DE10243972A1 - Fastening plate for use in testing electronic components with a tester and a handler, whereby the plate comprises both test side and handling side plates that can be displaced and locked in position relative to each other - Google Patents
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Abstract
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine zwei- oder mehrteilige Befestigungsplatte zur kraftschlüssigen und/oder formschlüssigen Verbindung einer Meß- und Prüfeinrichtung (tester) für elektronische Bauteile einerseits mit einer Handhabungsvorrichtung (handler) für elektronische Bauteile andererseits mit den im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen.The present invention relates to a two-part or multi-part mounting plate for non-positive and / or positive Connection of a measuring and test facility (tester) for electronic components on the one hand with a handling device (handler) for electronic components on the other hand with those in the preamble of the claim 1 specified characteristics.
Bei den erfindungsgemäß zur Anwendung kommenden elektronischen Bauteilen kann es sich insbesondere um integrierte Schaltkreise (IC's) oder um Wafer handeln, welche beispielsweise auf Silizium-Basis hergestellt sind.In those used according to the invention electronic components can in particular be integrated Circuits (IC's) or are wafers, which are based, for example, on silicon are made.
Aus dem Stand der Technik ist es bekannt, eine Meß- und Prüfeinrichtung (tester) für elektronische Bauteile mittels einer Positionier- und Verriegelungseinheit mit Zentrierstiften unmittelbar an einer Handhabungseinrichtung (handler) für elektronische Bauteile anzubringen.It is from the state of the art known a measuring and test facility (tester) for electronic components using a positioning and locking unit with centering pins directly on a handling device (handler) for attach electronic components.
Nachteilig ist hierbei insbesondere, daß mehrere unterschiedliche und teure Positionier- und Verriegelungseinheiten angeschafft, gewartet und bevorratet werden müssen, sofern verschiedene Handhabungseinrichtungen (handler) für unterschiedliche elektronische Bauteile mit jeweils anderen Abmessungen und Verriegelungskonzepten mit derselben Meß- und Prüfeinrichtung (tester) oder ein Handler mit mehreren, voneinander verschiedenen Testern verbunden werden sollen.A particular disadvantage here is that that several different and expensive positioning and locking units must be purchased, maintained and stocked, provided that there are different handling devices (handler) for different electronic components with different dimensions and locking concepts with the same measuring and testing equipment (tester) or a handler connected to several different testers should be.
Handhabungsvorrichtungen für elektronische Bauteile verfügen in der Regel ferner über eine Vielzahl von nebeneinander angeordneten und vor- sowie zurückbewegbaren Druckstempeln (plungers), mit deren Hilfe die zu prüfenden elektronischen Bauteile in Richtung des zentrierten Kontaktsockels einer gegenüberliegenden Meß- und Prüfeinrichtung (tester) für elektronische Bauteile verfahrbar sind.Handling devices for electronic Components usually beyond a large number of juxtaposed and movable back and forth Plungers, with the help of which the electronic to be tested Components in the direction of the centered contact base of an opposite one Measuring and test equipment (tester) for electronic components are movable.
Von dieser Vielzahl von handlerseitig vorhandenen Druckstempeln (plungers) ist meist lediglich ein einziger Druckstempel (plunger) aktiv in Form einer sogenannten „aktiven Kontaktierungsstelle" (activ contact site).From this multitude of dealers Existing plungers are usually only one Plunger active in the form of a so-called "active Contact point "(activ contact site).
Während des Testvorganges muß der im Zentrum der Meß- und Prüfvorrichtung liegende testerseitige Kontaktsockel zentriert zu dem jeweils aktiven Druckstempel (plunger) der Handhabungsvorrichtung ausgerichtet sein.While of the test process must in the center of the measuring and testing device lying tester-side contact socket centered on the active one Plunger of the handling device can be aligned.
Um den meist einzigen, zentrierten Kontaktsockel der Meßund Prüfeinrichtung (tester) mit dem jeweils aktiven, meist außermittigen Druckstempel (plunger) der Handhabungsvorrichtung (handler) in Eingriff zu bringen, ist es bei den Vorrichtungen des Standes der Technik erforderlich, die Meß- und Prüfeinrichtung vollständig sowie mühsam und zeitintensiv von der Handhabungseinrichtung zu demontieren, die ursprüngliche Positionier- und Verriegelungseinheit durch eine an die neue Position angepaßte Positionier- und Verriegelungseinheit zu ersetzen, eine zeitintensive Justage vorzunehmen und eine abschließende Verriegelung durchzuführen.Around the mostly single, centered one Contact base of the measuring and test equipment (tester) with the active, mostly off-center plunger to engage the handling device (handler) it is required in the prior art devices that Measuring and testing equipment Completely as well as tedious and time-consuming to dismantle from the handling device, the original Positioning and locking unit by moving to the new position adapted Positioning and locking unit to replace, a time-consuming Make adjustment and perform a final locking.
Der zeitliche Aufwand für eine solche Umrüstung und damit die Stillstandzeit der gesamten Testvorrichtung beträgt hierfür etwa 10 Stunden.The time required for such conversion and thus the downtime of the entire test device is about 10 Hours.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist daher die Bereitstellung einer Vorrichtung zur Verbindung einer Meß- und Prüfeinrichtung (tester) für elektronische Bauteile einerseits mit einer Handhabungseinrichtung (handler) für elektronische Bauteile andererseits, welche die Anschaffung, Wartung und Bevorratung mehrerer unterschiedlicher Positionier- und Verriegelungseinheiten selbst beim Einsatz unterschiedlicher Handhabungsvorrichtungen (handler) oder Meß- und Prüfeinrichtungen (tester) nicht erfordert und welche eine besonders schnelle, einfache, exakte und kostengünstige Anpassung der Position des oder der Kontaktsockel einer Meß- und Prüfeinrichtung (Testkopf) an die Position des jeweils aktiven Druckstempels (plunger; contact site) einer gegenüberliegenden Handhabungsvorrichtung (handler) erlaubt und damit die Stillstandzeit während des Umrüstens von einem aktiven Druckstempel auf einen anderen aktiven Druckstempel verkürzt.Object of the present invention is therefore to provide a device for connecting a Measuring and test equipment (tester) for electronic components on the one hand with a handling device (handler) for electronic components on the other hand, which the purchase, maintenance and stockpiling several different positioning and locking units even when using different handling devices (handlers) or Measuring and testing equipment (tester) not required and which is a particularly quick, easy, exact and inexpensive Adjustment of the position of the or the contact base of a measuring and testing device (Test head) to the position of the respectively active pressure stamp (plunger; contact site) of an opposite one Handling device (handler) allowed and thus the downtime while of retrofitting from an active stamp to another active stamp shortened.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einer gattungsgemäßen Vorrichtung durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst.According to the invention, this task is performed at a generic device by the specified in the characterizing part of claim 1 Features solved.
Besonders bevorzugte Ausführungsformen sind Gegenstand der Unteransprüche.Particularly preferred embodiments are Subject of the subclaims.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden anhand der Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigen:Embodiments of the invention will be closer to the drawings described. Show it:
Wie bereits aus
Vorzugsweise umfaßt die erfindungsgemäße Befestigungsplatte
(
Die Verstellbarkeit der einen oder
der mehreren Einzelplatten (
Die Verschiebbarkeit der Einzelplatten
(
Insbesondere die
Es liegt auf der Hand, daß die Lochplatte
(
Die Lochplatte (
Vorzugsweise greifen in die beispielsweise an
der handlerseitigen Einzelplatte (
Die mindestens eine Arretierungseinrichtung (
In der Regel ist die mindestens eine
Lochplatte (
Vorzugsweise korrespondieren die
Abstände und
Anordnungen der Bohrungen dieser Lochplatte (
Aufgrund dieser Entsprechung der
Positionen der Ausnehmungen der Lochplatte (
Bei einem Wechsel der Handhabungsvorrichtung
(
In beiden vorgenannten Fällen wird
die aus dem Stand der Technik bekannte und gefürchtete Stillstandzeit beziehungsweise
Umrüstzeit
der gesamten Testvorrichtung von etwa 10 Stunden auf etwa 10 Minuten
verkürzt,
wodurch sich eine dramatische Verbesserung des Durchsatzes und damit
der Wirtschaftlichkeit einer mit der erfindungsgemäßen Befestigungsplatte
(
Wie den
Im Falle einer Entriegelung der Arretierungseinrichtung
(
Die selbsthemmende und zumindest
in y-Richtung wirkende Höhenverstellung
(
In einer besonders bevorzugten Ausführungsform
umfaßt
die erfindungsgemäße Befestigungsplatte
ferner eine Sicherungseinrichtung, welche erst nach ihrer Deaktivierung
ein Verschieben der Einzelplatten (
Grundsätzlich kann die Verschiebbarkeit
der Einzelplatten (
Gegebenenfalls sind auf der testerseitigen Einzelplatte
(
So kann die testerseitige Einzelplatte
(
Wie insbesondere aus den
Gegebenenfalls ist in die Aussparung
(
In der Regel ist die Kontaktplatinen-Abstützung (
Der Vorteil einer elektrisch isolierenden
Ausgestaltung der Kontaktplatinen-Abstützung (
Korrespondierend zu der mittigen
Aussparung (
Zusammenfassend ist festzustellen, daß im Rahmen der vorliegenden Erfindung eine befestigungsplattenförmige Vorrichtung zur Verbindung einer Meß- und Prüfeinrichtung (tester) für elektronische Bauteile einerseits mit einer Handhabungseinrichtung (handler) für elektronische Bauteile andererseits bereitgestellt wird.In summary it can be stated that in the frame of the present invention a mounting plate-shaped device for connecting a measuring and test facility (tester) for electronic components on the one hand with a handling device (handler) for electronic components on the other hand is provided.
Durch den Einsatz der erfindungsgemäßen, hinsichtlich
ihrer Einzelplatten (
Darüber hinaus gestattet die erfindungsgemäße Befestigungsplatte
(
Die Stillstandzeit während des
Umrüstens von
einem aktiven Druckstempel auf einen anderen aktiven Druckstempel
der Handhabungseinrichtung (
Claims (17)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2002143972 DE10243972B4 (en) | 2002-09-20 | 2002-09-20 | Multi-part mounting plate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2002143972 DE10243972B4 (en) | 2002-09-20 | 2002-09-20 | Multi-part mounting plate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10243972A1 true DE10243972A1 (en) | 2004-04-08 |
DE10243972B4 DE10243972B4 (en) | 2005-10-06 |
Family
ID=31983974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2002143972 Revoked DE10243972B4 (en) | 2002-09-20 | 2002-09-20 | Multi-part mounting plate |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10243972B4 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007062850A2 (en) * | 2005-12-01 | 2007-06-07 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Docking device for coupling a handling device to a test head for electronic components |
DE102017130372B4 (en) * | 2016-12-20 | 2020-03-12 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Contact device and method for testing a single electronic component using a contact device |
US11163000B2 (en) * | 2017-03-03 | 2021-11-02 | Turbodynamics Gmbh | Plate-shaped connection system for the connection of two test units, also connection unit and test system each with such a plate-shaped connection system |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US565942A (en) * | 1896-08-18 | Nut-lock | ||
US20020050042A1 (en) * | 2000-09-15 | 2002-05-02 | Systematic, Inc. | Docking system for connecting a tester to a probe station using an A-type docking configuration |
-
2002
- 2002-09-20 DE DE2002143972 patent/DE10243972B4/en not_active Revoked
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US565942A (en) * | 1896-08-18 | Nut-lock | ||
US20020050042A1 (en) * | 2000-09-15 | 2002-05-02 | Systematic, Inc. | Docking system for connecting a tester to a probe station using an A-type docking configuration |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
US 2002 050042 A1 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007062850A2 (en) * | 2005-12-01 | 2007-06-07 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Docking device for coupling a handling device to a test head for electronic components |
WO2007062850A3 (en) * | 2005-12-01 | 2007-07-26 | Multitest Elektronische Syst | Docking device for coupling a handling device to a test head for electronic components |
DE102005057508B4 (en) * | 2005-12-01 | 2011-11-17 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Docking device for coupling a handling device with a test head for electronic components |
DE102017130372B4 (en) * | 2016-12-20 | 2020-03-12 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Contact device and method for testing a single electronic component using a contact device |
US11163000B2 (en) * | 2017-03-03 | 2021-11-02 | Turbodynamics Gmbh | Plate-shaped connection system for the connection of two test units, also connection unit and test system each with such a plate-shaped connection system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10243972B4 (en) | 2005-10-06 |
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Legal Events
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