS49114945A/ja active Pending
-
1974
- 1974-01-21 US US435215A patent/US3914056A/en not_active Expired - Lifetime
- 1974-02-11 FR FR7404446A patent/FR2217709B3/fr not_active Expired
- 1974-02-12 GB GB629174A patent/GB1433067A/en not_active Expired
- 1974-02-12 NL NL7401912A patent/NL7401912A/xx not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH560922A5 (de) | 1975-04-15 |
FR2217709B3 (de) | 1976-11-26 |
AT336922B (de) | 1977-06-10 |
FR2217709A1 (de) | 1974-09-06 |
JPS49114945A (de) | 1974-11-01 |
GB1433067A (en) | 1976-04-22 |
ATA973973A (de) | 1976-09-15 |
US3914056A (en) | 1975-10-21 |
NL7401912A (de) | 1974-08-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1606577A1 (de) | Verfahren zur berührungslosen dynamischen erfassung des profils eines festkörpers | |
DE2636211C2 (de) | Interferometrisches Verfahren zur Abstands- oder Ebenheitsmessung | |
DE102004037137A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Entfernungsmessung | |
DE2209667A1 (de) | Einrichtung zur beruehrungslosen messung | |
DE69526321T2 (de) | Verfahren zum Bestimmen der Position einer optischen Faser | |
WO1991004460A1 (de) | Vorrichtung zur absoluten zweidimensionalen positionsmessung | |
DE3730091C2 (de) | ||
DE4412137A1 (de) | Mikroskop, welches mit geladenen Teilchen arbeitet | |
DE2312247A1 (de) | Einrichtung zur auswertung holographisch rekonstruierter wellenfelder mit zwei frequenzen | |
DE69514379T2 (de) | Verfahren zum bewerten von nichteuclidischen effekten in einem mit einem luft-radar erzeugtem bild, und sattelit zu dessen durchführung | |
EP0485728A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Wegänderung von Strahlen, vorzugsweise Lichtstrahlen | |
DE102010062842B9 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der absoluten Position eines Objekts | |
DE69000564T2 (de) | Optisches system zum messen von linear- oder winkelaenderungen. | |
DE2701858A1 (de) | Messverfahren und -vorrichtung fuer abstandsaenderungen | |
DE69126918T2 (de) | Messverfahren des Einfallwinkels eines Lichtstrahls, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sowie deren Verwendung zur Entfernungsmessung | |
DE102019122083A1 (de) | Optische ausrichtung basierend auf spektral-gesteuerter interferometrie | |
DE2163200A1 (de) | Einrichtung zur beruehrungslosen messung | |
DD241643A1 (de) | Messverfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen durchmesserbestimmung duenner draehte | |
DE2144487A1 (de) | Einrichtung zur beruehrungslosen messung | |
DE19716785A1 (de) | Shearing-Speckle-Interferometrie III: Shearing-Speckle-Interferometrie zur Messung der Verformungsgradienten an Freiformflächen | |
DE2636498B1 (de) | Verfahren zur interferometrischen oberflaechenmessung | |
DE4446887A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung für die Shearing-Speckle-Interferometrie | |
DE19521551C2 (de) | Speckle-Interferometrie-Verfahren zur Gewinnung topographischer Informationen von einer konstanten Objektoberfläche | |
DE102015215559B4 (de) | Verfahren zur hochauflösenden Abbildung eines Oberflächenbereiches bei streifendem Einfall der Messstrahlung | |
DE102018113979B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur interferometrischen Vermessung einer Oberfläche eines bewegten Prüflings |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
8131 | Rejection |