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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Kontaktierungssystem zur Verwendung
beim Testen von zu testenden, elektronischen Schaltungseinheiten
bzw. Chips, und betrifft insbesondere eine Kontaktierungsvorrichtung
für elektronische
Schaltungseinheiten und ein Verfahren zur Herstellung derselben.
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Die
zunehmende Fertigungsdichte heutiger elektronischer Schaltkreise
bzw. elektronischer Schaltungseinheiten, auch als Chips bezeichnet, führt zu erhöhten Anforderungen
bei dem Testen. Vor einer Auslieferung müssen die elektronischen Schaltungseinheiten
unterschiedlichen Tests unterzogen werden. In herkömmlicher
Weise werden die in Gehäusen
(packages) untergebrachten elektronischen Schaltungseinheiten dabei
mittels einer sogenannten Nadelkarte an den Gehäusekontakten kontaktiert, wobei
die Nadelkarte üblicherweise
federnde Kontaktstifte aufweist.
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Während der
Kontaktierung werden die zu testenden Schaltungseinheiten unterschiedlichen Testbedingungen
unterworfen. Beispielsweise werden Testreihen bei einer erhöhten Temperatur über einen
längeren
Zeitraum, z.B. 120°C
für eine
Zeitdauer von 24 Stunden, durchgeführt. Diese Testreihen werden
auch als "Burn-In" bezeichnet. Lange Testzeiten
können
hier schnell zu hohen Testkosten und wirtschaftlichen Nachteilen
führen,
beispielsweise werden in einer "Burn-In"-Serie bis zu 5000
Wafer mit jeweils 1000 Chips getestet.
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Zur
effizienten Kontaktierung der zu testenden Schaltungseinheiten ist
vorgeschlagen worden, Sockel vorzusehen, in welche die zu testenden Schaltungseinheiten
eingebracht werden.
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Ein
wesentlicher Nachteil bekannter Verfahren zum Kontaktieren von elektronischen
Schaltungseinheiten liegt darin, dass diese Schaltungseinheiten
mit einem Gehäuse
und entsprechenden Anschlusskontakten außerhalb des Gehäuses versehen
sein müssen.
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Herkömmliche
Kontaktierungsvorrichtungen lassen sich nicht für zu testende Schaltungseinheiten ohne
Gehäuse,
d.h. sogenannte "Nackt-Chips" einsetzen. Es besteht
ein zunehmender Bedarf nach einer Bereitstellung von sogenannten
Multi-Chip-Modulen,
d.h. unterschiedliche Chips bzw. Schaltungseinheiten werden in einem
einzigen Modul untergebracht.
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Hierbei
können
die einzelnen Schaltungseinheiten durchaus von unterschiedlichen
Herstellern beliefert werden. Ein wichtiger Aspekt bei der Auslieferung
von Schaltungseinheiten ohne Gehäuse
besteht darin, dass diese Schaltungseinheiten ebenso sorgfältig auf
Fehler überprüft werden
müssen
wie die gehäusten
Schaltungseinheiten.
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In
nachteiliger Weise können
herkömmliche Kontaktierungsvorrichtungen
und -verfahren zum Testen von elektronischen Schaltungseinheiten
ohne Gehäuse
weder im Wafer- bzw. Scheibenverband noch nach einem Vereinzeln
der Chips eingesetzt werden. Ein Teilungsabstand bzw. ein Kontaktierungsabstand
der Anschlusselemente einer Schaltungseinheit liegt dabei im Bereich
bis herunter zu 50 μm.
Mit heutigen Kontaktierungssystemen lässt sich eine Justagegenauigkeit
von 5 μm
bis 10 μm
durch entsprechende Positionierungseinrichtungen erreichen.
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Es
ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Kontaktierungsvorrichtung
für nicht-gehäuste elektronische
Schaltungseinheiten sowie ein Verfahren zur Herstellung der Kontaktierungsvorrichtung
bereitzustellen.
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Diese
Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine
Kontaktierungsvorrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs
1 gelöst.
Ferner wird die Aufgabe durch ein im Patentanspruch 14 angegebenes Verfahren
gelöst.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
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Ein
wesentlicher Gedanke der Erfindung besteht darin, Leiterbahnen in
dem Teilungsabstand von Anschlusselementen der zu testenden elektronischen
Schaltungseinheit auf einer Adapterplatine auf einem auf der Adapterplatine
angebrachten elastischen Element abzuscheiden, derart, dass auf
dem elastischen Element Kontaktierungselemente vorstehend aus der
Adapterplatine bereitgestellt werden, welche die Anschlusselemente
der zu testenden elektronischen Schaltungseinheit elastisch andrückend kontaktieren.
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Der
Vorteil der erfindungsgemäßen Vorrichtung
besteht darin, dass nunmehr elektronische Schaltungseinheiten ohne
Gehäuse
kontaktiert und somit beispielsweise getestet werden können.
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Ein
weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Kontaktierungsvorrichtung
besteht darin, dass unterschiedliche zu testende elektronische Schaltungseinheiten
vor einer Anordnung in einem Multi-Chip-Modul zuverlässig getestet
werden können.
Somit werden in dem Multi-Chip-Modul nur zuverlässig getestete elektronische
Schaltungseinheiten eingesetzt und anschließend mit einem Gehäuse versehen.
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Die
erfindungsgemäße Kontaktierungsvorrichtung
für elektronische
Schaltungseinheiten weist im Wesentlichen auf:
- a)
eine Adapterplatine, auf welcher in vorteilhafter Weise das gesamte
Kontaktierungssystem angeordnet wird;
- b) mindestens ein auf der Adapterplatine angeordnetes elastisches
Element;
- c) Leiterbahnen, welche auf dem mindestens einen elastischen
Element und der Adapterplatine abgeschieden sind, wobei die Leiterbahnen
auf der Adapterplatine und dem mindestens einen elastischen Element
elektrisch miteinander verbunden sind;
- d) auf der Adapterplatine abgeschiedene und elektrisch mit den
Leiterbahnen verbundene Leiterbahn-Anschlusselemente, welche in
vorteilhafter Weise eine Kontaktierung mit externen Schaltungsvorrichtungen
bereitstellen, wobei die Leiterbahn-Anschlusselemente durch die Adapterplatine
zweckmäßigerweise
durchkontaktiert sein können;
und
- e) auf dem mindestens einen elastischen Element abgeschiedene
elektrisch mit den Leiterbahnen verbundene Kontaktierungselemente,
die in vorteilhafter Weise zur Kontaktierung von Anschlusselementen
der Schaltungseinheit bereitgestellt sind, derart, dass die Kontaktierungselemente
die Schaltungseinheit-Anschlusselemente der Schaltungseinheit elastisch
andrückend
kontaktieren.
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Ferner
weist das erfindungsgemäße Verfahren
zum Herstellen einer Kontaktierungsvorrichtung für elektronische Schaltungseinheiten,
welche Schaltungseinheit-Anschlusselemente aufweisen, die folgenden
Schritte auf:
- a) Bereitstellen einer Adapterplatine
als Trägerplatte;
- b) Abscheiden mindestens eines elastischen Elements auf der
Adapterplatine;
- c) Abscheiden von Leiterbahnen auf der Adapterplatine und auf
dem mindestens einen elastischen Element;
- d) Abscheiden von elektrisch mit den Leiterbahnen verbundenen
Leiterbahn-Anschlusselementen auf der Adapterplatine; und
- e) Abscheiden von elektrisch mit den Leiterbahnen verbundenen
Kontaktierungselementen auf dem mindestens einen elastischen Element,
wobei die Kontaktierungselemente die Schaltungseinheit-Anschlusselemente
der Schaltungseinheit elastisch andrückend kontaktieren.
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In
den Unteransprüchen
finden sich vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des
jeweiligen Gegenstandes der Erfindung.
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Gemäß einer
bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung sind externe
Schaltungsvorrichtungen mit den Leiterbahn-Anschlusselementen verbindbar, derart,
dass Testsignale zum Testen der zu testenden elektronischen Schaltungseinheit
zugeführt
werden können.
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Gemäß einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung ist
das elastische Element als ein Halbzylinder ausgebildet.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung ist
das elastische Element aus einem temperaturstabilen elastischen
Material ausgeführt,
so dass der Vorteil besteht, dass bei einer Kontaktierung der zu
testenden elektronischen Schaltungseinheit hohe Temperaturen, typischerweise
120°C für eine längere Zeitdauer,
typischerweise 24 Stunden, gefahren werden können.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung besteht das
elastische Element aus einem Silikonmaterial. Weiterhin ist es vorteilhaft,
dass das elastische Element aus einem dielektrischen Material besteht,
welches eine elektrische Isolation zu der Adapterplatine zu den
auf dem elastischen Element aufzubringenden Leiterbahnen bereitstellt.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung weist
das elastische Element eine Querschnittsform auf, welche symmetrisch
zu einem Verdickungsbereich zu den Rändern des Verdichtungsbereichs
hin flach ausläuft.
Zur Isolation der Leiterbahnen untereinander und der Adapterplatine
von den Leiterbahnen besteht das elastische Element in vorteilhafter
Weise aus einem elektrisch nichtleitenden Material.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung weisen
die auf dem elastischen Element abgeschiedenen und elektrisch mit
den Leiterbahnen verbundenen Kontaktierungselemente einen Teilungsabstand
von 50 μm
bis 100 μm
auf.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung weist
das elastische Element eine Querschnittsform auf, welche volumenspezifische
Elastizitätseigenschaften bereitstellt.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung stehen
die auf dem elastischen Element abgeschiedenen Leiterbahnen aus
der Oberfläche
des elastischen Elements hervor, so dass in vorteilhafter Weise
auch Schaltungseinheit-Anschlusselemente kontaktiert werden können, welche
bezüglich
einer Schaltungseinheit-Platinenseite abgesenkt sind.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung sind
die auf dem elastischen Element und der Adapterplatine abgeschiedenen
Leiterbahnen einreihig oder zweizeilig ausgeführt.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung werden Aussparungen
zwischen den Kontaktierungselementen durch ein Trockenätzen des
mindestens einen elastischen Elements bereitgestellt.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung werden Aussparungen
zwischen den Kontaktierungselementen durch einen Reliefdruck auf
dem elastischen Element bereitgestellt.
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Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung werden
die Leiterbahne, die Kontaktierungselemente und die Leiterbahn-Anschlusselemente
mittels einer Sputtertechnik und einer anschließenden galvanischen Verstärkung auf
der Adapterplatine und dem mindestens einen elastischen Element
aufgebracht.
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Ausführungsbeispiele
der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden
Beschreibung näher
erläutert.
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In
den Zeichnungen zeigen:
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1 eine Kontaktierungsvorrichtung
für elektronische
Schaltungseinheiten gemäß einem
bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung, wobei ein elastisches Element auf einer
Adapterplatine abgeschieden ist und abgeschiedene Leiterbahnen zweizeilig
auf dem elastischen Element ausgeführt sind;
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2 eine Modifikation des
Ausführungsbeispiels
gemäß 1, wobei zwei elastische
Elemente mit jeweils einreihiger Belegung durch abgeschiedene Leiterbahnen
bereitgestellt sind;
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3 eine Anordnung gemäß den Ausführungsbeispielen
der 1, wobei die auf
dem elastischen Element abgeschiedenen Leiterbahnen auf der Oberfläche des
elastischen Elements vorstehen;
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4 eine Querschnittsansicht
entlang der Linie A-A der 3,
wobei eine Reliefstruktur durch ein Trockenätzen bereitgestellt ist;
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5 eine Querschnittsansicht
entlang der Linie A-A der 3,
wobei eine Reliefstruktur durch einen Reliefdruck auf dem elastischen
Element bereitgestellt ist; und
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6 eine Seiten-Querschnittsansicht
entlang der Linie A-A der 3,
wobei eine Schaltungseinheit mit Schaltungseinheit-Anschlusselementen
in einem Zustand vor einer Kontaktierung veranschaulicht ist.
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In
den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche
Komponenten oder Schritte.
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In
der in 1 gezeigten Anordnung
ist ein elastisches Element 101 auf einer Adapterplatine 100 angebracht.
Elektrisch leitende Leiterbahnen 104 bzw. 105 verlaufen
beidseits des elastischen Elements zwischen dem elastischen Element
und jeweiligen Leiterbahn-Anschlusselementen 102 bzw. 103.
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Die
Leiterbahn-Anschlusselemente können durch
die Adapterplatine 100 durchkontaktiert sein und stellen
eine Anschlussmöglichkeit
für eine
externe Schaltungsvorrichtung 400 bereit. Die externe Schaltungsvorrichtung 400 kann
beispielsweise als eine Testvorrichtung ausgebildet sein, welche
einer zu testenden Schaltungseinheit 200 (siehe 6) Testsignale zuführt und
Antwortsignale von dieser zu testenden Schaltungseinheit 200 abführt.
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Es
sei darauf hingewiesen, dass die zu testende elektronische Schaltungseinheit 200 in
den 1 bis 5 aus Gründen der Übersichtlichkeit weggelassen
ist. Die vorstehenden bzw. erhabenen elektrisch leitfähigen Elemente
stellen jeweils die Kontaktierung zu der zu testenden elektronischen
Schaltungseinheit 200 bereit.
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Als
derartige Kontaktierungselemente sind in 1 die Kontaktierungselemente 106 für die Leiterbahnen 104 und
die Kontaktierungselemente 107 für die Leiterbahnen 105 veranschaulicht.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren
zum Herstellen einer Kontaktierungsvorrichtung wird es ermöglicht,
dass eine Abscheidung der elektrisch leitenden Strukturen nicht
mehr nur planar, sondern auch in drei Dimensionen bereitgestellt
wird.
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Somit
ist es möglich,
wie in 1 veranschaulicht,
dass Leiterbahnen 104 bzw. 105 von einem jeweiligen
Leiterbahn-Anschlusselement 102 bzw. 103 zu
dem entsprechenden Kontaktierungselement 106 bzw. 107 aus
der Ebene der Adapterplatine 100 hinaus verlaufen.
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Auf
diese Weise ist es möglich,
Kontaktierungsbereiche in Form der Kontaktierungselemente 106 bzw. 107 erhaben
bzw. vorstehend bereitzustellen und eine elastische Wirkung des
elastischen Elements 107 einzusetzen. Wie in 1 veranschaulicht, ist das
elastische Element 101 in der Form eines Halbzylinders
ausgebildet. Es sei darauf hingewiesen, dass auch andere Querschnittsformen
des elastischen Elements bereitgestellt werden können.
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Beispielsweise
weist das elastische Element in einer weiteren Ausführungsform
(nicht gezeigt) im Querschnitt ein leicht verkipptes "s" im Anstieg von links (1) und eines gespiegelten "s" im Anstieg von rechts (1) auf. Durch diese doppelte s-Form in
einem Gradienten der Anstiegsflanke ist ein flacher Übergang
von der Adapterplatine 100 zu dem elastischen Element 101 ermöglicht.
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Ein
Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens
zum Herstellen der Kontaktierungsvorrichtung besteht darin, dass
mit bei spielsweise einer Dickschicht/Dünnschicht-Technologie sowohl
das elastische Element 101 als auch die Leiterbahn-Anschlusselemente 102, 103,
die Leiterbahnen 104, 105 sowie die Kontaktierungselemente 106, 107 abgeschieden
werden können.
Die Materialien der Kontaktierungsvorrichtung gemäß dem in 1 gezeigten bevorzugten
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung sind in weiten Bereichen variierbar.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
besteht die Adapterplatine 100 aus Keramik oder Silizium.
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Auf
dieser Adapterplatine wird in Drucktechnik vorzugsweise die Form
des elastischen Halbzylinders abgeschieden. Dies wird vorzugsweise
in mehreren Druckprozessen bereitgestellt. Durch die mehrfache Nutzung
derartiger Druckprozesse und ein Bereitstellen eines Mehrfachdrucks
lassen sich beliebige flache und steile Gradienten im Übergang
zwischen der Adapterplatine 100 und dem elastischen Element 101 bereitstellen.
Das Material des elastischen Elements 101 ist vorzugsweise
nicht-leitend und besteht in einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
aus Silikon.
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Silikon
weist den Vorteil auf, dass es sowohl elastisch als auch temperaturstabil
ist, wodurch ein Testen bei einer erhöhten Temperatur zugelassen wird.
Silikon weist darüber
hinaus eine geringe Federkonstante von etwa 0,1 g/μm auf, so
dass zur Kontaktierung einer zu testenden elektronischen Schaltungseinheit 200 nur
geringe Kräfte
erforderlich sind. Eine Metallisierung leitender Elemente der Kontaktierungsvorrichtung
und von Zuleitungen erfolgt in vorteilhafter Weise mittels einer
Sputtertechnik und einer anschließenden galvanischen Verstärkung.
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Hierbei
dient als Material der Leiterbahnen 104, 105 Kupfer,
Cu, Gold, Au als Deckschicht und als Pufferschicht zwischen Kupfer
und Gold Nickel, Ni. Eine Strukturauslegung erfolgt über fotolithografische
Prozesse nach dem Stand der Technik.
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Ein
Teilungsabstand der Kontaktierungselemente 106, 107 beträgt typischerweise
100 μm,
bis herunter zu 50 μm.
Damit lassen sich in vorteilhafter Weise alle gängigen zu testenden elektronischen Schaltungseinheiten
im nicht-gehäusten
Zustand kontaktieren.
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2 zeigt eine Modifikation
des in 1 gezeigten Ausführungsbeispiels
dahingehend, dass zwei elastische Elemente 101a, 101b nebeneinander angeordnet
sind. Wie in 2 gezeigt,
werden die Leiterbahnen 104 dem elastischen Element 101a zur Verbindung
mit den Kontaktierungselementen 106 zugeführt, während die
Leiterbahnen 105 dem elastischen Element 101b zur
Verbindung mit dem Kontaktierungselement 107 zugeführt werden.
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Die
Anordnung der 2 weist
gegenüber der
Anordnung in 1 eine
größere Flexibilität bezüglich einer
Anschlussmöglichkeit
von Schaltungseinheiten 200 dahingehend auf, dass unterschiedliche
Aufbaustrukturen der Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202, siehe 6, der Schaltungseinheit 200 berücksichtigt
werden können.
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Infolge
der durch die Dickschicht/Dünnschicht-Technologie
bereitgestellten kombinierten Abscheidung der elastischen Elemente 101a und 101b gemeinsam
mit den elektrisch leitenden Strukturen ergibt sich der Vorteil,
die Kontaktierungsvorrichtung an praktisch beliebig zu testende
Schaltungseinheiten 200 anzupassen.
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3 veranschaulicht eine weitere
Modifikation der in 1 gezeigten
Anordnung. Wie aus 3 zu
ersehen, weisen die auf dem elastischen Element 101 angebrachten
leitfähigen
Elemente, d.h. ein Teil der Leiterbahnen 104, 105 und
die Kontaktierungselemente 106, 107 eine vorstehende
bzw. erhabene Reliefstruktur auf.
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Diese
Reliefstruktur weist bei spezifischen zu testenden Schaltungseinheiten 200 den
Vorteil auf, dass auch hinter einer Schaltungseinheit-Platinenseite 201 zurückstehende
Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 kontaktiert werden
können,
siehe auch 6. Eine derartige
Struktur der Kontaktierungselemente 106, 107 auf
dem elastischen Element 101 wird als eine Relief-Struktur
bezeichnet. Diese reliefartige Struktur kann beispielsweise durch ein
Trockenätzen
des elastischen Elements zwischen den elektrisch leitfähigen Elementen,
d.h. zwischen den Kontaktierungselementen 106, 107 und den
Leiterbahnen 104, 105 erreicht werden.
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In
bevorzugter Weise werden die Leiterbahnen an den erhabensten Punkten,
d.h. an den Stellen der Kontaktierungselemente 106, 107 mit
einem harten Kontaktmaterial versehen, was den Vorteil aufweist,
dass sich auf der zu testenden elektronischen Schaltungseinheit 200 neben
Schaltungseinheit-Anschlusselementen 202 aus
Gold auch derartige aus Aluminium oder Kupfer kontaktieren lassen.
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Es
besteht somit der Vorteil, dass die erhabenen Strukturen Kanten
und/oder Spitzen aufweisen. Wenn die auf dem elastischen Element
abgeschiedenen Leiterbahnen 104, 105 und insbesondere
die auf dem elastischen Element abgeschiedenen Kontaktierungselemente 106, 107 aus
der Oberfläche
des elastischen Elements 101 vorstehen, ergibt sich somit,
wie in 3 gezeigt, eine
zuverlässigere Kontaktierung.
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4 zeigt eine Querschnittsansicht,
die sich durch einen Schnitt entlang der Linie A-A der 3 in der Ebene ergibt, die
durch die gestrichelte Linie 108 in 3 dargestellt ist, gesehen aus Richtung
des Pfeiles 108a in 3.
In der Querschnittsansicht der 4 sind
somit die Leiterbahnen 105 und die entsprechend zugeordneten
Kontaktierungselemente 107 erkennbar.
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Weiterhin
veranschaulicht 4 eine
Aussparung 109, welche in dem Ausführungsbeispiel der 4 durch ein Trockenätzen bereitgestellt
ist. Somit wird eine Reliefstruktur mit scharfen Kanten bereitgestellt.
Wie eine derartige Reliefstruktur bei einer Kontaktierung der zu
testenden elektronischen Schaltungseinheit 200 an die Schaltungseinheit-Platinenseite 201 der
Schaltungseinheit 200 angedrückt wird, wird untenstehend
unter Bezugnahme auf 6 beschrieben
werden.
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5 zeigt eine weitere Reliefstruktur,
die im Gegensatz zu der in 4 gezeigten
Reliefstruktur durch einen Reliefdruck auf dem elastischen Element bereitgestellt
ist. Durch Nutzung eines derartigen Druckprozesses mit anschließendem Mehrfachdruck lassen
sich beliebige flache und steile Gradienten als Übergang zwischen dem elastischen
Element und den erhabenen Stellen der Kontaktierungselemente 106, 107 bereitstellen.
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5 zeigt eine Querschnittsansicht
bezüglich
der gleichen Ebene wie die in 4 gezeigte Querschnittsansicht.
Im Gegensatz zu der in 4 dargestellten
Reliefstruktur weist die Reliefstruktur der 5 flach ansteigende Aussparungen 109 auf.
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6 zeigt schließlich die
in 4 dargestellte Querschnittsansicht
zusammen mit einer zu kontaktierenden Schaltungseinheit 200.
Die zu kontaktierende Schaltungseinheit 200 wird in einer
durch den Pfeil 303 gezeigten Andruckrichtung auf die erfindungsgemäße Kontaktierungsvorrichtung
gedrückt.
Hierbei verbleibt die Adapterplatine 100 mit dem darauf
aufgebrachten elastischen Element 101 und den auf diesen
abgeschiedenen Leiterbahnen 105 und Kontaktierungselementen 107 in
einer Ruhelage, während
die Schaltungseinheit 200 nach unten gedrückt wird.
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Die
Schaltungseinheit 200 weist als eine Unterseite eine Schaltungseinheit-Platinenseite 201 auf,
welche durch Ausspa rungen für
Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 unterbrochen ist.
Wie in 6 veranschaulicht,
sind die Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 bezüglich der
Ebene der Schaltungseinheit-Platinenseite 201 vertieft,
so dass die erhabenen Kontaktierungselemente 106, 107 der
erfindungsgemäßen Kontaktierungsvorrichtung
in diese Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 eingreifen
und dieselben kontaktieren. Eine Kontaktierung der Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 durch
die Kontaktierungselemente 106, 107 erfolgt auf
einem Kontaktierungsniveau 301, siehe gestrichelte Linie
in 6. Ein Kompressionsstoppniveau 302 ist
dann erreicht, wenn die Schaltungseinheit-Platinenseite 201 auf
der Oberseite des elastischen Elements 101 aufliegt.
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Durch
eine derartige Reliefstruktur, wie sie in den 4 und 5 dargestellt
ist, lässt
sich somit eine zuverlässige
Kontaktierung von Schaltungseinheiten 200 auch dann erreichen,
wenn deren Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 bezüglich der
Schaltungseinheit-Platinenseite 201 zurückversetzt sind.
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Durch
die erfindungsgemäße Kontaktierungsvorrichtung
wird es ermöglicht,
dass die Kontaktierungselemente 106, 107 die Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 der
Schaltungseinheit 200 elastisch andrückend kontaktieren.
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Hierbei
besteht bei der Ausgestaltung des elastischen Elements 101 eine
große
Flexibilität,
da das elastische Element lediglich einen Verdickungsbereich aus
der Oberfläche
der Adapterplatine 100 heraus bereitstellen muss. Der Verdickungsbereich kann
beispielsweise symmetrisch zu den Rändern des Verdickungsbereichs
hin flach auslaufen.
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Es
sei darauf hingewiesen, dass der Querschnitt des elastischen Elements
nicht symmetrisch sein muss, sondern beliebige Querschnittsformen annehmen
kann. Ein flacher Übergang
von der Adapterplatine 100 zu dem elastischen Element 101 stellt sicher,
dass ein Abriss von auf der Adapterplatine 100 und dem
elastischen Element 101 aufgebrachten Leiterbahnen 104, 105 vermieden
wird. Es sei darauf hingewiesen, dass elastische Elemente in einer
beliebigen geometrischen Anordnung auf der Adapterplatine 100 aufgebracht
werden können.
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Während 1 ein einzelnes, längs angeordnetes
elastisches Element 101 zeigt, veranschaulicht 2 zwei in einem vorgebbaren
Abstand angeordnete elastische Elemente 101a und 101b.
Je nach zu kontaktierender Schaltungseinheit 200 lassen
sich jedoch mehr als zwei elastische Elemente 101 auf der
Adapterplatine 100 anordnen.
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Dies
führt zu
einer weiteren Flexibilität
der erfindungsgemäßen Kontaktierungsvorrichtung.
Bei einer derzeit erreichbaren Justagegenauigkeit von 5 μm bis 10 μm, welche
durch Positioniereinrichtungen nach dem Stand der Technik bereitgestellt
wird, wird es somit ermöglicht,
Schaltungseinheiten, deren Schaltungseinheit-Anschlusselemente 202 einen
gegenseitigen Abstand von 100 μm
bis herunter zu 50 μm
aufweisen, zuverlässig
zu kontaktieren.
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Insbesondere
besteht der Vorteil der erfindungsgemäßen Kontaktierungsvorrichtung
darin, dass die zu kontaktierenden Schaltungseinheiten 200 vor
einer Kontaktierung nicht mit einem Gehäuse versehen werden müssen.
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Obwohl
die vorliegende Erfindung vorstehend anhand bevorzugter Ausführungsbeispiele
beschrieben wurde, ist sie darauf nicht beschränkt, sondern auf vielfältige Weise
modifizierbar. Auch ist die Erfindung nicht auf die genannten Anwendungsmöglichkeiten
beschränkt.
Insbesondere eignet sich die erfindungsgemäße Kontaktierungsvorrichtung
zur Kontaktierung von Schaltungseinheiten, deren Schaltungseinheit-Anschlusselemente
einen geringen gegenseitigen Abstand aufweisen und welche eine hohe
Kontaktdichte aufweisen.
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In
den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche
Komponenten oder Schritte.
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- 100
- Adapterplatine
- 101,
101a, 101b
- Elastisches
Element
- 102,
103
- Leiterbahn-Anschlusselement
- 104,
105
- Leiterbahn
- 106,
107
- Kontaktierungselement
- 108
- Querschnitt
- 109
- Aussparung
- 200
- Schaltungseinheit
- 201
- Schaltungseinheit-Platinenseite
- 202
- Schaltungseinheit-Anschlusselement
- 301
- Kontaktierungsniveau
- 302
- Kompressionsstoppniveau
- 303
- Andruckrichtung
- 400
- Externe
Schaltungsvorrichtung