DE2047878C

DE2047878C - Circuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular telephone switching systems, with test and occupancy circuits

Info

Publication number: DE2047878C
Application number: DE19702047878
Authority: DE
Inventors: Günther Dipl Ing 8000 Mun chen Knorpp Eberhard Dipl Ing 8025 gauting Rana Bhakta Dipl Ing 8000 München Hayd
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Filing date: 1970-09-29
Publication date: 1972-02-03

Description

ι 2ι 2

Die ErHtIdUiIg bezieht sich auf eine Schaltungs- einsetzende Prüfen zweier Wühler über einen Aus-The ErhtIdUiIg relates to a circuit-commencing test of two probes via an output

anordiuiug für Ferumelde-VerniittUingsanlagen, ins- gang bringt also die Gefuhr da Doppelaufprüfensanordiuiug for Ferumelde-VerniittUingsanlagen, and in transition so the Gefuhr brings as Doppelaufprüfens

besondere Fernsprech-VermittliingsnnlHgcn, mit den auf ein und denselben freien Belegungsstromkreisspecial Fernsprech-VermittliingsnnlHgcn, with the one and the same free occupancy circuit

Belegungszustand — frei oder besetzt — von Be- mit sich. Unter Doppelaufprüfen versteht man alsoOccupancy status - free or occupied - by itself. So one understands by double checking

legungsstromkreisen hochohmig prüfenden und freie 5 das zufällige gleichzeitige Prüfen (Parallelprüfen) mitlaying circuits with high resistance testing and free 5 random simultaneous testing (parallel testing) with

Beleguugssfromkreise niederohmig sperrenden Prüf- dem Ergebnis des zweifachen Sperrens ein und des-Occupancy circles low-resistance blocking test - the result of the double blocking and des-

schaltungen. selben Belegungsstromkreises durch zwei an sichcircuits. same occupancy circuit by two per se

Derartige Prüfschaltungen sind durch die weit- voneinander unabhängige Prüfschaltungen.
verbreitet eingeführte Motordrehwählertechnik be- Um diesen Schwierigkeiten zu begegnen, wurde kannl. Hierin sind ein schnell arbeilendes Prüfrelais io durch eine Schaltungsanordnung gemäß deutscher zur Motorstillsetzung und ein langsameres, durch Auslegeschrift 1 151028 vorgesehen, über einen das Prüfrelais eingeschaltetes Prüfhilfsrelais vorge- Kontakt eines Prüfrelais, das in bekannter Weise mit sehen, durch welches ein zufälliges Parallelprüfen Pluspotential auf Minuspoiential (Freipotential am zweier Wähler auf denselben freien Ausgang auf Belegungsstromkreis) prüft, ein mittels Kondensator-Grund der Stromteilung auf zwei Prüfhilfsrelais er- 15 Umladung überhöhtes Pluspotential über die eigene kennbar ist. In diesem Sonderfall des Parallelprüfens Wicklung des Prüfrelais auf die Prüfleitung abzuwird das Zustandekommen einer Doppelverbindung geben, wenn das Prüfrelais anspricht. Dieses überdadurch verhindert, daß trotz der Stillsetzung beider höhte Pluspotential bewirkt, daß bei Steigerung der Wähler auf einem Ausgang deren beide Prüf- Erregung des eigenen Prüfrelais ein eventuell gleichhilfsrelais, die jeweils zur Verbindungsdurchschaltung 20 zeitig prüfendes Prüfrelais nicht nur gesperrt wird, vorgesehen sind, auf Grund der Stromteilung nicht sondern Gegenerregung erhält, wodurch es ahgeansprechen können. Diese Betriebsbedingungen worfen wird. Finden also gleichzeitig zwei Prüfsct/en für die Widerstandstoleranzen der Belegungs- vorgänge seitens zweier Prüfrelais über ein und denstromkreisc enge Grenzen. . selben Bclegungsstromkreis statt, so kommt dasjenigeSuch test circuits are test circuits that are largely independent of one another.
widely introduced motor rotary selector technology. A fast working test relay io is provided here by a circuit arrangement according to German for engine shutdown and a slower one, provided by Auslegeschrift 1 151028, via a test relay switched on by the auxiliary test relay Minuspoiential (free potential on two selectors on the same free output on the occupancy circuit) checks that a positive potential that is excessive by means of the capacitor base of the current division on two auxiliary test relays can be identified via its own. In this special case of parallel testing, the winding of the test relay on the test line will result in a double connection when the test relay responds. This also prevents that, despite the shutdown of both, the increased positive potential causes that when the voters increase at an output, their test excitation of their own test relay, a possibly equal auxiliary relay, which is not only blocked for connecting through circuit 20 at the time testing relay, are provided on Reason for the current division not but receives counter-excitation, whereby it can respond. These operating conditions are thrown. So find two test sct / s for the resistance tolerances of the occupancy processes on the part of two test relays over one and the circuit narrow limits at the same time. . instead of the same reference circuit, that comes to mind

Is kommt aber häufig vor, daß die in einer Ver- 25 Prüfrelais, das zuerst ^Küine Kontakte schließt, heniiltlungsslelle belegbaren Leitungen und Schalt- schleunig! zum Durchzug, wohingegen das jeweils einrichtungen Belegungsstromkreise mit erheblich etwas langsamere von dem schnelleren abgeworfen voneinander abweichenden Widerstandswerten auf- wird. Für den Fall der gleichzeitigen Kontaktweisen. Insbesondere w;khen die Werte der elektro- betätigung sind jedoch keine Vorkehrungen zur Vermagnetischen Kurzschlußdämpfuug herkömmlicher 30 hindcrung einer Doppelverbindung getroffen.
Belegungsrelais erheblich voneinander ab. Hierzu Zur Überwindung der Gefahr des Doppelaufprüfens im Freizustand von Belegungsstromkr -isen kurz- dient eine weitere Schaltungsanordnung der eingangs geschlossene Zweitwicklungen solcher Belegungs- definierten Art, die durch die deutsche Patentschrift relais haben auf den Belegungsstromkreis bekannt- 1 171)476 bekannt ist. Hierin wird nach einer ersten lieh die Wirkung, daß bei Beginn eines Prüfvorganges 35 Feststellung des Freipolentials eines Belegucgsiii jenen der Stromanstieg sehr viel steiler verläuft als Stromkreises dieser während eines bestimmten Zeitbei Fehlen einer solchen Kurzschlußdämpfung. Intervalls zunächst vorübergehend gt.-tperrt. Danach Praktisch steigt der Prüfstrom bei Beginn des Prüf- wird die Sperrung abgeschaltet und dadurch fine ervorganges sprungartig auf einen Stromwert an, der r.eute Prüfung eingeleitet. Wird nun wiederum das im wesentlichen durch die Summe des Ohmschcn 40 Freipotential vorgefunden, so wird der Belegungs-Widerstandes im Beleguiigsstromkrcis und des trans- Stromkreis erneut und nun endgültig gesperrt. Der formierten Widerstandes der kurzgeschlossenen Bclegungsvorgang ist damit beendet. Bei mehreren Zweitwicklung bestimmt ist. Dieser sprungartig er- gleichen deraitigen, unter Umständen dieselben Bereichte Stromwert ist für elektronisch arbeitende lcgungsstmmkieise prüfenden Prüfschaltungen sind Prüfschaltungen zentral gesteuerter Fernsprech-Ver- 45 die Zeitintervalle sämtlich verschieden groß eingemiitlungsanlagen, deren für den Prüfvorgang ver- stellt. Ferner ist die zweite Prüfung zeitlich begrenzt, fügbare Zeit bekanntlich sehr begrenzt ist, die für Die hierzu zur Verfügung stehende Zeitspanne (die die Frci-Bcsctzt-Prüfung ausschlaggebende Meß- sich also an das jeweilige Zeitintervall der betreffcngröl.ie. Fs wird also beim Prüfvorgang nicht der den Prüfschaltung zur vorübcrgenden Sperrung ganze Finschwingvorgang des Stromanslieges im 50 des geprüften Belegimgsslromkrciscs anschließt) ist Prüfslromkreis abgewartet. Da die elektrischen Werte kleiner als jede der Differenzen zwischen den Zeitder geiiiinn'en kurzgeschlossenen Zweitwicklungen Intervallen der verschiedenen Prüfschallungen. Vermitunter stark voneinander abweichen, variieren streicht also die Zeitspanne für die zweite Prüfung, mit den hieraus resultierenden Iraiisformatorischcn so ist damit der Prüfvorgaug einer Prüfschaltung mit Widerstünden verschiedener Belegungsstromkreise 55 negativem Ergebnis beendet. Mit Hilfe dieser Maßaiich deren Stromsvertc, die bei Priifbcginn, wie an- nähme wird ein Doppelprüfcn mit größter Sicherheit gegeben, sprungartig erreicht werden. Diese Ab- dadurch unterbunden, daß bei gleichzeitig einsctzenwcichungcn voneinander sind so stark, daß eine den Prüfvorgängen und folglich zwei parallelen Feststellung von ParallelprüffäHen mittels Strom- Sperrvorgängen zweier Prüfschaltungen diese ihren prüfung wie beim Prüfhilfsrelais von Motordreh- 60 jeweiligen zweiten Prüfvorgang und gegebenenfalls Wühlern, wie oben angegeben, nicht möglich ist, denn Sperrvorgang zu verschiedenen Zeitpunkten wiederdurch Stromprüfung ist ein ordnungsgemäßes Einzel- holen und daß die Prüfschaltung mit dem jeweils prüfen auf einen freien Belegungsstromkreis mit kleineren Zeitintervall hierbei den Belegungsstrom* relativ großem Gcsamtwideratandswert (Ohmscher kreis innerhalb ihrer Zeitspanne für den zweiten Widerstand plus transformatorischer Widerstand) von Gs PrUfvorgang als gesperrt vorfindet und sich abeinem Doppelprüfen auf einen freien Belegungs- schaltet, wohingegen die Prüfschaltung mit dem Stromkreis mit relativ kleinem Gesnmtwiderstand größeren Zeitintervall bei ihrem zweiten PrUfvorgang nicht unterscheidbar. Das parallele, also gleichzeitig den Belcgungsslromkreis als frei vorfindet und ihn But is often happens that the test relay 25 in a comparison, closes the first ^K üine contacts heniiltlungsslelle assignable lines and switching speedily! to the draft, whereas the respective device occupancy circuits with considerably somewhat slower from the faster thrown off resistance values that deviate from one another will open up. In case of simultaneous ways of contact. In particular, when the values of the electric actuation are changed, no precautions have been taken to prevent magnetic short-circuit damping of conventional double connections.
Occupancy relays differ significantly from each other. For this purpose, to overcome the risk of double checking in the free state of occupancy current crises - briefly - another circuit arrangement of the initially closed second windings of the type defined by the German patent specification relais have known on the occupancy circuit - 1 171) 476 is known. Here, according to a first, the effect is that at the beginning of a test procedure 35 determination of the free polarity of a document that the current rise is much steeper than that of the circuit during a certain time in the absence of such short-circuit damping. Interval temporarily blocked. Thereafter, the test current practically rises at the beginning of the test, the blocking is switched off and the fine-tuning process suddenly rises to a current value that initiates the next test. If the free potential is found again essentially through the sum of the ohmic 40 free potential, then the occupancy resistance in the occupancy current circuit and the trans current circuit is blocked again and now finally. The formed resistance of the short-circuited covering process is thus ended. When several secondary windings are determined. This abruptly similar, possibly the same reported current value is for test circuits that test electronically working solution media, test circuits of centrally controlled telephone systems that all have different time intervals for the test process. Furthermore, the second test is limited in time, the time that can be added is, as is well known, very limited The test circuit is not followed by the entire test circuit for the temporary blocking of the current supply in the test circuit. Since the electrical values are smaller than each of the differences between the time of the two internally short-circuited secondary windings, the intervals of the various test noises. Occasionally strongly differ from one another, vary, that is, the time span for the second test is deleted, with the resultant informational information, the test procedure of a test circuit is ended with the resistance of various occupancy circuits 55 negative result. With the help of this measure, their power output, which at the start of the test, as would be assumed, a double test is given with the greatest certainty , are suddenly reached. This is prevented by the fact that at the same time einctzenwcichungcn from each other are so strong that one of the test processes and consequently two parallel determination of parallel testing by means of current blocking processes of two test circuits this their test as with the auxiliary test relay of motor rotation- 60 respective second test process and possibly probes, such as specified above, is not possible, because the blocking process at different times again by current test is a proper individual fetch and that the test circuit with the test for a free occupancy circuit with a smaller time interval here the occupancy current * relatively large total resistance value (Ohmic circuit within its time span for the second resistance plus transformer resistance) found by Gs test process as blocked and switches to a free occupancy after a double test, whereas the test circuit with the circuit with a relatively small total resistance size ren time interval indistinguishable in their second test process. The parallel, that is, at the same time, finds the occupancy circuit as free and finds it

sperrt. - Sollte dieser zweite PrUfvorgnng wiederum höheren Potentialstufe liegt, als von der eigenenlocks. - Should this second test procedure again have a higher potential level than your own

mit dem erster, Prüfvorgang einer dritten Prüf- Prüfschaltung angesclmltet ist.is connected to the first test process of a third test test circuit.

schaltung zeitlich zusammenfallen, so würden zwar ,,,,,.,^trPiiiiiinencircuit coincide in time, so would ,,,,,., ^ trPiiiiiinen

einerseits die genannte Prüfschaltung mit dem Zeitschalter unterliegen Fertigun^»»»^";on the one hand the mentioned test circuit with the time switch are subject to manufacture ^ »» »^";

größeren Zeitintervall und andererseits die genannte 5 Hieraus resultieren ScbaltzeitunterschitdtPlus«.wtrlarger time interval and, on the other hand, the mentioned 5 This results in switching time difference plus «.wtr

dritte Prüfschaltung den Belegungsstromkreis zu- den in für Prüfvielfachschaltungen an sicJi btkjjn uthird test circuit to the occupancy circuit in for test multiple circuits to sicJi btkjjn u

nächst parallel sperren, aber die dritte Prüfschaltung Weise benutzt, um von zwei unter Umstanden zu ii_b next block in parallel, but the third test circuit is used to check out of two under certain circumstances ii _b

würde bei ihrem zweiten Priifvorgang den Belegungs- zugleich mit ein und demselben freienthe occupancy would be free at the same time with one and the same in their second test process

Stromkreis als gesperrt vorfinden und sich abschalten, Stromkreis verbundenen PruischaltungenFind the circuit as blocked and switch off, circuit connected test circuits

wohingegen die erste Prüfschaltung innerhalb ihrer io Zuge zu bringen. Hierbei wird durch üiewhereas bring the first test circuit within its io trains. Here is by üie

Zeitspanne für den zweiten Prüfvorgang den Be- gemäße, zeitlich versetzte, stufenweise Heran se tzimy Time for the second test procedure proper to loading, staggered over time, gradually approach se tzi my

legungsstramkreis als frei vorfindet und ihn end- des Spcrrpotentials ermöglicht, durch binsaw cmuFinding stramkreis as free and makes it possible at the end of the Spcrrpotentials, through binsaw cmu

gültig sperrt, wodurch ihr Prüfvorgang mit eindeutig entsprechenden Anzahl von Zeitschaltern unu nivalid locks, whereby your test process with a clearly corresponding number of time switches unu ni

positivem Ergebnis beendet ist. wendung entsprechend v.eler P⁰«¹"¹³¹⁵¹»^"ends with a positive result. application according to v.eler P ⁰ « ¹ " ¹³¹⁵¹ »^"

Diese zuletzt beschriebene Schaltungsanordnung 15 einen Sicherheitsgrad zur Unterbindung von "⁰PP"-erreicht den Vorteil der Sicherheit gegen das Doppel- aufprüffällen zu schaffen, der nach den jeweils vm prüfen und somit gegen das Zustandekommen von liegenden Betriebsbedingungen erforclerliui isi. r. Doppelverbindungen dadurch, daß alle unter Um- sei beachtet, daß der jeweils erreichbare gesamt., ständen parallel prüfenden Prüfschaltungen hinsieht- Sicherheitsßrad sich aus dem mit einer Potemiaisiuijlich ihrer Zeitintervalle der vorläufigen Sperrung ver- 20 und einem Zeitglicd gegeben·/: Sicnerlieiigr.ii. schieden eingestellt werden. Hierbei muß nicht nur potenziert mit der Anzahl der Kitnitia stu uny-n, das Zeitintervall jeder Prüfschaltung durch ent- ergibt. Unter Ausnutzung lediglich von ohnehin ansprechende Einstellung anders bemessen werden als gebenen Fertigungsstreuungen geht also du· triindie Zeitintervalle aller anderen Prüfschaltungen, dung von einem begrenzten Sicherheitsgrad aus ersondern die kleinste der Differenzen zwischen jedem 25 laubt über, diesen durch Anwendung weiteru Zeitintervall und jeweils allen anderen Zeitintcrvallcn Potentialstufen genviß einer entsprechenden 1 oiuiniuß noch größer sein als die größte Zeitspanne, die zierung in jedem erforderlichen Maße zu steigein jeder der Prüfschaltungen für den /weiten Prüf- und den jeweils vorliegenden Betriebsbedingungen Vorgang zur Verfügung gestellt wird. Hieraus rc- anzupassen. Dies ermöglichen in schaltungsiccnmscii sultiert eine komplexe Gesamt-Zeitbedingimg, die an 30 sehr einfädler Weise die der stufenweise!! Heraul die Einstellung aller Prüfschaltungen bei ihrer Her- setzimg des Sperrpotentials dienenden Zeitschalter, stellung und Wartung hohe Anforderungen stellt. die sich wegen ihrer im Prinzip gleichartigen Den hieraus für die Produktion und den Betrieb Wirkungsweise (stufenweise Potentialumscha lung resultierenden Aufwand einzuschränken, ist eine der nach vorgegebener Schallzeit) in beliebiger Zahl anAufgaben der Erfindung. Ferner soll durch eine gc- 35 einanderreihen lassen.This last-described circuit ^{arrangement 15 achieves a degree of security to prevent "0} PP" - achieves the advantage of security against double-checking, which is checked after the respective vm and is thus required against the occurrence of existing operating conditions. r. Double connections in that all of them, while paying attention to the fact that the respectively achievable total., Stand parallel checking test circuits would look - safety measure is given from the with a Potemiaisiuijlich its time intervals of the provisional blocking and a time glicd given /: Sicnerlieiigr.ii. divorced. In this case, not only must the number of Kitnitia stu uny-n be exponentiated, the time interval of each test circuit must result from ent. Taking advantage of the already appealing setting, differently measured than the given manufacturing deviations, therefore, the time intervals of all other test circuits go through, that is, from a limited degree of security, the smallest of the differences between each 25 leaves this through application of further time interval and in each case all other time intervals Potential levels according to a corresponding 1 ouini must be even greater than the largest period of time, the ornamentation is made available to increase in any required degree in each of the test circuits for the / wide test and the respective operating conditions process. From this rc- adapt. This enables a complex total time condition resulting in schaltungsiccnmscii, which in 30 very threading ways that of the gradual !! Heraul, the setting of all test circuits in their establishment of the blocking potential serving time switch, setting and maintenance makes high demands. which, because of their basically similar denominations for the production and the operation mode of action (step-by-step potential switchover, effort resulting therefrom, is one of the tasks of the invention according to a given sound time) in any number. Furthermore, a gc- 35 should be lined up.

eignete Ausnutzung der die elektrischen Werte der Ferner wird durch die Erfindung erreicht, da«. Bauteile betreffenden Fertigungsstreuungen ein nach sofern ein Parallelprüfen zweier Prufsch.-mungcii den jeweils vorliegenden Betriebsbedingungen wahl- überhaupt einmal aufgetreten ist, während des Ausweise festzulegender Sicherheitsgrad gegen Doppcl- scheidungsvorganges zwischen diesen beiden sich aufprüfen erreichbar sein. Ferner soll die Gefahr, ₄₀ nachträglich keine dritte Prüfschaltung m den Ausdaß im Falle des parallelen Prüfens zweier Prüf- scheidungsvorgang einmischen kann, wie es wie schaltungen nach Ausscheidung einer derselben eine dargelegt — bei bekannten Schaltungsanordnungen dritte Prüfschaltung sich in ein paralleles Prüfen mit der Fall ist. . der anderen, also nicht ausgeschiedenen der beiden In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der ersten Prüfschaltungen einreiht, um sich anschließend 45 Erfindung mit nur wesentlich zu ihrem Verständnis wieder von der anderen Prüfschaltung ausscheiden beitragenden Bestandteilen dargestellt, worauf sie /u lassen, unterbunden werden; es soll also ver- jedoch keineswegs beschränkt ist. hindert werden, (W in einem ohnehin aussichtslosen Ein Bniegungsstromkrcis verläuft über die Wicklun-FaIIe — also aussichtslos für die dritte Prüf- gen I und II eines Relais C. Die Wicklung II ist schaltung — ein von vornherein erfolgloser Prüf- 50 durch einen relaiseigenen Ruhekontakte im Ri'¹"-'-vorgang zunächst eingeleitet wird. zustand des Relais überbrückt. Ferner ist der Pruf-Appropriate utilization of the electrical values of the furthermore is achieved by the invention because «. Manufacturing deviations affecting components can be achieved after a parallel test of two test mungcii the respectively existing operating conditions has occurred at all, during the identification document to be determined against double separation process between these two test each other. Further, to the danger of ₄₀ subsequently m no third test circuit to Ausdaß in the case of parallel testing may interfere two test discriminating operation, as such circuits by precipitation of a same set a - is in the known circuit arrangements third test circuit in parallel testing with the case . . the other, i.e. not separated, of the two In the drawing, an exemplary embodiment of the first test circuits is lined up in order to then be shown with only components that are essential to your understanding of the other test circuit, whereupon they / u can be prevented; it is therefore intended to be ver but in no way restricted. (W in an already hopeless A bending current cycle runs over the winding case - so hopeless for the third tests I and II of a relay C. The winding II is connected - a test that was unsuccessful from the start due to a relay's own break contacts in the Ri ' ¹ "-'- process is initially initiated. State of the relay is bridged.

Die erläuterten Aufgaben werden erfindungsgemäß schaltarm eines Wählers V dargestellt. Eine aus denAccording to the invention, the tasks explained are shown for a selector V with little switching action. One of the

durch eine Schaltungsanordnung gelöst, in der übrigen Teilen der dargestellten Schaltungsanordnungsolved by a circuit arrangement, in the remaining parts of the circuit arrangement shown

folgende Merkmale kombiniert sind: bestehende Prüfschaltung ist über den Prufschalta.mThe following features are combined: Existing test circuit is via the Prufschalta.m

a) Eine Prüfschaltung schaltet nach Feststellung ⁵⁵ a) A test circuit switches after finding ⁵⁵

Prüfvorgänge) über einen eigenen Sperrstrom- ^wf'^se dargestellt ist. Mil nine uci πυ^ωι..»..« kreis Sperrpotential an und setzt dieses in Rieh- ^w'"^d festgestellt, ob der jeweils über den Prüfschaltung zunehmender Sperrwirkung stufenweise ^{6o ar}m des Wählers erreichte Belegungsstromkreis frei herauf; oder besetzt ist. Hierbei dient die dargestellte Prüf-......... · ,, , . schaltune im besonderen zur Verhinderung vonTest processes) via its own reverse current ^w f ' ^{se is} shown. Mil nine uci πυ ^ ωι .. »..« circuit blocking potential and sets this in Rieh- ^w '" ^d determined whether the occupancy circuit, which is gradually increasing via the test circuit, is ^either free or occupied. The test shown here serves in particular to prevent

b) für die stufenweise Heraufsetzung des Sperr- _Doppelp7üffällen.b) oppelp7üffällen for the gradual raising of the barrier _D.

potentials ist pro SMe je ein Zeitschalter vor- _{wie bereits} _ausgeführt wurde, kommt es häufigpotential is one time switch per SMe, _{as has already been} _explained , it happens frequently

gesehen; _{6s vof)} j_aß ^j₆ j_{n e}j_ner Vermittlungsstelle belegbarenseen; _{6s vof)} j _a ß ^ j ₆ j _ne j _ner switching center assignable

c) ein im Sperrstromkreis liegender Diskriminator Leitungen und Schalteinrichtungen Belegungsstromerkennt Sperrzustand daran, daß- am Eingang kreise mit erheblich voneinander abweichenden des Belegungsstromkreises Sperrpotential einer Widerstandswerten aufweisen. Insbesondere weichenc) a discriminator located in the reverse current circuit detects lines and switching devices occupancy current Locked state because - at the input circles with significantly different from each other of the occupancy circuit have blocking potential of a resistance value. In particular, soft

ilie Werte der elektromagnetischen Kurzschluß- fallende Tcilspannung wird die Emitter-Basis-Strecke dämpfung herkömmlicher Belegungsrelais auf Grund des Transistors Γ 2 stromdurchlässig. Dadurch wird der Relaisdaten der verschiedenen Bauarten stark dem Widerstand W 6 der Widerstand WA parallel voneinander ab. Zum Zwecke der Kurzschluß- geschaltet und das Spannungsteilerverhältnis so verdampfung im Freizustand von Belegungsstromkreisen 5 ändert, daß nunmehr an der Basis des Transistors kurzgeschlossene Zweitwicklungen solcher Belcgungs- T1 ein Teilpotential von — 30 V liegt. Dieses Teilrclais, z.B. die Wicklung II des Belegungsrelais C, potential steuert den Transistor Tl in bekannter haben auf den Belegungsstromkreis bekanntlich die Weise so weit auf, daß infolge eines demgcmäßen Wirkung, daß bei Beginn eines Prüfvorganges in Stromes über den Gleichrichter G und den Widerjenem der Stromanstieg sehr viel steiler verläuft als io stand W 1 und über den Belegungsstromkreis am bei Fehlen einer solchen Kurzschlußdämpfung. Prak- Emitter des Transistors T1 etwa das gleiche Teillisch steigt der Prüfstrom bei Beginn des Prüf- potential erscheint wie an seiner Basis.
Vorganges sprungartig auf einen Stromwert an, der Infolge Durchschaltens des Transistors Γ 2 wird im wesentlichen durch die Summe einerseits des außerdem ein Zeitschattglied Z1 angestoßen. Nach Ohmschen Widerstandes im Belegungsstromkreis, 15 einer festgelegten Schaltzeit betätigt es seinen Konz. B. Widerstandswert der Wicklung I des Belegungs- takt ζ 1. Dadurch wird auch der Widerstand R 1 dem relais C. und des transformierten Widerstandes der Widerstand W 6 des Spannungsteilers parallel gekurzgeschlossenen Zweitwicklung. z.B. Wicklung II schaltet. Infolgedessen verschiebt sich das Teildes ßelcgungsrelais C, bestimmt ist. Dieser sprung- potential an der Basis des Transistoren von— 30 V artig erreichte Stromwert ist für die vorliegende, »o nach —20 V. Dadurch wird der Transistor 7" 1 elektronisch arbeitende Prüfschaltung einer zentral weiter aufgesteuert. Über seine Emitter-Basis-Strecke gesteuerten Fernsprech-Vermittlungsanlage, deren für stellt sich ein Strom ein, durch den an seinem den Prüfvorgang verfügbare Zeil bekanntlich sehr Emitter ebenfalls ein Teilpotential von etwa — 20 V begrenzt ist, die für die Frei-Besetzt-Prüfung aus- erscheint. Dadurch wird das Sperrpotential am Einschlaggebende Meßgröße. Es wird also beim Prüf- as gang des Belegungsstromkreises in Richtung zuvorgang nicht der ganze Einschwingvorgang des nehmender Sperrwirkung weiter angehoben.
Stromanstieges im Prüfstromkreis abgewartet. Da Gleichartige Vorgänge wiederholen sich bei Abdie elektrischen Werte der genannten kurzgeschlosse- lauf der Schaltzeit des Zeitschaltgliedes Z 2 und bei nen Zweitwicklungen mitunter stark voneinander ab- Ablauf der Schaltzeit des Zeitschaltgliedes Z 3. Daweichen, variieren mit den hieraus resultierenden 30 durch wird in zwei weiteren Stufen das Spenpotential transformatorischen Widerständen verschiedener Be- am Eingang des Belegungsstromkreises zweimal in legungsstromkreise auch deren Stromwerte, die bei Richtung zunehmender Sperrwirkung stufenweise Prüfbeginn, wie angegeben, sprungartig erreicht wer- heraufgesetzt. Der Widerstand R 3 ist so bemessen, den. Diese Abweichungen voneinander sind so stark, daß nach Ende des gesamten Prüfvorganges det daß eine Feststellung von Parallelprüffällen mittels 35 Transistor T1 völlig durchgesteuert ist.
Stromprüfung nicht möglich ist, denn durch Strom- Es sei nun der Fall betrachtet, daß zwei Prüfprüfung ist ein ordnungsgemäßes Einzelprüfen auf schaltungen der dargestellten Art zugleich mit demeinen freien Belegungsstromkreis mit relativ großem seihen Belegungsstromkreis über zwei Prüfschaltarme Gesamtwiderstandswert (Ohmscher Widerstand plus zweier zugeordneter Wähler verbunden werden, transformatorischer Widerstand) von einem Doppel- 40 Hierbei sei ferner davon ausgegangen, daß die Schaltprüfen auf einen freien Belegungsstromkreis mit zeiten beider Transistoren T1 und beider Tranrelativ kleinem Gesamtwiderstand nicht unterscheid- sistoren T 2 gleich sind. Dadurch wird über beide bar. Das parallele, also gleichzeitig einsetzende Transistoren je ein Sperrstromkreis hergestellt. Es Prüfen zweier Wähler über einen Ausgang wird liegen also zwei Speirstromkreise parallel. Der gedeshalh durch die in der Zeichnung dargestellte 45 meinsame Verzweigungspunkt liegt am Eingang des Schaltungsanordnung auf andere Weise ermittelt. Belegungsstromkreises (Wicklung II des Relais C). Im Ruhezustand der in der Zeichnung darge- An den Emittern beider Transistoren liegt ein ieilstellten Schaltungsanordnung liegt auf Grund ent- potential von — 40 V. Es ist also ein Parallelprüffall sprechender Bemessung der Widerstände WS und eingetreten.With the values of the electromagnetic short-circuit falling Tcilvoltage, the emitter-base path attenuation of conventional occupancy relays becomes current-permeable due to the transistor Γ 2. As a result, the relay data of the various types is strongly dependent on the resistor W 6 and the resistor WA parallel to each other. For the purpose of short-circuit switching and the voltage divider ratio changes so evaporation in the free state of occupancy circuits 5 that now at the base of the transistor short-circuited secondary windings of such occupancy T 1 a partial potential of -30 V is. This Teilrclais, for example the winding II of the occupancy relay C, potential controls the transistor Tl in a known manner on the occupancy circuit is known to have so far that as a result of a demgcmormen effect that at the start of a test in current through the rectifier G and the Widerjenem Current rise is much steeper than io stood W 1 and over the occupancy circuit on in the absence of such short-circuit damping. Prak emitter of the transistor T 1 rises about the same part table, the test current increases at the beginning of the test potential as appears at its base.
Process abruptly to a current value, the result of the switching on of the transistor Γ 2 is triggered essentially by the sum on the one hand of the also a time shadow element Z1. After the ohmic resistance in the occupancy circuit, 15 a set switching time, it operates its conc. B. Resistance value of winding I of occupancy clock ζ 1. This also makes resistor R 1 parallel to relay C. and the transformed resistor, resistor W 6 of the voltage divider short-circuited secondary winding. e.g. winding II switches. As a result, the part of the cancellation relay C is shifted. This jump potential at the base of the transistor of -30 V-like current value is for the present,> 0 to -20 V. This means that the transistor 7 "1 electronically operating test circuit is further controlled centrally. Via its emitter-base path controlled telephone switching system, for which a current is established through which, as is well known, a partial potential of about -20 V is also limited by the emitter available for the test process, which appears for the free-busy test Blocking potential at the decisive measured variable, ie not the entire transient process of the increasing blocking effect is further increased during the test run of the occupancy circuit in the direction of the previous run.
Waited for a current rise in the test circuit. Since similar processes are repeated when the electrical values of the mentioned short-circuit run of the switching time of the time switch element Z 2 and in the case of secondary windings sometimes differ greatly from one another At the input of the occupancy circuit, graduate the spen potential of transformer resistances twice in the enrollment circuits, including their current values, which are suddenly reached in the direction of the increasing blocking effect, as the test begins, as indicated. The resistance R 3 is dimensioned so that. These deviations from one another are so great that at the end of the entire test process det that a determination of parallel test cases by means of 35 transistor T 1 is completely controlled.
Current test is not possible, because by current it is now considered the case that two test tests are a proper individual test on circuits of the type shown at the same time with the one free occupancy circuit with a relatively large occupancy circuit connected via two test switch arms total resistance value (ohmic resistance plus two assigned selectors are transformational resistance) of a double 40. Here, it is also assumed that the switching assaying a free assignment circuit with times of both transistors T 1 and both Tranrelativ small total resistance not distinguishable sistoren T 2 are the same. This will bar over both. The parallel, i.e. simultaneously used, transistors each produce a blocking circuit. Two selectors are checked via an output, so two feed circuits are in parallel. The common branching point represented by the 45 shown in the drawing is determined in a different way at the input of the circuit arrangement. Occupancy circuit (winding II of relay C). In the idle state of the shown in the drawing there is a circuit arrangement set up at the emitters of both transistors due to a potential of -40 V. Thus, a parallel test of the dimensioning of the resistors WS and has occurred.

H' 6, die als Spannungsteiler dienen, an deren Ver- 50 Zur Verhinderung des Doppelaufpriifens, also deiH '6, which serve as a voltage divider, at whose connection 50 To prevent double testing, that is to say the

bindungspunkt und somit an der Basis des Tran- endgültigen zweifachen Sperrung des einen Be-binding point and thus at the base of the tran- final double blocking of one

sistorsTl ein Teilpotential von —40 V. Wird die legungsstromkreises über zwei Prüfschaltungen.sistorsTl a partial potential of -40 V. If the legungsstromkreises over two test circuits.

dargestellte Prüfschaltung über den Prüfschaltarm dienen nun die in beiden Prüfschaltungen vorge-The test circuit shown above the test switch arm is now used for the two test circuits.

des Wählers V mit dem über das Relais C führenden sehenen Ketten vcn je 3 Zeitschaltgliedern Z1, Z 2of the selector V with the chain of 3 time switching elements Z1, Z 2 seen leading via the relay C

Belegungsstromkreis verbunden, so wird der Tran- 55 und Z 3. Es ist davon ausgegangen, daß die Schalt-Occupancy circuit connected, the Tran- 55 and Z 3. It is assumed that the switching

sistor T1 auf Grund des über den Belegungsstrom- zeiten auf Grund der Fertigungstoleranzen deisistor T 1 due to the occupancy current times due to the manufacturing tolerances dei

kreis wirkenden, gegenüber dem genannten Teil- einzelnen Bauteile voneinander abweichen. Es seicircle acting, differ from each other compared to the named part individual components. Be it

potential negativeren Freipotentials (— 60 V) teil- also angenommen, daß die Schaltzeiten der beidenpotential of more negative free potential (-60 V) so assumed that the switching times of the two

weise aufgesteuert, so daß nach Maßgabe des ge- Zeitschaltglieder Zl der beiden Prüfschaltungenwisely controlled so that according to the timing elements Zl of the two test circuits

nannten Teilpotentials, des Freipotentials, der Wider- 60 etwas voneinander abweichen. Die Prüfschaltungcalled partial potential, the free potential, the resistance 60 differ somewhat from one another. The test circuit

standswerte der Widerstände W\ bis W 3 und des deren Zeitschaltglied Z1 die kürzere Schaltzeit hatvalues of the resistors W \ to W 3 and the time switch element Z1 of which has the shorter switching time

dynamischen Widerstandes des Belegungsstrom- verändert das Teilpotential am Eingang des Be-dynamic resistance of the occupancy current - changes the partial potential at the input of the loading

kreises (Ohmscher Widerstand plus transformatori- legungsstromkreises auf die beschriebene Weise vorcircuit (ohmic resistance plus transformer laying circuit in the manner described

scher Widerstand) in letzterem ein Strom fließt, an — 40 V auf — 30 V; es wird also in Richtung zu-shear resistance) in the latter a current flows, at - 40 V to - 30 V; so it is in the direction of

dessen Höhe mit Hilfe des Transistors T 2 erkennbar 65 nehmender Sperrwirkung heraufgesetzt. Die ander«its height increased with the help of the transistor T 2 recognizable 65 increasing blocking effect. The other «

ist, daß der über den Priifschaltarm des Wählers V Prüfschaltung ist noch nicht soweit. Ihr Zeitschaltis that the test circuit via the test switch arm of the selector V is not yet ready. Your time switch

erreichte Belegungsstromkreis frei ist: Durch eine glied Z1 hat seinen Kontakt ζ 1 noch nicht betätigtThe occupancy circuit reached is free: Due to a link Z1 has not yet activated its contact ζ 1

diesem Strom proportionale, am Widerstand W 3 ab- Deshalb liegt an dieser Prüfschaltung an der BasisThis current is proportional to the resistor W 3. This is why this test circuit is at the base

des Transistors T1 noch das ursprüngliche Teilpotential von —40 V, wohingegen an seinem Emitter bereits ein Teilpotential von — 30 V anliegt, das — wie zuvor angegeben — von der Prüfschaltung mit dem Zeitschaltglied mit der kürzeren Schaltzeit inzwischen angeschaltet wurde. Der Transistor T1 der anderen Prüfschaltung wird dadurch gesperrt. Letztere erkennt folglich den Belegungsstromkreis als besetzt.of transistor T 1 still has the original partial potential of -40 V, whereas its emitter already has a partial potential of -30 V, which - as stated above - has meanwhile been switched on by the test circuit with the timer with the shorter switching time. The transistor T 1 of the other test circuit is blocked. The latter consequently recognizes the occupancy circuit as occupied.

Der Transistor Tl arbeitet also ais Diskriminator: Er erkennt den Sperrzustand des Belegungsstromkreises daran, daß im Laufe des Prüfvorganges am Eingang des Belegungsstromkreises Sperrpotential einer in Richtung zunehmender Sperrwirkung höheren Potentialstufe liegt, als von der eigenen Prüfschaltung angeschaltet worden ist.The transistor Tl works as a discriminator: It recognizes the blocking state of the occupancy circuit by the fact that in the course of the test process at the input of the occupancy circuit there is blocking potential of a higher potential level in the direction of increasing blocking effect than has been switched on by its own test circuit.

Falls nun die Schaltzeiten der Zeitschaltglieder Z1 bzw. Z1 und Z 2 zweier Prüfschaltungen genau gleich sind, d. h. die Differenzen jeweils kleiner ak«. die Schaltzeit jedes der Transistoren T1 und Γ2 sind, wird mit Hilfe der Zettschaltglieder Z 2 bzw Z 3 eine Ausscheidung in der beschriebenen Weise durchgeführt.If the switching times of the time switch elements Z 1 or Z 1 and Z 2 of two test circuits are exactly the same, ie the differences are each less than ak «. are the switching time of each of the transistors T 1 and Γ2, a separation is carried out in the manner described with the aid of the Zett switch elements Z 2 and Z 3, respectively.

Bereits die Zeitschaltglieder Z1 verhindern mit einem bestimmten Sicherheitsgrad ein Zustandekommen von Doppelverbindungen. Ebenfalls ist durch die Zeitschaltglieder Z 2 und Z 3 je ein weiterer Sicherheitsgrad gegeben. Der Gesamtsicherheitsgrad ergibt sich aus dem Produkt der einzelnen Sicherheitsgrade. Demnach kann durch einfache Aneinanderreihung mehrerer Zeitschaltglieder und durch entsprechend mehrfache Stufung des Sperrpotentials eine praktisch beliebig hohe Sicherheit gegen DoppelvprhtnHiingpn ptviplt wprripn Iprfnrh wirrf ΤΠΒΪ! im praktischen Anwendungsfalle die Sicherheit den Betriebserfordernissen in geeigneter Weise anpassen. Hierzu bietet die Erfindung in vorteilhafter Weise eine bisher nicht dagewesene Freizügigkeit.The time switch elements Z1 already prevent double connections from occurring with a certain degree of security. The time switch elements Z 2 and Z 3 also provide a further degree of security. The overall degree of security results from the product of the individual degrees of security. Accordingly, by simply stringing together several time switching elements and by correspondingly multiple grading of the blocking potential, a practically arbitrarily high level of security against double vprhtnHiingpn ptviplt wprripn Iprfnrh can be confused! in a practical application case, adapt the security to the operating requirements in a suitable manner. To this end, the invention advantageously offers unprecedented freedom of movement.

Ferner sei auch noch eine Abwandlung des erfindungsgemäßen Ausführungsbeispiels erwähnt. Danach sind die Ausgänge der Zeitschaltglieder, voneinander entkoppelt, zusammengeschaltet und über den Prüfschaltarm des Wählers V mit dem Belegungsstromkreis verbindbar. In jedem dieser Ausgänge liegt ein dem jeweiligen Zeitschaltglied zügeordneter Diskriminator. Der Sperrstromkreis wird nun sukzessive von Zeitschaltglied zu Zeitschaltglied einzeln nacheinander über deren Ausgänge durchgeschaltet. Der jedem Zeitschaitglied zugeordnete Diskriminator erkennt gegebenenfalls den Sperrzustand des Belegungsstromkreises daran, daß im Laufe des Priifvorganges am Eingang des Belegungsstromkreises Sperrpotential einer in Richtung zu Furthermore, a modification of the exemplary embodiment according to the invention should also be mentioned. Then the outputs of the time switch elements are decoupled from one another, connected together and can be connected to the occupancy circuit via the test switch arm of the selector V. In each of these outputs there is a discriminator assigned to the respective time switch element. The blocking circuit is now successively switched through from time switch element to time switch element one after the other via their outputs. The discriminator assigned to each time switch recognizes, if necessary, the blocking state of the occupancy circuit by the fact that in the course of the test process at the input of the occupancy circuit there is a blocking potential in the direction

nehmender Sperrwirkung höheren Potentialstufe liegt, als von der eigenen Prüfschaltung angeschaltet worden ist.increasing blocking effect is higher potential level than switched on by the own test circuit has been.

Claims

Patent claims:

1. Circuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular telephone switching systems, with the occupancy status - free or occupied - of occupancy circuits high-resistance checking and free occupancy current circuits low-resistance blocking test circuits, characterized by a combination following features:

a) A test circuit switches to the input of the occupancy circuit after the free state has been determined (Multiple point for parallel test processes) and sets blocking potential via its own blocking circuit this gradually up in the direction of increasing locking effect, in particular by gradually reducing the resistance in the reverse circuit;

b) for gradually increasing the blocking potential a time switch is provided for each stage;

c) a discriminator lying in the reverse circuit recognizes the blocking state by the fact that at the input of the occupancy circuit s blocking potential of a higher potential level than is switched on by its own test circuit.

^ 2. ^ Circuit arrangement according to claim 1, da- -ure., Characterized in that the emitter-base path of a transistor serves as the discriminator, the emitter can be connected to the input of the motion circuit and its base to a through the or the Zeitschaltc switchable voltage divider is switched on and the total resistance of the blocking circuit can be regulated via its emitter-collector path. ^e

3. Circuit arrangement according to claim 1, since Ϊ ?? Λ ^k ?? ™ ^ichn *> that the outputs of the Zeitschaltgheder, decoupled from each other and switched on via the test switch arm

tw £ ^{ y J "? are connected to ^the occupancy circuit, that m each of these outputs a discriminator assigned to the respective timer and that the blocking circuit is successively switched through from timer to timer via their outputs one after the other.

1 sheet of drawings