DE2228250B2 - Anordnung zur Verminderung der Trägheit thermischer Strahlungsdetektoren aus Halbleitermaterial - Google Patents

Anordnung zur Verminderung der Trägheit thermischer Strahlungsdetektoren aus Halbleitermaterial

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DE2228250B2 DE19722228250 DE2228250A DE2228250B2 DE 2228250 B2 DE2228250 B2 DE 2228250B2 DE 19722228250 DE19722228250 DE 19722228250 DE 2228250 A DE2228250 A DE 2228250A DE 2228250 B2 DE2228250 B2 DE 2228250B2
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Dieter-Klaus Dipl.-Ing. 7500 Karlsruhe Adler
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990006495A1 (en) * 1988-11-30 1990-06-14 Plessey Overseas Limited Thermal ir detector electrode configuration

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WO1990006495A1 (en) * 1988-11-30 1990-06-14 Plessey Overseas Limited Thermal ir detector electrode configuration

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