DE1548250A1 - Interferometrisches Messsystem - Google Patents
Interferometrisches MesssystemInfo
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Description
Mt Erfindung btaitbt sieb allgemein auf Meßinstruxente
und insbesondere auf ein interferosetriscbes
Meßsyetem, welches ein Tereinfacbtes optisches System in
Kombination mit einer Laser-Liobtquelle aufweist»
Wie in der früheren Teohnik bekannt ist, mißt ein
Inttrferometer eine Strecke durch auf Aufspalten eintretenden Lichtes Ton der gleichen aussendenden Lichtquelle
in swei Strahlen, wob·! ein feststehender Längenbesugsstrahl
und ein variabler Längenmeßstrabl vorbanden ist. Eintretendes Liebt wurde durch einen optischen Teiler
in swei gespaltene Strahlen gespalten und nachfolgend wieder kombiniert· um Interferenistreifcn su bilden.
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bad orkW
Bezugsstrahl als der MeBstrahl unabhängi| über kolniidente
Laufwege zurückgeführt» wobei die diesbezüglichen Ausgangsstrahlen
vorher wieder kombiniert werden, um Interferenzstreifen
zu erzeugen.
Gemäß der Erfindung enthält ein Interferometer ein prismatisches Element, welches einen teilweise lichtübertragenden
Strahlepalter hat, der wirksam ist, einen ein»
tretenden Lichtstrahl in zwei divergierende opaltstrahlen
zu teilen, die einen Bezugestrahl und einen variablen
Längenmeßstrahl umfassen, einen relativ bewegbaren prismatisohen
Reflektor, der geeignet ist, den Meßstrahl aus dem Strahlspalter aufzunehmen, und geeignet ist, reflektierend
einen im Abstand angeordneten getrennten Parallelstrahl gegen das prismatische element zurückzuführen, einen anderen
durch das prismatische Element getragenen Reflektor, der so eingestellt ist, um den reflektierend zurückgeführten
Meßstrabl von dem prismatischen Reflektor aufzunehmen und
wirksam ist, den zurückgeführten Strahl reflektiv gegen den Strahlspalter zurückzurichten, um ihn mit dem Bezugsstrahl zu kombinieren, um Interferenzstreifenmuster zu
erzeugen, und eine durch die Interferenzstreifenmuster betätigte Zählvorrichtung.
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Die Torhergehenden und andere Zwecke der Erfindung, die Tollständiger aus der nachfolgenden Einzelbeschreibung
τοπ beispielsweisen Vorrichtungen hervorgehen, können durch
die besondere LängenmeßTorrichtung und Interferometer
erzielt werden, die hierin als eine bevorzugte Ausführung in Verbindung mit den Zeichnungen beschrieben sind« welche
aeigen:
Fig. 1 eine vergrößerte teilweise Ansicht, teile scheaatiech
und teils in Seitenaufriß einer Maschine, welche ein verbessertes interferometrisches längenmeßinstrument
enthält,
Fig. 2 eine Tergrößerte i-inzelansicht im Längsschnitt eines
Lasers, der eine berorzugte Lichtquelle für das Meßinstrument bildet,
Fig. 3 eine Tergrößerte Ansiebt der Viertelwelle, Phasendifferenzierplatte,
die in den rariablen Längenmeßstrahl
eingefügt ist,
Fig.3A eine schematische Zeichnung von Tiereckigen Wellen,
Fig.3A eine schematische Zeichnung von Tiereckigen Wellen,
die um 90° im Abstand angeordnet sind, Fig. 4 eine Tergrößerte teilweise Einzelansicht des Photodetektors,
der auf eines der phasendifferenzierten Streifenmuster der wiederkombinierten Strahlen
anspricht,
Fig. 5 eine vergrößerte teilweise Ansicht eines anderen
Photodetektors, der auf die phasendifferenzierten Streifen in der anderen Hälfte des variablen Längenmeßstrahles
anspricht,
Fig. 6 eine vergrößerte schematische Darstellung einer abgewandelten Form des Interferometers,
Fig. 7 und 7A vergrößerte, vereinzelte, teilweise Ansichten, die diesbezüglich die Photodetektoren und einen
Querschnitt durch die Strahllaufwege des in Fig. dargestellten Interferometers zeigen,
anderen abgewandelten Form des Interferometers, wobei ein Pentaprisma benutzt ist,
Fig. 9 und 10 teilweise Einzelansichten, die diesbezüglich die 1hotodetektoren und einen Querschnitt durch den
Meßstrahllaufweg des in Fig. 8 dargestellten Interferometers
zeigen,
Fig.11 eine schematische Ansicht einer anderen abgewandelten Form der Erfindung und
Fig.12 eine vergrößerte Mnzelansicht einer in Fig. 11
gezeigten iiaske. ·
äußerst genaue Längenmessungen über einen ausgedehnten
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Laufweg ausführen kann. Die Maschine ist in Fig. 1 in
teilweiser Form gezeigt. Wie dort dargestellt ist, enthält die Maschine hauptsächlich einen Tragsockel 15, der mit
den üblichen seitlich voneinander im. Abstand angeordneten
längsTerlaufenden Bahnoberflächen versehen ist, von denen in Fig. 1 bei 16 nur eine dargestellt ist. Lie im Abstand
voneinander angeordneten längsverlaufenden Bahnoberflächen einschließlich 16 können verschiebbar einen »Terkstücktragriach
oder Schlitten 17 aur Längß-gleitbewegung tragen.
Zur Bewegung des Arbeitstisches 17 längs der Bahnen 16
ist eine herunterhängende Mutter 19 an der Unterseite
desselben durch die Kopfschrauben 20 befestigt. Lie Mutter
ist so angeordnet, daß sie durch ihr Gewinde mit einer drehbaren Bewegungsspindel 22 in Eingriff steht, die so
gelagert ist, daß sie am rechten i.nde in einem nicbtgeieigten
Lager und am linken Ende in einem Lager 23 gedreht werden kann, die in dem Sockel 15 abgestützt sind. Zur Drehung der
Bewegungsschraube oder -spindel 22 ist daran ein Zahnrad
befestigt, welches mit einem durch einen Motor 27 angetriebenen Antriebsritzel 26 im Eingriff steht, wobei der
Motor in dem Maschinenrahmen 15 mittels der Kopfschrauben befestigt ist. Der übliche wahlweise erregbare, nichtgezeigte
Antriebsstromkreis ist vorgesehen, um den Motor
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umsteuerbar zu erregen, um den Arbeite- oder Werkzeugtisch
17 in einer gewählten Längsrichtung zu bewegen. Ub die Bewegung des Arbeitstisches 17 von Hand längs der Tragbahnen
zu bewirken, kann in bekannter Weise an einem End· der Tischbewegungsspindel 22 eine nicbtgeieigte Handkurbel
angebracht sein·
Während der Längsbewegung wird die genaue Stellung des i'terk- oder rbeitstiaches 17 interferometriscb mit Beiug
auf einen Bezugsteil oder Reitstock 30 gesessen, der aus eines Stück mit dem Maschinensockel 15 gebildet ist. Um
dies auszuführen, wird ein Tariabler Längenaeßlichtstrahl
Ton einem einzigen einheitlichen priemtischen Element 32
gegen einen damit zusammenwirkenden prismatischen Reflektor 33 Übertragen, der von dem längsbewegbaren Arbeitstisch 17
getragen wird. Das zusammenwirkende einheitliche prismatische Element 32 und der relativ bewegbare prismatische
Reflektor 33 umfassen die hauptoptischen Elemente des Streckenmeßinterferometers, der in Fig. 1 dargestellt ist.
lie in ^ ig. 1 gezeigt ist, ist das strahlprojixiertnde
prismatische Element 32 in einer Umhüllung 35 angtbracht,
die aus einem Stück mit einer Tragplatte 36 gebildet ist, welibe an dem Schlitten oder Wagen 30 mittels Lineenkopfschrauben
37 befestigt 1st. Tatsächlich enthält das «inheit-
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liohe prismatische Element 32 Prismen 40, 41 und 42, die
längs Zwischenflächen 43 bzw. 45 haftend aneinander befestigt sind. Die Grenz- oder Zwischenfläche 43 enthält
eine teilweise versilberte Oberfläche, um eine teilweise Licht durchlassende, teilweise Licht reflektierende Strahl-Spaltoberfläche
zwischen den Prismen 40 und 41 zu bilden. In ähnlicher Weise ist die Zwischenfläche 45 teilweise versilbert,
um eine Licht durchlassende, teilweise reflektierende Lichtstrahlspaltoberfläche zwischen den Prismen 41 und
zu bilden. Auf diese Weise ist das einheitliche prismatische, in Fig. 1 gezeigte kleinent 32 mit zwei im Abstand angeordneten
Lichtstrahl spaltenden Oberflächen oder Strahlspaltern 43 bzw. 45 versehen.
In abstandsmäßigem linken Verhältnis zu der prismatischen
Hülle 35 ist eine Laser-Umhüllung 48 vorgesehen, die von einem Tragglied 49 getragen wird, welches mittels
Kopfschrauben 50 feststehend an dem Rahmen 15 befestigt
ist. Die Anordnung ist derart, daß das reckte Ende des
Lasergehäuses 48 mit einer Äusgangsstrahlöffnung Tersehen
ist, die mit einer entsprechenden Öffnung in der prismatischen Hülle 35 ausgerichtet ist, um einen intensiven Ausgangsstrahl
52 von monochromatischem Licht an das Prisma zu richten. Der Laser-Ausgangsstrahl 52 wird längs nach
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; Bad
auswärts gegen den halbtranaparenten Strahlspalter'43
gerichtet, der in bekannter Heise wirkt, um den Ausgangsstrahl
52 in zwei gespaltene Strahlen 33 bzw. 56 zu teilen.
Der innen reflektierte Spaltstrahl 53 bildet den Bezugsstrahl,
der gegen den halbreflektierenden Strahlspalter gerichtet ist, der wiederum den Bezugsstrahl 55 in zwei
getrennte Bezugsstrahlkomponenten 57 und 58 teilt.
Aus dem Prisma 40 des einheitlichen prismatischen Llementes 32 ist der länge projieierte Spaltstrahl 56 nach
auswärts gegen den prismatischen Strahlreflektor 33 gerichtet, der in Fig. 1 als ein Dreikantprisma 60 dargestellt
ist. Das Dreikantprisma 60 wird in einer rohrförmigen
Hülle 61 gehalten, die an dem längs bewegbaren Arbeitstisch 17 mittels Liηεenkopfschrauben 63 befestigt iat.
Wie in der Technik bekannt ist, ist ein Dreikantprisma,
wie das Prisma 60, mit drei orthogonal reflektierenden Oberflächen rersehen, um für drei innere entsprechende
keflektionen eu sorgen, um genaue Parallelität ewiechen
einem Eingangsstrahl an das Dreikantprisma und einem
Ausgangsstrahl aufrechtzuerhalten, dtr daraus austritt. Wie schematisch in Fig. 1 dargestellt iat, wird der variable
Längenmeßstrahl 56 innen durch eine trete reflektierendt
Fläche des Dreikantprismas 60 su einer strahlkomponente
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reflektiert, die ihrerseits durob eine «weite reflektierende
Prisaaflache als eine Strablkoaponente 66 reflektiert wird,
wobei die letstere durob eine dritte Fläche des DreikantprieBae
60 reflektiert wird, üb als ein Ausgangsstrabi auszutreten. Der Eingangsstrabi 56 an das Dreikantprisia
ist parallel iu dem Ausgangestrahl 67,der reflektierend
daraus als ein Büokkehrstrahl projiziert wird. Tatsächlich
ist ersichtlich, daß die Strahlen 56, 65, 66 und 67 einen ununterbrochenes lleßstrabl einer Richtung bilden, wobei
die RüokkehrstrahlkoBponente 67 gegen das Prisma 42 des
einheitlichen prissatisohen Elementes 32 gerichtet ist.
Teilweise if.t in den Bückkebrlaufweg des MeBstrables 67
eine Tiertelwellen, pbasenmodifliierende Platte 70 eingefügt, die haftend an der Basis des Prismaε 42 befestigt
ist. Wie nachfolgend Tollständiger erklärt wird, ist die pbasendiffereniierende Platte 70 in die Bahn des luriiokgekebrten
MeBstrables 67 eingesetzt, um iwei phasendifferenz
siertt lompontfiten In dem fortlaufenden Innenstrabl 71
iu schaffen, wobei die beiden Komponenten desselben Yorsugswelsi
üb 90° phasenverschoben im Abstand angeordnet
sind (spaeed in quadrature)·
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8AO ORfGINAL
iur Trennung durch denselben in zwei Strahlkoaponenten
gerichtet, die diesbezüglich mit den feststehenden Längenbezugsstrahlkomponenten
57 und 58 koinzident sind.
Wie in den Fig. 1 und 3 dargestellt ist, ist die transparente Viertelphasenplatte 70 direkt mit der Basis
des Prismas 42 verbunden und ist mit einer oberen Querkante 74 versehen, die in einer Aeise senkrecht zu dem Scbeitel
des Prismas 45 steht» daß sie quer in den Laufweg des
reflektierend zurückgeführten Strahles 67 aus dem Dreikantprisma 60 eingefügt ist. Auf diese «eise teilt, wie in Fig.
gezeigt ist, die Vitrtelphasenplatte 70 den reflektiv zurückgeführten
Strahl in zwei innere phasendifferenzierte strahlkomponenten
71 und 71F. Wie vorher erklärt ist, werden die phasendifferenzierten Strahlenkomponenten 71 und 71P wieder
■it dem inneren Bezugsstrahl 55 längs der halbtransparenten Strahlspaltswischenflache $5 kombiniert. Nach .iiederkoabinierung
wird ersichtlich sein, daß die gespaltenen Bezugsstrahlkoaponenten 57 und 58, Fig. 1, jede mit den pbasendifferemierten
Strahlkoiponenten 71 und 71P des reflektiert zurückgeführten MeBstrables, Fig. 3t kombiniert sind. Diese
Verhältnisse sind deutlicher in den Fig. 4 und 5 gezeigt. Wie in Fig. 4 gezeigt ist, sind die phasendifferensierten
Strahlkoaponenten als 71 - 58 und 71P - 58 bezeichnet.
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Wie weiter in Fig. 4 gezeigt ist, sind die Zwischenflächenstreifenmuster
71-58 wirksam, um einen lichtempfindlichen Detektor 77 eines Photodetektors 78 tu
aktirieren, der an dem Gehäuse 35, Fig. 1, in richtiger
Ausrichtung mit den Bezugsstrahlkomponenten 58 befestigt
ist. In Fig. 1 ist der Photodetektor 83 an dem Gehäuse in einer Hellung befestigt, um die Bezugsstrahlkomponente
57 wirksam aufzunehmen. Λ
Wie in den Fig. 3 und 5 gezeigt ist, ist die geteilte BezügeStrahlkomponente 57 mit den inneren phasendifferenzierten
Meßstrahlkomponenten 71 und 71P kombiniert, um die getrennten Interferenzstreifenmuster 71 - 57 und
71P - 57 zu schaffen. Wie in Fig. 3 und 5 dargestellt,
ist jedoch der Photodetektor 83 so an der Trägerumhüllung befestigt, daß der lichtempfindliche Detektor 82 eingestellt
ist, um nur durch die Interferenzstreifenmuster m
71P - 57 aktiTiert zu werden. In ähnlicher Weise ist, wie Fig. 5 zeigt, das gleiche Verhältnis gezeigt, in welchem
der Photodetektor 83 so eingesttllt 1st, daß der lichtempfindliche
Detektor 82 in einer Stellung gehalten let, um nur durch einen rorherbestimmten 180°-Teil des Interferenzstreif
enmueters 71P - 57 aktiriert zu werden.
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BAO ORIGINAL
Die lichtempfindlichen Detektoren 77 und 82, die in den Fig. 4 und 5 dargestellt sind, können Hocbwiderstandssiliiiuaeinheiten
sein, Beim Vergleich der Fig. 4 und 5 ist ersichtlich, daß die Streifenmuster 71 - 58, Fig. 4,
um 90° phasenTerschoben (spaced in quadrature) im Abstand relati? zu den Streifenmustern 71P - 57 in Flg. 5 infolge
der Wirkung der Viertelphasenplatte 70, Fig. 3» sind. D%t
Ausgang aus den Detektoren 77 und 82 enthält zwei elektrisobe Signale 90° aufier Phase entsprechend der
Frequenz, die durch die sich ändernden phasendifferensierten, getrennten Sätze τοπ Interferenzstreifenmustern 71 - 58
und 71P - 57 erseugt wird. Die um 90° phasenTersohobenen
auf Abstand stehendenelektrisohen Signale S 71 - 58 und
SP 71 - 57 sind in den 90° phasenTerschobenen Stellungen
dargestellt, die aus den Detektoren 77 und 82 herrorgeben
und können rerbunden sein, um die reiersible Wirkung eines
biderektionalen (nicht geieigten) Zäblerstromkreisei iu
bewirken, der betätigbar ist, um sowohl die Richtung als das Ausmaß von relativer Bewegung «wischen dem einheitlichen
prismatischen Element 32 und dem prismatischen Heflektor
33, der in Fig. 1 gezeigt ist, iu bestimmen. *
Der Laser, welcher eine beronugte Lichtquellenform
für den in Fig. 1 dargestellten Interferometer
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bildet, ist in ?ereinfachter Fon in Fig· 2 geseigt.
Wie in der Technik bekannt ist, ist das Wort "Laser*
eine Abkürsung der .«orte "light amplification by stimulated
emission of radiation". «Vie in Fig. 2 geseigtf ist eine
Entlade- oder Plasmaröhre 88 in der Laser-Umschließung
oder fern Gehäuse 48 gehalten. An ihren entgegengesetsten Enden ist die Plasmaröhre 88 mit optisch flachen Oberflächen·
fenstern 89 und 90 Tersehen, die aus einem Stück damit gebildet und unter einem Brewster-Winkel geneigt sind.
Eine Endkonsole 91. die an dem Gehäuse 48 befestigt ist,
ist mit einem ebenen Spiegel oder "Endreflektor" 92 Tersehen, der an dem Hinterende des Plasmarohres* 88
axial fluchtend damit getragen wird. An dem Vorderende
der Plasmaröhre 88 wird eine teilweise reflektierende und kollimatisierende Linse 93 durch eine andere
Endkonsole 94 getragen, die an dem Gehäuse 48 befestigt ist. Die EntlsJeröhre 88 enthält Helium und Neon, welches
su erregten Entrgiehöben durch Strom erhöht ist» der an Eingangsleiter 91 und 98 τοη einer geeigneten nichtgeseigten
Quelle elektrischer Energie in bekannter Weise angelegt wird· Wenn dies geschieht, wird Licht Mischen
dem totalen Endreflektor 92 und dem sphärischen Reflektor 53, der in einer leise etwas weniger reflektl? ist, als der
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BAD
OÄfelNAL
Heflektor 92, daß er für übertragenes Liebt balbtransparent
ist, hin- und herreflektiert. Wenn diese Lichtwellen fortfahren, sich hin- und heriubewegen, wächst die
Amplitude bis ein kohärenter monochromatischer Lichtstrahl durch die halbtransparente, kombinierte sphärische
und kollimatislerende Linse 93 ausgesendet wird. Der kohärente Ausgangslichtstrahl 52 ist vorgesehen,
um das Interferometer nach Fig. 1 zu aktiTieren. Vorzugsweise ist der, schematisoh in Fig. 2 erläuterte Laser
ein einzigartiger ununterbrochener Helium-Neon-Gas-Laser,
der mit einer Wellenlänge τοη 6328 Angstromeinheiten arbeitet
und der geeignet ist, einen intensiven Lichtstrahl auszusenden, der besonders für die Langstreckenarbeit des
interferometrisohen Längenmeßinstrumentes geeignet ist, welches bierin offenbart ist.
Unter erneuter Bezugnahme auf Fig. 4 enthalten die dort gezeigten Streifenmuster 71-38 abwechselnde
Lioht- und Dunkelbänder, wobei ein Licht- und ein Dunkelband
während jedes einzelnen Betriebszyklus erscheinen. Während der Vorwärtsbewegung des prismatischen Reflektors
33t FIg* 1t gegen den leitstock 30 bewegen sich die
abwechselnden Licht- und Dunkelbänder des Interferenzstreifen-
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austere 71-58, Fig. 4, relativ zu dem ortsfesten lichtempfindlichen
Photodetektor 77 nach rechts. Zu der gleichen Zeit bewegen sich während der Vorwärtsbewegung des prismatischen
Reflektors die 90° Phasenabstands-Streifenauster 71P * 57, Fig. 5, relativ zu dem ortsfesten lichtempfindlichen
Photodetektor 82 nach rechts.
Umgekehrt bewegen sich während der Rückwärtsbewegung des prismatischen Reflektors 33, Fig. 1, von dem prismatischen
Element 32, Fig. 1, fort dl· Interferenzstreifenmuster 71 - 58, Fig. 4, relativ zu dem ortsfesten Photodetektor
77 nach links, und die Streifenauster 71P - 57, Fig. 5, bewegen sich ebenfalls relativ zu dem lichtempfindlichen
Photodetektor 82 nach links. Während der Relativbewegung des prismatischen Reflektors in jeder gewählten Richtung
wird er um eine Strecke bewegt, die einer Lichtwellenlänge während jedes Betriebszyklus entspricht. Eine abgewandelte
Fora der Erfindung ist scheaatisoh in Flg. 6
dargestellt, in welcher ein einheitliches strahlprojizierendee prismatisches Element 102 zur Bewegung relativ zu einem
prismatischen Strahlreflektor 104 getragen wird. Ua die Offenbarung zu erleichtern, wird es verständlich sein, daß
der prismatische Reflektor 104 an einem Werkstück- oder
Arbeitetiech, wie dem Arbeitstisch 17, befestigt 1st, dtr
mmn/QirB -1^
BAD ORiQOiAL
iur geradlinigen Längsbewegung relativ zu einei feststehenden
Bezugsmaschinenteil oder Reitetook 30 getragen wird. In
gleicher weise ist das einheitliche strahlprojiiierende
Element 102 feststehend an dem Mascbinenreitstook 30 in
einem vorherbestimmten festen Verhältnis tu dem Laser 48 befestigt, welcher Ton dem Tragglied 49 getragen wird.
nie Torber erklärt, ist der Laser 4Θ mit einer kombinierten
halbreflektierenden, sphärischen und lichtdurchlässigen kollimatisierenden Linse 93 versehen, die geeignet
ist, für einen intensiven monochromatischen Lichtstrahl zur Projizierung an das prismatische Element 102 zu sorgen.
Obwohl derselbe in Fig. 6 nur schematisoh dargestellt ist,
ist es verständlich, daß der Laser 48 in einem vorherbestimmten,
feststehenden Verhältnis au dem einheitlichen strahlproj!zierenden prismatischen Element 102 gehalten
wird. Ferner wird der prismatische Reflektor 104 zur längsgerichteten geradlinigen Bewegung längs einer Bahn parallel
zu dem Laser-Ausgangsstrahl 52 sowohl wie zu dem variablen
Längenmeßstrahl getragen der aus dem prismatischen Element 102 nach auswärts projiziert wird.
Wie in Flg. 6 dargestellt ist, enthält du einheitliche
prismatische Element 102 ein Prisma 107, welches
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baftend Mit einen Prism* 108 längs einer halbversilberten
Zwischenfläch· 109 Terbunden ist, die einen halbtransparente
η und teilweise reflektierenden Lichtstrahlepalter umfaßt.
Der Liobtstrablspalter oder die Zwischenfläch· 109 kann
sowohl den Auegangsstrahl 52 in zwei gespaltene Strahlen teilen, als auch die gespaltenen Strahlen zur Erzeugung
yon Interferonestreifenaustern wieder kombinieren.
Anfangs kann, wie in Fig. 6 gezeigt ist, der teilweise reflektierende Strahlspalter 109 eine Hälfte des Strahles
52 längs einer senkrechten Bahn reflektieren, die als eine Bezugestrahlkoaponente 112 bezeichnet ist. Insoweit, wie der
Strahlspalter 109 teilweise lichtdurchlässig ist, wird die andere Hälfte des Ausgangsstrahles 52 als ein Spaltstrabi
113 hindurch übertragen, der gegen den prismatischen Reflektor 104 projisiert wird, üb einen variablen Längenmeßstrabl
zu bilden. Obwohl andere Fersen τοη reflektierenden
Mitteln lit der gleichen Wirkung benutit werden können, enthält der prismatisch· Reflektor 104 vorzugsweise ein Dr*ikantprismft
120. Wie vorher erklärt, ist ein Dreikantpritma in
einer Weise mit drei wechselseitig senkrechten Fliehen versehen,
dsJ eis daran gerlobteter Eingängestrahl, wie Fig·
zeigt, drei innere Reflektieren hervorruft, und längs einer
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Rüokkehrbahn austritt, die parallel su den Eingangsstrabl
ist. Der durch das prismatische Element 102 profilierte Strahl 115 tritt in das üreikantpriima
120 ein, wird darin als eine Strablkomponente 114 reflektiert, die als eine Strahlkoaponente 115
reflektiert wird, welch letstere reflektierend aus de& Dreikantprisma als eine Äückkebrstrablkomponente
116 austritt, die parallel su des Strahl 113 ist.
So bildet der Lichtstrahl 113 susaamen alt den Strahlkomponenten 114, 115 und 116 einen ununterbrochenen
Meßstrahl einer Richtung, der in der Länge gemäß der Einstellungsbewegung des Dreikantprismas
relati? su des strabiprojisierenden prismatischen
Element 102 rariiert. Tatsächlich wirkt das Dreikantprisma 120, um den Eingangsstrahl 113 in einen auf
Abstand stehenden parallelen Rückkehrstrahl 116 su
falten.
rule in den Flg. 6 und 7A geseigt ist, ist eine
Viertelwellenplatte 121 haftend mit einem Teil der Basis
des Prismas 108 Ttrbuuden. Die phasenmodifizierende
Platte 121 ist mit einer Querkante 122 rersehen, die
so angeordnet ist, um den reflekti? surüokgeführten
Meßstrabl 116 in swei benachbartt, pbasendifferensierte
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Strahlkoaponenten 117 und 117P zu teilen, wie
in Fig. 7Δ gezeigt ist. Die Platte 121 wirkt, um die Strahlkomponente 117P eine Viertelwellenlänge
relativ zu der Strahlkomponente 117 zu verzögern. Naoh Hindurchgang durch die Viertelwellenplatte
121 und Eintritt in das Prisma 108 werden die phasendifferenzierten
Strahlkomponenten 117 und 117P innen durch eine innere reflektierende Fläche 124 reflektiert,
die mit dem Prisma 108 aus einem Stück gebildet ist. Kacbdem sie durch die innere Prismenfläche 124 reflektiert
sind, werden die phasendifferenzierten Strahlkomponenten des reflektierten Strahles 118 wieder Bit der Bezugsstrahl-
komponente 112, Fig. 6 und 7, längs der halbtransparenten
Strahlspaltungszwischenflache 109 kombiniert. Um deutlicher
die sich ergebenden Interferenzstreifenmuster zu identifizieren, die in Abstand angeordnet 90° phasenverschoben
sind (spaced in quadrature) sind die Streifenmuster in den Fig. 7 und 7A als 118 - 112 und 1181 - 112 bezeichnet.
In dem optischen in den Flg. 6, 7 und 7A offenbarten
Stromkreis ist ersichtlich, daß kein optischer Kreis,
oder innere Heflektoren für den Bezugsstrahlweg erforderlich sind. Tatsächlich ist kein Bezugsstrahl wirklich an sich
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als ein Bezugsstrahl geseigt oder dargestellt. Mit anderen
Porten verläuft der Bezugsstrahl in Fig. 6 tatsächlich Ton der sphärischen Laser-Linse 93 an den Strablspalter
und enthält nur jene eine Hälfte des Interferoietereintrittsstrahles
52, der nicht durch den Strahlspalter durchgelassen wird, um als der Einbalb- oder SpaltaeBstrabl
113 projiziert zu werden. In gleicher Meise wird,nachdem
der Meßstrahl seinen optischen Kreis in einer Richtung ton dem Strahlspalter 109 Tollendet hat und daran als
phasendifferenzierte Strahlkomponenten 118 und 118P Fig. 7A zurückgeführt ist, der Strahlspalter 109, um diese
Strahlkomponenten mit jener einen Hälfte des Eintrittstrahles 52 wieder zu kombinieren, die nicht durch den
Strablspalter 109 übertragen oder hindurchgelassen worden ist. üementprechend werden phasendifferenzierte Streifenmuster
118 - 112 und 118P - 112 vorzugsweise auf Abstand stehend um 90° phasenverschoben, unmittelbar bei der
Wiederkombinierung erzeugt, um eine Anzeige der Richtung
und des Ausmaßes der Relativbewegung zwischen dem strahlprojizierenden
prismatischen Element 102 und dem prismatischen Strahlreflektor 104 zu bilden.
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Von der balbtransparenten Zwischenflache 109,
Fig. 6, sind die pbasendifferenzierten Interferenzstreifenmuster
118 - 112 und 118P - 112, Fig. 7 und 7A, gegen Pbotodetektoren 123 bzw. 126 gerichtet, die an
einer Seitenfläche des Prisaas 107 befestigt sind. Die Pbotodetektoren 125 und 126 sind diesbezüglich
mit lichtempfindlichen Detektoren 129 und 130 Tersehen,
die diesbezüglich auf die pbasendifferenzierten Streifen- ^
muster 118 - 112 und 118p - 112 ansprechen, /de ycrber erklärt, sind die lichtempfindlichen Detektoren 129
und 130 so angeordnet, um alt einem bidirektionalen
als das Ausmaß eier Relativbewegung zwischen dem relativ
bewegbaren prismatischen Reflektor 104, Fig* 6, un dem
einheitlichen prismatischen Eleaent 102 anzuzeigen.
andere abgewandelte Fora der Erfindung dargestellt, die ein etrablprojisierendes prismatisches Element
134 und einen relativ bewegbaren prisaatischen Reflektor
135 enthält· Wie in Fig. 8 gezeigt ist, kann der
prismatische Strahlreflektor 135 ao dem Werkstückträger
17 befestigt iiis, der iur Längsbewegung durch nichtgezeigte
909834/0719 _22-
Maschineniührungsbabn«B relati? zu dem Maschinenbezugsteil
oder teitstoek 30 einer Maschine getragen wird. In gleicher
Weise ist das einheitliche strahlprojizierende prismatische
Element 154 feststehend an dem Üaschinenreitstock 30 in vorherbestiamtea
feststehenden Verhältnis zu dem Laser 48 befestigt, der durch das an dem iiaachinenreitstock befestigte
Traggehäuse 49 getragen wird·
rUe in Fig. 6 dargestellt, kann die kombinierte
sphärische ileflektor- und Kollimatisatorlinse 93 des Lasers
48 eiaei^aenoohroaatischen Lichtstrahl 32 vertikal nach
aufwärts gegen ein Prisma 137 projizieren. Las Prisma ist haftend Bit einem Prisma 138 verbunden, welches seinerseits
haftend mit einer Seitenfläche eines Pentaprismas verbunden ist. Auf diese /.eise enthält das einheitliche
et-rahlprojizierende prismatische Element 134 in Fig. 8
die drei Prismen 137, 138 und 139.
Eine halbversilbert» Zwiacbenflache 140 zwischen
den Prismen 137 und 138 bildet eine halbtrausparente
und halbreflektierende Strablspaltungsschicht, die in einer üfeise ähnlich dem vorher beschriebenen Strahlspalter
funktioniert. Nur eine Hälfte des eintretenden Lichtstrahles 32 von dem Laser 48 wird durch den Strahl-
909834/0719 "23"
spalier 140 hindurchgelassen, um sich als Meßstrahlkomponente 143 fortzusetzen. Die andere Hälfte des
eintretenden Lichtstrahles 52 wird reflektiert, wobei wie vorher erklärt, sich diese Komponente mit dem
reflektiy zurückgeführten Meßstrabi kombiniert, um Interferenzstreifen zu bilden, Auf diese weise enthält
der Bezugsstrahl in dem in Fig. 8 dargestellten Interferometer nur jene eine Hälfte des eintretenden
Lichtstrahles 52, die nicht durch den Strablspalter 140 übertragen oder durchgelassen ist.
Die bindurchgelassene Meßstrablkomponente 143
wird im Innern durch eine reflektierende Prismenfläche
147 längs einer winkligen Bahn als eine Strahlkomponente
148 reflektiert. Die Meßstrahlkomponente 148 wird
wiederum im Innern durch eine winklig reflektierende Fläche 1b0 des Pentaprismas 159 reflektiert und setzt
sich als eine Meßstrahlkomponente 151 fort. Eine träneparente Viertelwellenplatte 153 ist haftend mit einer
Seitenfläche des Pentaprismas 139 in einer Weise Terbunden, um in eine Hälfte des Laufweges der Meßstrahlkoaponente
eingefügt zu werden, die von der reflektierenden Fläche des Pentaprismas 139 n&Cß auswärts projiziert wird. Wie in
Fig. TO gezeigt ist, ist die an der Basis des Pentaprisaas
$0-98 34/0719 _ 9A
—24— * BAD ORIGINAL
159 befestigte transparente Viertelwellenplatte mit einer Querkante 134 versehen, die so wirkt,um
den projizieren Strahl 131 in die zwei um 90° phasen-Terschobenen phasendifferenzierten Strahlkomponenten 133
und 133P zu teilen. Die beiden angrenienden nach auswärts projizieren Strahlkomponenten sind gegen den
prismatischen Strahlreflektor 153 gerichtet, der in Fig. 8
so dargestellt ist, daß er ein Prisma 136 enthält. fiie Torher erklärt, ist ersichtlich, daß der
prismatische Reflektor 153 ein Breikantprisma enthalten könnte, insoweit, wie das Haupterfordernis darin besteht,
daß sich die Eingangs- und Ausgangestrahlen in roneinander
getrennter Parallelität befinden. tVie in Fig. 8 gezeigt ist, werden die τοη dem Pentaprisma 159 nach auswärts projezierten
Strahlkomponenten innen durch eine reflektierende Fläche 137 des Prismas 136 längs eines inneren Strabllaufweges 138
reflektiert. In ähnlicher fteise sind die phasendifferenzierten
Strahlkomponenten von dem Laufweg 138 durch die reflektierende Fläche 139 des Prismas 136 längs einer Rückkehrbahn
gerichtet, die als der strahl 160 bezeichnet ist. Die in dem reflektierten rückgeführten Strahl 160 Torgesebenen phasendifferenzierten
Strablkomponenten sind in der gleichen Abstandsparallelität zu den phaeendifferenzierten
9098 3 4/0719 ^ -
Strahlkomponenten in de« StrabX 155 aufrechterhalten,
ideses Verhältnis let deutlicher in Fig. 10 dargestellt,
in welcber die phaaendifferenzierten Strahlkomponenten 160
und 160P wieder in die Basis des Prismas 138 in richtiger
Ausrichtung zur Wiederkombinierung mit dem Dichtübertragenen Bezugsstrablteil des Strahles 52 längs des Strahispalters
eintreten. Nach Wiederkombinierung längs der Strahlspaltungaawischenflacht
140 sind die sich ergebenden pbasendifferenzierten Interferenzstreifenmuster 160 - 145 und 160P - 145
längs entsprechenden benachbarten Bahnen gerichtet, um ein Paar Pbotodetektoren 165 bzw. 166 su betätigen, die an einer
Seitenfläche 167 des Prismas 137 befestigt sind..Die Pbotodetektoren
165 und 166 sind diesbezüglich mit lichtempfindlichen
Detektoren 169 und 170 versehen, die durch die phasenäifferenzierten
Streifenmuster 160 - 145 und 160P - 145 aktiviert werden können.
Eine andere abgewandelte Form der Erfindung ist in Fig. 11 gezeigt, in welcher Masken oder Gitter benutzt sind,
um für ein Mittel zur Erzielung von Iiicbtungsempfindlichkeit
bei der elektronischen Zählung der Interferenzstreifenmuster in einem Distanzmeßinterferometer zu sorgen. Aie dort gezeigt
ist, ist der eintretende Laser-Lichtstrahl 52 gegen das Prisma 175 gerichtet, welches in dem rechtwinkligen Gehäuse
$09834/0719
176 fernhalten ist. Das Frisaa 175 ist haftend Mit dea
Priiit 177 längs einer balbversilberten Zwischenfläche
?erbundenv die einen Strahlspalter enthält. Das frlsaa
seinerseits ist haftend ait tinea Prisma 179 längs einer balbtersilberten Zwischenflacht 180 yerbunden, die einen
Strahlspalter und eine otrahlwiederkoabinierungaschicht
UBfaBt. Wie Torher erklärt, enthalten die drei Priseen ein
einheitliches prismatisches El β »ent, welches wirkeaa Ist,
einen variablen Längenaeßstrabl gegen einen prisaatisehen
Reflektor 183 zu richten, der zwei reflektierende Flächen hat.
Der eintretende Lichtstrahl 52 aus dem Laser 48 wird durch den Strahlspalter in zwei Spaltstrahlen geteilt,
die einen inneren Bezugsstrahl 183 und einen nach auswärts
profilierten Meßstrahl 186 einschließen. Der auswärts projizierte Strahl 186 wird durch eine erste reflektierende
Fläche des Prismas 183 als eine quergerichtete Strahlkoaponente
189 reflektiert. Danach wird die Strahlkoaponente 189 nach auswärts durch eine zweite reflektierende Fläche des Prismas
183 als ein Mckkehrstrahl 190 reflektiert..Hie Torher erklärt,
bilden die Strahlen 186, 189 und 190 einen ununterbrochenen Meßstrahl, wobei der reflektierend zurückgekehrte Strahl
in Abstandsparallelität zu dem Strahl 186 angeordnet ist.
909834/0719 _27„
179 ein und wirkt mit dem Bezugsstrahl 185 kombiniert,
um Interferenzstreifenmuster zu entwickeln. Die Wiederkombination
wird längs der halbTersilberten Zwischenfläche
180 ausgeführt, die ebenfalls wirkt, um die wiederkombinierten Strahlen in zwei Spaltstrablen τοη Streifenmustern 193
bzw. 194 zu teilen. Die Interferenzstreifenmuster 193 und
194 sind identisch und sehen die gleiche Folge von abwechselnd
Dunkel- und Lichtbändern Tor. Die Interferenzstreifen 193 sind nach auswärts gegen ein Strablvergrößerungs-Teleskop
gerichtet, welches in einem rohrförmigen Gehäuse 196 enthalten ist, das mit dem Gehäuse 176 geformt ist.
197 und 198, wobei die letztere in dem rohrförmigen Gehäuse 196 durch einen fiing 199 zentriert ist. Die Linse
198 bewirkt eine Stranlausdehnungsdivergenz der streifenmuster
193. Als nächstes wirkt die Kollimatisierungslinse 197, um
den divergenten Strahl in die parallel erweiterten Streifenmuster 193-ü zu kollimatisieren.
In einer ähnlichen »eise sind die Streifenmuster 194
gegen eine strahldivergierende achromatische Linse 203 gerichtet, die durch einen Hing 204 in einem rohrförmigen
Gehäuse 205 befestigt ist. Der divergierende Strahl wird
909834/0719
dann durch die Linse 206 in einen gut kollimatisierten
erweiterten Strahl τοη Streifenmustern 194E übertragen.
Wie in Fig. 11 geseigt ist, enthält der expandierte Strahl aus Streifenmustern 194E drei dunkle Bänder und drei
abwechselnd im Abstand stehende Lichtbänder, wobei die
Gesamtheit der sets Bänder identisch den sechs Bändern der Interferenzstreifenouster 193E entspricht.
erweiterten Strahl τοη Streifenmustern 194E übertragen.
Wie in Fig. 11 geseigt ist, enthält der expandierte Strahl aus Streifenmustern 194E drei dunkle Bänder und drei
abwechselnd im Abstand stehende Lichtbänder, wobei die
Gesamtheit der sets Bänder identisch den sechs Bändern der Interferenzstreifenouster 193E entspricht.
Ein wuertragarm 210, der an dem rohrförmigen Gehäuse
205 befestigt ist, ist mit einer im Abstand angeordneten Verlängerung 211 rersehen, an welcher ein Photodetektor
212 durch die Schrauben 214 befestigt let. Mittels dieser Anordnung kann der Photodetektor 212 einen lichtempfindlichen Detektor 215 in feststehendem ortsfestem Verhältnis EU den Streifenmustern 194E tragen.
212 durch die Schrauben 214 befestigt let. Mittels dieser Anordnung kann der Photodetektor 212 einen lichtempfindlichen Detektor 215 in feststehendem ortsfestem Verhältnis EU den Streifenmustern 194E tragen.
Eine einstellbare Maske 218 ist zwischen den. Detektor
215 und die Streifenmuster 194E eingeschaltet. .Ue schtmatiscb
in Fig. 11 gezeigt 1st, wird die Maske 218 beweglich durch eine Einstellstange 219 gehalten, die sich durfch dtn
Photodetektor erstreckt, und die an ihrem entgegengesetsttn
Ende an dem Tragarm 210 befestigt ist. Eine Feder 220 drängt normalerweise die Maske nach rechts in den Eingriff mit einer
Einstellmutter 222, die auf das rechte Ende der ortsfesten
909834/0719
Stange 219 aufgeschraubt ist. Hit dec Streifenmustern 194E,
wie in Fig· 11 gezeigt, angeordnet, iet die Maske 218
so eingestellt, daB die darin gebildeten geschlitzten
Offnungen 224 alt Bezug auf die dunklen und hellen Bander,
welche die Streifenmuster bilden, üb 90° verschoben sind.
Insoweit wie die Anordnung zum Halten eines lichtempfindlichen Detektors 215A und der Maske 21ΘΑ relativ
zu den Interferenzstreifen 193£ identisch ist, sind entsprechende Teile durch Hinzufügung eines Buchstabens A
hinter jedes der Bezugszeichen bezeichnet*
Lie Maske 218A wird durch Betätigung der Sinstellmutter
222A in einer A'eise eingestellt, daB die Maskenöffnungen 224A mit den Idchtbändern des Interferenzstreifenaustere
193E ausgerichtet sind. JJa so die Streifenmuster 193E mit
den StreifenBustem 194E identisch sind, sind die geschlitzten
Öffnungen 224A der Maske 218A 90° mit Bezug auf die geschlitzten
Öffnungen 224 der Maske 218 verschoben. Es ist daher ersichtlich, daB die vorherbestimmte Verschiebung zwischen
den Masken 218 und 218A gleich einhalb der Breite
eines der Lichtbänder des Streifenmusters ist.
tfann immer das Prisma 183 veranlaßt wird, sich relativ
zu dem prismatischen Gehäuse zu bewegen, werden die sich
-30-
»Ö9834/071Ö
- — — * BAD ORIGINAL
ergebendtn Streifenmuster 193E und 194E die lichtempfindlichen
Detektoren 215A und 215 aktlTieren, us daB Ausmaß dtr relati-Ttn
Bewegung anzuzeigen. Außerdem werden mit den Maiken und 21ΘΑ um 90° Terscbobtn, die Detektoren 224 und 224A
in einem Toreilenden oder nacheilenden Verhältnis aktiriert,
wat τοη der Richtung der Relativbewegung abhängt. Daher lind
die Detektoren 224 und 224A so verbunden, um einen nicbtgeseigten
bidirektionalen Zähletromkreis iu betätigen, um sowohl
die Richtung ale das Ausmaß der Bewegung amuse igen.
In Fig. 12 ist eine Ansicht der Maske 218 im AufriS
dargestellt, um die Form der geschlitzten öffnungen 224 besser tu zeigen.
Obwohl die beispielsweise^ Ausführungen der Erfindung
in erheblichen Einzelheiten sur Offenbarung rerscbiedener
Formen τοη praktischen, die Erfindung Terkörpernden Apparaten
gezeigt sind, ist es Terständlich, daß die besonderen gezeigten und beschriebenen Gebilde nur Beispiels sind und daß die
Terschiedenen Merkmale der Erfindung im Rahmen derselben
in anderen Ausführungen verkörpert sein können.
-31-
Claims (8)
1. Interferometer, gekennzeichnet durch ein prismatisches Element (32) mit einem teilweise lichtdurchlässigen
Strahlspalter (43), welcher wirksam ist, einen eintretenden Lichtstrahl in zwei divergierende Spaltstrahlen zu teilen,
die einen Bezugsstrahl und einen variablen Längenmeßstrahl
enthalten, einen relativ bewegbaren prismatischen Reflektor (33). der den Meßstrahl (56) aus dem Strahlspalter aufnehmen
kann und geeignet ist, einen getrennten parallelen Strahl (67) reflektierend gegen das prismatische Element
zurückzuführen, ferner einen anderen durch das prismatische Element (32) getragenen Heflektor (45),welcher eingestellt
ist, um den reflektiv zurückgeführten Meßstrahl (67) von dem prismatischen Reflektor (33) aufzunehmen und der wirksam
ist, um den zurückgekehrten Strahl reflektiv gegen den
,Strahlspalter (45) zurückzurichten, um ihn mit dem Bezugsstrahl zu kombinieren, um Interferenzstreifenmuster zu erzeugen,
sowie weiter eine durch die Interferenzstreifenmuster betätigte Zählvorrichtung.
2. Interferometer nach jtospruch 1, gekennzeichnet durch
eine festehend angeordnete Laser-Lichtquelle, um einen
kollimatisierten Strahl kohärenten Lichtes gegen den Strah1-
$09834/0719
BAD
teiler (43) des prismatischen lleaentes zu richten, wobei
die Heflektoren (33) ao angeordnet sind, um für einen Laufweg
in einer Richtung für den variablen Längerimeßstrahl zu
sorgen.
3· Interferometer nach den Ansprüchen 1 und 2, gekennzeichnet
durch eine in einen der Spaltstrahlen eingesetzte ^uerstufe (70), um pbasendifferenzierte Strablkoaponente11 in dem zügeordneten
Strahl und in den Interferenzstreifen zu schaffen.
4. Interferometer nach den Ansprüchen 1 und 2, gekennzeichnet
durch eine geschlitzte wirksam indie Bahn der Interferenzstreifenmuster Ton dem Strahlspalter und die Zählvorrichtung
eingesetzte Maske (212), um sowohl die Richtung als das Ausmaß der Bewegung von dem prismatischen Reflektor relativ
zu dem prismatischen Element zu bestimmen.
5. Interferometer nach den Ansprüchen 1, 2, 3 und 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Zählvorrichtung Fhotodetektoren
(215, 215A) enthält, die auf Interferenzstreifenmuster ansprechen.
6. Interferometer, gekennzeichnet durch ein prismatisches Element (32), welches einen ersten und einen zweiten
Strahlspalter (43,45) aufweist, die in feststehendem WinkelTerhältnie angeordnet sind, ferner einen so
ÖÖ9S3WÖ719 ^ .33.
eingestellten Laser (88), um einen kolliaatisierten Strahl
(52) kohärenten Lichtes gegen den ersten der Strahlspalter zu richten, um ihn in die beiden divergierenden Spaltstrahlen
zu teilen, τοπ denen einer ein feststehender Längenbezugsstrahl
(55) ist, der gegen den zweiten Strahlspalter gerichtet ist, ein im Abstand angeordneter relatir bewegbarer
prismatischer Heflektor (33)» der geeignet ist, den anderen (56) der genannten Spaltstrahlen von des ersten Strahlepalter
aufzunehmen und reflektierend einen parallelen Meßstrahl (67) gegen den zweiten Strahlspalter (45) zurückzuführen zwecks
.ιiederkombination mit dem feststehenden Längenmeßstrabl,
usi Interferenzstreifen zur Bestimmung des Bewegungsausmaßes
zwischen dem prismatischen Clement (32) und dem prismatischen
Reflektor (33) zu bilden.
7· Istertoomet©!5 nach Anspruch 6r gekennzeichnet durch
eine abge«tuftt Qbsriläsh® (70) in Sem prismatischen El®mtBi8
die wirkgas angeordnet ist ,um phassmliiferensiertis StrahlkompoB@nt@n
ia tiaea der Spaltstrahlen aus am treten
Str&hlBpsltar (43) yor^üsshen, um entsprechende
differenzierte Sirahikomponentes in dos
su seb&ffsn, die in am wiidfrko»btsi@rt®Q Utr&hlm aus
. itiite» Stra&lspültey (45) gebildet sind.
8. Interferometer nach den Ansprüchen 6 und 7, gekennzeichnet durch so eingestellte fbotodetektoren, us
durch die Interferenzstreifen zwecks Anzeige des Ausmaßes der Relativbewegung zwischen dem prismatischen
Element (32) und den prismatischen Reflektoren (33) betätigt EU werden.
Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US47572065A | 1965-07-29 | 1965-07-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1548250A1 true DE1548250A1 (de) | 1969-08-21 |
Family
ID=23888828
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19661548250 Pending DE1548250A1 (de) | 1965-07-29 | 1966-06-10 | Interferometrisches Messsystem |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3756722A (de) |
CH (1) | CH465892A (de) |
DE (1) | DE1548250A1 (de) |
GB (1) | GB1108214A (de) |
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- 1966-06-03 GB GB24972/66A patent/GB1108214A/en not_active Expired
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- 1966-06-16 CH CH869066A patent/CH465892A/de unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3756722A (en) | 1973-09-04 |
CH465892A (de) | 1968-11-30 |
GB1108214A (en) | 1968-04-03 |
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