DE10226275A1 - Verfahren zum Überlagern einer Bildfolge mit einem statischen Bild - Google Patents

Verfahren zum Überlagern einer Bildfolge mit einem statischen Bild Download PDF

Info

Publication number
DE10226275A1
DE10226275A1 DE2002126275 DE10226275A DE10226275A1 DE 10226275 A1 DE10226275 A1 DE 10226275A1 DE 2002126275 DE2002126275 DE 2002126275 DE 10226275 A DE10226275 A DE 10226275A DE 10226275 A1 DE10226275 A1 DE 10226275A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
image
static image
generated
images
scale
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE2002126275
Other languages
English (en)
Inventor
Ruedi Rottermann
Christophe Ney
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems Schweiz AG
Original Assignee
Leica Microsystems Schweiz AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems Schweiz AG filed Critical Leica Microsystems Schweiz AG
Priority to DE2002126275 priority Critical patent/DE10226275A1/de
Publication of DE10226275A1 publication Critical patent/DE10226275A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/32Fiducial marks and measuring scales within the optical system

Abstract

Es wird ein Verfahren und eine Einrichtung (10) zum Überlagern einer durch eine elektronische Kamera erzeugten Bildfolge mit einem statischen Bild sowie eine Verwendung der erfindungsgemäßen Einrichtung vorgestellt. Weiterhin wird ein Computerprogramm und ein Computerprogrammprodukt zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens beschrieben. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ist durch das Verhältnis der Größe der erzeugten Bilder der Bildfolge zu der Größe des erfaßten Gegenstandes ein Abbildungsmaßstab festgelegt und es wird zunächst der Abbildungsmaßstab festgestellt, anhand des festgestellten Abbildungsmaßstabes ein geeignetes statisches Bild ermittelt und dieses dem erzeugten Bild überlagert.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Einrichtung zum Überlagern einer durch eine elektronische Kamera erzeugten Bildfolge eines Gegenstandes mit einem statischen Bild bzw. mit einem Referenzbild sowie eine Verwendung der erfindungsgemäßen Einrichtung. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Computerprogramm und ein Computerprogrammprodukt zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
  • Zur Untersuchung von Gegenständen, insbesondere von mikroskopisch kleinen Gegenständen, ist es in der Regel erforderlich, diese mittels eines geeigneten Aufnahmesystems optisch aufzunehmen bzw. zu erfassen und die auf diese Weise erzeugten Bilder, die den Gegenstand zweckmäßigerweise vergrößert in einer Bildfolge darstellen, zur Auswertung heranzuziehen. Als Gegenstände werden hierbei alle Dinge verstanden, von denen ein optisches Abbild erzeugt werden kann, also auch Gase und Flüssigkeiten.
  • Die mittels eines Aufnahmesystems erzeugten Bilder können in Relation zu dem Gegenstand vergrößert oder verkleinert sein. Das Verhältnis von Bild- zu Gegenstandsgröße wird dabei als Abbildungsmaßstab bezeichnet. Bei Mikroskopen wird das Verhältnis der linearen Abmessungen von Bild und Gegenstand auch Vergrößerung genannt.
  • Eine Methode, die erzeugten Bilder exakt auszuwerten, besteht darin, diese mit einem statischen Bild zu überlagern. Dieses statische Bild kann z. B. ein netzartiges Muster, eine Strichplatte, eine Lochblende, ein Punktmuster oder ein Gitter darstellen. Eine solche Aufbereitung der Bilder ermöglicht eine genaue Analyse des zu untersuchenden Gegenstandes, da die Abmessungen des überlagernden Musters bekannt sind.
  • Ein verbreitetes Verfahren sieht vor, als statisches Bild eine standardisierte Strichplatte, bspw. ein Mikrometer, in eine Zwischenbildebene des Aufnahmesystems einzubringen.
  • Da es jedoch keine Kalibrierungsmöglichkeit der Strichplatte gibt, ist eine korrekte Auswertung der erzeugten Bildfolge immer nur für eine bestimmte Vergrößerung durchführbar.
  • Aus der Druckschrift DE 32 23 157 A1 ist eine Einspiegelungsvorrichtung zur Projektion von hinten beleuchteter Masken auf eine Filmebene oder eine Okularebene eines Mikroskops bekannt. Die verwendeten Masken weisen lichtdurchlässige Stellen, bspw. in Form von Strichrastern, auf, die hell auf dem Bild des zu untersuchenden Objektes erscheinen. Zur Abbildung der Maske in eine der Filmebene oder der Okularebene des Mikroskops konjugierte Ebene wird eine sogenannte Makrophotoeinrichtung, ein vom Mikroskop getrenntes Zusatzgerät, eingesetzt. Die beschriebene Vorrichtung kann eine Einrichtung zur Höhenverstellung der Maske aufweisen. Alternativ dazu kann die Makrophotoeinrichtung über ein Zoomobjektiv verfügen. Die Linse der Makrophotoeinrichtung kann auch austauschbar gestaltet sein. Nachteilig dabei ist, daß physisch vorhandene Strichplatten teuer und leicht zu beschädigen sind. Außerdem erfordert deren Einspiegelung einen hohen Geräteaufwand.
  • Eine elektronische Überlagerung einer Strichplatte ist ebenfalls bekannt. Dabei ist das Strichplattenbild mit fe ster Größe in einem Speicher abgelegt und somit nur für einen bestimmten Abbildungsmaßstab verwendbar.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Verfahren und eine Einrichtung bereitzustellen, die eine Überlagerung einer durch eine elektronische Kamera erzeugten Bildfolge eines Gegenstandes mit einem Referenzbild erlauben.
  • Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ist zur Lösung der Aufgabe vorgesehen, zunächst den Abbildungsmaßstab festzustellen bzw. zu erfassen und anhand des festgestellten Abbildungsmaßstabes ein geeignetes statisches Bild zu ermitteln, wobei geeignet bedeutet, daß die Größe des statischen Bildes der durch den Abbildungsmaßstab festgelegten Größe der erzeugten Bilder der Bildfolge angepaßt ist, so daß eine exakte optische Auswertung der Bildfolge in einem Live-Bild ermöglicht wird. Der Abbildungsmaßstab legt dabei das Verhältnis der Größe der erzeugten Bilder zu derjenigen des erfaßten Gegenstandes fest.
  • Das ermittelte statische Bild wird der erzeugten Bildfolge überlagert, so daß diese umfassend ausgewertet werden kann.
  • Die Ermittlung des statischen Bildes kann bspw. durch eine Größenänderung eines Grundmusters erfolgen. Das Grundmuster stellt dabei gegebenenfalls eine Strichplatte bekannter Größe dar. Diese wird entsprechend dem erfaßten Abbildungsmaßstab vergrößert oder verkleinert, so daß das resultierende statische Bild dem Abbildungsmaßstab und damit der Größe des erzeugten Bildes angepaßt ist.
  • Dieses Grundmuster ist vorzugsweise in einer elektronischen Speichereinrichtung abgelegt. Selbstverständlich können in dieser Speichereinrichtung auch unterschiedliche Grundmu ster abgelegt sein, die bspw. unterschiedliche Strich- oder Punktmuster darstellen.
  • Die elektronische Speicherung ermöglicht eine schnelle und genaue Ermittlung des statischen Bildes, da die das Grundmuster repräsentierenden Daten mit numerischen Rechenverfahren berarbeitet werden können. Hierbei bietet sich insbesondere an, das Grundmuster bzw. die Grundmuster als Vektordateien abzulegen, da es bei einer Vektorgraphik im Gegensatz zu einer Pixelgraphik nicht zu einer Vergrößerung der Liniendicke des Musters kommt. Die das statische Bild repräsentierenden Daten enthalten somit auch zusätzliche Informationen zum festgestellten Abbildungsmaßstab.
  • Eine weitere Möglichkeit zur Ermittlung des statischen Bildes sieht vor, daß dieses aus einer Anzahl von in der Größe verschiedenen Grundmustern ausgewählt wird. Diese Grundmuster, die ebenfalls zweckmäßigerweise als Vektordateien elektronisch gespeichert abgelegt sind, stellen sich als sich lediglich in der Größe unterscheidende Muster dar. Nach Erfassen des Abbildungsmaßstabes kann dann das geeignete Grundmuster als statisches Bild ausgewählt werden.
  • Zum Erfassen des Abbildungsmaßstabes wird vorzugsweise eine mit dem Aufnahmesystem verbundene elektronische Recheneinheit eingesetzt. Diese ermittelt vorteilhafterweise auch das statische Bild und führt die Überlagerung durch, indem die erzeugte Bildfolge repräsentierenden Daten mit den das statische Bild repräsentierenden Daten kombiniert werden.
  • In Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist der Abbildungsmaßstab veränderbar, d. h. daß dieser am Aufnahmesystem durch einen Nutzer variiert werden kann. Da der Abbildungsmaßstab jedoch kontinuierlich oder zu vorbestimmbaren Zeitpunkten erfaßt wird, kann bei der Ermittlung des statischen Bildes stets der gegenwärtige Wert, d. h. der Wert zum Zeitpunkt des Erzeugens des Bildes, berücksichtigt werden. Es kann auch vorgesehen sein, daß immer nur nach einer erfolgten Änderung des Abbildungsmaßstabes dieser automatisch weitergegeben wird oder eine Abfrage des neuen Maßstabes ausgelöst bzw. getriggert wird.
  • Die mit dem Referenzbild bzw. statischen Bild überlagerte erzeugte Bildfolge kann als Live-Bild in Echtzeit auf einer Anzeigeeinheit, bspw. einem Computerbildschirm, dargestellt werden. Eine solche Darstellung ermöglicht eine präzise Auswertung der Bildfolge. Die erzeugten Bilder der Bildfolge können zusammen mit dem überlagernden statischen Bild auch elektronisch gespeichert werden, was vielfältige Möglichkeiten der Auswertung und Bearbeitung der erfaßten Daten eröffnet.
  • Als Aufnahmesystem bietet sich eine mit einem Mikroskop verbundene Kamera, vorzugsweise eine Digitalkamera, an. Bei dem Mikroskop kann die Vergrößerung und somit der Abbildungsmaßstab durch die Verwendung unterschiedlicher in einem Objektivrevolver aufgenommener Objektive und/oder durch eine Zoomfunktion eingestellt werden. Das Feststellen des Abbildungsmaßstabes erfolgt bspw. durch Erfassen der Stellung des Objektivrevolvers. Bei einem motorbetriebenen Zoom ist die Vergrößerung mittels eines Sensors detektierbar.
  • Die erfindungsgemäße Einrichtung zum Überlagern einer durch eine mittels eines Aufnahmesystems durch Erfassen eines Gegenstandes erzeugten Bildfolge mit einer Anzahl von Bildern weist eine erste Einheit zum Erfassen des Abbildungsmaßstabes und eine zweite Einheit zum Ermitteln und Überlagern des statischen Bildes auf.
  • Als erste und zweite Einheit dient vorzugsweise eine elektronische Recheneinheit.
  • In Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Einrichtung ist eine Anzeigeeinheit zum Darstellen der mit dem statischen Bild überlagerten erzeugten Bildfolge vorgesehen. Hierfür bietet sich insbesondere ein Computerbildschirm an, der mit der zuvor erwähnten elektronischen Recheneinheit verbunden ist.
  • Vorzugsweise ist auch eine elektronische Speichereinrichtung bereitgestellt, zweckmäßigerweise die Speichereinrichtung der elektronischen Recheneinheit, in der den statischen Bildern zugrunde liegende Grundmuster abgelegt sind. Außerdem kann die Speichereinrichtung auch als Speichermedium für erfaßte Daten dienen.
  • Die erfindungsgemäße Einrichtung kann bei der optischen Überprüfung von Fehlertoleranzen und auch im Bereich der Qualitätssicherung eingesetzt werden. Dabei ist besonders vorteilhaft, daß ohne umständliches Speichern und ohne eine aufwendige Bildbearbeitung eine visuelle Kontrolle der Bildfolge bzw. des Live-Bildes vorgenommen werden kann.
  • Das Computerprogramm umfaßt Programmcodemittel zum Ausführen der Schritte des vorstehend beschriebenen Verfahrens und wird auf einem Computer oder einer entsprechenden Recheneinheit durchgeführt.
  • Das Computerprogrammprodukt ist auf einem computerlesbaren Datenträger gespeichert. Als geeignete Datenträger kommen EEPROMs und Flashmemories, aber auch CD-ROMs, Disketten sowie Festplattenlaufwerke in Betracht.
  • Weitere Vorteile und Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung und der beiliegenden Zeichnung.
  • Es versteht sich, daß die vorstehend genannten und die nachstehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in der jeweils angegebenen Kombination, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen.
  • Die Erfindung ist anhand von Ausführungsbeispielen in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden unter Bezugnahme auf die Zeichnung ausführlich beschrieben.
    • 1 zeigt in einem schematischen Diagramm eine bevorzugte Ausführungsform der erfindungsgemäßen Einrichtung.
    • 2 veranschaulicht eine mögliche Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
    • 3 verdeutlicht eine weitere mögliche Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
    • 4 verdeutlicht eine alternative Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
    • 5 veranschaulicht noch eine weitere mögliche Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
  • In 1 ist eine bevorzugte Ausführungsform der erfindungsgemäßen Einrichtung, insgesamt mit der Bezugsziffer 10 bezeichnet, dargestellt. Außerdem ist ein Aufnahmesystem 12 zu erkennen, das über eine Datenleitung 14 mit einer elektronischen Recheneinheit 16, in diesem Fall ein Personal-Computer 16, verbunden ist.
  • Das Aufnahmesystem 12 umfaßt eine Kamera 18 und ein mit dieser verbundenes Mikroskop 20. Das Mikroskop 20 ist in einer Halterung 22 sicher angeordnet. Diese Halterung 22 weist einen in der Höhe verstellbaren Objektträger 24 auf, auf den ein zu untersuchender Gegenstand gelegt werden kann.
  • Das Mikroskop 20 weist ein Okular 26 und einen Objektivrevolver 28 auf, der drei unterschiedliche Objektive 30 für verschiedene Vergrößerungen trägt.
  • Über einen weiteren optischen Ausgang 32 ist das Mikroskop 20 mit der Kamera 18 verbunden, die zusammen mit dem Mikroskop 20 entsprechend der eingestellten Vergrößerung dimensionierte Bilder des auf dem Objektträger 24 befindlichen Gegenstandes erzeugt und diese Bilder repräsentierende Daten über die Datenleitung 14 zu dem Personal-Computer 16 weitergibt.
  • Die auf diese Weise erzeugten Bilder werden als Bildfolge bzw. als Live-Bild auf einer mit dem Personal-Computer 16 verbundenen Anzeigeeinheit 34 dargestellt.
  • In einer in der elektronischen Recheneinheit 16 befindlichen Speichereinrichtung sind eine Anzahl verschiedene Motive darstellender Grundmuster abgelegt, die der erzeugten Bildfolge überlagert werden können. Dabei wird zunächst die am Mikroskop 20 eingestellte Vergrößerung festgestellt, und anhand dieser Vergrößerung mit numerischen Rechenverfahren das ausgewählte Grundmuster der eingestellten Vergrößerung angepaßt. Das angepaßte Grundmuster, somit das statische Bild, wird der erzeugten Bildfolge überlagert und zusammen mit dieser auf der Anzeigeeinheit 34 dargestellt.
  • Die Vergrößerung des Mikroskops 20 kann durch manuelles Drehen des Objektrevolvers 28 oder auch durch mittels einer Tastatur 36 eingegebener Befehle verändert werden. In diesem Fall ist ein Motor eines motorbetriebenen Zooms mit den eingegebenen Befehlen ansteuerbar.
  • Die Tastatur 36 erlaubt einem Nutzer jedoch nicht nur die Vorgabe der Vergrößerung sondern auch die Auswahl eines gewünschten Grundmusters und vielfältigen Einstellmöglichkeiten der Darstellungen. Das Feststellen der eingestellten Vergrößerung kann mittels eines Sensors oder bei Vorgabe der Vergrößerung über die Tastatur 36 durch direktes Einlesen des vorgegebenen Wertes erfolgen.
  • In 2 ist eine mögliche Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens veranschaulicht. Bei der dargestellten Anwendung sollen Fertigungstoleranzen eines Werkstückes, in diesem Fall eine Lochblende, überprüft werden. Dieses Werkstück wird aufgenommen und der dabei erzeugten Bildfolge ein statisches Bild 40, das zwei konzentrische Kreise darstellt, überlagert.
  • In der Figur ist ein erzeugtes Bild der Bildfolge in einer ersten Darstellung 42 in zehnfacher Vergrößerung und in einer zweiten Darstellung 44 in zwanzigfacher Vergrößerung wiedergegeben. Die vorgegebene Vergrößerung wird zunächst festgestellt und darauf hin das zu überlagernde Bild 40 entsprechend angepaßt, so daß sich für die zehnfache Vergrößerung ein erstes überlagertes Bild 46 und für eine zwanzigfache Vergrößerung ein zweites überlagertes Bild 48 ergibt. Die überlagerten Bilder 46 und 48 ermöglichen nunmehr eine Überprüfung der Fertigungstoleranzen, indem optisch geprüft wird, ob der Rand des in der Lochblende befindlichen Loches innerhalb der beiden konzentrischen Kreise verläuft. Somit kann optisch kontrolliert werden, ob das Werkstück innerhalb der durch die konzentrischen Kreise definierten Fertigungstoleranz liegt.
  • In den 3 bis 5 ist das erfindungsgemäße Verfahren anhand eines aufgenommenen Gegenstandes mit unterschiedlichen zu überlagernden statischen Bildern veranschaulicht.
  • Die 3 zeigt ein erstes erzeugtes Bild 50 einer Bildfolge, das einen von einem Aufnahmesystem erfaßten Gegenstand mit einer bestimmten Vergrößerung darstellt. Ein zweites Bild 52 zeigt den gleichen Gegenstand bei einer anderen Vergrößerung.
  • Mit der Bezugsziffer 54 ist ein Grundmuster für ein zu überlagerndes statisches Bild, in diesem Fall eine mit Rauten begrenzte Linie 56, dargestellt. Diese Linie soll überlagert werden, um bspw. bessere Aussagen über die Größe des erfaßten Gegenstandes treffen zu können. Um eine solche Aussage exakt treffen zu können, ist es notwendig, die eingestellte Vergrößerung und somit den Abbildungsmaßstab für das jeweilige erzeugte Bild 50 bzw. 52 vorab zu bestimmen und die im Grundmuster 54 definierte Linie 56 entsprechend einzustellen, d. h. zu vergrößern oder zu verkleinern. Bezugsziffer 57 zeigt das resultierende überlagerte Bild für die in der Darstellung 50 gezeigte Vergrößerung und Bezugsziffer 58 dasjenige für die in der Darstellung 52 eingestellte Vergrößerung.
  • In 4 ist die Überlagerung mit einer in einem Grundmuster 60 definierten, skalierten Linie 62 gezeigt. Bezugsziffer 64 zeigt das mit der Linie 62 überlagerte erzeugte Bild einer Bildfolge bei einer ersten Vergrößerung, die der in der Darstellung 50 eingestellten Vergrößerung entspricht. Die Überlagerung der Linie 62 bei einer zweiten Vergrößerung, die der Vergrößerung der Darstellung 52 entspricht, ist in dem überlagerten Bild 66 dargestellt.
  • Entsprechend ist in 5 die Überlagerung mit einem Gitter 70 als Grundmuster wiedergegeben. Bezugsziffer 74 bezeichnet das überlagerte Bild bei einer ersten Vergrößerung und Bezugsziffer 76 dieses bei einer zweiten Vergrößerung.
  • In all den gezeigten Fällen wird das dem zu überlagernden Bild zugrunde liegende Grundmuster entsprechend der Einstellung der Vergrößerung bzw. des Abbildungsmaßstabes des Mikroskops angepaßt und anschließend überlagert.

Claims (20)

  1. Verfahren zum Überlagern einer durch eine elektronische Kamera erzeugten Bildfolge mit einer Anzahl von Bildern (42, 44, 50, 52) eines Gegenstandes mit einem statischen Bild (40, 56, 62, 72), wobei das Verhältnis der Größe der erzeugten Bilder (42, 44, 50, 52) zu der Größe des erfaßten Gegenstandes durch einen Abbildungsmaßstab festgelegt ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Abbildungsmaßstab festgestellt, anhand des festgestellten Abbildungsmaßstabes ein geeignetes statisches Bild (40, 56, 62, 72) ermittelt und der erzeugten Bildfolge das dem Abbildungsmaßstab angepaßte statische Bild (40, 56, 62, 72) überlagert wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das statische Bild (40, 56, 62, 72) durch eine Größenänderung eines Grundmusters (54, 60, 70) ermittelt wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Grundmuster (54, 60, 70) in einer elektronischen Speichereinrichtung abgelegt ist.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Grundmuster (54, 60, 70) als Vektordatei abgelegt ist.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das statische Bild (40, 56, 62, 72) durch Auswählen aus einer Anzahl von in der Größe verschiedenen Grundmustern (54, 60, 70) ermittelt wird.
  6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Grundmuster (54, 60, 70) in einer elektronischen Speichereinrichtung abgelegt sind.
  7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß zum Feststellen des Abbildungsmaßstabes eine elektronische Recheneinheit (16) eingesetzt wird.
  8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ermittlung des angepaßten statischen Bildes (40, 56, 62, 72) durch die elektronische Recheneinheit (16) durchgeführt wird.
  9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zum Überlagern des statischen Bildes (40, 56, 62, 72) die elektronische Recheneinheit (16) eingesetzt wird.
  10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Abbildungsmaßstab veränderbar ist und bei der Ermittlung des statischen Bildes (40, 56, 62, 72) der gegenwärtige Wert des Abbildungsmaßstabes berücksichtigt wird.
  11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das mit dem statischen Bild (40, 56, 62, 72) überlagerte erzeugte Bild (46, 48, 56, 58, 64, 66, 74, 76) auf einer Anzeigeeinheit (34) dargestellt wird.
  12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß das erzeugte Bild (42, 44, 50, 52) zusammen mit dem überlagernden statischen Bild (40, 56, 62, 72) elektronisch gespeichert wird.
  13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß als Aufnahmesystem (12) eine mit einem Mikroskop (20) verbundene elektronische Kamera (18) verwendet wird.
  14. Einrichtung zum Überlagern einer mittels eines Aufnahmesystems (12) durch Erfassen eines Gegenstandes erzeugten Bildfolge mit einer Anzahl von Bildern (42, 44, 50, 52) mit einem statischen Bild (40, 56, 62, 72), wobei das Verhältnis der Größe der erzeugten Bilder (42, 44, 50, 52) zu der Größe des aufgenommenen Gegenstandes durch einen Abbildungsmaßstab festgelegt ist, dadurch gekennzeichnet, daß eine erste Einheit zum Erfassen des Abbildungsmaßstabes und eine zweite Einheit zum Ermitteln und Überlagern des statischen Bildes (40, 56, 62, 72) vorgesehen ist.
  15. Einrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß als erste und zweite Einheit eine elektronische Recheneinheit (16) dient.
  16. Einrichtung nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß eine Anzeigeeinheit (34) zum Darstellen der mit dem statischen Bild (40, 56, 62, 72) überlagerten erzeugten Bilder (46, 48, 56, 58, 64, 66, 74, 76) der Bildfolge vorgesehen ist.
  17. Einrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 16, bei der eine elektronische Speichereinrichtung vorgesehen ist, in der Grundmuster (54, 60, 70) gespeichert sind, auf deren Grundlage das statische Bild (40, 56, 62, 72) ermittelt wird.
  18. Verwendung einer Einrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 17 zur optischen Überprüfung von Fertigungstoleranzen.
  19. Computerprogramm mit Programmcodemitteln um alle Schritte eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 13 durchzuführen, wenn das Computerprogramm auf einem Computer oder einer entsprechenden Recheneinheit (16), insbesondere einer Recheneinheit (16) in einer Einrichtung (10) gemäß Anspruch 14, durchgeführt wird.
  20. Computerprogrammprodukt mit Programmcodemitteln, die auf einem computerlesbaren Datenträger gespeichert sind, um ein Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13 durchzuführen, wenn das Computerprogramm auf einem Computer oder einer entsprechenden Recheneinheit (16), insbesondere einer Recheneinheit (16) in einer Einrichtung (10) gemäß Anspruch 14, ausgeführt wird.
DE2002126275 2002-06-06 2002-06-06 Verfahren zum Überlagern einer Bildfolge mit einem statischen Bild Withdrawn DE10226275A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002126275 DE10226275A1 (de) 2002-06-06 2002-06-06 Verfahren zum Überlagern einer Bildfolge mit einem statischen Bild

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002126275 DE10226275A1 (de) 2002-06-06 2002-06-06 Verfahren zum Überlagern einer Bildfolge mit einem statischen Bild

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10226275A1 true DE10226275A1 (de) 2004-01-08

Family

ID=29719018

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2002126275 Withdrawn DE10226275A1 (de) 2002-06-06 2002-06-06 Verfahren zum Überlagern einer Bildfolge mit einem statischen Bild

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10226275A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008000879A1 (de) 2008-03-28 2009-10-01 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Mikroskop umfassend wenigstens zwei Komponenten
EP3318836A1 (de) * 2016-11-08 2018-05-09 Ash Technologies Limited System und verfahren zur digitalen mikroskopischen bildgebung

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3223157A1 (de) * 1982-06-22 1983-12-22 C. Reichert Optische Werke AG, 1170 Wien Einspiegelungsvorrichtung fuer mikroskope
US5953114A (en) * 1994-04-11 1999-09-14 Leica Mikroskopie Systeme Ag Method of determining measurement-point position data and device for measuring the magnification of an optical beam path

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3223157A1 (de) * 1982-06-22 1983-12-22 C. Reichert Optische Werke AG, 1170 Wien Einspiegelungsvorrichtung fuer mikroskope
US5953114A (en) * 1994-04-11 1999-09-14 Leica Mikroskopie Systeme Ag Method of determining measurement-point position data and device for measuring the magnification of an optical beam path

Non-Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Boeckeler Instruments, Inc.: Boeckeler Videosys- teme - Systeme zur interaktiven Bildverarbeitung. Firmenschrift, Boeckeler Video Systeme 07/99. Tucson, U.S.A.: Boeckeler, 1999, Internet-URL am 27.02.2003: http://www.boeckeler.com/metrology/ broch_via_german.pdf
Boeckeler Instruments, Inc.: Boeckeler Videosys- teme - Systeme zur interaktiven Bildverarbeitung. Firmenschrift, Boeckeler Video Systeme 07/99. Tucson, U.S.A.: Boeckeler, 1999, Internet-URL am 27.02.2003: http://www.boeckeler.com/metrology/broch_via_german.pdf *
SCHNEIDER, Uwe *
SCHNEIDER, Uwe; WERNER, Dieter: Taschenbuch der Informatik. 3. Aufl., München, Wien: Carl Hanser. 2000.Kapitel 11.4: Anwendungen der Computergrafik
Völker Video- und Datentechnik: Produktübersicht '99. Firmenschrift, Thomas Völker Video- und Datentechnik. Maintal-Dörnigheim: Völker, 1999, Internet-URL am 27.02.2003: http://www.voelker-web .de/ftp/katalog.pdf
Völker Video- und Datentechnik: Produktübersicht '99. Firmenschrift, Thomas Völker Video- und Datentechnik. Maintal-Dörnigheim: Völker, 1999, Internet-URL am 27.02.2003: http://www.voelker-web.de/ftp/katalog.pdf *
WERNER, Dieter: Taschenbuch der Informatik. 3. Aufl., München, Wien: Carl Hanser. 2000.Kapitel 11.4: Anwendungen der Computergrafik *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008000879A1 (de) 2008-03-28 2009-10-01 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Mikroskop umfassend wenigstens zwei Komponenten
EP3318836A1 (de) * 2016-11-08 2018-05-09 Ash Technologies Limited System und verfahren zur digitalen mikroskopischen bildgebung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102014206309B4 (de) System und Verfahren zum Erhalten von Bildern mit Versatz zur Verwendung für verbesserte Kantenauflösung
DE3822057C2 (de)
DE102017220104A1 (de) Linsensystem mit variabler Brennweite mit Mehrebenen-Bildverarbeitung mit erweiterter Tiefenschärfe
DE602004008681T2 (de) Mikroskop-System und Verfahren
DE102012220882B4 (de) System und Verfahren unter Verwendung eines Bearbeitungsinitialisierungsblocks in einer Teileprogramm-Bearbeitungsumgebung in einem Maschinenvisionssystem
DE102016213122A1 (de) Mehrstufige Bildschärfe unter Verwendung einer abstimmbaren Linse in einem maschinellen Sichtinspektionssystem
DE102013224373A1 (de) Messungsmikroskop-Vorrichtung, Bilderzeugungsverfahren, Messungsmikroskop-Vorrichtungs-Betriebsprogramm und computerlesbares Aufzeichnungsmedium
DE102021114967A1 (de) Werkstückinspektions- und fehlererkennungssystem, das die anzahl der fehlerbilder für das training angibt
DE102012206079A1 (de) Inspizieren von potenziell störenden Eigenschaften in einem maschinellen, visuellen System
DE102011005814A1 (de) Grafisohe benutzeroberfläche zum programmieren von schritt- und wiederholvorgängenin einem visuellen maschinenprüfungssystem
WO2014005866A1 (de) Verfahren zur vorbereitung und durchführung der aufnahme von bildstapeln einer probe aus verschiedenen orientierungswinkeln
DE102012216908A1 (de) Verfahren unter Verwendung einer Bildkorrelation zum Bestimmen von Positionsmessungen in einem Maschinenvisionssystem
DE102014207095A1 (de) Kantenmessungs-Videowerkzeug mit robustem Kantenunterscheidungs-Spielraum
DE202019105838U1 (de) Anordnung mit einem Koordinatenmessgerät oder Mikroskop
WO2019166266A1 (de) DIGITALES MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUM VERÄNDERN EINER VERGRÖßERUNG EINES DIGITALEN MIKROSKOPS
DE102005014595A1 (de) Verfahren zur visuellen Inspektion einer Randentlackungskante eines scheibenförmigen Objekts
DE69630025T2 (de) Kontrolle eines Infrarotmikroskops
DE112015006181B4 (de) Ladungsträgerstrahlvorrichtung, Ausrichtungsverfahren für die Ladungsträgerstrahlvorrichtung, Ausrichtungsprogramm und Speichermedium
DE4011407A1 (de) Vorrichtung zur quantitativen absolutvermessung der dreidimensionalen koordinaten eines pruefobjekts
DE10226275A1 (de) Verfahren zum Überlagern einer Bildfolge mit einem statischen Bild
DE102013211286A1 (de) Verfahren zur Vermessung eines Werkstücks mit einem optischen Sensor
DE102016215537A1 (de) Härteprüfvorrichtung und Härteprüfverfahren
DE102013217347B4 (de) Verfahren und vorrichtung zur parametereinstellung für kantenmessungsvideowerkzeuge
DE102016123154A1 (de) Bestimmung der Anordnung eines Probenobjekts mittels winkelselektiver Beleuchtung
AT514106A1 (de) Verfahren zum Fokussieren von kontrastbehafteten Bilddetails

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8130 Withdrawal