DE2016408A1 - Sampling filter designed as a feedback analog shift register - Google Patents
Sampling filter designed as a feedback analog shift registerInfo
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Description
"Als rückkoppelbares analoges Schieberegister. ausgebildetes Abtastfilter" Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein als rUckkoppelbares analoges Schieberegister ausgebildetes Abtastfilter, dessen Verzögerungselemente Jeweils aus einem Querkondensator mit einem Lade- rad Auskoppelschalter aufgebaut sind, und bei dem zum Verarbeiten von n voneinander getrennten Impulsfolgen in Jeder Verzögerungsstufe des Abtastfilters Verzögerungselemente der Anzahl n'>n zueinander parallel geschaltet sind, die zeitlich nacheinander die Impulse der Impuls folgen aufnehmen. "Sampling filter designed as a feedback analog shift register" The present invention relates to an analog shift register that can be fed back formed sampling filter, the delay elements of which each consist of a shunt capacitor are constructed with a loading wheel decoupling switch, and for processing of n separate pulse trains in each delay stage of the sampling filter Delay elements of the number n '> n are connected in parallel to one another, the record the impulses following the impulse one after the other.
Abtastfilter der geschilderten Art, die auch die Bezeichnung "Kanalfilter" tragen, sind in einer älteren Patentanmeldung vorgeschlagen worden. Allgemein seien als Abtastfilter hier solche aktiven Filter bezeichnet, die aus einer geeigneten.Sampling filter of the type described, which is also called "channel filter" wear have been proposed in an earlier patent application. Be general As a sampling filter, those active filters are referred to here, which consist of a suitable.
Anordnung analoger Schieberegister aufgebaut sind, deren Jedes einen Querkond8nsator sowie einen Lade- und einen Auskoppelschalter aufweist. Ein solches analoges Schieberegister wird im folgenden als Verzögerungselement bezeichnet. Gemäß dem bereits erwähnten Vorschlag werden nun n Impulsfolgen mit Hilfe eines einzigen Abtastfilters verarbeitet, wobei Jede Verzögerungsstufe des Abtastfilters aus n + 1 Verzögerungselementen aufgebaut ist, die zueinander parallelgeschaltet sind und zeitmultiplexartig mit den die Impulsfolgen liefernden bzw. aufnehmenden Kanälen verbunden werden. Die Arbeitsweise sei anhand von Figur 1 an einem einfachen Beispiel erläutert, bei dem n 2 2 ist; die beiden, die Impulsfolgen liefernden Kanäle sind mit K11 und K12 bezeichnet; die Kanäle, die die Impuls folgen nach Durchgang durch das Abtastfilter aufnehmen, sind mit K21* K22 bezeichnet. Bei dem gezeigten. Beispiel handelt es sich um ein Filter ersten Grades. Die Impulsform der Nachrichten sei als durch kurzfristiges Schließen von den Kanälen K11 und K12 nachgeschalteten Schaltern Sie und 52e erzeugt zu denken. Bede Schalter snd zu einer gemeinsamen Leitung zusammengefaßt, die dem Abtastfilter zugeführt wird, Über eh erstes Bewertungsglied -bg und Uber einen ersten Operationsverstärker °1 werden die Impulse den Verzögerungselementen zugeführt, die in der bereits beschriebenen Weise aus Querkondensatoren C1 - C3 und Ladeschaltern S11 - 83j sowie Auskoppelsohaltern S12 - S32 aufgebaut sind. Die Ausgänge der Verzögerungselemente sind Uber einen zweiten Operationsverstärker °2 zusammengefaßt, der außerdem Uber ein weiteres Bewertungsglied b1 mit dem Eingang verbunden ist. Vom Ausgang des zweiten Operationsverstärkers O2 ist über ein drittes Bewertungsglied c0 eine Ruckkoppelschleife auf den ersten Operationsverstärker O1 vorgesehen. Dem Operationsverstärker °2 sind Schalter 51a und 52a nachgesohaltet, die die erwähnten Kanäle K21 und K22 mit dem Abtastfilter verbinden.Arrangement of analog shift registers are built, their Each has a transverse capacitor and a charging switch and a decoupling switch. A Such an analog shift register is referred to below as a delay element. According to the proposal already mentioned, n pulse sequences are now generated with the aid of one single sampling filter, each delay stage of the sampling filter is made up of n + 1 delay elements connected in parallel to one another are and time-division multiplexed with those delivering or receiving the pulse trains Channels are connected. The mode of operation is based on FIG. 1 in a simple one Explains example where n 2 is 2; the two channels supplying the pulse trains are denoted by K11 and K12; the channels that follow the impulse after passage record through the sampling filter are denoted by K21 * K22. With the one shown. Example is a first-degree filter. The pulse shape of the news as a result of the short-term closing of channels K11 and K12 Switch and 52e generates thinking. Bede switch snd to a common The line that is fed to the sampling filter is summarized via the first evaluation element -bg and via a first operational amplifier ° 1, the pulses are sent to the delay elements fed, which in the manner already described from shunt capacitors C1 - C3 and charging switches S11-83j as well as decoupling brackets S12 - S32 are. The outputs of the delay elements are via a second operational amplifier ° 2 summarized, which also has a further evaluation element b1 with the input connected is. The output of the second operational amplifier O2 is via a third Evaluation element c0 a feedback loop to the first operational amplifier O1 intended. The operational amplifier ° 2 is followed by switches 51a and 52a, which connect the mentioned channels K21 and K22 to the sampling filter.
Die Arbeitsweise ist die folgende.The way it works is as follows.
Zu einem ersten Zeitpunkt sei der Schalter Sle geschlossen, d. h.) es trifft aus dem Kanal K11 ein Impuls ein, der über das Bewertungsglied -Do und den Operationsverstärker O1 sowie den zu diesem Zeitpunkt geschlossenen Schalter S11 in das erste Verzögerungselement einläuft und den Kondensator C1 auflädt. Der Auskoppelschalter S12 ist geöffnet, so daß der Kondensator C1 nach Öffnung des Ladeschalters S11 in seinem Ladezustand verharrt. Gleichzeitig mit der Schließung des Schalters S11 ist der Schalter 522 geschlossen worden, so daß der Kondensator C2 seine Spannung huber den Operationsverstärker O2 und den ebenfalls geschlossenen Schalter S1a an den Kanal K21 abgibt und über C0 auf O1 rückkoppelt.At a first point in time, the switch Sle is closed, i. H.) a pulse arrives from the channel K11, which is transmitted via the evaluation element -Do and the operational amplifier O1 and the switch that is closed at this point in time S11 enters the first delay element and charges the capacitor C1. Of the Decoupling switch S12 is open, so that the capacitor C1 after opening the charging switch S11 remains in its state of charge. Simultaneously with the closing of the switch S11, the switch 522 has been closed, so that the capacitor C2 has its voltage over the operational amplifier O2 and the also closed switch S1a at emits channel K21 and feeds it back to O1 via C0.
Zum nächsten Zeitpunkt, d. h. nach Ablauf der Hälfte der Speicherzeit T des ersten Verzögerungselementes trifft auf dem Kanal K12 ein Impuls ein (Schalter 52e geschlossen, Schalter S1e geöffnet), der über den nunmehr geschlossenen Schalter S21 den Kondensator C2auflädt. Gleichzeitig wird durch Schließung des Schalters S32 die Spannung des Kondensators C) auf dem Kanal K21 und über ca auf den Operationsverstärker O1 gegeben. Der nächste Zyklus beginnt wiederum mit dem Kanal K11, der deshalb nicht wieder dem Kondensator C1 (sondern C3) zugeführt werden kann, weil dieser noch den vorhergehenden Impuls aus dem gleichen Kanal gespeichert hat und diesen Impuls gerade Jetzt erst abgibt.At the next point in time, i. H. after half of the storage time has expired T of the first delay element a pulse arrives on channel K12 (switch 52e closed, switch S1e open), the switch that is now closed S21 charges the capacitor C2. At the same time, by closing the switch S32 the voltage of the capacitor C) on the channel K21 and about approx on the operational amplifier Given O1. The next cycle begins again with channel K11, which is therefore not can be fed back to the capacitor C1 (but C3), because this is still the previous pulse from the same channel and this pulse is currently stored Only now gives.
Aus dieser Funktionsbeschreibung läßt sich die Notwendigkeit ableiten, die Zahl der Verzögerungselemente um 1 größer als die Zahl der voneinander unabhängigen Impulsfolgen zu wälnlen, die von dem Abtastfilter verarbeitet werden sollen.From this functional description, the necessity can be derived the number of delay elements is 1 greater than the number of independent ones To choose pulse trains to be processed by the sampling filter.
Ys sei noch darauf hingewiesen, daß durcll Hintereinanderschaltung von mehreren der gezeigten Abtastfilter ("Verzögerungsstufen") Filter höheren Grades aufgebaut werden können Aus den oben gemachten Ausführungen läßt sich leicht ableiten, daß nach der Zeit (n +1)T eine bestimmte Impuls~ folge wieder dem gleichen Verzögerungselement zügordn.t ist, wenn T die Verzögerungszeit Jedes einzelnen Verzögerungselementes ist.Ys should also be pointed out that through series connection of several of the sampling filters ("delay stages") shown, higher grade filters can be built From the statements made above, can It is easy to deduce that after the time (n + 1) T a certain impulse sequence is repeated zügordn.t the same delay element if T is the delay time each individual delay element is.
Die geschilderte Anordnung weist folgenden Nachteil auf.The described arrangement has the following disadvantage.
Die dargestellten Schalter S11 - S32 werden praktisch als Transistor- oder Feldeffekt-Transistorschalter realisiert.The switches S11 - S32 shown are practically implemented as transistor or field effect transistor switches.
Derartige Schalter weisen meist Durchlaßwiderstände auf, die voneinander geringfügig differieren. Da auch die Kapazitäten der Kondensatoren C1 - C3 nicht exakt gleich groß sind, ergeben sich infolge der aus den beiden Größen (Durchlaßwiderstand und Kapaztät) resultierenden, von Verzögerungselement zu Verzögerungselement unterschiedlichen Ladezeitkonstanten unterschiedliche Ladungen an den Kondensatoren, auch wenn ihnen an sich gleiche Spannungen zugeführt werden. Diese unterschiedlichen Ladungen, deren Abweichungen vom Sollwert als Fehlladung bezeichnet werden sollen, führen bei der Abfrage der Verzögerungselemente zu Störsignalen, dle ene Frequenz fS aufweisen.Such switches usually have forward resistances that are mutually exclusive differ slightly. Since the capacities of the capacitors C1 - C3 are not either are exactly the same size, result from the two variables (forward resistance and capacitance), which differ from delay element to delay element Charge time constants different charges on the capacitors, even if they are the same voltages per se are supplied. These different charges, whose Deviations from the nominal value are to be referred to as incorrect charging, result in the Interrogation of the delay elements for interfering signals, which have a frequency fS.
Eine weitere Ursache von Fehiladungen besteht in den unterschiedlich großen Koppelkapazitäten zwischen Steuer- und Signalkreis, Figur 2 zeigt übereinander dargestellt einen Impulsplan, bei dem schraffiert die Schließungszeiten der links angeführten Schalter dargestellt sind. Darunter dargestellt ist ein Spannungsv#lauf, wie er an einem der Kanäle oder K22 auftreten würde, wenn eingangsseitig ehe Gleichspannung zugeführt wird und wenn den Schaltern S1a und S2a Haltespeicher nachgeschaltet sind. Der gezeigte Spannungsverlauf U entspricht der Größe der Fehlladungen der nacheinander enladenen Kondensatoren C1 - C3. Aus dem dabei auftretenden Kurvenverlauf läßt sich mit Leichtigkeit entnehmen, daß die Fehlladungen mit einer Periode fp fp , hier also mit auftreten (fp ist Abtastfrequenz). n+1 3 Diese Periode ist identisch mit der Perlode der Störfp spannung, so daß hier gilt fs = . Es läßt sich jen+1 doch zeigen, daß zusätzlich Störspannungen der Frequenz fp fsi = (i = 1, 2 .... n) auftreten können. l + i Figur 3 zeigt unter Auslassung der unwichtigen Bauteile (Rückkopplungen und Bewertungsglieder) die schon geschielderte Abtastfilteranordnung in allgemeiner Form. Die Verzögerungselemente des Abtastfilters sind zu einem Block K zusammengefaßt. Da alle Impuls folgen diesem einen Block zugeführt werden, sei eine Blockzahl k = 1 definiert. Die Anzahl der Verzögerungselemente pro Block sei m, hier m = n + 1.Another cause of incorrect charges is the different huge Coupling capacitances between control and signal circuit, Figure 2 shows one above the other an impulse schedule with the hatched closing times of those listed on the left Switches are shown. A voltage curve like this is shown below would occur on one of the channels or K22 if there was a direct voltage on the input side is supplied and if the switches S1a and S2a latches are connected downstream. The voltage curve U shown corresponds to the size of the incorrect charges in succession discharged capacitors C1 - C3. From the course of the curve occurring in this case, can easily be seen that the incorrect charges with a period fp fp, here thus occur with (fp is sampling frequency). n + 1 3 This period is identical to the perlode of the Störfp voltage, so that here fs =. It can be jen + 1 show that interference voltages of the frequency fp fsi = (i = 1, 2 .... n) also occur can. l + i Figure 3 shows, omitting the unimportant components (feedback and evaluation elements) the scanning filter arrangement already described in more general terms Shape. The delay elements of the sampling filter are one Block K summarized. Since all impulses follow this one block, let a block number k = 1 be defined. The number of delay elements per block Let m, here m = n + 1.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die erwähnten Störsignale weitgehend zu unterdrücken.The present invention is based on the object mentioned To suppress interference signals as far as possible.
Die Erfindung besteht darin daß zur Eliminierung von fp Störsignalen, die mit der Frequenz fs = (m = 1, 2,3 .. m auftreten, wenn fp die Abtastfrequenz ist, dann, wenn a) die Störsignale nidht in den Durchlaßbereich des Abtastfilters fallen, ein zusätzllches, die Störsignale unterdrückendes Filter vorgesehen ist, und b) wenn die Störsignale mindestens teilweise in den Durchlaßbereich des Abtastfilters fallen, die Verzögerungs#emente blockweise derart zu den Impulsfolgen fast zugeordnet sind, daß die Störspannungsfrequenz fs* der Blöcke zufolge der Zufp ordnung fs* = (mk = 1, 2, 2 ... nk+1) nicht mk in den Durchlaßereich der Gruppe fällt, wobei mk die Anzahl der Verzögerungselemente pro Block ist.The invention consists in that to eliminate fp interference signals, which occur with the frequency fs = (m = 1, 2,3 .. m, if fp is the sampling frequency is, then, if a) the interfering signals are not in the pass band of the sampling filter an additional filter that suppresses interference signals is provided, and b) when the interfering signals are at least partially in the pass band of the sampling filter fall, the delay elements are almost assigned to the pulse trains in blocks are that the interference voltage frequency fs * of the blocks according to the feed order fs * = (mk = 1, 2, 2 ... nk + 1) mk does not fall within the range of the group, where mk is the number of delay elements per block.
Im folgenden wird die Erfindung unter Zuhilfenahme weiterer Abbildungen näher erläutert.The invention is described below with the aid of further illustrations explained in more detail.
Figur 4 zeigt die Durchlaßcharakteristik eines als Tiefpaß wirkenden Kanalfilters, wobei die Grenzfrequenz mit rg bezeichnet ist. Solange nun sichergestellt ist, daß die Frequenz fsi über der Grenzfrequenz liegt, so daß die Störsignale außerhalb des Durchlaßbereiches des Abtastfilters liegen, können die Störsignale durch einen zusätzlichen Tierpaß pro Kanal beseitigt werden. Dieser zusätzliche Tiefpaß ist in der Figur 4 durch einen gestrichelten Durchlaßbereich angedeutet, der die Störsignale exakt abdämpft.FIG. 4 shows the transmission characteristic of a low-pass filter Channel filter, where the cutoff frequency is denoted by rg. As long as now ensured is that the frequency fsi is above the cutoff frequency, so that the interfering signals outside of the pass band of the scanning filter, the interfering signals can be caused by a additional animal passport per channel can be eliminated. This additional low pass is indicated in Figure 4 by a dashed pass band, which the interfering signals dampens exactly.
Eine andere Möglichkeit der Bedampfung von Störsignalen, die frequenzmäßig außerhalb des Durchlaßbereiches des Abtastfilters liegen, besteht darin, daß man zumindest eine Verzögerungsstufe so dimensioniert, daß ihre Pole mit den Störfrequenzen fsi zusammenfallen oder sich doch in ihrer unmittelbaren Nähe befinden. Die so ausgebildeten Verzögerungsstufen müssen dann sweils die letzten Verzögerungssturen des Abtastfilters bilden. Damit ist sichergestellt, daß keine neuen Störsignale erzeugt werden können.Another possibility of the vaporization of interfering signals, the frequency-wise lie outside the pass band of the sampling filter, is that one at least one delay stage dimensioned so that its poles with the interference frequencies fsi coincide or are in their immediate vicinity. Those trained in this way Delay stages must then sweil the last delay stages of the sampling filter form. This ensures that no new interference signals can be generated.
In vielen Fällen wird es Jedoch so sein, daß die Störsignale frequenzmäßig in den Durchlaßbereich des Abtastfilters fallen (Figur 5). Hier sind die geschilderten Maßnahmen zur Bedämpfung der Störsignale naturgemäß nicht anwendbar, Gemäß der oben beschriebenen Erfindung werden nun die Verzögerungselemente zu Blöcken zusammengefaßt, wobei Jeder Block mk Verzögerungselemente aufweist. Da nunmehr die Anzahl der Verzögerungselemente pro Block kleiner ist als vor der Aufspaltung, d. h, mk<m, da andererseits die Frequenzen si von den Reziprokwerten der Anzahl der Verzögerungselemente pro Block abhängen, ist durch die geschilderte Aufteilung von Gruppen- eine Verschiebung der Frequenzen fsi aus dem Durchlaßbereich des Abtastfilters heraus erreichbar. Bigur 6 zeigt eine derartige Aufspaltung, Unter der Annahme, daß n = 4 ist, sind zwei Blöcke K1 und K2 gebildet worden (k = 2), wobei jede Gruppe drei Verzögerungselemente aufweist (mk = 5). Die in jeder einzelnen Gruppe entstehenden Störsignale weisen demzufolge die f p Frequenzen fsi = (mk = 2, 3, ... nk+1) auf. Da mk mk = n/2 + 1 ist, liegen nunmehr die Frequenzen fsi außerhalb des Durchlaßbereiches.In many cases, however, it will be the case that the interfering signals are in terms of frequency fall within the pass band of the sampling filter (Figure 5). Here are the ones I have portrayed Measures for attenuating the interfering signals naturally not applicable, according to the above described invention, the delay elements are now combined into blocks, each block having mk delay elements. Since now the number of delay elements per block is smaller than before the split, i.e. h, mk <m, since on the other hand the Frequencies si from the reciprocal of the number of delay elements per block depend, is due to the division of groups described above, a shift in the Frequencies fsi can be reached from the pass band of the sampling filter. Bigur Figure 6 shows such a split. Assuming n = 4, there are two Blocks K1 and K2 have been formed (k = 2), with each group having three delay elements has (mk = 5). The interfering signals arising in each individual group show consequently the f p frequencies fsi = (mk = 2, 3, ... nk + 1). Since mk mk = n / 2 + 1, the frequencies fsi are now outside the pass band.
Verallgemeinert gilt für die Aufspaltung von m = n + 1 Verzögerungselementen in k Blöcke das Folgende. Diejenige Anzahl von Verzögerungselementen pro Block, die die gewünschte Verschiebung von fsj bewirkt, sei als mk bef p zeichnet. Es gilt >fg (fg ist Grenzfrequenz des mkopt Abtastfilters). Demnach ist mkopt < (mkopt fg ist ganzzahlig). Die Anzahl k der nötigen Blöcke ergibt n n sich zu k # = (k ganzzahlig, ggf. aufrunden). nkopt mkopt -1 Die Ungleichung gilt für den Fall, daß n kein ganzzahliges Vielfaches von mkopt -1 ist; ist n ein ganzzahliges Vielfaches von nkopt, so nkopt gilt die Gleichung.In general, the following applies to the splitting of m = n + 1 delay elements in k blocks the following. That number of delay elements per block, which causes the desired shift of fsj is drawn as mk bef p. It applies > fg (fg is the cutoff frequency of the mkopt sampling filter). Hence mkopt <(mkopt fg is an integer). The number k of necessary blocks n n results in k # = (k whole numbers, round up if necessary). nkopt mkopt -1 The inequality holds for the case that n is not an integral multiple of mkopt -1; n is an integral multiple from nkopt, then nkopt the equation holds.
Beispiel: n = 9, mk = 3; daraus folgt k 9 also k = 5. Im kopt - 2 einzelnen haben vier Blöcke je drei Verzögerungselemente, ein Block besitzt zwei Verzögerungselemente. Die Blöcke mit drei Verzögerungselementen können je zwei Impulsfolgen verarbeiten, der Block mit zwei Verzögerungselementen kann eine Impulsfolge verarbeiten, so daß sich als Gesamtzahl der zu verarbeitenden Impuls folgen wieder 9 ergibt.Example: n = 9, mk = 3; from this it follows that k 9 is k = 5. Im kopt - 2 individual blocks have four blocks each with three delay elements, one block has two Delay elements. The blocks with three delay elements can each have two pulse trains process, the block with two delay elements can process a pulse train, so that the total number of impulses to be processed is 9 again.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der zuletzt beschriebenen Anordnung setzt k = n und mk 2. Im einzelnen bedeutet dies, daß für jede Impulsfolge zwei Verzögerungselemente vorgesehen shd und zu der Gruppe fest zugeordnet bleiben, In diesem Falle ist sichergestellt, daß nur Störsignale f p der Frequenz fs = 2 auftreten, Da die meisten Abtastfilter bei + eine Polstelle aufweisen, läßt sich eine besonders gute Unterdrückung der Störsignale erzielen.An advantageous development of the arrangement just described sets k = n and mk 2. In detail, this means that for each pulse train two Delay elements provided shd and remain permanently assigned to the group, In In this case it is ensured that only interfering signals f p of the frequency fs = 2 occur, Since most sampling filters have a pole at +, one can be special achieve good suppression of interfering signals.
Aus den geschilderten Maßnahmen ergibt sich, daß insbesondere im Falle b) die Zahl der Verzögerungselemente erheblich vermehrt werden muß. Diese Vermehrung erscheint deshalb nicht als gravierend, weil die Verzögerungselemente einen einfachen Aufbau besitzen und daher nicht sehr teuer sind.From the measures outlined it follows that in particular in the case b) the number of delay elements has to be increased considerably. This increase does not appear to be serious because the delay elements are a simple one Have structure and are therefore not very expensive.
Ein weiterer Vorteil iat darin zu sehen, daß bei Ausfallen beispielsweise eines Ladeschalters bei der Anordnung, von der die Erfindung ausgeht, das gesamte Abtastfilter nicht mehr arbeitet, wellrend bei der geschilderten Aufspaltung in Blöcke nur noch der Block ausfällt, zu dem das gestörte Bauelement gehört.Another advantage is that in the event of a failure, for example a charging switch in the arrangement from which the invention is based, the whole Sampling filter does not work anymore, trend with the described splitting into Blocks only the block to which the faulty component belongs fails.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19702016408 DE2016408A1 (en) | 1970-04-07 | 1970-04-07 | Sampling filter designed as a feedback analog shift register |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19702016408 DE2016408A1 (en) | 1970-04-07 | 1970-04-07 | Sampling filter designed as a feedback analog shift register |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE2016408A1 true DE2016408A1 (en) | 1971-10-28 |
Family
ID=5767262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702016408 Pending DE2016408A1 (en) | 1970-04-07 | 1970-04-07 | Sampling filter designed as a feedback analog shift register |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2016408A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT376853B (en) * | 1974-11-12 | 1985-01-10 | Siemens Ag | ELECTRIC FILTER CIRCUIT IN CTD TECHNOLOGY |
WO1995001573A1 (en) * | 1993-07-01 | 1995-01-12 | Avo International Limited | Electrical test instrument |
-
1970
- 1970-04-07 DE DE19702016408 patent/DE2016408A1/en active Pending
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---|---|---|---|---|
AT376853B (en) * | 1974-11-12 | 1985-01-10 | Siemens Ag | ELECTRIC FILTER CIRCUIT IN CTD TECHNOLOGY |
WO1995001573A1 (en) * | 1993-07-01 | 1995-01-12 | Avo International Limited | Electrical test instrument |
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