DE2012746A1 - Anordnung zur Informationsübertragung mit einer Infrarot Strahlungsquelle - Google Patents
Anordnung zur Informationsübertragung mit einer Infrarot StrahlungsquelleInfo
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Description
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT , ' Erlangen, 17*. MRZ.J970
Berlin und München Werner-von-?iemens-Str.50
Unser Zeichen:
VPA 70/7510 Kin/Rd
Anordnung zur Informationsübertragung mit einer Infrarot- -Strahlungsquelle.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Informationsübertragung
mit einer Infrarot-Strahlungsquelle, insbesondere Laser-Strahlungsquelle, mit Mitteln zur Polarisationsmodulation
der Strahlung und einem Analysator sowie einem Strahlungsdetektor.
Voraussetzung für den Aufbau einer Infrarot-Übertragungsstreeke ist die gleichzeitige Verfügbarkeit einer leistungsstarken Strahlungsquelle?,
einer Modulationstechnik, eines transparenten Übertragungsmediums und eines ausreichend schnellen, auf die Art
der Modulation ansprechenden Empfängers für ein und dieselbe Wellenlänge. Es ist bekannt, daß man im gesamten Infrarot-Bereich,
das sind Wellenlängen von etwa 0,8 jum bis etwa 1 mm, thermische
Strahler als Strahlungsquellen verwenden kann. Deren spektrale Strahlungsstärke ist aber bereits im jdm-Bereich so gering, daß
ein wirtschaftliches Verfahren der Infrarot-Informationsübertragung damit nicht durchgeführt worden ist. Die in den letzten
Jahren entwickelten monochromatischen Infrarot-Strahlungsquellen,
Laser- und Lumineszenzdioden haben zu Infrarot-Übertragungsstrecken mit brauchbarem Ergebnis geführt. Bekannt sind Übertragungsstrecken
mit einer Galliumarsenid-Lumineszenzdiode als Strahlungsquelle für eine Wellenlänge von 0,9 Jim und einem
Siliziumdetektor als Strahlungsempfänger.
Leistungsstarke im Dauerbetrieb arbeitende Infrarot-Strahlungsquellen sind die bekannten Gaslaser, beispielsweise der bei
10,6 /um emittierende COp-Laser. Seine bis in den KW-Bereich
reichende Strahlungsleistung kann wegen ihrer Absorbierbarkeit
in Nichtmetallen als Werkzeug zur Materialbearbeitung benutzt
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BADORlGfNAL
VPA - 2 -
werden. Ferner ist eine Anwendung des COp-Lasers als Strahlungsquelle
zur Informationsübertragung möglich, da die atmosphärische Durchlässigkeit bei der Emissionswellenlänge des
C0o~Lasers Reichweiten bis zu mehreren 100 km erwarten läßt.
C. ·
I'as Problem liegt dabei in der Auffindung einer passenden Kombination
eines Modulationsverfahrens auf der Senderseite mit
einem ausreichenden Demodulationsverfahren auf der Empfängerseite. Da die Intensität des Laserstrahls sich elektronisch
nicht mit gutem Wirkungsgrad modulieren läßt und außerdem die Frequenz der emittierten Strahlung durch die an der Strahlungsemission beteiligten Energieniveaus festgelegt ist, lassen
Amplituden- und Frequenzmodulation keine guten Ergebnisse erwarten.
Es wurde nun erkannt, daß für eine Laser-Übertragungsstrecke
die Polarisationsmodulation besonders gut geeignet ist, weil der mit Brewsterwinkel-Fenstern ausgerüstete COp-Laser eine
emittierte Strahlung liefert, die bereits linear polarisiert ist. Kimmel hat in der deutschen Patentschrift 1032 398 bereits
ein Steuergerät für elektromagnetische Strahlung vorgeschlagen, das zur Polarisationsmodulation auf der Senderseite geeignet
ist und auf dem Faraday-Effekt am Indiumantimonid beruht. Als Detektor für die nachzuweisende polarisationsmodulierte Strahlung
auf der Empfängerseite sind die gekühlten Bolometer mit quecksilberdotiertem Germanium geeignet, denen Filter oder Reflexionspolarisatorsn
als Analysatoren vorgeschaltet werden. In einer solchen Analysator-Detektor-Kombination wird eine Polarisations-Modulation
vor dem Analysator in eine Intensitätsmodulation vor dem nachgeschalteten Detektor umgesetzt. Der
Ausgang des Detektors auf der Empfängerseite liefert somit ein
Signal, dessen Amplitude die zu empfangende Information trägt.
Wird durch Störeinflüsse an der Strahlungsquelle oder auf dem Übertragungsweg die Intensität der auf der Empfängerseite ankommenden
Strahlung zusätzlich moduliert, so überlagert sich bei der erwähnten Analysator-Detektor-Kombination diese Störmodulation
ungeschwächt dem Auegangssignal.
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BAD ORIGINAL
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Es ergibt sich somit die Aufgabe, einen Polarisationsdetektor
auf der Empfängerseite so zu gestalten, daß er ein von Intensitätsschwankungen
unabhängiges Ausgangssignal liefert. Es wurde
nun erkannt, daß sich Intensitätsschwankungen auf das Ausgangssignal dann nicht auswirken können, wenn zusätzlich die Intensität
der ankommenden Strahlung gemessen wird und anschließend
das Verhältnis des Ausgangssignals zur Intensität der ankommenden Strahlung gebildet wird. " .. ■
Nach einem früheren Vorschlag (Patentanmeldung P 19 51 920.1-51
- VPA 69/1288) ist in einer Anordnung zur Bestimmung der Schwingungsebene einer polarisierten Lichtstrahlung durch Reflexion
der Strahlung an einer Fläche als Analysator eine Pyramide mit quadratischer Grundfläche vorgesehen, deren Achse parallel zur
Strahlung verläuft und deren Spitze der Strahlung entgegengerichtet
ist. Die reflektierenden Seitenflächen der Pyramide können vorzugsweise aus Silizium, oder Germanium bestehen. Im
Strahlengang der von den Seitenflächen der Pyramide reflektierten Strahlen sind jeweils photoelektronische Bauelemente angeordnet,
die so geschaltet sind, daß die Schwingungsebene der
Strahlung aus der Differenz der reflektierten Strahlen bestimmt werden kann.
Die Erfindung beruht nun auf der Erkenntnis, daß dieses Konstruktionsprinzip
auch für einen Empfänger einer Informationsübertragungsstrecke mit polarisationsmodulierter Strahlung vorteilhaft
verwendet werden kann. Erfindungsgemäß sind als Empfänger
der Informationsübertragungsstrecke mindestens zwei PEM- -Detektoren oder OEN-Detektoren vorgesehen, die zueinander senkrechten
Polarisationsrichtungen zugeordnet sind. Ihre strahlung sempfind liehen Kristalle sind um den gemeinsamen Innenpol
eines Magnetsystems angeordnet. Jeweils die Kristalle zweier einander gegenüberliegender Detektoren gehören zu einer gemeinsamen
Polarisationsrichtung und ihnen ist mindestens ein Analysator zugeordnet. Die einzelnen Kristalle sind jeweils in
einem Zweig einer Brückenschaltung angeordnet, an deren einer Diagonale die halbe Differenz der von einander gegenüberliegenden
Detektorpaaren erzeugten ieerlaufspannungssummen als '
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polarisationsabhängige Signalspannung abgenommen werden kann und
an deren anderer Diagonale die halbe Summe sämtlicher Leerlaufspannungen
der einzelnen Detektoren als polarisationsunabhängige Referenzspannung ansteht. In einer Anordnung mit vier Detektoren
sind die beiden Detektorpaare zwei zueinander senkrechten Polarisationsrichtungen zugeordnet.
OEN-Detektoren sind bekannt. Sie enthalten einen in einem Magnetfeld
angeordneten Strahlungsdetektor, dessen kristalliner Halbleiterkörper nach der deutschen Patentschrift 1214 807 im
wesentlichen senkrecht zur Richtung des erzeugten Stromes ausgerichtete, elektrisch besser leitende Bereiche einer zweiten
h kristallinen Phase enthält. Die Wirkungsweise solcher Detektoren
beruht auf einem optisch induzierten Ettingshausen-Nernst- - Effekt. In der Literatur ist deshalb die Bezeichnung OEN-Detektor
üblich. Der Halbleiter des OEN-Detektors besteht aus einer A1 j j By-Verbindung, insbesondere Indiumantimonid InSb,
und die Einschlüsse können aus Nickelantimonid NiSb oder anderen kristallinen Stoffen bestehen. Die optische Absorption in diesem
Material wird bei Wellenlängen unterhalb der Indiumantimonid- -Absorptionskante, d.h. bei Zimmertemperatur unterhalb 7 /um im
wesentlichen durch die Eigenleitungs-Anregung des Indiumantimonids bestimmt. Oberhalb der Absorptionskante liefern die Einschlüsse
der zweiten Phase den maßgeblichen Aborptionsanteil. Der Detektor kann deshalb auch für Strahlen mit einer Wellen-
P länge oberhalb 7 /ωη verwendet werden, wie aus "Anisotropie InSb-
-NiSb as an infrared-detektor" in "Solid State Electronics" 1968 Bd. 11,S.979 bis 981 bekannt ist. Er ist unabhängig von der
Polarisation der Infrarotstrahlung, wenn die Einschlüsse als Nadeln senkrecht auf der bestrahlten Kristalloberfläche stehen.
Unter dem gleichzeitigen Einfluß eines vorzugsweise homogenen Magnetfeldes und eines senkrecht zum Magnetfeld im Kristall erzeugten
Wärmeflusses entsteht eine elektrische Spannung senkrecht zu diesen genannten Richtungen. Der Y/ärmefluß wird durch
den von der absorbierten Infrarotstrahlung erzeugten Temperaturgradienten, also auf optischem Wege, erzeugt. Solche OEN-Detektoren
haben eine geringe Zeitkonstante.
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Pur' Strahlung mit einer Wellenlänge bis zu etwa 7 /um können
auch die bekannten PEM-Detektoren mit homogenem Kristallkör~ per verwendet werden.
Die Informationsübertragungsstrecke nach der Erfindung hat im Wellenlängenbereich von etwa 1,7 /um bis zum mm-Bereich eine
hohe Empfindlichkeit und sie hat oberhalb etwa 7 /tun eine Zeitkonstante
von etwa 10""* see.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird auf die Zeichnung Bezug genommen. In Fig.1 ist ein Ausführungsbeispiel einer Anordnung
nach der Erfindung mit einem einzigen Detektor und einer ebenen Reflexionsfläche dargestellt. Pig.2 zeigt eine
weitere Ausgestaltung der Erfindung mit mehreren Reflexionsflächen, denen jeweils ein Detektorkristall zugeordnet ist. In
Fig.3 ist die Schaltung der Halbleiterkörper der Detektoren
nach Fig.2 veranschaulicht. Fig.4 erläutert die Wirkungsweise
der Anordnung nach der Erfindung in· einem Diagramm. Fig.5 zeigt die Anordnung der Halbleiterkörper der Detektoren. In Fig.6 .
ist eine besonders vorteilhafte Konstruktion eines Empfängers dargestellt,und Fig.7 zeigt eine Draufsicht dieses Empfängers
mit der Detektoranordnung nach Fig.5.
Nach Fig.1 ist ein als Strahlungsempfänger dienender kristalliner
Halbleiterkörper K eines OEN-Detektors zwischen den Polschuhen 6 und 8 mit einem Südpol S und einem Nordpol N eines
Magneten 7 angeordnet, der beispielsweise-ein Dauermagnet sein
kann. Die mit zwei Pfeilen S angedeutete ankommende elektromagnetische
Strahlung, vorzugsweise Infrarotstrahlung, insbesondere Laser-Strahlung, trifft unter einem Einfallswinkel cp
auf die reflektierende Fläche eines Reflexionspolarisators P. Die vom Polarisator P reflektierte Strahlung trifft unter einem
Einfallswinkel "ψ auf die Empfängerfläche K des Detektorkristalls,
der an seinen Enden mit elektrischen Anschlüssen A und B versehen ist. Ist der Einfallswinkel Cj* der spiegelnd an der Polarisatorplatte
P reflektierten Strahlung gleich dem Polarisationswinkel <y ρ der Platte mit dem Brechungsindex n, wobei
tg Cf ρ β η ■
ist, so wird bekanntlich nur die senkrecht zur Einfallsebene
ist, so wird bekanntlich nur die senkrecht zur Einfallsebene
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schwingende Komponente der ankommenden Strahlung reflektiert ι
und die auf dem Detektorkristall K auftreffende Strahlung ist vollständig polarisiert. Ist die auf dem Polarisator P aufcreffende
Strahlung polarisationsmoduliert, so wirkt der Polarisator P als Analysator. Die auf dem Kristall K ankommende
Strahlung enthält dann nur noch die senkrecht zur Einfallsebene auf dem Polarisator P schwingende Komponente und trägt
die Modulation dieser Komponente als Amplitudenmodulation.
Der Detektorkristall K gibt dann an seinen Ausgangsanschlüssen A und B eine Signalspannung ab, die aus einer Gleichspannungskomponente
und der überlagerten Modulation besteht. Da die Einfallsebene auf dem Kristall K identisch ist mit derjenigen auf
dem Polarisator P, so wird die senkrecht schwingende Komponente auch auf dem Kristall K stärker reflektiert. PUr die Ausbeute
sind das Reflexionsvermögen R(<f) des Polarisators P für den
Winkel cp und die Oberflächendurchlässigkeit 1 - R (ψ) des
Kristalls K für den Winkel If maßgeblich. Die Reflexionskoeffizienten
des Kristalls können deshalb zweckmäßig durch Vergütung der Oberfläche klein gehalten werden. Ferner kann man den gesamten
Detektor in Bezug auf den Polarisator P so drehen, daß der Einfallswinkel ty = 0 wird.
Nach Fig.2 sind vier OEN-Detektoren 2 bis 5 vorgesehen, die von
einem gemeinsamen, in der Figur nicht dargestellten Magnetfc system mit einem Innenpol S versorgt sein sollen. Dann werden
in den Kristallen Kp bis Kc bei Bestrahlung Spannungen erzeugt
mit Polungsrichtungen, die an den einzelnen Kristallen angedeutet sind. Wird jeder Kristall durch einen zugehörigen Reflexionspolarisator
Pp bis Pc ausgeleuchtet, dann sprechen je
zwei gegenüberliegende Kristalle K2 und K. bzw. K, und K^ auf
eine gemeinsame Polarisationsrichtung an, nämlich auf die Polarisationsrichtung,
deren elektrischer Vektor parallel zur Kristallängsrichtung schwingt. Diese Richtung ist an den Polarisationsplatten
Pp bis Pr, deren Reflexionaflachen gegen die
Zeichenebene geneigt sind, als Doppelpfeil eingetragen.
Die Wirkung der vier Kristalle Kp bis K1- kann jeweils durch
eine LeerlaufSpannungsquelle U2 bis OV und jeweils einen
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Innenwiderstand Rp "bis Rr veranschaulicht werden. Die Reihenschal tun,·1· dieser inneren Spannungsquellen mit den zugehörigen
Innenwiderständen kann nach Pig.3 zu einem Ring vereinigt werden.
In der Anordnung mit vier Detektoren 2 bis 5 und jeweils
einem der zugeordneten Polarisatoren P2 bis P,- ist dann nach
Fig.3 jeweils eine LeerlaufSpannungsquelle in Reihe mit dem
zugeordneten Innenwiderstand in einem Brückenzweig einer Brückenschaltung angeordnet, an deren einer Diagonale eine Referenzspannung
TJ und an deren anderer Diagonale die modula-
tionspolarisierte Signalspannung TJg erscheint. Für den speziellen Fall gleich großer Einzelwiderstände R2 bis R5 der vier
Detektoren erhält man die Referenzspannung
UR = \ {U3 + U5 + TJ2 +" V
und die Signalspannung
und die Signalspannung
us = \ (U3 + U5-U2 -U4).
ft
Die Signalspannung U„ ist also die halbe Differenz der von den
beiden gegenüberliegenden Detektorpaaren erzeugten Leerlaufspannungssummen,
und die Referenzspannung UR ist die halbe Summe
sämtlicher Leerlaufspannungen. Da aber die beiden Detektorpaare
K0 und K. bzw. K, und ΚΕ auf zueinander senkrechte Polarisa-
d 4 5 ρ
tionsrichtungen ansprechen, so ist die Signalspannung U„ von der
Polarisationsrichtung und der Intensität der auftreffenden Gesamtstrahlung
abhängig, die Referenzspannung ist dagegen nur von der Intensität abhängig. Der Quotient
ist dagegen nur noch abhängig vom Verhältnis
der von den beiden Detektorpaaren abgegebenen Spannungssummen.
t Eine Amplitudenmodulation der auf die Gesamtanordnung nach Pig.2
treffenden Strahlung beeinflußt die vier Spannungen U2 bis U5 um
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den gleichen Paktor. Damit wird χ und somit auch Ug/UR = y
amplitudenunabhängig. Die Referenzspannung U„ und die Signalspannung
Ug können zweckmäßig jeweils einem der Spannungswandler
10 bzw. 12 vorgegeben werden, deren Sekundärwicklungen einseitig auf Nullpotential gelegt sind. Die freien Enden sind jeweils
über einen Verstärker 14 bzw. 16 mit dem Eingang einer Anordnung zur Quotientenbildung 16 verbunden, an deren Ausgang
der Quotient Ug/UR abgenommen und gegebenenfalls über einen
weiteren Verstärker 18 einer Ausgangsklemme 20 zugeführt werden kann.
Als Maß für die Wirksamkeit der Anordnung mit vier Detektoren kann eine Modulationsübertragungsfunktion H (θ) gebildet werden,
die im Diagramm nach Fig.4 veranschaulicht ist, wobei θ das Azimut der Polarisationsebene der polarisationsmodulierten
Strahlung sei:
H (O) = ^SSS · d
H (0) ist somit die Steilheit, mit der sich die Ausgangsgröße y in Abhängigkeit vom modulierten Azimut θ ändert. Im Diagramm
nach Pig.4 sind y und O jeweils in Einheiten ihrer erreichbare!
Maximalwerte aufgetragen. 0=0 soll die Polarisationsrichtung bezeichnen, bei welcher der elektrische Vektor um 45° gegen
die Einfallsebenen aller Polarisatoren gedreht sein soll, wie es in Fig.2 gestrichelt angedeutet ist. Der maximal nutzbare
P Modulationsbereich erstreckt sich dann auf θ = -T(/. bis +1CA
und es ist Om =#/.. Die zugehörigen Extremwerte für y sind
dann y = 1, dem entspricht θ » "^/λ vai^ v = +1» dem entspricht
θ = +^/λ· *n der Mittelstellung ist y = 0 und 0 = 0. Damit erhält
man für den vierteiligen Polarisationsdetektor nach Pig.2 bei der vereinbarten Festlegung des Nullpunktes für O die Punktion
η «0 -TZ4 ■ U ■
Da jeder Polarisator in der zu sperrenden Schwingungsrichtung
die elektrische Komponente abschneidet, in der dazu senkrechten Richtung dagegen die elektrische Komponente um einen von der
gesperrten Kompontente unabhängigen Schwächungsfaktor weitergibt,
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hat" auch der Polarisator nach der Erfindung "bezüglich der
Amplitude eine sin .©-Charakteristik, bezüglich der Intensität
aber eine sin ©-Charakteristik. Man erhält deshalb für einen Polarisationsdetektor nach der Erfindung mit vier Detektoren in
der Anordnung nach Fig.2 einen Verlauf
yt = sin 2 θ ,
der in Fig.4 in der ausgezogenen Kurve dargestellt ist. Für die
Η-Funktion erhält man H- (ö) ="TC/2 · cos 2 Θ, deren Verlauf in
Fig.4 strichpunktiert dargestellt ist.
Ein einzelner Polarisationsdetektor entsprechend der Anordnung nach Fig.1 liefert dagegen eine Azimutabhängigkeit des Ausgangssignals,
deren Verlauf y2 und H2 in der Figur gestrichelt angedeutet
ist. Die Kurve für y2 verläuft nicht durch den Nullpunkt.
Die größte Modulationsabhängigkeit, dargestellt durch das Maximum
der H1-Funktion in Fig.4, wird beim 4fach-Detektor beim Nulldurchgang
der Ausgangsgröße y.. erreicht. Der antisymmetrische
Verlauf der Ausgangsgröße y-j bewirkt eine Verdoppelung der normierten
Steilheit, die in der Fig.4 an der doppelten Höhe der H1-Funktion gegenüber Hp entsprechend einer Anordnung mit einem
einzelnen Detektor erkenntlich ist.
Die amplitudenmodulationsunabhängige Anordnung aus vier Einzeldetektoren,
denen vier Einzelpolarisatoren zugeordnet sind, kann nach einer besonders vorteilhaften weiteren Ausgestaltung der
Anordnung nach der Erfindung dadurch verbessert werden, daß die Kristallkörper Kp bis Kc jeweils als Segment eines Kreisringes
gestaltet sind, deren Schaltung und Anordnung in Fig.5 schematisch
dargestellt sind. Die Enden der Kristallkörper sind jeweils derart miteinander verbunden, daß sich ihre elektrische
Anordnung als Brückenschaltung nach Fig.3 ergibt. Zwischen den
Verbindungsleitern der Kristallkörper K2 und K, sowie K. und
K5 fällt die Referenzspannung UR ab. Die polarisierte Signalspannung Ug erhält man zwischen den Verbindungsleitern der
Kristallkörper K, und K. sowie K2 und K^.
Als Polarisatoren können dann zweckmäßig ebenfalls solche mit
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gekrümmter Reflektorfläche vorgesehen sein, deren reflektierte Strahlen auf die Oberfläche der Kristallkörper K2 bis K^ geleitet
werden und dort einen kreisscheibenförmigen oder ringförmigen "Brennkreis" bilden. Solche Polarisatoren sind geeignet zur
Erfassung eines Strahlenbündels.
Eine wesentliche Vereinfachung der Anordnung nach der Erfindung erhält man dadurch, daß den Strahlungsempfängern nach Pig.5 ein
gemeinsamer Polarisator zugeordnet ist, der als Topf gestaltet sein kann, dessen Innenfläche den Reflektor bildet. Die gesamte
Reflektorfläche kann dann beispielsweise als vielseitiger Pyramidenstumpf mit einer größeren Anzahl trapezförmiger Einzelflächen
gestaltet sein, in dessen offene Grundfläche die Strahlung eintritt. Ferner ist beispielsweise ein Kegelstumpf als
reflektierende Fläche möglich. Die reflektierten Strahlen bilden dann auf der Oberfläche der Kristallkörper K2 bis K1- eine
Ringscheibe als wirksame Absorptionsfläche.
reflektierende Fläche möglich. Die reflektierten Strahlen bilden dann auf der Oberfläche der Kristallkörper K2 bis K1- eine
Ringscheibe als wirksame Absorptionsfläche.
Besonders vorteilhaft ist die Gestaltung des Reflektors als
außeraxiales Rotationsparaboloid nach Fig.6. Die Erzeugende des Rotationsparaboloids ist eine Parabel, deren Brennpunkt auf dem Detektor-Kristallring liegt, und deren Achse parallel zur durch den Ringmittelpunkt gehenden Rotationsachse verläuft. Letztere ist als Achse des topfförmigen Analysators zugleich die optische Achse. Die Innenfläche des Topfes 22 bildet dann ein
Rotationsparaboloid, dessen Rotationsachse in Richtung der zu
empfangenden Strahlung verläuft. Der geometrische Ort der Brennpunkte des Reflektors bildet einen Brennkreis auf der Oberfläche der Ringsegmente, die zwischen den Polschuhen eines Ringspal tmagneten 24 angeordnet sind, der sich unter dem Rotationsparaboloid befindet. Als Ringspaltmagnet 24 kann beispielsweise ein Lautsprecher-Topfmagnet vorgesehen sein. Mit einem derartigen Analysator erhält man einen Verlauf der Modulationsübertragungsfunktlon, der in Fig.4 als y, bzw. H, ausgezogen dargestellt ist. Diese Ausführungsform ergibt zwar ein etwas geringeres Ausgangssignal, sie hat jedoch den Vorteil, daß die gekrümmte Reflexionsfläche zugleich als Objektiydes Analysators wirken kann. Außerdem ist die konstruktive Gestaltung einer solchen Anordnung mit einem Gehäuse 22 und einem Ringspaltmagneten 24 mit
außeraxiales Rotationsparaboloid nach Fig.6. Die Erzeugende des Rotationsparaboloids ist eine Parabel, deren Brennpunkt auf dem Detektor-Kristallring liegt, und deren Achse parallel zur durch den Ringmittelpunkt gehenden Rotationsachse verläuft. Letztere ist als Achse des topfförmigen Analysators zugleich die optische Achse. Die Innenfläche des Topfes 22 bildet dann ein
Rotationsparaboloid, dessen Rotationsachse in Richtung der zu
empfangenden Strahlung verläuft. Der geometrische Ort der Brennpunkte des Reflektors bildet einen Brennkreis auf der Oberfläche der Ringsegmente, die zwischen den Polschuhen eines Ringspal tmagneten 24 angeordnet sind, der sich unter dem Rotationsparaboloid befindet. Als Ringspaltmagnet 24 kann beispielsweise ein Lautsprecher-Topfmagnet vorgesehen sein. Mit einem derartigen Analysator erhält man einen Verlauf der Modulationsübertragungsfunktlon, der in Fig.4 als y, bzw. H, ausgezogen dargestellt ist. Diese Ausführungsform ergibt zwar ein etwas geringeres Ausgangssignal, sie hat jedoch den Vorteil, daß die gekrümmte Reflexionsfläche zugleich als Objektiydes Analysators wirken kann. Außerdem ist die konstruktive Gestaltung einer solchen Anordnung mit einem Gehäuse 22 und einem Ringspaltmagneten 24 mit
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Polschuhen 26 und 28, der am Boden des Gehäuses 22 befestigt
ist, entsprechend einfach. Die auf den rotationssymmetrischen Polarisationsdetektor achsenparallel von oben einfallende und
durch Pfeile angedeutete Strahlung wird von dem außeraxialen Rotationsparaboloid auf den in vier gleich große Sektoren geteilten
Kristall fokussiert. Dieser Kreis stellt somit zugleich die Brennlinie des Paraboloids dar.
Durch den Ringspaltmagneten 24 wird ein radiales Magnetfeld erzeugt,
das die einzelnen in Pig.6 nicht dargestellten Halbleiterkörper durchsetzt. Der Reflektor 30 besteht aus einem'hochbrechenden, jedoch schwach absorbierenden Material, beispielsweise
Germanium oder Silizium. Der Reflektor 30 kann beispielsweise aus Kunstharz über einer Negativ-Form gegossen sein, wobei
Germanium- oder gegebenenfalls auch Silizium-Pulver in die ■■Gußmasse
eingebettet und anschließend die Oberflächenbeschichtung
30 durch Bedampfen mit Germanium bzw. Silizium hergestellt wird. Durch diese Beschichtung 30 des Reflektors wird eine Reflexion
der parallel zur Einfallsebene schwingenden Komponente der Strahlung
verhindert.
Als Staub- und Konvektionsschutz kann zweckmäßig noch ein kreisscheibenförmiges
Fenster 32 vorgesehen sein, das beispielsweise aus einer Kunststoffolie bestehen kann. Das Fenster 32 ist einerseits
zwischen Einzelteilen 34 und 36 eines Kopfes befestigt, beispielsweise mittels Schrauben 38 verschraubt, und sein Außenrand
istjmittels einer Überwurfmutter 40 des Kunst stoff gehäuses
luftdicht eingeklemmt. Der Kopfteil 36 ist mittels einer Feder 42 und einer Halterung 44 federnd gelagert. Die Halterung 44
trägt außerdem eine Streulichtblende 46. Die vom Reflexionskörper 30 reflektierten Strahlen bilden auf der Oberfläche der
Kristallkörper im Luftspalt des Ringmagneten 24 einen Brennkreis, der in der Figur durch Pfeile angedeutet ist. Für die
elektrischen Anschlußleiter der einzelnen Kristallkörper können Bohrungen 48 vorgesehen sein.
Nach der in Fig.7 dargestellten Draufsicht dient die Überwurfmutter 40 zur Befestigung der Schutzfolie 32 und bildet die
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Begrenzung des Gehäuses 22. Im Zentrum der Anordnung ist das Kopfteil 36 sichtbar, das von drei Stegen 48 gehalten wird.
Das gleichzeitig als Objektiv und als Analysator wirksame außeraxiale
Rotationsparaboloid 30 ist so bemessen, daß sämtliche
achsenparallel durch das Fenster 32 einfallenden Strahlen unter einem Einfallswinkel <f nahe dem Polarisationswinkel tf ρ auf die
Oberfläche des Reflektors 30 treffen und auf den im Brennkreis angeordneten Detektor unter einem nicht zu großen Einfallswinkel
y auftreffen. Die Grenzwerte der genannten Winkel für einen
Germanium-Analysator mit einem Polarisationswinkel cf = 75° 58' können vorteilhaft gewählt werden zu:
^ max ^ 81°
(^ min 5» 70°
max « 40°.
(^ min 5» 70°
max « 40°.
Der Brennkreisdurchmesser d nach Pig.7 ist durch die Maße des
gewählten Ringspaltmagneten 24 festgelegt. Der Außendurchmesser D des Reflektors kann frei gewählt werden.
Im Ausführungsbeispiel nach Fig.2 ist eine Anordnung mit vier
Detektoren gewählt, von denen jeweils zwei zueinander senkrechten Polarisationsrichtungen zugeordnet sind. Eine einfachere
Ausführung erhält man mit zwei Detektoren, die zueinander senkrechten Polarisationsrichtungen zugeordnet sind. Die Kristallkörper
dieser Detektoren sind dann in zwei benachbarten Brükkenzweigen nach Fig.3 anzuordnen und die beiden übrigen Brückenzweige
erhalten jeweils einen festen V/iderstand. Eine solche Anordnung erfordert zwar einen geringeren Aufwand, sie hat
aber auch eine geringere Empfindlichkeit.
Zum Empfang eines Strahls mit verhältnismäßig großem Durchmesser von beispielsweise mehreren Metern kann dem Analysator
nach Fig.6 noch ein in der Figur nicht dargestelltes telesko-,pisches
System, insbesondere ein Spiegelteleskop, vorgeschaltet sein.
10 Patentansprüche
7 Figuren
7 Figuren
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Claims (10)
- VPA 70/7510PatentansprücheM .J Anordnung zur Informationsübertragung mit einer Infrarotstrahlungsquelle, insbesondere Laser-Strahlungsquelle, mit Mitteln zur Polarisationsmodulation der Strahlung und einem Analysator sowie einem Strahlungsdetektor, dadurch gekennzeichnet, daß als Empfänger mindestens zwei PEM-Detektoren oder OEN-Detektoren vorgesehen sind, die zueinander senkrechten Po larisati ons richtungen zugeordnet sind, deren strahlungsempfindliche Kristalle (Kp bis Kr) um den gemeinsamen Innenpol (S) eines Magnetsystems angeordnet sind und von denen jeweils die Kristalle zweier einander gegenüberliegender Detektoren (Kp, K- bzw. K,, Kc) zu einer gemeinsamen Polarisationsrichtung gehören und denen mindestens ein Analysator (P2 bis P,-) zugeordnet ist.
- 2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vier OEN-Detektoren (2 bis 5) vorgesehen sind, die zwei zueinander senkrechten Polarisationsrichtungen zugeordnet sind.
- 3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Kristalle (K2 bis K5) der Detektoren (2 bis 5) jeweils einen Zweig einer Brückenschaltung bilden, an deren einer Diagonale die halbe Summe sämtlicher Leerlaufspannungen (U2 bis Ur) der einzelnen Detektoren (2 bis 5) als Referenzspannung (U-d) und an deren anderer Diagonale die halbe Differenz der von den beiden gegenüberliegenden Detektorpaaren (2,4 bzw. 3»5) erzeugten LeerlaufSpannungssummen als polarisationsmodulierte Signalspannung (Ug) entsteht.- H -109841/0778VPA 70/7510
- 4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Kristalle (Kp Ma K1-) der Detektoren (2 bis 5) jeweils als Ringsegment gestaltet sind, und daß Reflexionspolarisatoren mit gekrümmter Fläche vorgesehen sind.
- 5. Anordnung nach Anspruch 4» dadurch gekennzeichnet, daß die Reflektoren (P2 bis P.) jeweils als Sektor eines gemeinsamen, außeraxialen Rotationsparaboloids gestaltet sind.
- 6. Anordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Kristalle der Detektoren im Luftspalt eines Ringspaltmagneten (24) angeordnet sind, dessen Achse gleich der Rotationsachse des Rotationsparaboloids ist.
- 7. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß den Kristallen (K2 bis Kg) der Detektoren ein gemeinsamer topfförmiger Reflektor (30) zugeordnet ist, dessen reflektierende Fläche die Form eines außeraxialen rotationssymmetrischen Paraboloids ist.
- 8. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche der Polarisatoren (Pp bis Pj-) bzw. des Analysators (30) mit Germanium bedampft ist.
- 9. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8 mit OEN-Detektoren, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (2 bis 5) einen Halbleiterkörper aus einer A-j-j-j-By-Verbindung haben, deren Kristall einander parallele Einschlüsse einer zweiten kristallinen Phase aus elektrisch besser leitendem Material enthält.
- 10. Anordnung nach Anspruch 9» dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterkörper aus Indium-Antimonid (InSb) bestehen, die Einschlüsse aus Nickel-Antimonid (NiSb) enthalten.109841/0778Leerseite
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