DE1203401B - Einrichtung zur Justierung eines Ladungstraegerstrahles und Verfahren zur Justierung eines Ladungstraegerstrahles - Google Patents

Einrichtung zur Justierung eines Ladungstraegerstrahles und Verfahren zur Justierung eines Ladungstraegerstrahles

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DE1203401B
DE1203401B DEZ9242A DEZ0009242A DE1203401B DE 1203401 B DE1203401 B DE 1203401B DE Z9242 A DEZ9242 A DE Z9242A DE Z0009242 A DEZ0009242 A DE Z0009242A DE 1203401 B DE1203401 B DE 1203401B
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DE
Germany
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diaphragm
charge carrier
lens
deflection
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DEZ9242A
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English (en)
Inventor
Dipl-Ing Fritz Schleich
Dipl-Phys Karl Hei Steigerwald
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Raytheon Technologies Corp
Original Assignee
United Aircraft Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • H01J37/1471Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path for centering, aligning or positioning of ray or beam
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/302Controlling tubes by external information, e.g. programme control

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

  • Einrichtung zur Justierung eines Ladungsträgerstrahles und Verfahren zur Justierung eines Ladungsträgerstrahles Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Justierung eines durch eine Blende begrenzten Ladungsträgerstrahles in die optische Achse einer in Strahlrichtung gesehen unterhalb dieser Blende angeordneten elektronenoptischen Linse.
  • Bei Geräten, die mit Ladungsträgerstrahlen arbeiten, beispielsweise bei Elektronenmikroskopen oder Geräten zur Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahl, verläuft der Strahlengang im Hochvakuum. Bei solchen Geräten ist es notwendig, das Strahlerzeugungssystem justierbar zu gestalten, da der von diesem System gelieferte Ladungsträgerstrahl normalerweise nicht in der Achse des Gerätes verläuft. Wird im Strahlengang eine zur Formung des Strahles dienende Blende angeordnet, so ist es notwendig, auch diese Blende verschiebbar zu gestalten, da der Ladungsträgerstrahl nach erfolgter Justierung in die Geräteachse nicht ohne weiteres durch die Mitte der Öffnung dieser Blende tritt.
  • So ist zur Justierung des Strahlenganges eines Elektronenmikroskops eine Einrichtung bekannt, bei der zwischen einem verschiebbar ausgeführten Strahlerzeugungssystem und einer verschiebbaren Kondensorlinse mit einer fest mit dieser verbundenen Blende zwei Ablenksysteme angeordnet sind. Nach Verschiebung des Strahlerzeugungssystems und der Kondensorlinse mit der mit ihr verbundenen Blende läßt sich bei entsprechender Erregung der Ablenkvorrichtung erreichen, daß der Elektronenstrahl in der optischen Achse der Objektivlinse verläuft.
  • Da bei derartigen Geräten die justierbaren Elemente im Hochvakuum bewegt werden müssen, müssen mechanische Bewegungen mit Hilfe von Hochvakuumdichtungen in das Gerät eingeführt werden. Hochvakuumdichtungen stellen jedoch immer eine gewisse Fehlerquelle dar.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, eine Einrichtung zur Justierung eines Ladungsträgerstrahles zu schaffen, bei der Bewegungsdurchführungen in das Hochvakuum nach Möglichkeit vermieden werden.
  • Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß das Strahlerzeugungssystem und die Blende fest angeordnet sind und daß in Strahlrichtung gesehen vor der Blende ein Ablenksystem und hinter der Blende, jedoch vor der elektronenoptischen Linse, zwei Ablenksysteme angeordnet sind.
  • Durch das vor der Blende angeordnete Ablenksystem wird der aus der Kathode austretende Ladungsträgerstrahl durch die Mitte der Blende gelenkt, und durch die beiden hinter der Blende angeordneten Ablenksysteme wird der Ladungsträgerstrahl in die optische Achse der Linse gelenkt. Die beschriebene Einrichtung zur Justierung bietet somit die Möglichkeit, verschiebbare Strahlerzeugungsvorrichtungen und verschiebbare Blenden zu vermeiden, so daß die Fehlerquellen, die durch die bisher hierfür notwendig gewesenen Bewegungsdurchführungen gegeben sind, ausgeschaltet sind. Die Einrichtung findet besonders vorteilhaft dann Anwendung, wenn der Ladungsträgerstrahl durch eine weitere, im Strahlengang Ober- oder unterhalb der Linse angeordnete Blende treten soll.
  • Ohne irgendwelche Hilfsvorrichtungen ist der Justiervorgang ziemlich kompliziert. Es ist deshalb vorteilhaft, zur Erleichterung des Justiervorganges Hilfsvorrichtungen vorzusehen. Diese können darin bestehen, daß in Strahlrichtung gesehen vor der festen Blende und/oder hinter dem letzten Ablenksystem bzw. hinter einer im Strahlengang gelegenen elektromagnetischen Linse ein zum Durchtritt des Ladungsträgerstrahles durchbohrter Leuchtschirm angeordnet ist. Zur Beobachtung dieser Leuchtschirme sind dabei Einblicköffnungen im Gerät vorgesehen.
  • Zur Erleichterung des Justiervorganges ist es weiterhin zweckmäßig, die Stromversorgungsgeräte der Ablenksysteme so auszubilden, daß sie einen zur Wobbelung des jeweiligen Ablenksystems dienenden Wechselstrom abgeben können. In diesem Fall kann es auch zweckmäßig sein, keine Leuchtschirme vorzusehen, sondern die Blende und/oder das mit dem Ladungsträgerstrahl zu beaufschlagende Objekt gegen das Gerät zu isolieren und über einen Widerstand mit Erdpotential zu verbinden. Die an diesem Widerstand abfallende Spannung wird den Ablenkplatten eines Kuthodenstrahloszillographen zugeführt, auf dessen Bildschirm also beobachtei werden kann, wie der Ladungsträgerstrahl zur Blende bzw. zum Objekt liegt.
  • Der Justiervorgang selbst wird im folgenden im Zusammenhang mit der die beschriebene Einrichtung darstellenden Zeichnung näher erläutert.
  • Das in der Zeichnung dargestellte Gerät enthält ein aus der Kathode 1. der Steuerelektrode 2 und der Anode 4 bestehendes Strahlerzeugungssystem. Die zum Betrieb dieses Systems dienenden Spannungen werden über einen Isolator 3 zugeführt. Das Strahlerzeugungssystem ist in einem geerdeten und unter Hochvakuum stehenden Gehäuse 5 unverschiebbar angeordnet. Dieses Gehäuse enthält weiterhin eine fest angeordnete Blende 6 sowie eine elektromagnetische Linse 7. Der durch das Strahlerzeugungssystem erzeugte Elektronenstrahl 8 soll so ausgerichtet werden, daß er auf die Oberfläche eines zu bearbeitenden Objektes 9 trifft.
  • In Strahlrichtung gesehen oberhalb der Blende 6 ist ein elektromagnetisches Ablenksystem 10 angeordnet, während zwei weitere elektromagnetische Ablenksysteme 11 und 12 hinter der Blende 6 angeordnet sind.
  • Wie aus der Zeichnung hervorgeht, wird der durch das fest eingebaute Strahlerzeugungssystem erzeugte Elektronenstrahl 8 mittels des Ablenksystems 10 zunächst durch die Mitte der Blende 6 gelenkt. Durch die beiden Ablenksysteme 11 und 12 wird sodann der Elektronenstrahl in die Achse der elektromagnetischen Linse 7 gelenkt.
  • Oberhalb der Blende 6 ist ein zum Durchtritt des Elektronenstrahles 8 durchbohrter Leuchtschirm 13 angeordnet, welcher durch eine mittels eines Röntgenschutzglases abgeschlossene Einblicköffnung 14 beobachtet werden kann. Das zu bearbeitende Objekt 9 ist auf Isolatoren 15 und 16 gelagert und über einen Widerstand 17 mit Erde verbunden. Dieser Widerstand 17 ist seinerseits über einen Verstärker 18 mit den Ablenkplatten eines Kathodenstrahloszillographen 19 verbunden.
  • Die Justierung des Elektronenstrahles 8 wird in mehreren Schritten durchgeführt, welche folgendermaßen ablaufen: 1. Zunächst wird das zur Stromversorgung der Linse 7 dienende Stromversorgungsgerät 20 abgeschaltet. Ebenso werden die beiden zur Stromversorgung der Ablenksysteme 11 und 12 dienenden Stromversorgungsgeräte 21 und 22 abgeschaltet. Das Stromversorgungsgerät 23 für das Ablenksystem 10 wird sodann so geschaltet, daß dem zur Strahlablenkung in der Papierebene dienenden Spulenpaar ein Wechselstrom zugeführt wird. Der Elektronenstrahl 8 erzeugt nun einen Strich, welcher durch die Einblicköffnung 14 auf dem Leuchtschirm 13 beobachtet werden kann. Durch Regelung des dem zur Strahlablenkung senkrecht zur Papierebene dienenden Spulenpaar zugeführten Gleichstromes wird der vom Elektronenstrahl erzeugte Strich senkrecht zu seiner Richtung auf die Mitte der Blendenöffnung der Blende 6 geschoben. Danach wird der Wechselstrom abgeschaltet, wobei im allgemeinen der Elektronenstrahl seitlich versetzt auf den Leuchtschirm 13 auftreffen wird. Nun wird dem zur Strahlablenkung senkrecht zur Papierebene dienenden Spulenpaar ein Gleichstrom zugeführt, wobei durch entsprechende Regelung dieses Stromes erreicht wird, daß der Elektronenstrahl durch die Mitte der Öffnung der Blende 6 trifft.
  • 2. Das Stromversorgungsgerät 21 des Ablenksystems 11 wird eingeschaltet, und es wird einem Spulenpaar ein zur Wobbelung des Elektronenstrahles dienender Wechselstrom zugeführt. Der vom Elektronenstrahl8 beschriebene Strich wird sodann mit Hilfe des um 90° versetzten Spulenpaares so weit verschoben, bis er auf dem unterhalb der Linse 7 gelegenen Objekt 9 erscheint. Dies wird dadurch registriert, daß sich beim Auftreffen des Elektronenstrahles auf das Objekt 9 dieses auflädt und demzufolge über den Widerstand 17 ein Strom zur Erde abfließt. Der am Widerstand 17 entstehende Spannungsabfall wird im Kathodenstrahloszillographen 19 zur Anzeige gebracht.
  • Nach Abschalten der Wobbelspannung wird dem entsprechenden Spulenpaar ein Gleichstrom zugeführt, durch dessen Regelung erreicht wird, daß der Elektronenstrahl 8 durch die Bohrung der Linse 7 trifft. Um auch dies wiederum auf dem Schirm des Kathodenstrahloszillographen 19 beobachten zu können, ist es zweckmäßig, durch entsprechende Regelung der Spannung der Welinelt-Elektrode 2 den Elektronenstrahl 8 intermittierend zu steuern.
  • 3. Als letzter Schritt wird der Linse 7 über das Stromversorgungsgerät 20 ein Wechselstrom in der Art zugeführt, daß die Linse während des Wobbelvorganges zwischen zwei Defokussierungsstellungen die Fokussierungsstellung durchläuft. Mit Hilfe des Ablenksystems 12 wird sodann der Elektronenstrahl 8 so weit justiert, daß eine Verschiebung des Strahlmittelpunktes auf dem Objekt 9 nicht mehr auftritt. Es wird also lediglich noch ein sogenanntes Atmen des Strahles 8 auf dem Objekt 9 beobachtet. Damit ist der Strahl 8 zentriert, und nach Abschalten der Linsenwobbelspannung ist die Justierung beendet.
  • An Stelle der in der Zeichnung dargestellten Justierhilfen ist es auch möglich, oberhalb des Objektes 9 einen Leuchtschirm anzuordnen und auf diesem den auftreffenden Strahl 8 zu beobachten. Ebenso ist es möglich, den vor der Blende 6 gelegenen Leuchtschirm 13 dadurch zu ersetzen, daß die Blende 6 vom Gehäuse 5 isoliert und über einen Widerstand mit Erde verbunden wird, Die an diesem Widerstand abfallende Spannung ist in diesem Fall über einen Verstärker den Ablenkplatten eines Kathodenstrahloszillographen zuzuführen.

Claims (2)

  1. Patentansprüche: 1. Einrichtung zur Justierung eines durch eine Blende begrenzten Ladungsträgerstrahles in die optische Achse einer in Strahlrichtung gesehen unterhalb dieser Blende angeordneten elektronenoptischen Linse, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlerzeugungssystem und die Blende (6) fest angeordnet sind und daß in Strahlrichtung gesehen vor der Blende ein Ablenksystem (10) und hinter der Blende, jedoch vor der elektronenoptischen Linse (7), zwei Ablenksysteme (11,12) angeordnet sind. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromversorungsgeräte (23, 21, 22) sämtlicher Ablenksysteme (10,11,12) sowie das Stromversorgungsgerät (20) für die Linse (7) zur Abgabe eines zur Wobbelung des jeweiligen Systems dienenden Wechselstromes eingerichtet sind. 3. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (6) und/ oder das mit dem Ladungsträgerstrahl zu beaufschlagende Objekt (9) über einen Widerstand (17) mit Erdpotential verbunden ist und daß dieser Widerstand mit den Ablenkplatten eines Kathodenstrahloszillographen (19) in Verbindung steht. 4. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß in Strahlrichtung gesehen vor der Blende und/oder hinter dem letzten Ablenksystem ein zum Durchtritt des Ladungsträgerstrahles durchbohrter Leuchtschirm angeordnet ist. 5. Verfahren zur Justierung eines Ladungsträgerstrahles mit Hilfe einer Einrichtung nach den Ansprüchen 1, 2 und 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß zunächst einem Spulenpaar des vor der Blende (6) angeordneten Ablenksystems (10) eine Wechselspannung und zugleich dem anderen Spulenpaar ein Gleichstrom zugeführt wird, daß sodann der Gleichstrom so geregelt wird, daß der Strahl (8) die Blendenmitte überstreicht, daß danach der Wechselstrom abgeschaltet und durch einen Gleichstrom ersetzt wird, der so geregelt wird, daß der Strahl durch die Blendenmitte trifft, daß danach in derselben Weise die durch die Spulen des ersten hinter der Blende angeordneten Ablenksystems (11) fließenden Gleichströme so eingestellt werden, daß der Strahl durch die Linse (7) hindurch auf das Objekt (9) trifft, und daß schließlich der durch die Linse (7) fließende Strom gewobbelt und zugleich die durch die Spulen des zweiten, hinter der Blende angeordneten Ablenksystems (12) fließenden Gleichströme so eingestellt werden, daß bei der Wobbelung der Linse keine Verschiebung des Strahlmittelpunktes auf dem Objekt eintritt. In Betracht gezogene Druckschriften: Zeitschrift »Philips' Technische Rundschau«, Jg. 17, Nr.
  2. 2, August 1955, S. 45.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2016753A1 (de) * 1969-04-08 1970-10-15 Nihon Denshi K.K., Akishima, Tokio Vorrichtung zur Einstellung und Änderung des Objektblickfeldes bei Elektronenmikroskopen oder dergleichen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE2016753A1 (de) * 1969-04-08 1970-10-15 Nihon Denshi K.K., Akishima, Tokio Vorrichtung zur Einstellung und Änderung des Objektblickfeldes bei Elektronenmikroskopen oder dergleichen

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