DE19743365A1 - Method for producing a multi-level wiring carrier (substrate), in particular for multichip modules - Google Patents
Method for producing a multi-level wiring carrier (substrate), in particular for multichip modulesInfo
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Abstract
Description
Der Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines Mehrebenen-Verdrahtungsträgers (Substrat) insbesondere für Multichipmodule, bei dem das Leiterbahnsystem in mehreren Beschichtungs- und Mikrostrukturierungsschritten gleichzeitig auf mehrere Einzelsubstrate aufgebracht wird, die dabei einstückig zusammenhängen und erst nach der Strukturierung vereinzelt werden.The invention relates to a method for producing a Multi-level wiring substrate (substrate) especially for Multichip modules, in which the conductor track system in several Coating and microstructuring steps simultaneously which is applied to several individual substrates connected in one piece and only after structuring be isolated.
Mit den zunehmend kleiner und schneller werdenden Integrierten Schaltungen wächst die Herausforderung an ihre Aufbau- und Verbindungstechnik. Bisher werden noch vielfach einzelne Chips in einzelne Gehäuse gepackt und weiterverarbeitet. Mehrere technische Gründe lassen jedoch eine Weiterentwicklung dieser Häusungsverfahren wünschenswert erscheinen. So müssen derzeit die Verbindungen der verschiedenen Chip- Bausteine eines Systems (Prozessoren, Speicher, . . .) über Pin/Pin Verdrahtungen außerhalb der einzelnen Singlechip-Gehäuse in einer höheren Architekturebene des Systemaufbaus realisiert werden. Die häufig sehr hohe Zahl von Pins pro Chip (bis einige Hundert) steht einer weiteren Integration im Wege. Auch zwingen die Senkung des Energieverbrauches und Erhöhung der Taktrate (Signallaufzeiten) zu kürzeren Leitungswegen und damit zur dichteren Plazierung der unterschiedlichen Chips. Als Konsequenz dieser Forderungen sind seit einiger Zeit Multichipmodule bekannt und auf dem Markt erhältlich.With the increasingly smaller and faster Integrated circuits are facing increasing challenges Construction and connection technology. So far, there are still many individual chips packed in individual packages and processed further. However, there are several technical reasons further development of these housing processes is desirable appear. So the connections of the different chip components of a system (processors, Storage, . . .) via pin / pin wiring outside the single single-chip package in a higher one Architectural level of the system structure can be realized. The often very high number of pins per chip (up to a few Hundred) stands in the way of further integration. Also force the reduction in energy consumption and increase in Clock rate (signal propagation times) for shorter cable routes and thus for the closer placement of the different chips. As a consequence of these demands have been for some time Multichip modules known and available on the market.
Durch diese Module wird ein Zwischenträgersubstrat mit hoher Verdrahtungsdichte als zusätzliche Ebene in die Hierarchie des Systemaufbaus eingeführt. Typisch dabei sind die Verwendung mehrerer ungehäuster Chips und eine hohe Flächenbelegung des Multichip-Substrats. Eine ähnliche bekannte Neuentwicklung betrifft das Chip-Size Package (CSP), bei dem ein einzelner ungehäuster Chip auf ein Zwischensubstrat aufgebracht wird, das kaum größer als die Chipfläche ist, und bei dem dann die platzsparende Kontaktierung zur nächsten Architekturebene direkt unter der Chipfläche genutzt wird.Through these modules, an intermediate carrier substrate with high Wiring density as an additional level in the hierarchy of the system structure introduced. They are typical Using multiple bare chips and a high one Area coverage of the multichip substrate. A similar Known new development concerns the chip size package (CSP), in which a single bare chip on a Intermediate substrate is applied, which is hardly larger than that Chip area is, and then the space-saving Contact to the next architecture level directly under the Chip area is used.
Diese neuartigen Integrationstechniken bedürfen eines
Trägersubstrats, auf dem sowohl die Chips montiert als auch,
für Multichip-Module, durch extrem kurze Verdrahtungen
untereinander elektrisch verbunden sind. Aufgrund der in
Dünnfilmtechnik (bisher auf Keramiksubstraten) erreichbaren
hohen Verdrahtungsdichte (typische Leiterbahnbreiten 5-50 µm)
sind normalerweise zwei bis vier Metallisierungsebenen
ausreichend. Die wesentlichen Technologieschritte bei der
Herstellung eines Dünnfilm-Mehrebenen-Verdrahtungsträgers
sind:
These new integration techniques require a carrier substrate on which both the chips are mounted and, for multichip modules, are electrically connected to each other by extremely short wiring. Due to the high wiring density that can be achieved in thin-film technology (previously on ceramic substrates) (typical conductor track widths 5-50 µm), two to four metallization levels are normally sufficient. The main technological steps in the production of a thin-film multi-level wiring carrier are:
- - Aufbringen von Metallisierungen durch Sputtertechnik oder durch Aufdampfen,- Application of metallizations by sputtering technology or by vapor deposition,
- - die nachfolgende Fotolithographie,- the subsequent photolithography,
- - und naßchemische oder trockene Ätzprozesse zur Strukturerzeugung.- and wet chemical or dry etching processes for Structure creation.
Die Isolationsschichten des Mehrebenen-Verdrahtungsträgers werden dabei typischerweise aus fotostrukturierbaren Polymeren hergestellt, die gegenüber den Temperaturbelastungen beim anschließenden Häusungsverfahren (beispielsweise Plastumspritzprozesse) unempfindlich sind.The insulation layers of the multi-level wiring board are typically made of photostructurable Polymers produced that are compared to the Temperature loads during the subsequent Housing process (for example Plastic extrusion processes) are insensitive.
Die bisherigen Techniken, insbesondere die Dünnfilmtechnik, zur Herstellung von Multichipsubstraten nutzen das auch aus der Halbleiterherstellung bekannte Prinzip der Fertigung der Einzelsubstrate in Wafern (Panels oder Nutzen). Dabei wird eine Anzahl gleicher, noch nicht zerteilter Einzelsubstrate gleichzeitig prozessiert. In der Dünnfilmtechnik werden typische, rechteckige Wafer mit einer Größe von (4-8 Zoll)2 einzeln (beispielsweise bei Spin- Coating- Prozessen oder bei Fotolithographie)oder in Gruppen (beispielsweise bei Sputter-Metallisierung oder bei galvanischer Verstärkung) den Herstellungsprozessen unterzogen.The previous techniques, in particular thin-film technology, for producing multichip substrates use the principle of manufacturing individual substrates in wafers (panels or panels), which is also known from semiconductor production. A number of identical, not yet divided individual substrates are processed simultaneously. In thin film technology, typical rectangular wafers with a size of (4-8 inches) 2 are subjected to the manufacturing processes individually (for example in spin coating processes or in photolithography) or in groups (for example in sputter metallization or in the case of galvanic amplification).
Entscheidend ist nun, daß Waferdicken von 400 µm und mehr erforderlich sind, um ein sicheres Handling (maschinell oder manuell), beispielsweise den Transport eines Wafers von einer Fertigungsstation zur nächsten, zu realisieren. Für eine rationelle Fertigung möchte man natürlich gleichzeitig möglichst viele Einzelsubstrate, das heißt einen großen Wafer, bearbeiten, womit jedoch wiederum die erforderliche Waferdicke wächst. Dies ist insofern problematisch, als andererseits die Forderung von Anwenderseite her besteht, auch für Multichipmodule die standardisierten Halbleitergehäuse verwenden zu können. Eine typische flache Gehäuseform, wie das Quad-Flat-Pack (QFP)-Gehäuse hat eine Standarddicke des Plastikkörpers von 1,4 mm, die in Zukunft eher noch reduziert werden soll. Bei den mit den bekannten Verfahren hergestellten bisherigen Substraten kämen bei derartigen flachen Gehäuseformen zur Dicke des Leadframes, der Chips und des Plastikmaterials wie oben erwähnt noch mal 0,4 mm (Zwischenträgersubstratdicke) in der Höhe hinzu, so daß sich das Standardmaß von 1,4 mm oder weniger nicht halten ließe. Prinzipiell könnten zur Abhilfe zwar aus der Siliziumtechnologie bekannte Abdünnprozesse eingesetzt werden, die jedoch für die Anwendung bei der Herstellung von Multichipmodulen zu aufwendig erscheinen.It is now crucial that wafer thicknesses of 400 microns and more are required to ensure safe handling (machine or manually), for example the transport of a wafer from a Manufacturing station to the next to realize. For one of course you want rational production at the same time as many individual substrates as possible, that is, a large one Wafers, process, which in turn, however, the necessary Wafer thickness is growing. This is problematic in that on the other hand, there is a requirement from the user side, the standardized also for multichip modules To be able to use semiconductor packages. A typical flat one Case shape, like the Quad Flat Pack (QFP) case has a Standard thickness of the plastic body of 1.4 mm, which in the future rather should be reduced. With those with the known Previous substrates produced by the process would come along such flat housing shapes to the thickness of the lead frame, the chips and the plastic material as mentioned above 0.4 mm (subcarrier substrate thickness) in height so that the standard dimension of 1.4 mm or less does not hold let. In principle, the remedy could be from the Silicon technology uses known thinning processes be, however, for use in the manufacture of Multichip modules seem too expensive.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, das Verfahren der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß der Aufbau von sehr dünnen, insbesondere auf Leadframes basierenden Multichipmodulen ermöglicht wird. Insbesondere soll ein Substrat auf Dünnschichtbasis herstellbar werden, welches in seiner technologischen Verarbeitbarkeit und in seiner äußeren Geometrie keinerlei Einschränkungen an die bisherigen Häusungstechniken erfordert.The present invention is therefore based on the object to further develop the method of the type mentioned at the beginning, that building very thin ones, especially on lead frames based multichip modules. In particular a thin-film-based substrate is to be produced, which in its technological processability and in its outer geometry no restrictions on the previous housing techniques required.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einem Verfahren der eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß die Einzelsubstrate zumindest während der Strukturierung in Form eines Bandsubstrats prozessiert werden.According to the invention, this object is achieved in a method of type mentioned solved in that the Individual substrates in shape at least during structuring of a tape substrate can be processed.
Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche. Die Erfindung und ihre Weiterbildungen werden nachfolgend noch näher erläutert.Developments of the invention are the subject of Subclaims. The invention and its developments are explained in more detail below.
Der Erfindung liegt die Idee zugrunde, von der bisherigen Fertigung der Schaltungen auf Einzelwafern abzugehen zu Gunsten einer - im wesentlichen - kontinuierlichen Substratfertigung in Form von Bändern. Bandfertigung erlaubt die Nutzung von extrem dünnen Trägermaterialien ohne zusätzliche Handlingprobleme. Sie sichert einen enormen Produktivitätsgewinn durch kontinuierliche Fertigung bei Metallisierung und Mikrostrukturierung.The invention is based on the idea of the previous one Manufacturing of circuits to go on single wafers In favor of an - essentially - continuous Production of substrates in the form of tapes. Band production allowed the use of extremely thin substrates without additional handling problems. It secures an enormous Productivity gain through continuous production at Metallization and microstructuring.
Als Substratmaterial kommen Keramikbänder, organische Materialien wie Epoxid-Filme und, vor allem, dünne Metallbänder in Frage. Letztere eignen sich besonders gut, da sie eine sehr gute Wärmeleitfähigkeit besitzen, was zum Abtransport der Verlustleistung der Chips vorteilhaft ist und außerdem sehr gute elektrische Leitfähigkeiten besitzen, was ihren Einsatz als globale Ground- und Abschirmungsebene ermöglicht.Ceramic tapes, organic, come as substrate material Materials like epoxy films and, above all, thin ones Metal bands in question. The latter are particularly good because they have a very good thermal conductivity, which leads to Removing the power loss of the chips is advantageous and also have very good electrical conductivities, what their use as a global ground and shielding level enables.
Die dünnen Bandsubstrate werden erfindungsgemäß vorzugsweise mit einer Dicke von weniger als 100 µm gefertigt. Der Aufbau der verschieden Schichten des Leiterbahnsystems nimmt insgesamt etwa 20 µm in Anspruch. The thin tape substrates are preferred according to the invention manufactured with a thickness of less than 100 µm. The structure which takes different layers of the interconnect system a total of about 20 µm.
Bei einem Bandsubstrat aus Metall bestehen grundsätzlich zwei
Möglichkeiten der Weiterverarbeitung hinsichtlich eines
Leadframes:
Einerseits ist es möglich, die strukturierten Metallsubstrate
auf ein zusätzliches, übliches Leadframe zu setzen.
Andererseits kann im folgenden auch das metallische
Bandsubstrat selbst zum Leadframe weiterverarbeitet werden.
Dabei bietet es sich an, als Grundmaterialien des
Verdrahtungsträgers die in typischen Legierungen von
Leadframes verwendeten, also Kupfer oder Eisen zu wählen. Mit
einem derartigen "Leadframe-Substrat" als Verdrahtungsträger
hat man einerseits die Materialvorzüge (Moldbarkeit,
Verträglichkeit mit dem Silizium-Chip) des Leadframes als
Substratträger benutzt und dies andererseits vorteilhaft mit
einem sehr dünnen Verdrahtungsträger verbunden. Der bisherige
Technologieablauf der Häusungsprozesse wird vollständig
beibehalten. Anstelle eines konventionellen Leadframes wird
ein Leadframe-Substrat genutzt, anstelle eines Chips auf
einem konventionellen Leadframe wird eine Vielzahl von Chips
auf dem Leadframe-Substrat plaziert. Ultradünne Module sind
folglich möglich.With a strip substrate made of metal, there are basically two options for further processing with regard to a lead frame:
On the one hand, it is possible to place the structured metal substrates on an additional, common lead frame. On the other hand, the metallic strip substrate itself can also be further processed into the lead frame below. It is advisable to choose copper or iron as the base materials for the wiring carrier, which are used in typical lead frame alloys. With such a "leadframe substrate" as a wiring carrier, on the one hand the material advantages (moldability, compatibility with the silicon chip) of the leadframe have been used as a substrate carrier and, on the other hand, this has advantageously been combined with a very thin wiring carrier. The previous technology process for the housing processes will be retained in full. Instead of a conventional leadframe, a leadframe substrate is used; instead of a chip on a conventional leadframe, a large number of chips are placed on the leadframe substrate. Ultra-thin modules are therefore possible.
Der bisherige technologische Ablauf ist analog auf die
erfindungsgemäße Bandfertigung übertragbar:
Die Abscheidung der Metall-/Leitungsebenen erfolgt durch
Metallisierung von Bändern z. B. mittels Sputtertechnik,
gegebenenfalls mit anschließender galvanischer Verstärkung.
Die Abscheidung von Isolationsebenen wird realisiert durch
den Auftrag von Isolationsmaterial auf das Bandsubstrat,
beispielsweise durch Roller Coating, Spray Coating oder durch
Extrusion Coating. Die Fotolithographie der Leiter- und
Isolationsebenen ist durchführbar durch Belackung von
Bandsubstraten, beispielsweise durch Roller Coating, Spray
Coating oder Extrusion Coating, anschließendes Belichten und
Entwickeln von Bandsubstraten. Auch die bisherigen
Naß-Ätzprozesse der Leitungs-/Isolationsebenen sind als
Bad-Ätzprozesse von Bändern durchführbar. Einzelne Erfahrungen
mit Abscheidungs- und Strukturierungsprozessen im
Zusammenhang mit Bandfertigung sind bereits aus der
Herstellung von Leadframes mit feinen Strukturen (ca. 65 µm)
bekannt.The previous technological process can be transferred analogously to the strip production according to the invention:
The deposition of the metal / line levels takes place by metallization of strips z. B. by means of sputtering, optionally with subsequent galvanic amplification. The deposition of insulation levels is achieved by applying insulation material to the strip substrate, for example by roller coating, spray coating or by extrusion coating. The photolithography of the conductor and insulation levels can be carried out by coating tape substrates, for example by roller coating, spray coating or extrusion coating, then exposing and developing tape substrates. The previous wet etching processes of the line / insulation levels can also be carried out as bath etching processes of strips. Individual experiences with deposition and structuring processes in connection with band production are already known from the production of lead frames with fine structures (approx. 65 µm).
Erfindungsgemäß resultieren nicht nur qualitativ verbesserte, nämlich extrem dünne Multichipmodule, sondern es wird auch quantitativ ein erheblich verringerter Aufwand in der Substratherstellung erzielt. Durch die Ablösung der Bearbeitung von Einzelscheiben kann sehr leicht und mit viel Kosteneinsparung auf sehr große Wafergrößen mit dementsprechend größerer Anzahl gleichzeitig prozessierbarer Substratträger für ein Multichipmodul übergegangen werden. Zusätzlich vereinfachen sich die Handling-Systeme extrem, da die Fertigung nunmehr im wesentlichen durch den Transport des Bandsubstrats von Rolle zu Rolle durch eine oder mehrere Fertigungstationen erfolgt.According to the invention, not only do qualitatively improved, namely extremely thin multichip modules, but it will too quantitatively a significantly reduced effort in the Substrate production achieved. By replacing the Machining single disks can be done very easily and with a lot Cost savings on very large wafer sizes with accordingly, a larger number can be processed at the same time Substrate carrier for a multichip module can be transferred. In addition, the handling systems are extremely simplified because the production now essentially through the transport of the Tape substrates from roll to roll by one or more Manufacturing stations are carried out.
Das Leiterbahn- und Kontaktsystem auf der Oberseite der Substrate kann in Dünnschichttechnik, Dickschichttechnik oder einer Kombination aus beiden hergestellt werden.The conductor track and contact system on the top of the Substrates can be made using thin film technology, thick film technology or a combination of the two.
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TW87114630A TW437018B (en) | 1997-09-30 | 1998-09-03 | Method for producing a multi-plane wiring carrier (substrate, especially for multi-chip module) |
EP98955336A EP1019961A1 (en) | 1997-09-30 | 1998-09-16 | Method for producing a multilevel cable carrier (substrate), especially for multichip modules |
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JP2000514330A JP2001518713A (en) | 1997-09-30 | 1998-09-16 | Particularly, a method of manufacturing a multilayer wiring carrier (substrate) for a multichip module |
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TW (1) | TW437018B (en) |
WO (1) | WO1999017363A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19830158C2 (en) * | 1997-09-30 | 2001-05-10 | Tyco Electronics Logistics Ag | Intermediate carrier substrate with high wiring density for electronic components |
DE10084657B4 (en) * | 2000-04-04 | 2007-08-09 | Kingpak Technology Inc., Chupei | Module card and manufacturing process for this |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3619636A1 (en) * | 1986-06-11 | 1987-12-17 | Bosch Gmbh Robert | Housing for integrated circuits |
DE4237080A1 (en) * | 1992-11-03 | 1994-05-11 | Hauck Martin | Multilayer film integrated circuit for microprocessor chip - has vapour-deposited thin film circuits laid out on flexible strip for rolling with interlayer of insulating material |
US5510650A (en) * | 1994-09-02 | 1996-04-23 | General Motors Corporation | Low mechanical stress, high electrical and thermal conductance semiconductor die mount |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4621278A (en) * | 1981-12-30 | 1986-11-04 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Composite film, semiconductor device employing the same and method of manufacturing |
US4997517A (en) * | 1990-01-09 | 1991-03-05 | Olin Corporation | Multi-metal layer interconnect tape for tape automated bonding |
JPH03270026A (en) * | 1990-03-20 | 1991-12-02 | Fujitsu Ltd | Manufacture of ic package |
JPH07105461B2 (en) * | 1990-08-03 | 1995-11-13 | 三菱電機株式会社 | Method for manufacturing insulating substrate for semiconductor device and metal pattern plate therefor |
-
1997
- 1997-09-30 DE DE1997143365 patent/DE19743365A1/en not_active Withdrawn
-
1998
- 1998-09-03 TW TW87114630A patent/TW437018B/en not_active IP Right Cessation
- 1998-09-16 JP JP2000514330A patent/JP2001518713A/en active Pending
- 1998-09-16 EP EP98955336A patent/EP1019961A1/en not_active Withdrawn
- 1998-09-16 WO PCT/DE1998/002742 patent/WO1999017363A1/en not_active Application Discontinuation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3619636A1 (en) * | 1986-06-11 | 1987-12-17 | Bosch Gmbh Robert | Housing for integrated circuits |
DE4237080A1 (en) * | 1992-11-03 | 1994-05-11 | Hauck Martin | Multilayer film integrated circuit for microprocessor chip - has vapour-deposited thin film circuits laid out on flexible strip for rolling with interlayer of insulating material |
US5510650A (en) * | 1994-09-02 | 1996-04-23 | General Motors Corporation | Low mechanical stress, high electrical and thermal conductance semiconductor die mount |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
SCHMIDT, W.: "Kompakte Leiterplatte durch Plasma- Bohren" in: F + M 104 (1996) S. 11-12 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19830158C2 (en) * | 1997-09-30 | 2001-05-10 | Tyco Electronics Logistics Ag | Intermediate carrier substrate with high wiring density for electronic components |
DE10084657B4 (en) * | 2000-04-04 | 2007-08-09 | Kingpak Technology Inc., Chupei | Module card and manufacturing process for this |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1019961A1 (en) | 2000-07-19 |
TW437018B (en) | 2001-05-28 |
JP2001518713A (en) | 2001-10-16 |
WO1999017363A1 (en) | 1999-04-08 |
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8165 | Unexamined publication of following application revoked |