DE1772690A1 - Optical element with multiple reflections - Google Patents

Optical element with multiple reflections

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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
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    • GPHYSICS
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    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/74Optical detectors

Description

"Optisches Element mit Mehrfachreflexion""Optical element with multiple reflection"

Me !Erfindung bezieht aich auf ein optisches Element mit liehrfciciireflexion, das einen langgestreckten, nahezu "völlig strahlungsdurchlässigen Körper, mit hohem Brechungsindex und flachen in geringem Abstand■voneinander liegenden Grenzflächen aufweist.My invention also relates to an optical element with Liehrfciciireflexion, the one elongated, almost "completely radiolucent body, with high Refractive index and flat at a short distance ■ from each other has lying interfaces.

In Artikeln in "Physical Review Letters" vom 1. Larz 1960, Seiten 224 - 226, und in "Physical Review", Band 124, i.r. 4, 1962, Seiten 1165 - 1170, sind eine Torrichtung Ulm -fein 'Verfahren beschrieben worden, die sich zur Untersuchung der physikalischen und chemischen Eigenschaften, von Oberflächen mit Hilfe frustierter Totalreflexion eignen. Bei dieser Vorrichtung wird Ultrarotstrahlung auf die Endfläche eines optischen Elementes .gerichtet, das-unter einem derartigen Winkel geschliffen ist, daß 'das Strahlungsbündel auf eine der. Grenzflächen dieses Elementes unter einem Winkel auftritt, der größer als der Grenzwinkel ist, so daß !Totalreflexion auftritt und das Bündel zu einer gegenüberliegenden reflektierenden Grenzfläche reflektiert wird, auf die es gleichfalls unter einem Winkel auftritt, der größer als der Grenzwinkel ist, so daß wiederum Totalreflexion auftritt,In articles in "Physical Review Letters" of Larz 1, 1960, Pages 224-226, and in "Physical Review", Volume 124, i.r. 4, 1962, pages 1165-1170 are a gate direction Ulm -fein 'procedure has been described, which leads to Investigation of physical and chemical properties, of surfaces with the help of frustrated total reflection. In this device there is ultrared radiation Directed onto the end face of an optical element that is ground at such an angle is that 'the radiation beam on one of the. Interfaces this element occurs at an angle which is greater than the critical angle, so that total reflection occurs and the beam is reflected to an opposing reflective interface onto which it is also occurs at an angle that is greater than the critical angle, so that total reflection occurs again,

1098-27/051098-27 / 05

BAD ORIGINALBATH ORIGINAL

usw. In den vorstehend erwähnten Artikeln ist be?scn.riG-ben worden, daia das Bündel, das sich durch Kehrfachreflexion an den Grenzflächen durch das ganze optische Element hindurch ausbreitet, jedesmal auch, in der üähe einer reflektierenden Grenzflache, in das dünnere, d.h. optisch weniger dichte, an das optische Element angrenzende Medium eindringt, wobei bei oder in der xi'-'.he von molekularen Resonanzfrequenzen eine Wechselwirkung zwischen der Strahlung und z.B. 'Verunreinigungen auf den erwähnten Überflächen innerhalb der Eindringtiefe auftritt. So kann z.B. ein Ultrarotabsorptionnspektrum erhalten werden, das kennzeichnend für die Zusammen-etc. In the articles mentioned above, be? scn.riG-ben been, daia the bundle that is caused by refuse reflection spreads at the interfaces through the entire optical element, each time also in the vicinity a reflective interface, into the thinner, i.e. the optically less dense medium adjoining the optical element penetrates, with at or in the xi '-'. he of molecular resonance frequencies an interaction between the radiation and e.g. 'impurities the mentioned surfaces occurs within the penetration depth. For example, an ultrared absorption spectrum which are characteristic of the

™ Setzung des Materials auf der Oberfläche eines Halbleiters ist. Eo wurde auch -vorgeschlagen, eine derartige Vorrichtung für die Ultrarotanalyse von Gasen unter Verwendung des Prinzips der GasChromatographie anzuwenden. Wenn das durch den Chromatographen hindurchströmende Gas mit einer gekühlten hai bleitendeii iiehrfachreflexionsplatte in !Berührung gebracht wird, kondensiert ein Teil auf der Oberfläche. Infolge der vielen Reflexionen, die sich in der Platte ergeben, wenn das Ultrarotbündel hindurchläuft, wobei jede Reflexion eine Wechselwirkung mit dem Kondensat bedeutet, liefert ein dünner Kondensatfilm ein Spektrum, das stark genug ist, um™ Settlement of the material on the surface of a semiconductor is. Eo has also been proposed, such a device for the ultra-red analysis of gases under Use of the principle of gas chromatography. When the gas flowing through the chromatograph is exposed to a cooled, semi-conductive reflector plate is brought into contact, a part condenses on the surface. As a result of the many reflections, which result in the plate when the ultrared beam passes through, each reflection being an interaction Means with the condensate, a thin film of condensate provides a spectrum that is strong enough to

) verhältnismäßig geringe Mengen einer im Gas enthaltenen Komponente leicht zu identifizieren. ) easy to identify relatively small amounts of a component contained in the gas.

Bei diesen bekannten Vorrichtungen ist die übliche Form der kehrfachrexlexionsplatte eine dünne ebene blatte mit abgeschrägten, unter einem Winkel von 4'j> gescnliifenen Enden. Dadurch, daß das Bündel senkrecht auf eins der abgeschrägten Enden gerichtet wird, wird erzielt, daß das Bündel unter Winkeln, die etwas größer als der Grenzwinkel sind, auf die Begrenzungsflachen .füllt. Diese bekannten Vorrichtungen haben den Nactibeil, daß die Richtung des einfallenden Bündels und somit dieIn these known devices, the usual shape is the refuse reflection plate has a thin flat sheet with it bevelled, cut at an angle of 4'j> End up. By directing the bundle perpendicular to one of the beveled ends, it is achieved that the bundle at angles that are slightly larger than the critical angle .fills onto the boundary surfaces. These known devices have the nactibeil that the direction of the incident beam and thus the

109822/0540109822/0540

BAD OFHGiNAL BAD OFHGi NAL

Zahl der '.Reflexionen in der l-iehrfaelireflexionsplatte ■Number of '.reflections in the l-irefaelireflexionsplatte ■

iiaiiezu völlig durch ..die. gegebene Gestalt des abges dir -ι gt«i Endes des Hehri^chreflexionselementes bestinmt. v/erden, wodurch die Größe der Wechselwirkung und die SaLl der möglichen Wechselwirkungen festgelegt sind.iiaiiezu completely through ..the. given shape of the abs dir-i gt «i end of the noble reflection element. v / ground, thereby determining the size of the interaction and the number of possible interactions are.

LIe bekannten Elemente dieser Art sind jedoch recht kompliziert und teuer.' Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein einfaches und billiges optisches Element mit ijehrfr-Ciireflexioix zu schaffen.However, known elements of this type are quite complex and expensive. ' It is the object of the invention therefore to create a simple and cheap optical element with ijehrfr-Ciireflexioix.

Gem:?.·:= der Erfindung wird dies bei einem optischen Element eingangs erwähnter Art dadurch erreicht, daß das -StraLlungsbüiidel. am gleichen Ende in drs Element ein und aus ihm austritt;.-.According to:?. ·: = The invention this is in an optical Element of the type mentioned achieved in that the -StraLlungsbüiidel. at the same end in drs element in and out of it; .-.

Das GtraJvlenbündel l'"uft liierbei eiirnal durch das optioc':^ //!.c-nent Iiinöu::c:., v/obei es vor. der der " Eintrittsflache gegenüberliegenden Oberfläclie total reflcjjctie3:t v,Tird. Die erhöhte Zahl der Keilexioiien bedeutet eine erliöhte Zahl von Wechselwirkungen mit der ξu analysierenden Substanz. 3iLne v/eitere Eolge ist, ο.-);? ein Ende des optischen Elementes frei istThe GtraJvlenbündel l '"UFT liierbei eiirnal by the optioc': ^ //!.c-nent Iiinöu :: c:., V / obei it before the." Entry surface opposite Oberfläclie total reflc j jctie3: tv, T IRD. The increased number of wedge-exiles means an increased number of interactions with the substance to be analyzed. 3iLne v / additional sequence is, ο.-) ;? one end of the optical element is free

und sG^it einfach, in die Jlüssigkeit eingetaucht ( and sG ^ it simply, immersed in the liquid (

werden kann, deren Absorptionsspektrum erwünscht wird, oder, weiui es erforderlich ist, dos.-optische Element in eine abgeschlossene Hülle anzuordnen., daß .nur ein Θχηι:1Γΐθβ Fenster am .kombinierten Ende zum Austreten und Eintreten erforderlich ist.whose absorption spectrum is desired, or, weiui it is necessary to arrange dos.-optical element in a closed envelope. That .only a Θχηι: 1 Γ ΐθβ window at the .combined end is required for exiting and entering.

Vorzugsweise ist bei dem optischen Element nach der Erfindung das erwJ-ihnte Ende Y~ffirmig ausgebildet, wob^i c i>- rJe^enVol ries V ungleidi Icng sein köiuien. ^Preferably, the erwJ-ihnte end Y ~ is the optical element according to the invention formed ffirmig, wob ^ i c i> - ^ rJe ENVOL factories V ungleidi Icng be köiuien. ^

■ - " j ■ - " j

BADBATH

Gemäß einer anderen Ausfiüirungform des Elementes nach der Erfindung weißt das Ende die Form eines Halbzyliiiderß auf und verläuft die Achse des Zylinders nahezu parallel zu den Grenzflächen. Hierbei ist der Durchmesser des Zylinders zweckmäßig größer als der Abstand der Grenzflächen voneinander. Eine Vorrichtung mit einein optischen Element dieser Art weist c.as Merkmal a.uf, daß d??.s Element um die Achse des Zylinders' drehbar ist, so de·Λ die Zahl der Reflexionen an den Grenzflächen des Elementes veränderlich ist.According to another embodiment of the element According to the invention, the end has the shape of a half-cylinder and runs the axis of the cylinder almost parallel to the interfaces. The diameter of the cylinder is useful here greater than the distance between the interfaces. A device with an optical element this kind has c.as characteristic a.uf that d ??. s element is rotatable about the axis of the cylinder ', so the · Λ the The number of reflections at the interfaces of the element is variable.

Die .Erfindung wird nunmehr anhand, einiger in der Zeichnung dargestellter Ausführungsbeispiele näher erläutert:The. Invention is now based on some in the Drawing of illustrated embodiments explained in more detail:

Fig. 1 zeigt schematise!! eine Ansicht einer Aus füllrungsform eines Elementes nach dor Erfindung, die geeignet ist, optische Spektren verschiedener Substanzen zu erzielen.Fig. 1 shows schematically !! a view of a filling form from an element according to the invention, the is suitable for obtaining optical spectra of various substances.

In Pig. 2 ist eine abgeänderte Ausführungsform des Elementes nach Fig. 1 dargestellt, die es ermöglicht, den Einfallswinkel und die Zahl der Reflexionen ein- | zustellen.In Pig. 2 is a modified embodiment of the Element shown in Fig. 1, which makes it possible to adjust the angle of incidence and the number of reflections | to deliver.

Fig. 3 ist eine abgeänderte AusfUhrungsform des Elementes nach Fig. 2, bei der sich eine viel größere Zahl innerer Reflexionen ergibt.Fig. 3 is a modified embodiment of the element according to Fig. 2, in which there is a much larger number of internal reflections.

Fig. t) zeigt eine weitere abgeänderte Aur>f!?.irnnij,\vi.rorm des Elementes ni'oh den Figuren 1, ? und ;>, bei der die Stra.hlungsverXu;-.te beschränkt werden.Fig. T) shows a further modified aur> f!?. Irnnij, \ vi.rorm of the element ni'oh the figures 1,? and;>, at which the radiation reduction ; -. te be limited.

Dan El'inert t nach }<i>:. 1 .besteht aus einer flachen Platte aus CTiWre i ■-■-·■ i,.-;;-,u ν(YJ.Ii.;.; -durchlässigem ;,;;terial mit einemDan El'inert t after } <i>:. 1. Consists of a flat plate of CTiWre i ■ - ■ - · ■ i, .- ;; -, u ν (YJ.Ii.;.; -Permeable;, ;; material with a

1098??/η Γ> 481098 ?? / η Γ> 48

BAD ORiGiNAL BAD ORiGi NAL

V-förmigen Ende, dessen linke überfläche 16 die Eintrittuflache für die Strahlung ist und dessen rechte Oberfläche ala Austrittsfläclie für die Strahlung dient, Wie durch den Strahl 18 angegeben ist, läuft die Strahlung, die durch die Eintrittsfläche 16 eintritt, durch l'otalre- flexion nach unten durch das Element' 1ί? und lauft dann wieder durch das gleiche Elernenb zurück nach oben, um scnließlich durch die Austrittsfläche 17 herauszutreten. Das Eleiaenb 15 kann in ein Gefäß 19 eingetaucht oder-in ihm aufgehängt werden, das eine geeignete Probe 20 des flüssigen (oder in einem" anderen Aggregatzustand befindlichen) zu analysierenden Stoffes enthält. 'V-shaped end, the left surface 16 of which is the entrance surface is for the radiation and its right surface serves as an exit surface for the radiation, as through the beam 18 is indicated, the radiation travels the enters through the entry surface 16, by total reflection down through the element '1ί? and then run back up again through the same element, to finally exit through the exit surface 17. The Eleiaenb 15 can be immersed in a vessel 19 or -in be hung on him, which is a suitable sample 20 des liquid (or in a "different physical state") to be analyzed contains. '

ji'ig. 2 zeigt eine abgeänderte Ausführungsform, bei der ein ifacnteil des Elementes nach I'ig. 1 vermieden wird, der darin besteht, daß der Einfallswinkel des Bündels und die 'Δ&ηΐ der Reflexionen nahezu -völlig festliegen/ Wenn das die Strahlung empfangende Ende 2? des optischen ,■il3mei„1;oH .'--'* i-.ekri.imnb ausgebildet und das Element nut den j,ittöl;.'.uhkt 24 des ICrümmungshalbinessers des gekribünben 'rinde3 22 gedreht wird, lassen sich der Einfallswinkel und die Xchl der Eeflexionen leicht ändern. Das als ausgezogene Linie dargestellte Strahlungsbiindel 26 gibt einoxt Einfallswinkel an, bei dein sich sieben Reflexionen a an der überfläche des Elementes 23 ergeben, während das alij gestrichelte Linie gezeichnete Bündel 2? einen kleineren Einfallswinkel zeigt, der mib einer Zunahme der Zahl der Reflexionen auf areiaehn verbunden ist. Die zulässige ΐ-,ηπavail?; des Einfallswinkels wird durch die Anforderung bescj-ir-iruct, da3 das einfallende und das austretende Bündel nuruf! '.Uiii ^eineinfjamen Druhpunkt 24 hindurchgehen kiLinseu,-V/elter muß berücksichtigt werden, daß, wenn sich der Einfallβwinkel ändert, sich auch die Länge des StranLuu™ w:!r/-'<i im Element und somit die Lage des äußeren Breim~ \,'Λ(ΐχ\\,!:ίΏ ändert. Dies läßt sich -erforderlich :mi" alls <\\woh i'iLn'i ,^o.sondertft Eiiüi teilung des Brennpunkten des €:1η1Ή11·..·χι~ji'ig. 2 shows a modified embodiment in which an ifacnteil of the element according to I'ig. 1 is avoided, which consists in the fact that the angle of incidence of the beam and the 'Δ & ηΐ of the reflections are almost completely fixed / If the end receiving the radiation 2? of the optical, ■ il3mei "1; oH .'-- '* i-.ekri.imnb formed and the element is only the j, ittöl;.' and slightly change the xchl of the reflections. The radiation bundle 26 shown as a solid line indicates an oxt angle of incidence at which there are seven reflections a on the surface of the element 23, while the bundle 2? shows a smaller angle of incidence associated with an increase in the number of reflections on the surface. The admissible ΐ-, ηπavail ?; the angle of incidence is bescj-ir-iruct by the requirement that the incident and the exiting bundle only! '.Uiii ^ go through an infjamen pressure point 24 kiLinseu, -V / parent must be taken into account that if the angle of incidence changes, the length of the StranLuu ™ w :! r / - '<i in the element and thus the position of the outer width ~ \,' Λ (ΐχ \\,!: ίΏ changes. This can be - required: mi "alls <\\ wo i'iLn'i , ^ o.sondertft Eiiüi division of the focal points of the €: 1η1Ή11 · .. · χι ~

BAD ORIG1NALBAD ORIG 1 NAL

den .Bändels von Hand oder durch eine geeignete Kupplung ausgleichen, durch die das Kippen oder Drehen des Elementes 23 mit den üblichen Spiegeln in den Spektrometern verbunden isb, so da. 3 sicli ein. selbsttätiger .'iUü'.leioh ergibt,the .Bändels by hand or using a suitable coupling compensate by tilting or rotating the element 23 with the usual mirrors in the spectrometers connected isb, so there. 3 sicli a. automatic .'iUü'.leioh results,

'Fig. 3 seigt eine Ausführimgsform, bei dor -^: i.;üglich ist, den Einfallswinkel luacl die 2ahl der Hexlr;:<.iojien au ändern, wobei die Gesamtzahl der iielle^ioLOu r.;;ark erhöht werden kann. Dies wird durch Verwendung einer sehr dünnen Platte 34 ermöglicht. Infolge der vielen'Fig. 3 shows an embodiment in which it is possible to change the angle of incidence luacl the number of Hexl r ;: <. Iojien au, whereby the total number of iielle ^ ioLOu r. ;; ark can be increased. This is made possible by using a very thin plate 34. As a result of the many

" Reflexionen füllt die Strahlung die ganae Plante. Infolgedessen sind die Eintritts- uad Austritt-if lachen als ürennflachen wirksam, und die Tatsache, d'·;; sie einen gemeinsamen irr ehp unkt 33 hi;bva, ,nacht es viel einfacher, das j-ilei^ent im Spekt^üiueter oder ainc;. ·. andereu au verwendenden Gerät richtig einzustellen, uei der in L1Mg, :5 darge&töilteri /Uisfuhrungsforn sind zur Erleichterung des Eintritts des ütrahlenbüuclels 36 optische liittel in Forr: zweier Viertelajlin'der 30 and 31 vorgesehen, die einander gegenüber in optischer berührung mit der Verlängerung der G-rensflachen. 32 h?Mi. am Ende des Elementes 34 stehen. Diese Ausführungsform"Reflections fills the radiation, the ganae Plante Consequently, the inlet uad outlet-if laughing as ürennflachen effective, and the fact d '· ;; they ehp a common irr oint 33 hi;. Bva, it much easier night, the set j-ilei ^ ent in Spekt ^ üiueter or AInc ;. · andereu au used device correctly, uei in L 1 Mg:. 5 Darge & töilteri / Uisfuhrungsforn are to facilitate the entry of the ütrahlenbüuclels 36 optical liittel in Forr: two Viertelajlin ' 30 and 31 are provided, which are opposite each other in optical contact with the extension of the garden areas 32 h? Mi. at the end of the element 34. This embodiment

k hat aber den iiacLteil, daß ^30 γ> der Strahlungsie is Oi mg verlorengeht, weil die Hälfte der Strahlung so austritt, cla.o sie wieder yur Quelle riingeric'rrtet ist, so >i:· ; sie nicht für Detektion verfügbar ist. V/enn dieser i;'nciiteil störend ist, läßt er sich dadurch vermeiden, da f.; die Eintrittsfläche 33 kleiner als die Austrittsfl:'c;ue ">f-j ausgebildet wird, wie dies in Pig. 4 dargestellt ist. Dies eignet sich insbesondere für üui3ere optische Mt be L, bei denen es sich um die Abbildung eines Spaltes u.uidelt, der im allgemeinen schmal in bssug auf die Strahlungsquelle und die Eiutri tfcnflache des optisciu-'i. ','l^riontes ist.But k has the iiacL part that ^ 30 γ> of the radiation is lost because half of the radiation emerges in such a way, that it is again reduced to the source, so> i: ·; it is not available for detection. If this is partially disruptive, it can be avoided by the fact that f .; the entrance surface 33 is made smaller than the exit surface : 'c; ue "> f -j, as shown in Figure 4. This is particularly suitable for outer optical Mt be L, in which it is a question of the imaging of a slit and the like .uidelt, which is generally narrow in relation to the radiation source and the surface of the optisciu-'i. ',' l ^ riontes.

·_ '7 „· _ '7 "

BAD ORIGINALBATH ORIGINAL

_ 7 —_ 7 -

en/ Ε« dürfte einleuchten, dal? die Ausitüirungsfoivi nach denen / Ε «should make sense, dal? the Ausitüirungsfoivi according to the

1 bis 4- nicht nur im i'alle von Flüssigkeiten vorteilhaft sind, sondern auch-.dann Vorteile "bieten, wenn sie beim aua einem GasChromatographen abströmenden Gas und zum Studieren von Eeststoffen, insbesondere in l|!orm dänner .Schichten oder iliederschlngen, Verwendung finden.Are 1 to 4 not only in i'alle liquids advantageous but also offer .then-benefits "when the aua a gas chromatograph effluent gas and for studying Eeststoffen, particularly in l |! Orm Dänner .Schichten or iliederschlngen, Find use.

Die Abbildungen in den !biß. 1 bis 4 sind Seitenraisiehten der Platten, die deren Lange und Dicke .zeigen. Die JjreitenabmesBun.;-: steht senkrecht auf der Seiohenebene. Besonders geeignete Abmessungen für eine Platte, wie sie in den J?ig. 1 und 2 dargestellt ißts sind: Länge 6ü mm, Breite 15 na imd Dicke ''} :rmi. Die .L:l?.tten iiE.ch den i'1!;;. r> und 4 "The pictures in the! Bit. 1 to 4 are side views of the panels showing their length and thickness. The JjreitenabmesBun.; -: stands perpendicular to the plane of the sienna. Particularly suitable dimensions for a plate like those in the J? Ig. 1 and 2 eats s are: length 6ü mm, width 15 na IMD thickness ''}: RMI. The .L : l? .Tten iiE.ch den i ' 1 ! ;;. r > and 4 "

icöunten eivic Dieice von1 mm haben.icöunten eivic dieice of 1 mm.

Bio detei:tierte Strahlung -Icaiui in einem Üblichen, mit eij]("!7j Papierstreifen arbeitenden Registrierg'erat in I'orm einer Kurve aufgezeichnet vier den, die die Intensität der detektierten Strahlung in Abhängigkeit von ihrer wellen- ■ länge angibt. In der Praxis kann der Detektor ein tne3:moelektriseh^E Clement oder dex^gleichen, sum Beispiel eine Indiumantimonid Kelle, sein. Die "Strahlung, die scheinbar von den einander gegenüberliegenden Greiisflächen total reflektiert· wird,.'dringt in VirklicrJreit in de.s flüssige (oder in einen anderen Aggregatzustand befindliche) Medium i ein, d<r β ^n das optische Element grenat, v/obei das erwähnte uediura ontisch dünner als das Element ist. Die Eindringtiefe des 'Bündels in das dünnere Ixediura ist etifa eine Wellenlänge'.und hängt vom Einfallswinkel ab. Je nach der V/ellenlänge ■'·er Strahlung kann eine Wechselwirkung zwischen d'ir ütrahlm:g und dem dünneren tied ium innerhalb der Sindrir;.;tie:'"f: T.-ei oder in der ^Mjie von raolelcularen Resonan-zfrenuenrrer .--1Ua"treten. Bei Ultrarotstrnhlimg sum Beispiel kann ein lltr- 3"ot9bsorptionnspektrum erL-^lten werden, das kern:: ei ι.ν'. ι.--κΐ i:':5r die "ufjmivien set sung drr 1Ί" ;;^.i r]ze it •.'/αϊ dor in »rj.J.'lelif-. '!er Γ!.. ti.o ist.Bio-detected radiation -Icaiui in a normal recording device working with a paper strip recorded in the form of a curve indicating the intensity of the detected radiation as a function of its wavelength. In In practice, the detector can be a tne3: moelektriseh ^ E Clement or dex ^ like, for example an indium antimonide trowel liquid (or in another state of aggregation) i a, d < r β ^ n the optical element grenat, v / whether the mentioned uediura is ontic thinner than the element. The depth of penetration of the bundle into the thinner ixediura is etifa one wavelength '. .and depends on the angle of incidence depending on the V / avelength ■' · he radiation can interact between d'ir ütrahlm: g and the thinner tied ium within the Sindrir;; tie:. f '": T.-ei or in the ^ Mjie of raole lcular resonance frenuenrrer .-- 1 ua "kick. For example, a sum Ultrarotstrnhlimg lltr- 3 "are ot9bsorptionnspektrum ERL ^ lten, the core :: ei ι.ν 'ι .-- κΐ i:.': 5r the" ufjmivien set solution drr 1Ί ";; ^ i. r] ze it •. '/ αϊ dor in »rj.J.'lelif-.'! er Γ! .. ti.o is.

Claims (6)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Optisches Element mit Mehrfachreflexion, das einen langgestreckten, nahezu völlig strahlungsdurchlässigen Körper mit hohem Brechungsindex und flachen in geringem Abstand voneinander liegenden Grenzflächen aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlungsbündel am gleichen Ende in das Element ein und aus ihm austritt.1. Optical element with multiple reflection, an elongated, almost completely radiolucent body with a high refractive index and has flat at a small distance from one another boundary surfaces, characterized in that the radiation beam enters and exits the element at the same end. 2. Optisches Element nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das erwähnte Ende V-förmig ist.2. Optical element according to claim 1, characterized in that said end is V-shaped. 3. Optisches Element nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Schenkel des V ungleich lang sind.3. Optical element according to claim 2, characterized in that the legs of the V are of unequal length are. 4. Optisches Element nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Ende die Form eines Halbzylinders aufweist und die Achse des Zylinders nahezu parallel zu den Grenzflächen verläuft.4. Optical element according to claim 1, characterized in that the end is in the shape of a half cylinder and the axis of the cylinder is almost parallel to the interfaces. 5. Optisches Element nach Anspruch 4> dadurch gekennzeichnet, · daß der Durchmesser des Zylinders größer als der Abstand der Grenzflächen voneinander ist.5. Optical element according to claim 4, characterized in that the diameter of the cylinder is larger than the distance between the interfaces. 6. Vorrichtung mit einem optischen Element nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Element um die Achse des Zylinders drehbar ist, so daß die Zahl der Reflexionen an den Grenzflächen des Elementes veränderlich ist.6. Device with an optical element according to claim 4 or 5, characterized in that the element is rotatable about the axis of the cylinder, so that the number of reflections at the boundary surfaces of the element is variable is. 1098??/n5481098 ?? / n548
DE19641772690 1963-09-11 1964-09-08 Optical element with multiple reflection, separated from 1285761 Expired DE1772690C (en)

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Publications (3)

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DE1772690A1 true DE1772690A1 (en) 1971-05-27
DE1772690B2 DE1772690B2 (en) 1972-10-19
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