DE2262628C3

DE2262628C3 - Mobile test device for checking the central control of large telephone switching systems

Info

Publication number: DE2262628C3
Application number: DE19722262628
Authority: DE
Inventors: Helmut Dipl.-Ing. 8011 Kirchheim Kropp
Original assignee: Telefonbau und Normalzeit GmbH
Current assignee: Tenovis GmbH and Co KG
Filing date: 1972-12-21
Publication date: 1977-01-13

Description

hen. Dies hätte jedoch den Nachteil, daß der Revisor die zu überprüfenden Bauteile in den betreffenden Schränken von der zentralen Prüfstelle aus nicht beobachten könnte. Er mußte also ständig zwischen der zentralen Prüfstelle und dem gerade zu untersuchenden Schrank hin und her pendeln oder eine Hilfsperson hinzuziehen.hen. However, this would have the disadvantage that the auditor Do not observe the components to be checked in the relevant cabinets from the central test center could. So he had to keep going between the central testing station and the one to be examined Swing the cabinet back and forth or call in an assistant.

Aus den genannten Gründen werden Zum Überprüfen von Vermittlungsanlagen yorwiegend mobile Geräte eingesetzt, die am jeweiligen Arbeitsplatz verwendet werden köunen. Bei Prüfgeräten für zentral gesteuerte Venüitttungsanlagen sind indessen für die Überprüfung der zahlreichen Prüfpunkte einige hundert Leitungen erforderlich, über welche die Meßinformationen geführt werden. Bei einer solch großen Anzahl von Adern kann jedoch nicht mehr von einem mobilen Gerät gesprochen werden, werfSjch"das hieraus ergebende Kabel nur schwer bewegen läßt. Überdies besteht die Gefahreines Adernbruchs, die Gefahr von Fehlsteckverbindungen und die Gefahr der Störung von Prüfgerät und Anlage.For the reasons given, we are going to review Mainly mobile devices are used by switching systems, which are used at the respective workplace will be able to. In the case of test devices for centrally controlled ventilation systems, however, are for the Verification of the numerous test points required a few hundred lines over which the measurement information be guided. With such a large number of cores, however, no more of one can be used mobile device are spoken, throw that out of this resulting cable is difficult to move. In addition, there is the risk of a vein breakage, the danger incorrect connections and the risk of malfunctioning of the test device and system.

Aus der DT-AS 1 762196 ist eine Prüfeinrichtung der eingangs geschilderten Art bekannt, welche ebenfalls an die zentrale Steuerung anschaltbar ist und welche zur Überprüfung der ordnungsgemäßen Durchschaltbarkeit von Verbindungswegen dient. Dabei dient die genannte Prüfeinrichtung dazu, an einen vorgegebenen Relaissatz nacheinander alle möglichen Register anzuschließen und somit deren Anschaltfähigkeit an den Relaissatz zu überprüfen. Sowohl die zentrale Steuerung als auch die einzelnen Register sind dabei über getrennte Leitungen mit dem Prüfgerät verbunden (siehe dort Fig 1). Handelt es sich dabei um eine große Vermittlungsanlage mit sehr vielen Registern und werden sehr viele Verbindungsleitungen zwischen der zentralen Steuerung und dem Prüfgerät benötigt, so können auch bei dieser vorbekannten Prüfeinrichtung die weiter oben schon erläuterten Schwierigkeiten auftreten.From DT-AS 1 762196 is a test device of the type described above, which can also be connected to the central controller and which is used to check the proper switchability of connection paths. Included the above-mentioned test device is used to successively check all possible To connect registers and thus to check their ability to be connected to the relay set. Both the central control and the individual registers are connected to the test device via separate lines connected (see Fig 1 there). Is it a large switching system with a large number of them? Registers and there are a lot of connecting lines between the central control and the test device is required, those already explained above can also be used for this previously known test device Difficulties arise.

Aus der DT-OS 2226778 ist ein Datenübertragungssystem zum Übertragen von Daten zwischen verstreut gelegenen Stationen bekannt, bei dem über einen einzigen gewöhnlichen Übertragungskanal übertragen wtrden kann. Dabei werden von einem zentralen Adressengenerator Adressen auf eine Übertragungsleitung gegeben, durch welche die einzelnen Stationen zur Aufnahme von Daten getrennt ansteuerbar sind. Der Adressengenerator ist zur Erzeugung der Adressen mit einem Schieberegister versehen, durch welches mit Hilfe entsprechender logischer Verknüpfungen die verschiedenen Adressen gebildet werden können (siehe dort Seite 9, Absatz 2).From the DT-OS 2226778 is a data transmission system known for transmitting data between scattered stations, in which about can be transmitted on a single ordinary transmission channel. Thereby are from one central address generator given addresses on a transmission line through which the individual Stations for recording data can be controlled separately. The address generator is for Generation of the addresses provided with a shift register, through which with the help of appropriate Logical links that can be used to create different addresses (see there page 9, paragraph 2).

Weiterhin ist es vorbekannt, zwischen Sender und Empfänger Daten entweder durch eine einseitig gerichtete Verbindung, durch Halbduplexbetrieb oder durch Vollduplexbetrieb zu übertragen. (Siehe beispielsweise Taschenbuch der Nachrichtenverarbeitung, 2. Auflage, 1967 von K. Steinbuch, Seiten 815, 816).Furthermore, it is already known to transfer data between the sender and receiver either through a one-way direction Connection to be transmitted by half-duplex operation or by full-duplex operation. (See for example Taschenbuch der Nachrichtenverarbeitung, 2nd edition, 1967 by K. Steinbuch, pages 815, 816).

Auch ist es bei Datenverarbeitungsanlagen vorbekannt, Speicherregister an den Arbeitsspeicher anzuschalten, die die Funktion haben, eine seriell übertragene in eine parallel übertragene Information und umgekehrt umzusetzen. Dies ist beispielsweise notwendig, wenn durch bitserielle Übertragung eines zu schreibenden Wortes in den Serieneingang des Speirherreeisters dieses dann zur Parallelübertragung in einer Speichereinheit bereitstehen soll. Entsprechendes gilt auch für den Lesevorgang (siehe Elektronai 1968 Heft 7, Seite 206 Spalte 2 Absatz 1 Üiid 2), It is also previously known in data processing systems to connect memory registers to the main memory, which have the function of converting serially transmitted information into parallel transmitted information and vice versa. This is necessary, for example, when a word to be written is transmitted bit-serial into the serial input of the memory register and this is then to be available for parallel transmission in a memory unit. The same applies to the reading process (see Elektronai 1968 issue 7, page 206, column 2, paragraph 1, Üiid 2),

' Aus der Zeitschrift Frequenz, Band 17/1963, Nr. 10, Seite 391 Spalte 1 Absatz 7 ist es weiterhin vorbekannt, Informationen je nach Art der Informationsquelle entweder parallel oder in Serie auszuüefern, wobei normalerweise der Parallelauslieferung der'From the magazine Frequency, Volume 17/1963, No. 10, page 391, column 1, paragraph 7, it is still known To deliver information either in parallel or in series, depending on the type of information source, usually the parallel delivery of the

ίο Vorzug gegeben werden soll.ίο should be given preference.

^; Aus den »Entwicklungsberichten der Siemens & Halske AG« Sonderheft Femsprech-Wählervennittlung ESMII, 26. Jahrgang, Dezember 1963, Seite 48, Spalte 2, ist weiterhin eine Prüfeinrichtung bekannt, ^; From the "Development Reports of Siemens & Halske AG" special issue Femsprech-Wählervennittlung ESMII, Volume 26, December 1963, Page 48, Column 2, a test device is also known,

die hinsichtlich der Überprüfung zentraler Baugruppen eine Dauerüberwachung ausführen soll, also nicht als mobile Einrichtung ausgestaltet werden soll. Die weiter oben geschilderten Nachtefle mobiler Prüfgeräte treten bei diesem bekannten Prüfgerät somit nichtthose with regard to the review of central assemblies to carry out permanent monitoring, i.e. not to be designed as a mobile device. the Night flee of mobile test devices described above do not occur with this known test device

ao auf.ao on.

Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine mobile Prüfeinrichtung für die Überprüfung der zentralen Steuerung einer indirekt gesteuerten Vermittlungsanlage zu schaffen, mit der einzelne oder mehrere in der zentralen Steuerung ablaufende Verkehrsarten oder Programme herausgegriffen und an einer zentralen Stelle über eine längere Zeit angezeigt werden können, wobei die Behinderung des mobilen Einsatzes des Prüfgerätes infolge von zahlreichen Zuführungskabeln vermieden wird.The invention is therefore based on the object of providing a mobile test device for checking the to create central control of an indirectly controlled switching system, with the individual or several types of traffic or programs running in the central control system are picked out and activated a central point can be displayed over a longer period of time, with the handicap of the mobile Use of the test device due to numerous supply cables is avoided.

Die Lösung dieser Aufgabe geht aus dem kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 hervor.The solution to this problem emerges from the characterizing part of claim 1.

Bei einer derartigen Ausgestaltung der eingangs genannten Prüfeinrichtung bleibt diese trotz des notwendigen umfangreichen Informationsaustausches zwischen der Steuerung und dem Prüfgerät leicht transportabel und kann weitgehend störungssicher ausgeführt werden.With such a configuration of the test device mentioned at the beginning, this remains despite the necessary extensive information exchange between the controller and the test device transportable and can be made largely fail-safe.

Durch die Trennung der Übertragungsrichtungen für die auszutauschenden Informationen ergibt sich durch die Verwendung zweier voneinander vollkommen getrennter Kanäle eine besondere Störsicherheit. Die nunmehr sehr leichte und fehlersichere Verbindungsleitung zwischen dem Prüfgerät und der Steuerung ermöglicht auch nicht nur einen einfachen Transport des Prüfgerätes selbst, sondern auch eine relativ leichte Verlegung dieser Leitung (welche nunmehr eine erhebliche Länge annehmen kann) zu verschiedenen, möglicherweise parallel arbeitenden Steuereinrichtungen, ohne daß hierzu der Standort des zentralen Teiles des Prüfgerätes verändert werden müßte. Durch die nunmehr mögliche lange Verbindungsleitung kann also der Meßplatz relativ fest installiert bleiben, da es der Gegenstand der vorliegenden Anmeldung stark erleichtert, verschiedene Steuerungen oder auch verschiedene Anschlußstellen an einer Steuerung ohne Lageänderung des zentralen Teiles des Prüfgerätes zu erreichen.The separation of the transmission directions for the information to be exchanged results a special immunity to interference due to the use of two completely separate channels. The now very light and fail-safe connection line between the test device and the controller also enables not only easy transport of the test device itself, but also a relative one easy laying of this line (which can now assume a considerable length) to various, possibly parallel working control devices, without the location of the central Part of the test device would have to be changed. Due to the long connection line that is now possible so the measuring station can remain installed relatively permanently, since it is the subject of the present application greatly facilitated, different controls or different connection points on one To achieve control without changing the position of the central part of the test device.

Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung er-An advantageous development of the invention

gibt sich aus dem Patentanspruch 2.is evident from claim 2.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben. Es zeigtAn embodiment of the invention is in Drawing shown and is described in more detail below. It shows

Fig. 1 die Übertragungsstrecke zwischen einerFig. 1 shows the transmission path between a

zentralen Steuerung und einem mobilen Prüfgerät, Fig. 2 eine Schaltungsanordnung, mit der es möglich ist, nur fehlerhafte Potentiale in der zentralen Steuerung auf dem mobilen Prüfgerät anzuzeigen.central control and a mobile test device, Fig. 2 shows a circuit arrangement with which it is possible is to only display faulty potentials in the central control on the mobile test device.

In der Fig. 1 ist ein Blockschaltbild dargestellt, das nen von der Anlage A zur Prüfeinrichtung P gelatvg| die Verknüpfung eines mobilen Prüfgerätes mit einer geh, noch einmal genauer beschrieben. Während .dej>|§ zu überprüfenden Anlage im Prinzip zeigt. Mit A ist Ablaufs eines Programms in der zentralen Steuerung|j die zu prüfende Anlage bezeichnet, die abgehende der Anlage A nehmen einige der Punkte PPI bis|| Anschlüsse PPI bis PPlO für zur Anzeige dienende 5 PPlO z. B. Erdpotentiäl an, was die Aussage beuMlp Prüfpotentiale sowie ankommende Anschlüsse PEl tet, daß bestimmte Steuerungsabläufe stattgefun|je||| bis PElO für äußere Eingriffe in die Anlage A auf- haben, Quittungen eingetroffen sind oder bestimmte weist. Die Anschlüsse PPI bis PPlO und PEl bis Funktionen durchgeführt wurden. Zusammen erge-PElO sind jeweils auf eines der Schieberegister SRI ben diese an den Punkten PPI bis PPlO anstehenden bzw. SR4 geführt, welche die Paralleleingänge El bis io Informationen ein vollständiges Bild der Funktion der ElObzw.dieParallelausgänge Vl bis KlO aufweisen. zentralen Steuerung für das abgelaufene Programm. Von dem Schieberegister SRI führt eine serielle Lei- Die Informationen an den Punkten PPI bis PPlOIn Fig. 1 a block diagram is shown, the NEN from the system A to the test device P gelatvg | the connection of a mobile test device with a go, described again in more detail. While .dej> | § shows the system to be checked in principle. With A process is a program in the central control | j is the designated test facility, the outgoing Annex A to take some of the points PPI up || Connections PPI to PPlO for 5 PPlO z. B. Erdpotentiäl what the statement beuMlp test potentials as well as incoming connections PEl tet that certain control processes took place ||| until PE10 has available for external interventions in the system A , receipts have arrived or certain points have been issued. The connections PPI to PP10 and PEl until functions have been carried out. Together erge-PELO are each ben on one of the shift register SRI to this PPLO pending or guided SR4 at the points PPI containing up io information comprises the parallel inputs El a full picture of function of ElObzw.dieParallelausgänge Vl to the toilet. central control for the expired program. A serial line leads from the shift register SRI. The information at points PPI to PP10

tung SLl auf ein Schieberegister SR2 mit den Paral- Hegen an den Paralleleingängen El bis ElO des lelausgängen Ql bis QlO. Auf entsprechende Weise Schieberegisters SRI an. Ist ein Programmablauf zu ist das Schieberegister SR4 über eine serielle Leitung 15 Ende, so erscheint ein Triggersignal Tr und löst den SL2 mit einem Schieberegister SR3 verbunden, das Taktimpulsgenerator SiI aus. Eine solche Auslösung zehn Paralleleingänge Fl bis FlO besitzt. Bei der An- kann auch durch Betätigen der Taste T bewirkt werordnung gemäß Fig. 1 sind ferner zwei Taktimpuls- den. Infolge der Auslösung wird an die Eingänge CPl, generatoren SiI und Si2 vorgesehen, von denen der CP2 eine Schiebeimpulsserie gelegt, deren Impulszahl Taktimpulsgenerator SiI über eine Taktleitung TLl 20 gleich der Länge des Schieberegisters SRI ist. Unter die Schieberegister SRI und SR2 steuert, während der Länge sei hier die Anzahl der Speicherzellen verder Taktimpulsgenerator Si2 über die Taktleitung 'standen, also z.B. 256 bit. Beider Anordnung gemäß TL2 die Schieberegister SR3 und SR4 betätigt. Die Fig. 1 wäre z.B. eine Schiebeimpulsserie von 10 bit Taktimpulsgeneratoren S/l und S/2 können durch die notwendig, man könnte den Schieberegistern SRI, Starttasten 7bzw. S in dem Prüfgerät Tbetätigt wer- as SR2 aber auch eine Länge von z.B. 1,024 bit geben, den. In diesem Prüfgerät P sind auch noch Befehlsta- Bei der Einspeisung der Schiebeimpulse in die Ein-device SLl to a shift register SR2 with the parallel Hegen at the parallel inputs El to ElO of the outputs Ql to QlO. In a corresponding manner shift register SRI to. If a program sequence is closed, the shift register SR4 via a serial line 15 ends, a trigger signal Tr appears and triggers the SL2 connected to a shift register SR3 and the clock pulse generator SiI. Such a trip has ten parallel inputs Fl to FlO. During the connection can also be effected by pressing the key T. The arrangement according to FIG. 1 is also two clock pulses. As a result of the triggering, the inputs CPl, generators SiI and Si2 are provided, of which the CP2 applies a series of shifting pulses, the number of which is clock pulse generator SiI via a clock line TLl 20 equal to the length of the shift register SRI. Under the shift registers SRI and SR2 controls, during the length here the number of memory cells verder the clock pulse generator Si2 over the clock line 'stood, for example 256 bits. In the arrangement according to TL2, the shift registers SR3 and SR4 are actuated. Fig. 1 would be, for example, a shift pulse series of 10 bit clock pulse generators S / 1 and S / 2 can by the necessary, you could the shift registers SRI, start buttons 7 or. S in the test device T is actuated as SR2 but also give a length of, for example, 1.024 bits, the. In this test device P there are also command sta- When feeding the shift pulses into the input

1 nur die zehn Befehlstasten gänge CPl und CP2 rückt die gespeicherte Informasind. Zudem befinden sich tion je Impuls um eine Speicherzelle1 only the ten command key steps CPl and CP2 move the stored information. In addition, there is one memory cell per pulse

Sn S/11 it der Serierausgang des Schieben«·- format,™ wird nun in das tee«,Sch«»^Sn S / 11 it the serial output of the slide «· format, ™ is now in the tee«, Sch «» ^

^S^undS^derSerieneingangdesSeMebe- ££*^-&£S1}ES*«_£ ^ S ^ andS ^ the serial input of the SeMebe- ££ * ^ - & £ S1} ES * « _£

raster SRI SR2 auf, die von dem Taktimpulsgene- Ausgange gesperrt. Am Ende der übergabe m»raster SRI SR2 on, which is blocked by the clock pulse genes. At the end of the handover m »

raS SiI gesteuert werfen, während sich in der zwei- Schieberegister SR2 die Information des **£*"*. ÄerSgungsstrecke die von dem Taktimpulsge- ₄₅ sters SRI vollständig übernommen Nun kamThrow controlled Ras SiI, while the fully adopted in the two shift registers SR2 of the information ** £ * "*. ÄerSgungsstrecke of the Taktimpulsge- ₄₅ sters SRI Then came

aerator S/2 gesäuerten Schieberegister SR3, SR4 Taktimpulsgenerator S/l die parallelen Einaerator S / 2 acidified shift register SR3, SR4 clock pulse generator S / l the parallel one

sS5e die Befchlstasten BTl bis Β7Ί0 befinden. Die Ausgänge freigeben, so daß die betreffenden AsS5e the command keys BTl to Β7Ί0 are located. Enable the outputs so that the A

SUe Strecke dient somit zur Fernbedienung der An- gelampen innerhalb der Gruppe von AnzeigeThe SUe section is used to remotely control the lighting lamps within the display group

SStemoen Ll bis LlO, während die zweite Strecke Ll bis LlO aufleuchten. An die Eingänge El dfc Befehlstasten BTl bis BTlO in den Punkten PEl ₅„ können jetzt die nächsten I^rf°nn^onen _{die fcr}-SStemoen Ll to LlO, while the second route Ll to LlO light up. Can "to the inputs El dfc command keys BTL to BTlO in points PEI ₅ now the next I ^rf ° nn ^ ones _{which fcr} -

S PElO^btaam werfen läßt. werfen. Bei der nächste η Übertragung^™^_oben S PElO ^ btaam lets throw. throw. At the next η transmission ^ ™ ^ _above Selbstverständlich ist die Anordnung gemäß Fig. 1 stinformation aus dem Schieberegister *«*§??L«.Of course, the arrangement according to FIG. 1 is stinformation from the shift register * «* § ?? L«.

nicht auf die Verwendung von Schieberegistern mit unddurchdie Zweitinformation aus*g*«^does not apply to the use of shift registers with and through the second information from * g * «^

zehn Stellen beschränkt, sondern es können Schiebe- ster SRI ersetzt. Ein Loschen der Schiebereg»limited to ten digits, but sliding bars can replace SRI. Deleting the shift register

register mit beliebig vielen Stellenwerten vorgesehen 55 SRI, SR2 ist deshaR) nichit erforderlich,register with any number of place values provided 55 SRI, SR2 is therefore not necessary,

werfen Es ist auch möglich, die Schieberegister zu Es soll nun noch einmal die Strecke SK*, a« βthrow It is also possible to close the shift register. The route SK *, a «β should now be repeated again

ebenem, indem an die Serienausgänge S^l und an nauer betrachtet werdender ^^^A^- level, by looking at the series outputs S ^ l and a closer look at ^^^ A ^ -

die Serieneingänge SJl weitere Schieberegister ange- zielt an bestimmten Punkten in die Steuerungthe serial inputs SJl further shift registers aimed at certain points in the control

schlossen werfen. So können weitere Paralleleingänge gegriffen. Die Steuerung A kann ²^L **^Β _rfen.closed throw. This way, further parallel inputs can be used. Control A can _throw ² ^ L ** ^Β .

El bis ElO, Fl bis FlO und ParaBelausgänge öl 60 werfen oder es können Einheiten gespern ^El to ElO, Fl to FlO and ParaBelausouren throw oil 60 or units can lock ^

hk ΟΙΟ Kl bis KlO geschaffen werfen, die zusätzlich Im einzelnen geschieht dies dadurch, dais z. »·hk ΟΙΟ Kl to KlO created, which additionally. »·

Somatione« aufnehmen bzw. wieder abgeben kön- Punkte PEl bis PElO durch Druck der BJgJJSomatione «can take up or release points PE1 to PE10 by printing the BJgJJ

nen Die Anzahl der Serienleitong SLl ändert sich B71 bis Β7Ί0 Erdpotential gelegt wirf. Die fcinsp*nen The number of series line SLl changes B71 to Β7Ί0 earth potential is placed. The fcinsp *

hierdurch nicht. Es können ah» große Datenmengen cherung und Übertragung der In*⁰™⁸™"?" %_T dunot because of this. Large amounts of data can be backed up and transmitted in * ⁰ ™ ⁸ ™ "?" % _T you

«nn Ar Anlaee A zur Prüfeinrichtung P über wenige _6s nauso vor sich, wie es vorstehend opreiu."Nn Ar Anlaee A for the test device P over a few _{6s in the} same way as it opreiu above.

l^unsen übertragen werfen, so daß der Verkabe- Strecke SRI, SR2 beschrieben würfe.Throw us transmitted so that the cabling route SRI, SR2 would be written.

luMsaufwand gering bleibt Signalfluß ist entgegengesetzt gerichtetThe cost of the signal remains low. Signal flow is directed in the opposite direction

pTwirf nun die erste Strecke, bei der Informatio- rät P zur Steuerung A. Eine gezieltepT now throw the first line, at the information device P to control A. A targeted one

lung, z.B. Sperren und Freigeben bestimmter Sätze und Koppelwege, wird durch Drücken der entsprechenden Taste BT vorbereitet. 1st der Weg des Verbindungsaufbaues vollständig hergestellt, so wird durch Druck der Taste 5 der Taktimpulsgenerator 5(2 angelassen, der die Übertragung in die Anlage A, wie bereits beschrieben, veranlaßt. Die Auslösung kann aber auch durch ein Triggersignal Sr, das aus der Steuerung A kommt, vorgenommen werden. Eine Verknüpfung beider Triggersignale durch ein externes Prüf-Teilnehmer-Kriterium ist möglich.Development, for example blocking and releasing certain records and coupling routes, is prepared by pressing the relevant BT key. Once the connection is fully established, the clock pulse generator 5 (2 is started by pressing button 5, which initiates the transmission to system A, as already described. However, it can also be triggered by a trigger signal Sr from the control A. It is possible to link the two trigger signals using an external test participant criterion.

Zwischen die Schieberegister SRI, SR2 bzw. SR3, SRA und den Leitungen SLl bzw. SLl können in an sich bekannter Weise Leitungstreiber und dazu passende Empfänger geschaltet werden (vgl. Bulletin CA-130 von Texas Instruments »Line Drivers and Receivers: SN 55107 Series«). Damit ist es möglich, mit einem einfachen Mehrfachkabel von etwa 5 bis 7 verdrillten Aderpaaren auszukommen. Dieses Kabel kann ohne weiteres etwa 300 m lang sein.Line drivers and suitable receivers can be connected between the shift registers SRI, SR2 or SR3, SRA and the lines SLl or SLl in a manner known per se (cf. Bulletin CA-130 from Texas Instruments "Line Drivers and Receivers: SN 55107 Series «). This makes it possible to get by with a simple multiple cable of around 5 to 7 twisted wire pairs. This cable can easily be about 300 m long.

Werden besonders lange Schieberegister SRI, SRI, SR3, SRA vorgesehen, so ist es bisweilen zweifelhaft, ob die Information auch richtig übertragen wurde oder ob möglicherweise einige Schiebetakte nicht ordnungsgemäß ausgeführt wurden. Wenn z.B. eine Periode des Schiebetaktes aus dem Taktimpulsgenerator S(I nicht wirksam wurde, steht die gesamte übertragene information um eine Stelle verschoben und somit falsch im Schieberegister SR2. Ein solcher Fehler muß sofort erkannt werden, damit keine falsche Anzeige eintritt. Hierzu werden z.B. in dem Schieberegister SRI bestimmte Zellen nicht zum Eintragen von Informationen benutzt, sondern es werden in diesen Zellen Prüfbits eingeschrieben. Dies kann durch externe Beschattung geschehen. An den entsprechenden Stellen des Schieberegisters SR2 wird nun keine Anzeigelampe angeschlossen, sondern eine in der Figur nicht gezeigte Prüflogik. Diese entscheidet, ob die Anzeige nach der Übertragung von SRI nach SR2 freigegeben werden soll oder nicht.If particularly long shift registers SRI, SRI, SR3, SRA are provided, it is sometimes doubtful whether the information was actually transmitted correctly or whether some shift clocks were possibly not correctly executed. If, for example, one period of the shift clock from the clock pulse generator S (I did not take effect, the entire transmitted information is shifted by one place and is therefore incorrect in the shift register SR2. Such an error must be recognized immediately so that no incorrect display occurs Cells specific to the shift register SRI are not used to enter information, but rather check bits are written into these cells. This can be done by external shading. No indicator lamp is connected to the corresponding locations of the shift register SR2 , but rather a check logic not shown in the figure. This decides whether the advertisement should be released after the transfer from SRI to SR2 or not.

Bei der seriellen Übertragung aller Anzeigepotentiale ergibt sich für den Betrachter ein etwas unübersichtliches Bild. Es zeigt zwar dem Revisor die Vollständigkeit der Kontrollen an, ist aber für eine Registrierung z. B. mit einem Drucker wenig geeignet.The serial transmission of all display potentials results in a somewhat confusing picture for the viewer. Although it shows the auditor that the controls are complete, it is for one Registration z. B. not suitable with a printer.

Denn aus dem unübersichtlichen Gesamtabdruck müssen die falschen und fehlenden Potentiale erst herausgesucht werden. Besser ist deshalb eine automatische Fehlererkennung. Dabei werden nicht alle Potentiale in der zentralen Steuerung, sondern nur falsche oder fehlende Anzeigen zusammen mit der Programmart angezeigt und ausgedruckt. Ein Ausdruck findet außerdem nur im Fehlerfall statt, wenn der Drucker entsprechend gesteuert wird.Because the wrong and missing potentials have to be found out of the confusing overall impression be picked out. Automatic error detection is therefore better. Not all will Potential in the central control, but only wrong or missing advertisements together with the Program type displayed and printed out. In addition, a printout only takes place in the event of an error, if the printer is controlled accordingly.

ίο In der Fig. 2 ist eine Schaltungsanordnung gezeigt, mit der eine automatische Fehlererkennung der eben beschriebenen Art realisiert werden kann. Das steuernde Element der automatischen Fehlererkennung ist die aus den Spalten SpI bis SpIO und den Zeilenίο In Fig. 2 a circuit arrangement is shown, with which an automatic error detection of the type just described can be implemented. The controlling element of the automatic error detection is the one from the columns SpI to SpIO and the rows Zl bis ZA bestehenden Matrix. Die Zeilen und Spalten dieser Matrix können über die Dioden DiI bis Di9 in gleicher Weise miteinander verbunden werden, so daß die Matrix einen Festwertspeicher für die Programme Pl bis PA und deren charakteristischenZl to ZA existing matrix. The rows and columns of this matrix can be connected to one another in the same way via the diodes DiI to Di9, so that the matrix has a read-only memory for the programs P1 to PA and their characteristic Schaltpotentiale darstellt. Durch eine geeignete Beschal tung der Matrix mit den Dioden DiI bis D/9 wird also festgelegt, welche Potentiale die einzelnen zu überprüfenden Bauteile während eines bestimmten Programmpunktes normalerweise haben. BeispielsRepresents switching potentials. By means of suitable wiring of the matrix with the diodes DiI to D / 9 thus stipulate which potentials the individual components to be checked during a certain Normally have a program item. Example weise ist in der Matrix gemäß Fig. 2 festgelegt, daß beim Programm Pl die Potentiale Ql, Q3, QA, Q6, Ql, QS im Normalfall Null sind. Dies kommt dadurch zum Ausdruck, daß die Zeile Zl an die Spalten SpI, Sp3, Sp4, Sp6, Sp7, Sp8 gelegt ist und somit die exas is specified in the matrix according to FIG. 2 that the potentials Ql, Q3, QA, Q6, Ql, QS are normally zero in the program P1. This is expressed in that the line Zl is placed on the columns SpI, Sp3, Sp4, Sp6, Sp7, Sp8 and thus the ex klusiven ODER-Gatter Gl, G3, GA, G6, G7, G8 in entsprechender Weise vorgespannt werden. Diese ODER-Gatter geben dann ein zur Anzeige führendes Signal ab, wenn die beiden Eingänge ungleiches logisches Potential haben. In dem in Fig. 2 gezeigten Bei-clusive OR gates Gl, G3, GA, G6, G7, G8 are biased in a corresponding manner. These OR gates then emit a signal leading to the display when the two inputs have unequal logical potential. In the example shown in Fig. 2 spiel ist dies für Q6 der Fall, d.h. der Wert Q6 wird ausgedruckt. Dazu gehört der Abdruck des Programms, nämlich Pl. Mit der Programm-Matrix, die beliebig erweitert werden kann, erübrigen sich Fehlertabellen, Programmlochkarten usw.This is the case for Q6, ie the value Q6 is printed out. This includes the printout of the program, namely Pl. The program matrix, which can be expanded as required, eliminates the need for error tables, program punch cards, etc.

Die Art des gerade anstehenden Programms kann durch die Programmanzeige PA angezeigt werden. Die in der Fig. 2 noch gezeigten Inverter InVl bis InVA und Verstärker Vl bis KlO führen keine erfindungswesentlichen Funktionen aus, sondern sind Ie-The type of the currently pending program can be indicated by the program display PA. The inverters InVl to InVA and amplifiers Vl to KlO still shown in FIG. 2 do not perform any functions essential to the invention, but are Ie- diglich für Anpassungszwecke u. dgl. vorgesehen.Only intended for adjustment purposes and the like.

Hierzu 2 Blatt ZeichnungenFor this purpose 2 sheets of drawings

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Claims

1/7 »- j _no concerns a mobile testing facility

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Claims: ^^^ "- SSh voSndtr different Puöfc

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W ^ dej ^ ü ^ i ^ Änlrberpr ^ msfeeig-% ieten * 3f ^ Fen ^rechtchn * a very large Siete Stftüerb ^ rehli übermitÄü Jkönnen, aa moUe.DJeS results sitAdar ^ that Vemittiuqgsanla, Ou ^ hge ^^ imzew ^ et ^ d ^^ JgbeCTiittlung _m i gen practically not be allowed to fail and therefore often need information between Sero PiSfgeiät {P) on the Ordnungsraaßigkeit their ^ Ztistandesuberprüft and central under test control (a) to be what routes direction Kornplexitat the Aitjede transmission direction a special , from locations means a not inconsiderable amount of work, the other separate channel (Ll to LlO, SRI, In classic valve technology with directly controlled selectors, SR2, PTl to P710 or BTl to ßTIO, SR3, ₂₀ controlled SR4, PEl to B71 to PElO) is provided that and speech paths are very simple. The auditor looks to see whether certain relays are picked up in each channel, preferably at its input, or in which and output-side end there is a selector in each case. Only occasionally gister (SRI, SR2 or SR3, SR4) is provided, he still uses headphones for error localization, on parallel lines at the as sation. These are primarily single-channel input transmitted, temporally essentially directions, with which the correct function is checked in parallel occurring information in and the tolerance limit of current impulse transmitters on the input side shift registers (SRI or (cf. e.g. DT-AS 1194921) The individual SR3) in equivalent serial information around the working values of these current impulse transmitters are set, which are determined via a simple line 30 through that for the separate monitoring of (SH or SL2) the assigned output-side current surges and current pauses with time measuring circuits Shift registers (SR2 or SR4) supplied capacitors are provided, which are provided at the beginning of the, which this serial information test process in a fixed initial state, in turn in equivalent parallel information and then imagine their state of charge converts and this on corresponding parallel 35 rend of the Test process is changed from what there are lines at the channel output that can automatically derive a measure for the duration of the current surges and the correctness of the checked current breaks.

Potentials of a solid formed by a matrix

Value memory (Zl to Z4, Del to De9, SpI to modern, indirectly controlled telephone exchange SpIO) is provided, the ZeUen (Zl to Z4) 40 processing systems with central control are not used by a through the output-side shift register, because these no longer have any voters. Auster (SR2) in the one directed to the test device (P) is also the state of the few additional channels controlled by additional programs, especially when it is a reed relay pointer register ( ZPAR) corresponding to the current or encapsulated relay Program no longer set outside (P1 to P4) with potential ₄₅ visible. When checking the predominantly electronics, and the devices that are shown with the lines, only the switching states (Zl to Z4) according to the set Pro or potentials, e.g. the KoUektor-Emitter-Spangramm (Pl to P4) connected via diodes of a semiconductor switch each charcren for a limited hours columns (SPI to SPIO) to a th of sev- time in the program flow of control comparison devices (Gl to Glo) Sex ₅₀ are rakteristisch, the examiner information are via the that only a display signal on the state of the switching system. The test device must therefore deliver when the actual potential value, in which these test potentials are fed from the electronic device output-side shift register (5R2) to a test device, assured the intended potential value, from there they are in the simplest case with a lamp the columns (SpI to SpIO) delivered potential ₅₅ is displayed. In addition to this passive test, the tial value may differ. also become necessary to actively participate in the system

2. Mobile test device according to claim 1, grab, i.e. individual paths or assemblies to blök thereby marked that certain spotting or in some other way influence them to take memory cells of the input shift register.

(SRI or SR3) not for taking up information are provided, but check bits escape that several barriers are provided in keep their undisturbed transmission to the electronic components housed are ordered shift registers on the output side. In this case, spatially distributed test (SR2 or SR4) are a prerequisite for the employees, but this then has the disadvantage show control-side check information 65 that they are not from an auditor at the same time can be overlooked on the test device or the version of the test device. Another possibility side commands by the controller. would be to have a central one in the switching system Monitoring unit to be provided for all cabinets