DE19819755A1 - Verfahren zum Erfassen der Oberflächeneigenschaften von Werkstücken - Google Patents
Verfahren zum Erfassen der Oberflächeneigenschaften von WerkstückenInfo
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Abstract
Ein erfindungsgemäßes Verfahren zum Erfassen der Oberflächeneigenschaften von Werkstücken (3) durch Messen der gerichteten Reflexion auftreffender Strahlen (2) ist dadurch gekennzeichnet, daß zur Erhöhung des Glanzgrades vor dem Meßvorgang auf der Werkstückoberfläche eine glänzende Beschichtung (9) aufgebracht und nach dem Meßvorgang wieder entfernt wird. Damit lassen sich auch bei Werkstückoberflächen mit einem an sich nur geringen Glanzgrad zuverlässige Meßergebnisse erzielen.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Erfassen der Oberflächen
eigenschaften von Werkstücken durch Messen der gerichteten Reflexion
auftreffender Strahlen.
Die Struktur von Oberflächen kann mit Geräten erfaßt werden, die ermitteln,
unter welchem Winkel sichtbares Licht, insbesondere Laserlicht, das auf die
Oberfläche strahlt, reflektiert wird. Je größer z. B. dieser Winkel streut, desto
welliger ist die Oberfläche.
Die Messung dieser gerichteten Reflexion wird im allgemeinen Sprachge
brauch als "Strukturmessung" bezeichnet; die entsprechenden Geräte sind
unter der Bezeichnung "Reflektometer" in Gebrauch. Handhabung solcher
Geräte und weitere Hintergrundinformationen gehen u. a. aus entsprechen
den Betriebsanleitungen von im Handel befindlichen Geräten aus, vgl. bei
spielsweise Betriebsanleitung zum Meßgerät "Wave-Scan-Plus" von BYK-
Gardner GmbH, DE.
Damit dieses Meßverfahren, das u. a. bei Automobilherstellern zur Lack
oberflächenstrukturbestimmung eingesetzt wird, zu aussagekräftigen
Ergebnissen führt, muß die Oberfläche einen Glanzgrad von mindestens 85%
aufweisen. Der Glanzgrad der Grundierung, des Füllers und des
Basislackes, also der ersten Beschichtungen einer Anzahl von
Oberflächenbeschichtungen für Kraftfahrzeugkarosserien, erfüllen dieses
Kriterium nicht, inbesondere dann, wenn der Basislack ein sogenannter
"Wasserlack" ist. Dabei wäre aber wichtig, die Entwicklung der
Oberflächenqualität bereits in einer frühen Stufe des Beschich
tungsprozesses zu ermitteln, um entsprechende Maßnahmen zur
Optimierung ergreifen zu können.
Von daher liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, das Verfahren zum
Erfassen der Oberflächeneigenschaften von Werkstücken gemäß Oberbe
griff des Patentanspruches 1 so zu verbessern, daß auch bei Oberflächen
mit einem wesentlich geringeren Glanzgrad zuverlässige Meßergebnisse
erzielbar sind.
Erfindungsgemäß wird dies durch eine Verfahrensweise gemäß dem Kenn
zeichen des Patentanspruches 1 erreicht.
Durch das erfindungsgemäße vorherige Aufbringen einer glänzenden Folie
oder dergleichen, insbesondere eines Klebefilmes, kann das Meßverfahren
sehr frühzeitig eingesetzt bzw. auch bei solchen Oberflächen verwendet
werden, bei denen dies mangels Vorliegens eines entsprechenden
Glanzgrades bisher nicht möglich war. Bereits durchgeführte Versuche ha
ben ergeben, daß bei Verwenden eines Klebebandes mit einer sehr gerin
gen Eigenstruktur und einer Schichtdicke < 50 µm besonders gute Ergeb
nisse zu erzielen sind. Das Klebeband der Firma Nitto-Deutschland GmbH,
Ratingen, mit der Produktbezeichnung 31B erwies sich als besonders ge
eignet.
Zwar ist es im Stand der Technik bereits bekannt (DE 40 06 420 A1, DE 40 19 066 A1),
für Vorrichtungen zum optischen Erfassen von Fremdkörpern
oder eines Belages auf einer Scheibe transparente Folien einzusetzen, die
zwischen einer Sensorik und der Scheibenoberfläche angeordnet sind, An
regungen für die vorliegende Erfindung sind aus diesem Stand der Technik
aber nicht ableitbar.
Die Erfindung ist nachstehend weiter erläutert, wobei die zugehörigen Fig.
1a und 1b zum besseren Verständnis heranzuziehen sind.
Gemäß Fig. 1a beleuchtet eine Laserpunktlichtquelle 1 bzw. deren Laser
strahl 2 eine Oberflächenstruktur eines Werkstückes 3 bezogen auf die
Werkstückebene 10 unter einem Winkel γ, beispielsweise 30°, bzw. Winkel
α1, beispielsweise 60°. Ausgehend von einer Normalen 4 (Winkel β1) befin
det sich unter dem gleichen Winkel α1 auf der zur Laser-Punktlichtquelle 1
gegenüberliegenden Seite ein Detektor 5, der den reflektierten Laserstrahl 6
aufnimmt. Dem Detektor 5 ist eine Blende 7 vorgeschaltet, so daß es dem
reflektierenden Laserstrahl 6 nur bei relativ geringer Abweichung
(Streubereich 8) des Reflexionswinkels α1 möglich ist, auf den Detektor 5 zu
treffen.
Das Meßgerät zum Erfassen der Oberflächenstruktur des Werkstückes 3
wird für den Meßvorgang über eine gewisse Strecke entlang dieser Oberflä
che bewegt und von Punkt zu Punkt die Reflexion gemessen. Je nach Aus
richtung der Oberflächennormalen 4 (β1, β2) und Reflexionswinkel (α1, α2)
des betrachteten Strukturelementes tritt eine hohe (Fig. 1a) oder niedrige
(Fig. 1b) Lichtmenge in den Detektor 5. Man erhält so ein Profil der reflek
tierten Lichtintensität und damit ein Maß für die Oberflächenstruktur des
Werkstückes 3.
Um auch bei Werkstückoberflächen mit relativ geringem Glanzgrad ein
brauchbares Meßergebnis zu erzielen, wird vor dem Meßvorgang auf die
Werkstückoberfläche eine glänzende Klebefolie 9 aufgebracht. Denkbar
wäre auch die Verwendung eines aufstreichbaren oder in sonstiger Weise
aufbringbaren Klebefilmes, der nach dem Meßvorgang als Folie wieder
abgezogen werden kann. Beim Auftragen muß darauf geachtet werden, daß
die Werkstückoberfläche staubfrei ist, weil alle Partikel unter dem Klebefilm
bzw. der Klebefolie 9 den Struktureindruck und damit das Meßergebnis
verfälschen können. Auch ist der Einschluß von Gasbläschen zu vermeiden.
Zum Auftragen eines Klebefilmes haben sich in praktischen Versuchen
Spachteln aus weichem Kunststoff bewährt.
Das erfindungsgemäße Verfahren kann auch zur Einschätzung der Ver
laufseigenschaften (Eigenstruktur) von Beschichtungsstoffen (z. B. Lacke)
eingesetzt werden. Dazu kann beispielsweise der Beschichtungsstoff auf ein
poliertes Blech appliziert und nach Aufbringen des Klebefilmes bzw. der
Klebefolie 9 untersucht werden.
Der Vorteil der Applikation des Lackes auf ein poliertes Blech ist, daß so die
Struktur der Oberfläche ermittelt werden kann, die von dem Material alleine
erzeugt wird. Polierte Bleche haben praktisch keine Oberflächenstruktur; sie
sind eben wie ein Spiegel. Die nach dem Lackauftrag gemessene Struktur
stammt zweifelsfrei vom aufgetragenen Material. Bei Messungen auf vorher
bereits beschichteten Teilen überlagert sich die Ausgangsstruktur mit der
vom neuen Material erzeugten Struktur so, daß eine Aussage über Eigen
strukturen von Materialien nicht getroffen werden kann.
Claims (5)
1. Verfahren zum Erfassen der Oberflächeneigenschaften von Werkstücken
durch Messen der gerichteten Reflexion auftreffender Strahlen, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Erhöhung des Glanzgrades vor dem Meßvor
gang auf die Werkstückoberfläche eine glänzende Beschichtung (9)
aufgebracht und nach dem Meßvorgang wieder entfernt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die Verwendung einer
Klebefolie (9).
3. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die Verwendung eines
aufstreichbaren Klebefilmes.
4. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die Verwendung einer
Beschichtung (9) mit geringer Eigenstruktur.
5. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die Verwendung einer
Beschichtung (9) mit einer Schichtdicke < 50 µm.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998119755 DE19819755A1 (de) | 1998-05-04 | 1998-05-04 | Verfahren zum Erfassen der Oberflächeneigenschaften von Werkstücken |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1998119755 DE19819755A1 (de) | 1998-05-04 | 1998-05-04 | Verfahren zum Erfassen der Oberflächeneigenschaften von Werkstücken |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE19819755A1 true DE19819755A1 (de) | 1999-11-11 |
Family
ID=7866563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE1998119755 Withdrawn DE19819755A1 (de) | 1998-05-04 | 1998-05-04 | Verfahren zum Erfassen der Oberflächeneigenschaften von Werkstücken |
Country Status (1)
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