DE1120512B

DE1120512B - Self-locking test multiple

Info

Publication number: DE1120512B
Application number: DEST17011A
Authority: DE
Inventors: Dipl-Ing Theodor Burian; Dipl-Ing Heinz Plitschka
Original assignee: Standard Elektrik Lorenz AG
Current assignee: Alcatel Lucent Deutschland AG
Priority date: 1960-10-15
Filing date: 1960-10-15
Publication date: 1961-12-28

Description

Selbstsperrendes Prüfvielfach Die Erfindung betrifft ein selbstsperrendes Prüfvielfach zur Verhinderung von Doppelbelegungen, bei dem in Parallelschaltung liegende Prüfrelais mehrerer Schaltglieder auf eine gemeinsame Einrichtung aufprüfen können. Derartige Prüfstromkreise finden insbesondere in der Fernmeldetechnik für die verschiedensten Zwecke Anwendung. So besteht beispielsweise in der Fernsprechtechnik die Aufgabe, daß eine Anzahl von Registern mit einem gemeinsam zugeordneten Zuordner zusammenarbeiten muß. Beim Aufprüfen eines Registers auf den Zuordner wird dabei durch das Prüfrelais ein Durchschaltemittel eingeschaltet, welches die Verbindung der zentralen Einrichtung mit dem diese Einrichtung anfordernden Schaltglied bewirkt. Bei derartigen Anlagen tritt jedoch die Gefahr einer Doppelbelegung ein, wenn von zwei oder mehr Schaltgliedern gleichzeitig die zentrale Einrichtung angefordert wird. Um eine solche Doppelbelegung zu vermeiden, hat man in den gemeinsamen Teil aller Schaltglieder einen Ruhekontakt eines Differenzrelais gelegt. Dieses Relais wird dabei dann eingeschaltet, wenn zwei oder mehr Prüfrelais gleichzeitig aufprüfen, indem über Kontakte der Prüfrelais durch Parallelschalten von Widerständen eine Stromverstärkung in einer Wicklung dieses Differenzrelais hervorgerufen wird. Bei einer solchen Anordnung muß verhindert werden, daß bei einer Doppelbelegung die die Durchschaltung bewirkenden Schaltmittel erst dann zur Wirkung kommen, wenn feststeht, daß keine Doppelbelegung vorliegt. Diese Feststellung wird dadurch vorgenommen, daß die Durchschalterelais anzugsverzögert sind und erst dann zur Wirkung kommen, wenn die Ansprechzeit des Differenzrelais vergangen ist.Self-locking test multiple The invention relates to a self-locking Check multiple to prevent double assignments, in which in parallel connection Check lying test relays of several switching elements on a common device can. Such test circuits are found in particular in telecommunications for the most diverse purposes application. For example, there is telephony the task of having a number of registers with a commonly assigned allocator must work together. When checking a register on the assigner, switched on by the test relay a switching means, which the connection the central facility with the switching element requesting this facility. With such systems, however, there is a risk of double occupancy if from two or more switching elements requested the central facility at the same time will. In order to avoid such double occupancy, one has in the common part all switching elements placed a break contact of a differential relay. This relay is switched on when two or more test relays test simultaneously, by connecting resistors in parallel to a Current amplification is caused in a winding of this differential relay. at such an arrangement must be prevented that in a double occupancy The switching means causing the connection only come into effect when it is certain that there is no double occupancy. This determination is made by that the through-switch relays are delayed on and only then come into effect, when the response time of the differential relay has passed.

Die Anzahl der einer zentralen Einrichtung zugeordneten Schaltglieder kann um so größer sein, je schneller die Durchschaltung an das Schaltglied erfolgt, das sie anfordert. Es ist daher vorteilhaft, die Anschaltung nicht zu verzögern, sondern so schnell wie möglich durchzuführen.The number of switching elements assigned to a central facility can be greater, the faster the connection to the switching element takes place, that she requests. It is therefore advantageous not to delay the connection, but to do it as soon as possible.

Eine bekannte Anordnung erreicht dies dadurch, daß in den für alle parallel geschalteten Prüfstromkreise der einzelnen Schaltglieder gemeinsamen Teil der Prüfstromkreise ein statischer elektrischer Schalter angeordnet ist, dessen Vorspannung-von den Prüfrelais beeinflußt und in der Weise gesteuert wird, daß er bei gleichzeitigem Ansprechen mehrerer Prüfrelais stromundurchlässig wird, so daß letztere wieder abfallen. Diese Anordnung hat den Nachteil, daß die Prüfrelais ansprechen können und erst dann entschieden wird, ob eine Doppelbelegung vorliegt. Da aber die Anschaltung des anfordernden Schaltgliedes sehr schnell erfolgen soll, kann eine Doppelbelegung nicht vermieden werden, auch wenn sie nur kurzzeitig ist.A known arrangement achieves this in that in the for all test circuits connected in parallel to the individual switching elements common part the test circuits a static electrical switch is arranged, whose Bias-influenced by the test relay and controlled in the way that it is becomes current-impermeable when several test relays respond at the same time, so that the latter fall off again. This arrangement has the disadvantage that the test relays respond and only then will it be decided whether there is a double occupancy. Here but the connection of the requesting switching element should take place very quickly, can double occupancy cannot be avoided, even if it is only for a short time.

Eine weitere bekannte Anordnung sieht für die parallel geschalteten Prüfrelais einen gemeinsamen Anwurfkondensator vor, der so dimensioniert ist, daß, nur ein Relais ansprechen kann. Diese Anordnung ist jedoch sehr unsicher, da infolge Spannungsschwankungen und Ansprechtoleranzen das Prüfrelais keine Sicherheit gegen Doppelbelegungen gegeben ist oder das Prüfrelais nicht einwandfrei ansprechen kann.Another known arrangement looks for those connected in parallel Test relay a common starting capacitor, which is dimensioned so that, only one relay can respond. However, this arrangement is very unsafe because as a result Voltage fluctuations and response tolerances the test relay does not provide any security against Double assignments exist or the test relay cannot respond properly.

Auch eine Anordnung, die ein gemeinsames Relais im Prüfstromkreis vorsieht, das beim Anreiz von zwei oder mehr Prüfrelais anspricht und beim Anreiz von einem Schaltglied Fehlstrombedingungen hat, arbeitet aus denselben Gründen nicht einwandfrei. Außerdem sind die Prüfrelais der Schaltglieder so zu dimensionieren, daß über das gemeinsame Relais nur ein Prüfrelais ansprechen kann. Beim gleichzeitigen Aufprüfen von zwei und mehreren Prüfrelais ist auch für diese Relais Fehlstrombedingung gegeben, was die Anordnung noch unsicherer werden läßt.Also an arrangement that has a common relay in the test circuit provides that responds when two or more test relays are stimulated and when there is an incentive has fault current conditions from a switching element does not work for the same reasons perfect. In addition, the test relays of the switching elements must be dimensioned in such a way that that only one test relay can respond via the shared relay. At the same time Checking two or more test relays is also a fault current condition for these relays given, which makes the arrangement even more uncertain.

Es ist auch schon eine Anordnung bekannt, die zwei Prüfvielfachleitungen vorsieht, wobei über die eine Vielfachleitung ein Spannungsteiler für die Prüfrelais so beeinflußt wird, daß die Prüfrelais Ansprech-oder Fehlstrom erhalten. Die Beeinflussung des Spannungsteilers erfolgt durch Schaltmittel der Schaltglieder. Eine Weiterbildung dieser Anordnung steuert über die erste Vielfachleitung einen Schalter, der je nach Anreiz die zweite Vielfachleitung für die Prüfrelais niederohmig oder hochohmig anschaltet. Derartige Schalter, die bei der Ansteuerung aus einem Schaltglied sicher ansprechen und bei der gleichzeitigen Ansteuerung aus zwei Schaltgliedern sicher nicht ansprechen, arbeiten nicht zur Zufriedenheit, wenn man nicht besondere Stabilisierungsmaßnahmen und Einstellmöglichkeiten vorsieht. Dies macht die Anordnung jedoch kompliziert und teuer.An arrangement is also known, the two test highways provides, with a voltage divider for the test relay via a multiple line is influenced in such a way that the test relays receive response or fault current. The influencing of the voltage divider is done by switching means of the switching elements. A further education this arrangement controls a switch via the first multiple line, depending on Incentive the second multiple line for the test relays low or high resistance turns on. Such switches, when controlled from a Relay switching element safely and with simultaneous activation from two switching elements Certainly not addressing, not working to the satisfaction, if you are not special Provides stabilization measures and adjustment options. This makes the arrangement however, complicated and expensive.

Die Erfindung hat sich nun zur Aufgabe gestellt, ein selbstsperrendes Prüfvielfach anzugeben, das die Nachteile der bekannten Anordnungen vermeidet und bei dem alle Schaltmittel der Schaltglieder und der gemeinsamen Einrichtung nur eine »Ja«-»Nein«-Aussage treffen. Die Erfindung erreicht dies dadurch, daß die Prüfstromkreise aller parallel geschalteten Schaltglieder zweiadrig ausgeführt sind, wobei die erste Vielfachleitung jeweils einen Zweig eines ersten und eines zweiten Brückenstromkreises und die zweite Vielfachleitung nur einen Zweig des zweiten Brückenstromkreises darstellt, und daß jeweils über einen Gleichrichter im Indikatorzweig des ersten Brückenstromkreises die Anspreehwicklung und im Indikatorzweig des zweiten Brückenstromkreises die Haltewicklung des gemeinsamen Prüfrelais angeordnet ist. Im Ruhezustand ist der erste Brückenstromkreis so verstimmt, daß das gemeinsame Prüfrelais in der zentralen Einrichtung über die Ansprechwicklung anspricht und die zweite Vielfachleitung anschaltet. Bei der Anschaltung eines beliebigen Schaltgliedes werden in dem Vielfachstromkreis nach der Erfindung die Brückenstromkreise so verstimmt, daß der Gleichrichter im ersten Brückenstromkreis sperrt und damit die Anzugswicklung des Prüfrelais stromlos wird, der Gleichrichter im zweiten Brückenstromkreis noch leitend bleibt, so daß das Prüfrelais über die Haltewicklung erregt und gehalten bleibt. Bei der Anschaltung von zwei und mehr Schaltgliedern werden die Brückenstromkreise so verstimmt, daß beide Gleichrichter sperren, so daß das Prüfrelais abfällt und die zweite Vielfachleitung abschaltet. Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die Abfallzeit des gemeinsamen Prüfrelais in der zentralen Einrichtung kleiner gewählt als die Ansprechzeit der Prüfrelais in den einzelnen Schaltgliedern. Damit ist sichergestellt, daß alle Schaltmittel nur erregt werden, wenn feststeht, daß sie ansprechen müssen oder gehalten werden müssen, und somit ist ein sicher arbeitendes Prüfvielfach .realisiert, das sich selbst sperrt, wenn gleichzeitig die Anforderung aus mehreren Schaltgliedern vorliegt. Ein angeschaltetes Schaltglied wird jedoch durch ein neu hinzukommendes Anforderungszeichen nicht beeinfiußt und bleibt bis zur Abfertigung mit der zentralen Einrichtung verbunden, da die Prüfrelais der Schaltglieder einen eigenen Haltestromkreis haben.The invention has now set itself the task of a self-locking Specify multiple test that avoids the disadvantages of the known arrangements and in which all switching means of the switching elements and the common device only make a "yes" - "no" statement. The invention achieves this in that the test circuits all switching elements connected in parallel are two-core, the first Multiple line each one branch of a first and a second bridge circuit and the second multiple line is only one branch of the second bridge circuit, and that in each case via a rectifier in the indicator branch of the first bridge circuit the response winding and the holding winding in the indicator branch of the second bridge circuit of the common test relay is arranged. The first bridge circuit is in the idle state so out of tune that the common test relay in the central facility via the Response winding responds and turns on the second multiple line. When connecting any switching element in the multiple circuit according to the invention the bridge circuits so detuned that the rectifier in the first bridge circuit blocks and thus the pick-up winding of the test relay is de-energized, the rectifier in the second bridge circuit still remains conductive, so that the test relay via the Holding winding excited and held. When connecting two or more Switching elements, the bridge circuits are detuned so that both rectifiers block so that the test relay drops out and the second multiple line switches off. According to a further embodiment of the invention, the fall time is the common Test relay in the central facility selected to be smaller than the response time of the Test relays in the individual switching elements. This ensures that all switching means only become aroused when it is certain that they must address or be held must, and thus a safely working test multiple .realized that locks itself if there is a request from several switching elements at the same time. A switched-on switching element is, however, indicated by a newly added request symbol not influenced and remains connected to the central facility until dispatch, because the test relays of the switching elements have their own holding circuit.

Die Erfindung wird nun an Hand der Zeichnung näher erläutert. Dabei sind nur die im Prüfvielfach wirkenden Stromkreise gezeigt. Die Durchschaltung vom Schaltglied zu der zentralen Einrichtung und alles, was nicht unmittelbar zum Prüfvorgang gehört, ist nicht dargestellt, da es in an sich bekannter Weise durchgeführt wird.The invention will now be explained in more detail with reference to the drawing. Included only the circuits that act in the test multiple are shown. The connection from Switching element to the central facility and everything that is not directly related to the test process belongs is not shown since it is carried out in a manner known per se.

Alle Schaltglieder sind über die Vielfachleitungen S1 und S2 mit dem Prüfstromkreis der zentralen Einrichtung verbunden. Bei der Anforderung der zentralen Einrichtung werden in dem betreffenden Schaltglied die an-Kontakte geschlossen. Der Prüfstromkreis der zentralen Einrichtung setzt sich aus zwei unvollkommenen Brückenstromkreisen zusammen, die erst bei der Anschaltung eines oder mehrerer Schaltglieder vervollständigt werden.All switching elements are connected to the multiple lines S1 and S2 Central facility test circuit connected. When requesting the central Device, the on-contacts are closed in the relevant switching element. The test circuit of the central facility consists of two imperfect ones Bridge circuits that only occur when one or more switching elements are connected to be completed.

Sind alle Schaltglieder in der Ruhestellung (an-Kontakte geöffnet), dann ist ein erster Brückenstromkreis, bestehend aus den Widerständen R4, R, und R6 sowie der VielfachleitungSl mit dem Indikator Relaiswicklung P I und Gleichrichter G 1, so verstimmt, daß in folgendem Stromkreis das Relais P anspricht: Erde-R 5-P I-G 1-R 4-Minuspol.If all switching elements are in the rest position (on contacts open), then there is a first bridge circuit, consisting of resistors R4, R, and R6 and the multiple line S1 with the indicator relay winding P I and rectifier G 1, so detuned that the relay P responds in the following circuit: Earth-R 5-P I-G 1-R 4 negative pole.

Durch den p-Kontakt wird ein zweiter Brückenstromkreis so verändert, daß auch die Wicklung P 11 des Prüfrelais erregt wird und die Wirkung der Erregung in der Wicklung PI unterstützt. Der Stromkreis ist wie folgt geschlossen: Erde p-Kontakt-R 3-P II-G 2-R 4-Minuspol. Erfolgt nun die Aufprüfung aus einem Schaltglied (an-Kontakte geschlossen), dann werden über die Vielfachleitung S 1 beide Brückenstromkreise und über die Vielfachleitung S2 nur der zweite Brückenstromkreis beeinffußt. Durch die Anschaltung des Widerstandes R 1 an die Vielfachleitung S 1 wird das Potential des Punktes B positiver. Durch entsprechende Dimensionierung des Spannungsteilers R 5-R 6 läßt sich dabei erreichen, daß das Potential des Punktes B sicher auch positiver ist als das Potential des Punktes A. Der Gleichrichter G1 sperrt, und die Wicklung PI des Prüfrelais wird stromlos. Das Potential im Punkt B ist aber immer noch negativer als das Potential am Punkt C und damit bleibt die Wicklung PII des Prüfrelais erregt. Dies läßt sich durch entsprechende Dimensionierung des Spannungsteilers R2-PU-R3 der Vielfachleitung S 2 erreichen. In diesem Stromkreis spricht auch das Prüfrelais PU des anfordernden Schaltgliedes an und hält sich in einem nicht gezeigten eigenen Haltekreis.A second bridge circuit is changed by the p-contact in such a way that the winding P 11 of the test relay is also excited and supports the effect of the excitation in the winding PI. The circuit is closed as follows: Earth p-contact-R 3-P II-G 2-R 4-negative pole. If the check now takes place from a switching element (connected contacts closed), then both bridge circuits are influenced via the multiple line S 1 and only the second bridge circuit is influenced via the multiple line S2. By connecting the resistor R 1 to the multiple line S 1, the potential of the point B becomes more positive. By appropriately dimensioning the voltage divider R 5 -R 6, it can be achieved that the potential of point B is definitely more positive than the potential of point A. The rectifier G1 blocks and the winding PI of the test relay is de-energized. However, the potential at point B is still more negative than the potential at point C and the PII winding of the test relay therefore remains energized. This can be achieved by appropriate dimensioning of the voltage divider R2-PU-R3 of the multiple line S 2 . In this circuit, the test relay PU of the requesting switching element also responds and is held in its own holding circuit, not shown.

Erfolgt in diesem Schaltzustand eine erneute Anforderung der zentralen Einrichtung durch ein anderes Schaltglied, dann nehmen die Brückenwiderstände des S1- und S2-Vielfaches halbe Werte an. Das Potential am Punkt B wird noch positiver und das Potential am Punkt C noch negativer. Der Gleichrichter G 1 wird noch mehr gesperrt, und auch der Gleichrichter G 2 erhält nun Sperrpotential. Das Prüfrelais P fällt ab und trennt die VielfachleitungS2 ab. Das Relais PU des zweiten Schaltgliedes kann nicht mehr aufprüfen, wenn die Abfallzeit des P-Relais kleiner gewählt wird als die Ansprechzeit der PU-Relais. Damit ist eine Doppelbelegung der zentralen Einrichtung sicher verhindert. Dies trifft auch dann zu, wenn noch weitere Anforderungen hinzukommen oder wenn diese bereits von Anfang an gleichzeitig eintreffen.If another switching element is requested from the central device in this switching state, the bridge resistances of the S1 and S2 multiple assume half values. The potential at point B becomes even more positive and the potential at point C even more negative. The rectifier G 1 is blocked even more, and the rectifier G 2 now also receives blocking potential. The test relay P drops out and disconnects the multiple line S2. The PU relay of the second switching element can no longer check if the release time of the P relay is selected to be shorter than the response time of the PU relay. This reliably prevents double occupancy of the central facility. This also applies if there are additional requirements or if these come at the same time from the start.

Claims

PATENT CLAIMS: 1. Self-locking test multiple to prevent double assignments in which test relays in parallel can test several switching elements on a common device, characterized in that the test circuits of all switching elements connected in parallel are designed with two wires, the first multiple line (S 1) each having one Branch (R 1) of a first (R 1, R 4-R 6, R 7-PI, G l.) And a second (R1, R4-R2, PU, P3, R 5-P II, G2) bridge circuit and the second multiple line (S 2) represents only one branch (R2) of the second bridge circuit, and that in each case via a rectifier (G l or G2) in the indicator branch of the first bridge circuit the response winding (PI) and in the indicator branch of the second bridge circuit the holding winding ( P II) of the common test relay is arranged.

2. test multiple according to claim 1, characterized in that im Idle state (on-contact open) the first bridge circuit is so out of tune, that the test relay (P) responds via the response winding (P1) and the second multiple line (S2) turns on.

3. test multiple according to claim 1 and 2, characterized in that that when connecting any switching element, the bridge circuits so are out of tune that the rectifier (G 1) blocks and thus the pull-in winding (P I) is de-energized, the rectifier (G 2) and the relay remain conductive (P) holds over the holding winding (P II).

4. test manifold according to claim 1 and 2, characterized in that when two or more switching elements are connected, the bridge circuits are detuned so that both rectifiers (G l and G2) block so that the relay (P) drops out and thus the second multiple line (S2) switches off.

5. test multiple according to claim 4, characterized in that the fall time of the common test relay (P) is smaller than the response time of the individual test relay (PU) in the switching elements.

6. test multiple according to claim 1 to 5, characterized in that the test relay the switching elements have a holding circuit that is separate from the multiple.