DE2219395A1

DE2219395A1 - Electrical tester

Info

Publication number: DE2219395A1
Application number: DE19722219395
Authority: DE
Inventors: George Michael Bournemouth Hampshire Ettinger (Großbritannien)
Original assignee: PLESSEY HANDEL und INVESTMENTS AG ZUG (SCHWEIZ)
Current assignee: Plessey Overseas Ltd
Priority date: 1971-04-20
Filing date: 1972-04-20
Publication date: 1972-10-26
Also published as: DE2219395B2; FR2133876A1; DE2219395C3; FR2133876B1; GB1386092A

Description

PIESSEY HANDEL UND INVESTMENTSPIESSEY TRADE AND INVESTMENTS

Gartenstraße 2Gartenstrasse 2

CH-6300 ZUG / Switzerland Our drawing? 2151

Elektrisches PrüfgerätElectrical tester

Die Erfindung bezieht sich auf die Prüfung von elektrischen Geräten.The invention relates to the testing of electrical Devices.

Da die elektronischen und elektrischen Einrichtungen, wie sie in Computern, automatischen Fernsprechvermittlungen und anderen automatischen Steuergeräten verwendet werden, immer komplizierter werden, müssen sehr viele elektrische Verbindungen hergestellt werden, und jede Verbindung muß geprüft werden. Wenn beispielsweise eine Verbindung zwischen zwei Punkten oder Klemmen infolge einer fehlerhaften Verbindungsstelle unterbrochen ist, muß dieser Fehler festgestellt werden. Eine andere Fehlerart, die festgestellt werden muß, ist eine Verbindung zwischen Punkten, die nicht verbunden sein sollen.As the electronic and electrical equipment as found in computers, automatic telephone exchanges and other automatic control devices are used, are becoming more and more complicated, need a lot of electrical Connections are made and each connection must be checked. For example, if there is a connection between If two points or terminals are interrupted as a result of a faulty connection point, this fault must be detected will. Another type of error to be detected is a connection between points that are not should be connected.

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Ziel der Erfindung ist die Schaffung eines Geräts, mit dem Fehler der zuvor erwähnten Art sehr schnell festgestellt werden können.The aim of the invention is to create a device with which errors of the aforementioned type are detected very quickly can be.

Nach der Erfindung ist ein elektrisches Prüfgerät gekennzeichnet durch eine Anordnung mit Halbleiterschaltern zur Abtastung einer Anzahl von Punkten oder Klemmen in einer zu prüfenden elektrischen Anlage in Bezug auf einen anderen Punkt oder eine andere Klemme der Anlage, damit das Vorhandensein oder Fehlen von elektrisch leitenden Pfaden zwischen den einen Punkten oder Klemmen und dem anderen Punkt bzw. der anderen Klemme festgestellt wird.According to the invention, an electrical test device is characterized by an arrangement with semiconductor switches for scanning a number of points or terminals in an electrical installation under test with respect to one another point or another terminal of the plant, so as to ensure the presence or absence of electrically conductive Paths between the one point or terminal and the other point or the other terminal is determined.

Damit kann für eine umfassende Prüfung jeder Punkt oder jede Klemme in Bezug auf den anderen Punkt bzw. die andere Klemme abgetastet werden.This allows for a comprehensive test of each point or each terminal in relation to the other point or the other Clamp are scanned.

Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung kann das Gerät eine Speichereinrichtung enthalten, die ein Lochstreifengerät enthalten kann und ein vorbestimmtes Programm trägt, und es kann eine Vergleichseinrichtung vorgesehen sein, welche im Programm gespeicherte Signale mit Signalen vergleicht, die während eines Abtastvorgangs erzeugt werden, damit ein Punkt oder eine Klemme, für die ein Verbindungsfehler festgestellt wird, identifiziert werden kann. Es kann auch vorgesehen werden, daß ein von der Vergleichseinrichtung geliefertes Ausgangssignal, das eine fehlerhafte Verbindung anzeigt, einem Aufzeichnungsgerät zugeführt wird, das ein Druckwerk enthalten kann, damit der Punkt bzw. die Klemme identifiziert wird, an dem bzw. an der der Fehler aufgetreten ist.According to an advantageous development of the invention, the device can contain a memory device which may contain a paper tape device and carry a predetermined program, and it may have a comparison device be provided, which compares signals stored in the program with signals generated during a scanning process can be generated to identify a point or terminal for which a connection failure is detected can be. It can also be provided that an output signal supplied by the comparison device, the indicates a faulty connection, is fed to a recording device, which may contain a printing unit, so that the point or the terminal is identified at which the error occurred.

Zur Durchführung des zuvor erwähnten Vergleichs und anderer elektrischer Vorgänge, einschließlich der Umschaltung fürTo perform the aforementioned comparison and other electrical operations, including switching for

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die Abtastzwecke, ist es vorgesehen, daß herkömmliche TTL-Schaltungen (Transistor-Transistor-Logik-Schaltungen) verwendet werden können.the scanning purposes, it is intended that conventional TTL circuits (transistor-transistor-logic-circuits) can be used.

Ein AuBführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt, deren einzige Figur das Blockschema eines Prüfgeräts nach der Erfindung zeigt.An embodiment of the invention is in the drawing shown, the single figure shows the block diagram of a test device according to the invention.

Die Zeichnung zeigt ein zu prüfendes System 1, das über ein vieladriges Kabel 3 mit einem adressierbaren Kurzschlußgerät 2 verbunden ist. Ein Kurzschluß bzw* eine Masseverbindung zu einem Punkt oder einer Klemme des zu prüfenden Systems 1 wird von dem adressierbaren Kurzschlußgerät 2 aufgrund von Signalen hergestellt, die dem Gerät 2 zugeführt werden und von Daten abgeleitet werden, die in einem zuvor aufgezeichneten Programm eines Bandkassetfcen-Informationsspeichergeräts 4 enthalten sind. Die einzelnen Schalter des Geräte 2, welche die Kurzschlüsse herstellen, sind durch Halbleiter-Schaltglieder gebildet, die aus den bipolaren Transistorelementen einer integrierten TTIt-Iogikßchaltung bestehen.The drawing shows a system to be tested 1, which has a multi-core cable 3 is connected to an addressable short-circuit device 2. A short circuit or a Ground connection to a point or a terminal of the System 1 under test is controlled by the addressable shorting device 2 produced on the basis of signals which are fed to the device 2 and are derived from data, those in a pre-recorded program of a tape cartridge information storage device 4 are included. The individual switches of the device 2, which produce the short circuits, are formed by semiconductor switching elements, which consist of the bipolar transistor elements of an integrated TTIt logic circuit.

Nachdem in dem adressierbaren Kurzschlußgerät 2 ein vorbestimmter Punkt oder eine vorbestimmte Klemme des zu prüfenden Systems mit Masse verbunden worden ist, werden alle anderen Klemmen oder ausgewählte Klemmen des zu prüfenden Systems von einem elektrischen Abtastgerät 5 abgetastet, das einen binär codierten Dezimalzähler und TTL-Logikschaltungen enthält, damit das Vorhandensein eines Kurzschlusses zwischen der an Masse gelegten adressierten Klemme und irgendeiner anderen Klemme überprüft wird. Das elektronische Abtastgerät 5 arbeitet unter der Steuerung durch Signale einer Taktimpulserzeugeranordnung 11,After in the addressable short circuit device 2 a predetermined Point or a predetermined terminal of the system under test has been connected to ground any other terminals or selected terminals of the system under test from an electrical scanning device 5 sampled, which contains a binary coded decimal counter and TTL logic circuits to ensure the presence a short circuit between the grounded addressed terminal and any other terminal is checked. The electronic scanning device 5 operates under the control of signals from a clock pulse generator arrangement 11,

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die einen Signalgenerator 11a enthält, der einen vierstufigen dekadischen Zähler 11t) speist. Obgleich bei der hier beschriebenen Ausführungsform das Abtastgerät 5 einen binär codierten Dezimalzähler enthält, kann auch in manchen Anwendungsfällen ein umlaufender Ringzähler für die Zwecke der Abtastung verwendet werden.which contains a signal generator 11a which feeds a four-stage decadic counter 11t). Although at of the embodiment described here, the scanning device 5 contains a binary coded decimal counter, can also in some applications a rotating ring counter can be used for the purposes of scanning.

Die Ausgangssignale des Taktimpulsgenerators 11 werden über eine Leitung 7 einer Koinzidenzschaltung 6 zugeführt, die an ihrem anderen Eingang über direkten Anschluß (on line) 8 voraufgezeichnete Signale empfängt, die in dem im Bandkassettengerät 4 enthaltenen Programm erzeugt werden, und die ein Ausgangssignal erzeugt, wenn die programmierte Adresse mit der vom Taktimpulsgenerator 11 angegebenen Adresse übereinstimmt; die Koinzidenzschaltung 6 kann daher herkömmliche Koinzidenzgatter enthalten. Die Ausgangssignale werden von der Koinzidenzschaltung 6 also jedesmal dann abgegeben, wenn ein vom Programm bezeichneter Punkt unter der Steuerung des Taktimpulsgenerators abgetastet wird.The output signals of the clock pulse generator 11 are fed via a line 7 to a coincidence circuit 6, which receives 8 pre-recorded signals at its other input via a direct connection (on line), which are stored in the im Tape cassette device 4 contained program are generated, and which generates an output signal when the programmed Address with that given by the clock pulse generator 11 Address matches; the coincidence circuit 6 can therefore contain conventional coincidence gates. The output signals are output by the coincidence circuit 6 every time a designated by the program Point is sampled under the control of the clock pulse generator.

Die Ausgangssignale der Koinzidenzschaltung 6 werden über eine Leitung 10 einer .Fehlersperrungs-Vergleichsschaltung zugeführt, die einfach Gatterschaltungen enthält und an ihrer anderen Eingangsklemme Signale von dem Abtastgerät 5 empfängt. Wenn ein von der Koinzidenzschaltung 6 abgegebenes Signal gleichzeitig mit einem Ausgangssignal des elektronischen Abtastgeräts 5 an die Fehlersperrungsschaltung 9 angelegt wird, wird von der Fehlersperrungsschaltung auf der Leitung 12 ein Ausgangssignal erzeugt, das die Weiterschaltung des Taktimpulsgenerators 11 verhindert und ein Anzeigegerät 13 sowie Schnelldrucker H betätigt, damit der Fehler angezeigt und aufgezeichnet wird. SomitThe output signals of the coincidence circuit 6 are via a line 10 is fed to a .Error blocking comparison circuit which simply contains gate circuits and is connected to its other input terminal receives signals from the scanner 5. When an output from the coincidence circuit 6 Signal simultaneously with an output signal of the Electronic scanning device 5 is applied to the error lock circuit 9, is of the error lock circuit An output signal is generated on line 12, which prevents the clock pulse generator 11 from being switched on and operates a display device 13 and high-speed printer H to display and record the error. Consequently

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kann entsprechend einem im Bandkassettengerät 4 enthaltenen vorbestimmten Programm jede Klemme eines zu prüfenden Systems der Reihe nach mit Masse verbunden und jede andere Klemme abgetastet werden, damit"das Vorhandensein von unerwünschten Verbindungen zwischen den Klemmen festgestellt wird. Natürlich werden das Anzeigegerät 13 und der Schnelldrucker 14 ebenfalls unter Steuerung durch den Taktimpulsgenerator betrieben, wie es bei synchronen Systemen üblich ist, jedoch sind die entsprechenden Verbindungen in der Zeichnung nicht gezeigt.each terminal can be tested according to a predetermined program contained in the tape cassette apparatus 4 The system is connected in turn to ground and every other terminal is scanned so that "the presence of undesired connections between the Clamping is detected. Of course, the display device 13 and the high-speed printer 14 are also under control operated by the clock pulse generator, as is common in synchronous systems, but the corresponding Connections not shown in the drawing.

Es ist offensichtlich, daß das beschriebene Gerät sich insbesondere für die Verdrahtung von Schalttafeln und gedruckten Schaltungsplatten eignet. Durch die Anwendung der elektronischen Abtastung in der zuvor beschriebenen Weise wird eine schnelle Prüfung erleichtert, und es kann die elektrische Verbindung zwischen einem bestimmten Punkt und einem weiteren Punkt geprüft werden; ebenso kann die Beziehung eines bestimmten Punktes mit einer größeren Anzahl von anderen Punkten im Hinblick auf elektrische Verbindungen überprüft werden, so daß sowohl fehlerhafte Querverbindungen als auch Unterbrechungen festgestellt werden können.It is obvious that the device described is particularly useful for wiring switchboards and printed circuit boards. By using electronic scanning in that previously described Way, a quick test is facilitated, and it can establish the electrical connection between a certain point and one more point to be checked; so can the relationship of a particular point with a larger one Number of other points to be checked with regard to electrical connections, so that both faulty Cross connections as well as interruptions can be determined.

Claims

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1.' Electrical test device, characterized by an arrangement with semiconductor switches for scanning a number of points or terminals in one to be tested electrical system in relation to another point or another terminal of the system so that the presence or lack of electrically conductive paths between one point or clamp and the other point or the other terminal is detected.

2. Apparatus according to claim 1, characterized by a data storage device, which have a predetermined program. contains, and by a comparison device which Signals assigned to a predetermined point or a predetermined terminal of the system to be tested and are derived according to a stored program, compared with signals that the other Point or belong to the other terminal and are generated during a scanning process in such a way that a connection error between the one point or one terminal and the other point or the other terminal as a function of is indicated by the plague of the presence or absence of a conductive path between them.

3. Apparatus according to claim 2, characterized in that signals which are derived from the comparison device and are assigned to a point or a terminal for which a connection error is displayed, a recording device are fed.

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4. Apparatus according to claim 3, characterized by a device for applying a predetermined electrical Potential (possibly ground potential) to one of several terminals of the system to be tested, whereby the data storage device contains a program according to which the terminals are sequentially switched to the potential sensing device so that the terminals of the device under test can be switched in sequence with respect to the terminal to which the predetermined Potential is applied, and thus an output signal is supplied, which is an erroneous or undesired electrical connection between these terminals indicates a clock pulse generator for synchronous operation the scanning device, a coincidence circuit which compares signals derived from the program with signals, which are generated by a counter and deliver an output signal when a match occurs, that identifies a specific terminal, a Pehler blocking device to which the output signals the coincidence unit are applied, and the output signals of the scanner receives when a predetermined electrical relationship between the There is a predetermined potential connected terminal of the system to be tested and another terminal, and through an error indicator, responsive to the output of the error lockout means, for making the determination to record an error, the output signal of the error blocking device also for blocking the further Operation of the clock pulse generator is used.

5. Apparatus according to claim 4, characterized in that the scanning device comprises a binary coded decimal counter which contains TTL logic circuits, and that the addressable short circuits contain the bipolar transistor elements of integrated TTL logic circuits.

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