DE1766533A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Pruefung des Magnetostriktionskoeffizienten - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Pruefung des MagnetostriktionskoeffizientenInfo
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Description
Telefon: 83 15 10 Pottscheckkonto ι MOnchen 117078
8000 Manchen 60, ·f,
1968
Unser Zeichen: P 1983
THE PLESSLY COMPANY LILITKD
56 Vicarage Lane., Ilford, Essex/Großbritannien
Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung des i-ia^ne tost rikt ions-
koeffizienten
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung
zum Prüfen von logischen Vorrichtungen. Insbesondere
bezieht aich die Erfindung auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Prüfen von dünnen Ma^netschichtan, v/elche
Bu/0r.
auf
109832/0670 bad or!g;nal
auf langgestreckte Träger aufgebracht sind.
Es ist bereits vorgeschlagen worden., in einem magnetischen
Datenspeicher einen elektrisch leitenden Draht zu verwenden, auf v/elchen eine dünne zylindrische Schicht aus
ferromagnetische!!; Material aufgebracht ist. Bei einem Verfahren zum Aufbringen der Schicht v/ird ein geeignet gereinigter
und vorbereiteter leitender Draht kontinuierlich durch ein Galvanisierungsbad geleitet, in welchem
die Galvanisierung durchgeführt wird3 wobei der Draht
als eine Elektrode des Galvanisierungsverfahrens verwendet wird. Um darüber hinaus der aufgebrachten dünnen Schicht
eine einaxiale Anisotropie zu erteilen, wird während der Galvanisierung ein ausrichtendes magnetisches Wechselfeld
angewendet. Bei einer Ausführungsform, bei der es erforderlich
ist, der dünnen i:agnetschieht in ihrer Umfangsrichtung
eine Vorzugsachse der iiagnetisierung zu erteilen, wird das
ausrichtende Uechselfeld durch Aufgeben eines Wechselstroms auf den Draht erzeugt.
Bei einer Ausführungsform besteht die Magnetschicht, aus
einer Nickel-Eisenlegierung und es ist erwünscht, daß das anteilige Verhältnis von Nickel und Eisen in der Legierung
so gewählt ist, daß die Legierung eine minimale Belastungsempfindlichkelt
oder Magnetostriktion aufweist, da eine solche Eigenschaft die Probleme bei der Handhabung solcher
logischer
109832/0670
BAD
logischer Vorrichtungen verhindert, insbesondere uenn
diese in Gpeicherebenen eingebaut sind und Belastungen
unterworfen sein können.
Der Hagnetostriktionskoeffizient einer dünnen ',agnetsciiicht
bibt die Empfindlichkeit der i:a;;netisierun|-; derselben
gegen Belastung cm. Y.enn der ^apietostriktions- ■
koeffizient Mull ist 3 30 ist aie Belastungserxfindlichkeit %
Mull. Wenn der liagnetostriktionskoeffizient einen positiven
Wert hat j sucht sich die hafiiietisierung des Clements parallel
zur Achse der ausgeübten Belastung auszurichten. Wenn der Magnetostriktionskoeffizient einen negativen Viert hat, so
sucht sich die liagnetisierung des Elements senkrecht zur
Achse der ausgeübten Belastung auszurichten. Bei dünnen
Schichten aus .Kickel-Sisenlegierung hat es sich herausgestellt,
daß bei Erhöhung des Prozentsatzes von nickel in der Legierung von unter 80ίΐ auf über 80^ o.er Magnetostriktions- m
koeffizient sich rasch von einen negativen Viert auf einen positiven Viert ändert. In der Praxis werden die Bedingungen
des Galvanisierun^sVerfahrens, durch Vielehes die dünne na^netschicht
ausgebildet wird, so gewählt, daß die Zusammensetzung der aufgebrachten Legierung im wesentlichen aus 80/5 Wickel
und 20$ Eisen besteht. Infolge der raschen Änderung des
Ilagnetostriktionskoeffizienten in der Umgebung dieser Zusammensetzung ist es jedoch erwünscht, daß der ilagnetostriktions-
koeffizient
109832/0670
BAD GiUGi
!coefficient einer kontinuierlich gebildeten dünnen Magnetschicht
auf einem langgestreckten Träger von Zeit zu Zeit im Hinblick darauf abgefühlt oder abgetastet wird, daß
sichergestellt wird, daß dieser Koeffizient in keinem»Teil der Länge der dünnen Magnetschicht einen unerwünscht hohen
Viert hat.
Gemäß einem Merkmal der Erfindung wird ein Verfahren zum Prüfen einer logischen Vorrichtung geschaffen, welche einen
langgestreckten Träger mit einer darauf aufgebrachten dünnen Magnetschicht aufweist, wobei die Schicht eine bevorzugte
Magnetisierungsrichtung besitzt. Bei diesem Verfahren wird auf die Schicht eine Belastung ausgeübt und die Verschiebung
der bevorzugten Liagnetisierungsrichtung abgetastet.
Gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung wird eine Vorrichtung zum Prüfen einer logischen Vorrichtung geschaffen,
Vielehe einen langgestreckten Träger mit einer dünnen Magnetschicht
aufweist, die eine bevorzugte Magnetisierungsrichtung besitzt und auf dem Träger aufgebracht ist. Diese Vorrichtung
weist eine Einrichtung zur Ausübung einer Belastung auf die Magnetschicht und eine Einrichtung zum Abtasten der
Verschiebung der bevorzugten Magnetisierungsrichtung auf.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform besteht der langgestreckte
109837/0670
streckte Träger aus einem elektrisch leitenden Draht und die dünne Magnetschicht ist eine auf den Draht aufgebrachte
zylindrische Schicht. Außerdem ist die bevorzugte Magnetisierungsrichtung oder Vorzugsachse der Magnetisierung der
dünnen Magnetschicht in Umfangsrichtung der Schicht angeordnet
und wird erzeugt, indem auf den Trcigeraraht während
des Aufbringens der dünnen Magnetschicht ein geeigneter Wechselstrom aufgegeben wird, welcher ein in Umfangsrich- M
tung verlaufendes magnetisches V/echselfeld erzeugt. Bei
einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird
ein solcher, eine dünne !Magnetschicht tragender und noch dem magnetischen Viechseifeld ausgesetzter Draiit durch ein schwaches
magnetisches Gleichfeld geleitet3 welches senkrecht zum magnetischen
V/echselfeld angewendet wird, d.h. das magnetische Gleichfeld
wird in Axialrichtung des Drahtes angewendet. Dies bewirkt, daß die resultierende Magnetisierung der zylindrischen
Magnetschicht symmetrisch um die Achse des Drahtes verteilt J ist. Sodann wird eine Belastung auf den die Iiagnetischicht
tragenden Draht in Form einer geringen Verdrillung ausgeübt und wenn die Schicht einen endlichen Ilagnetostriktionskoeffizienten
besitzt, so schrägt sich die bevorzugte Ilagnetlsierungsrlchtung
gegen die Umfangsrichtung der Schicht im einen oder anderen Richtungssinn in Abhängigkeit vom Vorzeichen des
Maenetootriktionskoeffizienten ab. Dies hat zur Wirkung, daß
die genannte resultierende Magnetisierung der Schicht umdLe
Achse BAD OHIGiNAL.
109832A0670
Achse des Drahtes asymmetrisch wird. Eine Aufnahme- oder
Prüfspule kann rinrs um den Draht zum Abtasten der resultie renden Ilacnetisierunr angeordnet und eine geeignete Einrichtung
kann verwendet v/erden, wodurch eine Anzeige der Asymmetrie der Iiagnetisierung und dadurch jeder Verschiebung
der bevorzugten iiag-netisierungsrichtung in Abhängigkeit
von der Verdrillung erzielt .werden kann.
Anhand der Figuren wird die Erfindung beispielsweise
näher erläutert. Es zeigen
näher erläutert. Es zeigen
Figuren la. Ib3 Ic und 2 Darstellungen zur Erläuterung
der Theorie der Erfindung,
der Theorie der Erfindung,
Figur 3 eine schematinche Darstellung einer Ausführungsform der erfindun^s-emüßen Vorrichtung und
Figur 4 eine Gchaltskizze einer Schaltung zur Verwertung
eines abgetasteten Signals aus der Vorrichtung gemäß
Figur j.
Figur j.
Die Erfindung wird in Verbindung nit der Zeichnung in
ihrer Anwendung auf eine logische Anordnung in Form eines leitenden Drahtes beschrieben, welcher mit e.iner zylindri schen dünnen Schicht aus einem geeigneten ferromagnetißchen
ihrer Anwendung auf eine logische Anordnung in Form eines leitenden Drahtes beschrieben, welcher mit e.iner zylindri schen dünnen Schicht aus einem geeigneten ferromagnetißchen
Material 109832/0670 BA0 orighmal
Material beschichtet ist, das beispielsweise eine Hickel-Eisenlegierung
sein kann. Die logische Anordnung dieser Ausführungsform wird in einem im wesentlichen kontinuierlichen
Verfahren hergestellt und geprüft, indem ein leitender
Draht durch eine Reihe von Verfahrensstufen geführt wird,
in deren einer die dünne Schicht auf dem Draht durch Galvanisierung ausgebildet wird., wobei in einer anderen Verfahrensstufe die dünne Schicht durch ein Verfahren und eine Vor- M
richtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung auf Ilagnetostriktion
geprüft wird.
In Figur la ist ein Stück der zylindrischen dünnen Schicht in vergrößertem Maßstab dargestellt und mit 1 bezeichnet.
Ein Wechselstrom i.c wird längs des Drahtträgers geleitet
und dies kann zweckmäßigerweise der Wechselstrom sein, welcher während der Galvanisierung angewendet wird, um
eine bevorzugte Magnetisierungsrichtung der zylindrischen Schicht in einer Umfangsrichtung hervorzurufen. Daher ruft
der Wechselstrom !.„ einen magnetischen Wechselstrom hervor,
welcher in Figur 1 mit H.c bezeichnet ist. Die Magnetisierung M
der zylindrischen Schicht infolge des magnetischen Wechselfeldes HAC in Abwesenheit einer Belastung ist in Figur la
dargestellt und verläuft in Umfangsrichtung der Schicht 1. Es wird bemerkt, daß die Magnetisierung M mit dem magnetischen
Wechselfeld H.„ wechselt. Figur Ib zeigt die Wirkung
der
109832/0670 BAD .ur
der Magnetisierung Γί der dünnen Schicht 1 bei Anwendung
eines schwachen magnetischen Gleichfelds HßC in Axialrichtung
der Schicht 1 zusätzlich zum magnetischen Wechselfeld H-c. Bei der Darstellung in Figur Ib wird angenommen,
daß keine Belastung auf die Schicht 1 ausgeübt wird, so daß die bevorzugte Magnetisierungsrichtung parallel zum
magnetischen Wechselfeld II.„ verbleibt, wie durch die gestrichelte
Linie angegeben. Die Wirkung des schwachen magnetischen Gleichfelds besteht darin, daß die Magnetisierung
Ii veranlaßt wird, sich zur Achse der Schicht 1 zu drehen, wobei die Magnetisierung Ι··ί unter einem Winkel θ
gegen die Achse symmetrisch um diese verteilt ist. Wenn nunmehr eine kleine Verdrillung auf den die zylindrische
dünne Schicht 1 tragenden Draht ausgeübt wird, und die Schicht einen endlichen Magnetostriktionskoeffizienten
aufv.reist, dann hat diese Verdrillung zur Wirkung,, wie in
Figur Ic gezeigt, die bevorzugte Magnetisierungsrichtung zu veranlassen, sich gegen die Umfangsrichtung der zylindrischen
Schicht 1 unter einem Winkel γ abzuschrägen, wobei der Piichtungssinn der Verschiebung der bevorzugten Nagnetisierungsrichtung
davon abhängt, ob der Magnetostriktionskoeffizient positiv oder negativ ist, und die Größe des
Winkels Jf von der Größe des I'agnetostriktionskoeffizienten
abhängt. Die Wirkung der Verschiebung der bevorzugten Magnetisierungsrichtung beruht darin, daß eine entsprechende
109837/0670
BAD
Verschiebung der resultierenden Magnetisierung Π hervorgerufen
wird., welche nicht mehr symmetrisch um die Achse
der Schicht 1 ist und unter unterschiedlichen Winkeln O1
und Qn gegen diese Achse geneigt ist. Es wird bemerkt,
daß die resultierende Magnetisierung der Schicht symmetrisch
ist, wenn der Magnetostriktionskoeffizient der Schicht 1
Hull ist j unabhängig davon5 ob eine Belastung, auf die
Schicht 1 ausgeübt wird. Daher gibt die Asymmetrie der resultierenden wagnetisierung H den Hagnetostriktionskoeffizienten
der Schicht 1 an.
Gemäß einer Ausführungsform der Erfindung wird die resultierende^
Magnetisierung einer dünnen liagnetschicht kontinuierlich
durch eine Prüfspule abgetastet3 welche um den die Schicht
tragenden Draht angeordnet ist, wobei der Draht durch die Prüfspule geführt wird, und außerdem wird der Draht periodisch
verdrillt, um eine Prüfung des Ilagnetostriktionskoeffizienten zu ermöglichen. Eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Vorgangs
ist schematisch in Figur 3 dargestellt, in welcher ein Drahtträger, auf welchem eine dünne zylindrische liagnetschicht
ausgebildet ist, längs einer LJ ah η durch drei Rollenpaare 2, 3 und k geführt wird. Die Rollenpaare 2 und H haben eine
feste Lage, eine Rolle des Rollenpaars 3 ist jedoch seitlich verschiebbar, so daß der beschichtete Draht verdrillt
werden kann, wobei der Draht mit 5 bezeichnet ist. Ein Wechsel
~*^ ' ström
109832/0870 8^
- ίο -
strom i^c wird in den Draht 5 geschickt und erzeugt das
obengenannte magnetische Wechselfeld HAC. Zweckmäßlgerweise
kann der Strom i.c der Wechselstrom sein, welcher
während des GalvanisierungsVerfahrens angewendet wird, um
in der zylindrischen Magnetschicht eine bevorzugte Magnetisierungsrichtung in Umfangsrichtung hervorzurufen. Zwischen
den Rollenpaaren 2 und 3 ist eine Feldspule 6 so angeordnet, daß sie den beschichteten Draht 5 umgibt, während dieser
Draht 5 durch die Rollen 2,^3 und 4 in der angegebenen
Richtung gefördert wird. Ein Gleichstrom wird in die Feldspule 6 geschickt, um ein schwaches magnetisches Gleichfeld H
in Axialrichtung des beschichteten Drahtes 5 hervorzurufen. Zwischen den Rollenpaaren 2 und 3 ist weiter eine Prüfspule
so angeordnet, daß sie den beschichteten Draht 5 umgibt und die resultierende Magnetisierung der dünnen zylindrischen
Magnetschicht in Abhängigkeit von den Feldern H.c und HDC
abtastet.
Bei Betrieb der in Figur 3 gezeigten Vorrichtung wird der Draht 5 kontinuierlich durch die Rollenpaare 2, 3 und H
vorgeschoben und die Magnetfelder ll.„ und HDC werden erzeugt,
so daß sich eine resultierende Magnetisierung M der zylindrischen Magnetschicht ergibt, welche durch die
Prüfspule 7 abgetastet wird. Periodisch wird die bewegliche
Rolle des Rollenpaares 3 seitlich bewegt, 30 daß auf das
beschichtete 109832/0670 bad ommAL
beschichtete Drahtstück 5 zwischen den Rollenpaaren 2 und k
eine Drillwirkung ausgeübt wird. Die Rollen 2 und 4 gewährleisten,
daß die Verdrillung des beschichteten Drahtes stets auf das gleiche Drahtstück ausgeübt wird., und gewclhrleistet
vielter, daß diese Verdrillung nicht auf andere Vorrichtungen
im herstellungsverfahren übertragen wird. Vorzugsweise
wird die bewegliche Rolle durch pneunatische Faltenbillge
oder dergleichen bewegt- welche mit einer Rückholfeder %
verbunden sina. um die Rolle in ihre Ausgangsstellung zurückzubi'ingen,
wenn die Faltenbt.lge entspannt werden. Beispielsvjeise
kann die bewegliche Rolle in der seitlichen Richtung so bev/egt v/erden, da£ äer Draht 5 um eine Strecke von etwa
0,13 nun (5/1000 inch) verdrillt v:ird und in seiner verschobenen
Lage etv;a 1 Sekunde lang gehalten wird. Darüber hinaus kann
die beviegliche Rolle so ausgestaltet sein, daß sie alle
15 Sekunden bewegt wird.
Die in der Prüfspule 7 in Abwesenheit einer auf den Draht 5 ausgeübten Verdrillung induzierte Spannung ist schematisch
in Figur 2 dargestellt. Aus dieser Figur ist ersichtlich i daß
die induzierte Spannung bezüglich der Axialrichtung des Drahtes 53 welcher der vertikalen Achse entspricht, symmetrisch
ist. Die induzierte Spannung hat zwei Cpannungsspltzen A und B,
wie aus Figur 2 ersichtlich, Vielehe gleiche Höhe aufweisen, wenn die induzierte Spannung und dementsprechend die resul-
tierende
109837/0670
tierenae liagnetisierung V. symmetrisch ist. V'enn der .
Draht 5 nicht verdrillt wird, sind daher die Spitzen Λ
und B gleich hoch und bei dieser Ausführung form können
uie Spitzen A und B alle 15 Sekunden in Abhängigkeit
von: I.ngnetostriktionskoeffizienten der zylindrischen
iMagnetschicht unterschiedliche Höhen aufweisen.
Der Ausgang der Prüfspule 7 wird auf einen mit Torimpuls gesteuerten Differentialverstfirker gegeben;
welcher zur Abtastung von Differenzen zwischen den Höhen der Spitzen A und B verwendet wird. Eine Schaltskizze
eines geeigneten, mit Torimpuls gesteuerten Differentialverstärkers für diesen Zweck ist in Figur 4
dargestellt. In.dieser Schaltung ist die Prüfspule 7 so
angeordnet, daß sie die Basen von zwei Transistorverstärkern T. und Tp jeweils über in Reihe damit liegende
Kondensatoren C. bzw. C- und Widerstände R. bzw. Rp
speist. Der Basis-Kollektorkreis jedes der Transistoren T1 und T2 enthält v/eitere Widerstände R7 bzw. R1^ und die
Kollektoren sind jeweils mit einer positiven Spannungsquelle von 9 Volt jeweils über Vorwiderstände Rc bzw. R^-
verbunden. Die Emitter der beiden Transistoren T. und T0
sind geerdet und ihre Kollektoren sind jeweils über Kondensatoren C, bzw. Cv mit der Basis der Transistoren
T. bzw. T/( verbunden. Die Basen der Transistoren T^ und
Ti1 sind über Ui.dersti.'nde H7 bzw. Ur auch ;:;it Erde und
über
10983?/nR7Q
BAD
-■13 -
über Widerstände Rg bzu. R^0 mit der positiven Spannung quelle
von 9 Volt verbunden. Außerdem sind parallel zu jedem der Widerstünde R7. und R0 zwei VJero ,-eschaltet,
deren einer in einer Richtung und deren anderer in der
entgegengesetzten Richtung .^;cpolt ist. In jedem Fall enthält
der erste in einer Richtung ^epolte V.ror; in Reihe einen
Widerstand R.. bzw. Π. Oi eine Diode D. bzw. D0 und eine
Induktivität L. bzw. L0. Der zweite in einer Richtung
gepolte Weg enthält in jeden Fall eine Diode D^ bzw. Ou.
Die Dioden D. und Dn sind r.iit entr.et"en.^eset2ter Polarität
mit den Dioden Dv und Dj verbunden 3 \;le dargestellt.
Die Emitter der Transistoren T-, und Tj, sind über VJiderstände
R1^, bzv/. R1Ii f.eerdet und ihre Kollektoren sind durch
Widerstände R^1- bzvi. R.^ mit der Spannuiifjsquelle von 9 Volt
verbunden. Diese Kollektoren der Transistoren Ύ-, und T^
sind außerdem jev/eils über Dioden Df- bzv.'. Dg mit den Basen
von zv/ei weiteren Transistoren Tr bzw. IV verbunden. Die
Verbindungen zv/ischen den Dioden Dr und Dg und den jevieiligen
Transistoren Tr und T^ sind ebenfalls über Speicherkondensatoren
Cr bzv;. Cg mit der 3pannun;;squelle von 9 Volt
verbunden. Die Emitter der Transistoren Tr und TV sind über
Widerstände R17 bzw. R^ mit der Spannunßsquelle von 9 Volt
verbunden und ihre Kollektoren sind geerdet. Die Emitter
der Transistoren Tr und Tg sind außerdem mit einem I-iotor 8
gekoppelt.
Eine
BAD OHIGlNAL
109837/0870
Eine Steuerspule T ist als Primärwicklung eines Transformators
vorgesehen, dessen Sekundärwicklungen die Induktivitäten L^ und L2 sind, welche in entgegengesetzter
Phase geschaltet sind, und die Steuerspule T ist in Reihe mit dem galvanisierten Draht 5 geschaltet, weswegen der
Strom iftC in derselben fließt.
Bei Betrieb des in Figur 1I dargestellten gesteuerten
Differentialverstärkers wird das von der Prüfspule 7 aufgenommene Signal gleichzeitig auf die Basen der
s.-Transistoren T., und Tp gegeben, wo es verstärkt wird.
Gleichzeitig wird der Strom i.„ durch die Steuerspule T
und von dort zu den Induktivitäten L^ und Lp geleitet.
In der positiven Halbperiode des !iechselstroms fließt
Strom durch die Dioden D. und D-, wodurch die Basis des
1 2*
Transistors T^ unterhalb Erdpotential gehalten und da- *
durch verhindert wird, daß das verstärkte Signal aus dem Transistor T. zur Diode D1- und zum Kondensator C^
übertragen wird, welche zusammen einen Dioden-Pumpenintegrator bilden. Ebenfalls während der positiven Halt» periode
verhindert die Diode D„5 daß Strom von der Induktivität
Lp so fließt, daß die Basis des Transistors T^ gerade
oberhalb Erdpotential liegt. Das verstärkte Signal aus dem Transistor T2 wird dalier durch den Transistor T1^ \
weiter verstärkt und durch einen Dioden-Pumpenintegrator
integriert
109837/0670 bad original
into, riert, uelcher aus .-.er Dioc'e D- um! den Kondensator
C- bcatclit. Uährend eier r.c.;ativen IIalbperiode des IIechsel-Gtro:.iG
tritt das üm:*el.ehrte ein; wobei das ruf den Transistor
T1 ^.e;:ebene Signal verstärkt unJ integriert wird,
während aas auf der. Transistor :λ'ο ^;e,;ebene Signal ^;e-
Aus I'iour 2 ist ei'sic^tlich. daß die linke Spitze A der
von j er Prüf spule 7 auf^enoi.^.ienen V.'ellenforn x/Oirend der
negativen halbperiode des ".,'echseistrors auftritt, während
die Cpltse J nährend der positiven Halbperioc.e dieses
V.'echselstroms auftritt. Daher v,rird die Spitze A durch den
Dioden-Pumpeninte.^rator integriert, v;elcher aus der Diode
Dr und den Aondensator Cn besteht- während die Spitze B
durch den Dioden-Punpeninte^rator integriert wird, v/elcher
S.US der Diode D,- una dein Kondensator C,- besteht. Diese inte^rierten
Signale v/erden über die Transistoren IV und T
welche eine Stromverstärkung bewirken, auf den Motor 8
^e^eben. Der Hotor 8 ist so ausgebildet5 daß eine Hullablesung
erzielt wird- wenn die höhe der Spitze A gleich der Höhe der Spitze B ist. Jede Abweichung von der llullablösung
zei^t daher eine Asymmetrie der von der Prüfspule
5 aufgenommenen VJellenfom; und daher einen endlichen Uert
des i,a0netostriktionskceffisienten der zylindrischen IIac--:netsciiicht
an. Dorüber hinau:; :;ibt die Riciitun^ der Verschiebunr
von
1098 3 7/0670 BAD
- ιΰ -
von der liullablesung an5 welche der Spitzen A und B höher
ist, v;oraus das Vorzeichen des i;agnetostriktionskoeffizienten
zu entnehmen ist. Es wird bemerkt, daß bei Verwendung des
gesteuerten üifferentialverstärkers gemäß Figur 4 in Verbindung
mit der anhand von Figur 3 beschriebenen Vorrichtung der Motor 8 normalerweise eine IJullablesung ergibt, d.h.
v.'enn keine Verdrillung auf den beschichteten Draht 5 ausgeübt
viird; und der Motor kann alle 15 Sekunden eine endliche
Ablesung ergeben, vrelche den riagnetostriktionskoeffizienten
eines bestimmten^ der Prüfung unterzogenen Stücks,der
zylindrischen Magnetschicht angibt.
Die Erfindung ist zwar insbesondere in bezug auf die in aen Figuren 3 und H dargestellte Ausführungsform beschrieben
worden. Es können jedoch auch andere Verfahren und Vorrichtungen zum Abfühlen oder Abtasten der Verschiebung der
bevorzugten Ilagnetisierungsrichtung einer dünnen Magnetschicht
in Abhängigkeit von einer darauf ausgeübten Belastung verwendet werden.
109837/0670
Claims (8)
- T/ b b 5 3Patentansprüchef' !-/Verfahren zur Prüfung des UagnetostriktionsLoeffizienten und dadurch der Zusammensetzung von dünnen Harnetschichten, welche von einem Träger getragen werden und eine bevorzugte iiagnetisierungsrichtung aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß eine Belastung auf die Schicht ausgeübt wird und die Verschiebung der bevorzugten Ilagnetisierungsrichtung abgetastet vjird.
- 2. Verfahren nach Anspruch I3 dadurch gekennzeichnet, daß die dünne Magnetschicht auf einera langgestreckten Träger aufgebracht v/ird und die Schicht belastet wird, indem dem Träger eine Verdrillung erteilt v/ird, und daß jede Verschiebung der Magnetisierung der Schicht durch eine die Magnetschicht umgebende Prüf spule abgetastet wird.
- 3. Verfahren nach Anspruch 2. dadurch gekennzeichnet, daß ein Träger in Form eines leitenden Drahtes verwendet wird, v/elcher eine zylindrische, dünne, magnetische Legierungsschicht mit einer in Umfangsrichtung verlaufenden Vorzugsrichtung der Magnetisierung trägt, daß durch denDraht BAD OnIGlNAL109832/0670Draht ein nagnetisierender VJechselstrom geleitet wiru. daß der Draht einem Gleichstror.feld zur Erzeugung eines senkrecht zur bevorzugten iiagnetisierungsrichtung verlaufenden Feldes unterworfen wird_ daß der 1r;':;er verdrillt wird., um die dünne Schicht einer Belastung zu unterziehen, unc daß die Prüfspule koaxial zum Draht angeordnet wird und in derselben eine Signalspannung induziert wird^ welche jeo.e Verschiebung der bevorzugter, i.agnetisierungsrichtung der dünnen Schicht anzeigt.
- 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal der Prüf spule zu einer, gesteuerten Differentialverstärker geleitet wirci5 welcher einen Ausgang liefert, wenn die bevorzugte Hagnetinierungsrichtung durch die Belastung der Schicht verschoben wird, wobei das Vorzeichen des elektrischen Ausgangs das Vorzeichen des riagnetostriktionskoeffizienten angibt.
- 5. Verfahren nach Anspruch 3; dadurch gekennzeichnet, daß der Draht zwischen Rollenpaaren durchgeleitet wird., wobei ein mittleres Rollenpaar von Zeit zu Zeit seitlich verschoben wird, so daß zu Belastungszwecken der Draht einer Verdrillung unterzogen wird.
- 6. Vorrichtung zur Prüfung des Magnetostriktionskoeffizienten einer dünnen, magnetischen Legierungsschicht mit Zylinderform, welche auf einen leitenden Draht aufgebracht ist,109832/0670BAD OWGWALν.τουei die ocnicht eine in Unfangsrichtung verlaufende bevorzugte . iagnetisierungürichtung aufweist. gekennzeichnet durch Paare von beab standet on Rollen, zwischen Vielehen der Draht durchlauft, eine Einrichtung ζ us: Aufgeben eines Uechoelötrozus auf den Draht, eine Gleichfeldspule, welche den Draht zwischen den zwei :lollenpaaren ui.gibt und koaxial au diesen angeordnet ist. eine Einrichtung zur Aufgabe eines Gleichstrom auf die Oleichfeldsr.ule. ur: Mein Oleichfeld senkrecht zu den in Uir.fangs richtung verlaufenden Uechselfeld zu erzeugen, welches durch den Wechselstrom in der Schicht erzeugt wird, eine Prüfspule, welche den Draht in der Umgebung des Gleichfelds umgibt, eine Einrichtung zur seitlichen Verschiebung eines der Rollenpaare, um eine Verdrillung des zwischen den beiden anderen Rollenpaaren gehaltenen Drahtes zu bewirken, und durch eine elektrische Differenz-neßeinrichtung. Vielehe mit den Ausgang der Prüfspule gekoppelt ist, un eine Angabe jeder Verschiebung der bevorzugten Ilagnetisierungsrichtung anzuzeigen.
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Differenz-Heßeinrichtung aus einem mit Transistoren ausgestatteten, gesteuerten Differentialverstärker besteht.
- 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daßder 109837/0670 BADder gesteuerte Differentialverstärker mit Transistoren ausgestattet ist und ein Paar von Diouen-Pumpenintegratorschaltungen zura Integrieren der jeweiligen Spitzen des .Signalspannungsaus ganges der Prüf spule aufweist, welche die Verschiebung der bevorzugten Hagnetisierungsrichtung anzeigen, und daß die Ausgänge dieser Puiupenschaltungen auf ein Heß ge rät gegeben \/erden3 welches jede Differenz zxi lachen den integrierten Ausgängen registriert und dadurch eine Verschiebung der bevorzugten iiagnetisierungsrichturin anzeir.t.109837/0670BADLeers eite
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