DE1175282B

DE1175282B - Circuit arrangement for testing lines in telecommunications, in particular telephone systems

Info

Publication number: DE1175282B
Application number: DES84113A
Authority: DE
Inventors: Josef Roehrig
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1963-03-12
Filing date: 1963-03-12
Publication date: 1964-08-06

Description

Schaltungsanordnung zum Prüfen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung für Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, in welchen an Prüfleitungen deren Freizustand durch ein erstes Spannungspotential und deren Sperrzustand durch ein zweites Spannungspotential angezeigt wird und in welchen der jeweilige Belegungszustand der Prüfleitung durch das entsprechende Spannungspotential messende Prüfschaltmittel festgestellt wird und in welchen eine geprüfte freie Prüfleitung durch die Prüfschaltmittel gesperrt wird.Circuit arrangement for testing lines in telecommunications, in particular Telephone systems The invention relates to a circuit arrangement for telecommunications, in particular telephone systems in which test lines are checked to ensure that they are free a first voltage potential and its blocking state by a second voltage potential is displayed and in which the respective occupancy status of the test lead through the test switching means measuring the corresponding voltage potential is determined and in which a tested free test line is blocked by the test switching means will.

In Fernmeldeanlagen dieser Art besteht unter anderem die Aufgabe, mit Sicherheit das Doppelprüfen zu verhindern. Hierunter versteht man, daß zwei gleichzeitig eine freie Prüfleitung prüfende Schaltglieder diese belegen und mit dem entsprechenden nachfolgenden Schaltglied zusammengeschaltet werden können.In telecommunications systems of this type, one of the tasks is to to prevent double checking with certainty. This means that two At the same time, a free test line testing switching elements occupy this and with can be interconnected with the corresponding subsequent switching element.

In bekannten Schaltungsanordnungen sind in die Prüfadern zu prüfender Schaltglieder Belegungswiderstände geschaltet, über welche ein bestimmtes, den Freizustand kennzeichnendes erstes Spannungspotential an die Prüfader angelegt ist. Prüfrelais, welche mit einer freien Prüfleitung verbunden werden, registrieren zunächst deren Freizustand, indem sie über eine relativ hochohmige Wicklung ansprechen. Diese wird dann beim Ansprechen des Relais über eigenen Kontakt zum Teil kurzgeschlossen. Durch derartige Widerstandsherabsetzung im Prüfstromkreis sollen andere, dieselbe Prüfleitung prüfende Prüfrelais gehindert werden, auch anzusprechen; d. h., die Prüfleitung wird durch diese Verschiebung des Spannungspotentials gesperrt. Diese weit verbreiteten Prüfschaltungen haben den Nachteil, daß z. B. zufällig gleichzeitig prüfende Prüfrelais gleichzeitig über die noch ungesperrte Prüfleitung erregt werden und ansprechen. Für das Doppelprüfen besteht dabei keine Gefahrenszeit, deren Dauer im wesentlichen durch die elektromagnetische und die mechanische Trägheit der Relais bestimmt ist.In known circuit arrangements, the test leads are to be tested Switching elements switched occupancy resistances, via which a certain, the free state characteristic first voltage potential is applied to the test wire. Test relay, which are connected to a free test line first register theirs Free state by responding via a relatively high-resistance winding. This will then partially short-circuited when the relay responds via its own contact. By Such a reduction in resistance in the test circuit should be different, the same test lead testing test relays are prevented from also responding; d. i.e., the test lead is blocked by this shift in the voltage potential. This widespread Test circuits have the disadvantage that, for. B. randomly simultaneously testing test relays are excited and respond at the same time via the test line that is still unblocked. There is no dangerous time for double testing, the duration of which is essentially is determined by the electromagnetic and mechanical inertia of the relays.

Außerdem sind Prüfschaltungen mit Prüf- und Nachprüfrelais bekannt, in welchen Nachprüfrelais infolge Fehlstrom nicht ansprechen können, wenn gleichzeitig zwei Nachprüfrelais mit einer zu prüfenden Leitung verbunden sind. Die hiermit verbundenen Fehlstrombedingungen können aber nur erfüllt werden, wenn die Widerstandswerte der Belegungsschaltmittel in engen Grenzen liegen. Diese Voraussetzungen sind in der Regel dann nicht erfüllt, wenn Einrichtungen mit unterschiedlichen Widerständen in den Belegungsadern mit denselben Prüfrelais verbunden werden können.In addition, test circuits with test and re-test relays are known, in which check relays cannot respond due to fault current, if at the same time two verification relays are connected to a line to be tested. The associated However, fault current conditions can only be met if the resistance values of the Occupancy switching means are within narrow limits. These requirements are in the Usually not fulfilled when devices with different resistances can be connected to the same test relays in the assignment cores.

In weiteren bekannten derartigen Schaltungsanordnungen sind Vorprüfrelais vorgesehen. Vorprüfrelais verschiedener, möglicherweise gleiche Prüfleitungen prüfender Schaltglieder sind durch eine Kette relaiseigener Kontakte so voneinander abhängig, daß von mehreren immer nur ein einziges ansprechen kann. Solche, durch eine Vielzahl von Schaltgliedern verlaufende Kontaktketten können nur unter bestimmten Voraussetzungen gebildet werden, z. B. nicht dann, wenn neue mit bereits bestehenden Einrichtungen zusammenarbeiten sollen und in letzteren die genannten Kontaktketten nicht vorhanden sind.Pre-test relays are used in other known circuit arrangements of this type intended. Pretest relays testing different, possibly the same test leads Switching elements are dependent on each other through a chain of relay contacts, that only one of several can speak at a time. Such, through a multitude Contact chains running from switching elements can only be used under certain conditions be formed, e.g. B. not if new with existing facilities should work together and in the latter the mentioned contact chains do not exist are.

Es wurde ferner eine Prüfschaltung vorgeschlagen, in welcher zwecks Prüfung des Belegungszustandes einer Prüfleitung deren Widerstand durch einen entsprechenden Widerstand zu einem Spannungsteiler ergänzt wird und in welcher an dem so entstehenden Spannungsteilermittelpunkt das sich einstellende Teilspannungspotential durch eine hochohmige Spannungsprüfschaltung gemessen wird, wodurch der Belegungszustand der zu prüfenden Leitung festgestellt werden kann. Bei Prüfung einer freien Leitung sprechen Hilfsrelais an, welche durch die Spannungsprüfschaltung gesteuert werden und durch welche Sperrpotential an die Prüfleitung angeschaltet wird.It has also been proposed a test circuit in which for the purpose Check the occupancy status of a test line, its resistance by a corresponding one Resistance to a voltage divider is added and in which on the so created Voltage divider center point the resulting partial voltage potential through a high-resistance voltage test circuit is measured, whereby the occupancy state of the line to be tested can be determined. When checking a free line respond to auxiliary relays, which are controlled by the voltage test circuit and through which blocking potential is connected to the test lead.

Diese Prüfschaltung erfüllt unter der Voraussetzung, daß die Widerstandswerte der Belegungsschaltmittel in den Prüfleitungen sehr unterschiedlich sind, nicht die Forderung, daß nur bei Anschaltung einer einzigen Prüfschaltung an ein unbelegtes Belegungsrelais diese dessen Freizustand feststellen kann, dagegen nicht bei gleichzeitiger Abschaltung einer zweiten Prüfschaltung an dieselbe Prüfleitung.This test circuit fulfills, provided that the resistance values the occupancy switching means in the test lines are very different, not the requirement that only when connecting a single test circuit to an unoccupied Occupancy relay this can determine its free state, but not at the same time Disconnection of a second test circuit on the same test line.

Ferner sind sämtliche Prüfschaltungen dieser Art, über welche gleiche Leitungen erreicht werden können, zur Verhinderung des Doppelprüfens durch eine Sperrschaltung so miteinander verbunden, daß durch eine wirksam werdende Prüfschaltung alle anderen gesperrt sind. Diese gegenseitige Sperrung erfolgt ohne Mitwirkung von Relais, also praktisch trägheitslos. Diese allgemeine gegenseitige Sperrung ist jedoch für Prüfschaltungen in zentralen Schaltgliedern nicht tragbar, da sie die Prüfvorgänge in unzulässig hohem Maße verzögern würde. Ferner erstreckt sich diese Art gegenseitiger Sperrung ohnehin nicht auf Schaltglieder, welche unabhängig von solchen Prüfschaltungen auf die gleichen Prüfleitungen aufprüfen können.Furthermore, all test circuits of this type are the same about which Lines can be reached to prevent double testing by a Locking circuit connected to one another in such a way that all others are connected by an effective test circuit are locked. This mutual blocking takes place without the involvement of relays, that is practically inertia. However, this general mutual locking is for test circuits not portable in central switching elements, as they do not allow the test processes would delay to a great extent. This type of mutual blocking also extends In any case, not on switching elements, which are independent of such test circuits can test the same test leads.

Unter dieser Voraussetzung, daß die zuvor beschriebene gegenseitige Sperrung nicht angewendet wird, wird an freien Prüfleitungen, welche durch derartige Prüfschaltungen geprüft werden können, Sperrpotential - zuvor als zweites Spannungspotential bezeichnet - erst nach Ansprechen der genannten Hilfsrelais wirksam, während deren Ansprechzeit also Doppelprüfgefahr besteht.On the assumption that the previously described mutual Blocking is not applied to free test leads, which are carried by such Test circuits can be tested, blocking potential - previously as a second voltage potential - only effective after the mentioned auxiliary relays have responded, during which Response time so there is a risk of double testing.

Darüber hinaus wurde bereits eine Schaltungsanordnung vorgeschlagen, in welcher durch einen ersten Vorwiderstand an die Prüfleitung anschaltbare, hochohmig und trägheitsarm messende Spannungsprüfschaltmittel Hilfsschaltmittel steuerbar sind, durch welche an die mit dem ersten Vorwiderstand verbundenen Spannungsprüfschaltmittel ein drittes Spannungspotential anschaltbar ist, durch dessen Anschaltung zwischen den Spannungsprüfschaltmitteln und dem ersten Vorwiderstand auf der Prüfleitung das zweite Spannungspotential einstellbar ist, und daß die Spannungsprüfschaltmittel durch das erste Spannungspotential wirksam werdend, durch das zweite Spannungspotential unwirksam werdend und durch das dritte Spannungspotential wirksam bleibend und nicht wirksam werdend schaltbar sind.In addition, a circuit arrangement has already been proposed in which a first series resistor can be connected to the test line, high-resistance and low-inertia voltage testing switchgear Auxiliary switchgear controllable are through which to the voltage test switch means connected to the first series resistor a third voltage potential can be switched on by connecting it between the voltage test switch means and the first series resistor on the test line the second voltage potential is adjustable, and that the voltage test switching means becoming effective through the first voltage potential, through the second voltage potential becoming ineffective and remaining effective due to the third voltage potential and not becoming effective are switchable.

In dieser Schaltungsanordnung wird also die Sperrung der Prüfleitung durch ein sich von dem Freipotential und dem Sperrpotential unterscheidendes drittes Spannungspotential herbeigeführt, indem an dem ersten Vorwiderstand ein Spannungsabfall derart auftritt, daß sich auf der Prüfleitung das Sperrpotential einstellt. Die Auswertung von drei an Stelle von üblicherweise zwei verschiedenen Spannungspotentialen stellt an die Prüfschaltmittel erhöhte Anforderungen, insbesondere, wenn die Leitungsbedingungen breite Toleranzbereiche für die die Belegungszustände kennzeichnenden Spannungspotentiale erfordern.In this circuit arrangement, the test line is blocked by a third that differs from the free potential and the blocking potential Voltage potential brought about by a voltage drop across the first series resistor occurs in such a way that the blocking potential is set on the test line. the Evaluation of three instead of usually two different voltage potentials places increased demands on the test switchgear, especially if the line conditions wide tolerance ranges for the voltage potentials characterizing the occupancy states require.

Die Aufgabe der Erfindung, unter den genannten Voraussetzungen die Gefahrenzeit für das Doppelprüfen wesentlich herabzusetzen und dies unter günstigeren Bedingungen zu ermöglichen, als es mit Hilfe der bereits vorgeschlagenen Schaltungsanordnung gegeben ist, wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Prüfschaltmittel einen Prüfeingang und einen Halteeingang aufweisen, daß der Prüfeingang an die Prüfleitung anschaltbar ist und daß bei Feststellung des Freizustandes ein Prüfregistrierspannungspotential durch die Prüfschaltmittel, welche hochohmig und trägheitsarm sind, zugleich sowohl an den Prüfeingang als auch an den Halteeingang anschaltbar ist, durch welches an der mit dem Prüfeingang verbundenen Prüfleitung das zweite Spannungspotential einstellbar ist, und daß die Prüfschaltmittel durch das erste Spannungspotential wirksam werden, durch das zweite Spannungspotential unwirksam werdend und durch das zugleich sowohl an den Prüfeingang als auch an den Halteeingang angelegte Prüfregistrierspannungspotential wirksam bleibend und nicht wirksam werdend schaltbar sind.The object of the invention, under the conditions mentioned, the Significantly reduce the danger time for double testing and this at cheaper rates To enable conditions than with the aid of the circuit arrangement already proposed is given, is achieved according to the invention in that the test switching means a Test input and a hold input that the test input to the test line can be switched on and that when the free state is determined, a test registration voltage potential by the test switching means, which are high-resistance and low-inertia, both at the same time can be connected to the test input as well as to the hold input, through which on the test lead connected to the test input, the second voltage potential can be set is, and that the test switching means are activated by the first voltage potential, becoming ineffective through the second voltage potential and through both at the same time test registration voltage potential applied to the test input as well as to the hold input remain effective and not become effective are switchable.

Ein Vorteil der Erfindung liegt darin, daß durch das von den Prüfschaltmitteln angeschaltete, die Sperrung der Prüleitung bewirkende Prüfregistrierspannungspotential die Prüfschaltmittel zwar in den dem Freizustand einer geprüften Prüfleitung entsprechenden Schaltzustand erhalten, aber nicht in ihn versetzt werden können. Hilfsschaltmittel, z. B. Relais, die durch Spannungsprüfschaltmittel gesteuert werden und das Prüfregistrierspannungspotential einschalten und die infolge mechanischer Trägheit ihre Kontakte noch schließen, trotzdem unmittelbar zuvor von anderer Seite Sperrspannungspotential - zuvor als zweites Spannungspotential bezeichnet - auf die Prüfleitung geschaltet wird, können infolgedessen keinen für die Spannungsprüfschaltmittel wirksamen Haltekreis bilden und müssen wieder abfallen. Auf diese Weise wird verhindert, daß zwei Prüfschalteinrichtungen, deren Hilfsrelais gleichzeitig erregt werden und deren Hilfsrelais kurz nacheinander ihre Kontakte betätigen, eine Durchschaltung über eine Prüfleitung auf dasselbe nachfolgende Schaltglied veranlassen.An advantage of the invention is that by the test switching means connected test registration voltage potential causing the test line to be blocked the test switching means in the corresponding to the free state of a tested test line Preserved switching state, but cannot be changed to it. Auxiliary switching devices, z. B. Relays controlled by voltage test switch means and the test registration voltage potential switch on and which still close their contacts due to mechanical inertia, nevertheless, reverse voltage potential from the other side immediately beforehand - before than second voltage potential referred to - is switched to the test lead, can consequently do not form a hold circuit effective for the voltage test switch means and must fall off again. In this way it is prevented that two test switching devices, whose auxiliary relays are energized at the same time and their auxiliary relays shortly after one another operate their contacts, a connection via a test lead to the same initiate the following switching element.

Ein weiterer Vorteil der Erfindung liegt darin, daß das Sperrpotential, z. B. Erde, ohne Vorwiderstand direkt an die Prüfleitung angeschaltet werden kann, wodurch die Bedingung für Prüfleitungen hinsichtlich der Sicherheiten für den Freizustand und den Sperrzustand wesentlich verbessert werden können.Another advantage of the invention is that the blocking potential, z. B. earth, can be connected directly to the test line without a series resistor, whereby the condition for test leads in terms of the safeties for the free state and the locking state can be improved significantly.

Einen Vorteil gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung führen Verzögerungsschaltmittel (z. B. Kondensator C1) herbei, und er besteht darin, daß die Prüfschaltmittel durch Störspannungsimpulse, Spannungsspitzen od. dgl. auf der Prüfleitung nicht ansprechen können.Delay switching means lead to an advantage according to a further embodiment of the invention (e.g. capacitor C1), and it consists in that the test switching means through Interference voltage pulses, voltage peaks or the like on the test lead do not respond can.

Die Anschaltung des Prüfregistrierspannungspotentials durch dieselben Schaltmittel gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung hat den Vorteil, daß das Prüfregistrierspannungspotential mit größter Sicherheit gleichzeitig an dem Prüfeingang und dem Halteeingang wirksam wird.The connection of the test registration voltage potential through the same Switching means according to a further embodiment of the invention has the advantage that the test registration voltage potential effective at the same time with the greatest possible certainty at the test entrance and the hold entrance will.

In den F i g. 1 und 2 ist nur wesentlich zum Verständnis der Erfindung beitragenden Bestandteilen ein Ausführungsbeispiel von ihr gezeigt, auf welches dieselbe keineswegs beschränkt ist. Dabei zeigen F i g. 1 und 2 gemeinsam eine Schaltungsanordnung, welche durch Zusammenfügung von F i g. 1 und 2 am Schaltpunkt a ein Ganzes darstellt.In the F i g. 1 and 2 is only essential for understanding the invention contributing components shown an embodiment of it to which it is by no means restricted. F i g. 1 and 2 together a circuit arrangement, which by joining F i g. 1 and 2 represent a whole at switching point a.

Das Relais C und der Widerstand R stellen, in Reihe geschaltet, einen Belegungsstromkreis B dar, an welchen über die Prüfleitung PL durch Wähler W, z. B. Drehwähler, Relaiskoppelfelder od. dgl., die in F i g. 1 und 2 gezeigte Prüfschaltung angeschaltet wird.Relay C and resistor R, connected in series, constitute one Occupancy circuit B, to which on the test line PL by selector W, z. B. rotary selector, relay coupling fields od. Like. Which in F i g. 1 and 2 test circuit shown is switched on.

In bekannter Weise ist das Relais C in diesem Belegungsstrornkreis B abgefallen, wenn die zu diesem führende Prüfleitung PL frei, d. h. belegbar ist. Seine Wicklung 1I ist dann über den Kontakt c kurzgeschlossen.In a known manner, the relay C is in this occupancy circuit B dropped out when the test line PL leading to it is free, i. H. is verifiable. Its winding 1I is then short-circuited via contact c.

Im Besetztzustand dagegen ist das Relais C über die Prüfleitung PL, einen Wähler W, über Prüfwiderstände u. dgl. mit Sperrpotential, z. B. Erdpotential, verbunden, ist dadurch erregt und angesprochen, so daß seine Wicklung II, die im Ruhezustand kurzgeschlossen ist, in den genannten Stromkreis einbezogen ist. Bei Schließung eines Prüfstromkreises z. B. über den Wähler W wird, wie bereits in einer Schaltungsanordnung vorgeschlagen, ein Spannungsteiler aus dem Widerstand R, dem Relais C der Drossel Dr und dem Widerstand R 1 gebildet. Die Drossel Dr und Widerstand R 1 sind unter Berücksichtigung der elektrischen Werte des Widerstandes R und des Relais C so bemessen und möglicherweise so eingestellt, daß bei Durchschaltung dieses Prüfkreises mit einem ausgelösten Belegungsrelais C sich am Prüfpunkt ein während des Stromanstieges in einem Stromkreis nahezu gleichbleibendes Potential einstellt. Der Spannungsanstieg am Prüfpunkt x weist dabei eine relativ große Steilheit auf.In the busy state, on the other hand, the relay C is connected to the test line PL, a selector W, test resistors and the like with blocking potential, e.g. B. ground potential, connected, is thereby excited and addressed, so that its winding II, which is short-circuited in the idle state, is included in the said circuit. When closing a test circuit z. B. via the selector W, as already proposed in a circuit arrangement, a voltage divider from the resistor R, the relay C, the throttle Dr and the resistor R 1 is formed. The choke Dr and resistor R 1 are dimensioned, taking into account the electrical values of the resistor R and the relay C, and possibly adjusted so that when this test circuit is switched through with a triggered occupancy relay C, a potential that remains almost constant during the current rise in a circuit is at the test point adjusts. The voltage rise at test point x has a relatively steep slope.

Im Ruhezustand der Schaltung, d. h. wenn die Prüfschaltung über den Prüfpunkt x nicht durch einen Wähler an eine freie Prüfleitung PL angeschaltet ist, sind in der Prüfschaltung verschiedene Spannungsteilerstromkreise wirksam: 2. Erde, R 1, Dr, (x), R 2, R 4, G 4, R 10, - 24; 3. Erde, R18, R20_ , R21, -24; R17, T 3 4. Erde, R 16,R 25,R 13, - 24; 5. Erde, R 14, R 12, - 60 Wird nun z. B. durch den Wähler W ein Prüfstromkreis über eine freie Prüfleitung PL geschlossen, in welcher also das Belegungsrelais C abgefallen ist, so entsteht dadurch zunächst ein Spannungsteiler: 6. Erde, R 1, Dr, (x), W, PL, c, C I, R, - 60. Am Prüfpunkt x stellt sich ein Teilspannungspotential ein, welches während des Stromanstieges im Prüfstromkreis nahezu gleichbleibt, da die Prüfdrossel Dr annähernd gleiche elektrische Eigenschaften aufweist wie das Belegungsrelais C. Die Einstellung dieses Spannungspotentials, von Erdpotential ausgehend, weist eine relativ große Steilheit auf. Dieses als Freipotential auszuwertende Spannungspotential wird auf den Transistor T 1 wirksam. Die Steilheit des Spannungsanstieges wird durch den Kondensator C1 etwas abgeflacht, um den Einfluß von Störspannungsspitzen, welche z. B. infolge von Knackgeräuschen od. dgl. entstehen können, unwirksam zu machen und um die Steilheit auf ein definiertes Maß herabzusetzen. Dabei bleibt diese Steilheit jedoch trotzdem relativ groß. Das am Transistor T 1 wirksam werdende Freipotential steigt z. B. über - 24 V an. Der Stromkreis 2 wird dadurch unwirksam, da der Gleichrichter G 4 nun in Sperrrichtung beansprucht wird. Statt dessen wird aber der Transistor T 1 leitend, und es wird folgender Stromkreis wirksam: In diesem entsteht zwischen der Diode D 1 und dem Gleichrichter G 6 ein geringeres Teilspannungspotential als am gleichen Punkt im Stromkreis 1, wodurch die Zenerspannung der Diode unterschritten wird, so daß dieser Zweig des Stromkreises 1 stromlos wird. Infolgedessen steigt die Basisspannung des Transistors T2 an bis auf -I- 4 V, und er wird dadurch gesperrt; d. h. der Stromkreis 1 wird zu folgendem Stromkreis reduziert: B. Erde, R 7, R 6, -24.When the circuit is idle, i.e. when the test circuit is not connected to a free test line PL via test point x by a selector, various voltage divider circuits are active in the test circuit: 2. Earth, R 1, Dr, (x), R 2, R 4, G 4, R 10, -24; 3. Earth, R18, R20_, R21, -24; R17, T 3 4. Earth, R 16, R 25, R 13, - 24; 5. Earth, R 14, R 12, - 60. B. a test circuit is closed by the selector W via a free test line PL, in which the occupancy relay C has dropped out, this initially creates a voltage divider: 6. Earth, R 1, Dr, (x), W, PL, c, CI, R, - 60. At test point x, a partial voltage potential is established which remains almost the same during the current rise in the test circuit, since the test inductor Dr has approximately the same electrical properties as the occupancy relay C. The setting of this voltage potential, starting from ground potential, has a relatively large steepness. This voltage potential, which is to be evaluated as free potential, acts on transistor T 1. The steepness of the voltage rise is flattened somewhat by the capacitor C1 in order to reduce the influence of interference voltage peaks which, for. B. as a result of cracking noises. Like. Can be made ineffective and to reduce the slope to a defined level. However, this steepness remains relatively large. The free potential taking effect at transistor T 1 increases z. B. over - 24 V. The circuit 2 becomes ineffective because the rectifier G 4 is now loaded in the reverse direction. Instead, however, the transistor T 1 becomes conductive, and the following circuit becomes effective: In this, a lower partial voltage potential arises between the diode D 1 and the rectifier G 6 than at the same point in the circuit 1, whereby the Zener voltage of the diode is undershot, so that this branch of the circuit 1 is de-energized. As a result, the base voltage of transistor T2 rises to -I- 4 V, and it is blocked; ie circuit 1 is reduced to the following circuit: B. Earth, R 7, R 6, -24.

Nach Bildung des Stromkreises 7 wird entsprechend dem weiteren negativen Spannungsanstieg am Prüfpunkt x über den Wert hinaus, bei welchem der Transistor T 1 leitend wird, und innerhalb eines bestimmten, relativ kleinen Spannungsbereiches (z. B. 1 V) im folgenden als Prüfspannungsbereich bezeichnet, am Prüfpunkt x die negative Teilspannung am Punkt a, welche zuvor durch den Stromkreis 5 mit fast - 60 V bestimmt war, herabgesetzt. Die Steilheit der Spannungsherabsetzung am Punkt a entspricht der Steilheit des Spannungsanstieges am Prüfpunkt x innerhalb des genannten Prüfspannungsbereiches. Durch diese Spannungsherabsetzung am Punkt a wird über den Kondensator C3 ein in seiner Amplitude durch die Steilheit der Spannungsherabsetzung am Punkt a bestimmter Stromimpuls auf die in der F i g. 2 gezeigte Kippschaltung übertragen und auf sie wirksam (s. u.). Der Kondensator hat dabei eine differenzierende Wirkung. Die Spannung am Prüfpunkt x steigt über den genannten Prüfspannungsbereich bis auf etwa - 24 V an, was aber auf die Kippschaltung keine weitere Wirkung hat.After the formation of the circuit 7 is corresponding to the further negative Voltage rise at test point x above the value at which the transistor T 1 becomes conductive, and within a certain, relatively small voltage range (e.g. 1 V) hereinafter referred to as the test voltage range, at test point x the negative partial voltage at point a, which was previously generated by circuit 5 with almost - 60 V was determined. The steepness of the stress reduction at the point a corresponds to the steepness of the voltage rise at test point x within the specified Test voltage range. This voltage reduction at point a is about the Capacitor C3 has an amplitude due to the steepness of the voltage reduction current pulse determined at point a to the one shown in FIG. 2 toggle switch shown transferred and effective on them (see below). The capacitor has a differentiating effect Effect. The voltage at test point x rises above the stated test voltage range except for about - 24 V, but this has no further effect on the toggle switch.

über nicht gezeigte Stromkreise liegt im Ruhezustand am Punkt y in F i g. 2 Erdpotential, wodurch bewirkt wird, daß bei Einleitung des Prüfvorganges vor Durchschaltung des Prüfstromkreises der Transistor T3 der Kippschaltung stromdurchflossen ist (s. Stromkreis 3). Im Ruhezustand liegt die DiodeD 2 sperrend zwischen Erdpotential (über Widerstand R 15) und einem durch den Stromkreis 3 bestimmten Teilspannungspotential.via circuits not shown lies in the idle state at point y in F i g. 2 Earth potential, which means that when the test process is initiated before the test circuit is switched through, the transistor T3 of the flip-flop has current flowing through it is (see circuit 3). In the idle state, the diode D 2 is blocking between earth potential (via resistor R 15) and a partial voltage potential determined by the circuit 3.

Wird die Prüfschaltung an eine freie Prüfleitung angeschaltet, so ist die Steilheit sowohl des Spannungsanstieges am Prüfpunkt x als auch die Spannungsherabsetzung am Punkt a und dementsprechend die Amplitude des über den Kondensator C3 übertragenen Impulses so groß, daß die Zenerspannung durch den am Widerstand R 15 zusätzlich auftretenden Spannungsabfall während des Impulses überschritten wird. Während dieser Überschreitung wird die Spannung der Basis des Transistors T3 positiver, wodurch der Stromkreis 3 unwirksam und reduziert wird auf folgenden Stromkreis: 9. Erde, R 18,R 20, R 21.If the test circuit is connected to a free test line, so is the steepness of both the voltage increase at test point x and the voltage decrease at point a and, accordingly, the amplitude of the transmitted through capacitor C3 Impulse so large that the Zener voltage by the resistor R 15 in addition voltage drop occurring during the pulse is exceeded. During this If it is exceeded, the voltage of the base of the transistor T3 becomes more positive, as a result of which circuit 3 is ineffective and reduced to the following circuit: 9th earth, R 18, R 20, R 21.

Die an der Basis des Transistors T4 vorhandene Spannung ist im Stromkreis 9 negativer als im Stromkreis 3, so daß der Transistor T 4 leitend wird. Es entsteht folgender Stromkreis: über die in diesem Stromkreis am Widerstand R 16 abfallende Teilspannung ist der Transistor T3 gesperrt. Im Stromkreis 9 fällt an der Diode D 3 eine negative Teilspannung ab, durch welche deren Zenerspannung überschritten wird. Diese Teilspannung wird auf den bis dahin durch Erdpotential gesperrten Transistor T5 wirksam, wodurch dieser leitend wird. Das Relais P spricht im folgenden Stromkreis an: 11. Erde, T 5, P, -24. The voltage present at the base of transistor T4 is more negative in circuit 9 than in circuit 3, so that transistor T 4 becomes conductive. The following circuit is created: The transistor T3 is blocked via the partial voltage drop across the resistor R 16 in this circuit. In the circuit 9, a negative partial voltage drops across the diode D 3, through which the Zener voltage is exceeded. This partial voltage takes effect on transistor T5, which has been blocked by ground potential until then, making it conductive. The relay P responds in the following circuit: 11. Earth, T 5, P, -24.

Das Relais P schließt beim Ansprechen mit seinem Kontakt p folgenden verzweigten Stromkreis: Dadurch wird das Prüfregistrierspannungspotential (Erde) an die Prüfleitung angeschaltet, durch welches die Prüfleitung gegen Belegung seitens anderer Schaltglieder gesperrt wird. Dieses Prüfregistrierspannungspotential wird gleichzeitig über den Prüfeingang f und den Halteeingang g auf die Prüfschaltung wirksam, wodurch sie selbst wirksam bleibt.When responding, the relay P closes the following branched circuit with its contact p: As a result, the test registration voltage potential (earth) is connected to the test line, through which the test line is blocked against occupation by other switching elements. This test registration voltage potential is effective at the same time via the test input f and the hold input g on the test circuit, whereby it remains effective itself.

Als Sperrpotenial ist auf der Prüfleitung das am Gleichrichter G 3 und am Widerstand R 2 abfallende Teilspannungspotential wirksam. Der Widerstand R2 könnte auch entfallen. Er dient lediglich als Schutzwiderstand. Ferner bleibt der Transistor T1 durch Anschaltung des Prüfregistrierspannungspotentials leitend, da dieses über den Halteeingang g auf seinen Emitter über den Gleichrichter G 4 einwirkt und da an der Basis des Transistors TI über den Gleichrichter G 5 negatives Teilpotential anliegt, welches am Widerstand R 7 im Stromkreis 12 abfällt. Gleichzeitig wird auch das Kollektorpotential des Transistors T 1 herabgesetzt. Die Spannung am Punkt a bleibt jedoch unter dem Einfuß des Gleichrichters G 10 auf - 24 V, wodurch ein Einfuß von Prellerscheinungen am Kontakt p auf die Prüfschaltung unterbunden wird. Bei Prüfung einer Prüfleitung über ein Kabel wirkt sich dessen Kapazität auf den Prüfvorgang aus, die sich wie ein parallel zum Belegungsstromkreis (Belegungsrelais C und Widerstand R) liegender Kondensator bemerkbar macht.The partial voltage potential dropping across rectifier G 3 and resistor R 2 is effective as blocking potential on the test line. The resistor R2 could also be omitted. It only serves as a protective resistor. Furthermore, the transistor T1 remains conductive when the test registration voltage potential is switched on, since this acts on its emitter via the hold input g via the rectifier G 4 and since a negative partial potential is applied to the base of the transistor TI via the rectifier G 5, which is applied to the resistor R 7 in the circuit 12 drops. At the same time, the collector potential of the transistor T 1 is also reduced. The voltage at point a , however, remains at -24 V under the influence of rectifier G 10 , which prevents bouncing phenomena at contact p from affecting the test circuit. When testing a test lead via a cable, its capacitance affects the test process, which is noticeable like a capacitor lying parallel to the occupancy circuit (occupancy relay C and resistor R).

Werden zufällig gleichzeitig zwei Prüfschalteinrichtungen an dieselbe Prüfleitung angeschaltet, so können bei entsprechend ungünstigem Widerstand des am anderen Ende der Prüfleitung liegenden Belegungsrelais beide Prüfschalteeinrichtungen in zuvor beschriebener Weise wirksam werden. Die Hilfsrelais beider Prüfschalteinrichtungen werden erregt. Schließt das Hilfsrelais einer hier nicht im einzelnen betrachteten Prüfschalteinrichtung als erstes seine Kontakte, so wird von dieser über deren Kontakt p des zugehörigen Hilfsrelais P das Prüfregistrierspannungspotential (Erde) an die Prüfleitung PL angeschaltet.If two test switchgear are randomly connected to the same one at the same time If the test lead is switched on, if the resistance of the at the other end of the test line the occupancy relays both test switching devices take effect in the manner described above. The auxiliary relays of both test switchgear get excited. If the auxiliary relay closes one not considered here in detail The first test switchgear is its contacts, so this is via their contact p of the associated auxiliary relay P the test registration voltage potential (earth) to the Test lead PL switched on.

Dieses Prüfregistrierspannungspotential wird auf die betrachtete Prüfeinrichtung über den Vorwiderstand R 2 derselben und nur über den Prüfeingang und nicht über den Halteeingang 3 (Gleichrichter G 3 sperrt) wirksam, so daß der Transistor T 1 folgendermaßen wieder gesperrt wird: das Prüfregistrierspannungspotential liegt über den Prüfeingang f an der Basis des Transistors TI an und ist positiver als diejenige Spannung, welche über den Widerstand R 10 an seinem Emitter anliegt. Dieses Potential kann von der Prüfleitung (PL) auf den Halteeingang g der Prüfleitung infolge des sperrend wirkenden Gleichrichters G 3 nicht durchgreifen. Der Stromkreis 7 wird deshalb wieder nichtleitend. Der Stromkreis 1 (über die Diode 1) wird wieder leitend und in diesem auch der Transistor T2; infolgedessen wird der Gleichrichter G 5 gesperrt. Die aus den Transistoren T 3 und T 4 gebildete Kippstufe wird in den Bereitschaftszustand zurückgeschaltet; das Hilfsrelais P wird wieder ausgeschaltet.This test registration voltage potential is effective on the test device concerned via the series resistor R 2 of the same and only via the test input and not via the hold input 3 (rectifier G 3 blocks), so that the transistor T 1 is blocked again as follows: the test registration voltage potential is via the test input f at the base of the transistor TI and is more positive than the voltage which is applied to its emitter via the resistor R 10. This potential cannot reach through from the test line (PL) to the hold input g of the test line due to the blocking rectifier G 3. The circuit 7 is therefore again non-conductive. The circuit 1 (via the diode 1) becomes conductive again and in this also the transistor T2; as a result, the rectifier G 5 is blocked. The trigger stage formed from the transistors T 3 and T 4 is switched back to the standby state; the auxiliary relay P is switched off again.

Wird der Kontakt p des Hilfsrelais P infolge elektromagnetischer und mechanischer Trägheit trotzdem noch geschlossen, so wird folgender Stromkreis gebildet: Die Gleichrichter G3 und G4 sind so bemessen, daß durch Spannungsabfälle an diesen im Stromkreis 13 dem Emitter des Transistors T 1 ein negativeres Spannungspotential als seiner Basis zugeleitet wird, so daß der Transistor T 1 im Stromkreis 13 nicht wieder stromdurchlässig werden kann. Infolgedessen kann auch das Relais P nicht wieder erregt werden. Damit ist die Gefahrenzeit des Doppelprüfend auf die Reaktionszeit der elektronisch wirkenden Bauteile der beschriebenen Prüfschaltmittel beschränkt.If contact p of auxiliary relay P is still closed due to electromagnetic and mechanical inertia, the following circuit is formed: The rectifiers G3 and G4 are dimensioned in such a way that, due to voltage drops across them in circuit 13, the emitter of transistor T 1 is supplied with a more negative voltage potential than its base, so that transistor T 1 in circuit 13 cannot again conduct current. As a result, relay P cannot be re-energized either. The danger time of the double test is thus limited to the reaction time of the electronically operating components of the test switch means described.

Die angegebene Höhe von Spannungswerten dient jeweils lediglich der anschaulichen Darstellung und hat mit dem Gegenstand der Erfindung nichts ursächlich zu tun.The specified level of voltage values is only used for descriptive representation and has nothing to do with the subject matter of the invention to do.

Es ist möglich, diese Prüfschalteinrichtung auch in wesentlich abgewandelter Form und/oder durch Verwendung andersartiger Bauteile aufzubauen, z. B. durch Verwendung von Elektronenröhren u. dgl.It is possible to use this test switchgear in a significantly modified version Build shape and / or by using other types of components, e.g. B. by use of electron tubes and the like.

Claims

Claims: 1 circuit arrangement for telecommunication, in particular Telephone systems in which test lines are checked by a first Voltage potential and its blocking state are indicated by a second voltage potential and in which the respective occupancy status of the test lead by the corresponding Voltage potential measuring test switch means is determined and in which a the tested test line is blocked by the test switch, as indicated by, that the test switching means (E), which are high-resistance and low-inertia, have a test input (f) and a hold input (g) that the test input (f) to the test line (PL) can be switched on and that when the free state is determined, a test registration voltage potential (Earth) both at the same time the test input (f) as well as the stop input (g) can be switched on, by means of which on the test line connected to test input (f) (PL) the second voltage potential is adjustable, and that the test switching means (E) becoming effective through the first voltage potential, through the second voltage potential becoming ineffective and through that to the test input (f) as well as to the hold input (g) applied test registration voltage potential (earth) remains effective and not becoming effective are switchable.

2. Circuit arrangement for telecommunications systems, in which resistors, in particular complex resistors, are contained in test lines, according to claim 1, characterized in that occupancy switching means (B) with a particularly complex resistance, to which a test line (PL) leads, by connecting such a resistor (Dr, R) can be supplemented to form a voltage divider, on which a first voltage potential that remains constant during the current rise in the test line (PL) with respect to the voltage source (earth) is effective as a test potential on the test line (PL), which is the voltage divider midpoint.

3. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the electronic test switch, the test input (f) and the hold input (g) having voltage test switch means (E) are built, through which the Test registration voltage potential (earth) switching auxiliary switching means, e.g. B. Relay (P), are controllable.

4. Circuit arrangement according to claim 3, characterized in that that on the test line (PL) the test registration voltage potential (earth) as well as the second voltage potential is effective.

5. Circuit arrangement according to claim 4, characterized in that the test registration voltage potential and the second Voltage potential have the same voltage potential value.

6. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the reaction time of the test switching means (E) is enlarged by delay switching means (C1).

7. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the test registration voltage potential can be switched on at the same time by the same switching means (p) to the test line (PL) and to the test switching means (E). B. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the test input (f) and the hold input (g) of the test switching means (E) are connected by directional conductors (G3) .