DE10392875T5 - Transformer, transformation device, transformation method and machine-readable medium on which a program is stored - Google Patents

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Abstract

Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, das mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz diskret gemacht ist, welcher aufweist:
einen Analysesignal-Transformator zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; und
eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zum Frequenzverschieben des Analysesignals und zum Erzeugen eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals.A detector for detecting a signal to be measured which is discretized at a predetermined discrete frequency comprising:
an analysis signal transformer for eliminating umfalt components of the signal to be measured generated due to the discreteness by transforming the signal to be measured into an analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured; and
a baseband signal generating unit for frequency shifting the analysis signal and generating a complex baseband signal of the signal to be measured.

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Description

Die vorliegende Anmeldung ist eine Fortsetzungsanmeldung von PCT/JP2003/008022 , die am 25. Juni 2003 eingereicht wurde und die die Priorität der Japanischen Patentanmeldung Nr. 2002-190912 , die am 28. Juni 2002 eingereicht wurde, beansprucht und deren Inhalt hier einbezogen ist.The present application is a continuation application of PCT / JP2003 / 008022 , filed June 25, 2003, which is the priority of Japanese Patent Application No. Hei. 2002-190912 filed June 28, 2002, the content of which is hereby incorporated by reference.

HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Gebiet der ErfindungBACKGROUND OF THE INVENTION 1 , Field of the invention

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung, ein Prüfverfahren zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung und ein maschinenlesbares Medium, auf dem ein Programm zum Betreiben der Prüfvorrichtung gespeichert ist. Genauer gesagt, bezieht sich vorliegende Erfindung auf einen Detektor und dergleichen zum Erfassen eines zu messenden Signals, das diskret gemacht ist. Zusätzlich beansprucht die vorliegende Erfindung den Nutzen und die Priorität der Japanischen Patentanmeldung Nr. 2002-190912 , die am 28. Juni 2002 eingereicht wurde und deren Inhalt hier für alle Zwecke einbezogen ist.The present invention relates to a detector for detecting a signal to be measured, a test apparatus for testing an electronic apparatus, a test method for testing an electronic apparatus, and a machine-readable medium on which a program for operating the test apparatus is stored. More specifically, the present invention relates to a detector and the like for detecting a signal to be measured which is made discrete. In addition, the present invention claims the benefit and priority of Japanese Patent Application No. Hei. 2002-190912 filed on June 28, 2002, the content of which is included here for all purposes.

2. Beschreibung des Standes der Technik2. Description of the state of the technique

Insoweit wird beispielsweise auf einem Gebiet der Kommunikation ein Signal durch ein Trägersignal mit einer gewünschten Frequenz moduliert und dann übertragen. Ein Empfänger empfängt das modulierte Signal und demoduliert es auf der Grundlage der Frequenz des Trägersignals.in this respect becomes, for example, a signal in a field of communication by a carrier signal with a desired Frequency modulated and then transmitted. A receiver receives the modulated signal and demodulates it based on the frequency of the carrier signal.

Um für diese Art von Modulation und Demodulation eines Signals verwendete elektronische Vorrichtungen zu prüfen, gab es eine Prüfvorrichtung zum Demodulieren des modulierten Signals und zum Prüfen der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des demodulierten Signals. Herkömmliche Prüfvorrichtungen haben über die Annehmbarkeit von elektronischen Vorrichtungen und Detektoren entschieden, die verwendet wurden für die Modulation, indem ein moduliertes Signal diskret mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz gemacht wurde, das diskrete Signal durch den Detektor erfasst wurde und das erfasste Signal analysiert wurde.Around for this Type of modulation and demodulation of a signal used electronic To test devices there was a tester to Demodulating the modulated signal and testing the electronic device based on the demodulated signal. conventional testers have over the acceptability of electronic devices and detectors decided that were used for modulation by a modulated signal discrete at a predetermined discrete frequency was made, the discrete signal was detected by the detector and the detected signal was analyzed.

Jedoch hat das diskrete Signal dadurch, dass das modulierte Signal diskret gemacht wurde, Umfaltkomponenten, die erzeugt wurden entsprechend der diskreten Frequenz, und somit war es schwierig, das modulierte Signal genau zu demodulieren. Aus diesem Grund war es schwierig, genau über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtungen zu entscheiden.however has the discrete signal in that the modulated signal is discrete was made, Umfaltkomponenten that were generated accordingly the discrete frequency, and thus it was difficult to get the modulated signal to demodulate exactly. Because of this, it was difficult to get over exactly that Acceptability of electronic devices to decide.

Weiterhin wurden in dem Fall der Erfassung des modulierten Signals durch einen Detektor Umfaltungskomponenten durch die Erfassung erzeugt, da das modulierte Signal ein tatsächliches Signal ist. Für herkömmliche Prüfvorrichtungen wurden Bandpassfilter oder Tiefpassfilter in weitem Umfang verwendet, um diese Arten von Umfaltungssignalkomponenten zu entfernen. Jedoch war es, um nur die Umfaltsignalkomponenten zu entfernen, erforderlich, Bandpassfilter oder Tiefpassfilter zu verwenden, die scharfe Abschneidcharakteristiken haben, die schwierig zu implementieren sind. Wenn weiterhin das Frequenzband von Signalkomponenten, die zu erfassen sind, und das von Umfaltsignalkomponenten überlappt sind, wird es schwierig, nur die Umfaltsignalkomponenten zu entfernen.Farther were in the case of the detection of the modulated signal by a Detector Umfaltungskomponenten generated by the detection, as the modulated signal an actual Signal is. For conventional testers bandpass filters or low-pass filters have been widely used to to remove these types of reshape signal components. however it was necessary to just remove the Umfaltsignornomponenten Bandpass or low pass filters that use sharp cutoff characteristics that are difficult to implement. If the Frequency band of signal components to be detected, and the are overlapped by Umfüaltsignalkomponenten, it becomes difficult to remove only the Umfaltsignalkomponenten.

Demgemäß ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Detektor, eine Prüfvorrichtung, ein Prüfverfahren und ein maschinenlesbares Medium, auf dem ein Programm gespeichert ist, vorzusehen, welche in der Lage sind, die vorstehenden, den Stand der Technik begleitenden Nachteile zu überwinden. Die vorstehende Aufgabe kann gelöst werden durch in den unabhängigen Ansprüchen beschriebene Kombinationen. Die abhängigen Ansprüche definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden Erfindung.Accordingly, it is an object of the present invention, a detector, a testing device, a test procedure and a machine-readable medium on which a program is stored is to provide, which are able to the above, the Overcome prior art disadvantages. The above Task can be solved through in the independent claims described combinations. Define the dependent claims further advantageous and exemplary combinations of the present Invention.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNGSUMMARY THE INVENTION

Um die obigen Probleme zu lösen, ist gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ein Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, das diskret gemacht ist mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz, vorgesehen, bei dem der Detektor einen Analysesignal-Transformator enthält zum Entfernen von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, indem das zu messende Signal in ein Analysesignal transformiert wird, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist, und ein Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zur Frequenzverschiebung des Analysesignals und zur Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals.Around to solve the above problems is according to one First aspect of the present invention, a detector for detecting a signal to be measured which is made discrete with a predetermined one discrete frequency, provided, in which the detector is an analysis signal transformer contains for removing umfaltkomponenten of the signal to be measured, the due to the discretion generated by the signal to be measured is transformed into an analysis signal whose discrete frequency is lower than the signal to be measured, and a baseband signal generating unit for frequency shift of the analysis signal and for generating a complex baseband signal of the signal to be measured.

Der Analysesignal-Transformator kann ein Dezimierungsfilter enthalten, das komplexe Daten aus diskreten komplexen Daten des Analysesignals bei jeder vorbestimmten Datennummer herauszieht und die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit mit den herausgezogenen komplexen Daten versieht.Of the Analysis signal transformer may include a decimation filter the complex data from discrete complex data of the analysis signal extracts each predetermined data number and the baseband signal generation unit with the extracted complex data.

Der Analysesignal-Transformator kann das zu messende Signal als einen reellen Nummernteil des Analysesignals ausgeben und das Hilbert-transformierte Signal des zu messenden Signals als einen imaginären Nummernteil des Analysesignals ausgeben. Weiterhin kann der Analysesignal-Transformator das Analysesignal erzeugen, das durch ein Hilbert-Transformationsfilter diskret gemacht ist.The analysis signal transformer can output the signal to be measured as a real number part of the analysis signal and output the Hilbert-transformed signal of the signal to be measured as an imaginary number part of the analysis signal. Furthermore, the analysis signal Transforma tor generate the analysis signal discretely made by a Hilbert transform filter.

Der Analysesignal-Transformator kann ein Hilbert-Transformationsfilter enthalten zum Erzeugen des Analysesignals, das diskret gemacht ist, und das Hilbert-Transformationsfilter kann mehrere in Kaskade verbundene Verzögerungselemente enthalten, die die diskreten Daten des zu messenden Signals empfangen, von denen jedes die Daten um einen Verzögerungsbetrag entsprechend der diskreten Periode des zu messenden Signals verzögert und die verzögerten Daten aufeinander folgend ausgibt; mehrere Dezimierungsfilter zum Herausziehen von Daten aus den Daten, die von den mehreren Verzögerungselementen bei jeder vorbestimmten Datennummer ausgegeben sind; mehrere Multiplikationsvorrichtungen, von denen jede die von jedem der mehreren Dezimierungsfilter herausgezogenen Daten mit einem vorbestimmten Koeffizienten multipliziert; und eine Additionseinheit zum Berechnen einer Gesamtsumme der Daten, die synchron von den Dezimierungsfiltern ausgegeben und von den mehreren Multiplikationsvorrichtung mit dem vorbestimmten Koeffizienten multipliziert wurden, und zum Erzeugen eines imaginären Nummernteils des Analysesignals.Of the Analysis signal transformer may include a Hilbert transform filter for Generating the analysis signal that is made discrete and the Hilbert transform filter may contain several cascade-connected delay elements, which receive the discrete data of the signal to be measured, from each of which matches the data by a delay amount delayed the discrete period of the signal to be measured and the delayed Outputs data consecutively; several decimation filters for Extracting data from the data obtained from the multiple delay elements are issued at every predetermined data number; several multipliers, from each one extracted from each of the several decimation filters Data multiplied by a predetermined coefficient; and an addition unit to calculate a total of the data synchronous to the Decimation filters and output from the multiple multiplication device multiplied by the predetermined coefficient, and the Generating an imaginary Number part of the analysis signal.

Weiterhin kann der Analysesignal-Transformator ein Hilbert-Transformationsfilter enthaltend zum Erzeugen des Analysesignals, das diskret gemacht ist, wobei das Hilbert-Transformationsfilter mehrere in Kaskade verbundene Verzögerungselemente enthält, die die diskreten Daten des zu messenden Signals empfangen, wobei jedes von diesen die Daten um einen Verzögerungsbetrag entsprechend der diskreten Periode des zu messenden Signals verzögert und die verzögerten Daten aufeinander folgend ausgibt; mehrere Dezimierungsfilter zum Herausziehen von Daten aus den Daten, die von den mehreren Verzögerungselementen bei jeder vorbestimmten Datennummer ausgegeben werden; eine Additionseinheit zum Berechnen einer Summe der herausgezogenen Daten für jeweils zwei entsprechende Dezimierungsfilter; eine Multiplikationseinheit zum Multiplizieren jede der Summen der Daten, die durch die Additionseinheit berechnet wurden, mit einem vorbestimmten Koeffizienten; und einen Addierer zum Berechnen einer Gesamtsumme der Daten, die synchron von den Dezimierungsfiltern ausgegeben und durch die Mu1-tiplikationseinheit mit vorbestimmten Koeffizienten multipliziert wurden.Farther the analysis signal transformer can be a Hilbert transform filter comprising for generating the analysis signal which is made discrete is, where the Hilbert transform filter several in cascade connected delay elements contains receiving the discrete data of the signal to be measured, wherein each of them corresponding to the data by a delay amount delayed the discrete period of the signal to be measured and the delayed Outputs data consecutively; several decimation filters to pull out of data from the data obtained from the plurality of delay elements be issued at every predetermined data number; an addition unit for calculating a sum of the extracted data for each two corresponding decimation filters; a multiplication unit for multiplying each of the sums of the data by the addition unit calculated with a predetermined coefficient; and one Adder for calculating a total of the data synchronous output by the decimation filters and by the multiplication unit multiplied by predetermined coefficients.

Der Analysesignal-Transformator kann eine Fourier-Transformationseinheit enthalten zum Anwenden der diskreten Fouriertransformation bei dem zu messenden Signal; einen Bandbegrenzer zum Erzeugen eines Bandbegrenzungssignals durch Eliminieren von Frequenzkomponenten, deren Frequenz höher als etwa die Hälfte der diskreten Frequenz von den Frequenzkomponenten des zu messenden Signals, das der diskreten Fouriertransformation unterzogen wird, ist; und eine inverse Fourier-Transformationseinheit zum Erzeugen des Analysesignals durch Anwenden der inversen Fouriertransformation bei dem Bandbegrenzungssignal.Of the Analysis signal transformer may include a Fourier transform unit for Apply the discrete Fourier transform to the one to be measured Signal; a band limiter for generating a band limiting signal by eliminating frequency components whose frequency is higher than about half the discrete frequency of the frequency components of the measured Signal subjected to discrete Fourier transformation, is; and an inverse Fourier transform unit for generating of the analysis signal by applying the inverse Fourier transform at the band limit signal.

Der Analysesignal-Transformator kann weiterhin ein Dezimierungsfilter enthalten, das komplexe Daten des diskreten Bandbegrenzungssignals bei jeder vorbestimmten Datennummer herauszieht und der inversen Fourier-Transformationseinheit die herausgezogenen komplexen Daten liefert.Of the Analysis signal transformer may further include a decimation filter contain the complex data of the discrete band limiting signal at each predetermined data number pulls out and the inverse Fourier transformation unit the extracted complex data supplies.

Das zu messende Signal kann ein Signal sein, das durch ein Trägersignal mit einer vorbestimmten Frequenz frequenzverschoben ist, und die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit kann die Frequenz des Analysesignals auf der Grundlage der vorbestimmten Frequenz in der Phase verschieben.The The signal to be measured may be a signal transmitted by a carrier signal frequency-shifted at a predetermined frequency, and the baseband signal generating unit may be the frequency of the analysis signal based on the predetermined Move frequency in phase.

Gemäß einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, das mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz diskret gemacht ist, vorgesehen, bei dem der Detektor enthält: einen Analysesignal-Transformator zum Elimi nieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, indem das zu messende Signal in ein Analysesignal transformiert wird; eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit für eine Frequenzverschiebung des Analysesignals und die Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals; und ein Dezimierungsfilter zum Empfangen des komplexen Basisbandsignals, Herausziehen der komplexen Daten aus den komplexen Daten des komplexen Basisbandsignals bei jeder vorbestimmten Datennummer, und Erzeugen des komplexen Basisbandsignals, dessen diskrete Frequenz niedriger ist als die des zu messenden Signals.According to one The second aspect of the present invention is a detector for detecting a signal to be measured with a predetermined discrete Frequency is discretely provided, provided in which the detector includes: a Analysis signal transformer for eliminating umfalt components the signal to be measured, which are generated due to the discretion, by transforming the signal to be measured into an analysis signal becomes; a baseband signal generation unit for one Frequency shift of the analysis signal and the generation of a complex baseband signal of the signal to be measured; and a decimation filter for receiving the complex baseband signal, extracting the complex Data from the complex data of the complex baseband signal at each predetermined data number, and generating the complex baseband signal, whose discrete frequency is lower than that of the one to be measured Signal.

Das Dezimierungsfilter kann den Wert der Amplitude jedes komplexen Datenstücks des komplexen Basisbandsignals auf der Grundlage eines vorbestimmten Wertes korrigieren. Weiterhin kann das Dezimierungsfilter die Phase des komplexen Basisbandsignals auf der Grundlage des Verhältnisses der I-Phasenkomponente zu der Q-Phasenkomponente des komplexen Basisbandsignals korrigieren.The Decimation filter can measure the value of the amplitude of each complex piece of data complex baseband signal based on a predetermined Correct the value. Furthermore, the decimation filter can phase out of the complex baseband signal on the basis of the ratio of the I-phase component to the Q-phase component of the complex baseband signal correct.

Gemäß einem dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, das diskret gemacht ist mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz und durch ein Trägersignal mit einer vorbestimmten Frequenz frequenzverschoben ist, vorgesehen, welcher Detektor enthält: eine Fourier-Transformationseinheit zum Anwenden einer Fouriertransformation bei dem zu messenden Signal; einen Bandbegrenzer zum Erzeugen eines Bandbegrenzungssignals durch Eliminieren von Frequenzkomponenten, deren Frequenz höher als etwa die Hälfte des diskreten Frequenz ist, aus den Frequenzkomponenten des zu messenden Signals, das Fourier-transformiert ist; ein Dezi mierungsfilter zum Herausziehen und Ausgeben des Bandbegrenzungssignals bei jeder vorbestimmten Datennummer; eine Frequenzverschiebevorrichtung zum Verschieben des Bandbegrenzungssignals, das das Dezimierungsfilter ausgibt, auf einer Frequenzachse auf der Grundlage des Trägersignals; und eine inverse Fourier-Transformationseinheit zum Anwenden der inversen Fouriertransformation bei dem Bandbegrenzungssignal, das durch die Frequenzverschiebevorrichtung in der Frequenz verschoben wurde.According to a third aspect of the present invention, there is provided a detector for detecting a signal to be measured which is made discrete at a predetermined discrete frequency and frequency-shifted by a carrier signal at a predetermined frequency, which detector comprises: a Fourier transform unit for applying a Fourier transformation on the signal to be measured; a band limiter for generating a band limiting signal by eliminating of frequency components whose frequency is higher than about half of the discrete frequency, from the frequency components of the signal to be measured which is Fourier transformed; a decimation filter for extracting and outputting the band limiting signal every predetermined data number; a frequency shifting device for shifting the band limiting signal that outputs the decimation filter on a frequency axis based on the carrier signal; and an inverse Fourier transform unit for applying the inverse Fourier transform to the band limiting signal shifted in frequency by the frequency shifting device.

Gemäß einem vierten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Prüfvorrichtung vorgesehen, die über die Annehmbarkeit einer elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung ausgegebenen modulierten Signals entscheidet, wobei die Prüfvorrichtung enthält: einen A/D-Wandler, um das modulierte Signal diskret zu machen und in ein zu messendes Signal umwandelt; einen Analysesignal-Transformator zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signal, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zum Phasenverschieben des Analysesignals und zum Erzeugen eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals; und eine Analyseeinheit zum Entscheiden über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals.According to one Fourth aspect of the present invention is a testing device provided that over the acceptability of an electronic device on the basis a modulated output from the electronic device Signal decides, wherein the test apparatus contains: a A / D converter to make the modulated signal discrete and in converts signal to be measured; an analysis signal transformer for Eliminate Umfaltkomponenten of the signal to be measured, due to of discretion are generated by transforming the one to be measured Signal into an analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured; a baseband signal generation unit for phase shifting the analysis signal and generating a complex Baseband signal of the signal to be measured; and an analysis unit to decide about the acceptability of the electronic device on the basis of the complex baseband signal.

Gemäß einem fünften Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Prüfverfahren vorgesehen, das über die Annehmbarkeit einer elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung ausgegebenen modulierten Signals entscheidet, wobei das Prüfverfahren enthält:
einen A/D-Umwandlungsschritt, um das modulierte Signal diskret zu machen und in ein zu messendes Signal umzuwandeln; einen Analysesignal-Transformationsschritt zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die erzeugt sind aufgrund der Diskretheit, indem das zu messende Signal in ein Analysesignal transformiert wird, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; einen Basisbandsignal-Erzeugungsschritt zur Phasenverschiebung des Analysesignals und zur Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals; und einen Analyseschritt zum Entscheiden über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals.According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a test method that decides the acceptability of an electronic device based on a modulated signal output from the electronic device, the test method including:
an A / D conversion step of discretizing the modulated signal and converting it into a signal to be measured; an analysis signal transforming step for eliminating umlaut components of the signal to be measured generated due to the discreteness by transforming the signal to be measured into an analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured; a baseband signal generating step for phase shifting the analysis signal and generating a complex baseband signal of the signal to be measured; and an analysis step for deciding the acceptability of the electronic device based on the complex baseband signal.

Gemäß einem sechsten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein maschinenlesbares Medium, auf dem ein Programm gespeichert ist, durch das ein Computer Funktionen als eine Prüfvorrichtung durchführt, die über die Annehmbarkeit einer elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines modulierten, von der elektronischen Vorrichtung ausgegebenen Signals entscheidet, vorgesehen, wobei das Programm bewirkt, dass der Computer Funktionen durchführt als: ein A/D-Wandler, um das modulierte Signal diskret zu machen und es in ein zu messendes Signal umzuwandeln; eine Analysesignal-Transformator zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Umwandeln des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zur Phasenverschiebung des Analysesignals und zum Erzeugen eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals; und eine Analyseeinheit zur Entscheidung ü ber die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals.According to one Sixth aspect of the present invention is a machine-readable Medium on which a program is stored, through which a computer Performs functions as a test device over the Acceptability of an electronic device on the basis a modulated, output from the electronic device Signal decides, provided that the program causes the computer performs functions as: an A / D converter, to discreetize the modulated signal and turn it into a signal to be measured convert; an analysis signal transformer to eliminate Umfaltkomponenten of the signal to be measured, which generates due to the discretion are by converting the signal to be measured into an analysis signal, the frequency of which is lower than that of the signal to be measured; a baseband signal generating unit for phase shifting the Analysis signal and for generating a complex baseband signal the signal to be measured; and an analysis unit for deciding on Acceptability of the electronic device based on the complex baseband signal.

Die Zusammenfassung der Erfindung beschreibt nicht notwendigerweise alle erforderlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorbeschriebenen Merkmale sein.The Summary of the invention does not necessarily describe all required features of the present invention. The present The invention may also be a sub-combination of the features described above be.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGENSUMMARY THE DRAWINGS

1 zeigt ein Beispiel für die Ausbildung einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. 1 shows an example of the training of a tester 100 according to an embodiment of the present invention.

2A zeigt ein Beispiel für eine Frequenzkomponente des zu erfassen Signals, das durch einen A/D-Wandler 20 diskret gemacht wird. 2A shows an example of a frequency component of the signal to be detected by an A / D converter 20 is made discreet.

2B zeigt ein Beispiel für eine Frequenzkomponente für den Fall der Erfassung eines tatsächlichen Signals. 2 B shows an example of a frequency component in the case of detecting an actual signal.

2C zeigt ein Beispiel für eine Frequenzkomponente eines Signals, das die Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel erfasst. 2C shows an example of a frequency component of a signal that the tester 100 detected according to the present embodiment.

2D zeigt ein Beispiel für eine Frequenzkomponente eines Signals, das die Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel erfasst in dem Fall der Abwärtsabtastung eines Analysesignals. 2D shows an example of a frequency component of a signal that the tester 100 According to the present embodiment, in the case of the downsampling of an analysis signal, it detects.

3A zeigt ein Beispiel für die Ausbildung des Analysesignal-Transformators 30. 3A shows an example of the training of the analysis signal transformer 30 ,

3B zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung des Analysesignal-Transformators 30. 3B shows another example of the training of the analysis signal transformer 30 ,

3C zeigt ein anderes Beispiel für den Analysesignal-Transformator 30, der eine unterschiedliche Ausbildung hat. 3C shows another example of the analysis signal transformer 30 who has a different education.

4 zeigt ein Beispiel für die Konfiguration eines Hilbert-Transformationsfilters 60. 4 shows an example of the configuration of a Hilbert transform filter 60 ,

5 zeigt ein anderes Beispiel für die Konfiguration der Prüfvorrichtung 100. 5 shows another example of the configuration of the test apparatus 100 ,

6 erläutert die Phasenfehlerkorrektur eines komplexen Basisbandsignals für ein Dezimierungsfilter 70. 6 illustrates the phase error correction of a complex baseband signal for a decimation filter 70 ,

7A zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung des Hilbert-Transformationsfilters 60. 7A shows another example of the formation of the Hilbert transform filter 60 ,

7B zeigt ein anderes Beispiel für das Hilbert-Transformationsfilter 60, das eine unterschiedliche Ausbildung hat. 7B shows another example of the Hilbert transform filter 60 who has a different education.

8A zeigt ein anderes Beispiel für die Konfiguration des Analysesignal-Transformators 30, der eine Fouriertransformation verwendet. 8A shows another example of the configuration of the analysis signal transformer 30 using a Fourier transform.

8B zeigt ein anderes Beispiel für den Analysesignal-Transformation 30, der eine unterschiedliche Ausbildung hat. 8B shows another example of the analysis signal transformation 30 who has a different education.

9 ist ein Flussdiagramm zur Erläuterung eines Beispiels für ein Prüfverfahren gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin dung. 9 FIG. 12 is a flowchart for explaining an example of a test method according to an embodiment of the present invention. FIG.

10 zeigt ein Beispiel für die Hardwareausbildung eines Computers 300 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. 10 shows an example of the hardware training of a computer 300 according to an embodiment of the present invention.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNGDETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

Die Erfindung wird nun auf der Grundlage der bevorzugten Ausführungsbeispiele beschrieben, die den Bereich der vorliegenden Erfindung nicht einschränken, sondern die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle Merkmale und deren Kombinationen, die in dem Ausführungsbeispiel beschrieben sind, sind nicht notwendigerweise wesentliche für die Erfindung.The Invention will now be based on the preferred embodiments described, which do not limit the scope of the present invention, but to illustrate the invention. All features and their combinations, in the embodiment are not necessarily essential to the invention.

1 zeigt ein Beispiel für die Ausbildung einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Die Prüfvorrichtung 100 erfasst ein von einer elektronischen Vorrichtung 200 erzeugtes moduliertes Signal durch Eliminieren von Umfaltkomponenten aus dem modulierten Signal und prüft die elektronischen Vorrichtung 200. Die elektronische Vorrichtung 200 ist beispielsweise ein SOC (System on Chip), das ein moduliertes Signal erzeugt, indem ein vorbestimmtes Signal moduliert wird, das durch ein Trägersignal mit einer vorbestimmten Frequenz moduliert ist. 1 shows an example of the training of a tester 100 according to an embodiment of the present invention. The tester 100 detects one from an electronic device 200 generated modulated signal by eliminating Umfaltkomponenten from the modulated signal and checks the electronic device 200 , The electronic device 200 For example, SOC (System on Chip) which generates a modulated signal by modulating a predetermined signal modulated by a carrier signal having a predetermined frequency.

Die Prüfvorrichtung 100 enthält einen A/D-Wandler 20, einen Detektor 10 und eine Analyseeinheit 50. Der A/D-Wandler 20 macht das modulierte Signal, das die elektronischen Vorrichtung 200 erzeugt, diskret mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz und erzeugt ein zu messendes Signal. Es ist wünschenswert, dass der A/D-Wandler 20 das modulierte Signal diskret macht mit einer Frequenz, die das Zweifache oder mehr der Nyquist-Frequenz des modulierten Signals ist.The tester 100 contains an A / D converter 20 , a detector 10 and an analysis unit 50 , The A / D converter 20 makes the modulated signal that the electronic device 200 generated discretely at a predetermined discrete frequency and generates a signal to be measured. It is desirable that the A / D converter 20 makes the modulated signal discrete at a frequency that is twice or more the Nyquist frequency of the modulated signal.

Der Detektor 10 erfasst das zu messende, von dem A/D-Wandler 20 erzeugte Signal. Der Detektor 10 enthält einen Analysesignal-Transformator 30 und eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40. Der Analysesignal-Transformator 30 transformiert das zu messende Signal in ein Analysesignal aus einer komplexen Zahl. Durch Transformieren des zu messenden Signals in das Analysesignal aus einer komplexen Zahl ist es möglich, Umfaltkomponenten des zu messenden Signals zu eliminieren, die aufgrund der Diskretheit des A/D-Wandlers 20 erzeugt sind. Somit ist es möglich, das modulierte Signal genau zu erfassen. Der reelle Teil der Zahl des Analysesignals ist das zumessende Signal, und der imaginäre Teil der Zahl des Analysesignals ist das Signal, das durch Verschieben der Phase aller Frequenzkomponenten des zu messenden Signals um 90° erzeugt ist.The detector 10 detects the to-be-measured, from the A / D converter 20 generated signal. The detector 10 contains an analysis signal transformer 30 and a baseband signal generation unit 40 , The analysis signal transformer 30 transforms the signal to be measured into an analysis signal from a complex number. By transforming the signal to be measured into the analysis signal from a complex number, it is possible to eliminate umfalt components of the signal to be measured due to the discreteness of the A / D converter 20 are generated. Thus, it is possible to accurately detect the modulated signal. The real part of the number of the analysis signal is the signal to be measured, and the imaginary part of the number of the analysis signal is the signal generated by shifting the phase of all frequency components of the signal to be measured by 90 °.

Die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 verschiebt die Frequenz des Analysesignals und erzeugt ein komplexes Basisbandsignal des zu messenden Signals. Gemäß dem vorliegenden Beispiel verschiebt die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 die Frequenz des Analysesignals auf der Grundlage der Frequenz des Trägersignals der elektronischen Vorrichtung 200. Die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 kann eine komplexe Multiplikationsvorrichtung sein, die die Frequenz des Analysesignals verschiebt durch Multiplizieren des reellen Teils der Zahl und des imaginären Teils der Zahl mit einer komplexen Zahl. In diesem Fall multipliziert die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 den reellen Teil der Zahl und den imaginären Teil der Zahl mit einer komplexen Zahl e–j2πfct. Hier zeigt fc die Frequenz des Trägersignals. Die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 erzeugt das I-Phasensignal und das Q-Phasensignal, die der phasenverschobene reelle Teil der Zahl bzw. der phasenverschobene imaginäre Teil der Zahl des Analysesignals sind, und liefert sie zu der Analyseeinheit 50.The baseband signal generation unit 40 shifts the frequency of the analysis signal and generates a complex baseband signal of the signal to be measured. According to the present example, the baseband signal generation unit shifts 40 the frequency of the analysis signal based on the frequency of the carrier signal of the electronic device 200 , The baseband signal generation unit 40 may be a complex multiplier which shifts the frequency of the analysis signal by multiplying the real part of the number and the imaginary part of the number with a complex number. In this case, the baseband signal generation unit multiplies 40 the real part of the number and the imaginary part of the number with a complex number e -j2πfct . Here f c shows the frequency of the carrier signal. The baseband signal generation unit 40 generates the I-phase signal and the Q-phase signal, which are the phase-shifted real part of the number and the phase-shifted imaginary part of the number of the analysis signal, respectively, and supplies them to the analysis unit 50 ,

Bei der Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Beispiel ist es möglich, durch die Erfassung durch den Detektor 10 erzeugte Umfaltkomponente zu eliminieren, da die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 die Frequenz der komplexen Zahl des Analysesignals verschiebt. Somit ist es möglich, das modulierte Signal genau zu erfassen.At the test device 100 According to the present example, it is possible by detection by the detector 10 since the baseband signal generation unit 40 the frequency of the complex number of Ana lysesignals shifts. Thus, it is possible to accurately detect the modulated signal.

Die Analyseeinheit 50 entscheidet über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung 200 auf der Grundlage des I-Phasensignals und des Q-Phasensignals. Beispielsweise entscheidet die Analyseeinheit 50 über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung 200 auf der Grundlage der Fehlervektorgröße (EVM) des modulierten Signals. Mit anderen Worten, die Analyseeinheit 50 entscheidet über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung 200, indem sie feststellt, ob das modulierte Signal ordnungsgemäß auf die IQ-Ebene moduliert ist oder nicht, auf der Grundlage des I-Phasensignals und des Q-Phasensignals.The analysis unit 50 decides on the acceptability of the electronic device 200 based on the I-phase signal and the Q-phase signal. For example, the analysis unit decides 50 on the acceptability of the electronic device 200 based on the error vector magnitude (EVM) of the modulated signal. In other words, the analysis unit 50 decides on the acceptability of the electronic device 200 by determining whether or not the modulated signal is properly modulated to the IQ plane based on the I-phase signal and the Q-phase signal.

Wie vorstehend beschrieben ist, ist es bei der Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Beispiel möglich, die durch die Diskretheit und Erfassung des modulierten Signals erzeugten Umfaltkomponenten zu eliminieren, und somit ist es möglich, das modulierte Signal genau zu erfassen. Somit ist es möglich, über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung 200 genau zu entscheiden.As described above, it is in the test apparatus 100 According to the present example, it is possible to eliminate the folded components generated by the discrimination and detection of the modulated signal, and thus it is possible to accurately detect the modulated signal. Thus, it is possible to discuss the acceptability of the electronic device 200 to decide exactly.

Weiterhin ist es bei der Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Beispiel, selbst wenn die elektronischen Vorrichtung 200 ein Signal durch Amplitudenmodulation, Phasenmodulation oder Frequenzmodulation erzeugt, möglich, die Prüfung der elektronischen Vorrichtung 200, die Erfassung des modulierten Signals und dergleichen durchzuführen, da das zu messende Signal in das Analysesignal transformiert ist.Furthermore, it is the tester 100 according to the present example, even if the electronic device 200 a signal generated by amplitude modulation, phase modulation or frequency modulation, possible, the test of the electronic device 200 to perform the detection of the modulated signal and the like, since the signal to be measured is transformed into the analysis signal.

Die 2A–2D zeigen Beispiele für die Frequenzkomponenten des zu erfassenden Signals. In den 2A–2D beschreibt fs die diskrete Frequenz des A/D-Wandlers 20, und fc beschreibt die Frequenz des Trägersignals der elektronischen Vorrichtung 200.The 2A - 2D show examples of the frequency components of the signal to be detected. In the 2A - 2D f s describes the discrete frequency of the A / D converter 20 , and f c describes the frequency of the carrier signal of the electronic device 200 ,

2A zeigt ein Beispiel für eine Frequenzkomponente des zu erfassenden Signals, das ein A/D-Wandler 20 diskret macht. In dem Fall, dass das Signal mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz diskret gemacht wird, für die durch die ausgezogene Linie in 2A gezeigte tatsächliche Frequenzkomponente, wird eine durch die strichlierte Linie in 2A gezeigte Umfaltkomponente erzeugt entsprechend der diskreten Frequenz. Die Umfaltkomponente wird in dem Bereich erzeugt, der symmetrisch zu der tatsächlichen Frequenzkomponente des Signals mit Bezug zu fs/2 ist. 2A shows an example of a frequency component of the signal to be detected, which makes an A / D converter 20 discrete. In the case that the signal is discretized at a predetermined discrete frequency, for which the solid line in FIG 2A shown actual frequency component, a through the dashed line in 2A shown Umfaltkomponente generated according to the discrete frequency. The fold-in component is generated in the region which is symmetric to the actual frequency component of the signal with respect to f s / 2.

Durch Transformieren des zu messenden Signals in das Analysesignal ist es möglich, negative Frequenzkomponenten zu eliminieren. Die in 2A gezeigte Umfaltkomponente ist eine Komponente, die entsprechend der Spiegelkomponente des negativen Frequenzbereichs des zu messenden Signals erzeugt ist, und somit kann die Umfaltkomponente eliminiert werden durch Trans formieren des zu messenden Signals in das Analysesignal. Die Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Beispiel eliminiert die Umfaltkomponente durch Transformieren des zu messenden Signals in das Analysesignal.By transforming the signal to be measured into the analysis signal, it is possible to eliminate negative frequency components. In the 2A shown Umfaltkomponente is a component which is generated in accordance with the mirror component of the negative frequency range of the signal to be measured, and thus the Umfaltkomponente can be eliminated by trans forming the signal to be measured in the analysis signal. The tester 100 According to the present example, the umfalt component eliminates by transforming the signal to be measured into the analysis signal.

2B zeigt ein Beispiel für eine Frequenzkomponente für den Fall der Erfassung eines tatsächlichen oder wirklichen Signals. In dem Fall, dass das Signal nur Komponenten einer reellen Zahl hat, werden, wenn das tatsächliche Signal für die Basisbändsignal-Erzeugungseinheit 40 in der Frequenz verschoben wird, die durch gestrichelte Linien in 2B gezeigten Umfaltkomponenten erzeugt. Weiterhin wird in dem Fall der Erfassung des tatsächlichen Signals die Intensität der Frequenzkomponenten schließlich die Hälfte von der der Frequenzkomponenten des tatsächlichen Signals vor der Erfassung. Die Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Beispiel kann die Umfaltkomponente eliminieren, da sie das zu messende Signal in das Analysesignal transformiert. 2 B shows an example of a frequency component in the case of detecting an actual or real signal. In the case that the signal has only components of a real number, if the actual signal for the baseband signal generating unit 40 is shifted in frequency by dashed lines in 2 B produced Umfaltkomponenten. Further, in the case of detecting the actual signal, the intensity of the frequency components eventually becomes half of that of the frequency components of the actual signal before detection. The tester 100 According to the present example, the Umfaltkomponente can eliminate because it transforms the signal to be measured in the analysis signal.

2C zeigt ein Beispiel für die Frequenzkomponente des von der Prüfvorrichtung 100 erfassten Signals nach dem vorliegenden Beispiel. Wie vorstehend beschrieben ist, kann die Prüfvorrichtung 100 die Umfaltkomponenten eliminieren und somit das Signal erfassen. 2C shows an example of the frequency component of the test apparatus 100 detected signal according to the present example. As described above, the test apparatus 100 eliminate the umfalt components and thus capture the signal.

2D zeigt ein Beispiel für die Frequenzkomponente des von der Prüfvorrichtung 100 erfassten Signals nach dem vorliegenden Beispiel in dem Fall der Abwärtsabtastung des Analysesignals. f's in 2D beschreibt die diskrete Frequenz des Analysesignals nach der Abwärtsabtastung des Analysesignals. Beispielsweise kann die Prüfvorrichtung 100 auch Umfalt komponenten eliminieren und somit ein Signal in dem Fall der Abwärtsabtastung des Analysesignals durch das Dezimierungsfilter 70 erfassen, was mit Bezug auf 5 wie folgt beschrieben wird. 2D shows an example of the frequency component of the test apparatus 100 in the case of the downsampling of the analysis signal. f ' s in 2D describes the discrete frequency of the analysis signal after the downsampling of the analysis signal. For example, the test device 100 also eliminate umfalt components and thus a signal in the case of the downsampling of the analysis signal by the decimation filter 70 capture what's related to 5 is described as follows.

Die 3A–3C zeigen Beispiele für die Ausbildung des Analysesignal-Transformators 30. 3A zeigt ein Beispiel für die Ausbildung des Analysesignal-Transformators 30. Der Analysesignal-Transformator 30 nach dem vorliegenden Beispiel enthält einen Hilbert-Transformator 32, der eine Hilbert-Transformation des zu messenden Signals durchführt. Der Analysesignal-Transformator 30 gibt das zu messende Signal als einen reellen Teil der Zahl des Analysesignals aus und gibt das zu messende Signal, das durch den Hilbert-Transformator 32 Hilbert-transformiert ist, als einen imaginären Zahlenteil des Analysesignals aus. Somit ist es möglich, das Analysesignal zu erzeugen, das den reellen Zahlenteil und den imaginären Zahlenteil mit einer Phasendifferenz von 90° hat. Der Hilbert-Transformator 32 kann die Hilbert-Transformation durch eine Software durchführen, die beispielsweise einen DSP (Digitalen Signalprozessor) verwendet, oder durch Hardware wie ein Hilbert-Transformationsfilter. Durch Ausführen der Hilbert-Transformation des modulieren Signals, das diskret gemacht ist, durch eine digitale Schaltung wie ein Hilbert-Transformationsfilter oder durch Berechnungen, ist es möglich, den imaginären Zahlenteil mit einer Phasendifferenz von 90° mit Bezug auf den reellen Zahlenteil genau zu erzeugen.The 3A - 3C show examples of the training of the analysis signal transformer 30 , 3A shows an example of the training of the analysis signal transformer 30 , The analysis signal transformer 30 according to the present example contains a Hilbert transformer 32 which performs a Hilbert transform of the signal to be measured. The analysis signal transformer 30 outputs the signal to be measured as a real part of the number of the analysis signal and outputs the signal to be measured by the Hilbert transformer 32 Hilbert-transformed, as an imaginary number part of the analysis signal. Thus, it is possible to generate the analysis signal including the real number part and the imaginary number part with a Pha transmission difference of 90 ° has. The Hilbert transformer 32 For example, the Hilbert transform may be performed by software using, for example, a DSP (Digital Signal Processor) or hardware such as a Hilbert transform filter. By performing the Hilbert transform of the modulated signal made discrete by a digital circuit such as a Hilbert transform filter or by calculations, it is possible to accurately generate the imaginary number part having a phase difference of 90 ° with respect to the real number part ,

3B zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung des Analysesignal-Transformators 30. Bei dem vorliegenden Beispiel enthält der Analysesignal-Transformator 30 ein Hilbert-Transformationsfilter 60, das eine Hilbert-Transformation des zu messenden Signals durchführt und das diskrete Analysesignal erzeugt. Die Ausbildung des Hilbert-Transformationsfilters 60 wird später beschrieben. Wie vorstehend beschrieben ist, kann der Analysesignal-Transformator 30 nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel den imaginären Teil mit einer Phasendifferenz von 90° mit Bezug auf den reellen Zahlenteil erzeugen. 3B shows another example of the training of the analysis signal transformer 30 , In the present example, the analysis signal transformer contains 30 a Hilbert transform filter 60 which performs a Hilbert transform of the signal to be measured and generates the discrete analysis signal. The formation of the Hilbert transform filter 60 will be described later. As described above, the analysis signal transformer 30 According to the present embodiment, the imaginary part having a phase difference of 90 ° with respect to the real number part is generated.

3C zeigt ein anderes Beispiel für die Konfiguration des Analysesignal-Transformators 30. Bei dem vorliegenden Beispiel enthält der Analysesignal-Transformator 30 einen Fourier-Transformator 34, der eine Fouriertransformation des zu messenden Signals durchführt, einen Bandbegrenzer 36, der ein Bandbegrenzungssignal erzeugt durch Eliminieren von Frequenzkomponenten mit einer Frequenz von mehr als der Hälfte der diskreten Frequenz des A/D-Wandlers 20, von den Frequenzkomponenten des zu messenden, Fourier-transformierten Signals, und einem inversen Fourier-Transformator 38, der eine inverse Fouriertransformation des Bandbegrenzungssignals durchführt und ein Analysesignal erzeugt. Der Fourier-Transformator 34 und der inverse Fourier-Transformator 38 können eine schnelle Fouriertransformation bzw. eine inverse schnelle Fouriertransformation durchführen. 3C shows another example of the configuration of the analysis signal transformer 30 , In the present example, the analysis signal transformer contains 30 a Fourier transformer 34 which performs a Fourier transform of the signal to be measured, a band limiter 36 which generates a band limiting signal by eliminating frequency components having a frequency of more than half the discrete frequency of the A / D converter 20 , from the frequency components of the Fourier-transformed signal to be measured, and an inverse Fourier transformer 38 which performs an inverse Fourier transform of the band-limiting signal and generates an analysis signal. The Fourier transformer 34 and the inverse Fourier transformer 38 can perform a fast Fourier transformation or an inverse fast Fourier transformation.

Das Analysesignal kann auch durch den Analysesignal-Transformator 30 nach dem vorliegenden Beispiel in derselben Weise mit der Beschreibung in Bezug auf die 3A und 3B erzeugt werden.The analysis signal can also be transmitted through the analysis signal transformer 30 according to the present example in the same way with the description with respect to 3A and 3B be generated.

4 zeigt ein Beispiel für die Konfiguration des Hilbert-Transformationsfilters 60. Das Hilbert-Transformationsfilter 60 enthält mehrere in Kaskade geschaltete Verzögerungselemente 66, mehrere Multiplikationsvorrichtungen 68 und eine Additionseinheit 62. 4 shows an example of the configuration of the Hilbert transform filter 60 , The Hilbert transform filter 60 contains several cascade delay elements 66 , several multiplication devices 68 and an addition unit 62 ,

Die mehreren Verzögerungselemente 66 empfangen die diskreten Daten des zu messenden Signals, wobei jedes die Daten um einen Verzögerungsbetrag entsprechend der diskreten Periode des zu messenden Signals verzögert und die verzögerten Daten aufeinander folgend ausgibt. Das Hilbert-Transformationsfilter 60 hat wünschenswert eine geradzahlige Anzahl von Verzögerungselementen und die mehreren Multiplikationsvorrichtungen 68 entsprechen den Verzögerungselementen.The multiple delay elements 66 receive the discrete data of the signal to be measured, each delaying the data by a delay amount corresponding to the discrete period of the signal to be measured, and sequentially outputting the delayed data. The Hilbert transform filter 60 desirably has an even number of delay elements and the plurality of multipliers 68 correspond to the delay elements.

Jedes der Multiplikationsvorrichtung 68 multipliziert die Daten, die in das entsprechende Verzögerungselement 66 eingegeben oder von dem entsprechenden Verzögerungselement 66 ausgegeben sind, mit einem vorbestimmten Koeffizienten. Die Multiplikationsvorrichtungen 68 entsprechend den Verzögerungselementen, die in der ersten Hälfte sind, beispielsweise 66-1 und 66-2, multiplizieren die Daten, die in die entsprechenden Verzögerungselemente 66 eingegeben sind, mit einem vorbestimmten Koeffizienten, die Multiplikationsvorrichtungen 68 entsprechend den Verzögerungselementen, die in der zweiten Hälfte sind, beispielsweise 66-3 und 66-4, multiplizieren die Daten, die von den entsprechenden Verzögerungselementen 66 ausgegeben sind, mit einem vorbestimmten Koeffizienten. Weiterhin nimmt die Multiplikationsvorrichtung 68 als den vorbestimmten Koeffizienten einen Koeffizienten entsprechend einer Impulsantwortfunktion eines 90°-Phasenverschiebungsfilters.Each of the multiplication device 68 multiplies the data in the corresponding delay element 66 entered or from the corresponding delay element 66 are output, with a predetermined coefficient. The multiplication devices 68 corresponding to the delay elements that are in the first half, for example 66-1 and 66-2 , multiply the data into the corresponding delay elements 66 are input, with a predetermined coefficient, the multipliers 68 corresponding to the delay elements that are in the second half, for example 66-3 and 66-4 , multiply the data obtained by the corresponding delay elements 66 are output, with a predetermined coefficient. Furthermore, the multiplier device takes 68 as the predetermined coefficient, a coefficient corresponding to an impulse response function of a 90 ° phase shift filter.

Die Additionseinheit 62 berechnet die Gesamtsumme der Werte der gleichzeitigen Multiplikation der von den mehreren Verzögerungselementen ausgegebenen Daten mit einem vorbestimmten Koeffizienten unter Verwendung der mehreren Multiplikationsvorrichtungen. Das Hilbert-Transformationsfilter 60 gibt aufeinander folgend die Daten aus, die aufeinander folgend von dem m-ten Verzögerungselement 66-M aus den 2M Verzögerungselementen 66 in Kaskadenschaltung ausgegeben wurden, als den reellen Zahlenteil des Analysesignals, und gibt die von der Additionseinheit 62 ausgegebenen Werte als die Daten des imaginären Zahlenteils entsprechend den Daten des reellen Zahlenteils aus.The addition unit 62 calculates the sum total of the values of the simultaneous multiplication of the data output from the plurality of delay elements by a predetermined coefficient using the plurality of multipliers. The Hilbert transform filter 60 Successively outputs the data consecutive to the mth delay element 66-M from the 2M delay elements 66 in cascade, as the real part of the analysis signal, and outputs that from the addition unit 62 outputted values as the data of the imaginary number part corresponding to the data of the real number part.

Weiterhin ist, obgleich das Hilbert-Transformationsfilter 60 in 4 vier Verzögerungselemente 66 hat, die Anzahl von Verzögerungselementen 66 nicht auf vier begrenzt. Das Hilbert-Transformationsfilter 60 kann zwei Verzögerungselemente haben und es kann das Analysesignal genauer erzeugen, indem es mehr Verzögerungselemente 66 hat.Furthermore, although the Hilbert transform filter 60 in 4 four delay elements 66 has, the number of delay elements 66 not limited to four. The Hilbert transform filter 60 can have two delay elements and it can generate the analysis signal more accurately by having more delay elements 66 Has.

Weiterhin kann, obgleich das Hilbert-Transformationsfilter 60 nach dem vorliegenden Beispiel den imaginären Zahlenteil erzeugt, dessen Phase der des reellen Zahlenteils um 90° voreilt, das Hilbert-Transformationsfilter einen imaginären Zahlenteil erzeugen, dessen Phase bei einem anderen Beispiel der des reellen Zahlenteils um 90° nacheilt. In diesem Fall kann das Analysesignal erzeugt werden durch Invertieren des Vorzeichens jedes Koeffizienten für die mehreren Multiplikationsvorrichtungen 68. Zusätzlich invertiert die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 das Vorzeichen der Frequenz des zu multiplizierenden Trägersignals, invertiert die erzeugte Q-Phasenkomponente und liefert die invertierte Q-Phasenkomponente zu der Analyseeinheit 50.Furthermore, although the Hilbert transform filter 60 According to the present example, the imaginary number part whose phase precedes that of the real number part by 90 °, the Hilbert transform filter generates an imaginary number part whose phase is at another case play the part of the real part lags by 90 °. In this case, the analysis signal may be generated by inverting the sign of each coefficient for the plurality of multipliers 68 , In addition, the baseband signal generating unit inverts 40 the sign of the frequency of the carrier signal to be multiplied inverts the generated Q-phase component and supplies the inverted Q-phase component to the analysis unit 50 ,

5 zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung der Prüfvorrichtung 100. Die Prüfvorrichtung 100 bei dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin ein Dezimierungsfilter 70 zusätzlich zu der Ausbildung der Prüfvorrichtung 100 nach 1. 5 shows another example of the training of the tester 100 , The tester 100 in the present example further includes a decimation filter 70 in addition to the training of the test device 100 to 1 ,

Das Dezimierungsfilter 70 zieht die komplexen Daten bei jeder vorbestimmten Datennummer aus den diskreten komplexen Daten des von dem Analysesignal-Transformator 30 erzeugten Analysesignals heraus und liefert die komplexen Daten zu der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40. Demgemäß setzt das Dezimierungsfilter 70 die diskrete Frequenz des Analysesignals herab und liefert das Analysesignal zu der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40. Durch Herabsetzen der diskreten Frequenz des Analysesignals kann die Menge der Berechnung in der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 verringert werden und ein zu messendes Signal kann mit hoher Geschwindigkeit erfasst werden.The decimation filter 70 pulls the complex data at each predetermined data number from the discrete complex data of the from the analysis signal transformer 30 generated analysis signal and supplies the complex data to the baseband signal generating unit 40 , Accordingly, the decimation filter sets 70 down the discrete frequency of the analysis signal and provides the analysis signal to the baseband signal generation unit 40 , By decreasing the discrete frequency of the analysis signal, the amount of calculation in the baseband signal generation unit 40 can be reduced and a signal to be measured can be detected at high speed.

In 5 ist das Dezimierungsfilter 70 zwischen dem Analysesignal-Transformator 30 und der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 angeordnet. Jedoch kann bei einem anderen Beispiel das Dezimierungsfilter zwischen der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 und der Analyseeinheit 50 angeordnet sein, oder der Analysesignal-Transformator 30 kann das Dezimierungsfilter enthalten. In dem Fall, dass das Dezimierungsfilter 70 zwischen dem Analysesignal-Transformator 30 und der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 angeordnet ist, kann die Berechnungsmenge der Analyseeinheit 50 herabgesetzt werden. Darüber hinaus kann in diesem Fall das Dezimierungsfilter 70 die Verstärkung des von der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 erzeug ten komplexen Basisbandsignals korrigieren.In 5 is the decimation filter 70 between the analysis signal transformer 30 and the baseband signal generation unit 40 arranged. However, in another example, the decimation filter may be between the baseband signal generation unit 40 and the analysis unit 50 be arranged, or the analysis signal transformer 30 may contain the decimation filter. In the case that the decimation filter 70 between the analysis signal transformer 30 and the baseband signal generation unit 40 is arranged, the calculation amount of the analysis unit 50 be lowered. In addition, in this case, the decimation filter 70 the gain of the baseband signal generation unit 40 corrected complex baseband signal.

In dem Fall, dass das Dezimierungsfilter 70 die Verstärkung des komplexen Basisbandsignals korrigiert, wird der Korrekturwert zum Korrigieren der Verstärkung des komplexen Basisbandsignals vorher dem Dezimierungsfilter 70 zugeführt. Beispielsweise können entweder der Amplitudenwert, der durch die jeweiligen komplexen Daten des komplexen Basisbandsignals nach der Korrektur zu erhalten ist, oder der Wert, der mit den jeweiligen komplexen Daten zu multiplizieren ist, gegeben sein.In the case that the decimation filter 70 correcting the gain of the complex baseband signal, the correction value for correcting the gain of the complex baseband signal before the decimation filter 70 fed. For example, either the amplitude value to be obtained by the respective complex data of the complex baseband signal after the correction or the value to be multiplied by the respective complex data may be given.

Weiterhin kann das Dezimierungsfilter 70 die Phase des von der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 erzeugten komplexen Basisbandsignals korrigieren. Es ist wünschenswert, dass die Frequenz des Trägersignals der elektronischen Vorrichtung 200 perfekt mit der der komplexen Zahl e–j2πfct, die für die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 multipliziert ist, übereinstimmt, jedoch gibt es einige Fälle, in denen ein Fehler zwischen diesen Frequenzen bewirkt wird. Das Dezimierungsfilter 70 korrigiert den durch den Fehler bewirkten Phasenfehler des komplexen Basisbandsignals.Furthermore, the decimation filter 70 the phase of the baseband signal generation unit 40 corrected complex baseband signal. It is desirable that the frequency of the carrier signal of the electronic device 200 perfect with the complex number e -j2πfct used for the baseband signal generation unit 40 multiplied, but there are some cases where an error between these frequencies is effected. The decimation filter 70 corrects the phase error of the complex baseband signal caused by the error.

6 ist eine Zeichnung, die die Phasenfehlerkorrektur eines komplexen Basisbandsignals für das Dezimierungsfilter 70 erläutert. Zuerst berechnet das Dezimierungsfilter 70 das Verhältnis der I-Phasenkomponente zu der Q-Phasenkomponente des komplexen Basisbandsignals und den Arkus-Tangens des berechneten Verhältnisses. 6 Figure 13 is a drawing showing the phase error correction of a complex baseband signal for the decimation filter 70 explained. First, calculate the decimation filter 70 the ratio of the I-phase component to the Q-phase component of the complex baseband signal and the arc tangent of the calculated ratio.

Da die Prüfvorrichtung 100 bei dem vorliegenden Beispiel ein zu messendes Signal in ein Analysesignal transformiert, kann ein Phasenfehler zwischen dem Trägersignal der elektronischen Vorrichtung 200 und dem der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 anhand des Arkus-Tangens des Verhältnisses einer I-Phasenkomponente zu einer Q-Phasenkomponente des komplexen Basisbandsignals berechnet werden, so dass der Frequenzfehler aus dem Phasenfehler berechnet werden kann.As the tester 100 In the present example, a signal to be measured is transformed into an analysis signal, a phase error between the carrier signal of the electronic device 200 and the baseband signal generation unit 40 is calculated from the arc tangent of the ratio of an I-phase component to a Q-phase component of the complex baseband signal, so that the frequency error can be calculated from the phase error.

Da der berechnete Arkus-Tangens des Verhältnisses der I-Phasenkomponente zu der Q-Phasenkomponente eine auf eine diskrete Zeit bezogene periodische Funktion ist, wickelt das Dezimierungsfilter 70 die periodische Funktion ab und nähert sich linear der abgewickelten periodischen Funktion. 6 zeigt eine Arkus-Tangens-Wellenform 80 und eine linear angenäherte Wellenform 82. In 6 zeigt die Abszissenachse die diskrete Zeit und die Ordinatenachse zeigt den Arkus-Tangens-Wert. In dem Fall, dass die Frequenz des Trägersignals der elektronischen Vorrichtung 200 perfekt mit der der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 übereinstimmt, wird die Neigung der linearen angenäherten Wellenform zu der Abszissenachse gleich null. Jedoch hat in dem Fall, dass ein Fehler zwischen der Frequenz des Trägersignals der elektronischen Vorrichtung 200 und der der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit bewirkt wird, die lineare angenäherte Wellenform 82 eine Neigung gegenüber der Abszissenachse in 6.Since the calculated arc tangent of the ratio of the I-phase component to the Q-phase component is a discrete-time periodic function, the decimation filter winds 70 the periodic function and linearly approaches the unwound periodic function. 6 shows an arc tangent waveform 80 and a linear approximated waveform 82 , In 6 the abscissa axis shows the discrete time and the ordinate axis shows the arc tangent value. In the case that the frequency of the carrier signal of the electronic device 200 perfect with the baseband signal generation unit 40 the inclination of the linear approximated waveform to the abscissa axis becomes zero. However, in the case that has an error between the frequency of the carrier signal of the electronic device 200 and the baseband signal generating unit is effected, the linear approximated waveform 82 an inclination with respect to the abscissa axis in 6 ,

Ein Fehler zwischen der Frequenz des Trägersignals der elektronischen Vorrichtung 200 und der der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 kann anhand der Neigung berechnet werden. Das Dezimierungsfilter 70 korrigiert die Phasen der I-Phasenkomponente bzw. der Q-Phasenkomponente, damit die Neigung gleich null wird.An error between the frequency of the carrier signal of the electronic device 200 and the baseband signal generation unit 40 can be calculated from the slope. The decimation filter 70 corrects the phases of the I-phase component or the Q-phase component so that the slope becomes zero.

Darüber hinaus können die Frequenz des Trägersignals der elektronischen Vorrichtung 200 und die der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit dieselben sein mittels der Korrektur einer Trägersignalfrequenz fc der komplexen Zahl e–j2πfct, damit der Phasenfehler des Trägersignals konstant, beispielsweise null ist. Bei der Prüfvorrichtung 100 nach dem vorliegenden Beispiel kann der Phasenfehler des komplexen Basisbandsignals, der durch den Fehler zwischen der Trägersignalfrequenz der elektronischen Vorrichtung 200 und der der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 bewirkt wird, leicht korrigiert werden. Aus diesem Grund kann die elektronische Vorrichtung 200 genau geprüft werden.In addition, the frequency of the carrier signal of the electronic device 200 and that of the baseband signal generating unit may be the same by means of the correction of a carrier signal frequency f c of the complex number e -j2πfct , so that the phase error of the carrier signal is constant, for example zero. At the test device 100 According to the present example, the phase error of the complex baseband signal caused by the error between the carrier signal frequency of the electronic device 200 and the baseband signal generation unit 40 is caused to be corrected easily. For this reason, the electronic device 200 be checked exactly.

Weiterhin korrigiert bei dem vorbeschriebenen Beispiel das Dezimierungsfilter 70 den Phasenfehler des komplexen Basisbandsignals aufgrund des Frequenzfehlers des Trägersignals, aber bei einem anderen Beispiel kann eine Korrektureinheit zum Korrigieren des Phasenfehlers zwischen der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 und der Analyseeinheit 50 angeordnet werden.Further, in the above example, the decimation filter is corrected 70 however, in another example, a correction unit for correcting the phase error between the baseband signal generation unit 40 and the analysis unit 50 to be ordered.

Weiterhin kann, obgleich die in 5 gezeigte Prüfvorrichtung 100 das Dezimierungsfilter 70 enthält, bei einem anderen Beispiel das Hilbert-Transformationsfilter 60 als das Dezimierungsfilter 70 wirken. Demgemäß kann das Hilbert-Transformationsfilter 60 das Analysesignal erzeugen, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist. Das Hilbert-Transformationsfilter 60 in diesem Fall wird in 7 beschrieben.Furthermore, although the in 5 shown test device 100 the decimation filter 70 in another example, the Hilbert transform filter 60 as the decimation filter 70 Act. Accordingly, the Hilbert transform filter 60 generate the analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured. The Hilbert transform filter 60 in this case will be in 7 described.

Die 7A und 7B zeigen Beispiele für die Ausbildung des Hilbert-Transformationsfilters 60.The 7A and 7B show examples of the formation of the Hilbert transform filter 60 ,

7A zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung des Hilbert-Transformationsfilters 60. Das Hilbert-Transformationsfilter 60 nach dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin mehrere der Dezimierungsfilter 72 zusätzlich zu der Ausbildung des in 4 gezeigten Hilbert-Transformationsfilters 60. 7A shows another example of the formation of the Hilbert transform filter 60 , The Hilbert transform filter 60 In the present example, more of the decimation filters are still included 72 in addition to the training of in 4 shown Hilbert transform filter 60 ,

Die mehreren Dezimierungsfilter 72 sind entsprechend dem Verzögerungselement 66 angeordnet. Die Dezimierungsfilter 72 entsprechend den Verzögerungselementen 66 in der ersten Hälfte der mehreren in Kaskade geschalteten Verzögerungselemente 66 empfangen die Daten des zu messenden Signals, die in die Verzögerungselemente 66 eingegeben sind, ziehen die Daten bei jeder vorbestimmten Datennummer heraus und liefern die Daten zu den entsprechenden Multiplikationsvorrichtungen 68. Eine Additionseinheit 62 berechnet synchron die Gesamtsumme der von dem Dezimierungsfilter 72 ausgegebenen Daten. Darüber hinaus empfangen die Dezimierungsfilter 72 entsprechend den Verzögerungselementen 66 in der zweiten Hälfte die von dem Verzögerungselement 66 ausgegebenen Daten des zu messenden Signals, ziehen die Daten bei jeder vorbestimmten Datennummer heraus und liefern die Daten zu der entsprechenden Multiplikationsvorrichtung 68. Zusätzlich zieht das Dezimierungsfilter 68-5 die Daten des reellen Zahlenteils des Analysesignals bei jeder vorbestimmten Datennummer heraus und gibt die Daten aus. Mit dem Hilbert-Transformationsfilter 60 nach dem vorliegenden Beispiel ist es möglich, die Berechnungsmenge der Multiplikationsvorrichtung 68 und der Additionseinheit 62 herabzusetzen und das Analysesignal mit hoher Geschwindigkeit zu erzeugen.The several decimation filters 72 are according to the delay element 66 arranged. The decimation filter 72 according to the delay elements 66 in the first half of the plurality of cascaded delay elements 66 receive the data of the signal to be measured in the delay elements 66 are entered, the data pull out at each predetermined data number and supply the data to the corresponding multiplication devices 68 , An addition unit 62 synchronously calculates the grand total of the decimation filter 72 output data. In addition, the decimation filters receive 72 according to the delay elements 66 in the second half that of the delay element 66 output data of the signal to be measured, extract the data every predetermined data number, and supply the data to the corresponding multiplier device 68 , In addition, the decimation filter pulls 68-5 the data of the real number part of the analysis signal at every predetermined data number and outputs the data. With the Hilbert transformation filter 60 According to the present example, it is possible to calculate the amount of calculation of the multiplication device 68 and the addition unit 62 reduce and generate the analysis signal at high speed.

7B zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung des Hilbert-Transformationsfilters 60. Das Hilbert-Transformationsfilter 60 bei dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin die mehreren Dezimierungsfilter 72, die entsprechend den Verzögerungselementen 66 angeordnet sind, und eine Additionseinheit 76, zusätzlich zu der Ausbildung des in 4 gezeigten Hilbert-Transformationsfilters 60. 7B shows another example of the formation of the Hilbert transform filter 60 , The Hilbert transform filter 60 in the present example further contains the several decimation filters 72 , which correspond to the delay elements 66 are arranged, and an addition unit 76 , in addition to the training of in 4 shown Hilbert transform filter 60 ,

Die mehreren Dezimierungsfilter 72 sind in derselben Weise wie in 7A entsprechend den Verzögerungselementen 66 und Multiplikationsvorrichtungen 68 angeordnet. Bei dem vorliegenden Beispiel entsprechen zwei Dezimierungsfilter 72, die denselben Absolutwert der Koeffizienten haben, einer der Multiplikationsvorrichtungen, und die Additionseinheit 76 berechnet die Summe der herausgezogenen Daten für jeweils zwei entsprechende Dezimierungsfilter 72. Die Additionseinheit 76 enthält Addierer 74, die entsprechend jeweils zwei Dezimierungsfiltern 72 angeordnet sind. Jeder Addierer 74 invertiert das Vorzeichen der von dem Dezimierungsfilter 72 stromaufwärts empfangenen Daten und addiert sie.The several decimation filters 72 are in the same way as in 7A according to the delay elements 66 and multipliers 68 arranged. In the present example, two decimation filters are equivalent 72 having the same absolute value of the coefficients, one of the multipliers, and the addition unit 76 calculates the sum of the extracted data for every two decimation filters 72 , The addition unit 76 contains adders 74 , each corresponding to two decimation filters 72 are arranged. Every adder 74 inverts the sign of the decimation filter 72 upstream received data and adds them.

Jede der Multiplikationsvorrichtungen 68 multipliziert den Wert, der von dem entsprechenden Addierer 74 berechnet ist, mit dem vorbestimmten Koeffizienten, und die Additionseinheit 62 berechnet die Gesamtsumme der Ausgangswerte von den Multiplikationsvorrichtungen 68. Mit dem Hilbert-Transformationsfilter 60 bei dem vorliegenden Beispiel kann dieselbe Funktion mit einer kleinen Schaltungsgröße im Vergleich zu den in 7A gezeigten Hilbert-Transformationsfilter 60 durchgeführt werden.Each of the multiplication devices 68 multiplies the value given by the corresponding adder 74 is calculated with the predetermined coefficient, and the addition unit 62 calculates the grand total of the output values from the multipliers 68 , With the Hilbert transformation filter 60 in the present example, the same function can be performed with a small circuit size compared to the ones in FIG 7A Hilbert transformation filter shown 60 be performed.

Die 8A und 8B zeigen Beispiele für die Ausbildung eines Analysesignal-Transformators 30. 8A zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung des Analysesignal-Transformators 30, der eine Fouriertransformation verwendet. Der Analysesignal-Transformator 30 nach dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin ein Dezimierungsfilter 42 zusätzlich zu der Ausbildung des in 3C beschriebenen Analysesignal-Transformators 30. Das Dezimierungsfilter 42 zieht das Bandbegrenzungssignal bei jeder vorbestimmten Datennummer heraus und gibt es aus. Bei dem vorliegenden Beispiel transformiert der Fourier-Transformator 34 das zu messende Signal durch diskrete Fouriertransformation, und das Dezimierungsfilter 42 führt eine Abwärtsabtastung des Bandbegrenzungssignals durch und gibt es aus. Demgemäß führt ein inverser Fourier-Transformator 38 eine inverse Fouriertransformation bei dem abwärts abgetasteten Bandbegrenzungssignal durch und erzeugt das Analysesignal. Bei dieser Ausbildung kann die Berechnungsmenge des inversen Fourier-Transformators 38 verringert werden.The 8A and 8B show examples of the construction of an analysis signal transformer 30 , 8A shows another example of the training of the analysis signal transformer 30 using a Fourier transform. The analysis signal transformer 30 The present example further includes a decimation filter 42 in addition to the training of in 3C described analysis signal transformer 30 , The decimation filter 42 pulls out the tape limit signal every predetermined data number and outputs it out. In the present example, the Fourier transformer transforms 34 the signal to be measured by discrete Fourier transform, and the decimation filter 42 downsamples the bandlimiting signal and outputs it. Accordingly, an inverse Fourier transformer performs 38 performs an inverse Fourier transform on the downsampled bandlimiting signal and generates the analysis signal. In this embodiment, the calculation amount of the inverse Fourier transformer 38 be reduced.

8B zeigt ein anderes Beispiel für die Ausbildung des Analysesignal-Transformators 30. Der Analysesignal-Transformator 30 bei dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin eine Frequenzverschiebungsvorrichtung 44 zusätzlich zu der Ausbildung des in 8A gezeigten Analysesignal-Transformators 30. Die Frequenzverschiebungsvorrichtung 44 verschiebt das von dem Dezimierungsfilter 42 ausgegebene Bandbegrenzungssignal auf einer Frequenzachse auf der Grundlage der Frequenz des Trägersignals für das zu messende Signal. Dann führt der inverse Fourier-Transformator 38 die inverse Fouriertransformation des frequenzverschobenen Bandbegrenzungssignals durch, so dass das zu messende Signal erfasst werden kann. Darüber hinaus ist es, da der Detektor 100 bei dem vorliegenden Beispiel das zu messende Signal in dem Analysesignal-Transformator 30 erfassen kann, nicht erforderlich, eine Basisband-Erzeugungseinheit vorzusehen. 8B shows another example of the training of the analysis signal transformer 30 , The analysis signal transformer 30 in the present example further includes a frequency shifting device 44 in addition to the training of in 8A shown analysis signal transformer 30 , The frequency shifting device 44 shifts that from the decimation filter 42 output band limiting signal on a frequency axis based on the frequency of the carrier signal for the signal to be measured. Then leads the inverse Fourier transformer 38 the inverse Fourier transform of the frequency-shifted band limiting signal, so that the signal to be measured can be detected. In addition, it is because the detector 100 in the present example, the signal to be measured in the analysis signal transformer 30 not necessary to provide a baseband generating unit.

9 ist ein Flussdiagramm zur Erläuterung eines. Beispiels für ein Prüfverfahren gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Das Prüfverfahren nach dem vorliegenden Beispiel wird mittels der Prüfvorrichtung 100 durchgeführt. Zuerst macht in einem A/D-Umwandlungsschritt S300 ein A/D-Wandler 20 ein moduliertes Signal diskret und transformiert es in ein zu messendes Signal. Als nächstes transformiert in einem Analysesignal-Transformationsschritt S310 der Analysesignal-Transformator 30 das zu messende Signal in eine Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist, so dass Umfaltkomponenten des zu messenden Signals aufgrund der Diskretheit eliminiert werden. 9 is a flowchart for explaining a. Example of a test method according to an embodiment of the present invention. The test method according to the present example is carried out by means of the test apparatus 100 carried out. First, in an A / D conversion step S300, an A / D converter is made 20 discrete a modulated signal and transform it into a signal to be measured. Next, in an analysis signal transformation step S310, the analysis signal transformer is transformed 30 the signal to be measured into an analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured, so that Umfaltkomponenten of the signal to be measured are eliminated due to the discretion.

Als Nächstes verschiebt in einem Basisbandsignal-Erzeugungsschritt S320 die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 die Frequenz des Analysesignals und erzeugt ein komplexes Basisbandsignal des zu messenden Signals. Schließlich bestimmt in einem Analyseschritt S330 die Analyseeinheit 50 die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung 200 auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals. In jedem in dem vorliegenden Beispiel erläuterten Schritt ist die detaillierte Funktion der Prüfvorrichtung 100 dieselbe wie die mit Bezug auf 1 bis 8 erläuterte. Bei dem Prüfverfahren nach dem vorliegenden Beispiel kann in derselben Weise wie bei der Prüfvorrichtung 100 die elektronische Vorrichtung 200 genau geprüft werden.Next, in a baseband signal generating step S320, the baseband signal generating unit shifts 40 the frequency of the analysis signal and generates a complex baseband signal of the signal to be measured. Finally, in an analysis step S330, the analysis unit determines 50 the acceptability of the electronic device 200 based on the complex baseband signal. In each step explained in the present example, the detailed function of the test apparatus is 100 the same as the ones related to 1 to 8th explained. In the test method of the present example, in the same manner as in the test apparatus 100 the electronic device 200 be checked exactly.

10 zeigt ein Beispiel für die Hardwareausbildung eines Computers 300 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Der Computer 300 enthält eine CPU 302, einen ROM 304, einen RAM 306, eine Kommunikationsschnittstelle 308, ein Plattenlaufwerk 314, eine Datenbankschnittstelle 316, ein Floppydisk-Laufwerk 310, ein CD-ROM-Laufwerk 312 und einen A/D-Wandler 20. Die CPU 302 arbeitet auf der Grundlage des in dem ROM 304, dem RAM 306 oder dem Plattenlaufwerk 314 gespeicherten Programms und steuert jedes Teil. Darüber hinaus kann die CPU 302 jedes Teil auf der Grundlage des Programms steuern, das von dem Floppydisk-Laufwerk 310 oder dem CD-ROM-Laufwerk 312 von der Floppydisk 318 oder aus dem CD-ROM 320 gelesen wird. Das auf diesem Aufzeichnungsmedium gespeicherte Programm kann verdichtet sein oder nicht. 10 shows an example of the hardware training of a computer 300 according to an embodiment of the present invention. The computer 300 contains a CPU 302 , a ROM 304 , a ram 306 , a communication interface 308 , a disk drive 314 , a database interface 316 , a floppy disk drive 310 , a CD-ROM drive 312 and an A / D converter 20 , The CPU 302 works on the basis of in the ROM 304 , the ram 306 or the disk drive 314 stored program and controls each part. In addition, the CPU can 302 Control each part based on the program, that of the floppy disk drive 310 or the CD-ROM drive 312 from the floppy disk 318 or from the CD-ROM 320 is read. The program stored on this recording medium may or may not be compressed.

Das Programm speichert ein Programm, dass bewirkt, dass der Computer 300 Funktionen als die in 1 bis 8 erläuterte Prüfvorrichtung 100 durchführt. Beispielsweise bewirkt das Programm, dass der Computer 300 als der A/D-Wandler 20 arbeitet, um das modulierte Signal diskret zu machen und es in ein zu messendes Signal umzuwandeln, als der Analysesignal-Transformator 30, um Umfaltkomponenten des zu messenden Signals aufgrund der Diskretheit zu eliminieren durch Transformation des zu messenden Signals in das Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist, als eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit 40 zur Frequenzverschiebung des Analysesignals und zur Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals, und als ein Analyseeinheit 50 zum Bestimmen der Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung 200 auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals. In diesem Fall bewirkt das Programm, dass die CPU 302 Funktionen als der Analysesignal-Transformator 30, die Basisbandsig nal-Erzeugungseinheit 40 und die Analyseeinheit 50 durchführt. Darüber hinaus kann der RAM 306 einen Berechnungsvorgang und Berechnungsergebnis speichern.The program saves a program that causes the computer 300 Functions as the in 1 to 8th explained test device 100 performs. For example, the program causes the computer 300 as the A / D converter 20 operates to discretize the modulated signal and convert it into a signal to be measured than the analysis signal transformer 30 to eliminate umfalt components of the signal to be measured due to the discrimination by transforming the signal to be measured into the analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured, as a baseband signal generation unit 40 for frequency shifting the analysis signal and generating a complex baseband signal of the signal to be measured, and as an analysis unit 50 for determining the acceptability of the electronic device 200 based on the complex baseband signal. In this case, the program causes the CPU 302 Functions as the analysis signal transformer 30 , the baseband signal generation unit 40 and the analysis unit 50 performs. In addition, the RAM can 306 store a calculation process and calculation result.

Zusätzlich kann der Computer 300 als eine Vorrichtung zur Realisierung eines Teils der Funktion der mit Bezug auf 1 bis 8B erläuterten Prüfvorrichtung 100 funktionieren. Darüber hinaus kann das Programm entweder auf einem oder auf mehreren Aufzeichnungsmedien gespeichert sein.In addition, the computer can 300 as an apparatus for realizing a part of the function of with reference to 1 to 8B explained test device 100 function. In addition, the program may be stored either on one or more recording media.

Ein optisches Aufzeichnungsmedium wie DVD, PD usw., ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium wie MD, ein Bandmedium, ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, ein Halbleiterspeicher wie IC-Karte und eine Miniaturkarte können als ein Aufzeichnungsmedium zusätzlich zu einer Floppydisk und einer CD-ROM verwendet werden.An optical recording medium such as DVD, PD, etc., a magneto-optical recording medium such as MD, a tape medium, a magnetic recording medium, a semiconductor memory As an IC card and a miniature card can be used as a recording medium in addition to a floppy disk and a CD-ROM.

Wie aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, ist es mit dem auf die vorliegende Erfindung bezogenen Detektor möglich, das zu messende Signal genau zu erfassen. Aus diesem Grund ist es möglich, die elektronische Vorrichtung genau zu prüfen.As From the above description, it is with the On the present invention related detector possible, the to accurately detect the signal to be measured. For this reason, it is possible the to check the electronic device carefully.

Obgleich die vorliegende Erfindung anhand von beispielhaften Ausführungsbeispielen beschrieben wurde, ist darauf hinzuweisen, dass der Fachmann viele Änderungen und Substitutionen vornehmen kann, ohne den Geist und den Bereich der vorliegenden Erfindung zu verlassen, die nur durch die angefügten Ansprüche definiert ist.Although the present invention based on exemplary embodiments has been described, it should be noted that the skilled person many changes and make substitutions without the mind and the field of the present invention, which is defined only by the appended claims is.

ZusammenfassungSummary

Ein Detektor (10) zum Erfassen eines zu messenden Signals, das mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz diskret gemacht ist, ist vorgesehen, wobei der Detektor einen Analysesignal-Transformator (30) zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist, und eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit (40) für eine Frequenzverschiebung des Analysesignals und für die Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals enthält.A detector ( 10 ) for detecting a signal to be measured which is discretized at a predetermined discrete frequency is provided, the detector comprising an analysis signal transformer ( 30 ) for eliminating umlaut components of the signal to be measured generated due to the discreteness by transforming the signal to be measured into an analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured, and a baseband signal generation unit ( 40 ) for a frequency shift of the analysis signal and for the generation of a complex baseband signal of the signal to be measured.

(1) ( 1 )

Claims (16)

Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, das mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz diskret gemacht ist, welcher aufweist: einen Analysesignal-Transformator zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; und eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zum Frequenzverschieben des Analysesignals und zum Erzeugen eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals.Detector for detecting a signal to be measured, which is made discrete at a predetermined discrete frequency, which has: an analysis signal transformer for eliminating Umfaltkomponenten of the signal to be measured, due to the discretion are generated by transforming the signal to be measured into an analysis signal, its discrete frequency lower than that of the signal to be measured is; and a baseband signal generating unit for frequency shifting of the analysis signal and for generating a complex baseband signal of the signal to be measured. Detektor nach Anspruch 1, bei dem der Analysesignal-Transformator ein Dezimierungsfilter aufweist, das komplexe Daten aus diskreten komplexen Daten des Analysesignals bei jeder vorbestimmten Datennummer herauszieht und die herausgezogenen komplexen Daten zu der Basisbandsignal-Erzeugungseinheit liefert.A detector according to claim 1, wherein the analysis signal transformer has a decimation filter that extracts complex data from discrete ones complex data of the analysis signal every predetermined data number and extracts the extracted complex data to the baseband signal generation unit supplies. Detektor nach Anspruch 1, bei dem der Analysesignal-Transformator das zu messende Signal als einen reellen Zahlenteil des Analysesignals ausgibt und das Hilbert-transformierte Signal des zu messenden Signals als einen imaginären Zahlenteil des Analysesignals ausgibt.A detector according to claim 1, wherein the analysis signal transformer the signal to be measured as a real part of the analysis signal outputs and the Hilbert-transformed signal of the signal to be measured as an imaginary one Number part of the analysis signal outputs. Detektor nach Anspruch 3, bei dem der Analysesignal-Transformator das Analysesignal erzeugt, das durch ein Hilbert-Transformationsfilter diskret gemacht ist.A detector according to claim 3, wherein the analysis signal transformer the analysis signal is generated by a Hilbert transform filter made discreetly. Detektor nach Anspruch 3, bei dem der Analysesignal-Transformator ein Hilbert-Transformationsfilter zum Erzeugen des Analysesignals, das diskret zu machen ist, aufweist, welches Hilbert-Transformationsfilter aufweist: mehrere kaskadengeschaltete Verzögerungselemente, die die diskreten Daten des zu messenden Signals empfangen, von denen jedes die Daten um einen Verzögerungsbetrag entsprechend der diskreten Periode des zu messenden Signals verzögert und die verzögerten Daten aufeinander folgend ausgibt; mehrere Dezimierungsfilter zum Herausziehen von Daten aus den Daten, die von den mehreren Verzögerungselementen bei jeder vorbestimmten Datennummer ausgegeben sind; mehrere Multiplikationsvorrichtungen, von denen jede die herausgezogenen Daten von jedem der mehreren Dezimierungsfilter mit einem vorbestimmten Koeffizienten multipliziert; und eine Additionseinheit zum Berechnen einer Gesamtsumme der Daten, die synchron von den Dezimierungsfiltern ausgegeben und mit dem vorbestimmten Koeffizienten durch die mehreren Multiplikationsvorrichtungen multipliziert sind, und zum Erzeugen eines imaginären Zahlenteils des Analysesignals.A detector according to claim 3, wherein the analysis signal transformer a Hilbert transform filter for generating the analysis signal to be discrete, which Hilbert transform filter has: several cascaded Delay elements, which receive the discrete data of the signal to be measured, from each of which matches the data by a delay amount delayed the discrete period of the signal to be measured and the delayed Outputs data consecutively; several decimation filters for extracting data from the data obtained from the plurality of delay elements are issued at every predetermined data number; several Multiplication devices, each of which pulled out Data from each of the plurality of decimation filters at a predetermined one Coefficients multiplied; and an adding unit for calculating a total of the data synchronous to the decimation filters output and with the predetermined coefficient through the plurality Multiplication devices are multiplied, and for generating an imaginary Number part of the analysis signal. Detektor nach Anspruch 3, bei dem der Analysesignal-Transformator ein Hilbert-Transformationsfilter zum Erzeugen des Analysesignals, das diskret zu machen ist, aufweist, welches Hilbert-Transformationsfilter aufweist: mehrere kaskadengeschaltete Verzögerungselemente, die die diskreten Daten des zu messenden Signals empfangen, wobei jedes von ihnen die Daten um einen Verzögerungsbetrag entsprechend der diskreten Periode des zu messenden Signals verzögert und die verzögerten Daten aufeinander folgend ausgibt; mehrere Dezimierungsfilter zum Herausziehen von Daten aus den Daten, die von den mehreren Verzögerungselementen bei jeder vorbestimmten Datennummer ausgegeben werden; eine Additionseinheit zum Berechnen einer Summe der herausgezogenen Daten für jeweils zwei entsprechende Dezimierungsfilter; eine Multiplikationseinheit zum Multiplizieren jede der Summen der Daten, die durch die Additionseinheit berechnet sind, mit einem vorbestimmten Koeffizienten; und einen Addierer zum Berechnen einer Gesamtsumme der Daten, die synchron von den Dezimierungsfiltern ausgegeben und durch die Multiplikationseinheit mit dem vorbestimmten Koeffizienten multipliziert sind.A detector according to claim 3, wherein the analysis signal transformer comprises a Hilbert transform filter for generating the analysis signal to be discretized, which Hilbert transform filter comprises: a plurality of cascaded delay elements receiving the discrete data of the signal to be measured, each delays the data by a delay amount corresponding to the discrete period of the signal to be measured and sequentially outputs the delayed data; a plurality of decimation filters for extracting data from the data output from the plurality of delay elements every predetermined data number; an adding unit for calculating a sum of the extracted data for every two respective decimation filters; a multiplication unit for multiplying each of the sums of the data calculated by the addition unit by a predetermined coefficient th; and an adder for calculating a total sum of the data that is output synchronously from the decimation filters and multiplied by the predetermined coefficient by the multiplication unit. Detektor nach Anspruch 1, bei dem der Analysesignal-Transformator aufweist: eine Fourier-Transformationseinheit zum Anwenden der diskreten Fouriertransformation an dem zu messenden Signal; einen Bandbegrenzer zum Erzeugen eines Bandbegrenzungssignals durch Eliminieren von Frequenzkomponenten, deren Frequenz höher als etwa die Hälfte der diskreten Frequenz ist, von den Frequenzkomponenten des zu messenden Signals, das der diskreten Fouriertransformation unterzogen wurde; und eine inverse Fourier-Transformationseinheit zum Erzeugen des Analysesignals durch Anwenden der inversen Fouriertransformation bei dem Bandbegrenzungssignal.A detector according to claim 1, wherein the analysis signal transformer having: a Fourier transform unit for applying the discrete Fourier transformation on the signal to be measured; one Band limiter for generating a band limiting signal by eliminating of frequency components whose frequency is higher than about half of the discrete frequency is, from the frequency components of the measured Signal subjected to the discrete Fourier transform; and a inverse Fourier transform unit for generating the analysis signal by applying the inverse Fourier transform to the bandlimiting signal. Detektor nach Anspruch 7, bei dem der Analysesignal-Transformator weiterhin ein Dezimierungsfilter aufweist, das komplexe Daten des diskreten Bandbegrenzungssignals bei jeder vorbestimmten Datennummer herauszieht und die herausgezogenen komplexen Daten zu der inversen Fourier-Transformationseinheit liefert.A detector according to claim 7, wherein the analysis signal transformer further comprising a decimation filter that stores complex data of the discrete band limiting signal every predetermined data number pulls out and the extracted complex data to the inverse Fourier transform unit supplies. Detektor nach Anspruch 1, bei dem das zu messende Signal ein Signal ist, das durch ein Trägersignal mit einer vorbestimmten Frequenz frequenzverschoben ist, die Basisbandsignal-Erzeugungseinheit die Frequenz des Analysesignal auf der Grundlage der vorbestimmten Frequenz Phasen verschiebt.A detector according to claim 1, wherein the one to be measured Signal is a signal transmitted by a carrier signal at a predetermined Frequency is frequency shifted, the baseband signal generation unit the frequency of the analysis signal based on the predetermined ones Frequency phases shifts. Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, das mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz diskret gemacht ist, welcher aufweist: einen Analysesignal-Transformator zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal; eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zur Frequenzverschiebung des Analysesignals und zur Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals; und eine Dezimierungsfilter zum Empfangen des komplexen Basisbandsignals, Herausziehen der komplexen Daten aus den komplexen Daten des komple xen Basisbandsignals bei jeder vorbestimmten Datennummer, und Erzeugen des komplexen Basisbandsignals, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist.Detector for detecting a signal to be measured, which is made discrete at a predetermined discrete frequency, which has: an analysis signal transformer for eliminating Umfaltkomponenten of the signal to be measured, due to the discretion are generated by transforming the signal to be measured into an analysis signal; a Baseband signal generation unit for frequency shifting the analysis signal and for generating a complex baseband signal of the to-be-measured signal; and a decimation filter to receive the complex Baseband signal, extracting the complex data from the complex Data of the complex baseband signal every predetermined data number, and generating the complex baseband signal, the discrete frequency thereof is lower than the signal to be measured. Detektor nach Anspruch 10, bei dem das Dezimierungsfilter den Wert der Amplitude der jeweiligen komplexen Daten des komplexen Basisbandsignals auf der Grundlage eines vorbestimmten Wertes korrigiert.A detector according to claim 10, wherein the decimation filter the value of the amplitude of the respective complex data of the complex Baseband signal corrected based on a predetermined value. Detektor nach Anspruch 11, bei dem das Dezimierungsfilter die Phase des komplexen Basisbandsignals auf der Grundlage des Verhältnisses der I-Phasenkomponente zur Q-Phasenkomponente des komplexen Basisbandsignals korrigiert.A detector according to claim 11, wherein the decimation filter the phase of the complex baseband signal based on the ratio the I-phase component to the Q-phase component of the complex baseband signal corrected. Detektor zum Erfassen eines zu messenden Signals, das mit einer vorbestimmten diskreten Frequenz diskret gemacht und durch ein Trägersignal mit einer vorbestimmten Frequenz frequenzverschoben ist, welcher aufweist: eine Fourier-Transformationseinheit zum Anwenden der Fouriertransformation bei dem zu messenden Signal; einen Bandbegrenzer zum Erzeugen eines Bandbegrenzungssignals durch Eliminieren von Frequenzkomponenten, deren Frequenz höher als etwa die Hälfte der diskreten Frequenz ist, aus den Frequenzkomponenten des zu messenden Signals, das der Fouriertransformation unterzogen ist; ein Dezimierungsfilter zum Herausziehen und Ausgeben des Bandbegrenzungssignals bei jeder vorbestimmten Datennummer; eine Frequenzverschiebungsvorrichtung zum Verschieben des Bandbegrenzungssignals, das das Dezimierungsfilter ausgibt, auf einer Frequenzach se auf der Grundlage des Trägersignals; und eine inverse Fourier-Transformationseinheit zum Anwenden der inversen Fouriertransformation auf das Bandbegrenzungssignal, das durch die Frequenzverschiebungsvorrichtung frequenzverschoben ist.Detector for detecting a signal to be measured, which is discretized at a predetermined discrete frequency and by a carrier signal with frequency-shifted at a predetermined frequency, comprising: a Fourier transform unit for applying the Fourier transform at the signal to be measured; a band limiter for generating a band limiting signal by eliminating frequency components, their frequency higher than about half the discrete frequency is, from the frequency components of the measured Signal subjected to the Fourier transform; one Decimation filter for extracting and outputting the band limiting signal every predetermined data number; a frequency shifting device for shifting the band limiting signal comprising the decimation filter outputs, on a frequency axis based on the carrier signal; and an inverse Fourier transform unit for use the inverse Fourier transform on the band limiting signal, that is frequency shifted by the frequency shifting device is. Prüfvorrichtung, die über die Annehmbarkeit einer elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung ausgegebenen modulierten Signals entscheidet, welche aufweist: einen A/D-Wandler, um das modulierte Signal diskret zu machen und es in ein zu messendes Signal umzuwandeln; einen Analysesignal-Transformator zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zur Phasenverschiebung des Analysesignals und zur Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals; und eine Analyseeinheit zur Entscheidung über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals.Tester, the above the acceptability of an electronic device based on a modulated signal output from the electronic device decides which has: an A / D converter to the modulated Discrete the signal and convert it into a signal to be measured; one Analysis signal transformer for eliminating umfalt components the signal to be measured, which are generated due to the discretion, by transforming the signal to be measured into an analysis signal, its discrete frequency lower than that of the signal to be measured is; a baseband signal generating unit for phase shifting of the analysis signal and for generating a complex baseband signal the signal to be measured; and an analysis unit to decide on the Acceptability of the electronic device based on the complex baseband signal. Prüfverfahren, das über die Annehmbarkeit einer elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung ausgegebenen modulierten Signals entscheidet, welches aufweist: einen A/D-Umwandlungsschritt, um das modulierte Signal diskret zu machen und in ein zu messendes Signal umzuwandeln; einen Analysesignal-Transformationsschritt zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; einen Basisbandsignal-Erzeugungsschritt zur Phasenverschiebung des Analysesignals und zur Erzeugung eines komplexen Basisbandsignals des zu messenden Signals; und einen Analyseschritt zur Entscheidung über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals.Test method, the acceptability an electronic device based on a modulated signal output from the electronic device, comprising: an A / D conversion step of discretizing the modulated signal and converting it into a signal to be measured; an analysis signal transforming step for eliminating umlaut components of the signal to be measured generated due to the discreteness by transforming the signal to be measured into an analysis signal whose discrete frequency is lower than that of the signal to be measured; a baseband signal generating step for phase shifting the analysis signal and generating a complex baseband signal of the signal to be measured; and an analysis step for deciding the acceptability of the electronic device based on the complex baseband signal. Maschinenlesbares Medium, das ein Programm speichert, um zu bewirken, dass ein Computer Funktionen als eine Prüfvorrichtung durchführt, die über die Annehmbarkeit einer elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung ausgegebenen modulierten Signals entscheidet, wobei das Programm bewirkt, dass der Computer Funktionen durchführt als: ein A/D-Wandler, um das modulierte Signal diskret zu machen und es in ein zu messendes Signal umzuwandeln; einen Analysesignal-Transformator zum Eliminieren von Umfaltkomponenten des zu messenden Signals, die aufgrund der Diskretheit erzeugt sind, durch Transformieren des zu messenden Signals in ein Analysesignal, dessen diskrete Frequenz niedriger als die des zu messenden Signals ist; eine Basisbandsignal-Erzeugungseinheit zur Phasenverschiebung des Analysesignals und zur Erzeugung eines komplexen Basisbandsignal des zu messenden Signals; und eine Analyseeinheit zur Entscheidung über die Annehmbarkeit der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage des komplexen Basisbandsignals.Machine-readable medium storing a program to cause a computer functions as a test device performs that over the Acceptability of an electronic device on the basis a modulated output from the electronic device Signal decides, whereby the program causes the computer Performs functions when: an A / D converter to discrete the modulated signal and to convert it into a signal to be measured; an analysis signal transformer for eliminating umfalt components of the signal to be measured, the due to the discretion generated by transforming the signal to be measured in an analysis signal whose discrete frequency is lower than the signal to be measured; a baseband signal generation unit to the phase shift of the analysis signal and to generate a complex Baseband signal of the signal to be measured; and an analysis unit to decide about the acceptability of the electronic device on the basis of the complex baseband signal.
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007072653A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-28 Advantest Corporation Measuring device, measuring method, measuring program and recording medium
WO2007077686A1 (en) * 2005-12-28 2007-07-12 Advantest Corporation Measuring device, measuring method and testing device
JP5791536B2 (en) * 2012-02-02 2015-10-07 日置電機株式会社 Signal measuring device
JP6651697B2 (en) * 2015-01-26 2020-02-19 株式会社ソシオネクスト Electronic circuit, power supply circuit, method for measuring circuit characteristics, and program for calculating amplitude and phase characteristics

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6229219A (en) * 1985-07-29 1987-02-07 Nippon Precision Saakitsutsu Kk Sampling circuit for analog signal
JPH01183909A (en) * 1988-01-18 1989-07-21 Nec Corp Transversal filter
JP2919475B2 (en) * 1989-02-17 1999-07-12 京セラ株式会社 Adaptively controlled Hilbert transformer in FM demodulator
JP3148053B2 (en) * 1993-07-15 2001-03-19 三菱電機株式会社 Digital quadrature detector
JP3307483B2 (en) * 1993-11-17 2002-07-24 政七 岸 Digital broadband 90 degree phase shifter
JPH07202967A (en) * 1993-12-28 1995-08-04 Canon Inc Signal demodulation processing method
JP3614540B2 (en) * 1995-12-05 2005-01-26 株式会社アドバンテスト PSK modulation signal evaluation apparatus
JPH09168039A (en) * 1995-12-15 1997-06-24 Toshiba Corp Carrier recovery circuit
JP3576410B2 (en) * 1998-05-29 2004-10-13 松下電器産業株式会社 Receiving apparatus, transmitting / receiving apparatus and method

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