DE19506339A1 - Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten - Google Patents
Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von ObjektenInfo
- Publication number
- DE19506339A1 DE19506339A1 DE1995106339 DE19506339A DE19506339A1 DE 19506339 A1 DE19506339 A1 DE 19506339A1 DE 1995106339 DE1995106339 DE 1995106339 DE 19506339 A DE19506339 A DE 19506339A DE 19506339 A1 DE19506339 A1 DE 19506339A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- samples
- secondary signal
- circuit device
- evaluation
- signals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
- G01V3/12—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with electromagnetic waves
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Geology (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Schaltungs
vorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten
im Rahmen der Puls-Induktion-Technik (PI-Technik).
Aus der DE 43 26 030 A1 ist ein Verfahren der eingangs ge
nannten Art bekannt, bei dem Einzelimpulse in den Bereich
eines zu detektierenden Objekts gesendet werden und ein vom
Objekt abgestrahltes Sekundärsignal empfangen und objekt
spezifisch ausgewertet wird. Dabei werden insbesondere die
Frequenzanteile des Sekundärsignals zur Spezifizierung des
Objekts verwendet.
Ferner ist ein Verfahren zur elektromagnetischen Detektion
von Objekten bekannt, welches mit bipolaren Impulsen arbei
tet. Dabei wird in dem Antwortsignal des ersten Impulses
eine frühe Messung vorgenommen und in dem Antwortsignal des
zweiten Impulses eine späte Messung vorgenommen.
Auch mit diesem Verfahren ist eine vollständige Signalaus
wertung und eine umfassende Objektidentifikation nicht
möglich.
Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt daher der Er
findung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und
eine Schaltungsvorrichtung zu schaffen, welche bzw. welches
eine besonders gute Auswertung der Signalinformation
gewährleistet und zu einer möglichst weitgehenden Objekt
spezifizierung führt.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt verfahrensmäßig gemäß den
Merkmalen des Anspruchs 1 und schaltungsvorrichtungsmäßig
gemäß den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruchs 11.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den abhängigen
Ansprüchen beschrieben.
Entsprechend einem wesentlichen Grundgedanken der Erfindung
wird ein einzelner Impuls ausgestrahlt, der in einem Ob
jekt, welches leitfähige und/oder dielektrische Eigenschaf
ten aufweist, einen Wirbelstrom erzeugt, durch den wiederum
ein Sekundärsignal abgestrahlt wird. Dieses Sekundärsignal
wird empfangen und objektspezifisch ausgewertet. Dazu wird
das Sekundärsignal zu vorgebbaren Zeiten abgetastet und die
abgetasteten Signale durch eine schaltungstechnische
Verknüpfung weiterverarbeitet. Durch eine entsprechende
Verknüpfung und Weiterverarbeitung von Teilverknüpfungen
erhält man eine Information über Form und Gestalt des Se
kundärsignals, woraus objektspezifische Informationen abge
leitet werden können.
Vorteilhaft ist die Speicherung der Abtastwerte, so daß
diese anschließend gemeinsam ausgewertet werden können. Ge
nausogut ist es möglich, jeden einzelnen Abtastwert der
Verknüpfung zuzuführen und dort zwischenzuspeichern und das
jeweils zwischengespeicherte Ergebnis dann mit dem nächsten
gemessenen Abtastwert weiterzuverarbeiten. Bei der Auswert
ung der Abtastwerte werden bevorzugt Addition und Subtrak
tion durchgeführt. Addiert man sämtliche Abtastsignale zu
einem Wert auf, so erhält man als Summe der einzelnen Ab
tastwerte ein wesentlich stärkeres Ortungssignal, als es
bei Verwendung nur eines Meßwertes möglich wäre. Dies kann
eine Empfindlichkeitssteigerung von 30% bis 40% bedeuten.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung wird ein
Teil der Abtastwerte zu einer ersten Summe aufaddiert und
ein weiterer Teil der Abtastwerte zu einer zweiten Summe
aufaddiert, und aus diesen beiden Summen ein Differenzsi
gnal gebildet. Allgemeiner ausgedrückt, kann man beliebig
viele Abtastwerte 1 bis N messen und hintereinander reihen.
Werden die Werte der einzelnen Abtastwerte 1 bis N durch
entsprechende elektronische Mittel und durch einen vorgege
benen zeitlichen Ablauf miteinander verglichen, so erhält
man Objektinformationen hinsichtlich Größe und Materialbe
schaffenheit, die sich aus den unterschiedlichen Abkling
funktionen der Sekundärsignale ergeben. Die Kombination der
Abtastwerte 1 bis N kann beliebig untereinander verknüpft
werden, um auf diese Weise dem entsprechenden Zweck optimal
angepaßt zu werden. Es kann daher abhängig vom Zweck eine
beliebige Folge der Abtastwerte, z. B. 1, 4, 2, 6, 8 usw.
verknüpft werden.
Dabei ist es besonders bevorzugt, die aufzusummierenden Ab
tastwerte so auszuwählen, daß eine Bodenkompensation auto
matisch durchgeführt wird. Dazu müssen zwei Gruppen von Ab
tastwerten ausgewählt werden, die in Abwesenheit eines zu
suchenden Objekts bodenspezifisch die gleiche Summe der
Einzelwerte ergeben. Die Differenz der beiden Gruppen er
gibt also Null, solange kein Objekt das empfangene Se
kundärsignal verändert und dadurch ein von Null abweichen
des Ergebnis hervorruft.
Das Verfahren kann mit Monoeinzelimpulsen durchgeführt wer
den. Bevorzugt sind jedoch bipolare Einzelimpulse. Hier
kann jeder einzelne Impuls nach seiner Abklingzeit bevor
zugt mit einem Sampling- oder Multiplexverfahren abgetastet
werden. Es ist auch möglich, die Werte der einzelnen Im
pulskanäle in Relation zu bringen, vor allem dann, wenn die
abtastenden Samplingimpulse für jeden Kanal des bipolaren
Einzelimpulses unterschiedliche Werte aufweisen. Hierdurch
ergibt sich wiederum eine Differenz in den beiden bipolaren
Kanälen, die wiederum miteinander verglichen werden kann.
Um ein kontinuierliches Verfahren zu erhalten, werden die
Einzelimpulse nach einer kurzen Zeitspanne erneut ausge
strahlt. Dabei kann bevorzugterweise eine Frequenz von
10 Hz bis etwa 10 KHz Verwendung finden.
Bevorzugt ist weiterhin die Auswertung mit digitalen Tech
niken und Mikroprozessoren, um die Vielfalt der gegebenen
Meßmöglichkeiten ausnutzen zu können.
Das erfindungsgemäße Verfahren führt zu einer höheren
Reichweite durch die Aufsummierung vieler einzelner
Abtastsignale. Gleichzeitig wird eine Intensitätssteigerung
von ca. bis zu 40% erreicht.
Durch Untersuchung, Vergleich und Verknüpfung der einzel
nen Abtastwerte kann man die Objektzeitkonstante erkennen,
die auch ein Maß für die Dimension des Objekts ist. Wenn
man diese Zeitkonstante mit der Gesamtintensität aller auf
summierten Abtastsignale vergleicht, so kann man auch auf
die Ortungstiefe des Objekts schließen.
Das Verfahren und die Schaltungsvorrichtung können mit be
liebigen Schleifenkonfigurationen, wie z. B. Relativ- oder
Differenzmessern, realisiert werden. Auch die Anwendung in
einem Bewehrungssuchgerät mit Tiefenanzeige und Identifi
zierung des Stabdurchmessers ist möglich.
Nachfolgend wir die Erfindung anhand einer Zeichnung weiter
erläutert. Im einzelnen zeigen die schematischen Darstel
lungen in:
Fig. 1 eine Darstellung zur prinzipiellen Funktion des
Impulsverfahrens;
Fig. 2 eine schematische Schaltungsskizze der erfindungs
gemäßen Vorrichtung zur Durchführung des
Verfahrens;
Fig. 3 eine prinzipielle Darstellung der Flächenauswer
tung.
In Fig. 1 ist die prinzipielle Funktion des Verfahrens dar
gestellt. Kurze Einzelimpulse, die von einer Sendeschleife
ausgesandt werden, induzieren in den gesuchten Metallge
genständen Wirbelströme. Diese Wirbelströme bewirken ein
Sekundärfeld, das ein objektspezifisches Abklingverhalten
hat. Der zeitliche Verlauf des so erzeugten magnetischen
Echos ist von der Größe und Materialbeschaffenheit des auf
gespürten Metallgegenstandes abhängig. In Fig. 2 ist auf
der x-Achse die Zeit und auf der y-Achse die Feldstärke
dargestellt. Zum Zeitpunkt tA wird durch die Such- oder
Sendeschleife ein Gleichstrom geschickt, der sich impulsar
tig aufbaut und zum Zeitpunkt tE abgeschaltet wird.
Dieser Primärimpuls A klingt durch die Induktion der
Schleife erst zum Zeitpunkt TI auf Null ab. Das Se
kundärfeld, also das magnetische Echo des Suchobjekts, hat
etwa zu diesem Zeitpunkt sein Maximum erreicht und klingt
dann mit objektspezifischer Halbwertszeit ab. Erfindungs
gemäß wird dann zu den Zeitpunkten t1 bis tN durch die Sam
ple- und Holdschaltung die objektspezifische Abklingkurve
abgetastet.
In Fig. 2 ist ein Blockschaltbild einer Schaltungseinricht
ung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten darge
stellt. Auf der linken Seite ist die Form des zu detektie
renden Sekundärsignals angedeutet, welches exponentiell
abfällt. Dieses wird über einen Eingangsverstärker 1 mit
Nullkompensationsblock 11 in die Schaltung eingespeist.
Diese Nullkompensation ist funktionsmäßig mit der Auswert
einrichtung 8 verbunden. Eine Zeitschaltung 2, deren Werte
über den Block 12 einstellbar sind, schaltet die Analog
schalter SP1 bis SPN im Block 3 zu den Zeitpunkten t1 bis
tN. Der jeweilige Abtastwert wird in die zugehörigen Kon
densator geladen. Ein Auswertkanal wird von einer
Verknüpfungseinrichtung 4 gebildet, die eine Summe aus
sämtlichen Abtastwerten 1 bis N bildet. Nach entsprechender
elektronischer Aufbereitung kann dieses Signal in der Aus
werteinrichtung 8, die von einem analogen Anzeigegerät ge
bildet wird, dargestellt werden. Dieser Anzeigekanal signa
lisiert die Anwesenheit des Suchobjekts. Durch das Aufsum
mieren der einzelnen Signalimpulse wird die effektive Si
gnalspannung größer, wodurch die Intensität des Ortungssi
gnals erheblich zunimmt.
In einem zweiten Anzeigekanal wird in den Verknüpfungsein
richtungen 5 und 6 jeweils ein Teil der N Werte aufaddiert,
um in einer Verknüpfungseinrichtung 7 die Differenzspannung
der in den Verknüpfungseinrichtungen 5 und 6 erhaltenen
Spannungen zu ermitteln. Die Auswerteinrichtung 9, die
z. B. von einem analogen Instrument mit Plus/Minus-Anzeige
gebildet werden kann, soll beispielhaft darstellen, daß
beispielweise Eisen eine negative und Nichteisen eine posi
tive Anzeige auslösen kann. Der Grund ist der, daß das ma
terialbedingte Abklingverhalten sehr unterschiedlich ist.
Das Verfahren gestattet nicht nur eine Metallunterschei
dung, sondern auch eine Unterdrückung störender Medien.
Dies kann z. B. der Boden sein, der magnetische Eigenschaf
ten aufweisen kann. Auch magnetische Steine, Feuerstellen
und andere magnetische Rückwirkungen können das Suchergeb
nis beeinflussen. Dieses Störsignale sind natürlich auf dem
ersten Kanal bzw. auf der Auswerteinrichtung 8 immer im ge
wissen Maße vorhanden und können auch nur bedingt un
terdrückt werden. Die Auswerteinrichtung 9, die durch die
Verknüpfungseinrichtungen 5, 6 und 7 eine Objektanalyse
durchführt, kann durch geeignete Wahl der Zeiten t1 bis
tN so gesteuert werden, daß die Wirkung des störenden Medi
ums kompensiert wird. Dazu kann auch die Nullkompensation 10
genutzt werden. Die Wirkung ist die, daß die einzelnen Sam
plingpulse zeitlich so gesteuert werden, daß sich beim Ver
gleich in der Verknüpfungseinrichtung 7 die Summe Null er
gibt. Auf diese Weise können Metallobjekte in hochmagneti
schen Böden auch dann noch geortet werden, wenn die Aus
werteinrichtung 8 bereits voll durchgesteuert ist.
Daraus ergibt sich auch die Funktion des sogenannten Dis
kriminierens, wobei die Geräteeinstellung so erfolgt, daß
bestimmte, ungewollte Objekte keine Anzeige auslösen. Der
Vorgang entspricht der Bodenkompensation.
Eine Alternative zur Abtastung einzelner Amplitudenwerte
besteht in der Auswertung der Fläche unter der Abklingfunk
tion. Dies ist schematisch in Fig. 3 dargestellt. Ausgehend
von einem normierten Anfangswert, weist jedes Objekt
abhängig von Größe und Beschaffenheit eine typische Ab
klingfunktion auf, die durch die Fläche unter der Kurve
charakterisiert ist und mittels eines Integrators gemessen
werden kann. Bezogen auf ein ferromagnetisches Objekt weist
ein größeres Objekt ein größeres Integral unter der Ab
klingkurve auf. Vorteilhafterweise werden erfindungsgemäß
Teilflächen F1 bis FN ermittelt und die Einzelflächen mit
einander verknüpft und ausgewertet. Im wesentlichen besteht
diese Alternative darin, daß man sich auf einen normierten
Amplitudenwert 1 bezieht und durch absampeln feststellt,
wann die Kurve den Amplitudenwert 0,5 erreicht. Auch hier
ergibt sich ein klar definiertes Abklingverhalten. Hier
reichen bereits zwei Samplingimpulse aus, um festzustellen,
ob die objektspezifische Fläche größer oder kleiner als die
Vergleichsfläche ist.
Claims (18)
1. Verfahren zur elektromagnetischen Detektion von
Objekten,
- a) wobei ein Einzelimpuls ausgestrahlt wird, der das zu detektierende Objekt zur Abstrahlung eines Sekundärsignals anregt,
- b) und das Sekundärsignal empfangen und objektspe zifisch ausgewertet wird,
- c) wobei aus dem empfangenen Sekundärsignal zu vor gebbaren Samplingzeiten Abtastsignale erzeugt werden,
- d) wobei die Abtastsignale einer Verknüpfung unter zogen werden und
- e) das oder die Verknüpfungssignale einer Auswertung und Anzeige objektspezifischer Daten zugeführt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Abtastwerte gespeichert und anschließend
gemeinsam ausgewertet werden.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswertung durch Addition oder Subtraktion der
Abtastwerte erfolgt.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Abtastwerte durch ein Sampling- oder ein
Multiplex-Verfahren erzeugt werden.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Teil der Abtastwerte zu einer ersten Summe aufaddiert wird,
daß ein weiterer Teil der Abtastwerte zu einer zweiten Summe aufaddiert wird und
daß aus den beiden Summen ein Differenzsignal gebildet wird.
daß ein Teil der Abtastwerte zu einer ersten Summe aufaddiert wird,
daß ein weiterer Teil der Abtastwerte zu einer zweiten Summe aufaddiert wird und
daß aus den beiden Summen ein Differenzsignal gebildet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswahl der aufzusummierenden Abtastwerte in
Abhängigkeit vom Untergrund erfolgt.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß sämtliche Abtastwerte aufaddiert werden.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß bipolare Einzelimpulse ausgestrahlt werden.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einzelimpulse mit einer Frequenz von 10 Hz bis
10 KHz ausgestrahlt werden.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswertung digital und mikroprozessorgesteuert
durchgeführt wird.
11. Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion
von Objekten mittels Auswertung des von den Objekten
abgestrahlten Sekundärsignals, mit einer Sende-, einer
Empfangs- und einer Auswerteinrichtung, insbesondere
zur Durchführung des Verfahrens nach einem der
Ansprüche 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Empfangseinrichtung eine Sample- und Holdeinrichtung (3) zur Abtastung und Speicherung von Abtastsignalen des Sekundärsignals aufweist,
daß eine ein- oder mehrkanalige Verknüpfungseinrichtung (4, 5, 6, 7) für die Abtastsignale vorgesehen ist und
daß der Verknüpfungseinrichtung eine Auswerteinrich tung (8, 9) nachgeschaltet ist.
daß die Empfangseinrichtung eine Sample- und Holdeinrichtung (3) zur Abtastung und Speicherung von Abtastsignalen des Sekundärsignals aufweist,
daß eine ein- oder mehrkanalige Verknüpfungseinrichtung (4, 5, 6, 7) für die Abtastsignale vorgesehen ist und
daß der Verknüpfungseinrichtung eine Auswerteinrich tung (8, 9) nachgeschaltet ist.
12. Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Eingangsverstärker (1) in die Empfangseinrich
tung integriert ist.
13. Schaltungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 oder
12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sample- und Holdeinrichtung (3) Analogschalter
und Kondensatoren aufweist.
14. Schaltungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis
13,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verknüpfungseinrichtung (4, 5, 6, 7) als
Addierer oder Subtrahierer ausgebildet ist.
15. Schaltungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis
15,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verknüpfungseinrichtung (7) mit einer
Nullkompensation (10) verbunden ist.
16. Schaltungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis
15,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswerteinrichtung (8, 9) als analoges Anzeige
instrument mit Plus/Minus-Anzeige ausgebildet ist.
17. Schaltungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sample- und Holdeinrichtung (3) einen Integra
tor zur Messung von Flächen oder Teilflächen des
Sekundärsignals aufweist.
18. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verknüpfungssignale aus der Messung der Fläche
oder von Teilflächen des Sekundärsignals, insbesondere
der Flächenintegration unterhalb des Sekundärsignals,
gewonnen werden.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995106339 DE19506339C2 (de) | 1995-02-23 | 1995-02-23 | Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
EP96101133A EP0729039A3 (de) | 1995-02-23 | 1996-01-26 | Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995106339 DE19506339C2 (de) | 1995-02-23 | 1995-02-23 | Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19506339A1 true DE19506339A1 (de) | 1996-08-29 |
DE19506339C2 DE19506339C2 (de) | 1998-01-15 |
Family
ID=7754857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995106339 Expired - Lifetime DE19506339C2 (de) | 1995-02-23 | 1995-02-23 | Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0729039A3 (de) |
DE (1) | DE19506339C2 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0892285A1 (de) * | 1997-07-18 | 1999-01-20 | Firma Ing. Klaus Ebinger | Verfahren und Vorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
EP1347311A2 (de) | 2002-03-23 | 2003-09-24 | Lorenz Roatzsch | Verfahren zum Detektieren von Objekten, insbesondere von Metallobjekten |
EP3282586B1 (de) | 2016-08-12 | 2020-02-12 | Sick AG | Induktiver näherungssensor |
EP4030199A1 (de) | 2021-01-15 | 2022-07-20 | Pepperl+Fuchs SE | Induktive annäherungssensoreinheit und verfahren zur bestimmung einer objekteigenschaft eines metallischen erfassungskörpers |
EP4030622A1 (de) | 2021-01-15 | 2022-07-20 | Pepperl+Fuchs SE | Induktive annäherungssensoreinheit und verfahren zur störungsüberprüfung bei einer induktiven annäherungssensoreinheit |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19901174C1 (de) * | 1999-01-14 | 2000-10-26 | Ebinger Klaus Ing Fa | Verfahren und Vorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
DE19963669A1 (de) * | 1999-12-29 | 2001-07-19 | Fischer Joern | Kontrollsystem |
NL1016363C2 (nl) * | 2000-10-09 | 2002-04-10 | T & A Radar B V | Werkwijze voor bodemonderzoek, en inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze. |
WO2002004987A2 (en) | 2000-07-07 | 2002-01-17 | T & A Survey B.V. | 3d borehole radar antenna and algorithm, method and apparatus for subsurface surveys |
DE10213115A1 (de) * | 2002-03-23 | 2003-10-16 | Lorenz Roatzsch | Verfahren zum Aussortieren von Metallobjekten bzw. eine Sortieranlage, ein Detektor sowie eine Schaltungsanordnung hierfür |
DE102007027152A1 (de) * | 2007-06-13 | 2008-12-18 | Ing. Klaus Ebinger | Verfahren und System zur Detektion von Minen |
DE102012008037A1 (de) | 2012-04-17 | 2013-10-17 | Klaus Ebinger | Verfahren zur Detektion von Objekten |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2041532A (en) * | 1979-01-31 | 1980-09-10 | Plessey Co Ltd | Metal detector |
DE4326030A1 (de) * | 1993-08-03 | 1995-02-09 | Klaus Ebinger | Verfahren zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3707672A (en) * | 1971-06-02 | 1972-12-26 | Westinghouse Electric Corp | Weapon detector utilizing the pulsed field technique to detect weapons on the basis of weapons thickness |
EP0274450A3 (de) * | 1987-01-09 | 1989-08-02 | Kolectric Limited | Gerät zur Messung der Nähe eines Metallobjekts |
-
1995
- 1995-02-23 DE DE1995106339 patent/DE19506339C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-01-26 EP EP96101133A patent/EP0729039A3/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2041532A (en) * | 1979-01-31 | 1980-09-10 | Plessey Co Ltd | Metal detector |
DE4326030A1 (de) * | 1993-08-03 | 1995-02-09 | Klaus Ebinger | Verfahren zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0892285A1 (de) * | 1997-07-18 | 1999-01-20 | Firma Ing. Klaus Ebinger | Verfahren und Vorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten |
EP1347311A2 (de) | 2002-03-23 | 2003-09-24 | Lorenz Roatzsch | Verfahren zum Detektieren von Objekten, insbesondere von Metallobjekten |
EP3282586B1 (de) | 2016-08-12 | 2020-02-12 | Sick AG | Induktiver näherungssensor |
DE102016115015C5 (de) | 2016-08-12 | 2023-01-26 | Sick Ag | Induktiver Näherungssensor |
EP4030199A1 (de) | 2021-01-15 | 2022-07-20 | Pepperl+Fuchs SE | Induktive annäherungssensoreinheit und verfahren zur bestimmung einer objekteigenschaft eines metallischen erfassungskörpers |
EP4030622A1 (de) | 2021-01-15 | 2022-07-20 | Pepperl+Fuchs SE | Induktive annäherungssensoreinheit und verfahren zur störungsüberprüfung bei einer induktiven annäherungssensoreinheit |
DE102021000156A1 (de) | 2021-01-15 | 2022-07-21 | Pepperl+Fuchs Se | lnduktive Annäherungssensoreinheit und Verfahren zur Bestimmung einer Objekteigenschaft eines metallischen Erfassungskörpers |
DE102021000157A1 (de) | 2021-01-15 | 2022-07-21 | Pepperl+Fuchs Se | lnduktive Annäherungssensoreinheit und Verfahren zur Störungsüberprüfung bei einer induktiven Annäherungssensoreinheit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0729039A3 (de) | 1999-06-16 |
EP0729039A2 (de) | 1996-08-28 |
DE19506339C2 (de) | 1998-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1794582B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur zerstörungs-und berührungsfreien erfassung von fehlern in einem relativ zu einer sonde bewegten prüfling | |
EP0365622B1 (de) | Verfahren zum zerstörungsfreien messen magnetischer eigenschaften eines prüfkörpers sowie vorrichtung zum zerstörungsfreien messen magnetischer eigenschaften eines prüfkörpers | |
EP0782692B1 (de) | Sensoranordnung und verfahren zur messwerterfassung mit der sensoranordnung | |
DE19506339C2 (de) | Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten | |
DE102007039434A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von Partikeln in einer strömenden Flüssigkeit | |
EP3282586B1 (de) | Induktiver näherungssensor | |
DE102009022136A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren für induktive Messungen | |
DE102009022138A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren für induktive Messungen | |
DE19648834A1 (de) | Verfahren zum Betrieb und zur Auswertung von Signalen einer Wirbelstromsonde und Vorrichtung zur Ausübung des Verfahrens | |
DE3228447C2 (de) | Meßverfahren zur Erkennung von metallischen Gegenständen und Metalldetektor zur Durchführung des Verfahrens | |
DE3152921C2 (en) | Method and device for determining the mechanical properties of a ferromagnetic specimen | |
EP0068503A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Werkstoffprüfung nach dem Wirbelstromprinzip | |
DE2915076C2 (de) | ||
DE4105516A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur filterung von signalen | |
DE3637801A1 (de) | Vorrichtung zur messung eines zeitlich konstanten oder sich aendernden magnetfeldes | |
EP0892285B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur elektromagnetischen Detektion von Objekten | |
EP0136591B1 (de) | Verfahren zum Messen niederfrequenter Signalverläufe innerhalb integrierter Schaltungen mit der Elektronensonde | |
DE2747333C3 (de) | Meßverfahren und Meßeinrichtung zur Erfassung der elektroakustischen Eigenschaften von Magnetbändern | |
DE4428658A1 (de) | Verfahren zur Erkennung von Signalen mittels Fuzzy-Klassifikation | |
DE1917855A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur zerstoerungsfreien Beschaffenheitspruefung von elektrisch leitenden Gegenstaenden mittels Foucaultscher Stroeme | |
DE3013611A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum identifizieren von muenzen o.dgl. | |
DE3120522A1 (de) | "absolutmessung der elektrischen leitfaehigkeit und der magnetischen permeabilitaet ohne eichnormale" | |
DE3447781A1 (de) | Pruefgeraet zur zerstoerungsfreien pruefung einer werkstoffprobe | |
DE2207289C3 (de) | Verfahren und Anordnung zur Feststellung der Kohärenz von aufeinanderfolgenden Impulsen gleicher Trägerfrequenz | |
DE102021000157A1 (de) | lnduktive Annäherungssensoreinheit und Verfahren zur Störungsüberprüfung bei einer induktiven Annäherungssensoreinheit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right | ||
R071 | Expiry of right |