DE19719210A1 - Procedure for the calibration of spectroradiometers - Google Patents

Procedure for the calibration of spectroradiometers

Info

Publication number
DE19719210A1
DE19719210A1 DE19719210A DE19719210A DE19719210A1 DE 19719210 A1 DE19719210 A1 DE 19719210A1 DE 19719210 A DE19719210 A DE 19719210A DE 19719210 A DE19719210 A DE 19719210A DE 19719210 A1 DE19719210 A1 DE 19719210A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
spectral
temperatures
calibration
device functions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19719210A
Other languages
German (de)
Other versions
DE19719210B4 (en
Inventor
Erwin Dr Lindermeir
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Deutsches Zentrum fuer Luft und Raumfahrt eV
Original Assignee
Deutsches Zentrum fuer Luft und Raumfahrt eV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Deutsches Zentrum fuer Luft und Raumfahrt eV filed Critical Deutsches Zentrum fuer Luft und Raumfahrt eV
Priority to DE19719210A priority Critical patent/DE19719210B4/en
Priority to GB9809663A priority patent/GB2326472B/en
Priority to FR9805808A priority patent/FR2763126B1/en
Publication of DE19719210A1 publication Critical patent/DE19719210A1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE19719210B4 publication Critical patent/DE19719210B4/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/52Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
    • G01J5/53Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.The invention relates to a method according to the preamble of claim 1.

Ein solches Verfahren zur Kalibrierung von Spektralradiome­ tern, insbesondere von Fourier-Spektrometern (auch als Fou­ rier-Transform-Spektrometer bezeichnet) und vorzugsweise von solchen, die für Messungen im infraroten Spektralbereich ausgelegt sind, ist aus DE 41 28 912 C2 bekannt. Bei diesem bekannten Verfahren werden mit dem Spektralradiometer von mindestens vier Schwarzen Strahlern unterschiedlicher Tempe­ ratur die Spektren (S1, S2, S3, S4,. . .) der Infrarot-Strah­ lung gemessen. Aus diesen mindestens vier Spektren werden Gruppen von jeweils mindesten drei verschiedenen Spektren gebildet, also beispielsweise bei Verwendung von vier Schwarzen Strahlern und damit von vier Spektren S1, S2, S3 und S4 die vier Gruppen S1, S2, S3; S1, S2, S4; S1, S3, S4; S2, S3, S4. Für jede Gruppe werden bei diesem bekannten Ver­ fahren mit Hilfe der Gaußschen Ausgleichsrechnung (Least Squares Fit) die Strahlungstemperaturen der Schwarzen Strah­ ler und die spektralen Funktionen berechnet, die das Spek­ tralradiometer radiometrisch beschreiben (Gerätefunktionen, Kalibrierfunktionen). Dieser Rechnung liegt die Annahme zu­ grunde, daß die gemessenen (unkalibrierten) Spektren folgen­ der Gleichung genügen, die als radiometrisches Spektrometer­ modell bezeichnet wird:
Such a method for calibrating spectral radiometers, in particular Fourier spectrometers (also referred to as Fourier transform spectrometers) and preferably those designed for measurements in the infrared spectral range, is known from DE 41 28 912 C2. In this known method, the spectra (S 1 , S 2 , S 3 , S 4 ,...) Of the infrared radiation are measured with the spectral radiometer of at least four black radiators of different temperatures. Groups of at least three different spectra each are formed from these at least four spectra, that is to say, for example when using four black radiators and thus four spectra S 1 , S 2 , S 3 and S 4, the four groups S 1 , S 2 , S 3 ; S 1 , S 2 , S 4 ; S 1 , S 3 , S 4 ; S 2 , S 3 , S 4 . In this known method, the radiation temperatures of the black radiators and the spectral functions that describe the spectral radiometer radiometrically (device functions, calibration functions) are calculated for each group in this known method using the least squares fit. This calculation is based on the assumption that the measured (uncalibrated) spectra follow the equation that is referred to as the radiometric spectrometer model:

Sh(i) = R(i).L(Th, i) + G(i); (h = 1,. . .,H; i = 1,. . .,I) (1) S h ( i ) = R ( i ) .L (T h , i ) + G ( i ); (h = 1 ,..., H; i = 1 ,..., I) (1)

In dieser Gleichung sind die Wellenzahlen mit i bezeichnet. Die Gerätefunktionen bestehen aus der spektralen Empfind­ lichkeit R(i) des Spektralradiometers und der spektralen Ei­ genstrahlung G(i) des Gerätes. Der Ausdruck L(Th, i) steht für die nach dem Planckschen Strahlungsgesetz zu berechnende Temperaturstrahlung des gemessenen Schwarzen Strahlers mit der Strahlungstemperatur Th. Die Anzahl der gemessenen Spek­ tren wird mit H und die Anzahl der spektralen Abtastpunkte jedes Spektrums mit i bezeichnet.In this equation, the wavenumbers are denoted by i . The device functions consist of the spectral sensitivity R ( i ) of the spectroradiometer and the spectral intrinsic radiation G ( i ) of the device. The expression L (T h , i ) stands for the temperature radiation of the measured black body with the radiation temperature T h to be calculated according to the Planck law of radiation. The number of measured spectra is denoted by H and the number of spectral sampling points of each spectrum is denoted by i.

Im Zusammenhang mit dem durch die Gleichung (1) vorstehend formulierten radiometrischen Spektrometermodell wird ange­ merkt, daß hierin im Gegensatz zur in DE 41 28 912 C2 ange­ gebenen Gleichung die Eigenstrahlung des Geräts in geräteab­ hängigen Einheiten auftritt. Die Gleichung aus der genannten Patentschrift ist also lediglich ausmultipliziert, wodurch die im späteren Verlauf der vorliegenden Patentanmeldung vorkommenden Gleichungen besser lesbar sind.In connection with that through equation (1) above formulated radiometric spectrometer model is shown notes that contrary to DE 41 28 912 C2 given equation, the natural radiation of the device in devices dependent units occurs. The equation from the above Patent specification is therefore only multiplied out, whereby those later in this patent application existing equations are easier to read.

Entsprechend dem aus DE 41 28 912 C2 bekannten Verfahren wird eine Kalibrierung dann als zuverlässig angesehen, wenn die Ergebnisse der einzelnen Gruppen im Rahmen der Meßgenau­ igkeit des Spektralradiometers übereinstimmen.According to the method known from DE 41 28 912 C2 a calibration is considered reliable if the results of the individual groups as part of the measurement the spectroradiometer.

Beim angeführten bekannten Kalibrierungsverfahren stellte sich bei der Durchführung der Gaußschen Ausgleichsrechnung in nachteiliger Weise heraus, daß sehr viele unbekannte Pa­ rameter auftreten, die durch die Gaußsche Ausgleichsrechnung zu bestimmen sind. Diese Parameter sind die Temperaturen so­ wie für jede spektrale Stützstelle ein Wert für die spektra­ le Empfindlichkeit sowie ein Wert für die spektrale Eigen­ strahlung. Je nach spektraler Auflösung ergeben sich somit einige hundert bis einige tausend Unbekannte. Da es sich um eine auf einer nichtlinearen und damit iterativen Rechnung beruhende Ausgleichsrechnung handelt, muß der Algorithmus in einem hochdimensionalen (Vektor-)Raum nach der Lösung "suchen". Dazu sind viele Iterationsschritte erforderlich, die eine relativ lange Rechenzeit zur Folge haben. Darüber hinaus ist es von Nachteil, daß die benötigte Ausgleichs­ rechnung sehr empfindlich gegenüber Rauschen ist. Mit ein Grund dafür ist die vorher erwähnte große Anzahl zu ermit­ telnder Parameter. Um Spektren mit ausreichendem Signal/ Rausch-Verhältnis zu messen, sind viele Mittelungen erfor­ derlich, was eine lange Meßzeit zur Folge hat. Ein anderer Nachteil ergibt sich bei Fourier-Spektrometern, bei denen vor der radiometrischen Kalibrierung eine Wellenzahlkali­ brierung durchzuführen ist. Die Wellenzahlen, die das Spek­ trometer zunächst liefert, sind nämlich nur bis auf einen Skalierungsfaktor bestimmt. Dieser ist von der Genauigkeit, mit der die Wellenlänge des im Spektrometer enthaltenen Re­ ferenzlasers bekannt ist, vom Brechungsindex des Mediums (zumeist Luft oder Vakuum), in dem sich die Strahlung aus­ breitet, sowie von den geometrischen Positionen der opti­ schen Komponenten des Spektrometers zueinander abhängig. Der Skalierungsfaktor kann sich daher nach jeder Justierung des Gerätes ändern.In the known calibration procedure mentioned themselves when carrying out the Gaussian compensation calculation disadvantageously that a lot of unknown Pa parameters occur by the Gaussian compensation calculation are to be determined. These parameters are the temperatures like that as for each spectral support point, a value for the spectra le sensitivity as well as a value for the spectral eigen radiation. Depending on the spectral resolution, this results in a few hundred to a few thousand unknowns. Since it is one on a non-linear and therefore iterative calculation based compensation calculation, the algorithm in a high dimensional (vector) space after the solution "search". This requires a lot of iteration steps, which result in a relatively long computing time. About that it is also disadvantageous that the compensation required calculation is very sensitive to noise. With a The reason for this is the large number mentioned above  telenden parameters. To get spectra with sufficient signal / Many averages are required to measure the noise ratio that results in a long measuring time. Another A disadvantage arises with Fourier spectrometers in which a wavenumber pot before radiometric calibration bration is to be carried out. The wavenumbers that the spec trometer initially delivers, namely there are only one Scaling factor determined. This is of the accuracy with which the wavelength of the Re contained in the spectrometer ferenzlasers is known from the refractive index of the medium (mostly air or vacuum), in which the radiation emanates spreads, as well as from the geometrical positions of the opti components of the spectrometer are mutually dependent. Of the The scaling factor can therefore change after each adjustment of the Change device.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Kalibrierung von Spektralradiometern zu schaffen, das unter Vermeidung der vorstehend erwähnten Nachteile die Kalibrier­ funktionen R(i), d. h. die spektrale Empfindlichkeit des Spektralradiometers, und G(i), d. h. die spektrale Eigen­ strahlung des Gerätes, sowie die Strahlungstemperaturen Th der Schwarzen Strahler bestimmt.The invention has for its object to provide a method for the calibration of spectroradiometers which, while avoiding the disadvantages mentioned above, the calibration functions R ( i ), ie the spectral sensitivity of the spectroradiometer, and G ( i ), ie the spectral radiation of the Device, as well as the radiation temperatures T h of the black body.

Diese Aufgabe wird bei einem gattungsgemäßen Verfahren durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebe­ nen Merkmale gelöst.This task is carried out in a generic method specified in the characterizing part of claim 1 Features resolved.

Das Verfahren nach der Erfindung stützt sich dabei nur auf die mindestens drei gemessenen Spektren von Schwarzen Strah­ lern, die auf unterschiedliche, konstante, aber unbekannte Temperaturen aufgeheizt bzw. abgekühlt sind.The method according to the invention is based only on this the at least three measured spectra of black ray learn on different, constant but unknown Temperatures are heated or cooled.

Ein grundlegender Gedanke besteht dabei darin, die Geräte­ funktionen nicht als unabhängige Variable, sondern als Funk­ tionen der zu bestimmenden Strahlungstemperaturen der Schwarzen Strahler aufzufassen. Mit Hilfe der nichtlinearen Gaußschen Ausgleichsrechnung wird dann folgende Fehlerqua­ dratsumme minimiert, wobei H die Anzahl der Spektren in ei­ ner Gruppe kennzeichnet.
A fundamental idea here is to understand the device functions not as independent variables, but as functions of the radiation temperatures to be determined by the black body. With the help of the nonlinear Gaussian compensation calculation, the following sum of errors is then minimized, where H denotes the number of spectra in a group.

(wobei R(i,T1,. . .,TH) und G(i,T1,. . .,TH) gemäß dem in Gleichung (3) angegebenen Kriterium bestimmt werden.)(wherein R ( i , T 1 ,.., T H ) and G ( i , T 1 ,..., T H ) are determined according to the criterion given in equation (3).)

Zur Bestimmung der Gerätefunktionen wird ebenfalls die Gauß­ sche Ausgleichsrechnung benutzt. Dazu muß für jede Wellen­ zahl die Funktion ARG, minimiert werden, um die beiden Werte R(i,T1,. . .,TH) und G(i,T1,. . .,TH) zu bestimmen. Somit ist für jede Wellenzahl eine Ausgleichsrechnung mit H Meßwerten und zwei Unbekannten (R und G) durchzuführen.
The Gaussian compensation calculation is also used to determine the device functions. For this, the number A RG must be minimized for each wave in order to determine the two values R ( i , T 1 ,..., T H ) and G ( i , T 1 ,..., T H ). A compensation calculation with H measured values and two unknowns (R and G) must therefore be carried out for each wave number.

Die Berechnungen zur Bestimmung der Gerätefunktionen sind dabei relativ einfach, da die Kalibrierfunktionen in der Gleichung (1) linear in Erscheinung treten. Eine "Suche" in einem (hochdimensionalen) (Vektor-)Raum tritt daher nicht auf. Es muß lediglich ein lineares, überbestimmtes Glei­ chungssystem gelöst werden. Dafür sind aus der linearen Al­ gebra verschiedene Methoden bekannt (QR-Zerlegung, Househol­ der-Transformation, Singulärwertzerlegung, vgl. Press, Flan­ nery, Teukolsky, Vetterling: "Numerical Recipes", Cambridge University Press, 1986). Am vorteilhaftesten ist dabei die Singulärwertzerlegung. The calculations for determining the device functions are relatively easy because the calibration functions in the Equation (1) appears linear. A "search" in a (high-dimensional) (vector) space therefore does not occur on. It just has to be a linear, overdetermined glide system can be solved. For this, the linear Al Gebra known various methods (QR-decomposition, Househol der transformation, singular value decomposition, cf. Press, Flan nery, Teukolsky, Vetterling: "Numerical Recipes", Cambridge University Press, 1986). The most advantageous is Singular value decomposition.  

Die beiden Funktionen ARG, und AT unterscheiden sich neben der Tatsache, daß in der Gleichung (2) die gesamten Spektren auf einmal betrachtet werden (Summation über alle Wellenzah­ len), dadurch, daß die unabhängigen Variablen anders defi­ niert sind: Während zur Bestimmung der Gerätefunktionen nur diese variiert und die Temperaturen als konstant angesehen werden, werden zur Bestimmung der Temperaturen nur diese verändert. Allerdings ändern sich bei der Minimierung von AT durch die Variation der Temperaturen gemäß Gleichung (3) in­ direkt auch die Gerätefunktionen.The two functions A RG, and A T differ in addition to the fact that in the equation (2) the entire spectra are considered at once (summation over all wavenumbers), in that the independent variables are defined differently: While for Determination of the device functions only varies and the temperatures are considered constant, only these are changed to determine the temperatures. However, when A T is minimized, the device functions also change directly due to the variation of the temperatures according to equation (3).

Bei dieser Art der Rechnung bleiben für den iterativen Aus­ gleichsalgorithmus also nur die insgesamt H Temperaturen zu bestimmen. Die Dimension des (Vektor-)Raums, in dem nach der Lösung zu suchen ist, reduziert sich somit von 2I+H auf H. Dabei beträgt I, wie bereits vorher erwähnt wurde, bei Fou­ rier-Spektrometern typischerweise einige hundert oder einige tausend; die Anzahl der Spektren einer Gruppe H beträgt ty­ pisch 3. Die Anzahl der notwendigen Iterationsschritte wird somit vermindert. Die Werte der Gerätefunktionen werden durch das Lösen linearer Gleichungssysteme ermittelt, die den Iterationen unterlagert sind.This type of calculation remains for the iterative end same algorithm only the total H temperatures determine. The dimension of the (vector) space in which according to the The solution to be found is reduced from 2I + H to H. As already mentioned, I in Fou rier spectrometers typically a few hundred or a few thousand; the number of spectra of a group H is ty pisch 3. The number of iteration steps required thus diminished. The values of the device functions are determined by solving systems of linear equations that are subordinate to the iterations.

Zweckmäßige und vorteilhafte Weiterbildungen des Verfahrens nach der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.Appropriate and advantageous developments of the method according to the invention are specified in the subclaims.

Je nach der vorliegenden Meßaufgabe (Spektralbereich, Strahldichte des zu messenden Objekts und Strahlungstempera­ turen der Kalibrierstrahler) kann die Gerätestrahlung ver­ nachlässigt werden. Auch in diesen Fällen kann das Kali­ brierverfahren nach der Erfindung angewandt werden. Dazu muß lediglich die Gerätestrahlung G in den Gleichungen (2) und (3) fortgelassen werden.Depending on the measurement task at hand (spectral range, Radiance of the object to be measured and radiation temperature calibration emitters), device radiation can ver be neglected. In these cases too, the potash Brierverfahren be applied according to the invention. To do this only the device radiation G in equations (2) and (3) can be omitted.

Eine weitere positive Eigenschaft dieser erfindungsgemäßen Aufteilung der zu bestimmenden Unbekannten besteht darin, daß auch die Empfindlichkeit des Kalibrierverfahrens gegen­ über dem unvermeidlichen Meßrauschen verringert werden kann. Dies wird gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung des Ver­ fahrens nach der Erfindung dadurch erreicht, daß die Geräte­ funktionen nach ihrer Berechnung, also nach der Lösung der linearen Gleichungssysteme, in jedem Iterationsschritt ge­ glättet werden. Auch hierfür sind Methoden aus dem Bereich der digitalen Signalverarbeitung bekannt, z. B. aus dem Buch von Schrüfer: "Signalverarbeitung - Numerische Verarbeitung digitaler Signale", Carl Hanser Verlag, München Wien, 1992. Die Glättung führt nicht nur dazu, daß der Einfluß des Rau­ schens auf die Gerätefunktionen vermindert wird; auch der Einfluß auf die Temperaturen wird verringert, und diese kon­ vergieren näher zu den wahren Werten.Another positive property of this invention Distribution of the unknowns to be determined consists of  that the sensitivity of the calibration procedure to above the inevitable measurement noise can be reduced. According to an advantageous further development of the Ver driving according to the invention achieved in that the devices functions after their calculation, i.e. after the solution of the linear systems of equations, in each iteration step to be smoothed. Methods are also used for this the digital signal processing known, for. B. from the book von Schrüfer: "Signal Processing - Numerical Processing digital signals ", Carl Hanser Verlag, Munich Vienna, 1992. The smoothing not only leads to the influence of the rough is reduced to the device functions; also the Influence on the temperatures is reduced, and this kon forget closer to the true values.

Die in der bereits erwähnten Patentschrift DE 41 28 912 C2 angeführte komplexe Rechnung kann durch einfache Erweiterun­ gen der vorher angegebenen Gleichungen ebenfalls realisiert werden. Die Gleichung (3) geht dabei in zwei Gleichungen über, eine davon für den Realteil und die andere für den Imaginärteil. Somit sind für jede Wellenzahl zwei Aus­ gleichsrechnungen erforderlich.
The complex calculation mentioned in the already mentioned patent DE 41 28 912 C2 can also be realized by simple extensions of the previously stated equations. Equation (3) turns into two equations, one for the real part and the other for the imaginary part. This means that two offsetting calculations are required for each wave number.

Beim in der Gleichung (2) angegebenen Kriterium ist eben­ falls eine Aufteilung in Real-Imaginärteil notwendig:
The criterion given in equation (2) also requires a division into the real imaginary part:

(wobei die Real- und Imaginärteile der Gerätefunktionen ge­ mäß den in den Gleichungen (4) und (5) formulierten Kriterien bestimmt werden.)(where the real and imaginary parts of the device functions ge according to the criteria formulated in equations (4) and (5) be determined.)

Eine etwaige Glättung, wie sie bereits vorher beschrieben worden ist, muß dann ebenfalls getrennt für die Real- und Imaginärteile der Gerätefunktionen durchgeführt werden.Any smoothing, as described previously then must also be separated for the real and Imaginary parts of the device functions are performed.

Auch der bereits in der Beschreibung angeführte Nachteil des aus DE 41 28 912 C2 bekannten Kalibrierverfahrens bei Fou­ rier-Spektrometern, nämlich die Durchführung einer Wellen­ zahlkalibrierung vor der radiometrischen Kalibrierung, kann durch Einbeziehung eines weiteren zu bestimmenden Parame­ ters, des Skalierungsfaktors x, in die Funktion AT bei der Bestimmung der Temperaturen ausgeräumt werden. Zu minimieren ist im Falle rein reeller Berechnung dann
The disadvantage of the calibration method for Fourier spectrometers known from DE 41 28 912 C2, namely the implementation of a wave number calibration before the radiometric calibration, can also be mentioned in the description by including another parameter to be determined, the scaling factor x, in the A function T can be eliminated when determining the temperatures. In the case of a purely real calculation, it must be minimized

wobei im Planckschen Strahlungsgesetz anstelle der Wellen­ zahl die mit dem Faktor x multiplizierte Größe x. einge­ setzt wird.in Planck's law of radiation instead of waves number is the quantity x multiplied by the factor x. turned on is set.

Diese Änderung wirkt sich auf die unterlagerte lineare Aus­ gleichsrechnung aus: Die Gerätefunktionen sind nicht mehr nur Funktionen der (Wellenzahlen und) Temperaturen, sondern werden auch abhängig vom Skalierungsfaktor x.
This change affects the subordinate linear compensation calculation: The device functions are no longer just functions of the (wave numbers and) temperatures, but also become dependent on the scaling factor x.

Insgesamt ergibt sich für eine rein reelle Rechnung der in der beiliegenden Figur dargestellte Ablauf eines entspre­ chend der Erfindung arbeitenden Rechenverfahrens zur radio­ metrischen Kalibrierung von Spektralradiometern, insbesonde­ re von Fourier-Spektrometern.For a purely real calculation, the total results in the attached figure depicts a sequence According to the invention computing method for radio metric calibration of spectroradiometers, in particular right of Fourier spectrometers.

Nach einer Vorgabe von Startwerten der Temperaturen erfolgt eine Berechnung der Gerätefunktionen entweder nach dem Kri­ terium der Gleichung (3) oder unter Einbeziehung eines Ska­ lierungsfaktors nach dem Kriterium der Gleichung (8). An­ schließend wird eine Berechnung neuer Temperaturen entweder nach der Gleichung (2) bzw. unter Einbeziehung des Skalie­ rungsfaktors nach der Gleichung (7) vorgenommen. Danach er­ folgt eine Berechnung neuer Gerätefunktionen entweder nach dem Kriterium der Gleichung (3) bzw. unter Einbeziehung des Skalierungsfaktors nach dem Kriterium der Gleichung (8). Im Anschluß daran kann eventuell eine Glättung der Gerätefunk­ tionen durchgeführt werden. Ist ein vorgeschriebenes Ab­ bruchkriterium erfüllt, so wird der radiometrische Kalibrie­ rungsvorgang abgeschlossen (J→Ende). Wird dagegen das vorge­ schriebene Abbruchkriterium durch die berechneten und even­ tuell geglätteten Gerätefunktionen nicht erfüllt (N), so wird der beschriebene Vorgang der Kalibrierung, beginnend mit der Berechnung neuer Temperaturen, erneut durchgeführt und zwar sich so lange wiederholend, bis das geforderte Ab­ bruchkriterium erfüllt ist.According to a specification of start values of the temperatures a calculation of the device functions either according to the Kri terium of equation (3) or including a Ska lation factor according to the criterion of equation (8). On in conclusion is a calculation of new temperatures either according to equation (2) or including the scale tion factor according to equation (7). After that he a calculation of new device functions follows either the criterion of equation (3) or including the Scaling factor according to the criterion of equation (8). in the This may be followed by smoothing the device radio operations are carried out. Is a mandatory ab break criterion is met, the radiometric calibration completed (J → end). On the other hand, is that featured written termination criterion by the calculated and even currently smoothed device functions not fulfilled (N), see above the calibration process described begins with the calculation of new temperatures repeating itself until the requested Ab break criterion is met.

Die Aufteilung der zu bestimmenden Unbekannten bei der ra­ diometrischen Kalibrierung von Fourier-Spektrometern erlaubt es in vorteilhafter Weise, in zwei Schritten vorzugehen. Zu­ nächst ist es nur wichtig, die Strahlungstemperaturen der Schwarzen Strahler zu bestimmen. Um dabei für die gemessenen Spektren ein möglichst gutes Signal/Rausch-Verhältnis zu er­ reichen, wird die spektrale Auflösung rechnerisch ver­ schlechtert. Es werden also nicht alle gemessenen Datenpunk­ te der Interferogramme verwendet. Sollten die Spektren dann zu wenig Datenpunkte für die Durchführung der radiometri­ schen Kalibrierung enthalten, so können weitere Datenpunkte durch Interpolation und damit ohne Verschlechterung des Si­ gnal/Rausch-Verhältnisses gewonnen werden, z. B. mittels des sogenannten "Zerofilling" bei der Fourier-Transformation, vgl. dazu Schrüfer: "Interpolation bei der diskreten Fou­ rier-Transformation durch Einfügen von Nullen", Technisches Messen 61, Heft 2, S. 89 bis 94, 1994.The division of the unknowns to be determined at ra diometric calibration of Fourier spectrometers allowed it is advantageous to proceed in two steps. To next it is only important to measure the radiation temperatures of the Determine black spotlights. In order for the measured Spectra the best possible signal / noise ratio to it range, the spectral resolution will be calculated worsened. So not all data points are measured  te of the interferograms used. Should the spectra then too few data points for the implementation of the radiometri calibration, additional data points can be used through interpolation and thus without deterioration of the Si gnal / noise ratio can be obtained, for. B. by means of so-called "zerofilling" in the Fourier transformation, see. Schrüfer: "Interpolation with the discrete Fou rier transformation by inserting zeros ", technical Messen 61, Issue 2, pp. 89 to 94, 1994.

Sind auf diese Weise erst einmal die Strahlungstemperaturen bekannt, so lassen sich Spektren mit höherer spektraler Auf­ lösung berechnen, wobei dann nur noch die linearen Aus­ gleichsrechnungen nach der Gleichung (3) im reellen Fall bzw. nach den Gleichungen (4) und (5) im komplexen Fall durchzuführen sind.In this way are the radiation temperatures known, so spectra with higher spectral up Calculate solution, then only the linear off equations according to equation (3) in the real case or according to equations (4) and (5) in the complex case are to be carried out.

Claims (7)

1. Verfahren zur Kalibrierung von Spektralradiometern, ins­ besondere von Fourier-Spektrometern, für Messungen vorzugs­ weise im infraroten Spektralbereich, unter Verwendung von mehreren Schwarzen Strahlern, die jeweils auf unterschiedli­ chen Temperaturen konstant gehalten sind, und unter Zugrun­ delegung der Annahme, daß ein jeweils gemessenes Spektrum Sh(i) der Gleichung (radiometrisches Spektrometermodell) Sh ( i) = R( i).L(Th, i) + G( i); (h = 1,. . .,H; i = 1,. . .,I) genügt, wobei i die Wellenzahl, R(i) und G(i) die Geräte­ funktionen und zwar im einzelnen R(i) die spektrale Empfind­ lichkeit des Spektralradiometers und G(i) die spektrale Ei­ genstrahlung des Geräts, L(Th, i) die nach dem Planckschen Strahlungsgesetz zu berechnende Temperaturstrahlung des ge­ messenen Schwarzen Strahlers mit der Strahlungstemperatur Th, H die Anzahl der gemessenen Spektren und i die Anzahl der spektralen Abtastpunkte jedes Spektrums bezeichnen, da­ durch gekennzeichnet, daß mindestens drei Spektren Sh(i) von Schwarzen Strahlern unterschiedlicher Temperaturen ge­ messen werden, also H ≧ 3, daß dabei sowohl die Gerätefunk­ tionen, also die spektrale Empfindlichkeit und die spektrale Eigenstrahlung des Spektralradiometers, als auch die Strah­ lungstemperaturen der beteiligten Schwarzen Strahler be­ stimmt werden, daß dabei zur Bestimmung der gesuchten Strah­ lungstemperaturen die nichtlineare und iterative Gaußsche Ausgleichsrechnung unter Zugrundelegung der Minimierung fol­ gender Fehlerquadratsumme
verwendet wird, wobei H die Anzahl der Spektren in einer Gruppe angibt, und daß die Gerätefunktionen für die Rechnung als Funktion der Strahlungstemperaturen angesehen und mit Hilfe einer den Iterationen unterlagerten linearen Gaußschen Ausgleichsrechnung ermittelt werden, wobei für jede Wellen­ zahl die nachfolgend angegebene Funktion ARG, minimiert wird, d. h.
1. A method for the calibration of spectroradiometers, in particular Fourier spectrometers, for measurements, preferably in the infrared spectral range, using a plurality of black radiators, each of which is kept constant at different temperatures, and based on the assumption that a respective one measured spectrum S h ( i ) of the equation (radiometric spectrometer model) S h ( i ) = R ( i ) .L (T h , i ) + G ( i ); (h = 1,..., H; i = 1 ,..., I) is sufficient, where i is the wave number, R ( i ) and G ( i ) the device functions, specifically R ( i ) the spectral Sensitivity of the spectroradiometer and G ( i ) the spectral intrinsic radiation of the device, L (T h , i ) the temperature radiation of the measured black body to be calculated according to the Planck radiation law with the radiation temperature T h , H the number of measured spectra and i denote the number of spectral sampling points of each spectrum, characterized in that at least three spectra S h ( i ) of black radiators of different temperatures are measured, i.e. H ≧ 3, that both the device functions, ie the spectral sensitivity and the spectral Natural radiation of the spectroradiometer, as well as the radiation temperatures of the black radiators involved be determined that the nonlinear and iterative Gaussian outputs should be used to determine the radiation temperatures sought Calculation based on the minimization of the following sum of squares
is used, where H indicates the number of spectra in a group, and that the device functions for the calculation are viewed as a function of the radiation temperatures and are determined with the aid of a linear Gaussian compensation calculation subordinate to the iterations, the number A RG given below for each wave number , is minimized, ie
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß je nach Meßaufgabe der Einfluß der spektralen Eigenstrahlung G des zu kalibrierenden Spektralradiometers vernachlässigt wird, was durch Weglassen dieser Größe in den angegebenen Gleichungen erreicht wird.2. The method according to claim 1, characterized in that each after the measurement task the influence of the spectral radiation G of the spectroradiometer to be calibrated is neglected will what is stated by omitting this size in the Equations is achieved. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die in jedem Iterationsschritt neu berechneten Geräte­ funktionen vor der Weiterverarbeitung einem Glät­ tungsalgorithmus unterworfen werden.3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that the devices recalculated in each iteration step functions before further processing a smoothing tion algorithm are subjected. 4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß die gemessenen Spektren und damit auch die Gerätefunktionen, d. h. die spektrale Empfindlich­ keit R(i) und die spektrale Eigenstrahlung G(i) des zu ka­ librierenden Geräts, als komplexe Größen angesehen werden, und daß sich daraus das Kriterium
ergibt, wobei die Real- und Imaginärteile der Gerätefunktio­ nen gemäß den in den beiden folgenden Gleichungen formulier­ ten Kriterien bestimmt werden:
4. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the measured spectra and thus also the device functions, ie the spectral sensitivity R ( i ) and the spectral intrinsic radiation G ( i ) of the device to be calibrated, are regarded as complex quantities and that the criterion
results, whereby the real and imaginary parts of the device functions are determined according to the criteria formulated in the following two equations:
5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Glättung getrennt für die Real- und Imaginärteile der Gerätefunktionen vorgenommen wird.5. The method according to claim 3 or 4, characterized in that the smoothing is separate for the real and imaginary parts the device functions is performed. 6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß bei Fourier-Spektrometern die ra­ diometrische Kalibrierung und diejenige der Wellenzahlen in einem Rechengang durchgeführt werden, und daß dazu ein Ska­ lierungsfaktor zur Kalibrierung der Wellenzahlen eingeführt wird, der neben den Strahlungstemperaturen und den Geräte­ funktionen simultan mittels Gaußscher Ausgleichsrechnung be­ stimmt wird.6. The method according to any one of the preceding claims, since characterized in that in Fourier spectrometers the ra diometric calibration and that of the wavenumbers in a calculation can be carried out, and that a Ska lation factor introduced for the calibration of the wavenumbers that, in addition to the radiation temperatures and the devices functions simultaneously using a Gaussian compensation calculation is true. 7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß bei Fourier-Spektrometern die ra­ diometrische Kalibrierung in zwei Schritten vorgenommen wird, wobei im ersten Schritt die Strahlungstemperaturen aus Spektren mit rechnerisch verschlechterter Auflösung, aber einem dadurch verbesserten Signal/Rausch-Verhältnis bestimmt werden und im zweiten Schritt diese Strahlungstemperaturen für radiometrische Kalibrierungen mit höherer spektraler Auflösung verwendet werden, so daß nur noch die linearen Ausgleichsrechnungen im reellen Fall gemäß
zur Bestimmung der Gerätefunktionen durchgeführt werden müs­ sen.
7. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the Ra diometric calibration is carried out in two steps in Fourier spectrometers, the radiation temperatures from spectra with arithmetically poorer resolution, but a thereby improved signal / noise ratio, in the first step are determined and in the second step these radiation temperatures are used for radiometric calibrations with a higher spectral resolution, so that only the linear compensation calculations in the real case according to
must be carried out to determine the device functions.
DE19719210A 1997-05-09 1997-05-09 Procedure for the calibration of spectroradiometers Expired - Fee Related DE19719210B4 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19719210A DE19719210B4 (en) 1997-05-09 1997-05-09 Procedure for the calibration of spectroradiometers
GB9809663A GB2326472B (en) 1997-05-09 1998-05-06 Method for calibrating spectroradiometers
FR9805808A FR2763126B1 (en) 1997-05-09 1998-05-07 SPECTRAL RADIOMETER CALIBRATION METHOD

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19719210A DE19719210B4 (en) 1997-05-09 1997-05-09 Procedure for the calibration of spectroradiometers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19719210A1 true DE19719210A1 (en) 1998-11-12
DE19719210B4 DE19719210B4 (en) 2004-05-13

Family

ID=7828831

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19719210A Expired - Fee Related DE19719210B4 (en) 1997-05-09 1997-05-09 Procedure for the calibration of spectroradiometers

Country Status (3)

Country Link
DE (1) DE19719210B4 (en)
FR (1) FR2763126B1 (en)
GB (1) GB2326472B (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19958136A1 (en) * 1999-12-02 2001-06-13 Agilent Technologies Inc Method for reflectometric measurement of optical parameter by interference spectroscopy, for use e.g. for monitoring antibody/antigen reactions, uses optical converter to produce modulated signal corresponding to parameter
DE10243411A1 (en) * 2002-09-18 2004-04-01 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Calibrating measurement devices for quantitative infrared radiation measurement involves weighting limited radiation density with 2D relative sensitivity in field of view of the measurement device
DE102005018124A1 (en) * 2005-04-20 2006-10-26 Barke, Woldemar, Dipl.-Phys. Ing. Imaging pyrometer, for temperature measurements and self-calibration, has passage filters of variable thickness in filter mask in optical channel between test object and image detector
EP2947435A1 (en) * 2014-05-16 2015-11-25 MBDA ITALIA S.p.A. Method for estimating the spectral response of an infrared photodetector

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106679850B (en) * 2017-01-03 2018-12-25 深圳市蜂联科技有限公司 A method of temperature measurement accuracy when improving the thermal starting of air box
CN108827473B (en) * 2018-06-25 2020-04-21 上海卫星工程研究所 Fourier transform infrared spectrometer complex radiometric calibration processing method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3042300A1 (en) * 1980-02-04 1981-09-17 Meteorologischer Dienst der Deutschen Demokratischen Republik, DDR 1500 Potsdam Calibration of spectral photometer to extra-terrestrial energy - using calibration factors obtained by diffusing disc and interchangeable wide angle lens
US4974182A (en) * 1983-11-28 1990-11-27 Deutsche Forschungs- Und Versuchsanstalt Fuer Luft- Und Raumfahrt E.V. Method and system for optically measuring simultaneously the emissivity and temperature of objects
DE4128912C2 (en) * 1991-08-30 1995-06-22 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Method and device for the calibration of spectroradiometers

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3042300A1 (en) * 1980-02-04 1981-09-17 Meteorologischer Dienst der Deutschen Demokratischen Republik, DDR 1500 Potsdam Calibration of spectral photometer to extra-terrestrial energy - using calibration factors obtained by diffusing disc and interchangeable wide angle lens
US4974182A (en) * 1983-11-28 1990-11-27 Deutsche Forschungs- Und Versuchsanstalt Fuer Luft- Und Raumfahrt E.V. Method and system for optically measuring simultaneously the emissivity and temperature of objects
DE4128912C2 (en) * 1991-08-30 1995-06-22 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Method and device for the calibration of spectroradiometers

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
E. Lindermeir et al, Appl. Optics, 31, 4527, 1992 *
Press et al.: "Numerical Recipes", Cambridge University Press, 1986, *
Schrüfer: "Signalverarbeitung- Numerische Verarbeitung digitaler Signale", Hanser Verlag, 1992 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19958136A1 (en) * 1999-12-02 2001-06-13 Agilent Technologies Inc Method for reflectometric measurement of optical parameter by interference spectroscopy, for use e.g. for monitoring antibody/antigen reactions, uses optical converter to produce modulated signal corresponding to parameter
DE19958136B4 (en) * 1999-12-02 2004-02-05 Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d.Staates Delaware), Palo Alto Self-calibrating interference spectroscopic measuring arrangement
DE10243411A1 (en) * 2002-09-18 2004-04-01 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Calibrating measurement devices for quantitative infrared radiation measurement involves weighting limited radiation density with 2D relative sensitivity in field of view of the measurement device
DE10243411B4 (en) * 2002-09-18 2004-07-08 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Procedure for the calibration of measuring devices for quantitative infrared radiation measurement
DE102005018124A1 (en) * 2005-04-20 2006-10-26 Barke, Woldemar, Dipl.-Phys. Ing. Imaging pyrometer, for temperature measurements and self-calibration, has passage filters of variable thickness in filter mask in optical channel between test object and image detector
DE102005018124B4 (en) * 2005-04-20 2007-06-28 Barke, Woldemar, Dipl.-Phys. Ing. Method and device for non-contact simultaneous determination of temperature and emissivity of a test object
EP2947435A1 (en) * 2014-05-16 2015-11-25 MBDA ITALIA S.p.A. Method for estimating the spectral response of an infrared photodetector

Also Published As

Publication number Publication date
DE19719210B4 (en) 2004-05-13
FR2763126B1 (en) 2001-02-02
GB2326472A (en) 1998-12-23
GB2326472B (en) 2000-11-22
FR2763126A1 (en) 1998-11-13
GB9809663D0 (en) 1998-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69333054T2 (en) Accurate wavelength calibration of a spectrometer
DE102014012745B4 (en) Background correction in emission spectra
DE69729360T2 (en) Analysis of spectrometric data
DE102015100395B4 (en) Spectrometer and fluid analysis system
DE4128912C2 (en) Method and device for the calibration of spectroradiometers
DE102013014175A1 (en) Method for calibrating a test setup
EP0455218A1 (en) Method and apparatus for measuring a phase-modulated signal
DE102012215594B3 (en) Method for laser spectroscopy of gases
DE4023175A1 (en) METHOD AND DEVICE FOR OBTAINING DATA FOR DETERMINING THE DURATION AND FREQUENCY MODULATION OF ULTRA-SHORT LASER PULSES
WO2019197346A1 (en) Spectral analysis system, mobile device having a spectral analysis system, a method for determining a correction function for imaging correction of a spectrum recorded by a spectral analysis system, and computer program
DE10205142A1 (en) Arrangement and method for wavelength calibration in an Echelle spectrometer
DE19719210A1 (en) Procedure for the calibration of spectroradiometers
DE19824277C2 (en) Method for the spectroscopic examination of electromagnetic radiation using a Fourier spectrometer
LU87595A1 (en) MULTI-WAVELENGTH PYROMETER
EP3139147B1 (en) Apparatus and method for measuring a wavelength dependent optical characteristic of an optical system
DE19548378A1 (en) Process and device combination for establishing the comparability of spectrometer measurements
DE102016206965A1 (en) Method for measuring and determining a THz spectrum of a sample
DE19719211B4 (en) Procedure for the calibration of spectroradiometers
DE4122189C2 (en) Method and arrangement for determining the noise figure of electronic measurement objects
GB2412195A (en) A method of enhancing spectral data
DE102012007609A1 (en) Optical spectrometer e.g. polychromator has detectors whose optoelectronic detection elements are provided with different spectral detection regions
EP0076886A1 (en) Method and device for the measurement of the concentration ratio of 2 components in a mixture, absorbing infrared, near infrared, visible or ultraviolet radiation
DE3343043A1 (en) Method for the contactless, emittance-independent radiometry of the temperature of an object
DE3843302C2 (en) Passive distance measuring device
EP0098443A2 (en) Spectrometer

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: DEUTSCHES ZENTRUM FUER LUFT-UND RAUMFAHRT E.V., 51

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: DEUTSCHES ZENTRUM FUER LUFT- UND RAUMFAHRT E.V.

8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: DEUTSCHES ZENTRUM FUER LUFT- UND RAUMFAHRT E.V.

8339 Ceased/non-payment of the annual fee