DE1780383U

DE1780383U - TEST DEVICE FOR CIRCUIT DIVISIONS.

Info

Publication number: DE1780383U
Application number: DE1958A0012279
Authority: DE
Original assignee: Askania Werke AG
Current assignee: Askania Werke AG
Priority date: 1958-10-04
Filing date: 1958-10-04
Publication date: 1958-12-31

Description

P f t f K t 1 Prüfgerät für Kreisteilungen. P ftf K t 1 Tester for circular divisions.

Die Neuerung betrifft ein Prüfgerät für Kreisteilungen, insbesondere Präzisionskreisteilungen für geodätische und astronomische Instrumente, bei denen zur Ermittlung der Ablagen von vier sich paarweise auf je einem Durchmesser gegenüberliegenden Teilungsmarken der Kreisteilung vier Ablesemikroskope vorgesehen sind, wobei durch Mikrometereinstellung die Ablage gemessen wird.The innovation relates to a tester for circular divisions, in particular Precision circle divisions for geodetic and astronomical instruments where to determine the storage of four opposing pairs on one diameter each Graduation marks of the circular graduation four reading microscopes are provided, whereby through Micrometer setting the offset is measured.

Kreisteilungen, die bekanntlich nie vollkommen fehlerfrei hergestellt werden können, werden vor ihrem eigentlichen Einsatz einem Prüfverfahren unterzogen, um ihre Güte festzustellen.Circle divisions, which, as is well known, are never made completely flawless are subjected to a test procedure before they are actually used, to determine their goodness.

Man bedient sich dazu im allgemeinen sogenannter Kreisteilungsprüfer. Bei diesen Geräten wird beispielsweise der zu prüfende Kreis unter einem fest vorgegebenen, durch die beiden gedachten Verbindungslinien der Indexmarke je zweier Ablesemikroskope-definierten Winkel intervallweise hinweggedreht, wobei bei jeder Einstellung die Ablage der Teilstriche von den Indexmarken gemessen wirdl Aus diesen Winkelfehlern lassen sich dann nach bekannten Rechenverfahren sogenannte Durchmesserfehler ableiten. Diese geben an, wie groß der Fehler des Winkels ist, den die Verbindungslinie zweier gegenüberliegender Teilstriche mit einer Referenzlinie [z. B. der Verbindungslinie des 0.-undTT.-Striches] bilden soll.For this purpose, so-called district division testers are generally used. With these devices, for example, the circle to be tested is displayed under a fixed, defined by the two imaginary connecting lines of the index mark each of two reading microscopes Angle turned away at intervals, with each setting the storage of the Tick marks are measured from the index marks then derive what are known as diameter errors using known calculation methods. These indicate how large the error is in the angle that the line connecting two opposite ones Tick marks with a reference line [e.g. B. the line connecting the 0 and TT lines] should form.

Die bisherigen Kreisteilungsprüfgeräte hatten nun den Nachteil, daß ihre Ablesemikroskope infolge ihrer Anordnung praktischerweise von entsprechend mehreren Personen bedient werden mußten, da eine Person für die einzelnen Ablesungen dauernd den Platz hätte wechseln müssen.The previous circle division test devices now had the disadvantage that their reading microscopes are conveniently arranged accordingly Several people had to be served, as one person was responsible for the individual readings would have had to constantly change places.

Dieser erhebliche Nachteil soll durch den vorliegenden Neuerungsvorschlag behoben werden. Er zeichnet sich dadurch aus, daß die Okulare der Ablesemikroskope in geringer Entfernung voneinander angeordnet sind. Auf diese Weise ist eine Bedienung durch eine Person ohne Standortwechsel möglich.This significant disadvantage is intended by the present innovation proposal be resolved. It is characterized by the fact that the eyepieces of the reading microscope are arranged at a short distance from each other. That way is a waitress by one person without changing location.

Handelt es sich speziell um die Prüfung von Teilkreisen mit kleinem Durchmesser, so wird vorgeschlagen, die Ablesemikroskope als Geradsichtmikroskope auszubilden. Zweckmäßigerweise sollen die Mikroskope radial verschiebbar ausgebildet sein, dann ist es nämlich möglich, Kreise mit verschiedenen Durchmessern zu prüfen. Ein weiterer Vorteil gegenüber den Prüfgeräten früherer Art ist dann gegeben, wenn die Ablesemikroskope und die den Teilkreis tragende Achse schräg liegen. Auf diese Weise ist die Bedienung des Gerätes, vor allem das Hineinblicken in die Mikroskope, für den Bedienenden leichter. Wird die Koinzidenzeinstellung zwischen Teilstrich der Kreisteilung und Indexmarke der Ablesemikroskope durch Mittel herbeigeführt, welche eine mikrometrische Verdrehung des Teilkreises bzw. der diesen tragenden Achse ermöglichen, so hat das gegenüber den in die Mikroskope eingebauten Mikrometern der bisherigen Geräte den Vorteil, daß die Vergrößerung der Optiken bei der Messung der Ablagen nicht berücksichtigt zu werden braucht. Vielmehr ist für jede beliebige Mikroskopvergrößerung der Verdrehungswinkel, der einen bestimmten Teilstrich mit der Indexmarke zur Koinzidenz bringt, immer der gleiche. Außerdem hat eine solche Mikrometeranordnung auch bauliche Vorteile : Es ist nun möglich, etwa zur Stufung sehr kleiner Kreise, die Mikroskope wesentlich näher aneinander zu rücken, als bei den bisherigen Geräten. Bei diesen mußte man sich dadurch helfen, daß man Prismenvorsätze vor die Mikroskope schaltete, dann ergaben sich aber durch diese Veränderung der Gegenstandsweite wieder Schwierigkeiten hinsichtlich der Optiken. Neuerungsgemäß soll sich ferner die den Teilkreis tragende Achse in axialer Richtung über eine Stelze gegen eine Stellschraube abstützen. Die Stelze soll herausnehmbar sein, so daß der Teilkreis, der mit einer Mutter an der Achse befestigt wird, bequem ausgewechselt werden kann. Die Beleuchtungseinrichtung, die über entsprechende Spiegel und Linsen die Ablesestellen beleuchtet, soll sich zweckmäßigerweise außerhalb einer das ganze Gerät wärmeisolierenden Schutzhaube befinden.If it is specifically a matter of checking pitch circles with a small diameter, it is proposed that the reading microscopes be designed as straight vision microscopes. The microscopes should expediently be designed to be radially displaceable, because then it is possible to test circles with different diameters. Another advantage over the previous type of test equipment is given when the reading microscope and the axis carrying the pitch circle are inclined. In this way, the operation of the device, especially looking into the microscope, is easier for the operator. If the coincidence setting between the tick mark of the circular division and the index mark of the reading microscope is brought about by means which allow a micrometric rotation of the pitch circle or the axis supporting it, then this has the advantage over the microscopes built into the microscopes of the previous devices that the magnification of the optics need not be taken into account when measuring the shelves. Rather, the angle of rotation that brings a certain graduation to coincide with the index mark is always the same for any arbitrary microscope magnification. In addition, such a micrometer arrangement also has structural features Advantages: It is now possible, for example, to graduate very small Circle to move the microscopes much closer together than with the previous devices. With these you had to help yourself by placing prism attachments in front of the microscope, but then this change in the object distance again resulted in difficulties with the optics. According to the innovation, the axis carrying the pitch circle should also be supported in the axial direction via a stilt against an adjusting screw. The stilt should be removable so that the pitch circle, which is attached to the axle with a nut, can be easily changed. The lighting device, which illuminates the reading points via appropriate mirrors and lenses, should expediently be located outside of a protective cover that thermally isolates the entire device.

An Hand eines Ausführungsbeispiels, in der Zeichnung schematisch dargestellt, soll der Neuerungsgedanke veranschaulicht werden. Figur l ist ein Schnitt durch ein neuerungsgemäßes Prüfgerät und Figur 2 eine Seitenansicht desselben. l ist der zu prüfende Teilkreis, der mittels der Mutter 2 in der drehbar gelagerten Achse 3 befestigt ist. Diese Achse stützt sich in axialer Richtung über die Stelze 4 gegen die Stellschraube 5 ab. Diese ist gegen die Achse 3 und die Stellschraube 5 in je einer Kugel 6 gelagert. Außerdem ist sie herausnehmbar, so daß durch Lösen der Mutter 2, der Teilkreis ausgewechselt werden kann. Die rund geläppte Achse 3 läuft spielfrei in den V-Lagern 7 und 8 und kann durch das Handritzel 9 grob verstellt werden. Zur Feinenstellung dient die Mikrometerschraube 10 mit der Teilungtrommel 11 und einem Nonius [nicht gezeichnet. Die Mikrometerschraube 10 bewegt über ein Differentialgewinde den Hebelarm 12, der durch die Klemmschraube 13 an die Achse 3 angeklemmt werden kann. Von den Ablesemikroskopen 14,15, 16, 17 [Figur 2] sind in Figur 1 nur die Mikroskope 14 und 17 zu sehen. In ihren Gesichtsfeldern sind Doppelstrichmarken vorgesehen, mit denen die Teilstriche der Kreisteilung eingefangen werden können. Zur Einjustierung des Kreises auf der Achse dienen Zentrierschrauben 19, 20. Das ganze Gerät ist von der Wärmeschutzhaube 21 umgeben. 22 ist eine Lampe, welche die Ablesestellen über Sammellinsen 23 und Spiegel 24 ausleuchtet. 25 ist eine Stütze, um das an sich schräg stehende Gerät im Bedarfsfalle senkrecht stellen zu können-Schutzansprüche :Using an exemplary embodiment, shown schematically in the drawing, the idea of innovation should be illustrated. Figure l is a section through a test device according to the invention and FIG. 2 shows a side view of the same. l is the one Part circle to be tested, which is made by means of the nut 2 in the rotatably mounted axis 3 is attached. This axis is supported in the axial direction via the stilt 4 against the adjusting screw 5. This is against the axis 3 and the adjusting screw 5 in each a ball 6 mounted. It is also removable, so that by loosening the nut 2, the pitch circle can be exchanged. The round lapped axis 3 runs backlash-free in the V-bearings 7 and 8 and can be roughly adjusted by the hand pinion 9. To the The micrometer screw 10 with the graduation drum 11 and a fine adjustment is used Vernier [not drawn. The micrometer screw 10 moves via a differential thread the lever arm 12, which is clamped to the axle 3 by the clamping screw 13 can. Of the reading microscopes 14, 15, 16, 17 [FIG. 2], only the Microscopes 14 and 17 can be seen. There are double line marks in their fields of vision provided, with which the tick marks of the circle division can be captured. Centering screws 19, 20 are used to adjust the circle on the axis whole The device is surrounded by the heat protection hood 21. 22 is a Lamp which illuminates the reading points via converging lenses 23 and mirrors 24. 25 is a support around the inclined device itself if necessary vertically to be able to make protection claims:

Claims

Protection claims l] Testing device for circular divisions, in particular precision circular divisions for geodetic and astronomical instruments, where to determine the shelves of four graduation marks opposite each other in pairs on one diameter each the circular division four reading microscopes [14, 15, 16, 17J are provided, whereby through Micrometer setting the offset is measured, characterized in that the Reading microscope eyepieces [14, 15, 16, 17] at a short distance from one another are arranged.

2] Tester for circular divisions, especially for testing Partial circles of smaller diameter according to claim 1, characterized in that the reading microscopes [14, 15,16,17] are designed as straight vision microscopes. 3Y Testing device according to Claim 2, characterized in that the reading microscopes are radial are movable.

4J tester for circular divisions according to one of claims 2 or 3, characterized in that the reading microscopes and those carrying the pitch circle Device axis [3] is inclined.

5J test device according to one of claims 1 to 4, characterized in that that means [10, 11, 12] for micrometric rotation of the pitch circle [l] or the axis supporting this [3] are provided.

6] Test device according to claim 5, characterized in that a lever arm [12] which can be clamped to the axis [3] carrying the pitch circle [l] by means of a clamping screw [l3] is provided, which preferably moves via a differential thread of a micrometer screw [10] will. 7J test device according to one of claims 1 to 6, characterized in that the partial circle [l] Axis [3] in the axial direction over a stilt [4] against

. an adjusting screw [5] is supported. 8] Test device according to claim 7, characterized in that the stilt [4] is removable and the pitch circle [1] can be attached to the axle [3] by means of a nut [2]. 9] Test device according to one of claims 1 to 8, characterized in that the device is surrounded by a heat protection hood [21] with an insulating layer.

10] Tester according to claim 9, characterized in that outside the heat protection hood [21] a lighting device [22] is provided, which The circular graduation [1] is illuminated at the reading points via lenses [23] and mirrors [24].