DE1251981B - - Google Patents
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
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Description
GOln
DEUTSCHES
PATENTAMT
Int. CI.:
Nummer: 1 251 981
Es sind Vorrichtungen zur fotoelektrischen Oberflächenabtastung von bewegten Materialbahnen auf
Oberflächenfehler bekannt, bei denen die zu prüfende Oberfläche mit einem Lichtstrahl zellenförmig
über die Bahnbreite quer zur Laufrichtung der Materialbahn abgetastet wird. Von der Oberfläche aus
wird der Lichtstrahl in mindestens einen fotoelektrischen Empfänger reflektiert. Beim Uberfahren von
Oberflächenfehlern, z. B. von Flecken, Falten, Löchern, Rissen, bzw. von sichtbaren Fremdkörpereinflüssen
ändert sich der reflektierte Lichtstrom, so daß im fotoelektrischen Empfänger elektrische Fehlersignale
entstehen. Diese Fehlersignale werden in einer nachgeschalteten elektronischen Steuereinrichtung
verarbeitet, die je nach Einstellung entscheidet, wann eine Oberfläche als gut zu bezeichnen ist oder ob die
entsprechende Fläche aussortiert werden muß. Mit dem betreffenden Ausgangssignal kann z. B. auch die
Steuerung von Scheren, Zählgeräten oder Anzeigeinstrumenten usw. durchgeführt werden.
Bei obiger Abtastung von Bogen (Abschnitten) bzw. von Bahnen, die z. B. nach einer aufgedruckten
Marke zerschnitten werden sollen, die also quasi auch aus einzelnen Abschnitten bestehen, können
jedoch bezüglich der Zuordnung von Fehlersignal und Fehlerort auf dem abgetasteten Abschnitt
Schwierigkeiten auftreten. Solange der Lichtstrahl senkrecht zur Bewegungsrichtung der durchlaufenden
Abschnitte bewegt wird, ist die Zuordnung eindeutig. Wandert jedoch der Lichtstrahl schräg zur Bewegungsrichtung,
so kann der Lichtstrahl während seiner Abtastung über eine Objektbreite je nach Länge
der Abschnitte zwei bzw. mehrere Abschnitte abtasten. Die eindeutige Zuordnung der Fehlerimpulse
zu den abgetasteten Abschnitten, d. h. die Feststellung, in welchem der bei einer Breitenabtastung Überfallenen
Abschnitte der Fehler liegt, ist daher ohne weiteres nicht mehr möglich. Die schräge zeilenweise
Abtastung ist dabei insbesondere notwendig, wenn die Materialien zur sicheren Erfassung von Falten,
die sich in beliebiger Richtung auf dem Material befinden können, mit zwei Lichtstrahlen zellenförmig
abgetastet werden, wobei sich die Abtastrichtungen unter ,einem bestimmten Winkel schneiden.
■' Die erfindungsgemäße Einrichtung gewährleistet auch beim schrägen, zeilenweisen Abtasten einer in
aufeinanderfolgende Abschnitte unterteilten Bahn (Bogen) bzw. später zu unterteilenden Materialbahn
eine eindeutige Festlegung des Fehlerortes. Dies gelingt gemäß der Erfindung dadurch, daß sowohl die
Länge jeweils eines Abschnittes als auch der von dem abtastenden Lichtstrahl auf der Bahn beschrie-Einrichtung
zur Festlegung des Fehlerortes auf
einer bewegten und schräg zur
Bewegungsrichtung fotoelektrisch abgetasteten
Materialbahn
einer bewegten und schräg zur
Bewegungsrichtung fotoelektrisch abgetasteten
Materialbahn
Anmelder:
Licentia Patent-Verwaltungs-G. m. b. H.,
Frankfurt/M., Theodor-Stern-Kai 1
Frankfurt/M., Theodor-Stern-Kai 1
bene Weg durch an sich bekannte Geber analog in elektrische Größen abgebildet werden, die summiert
ao auf den Eingang einer mit einer Ansprechschwelle versehenen Einrichtung geschaltet sind und deren Werte
derart aufeinander abgestimmt sind, daß die Summe gerade dann die Ansprechschwelle erreicht und die betreffende
Einrichtung umschaltet, wenn der einen Abschnitt abtastende Lichtstrahl einen folgenden
Abschnitt erfaßt.
An Stelle der analogen Abbildung der Lage kann die Einrichtung nach der Erfindung auch mit digitaler
Wegabbildung arbeiten, indem sowohl die Länge jeweils eines Abschnittes als auch der von dem abtastenden
Lichtstrahl auf der Bahn beschriebene Weg durch an sich bekannte Digitalgeber in eine jeweils
von einem Zähler erfaßte Zahl von Impulsen abgebildet werden, die derart aufeinander abgestimmt sind,
daß eine z. B. ein Kippverhalten aufweisende, bezüglich des Schaltzustandes von der Anzeige beider Zähler
abhängige Einrichtung gerade dann von den Zählern umgeschaltet wird, wenn der einen bestimmten
Abschnitt abtastende Lichtstrahl einen folgenden
An Hand des in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels wird die Erfindung näher beschrieben.
Als Ausführungsbeispiel ist dabei die Oberflächenabtastung einer ablaufenden Materialbahn
gewählt, die durch einen Querschneider zerteilt wird. Für die schräge, zeilenweise Abtastung ist das
bereits erwähnte Beispiel dargestellt, bei dem zwei Lichtstrahlen unter sich schneidenden Richtungen
die Bahn abtasten.
In Fig. 1 ist eine Materialbahn 1, z.B. eine Papierbahn, dargestellt, die sich mit der Geschwindigkeit
ν in Pfeilrichtung bewegen soll. Diese Bahn soll
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durch fotoelektrische Oberflächenabtastung auf Oberflächenfehler, insbesondere auf Falten untersucht
werden. Dazu wird die Materialbahn 1 gemäß einem Beispiel auf der Oberseite mit einem Lichtstrahl I
und vorzugsweise auf der Unterseite mit einem Lichtstrahl II abgetastet. Zur Erzeugung der die Bahn
abtastenden Lichtstrahlen kann mit Vorteil die einleitend beschriebene bekannte Einrichtung dienen.
Grundsätzlich können, gegebenenfalls unter Anpassung an die neuen Bedingungen, an sich alle bekannten
Abtasteinrichtungen mit zeilenweiser Abtastung verwendet werden.
Die Abtastrichtungen stehen in obigem Beispiel aufeinander senkrecht. Der Winkel kann auch von
90° abweichen. Er kann auch z. B. 70° od. dgl. betragen. Die Größe hängt davon ab, in welchem Bereich
eine Abtasteinrichtung noch Falten erfaßt.
Bei einer derartigen beispielsweise dargestellten Abtastung verlaufen die Abtastlinien schräg zur
Bahnbewegungsrichtung. Dadurch bereitet die Festlegung des Fehlerortes Schwierigkeiten, wenn gemäß
F i g. 2 die sich in Pfeilrichtung bewegende Bahn 1 aus mehreren Abschnitten 1', 1" usw. besteht, die
gegebenenfalls später zerschnitten werden sollen. In F i g. 2 sind weiterhin vier Stellungen des oberseitigen
Lichtstrahles I bzw. des von dem Lichtstrahl auf der Materialbahn beschriebenen Weges relativ zu
den Abschnitten der Materialbahn 1 dargestellt. Für den unterseitigen Lichtstrahl II gilt Entsprechendes.
In der Anfangsstellung soll z. B. der Lichtstrahl den Weg Γ auf der Bahn beschreiben. Bewegt sich nun
die Bahn unter der Abtasteinrichtung hindurch, so nimmt der Lichtweg relativ zu den Abschnitten nacheinander
die Stellung I" bis Itv ein. Bei der Abtastung einer derartig unterteilten Bahn kann es vorkommen,
daß der Lichtstrahl zwei bzw. mehrere Abschnitte bei einem Überfahren der Materialbahnbreite abtastet.
Nach dem Beispiel in F i g. 2 tastet der Lichtstrahl z. B. in der Stellung hinter Iitt zwei Abschnitte bei
einer Abtastung ab. Tritt nunmehr in der fotoelektrischen Empfangseinrichtung ein Fehlersignal auf, so
muß die Einrichtung wissen, liegt der Fehler im Abschnitt 1' oder im Abschnitt 1". Zur eindeutigen Zuordnung
zwischen Fehlersignal und Abschnitt kann man erfindungsgemäß einmal jeweils die Länge eines
Abschnittes z. B. in eine Spannung Ub analog umsetzen, die, wie z.B. in Fig. 2 a dargestellt, zum
Zeitpunkt der Abtastung am linken unteren Rand (Start) den Wert »0« bzw. einen konstanten Anfangswert besitzt und linear in Abhängigkeit von der
Länge des durchlaufenden Abschnittes bis zum Wert Λ ansteigt sowie bei Durchlauf des Abschnittendes
nach der Zeit tE, d. h., wenn der Lichtstrahl die Stellung Iiv einnimmt, auf »0« bzw. auf den konstanten
Wert zurückspringt und dann von neuem ansteigt. Diesen Spannungsverlauf kann man z. B.
durch Mitlauf eines Potentiometers od. dgl. mit einer Transportrolle der Bahn erhalten.
Zum anderen wird der von dem abtastenden Lichtstrahl auf der Bahn beschriebene Weg ebenfalls z. B.
in eine Spannung Ust abgebildet. Bewegt sich der Lichtstrahl von links nach rechts, so soll die Spannung
z. B. von »0« bzw. von einem konstanten Wert aus (Strahl an der linken Kante) bis zu einem Wert B
(Strahl an der rechten Kante) ansteigen und bei der Bewegung von rechts nach links von dem Wert B auf
den Wert »0« bzw. auf den konstanten Wert zurücksehen.
Dieser Spannungsanstieg erfolgt infolge der gegenüber der Bahngeschwindigkeit wesentlich größeren
Abtastgeschwindigkeit des Strahles erheblich schneller als der Anstieg der Spannung UB. Die Erzeugung
der der Lichtpunktbewegung analogen Spannung kann z. B. durch einen Kippspannungsoszillator erfolgen,
der gegebenenfalls von der Lichtstrahlbewegung synchronisiert wird.
ίο werden summiert und auf den Eingang einer bei einer Spannung Ua ansprechenden Einrichtung, z. B.
auf einen Trigger, gegeben. Den Wert A wählt man z. B. so, daß er unmittelbar unterhalb der Ansprechschwelle
liegt; gegebenenfalls sieht man einen kleinen Toleranzbereich vor. Man kann zu diesem Zweck
zwei Trigger mit sehr engbenachbarten Ansprechschwellen vorsehen. Tritt der Fehlerimpuls auf, wenn
der Trigger mit der kleineren Ansprechspannung angesprochen hat, der andere jedoch noch nicht, so
sortiert man im Zweifel beide Abschnitte aus. Haben beide Trigger angesprochen, dann liegt der Fehler
eindeutig im folgenden Abschnitt. Den von der Abschnittlänge abhängigen Maximalwert B der der
Lichtbewegung analogen Spannung Ust wählt man vorzugsweise so, daß der Momentanwert der Spannungssumme
gerade dann die Ansprechspannung Ua des Triggers erreicht, wenn der Lichtstrahl in einen
folgenden Abschnitt übergreift, d. h. gemäß F i g. 2 bei der Stellung I11 nach der Zeit t'. Liegt somit
der Lichtweg zwischen den Extremen I1 und I11, so wird der Trigger bei der Abtastbewegung nicht ansprechen.
Liegt dagegen der Lichtweg zwischen den Extremen In bis Iiv, so wird der Trigger bei der Abtastbewegung
ansprechen, und zwar — betrachtet bei einer Abtastbewegung von links nach rechts — nach
um so kleineren Abtastwegen, je größer die durchgelaufene Bogenlänge ist. Tritt bei der Abtastung
einer Bahnbreite ein Fehlerimpuls am Ausgang der fotoelektrischen Einrichtung auf, so kann man somit
unter Berücksichtigung des Schaltzustandes des Triggers mit Vorteil eindeutig erkennen, welchem Abschnitt
der Fehler zuzuordnen ist. Hat z. B. der Trigger bereits angesprochen, wenn der Fehlerimpuls
auftritt, so liegt der Fehler eindeutig im Abschnitt 1'.
Tastet der Strahl bei einer Abtastung über die Bahnbreite mehr als zwei Abschnitte ab, so kann
man mehrere Trigger mit abgestuften Ansprechschwellen vorsehen. Uberfährt der Lichtstrahl z. B.
bei einer Abtastung drei Abschnitte, so kann man einen zweiten Trigger vorsehen, dessen Ansprechschwelle
so abgestimmt ist, daß diese von der Summenspannung gerade erreicht wird, wenn der Lichtstrahl
in den dritten Abschnitt übergreift.
gen beschränkt. Grundsätzlich können die Strecken auch in andere technisch-physikalische Größen, insbesondere
in andere elektrische Größen, z. B. in eine Phasenverschiebung od. dgl., abgebildet werden.
Die Abbildung kann somit ganz allgemein analog vorgenommen werden.
Nach einem weiteren Merkmal der Erfindung können die Wege auch digital erfaßt werden. Die Abschnittlänge
wird durch eine Summe von Impulsen dargestellt, die mit der Größe der durchgelaufenen
Länge anwächst bis zu einem Maximalwert, um dann auf Null bzw. auf einen konstanten Anfangswert zurückzuspringen.
Zur Erfassung dieser Impulse ist ein Zähler ZI, vorzugsweise ein elektronischer Zähler,
Claims (2)
1. Einrichtung zur Festlegung des Fehlerortes auf einer bewegten, mittels eines Lichtstrahles
zeilenweise schräg zur Bewegungsrichtung abgetasteten und in aufeinanderfolgende Abschnitte
unterteilten (Bogen) bzw. später zu unterteilenden Materialbahn, dadurch gekennzeichnet,
daß sowohl die Länge jeweils eines Abschnittes als auch der von dem abtastenden Lichtstrahl auf
der Bahn beschriebene Weg durch an sich bekannte Geber analog in elektrische Größen abgebildet
werden, die summiert auf den Eingang einer mit einer Ansprechschwelle versehenen Einrichtung
geschaltet sind und deren Werte derart aufeinander abgestimmt sind, daß die Summe gerade
dann die Ansprechschwelle erreicht und die betreffende Einrichtung umschaltet, wenn der
einen Abschnitt abtastende Lichtstrahl einen folgenden Abschnitt erfaßt.
2. Einrichtung zur Festlegung des Fehlerortes auf einer bewegten, mittels eines Lichtstrahles
zeilenweise schräg zur Bewegungsrichtung abgetasteten und in aufeinanderfolgende Abschnitte
unterteilten (Bogen) bzw. später zu unterteilenden Materialbahn, dadurch gekennzeichnet, daß sowohl
die Länge jeweils eines Abschnittes als auch der von dem abtastenden Lichtstrahl auf der
Bahn beschriebene Weg durch an sich bekannte Digitalgeber in eine jeweils von einem Zähler erfaßte
Zahl von Impulsen abgebildet werden, die derart aufeinander abgestimmt sind, daß eine
z. B. ein Kippverhalten aufweisende, bezüglich des Schaltzustandes von der Anzeige beider Zähler
abhängige Einrichtung gerade dann von den Zählern umgeschaltet wird, wenn der einen bestimmten
Abschnitt abtastende Lichtstrahl einen folgenden Abschnitt erfaßt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
709 677/179 10. 67 © Bundesdruckerei BerUn
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1251981B true DE1251981B (de) | 1967-10-12 |
Family
ID=605121
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEL41673A Pending DE1251981B (de) |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1251981B (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4007401A1 (de) * | 1989-05-16 | 1990-11-22 | Asahi Optical Co Ltd | Messvorrichtung |
EP0562268A1 (de) * | 1992-03-26 | 1993-09-29 | Theodor Groz & Söhne & Ernst Beckert Nadelfabrik Commandit-Gesellschaft | Vorrichtung zum Ermitteln von Strukturfehlern in textilen Flächengebilden |
-
0
- DE DEL41673A patent/DE1251981B/de active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4007401A1 (de) * | 1989-05-16 | 1990-11-22 | Asahi Optical Co Ltd | Messvorrichtung |
EP0562268A1 (de) * | 1992-03-26 | 1993-09-29 | Theodor Groz & Söhne & Ernst Beckert Nadelfabrik Commandit-Gesellschaft | Vorrichtung zum Ermitteln von Strukturfehlern in textilen Flächengebilden |
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