DE2233726C3 - Parametrischer Wanderfeldverstärker - Google Patents
Parametrischer WanderfeldverstärkerInfo
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Description
Durch die Zeitschrift »Nachrichtentechnik«, 20 (1970), Heft 3, Seiten 105 bis 110, ist es bekannt, bei
einem parametrischen Verstärker anstelle von Kapazitistsdioden
MIS-Varaktoren vorzusehen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen parametrischen Verstärker anzugeben, der sich in
einfacher Weise in moderner Halbleitertechnik herstellen läßt und der sich beispielsweise zur Verwendung in
integrierten Schaltungen eignet. Zur Lösung dieser Aufgabe wird nach der Erfindung vorgeschlagen, daß
der parametrische Wanderfeld-Verstärker aus einem Körper mit MIS-Struktur besteht, bei dem das Metall in
Gestalt einer Leiterbahn auf den Isolator aufgebracht ist.
Unter MIS-Struktur wird eine Struktur verstanden, die aus der Materialfolge Metall, Isolator und Halbleiter
besteht. Das Metall und der Halbleiter sind bei einer MIS-Struktur durch einen Isolator bzw. eine Isolierschicht
voneinander getrennt.
Parametrische Wanderfeld-Verstärker nach der Erfindung
haben nicht nur den Vorteil, daß sie sich in einfacher Weise in moderner Technik herstellen lassen
und sich zur Verwendung in integrierten Schaltungen eignen, sondern sie haben auch gute Verstärkereigenschaften
und eine hohe Breitbandigkeit. Die Breite der auf dem Isolator des parametrischen Wanderfeld-Verstärkers
befindlichen Leiterbahn wird gemäß einer Ausführungsform der Erfindung geringer gewählt als
die Breite des Halbleiters bzw. der auf dem Halbleiter befindlichen Isolierschicht.
Für bestimmte Anwendungszwecke wird die Breite der Leiterbahn unterschiedlich gewählt. Die Leiterbahn
erhält dabei vorzugsweise eine periodische Struktur mit abwechselnder Streifenbreite, d. h. die Leiterbahn
besteht aus abwechselnd breiten und schmalen Streifen. Eine derart ausgebildete Leitung hat einen Tiefpaßcharakter.
Ein solcher Tiefpaß wird vorzugsweise derart dimensioniert, daß seine Grenzfrequenz dicht oberhalb
der Pumpfrequenz des parametrischen Wanderwellenverstärkers liegt, so daß die Summenfrequenz aus
Pump- und Signalfrequenz nicht mehr ausbreitungsfähig ist.
Bei dem parametrischen Wanderfeld-Verstärker nach der Erfindung wird an dem Halbleiter ein elektrischer
Kontakt angebracht. Dies geschieht vorzugsweise auf der der Isolierschicht gegenüberliegenden Seile des
Halbleiters.
Der Halbleiter der MIS-Struktur hat beispielsweise einen spezifischen Widerstand zwischen 5.10~2 und
5.10-' Ohmcm. Der Isolator ist beispielsweise 0,05 bis 0,2 μπι dick. Die Breite der auf der Isolierschicht
befindlichen Leiterbahn wird beispielsweise zwischen 10 und 50 μπι gewählt. Der Halbleiter besteht
beispielsweise aus Silizium. Als Material für die Isolierschicht eignet sich beispielsweise SiO2, Si3N4,
AI2O3 und Doppelschichten aus SiO2 und Si3N4 bzw.
Al2O3.
Die Figur zeigt einen parametrischen Wanderfeld-Verstärker
nach der Erfindung mit MIS-Struktur. Der Halbleiter besteht in diesem Ausführungsbeispiel aus
dem Substrat 1 und der auf dem Substrat befindlichen epitaktischen Schicht 2. Das Substrat hat beispielsweise
eine Dicke von 10-2cm, während die Dicke der
epitaktischen Schicht beispielsweise lO^crn beträgt.
Auf die epitaktische Schicht 2 ist eine isolierende Schicht 3 aufgebracht. Die Dicke dieser isolierenden
Schicht 3 beträgt beispielsweise 10-5cm. Auf der
isolierenden Schicht 3 befindet sich als metallischer Teil der MIS-Struktur eine Leiterbahn 4. Wie das Ausführungsbeispiel
zeigt, hat die Leiterbahn 4 eine geringere Breite als der aus dem Substrat und der epitaktischen
Schicht bestehende Halbleiterkörpe. bzw. die darüber befindliche Isolierschicht. Die Leiterbahn 4 wechselt
periodisch zwischen breiten und schmalen Streifen. Die Streifenbreite der breiten Streifen beträgt beispielsweise
5 μίτι und die der schmalen Streifen beispielsweise
10 μίτι. Zur Kontaktierung des Halbleiterkörpers ist auf
der Unterseite des Substrats 1 eine Metallelektrode 5 angebracht, die im Ausführungsbeispiel die gesamte
Unterseite des Halbleiterkörpers kontaktiert.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Parametrischer Wanderfeldverstärker, dadurch gekennzeichnet, daß er aus einem
Körper mit MIS-Struktur besteht, bei dem das Metall in Gestalt einer Leiterbahn auf den Isolator
aufgebracht ist.
2. Verstärker nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Leiterbahn geringer ist
als die Breite des Halbleiters bzw. der auf dem Halbleiter befindlichen Isolierschicht.
3. Verstärker nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiterbahn eine periodische
Struktur mit unterschiedlicher Streifenbreite aufweist, derart, daß die Leitung Tiefpaßcharakter hat.
4. Verstärker nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Leitung derart ausgebildet ist, daß
die Grenzfrequenz des Tiefpasses dicht oberhalb der Pumpfrequenz des parametrischen Wanderfeld-Verstärkers
liegt.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19722233726 DE2233726C3 (de) | 1972-07-08 | Parametrischer Wanderfeldverstärker | |
US377020A US3863167A (en) | 1972-07-08 | 1973-07-06 | Parametric moving field amplifier |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE7225580 | 1972-07-08 | ||
DE19722233726 DE2233726C3 (de) | 1972-07-08 | Parametrischer Wanderfeldverstärker |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2233726A1 DE2233726A1 (de) | 1974-01-24 |
DE2233726B2 DE2233726B2 (de) | 1977-02-10 |
DE2233726C3 true DE2233726C3 (de) | 1977-09-22 |
Family
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