DE1574261A1

DE1574261A1 - Method for testing different types of test specimens, in particular coins in coin telephones

Info

Publication number: DE1574261A1
Application number: DE19671574261
Authority: DE
Inventors: Juergen Dipl-Ing Haass
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1967-12-21
Filing date: 1967-12-21
Publication date: 1971-11-18

Description

Verfahren zur Prüfung von Prüflingen unterschiedlicher Type, insbesondere von Münzen in Münzferns rech. paraten. Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Prüfung von Prüflingen unterschiedlicher Type hinsichtlich vorgegebener Prüfkriterien, insbesondere von PZün;zen'verschie-Jener Münzwertigkeit in Münzfernsprechapparaten.Procedure for testing test items of different types, in particular of coins in Münzferns rech. ready. The invention relates to a method for testing test items of different types with regard to specified test criteria, especially from PZün; zen'verschie-That coin value in coin-operated telephones.

Hei Münzkassierern findet eine Prüfung der Münzen hinschtlieh verschiedener Prüfkriterien, z. B. auf Durchmesser, Dicke, Gewicht und magnetische Eigenschaften sowie des .Metallgehalts der Münzen durch die Auswirkung von Wirbelströmen, statt. Es ist bekannt, die Prüfung auf die Gültigkeit der Münzen in der Weise durchzuführen, daß jeder Münze ein besonderer tzünzprüfkanal zugeordnet ist, in den sich jeweils die einzelnen Meßstationen für die geschilderten Kriterien befinden. Durch einen maßhaltigen Einwurfschlitz findet eine Torsortierung bezogen auf den Größtwert für Durchmesser und Dicke statt. Die nicht auf Materialeigenschaffen bezogenen Kriterien werden dabei durch mechanische Anordnungen geprüft.Coin cashiers can check the coins different Test criteria, e.g. B. on diameter, thickness, weight and magnetic properties as well as the metal content of the coins due to the effects of eddy currents. It is known to check the validity of the coins in such a way that that each coin is assigned a special tzünzprüfkanal in which each the individual measuring stations for the criteria described are located. Through a dimensionally accurate slot finds a gate sorting based on the maximum value for Diameter and thickness instead. The criteria not related to material properties are checked by mechanical arrangements.

Darüberhinaus sind elektronische Prüfmethoden bekannt, denen keine auf Prüfkriterien getrennte Prüfung zugrunde liegt; sondern bei denen die jeweils auf eine Münze bestimmter Wertigkeit abgestimmte Prüfstellen diese als Ganzes dadurch bewerten, daß die echte Münze infolge der Rückwirkung auf den Meßindikator--_enen auswertbaren Impuls liefert. Diese Rückwirkung beinhaltet die Summe der durch die einzelnen Prüfkriterien zur gleichen Zeit erfolgten Beeinflussungen. Man kann natürlich mehrere dieser derartigen Prüfstellen für Münzen unterschiedlicher Jertigkeit nacheinander . anordnen und die Münzen über einen ihnen gemeinsamen Eincvurfschlitz zuführen. a Um Xehrdeutigkeiten bei einer derartigen Auswertung auszuschließen, ist zur i-rahli-reisen Eliminierung des Einflusses bestimmter Prüfkriterien ein großer Aufwand an zusätzlichen Zogikbaustein.en erforderlich. Es ist nun die Aufgabe der, Erfindung, eine Prüfung von unterschiedlichen Prüftypen, wie sie Münzen unterschiedlicher Münzwertigkeit darstellen, hinsichtlich vorgegebener Prüfkriterien ohne zahlenmäßig aufwendige Auswerteeinrichtungen zu ermöglichen.In addition, electronic test methods are known to which none is based on a separate test based on test criteria; but with each of them Test centers coordinated with a coin of a certain value by doing this as a whole evaluate that the real coin as a result of the reaction on the measurement indicator --_ enen evaluable pulse delivers. This retroactive effect includes the sum of the individual test criteria were influenced at the same time. Of course you can several of these such test centers for coins of different Jertigkeit one after the other . arrange and feed the coins through a common Eincvurfschlitz. a In order to rule out ambiguities in such an evaluation, is for the i-rahli-Reisen elimination of the influence of certain test criteria great effort in additional Zogikbaustein.en required. It is now the task the, invention, a test of different test types, as they coins of different Representing the denomination of coins in terms of given test criteria without numerical value to enable complex evaluation devices.

Dies wird dadurch erreicht, daß für alle Prüftypen eine der Anzahl der Prüfkriterien entsprechende Anzahl von gleichartigen Pxüfvorgängen zeitlich nacheinander ablaufen und daB in einem ersten Prüfvorgang ein Prüfkriterium, das eine sichere Unterscheidung der einzelnen Prüftypen ermöglicht, gesondert ausgewertet wird und daß davon abhängig bei einem positiven Prüfergebnis die die nachfolgenden Prüfvorgänge durchführenden Auswerteeinrichtungen auf den dem bestimmten Prüftyp entsprechenden Sollwert selbsttätig voreingestellt werden. Das Prüfergebnis wird durch die.atüfencreise erfolgende Früfung hinsichtlich der einzelnen Prüfkriterien frei von Mehrdeutigkeiten und zwar umso mehr,, je größer die Anzahl der Prüfkriterien ist. Da ein Prüfvorgang ein bestimmtes Prüfkriterium für alle Prüftypen verarbeitet, vermindert sich die Anzahl der Auswerteeinheiten, wenn man als erstes ein ,hinsichtlich der Prüftypen stark unterscheidungskräftiges Kriterium verarbeitet und somit bespielsweise das Ergebnis des ersten Prüfvorganges einer Vorsortie.rung entspricht. Setzt man eine nicht nach Prüftypen, sondern nach Prüfkriterien getrennte-Prüfung voraus, so wäre es denkbar, zur Verarbeitung eines Prüfkriteriums in .einem Prüfvorgang für je=de prüf type eine nachgeordnete Aus@-"erteeinrichtung vorzusehen. Stellt man nun aber aufgrund der beispiels;-reise in einem ersten Prüfvorgang erfolgten Vorsortierung die der so bestimmten Prüftype für die nachfolgenden Prüfkriterien zugeordneten Sollwerte selbsttätig ein, so reduziert sich in besonders vorteilhafter Weise unabhängig von der Anzahl der Trüftypen die Zahl der Auswerteeinheiten auf eine einzige. Wird in ein cn der 2rüfvörgänge eine. Abweichung des Prüftyps von den Solltypen, d. h: also beispielsweise eine Ab- weichung von den für die Betätigung eines Münzautomaten vorgesehenen Münzi.erten festgestellt, so kann die Prüfung abgebrochen werden. .This is achieved by the fact that for all test types a number of identical test processes corresponding to the number of test criteria run in succession and that in a first test process a test criterion that enables a reliable differentiation of the individual test types is evaluated separately and that, depending on this, in the case of a positive one Test result the evaluation devices performing the following test processes are automatically preset to the setpoint corresponding to the particular test type. The test result is made free of ambiguities with regard to the individual test criteria, the greater the number of test criteria, the more so. Since a test process processes a certain test criterion for all test types, the number of evaluation units is reduced if a criterion that is very distinctive with regard to the test types is processed first and thus, for example, the result of the first test process corresponds to a pre-sorting. If one assumes a test that is not separated according to test types but according to test criteria, it would be conceivable to provide a subordinate output device for processing a test criterion in a test process for each test type If the setpoint values assigned to the test type determined in this way for the subsequent test criteria are automatically included in a first test process, the number of evaluation units is reduced to a single one in a particularly advantageous manner, regardless of the number of test types ., a deviation of Prüftyps of the target types, i.e. so determined, for example, a deviation from the operation of a coin-operated machines for the intended Münzi.erten, the test can be aborted..

Gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung sind in Abhängigkeit von der im. ersten .:Prüfvorgang bestimmten Prüftype die Ausgänge der Auswerteeinrichtungen für die übrigen, Prüfvorgänge auf den Eingang eines jeder. Prüftyp individuell zugeordneten Koinzidenzgattexs selbsttätig umschaltbar.According to a further embodiment of the invention are dependent on the in the. first.: test procedure determined test type the outputs of the evaluation devices for the rest, checking the receipt of each. Test type individually assigned Coincidence gatexs switchable automatically.

Das sich aus allen Einzelprüfvorgängen ergebende: Prüfergebnis erscheint somit; am Ausgang des Gatters und kann als Positiv- oder lregativaussage für nachfolgende .Vorgänge, Wie sie beispielsweise das Ablenken der Münze aus der ursprünglichen Bewegungsrichtung darstellen, unmittelbar verwendet werden.The result of all individual test processes: test result appears Consequently; at the output of the gate and can be used as a positive or negative statement for subsequent . Operations such as the deflection of the coin from the original one Represent direction of movement, can be used immediately.

In der Zeichnung ist ein lediglich die zum Verständnis erforderlichen wesentlichen Bestandteile enthalterdesAusführungsbeispiel. des erfindungsgemäßen Verfahrens gezeigt, das nachfolgend näher beschrieben werden soll. _ Es werde angenommen, daß insgesamt 3 Prüftypen, die beispielsweise den in Deutschland für die sofortige Bezahlung eines Selbatwählferngespräches vorgesehenen Münzwerten von DM 1.-, Dri ';f0 und DM -,10 entsprechen, auf insgesamt n: Prüfkriterien hin geprüft werden sollen. Derartige Prüfkriterien stellen beispielsweise die Abmessungen der Münzen, d: h. Durchmesser und Dicke, das Prägebild, das Gericht oder die durch die Legierung gegebenen Materialeigenschaften der Münzen dar: Es erfolgt nun eine Aufgliederung des Ge= @samtprüfvorganges in -mehrere, der Anzahl der zu prüfenden Kriterien entsprechende Anzahl von Einzelprüfvorgängen, da die mit MU1 bis MUn bezeichneten und nacheinander wirksam werdenden Meßwertumformer jeweils nur auf ein bestimmtes Prüfkriterium bzw. eine sinnvolle Kriteriumskombination ansprechen sollen: Der Aufbau und die Funktionsweise der Meßwertumformer spielt in dem zu betrachtenden Zusammenhang keine Rolle, da lediglich das Ergebnis der Umsetzung eines' bestimmten Kriteriums in-eine analoge elektrische Größe, z. B. Spannungswert, von Interesse ist. Auch kann die Prüfung der Münzen M während der Fortbewegung an einer ent- sprechenden Führungsfläche, die beispielsweise eine Rollbahn - Weise mit,leichter Neigung sein kann, oder auf statische/, d. h.. die Münze wird während des Prüfvorganges festgehalten, erfolgen. Die Forderung, daß die Meßwertumformer zeitlich nacheinander wirksam werden sollen, kann beispielsweise. dadurch erfüllt, daß sie räumlich versetzt auf der Rollbahn angeordnet sind oder daß im Falle eines universellen Meß-Wertumformers der mehrere Prüfkriterien verarbeiten kann, nach der Verarbeitung eines Prüfkriteriums eine Umschaltung auf-das Nachfolgende vorgenommen wird.The drawing contains only the essential components required for understanding of the exemplary embodiment. of the method according to the invention shown, which will be described in more detail below. _ Assume that a total of three types of scan, for example, the in Germany provided for the immediate payment of a Selbatwählferngespräches denominations of DM 1.- Dri '; f 0 and DM - correspond to 10, n total: test criteria to be checked out. Such test criteria are, for example, the dimensions of the coins, i.e. Diameter and thickness, the embossed image, the dish or the material properties of the coins given by the alloy: The overall test process is now broken down into several individual test processes corresponding to the number of criteria to be tested, since those with MU1 to MUn and successively effective measuring transducers should only respond to a certain test criterion or a meaningful combination of criteria: The structure and mode of operation of the measuring transducers are irrelevant in the context to be considered, since only the result of converting a certain criterion into one analog electrical quantity, e.g. B. voltage value, is of interest. The checking of the coins M during the movement can also be carried out at a speaking guide surface, for example a taxiway - Way can be with, slight inclination, or on static /, ie. the coin is held during the testing process. The requirement that the transducers should take effect one after the other can, for example. fulfilled in that they are spatially offset on the runway or that in the case of a universal transducer which can process several test criteria, a switch to the following is made after processing one test criterion.

Für das Ausführungsbeispiel sei angenommen, daß die einzelnen Meßwertumformer räumlich versetzt angeordnet sind. In einen ersten Prüfvorgang soll ein Kriterium verarbeitet werden, das in etwa eine sichere Untezscheidung der einzelnen Prüftypen ermöglicht. Der Meßwertumformer UM1 kann so beispielsweise als-Kriterium die.Dicke der Münze verarbeiten und als Kriterium hierfür einen analogen Spannungswert liefern, der unter der Annahme von insgesamt 3 Prüftypen entsprechend den für den Betrieb eines Münzautomaten vorgesehe- _nen- 3-äT4ünzcert@n den .zugeordneten Auswerteeinrichtungen A 1:,1 bis d 1-, > >zugeführt wUd. Dieser vom rinß`-rerturforme.r abgegebene IZe"ßc@tert c#@ir:d in =jeder luss.rertee.inrichtung mit .: -dem für jede 2.Iünz orte :bezüglich .des Kriteriums "Dicken vorgegebenen Sollwert verglichen. Dieser SoIlwert wird von den für ,jede Auswe tee.;nr.chtung individuell vo.rhande- nen VeTg1_ei.chstertgebern P '1, -1 =bis p 1,3 , die in ,gleiche; Weise wie >die Meßwertumformer von .dem gemeinsamen Oszillä- tor Os gespeist werden, jeder Auswerteeinrichtung fest vor- gegeben. Der für alle Auscrer teeinrichtungen .gleichartige Aufbau ist f"r @ di.e Auswerteeinrichtung A 1 , 1 _m Blo.ckschalt- bild angegeben und enthält die zur Durchführung einer Yer- glechspxüfun,g .für- sieh bekannten -Bausteine-. Die aus dem Vergleich ('Vg) des Meßc,ertem,it den fest vorgegebenen Soll- j.re:rt resultierende Spannung wird verstärkt und gleichge- richtet (V, G1). Über eine Triggerstufe Tr wird eine bi- stabe prstufe IC angesteuert, welche das _IIeßergebn:is bis zur Beendigung des gesamten Meßvorganges speichert. Bei: der Vorgabe der Sollwerte können selbstverständlich die im Hin- blick auf .gebrauchte Münzen vorzugebenden Vergleichstöle- ranzen berücksichtigt werden. Wird in einer der den hlünzi.rerten im ersten Prüfvorgang zage- ordneten Aus@.;erteeinrichtungen über die Vergleichsprüfung ein positijies Prüfergebnis erzielt, d. h. die eingeworfene "Münze erfüllt, die z. B. an das Kriterium-"Dicke" gestellten Voraussetzungen, so erscheint das Ergebnis an einem der Eingänge der den zu prüfenden Münzwerten individuell zugeordneten Koinzidenzgattern G1 bis G3. Die weiteren Eingänge eines jeden Koinzidenzgatters werden durch die mit SG1 bis SG(n-1) bezeichneten Schalter, die mechanischer oder elektronischer Natur sein können, an den Ausgang der den nachfolgenden Meßwertumformern zugeordneten Auswerteeinrichtungen A2 bis An angeschaltet. Die Auswahl der Schalterstellung erfolgt selbsttätig in Abhängigkeit vom Ergebnis des ersten Prüfvorganges, in dem also eine Vorentscheidung über den Münzwert getroffen wurde. Durch diesen Vorentscheid werden aber nicht nur die Ausgänge der nachfolgenden Auswertecinrichtungen für. die übrigen Prüfvorgänge auf das entsprechende Koinzidenzgatter geschaltet, sondern.gleichzeitig wird durch die Betätigung der Schalter,SK1 bis SK(n-1) den Auswerteeinrichtungen die für die nachfolgenden Prüfkriterien zugeordneten Sollwerte durch das Wirksamschalten des dem vorbestimmten Münzwert entsprechenden Vergleichswertgebers P2, ..._ bis Pn, ... vorgegeben.'Dadurch wird für jedes Prüfkriterium, nur noch jeweils eine einzige Ausc"erteeinrichtung notwendig.For the exemplary embodiment it is assumed that the individual transducers are arranged spatially offset. In a first test process, a criterion is to be processed that roughly enables a reliable distinction between the individual test types. The UM1 measuring transducer can, for example, process the thickness of the coin as a criterion and supply an analog voltage value as a criterion for this, which, assuming a total of 3 test types, _nen- 3-ÄT4ünzcert @ n the assigned evaluation devices A 1:, 1 to d 1-,>> supplied wUd. This from rinß`-rerturforme.r IZe "ßc @ tert c # @ ir: d in = every luss.rertee.institution with.: -dem for every 2nd coin locations: regarding .the criterion "thicknesses specified setpoint compared. This target value is of the for, each ID card.; no. nen VeTg1_ei.chstertgebern P '1, -1 = to p 1,3, the in, same; Way as> the transducers of the common oscillator tor Os are supplied to each evaluation device. given. The same for all Auscrer te facilities The structure is for the evaluation device A 1, 1 _m block switching image and contains the information required to carry out a Yer- glechspxüfun, g .for- see known -components-. The ones from the Comparison ('Vg) of the measurement, with the fixed specified target j.re:rt resulting tension is amplified and equalized judges (V, G1). Via a trigger stage Tr, a bi- stabe prstufe IC controlled, which the _IIeßergebn: is to to end the entire measuring process. In the Specification of the setpoints can of course be made look at .used coins to be specified comparison mines- satchels are taken into account. If one of the honors in the first test ordered Aus @ .; erte facilities about the comparison test A positive test result was achieved, ie the one thrown in "Coin meets the criteria set for the" thickness "criterion, for example Conditions, then the result appears at one of the inputs of the coincidence gates G1 to G3 individually assigned to the coin values to be checked. The other inputs of each coincidence gate are connected to the output of the evaluation devices A2 to An assigned to the downstream transducers by the switches labeled SG1 to SG (n-1), which can be of a mechanical or electronic nature. The selection of the switch position takes place automatically depending on the result of the first test process, in which a preliminary decision about the coin value was made. With this preliminary decision, however, not only the outputs of the subsequent evaluation devices for. the other test processes are switched to the corresponding coincidence gate, but at the same time by actuating the switches, SK1 to SK (n-1), the evaluation devices assign the setpoints for the following test criteria by activating the comparator P2 corresponding to the predetermined coin value, ... _ to Pn, ... are specified. This means that only a single evaluation device is required for each test criterion.

Unter der Annahme, daß im ersten Prüfvorgang die Auswerteeinrichtung.A1,1 ein positives Prüfergebnis durch ein entsprechendes Signal anzeigt, werden dadurch also die Schalter SG1-bisSG(n-1) und SK1bis SK.(n-1) in die eingezeichnete -Stellung "eins" geschaltet und somit die Sollwerte durch die dadurch wirksam geschalteten Vergleichswertgeber 2291 und Fn,1 vorgegeben. Liegen die Ergebnisse der Prüfvorgänge im Gatter G1 vor, so erscheint das Gesamtergebnis in .norm einer Negativ- oder Positivaussage am@Ausgang desselben.Assuming that the evaluation device.A1,1 indicates a positive test result by means of a corresponding signal so the switches SG1 to SG (n-1) and SK1 to SK. (N-1) in the drawn -Position "one" is switched and thus the setpoints are activated by the Comparison value transmitter 2291 and Fn, 1 specified. Are the results of the test procedures in gate G1, the overall result appears as a negative or positive statement at the @ output of the same.

Es wäre auch denkbar, die Vorentscheidung des ersten Prüfvorganges durch eine in der bisherigen Weise folgende Vorsortierung über eine entsprechende Dimensionierung des Einwurfschlitzes vorzunehmen. Durch einen in den jeweiligen Münzkanälen angeordneten Fühler können dann die den weiteren Prüfvorgängen zugeordneten Auswerteeinrichtungen durch ein entsprechendes Signal in der geschilderten Weise auf die-den zu erwarteten hleßwerten zutreffenden Sollwerten voreingestellt %.;erden, so daß für jeden Prüfvorgang jeweils wieder nur eine einzige Auswerteeinrichtung erforderlich ist.It would also be conceivable to make the preliminary decision for the first test process by pre-sorting in the previous manner via a corresponding one Dimensioning of the slot. Through one in the respective Coin channels arranged sensors can then be assigned to the further test processes Evaluation devices by means of a corresponding signal in the manner described preset to the setpoints that apply to the expected measurement values% .; earth, so that again only a single evaluation device for each test process is required.

Claims

P a t- r. t a n s p r ü c h e 1. Procedure for testing test items '' different types with regard to specified test criteria, in particular from Coins of various denominations in coin operated telephones, characterized in that that for all test types a number of corresponding to the number of test criteria Similar test procedures run one after the other and that in a first Test process a test criterion that reliably differentiates between the individual test types enabled, is evaluated separately and that depends on a positive Test result the evaluation device carrying out the following test processes narrow (A2 to An) to the toll% ized corresponding to the specific test type automatically can be preset.

2. The method according to claim '1, characterized in that depending on the test type determined in the first test process, the outputs of the Evaluation devices for the other test processes for the input of each test type individually assigned coincidence gate (G: ..) are automatically switchable.