DE19719162C2 - Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitenden ZnO enthaltenden Schicht auf einem Substrat - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitenden ZnO enthaltenden Schicht auf einem SubstratInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung
einer elektrisch leitenden ZnO enthaltenden transpa
renten Schicht auf einem Substrat, die in der elektro
nischen Industrie oder für verschiedene Sensoren ein
gesetzt werden kann.
Für die Herstellung transparenter ZnO-Elektronenlei
terschichten sind kostenintensive Herstellungsverfah
ren, wie z. B. Vakuumsublimation, Spray-Pyrolyse und
diverse Sputtertechniken bekannt. Die auf diese be
kannte Weise hergestellten Schichten weisen jedoch
relativ kleine spezifische Widerstände
(ρ = 2 × 10-3 - 4 × 10-4 Ωcm) und geringe Flächenwi
derstände (RSH = 50 - 4 Ω/) auf. Die Schichtdicken
liegen hierbei zwischen 200 und 1000 nm und die elek
trischen Eigenschaften werden durch Dotierung, hohe
Herstellungstemperaturen oder Tempern im Vakuum oder
in Wasserstoffatmosphäre erreicht.
Eine andere bekannte Alternative hierzu ist die
Tauch- oder Spin-on-Beschichtung unter Verwendung von
Beschichtungslösung aus organometallischen Zn-Komple
xen. Auch hierbei werden die relativ kleinen spezifi
schen Widerstände (ρ = 2 × 10-2 - 8 × 10-4 Ωcm) durch
hohe Herstellungstemperaturen oder Tempern im Vakuum
oder in Wasserstoffatmosphäre erreicht und eine Do
tierung ist in jedem Fall erforderlich. Die so er
zeugbaren kleinen Schichtdicken weit unter 200 nm je
Beschichtung führen dazu, daß sehr viele Beschich
tungsschritte erforderlich sind, um technologisch
sinnvolle Schichtwiderstände unterhalb 50 Ω/ zu er
reichen, und somit ein sehr hoher Herstellungsaufwand
erforderlich ist.
Bemerkenswert ist, daß nanokristalline ZnO-Schichten
mit gewünschten optischen und elektrischen Eigen
schaften bisher nicht hergestellt werden konnten.
ZnO-Schichten auf Substraten sind auch aus der J. Am.
Ceram. Soc. 79, No. 4,825-830 (1996) und Thin Solid
Films 289, 153-158 (1996) bekannt. Die Herstellung
von dünnen Schichten mittels des Sol-Gel-Prozesses
ist in Lisa C. Klein "Sol-Gel Technology tor Thin
Films, Fibers, Preforms, Electronics and Specialty
Shapes" S. 50-52 (1988) beschrieben. Ein Verfahren
zur Herstellung von ZnO enthaltenden Schichten auf
Substraten mit großen Schichtdicken ist aus diesem
Stand der Technik jedoch nicht zu entnehmen.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren
zur Herstellung transparenter, nanokristalliner und
elektrisch leitfähiger ZnO-Schichten auf Substraten
vorzuschlagen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die Merkmale
des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestal
tungsformen und Weiterbildung der Erfindung ergeben
sich bei Verwendung der in den untergeordneten An
sprüchen genannten Merkmale.
Der große Vorteil der mit dem erfindungsgemäßen Ver
fahren hergestellten Schichten besteht darin, daß
sich diese in relativ großer Dicke (von 0,4 bis zu
3 µm) herstellen lassen, und daß durch die Dotierung
und nachträglichem Schichtaufbau die elektrischen und
optischen Eigenschaften günstig beeinflußt werden
können, so daß die erfindungsgemäßen Schichten in der
Sensorik eingesetzt werden können. Die Schichten sind
unter kontrollierten Bedingungen optisch transparent
(T < 90%, 450 nm - 1200 nm). Für die ZnO-Schichten
konnten spezifische Widerstände von 6 × 10-1 bis 8 × 10-2
Ωcm (RSH = 3000 bis 400 Ω/) und für ZnO/Al-
Schichten von 1 × 10-2 bis 4 × 10-3 Ωcm (RSH = 5 bis
20 Ω/ erreicht werden.
Damit zeigen sich die ZnO- bzw. ZnO/Al-Schichten
deutlich gegenüber den bisher bekannten überlegen.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist dabei dadurch ge
kennzeichnet, daß naßchemisch, mit einer bekannten
Sol-Geltechnik ein konzentriertes ZnO-Sol in minde
stens einem Beschichtungsschritt mit einer Schicht
dicke der trockenen Schicht von mindestens 0,4 µm
aufgebracht wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren kann weitergebildet
werden, in dem Al-dotierte ZnO-Schichten auf ver
schiedensten Substraten aufgebracht werden können.
Zur Ausbildung reiner ZnO-Schichten wird aus einer
Zinkalkoxidvorstufe durch basenkatalysierte Hydrolyse
ein Nanopartikel enthaltendes ZnO-Sol synthetisiert,
das bevorzugt durch Kondensation in seiner Konzentra
tion erhöht wird.
Die Zinkalkoxidvorstufe kann beispielsweise durch
Sieden unter Rückfluß von Zinkacetat in Alkohol er
halten werden und die Hydrolyse kann beispielsweise
mit TMAH
(Tetramethylamoniumhydroxid), LiOH, NaOH oder KOH
durchgeführt werden.
Al-dotierte ZnO-Schichten können auf die gleiche Art
und Weise aufgebracht werden, wenn Al-haltige Zinkal
koxidvorstufen zur Synthese des ZnO-Sols verwendet
werden oder dem ZnO-Sol Al(sek-BuO)3 zugegeben wird.
Die Synthetisierung erfolgt dabei soweit bis 2-molare
nanopartikelhaltige ZnO- bzw. Al-haltige ZnO-Sole er
halten sind.
Durch geeignete Auftragsverfahren, wie Besprühen, Be
pinseln, Rakeln, Bedrucken oder insbesondere Tauchen
und mit einem Spin-on-Verfahren können Schichtdicken
bis zu 2 µm erreicht werden, die wesentlich dicker
als die aus dem Stand der Technik bekannten Schichten
sind.
Durch zusätzlichen Schichtaufbau kann die Nanoporösi
tät der erzeugten Schichten und damit sowohl die
elektrischen, als auch die optischen Eigenschaften
gezielt beeinflußt werden, so daß der mögliche Ein
satzbereich und dabei insbesondere der für die Senso
rik erweitert werden kann.
Erfindungsgemäß wird dabei nun so verfahren, daß eine
Zinkalkoxidvorstufe durch Sieden unter Rückfluß von
Zinkacetat oder Zinkacetat mit einigen at % Aluminium
alkoxid in Alkoholen, z. B. Ethanol, 1-Propanol, 2-
Propanol, 1-Butanol u. a. an Luft erfolgt.
Durch basenkatalysierte Hydrolyse mit TMAH, LiOH,
NaOH oder KOH aus der Zinkalkoxidvorstufe und an
schließende Kondensation wird ein nanopartikelhalti
ges ZnO-Sol synthetisiert, wobei das ZnO- bzw. Al-
haltige ZnO-Sol dann 2-molar ist.
Mit dem so zur Verfügung gestellten ZnO-Sol wird das
jeweilige Substrat an den gewünschten Orten lokal ge
zielt oder vollständig beschichtet.
Im Anschluß daran wird die noch nasse Schicht bei
Temperaturen zwischen 200 und 500°C, bevorzugt bei
300°C an Luft getempert und eine transparente
Schicht erhalten.
Im Nachgang hierzu oder nach dem Aufbringen weiterer
Schichten, kann eine Nachbehandlung durchgeführt wer
den, wobei die Schichten einer thermischen Behandlung
im Temperaturbereich zwischen 200 und 500°C an Luft,
in einer inerten Atmosphäre (Argon) und bevorzugt in
reduzierender Atmosphäre (H2/N2-Gemisch) unterzogen
werden. Im Ergebnis erhält man optisch transparente
Schichten, deren kleinster spezifischer Widerstand
4 × 10-3 Ωcm, gemessen mit einer 2-Punkt- bzw.
4-Punkt-DC Messung, ist. Erst durch diese Nachbehand
lung der beschichteten Substrate bevorzugt in der be
reits bezeichneten reduzierenden Atmosphäre wird in
Kombination mit der relativ hohen Schichtdicke die
unerwartet große Leitfähigkeitserhöhung der erzeugten
Schicht bzw. der Schichten erreicht. Der Flächenwi
derstand kann so von oberhalb 20 MΩ/ vor dieser
thermischen Nachbehandlung auf Werte weit unter 50 Ω/
nach der thermischen Behandlung gesenkt werden.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren konnten optisch
transparente Schichten (T < 90% im Wellenlängenbe
reich zwischen 450 nm bis 1200 nm bei Schichtdicken
bis 2 µm erreicht werden, wie es in dem in der Fig.
1 gezeigten Diagramm für eine 1,5 µm dicke Al-dotier
te ZnO-Schicht, die nach 2-facher Infiltration herge
stellt worden ist, und einen Flächenwiderstand von
27 Ω/ aufweist, dargestellt ist.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren konnten weiter
ZnO-Schichten mit spezifischen Widerständen von
ρ = 6 × 10-1 - 8 × 10-2 Ωcm (RSH = 3000 - 400 Ω/)
und ZnO/Al-Schichten mit spezifischen Widerständen
ρ = 1 × 10-2 - 4 × 10-3 Ωcm (RSH = 50 - 20 Ω/) er
halten werden.
Nachfolgend soll die Erfindung an Ausführungsbeispie
len näher beschrieben werden.
Eine 0,65 M Zinkalkoxidvorstufe wird durch Sieden un
ter Rückfluß von Zn(Ac)2 × 2H2O in 1-Propanol synthe
tisiert. Bei gleichzeitiger Erwärmung erfolgt die Hy
drolyse mit TMAH.
Im Anschluß an eine nachfolgende Kondensation und Zu
gabe von Al(sek-BuO)3 (mit 2 atom% Al) wird ein 0,5 M ZnO/Al-
Sol erhalten, das in einem Rotationsverdampfer bei
60°C und einem Wasserstrahlvakuum auf 2-3 M auf
konzentriert wird.
Das so erhaltene ZnO/Al-Sol wird dann auf ein gerei
nigtes Glassubstrat bei einer Tauchbeschichtung auf
gebracht, wobei Ziehgeschwindigkeiten von 20 bis 30
cm/min eingehalten worden sind.
Unmittelbar im Anschluß daran wird eine Temperaturbe
handlung bei 300°C in einem vorgeheizten Ofen vor
genommen und das so beschichtete Substrat über einen
Zeitraum von 15 min an Luft getempert.
Die so erhaltene Al-dotierte ZnO-Schicht ist nanopo
rös und optisch transparent und weist eine Schicht
dicke zwischen 0,8 µm bis 2 µm auf.
Nachfolgend wird das beschichtete Substrat über eine
Zeit von ca. 5 min in eine heiße 0,1 M Zinkalkoxid
vorstufe, die Al(sek-BuO)3 (mit 2 atom% Al) enthält, zur Durch
führung einer ersten Beschichtung getaucht. Weiter
wurde unter Berücksichtigung des stöchiometrischen
Gleichgewichtes TMAH der Zinkalkoxidvorstufe zugege
ben und nach weiteren ca. 5 min Eintauchzeit das Sub
strat mit einer Geschwindigkeit von ca. 2,5 cm/min
aus dieser Lösung gezogen und unmittelbar im Anschluß
daran über einen Zeitraum von 15 min bei einer Tempe
ratur von 300°C an Luft getempert.
Im Anschluß an diesen ersten Schichtaufbau wurde eine
zweite Schichtbildung durchgeführt, wobei das nunmehr
2-fach beschichtete Substrat ca. 10 min in eine Al-
haltige (2 atom%) 0,1 M Zinkalkoxidvorstufe getaucht
worden ist.
Im Anschluß an das Herausziehen, das bei einer Ge
schwindigkeit von ca. 2 cm/min erfolgt ist, wurde ein
weiterer Tempervorgang bei 300°C an Luft durchge
führt.
Der aufgebrachte optisch transparente Al-dotierte
Schichtaufbau wies einen Flächenwiderstand oberhalb
20 MΩ/ auf.
In einem letzten Schritt wurde eine thermische Nach
behandlung bei 400°C in einer reduzierenden Formier
gasatmosphäre (10% H2, 90% N2) über einen Zeitraum
von ca. 4 h durchgeführt und dabei für die entspre
chend behandelten Schichten ein spezifischer Wider
stand zwischen
6 × 10-3 Ωcm und 4 × 10-3 Ωcm erreicht.
Für die Herstellung Al-freier ZnO-Schichten wird ana
log zum Beispiel 1 verfahren, jedoch auf die Verwen
dung von Al(sek-BuO)3 im ZnO-Sol verzichtet und reine
Zinkalkoxidvorstufen verwendet. Die übrigen Verfah
rensschritte werden jedoch analog durchgeführt.
Im Unterschied zu den ZnO/Al-Solen sind die ZnC-Sole
jedoch nur bis 2 M stabil, so daß kleinere Schicht
dicken (d = 0,6 - 1,4 µm) realisiert werden können.
Die Al-freien ZnO-Schichten weisen spezifische Wider
stände von 2 × 10-1 - 8 × 10-2 Ωcm auf.
Claims (14)
1. Verfahren zur Herstellung einer elektrisch lei
tenden Schicht auf einem Substrat,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Nanopartikel enthaltendes ZnO-Sol aus
einer Zinkalkoxidvorstufe durch basenkataly
sierte Hydrolyse synthetisiert wird und das so
hergestellte Sol naßchemisch in einem Beschich
tungsschritt mit einer Schichtdicke der trock
enen Schicht von 0,4 bis 3 µm aufgebracht und
zur Schichtbildung thermisch behandelt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zinkalkoxid
vorstufe durch Sieden unter Rückfluß eines Zink
salzes in Alkohol erhalten wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß als Zinksalz Zinka
cetat verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Al-haltige Zin
kalkoxidvorstufe zur Synthese des ZnC-Sols ver
wendet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß dem ZnC-Sol Al
(sek-BuO)3 zugeführt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Beschichtung
durch Tauchen, Besprühen, Bepinseln, Rakeln, Be
drucken oder mit einem spin-on-Verfahren durch
geführt wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die aufgebrachte Schicht bei Temperaturen
zwischen 200 und 500°C getempert wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß auf die trockene
Schicht nachfolgend mindestens eine weitere
Schicht aufgebracht wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die weitere Schicht
durch Tauchen in eine Lösung aufgebracht wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die Lösung eine Zin
kalkoxidvorstufe enthält und das Tauchen bei er
höhter Temperatur durchgeführt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß der Lösung Al(sek-
BuO)3 zugegeben wird.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Aufbringen
der/den weiteren Schicht(en) eine thermische
Nachbehandlung bei Temperaturen oberhalb 300°C
durchgeführt wird.
13. Verfahren nach Anspruch 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die thermische Be
handlung in reduzierender oder inerter At
mosphäre durchgeführt wird.
14. Verfahren nach Anspruch 13,
dadurch gekennzeichnet, daß als reduzierende At
mosphäre ein H2/N2-Gemisch verwendet wird.
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