DE19703982B4 - Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten - Google Patents

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Abstract

Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten für eine mit Prüffingern arbeitende Prüfvorrichtung, mit welcher Prüfpunkte einer zu prüfenden Leiterplatte mit den Prüffingern sequentiell abgetastet werden, wobei
nach dem Einlegen der zu prüfenden Leiterplatte (4) diese optisch abgetastet und das Muster der auf der Leiterplatte (4) angeordneten Prüfpunkte erfaßt wird,
eine Abweichung gegenüber einer idealen Leiterplatte, die ideal in die Prüfvorrichtung eingelegt ist, ermittelt wird, und
ein Koordinatensystem der Prüfvorrichtung nach Maßgabe der ermittelten Abweichung korrigiert wird, und
die Prüffinger nach dem korrigierten Koordinatensystem verfahren werden.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten.
  • Zum Prüfen von Leiterplatten werden sogenannte Fingertester verwendet. Das sind Vorrichtungen, die mit zwei oder mehreren Prüffingern die einzelnen Prüfpunkte sequentiell abtasten.
  • Ein solcher Fingertester ist bspw. aus der EP 0 468 153 A1 bekannt. 4 der EP 0 468 153 A1 zeigt einen Fingertester mit drei Traversen, die über dem Prüffeld angeordnet sind, wobei an jeder Traverse zumindest ein Positionierglied entlang der Traverse verschiebbar befestigt ist. An jedem Positionierglied ist ein Schwenkarm angelenkt, der mittels eines Servomotors vorzugsweise in der Ebene des Prüffeldes um 360° drehbar ist. Am freien Ende des Schwenkarmes befindet sich ein Prüffinger, der in der Regel aus einer dünnen Metallspitze ausgebildet ist. Der Prüffinger kann auf einen Prüfkontakt einer zu prüfenden Leiterplatte abgesenkt werden, so daß zwischen dem Prüfkontakt und dem Prüffinger zu Testzwecken ein elektrischer Kontakt hergestellt wird.
  • Um eine Kollision zwischen den einzelnen Prüffingern zu vermeiden, kann es zweckmäßig sein, die zu prüfende Leiterplatte in mehrere Bereiche zu unterteilen, in welchen nur einer oder mehrere bestimmte Prüffinger die Prüfkontakte der Leiterplatte abtasten.
  • Bei herkömmlichen Fingertestern werden die zu prüfenden Leiterplatten am Prüffeld fixiert. Da die Leiterplatten jedoch oftmals einen Verzug aufweisen, kann es zu Fehlkontaktierungen kommen, da die Prüffinger nicht die gewünschten Prüfkontakte treffen. Die Leiterplatten müssen deshalb oft von Hand justiert werden, wodurch der an einer Prüfmaschine erzielte Durchsatz an geprüften Leiterplatten erheblich beschränkt ist. Zudem verhindert die manuelle Justierung der Leiterplatten einen Einsatz der Prüfvorrichtung in einer automatisch arbeitenden Linie zum Prüfen von Leiterplatten.
  • Von der Anmelderin wurden deshalb Versuche durchgeführt, die Leiterplatten automatisch auf dem Prüffeld auszurichten. Das Ausrichten von Leiterplatten gegenüber Prüfstiften ist ein bei sogenannten mit Prüfadaptern arbeitenden Prüfvorrichtungen bekanntes Verfahren ( US 5,381,104 , EP 0 667 962 B1 , DE 43 42 654 A1 ). Es hat sich jedoch gezeigt, daß das Prüffeld der mit Prüffingern arbeitenden Prüfvorrichtung durch die Sensoren und Stellelemente zum Justieren der Leiterplatte wesentlich komplizierter ausgestaltet werden muß, als es bei herkömmlichen Fingertestern der Fall war.
  • Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren für mit Prüffingern arbeitende Prüfvorrichtungen zu schaffen, das auf einfache Art und Weise ein schnelles und fehlerfreies Prüfen von Leiterplatten erlaubt.
  • Die Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.
  • Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren wird eine Kamera oder dgl. zum Erfassen der Lage der zu prüfenden Leiterplatte auf dem Prüffeld verwendet und ein Koordinatensystem der Prüfvorrichtung, in dem die Prüffinger verfahren werden, wird an die Lage der Leiterplatte angepaßt.
  • Anhand der Zeichnung wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung näher erläutert. Es zeigen schematisch vereinfacht:
  • 1 eine Draufsicht auf eine mit Prüffingern arbeitende Prüfvorrichtung;
  • 2 eine Seitenansicht der in 1 gezeigten Prüfvorrichtung;
  • 3 eine Draufsicht auf einen Ausschnitt einer Kalibrierplatte.
  • 1 und 2 zeigen mit Prüffingern 1 arbeitende Prüfvorrichtungen, sogenannte Fingertester. Die Prüfvorrichtung weist eine Arbeitsfläche 3 auf, auf die eine zu prüfende Leiterplatte 4 aufgelegt und bspw. mittels Stiften 5 fixiert werden kann. Anstatt einer Arbeitsfläche kann auch ein Rahmen vorgesehen sein, in den die zu prüfende Leiterplatte eingeklemmt wird, so daß sie beidseitig für Prüffinger frei zugänglich ist.
  • Die Prüfvorrichtung weist bspw. drei Traversen 7a, 7b, 7c auf, die in Art einer Brücke über der Arbeitsfläche 3 angeordnet sind. An jeder Traverse 7a, 7b, 7c ist zumindest ein Positionierglied 8 entlang der Traverse 7a, 7b, 7c verschiebbar angeordnet. An jedem Positionierglied 8 ist ein Schwenkarm 9 angelenkt, der mittels eines Servomotors (nicht dargestellt) vorzugsweise in einer Ebene parallel zur Arbeitsfläche 3 um 360° drehbar ist. Am freien Ende des Schwenkarmes 9 befindet sich der Prüffinger 1, der in der Regel aus einer dünnen Metallspitze ausgebildet ist. Der Prüffinger 1 kann auf einen Prüfkontakt der zu prüfenden Leiterplatte 4 abgesenkt werden, so daß zwischen dem Prüfkontakt und dem Prüffinger 1 zu Testzwecken ein elektrischer Kontakt hergestellt werden kann.
  • Durch das Verfahren der Positionierglieder 8 entlang einer der Traversen 7a, 7b, 7c und das Drehen des Schwenkarmes 9 kann durch den jeweiligen Prüffinger 1 jeweils ein streifenförmiger Abtastbereich 11a, 11b, 11c abgetastet werden. Diese streifenförmigen Abtastbereiche 11a, 11b, 11c erstrecken sich symmetrisch um die Traversen 7a, 7b, 7c, und deren seitliche Ränder sind in 1 durch die gestrichelten Linien 10a, 10a', 10b, 10b', 10c, 10c' dargestellt, wobei der Abstand der Ränder 10a, 10a", 10b, 10b', 10c, 10c' der streifenförmigen Abtastbereiche 11a, 11b, 11c zu den Traversen 7a, 7b, 7c der Länge a der Schwenkarme 9 in der horizontalen Projektion auf die Arbeitsfläche 3 entspricht.
  • Die äußersten Ränder 10a, 10c' der Abtastbereiche begrenzen die maximal abtastbare Fläche, das Prüffeld 13. Die streifenförmigen Abtastbereiche 11a, 11b, 11c überlappen sich in den Bereichen zwischen den Traversen 9, damit eine durchgehende Abtastung der zu prüfenden Leiterplatte 4 sichergestellt ist.
  • Mittig über dem Prüffeld 13 ist mit Abstand zur Arbeitsfläche 3 eine Kamera 14 angeordnet, die das Prüffeld optisch abtastet.
  • Bevor ein erster Prüfvorgang ausgeführt werden kann, werden mittels einer Computersimulation die einzelnen Bewegungen analysiert und optimiert, die die Prüffinger ausführen müssen, um die gesamte Leiterplatte zu testen. Als Ergebnis dieser Computersimulation werden die X- und Y-Koordinaten der Meßpunkte bzw. Prüfpunkte der Leiterplatte in der Reihenfolge in einer Arbeitsliste abgespeichert, in der sie mit den Prüffingern 1 abgetastet werden. Für jeden Prüffinger 1 kann eine separate Arbeitsliste erstellt werden. Gleichermaßen ist es auch möglich, die Koordinaten aller Prüffinger 1 in einer einzigen Arbeitsliste abzuspeichern.
  • Um die Gefahr einer Kollision zwischen den einzelnen Prüffingern 1 zu verringern, wird bei dieser Computersimulation die zu prüfende Leiterplatte in mehrere Bereiche unterteilt, in welchen nur einer oder mehrere bestimmte Prüffinger 1 die Prüfkontakte der Leiterplatte 4 abtasten. Bspw. werden die sich überlappenden Abtastbereiche durch die in 1 gezeigte punktierte Trennlinie 16 aufgeteilt, so daß die Prüffinger 1 einer jeden Traverse 9 keine Prüfpunkte der Leiterplatte 4 abtasten, die auf der von der Traverse 9 entfernten Seite der Trennlinie 16 liegen. Hierdurch wird eine Kollision der Prüffinger zweier benach barter Traversen 9 vermieden.
  • Nach Abschluß der Computersimulation können die Prüfvorgänge zum Testen der Leiterplatten 4 beginnen.
  • Die zu testende Leiterplatte 4 wird hierzu in das Prüffeld 13 eingebracht. Mittels der Kamera 14 wird das Muster der Prüfpunkte der Leiterplatte 4 erfaßt. Es werden dann die Abweichungen der Prüfpunkte von einer fiktiven, idealen Leiterplatte, die ideal in der Prüfvorrichtung angeordnet ist, ermittelt.
  • Erfindungsgemäß wird auf Grundlage der ermittelten Abweichungen das Koordinatensystem der Prüfvorrichtung, in dem die Prüffinger 1 verfahren werden, entsprechend korrigiert, wobei die Ausrichtung und Anordnung der Koordinatenachsen X, Y auf neue Koordinatenachsen X', Y' transformiert wird.
  • Die Prüfpunkte fahren während des Prüfvorganges alle in der bzw. den Arbeitslisten gespeicherten Prüfpunkte ab, wobei jedoch das transformierte X'-, Y' -Koordinatensystem als Basis zur Bestimmung des tatsächlichen Ortes der Prüfkontakte dient. D.h., daß die tatsächlichen Orte der in der bzw. den Listen gespeicherten Prüfpunkte in dem korrigierten X'-, Y' -Koordinatensystem festgelegt werden.
  • Durch das erfindungsgemäße Verfahren wird somit lediglich das Koordinatensystem, aber nicht die Leiterplatte selbst verschoben. Dies ist ohne mechanische Hifsmittel möglich.
  • Anhand dem in 3 gezeigten Ausschnitt einer Kalibrierplatte 15 wird nachfolgend ein mögliches Verfahren zum Ansteuern eines abzutastenden Prüfpunktes und Korrigieren eines Koordinatensystems erläutert.
  • Während eines Kalibriervorgangs wird anstatt der Leiterplatte 4 die Kalibrierplatte 15 eingelegt. Die Kalibrierplatte 15 weist ein gleichmäßiges Raster mit horizontalen Linien 17 und vertika len Linien 18 auf, die sich jeweils in einem rechten Winkel schneiden und mit regelmäßigen, gleichen Abständen voneinander beabstandet sind. In 3 ist ein Raster mit sieben horizontalen Linien RH0 bis RH6 und neun vertikalen Linien RV0 bis RV8 dargestellt. Die Kreuzungspunkte der horizontalen und vertikalen Linien entsprechen bestimmten Orten Xp (RVx), Yp (RHy) im physikalischem Koordinatensystem Xp, Yp der Arbeitsfläche 3 bzw. der Leiterplatte 4, wobei Xp (RVx) die X-Koordinate einer der vertikalen Linien RV0 bis RV8 und Yp (RVy) die Y-Koordinate einer der horizontalen Linien RH0 bis RH7 im Koordinatensystem der Arbeitsfläche sind. Da die Kalibrierplatte 15 exakt gearbeitet ist und exakt ausgerichtet in die Prüfvorrichtung eingelegt wird, können durch Abtasten der Kreuzungspunkte der vertikalen und horizontalen Linien 17, 18 die physikalischen Ortskoordinaten exakt erfaßt werden.
  • Zum Kalibrieren der einzelnen Prüffinger werden diese Kreuzungspunkte der Kalibrierplatte 15 einzeln abgetastet. Hierbei wird die Postion T (≡ translatorische Bewegung) der Postionierglieder 8 auf den Traversen 7a, 7b, 7c durch Wegaufnehmer festgestellt und die Drehposition R (≡ rotatorische Bewegung) der Schwenkarme durch entsprechende Sensoren erfaßt. Diese Positionen T, R stellen physikalische Koordinaten der Prüffinger 1 dar, die durch einfache mathematische Umformungen in virtuelle kartesische Koordinaten Xv, Yv der Prüffinger umgesetzt werden.
  • Zu jedem Kreuzungspunkt werden die virtuellen Koordinaten Xv, Yv in einer Kalibriertabelle abgespeichert. Eine solche Kalibriertabelle wird für jeden Finger angelegt. Diese Kalibriertabellen stellen einen exakten Bezug des durch die Sensoren erfassten virtuellen Koordinatensystem Xv, Yv zum physikalischem Koordinatensystem Xp, Yp der Arbeitsfläche 3 dar. Somit kann durch gezieltes Anfahren eines virtuellen Koordinatenpaares, bzw. den entsprechenden Positionen T, R ein bestimmter physikalischer Ort auf der Arbeitsfläche 3 angesteuert werden. Soll ein von einem Kreuzungspunkt abweichender Ort mit einem Prüffinger 1 abgetastet werden, so werden zur Berechnung der virtuellen Koordina ten, die von einem Prüffinger 1 abgetastet werden sollen, die virtuellen Koordinaten der nächsten, benachbarten Kreuzungspunkte entsprechend interpoliert.
  • Durch die Speicherung von einer Vielzahl von Wertepaaren im Koordinatensystem der Prüffinger, die über die gesamte Arbeitsfläche 3 verteilt sind, werden auch nichtlineare Ungenauigkeiten, wie sie bspw. durch kleine Wellen in den Traversen auftreten, kompensiert.
  • Soll ein bestimmter Prüfpunkt einer Leiterplatte 4 durch einen Prüffinger 1 abgetastet werden, werden folgende Verfahrensschritte ausgeführt:
    • 1. Bestimmung der physikalischen Koordinaten Xp, Yp des Prüfpunktes. Diese Koordinaten sind aus den Fertigungszeichnungen bzw. Fertigungsdaten der Leiterplatten bekannt und in der Arbeitsliste abgespeichert.
    • 2. Bestimmung der nächsten, benachbarten Kreuzungspunkte im physikalischen Koordinatensystem der Arbeitsfläche 3.
    • 3. Bestimmung der virtuellen Koordinaten Xv, Yv im Koordinatensystem der Prüffinger, die den nächsten, benachbarten in Schritt (2) ermittelten Kreuzungspunkten entsprechen.
    • 4. Bestimmung der virtuellen Koordinaten Xv, Yv des abzutastenden Prüfpunktes durch Interpolation der im Schritt (3) ermittelten virtuellen Koordinaten der Kreuzungspunkte.
    • 5. Umsetzen der virtuellen Koordinaten Xv, Yv des Prüfpunktes in die physikalischen Koordinaten der Prüffinger, d.h. in die Positionen T, P.
    • 6. Einstellen des Positioniergliedes in die Position T und des Schwenkarmes 9 in die Position R. Hierdurch wird der Prüffinger über dem abzutatsenden Prüfpunkt angeordnet.
  • Soll bei diesem Verfahren des Ansteuerns eines bestimmten Prüfpunktes die oben angegebene Korrektur nach Erfassen der Abweichungen einer eingelegten Leiterplatte mittels der Kamera 14 ausgeführt werden, so werden lediglich, einmalig vor Beginn des Prüfverfahrens die in der Kalibriertabelle gespeicherten virtuellen Koordinaten korrigiert, indem die mittels der Kamera 14 festgestellten Abweichungen zu den gespeicherten virtuellen Koordinaten addiert und als neue, korrigierte virtuelle Daten abgespeichert werden. Wird nun das oben mit den Schritten (1) bis (6) angegebene Verfahren durchgeführt, so erfolgt im Schritt (3), bei dem die virtuellen Koordinaten Xv, Yv aufgerufen werden, automatisch die Korrektur, der nicht exakt ausgerichteten, zu prüfenden Leiterplatte in der Prüfvorrichtung. Da eine Korrektur des virtuellen Koordinatensystems erfolgt, ist es nicht notwendig, das Verfahren zum Ansteuern bestimmter Prüfpunkte (Schritt (1) bis (6)) an sich zu ändern.
  • Es ist gleichermaßen möglich, anstatt der virtuellen Koordinaten, die physikalischen Koordinaten zu korrigieren.
  • Ist die Prüfvorrichtung so ausgebildet, daß das Positionierglied in der Prüfebene entlang zweier zueinander senkrecht angeordneter Schienen verfahren wird ( EP 0 468 153 A1 ), so stellen die virtuellen, kartesischen Koordinaten die physikalischen Koordinaten der Prüfvorrichtung dar, d.h. sie geben unmittelbar die Verfahrwege des Positioniergliedes auf den Schienen an, so daß Schritt (5) des oben angegebenen Verfahrens entfallen kann.
  • Die erfindungsgemäßen Prüfvorrichtungen arbeiten mit einer Genauigkeit von +/– 20μm. Mit dem erfindungsgemäßen Korrekturverfahren können Abweichungen von +/– 2 mm ausgeglichen werden.
  • In 1 ist die Abweichung der Leiterplatte 4 aus einer zentrierten, parallel zu den Kanten der Arbeitsfläche 3 ausgerichteten Anordnung etwas übertrieben dargestellt. Es hat sich überraschenderweise gezeigt, daß durch dieses einfache Verfahren, insbesondere sehr geringe Abweichungen im Bereich von 0,1 mm, die bei modernen, eine hohe Prüfpunktdichte aufweisenden Leiterplatten schon zu Meßfehlern führen können, hervorragend korrigiert werden können. Zudem kann eine nach dem erfindungsgemäßen Verfahren arbeitende Prüfvorrichtung in einer automatisch arbei tenden Prüflinie eingesetzt werden, bei der die zu prüfenden Leiterplatten automatisch zugeführt, in die Prüfvorrichtung eingelegt, der Prüfvorichtung entnommen und abtransportiert werden.

Claims (8)

  1. Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten für eine mit Prüffingern arbeitende Prüfvorrichtung, mit welcher Prüfpunkte einer zu prüfenden Leiterplatte mit den Prüffingern sequentiell abgetastet werden, wobei nach dem Einlegen der zu prüfenden Leiterplatte (4) diese optisch abgetastet und das Muster der auf der Leiterplatte (4) angeordneten Prüfpunkte erfaßt wird, eine Abweichung gegenüber einer idealen Leiterplatte, die ideal in die Prüfvorrichtung eingelegt ist, ermittelt wird, und ein Koordinatensystem der Prüfvorrichtung nach Maßgabe der ermittelten Abweichung korrigiert wird, und die Prüffinger nach dem korrigierten Koordinatensystem verfahren werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß während eines Kalibriervorganges ein Koordinatensystem einer Arbeitsfläche (3) der Prüfvorrichtung fesgelegt wird, bestimmte Punkte im K oordinatensystem der Arbeitsfläche (3) durch die Prüffinger abgetastet werden, wobei mittels Sensoren die Bewegung der Prüffinger zu den bestimmten Punkten erfaßt und als Koordinaten der Prüffinger in einer Kalibriertabelle abgespeichert werden.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Einlegen einer zu prüfenden Leiterplatte die Koordinaten der Prüffinger korrigiert werden, indem zu den Koordinaten der Prüffinger bestimm te Korrekturwerte, die den ermittelten Abweichungen entsprechen, addiert werden.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Koordinaten der Prüffinger vorab mittels einer Computersimulation gewonnen werden.
  5. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Einlegen einer zu prüfenden Leiterplatte die Koordinaten der bestimmten Punkte der Arbeitsfläche (3) korrigiert werden, indem bestimmte Korrekturwerte, die den ermittelten Abweichungen entsprechen, zu deren Koordinaten addiert werden.
  6. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Koordinaten der Prüffinger kartesische Koordinaten (Xv, Yv) sind.
  7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die bestimmten Punkte der Arbeitsfläche (3) in einem Raster angeordnet sind.
  8. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß zum Ansteuern eines bestimmten Prüfpunktes einer Leiterplatte (4) durch einen Prüffinger (1) folgende Verfahrensschritte ausgeführt werden: – Bestimmung der Koordinaten (Xp, Yp) des Prüfpunktes auf der Arbeitsfläche (3); – Bestimmung der nächsten, benachbarten Kreuzungspunkte im Koordinatensystem der Arbeitsfläche (3); – Bestimmung der Koordinaten (Xv, Yv) der gemäß dem letzten Schritt ermittelten nächsten, benachbarten Kreuzungspunkte im Koordinatensystem der Prüffinger; – Bestimmung der Koordinaten (Xv, Yv) des abzutatsenden Prüfpunktes im Koordinatensystem der Prüffinger durch Interpolation der im letzten Schritt ermittelten Koordinaten der Kreuzungspunkte; – Umsetzen der im letzten Schritt ermittelten Koordinaten (Xv, Yv) in auszuführende Bewegungen der Prüffinger (1) zum Abtasten der Prüfpunkte.
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