DE1489518A1 - Light-emitting diode and process for their manufacture - Google Patents

Light-emitting diode and process for their manufacture

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Description

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFTSIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT

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Lumineszenzdiode und Verfahren zu ihrer HerstellungLight-emitting diode and process for their manufacture

Lumineszenzdioden sind Halbleiterdioden mit pn-übergang, die bei Anlegen einer Spannung in Durchlaßrichtung am pn-übergang und in dessen unmittelbarer Umgebung ungerichtete, inkohärente elektromagnetischeLuminescence diodes are semiconductor diodes with a pn junction, which when applied a voltage in the forward direction at the pn junction and undirected, incoherent electromagnetic in its immediate vicinity

NeueNew

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.2Nr..2 No.

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'trahlunp im infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Spektral-Vereinh aussenden. AIo Halbleitermaterial für diese Lumineseenzdioden sind insbesondere III-V-Verbindungen geeignet. Beispielsv/eiae emittieren- Lumineazenzdioden aua Galliumarsenid Strahlun-r im infraroten und T.urinec.enzrlioden nun Galliumphosphid Strahlung: im sichtbaren Spektralbereieh. Die Wellenlänge der.emittierten Strahlung iet abhängig von der Breite der verbotenen Energie^öne des Halbleit.ermate- · rials. Die Lumineszenzdioden sind für optoelektronische Anwendungen der versohledensten Art geeignet. Beiapieliaweiae kennen mit ihrer Hilfe elektrische'Signale in Lichtsignal* umgewandelt werden· und d.amit auf optieohem We,nj übertrafen v/erden. ?ür zahlreiche Anwendungen, insbesondere für die Übertragung von Signalen über größere Strecken, ist es wüneohenswert, daß die Lichtleistung· der ILumlneszenzdioden möglichet groß ist. Der Lichtleistung sind" jedoch durch die ptrombelastbarkeit und die optiaohen Eigenschaften des für die !Diode verwendeten.Rajlbieitermateri&ls Grenzen gesetzt. -'Emit trahlunp in the infrared, visible or ultraviolet spectral association. AIo semiconductor material for these luminous diodes III-V compounds are particularly suitable. For example, luminescent diodes also emit gallium arsenide radiation in the infrared and T.urinec.enzrlioden now gallium phosphide radiation: in the visible Spectral range The wavelength of the emitted radiation depends on the width of the forbidden energy tones of the semiconductor. rials. The luminescence diodes are for optoelectronic applications suitable for the most spanking kind. Beiapieliaweiae know with their Help electrical 'signals are converted into light signal * and so on optieohem We, nj exceeded v / earth. for numerous applications, especially for the transmission of signals over longer distances, it is worthwhile that the light output of the luminescent diodes is possible large. However, the light output is limited by the current load capacity and the optiaohen properties of the Rajlbieitermateri & ls used for the diode.

Bei den übllohen Luminestenzdioden mit •oHeibenfßTmi-gen HalbleiterkHrpern treten groie Verluste an Liohtintei^eitÄt durch Totalreflexion der am pn-übergang ausge»andten Strahlung an den Begrenzungflächen dea RalbleiteTlttJrpers auf. Es ist bekannt, daß die durch Totalreflexion bedingten Verluste weitgehend durch halbkugelförmi^e Eisbildung der einen Sone des Halbleiterkörper3 der Lumineiaenadiode vermieden werden kennen. Damit das vom pn-übergang ejalttiarte Licht im wesentlichen senkrecht auf die Halbkugel fläche auf triff tt awß dabei der Durchiaea- »er der strahlenden Fläohe des ρη-ttbergenga klein gegenüber dem Radius der Halbkugel sein. Dta bei den bekannten Luaineszenzdioden die Ladun^s-In the case of the ordinary luminous diodes with semi-conductor bodies, large losses of lithium ink occur due to total reflection of the radiation emitted at the pn junction at the boundary surfaces of the conductive body. It is known that the losses caused by total reflection are largely avoided by hemispherical ice formation in one of the sons of the semiconductor body 3 of the luminescent diode. So that the light ejalttiarte pn junction is substantially perpendicular to the hemispherical surface to Meet t t AWSS doing "the Durchiaea- he the radiant Fläohe of ρη-ttbergenga small compared to the radius of the hemisphere to be. Dta with the well-known Luaineszenzdioden the charge

0RIGlNAL0RIGlNAL

:- '' '- ■'■ · ' PLA 65/H58 : - '' '- ■' ■ · 'PLA 65 / H58

trägerkonzentration in den beiden., den pn-übergang einschließenden Zonen des Halbleitejrkörpers und auch in dessen halbkugelförmigem Teil verhältnismäßig groß ist, wird jedoch die emittierte Strahlung innerhalb der Lumineszenzdiode teilweise wieder absorbiert. Da die Absorptionsverluste mit wachsender Dicke des durchstrahlten Halbleitermaterials ansteigen und daher bei wachsendem Radius der Halbkugel immer stärker ins Gewicht fallen, sind dem Halbkugelradius Geizen gesetzt, da Verluste an Lichtleistung gerade vermieden werden sollen. Da der Durchmesser der strahlenden Fläche des pn-Übergangs klein gegenüber dem Kugelradius sein muß, wirkt sich die Begrenzung des Kugelradius auch auf die strahlende Fläche des pn-Übergangs aus. Realisierbar sind etwa Halbkugelradien von 1 mm und dementsprechend Durchmesser der strahlenden Fläche des pn-Übergangs von etwa 0,4 mm. Da eine zu starke Erwärmung der Lumineszenzdiode vermieden werden muß, wird durch die kleine Fläche des pn-Übergangs auch die Strombelastbarkeit der Diode und damit die erzielbare Lichtleistung begrenzt.carrier concentration in the two., including the pn junction Zones of the semiconductor body and also in its hemispherical Part is relatively large, however, the emitted radiation is partially absorbed again within the light emitting diode. Since the Absorption losses increase with increasing thickness of the irradiated semiconductor material and therefore with increasing radius of the hemisphere The hemispherical radius is more and more important, since losses in light output are precisely avoided should. Because the diameter of the radiating surface of the pn junction must be small compared to the spherical radius, the limitation of the spherical radius also affects the radiating surface of the pn junction the end. Hemispherical radii of 1 mm and the corresponding diameter of the radiating surface of the pn junction of about 0.4mm. Since excessive heating of the light emitting diode must be avoided, the small area of the pn junction also means the current-carrying capacity of the diode and thus the achievable light output are limited.

Die Erfindung betrifft eine Lumineszenzdiode aus einem im wesentlichen halbkugelförmigen, einen pn-übergang enthaltenden Halbleiterkörper, dessen Ealbkugelradius größer als der Durchmesser der strahlenden Fläche des pn-Überganges ist und bei welcher die genannten Nachteile nicht auftreten und sowohl die Reflexions- als auch die Absorptionsverluste weitgehend vermieden sind. The invention relates to a light emitting diode consisting essentially of one hemispherical semiconductor body containing a pn junction, the Ealbkugelradius greater than the diameter of the radiating The area of the pn junction is where the disadvantages mentioned do not occur and both reflection and absorption losses are largely avoided.

Die Lumineszenzdiode ist gemäß der Erfindung so ausgebildet, daß in dem an die eine der beiden den pn-übergang einschließenden Halbleiterjonen angrenzenden, im wesentlichen halbkugelförmigen Teil des HaIb-Ieiterl:örpers die Ladungsträgerkonzentration kleiner ist als in denThe light emitting diode is designed according to the invention so that in to one of the two semiconductor ions enclosing the pn junction adjacent, essentially hemispherical part of the half-conductor body the carrier concentration is smaller than in the

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BADBATH

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Ζ'Ζ '

beiden, den pn-übergang einschließenden Halbleiterzonen.two semiconductor zones enclosing the pn junction.

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Durch die Verwendung von Halbleitermaterial mit kleinerer trägerkonzentration für den- an die eine der beiden den pn-übergang einscl*S.ießenden Halblei terpenen angrenzenden halbku^elföriiig-in Teil d*es Halbleiterkörpers werden bei der Lumineszenzdiode genäß der. Erfindung ge~ennher. den bekannten Lumineszenzdioden die Absorptior?- verl^^te stark herab£ecetzt, da die Absorption der Strahlung durch freie Lqrciunps träger vermindert wird. Der Radius der Hnlbku.^el und damit der Durchmesser der strahlenden Fläche des pn-Überr;ange kann daher gegenüber, den bekannten Lumineazenzdioften vergrößert werden.-. Die Vergrößerung der Fläche des pn-Überp;angs hat wiederum eine" . , stärkere P.elßstbarkeit und damit eine Erhöhung der erziel baren Lichtleistung zur FoI^e. · ·By using semiconductor material with a lower carrier concentration for one of the two, the pn junction one semicircular adjoining semicircular semicircular-in part d * es semiconductor body are genäß the in the light emitting diode. invention more closely. the well-known luminescence diodes the absorptior? - it is greatly diminished, as the radiation is absorbed through it free Lqrciunps carrier is diminished. The radius of the Hnlbku. ^ El and so that the diameter of the radiating surface of the pn-overhang can be therefore compared to the known Lumineazenzdioften are enlarged. The enlargement of the area of the pn-Überp; angs in turn has a "., stronger P.elßstbarkeit and thus an increase in the achievable light output to the foI ^ e. · ·

Als Halbleitermaterialien fiJr die Lumineszenzdiode gemäß der Erfindung sind insbesondere Galliumarsenid und Galliumphosphid geeignet. Die den pn-übergang einschließenden Halbleiterzonen, die beim "Betrieb der Lumineszenzdiode vom Strom durchflössen werden und zur Sicherung einer hohen*"Strombelastbarkeit nur einen geringen Bahnwideretand aufweisen dürfen, sind verhältnismäßig hoch dotiert und nieäerohmig. 3ie besitzen vorzugsweise LadungsträgerkonzentrationenAs semiconductor materials for the light emitting diode according to the invention Gallium arsenide and gallium phosphide are particularly suitable. The semiconductor zones including the pn junction, which are used during "operation the light emitting diode are flowed through by the current and to Ensuring a high * "current-carrying capacity, only a low web resistance are allowed to have, are relatively highly endowed and non-resistive. They preferably have charge carrier concentrations

17 ' "Ί '■' 17 '"Ί' ■ '

von etwa 10 Ladungsträgern pro era' und mehr. Für den an die eine dieser Zonen angrenzenden, im wesentlichen halbku<;elförraigen Teil dec Halbleiterkörpers mit kleinerer Ladungsträgerkonzentration hat eich insbesondere eine Ladungsträgerkonzentration von weniger alsof around 10 load carriers per era and more. For the essentially semicircular part of the semiconductor body adjoining one of these zones and having a lower charge carrier concentration, it has, in particular, a charge carrier concentration of less than

1 ß ^1 ß ^

10 Ladungsträgern pro cnr als vorteilhaft erwiesen. Aufgrund diesel eehr niedrigen Ladungsträgerkonzentration wird die Absorption der10 load carriers per cnr proved to be advantageous. Because of diesel e very low carrier concentration will reduce the absorption of the

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■ ■ λ. ■ ' . PLA 65/U58■ ■ λ. ■ ' . PLA 65 / U58

-. ■ ο -. ■ ο ■■■■■-■■■■■ -

Strahl\uig durch freie Ladungsträger im halbkugelförmigen Teil dea Hälbleiterkörpers weitestgehend vermieden.Beam through free charge carriers in the hemispherical part dea Semiconductor body largely avoided.

• ·■■··. - .• · ■■ ··. -.

Die "Absorption der am pn-übergang emittierten Strahlung in dem an die eine der beiden den pn-tfbergang einschließenden Halbleiterzo- *nen angrenzenden, im wesentlichen halbkugelförmigen Teil des Halbleiterkörpera kann bei der erfindungsgemäßen Lumineszenzdiode durch geeignete Wahl der Qesaratstöratellenkonzentration, d.h. der Konzentration der Akzeptor- und Oonatorstöratelleri, in dem halbkugelförmigen Teil weiter herabgesetzt werden. Die Ladunrsträgerkonzeritration in· der Halbkugel ist dabei wiederum kleiner ala 10 Ladungsträger pro οπκ. Gleichzeitig wird die GeaamtstÖrotellenkonz-entration kleinerThe "absorption of the pn junction emitted radiation in the tfbergang pn to the one of the two the enclosing Halbleiterzo- * NEN adjacent, substantially hemispherical portion of the Halbleiterkörpera can in the inventive light emitting diode by suitable choice of Qesaratstöratellenkonzentration, ie, the concentration of the acceptor - and Oonatorstöratelleri, are further reduced in the hemispherical part. The charge carrier concentration in the hemisphere is again less than 10 charge carriers per οπκ

■ 17 " " "3S■ 17 """ 3 p

als 10 .Störstellen pro cm' gewählt. Das Material der Halbkugel ist somit bei' dieser Ausführungsform der Lumineszenzdiode nur schwach kompensiert. Aufgrund der schwachen Kompensation ist die Absorptionskante des Materials der Halbkugel gegenüber stärker kompensiertem Material, d.h. gegenüber Material mit gleicher Konzentration freier Ladungsträger, iedo.ch höherer Gesamtstörs teil enkonzentration, und auch gegenüber dem höher dotierten Material der den pn-übergang «Tin·+ schließenden Halbleiterzonen in Richtung kürzerer Wellenlängen verschoben. Dadurch ist bei der Wellenlänge des emittierten Lichtes im Material der Halbkugel zusätzlich zur bereits stark verringerten Absorption durch freie Ladungsträger auch die Absorption durch Band-Band-Übergänge, z.B. arischen Störbändern, stark herabgesetzt. Bei dieser Ausführungsform der erfindungsgeraäöen.Lumineszenzdiode wird daher die vom pn-Übergang ausgesandte Strahlung in dem halbkugelförraigen Teil des Halbleiterkörpers noch weniger absorbiert als bei den Ausführungsformen, bei denen lediglich die Ladungsträgerkonzentrationselected as 10 'disruptions per cm'. The material of the hemisphere is thus only weakly compensated for in this embodiment of the luminescent diode. Due to the weak compensation, the absorption edge of the material of the hemisphere is compared to more strongly compensated material, i.e. compared to material with the same concentration of free charge carriers, iedo.ch a higher total interfering component concentration, and also compared to the more highly doped material that closes the pn junction «Tin + Semiconductor zones shifted in the direction of shorter wavelengths. As a result, at the wavelength of the emitted light in the material of the hemisphere, in addition to the already greatly reduced absorption by free charge carriers, the absorption by band-to-band transitions, eg Aryan interference bands, is also greatly reduced. In this embodiment of the luminescent diode according to the invention, the radiation emitted by the pn junction is therefore even less absorbed in the hemispherical part of the semiconductor body than in the embodiments in which only the charge carrier concentration is present

Kb/OeKb / Oe

0B)Q)NAl. 0B) Q) NAl .

I H ö 3 Ol öI H ö 3 Ol ö

. -. PIA 65/14^8. -. PIA 65/14 ^ 8

in der Halbkugel kleiner als 1O " Ladungsträger pro cn' ist.in the hemisphere is less than 10 "charge carriers per cn '.

Die erfindungsgemäßen.Lumineazenzdioden lasseh sich gemäß weiterer Erfindung vorteilhaft in der Weise herstellen, daß auf einen vorzugsweise einkri3tr.llinen Halbleiterkörper mit kleiner Ladungsträgerkcnzentration eine"niederohmige Halb!eitern^hicht epitaxial aufgewaohsen wird. Durch Eindiffundieren Von Dotierstoff wird-dann in der aufgev/achsenen Schicht ein pn-übergang gebiJie4". Anno.hl lebend wird-durch toil.veine? Abtragen der aufgewachsenen SchJnrt die t Fläche des pn-Übergfngep; ve^Y-Λ °inert und durch Schleifen die endgültige Fo^m des Hnlbl eiterVörpers hergestellt. Nt^ rl«r Fertig"+pI-lung des KalbleiterkörpeT '''.'-e^den die Meiden, den pn-tfbe^^-jng einschließenden Hai b] ei terpenen nit geeigneten sperrfrei or; Y.on tv.k'fnn irersehen. .,■·.·■ . The erfindungsgemäßen.Lumineazenzdioden lasseh in accordance with the invention further advantageously prepared in the manner that a preferably fester einkri3tr.llinen semiconductor body with smaller Ladungsträgerkcnzentration a "low-half! ^ Hicht epitaxially aufgewaohsen. Is-then by diffusing dopant into the aufgev / achsenen Layer a pn junction at 4 ". Anno.hl comes alive-through toil.veine? Removal of the ridge grown on the surface of the pn junction; ve ^ Y-Λ ° inert and the final form of the hemiplegic body is produced by grinding. Nt ^ rl «r ready" + pI-lung des KalbleiterkörpeT '''.'- e ^ den the sharks, the pn-tfbe ^^ - jng enclosing shark b] egg terpenes nit suitable lock-free or; Y.on tv.k 'fnn mistaken .., ■ ·. · ■.

Del der Herstellung der Lrrnines?en::diodtin karr a^cr. co ver.fchrsr.. '.verden, daß die niederohfcige :3chioht. riurcii Sindif f^r.dierori vo:i J--fierstoff in einen vorzu.gav/ei se oini-iria tull^.Men Körper; ?-"i.' de-.i Halbleitermaterial mit kleiner La-iangn ^rägerLonzyntr"· tion -obi 1:1 et wird. In dieser^ niederohmigen Schicht wird dann rhiroh ^indIf fi-ndi ero ι eines zweiten Dotierstoffes, der die entgegengesetzte Lei *■ fähig*ei t erzeugt, der pn-Übergong gebildet. Anschließend ·;τ^ ei '.'^h tei^—eises Abtragen der diffundierten Schicht die "Hnohe Inr, pn-i^Ker'-inn-o« verkleinert. Die weitere Bearbeitung des Halblei ter'~ö"oor~j k.y.nr: d-Λπϊΐ wie beim ent.i'enannton Verfahren erpo]."n.Del the making of the Lrrnines? En :: diodt i n karr a ^ cr. co ver.fchrsr .. '.verden that the Niederohfcige: 3chioht. riurcii Sindif f ^ r.dierori vo: i J-- fierstoff in a vorzu.gav / ei se oini-iria tull ^ .Men body; ? - "i. ' de-.i semiconductor material with a small La-longn ^ rägerLonzyntr "· tion -obi 1: 1 et is. The pn transition is then formed in this low-resistance layer of a second dopant, which generates the opposite conductivity. Then ·; τ ^ ei '.' ^ H tei ^ - ice removal of the diffused layer which "Hnohe Inr, pn-i ^ Ker'-inn-o" is reduced. The further processing of the semiconductor '~ ö "oor ~ j kynr: d-Λπϊΐ as in the ent.i'enannton method er p o]. "n.

Beide Verfahren eignen sich insbesondere zv* Hn^s + el lung oinnr Yl zahl von Lumineszenzdioden aus" einer ein^i^-en ^-rößei-en HmIbI ei lerBoth methods are particularly zv * Hn ^ s + el development oinnr YI number of light emitting diodes from "a one ^ i ^ ^ -en -rößei-en HmIbI ei ler

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U89bl8U89bl8

PLA 65/H58PLA 65 / H58

scheibe. Nach der Herstellung des pn-überganges in der nioderohtnifen ' Schicht kann die HalMoite^noheibe nämlich in kleinere Hai blei ter-'correr verteilt v:erien, die *.unn. einzeln zu T.uTninesz^nzdiorlen weiter-' verarbeitet, verSen rönnen.disc. After the pn junction has been established in the nioderohtnifen 'layer, the HalMoite ^ noheibe can namely be divided into smaller Hai lead ter-'correr, which * .unn. individually processed into T.uTninesz ^ nzdiorlen.

Anhand einiger ?i(turen. und Beispiele soll die Erfindung in folgenden nooh näher erläutert "'erd;n.The invention is to be explained in more detail in the following text on the basis of a few? I (tures. And examples.

?ig. * 7ei(;t r-^he'nnf.Rcr ein Ai^fy.hrunpsheiapieü für eine Lumineazen^diode remai? der Erfindunr·? ig. * 7ei ( ; t r- ^ he'nnf.Rcr a Ai ^ fy.hrunpsheiapieü for a Lumineazen ^ diode remai? The invention

Vir;. 2 sei^t ^chenatiach ein weiteres Auaf'ihrMnrrbeispiel ff.'** eine Lumineszenzdicic rerr>Mf? der Erfindunr. Vir ;. 2 be ^ t ^ chenatiach another Auaf'ihrMnrrbeispiel ff. '** a luminescence dic rerr> Mf? the invention no.

?1·τ. 3 zeigt Tohematir^ e4re Ausfrrun^sform der Lumineszenzdiode crcm/iOl der Erfindung, b-ei der besondere Mittel zu·»- KMhl.ung der Diode vov'oaehen aind. . .·? 1 · τ . 3 shows Tohematir ^ e ^ 4 re Ausfrrun of the LED crcm / IOL sForm the invention, b-ei of special means to · "- KMhl.ung the diode vov'oaehen aind. . . ·

'i??. Ä zei z\ gfhemn + inoh eine .'.usfiihrun^nforni der luninessenzdiode äP der Erfindung nil einer speziellen AupßeStauung des halbkugel-'i ??. Ä zei z \ gfhemn + inoh ein. '. Execution of the luninessence diode according to the invention with a special congestion of the hemispherical

för:iiren HnIblei +<
7i.?. ~a bis ςε 2oif?en verschiedene Stadien, welshe die Lumineszenzdiode bei "der Hsrst.r-l Iunsr nach den erfindungsr.emäßen Verfahren durchlauft. * .
for: iiren HnIblei + <
7i.?. ~ a to ς ε 2oif? en different stages, how the luminescent diode goes through "the Hsrst.rl Iunsr according to the inventive method. *.

In ?if. 1 let die einfachste Au^führun^sform der erfindunjr.fremäßen 7vmineszenifiiode dcr<restcllt. Zwischen zvrei niederohmigen Halbleiterr.^nen "1 nn* Λ? *ron ve»1"? lh i ed en em Leitungstyp liegt der strahlungafähi ;e nn-uberr-T.^r η""<. Λη die Halbleiterzone 12 grenzt der halbku-.'ol förTii^e Teil 1A. der öuf? einem !."aterial mit kleinerer Ladungsträ-In? If. 1 Let the simplest embodiment of the 7 vmineszenifiiode dcr <restcllt according to the invention. Between two low-resistance semiconductors " 1 nn * Λ ? * R on ve» 1 "? The type of conduction is radiation-capable; e nn-uberr-T. ^ r η ""<. Λη the semiconductor zone 12 borders the hemi -. 'Ol förTii ^ e part 1 A. the öuf? a!. "aterial with a smaller charge carrier

n besteht, dan die am.pn-über^anr emittierte Strahlungn exists, then the radiation emitted by am.pn via ^ anr

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PLA 65/1458PLA 65/1458

nur sohwaoh absorbiert. Der pn-übergang· 13 liegt in einei» zylinderför- !»igen Erhebung des HälbleiterkÖrpers. Dadurch wird erreicht, daß der Durchmesser der etrahlenden Fläche des pn-übergange klein gegenüber dem Radius der Halbkugel 14 1st. Auf der Halbleiterzone /M ist ein sperrf£eier Ketallkontakt 1"5 angebracht. In aiesen ist eine drahtförmige Zuleitung 16-eingelötet. Zur sperrfreien Kontaktierung der Balbleiterzane 12 ist auf diese eine gelochte Scheibe 17 aus einem geeigneten Metall auflegiert. Durch Kühlung dieser Scheibe kann ..just sohwaoh absorbed. The pn junction 13 is located in a »cylinder-shaped ! »Igen elevation of the semi-conductor body. This ensures that the Diameter of the emitting surface of the pn junction small compared to the radius of the hemisphere 14 1st. On the semiconductor zone / M is a Block-free metal contact 1 "5 is attached. A wire-shaped lead 16 is soldered into each of these. For block-free contacting of the Balbleiterzane 12 is on this one perforated disc 17 from a suitable metal. By cooling this disc, .. gleichzeitig die beim Stromdurchfluß in der Lumineszenzdiode erzeugteat the same time that generated when the current flows through the light emitting diode

'*■■·■ . .4 " ''* ■■ · ■. .4 "'

ί Wärme abgeführtί heat dissipated

. Be1I einer bevorzugten Ausftihrung3form der Lumineszenzdiode gemäß der Erfindung besteht"die Halbkugel 14 aus hochreinem« hochohmigem, schwach. Be 1 I a preferred Ausftihrung3form of the LED according to the invention is "the hemisphere 14 made of high purity," a high-impedance, weak n-leltendem Galliumarsenid mit einer Qesamtstöratellenkönzentrationn-containing gallium arsenide with a total disturbance concentration

von weniger ale 10 Störstellen* prd* om und einer Ladungsträgerkon«of less than 10 imperfections * prd * om and one charge carrier con «

Eentration von weniger als 10 Ladungsträgern pro cm5. Die den pn-Eentration of less than 10 charge carriers per cm 5 . The pn

übergang,einschließenden Halbleiterzogen Bind auf das Material der Halbkugel· epitaxial aufgewachsen und bestehen ebenfalls aus Galliumareenid. Die Zone 12 1st niederohmig und stark η-leitend mittransition, enclosing semiconductors attracted bind to the material of the Hemisphere grown epitaxially and also consist of gallium arenide. Zone 12 is low-resistance and highly η-conductive

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dotiert. Die Störstellenkonzentratlonbeträgt etwa 10 Telluratomeendowed. The impurity concentration is about 10 tellurium atoms pro cm'. HIe fialbleltereone 11 let durch Eindiffusion von Zinkatomen UBdotlert und p-leitend. Der Kontakt 15 iet durch Einlegieren einer IndiuBipille in die Zone 11 hergestellt. Die Metellscheibe 17 besteht aue verzinntem Kovarbleoh.per cm '. The fialbleltereone 11 let by diffusion of zinc atoms UBdotlert and p-type. The contact 15 is made by alloying an IndiuBipille in the zone 11. The metal disk 17 is made of tinned Kovarbleoh.

Die beschriebene Ausführungsform der erfindungsgemäßen Lumineszenzdiode aus Galliumarsenid kann In verschiedener Hinsioht abgewandelt werden.·Beispielsweise sind als Dotierstoffe für die η-leitende HaIb-The described embodiment of the luminescent diode according to the invention made of gallium arsenide can be modified in various ways For example, dopants for the η-conductive half

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leiterzone 12 neben Tellur auch die Elemente Selen, Silicium und Zinn geeignet. Der sperrfreie Kontakt 15. kann auch durch Einlegieren einer Zink-Ziiin-Legierung mit einigen Gewichtsprozent, vorzugsweise 5 Gewichtsprozent Zink, in die Halbleiter^one 11 gebildet werden." Ebenso besteht die Möglichkeit, zur 3ildung des sperrfreien Kontaktes 1-5 eine aus Silber oder Nickel bestehende Schicht auf die Halblei-•v terzone 11 auf zudampf en-. Die Scheibe 17 kann beispielsweise auch . ' aus verzinntem oder vergoldetem Molybdänblech bestehen. Die Ladungaträgerkonzentration in der η-leitenden Zone 1? kann vorteilhaft . In addition to tellurium, the elements selenium, silicon and tin are also suitable for conductor zone 12. The non-blocking contact 15 can also be formed by alloying a zinc-tin alloy with a few percent by weight, preferably 5 percent by weight zinc, into the semiconductor 11. "There is also the possibility of forming the non-blocking contact 1-5 one made of silver or nickel layer existing Terzone v on the semiconductor • 11 zudampf ene. the disc 17 may for example also. 'made of tinned or plated molybdenum sheet made. the Ladungaträgerkonzentration in the η-type region 1? may be advantageous.

17 1 fl 'Ί17 1 fl 'Ί

zwischen etwa 10 und 4.10 Ladungsträgern pro onr gewählt werden.between about 10 and 4.10 load carriers per onr can be selected.

Pi^. 2 zeigt eine Lumineszenzdiode, die ähnlich aufgebaut i3t wie I die in Pir. T dargestellte Lumineszenzdiode. Bei der in Pig. .2 dargestellten Ausffihrungsform ist jedoch <He Grenzfläche zwischen der Halbleiter^one 12-und dem halbkugelförmi»en Teil 14 nicht eben ausgebildet. Vielmehr ist dao Material mit kleinerer liadun.irst.rögerkonzentration zum p*n-Überganr; 1"? hin etwa zylinderftfrmig ausgebucht et. Der j zylinderförmige Vorsprung ist mit 21 bezeichnet. Dieae Bauweise hat j gegenüber der in Pig. 1 dargestellter Ausf'iftruncraform den Vorteil, daß die Halbleiterzone 12 zwischen dem pn-übergang 13 und dem Vorsprung 21 besonders dünn ausgebildet werden kinn, oodaP ale Absorbtion des in die Halbkugel strahlenden Lichten '.veiter herrib^eretst wird. Da die Zcne 1? an den Seiten der z^linderförmi.^en Auabuchtung verhältnismäßig, dick johalten v/erdon kann, wird dor Bahnwiderstand 12 bei dieser Bauart nicht wesentlichPi ^. 2 shows a light emitting diode which is constructed similarly to I in Pir. T shown light emitting diode. In Pig. The embodiment shown in FIG. 2 is, however, not designed to be flat between the semiconductor part 12 and the hemispherical part 14. Rather, there is material with a smaller liadun.irst.rögerkonzentration to the p * n transition; The cylindrical projection is denoted by 21. Compared to the embodiment shown in Pig The chins are made thin, but all the absorption of the light shining into the hemisphere is mastered. Since the teeth on the sides of the cylinder-shaped bulge can be relatively thick, the path resistance is increased 12 not essential for this type of construction

Die in Fig. 3 dargestellte Ausfühnm^sfom der erfindunjrs^emäßen Lumineszenzdiode unterscheidet .sich von der in "^ig* 1 ^ez-ed£ten BauartThe embodiment of the luminescent diode according to the invention shown in FIG. 3 differs from the type in "^ ig * 1 ^ ez-ed £ th

" - 9 - ' Kb/Gs "- 9 - ' Kb / Gs

909814/0632909814/0632

1:489b 1"ö 1: 489b 1 "ö

PLA 65/ubflPLA 65 / ubfl

durch die Stromzuführung zur Halbleiter'zone 11. Ala Stromzuführung . ■ ist ein massiver Metalldraht 31'»· beispielsweise ^auy Kupfer, vorgesehen. Neben der Met*allscheibe 17 kann aucn dieser rlasnlve Leiter" 31 gekühlt werden, nodr"* die Wärmeableitung aus dem Halbleitermaterial verbessert wird und die Lumineszenzdiode mit höheren Strömen he- · lastet ν/erden kann. Diea hat wiederun eine, F/rh^hun? Ae^ Tnchtleistung zur Pol:»e.· · · .. · ■ ■through the power supply to the semiconductor zone 11. Ala power supply. A solid metal wire 31 'is provided, for example copper. In addition to the metal disk 17, this continuous conductor "31" can also be cooled, but the heat dissipation from the semiconductor material is improved and the luminescent diode can be earthed with higher currents. Diea has another one, F / rh ^ hun? Ae ^ Night performance to the pole: »e. · · · .. · ■ ■

.Die in Piß. 4 dargestellte Augführun^üform der er^ Lunvlneozenzdiorfe benitzt eine benondere geometrische Form. "Her Halbleiterzorie 12 zunächst liegende, aus schwach absorbieren''p;n Material mit kleinere-r Ladum/Kträjerkonzentration bestehende Teil A1 ist zylinder formic ausgebildet. j\n di'eaen zylinderf crmirren Teil schließt sich die Halbkugel 14 mi.t rleicher •LaiuriPintra/er^on^entrrj h'.on an. Die Höhe h den zylindrischen^ Teiles 41 int. dabei ~ , wobei r den Radius der Halbkugel 14 und η den Brechungsindex den r.yl ij förmigen Teils 41 'und der Halbkugel 14 bedeutet. Die am pn 13 ausgesandte Strahlung wird durch die spezielle Form- c*cs Hnlbleiterkörperg gebündelt und verläßt, die Halbkugel 14 ire ""eoontl inhen in einer Richtung»'die senkrecht auf der strahlenden Fl πehe des pn-Übergangs 1? Steht. Eine derartige geometrische Anordnung ist in anderem Zusammenhange bereits unter dem Namen Weierstrass-Geometrie be-.The in piss. 4 illustrated embodiment of the he ^ Lunvlneozenzdiorfe has a special geometric shape. "Her Halbleiterzorie 12 first lying absorbieren''p from weak;. N material with smaller-r Ladum / Kträjerkonzentration existing part of A 1 is cylindrically formed formic j \ n di'eaen cylindrically crmirren part of the hemisphere 14 includes mi.t rleicher • LaiuriPintra / er ^ on ^ entrrj h'.on on. The height h of the cylindrical ^ part 41 int. Here ~, where r is the radius of the hemisphere 14 and η the refractive index of the r.yl ij -shaped part 41 'and the hemisphere means fourteenth the most pn 1 3 emitted radiation is due to the special shape * cs Hnlbleiterkörperg c bundled and leaves, the hemisphere 14 ire "" eoontl inhen in a direction '' the πehe perpendicular to the radiating Fl of the pn junction 1? Such a geometric arrangement is already known in another context under the name Weierstrass geometry.

r

kanntgeworden.became known.

Als Beispiel für das epitaxiale Aufwachsverfahren zur Herstellung de" erfindungsgeraäßen Lumineozenzdioden wird im folgenden anhand der Pig; 5a bis 5e die Herstellung mehrerer Galliumarsenid! "den au«·einer einzigen Halbleiterscheibe beschrieben.As an example of the epitaxial growth process for producing de " According to the invention Lumineozenzdioden is based on the Pig; 5a to 5e show the production of several gallium arsenide! "the au« · one single semiconductor wafer described.

9098U/06329098U / 0632

COPCOP

In eine·7! ersten YprfohrenBschritt wird eine -iur> hoc;*ohmi re-n, ^c^ n--l ei + onden GnIl i u τι .".■"*-^'3" id beziehende einkriat.-illine Scheibe 5J mit.In a 7 ! The first test step will be -iur> hoc ; * ohmi re-n, ^ c ^ n - l ei + onden GnIl iu τι. ". ■" * - ^ '3 "id referring criat.-illine disc 5J with.

■ t■ t

einer Tj'idun^str^rerkTr'Pn' rr-i i on uon ""eni ^r olr 1O pro n' und .a Tj'idun ^ str ^ rerkTr'Pn 'r r -ii on u on "" eni ^ r olr 1O per n' and.

• 17 1^• 17 1 ^

einer Gespintstörsi eil ent-nnrpntr' -ti on von wenirt-r --.Io "1O p.ro'enr' *er>i+ari'il *nit ein^r niederoh^ui/ren, fH.-irk n-dofiert.on GalliumarBenid-"schicht ',->!2 hesohi-ohtf-1 , .^rr^ v.-j 1^i die Grill.1 um^rsenid^cheibe- ^1 unda Gespintstörsi eil ent-nnrpntr '-ti on from wenirt-r --.Io " 1 O p.ro'enr' * er> i + ari'il * nit a ^ r low-ear ^ ui / ren, fH.-irk n-dofiert.on GalliumarBenid- "layer ', ->! 2 hesohi-ohtf- 1 ,. ^ rr ^ v.-j 1 ^ i the grill. 1 um ^ rsenid ^ cheibe- ^ 1 and

;aup GrIl i'j'nViri'enid rn.i 4. ein^r T-1 örs1ellenkonren+rvtion ptv> 2' 1O ' Tell'ir'!+.f.'-ien pro "T en in eine 'hi^rzfimtvil] e ein.^e- ; a up GrIl i'j'nViri'enid rn .i 4 . a ^ r T-1 örs1ellenkonren + rvtion ptv> 2 ' 1 O'Tell'ir'! + .f .'- ien per "T en in a 'hi ^ rzfimtvil] e. ^ e-

-nt, d<i die '.-,cheibe c 1 und die ImII i um'irponid quell » :.·.η den ent--nt, d <i die '.-, slice c 1 and the ImII i um'irponid quell »:. · .η the ent-

Enden der C'.uareinpulle lieren. -^usBi.ylich wird alsLoose ends of the C'.uareinpulle. - ^ usBi.ylich is called

mrMneportmit1el pro cn' de"· Ampullenvoluneno 1 n.'r Jod in die ;;ur)r^- amnulle pinre^eben. Die AnnulIe -wird d'\nn evk'iieri und ."u Tenohiüol- ^.en. Anschließend "/ird der Teil der /-rnoulle, der -die Rfilliumqr8enidqtielJe enthält", nuf el'.va 1ποο°Π und der Teil der Anpeile, der die . Scheibe *\ enninlt nur etv:n BOO0C erl-it'.t. Mit Hilfe'des als Transro·^4 mi t. te! bei';er:'.-i en Joden wird d'.'Vei GnIl iumarsenid. vom heißer'en zürn kühleren Ende des Luar^refäßes transportiert'und rächst dort :v.\r der Scheibe C1 ulfi sH ark. n-doti er+e Gnllium^irsenidadhicb+. 5? epi '..'iviol T.if. Per Auf-vachpvor^anfi; v/ird durch% Abkühlen eher Ampulle na^ii etwa -1 stunde beendet. Nsrh diener AufWaηηεdauer hai die Schicht ^? eine Dicke von etwa ΓΌ p. Die Störstellenkonzentration in der-auf- m rMneportmit1el per cn ' de "· Ampullenvoluneno 1 n.' r iodine in the; u r) ^ - ^ amnulle pinre just the AnnulIe -is d '\ nn evk'iieri and "u T ^ enohiüol- .en... Then "the part of the / -rnoulle that contains -die R fi lliumqr8enidqtielJe", nuf el'.va 1 ποο ° Π and the part of the bearings that the. Disk * \ enninlt nu r etv: n BOO 0 C erl-it'.t. With the help of this as Transro ^ 4 mi t. te! at '; er : '.-i en Joden wird d '.' Vei GnIl iumarsenid. transported from the hotter to the cooler end of the luar ^ re vessel and avenges there : v. \ r of the disc C1 ulfi s H ark. n-doti er + e Gnllium ^ irsenidadhicb +. 5? epi '..' iviol T.if. Per Auf-vachpvor ^ anfi; v / ith by cooling% rather ampoule na ^ ii about -1 hour terminated. Nsrh the duration of the stay hai the shift ^? a thickness of about Γ Ό p. The concentration of impurities in the

17 "5 1 7 "5

oonich^. beträft etwa 1O l'ellurgtoine pro cm . Plgi 5aoonich ^. amounts to about 1 o l'ellurgtoine per cm. Plgi 5a

•i. die Gs.ll i'lmrsenide^heibe "1It der epitaxie! aufgewachsenen Schicht.• i. the Gs.ll i'lmrsenide ^ is called " 1 It the epitaxy! grown layer.

Tn einem .r.'.vei ten Ver^nhrensschri i t wird durch Eindif fundieren von Zink in die rail der /Wfwachoschicht versehene Halbleiterscheibe innerhalb dor Aufv.'iichp^chich1 ein pn-Überp-nn;* hergestellt. Dazu wird die Galliumrtrsenidsoheibe 7.-Jsnramen ni-t 'netnllischern Zin'x in eine Quar.zampulle.. Tn a .r 'vei th Ver nhrensschri ^ i t is Eindif substantiate of zinc into the rail of the / Wfwachoschicht chich 1, a pn-nn Überp provided semiconductor wafer within dor Aufv.'iichp ^; * prepared. To do this, the gallium red senide shell 7.-Jsn r amen ni-t 'nllischern Zin'x is placed in a quartz ampoule

9098U70"6329098U70 "632

BAOBAO

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PLA 65/H58PLA 65 / H58

bracht. Die Ampulle wird evakuiert, und abgesohmolzen und anschließend etwa 1 Stunde lang auf eine Temperatur von etwa 9000C erhitzt. Dabei diffundiert das Zink etv/a 20 μ tief in den Halbleiterkörper ein, s'odaß an dessen Oberfläche eine stark p-dotierte Schicht 5? entsteht. In Fig. ;5b is.t die GaIliuraarsenidscheibe nach diesem zweiten Verfahrensschritt dargestellt.brings. The ampoule is evacuated and then heated abgesohmolzen and for about 1 hour at a temperature of about 900 0 C. The zinc diffuses about 20 μ deep into the semiconductor body, so that a heavily p-doped layer 5? arises. In Fig.; 5b, the GaIliura arsenide disk is shown after this second process step.

Aus dieser Scheibe werden dann beispielsweise mit Hilfe von Ultraschall runde Zylinder ausgestanzt, die einzeln zu Lumineszenzdioden '.veitorve^arbeitet werden. Ein solcher Zylinder ist in Fig. 5c dargentellt. Bei den einzelnen Zylindern wird dann, wie Fig. 5d zeigt, die* epitaxial aufgewachsen«3 HObleitefnchicht etwa durch J1It ζ en teilweise soweit ebgetragen, daß an der Oberfläche def? Zylinders eine etwa zyllnderfb'rmige Erhebung entsteht, an deren Anfang oder in deren Inneren der pn-Übergnng liert. Anschließend wird der aus dem schwach absorbierenden l'aterial bestehende Teil den Halbleiterkörpers zu einer Halbkugel geschliffer.. Nach diesem Verfahrensgehritt hat der Hal M eitertet) r ρ er die-in Fig. 5e dargestellte Form. Die beiden Halbleiterzon.en 52 und Z3 werden dann, wie bereits bei Fig. 1 erläutert int, mit nperrfreien Kontakten versehen.Round cylinders are then punched out of this disk, for example with the aid of ultrasound, which are individually worked into luminescence diodes. Such a cylinder is shown in Fig. 5c. At the individual cylinders is then as shown in Fig. 5d shows, the * "epitaxially grown by about 3 HObleitefnchicht J 1 It ζ s partially ebgetragen extent that def on the surface? Cylinder an approximately cylindrical-shaped elevation is created, at the beginning or in the interior of which the pn-transition runs. The part of the semiconductor body consisting of the weakly absorbing material is then ground to form a hemisphere. The two semiconductor zones 52 and Z3 are then, as already explained in connection with FIG. 1, provided with non-blocking contacts.

Wegen der stark verminderten Absorption können bei den erfindungsge»' rnaSen Lumineszen.rdioden die Halbkugelradien bis etwa 1 bis 2 cm groß nein. Der Durchmesser der -etrahlenden FlHche dee pn-Übergangpg kann bio zur Hälfte des HalbkugelrieUfiijs betragen-, wird jedoch vorzugsweiseBecause of the greatly reduced absorption, the hemispherical radii of the luminescent diodes according to the invention can be up to about 1 to 2 cm in size. The diameter of the radiating surface of the pn junction can be about half of the hemispherical shape, but is preferred

kleinen gevählt. '',:/. ■' '% ■ ■small counted. '',: /. ■ ''% ■ ■

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11 Patentansprüche ' " " V/ .■■'-"-11 Claims '"" V /. ■■' - "-

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Claims (17)

U89518U89518 PatentansprücheClaims Lumineszenzdiode aus einem im wesentlichen halbkugelförmigen, einen pn-übergang enthaltenden Halbleiterkörper, dessen Halbkugelradius größer als der Durchmesser der strahlenden Fläche des pn-Überganges ist, dadurch gekennzeichnet, daß in dem an die eine der beiden den pn-übergang einschließenden Halbleiterzonen angrenzenden, im wesentlichen halbkugelförmigen Teil des Halbleiterkörpers die Ladungsträgerkonzentration kleiner ist als in den beiden, den pn-übergang einschließenden Halbleiterzonen.Light emitting diode from a substantially hemispherical, one A semiconductor body containing a pn junction, the hemispherical radius of which is greater than the diameter of the radiating surface of the pn junction is, characterized in that in which one of the two den The substantially hemispherical part of the semiconductor body adjoining the pn junction including semiconductor zones, the charge carrier concentration is smaller than in the two semiconductor zones enclosing the pn junction. Lumineszenzdiode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in dem an die eine der beiden den pn-übergang einschließenden Halbleiterzonen angrenzenden, im wesentlichen halbkugelförmigen Teil des Halbleiterkörpers die Ladungsträgerkonzentration weniger als 10 Ladungsträger pro cm beträgt.Luminescent diode according to Claim 1, characterized in that in the to the essentially hemispherical part of the semiconductor body adjoining one of the two semiconductor zones enclosing the pn junction the charge carrier concentration is less than 10 charge carriers per cm. Lumineszenzdiode nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß in dem an die eine der beiden den pn-übergang einschließenden Halbleiterzonen angrenzenden, im wesentlichen halbkugelförmigen Teil des Halbleiter-Luminescent diode according to Claim 2, characterized in that in the to the one of the two semiconductor zones enclosing the pn junction, the essentially hemispherical part of the semiconductor 1717th körpers die gesamte Störstellenkonzentration kleiner als 10 Störstellen pro.cm ist.body the total impurity concentration less than 10 impurities per.cm is. Lumineszenzdiode nach einem der Ansprüche 1 bis 3> dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper aus Galliumarsenid besteht.Light emitting diode according to one of Claims 1 to 3> characterized in that the semiconductor body consists of gallium arsenide. Lumineszenzdiode nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die ■zwischen dem im wesentlichen halbkugelförmigen Teil des Halbleiterkörpers und dem pn-übergang liegende Halbleiterzone η-leitend ist und Neue Unterlagen (Art 711 Abs. 2 Nr<j fttg^p φμ^ψρρ. 4.9. Luminescent diode according to Claim 4, characterized in that the semiconductor zone lying between the essentially hemispherical part of the semiconductor body and the pn junction is η-conductive and New Documents (Art 711 Paragraph 2 No. <j fttg ^ p φμ ^ ψρρ. 4.9 . - 13 - Kb/Kö- 13 - Kb / Kö • : 1A89518 ■ ' pLA C^-, lq ^•: 1A89518 ■ 'p LA C ^ -, lq ^ v.'eif.'ep /.btraren der aufgewachsenen Schicht '.lie TMfirhe des pn--Über~ ranges verkleinert wird un^ (laß .ηη:?οη.1 ießeni · der Halbleiterkörper durch Schleifen auf" seine end.fültire Form rebracht wird.v.'eif.'ep /.btraren of the grown up layer '.lie TMfirhe of the pn - about ~ ranges is reduced un ^ (let .ηη:? οη.1 ießeni · the semiconductor body is brought back to "its final full form" by grinding. Verfahren zum Herstellen eine1' Luninenzenödiode n.°ch oinem der An- «nriiöVie 1 bis 8, dadurch bekenn 7'ei c'rne t, daß in einen vorzugsweise einkriatalUnen Halbleiterkörper mit kleiner Ladunrrt^aqerkon/ent^atioii'^wei ent,Te^enf eoetz + e Lei tunp:st.yppn' erreUc^ende joti erfsto'f ^e eindiffundiert werden, daß durch teil/.veisen Abtragen der diffundierten Schicht die Fläche" des bei der Diffusion entstandenen pn-Überron.^en verkleinert wird und d;3(3 anschließend durch SchJ oifen der Halbleiterkörper in seine endgültige Form gebracht wird.A method of manufacturing 'n Luninenzenödiode. ° ch oinem of arrival "nriiöVie 1 to 8, characterized confess 7'ei c'rne t that, in a preferably einkriatalUnen semiconductor body with smaller Ladunrrt ^ aqerkon / ent ^ atioii' 1 a ^ ent wei , Te ^ enf eoetz + e Lei tunp: st.yppn 'ereUc ^ ende joti erfsto'f ^ e are diffused in that by partially /. Erosion of the diffused layer the surface "of the pn-overronation created during the diffusion is reduced in size and d; 3 (3 is then brought into its final shape by grinding the semiconductor body. ,.Verfahren nach einem der'Ansprüche 9 und 10, dadurch* i:ekenn4iichnet, daß der Halbleiterkörner nach der Herni ellung de? pn-Überranfree in kleinere Stücke zerteilt wird und daß diese einzeln den weiteren Verfahrensschritten unterworfen werden., .Method according to one of Claims 9 and 10, whereby * i: ekenn4iichnet, that the semiconductor grains after the herniation de? pn overranfree in smaller pieces is divided and that these are individually subjected to the further process steps. - .. COPY- .. COPY H 4H 4 17 die Lad ian r4· ■»'·"> -eriron^entrf? tion .in dinner. Zone etwa 10 ' bis 4-n17 the Lad ian r 4 · ■ »'·"> -eriron ^ entrf? Tion .in dinner. Zone about 10' to 4-n T'"> d ' }Γ! T-"«t7*?3 irpr» pt·.'* T) ^" Π t r*'^t «T '"> d'} Γ! T -" «t7 *? 3 irpr» pt ·. '* T) ^ "Π t r *' ^ t« fii''>d<'» rrv-h ciricn ^cr "-"nrher^eKemien Anapri'ohe, ^°duroh riRi ( ,-ic,:? ·· »·· η ο rh..'· ] b ι1ν·ί3 τΤ"1 b 1 e i tcr>örperä der Teil jait, · iHun"·^* "α··ρ r>on 'en+ rri ti .on ^on-en ien nn-UberrMJig hin -ayiin-fii ''> d <'»rrv-h ciricn ^ cr" - "nrher ^ eKemien Anapri'ohe, ^ ° duroh r iR i ( , -ic,:? ··» ·· η ο rh ..' ·] b ι1ν · ί3 τ Τ "1 b 1 ei tcr> körperä the part jait, · iHun" · ^ * "α ·· ρ r> on 'en + r ri ti .on ^ o n- en ien nn-UberrMJig hin -ayiin- d O1^ f" ""fTi ' '" Vi"·!'^!'1"' Π1'4" .d O 1 ^ f """fTi""Vi" ·! '^!' 1 "'Π 1 ' 4 ". χ.τν-·ίno-''-pn^di ^de nMrth f).lno:.n. fler iror):er· 'ehen^-en Ansprache, dadurch ."•e:'enn"ei chr.oT , d-"v? r1ie hei'Or den pn-!'rber^nri-^-einschließenden HaIh- Λ ei ter-Onen- r:A <■ m-iDoi <ron . 171H* 'VörnenV:f>uhr dienenden, aperrfreien- rntr. 1J inchen Kontukten -versehen iiind.χ.τν- · ίno -``- pn ^ di ^ de nMrth f) .lno :. n . f ler ir or) : he · 'ehen ^ -en speech, thereby. "• e : 'enn" ei chr.oT, d- "v? r1 he'Or den pn-! ' r ber ^ nri - ^ - including HaIh- Λ ei ter-Onen- r : A <■ m-iD o i <r on. 171 H * 'VörnenV: f> clock serving, aperrfrei- r n tr. 1 J inchen Contacts-by mistake iiind. T.Mmine.Tzenzdi ode nach eine?11 de** vorhergehenden Ansprrnhe, daduroh ;^ekenn.reiohnet . *3ri-3 "3er en dj e eine H^.lbl «iterzone anrrengende Teil der Hal.blei terlrö^perr rtit kleinerer L'idunp-nträ^e^konBentration zylinderförmi.^ ausgebildet'ist, d»·? ni^h an diesen zylinderförmi^en Teil eine HaihlcuR1Cl mit, gleicher Ladun.'strä'jerkonzentration anschließt und ^fiß die Höhe de? ?:r"linde.r--3 r"-eioh dem Quotienten aus dein "Radius * der Halbkurel und dem Freohunroindex de? I* π.+ο rials des rr/linderfö^migen Teils und eier Hai hkurel is"t.T.Mmine.Tzenzdi ode after a? 11 de ** previous claims, daduroh ; ^ ekenn.reiohnet. * 3 r i-3 "3er en dj e a H ^ .lbl« iterzone contiguous part of the semiconductors terlrö ^ perr rtit a smaller concentration of cylindrical shape ^ h in these zylinderförmi ^ s part of a HaihlcuR 1 Cl with, same Ladun.'strä'jerkonzentration followed and ^ Fiss height en:? r "linde.r - 3 r" -eioh the quotient of your "radius * the Halbkurel and the Freohunroindex de? I * π. + Ο rials of the rr / linderfö ^ migen part and egg hkurel is "t. Verfahren zum. Herstellen einer Lumineszenzdiode nach einem der vorherreher.den A-nsprflohe. d-adurr.h τ-ekonnze lohnet, daß auf" einen vnrzursvfeise einkriata] linen Hnlhleiterkorper mit kleiner Ladim^strägerkon:7entration eine höher dotierte, niederohmj <\e HalbleiterociJKicht epitaxial auf^e-vichsen v/ird. daß durch Rindif fundieren von -tiotieratoff in der aufgewachsenen Gohicht ein pn-übergang gebilde-t \yird,"daß durch teil-Procedure for. Manufacture of a light emitting diode according to one of the vorreher.den A-nsprflohe. d-adurr.h τ-ekonnze lohnet that ^ strägerkon to "a vnrzursvfeise einkriata] linen Hnlhleiterkorper small Ladim: 7 entration a more highly doped, niederohmj <\ e HalbleiterociJKicht epitaxially on ^ e-vichsen v / ith that substantiate by Rindif. from -tiotieratoff in the grown-up Gohicht a pn-transition is formed, "that through part- BAD ORIGINALBATH ORIGINAL 90984470632 -Kb/Oa90984470632 -Kb / Oa COPYCOPY
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