DE112014005098T5 - Apparatus for measuring the power of a solar cell and method for measuring the power of a solar cell - Google Patents
Apparatus for measuring the power of a solar cell and method for measuring the power of a solar cell Download PDFInfo
- Publication number
- DE112014005098T5 DE112014005098T5 DE112014005098.9T DE112014005098T DE112014005098T5 DE 112014005098 T5 DE112014005098 T5 DE 112014005098T5 DE 112014005098 T DE112014005098 T DE 112014005098T DE 112014005098 T5 DE112014005098 T5 DE 112014005098T5
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- solar cell
- measuring
- power
- probe pins
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 135
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 124
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 6
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
- G01R1/06738—Geometry aspects related to tip portion
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0416—Connectors, terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Abstract
Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle, umfassend einen Anschluss zur Strommessung, welcher aus einer Vielzahl von angeordneten Messsonden-Stiften besteht und zur Messung der Stromcharakteristika einer Solarzelle konfiguriert ist; einen Anschluss zur Spannungsmessung, welcher aus einer Vielzahl von angeordneten Messsonden-Stiften besteht und zur Messung der Spannungscharakteristika einer Solarzelle konfiguriert ist; und eine Halterung, welche konfiguriert ist, um den Anschluss zur Strommessung und den Anschluss zur Spannungsmessung parallel zu halten, wobei die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Strommessung und die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Spannungsmessung jeweils ein Kontaktteil aufweisen, das dazu bestimmt ist, mit den Fingerelektroden der Solarzelle in Kontakt zu treten, und wobei eine Oberfläche des Kontaktteils eine Vielzahl von Rillen aufweist.A device for measuring the power of a solar cell, comprising a current measuring terminal, which consists of a plurality of arranged probe pins and is configured to measure the current characteristics of a solar cell; a terminal for voltage measurement, which consists of a plurality of arranged probe pins and is configured to measure the voltage characteristics of a solar cell; and a bracket configured to hold the current measuring terminal and the voltage measuring terminal in parallel, the probe pins of the current measuring terminal and the probe pins of the voltage measuring terminal each having a contact portion designed to to contact the finger electrodes of the solar cell, and wherein a surface of the contact part has a plurality of grooves.
Description
Technischer BereichTechnical part
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle und ein Verfahren zum Messen der Leistung einer Solarzelle.The present invention relates to a device for measuring the power of a solar cell and a method for measuring the power of a solar cell.
Stand der TechnikState of the art
Als Messvorrichtungen zum Messen der elektrischen Charakteristika von Solarzellen werden üblicherweise Vorrichtungen zum Messen der Leistung von Solarzellen eingesetzt, die mit Messsonden-Stiften („probe pins”) ausgestattet sind, welche in Kontakt mit Sammelschienen-Elektroden von Solarzellen treten (siehe zum Beispiel PTL 1 und PTL 2).As measurement devices for measuring the electrical characteristics of solar cells, there have conventionally been used devices for measuring the performance of solar cells equipped with probe pins which come in contact with solar cell busbar electrodes (see, for example, PTL 1) and PTL 2).
Um Produktionskosten durch eine Reduzierung der Menge des Elektrodenmaterials, wie beispielsweise Ag-Paste, zu sparen sowie die Anzahl der Produktionsprozesse einer Solarzelle zu reduzieren, wurde kürzlich ein Verfahren vorgeschlagen, in dem ein Flachkabel, welches direkt ein Verbindungsteil darstellt, orthogonal über einen leitfähigen Haftfilm mit feineren Elektroden verbunden ist, ohne dass eine Sammelschienen-Elektrode („Busbar”-Elektrode”) bereitgestellt wird. Die Solarzelle mit dieser Sammelschienen-losen (ohne „Busbar”) Struktur weist die gleiche oder eine bessere Stromabnahmeleistung auf als Solarzellen, an denen Sammelschienen-Elektroden ausgebildet sind.In order to save production costs by reducing the amount of the electrode material such as Ag paste, as well as reduce the number of production processes of a solar cell, a method has recently been proposed in which a flat cable which directly constitutes a connection member is orthogonal over a conductive adhesive film is connected to finer electrodes without providing a busbar electrode. The solar cell with this busbar-less (without "busbar") structure has the same or a better current collection capacity than solar cells on which bus bar electrodes are formed.
Wenn elektrische Charakteristika der zuvor erwähnten Solarzelle der Sammelschienen-losen Struktur gemessen werden, ist es notwendig, die Messsonden-Stifte in direkten Kontakt mit den Fingerelektroden zu bringen.When electrical characteristics of the aforementioned solar cell of the busbar-less structure are measured, it is necessary to bring the probe pins into direct contact with the finger electrodes.
Wenn eine konventionelle Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle verwendet wird, tritt jedoch oftmals der Fall auf, dass die Abstände der bereitgestellten Messsonden-Stifte und die Abstände zwischen den gebildeten Fingerelektroden nicht zusammenpassen. Dadurch kann nicht in allen Fingerelektroden eine Leitung erreicht werden, und einige Fingerelektroden fallen als Messziele heraus, wodurch genaue elektrische Charakteristika nicht gemessen werden können.However, when a conventional apparatus for measuring the power of a solar cell is used, it is often the case that the distances of the provided probe pins and the distances between the formed finger electrodes do not match. As a result, conduction can not be achieved in all the finger electrodes, and some finger electrodes fail as measurement targets, whereby accurate electrical characteristics can not be measured.
Um die zuvor erwähnten Probleme zu lösen, schlugen die vorliegenden Erfinder eine Messvorrichtung für Solarzellen vor (siehe zum Beispiel PTL 3), welche eine Vielzahl von Messsonden-Stiften, die dazu bestimmt sind, mit linearen Elektroden (Fingerelektroden) in Kontakt zu treten, die an einer Oberfläche einer Solarzelle ausgebildet sind, und eine Halterung, welche die Messsonden-Stifte hält, umfasst. Die Solarzellenmessvorrichtung enthält einen Anschluss zur Strommessung, in dem die Messsonden-Stifte angeordnet sind und konfiguriert sind, um auf den linearen Elektroden platziert zu werden, um die Stromcharakteristika der Solarzelle zu messen, und einen Anschluss zur Spannungsmessung, in dem die Messsonden-Stifte angeordnet sind und konfiguriert sind, um auf den linearen Elektroden platziert zu werden, um die Spannungscharakteristika der Solarzelle zu messen. Außerdem werden der Anschluss zur Strommessung und der Anschluss zur Spannungsmessung parallel bereitgestellt.In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors proposed a solar cell measuring device (see, for example, PTL 3), which has a plurality of probe pins intended to contact linear electrodes (finger electrodes) formed on a surface of a solar cell, and a holder, which holds the probe pins comprises. The solar cell measuring apparatus includes a current measuring terminal in which the probe pins are arranged and configured to be placed on the linear electrodes to measure the current characteristics of the solar cell, and a voltage measuring terminal in which the probe pins are disposed are and are configured to be placed on the linear electrodes to measure the voltage characteristics of the solar cell. In addition, the connection for current measurement and the connection for voltage measurement are provided in parallel.
Die vorgeschlagene Technologie löst das Problem, dass einige der Fingerelektroden aus den Messzielen herausfallen.The proposed technology solves the problem that some of the finger electrodes fall out of the targets.
Die Fingerelektroden einer Solarzelle werden oftmals durch Auftragen einer Ag-Paste durch Siebdruck und anschließendes Backen hergestellt. Daher variieren die Fingerelektroden in Richtung ihrer Dicke. Demgemäß ist der Kontaktbereich zwischen jedem Messsonden-Stift und jeder Fingerelektrode nicht konstant, sogar wenn die vorgeschlagene Technologie eingesetzt wird. Im Ergebnis besteht eine Schwankung im Kontaktwiderstand, wodurch das Erhalten eines akkuraten Leistungswerts schwierig ist.The finger electrodes of a solar cell are often produced by applying an Ag paste by screen printing and subsequent baking. Therefore, the finger electrodes vary in the direction of their thickness. Accordingly, the contact area between each probe pin and each finger electrode is not constant, even if the proposed technology is used. As a result, there is a fluctuation in contact resistance, making it difficult to obtain an accurate power value.
Demgemäß besteht derzeit ein Bedarf an einer Vorrichtung zum Messen der Solarzellenleistung und an einem Verfahren zur Messung einer Solarzellenleistung, bei denen jeweils die Schwankung der gemessenen Widerstandswerte reduziert ist und mit denen stabile Leistungsmessungen erreicht werden.Accordingly, there is currently a need for a device for measuring solar cell performance and a method of measuring solar cell performance, each of which reduces the variation in measured resistance values and achieves stable power measurements.
Literaturliste Bibliography
Patentliteraturpatent literature
-
PTL 1: Japanische Patentanmeldungs-Offenlegung
(JP-A) Nr. 2006-118983 (JP-A) No. 2006-118983 -
PTL 2:
JP-A Nr. 2011-99746 JP-A No. 2011-99746 -
PTL 3:
JP-A Nr. 2013-102121 JP-A No. 2013-102121
Zusammenfassung der ErfindungSummary of the invention
Technisches ProblemTechnical problem
Die vorliegende Erfindung hat zum Ziel, die zuvor erwähnten verschiedenen Probleme des Stands der Technik zu lösen und folgende Aufgabe zu lösen. Insbesondere ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle und ein Verfahren zum Messen der Leistung einer Solarzelle zur Verfügung zu stellen, bei denen jeweils Schwankungen der gemessenen Widerstandswerte reduziert werden und stabile Leistungsmessungen realisiert werden.The present invention aims to solve the aforementioned various problems of the prior art and to achieve the following object. In particular, an object of the present invention is to provide a device for measuring the power of a solar cell and a method for measuring the power of a solar cell, in which fluctuations in the measured resistance values are reduced and stable power measurements are realized.
Lösung des Problemsthe solution of the problem
- <1> Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle, umfassend einen Anschluss zur Strommessung, welcher aus einer Vielzahl von Messsonden-Stiften, welche angeordnet sind, besteht, und zur Messung der Stromcharakteristika einer Solarzelle konfiguriert ist; einen Anschluss zur Spannungsmessung, welcher aus einer Vielzahl von Messsonden-Stiften, welche angeordnet sind, besteht, und zur Messung der Spannungscharakteristika einer Solarzelle konfiguriert ist; und eine Halterung, welche konfiguriert ist, um den Anschluss zur Strommessung und den Anschluss zur Spannungsmessung parallel zu halten, wobei die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Strommessung und die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Spannungsmessung jeweils ein Kontaktteil aufweisen, das dazu bestimmt ist, mit den Fingerelektroden der Solarzelle in Kontakt zu treten, wobei die Oberfläche des Kontaktteils eine Vielzahl von Rillen aufweist.<1> A device for measuring the power of a solar cell, comprising a current measuring terminal configured of a plurality of probe pins arranged and configured to measure the current characteristics of a solar cell; a terminal for voltage measurement, which consists of a plurality of probe pins, which are arranged, and configured to measure the voltage characteristics of a solar cell; and a bracket configured to hold the power measurement terminal and the voltage measurement terminal in parallel, wherein the probe pins of the current measuring terminal and the probe pins of the voltage measuring terminal each have a contact portion intended to contact the finger electrodes of the solar cell, the surface of the contact portion having a plurality of grooves.
- <2> Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle gemäß <1>, wobei die Formen der Rillen eine Vielzahl von konzentrischen Kreisen mit unterschiedlichen Durchmessern sind.<2> A device for measuring the power of a solar cell according to <1>, wherein the shapes of the grooves are a plurality of concentric circles of different diameters.
- <3> Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle gemäß <2>, wobei die konzentrischen Kreise mit unterschiedlichen Durchmessern einen durchschnittlichen Abstand von 30 μm bis 300 μm zwischen den benachbarten Rillen aufweisen.<3> A device for measuring the power of a solar cell according to <2>, wherein the concentric circles having different diameters have an average distance of 30 μm to 300 μm between the adjacent grooves.
- <4> Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle gemäß irgendeinem der Punkte <1> bis <3>, wobei die Rillen eine durchschnittliche Tiefe von 30 μm bis 250 μm aufweisen.<4> A device for measuring the performance of a solar cell according to any of the items <1> to <3>, wherein the grooves have an average depth of 30 μm to 250 μm.
- <5> Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle gemäß irgendeinem der Punkte <1> bis <4>, wobei die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Strommessung in Zickzacklinien angeordnet sind, und die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Spannungsmessung in Zickzacklinien angeordnet sind.<5> The apparatus for measuring the power of a solar cell according to any of the items <1> to <4>, wherein the probe pins of the current measuring terminal are arranged in zigzag lines, and the probe pins of the voltage measuring terminal are arranged in zigzag lines.
- <6> Verfahren zur Messung der Leistung einer Solarzelle, umfassend: Anordnen des Anschlusses zur Strommessung und des Anschlusses zur Spannungsmessung der Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle gemäß irgendeinem der Punkte <1> bis <5> auf Fingerelektroden einer Solarzelle; und Messen der elektrischen Charakteristika der Solarzelle unter Aussenden von Licht auf eine Oberfläche der Solarzelle.<6> A method of measuring the performance of a solar cell, comprising: Arranging the current measuring terminal and the voltage measuring terminal of the solar cell power measuring apparatus according to any one of the items <1> to <5> on finger electrodes of a solar cell; and Measuring the electrical characteristics of the solar cell while emitting light on a surface of the solar cell.
Vorteilhafte Wirkungen der ErfindungAdvantageous Effects of the Invention
Die vorliegende Erfindung kann die verschiedenen oben erwähnten Probleme aus dem Stand der Technik lösen, die zuvor erwähnte Aufgabe lösen und eine Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle und ein Verfahren zum Messen der Leistung einer Solarzelle bereitstellen, durch die jeweils Schwankungen der gemessenen Widerstandswerte reduziert werden und stabile Leistungsmessungen realisiert werden.The present invention can solve the various problems of the prior art mentioned above, solve the aforementioned object, and provide a solar cell power measuring apparatus and a solar cell power measuring method by which, respectively, variations in measured resistance values are reduced and stable power measurements are realized.
Kurze Beschreibung der ZeichnungenBrief description of the drawings
Beschreibung der AusführungsformenDescription of the embodiments
(Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle)Device for measuring the power of a solar cell
Die Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle der vorliegenden Erfindung umfasst einen Anschluss (Terminal) zur Strommessung, einen Anschluss (Terminal) zur Spannungsmessung und eine Halterung. Die Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle kann gegebenenfalls noch andere Bestandteile umfassen, sofern erforderlich.The apparatus for measuring the power of a solar cell of the present invention comprises a terminal for measuring current, a terminal for measuring voltage, and a holder. The device for measuring the power of a solar cell may optionally include other components, if necessary.
<Anschluss zur Strommessung und Anschluss zur Spannungsmessung><Connection for current measurement and connection for voltage measurement>
Der Anschluss zur Strommessung besteht aus einer Vielzahl von Messsonden-Stiften, welche angeordnet sind.The connection for current measurement consists of a plurality of probe pins, which are arranged.
Der Anschluss zur Strommessung ist ein Anschluss, der zur Messung der Stromcharakteristika einer Solarzelle konfiguriert ist.The current sense terminal is a terminal configured to measure the current characteristics of a solar cell.
Der Anschluss zur Spannungsmessung besteht aus einer Vielzahl von Messsonden-Stiften, die angeordnet sind.The terminal for voltage measurement consists of a plurality of probe pins, which are arranged.
Der Anschluss zur Spannungsmessung ist ein Anschluss, der zur Messung der Spannungscharakteristika der Solarzelle konfiguriert ist.The voltage measurement terminal is a terminal configured to measure the voltage characteristics of the solar cell.
Beispielsweise sind die Anschlüsse der Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Strommessung miteinander über ein Kupferkabel durch Löten verbunden und mit einem Strommessgerät (Amperemeter) verbunden.For example, the terminals of the probe pins of the current measuring terminal are connected to each other via a copper cable by soldering and connected to a current meter (ammeter).
Beispielsweise sind die Anschlüsse der Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Spannungsmessung miteinander über ein Kupferkabel durch Löten verbunden und mit einem Spannungsmessgerät (Voltmeter) verbunden.For example, the terminals of the probe pins of the terminal for voltage measurement are connected to each other via a copper cable by soldering and connected to a voltage meter (voltmeter).
<<Messsonden-Stift>><< probes pen >>
Jeder der Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Strommessung und der Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Spannungsmessung besitzt ein Kontaktteil, welches dazu bestimmt ist, mit einer Fingerelektrode der Solarzelle in Kontakt zu treten, wobei eine Oberfläche des Kontaktteils eine Vielzahl von Rillen aufweist. Insbesondere weist der Messsonden-Stift ein Kontaktteil auf, welches dazu bestimmt ist, mit einer Fingerelektrode der Solarzelle in Kontakt zu treten, und eine Oberfläche des Kontaktteils weist eine Vielzahl von Rillen auf.Each of the probe pins of the current measuring terminal and the probe pins of the voltage measuring terminal has a contact portion which is intended to contact a finger electrode of the solar cell, a surface of the contact portion having a plurality of grooves. In particular, the probe pin has a contact part which is intended to contact a finger electrode of the solar cell, and a surface of the contact part has a plurality of grooves.
Da die Oberfläche des Kontaktteils eine Vielzahl von Rillen aufweist, kann der Kontaktbereich zwischen dem Messsonden-Stift und der Fingerelektrode vergrößert werden. Im Ergebnis wird eine Schwankung der gemessenen Widerstandswerte reduziert, und es wird eine stabile Leistungsmessung realisiert.Since the surface of the contact part has a plurality of grooves, the contact area between the probe pin and the finger electrode can be increased. As a result, fluctuation of the measured resistance values is reduced, and a stable power measurement is realized.
– Rille –- groove -
Die Form der Rille wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt; Beispiele dafür umfassen eine lineare Form und eine Kreisform. Die Form der Rillen ist ein äußeres Erscheinungsbild der Rille. Beispielsweise ist ihre Form eine Form der Rille, die in einer Ansicht des Kontaktteils von unten beobachtet wird.The shape of the groove is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation; Examples thereof include a linear shape and a circular shape. The shape of the grooves is an external appearance of the groove. For example, its shape is a shape of the groove observed from below in a view of the contact part.
Formen der Rillen können zum Beispiel eine Gitterform oder eine Vielzahl von konzentrischen Kreisen mit unterschiedlichen Durchmessern sein. Die Formen der Rillen sind bevorzugt konzentrische Kreise mit unterschiedlichen Durchmessern, da so eine Schwankung in einem Widerstandswert reduziert werden kann.Shapes of the grooves may be, for example, a lattice shape or a plurality of concentric circles of different diameters. The shapes of the grooves are preferably concentric circles of different diameters, because such a variation in a resistance value can be reduced.
Die Querschnittsform der Rille wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Beispiele dafür sind ein Rechteck und ein Dreieck. The cross-sectional shape of the groove is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation. Examples are a rectangle and a triangle.
Ein Beispiel für die Rillen wird mit Bezug auf die Beispiele erläutert.
Ein anderes Beispiel für die Rillen wird mit Bezug auf eine Zeichnung beschrieben.
Es wird ein anderes Beispiel für die Rillen mit Bezug auf Zeichnungen beschrieben.
Wie in
Da die Fingerelektrode in dem zuvor beschriebenen Zustand vorliegt, besitzt eine konventionelle Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle aufgrund der Flachheit des Kontaktteils
Andererseits weist die Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle der vorliegenden Erfindung viele Kontaktpunkte zwischen einem Kontaktteil
Der durchschnittliche Abstand zwischen benachbarten Rillen bei den zuvor beschriebenen Rillen wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Der durchschnittliche Abstand liegt bevorzugt im Bereich von 30 μm bis 300 μm , bevorzugter im Bereich von 30 μm bis 220 μm, und besonders bevorzugt im Bereich von 40 μm bis 150 μm. Der durchschnittliche Abstand in dem besonders bevorzugten Bereich ist vorteilhaft, da dadurch eine Schwankung in einem Widerstandswert reduziert werden kann.The average distance between adjacent grooves in the above-described grooves is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation. The average distance is preferably in the range of 30 μm to 300 μm , more preferably in the range of 30 microns to 220 microns, and more preferably in the range of 40 microns to 150 microns. The average distance in the most preferable range is advantageous because it can reduce a fluctuation in a resistance value.
Der Abstand zwischen benachbarten Rillen ist eine Distanz zwischen den Mittelpunkten zweier benachbarter Rillen. Der durchschnittliche Abstand ist ein Mittelwert, wenn der Abstand an zehn zufällig ausgewählten Punkten auf dem Kontaktteil bestimmt wird. The distance between adjacent grooves is a distance between the centers of two adjacent grooves. The average distance is an average when the distance is determined at ten randomly selected points on the contact part.
Die durchschnittliche Tiefe der Rillen wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Die durchschnittliche Tiefe liegt bevorzugt im Bereich von 30 μm bis 250 μm, bevorzugter im Bereich von 45 μm bis 210 μm.The average depth of the grooves is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation. The average depth is preferably in the range of 30 μm to 250 μm, more preferably in the range of 45 μm to 210 μm.
Unter den Rillen kann die Tiefe der Rillen gleich oder unterschiedlich sein.Among the grooves, the depth of the grooves may be the same or different.
Die durchschnittliche Tiefe stellt einen Mittelwert dar, wenn die Tiefe der Rille an zehn zufällig ausgewählten Punkten auf dem Kontaktteil bestimmt wird.The average depth represents an average when the depth of the groove is determined at ten randomly selected points on the contact part.
Die durchschnittliche Breite der Rillen wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Zum Beispiel liegt die durchschnittliche Breite der Rille im Bereich von 10 μm bis 100 μm.The average width of the grooves is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation. For example, the average width of the groove is in the range of 10 μm to 100 μm.
Die durchschnittliche Breite stellt einen Mittelwert dar, wenn die Breite der Rille an zehn zufällig ausgewählten Punkten auf dem Kontaktteil bestimmt wird.The average width represents an average when the width of the groove is determined at ten randomly selected points on the contact part.
Die Anordnung der Messsonden-Stifte in dem Anschluss zur Strommessung oder in dem Anschluss zur Spannungsmessung wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Zu Beispielen dafür zählen eine lineare Anordnung und eine Zickzack-Anordnung. Darunter ist eine Zickzack-Anordnung bevorzugt. Das heißt, die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Strommessung sind bevorzugt in Zickzacklinien angeordnet. Die Messsonden-Stifte des Anschlusses zur Spannungsmessung sind bevorzugt in Zickzacklinien angeordnet.The arrangement of the probe pins in the current measuring terminal or in the voltage measuring terminal is suitably selected depending on the intended purpose without limitation. Examples include a linear array and a zigzag arrangement. Among them, a zigzag arrangement is preferred. That is, the probe pins of the current measuring terminal are preferably arranged in zigzag lines. The probe pins of the terminal for voltage measurement are preferably arranged in zigzag lines.
Das Verfahren zur Bildung der Rillen wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Zu Beispielen für das Verfahren zählt das Fräsen (Schneiden).The method of forming the grooves is suitably selected depending on the intended purpose without limitation. Examples of the method include milling (cutting).
<<Solarzelle>><< Solar Cell >>
Die Solarzelle wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Beispiele für die Solarzelle umfassen eine Dünnschichtsolarzelle und eine kristalline Solarzelle.The solar cell is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation. Examples of the solar cell include a thin film solar cell and a crystalline solar cell.
Die Solarzelle ist bevorzugt eine Solarzelle mit einer Sammelschienen-losen Struktur.The solar cell is preferably a solar cell with a busbar-less structure.
Beispiele für kristalline Solarzellen umfassen eine monokristalline Siliziumsolarzelle und eine polykristalline Siliziumsolarzelle.Examples of crystalline solar cells include a monocrystalline silicon solar cell and a polycrystalline silicon solar cell.
Beispiele für die Dünnschichtsolarzelle umfassen eine amorphe Siliziumsolarzelle, eine CdS/CdTe-Solarzelle, eine Farbstoffsolarzelle, eine organische Dünnschichtsolarzelle und eine mikrokristalline Siliziumsolarzelle (eine Tandem-Solarzelle).Examples of the thin film solar cell include an amorphous silicon solar cell, a CdS / CdTe solar cell, a dye solar cell, an organic thin film solar cell, and a microcrystalline silicon solar cell (a tandem solar cell).
Die Solarzelle enthält Fingerelektroden als Kollektorelektrode.The solar cell contains finger electrodes as a collector electrode.
Die Fingerelektroden werden typischerweise durch Auftragen einer Ag-Paste auf eine Licht-empfangende Oberfläche der Solarzelle durch Siebdruck und anschließendes Backen der Paste gebildet. Des Weiteren werden die Fingerelektroden durch nahezu paralleles Ausbilden einer Vielzahl von Linien, welche jeweils eine Breite von zum Beispiel 50 μm bis 200 μm mit einem vorbestimmten Abstand („Pitch”) von beispielsweise 2 mm aufweisen, gebildet.The finger electrodes are typically formed by applying an Ag paste to a light-receiving surface of the solar cell by screen printing and then baking the paste. Further, the finger electrodes are formed by forming a plurality of lines each having a width of, for example, 50 μm to 200 μm with a predetermined pitch of, for example, 2 mm, almost in parallel.
Die Solarzelle umfasst ein Element zur fotoelektrischen Umwandlung.The solar cell comprises a photoelectric conversion element.
Eine Rückelektrode, die beispielsweise aus Aluminium oder Silber gebildet ist, wird auf einer Rückseite, d. h., einer der lichtempfangenden Oberfläche des fotoelektrischen Umwandlungselements gegenüber liegenden Seite, bereitgestellt. Zum Beispiel wird die Rückelektrode auf einer Rückseite der Solarzelle durch Siebdruck oder Sputtern ausgebildet.A back electrode formed of, for example, aluminum or silver is deposited on a backside, i. h., One of the light-receiving surface of the photoelectric conversion element opposite side provided. For example, the back electrode is formed on a back side of the solar cell by screen printing or sputtering.
Die Größe der Solarzelle wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Ein Beispiel für die Größe der Solarzelle ist 156 mm × 156 mm. The size of the solar cell is suitably selected depending on the intended purpose without limitation. An example of the size of the solar cell is 156 mm × 156 mm.
<Halterung><Mount>
Die Halterung wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt, mit der Maßgabe, dass die Halterung eine Halterung ist, welche den Anschluss zur Strommessung und den Anschluss zur Spannungsmessung parallel halten kann.The mount is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation, provided that the mount is a mount which can hold the current measurement terminal and the voltage measurement terminal in parallel.
Das Material für die Halterung wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Zu Beispielen für das Material der Halterung zählt ein Harzmaterial. Beispiele für das Harzmaterial umfassen ein Glas-Epoxidharz, ein Acrylharz und ein Polycarbonatharz.The material for the holder is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation. Examples of the material of the holder include a resin material. Examples of the resin material include a glass epoxy resin, an acrylic resin and a polycarbonate resin.
Die Form der Halterung wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt. Zu Beispielen für die Form der Halterung zählt ein Rechteck.The shape of the holder is appropriately selected depending on the intended purpose without limitation. Examples of the shape of the holder include a rectangle.
In der rechteckigen Halterung bestehen die obere Oberfläche und die untere Oberfläche der Halterung zum Beispiel jeweils aus einem Paar langer Seiten, die jeweils eine Länge aufweisen, die der Länge einer Seite der Solarzelle entspricht, und einem Paar kurzer Seiten, die jeweils eine Länge aufweisen, die der Breite des Anschlusses zur Strommessung und des parallel dazu angeordneten Anschlusses zur Spannungsmessung entspricht. Zum Beispiel sind die zuvor beschriebene Vielzahl von Messsonden-Stiften in der Halterung über die Länge zwischen der oberen Oberfläche und der unteren Oberfläche der Halterung in den vorbestimmten Anordnungen eingebettet, um den Anschluss zur Strommessung und den Anschluss zur Spannungsmessung zu bilden.For example, in the rectangular support, the upper surface and the lower surface of the support each consist of a pair of long sides each having a length corresponding to the length of one side of the solar cell and a pair of short sides each having a length. which corresponds to the width of the connection for current measurement and the connection arranged parallel thereto for voltage measurement. For example, the above-described plurality of probe pins in the holder are embedded over the length between the upper surface and the lower surface of the holder in the predetermined arrangements to form the current measurement terminal and the voltage measurement terminal.
(Verfahren zur Messung der Leistung einer Solarzelle)Method for measuring the power of a solar cell
Das Verfahren zur Messung der Leistung einer Solarzelle der vorliegenden Erfindung umfasst einen Anordnungsschritt und einen Messschritt. Das Verfahren zur Messung der Leistung einer Solarzelle kann gegebenenfalls weitere Schritte umfassen, sofern erforderlich.The method of measuring the performance of a solar cell of the present invention comprises an arranging step and a measuring step. The method of measuring the performance of a solar cell may optionally include further steps, if necessary.
<Anordnungsschritt><Arranging step>
Der Anordnungsschritt wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt, mit der Maßgabe, dass der Anordnungsschritt das Anordnen des Anschlusses zur Strommessung und des Anschlusses zur Spannungsmessung der Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle der vorliegenden Erfindung auf den Fingerelektroden der Solarzelle umfasst.The arranging step is appropriately selected depending on the intended purpose without restriction, provided that the arranging step comprises arranging the current measuring terminal and the voltage measuring terminal of the solar cell power measuring apparatus of the present invention on the finger electrodes of the solar cell.
<Messschritt><Measuring step>
Der Messschritt wird in Abhängigkeit von dem beabsichtigten Zweck ohne Einschränkung passend ausgewählt, mit der Maßgabe, dass der Messschritt das Messen der elektrischen Charakteristika der Solarzelle bei Aussenden von Licht auf eine Oberfläche der Solarzelle umfasst.The measuring step is suitably selected depending on the intended purpose without limitation, provided that the measuring step comprises measuring the electrical characteristics of the solar cell when emitting light onto a surface of the solar cell.
Beispiele für die elektrischen Charakteristika sind I-V-Charakteristika.Examples of the electrical characteristics are I-V characteristics.
Im Folgenden werden ein Beispiel für die Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle und das Verfahren zur Messung der Leistung einer Solarzelle der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf die Zeichnungen erläutert.Hereinafter, an example of the apparatus for measuring the power of a solar cell and the method for measuring the power of a solar cell of the present invention will be explained with reference to the drawings.
[Erste Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle][First Device for Measuring the Power of a Solar Cell]
Wie in den
In der Vorrichtung
Jeder Messsonden-Stift
Außerdem sind in einer Oberfläche des Kontaktteils
Die Halterung
[[Lineare Anordnung]][[Linear arrangement]]
Wie in den
Da der Abstand S1 zwischen den Kontaktteilen
Da der Anschluss
Wie in
Der Anschluss
Wenn die Vorrichtung
[Zickzack-Anordnung][Zigzag arrangement]
Des Weiteren können der Anschluss
Auf diese Weise werden Lücken entlang der Anordnungsrichtung durch teilweises Überlappen der Kontaktteile
Außerdem kann die Breite der Halterung
Wenn die Messsonden-Stifte
Indessen können der Anschluss
Demgemäß wird die Überlappungsbreite W der Kontaktteile
Wenn die Vorrichtung
Das Ende des Kontaktteils
Die Vorrichtung
[Verfahren zur Messung der Leistung einer Solarzelle][Method for measuring the power of a solar cell]
Im Folgenden wird ein Verfahren zum Messen der elektrischen Charakteristika der Solarzelle
Eine Messung der elektrischen Charakteristika der Solarzelle
Anschließend wird die Vorrichtung
Die Gesamtbelastung, die auf den Anschluss
Da die Vorrichtung
Da der Anschluss
In dem Fall, in dem eine Vorrichtung
In der Vorrichtung
Auch wenn die Dicken der Fingerelektroden
Es sei darauf hingewiesen, dass die Vorrichtung
Beispiele Examples
Im Folgenden werden Beispiele der vorliegenden Erfindung erläutert; die Beispiele sollen jedoch nicht so ausgelegt werden, dass sie den Schutzbereich der vorliegenden Erfindung in irgendeiner Weise einschränken.In the following, examples of the present invention will be explained; however, the examples should not be construed to limit the scope of the present invention in any way.
Nachfolgend werden Beispiele für eine Messung der Lichtumwandlungseffizienz einer Solarzelle
(Solarzelle mit einer Sammelschienen-losen Struktur)(Solar cell with a busbar-less structure)
Die Solarzelle
(Beispiel 1)(Example 1)
Auf einer Kontaktfläche jedes Messsonden-Stifts, von dem ein Ende die Form eines Kreises (Durchmesser 1,5 mm) aufwies, wurden durch Fräsen Rillen ausgebildet. Die Rillen lagen in Form konzentrischer Kreise mit einem Winkel von jeweils 60° vor, besaßen eine durchschnittliche Tiefe von 45 μm und einen durchschnittlichen Abstand (mittleren Abstand) von 60 μm, wobei der durchschnittliche Abstand der durchschnittliche Abstand zwischen benachbarten Kreisen war (siehe
Die Messsonden-Stifte, auf denen jeweils die Rillen ausgebildet worden waren, wurden in ein Harzmaterial (Halterung) eingebettet und darin fixiert, um die Messsonden-Stifte in Zickzacklinien in insgesamt zwei Arrays in dem Zellbereich mit einer Seitenlänge von 156 mm anzuordnen, wie in
Eines der verbundenen Arrays stellte einen Anschluss zur Strommessung dar, und das andere Array stellte einen Anschluss zur Spannungsmessung dar. Diese Anschlüsse wurden mit dem eingesetzten Sonnensimulator verbunden.One of the connected arrays was a power measurement port and the other array was a voltage measurement port. These ports were connected to the solar simulator used.
(Beispiel 2)(Example 2)
Es wurde eine Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle auf die gleiche Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, mit dem Unterschied, dass der durchschnittliche Abstand (mittlere Abstand) benachbarter Kreise bei den konzentrischen Kreisen, welche die Rillen der Messsonden-Stifte
Die durchschnittliche Tiefe der Rillen betrug 95 μm.The average depth of the grooves was 95 μm.
(Beispiel 3)(Example 3)
Es wurde eine Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle auf die gleiche Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, mit dem Unterschied, dass der durchschnittliche Abstand (mittlere Abstand) benachbarter Kreise bei den konzentrischen Kreisen, welche die Rillen der Messsonden-Stifte
Die durchschnittliche Tiefe der Rillen betrug 210 μm.The average depth of the grooves was 210 μm.
(Vergleichsbeispiel 1) Comparative Example 1
Es wurde eine Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle auf die gleiche Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, mit dem Unterschied, dass keine Rillen in den Kontaktteilen
<Bewertung><Rating>
Die erhaltene Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle
Die Messung wurde mit Hilfe eines Sonnensimulators (PVS1116i, hergestellt von Nisshinbo Mechatronics Inc.) unter Bedingungen (JIS C8913) durchgeführt, bei denen die Beleuchtungsstärke 1000 W/m2 betrug, die Temperatur 25°C betrug, und das verwendete Spektrum AM1.5G war. Die Messung wurde 5 Mal durchgeführt, um einen arithmetischen Mittelwert und eine Standardabweichung (σ) der Widerstandswerte zu bestimmen. Es wurde der Schwankungsgrad pro Messung untersucht. Die gemessenen Ergebnisse wurden auf Grundlage folgender Bewertungskriterien evaluiert.The measurement was carried out by means of a solar simulator (PVS1116i, manufactured by Nisshinbo Mechatronics Inc.) under conditions (JIS C8913) in which the illuminance was 1000 W / m 2 , the temperature was 25 ° C, and the spectrum used was AM1.5G was. The measurement was performed 5 times to determine an arithmetic mean and a standard deviation (σ) of the resistance values. The degree of fluctuation per measurement was investigated. The measured results were evaluated on the basis of the following evaluation criteria.
[Bewertungskriterien][Evaluation Criteria]
- A: Gleich oder niedriger als 1/3 der Standardabweichung (σ) des Widerstandswerts von Vergleichsbeispiel 1.A: equal to or lower than 1/3 of the standard deviation (σ) of the resistance value of Comparative Example 1.
- B: Gleich oder niedriger als die Standardabweichung (σ) des Widerstandswerts von Vergleichsbeispiel 1, aber höher als 1/3 davon.B: equal to or lower than the standard deviation (σ) of the resistance value of Comparative Example 1, but higher than 1/3 thereof.
- C: Höher als die Standardabweichung (σ) des Widerstandswerts von Vergleichsbeispiel 1.C: Higher than the standard deviation (σ) of the resistance value of Comparative Example 1.
Tabelle 1
Es wurde bestätigt, dass in dem Fall, in dem eine Vielzahl von Rillen in dem Kontaktteil des Messsonden-Stifts ausgebildet waren (Beispiele 1 bis 3), die gemessenen Widerstandswerte niedrig waren, die Schwankung der Widerstandswerte gering war, und eine stabilere Leistungsmessung durchgeführt werden konnte, im Vergleich zu dem Fall, in dem das Kontaktteil des Messsonden-Stifts keine Vielzahl von Rillen aufwies (Vergleichsbeispiel 1).It was confirmed that in the case where a plurality of grooves were formed in the contact part of the probe pin (Examples 1 to 3), the measured resistance values were low, the fluctuation of the resistance values was small, and a more stable power measurement was performed could, compared with the case where the contact part of the probe pin had no plurality of grooves (Comparative Example 1).
Insbesondere, wenn der durchschnittliche Abstand (mittlere Abstand) der benachbarten Rillen 40 μm bis 150 μm betrug (Beispiele 1 und 2), war die Schwankung des Widerstandswerts sehr gering (die Standardabweichung (σ) war gleich oder geringer als 1/3 von Vergleichsbeispiel 1), und es wurden sehr gute Ergebnisse erhalten.Specifically, when the average pitch of the adjacent grooves was 40 μm to 150 μm (Examples 1 and 2), the fluctuation of the resistance value was very small (the standard deviation (σ) was equal to or less than 1/3 of Comparative Example 1 ), and very good results were obtained.
Industrielle AnwendbarkeitIndustrial applicability
Die Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle der vorliegenden Erfindung reduziert die Schwankung bei den gemessenen Widerstandswerten, wodurch eine stabile Leistungsmessung realisiert werden kann, da die Kontaktbereiche der Messsonden-Stifte und Fingerelektroden vergrößert werden.The solar cell power measuring apparatus of the present invention reduces the fluctuation in the measured resistance values, whereby a stable power measurement can be realized because the contact areas of the probe pins and finger electrodes are increased.
Demgemäß kann die Vorrichtung zum Messen der Leistung einer Solarzelle der vorliegenden Erfindung in geeigneter Weise für Leistungsmessungen einer Solarzelle eingesetzt werden.Accordingly, the apparatus for measuring the power of a solar cell of the present invention can be suitably used for power measurements of a solar cell.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- Vorrichtung zum Messen der Leistung einer SolarzelleDevice for measuring the power of a solar cell
- 22
- Solarzellesolar cell
- 33
- Oberflächenelektrodesurface electrode
- 3a3a
- Fingerelektrodefinger electrode
- 44
- Messsonden-StiftMeasuring probe pin
- 4a4a
- Stift-HauptteilPin main part
- 4b4b
- Kontaktteilcontact part
- 55
- Halterungbracket
- 66
- Anschluss zur StrommessungConnection for current measurement
- 77
- Anschluss zur SpannungsmessungConnection for voltage measurement
- 88th
- Strommessgerätammeter
- 99
- Spannungsmessgerätvoltmeter
- 2222
- Rückelektrodeback electrode
- 3030
- Gerüstframework
Claims (6)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013232308A JP6204152B2 (en) | 2013-11-08 | 2013-11-08 | Solar cell output measuring jig and solar cell output measuring method |
JPJP2013232308 | 2013-11-08 | ||
PCT/JP2014/078867 WO2015068632A1 (en) | 2013-11-08 | 2014-10-30 | Solar cell output measurement tool and solar cell output measurement method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112014005098T5 true DE112014005098T5 (en) | 2016-09-08 |
Family
ID=53041412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112014005098.9T Withdrawn DE112014005098T5 (en) | 2013-11-08 | 2014-10-30 | Apparatus for measuring the power of a solar cell and method for measuring the power of a solar cell |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6204152B2 (en) |
KR (1) | KR101814948B1 (en) |
CN (1) | CN105706359B (en) |
DE (1) | DE112014005098T5 (en) |
TW (1) | TW201530164A (en) |
WO (1) | WO2015068632A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017125626A1 (en) * | 2017-11-02 | 2019-05-02 | Hanwha Q Cells Gmbh | Contacting element and device for temporarily contacting a solar cell |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101801785B1 (en) | 2015-12-16 | 2017-11-28 | (재)구미전자정보기술원 | A performance test apparatus for both sides electricity generating solar cell |
CN112367050B (en) * | 2020-10-10 | 2023-11-03 | 天合光能股份有限公司 | Electrical performance test method suitable for large-size solar cell |
JP2023022433A (en) * | 2021-08-03 | 2023-02-15 | 住友電気工業株式会社 | Probe, probe device, and inspection method |
CN114325099A (en) * | 2021-11-29 | 2022-04-12 | 无锡极电光能科技有限公司 | Thin-film solar cell insulated wire resistance online testing device and method |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08220139A (en) * | 1995-02-13 | 1996-08-30 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | Probe for inspection board |
JPH1138041A (en) * | 1997-07-24 | 1999-02-12 | Mitsubishi Electric Corp | Cantilever probe needle for probe card, its manufacture, and control method |
JPH1151970A (en) * | 1997-07-31 | 1999-02-26 | Nec Corp | Probe card |
JP3279294B2 (en) * | 1998-08-31 | 2002-04-30 | 三菱電機株式会社 | Semiconductor device test method, semiconductor device test probe needle, method of manufacturing the same, and probe card provided with the probe needle |
JP2000291246A (en) * | 1999-04-05 | 2000-10-17 | Toli Corp | Unit flooring |
JP2006118983A (en) | 2004-10-21 | 2006-05-11 | Sharp Corp | Measurement fixture for solar battery cell |
JP2010177379A (en) * | 2009-01-28 | 2010-08-12 | Mitsubishi Electric Corp | Measuring tool for solar battery |
JP4866954B2 (en) | 2009-11-05 | 2012-02-01 | 共進電機株式会社 | Sample table for solar cell measurement |
JP6016292B2 (en) * | 2011-10-13 | 2016-10-26 | デクセリアルズ株式会社 | Solar cell measurement jig and solar cell output measurement method |
JP2015035435A (en) * | 2011-11-25 | 2015-02-19 | シャープ株式会社 | Probe for insulation inspection of solar cell module, method for insulation inspection of solar cell module using probe for inspection, and method for manufacturing solar cell module |
-
2013
- 2013-11-08 JP JP2013232308A patent/JP6204152B2/en active Active
-
2014
- 2014-10-30 KR KR1020167014500A patent/KR101814948B1/en active IP Right Grant
- 2014-10-30 DE DE112014005098.9T patent/DE112014005098T5/en not_active Withdrawn
- 2014-10-30 WO PCT/JP2014/078867 patent/WO2015068632A1/en active Application Filing
- 2014-10-30 CN CN201480061320.6A patent/CN105706359B/en active Active
- 2014-11-06 TW TW103138509A patent/TW201530164A/en unknown
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017125626A1 (en) * | 2017-11-02 | 2019-05-02 | Hanwha Q Cells Gmbh | Contacting element and device for temporarily contacting a solar cell |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6204152B2 (en) | 2017-09-27 |
TW201530164A (en) | 2015-08-01 |
KR20160079857A (en) | 2016-07-06 |
WO2015068632A1 (en) | 2015-05-14 |
KR101814948B1 (en) | 2018-01-04 |
JP2015094601A (en) | 2015-05-18 |
CN105706359B (en) | 2018-05-29 |
CN105706359A (en) | 2016-06-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE112014005098T5 (en) | Apparatus for measuring the power of a solar cell and method for measuring the power of a solar cell | |
DE112012005620T5 (en) | Method for producing a solar cell and the solar cell | |
WO2009132468A2 (en) | Method for producing a contact for solar cells | |
DE2319011A1 (en) | METHOD OF EECTRIC TESTING A CHIP CONNECTING CIRCUIT NETWORK ON A SUBSTRATE | |
DE112013002371T5 (en) | solar cell module | |
DE202010018088U1 (en) | test device | |
DE102013227098A1 (en) | Rail-shaped test head and measuring device for solar cells | |
DE112014003918T5 (en) | solar cell | |
DE102012017564B4 (en) | Device for non-permanent electrical contacting of solar cells for measuring electrical properties | |
DE102004004777A1 (en) | Deformable lighting module | |
DE4433693A1 (en) | Chip resistor suitable for sensing small currents | |
EP3066618A1 (en) | Ic module for different connection technologies | |
DE102018132451A1 (en) | Sensor and measuring device for solar cells | |
DE19931278B4 (en) | Test card and IC tester | |
DE102014205441B4 (en) | Backlight module and method for detecting electrostatic damage thereto | |
DE102014224679A1 (en) | solar cell | |
DE202008011461U1 (en) | Electric solar cell connections and photovoltaic solar modules | |
DE102015001942A1 (en) | Interconnection of solar cells in solar module | |
DE102017125626A1 (en) | Contacting element and device for temporarily contacting a solar cell | |
DE102021114906B4 (en) | SOLAR MODULE WITH OPTIMIZED CIRCUIT AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME | |
DE112018006853T5 (en) | Measuring arrangement for the sequential characterization of solar cells of a solar module and method for the sequential characterization of solar cells of a solar module with this measuring arrangement | |
DE102014110526B4 (en) | Solar cell string and solar cell string manufacturing process | |
DE212023000034U1 (en) | Solar cell and photovoltaic module | |
DE102015110851B4 (en) | Solar cell, solar cell string and solar cell manufacturing process | |
DE19749663A1 (en) | Semiconductor component test apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |