DE102022112765A1 - Detection unit for the spectral analysis of a laser-induced plasma and laser-induced plasma spectrometer - Google Patents

Detection unit for the spectral analysis of a laser-induced plasma and laser-induced plasma spectrometer Download PDF

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Abstract

Es wird eine Detektionseinheit (21) für ein Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse (LIBS) eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A), wobei das Plasma (3) mit einem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird. Die Detektionseinheit (21) umfasst eine Objektivhalterung (23) und mehrere von der Objektivhalterung (23) gehaltene Objektive (25A, 25B, 25C, 25D). Jedem der Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) ist ein Detektionskegel (35) zugeordnet, der in einem Überlappungsbereich (37) mit dem Laserstrahl (5) einen Plasmadetektionsbereich (39) ausbildet, aus dem im Fall eines im Plasmadetektionsbereich (39) vorliegenden Plasmas (3) ein Messanteil (33) des Plasmalichts (3A) vom Objektiv (25A, 25B, 25C, 25D) erfasst wird. Die Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) sind derart in der Objektivhalterung (23) angeordnet und ausgerichtet, dass die Plasmadetektionsbereiche (39) entlang der Strahlachse (5A) versetzt angeordnet sind und zusammen einen Sichtbereich (41) der Detektionseinheit (21) ausbilden. Die mithilfe des multifokalen Detektionskonzepts erhöhte Tiefenschärfte kann den Messvorgang der Spektralanalyse verkürzen.There is a detection unit (21) for a spectrometer system (1) for the spectral analysis (LIBS) of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3), the plasma (3) being coupled with a laser beam (5A) propagating along a beam axis (5A). 5) is generated on a surface (7A) of a sample (7). The detection unit (21) comprises a lens holder (23) and a plurality of lenses (25A, 25B, 25C, 25D) held by the lens holder (23). Each of the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) is assigned a detection cone (35), which forms a plasma detection area (39) in an overlap area (37) with the laser beam (5), from which in the case of a plasma detection area (39) present plasma (3) a measurement component (33) of the plasma light (3A) is detected by the lens (25A, 25B, 25C, 25D). The lenses (25A, 25B, 25C, 25D) are arranged and aligned in the lens holder (23) in such a way that the plasma detection areas (39) are arranged offset along the beam axis (5A) and together form a viewing area (41) of the detection unit (21). form. The increased depth of field using the multifocal detection concept can shorten the measuring process of the spectral analysis.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft Systeme zur laserinduzierten Plasmaspektroskopie, insbesondere eine Detektionseinheit zur spektralen Analyse eines laserinduzierten Plasmas. Ferner betrifft die Erfindung ein Spektrometersystem, insbesondere mit einem mehrere Lichtleitfasern umfassenden Lichtleitsystem.The present invention relates to systems for laser-induced plasma spectroscopy, in particular a detection unit for the spectral analysis of a laser-induced plasma. The invention further relates to a spectrometer system, in particular with a light guiding system comprising a plurality of optical fibers.

Laserinduzierte Plasmaspektroskopie - auch als LIBS (laser induced breakdown spectroscopy) oder LIPS (laser induced plasma spectroscopy) bezeichnet - wird zur Bestimmung einer elementspezifischen Zusammensetzung einer Probe mithilfe eines Plasmas eingesetzt. Das Plasma wird mit hochintensiver, fokussierter Laserstrahlung an der Oberfläche der Probe erzeugt. Vom Plasma emittiertes Licht wird detektiert und spektral ausgewertet, um auf eine elementare Zusammensetzung der Probe zurückzuschließen.Laser-induced plasma spectroscopy - also known as LIBS (laser induced breakdown spectroscopy) or LIPS (laser induced plasma spectroscopy) - is used to determine an element-specific composition of a sample using a plasma. The plasma is generated on the surface of the sample using high-intensity, focused laser radiation. Light emitted by the plasma is detected and spectrally evaluated in order to determine the elemental composition of the sample.

Aus dem Stand der Technik sind LIBS-Systeme bekannt, die für eine korrekte Fokussierung der Laserstrahlung auf die Oberfläche ein Höhenprofil der Probe vermessen und entsprechend das Spektrometer im Abstand anpassen. Eine automatische Fokussiervorrichtung ist z. B. in CN 107783242 A offenbart. Ferner sind portable Geräte mit z. B. einem oder mehreren Spektrometern bekannt, siehe z. B. US 11,085,882 B 1.LIBS systems are known from the prior art, which measure a height profile of the sample in order to correctly focus the laser radiation on the surface and adjust the distance of the spectrometer accordingly. An automatic focusing device is e.g. Am CN 107783242 A disclosed. Furthermore, portable devices with e.g. B. one or more spectrometers known, see e.g. b. US 11,085,882 B1.

Vorteile von LIBS, und allgemein von einer laserbasierten optischen Emissionsspektroskopie, umfassen die kontaktfreie Analyse, die bei einem Abstand zur Probe von z. B. 100 mm, 200 mm oder 500 mm erfolgt und frei von ionisierender Strahlung ist. Beispielhafte Anwendungsbereiche einer der hierin offenbarten und auf LIBS basierenden Materialidentifikation umfassen eine Analyse von homogenen und heterogenen Proben an einer stationären Anlage oder eine Analyse durchlaufender Proben, beispielsweise eine (online) Metallanalytik von auf einem Förderband transportierten Proben. So kann die Materialidentifikation als Vorbereitungsschritt bei einer Materialsortierung eingesetzt werden. Die schnelle Auswertbarkeit der detektierten Spektren kann z. B. bei Förderband-Anlagen Vorschubgeschwindigkeiten von einigen m/s erlauben. LIBS-Systeme können aufgrund der kontaktfreien Analyse hinsichtlich industrieller Arbeitsumgebungen unempfindlich und fehlerresistent ausgebildet werden.Advantages of LIBS, and of laser-based optical emission spectroscopy in general, include non-contact analysis, which can be carried out at a distance from the sample of e.g. B. 100 mm, 200 mm or 500 mm and is free of ionizing radiation. Exemplary areas of application of one of the LIBS-based material identification disclosed herein include an analysis of homogeneous and heterogeneous samples on a stationary system or an analysis of continuous samples, for example (online) metal analysis of samples transported on a conveyor belt. Material identification can be used as a preparatory step for material sorting. The quick evaluation of the detected spectra can, for example, B. allow feed speeds of a few m/s in conveyor belt systems. Due to the contact-free analysis, LIBS systems can be designed to be insensitive and error-resistant in industrial working environments.

Allgemein ist die vorliegende Offenbarung darauf gerichtet, zumindest zum Teil einen oder mehrere Aspekte von bekannten LIBS-basierten Systemen zu verbessern. Einem Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, den Einsatz von LIBS mit einer einfachen Handhabung von Proben zu ermöglichen. Insbesondere ist eine schnelle und zuverlässige Analyse von Proben mit strukturiertem undefinierten (und damit unbekannten) Oberflächenverlauf wesentlich für die Integration von LIBS in industrielle Arbeitsabläufe. Einem weiteren Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, im Rahmen von LIBS ausreichend starke Detektionssignale bereitzustellen, insbesondere auch bei der Analyse von Proben mit einem strukturierten undefinierten Oberflächenverlauf. Einem weiteren Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, ein optisches System, insbesondere für LIBS, anzugeben, das die Nachteile des Standes der Technik insbesondere mit Blick auf Proben mit strukturiertem undefinierten Oberflächenverlauf behebt. Einem weiteren Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Lichtleitsystem für ein LIBS-System anzugeben, das eine einfache Weiterleitung von Plasmalicht zu einem optischen Spektrometer ermöglicht.In general, the present disclosure is directed at improving, at least in part, one or more aspects of known LIBS-based systems. One aspect of this disclosure is based on the task of enabling the use of LIBS with easy sample handling. In particular, a quick and reliable analysis of samples with structured, undefined (and therefore unknown) surface contours is essential for the integration of LIBS into industrial workflows. Another aspect of this disclosure is based on the task of providing sufficiently strong detection signals in the context of LIBS, especially when analyzing samples with a structured, undefined surface profile. A further aspect of this disclosure is based on the task of specifying an optical system, in particular for LIBS, which eliminates the disadvantages of the prior art, particularly with regard to samples with a structured, undefined surface shape. A further aspect of this disclosure is based on the task of specifying a light guidance system for a LIBS system that enables simple transmission of plasma light to an optical spectrometer.

Zumindest eine dieser Aufgaben wird gelöst durch eine Detektionseinheit nach Anspruch 1 und durch ein Spektrometersystem nach Anspruch 11. Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben.At least one of these tasks is solved by a detection unit according to claim 1 and by a spectrometer system according to claim 11. Further developments are specified in the subclaims.

In einem Aspekt umfasst eine Detektionseinheit für ein Spektrometersystem zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma emittierten Plasmalichts, wobei das Plasma mit einem sich entlang einer Strahlachse ausbreitenden Laserstrahl auf einer Oberfläche einer Probe erzeugt wird (und wobei insbesondere eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts für die Spektralanalyse in einem optischen Spektrometer erfolgt), eine Objektivhalterung und mehrere von der Objektivhalterung gehaltene Objektive. Jedem der Objektive ist ein Detektionskegel zugeordnet, der in einem Überlappungsbereich mit dem Laserstrahl einen Plasmadetektionsbereich ausbildet, aus dem im Fall eines im Plasmadetektionsbereich vorliegenden Plasmas ein Messanteil des Plasmalichts vom Objektiv erfasst wird. Mit anderen Worten liegen Spitzen der Detektionskegel kurz hinter der Laserachse, wodurch die Detektionskegel ein mögliches Plasma im Plasmadetektionsbereich „umarmen“. Die Objektive sind derart in der Objektivhalterung angeordnet und ausgerichtet, dass die Plasmadetektionsbereiche entlang der Strahlachse versetzt angeordnet sind und zusammen einen Sichtbereich der Detektionseinheit ausbilden.In one aspect, a detection unit for a spectrometer system for spectral analysis of a plasma light emitted by a laser-induced plasma, wherein the plasma is generated on a surface of a sample with a laser beam propagating along a beam axis (and in particular a spectral splitting of the plasma light for the spectral analysis in an optical spectrometer), a lens mount and several lenses held by the lens mount. Each of the lenses is assigned a detection cone, which forms a plasma detection area in an overlapping area with the laser beam, from which, in the case of a plasma present in the plasma detection area, a measurement portion of the plasma light is detected by the objective. In other words, tips of the detection cones lie just behind the laser axis, causing the detection cones to “hug” a possible plasma in the plasma detection area. The lenses are arranged and aligned in the lens holder in such a way that the plasma detection areas are arranged offset along the beam axis and together form a viewing area of the detection unit.

Allgemein ist der Sichtbereich der Detektionseinheit ein Bereich entlang der Strahlachse, aus dem die Detektionseinheit Plasmalicht in Form von Messanteilen einzelner Objektive erfassen kann. Die Detektionseinheit kann insbesondere zwei bis 25, beispielsweise vier, fünf, acht, neun oder 15 Objektive umfassen.In general, the field of view of the detection unit is an area along the beam axis from which the detection unit can detect plasma light in the form of measurement components from individual lenses. The detection unit can in particular comprise two to 25, for example four, five, eight, nine or 15 lenses.

In einem weiteren Aspekt weist ein Spektrometersystem zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma emittierten Plasmalichts eine Laserstrahlquelle zur Abgabe eines, insbesondere gepulsten, Laserstrahls auf, wobei das Plasma mit dem sich entlang einer Strahlachse ausbreitenden Laserstrahl auf einer Oberfläche einer Probe erzeugt wird. Ferner umfasst das Spektrometersystem eine Fokussieroptik zur Fokussierung des Laserstrahls auf die Oberfläche der Probe, eine hierin offenbarte Detektionseinheit, und ein optisches Spektrometer zur Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit erfassten Plasmalicht. Plasmadetektionsbereiche der Detektionseinheit sind in einem Abschnitt entlang der Strahlachse angeordnet. Ferner sind die Laserstrahlquelle und die Fokussieroptik dazu ausgebildet, dass bei Positionierung der Oberfläche der Probe in jedem der Plasmadetektionsbereiche ein Plasma erzeugt wird. Hierzu sind zum Beispiel Strahlparameter des Laserstrahls, umfassend insbesondere Pulsdauer und Pulsenergie eines gepulsten Laserstrahls, in Abhängigkeit des Materials der Probe entsprechend eingestellt bzw. einstellbar.In a further aspect, a spectrometer system for the spectral analysis of a plasma light emitted by a laser-induced plasma has a laser beam source for emitting a, in particular pulsed, laser beam, wherein the plasma is generated on a surface of a sample with the laser beam propagating along a beam axis. Furthermore, the spectrometer system includes focusing optics for focusing the laser beam onto the surface of the sample, a detection unit disclosed herein, and an optical spectrometer for spectral analysis of a plasma light detected by the detection unit. Plasma detection areas of the detection unit are arranged in a section along the beam axis. Furthermore, the laser beam source and the focusing optics are designed to generate a plasma in each of the plasma detection areas when the surface of the sample is positioned. For this purpose, for example, beam parameters of the laser beam, including in particular the pulse duration and pulse energy of a pulsed laser beam, are set or adjustable depending on the material of the sample.

In einigen Weiterbildungen können die Plasmadetektionsbereiche sich entlang der Strahlachse teilweise überlappen, ineinander übergehen oder voneinander beabstandet sein. Alternativ oder zusätzlich können sich die Plasmadetektionsbereiche entlang der Strahlachse jeweils über 0,1 mm bis 15 mm (beispielsweise 0,1 mm bis 10 mm) und/oder über 1/10 bis 1/4 des Sichtbereichs erstrecken. Alternativ oder zusätzlich kann die Objektivhaltung eine optische Durchgangsöffnung bereitstellt, durch die die Strahlachse verläuft, wobei eine Lage der Strahlachse insbesondere mittig in der optischen Durchgangsöffnung festgelegt sein kann. Die Objektivhalterung kann insbesondere eine Halterungsplatte aufweisen, in der mehrere Objektivhalterungsöffnungen zur Aufnahme der Objektive und die optische Durchgangsöffnung für den Laserstrahl vorgesehen sind. Die Objektivhalterungsöffnungen können um die optische Durchgangsöffnung herum, und insbesondere um die optische Durchgangsöffnung azimutal verteilt, angeordnet sein. Die Objektivhalterungsöffnungen können als Durchgangsöffnungen oder Aussparungen ausgebildet sein, wobei allgemein auf einer Seite der Halterungsplatte Aperturen der Objektive der Detektionseinheit zur Lichtaufnahme und auf der anderen Seite Lichtausgänge der Objektive zur Einkopplung von Licht in Lichtleitsystem angeordnet sein können.In some developments, the plasma detection areas can partially overlap along the beam axis, merge into one another or be spaced apart from one another. Alternatively or additionally, the plasma detection areas can each extend over 0.1 mm to 15 mm (for example 0.1 mm to 10 mm) and/or over 1/10 to 1/4 of the viewing area along the beam axis. Alternatively or additionally, the lens holder can provide an optical through-opening through which the beam axis runs, wherein a position of the beam axis can be fixed in particular in the middle of the optical through-opening. The lens holder can in particular have a mounting plate in which a plurality of lens holder openings for receiving the lenses and the optical passage opening for the laser beam are provided. The lens holder openings can be arranged around the optical through-opening, and in particular azimuthally distributed around the optical through-opening. The lens mounting openings can be designed as through openings or recesses, with apertures of the lenses of the detection unit for receiving light generally being arranged on one side of the mounting plate and light outputs of the lenses for coupling light into the light guidance system can be arranged on the other side.

In einigen Weiterbildungen kann sich jeder der Detektionskegel (ausgehend von der Apertur eines zugehörigen Objektivs) entlang einer Beobachtungsachse erstrecken, die unter einem Beobachtungswinkel im Bereich von ca. 0° bis ca. 90° zur Strahlachse verläuft. Die Beobachtungswinkel können insbesondere gleich sein, nicht mehr als 3° voneinander abweichen oder in einem Winkelbereich von 45° verteilt sein. Die Objektivhalterung kann insbesondere eine Halterungsplatte aufweisen, in der eine optische Durchgangsöffnung für den Laserstrahl vorgesehen ist, wobei sich die Strahlachse orthogonal zur Halterungsplatte erstreckt. Mindestens einer der Detektionskegel kann sich (ausgehend von der Apertur eines zugehörigen Objektivs) entlang einer Beobachtungsachse erstrecken, die unter einem Beobachtungswinkel in einem Bereich von ca. 0° bis ca. 90°, insbesondere in einem Bereich von ca. 3° bis ca. 60°, beispielsweise im Bereich von ca. 5° bis ca. 25°, zur Strahlachse verläuft.In some developments, each of the detection cones (starting from the aperture of an associated objective) can extend along an observation axis that runs at an observation angle in the range of approximately 0° to approximately 90° to the beam axis. The observation angles can in particular be the same, not differ from each other by more than 3° or be distributed in an angular range of 45°. The lens holder can in particular have a mounting plate in which an optical passage opening for the laser beam is provided, the beam axis extending orthogonally to the mounting plate. At least one of the detection cones can extend (starting from the aperture of an associated objective) along an observation axis which is at an observation angle in a range of approximately 0° to approximately 90°, in particular in a range of approximately 3° to approximately. 60°, for example in the range from approx. 5° to approx. 25°, to the beam axis.

In einigen Weiterbildungen können die Objektive azimutal (insbesondere azimutal bezüglich der Strahlachse) beabstandet um die Strahlachse angeordnet sein. Die Objektive können insbesondere azimutal gleichverteilt um die Strahlachse angeordnet sein. Mit anderen Worten können Beobachtungsachsen der Objektive ausgehend vom jeweiligen Zentrum der Apertur eines Objektivs in Richtung Strahlachse verlaufen und entsprechend Ebenen definieren, die durch die Strahlachse und die jeweilige Beobachtungsachse verlaufen. Jeder der Ebenen kann ein spezifischer azimutale Winkel bezüglich der Strahlachse zugeordnet sein. Bei vier azimutal gleichverteilten Objektiven unterscheiden sich die azimutalen Winkel benachbarter Objektive beispielsweise um 90°.In some developments, the lenses can be arranged azimuthally (in particular azimuthally with respect to the beam axis) spaced around the beam axis. The lenses can in particular be arranged with the same azimuth distribution around the beam axis. In other words, observation axes of the lenses can run from the respective center of the aperture of an objective in the direction of the beam axis and accordingly define planes that run through the beam axis and the respective observation axis. Each of the planes can be assigned a specific azimuthal angle with respect to the beam axis. For four lenses with the same azimuthal distribution, the azimuthal angles of adjacent lenses differ by 90°, for example.

In einigen Weiterbildungen kann die Detektionseinheit ferner ein optisches Lichtleitsystem umfassen, das mehrere optische Eingängen und einen optischen Ausgang aufweist. Jeder der optischen Eingänge kann optisch mit einem der Objektive verbunden und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv erfassten Messanteils ausgebildet sein. Der optische Ausgang kann zur Abgabe der mit den Objektiven erfassten Messanteile ausgebildet sein. Mit anderen Worten kann der optische Ausgang des Lichtleitsystems als ein gemeinsamer funktioneller Ausgang zur Abgabe der mit dem Objektiven erfassten Messanteile ausgebildet sein.In some developments, the detection unit can further comprise an optical light guide system that has a plurality of optical inputs and an optical output. Each of the optical inputs can be optically connected to one of the lenses and designed to record the measurement portion recorded with the associated lens. The optical output can be designed to output the measurement components recorded with the lenses. In other words, the optical output of the light guide system can be designed as a common functional output for emitting the measurement components recorded with the objective.

In einigen Weiterbildungen kann optische Lichtleitsystem mehrere Lichtleitfasern aufweisen. Jeweils eine Lichteintrittsfläche einer der Lichtleitfasern kann einen der optischen Eingänge ausbilden und das dem optischen Eingang zugeordnete Objektiv kann dazu ausgebildet und angeordnet (insbesondere ausgerichtet) sein, den Plasmadetektionsbereich des zugeordneten Objektivs auf die Lichteintrittsfläche abzubilden. Die Lichtaustrittsflächen der Lichtleitfasern können den optische Ausgang bilden, wobei die Lichtaustrittsflächen insbesondere aneinander angrenzend oder beabstandet, aufgereiht angeordnet sein können. Ferner können die Lichtaustrittsflächen, insbesondere entsprechend der Abfolge der Plasmadetektionsbereiche im Sichtbereich, aufgereiht angeordnet sein. In einigen Weiterbildungen können die Lichtleitfasern ausgangsseitig linear, insbesondere zur Ausrichtung entlang eines Eintrittsspalt eines optischen Spektrometers, in dem beispielsweise eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts für die Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit erfassten Plasmalicht erfolgt, aufgereiht sein. Insbesondere kann ausgangsseitig eine parallele Faserorientierung zur gleichgerichteten Abgabe der Messanteile vorliegen.In some developments, the optical light guide system can have several optical fibers. In each case a light entry surface of one of the optical fibers can form one of the optical inputs and the lens assigned to the optical input can be designed and arranged (in particular aligned) to image the plasma detection area of the assigned lens onto the light entry surface. The light exit surfaces of the optical fibers can form the optical output, whereby the light exit surfaces can in particular be arranged in a row, adjacent or spaced apart from one another. Furthermore, can the light exit surfaces can be arranged in a row, in particular according to the sequence of the plasma detection areas in the viewing area. In some developments, the optical fibers can be lined up linearly on the output side, in particular for alignment along an entrance slit of an optical spectrometer, in which, for example, a spectral splitting of the plasma light for the spectral analysis of a plasma light detected by the detection unit takes place. In particular, there can be a parallel fiber orientation on the output side for the rectified delivery of the measurement components.

In einigen Weiterbildungen kann eine Lichtführungszone einer Lichtleitfaser einen Durchmesser z. B. im Bereich von ca. 100 µm bis ca. 1.000 µm (oder mehr), insbesondere im Bereich von ca. 100 µm bis ca. 300 µm, im Bereich von ca. 150 µm bis ca. 250 µm oder im Bereich von ca. 750 µm bis ca. 850 µm, aufweisen.In some developments, a light guide zone of an optical fiber can have a diameter of e.g. B. in the range from approx. 100 µm to approx. 1,000 µm (or more), in particular in the range from approx. 100 µm to approx. 300 µm, in the range from approx. 150 µm to approx. 250 µm or in the range from approx 750 µm to approx. 850 µm.

In einigen Ausführungsformen des Spektrometers kann dieses ein optisches Lichtleitsystem umfassen, das zum Weiterleiten von mit der Detektionseinheit erfassten Messanteilen des Plasmalichts an das optische Spektrometer ausgebildet ist und mehrere optische Eingänge und einen optischen Ausgang umfasst. Jeder der optischen Eingänge kann optisch einem der Objektive zugeordnet und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv erfassten Messanteils ausgebildet sein. Der optische Ausgang kann zur Einkopplung von mit den Objektiven erfassten Messanteilen in das optische Spektrometer ausgebildet sein. Insbesondere kann mindestens eines der Objektive derart ausgebildet und in der Objektivhalterung angeordnet sein, dass ein Messanteil des Plasmalichts, der im Detektionskegel des Objektivs erfasst wird, auf den dem Objektiv zugeordneten optischen Eingang abgebildet wird.In some embodiments of the spectrometer, this may include an optical light guide system, which is designed to forward measurement components of the plasma light detected by the detection unit to the optical spectrometer and includes a plurality of optical inputs and an optical output. Each of the optical inputs can be optically assigned to one of the lenses and designed to record the measurement portion recorded with the assigned lens. The optical output can be designed to couple measurement components recorded with the lenses into the optical spectrometer. In particular, at least one of the lenses can be designed and arranged in the lens holder in such a way that a measurement portion of the plasma light, which is detected in the detection cone of the lens, is imaged onto the optical input assigned to the lens.

In einigen Weiterbildungen kann jedem der aus dem optischen Lichtleitsystem austretenden Messanteile eine Strahlachse zugeordnet sein, und die Strahlachsen können parallel zueinander oder nicht mehr als unter einem Winkel von bis zu ca. 1° oder bis zu ca. 3° zueinander verlaufen.In some developments, each of the measuring components emerging from the optical light guide system can be assigned a beam axis, and the beam axes can run parallel to one another or no more than at an angle of up to approximately 1° or up to approximately 3° to one another.

In einigen Weiterbildungen kann das optische Spektrometer eine Eintrittsapertur, insbesondere einen Eintrittsspalt, ein dispersives optisches Element, insbesondere ein Gitter, Prisma oder Gitterprisma, und einen Detektor umfassen, wobei die Messanteile durch die Eintrittsapertur in das optische Spektrometer eingekoppelt werden können und über das dispersive optische Element spektral aufgelöst zu dem Detektor geführt werden können, um eine den Objektiven der Detektionseinheit zugeordnete spektrale Verteilung auszugeben.In some developments, the optical spectrometer can include an entrance aperture, in particular an entrance slit, a dispersive optical element, in particular a grating, prism or grating prism, and a detector, wherein the measurement components can be coupled into the optical spectrometer through the entrance aperture and via the dispersive optical Element can be guided to the detector in a spectrally resolved manner in order to output a spectral distribution assigned to the lenses of the detection unit.

Beispiele für erfindungsgemäß zu untersuchende Proben/Materialien umfassen homogene und inhomogene Materialien, die insbesondere durch eine ungleichmäßige, nicht-einheitlich räumliche Oberflächenkontur gekennzeichnet sind. Mögliche Proben/zu untersuchende Materialien umfassen Feststoffe, Pulver oder Granulate wie Metalle, Glas, Sand, Salz, Mineralien, Schlacke, Gestein, Mehl, Zucker, (landwirtschaftliche) Bodenproben, Gips, Ton, Kalk, Mergel, Zement, Kohle, Koks, Erz, Emulsionen, Schlämme und insbesondere auch dick/zäh-flüssige Proben wie Schmelzen, z. B. von Glas, Aluminium, Eisen und Roheisen, Salz, usw.Examples of samples/materials to be examined according to the invention include homogeneous and inhomogeneous materials, which are characterized in particular by an uneven, non-uniform spatial surface contour. Possible samples/materials to be examined include solids, powders or granules such as metals, glass, sand, salt, minerals, slag, rock, flour, sugar, (agricultural) soil samples, gypsum, clay, lime, marl, cement, coal, coke, Ore, emulsions, sludges and especially thick/viscous samples such as melts, e.g. B. from glass, aluminum, iron and pig iron, salt, etc.

Im Rahmen der hierin offenbarten Objektive erstreckt sich ein detektierbares Volumen von der Objektivapparatur (allgemein umfasst ein Objektiv ein oder mehrere fokussierende optische Elemente, wie eine fokussierende Linse oder ein fokussierender Spiegel, sowie optional defokussierende optische Elemente, wie eine defokussierende Linse oder ein defokussierender Spiegel, die in einem Gehäuse gehalten sind) in Richtung des zu erfassenden Plasmas. Das mit einem Objektiv detektierbare Volumen wird hierin als Detektionskegel bezeichnet (und ist auch als „Lichtkegel“ eines Objektivs bekannt). Im Rahmen der vorliegenden Offenbarung entspricht ein Detektionskegel somit allgemein einem Volumen, aus dem Licht von einem Objektiv erfasst und zu einem optischen Spektrometer weitergeleitet werden kann. Im Fall einer runden Objektivapertur ist das detektierbare Volumen kegelförmig im engeren Sinne, d. h. mit einem kreisförmigen Querschnitt, ausgebildet. Im Rahmen der vorliegenden Offenbarung umfasst ein Detektionskegel auch eine Kegelgeometrie, die von der Rotationssymmetrie abweicht und somit keine runde Querschnittsgeometrie aufweist. Die Achse des Detektionskegels wird hierin auch als Beobachtungsachse bezeichnet und definiert allgemein eine Beobachtungsrichtung des Objektivs.In the context of the lenses disclosed herein, a detectable volume extends from the lens apparatus (generally, a lens includes one or more focusing optical elements, such as a focusing lens or a focusing mirror, and optionally defocusing optical elements, such as a defocusing lens or a defocusing mirror, which are held in a housing) in the direction of the plasma to be detected. The volume detectable with an objective is referred to herein as the detection cone (and is also known as the “light cone” of an objective). In the context of the present disclosure, a detection cone thus generally corresponds to a volume from which light can be detected by an objective and forwarded to an optical spectrometer. In the case of a round objective aperture, the detectable volume is conical in the narrow sense, i.e. H. with a circular cross section. Within the scope of the present disclosure, a detection cone also includes a cone geometry that deviates from rotational symmetry and therefore does not have a round cross-sectional geometry. The axis of the detection cone is also referred to herein as the observation axis and generally defines an observation direction of the objective.

Bei LIBS stellt ein Überlappungsbereich des Detektionskegels mit dem Laserstrahl einen Plasmadetektionsbereich eines Objektivs dar. Der Detektionskegel erstreckt sich üblicherweise über das Plasma, das vom Laserstrahl im Bereich der Strahlachse des Laserstrahls erzeugt wird, und geht damit über die Strahlachse hinaus, um im Bereich des Plasmas einen an die Größe des Plasmas angepassten Querschnitt zur Detektion eines möglichst großen Messanteils des Plasmalichts aufzuweisen.In LIBS, an overlap area of the detection cone with the laser beam represents a plasma detection area of a lens. The detection cone usually extends over the plasma that is generated by the laser beam in the area of the beam axis of the laser beam, and thus extends beyond the beam axis to be in the area of the plasma to have a cross section adapted to the size of the plasma in order to detect the largest possible measurement portion of the plasma light.

Mit anderen Worten kann jedes Objektiv Plasmalicht eines Plasmas in einem vorgegebenen Raumwinkel bezogen auf einen Fokuspunkt des Objektivs erfassen. Voraussetzung ist, dass das Plasma im, den Raumwinkel des erfassbaren Lichts definierenden, Detektionskegel/Lichtkegel des Objektivs liegt, bevorzugt am spitzen Ende des Detektionskegels/Lichtkegels. Mögliche Ausmaße des Querschnitts des Detektionskegels an der Position des zu detektierenden Plasmas können derart sein, dass sich an der Position des zu detektierenden Plasmas eine Länge in Ausbreitungsrichtung des Detektionskegels ergibt, die z. B. im Bereich von 10 % bis 25 % der Länge des von der Detektionseinheit bereitzustellenden Sichtbereichs (in Ausbreitungsrichtung) umfasst und beispielsweise im Bereich von 0,1 mm bis 10 mm oder z. B. bis 15 mm liegen kann.In other words, each lens can capture plasma light from a plasma at a predetermined solid angle relative to a focal point of the lens. The prerequisite is that the plasma lies in the detection cone/light cone of the lens that defines the solid angle of the detectable light, preferably at the pointed end of the lens Detection cone/light cone. Possible dimensions of the cross section of the detection cone at the position of the plasma to be detected can be such that at the position of the plasma to be detected there is a length in the direction of propagation of the detection cone, which is z. B. in the range of 10% to 25% of the length of the viewing area to be provided by the detection unit (in the direction of propagation) and, for example, in the range of 0.1 mm to 10 mm or z. B. can be up to 15 mm.

Im Rahmen der hierin offenbarten LIBS werden Proben untersucht, die auf der Seite des auftreffenden Laserstrahls eine dreidimensionale Kontur aufweisen, sodass - bei der Durchführung der Messung an verschiedenen Oberflächenbereichen - eine Oberfläche der Probe in Richtung der Strahlachse des Laserstrahls nicht an einem festen Ort liegt, auf den der Laserstrahl fokussiert werden könnte. Die dreidimensionale Form der Probe bewirkt, dass sich auch das Plasma nicht an einem festen Ort in Richtung der Strahlachse ausbildet, sondern in seiner Position entlang der Strahlachse des Laserstrahls variieren kann. Das Ausmaß der möglichen Variation des Orts eines für die spektrale Analyse nutzbaren Plasmas (hierin auch als Plasmazündbereich („laser induced plasma excitation area“) bezeichnet) hängt - neben dem Verlauf der Oberfläche der Probe in Richtung der Strahlachse und der Einkoppelfähigkeit (Absorption) des Materials - von der Fokussierung des Laserstrahls, und insbesondere vom Intensitätsverlauf des Laserstrahls im Fokusbereich, ab. Bei entsprechenden Strahlparametern (Fokusdurchmesser und Fokuslänge) und Laserparametern (Laserleistung, Laserpulsenergie, Laserpulsdauer...) kann sich der mögliche Plasmazündbereich in Richtung der Strahlachse über Bruchteile eines Millimeters bis zu einigen Millimetern (z. B. 2 mm bis 4 mm) oder auch bis zu einigen 10 cm, z. B. bis zu 20 cm, erstrecken.As part of the LIBS disclosed herein, samples are examined which have a three-dimensional contour on the side of the incident laser beam, so that - when carrying out the measurement on different surface areas - a surface of the sample is not in a fixed location in the direction of the beam axis of the laser beam, on which the laser beam could be focused. The three-dimensional shape of the sample means that the plasma does not form at a fixed location in the direction of the beam axis, but can vary in its position along the beam axis of the laser beam. The extent of the possible variation in the location of a plasma that can be used for spectral analysis (herein also referred to as the laser induced plasma excitation area) depends - in addition to the shape of the surface of the sample in the direction of the beam axis and the coupling ability (absorption) of the Material - on the focusing of the laser beam, and in particular on the intensity profile of the laser beam in the focus area. With appropriate beam parameters (focus diameter and focus length) and laser parameters (laser power, laser pulse energy, laser pulse duration...), the possible plasma ignition range in the direction of the beam axis can range from a fraction of a millimeter to a few millimeters (e.g. 2 mm to 4 mm) or even up to a few 10 cm, e.g. B. extend up to 20 cm.

In einigen Ausführungsformen kann eine Umsetzung des multifokalen Konzepts folgende Vorteile aufweisen. Hinsichtlich der Detektion von Plasmalicht wird eine Tiefenschärfe, hier im Sinne eines erfassbaren Tiefenbereichs entlang der Laserausbreitungsrichtung, gegeben durch die Anordnung der Objektive, deutlich vergrößert. Dadurch wird eine Untersuchung von Proben mit ungleichmäßiger Oberflächenform ermöglicht bzw. erleichtert. Auf diese Weise wird das Erfassen von Plasmalicht über den Zündbereich hinweg unabhängig von einer mechanischen Bewegung der Detektionseinheit oder der Probe in Laserstrahlrichtung. Es ergibt sich eine größere Toleranz bezüglich der Lage der Probe/Probenoberfläche und damit der Oberflächengeometrie der Probe. Ferner kann eine Probenvorbereitung wie Glattstreichen eines Pulvers oder Glattpressen einer Oberfläche entfallen.In some embodiments, implementation of the multifocal concept may have the following advantages. With regard to the detection of plasma light, a depth of field, here in the sense of a detectable depth range along the laser propagation direction, given by the arrangement of the lenses, is significantly increased. This makes it possible or easier to examine samples with irregular surface shapes. In this way, the detection of plasma light across the ignition area becomes independent of a mechanical movement of the detection unit or the sample in the laser beam direction. This results in a greater tolerance with regard to the position of the sample/sample surface and thus the surface geometry of the sample. Furthermore, sample preparation such as smoothing a powder or pressing a surface smooth can be omitted.

Beim Design einer Detektionsvorrichtung kann über die optische Auslegung eines einzelnen Objektivs die Tiefenschärfe erhöht werden. Eine durch die optische Auslegung eines einzelnen Objektivs bewirkte größere Tiefenschärfe kann eine Vergrößerung des Abstands zur Probe bedingen, wodurch die Menge an vom Objektiv erfassten Licht verkleinert wird (Verkleinerung des Raumwinkels/Lichtkegels des Objektivs). Um dies zu kompensieren, kann ein Objektiv mit größerer Apertur (größerem Lichtkegel) verwendet werden.When designing a detection device, the depth of field can be increased through the optical design of a single lens. A greater depth of field caused by the optical design of a single objective can result in an increase in the distance to the sample, thereby reducing the amount of light captured by the objective (reduction in the solid angle/light cone of the objective). To compensate for this, a lens with a larger aperture (larger light cone) can be used.

Im Unterschied zu derartigen Designs/optischen Auslegungen von Objektiven bewirkt das erfinderische multifokale Konzept eine sich über einen größeren Bereich erstreckende Tiefenschärfe durch den Einsatz mehrerer Objektive mit versetzten Plasmadetektionsbereichen. Die versetzten Plasmadetektionsbereiche bewirken, dass Plasmalicht aus einem größeren Tiefenbereich erfassbar wird. Eine Veränderung des Abstands ist nicht notwendig, sodass die Menge des jeweils erfassten Lichts erhalten bleibt.In contrast to such designs/optical configurations of lenses, the inventive multifocal concept achieves a depth of field extending over a larger area through the use of multiple lenses with offset plasma detection areas. The offset plasma detection areas mean that plasma light can be detected from a greater depth range. It is not necessary to change the distance, so the amount of light captured remains the same.

U.a. aufgrund einer größeren Toleranz hinsichtlich des Orts, an dem ein zu erfassendes Plasma erzeugt wird, kann mit dem hierin vorgeschlagenen multifokalen Detektionsansatz eine im Wesentlichen probenvorbereitungsfreie Analyse von (homogenen und heterogenen) Proben an einer stationären Anlage oder eine Analyse von durchlaufenden Proben durchgeführt werden.Due, among other things, to a greater tolerance with regard to the location at which a plasma to be detected is generated, the multifocal detection approach proposed here can be used to carry out a substantially sample preparation-free analysis of (homogeneous and heterogeneous) samples on a stationary system or an analysis of samples in transit.

In einigen Ausführungsformen des multifokalen Konzepts kann - auch bei einer stärker strukturierten dreidimensionalen Oberflächenform einer Probe - eine spektrometrische Untersuchung ohne oder, wenn überhaupt, mit einer nur rudimentären, dem Messvorgang vorausgehenden Höheneinstellung erfolgen.In some embodiments of the multifocal concept - even with a more structured three-dimensional surface shape of a sample - a spectrometric examination can be carried out without or, if at all, with only a rudimentary height adjustment preceding the measurement process.

In einigen Ausführungsformen kann eine Umsetzung des multilateralen Konzepts folgende Vorteile aufweisen. Eine gleichzeitige Betrachtung eines Plasmas kann aus unterschiedlichen Beobachtungsrichtungen erfolgen, wobei die Summe aller „Beobachtungsrichtungen“ als Ergebnis ein gemeinsames spektrales optisches (Ausgangs-)Messsignal bilden. Auch wenn eine der Beobachtungsrichtungen aufgrund der Oberflächenform der Probe oder einem anderen Hindernis geblockt wird, kann noch ein ausreichender Messanteil für die spektrale Analyse zur Verfügung stehen.In some embodiments, implementation of the multilateral concept may have the following advantages. A plasma can be viewed simultaneously from different observation directions, with the sum of all “observation directions” forming a common spectral optical (output) measurement signal. Even if one of the observation directions is blocked due to the surface shape of the sample or another obstacle, a sufficient measurement portion can still be available for the spectral analysis.

In einigen Ausführungsformen des optischen Lichtleitsystems kann die Kombination von n>1 Fasern (z. B. n=2, 3, 4 ...10...15) auf einen (funktionellen) Faserausgang eine vorteilhafte Einspeisung mehrerer Objektive in ein optisches Spektrometer erlauben. Vorteile einer derartigen n-fachen Betrachtung zeigen sich bei der Umsetzung des multifokalen Konzepts sowie des multilateralen Konzepts.In some embodiments of the optical light guide system, the combination of n>1 fibers (e.g. n=2, 3, 4...10...15) on a (functional) fiber output can advantageously feed multiple lenses into an optical spectrometer allow. Advantages of such an n-fold ratio This can be seen in the implementation of the multifocal concept and the multilateral concept.

Hierin werden Konzepte offenbart, die es erlauben, zumindest teilweise Aspekte aus dem Stand der Technik zu verbessern. Insbesondere ergeben sich weitere Merkmale und deren Zweckmäßigkeiten aus der folgenden Beschreibung von Ausführungsformen anhand der Figuren. Von den Figuren zeigen:

  • 1 eine schematische Übersicht eines LIBS-Systems,
  • 2 eine Skizze zur Verdeutlichung des multifokalen Konzepts,
  • 3 eine perspektivische Ansicht eines beispielhaften LIBS-Messkopfs,
  • 4A und 4B eine Aufsicht auf eine erste beispielhafte Halterungsplatte und eine perspektivische Ansicht einer Detektionseinheit (multifokales Konzept),
  • 5A und 5B eine Aufsicht auf eine zweite beispielhafte Halterungsplatte und eine perspektivische Ansicht einer Detektionseinheit (multifokales Konzept),
  • 6A und 6B eine Aufsicht auf eine beispielhafte Halterungsplatte und eine perspektivische Ansicht einer Detektionseinheit (multilaterales Konzept),
  • 7A bis 7E schematische Skizzen zur Verdeutlichung eines beispielhaften mehrere Lichtleitfasern umfassenden Lichtleitsystems,
  • 8A bis 8C schematische Skizzen zur Verdeutlichung einer Einkopplung des Lichtleitsystems aus 6 in ein optisches Spektrometer,
  • 9A und 9B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multifokales Konzept, Plasma in einem Plasmadetektionsbereich),
  • 10A und 10B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multifokales Konzept, Plasma innerhalb zweier Plasmadetektionsbereichen),
  • 11A und 11B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multilaterales Konzept, ohne Abschattung),
  • 12A und 12B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multilaterales Konzept, mit Abschattung),
  • 13A bis 13C schematische Illustrationen industrieller Anwendungen am Beispiel des multifokalen Konzepts und
  • 14A bis 14C zwei Flussdiagramme und eine Skizze zur Erläuterung von beispielhaften Messvorgängen.
Concepts are disclosed here that make it possible to at least partially improve aspects of the prior art. In particular, further features and their expediencies emerge from the following description of embodiments based on the figures. Of the figures show:
  • 1 a schematic overview of a LIBS system,
  • 2 a sketch to illustrate the multifocal concept,
  • 3 a perspective view of an exemplary LIBS measuring head,
  • 4A and 4B a top view of a first exemplary mounting plate and a perspective view of a detection unit (multifocal concept),
  • 5A and 5B a top view of a second exemplary mounting plate and a perspective view of a detection unit (multifocal concept),
  • 6A and 6B a top view of an exemplary mounting plate and a perspective view of a detection unit (multilateral concept),
  • 7A until 7E schematic sketches to illustrate an exemplary light guide system comprising several optical fibers,
  • 8A until 8C schematic sketches to illustrate coupling of the light guide system 6 into an optical spectrometer,
  • 9A and 9B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multifocal concept, plasma in a plasma detection area),
  • 10A and 10B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multifocal concept, plasma within two plasma detection areas),
  • 11A and 11B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multilateral concept, without shading),
  • 12A and 12B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multilateral concept, with shading),
  • 13A until 13C schematic illustrations of industrial applications using the example of the multifocal concept and
  • 14A until 14C two flowcharts and a sketch to explain exemplary measurement processes.

Hierin beschriebene Aspekte basieren zum Teil auf der Erkenntnis, dass der Einsatz von mehreren Objektiven in Kombination mit einem optischen Spektrometer eine Erweiterung des erfassbaren Raumwinkelanteils bei der LIBS ermöglicht. Bei entsprechender Anordnung und Ausrichtung der Objektive kann ein erfasster Tiefenschärfebereich entlang der Strahlachse vergrößert werden (multifokales Konzept). Alternativ oder zusätzlich kann auch der Anteil des erfassten Plasmalichts, das von einem Plasma an einem Ort emittiert wird, vergrößert werden (multilaterales Konzept).Aspects described here are partly based on the knowledge that the use of several lenses in combination with an optical spectrometer enables an expansion of the detectable solid angle component in LIBS. If the lenses are arranged and aligned accordingly, a captured depth of field area can be enlarged along the beam axis (multifocal concept). Alternatively or additionally, the proportion of detected plasma light emitted by a plasma at one location can also be increased (multilateral concept).

Die Erfinder haben erkannt, dass es mithilfe der hierin vorgeschlagenen Konzepte möglich ist, Plasmalicht über einen Sichtbereich entlang der Strahlachse zu erfassen, der länger ist als dieser mit nur einem einzelnen Objektiv unter vergleichbaren Bedingungen gegeben ist. Im Sichtbereich kann die Detektionseinheit eine Tiefenschärfe entlang eines laserseitig bereitgestellten Zündbereichs bereitstellen, die eine Toleranz hinsichtlich der Position der Probe und damit der Position des Plasmas auf der Oberfläche der Probe bewirkt. Anstelle eines Höhenausgleichs gemäß Stand der Technik durch ein mechanisches Verfahren der Detektionseinheit bzw. der Probe (oder ein mechanisches Anpassen der Probenoberfläche an einen Fokuspunkt/an einen punktförmigen Zündbereich) setzt das multifokale Konzept mehrere Plasmadetektionsbereiche ein, die entlang des laserseitig bereitgestellten Zündbereichs angeordnet sind.The inventors have recognized that using the concepts proposed herein, it is possible to capture plasma light over a field of view along the beam axis that is longer than that provided with only a single lens under comparable conditions. In the field of vision, the detection unit can provide a depth of field along an ignition area provided by the laser, which brings about a tolerance with regard to the position of the sample and thus the position of the plasma on the surface of the sample. Instead of height compensation according to the prior art by a mechanical method of the detection unit or the sample (or a mechanical adjustment of the sample surface to a focal point/to a punctiform ignition area), the multifocal concept uses several plasma detection areas that are arranged along the ignition area provided by the laser.

Hierin wird ein Plasmadetektionsbereich bestimmt durch eine Beobachtungsachse und einen Raumwinkel, die einem Objektiv zugeordnet sind. Um insbesondere für mehrere Objektive vergleichbare Bedingungen zum Erfassen von Plasmalicht bereitzustellen (oder z. B. im Sinne eines symmetrisch umgesetzten Aufbaus einer Detektionseinheit), können die Beobachtungsachsen der verschiedenen Objektive unter einem im Wesentlichen gleichen Beobachtungswinkel auf die Strahlachse gerichtet werden, allerdings im Fall des multifokalen Konzepts in Richtung der Strahlachse versetzt.Here, a plasma detection area is determined by an observation axis and a solid angle, which are assigned to a lens. In order to provide comparable conditions for detecting plasma light, in particular for several lenses (or, for example, in the sense of a symmetrically implemented structure of a detection unit), the observation axes of the different lenses can be directed at the beam axis at a substantially same observation angle, but in the case of multifocal concept offset in the direction of the beam axis.

Durch die gemäß dem hierin offenbarten multifokalen Konzept entlang der Strahlachse bereitgestellte Tiefenschärfe kann (ohne Nachpositionieren oder Regeln des Spektrometersystems) für Abschnitte des Oberflächenverlaufs der Probe im entsprechend abgedeckten Tiefenschärfenbereich Plasmalicht erfasst werden, das dann spektral aufgelöst in einem (gemeinsamen) optischen Spektrometer vermessen werden kann. Der erfassbare Signalbeitrag kann somit erhöht werden, wodurch der Messvorgang weniger Zeit benötigen kann, als wenn nur ein Objektiv zur Detektion in einem Plasmadetektionsbereich/an einer Position in Ausbreitungsrichtung eingesetzt wird.Due to the depth of field provided along the beam axis according to the multifocal concept disclosed herein, plasma light can be detected (without repositioning or regulating the spectrometer system) for sections of the surface profile of the sample in the correspondingly covered depth of field area, which is then spectrally recorded can be measured in a (common) optical spectrometer. The detectable signal contribution can thus be increased, whereby the measuring process can take less time than if only one lens is used for detection in a plasma detection area/at a position in the propagation direction.

Die Erfinder haben ferner beobachtet, dass beim Einsatz eines einzigen Objektivs zumindest vorübergehend eine räumliche Abschattung eines Detektionskegels und des in diesem zu erfassenden Plasmas vorliegen kann. Die Abschattung wird z. B. durch den Oberflächenverlauf der Probe im Raum hervorgerufen, wie er in der Umgebung des Plasmas vorliegt. Die Erfinder haben nun erkannt, dass es mithilfe mehrerer Objektive möglich wird, Plasmalicht, das in verschiedene Richtungen emittiert wird, zu erfassen und mit einem (gemeinsamen) optischen Spektrometer zu analysieren. Dadurch kann der Einfluss von Abschattungseffekten abgeschwächt werden.The inventors have also observed that when using a single lens, there can be at least temporary spatial shadowing of a detection cone and the plasma to be detected in it. The shading is z. B. caused by the surface shape of the sample in space, as it exists in the environment of the plasma. The inventors have now realized that using multiple lenses makes it possible to capture plasma light that is emitted in different directions and analyze it with a (common) optical spectrometer. This can reduce the influence of shading effects.

Um vergleichbare Signalinformation aus jedem der Objektive zu erhalten, können in einer Ausführungsform möglichst gleiche (z. B. im Wesentlichen identische) Beobachtungswinkel der Objektive in Bezug zur Ausbreitungsrichtung des Laserstrahls vorgesehen werden. Bei einem räumlich größer ausgedehnten Plasma kann dies zusätzlich vermeiden, dass unterschiedliche Plasmabereiche mit möglicherweise unterschiedlichen spektralen Anteilen zu einem Signal zusammengefasst werden.In order to obtain comparable signal information from each of the lenses, in one embodiment the observation angles of the lenses that are as similar as possible (e.g. essentially identical) can be provided in relation to the direction of propagation of the laser beam. In the case of a spatially larger plasma, this can also prevent different plasma areas with possibly different spectral components from being combined into one signal.

Die Erfinder haben ferner erkannt, dass in einer vorteilhaften Ausführungsform ein Lichtleitfaserbündel dazu eingesetzt werden kann, die Messanteile der verschiedenen Objektive zusammenzuführen und gemeinsam - an einem funktionellen Faserausgang des Lichtleitfaserbündels - durch einen Spalt eines optischen Spektrometers zur spektralen Analyse in das optische Spektrometer einzukoppeln. Dazu nehmen die Lichtleitfasern im Betrieb an einem Ende jeweils den Messanteil eines der Objektive auf. Am anderen Ende werden die Lichtleitfasern in einem optischen Stecker zusammengeführt und gehalten und bilden den gemeinsamen funktionellen Faserausgang. Bevorzugt geben die Lichtleitfasern die Messanteile zumindest zu großen Teilen auf die gleichen Zonen des Detektors ab, um möglichst hohe Signalstärken zu erreichen. Beispielsweise können die Lichtleitfasern ihre Messanteile am funktionellen Faserausgang in die gleiche Richtung abgeben. In einigen Ausführungsformen können dafür die Enden der Lichtleitfasern gleich ausgerichtet sein, insbesondere möglichst parallel verlaufen. Ferner können die Lichtleitfasern beispielsweise linear aufgereiht und im eingebauten Zustand entlang des Spalts ausgerichtet werden. Um einen möglichst lokalisierten Ort des funktionellen Faserausgangs und damit der Einkopplung der Messanteile in das optische Spektrometer zu erreichen, können die Lichtleitfasern im optischen Stecker nahe aneinander, bevorzugt direkt nebeneinander, verlaufen.The inventors have further recognized that, in an advantageous embodiment, an optical fiber bundle can be used to bring together the measurement components of the different lenses and to couple them together - at a functional fiber output of the optical fiber bundle - through a gap of an optical spectrometer into the optical spectrometer for spectral analysis. For this purpose, the optical fibers record the measuring portion of one of the lenses at one end during operation. At the other end, the optical fibers are brought together and held in an optical connector and form the common functional fiber output. The optical fibers preferably deliver at least a large portion of the measurement components to the same zones of the detector in order to achieve the highest possible signal strengths. For example, the optical fibers can emit their measurement components at the functional fiber output in the same direction. In some embodiments, the ends of the optical fibers can be aligned in the same way, in particular run as parallel as possible. Furthermore, the optical fibers can, for example, be lined up linearly and aligned along the gap when installed. In order to achieve the most localized possible location of the functional fiber output and thus the coupling of the measurement components into the optical spectrometer, the optical fibers in the optical connector can run close to one another, preferably directly next to one another.

In einigen Ausführungsformen können die Enden der Lichtleitfasern im optischen Stecker unter Winkeln zueinander verlaufen, wobei die Winkel auf die Geometrie des Spektrometers (optischen Wege im Spektrometer) derart abgestimmt sind, dass die Messanteile der Objektive am Detektor des optischen Spektrometers zusätzlich möglichst in ihren Maxima - z. B. in Richtung der linearen Aufreihung - übereinander gelegt werden.In some embodiments, the ends of the optical fibers in the optical connector can run at angles to one another, the angles being coordinated with the geometry of the spectrometer (optical paths in the spectrometer) in such a way that the measurement components of the lenses on the detector of the optical spectrometer are also, if possible, in their maximums - e.g. B. in the direction of the linear array - can be placed on top of each other.

Nachfolgend werden in Verbindung mit den Figuren beispielhaft die verschiedenen erfinderischen Konzepte erläutert.The various inventive concepts are explained below by way of example in conjunction with the figures.

1 zeigt eine schematische Übersicht eines Spektrometersystems 1 (LIBS-System) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma 3 (schematisch als gefüllter Kreis angedeutet) emittierten Plasmalichts 3A. Detektierbares Plasmalicht 3A liegt beispielsweise im Wellenlängenbereich von UV-Licht, sichtbarem Licht, nahem Infrarotlicht und/oder Infrarotlicht; insbesondere kann zu detektierendes Plasmalicht im Spektralbereich von ca. 190 nm bis ca. 920 nm liegen. Bei LIBS wird das Plasma 3 mit einem Laserstrahl 5 auf einer Oberfläche 7A einer Probe 7 erzeugt. 1 shows a schematic overview of a spectrometer system 1 (LIBS system) for the spectral analysis of a plasma light 3A emitted by a laser-induced plasma 3 (schematically indicated as a filled circle). Detectable plasma light 3A is, for example, in the wavelength range of UV light, visible light, near infrared light and/or infrared light; In particular, plasma light to be detected can be in the spectral range from approximately 190 nm to approximately 920 nm. In LIBS, the plasma 3 is generated with a laser beam 5 on a surface 7A of a sample 7.

Zur Erzeugung des, z. B. gepulsten, Laserstrahls 5 umfasst das Spektrometersystem 1 eine Laserstrahlquelle 9. Die Laserstrahlquelle 9 ist dazu ausgebildet, für die Plasmaerzeugung benötigte Laserstrahlparameter bereitzustellen; beispielhafte Laserstrahlparameter für die Materialanalyse von Mineralien, Salzen, Fe- und NE-Metallen, o.ä. umfassen z. B. Laserpulsenergien im Bereich von <1 mJ bis >100 mJ, Laserpulsdauern im Bereich von <1ns bis >100 ns und eine zentrale Laserwellenlänge z. B. im Infrarot (IR)-Bereich (beispielsweise um 1064 nm), im Ultravioletten (UV)-Bereich oder in einem Wellenlängenbereich dazwischen oder in mehreren Wellenlängenbereichen, d.h. z. B. in einer Kombination aus mehreren Wellenlängen, sowie feste oder einstellbare Repetitionsraten oder Laserpulsburst-Einstellungen. Der Laserstrahl 5 wird z. B. über eine Lichtleitfaser 9A (optional optisch aktiv, wie spektral verbreiternd oder verstärkend) einer Fokussieroptik 11 zugeführt und von dieser auf die Oberfläche 7A der Probe 7 fokussiert. Die Fokussieroptik 11 kann insbesondere als eine Laserkopfkomponente mit Fokussierfunktion wie eine insbesondere auf das Spektrum oder die Pulsdauer oder die Pulsenergie einwirkende aktive Laserkomponente mit Fokussierfunktion ausgebildet sein. Die Ausbreitung des Laserstrahls 5 zwischen Fokussieroptik 11 und Probe 7 erfolgt entlang einer Strahlachse 5A. Beispielhafte Fokusdurchmesser (1/e2-Strahldurchmesser in der Strahltaille) im Bereich von <50 µm bis >250 µm und beispielhafte Fokuslängen (z. B. doppelte Rayleigh-Länge) liegen im Bereich von <5 mm bis >1.000 mm.To generate the, e.g. B. pulsed laser beam 5, the spectrometer system 1 comprises a laser beam source 9. The laser beam source 9 is designed to provide laser beam parameters required for plasma generation; Examples of laser beam parameters for the material analysis of minerals, salts, ferrous and non-ferrous metals, etc. include, for example: B. Laser pulse energies in the range from <1 mJ to >100 mJ, laser pulse durations in the range from <1ns to >100 ns and a central laser wavelength e.g. B. in the infrared (IR) range (for example around 1064 nm), in the ultraviolet (UV) range or in a wavelength range in between or in several wavelength ranges, ie, for example, in a combination of several wavelengths, as well as fixed or adjustable repetition rates or laser pulse burst -Settings. The laser beam 5 is z. B. fed via an optical fiber 9A (optionally optically active, such as spectrally broadening or amplifying) to a focusing optics 11 and focused by this onto the surface 7A of the sample 7. The focusing optics 11 can in particular be designed as a laser head component with a focusing function, such as an active laser component with a focusing function that acts in particular on the spectrum or the pulse duration or the pulse energy. The propagation of the laser beam 5 between focusing optics 11 and Sample 7 is taken along a beam axis 5A. Exemplary focus diameters (1/e 2 beam diameter in the beam waist) in the range from <50 µm to >250 µm and exemplary focus lengths (e.g. double Rayleigh length) are in the range from <5 mm to >1,000 mm.

Laserparameter können insbesondere derart eingestellt/gewählt werden, dass sich ein Bereich, in dem Plasmaerzeugung stattfinden kann (auch als möglicher Zündbereich bezeichnet), beispielsweise über eine Länge im Bereich von ca. 0,2 mm bis ca. 50 mm, beispielsweise über eine Länge von 2 mm, 5 mm, 20 mm, 200 mm oder 500 mm, entlang der Strahlachse 5A erstreckt.Laser parameters can in particular be set/selected such that a region in which plasma generation can take place (also referred to as a possible ignition region), for example over a length in the range of approximately 0.2 mm to approximately 50 mm, for example over a length of 2 mm, 5 mm, 20 mm, 200 mm or 500 mm, extends along the beam axis 5A.

1 zeigt schematisch eine entlang der Strahlachse 5A langgezogene Fokuszone 11A, wie sie im Bereich der Oberfläche 7A der Probe 7 ausgebildet wird. Das Plasma 3 bildet sich aufgrund der Wechselwirkung der Laserstrahlung mit dem Material an der Oberfläche der Probe 7A aus. Bei LIBS liegen übliche Ausmaße (gemittelter Durchmesser) eines Plasmas 3 im Bereich von z. B. 0,1 mm bis 5 mm (abhängig von Probenmaterial und Laserparameter). 1 shows schematically a focus zone 11A elongated along the beam axis 5A, as formed in the area of the surface 7A of the sample 7. The plasma 3 forms due to the interaction of the laser radiation with the material on the surface of the sample 7A. In LIBS, the usual dimensions (average diameter) of a plasma 3 are in the range of z. B. 0.1 mm to 5 mm (depending on sample material and laser parameters).

Das Spektrometersystem 1 umfasst ferner ein optisches Spektrometer 13 zur Spektralanalyse des Plasmalichts 3A. Das optische Spektrometer 13 ist in 1 beispielhaft als Gitterspektrometer dargestellt. Allgemein umfasst das Spektrometer 13 mindestens ein dispersives Element 13A, z. B. ein Gitter, ein Prisma oder ein Gitterprisma, und einen pixelbasierten Detektor 13B, auf den das Plasmalicht spektral aufgeweitet auftrifft. Den Pixeln des Detektors 13B sind spektrale Komponenten des zu analysierenden Plasmalichts 3A zugeordnet. Der Detektor 13B gibt Intensitätswerte der bestrahlten Pixel an eine Auswerteeinheit 15, üblicherweise ein Computer mit einem Prozessor und einem Speicher, aus. Die Auswerteeinheit 15 gibt eine gemessene spektrale Verteilung 17 aus und vergleicht diese beispielsweise mit abgelegten Vergleichsspektren, um dem Plasmalicht 3A und damit der untersuchten Probe 3 die zum Plasmalicht 3A beitragenden Elemente zuzuordnen und als Ergebnis der spektralen Untersuchung auszugeben.The spectrometer system 1 further includes an optical spectrometer 13 for spectral analysis of the plasma light 3A. The optical spectrometer 13 is in 1 shown as an example as a grid spectrometer. In general, the spectrometer 13 comprises at least one dispersive element 13A, e.g. B. a grid, a prism or a grating prism, and a pixel-based detector 13B, onto which the plasma light strikes in a spectrally expanded manner. Spectral components of the plasma light 3A to be analyzed are assigned to the pixels of the detector 13B. The detector 13B outputs intensity values of the irradiated pixels to an evaluation unit 15, usually a computer with a processor and a memory. The evaluation unit 15 outputs a measured spectral distribution 17 and compares it, for example, with stored comparison spectra in order to assign the elements contributing to the plasma light 3A and thus to the examined sample 3 and output them as the result of the spectral examination.

Im Spektrometer 13 ist ein (spektralabhängiger) Strahleingang für das zu analysierende Plasmalicht durch eine Eintrittsapertur 19, üblicherweise ein Eintrittsspalt 19A, festgelegt.In the spectrometer 13, a (spectral-dependent) beam input for the plasma light to be analyzed is defined by an entrance aperture 19, usually an entrance slit 19A.

Das Spektrometersystem 1 umfasst ferner eine Detektionseinheit 21 mit einer Objektivhalterung 23 und mehreren Objektiven 25A, 25B, 25C, die von der Objektivhalterung 23 gehalten werden. Beispielhaft werden in den Figuren drei Objektive gezeigt, zwei in der Bildebene und eines dahinterliegend. Die hierin offenbarten Konzepte werden mit mehr als einem Objektiv in der Objektivhalterung 23 umgesetzt. Die Anzahl der verwendeten Objektive kann in Abhängigkeit räumlicher und optischer Parameter sowie Parameter des Materials der zu untersuchenden Probe ausgewählt werden; sie liegt z. B. im Bereich von 2 bis 20, beispielsweise bei 4, 5, 8, 9 oder 15 Objektiven.The spectrometer system 1 further comprises a detection unit 21 with a lens holder 23 and a plurality of lenses 25A, 25B, 25C, which are held by the lens holder 23. As an example, three lenses are shown in the figures, two in the image plane and one behind it. The concepts disclosed herein are implemented with more than one lens in the lens mount 23. The number of lenses used can be selected depending on spatial and optical parameters as well as parameters of the material of the sample to be examined; it lies e.g. B. in the range from 2 to 20, for example with 4, 5, 8, 9 or 15 lenses.

Das Spektrometersystem 1, insbesondere die Detektionseinheit 21, umfasst ferner ein optisches Lichtleitsystem 27, das die Objektive 25A, 25B, 25C mit dem Spektrometer 13 optisch verbindet. Das Lichtleitsystem 27 stellt mehrere optische Eingänge 29, die jeweils optisch einem der Objektive 25A, 25B, 25C zugeordnet sind, und einen (den Objektiven gemeinsamen, funktionellen) optischen Ausgang 31, der optisch der Eintrittsapertur 19 zugeordnet ist, bereit.The spectrometer system 1, in particular the detection unit 21, further comprises an optical light guide system 27, which optically connects the lenses 25A, 25B, 25C with the spectrometer 13. The light guide system 27 provides a plurality of optical inputs 29, each of which is optically assigned to one of the lenses 25A, 25B, 25C, and an optical output 31 (functional, common to the lenses), which is optically assigned to the entrance aperture 19.

Jedes der Objektive 25A, 25B, 25C ist zum Erfassen eines Messanteils 33 des Plasmalichts 3A eingerichtet und umfasst mindestens ein fokussierendes optisches Element (wie eine üblicherweise in einem lichtdichten Gehäuse angeordnete Sammellinse oder einen konkaven Spiegel). Jedem der Objektive 25A, 25B, 25C ist ein Detektionskegel 35 zugeordnet. Die Strahlachse 5A verläuft durch die Detektionskegel 35, wobei die Detektionskegel 35 im Bereich des Laserstrahls 5 eine eingestellte Mindestgröße aufweisen. Jeder der Detektionskegel 35 umfasst in einem Überlappungsbereich mit dem Laserstrahl 5 einen Plasmadetektionsbereich 39, der dem entsprechenden Objektiv 25A, 25B, 25C zugeordnet ist. Beispielsweise weisen die Detektionskegel 35 eine Länge von einer Eintrittsapertur eines Objektivs zum Laserstrahl im Bereich von 100 mm bis 500 mm auf. Beispielhaft wird in 1 das Plasma 3 im Plasmadetektionsbereich 39 des Objektivs 25B erzeugt, sodass der zugehörige Messanteil 33 des Plasmalichts 3A vom Objektiv 25B erfasst und auf den zugeordneten optischen Eingang 29 des Lichtleitsystems 27 abgebildet wird. Von einem oder mehreren Objektiven erfasste Messanteile 33 werden vom optischen Lichtleitsystem 27 zum gemeinsamen optischen Ausgang 31 geleitet und durch die Eintrittsapertur 19 in das optische Spektrometer 13 zur spektralen Analyse eingekoppelt.Each of the lenses 25A, 25B, 25C is designed to capture a measurement portion 33 of the plasma light 3A and includes at least one focusing optical element (such as a converging lens usually arranged in a light-tight housing or a concave mirror). A detection cone 35 is assigned to each of the lenses 25A, 25B, 25C. The beam axis 5A runs through the detection cones 35, the detection cones 35 having a set minimum size in the area of the laser beam 5. Each of the detection cones 35 includes a plasma detection area 39 in an overlap area with the laser beam 5, which is assigned to the corresponding objective 25A, 25B, 25C. For example, the detection cones 35 have a length from an entrance aperture of an objective to the laser beam in the range of 100 mm to 500 mm. An example is given in 1 the plasma 3 is generated in the plasma detection area 39 of the lens 25B, so that the associated measurement component 33 of the plasma light 3A is detected by the lens 25B and imaged onto the associated optical input 29 of the light guide system 27. Measurement components 33 detected by one or more lenses are guided by the optical light guide system 27 to the common optical output 31 and coupled through the entrance aperture 19 into the optical spectrometer 13 for spectral analysis.

1 zeigt beispielhaft drei Objektive 25A, 25B, 25C, die (azimutal verteilt) um die Strahlachse 5A angeordnet sind. Die Objektive 25A und 25B liegen auf gegenüberliegenden Seiten der Strahlachse 5A und sind somit von gegenüberliegenden Seiten auf die Strahlachse 5A gerichtet. Das Objektiv 25C ist von hinten auf die Strahlachse 5A gerichtet. Ein weiteres Objektiv (in 1 nicht gezeigt) kann beispielsweise von vorne auf die Strahlachse 5A gerichtet sein oder mithilfe eines Strahlteilers entlang der Strahlachse 5A auf die Fokuszone 11A gerichtet sein. Zur Verdeutlichung sind in 1 die Detektionskegel 35 konisch auf die Strahlachse 5A zulaufend gestrichelt angedeutet, wobei die Fokuszone 11A, das Plasma 3 und die Plasmadetektionsbereiche 39 zur Verdeutlichung im Vergleich zu den Detektionskegeln 35 übergroß dargestellt sind. 1 shows an example of three lenses 25A, 25B, 25C, which are arranged (azimuthally distributed) around the beam axis 5A. The lenses 25A and 25B lie on opposite sides of the beam axis 5A and are thus directed onto the beam axis 5A from opposite sides. The lens 25C is directed from behind onto the beam axis 5A. Another lens (in 1 not shown) can, for example, be directed from the front onto the beam axis 5A or directed along the beam axis 5A onto the focus zone 11A using a beam splitter be. For clarification are in 1 the detection cones 35 are indicated by dashed lines tapering conically towards the beam axis 5A, with the focus zone 11A, the plasma 3 and the plasma detection areas 39 being shown oversized compared to the detection cones 35 for clarity.

2 zeigt eine Halterungsplatte 23A der Detektionseinheit 21 des LIBS-Systems zur Verdeutlichung der Anordnung und Ausrichtung der Objektive 25A, 25B, 25C. Zur ortsfesten Montage der Objektive weist die Halterungsplatte 23A Objektivhalterungsöffnungen zur Aufnahme der Objektive 25A, 25B, 25C auf. Die Objektivhalterungsöffnungen sind jeweils in einem radialen Abstand zur Strahlachse 5A angeordnet und für eine schräge Ausrichtung der Objektive 25A, 25B, 25C auf die Strahlachse 5A ausgebildet. Zur Verdeutlichung der schrägen Ausrichtung sind Beobachtungsachsen 35A der Objektive 25A, 25B, 25C dargestellt. Im gezeigten Beispiel verlaufen die Beobachtungsachsen 35A unter einem Beobachtungswinkel α zur Strahlachse 5A. 2 shows a mounting plate 23A of the detection unit 21 of the LIBS system to illustrate the arrangement and orientation of the lenses 25A, 25B, 25C. For stationary mounting of the lenses, the mounting plate 23A has lens mounting openings for receiving the lenses 25A, 25B, 25C. The lens holder openings are each arranged at a radial distance from the beam axis 5A and are designed for an oblique alignment of the lenses 25A, 25B, 25C to the beam axis 5A. To illustrate the oblique alignment, observation axes 35A of the lenses 25A, 25B, 25C are shown. In the example shown, the observation axes 35A run at an observation angle α to the beam axis 5A.

Zur Verwirklichung des multifokalen Konzepts sind die Objektive 25A, 25B, 25C derart in der Halterungsplatte 23A befestigt (allgemein in der Halterung 23 angeordnet und ausgerichtet), dass die Plasmadetektionsbereiche 39 entlang der Strahlachse 5A versetzt angeordnet sind. Insbesondere bei vergleichbaren Beobachtungswinkeln α kann der Versatz in Richtung der Strahlachse 5A durch Variation des radialen Abstands der Objektive 25A, 25B, 25C von der Strahlachse 5A (optional mit variierendem Einschub) erreicht werden. Beispielhaft sind unterschiedliche radiale Abstände R1 und R2 für die Objektive 25A und 25B in 2 angedeutet. Alternativ kann (optional bei einem vergleichbaren radialen Abstand) der Beobachtungswinkel zumindest einiger der Objektive an den gewünschten Versatz der Plasmadetektionsbereiche 39 in Richtung der Strahlachse 5A angepasst werden (siehe z. B. 5B). Mischformen in der Konfiguration sind ebenfalls möglich.To implement the multifocal concept, the lenses 25A, 25B, 25C are mounted in the mount plate 23A (generally located and aligned in the mount 23) such that the plasma detection areas 39 are offset along the beam axis 5A. In particular, with comparable observation angles α, the offset in the direction of the beam axis 5A can be achieved by varying the radial distance of the lenses 25A, 25B, 25C from the beam axis 5A (optionally with varying insertion). Examples include different radial distances R1 and R2 for the lenses 25A and 25B in 2 indicated. Alternatively (optionally with a comparable radial distance) the observation angle of at least some of the lenses can be adjusted to the desired offset of the plasma detection areas 39 in the direction of the beam axis 5A (see, for example, 5B) . Mixed configurations are also possible.

Allgemein kann der Beobachtungswinkel α im Bereich von 0° (über Strahlteiler entlang des Laserstrahls) bis 90° (Beobachtung orthogonal zum Laserstrahl) liegen. Die im Rahmen der Offenbarung beispielhaft gezeigten Beobachtungswinkel α liegen im Bereich von 3° bis 60°, beispielsweise im Bereich von 5° bis 25°. Die Beobachtungsachsen 35A benachbarter Objektive 25A, 25B, 25C laufen von verschiedenen azimutalen Richtungen her auf die Strahlachse 5A zu (azimutaler Winkel in der Ebene senkrecht zur Strahlachse 5A). Im in 2 gezeigten Fall sind die Beobachtungswinkel α für alle Objektive vergleichbar und weichen nicht mehr als z. B. 5° oder 1° voneinander ab (Abweichung gegeben z. B. durch erlaubte Fertigungstoleranzen der Objektivhalterungsöffnungen und Objektive). Jedoch variieren in der Anordnung der 2 die radialen Abstände zur Strahlachse 5A. Entsprechend können vergleichbare Spektren von den Plasmadetektionsbereichen 39 der verschiedenen Objektive für eine Probe bei verschiedenen Lagen der Oberfläche der Probe entlang der Strahlachse 5A (entsprechend unterschiedlichen Messkonstellationen im Rahmen eines Messvorgangs) aufgenommen werden, zum Beispiel vom Objektiv 25B bei einem Oberflächenverlauf gemäß der durchgezogenen Linie (Oberfläche 7A der Probe 7 aus 1) oder vom Objektiv 25A im Fall eines Oberflächenverlaufs gemäß der strichpunktierten Linie 7A' oder vom Objektiv 25C im Fall eines Oberflächenverlaufs gemäß der gestrichelten Linie 7A''.In general, the observation angle α can be in the range from 0° (via beam splitters along the laser beam) to 90° (observation orthogonal to the laser beam). The observation angles α shown as examples within the scope of the disclosure are in the range from 3° to 60°, for example in the range from 5° to 25°. The observation axes 35A of adjacent lenses 25A, 25B, 25C approach the beam axis 5A from different azimuthal directions (azimuthal angle in the plane perpendicular to the beam axis 5A). Im in 2 In the case shown, the observation angles α are comparable for all lenses and do not differ more than e.g. B. 5° or 1° from each other (deviation given, for example, by permitted manufacturing tolerances of the lens holder openings and lenses). However, the arrangement varies 2 the radial distances to the beam axis 5A. Accordingly, comparable spectra can be recorded from the plasma detection areas 39 of the different objectives for a sample at different positions of the surface of the sample along the beam axis 5A (corresponding to different measurement constellations within the scope of a measurement process), for example from the objective 25B with a surface course according to the solid line ( Surface 7A of sample 7 1 ) or from the lens 25A in the case of a surface gradient according to the dash-dotted line 7A' or from the lens 25C in the case of a surface gradient according to the dashed line 7A''.

Wie in 2 angedeutet bilden die Plasmadetektionsbereiche 39 zusammen einen Sichtbereich 41 der Detektionseinheit 21 aus. Der Sichtbereich 41 erstreckt sich entlang der Strahlachse 5A im Bereich der Fokuszone 11A.As in 2 indicated, the plasma detection areas 39 together form a viewing area 41 of the detection unit 21. The viewing area 41 extends along the beam axis 5A in the area of the focus zone 11A.

Jedem der Plasmadetektionsbereiche 39 wird eine Messtiefe entlang der Strahlachse 5A zugeordnet. Die Messtiefe entspricht in 2 z. B. einem Durchmesser der Kreise, die die Plasmadetektionsbereiche 39 verdeutlichen. Für ein Objektiv ist die Messtiefe ein spezifisches Merkmal, das gegeben ist durch optische Parameter wie Fokuslänge und Apertur des Objektivs sowie durch die Anordnung und Ausrichtung des Objektivs (z. B. geometrische Lageparameter des Objektivs bezüglich der Strahlachse 5A - Abstand und Winkel). Beispielsweise können sich die Plasmadetektionsbereiche 39 entlang der Strahlachse 5A jeweils über eine Messtiefe von ca. 0,1 mm bis ca. 15 mm, insbesondere über eine Messtiefe von ca. 0,5 mm bis ca. 10 mm oder von ca. 0,5 mm bis ca. 5 mm. In einigen Ausführungsformen können sich die Plasmadetektionsbereiche 39 entlang der Strahlachse 5A über 1/10 bis 1/4 des Sichtbereichs 41 erstrecken. In 2 sind die beim multifokalen Konzept versetzt angeordneten Plasmadetektionsbereiche 39 entlang der Strahlachse 5A beispielhaft in einem Abstand D in der Größenordnung der Messtiefe (hier ca. dem Doppelten des Durchmessers der Plasmadetektionsbereiche 39) beabstandet angeordnet. Alternativ können die Plasmadetektionsbereiche 39 aneinander angrenzen oder sich teilweise (beispielsweise im Bereich von 10 % der Messtiefe) überlappen. Auf diese Weise können die Objektive Plasmalicht aus unterschiedlichen Abschnitten des Sichtbereichs 41 entlang der Strahlachse 5A detektieren. (Im Unterschied hierzu decken Plasmadetektionsbereiche beim multilateralen Konzept im Wesentlichen den gleichen Abschnitt entlang der Strahlachse 5A ab, sodass die Objektive Plasmalicht aus diesem gleichen Abschnitt detektieren. Siehe hierzu beispielsweise 11B mit zugehöriger Beschreibung.)Each of the plasma detection areas 39 is assigned a measurement depth along the beam axis 5A. The measuring depth corresponds to: 2 e.g . B. a diameter of the circles that illustrate the plasma detection areas 39. For a lens, the measurement depth is a specific characteristic that is given by optical parameters such as focus length and aperture of the lens as well as by the arrangement and orientation of the lens (e.g. geometric position parameters of the lens with respect to the beam axis 5A - distance and angle). For example, the plasma detection areas 39 can each extend along the beam axis 5A over a measuring depth of approximately 0.1 mm to approximately 15 mm, in particular over a measuring depth of approximately 0.5 mm to approximately 10 mm or approximately 0.5 mm to approx. 5 mm. In some embodiments, the plasma detection areas 39 may extend along the beam axis 5A over 1/10 to 1/4 of the viewing area 41. In 2 In the multifocal concept, the offset plasma detection areas 39 are arranged along the beam axis 5A, for example, at a distance D in the order of magnitude of the measuring depth (here approximately twice the diameter of the plasma detection areas 39). Alternatively, the plasma detection areas 39 can adjoin one another or partially overlap (for example in the range of 10% of the measuring depth). In this way, the lenses can detect plasma light from different sections of the viewing area 41 along the beam axis 5A. (In contrast, in the multilateral concept, plasma detection areas essentially cover the same section along the beam axis 5A, so that the lenses detect plasma light from this same section. See for example 11B with associated description.)

Ferner erkennt man in 2 ein optionales Schutzfenster 43A, das im Bereich einer optischen Durchgangsöffnung 43 in der Halterungsplatte 23A vorgesehen werden kann, um den Laserstrahl durch die Halterung 23 und an den Objektiven 25A, 25B, 25C vorbei auf die Probe 7 richten zu können.Furthermore, you can see in 2 an optional protective window 43A, which can be provided in the area of an optical through opening 43 in the holder plate 23A in order to be able to direct the laser beam through the holder 23 and past the lenses 25A, 25B, 25C onto the sample 7.

3 zeigt eine perspektivische Ansicht eines beispielhaften LIBS-Messkopfs 51, der über eine Lichtleitfaser 9A mit einer Laserstrahlquelle verbunden ist. Die Halterung 23 des LIBS-Messkopfs 51 umfasst eine Längsträgerplatte 23B, an der eingangsseitig eine Befestigung für die Lichtleitfaser 9A und die Fokussieroptik 11 (Laserkopf mit Strahlformung) vorgesehen ist. An der Längsträgerplatte 23B ist ferner das optische Spektrometer 13 befestigt sowie die Halterungsplatte 23A für die vier Objektive 25A, 25B, 25C, 25D (allgemein eine n>1-fache Eintrittsoptik) vorgesehen. Die Objektive 25A, 25B, 25C, 25D sind dazu eingerichtet, von Plasmadetektionsbereichen 39, die entlang der Strahlachse 5A versetzt zueinander angeordnet sind, Messanteile von Plasmalicht zu erfassen und über das Lichtleitsystem 27 (beispielsweise ein Faserbündel mit n> 1 Eingängen und einem funktionellen Ausgang - „n-auf-1-Faserbündel“) dem Spektrometer 13 zur spektralen Analyse zuzuführen. Beispielhaft sind in 3 zwei Lichtleitfasern 45 des Lichtleitsystems 27 dargestellt, die die Objektive 25B und 25C mit dem gemeinsamen Spektrometer 13 optisch verbinden. Mit dem Lichtleitsystem 27 können die Messanteile im Spektrometer 13 (oder optional vor Einkopplung in das Spektrometer 13) für einen Messvorgang kombiniert werden. 3 shows a perspective view of an exemplary LIBS measuring head 51, which is connected to a laser beam source via an optical fiber 9A. The holder 23 of the LIBS measuring head 51 comprises a longitudinal support plate 23B, on the input side of which an attachment for the optical fiber 9A and the focusing optics 11 (laser head with beam shaping) is provided. The optical spectrometer 13 is also attached to the longitudinal support plate 23B and the mounting plate 23A for the four lenses 25A, 25B, 25C, 25D (generally n>1-fold entrance optics) is provided. The lenses 25A, 25B, 25C, 25D are set up to detect measurement components of plasma light from plasma detection areas 39, which are arranged offset from one another along the beam axis 5A, and via the light guide system 27 (for example a fiber bundle with n>1 inputs and a functional output - “n-on-1 fiber bundle”) to the spectrometer 13 for spectral analysis. Examples are in 3 two optical fibers 45 of the light guiding system 27 are shown, which optically connect the lenses 25B and 25C to the common spectrometer 13. With the light guide system 27, the measurement components in the spectrometer 13 (or optionally before coupling into the spectrometer 13) can be combined for a measurement process.

Die n-fache Betrachtung des Sichtbereichs mit mehreren (in 3 vier) Objektiven erlaubt eine deutliche Vergrößerung der Tiefenschärfe, gegeben durch die Aneinanderreihung der Plasmadetektionsbereiche der Objektive. Dadurch wird es möglich, auch in der Oberfläche strukturierte, ungleichmäßige Proben effizient zu analysieren. Ferner findet eine Betrachtung der Probe aus unterschiedlichen Winkeln statt, wodurch Abschattungseffekte reduziert werden können. Die erfassten Messanteile werden an einem gemeinsamen Ausgang des Lichtleitsystems zusammengeführt (Summe aller Beobachtungen) und einer gemeinsamen spektralen Analyse zugeführt.The n-fold observation of the field of view with several (in 3 four) lenses allow a significant increase in depth of field, given by the arrangement of the plasma detection areas of the lenses. This makes it possible to efficiently analyze samples that are structured and uneven on the surface. Furthermore, the sample is viewed from different angles, which can reduce shadowing effects. The recorded measurement components are brought together at a common output of the light guide system (sum of all observations) and fed to a common spectral analysis.

Ein n-auf-1-Faserbündel erlaubt eine Einspeisung mehrerer Objektive in ein Spektrometer, wobei mehrere n-auf-1-Bündel für die Einspeisung in mehrere Spektrometer verwendet werden können.An n-to-1 fiber bundle allows multiple lenses to be fed into one spectrometer, where multiple n-to-1 bundles can be used to feed multiple spectrometers.

Die beispielhafte Implementierung des multifokalen Konzepts in der in 2 gezeigten Detektionseinheit wird anhand der 4A und 4B weiter verdeutlicht. 4A zeigt eine Aufsicht auf die Halterungsplatte 23A. Die optische Durchgangsöffnung 43 im Zentrum ermöglicht den Durchtritt des Laserstrahls (Laserstrahlachse 5A). Vier Objektivhalterungsöffnungen 53A, 53B, 53C, 53D sind azimutal um die Durchgangsöffnung 43 mit variierenden radialen Abständen zur Strahlachse 5A angeordnet. Sie sind azimutal gleich verteilt, sodass sich je zwei Objektivhalterungsöffnungen paarweise gegenüber liegen. In der perspektivischen Ansicht der 4B sind vier identische Objektive 25A, 25B, 25C, 25D in die Objektivhalterungsöffnungen 53A, 53B, 53C, 53D eingesetzt. Die Objektive 25A, 25B, 25C, 25D wurden unterschiedlich weit in die Objektivhalterungsöffnungen 53A, 53B, 53C, 53D eingeführt, sodass je nach radialem Abstand die zugehörigen Plasmadetektionsbereiche 39 nebeneinander in Richtung der Strahlachse angeordnet sind und so den durch die Tiefenschärfe gegebenen Sichtbereich 41 der Detektionseinheit 21 ausbilden.The exemplary implementation of the multifocal concept in the in 2 The detection unit shown is based on the 4A and 4B further clarified. 4A shows a top view of the mounting plate 23A. The optical passage opening 43 in the center allows the laser beam to pass through (laser beam axis 5A). Four lens mounting openings 53A, 53B, 53C, 53D are arranged azimuthally around the through opening 43 with varying radial distances from the beam axis 5A. They are equally distributed azimuthally, so that two lens holder openings are opposite each other in pairs. In the perspective view of the 4B Four identical lenses 25A, 25B, 25C, 25D are inserted into the lens mounting holes 53A, 53B, 53C, 53D. The lenses 25A, 25B, 25C, 25D were inserted at different distances into the lens holder openings 53A, 53B, 53C, 53D, so that depending on the radial distance, the associated plasma detection areas 39 are arranged next to each other in the direction of the beam axis and thus the viewing area 41 given by the depth of field Form detection unit 21.

Eine alternative Implementierung des multifokalen Konzepts wird in den 5A und 5B verdeutlicht. In der Aufsicht auf die Halterungsplatte 23A erkennt man vier Objektivhalterungsöffnungen 55A, 55B, 55C, 55D, die symmetrisch im gleichen radialen Abstand zur Durchgangsöffnung 43 und um diese beispielhaft gleich verteilt angeordnet sind. Wie in der perspektivischen Ansicht der 5B angedeutet ist, wird der Versatz der Plasmadetektionsbereiche 39 in Richtung der Strahlachse 5A durch unterschiedliche Beobachtungswinkel der eingesetzten Objektive 25A, 25B, 25C, 25D bewirkt. Beispielsweise können die Beobachtungswinkel bei einem radialen Abstand von 30 mm im Bereich von 3° bis 15° liegen, sodass sich der Sichtbereich 41 in einem Abstand von ca. 100 mm von der Halterungsplatte 23A ausbildet. Bei unterschiedlichen Beobachtungswinkel (und optional Betrachtungshöhen) können bei einem großvolumigen Plasma die detektierten spektralen Verteilungen variieren. Insbesondere jedoch bei einem kleinvolumigen Plasma, wie es meist für die LIBS erzeugt wird, sind diese Unterschiede in der spektralen Verteilung vernachlässigbar, da im Wesentlichen das gesamte Plasma in einem Plasmadetektionsbereich 39 liegt.An alternative implementation of the multifocal concept is presented in the 5A and 5B clarified. In the top view of the mounting plate 23A, four lens mounting openings 55A, 55B, 55C, 55D can be seen, which are arranged symmetrically at the same radial distance from the through opening 43 and, for example, evenly distributed around it. As in the perspective view of the 5B is indicated, the offset of the plasma detection areas 39 in the direction of the beam axis 5A is caused by different observation angles of the lenses 25A, 25B, 25C, 25D used. For example, the observation angles can be in the range of 3° to 15° at a radial distance of 30 mm, so that the viewing area 41 is formed at a distance of approximately 100 mm from the mounting plate 23A. With different observation angles (and optionally viewing heights) the detected spectral distributions can vary in a large-volume plasma. However, particularly in the case of a small-volume plasma, as is usually generated for LIBS, these differences in the spectral distribution are negligible, since essentially the entire plasma lies in a plasma detection area 39.

Eine beispielhafte Implementierung des multilateralen Konzepts wird in den 6A und 6B verdeutlicht. In der Aufsicht der 6A auf eine beispielhafte Halterungsplatte 23A` einer Objektivhalterung 23' erkennt man, ähnlich wie in 5A, vier Objektivhalterungsöffnungen 57A', 57B', 57C', 57D', die in der Halterungsplatte 23A' vorgesehen sind. Die Objektivhalterungsöffnungen 57A', 57B', 57C', 57D' sind symmetrisch im gleichen radialen Abstand zur Durchgangsöffnung 43 angeordnet. Im Fall der 6A sind sie beispielhaft gleichverteilt angeordnet, d. h., sie liegen sich paarweise gegenüber. Die Objektivhaltung stellt ferner eine optische Durchgangsöffnung 43 bereit, durch die die Strahlachse 5A verläuft. Insbesondere wurde eine Lage der Strahlachse 5A mittig in der optischen Durchgangsöffnung 43 gelegt.An exemplary implementation of the multilateral concept is presented in the 6A and 6B clarified. Under the supervision of 6A An exemplary mounting plate 23A' of a lens mount 23' can be seen, similar to in 5A , four lens mount holes 57A', 57B', 57C', 57D' provided in the mount plate 23A'. The lens holder openings 57A ', 57B', 57C', 57D' are arranged symmetrically at the same radial distance from the through opening 43. In the case of 6A For example, they are arranged evenly distributed, that is, they lie opposite each other in pairs. The lens holder also provides an optical passage opening 43 through which the beam axis 5A runs. In particular, one location was... Beam axis 5A is placed centrally in the optical passage opening 43.

Wie in 6B gezeigt, werden Objektive 25A', 25B', 25C', 25D' in den Objektivhalterungsöffnungen 57A', 57B', 57C', 57D' der Objektivhalterung 23' gehalten. Im Unterschied zur Ausrichtung der Objektive 25A, 25B, 25C, 25D in 5B sind im Rahmen des multilateralen Konzepts die Objektive 25A', 25B', 25C', 25D' unter einem im Wesentlichen identischen Beobachtungswinkel auf die Strahlachse gerichtet, sodass sie einen gemeinsamen Plasmadetektionsbereich 59 ausbilden. Jedem der Objektive 25A', 25B', 25C', 25D' ist ein Detektionskegel 35' zugeordnet, wobei die Objektive 25A', 25B', 25C', 25D' derart in der Objektivhalterung angeordnet und ausgerichtet sind, dass die Detektionskegel 35' in einem Überlappungsbereich mit dem Laserstrahl einen gemeinsamen Plasmadetektionsbereich 59 ausbilden. D. h., im Fall eines im Plasmadetektionsbereich 59 vorliegenden Plasmas ist von jedem der vier Objektive 25A', 25B', 25C', 25D` ein Messanteil des Plasmalichts erfassbar, wobei die Detektionskegel 35' in unterschiedliche Raumwinkel emittierte Messanteile des Plasmalichts des Plasmas erfassen. Jeder der Detektionskegel 35` erstreckt sich entlang einer Beobachtungsachse 35A`, die unter einem Beobachtungswinkel im Bereich bis 90° (Beobachtung orthogonal zum Laserstrahl) zur Strahlachse 5A verläuft. Die im Rahmen der Offenbarung beispielhaft gezeigten Beobachtungswinkel liegen im Bereich von 1° bis 60°. Die Beobachtungswinkel sind im Wesentlichen gleich (innerhalb beispielsweise 1° oder 2° z. B. fertigungsbedingter Toleranz) oder können voneinander abweichen, beispielsweise um aus unterschiedlichen Richtungen zu beobachten (Beobachtungswinkelunterschiede bis zu 90° beispielsweise bis zu 45°).As in 6B shown, lenses 25A', 25B', 25C', 25D' are held in the lens mount holes 57A', 57B', 57C', 57D' of the lens mount 23'. In contrast to the orientation of the lenses 25A, 25B, 25C, 25D in 5B As part of the multilateral concept, the lenses 25A', 25B', 25C', 25D' are directed at the beam axis at a substantially identical observation angle, so that they form a common plasma detection area 59. Each of the lenses 25A', 25B', 25C', 25D' is assigned a detection cone 35', the lenses 25A', 25B', 25C', 25D' being arranged and aligned in the lens holder in such a way that the detection cones 35' are in form a common plasma detection area 59 in an overlap area with the laser beam. That is, in the case of a plasma present in the plasma detection area 59, a measurement portion of the plasma light can be detected by each of the four lenses 25A', 25B', 25C', 25D', with the detection cones 35' measuring portions of the plasma light of the plasma emitted in different solid angles capture. Each of the detection cones 35' extends along an observation axis 35A', which runs at an observation angle in the range of up to 90° (observation orthogonal to the laser beam) to the beam axis 5A. The observation angles shown as examples within the scope of the disclosure are in the range from 1° to 60°. The observation angles are essentially the same (within, for example, 1° or 2°, for example production-related tolerance) or can differ from one another, for example in order to observe from different directions (observation angle differences up to 90°, for example up to 45°).

Man erkennt in 6B, dass die Beobachtungsachsen 35A' benachbarter Objektive 25A', 25B', 25C', 25D' azimutal beabstandet um die Strahlachse angeordnet sind. So liegen die die Beobachtungsachsen 35A' der Objektive 25A', 25B', 25C', 25D' beispielsweise auf einer Kegeloberfläche.You recognize in 6B that the observation axes 35A' of adjacent lenses 25A', 25B', 25C', 25D' are arranged azimuthally spaced around the beam axis. For example, the observation axes 35A' of the lenses 25A', 25B', 25C', 25D' lie on a conical surface.

Weitere Erläuterungen zum multilateralen Konzept folgen in Zusammenhang mit den 11A bis 12B.Further explanations of the multilateral concept follow in connection with the 11A until 12B .

In den hierin vorgeschlagenen Spektrometersystemen zur multifokalen und/oder multilateralen Beobachtung wird allgemein ein Lichtleitsystem verwendet, um Messanteile des erfassten Plasmalichts von der Detektionseinheit zum optischen Spektrometer zu führen. Neben dem nachfolgend in Zusammenhang mit den 7A bis 7E sowie 8A bis 8C erläuterten, auf mehreren Lichtleitfasern basierenden Lichtleitsystemen können die Messanteile ferner beispielsweise über ein Freistrahl-System unter Einsatz von zum Beispiel Spiegeln und Linsen von den Objektiven zur Eingangsapertur des optischen Spektrometers geführt werden. Alternativ können Lichtleitsysteme zum Beispiel auf mehreren Lichtleitfasern basieren, die ausgangsseitig zu einer Faser zusammengeführt werden.In the spectrometer systems proposed here for multifocal and/or multilateral observation, a light guide system is generally used to guide measurement components of the detected plasma light from the detection unit to the optical spectrometer. In addition to the following in connection with the 7A until 7E and 8A to 8C explained light guide systems based on several optical fibers, the measurement components can also be guided from the lenses to the input aperture of the optical spectrometer via a free beam system using, for example, mirrors and lenses. Alternatively, light guide systems can be based, for example, on several optical fibers, which are combined into one fiber on the output side.

Die schematischen Skizzen der 7A bis 7E verdeutlichen ein beispielhaftes Lichtleitsystem 27 mit mehreren Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D, die dazu ausgebildet sind, in lichtführenden Bereichen die Messanteile des erfassten Plasmalichts zum optischen Spektrometer zu führen. Beispielhafte Lichtleitfasern sind auf die zu führenden Spektralbereiche (UV, VIS, IR, NIR) angepasst und können beispielsweise folgende Arten von Lichtleitfasern umfassen: Stufenindexfasern, Gradientenindexfasern, Hohlkernfasern, Photonic-crystal-Fasern sowie single-Mode-Fasern oder multi-Mode-Fasern. Durchmesser der lichtführenden Bereiche liegen z. B. im Bereich von 100 µm bis 1.000 µm, insbesondere im Bereich um 800 µm. Zugeordnete Lichteintrittsflächen/ Lichtaustrittsflächen haben vergleichbare Ausmaße. Ferner sind Variationen im Durchmesser eines lichtführenden Bereichs zwischen Lichteintrittsfläche und Lichtaustrittsfläche möglich, wie nachfolgend an einem Beispiel erläutert wird.The schematic sketches of the 7A until 7E illustrate an exemplary light-guiding system 27 with several optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D, which are designed to guide the measurement components of the detected plasma light to the optical spectrometer in light-guiding areas. Exemplary optical fibers are adapted to the spectral ranges to be carried (UV, VIS, IR, NIR) and can include, for example, the following types of optical fibers: step index fibers, gradient index fibers, hollow core fibers, photonic crystal fibers as well as single-mode fibers or multi-mode fibers . Diameters of the light-guiding areas are z. B. in the range from 100 µm to 1,000 µm, especially in the range around 800 µm. Assigned light entry surfaces/light exit surfaces have comparable dimensions. Furthermore, variations in the diameter of a light-guiding area between the light entry surface and the light exit surface are possible, as will be explained below using an example.

Jede der Lichtleitfasern ist eingangsseitig in einem optischen Eingangsstecker 61A, beispielsweise in einem SMA-Stecker, fixiert (7B und 7C). Die lichtführenden Bereiche der Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D weisen eingangsseitig jeweils eine Lichteintrittsfläche 63 auf. Beispielhaft ist in 7C in einer Frontansicht des Eingangssteckers 61A die Lichteintrittsfläche 63 zentriert in einer rotationssymmetrischen Ferrule 64 angedeutet. Jede der Lichteintrittsflächen 63 bildet einen der optischen Eingänge 29 des Lichtleitsystems 27. Der Eingangsstecker 61A kann an einem der Objektive der Detektionseinheit derart montiert werden, dass einer der Messanteile in den lichtführenden Bereich eingekoppelt wird. Dazu wird die Lichteintrittsfläche 63 so positioniert, dass ein Objektiv, das aus dem Plasmadetektionsbereich in Richtung des Objektivs emittiertes (d. h., sich im Detektionskegel ausbreitendes) Plasmalicht erfasst, dieses auf die Lichteintrittsfläche 63 abbildet, so dass es von der Lichtleitfaser weitergeleitet werden kann.Each of the optical fibers is fixed on the input side in an optical input connector 61A, for example in an SMA connector ( 7B and 7C ). The light-guiding areas of the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D each have a light entry surface 63 on the input side. An example is in 7C In a front view of the input plug 61A, the light entry surface 63 is indicated centered in a rotationally symmetrical ferrule 64. Each of the light entry surfaces 63 forms one of the optical inputs 29 of the light guide system 27. The input plug 61A can be mounted on one of the lenses of the detection unit in such a way that one of the measurement components is coupled into the light-guiding area. For this purpose, the light entry surface 63 is positioned so that a lens, which detects plasma light emitted from the plasma detection area in the direction of the lens (ie, propagating in the detection cone), images this onto the light entry surface 63 so that it can be passed on by the optical fiber.

Wie in 7A gezeigt können die Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D ausgangsseitig zu einem Faserbündelabschnitt 65 zusammengefasst werden.As in 7A shown, the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D can be combined on the output side to form a fiber bundle section 65.

Ausgangsseitig werden die Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D, die im multifokalen Konzept sowie im multilateralen Konzept jeweils einem Objektiv zugeordnet werden, in einem (gemeinsamen) Ausgangsstecker 61B gefasst (7D und 7E). Die lichtführenden Bereiche der Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D weisen ausgangsseitig jeweils eine Lichtaustrittsfläche 67A, 67B, 67C, 67D auf. Die Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D bilden den optischen (funktionellen) Ausgang 31 des Lichtleitsystems 27. Wie in 7E gezeigt, werden die Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D im Ausgangsstecker 61B weitgehend parallel zu einander verlaufend in einer Ferrule 69 gefasst. Beispielsweise werden in der Ferrule 69 Faseraufnahmeöffnungen vorgesehen, die parallel zueinander verlaufen und an den Außendurchmesser der Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D angepasst sind. Vorzugsweise werden die Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D derart angeordnet, dass die Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D aneinander angrenzend oder mit einem Zwischenabstand von wenigen Prozent, z. B. 10 %, 20 %, 30 % oder 100 %, eines Durchmessers der Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D, in der Ferrule 69 fixiert sind. Wie in der Frontansicht des Ausgangssteckers 61B in 7E gezeigt wird, können die Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D beispielsweise nebeneinander (linear) aufgereiht angeordnet werden, um den optischen Ausgang 31 geometrisch für eine effiziente Einkopplung an eine spaltförmige Eintrittsapertur des optischen Spektrometers anzupassen.On the output side, the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D, which are each assigned to a lens in the multifocal concept and in the multilateral concept, are held in a (common) output plug 61B ( 7D and 7E) . The light-guiding areas of the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D each have a light exit surface 67A, 67B, 67C, 67D on the output side. The light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D form the optical (functional) output 31 of the light guide system 27. As in 7E shown, the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D in the output plug 61B are held in a ferrule 69, running largely parallel to one another. For example, fiber receiving openings are provided in the ferrule 69, which run parallel to one another and are adapted to the outer diameter of the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D. Preferably, the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D are arranged such that the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D are adjacent to one another or with a spacing of a few percent, e.g. B. 10%, 20%, 30% or 100%, a diameter of the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D, are fixed in the ferrule 69. As in the front view of the output connector 61B in 7E is shown, the light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D can, for example, be arranged next to each other (linearly) in order to geometrically adapt the optical output 31 for efficient coupling to a slit-shaped entrance aperture of the optical spectrometer.

Die 8A bis 8C zeigen, wie der Ausgangsstecker 61B für eine effiziente Lichteinkopplung der Messanteile am optischen Spektrometer 13 montiert werden kann. Beispielhaft sind wie in 7E die Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D linear aufgereiht und entlang einer in Y-Richtung verlaufenden Eintrittsspaltöffnung 71 ausgerichtet. Entsprechend ist eine Position der Einkopplung in X-Richtung durch eine Breite der Eintrittsspaltöffnung 71 gegeben. Die Position der Einkopplung in Y-Richtung wird durch die in Y-Richtung übereinander liegenden Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D gegeben. Je näher die Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D beieinander liegen, desto mehr überlappen sich die optischen Wege der Messanteile im optischen Spektrometer und führen zu gleichlokalisierten Signalbeiträgen auf dem Detektor.The 8A until 8C show how the output plug 61B can be mounted on the optical spectrometer 13 for efficient light coupling of the measurement components. Examples are as in 7E the light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D are lined up linearly and aligned along an entry gap opening 71 running in the Y direction. Correspondingly, a position of the coupling in the X direction is given by a width of the inlet gap opening 71. The position of the coupling in the Y direction is given by the light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D lying one above the other in the Y direction. The closer the light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D are to one another, the more the optical paths of the measurement components in the optical spectrometer overlap and lead to equally localized signal contributions on the detector.

In einigen Ausführungsformen entspricht die Reihenfolge der Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D der Abfolge der Plasmadetektionsbereiche 39 im Sichtbereich 41. Dadurch werden die zentral liegenden Plasmadetektionsbereiche 39 optimal in das optische Spektrometer eingekoppelt, sodass die zugehörigen Messanteile am effizientesten zur spektralen Analyse beitragen. Bezugnehmend auf die Beispiele zum multifokalen Konzept in 4B und 5B können die mittleren Lichtleitfasern im Ausgangsstecker auch für die mittleren Plasmadetektionsbereiche 39 verwendet werden. Bezugnehmend auf das Beispiel zum multilateralen Konzept der 6B ist die Summe der Messanteile aller jeweils beitragenden Lichtleitfasern ausschlaggebend, wobei je nach Oberflächenverlauf jeweils andere Lichtleitfasern beitragen, sodass eine entsprechende Abfolge im Allgemeinen wohl weniger bis keinen Effekt haben wird.In some embodiments, the order of the light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D corresponds to the sequence of the plasma detection areas 39 in the viewing area 41. As a result, the centrally located plasma detection areas 39 are optimally coupled into the optical spectrometer, so that the associated measurement components contribute most efficiently to the spectral analysis. Referring to the examples of the multifocal concept in 4B and 5B The middle optical fibers in the output connector can also be used for the middle plasma detection areas 39. Referring to the example of the multilateral concept of 6B The sum of the measurement components of all contributing optical fibers is decisive, with different optical fibers contributing depending on the surface shape, so that a corresponding sequence will generally have little or no effect.

In einer schematisierten Aufsicht auf einen Schnitt durch die „oberste“ Lichtleitfaser 45D (8A), einer schematisierten Seiteneinsicht eines Schnitts durch die vier aufgereihten Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D (8B) und einer Ansicht der Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D der Lichtleitfasern im montierten Zustand (8C) wird die Einkopplung durch eine Eintrittsspaltöffnung 71 in ein optisches Spektrometer verdeutlicht. In 8A erkennt man die in der Ferrule 69 gehaltene Lichtleitfaser 45D. Im Inneren der Lichtleitfaser 45D erstreckt sich der lichtführende Bereich 73D (schematisch angedeutet), der in der Lichtaustrittsfläche 67D mündet. Aus dieser tritt der Messanteil des erfassten Plasmalichts aus und passiert die längliche Eintrittsspaltöffnung 71 (Spaltbreite z. B. 10µm). Punktiert ist in 8A eine mögliche Strahldivergenz in X-Richtung aufgrund der Spaltöffnung 71 angedeutet.In a schematic top view of a section through the “top” optical fiber 45D ( 8A) , a schematic side view of a section through the four lined up optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D ( 8B) and a view of the light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D of the optical fibers in the assembled state ( 8C ), the coupling through an entry slit opening 71 into an optical spectrometer is illustrated. In 8A you can see the optical fiber 45D held in the ferrule 69. The light-guiding region 73D (indicated schematically) extends inside the optical fiber 45D and opens into the light exit surface 67D. The measurement portion of the detected plasma light emerges from this and passes through the elongated entrance slit opening 71 (slit width, e.g. 10µm). Dotted is in 8A a possible beam divergence in the X direction due to the gap opening 71 is indicated.

In der Schnittansicht der 8B erkennt man die vier in Y-Richtung übereinander in der Ferrule 69 angeordneten Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D, jeweils mit einem zentral verlaufenden lichtführenden Bereich; angedeutet ist der lichtführende Bereich 73D für die Lichtleitfaser 45D. Ferner erkennt man (Messanteil-) Strahlachsen 75A, 75B, 75C, 75D, entlang denen die Messanteile des Plasmalichts aus den Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D abgegeben werden. Die Strahlachsen 75A, 75B, 75C, 75D verlaufen beispielhaft parallel zueinander. Dies bewirkt, dass die Messanteile im Wesentlichen in die gleiche Richtung und mit vergleichbaren Divergenzen in Y-Richtung durch die Eintrittsspaltöffnung 71 treten und somit als quasi ein Lichtstrahl auf das dispersive Element und den Detektor zur spektralen Analyse treffen.In the section view of the 8B one can see the four optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D arranged one above the other in the Y direction in the ferrule 69, each with a central light-guiding area; The light-guiding area 73D for the optical fiber 45D is indicated. Furthermore, (measurement component) beam axes 75A, 75B, 75C, 75D can be seen, along which the measurement components of the plasma light are emitted from the optical fibers 45A, 45B, 45C, 45D. The beam axes 75A, 75B, 75C, 75D run parallel to one another, for example. This causes the measurement components to pass through the entrance slit opening 71 essentially in the same direction and with comparable divergences in the Y direction and thus hit the dispersive element and the detector for spectral analysis as a quasi light beam.

In 8C erkennt man schematisch die Eintrittsspaltöffnung 71 in einer Innenwand 77 des Gehäuses des Spektrometers. Im gezeigten Beispiel sind die Lichtleitfasern (mit parallelen Faserorientierungen) linear aufgereiht, wobei die Aufreihung entlang einer Längsachse der Eintrittsspaltöffnung 71 (hier entlang der Y-Richtung) vorliegt. Der Durchmesser der Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D ist üblicherweise größer oder liegt im Bereich einer Breite der Eintrittsspaltöffnung 71. Ferner ist in 8C der Ausgangsstecker 61B (außerhalb des Gehäuses) schematisiert angedeutet.In 8C one can see schematically the entrance gap opening 71 in an inner wall 77 of the housing of the spectrometer. In the example shown, the optical fibers (with parallel fiber orientations) are lined up linearly, the line being along a longitudinal axis of the entrance gap opening 71 (here along the Y direction). The diameter of the light exit surfaces 67A, 67B, 67C, 67D is usually larger or is in the range of a width of the entrance gap opening 71. Furthermore, in 8C the output plug 61B (outside the housing) is indicated schematically.

Bezugnehmend auf die 9A bis 10B wird das multifokale Konzept anhand beispielhafter Messkonstellationen und Messspektren erläutert.Referring to the 9A until 10B The multifocal concept is explained using exemplary measurement constellations and measurement spectra.

9A zeigt zwei Messspektren im Wellenlängenbereich von ca. 250 nm bis ca. 500 nm und 9B verdeutlicht beispielhaft die Konstellation bei der LIBS-Messung mit dem Spektrometersystem 1 aus 1. Mit dem Laserstrahl wird das Plasma 3 auf der Oberfläche der Probe 7 erzeugt. Die Detektionseinheit 23 des Spektrometersystems 1 ist derart eingestellt, dass die Messdetektionsbereiche der einzelnen Objektive nicht überlappen. Man erkennt, dass ein Messdetektionsbereich 83A des Objektivs 25A im Inneren der Probe 7 liegt (und entsprechend das Objektiv 25A „nur“ die Probenoberfläche in einiger Entfernung zum Plasma beobachtet), der Messdetektionsbereich 83B des Objektivs 25B auf der Oberfläche der Probe 7 liegt (und das Objektiv 25B entsprechend die Probenoberfläche im Bereich der Plasmaausbildung beobachtet und damit direkt in das Plasma schaut), und der Messdetektionsbereich 83C des Objektivs 25C nicht mit der Probe 7 überlappt (und entsprechend das Objektiv 25C über das Plasma hinwegschaut und ebenfalls „nur“ die Probenoberfläche in einiger Entfernung zum Plasma beobachtet). 9A shows two measurement spectra in the wavelength range from approx. 250 nm to approx. 500 nm and 9B exemplifies the constellation in the LIBS measurement with the spectrometer system 1 1 . The plasma 3 is generated on the surface of the sample 7 with the laser beam. The detection unit 23 of the spectrometer system 1 is set in such a way that the measurement detection areas of the individual lenses do not overlap. It can be seen that a measurement detection area 83A of the objective 25A lies inside the sample 7 (and accordingly the objective 25A “only” observes the sample surface at some distance from the plasma), the measurement detection area 83B of the objective 25B lies on the surface of the sample 7 (and the objective 25B accordingly observes the sample surface in the area of the plasma formation and thus looks directly into the plasma), and the measurement detection area 83C of the objective 25C does not overlap with the sample 7 (and accordingly the objective 25C looks over the plasma and also “only” the sample surface observed at some distance from the plasma).

Im dargestellten Fall ist das erzeugte Plasma 3 in seiner Ausdehnung vergleichbar mit der Ausdehnung der Messdetektionsbereiche der Objektive, sodass das Plasma 3 im Wesentlichen nur im Messdetektionsbereich 83B vorliegt und entsprechend nur in den Detektionskegel des Objektivs 25B Licht emittiert. Dies erkennt man auch an den Messspektren, die zur Verdeutlichung selektiv für die Messanteile der Objektive 25A und 25B in 9A gezeigt sind. Der Messanteil des Objektivs 25A führt zu kaum Signalbeiträgen. Entsprechend führt der Messanteil zu einem Messspektrum mit sehr geringen Intensitäten I (gestrichelte Linie 81A). Es wird angemerkt, dass sich für das Objektiv 25C ein Messspektrum ähnlich dem des Objektivs 25A ergeben würde. Davon abweichend führt der Messanteil des Objektivs 25B zu einer spezifischen Signalverteilung mit signifikanten Intensitäten I bei spezifischen Wellenlängen λ im Messspektrum (gepunktete Linie 81B). Diese lassen eine Zuordnung der elementaren Komponenten der Probe 7 ermitteln. Es wird angemerkt, dass um die Messanteile selektiv erfassen und darstellen zu können, jeweils nur das zu vermessende Objektiv mit dem Spektrometer optisch zu verbinden ist.In the case shown, the extent of the generated plasma 3 is comparable to the extent of the measurement detection areas of the lenses, so that the plasma 3 is essentially only present in the measurement detection area 83B and accordingly only emits light into the detection cone of the objective 25B. This can also be seen in the measurement spectra, which, for clarity, are selective for the measurement components of the lenses 25A and 25B in 9A are shown. The measurement portion of the 25A lens results in hardly any signal contributions. Accordingly, the measurement component leads to a measurement spectrum with very low intensities I (dashed line 81A). It is noted that the objective 25C would have a measurement spectrum similar to that of the objective 25A. Deviating from this, the measurement portion of the objective 25B leads to a specific signal distribution with significant intensities I at specific wavelengths λ in the measurement spectrum (dotted line 81B). These allow an assignment of the elementary components of sample 7 to be determined. It is noted that in order to be able to selectively record and display the measurement components, only the lens to be measured needs to be optically connected to the spectrometer.

Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multifokalen Konzepts optisch verbunden, wird im vorliegenden Fall der 9B das Summensignal in etwa dem Messanteil des Objektivs 25B entsprechen (gepunktete Linie 81B), da zum Zeitpunkt der Messung in 9B die Messdetektionsbereiche 83A, 83C des Objektivs 25A und des Objektivs 25C in der Probe 7 bzw. vor der Probe 7 liegen. Dadurch erfasst im Wesentlichen nur das Objektiv 25A einen Messanteil des Plasmas 3.If, according to the invention, all lenses are optically connected to the spectrometer to implement the multifocal concept, in the present case the 9B the sum signal corresponds approximately to the measurement component of the lens 25B (dotted line 81B), since at the time of measurement in 9B the measurement detection areas 83A, 83C of the objective 25A and the objective 25C lie in the sample 7 or in front of the sample 7. As a result, essentially only the lens 25A captures a measurement portion of the plasma 3.

10A zeigt drei Messspektren im Wellenlängenbereich von ca. 250 nm bis ca. 500 nm und 10B verdeutlicht beispielhaft die Konstellation bei einer LIBS-Messung, bei der die Detektionseinheit 23 des Spektrometersystems derart eingestellt ist, dass benachbarte Messdetektionsbereiche der einzelnen Objektive zu einem Teil überlappen. Man erkennt, dass der Messdetektionsbereich 87A des Objektivs 25A und der Messdetektionsbereich 87B des Objektivs 25B nahe der Oberfläche der Probe 7 liegen, wobei der Messdetektionsbereich 87C des Objektivs 25C etwas weiter entfernt vor der Probe 7 liegt. Mit dem Laserstrahl wird das Plasma 3 auf der Oberfläche der Probe 7 erzeugt. Das Plasma 3 erstreckt sich im Beispiel der 10B über die Messdetektionsbereich 87A, 87B des Objektivs 25A und des Objektivs 25B. 10A shows three measurement spectra in the wavelength range from approx. 250 nm to approx. 500 nm and 10B illustrates by way of example the constellation in a LIBS measurement, in which the detection unit 23 of the spectrometer system is set in such a way that neighboring measurement detection areas of the individual lenses partially overlap. It can be seen that the measurement detection area 87A of the objective 25A and the measurement detection area 87B of the objective 25B are close to the surface of the sample 7, with the measurement detection area 87C of the objective 25C being slightly further away in front of the sample 7. The plasma 3 is generated on the surface of the sample 7 with the laser beam. The plasma 3 extends in the example 10B via the measurement detection areas 87A, 87B of the lens 25A and the lens 25B.

Die Situation der sich ergebenden Messspektren ist in 10A gezeigt, wobei auch hier die Messspektren für das Objektiv 25A und das Objektiv 25B zur Verdeutlichung selektiv dargestellt sind. Der Messanteil des Objektivs 25C führt zu kaum Signalbeiträgen und ist in 10A nicht gezeigt. Man erkennt, dass das Plasma 3 vergleichbar mit dem Messdetektionsbereich 87A und dem Messdetektionsbereich 87B überlappt. Entsprechend führen die Messanteile des Objektivs 25A und des Objektivs 25B zu vergleichbaren Messspektren mit signifikanten Intensitäten I bei spezifischen Wellenlängen λ im Messspektrum (gestrichelte Linie 89A, gepunktete Linie 89B). Es wird angemerkt, dass um die Messanteile selektiv erfassen und darstellen zu können, jeweils nur das zu vermessende Objektiv mit dem Spektrometer optisch zu verbinden ist.The situation of the resulting measurement spectra is in 10A shown, whereby the measurement spectra for the lens 25A and the lens 25B are also shown selectively for clarity. The measurement portion of the 25C lens results in hardly any signal contributions and is in 10A Not shown. It can be seen that the plasma 3 overlaps in a comparable manner with the measurement detection area 87A and the measurement detection area 87B. Accordingly, the measurement components of the objective 25A and the objective 25B lead to comparable measurement spectra with significant intensities I at specific wavelengths λ in the measurement spectrum (dashed line 89A, dotted line 89B). It is noted that in order to be able to selectively record and display the measurement components, only the lens to be measured needs to be optically connected to the spectrometer.

Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multilateralen Konzepts optisch verbunden, ergibt sich in der beispielhaften Konstellation der 10B ein kombiniertes Summensignal (durchgezogene Linie 91), indem die signifikanten Intensitäten I bei spezifischen Wellenlängen λ gut auflösbar sind.If, according to the invention, all lenses are optically connected to the spectrometer to implement the multilateral concept, this results in the exemplary constellation: 10B a combined sum signal (solid line 91) in which the significant intensities I can be easily resolved at specific wavelengths λ.

Bezugnehmend auf die 11A bis 12B wird das multilaterale Konzept anhand beispielhafter Messdaten erläutert, wobei 11B den Vorteil eines größeren erfassten Raumwinkelbereichs und 12B den Vorteil bei eintretenden Abschattungen aufgrund der multilateralen Beobachtung aufzeigt.Referring to the 11A until 12B The multilateral concept is explained using exemplary measurement data, where: 11B the advantage of a larger recorded solid angle range and 12B shows the advantage when shadows occur due to multilateral observation.

11A zeigt drei Messspektren im Wellenlängenbereich von ca. 250 nm bis ca. 500 nm und 11B verdeutlicht beispielhaft die Konstellation bei einer LIBS-Messung, bei der - wie in 6B gezeigt - die Detektionseinheit 23 des Spektrometersystems derart eingestellt ist, dass die Messdetektionsbereiche der einzelnen Objektive aufeinander fallen und einen gemeinsamen Messdetektionsbereich 59 ausbilden. Dabei wird der Messdetektionsbereich 59 mit den verschiedenen Objektiven aus verschiedenen Raumrichtungen erfasst. Man erkennt, dass der Messdetektionsbereich 59 nahe der Oberfläche der Probe 7 liegt. Mit dem Laserstrahl wird das Plasma 3 auf der Oberfläche der Probe 7 im Bereich des Messdetektionsbereichs 59 erzeugt. 11A shows three measurement spectra in the wavelength range from approx. 250 nm to approx. 500 nm and 11B exemplifies the constellation in a LIBS measurement in which - as in 6B shown - the detection unit 23 of the spectrometer system is set such that the measurement detection areas of the individual lenses coincide with one another and form a common measurement detection area 59. The measurement detection is used Area 59 captured from different spatial directions with the different lenses. It can be seen that the measurement detection area 59 is close to the surface of the sample 7. The laser beam is used to generate the plasma 3 on the surface of the sample 7 in the area of the measurement detection area 59.

Die Situation der sich ergebenden Messspektren ist in 11A gezeigt, wobei auch beispielhaft die (vergleichbaren) Messspektren (gestrichelte Linie 93A, gepunktete Linie 93B) für das Objektiv 25A und das Objektiv 25B zur Verdeutlichung selektiv dargestellt sind. Der Messanteil des Objektivs 25C führt zu einem vergleichbaren Signalbeitrag und ist nicht gezeigt. Es wird angemerkt, dass um die Messanteile selektiv erfassen und darstellen zu können, jeweils nur das zu vermessende Objektiv mit dem Spektrometer optisch zu verbinden ist.The situation of the resulting measurement spectra is in 11A shown, whereby the (comparable) measurement spectra (dashed line 93A, dotted line 93B) for the objective 25A and the objective 25B are also shown selectively for clarity. The measurement portion of the lens 25C results in a comparable signal contribution and is not shown. It is noted that in order to be able to selectively record and display the measurement components, only the lens to be measured needs to be optically connected to the spectrometer.

Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multifokalen Konzepts optisch verbunden, ergibt sich im vorliegenden Fall der 10B ein kombiniertes Summensignal (durchgezogene Linie 95), indem die signifikanten Intensitäten I bei spezifischen Wellenlängen λ gut auflösbar sind.If, according to the invention, all lenses are optically connected to the spectrometer to implement the multifocal concept, this results in the present case 10B a combined sum signal (solid line 95) in which the significant intensities I can be easily resolved at specific wavelengths λ.

12A zeigt zwei Messspektren im Wellenlängenbereich von ca. 250 nm bis ca. 500 nm und 12B verdeutlicht beispielhaft die Konstellation bei einer LIBS-Messung, bei der die Geometrie der Probe 7 alle Objektive bis auf eines (hier das objektiv 25B) abschattet. Die Detektionseinheit 23 des Spektrometersystems ist gemäß des multilateralen Konzepts derart eingestellt, dass die Messdetektionsbereiche der einzelnen Objektive aufeinander fallen und den gemeinsamen Messdetektionsbereich 59 ausbilden. Dabei wird der Messdetektionsbereich 59 mit den verschiedenen Objektiven aus verschiedenen Raumrichtungen erfasst. Mit dem Laserstrahl wird das Plasma 3 auf der Oberfläche der Probe 7 im Bereich des Messdetektionsbereichs 59 erzeugt. 12A shows two measurement spectra in the wavelength range from approx. 250 nm to approx. 500 nm and 12B exemplifies the constellation in a LIBS measurement in which the geometry of sample 7 shades all lenses except one (here lens 25B). The detection unit 23 of the spectrometer system is set according to the multilateral concept in such a way that the measurement detection areas of the individual lenses coincide with one another and form the common measurement detection area 59. The measurement detection area 59 is recorded with the different lenses from different spatial directions. The laser beam is used to generate the plasma 3 on the surface of the sample 7 in the area of the measurement detection area 59.

Man erkennt, dass der Messdetektionsbereich 59 nahe der Oberfläche der Probe 7 liegt, jedoch befindet sich Material der Probe 7 zwischen dem Plasma 3 und den Objektiven 25A, 25C. Entsprechend wird Plasmalicht, welches in Richtung der Objektive 25A, 25C emittiert wird, von der Probe 7 abgeschirmt und es kann entsprechend von den Objektiven 25A, 25C nicht erfasst werden.It can be seen that the measurement detection area 59 is close to the surface of the sample 7, but material from the sample 7 is located between the plasma 3 and the lenses 25A, 25C. Accordingly, plasma light emitted toward the lenses 25A, 25C is shielded from the sample 7 and accordingly cannot be detected by the lenses 25A, 25C.

Dies erkennt man auch an den Messspektren, die zur Verdeutlichung selektiv für die Messanteile der Objektive 25A und 25B in 12A gezeigt sind. Der Messanteil des Objektivs 25A führt zu kaum Signalbeiträgen. Entsprechend führt der Messanteil zu einem Messspektrum mit sehr geringen Intensitäten I (gestrichelte Linie 97A). Es wird angemerkt, dass sich für das Objektiv 25C ein Messspektrum ähnlich dem des Objektivs 25A ergeben würde. Jedoch führt der Messanteil des Objektivs 25B zu einer spezifischen Signalverteilung mit signifikanten Intensitäten I bei spezifischen Wellenlängen λ im Messspektrum (gepunktete Linie 97B). Diese lassen eine Zuordnung der elementaren Komponenten der Probe 7 trotz der abgeschirmten Objektive 25B, 25C ermitteln. Es wird angemerkt, dass um die Messanteile selektiv erfassen und darstellen zu können, jeweils nur das zu vermessende Objektiv mit dem Spektrometer optisch zu verbinden ist.This can also be seen in the measurement spectra, which, for clarity, are selective for the measurement components of the lenses 25A and 25B in 12A are shown. The measurement portion of the 25A lens results in hardly any signal contributions. Accordingly, the measurement component leads to a measurement spectrum with very low intensities I (dashed line 97A). It is noted that the objective 25C would have a measurement spectrum similar to that of the objective 25A. However, the measurement portion of the objective 25B leads to a specific signal distribution with significant intensities I at specific wavelengths λ in the measurement spectrum (dotted line 97B). These allow an assignment of the elementary components of the sample 7 to be determined despite the shielded lenses 25B, 25C. It is noted that in order to be able to selectively record and display the measurement components, only the lens to be measured needs to be optically connected to the spectrometer.

Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multilateralen Konzepts optisch verbunden, wird im vorliegenden Fall der 12B das Summensignal in etwa dem Messanteil des Objektivs 25B entsprechen (gepunktete Linie 97B), da nur das Objektiv 25A einen Messanteil des Plasmas 3 erfassen kann.If, according to the invention, all lenses are optically connected to the spectrometer to implement the multilateral concept, in the present case the 12B the sum signal corresponds approximately to the measurement portion of the lens 25B (dotted line 97B), since only the lens 25A can capture a measurement portion of the plasma 3.

Es ist zu ergänzen, dass jeweils Untergruppen von Objektiven einem eigenen optischen Spektrometer zugeordnet werden können, wobei die Spektrometer (und optional die Lichtleitsysteme) beispielsweise an unterschiedliche zu analysierende Spektralbereiche angepasst sind. Beispielsweise können je vier Objektive Messanteile einem optischen Spektrometer im UV-Bereich und je vier Objektive Messanteile einem optischen Spektrometer im NIR-Bereich über jeweils eigene Lichtleitsysteme zuführen. Alternativ oder ergänzend können Messanteile eines Objektivs beispielsweise in zwei Lichtwege aufgeteilt werden, sodass bei vier Objektiven beispielsweise acht Lichtleitfasern eingesetzt werden, von denen vier Lichtleitfasern einen funktionellen Ausgang für ein optisches Spektrometer im UV-Bereich und vier Lichtleitfasern einen funktionellen Ausgang für ein optisches Spektrometer im NIR-Bereich ausbilden.It should be added that subgroups of lenses can be assigned to their own optical spectrometer, with the spectrometers (and optionally the light guide systems) being adapted, for example, to different spectral ranges to be analyzed. For example, four lenses each can supply measurement components to an optical spectrometer in the UV range and four lenses each can supply measurement components to an optical spectrometer in the NIR range via their own light guide systems. Alternatively or additionally, measurement components of a lens can be divided into two light paths, for example, so that with four lenses, for example, eight optical fibers are used, of which four optical fibers have a functional output for an optical spectrometer in the UV range and four optical fibers have a functional output for an optical spectrometer in the UV range Form NIR range.

Die hierin vorgestellten multifokalen und multilateralen Konzepte der Anordnungen von Objektiven in einer Detektionseinheit eines Spektrometersystems zeigen ihre Vorteile insbesondere beim Erfassen von Emissionsspektren eines zu analysierenden bewegten Objekts (Probe) mit einem in Strahlachse modellierten Oberflächenverlauf. Im Vergleich mit einer räumlich kleiner ausgedehnten Fokuszone erhöht sich durch den in Richtung der Strahlachse erweiterten Sichtbereich der Anteil von Oberflächenabschnitten der Probe, bei denen zum einen ein Plasma erzeugt wird und zum anderen Messanteile dieses Plasmas von der Detektionseinheit erfasst werden können. Entsprechend liegt die Menge an erfassten Daten, die für eine Analyse des Materials benötigt wird, schneller vor. Eine schnelle Analyse der Materialzusammensetzung ist in verschiedenen Anwendungen von Vorteil.The multifocal and multilateral concepts of the arrangements of lenses in a detection unit of a spectrometer system presented here show their advantages in particular when recording emission spectra of a moving object (sample) to be analyzed with a surface profile modeled in the beam axis. In comparison with a spatially smaller focal zone, the proportion of surface sections of the sample in which, on the one hand, a plasma is generated and, on the other hand, measured portions of this plasma can be detected by the detection unit, increases due to the field of view being expanded in the direction of the beam axis. Accordingly, the amount of recorded data required to analyze the material is available more quickly. A quick analysis of the material composition is beneficial in various applications.

Beispielhaft werden in den 13A bis 13C industrielle Anwendungen schematisch am Beispiel des multifokalen Konzepts gezeigt, wobei bei diesen industriellen Anwendungen auch das multilaterale Konzept entsprechend eingesetzt werden kann.Examples are given in the 13A until 13C Industrial applications are shown schematically using the example of the multifocal concept, whereby the multilateral concept can also be used accordingly for these industrial applications.

13A zeigt eine stationäre Anlage mit einem Spektrometersystem 101. Der Laserstrahl 5 des Spektrometersystems 101 ist von oben (in 13A entlang der Z-Achse) auf ein Probengefäß 103 (z. B. ein Probenteller oder eine Probenschale mit beispielsweise runder oder rechteckiger Grundform) gerichtet, in dem eine zu untersuchende Probe 105 zur Untersuchung bereitgestellt wird. Die Detektionseinheit 23 des Spektrometersystems 101 ist bezüglich des Probengefäßes 103 derart angeordnet, dass sich ein Sichtbereich 41 der Detektionseinheit 23 des Spektrometersystems 101 (siehe auch 2) in einer, beispielsweise fest eingestellten, Höhe (Abstand in Z-Richtung) oberhalb des Bodens (Probengefäßbodenfläche 103A) des Probengefäßes 103 erstreckt und somit eine Detektion von Messanteilen in einem vorbestimmten Z-Bereich ermöglicht. 13A shows a stationary system with a spectrometer system 101. The laser beam 5 of the spectrometer system 101 is from above (in 13A along the Z axis) towards a sample vessel 103 (e.g. a sample plate or a sample dish with, for example, a round or rectangular basic shape), in which a sample 105 to be examined is provided for examination. The detection unit 23 of the spectrometer system 101 is arranged with respect to the sample vessel 103 in such a way that a viewing area 41 of the detection unit 23 of the spectrometer system 101 (see also 2 ) extends at a, for example fixed, height (distance in the Z direction) above the bottom (sample vessel bottom surface 103A) of the sample vessel 103 and thus enables detection of measurement components in a predetermined Z range.

Beispielhaft besteht die Probe 105 aus gebrochenen Probenstücken 105A. Die Probenstücke 105A bilden einen in Z-Richtung variierenden Oberflächenverlauf aus, der allgemein undefinierten, d. h. nicht festgelegt, ist. Entsprechend umfasst der Oberflächenverlauf viele Messoberflächenbereiche, bei denen die Oberflächen im vorbestimmten Z-Werte-Bereich des Sichtbereichs 41 liegen. Wird auf diesen Oberflächenbereichen ein Plasma erzeugt, liegt das Plasma im Sichtbereich 41 der Detektionseinheit 23, sodass entsprechend Plasmalicht erfasst werden kann.By way of example, the sample 105 consists of broken sample pieces 105A. The test pieces 105A form a surface course that varies in the Z direction and is generally undefined, i.e. H. not specified. Accordingly, the surface course includes many measurement surface areas in which the surfaces lie in the predetermined Z value range of the viewing area 41. If a plasma is generated on these surface areas, the plasma lies in the viewing area 41 of the detection unit 23, so that plasma light can be detected accordingly.

Der Laserstrahl 5 tastet die Probe 105 entlang einer (einstellbaren) Trajektorie ab, beispielsweise indem das Probengefäß 103 in der X-Y-Ebene rotiert wird (angedeutet durch den Pfeil 107) oder durch ein eindimensionales oder zweidimensionales (beispielsweise lineares, reihenförmiges oder rasterförmiges) Abtasten mittels linearer Verschiebung in der X-Y-Ebene, oder einer Kombination von Schwenkbewegung, Translationsbewegung und/oder Rotationsbewegung, sodass die Trajektorie viele Messabschnitte (Trajektorienabschnitte) umfasst. Den Messabschnitten sind Messoberflächenbereichen zugeordnet, in denen eine Detektion von Plasmalicht stattfinden kann. Die Detektionseinheit 23 erfasst immer dann Plasmalicht, wenn der Laserstrahl 5 auf diesen Messoberflächenbereichen entlang der Messabschnitte ein Plasma erzeugt. Je größer sich der Sichtbereich 41 in Z-Richtung erstreckt, desto größer ist der Anteil der Messoberflächenbereiche an der gesamten Oberfläche und entsprechend größer ist der Anteil der Messabschnitte an der Trajektorie. Somit kann das multifokale Konzept die Datenerfassung für die spektrale Analyse beschleunigen.The laser beam 5 scans the sample 105 along an (adjustable) trajectory, for example by rotating the sample vessel 103 in the XY plane (indicated by the arrow 107) or by one-dimensional or two-dimensional (for example linear, row-shaped or grid-shaped) scanning linear displacement in the X-Y plane, or a combination of pivoting movement, translational movement and / or rotational movement, so that the trajectory includes many measurement sections (trajectory sections). The measuring sections are assigned measuring surface areas in which detection of plasma light can take place. The detection unit 23 detects plasma light whenever the laser beam 5 generates a plasma on these measuring surface areas along the measuring sections. The larger the viewing area 41 extends in the Z direction, the larger the proportion of the measuring surface areas in the entire surface and the correspondingly larger the proportion of the measuring sections in the trajectory. Thus, the multifocal concept can accelerate data acquisition for spectral analysis.

Ferner erkennt man, dass bei beispielsweise grobkörnigen Probenstücken 105A auf dem Probengefäß 103 Abschattungseffekte eintreten können. D. h., nicht unter jedem Beobachtungswinkel kann ein Plasma auch detektiert werden. Das hierin offenbarte multilaterale Konzept (nicht explizit in 13A gezeigt, aber leicht auf diese industrielle Anwendung übertragbar) stellt ebenfalls mehrere Beobachtungsrichtungen bereit, sodass es trotz einer eventuellen Abschattung möglich ist, ein Messanteil mit zumindest einem von mehreren vorgesehenen Objektiven zu erfassen. Somit kann das multilaterale Konzept die Datenerfassung für die spektrale Analyse beschleunigen.Furthermore, it can be seen that, for example, with coarse-grained sample pieces 105A on the sample vessel 103, shading effects can occur. This means that a plasma cannot be detected at every observation angle. The multilateral concept disclosed herein (not explicitly in 13A shown, but easily transferable to this industrial application) also provides several observation directions, so that despite possible shadowing, it is possible to capture a measurement component with at least one of several provided lenses. Thus, the multilateral approach can accelerate data collection for spectral analysis.

13B zeigt eine Anlage 111 zum LIBS-basierten Sortieren von Stücken aus unterschiedlichen Materialien. Beispielhaft ist der Sortiervorgang für zwei Materialsorten dargestellt; zum Beispiel sollen Stücke 113A aus Kupfer und Stücke 113B aus Messing auf zwei Sammelstellen 115A, 115B verteilt werden. Die Anlage 111 umfasst ein Spektrometersystem 117A und eine Trenneinrichtung 117B, die beispielsweise mithilfe eines aktivierbaren Luftstrompulses 119 die Stücke 113A aus Kupfer aus einem kontinuierlichen Strom von Stücken herauslöst. Hierzu verwendet die Trenneinrichtung 117 Informationen über die Materialzusammensetzung der vorbeigeführten Stücke, die mithilfe des Spektrometersystems 117A erfasst werden. Allerdings ist die Lage der Stücke bezüglich des Sichtbereichs des Spektrometersystems 117A unter Umständen nicht eindeutig definiert, sodass das multifokale Konzept und/oder das multilaterale Konzept hinsichtlich der Erfassung von Messanteilen Vorteile aufweisen kann. 13B shows a system 111 for LIBS-based sorting of pieces made of different materials. The sorting process for two types of material is shown as an example; for example, pieces 113A made of copper and pieces 113B made of brass should be distributed to two collection points 115A, 115B. The system 111 includes a spectrometer system 117A and a separating device 117B, which, for example, uses an activatable air flow pulse 119 to separate the pieces 113A of copper from a continuous stream of pieces. For this purpose, the separating device 117 uses information about the material composition of the pieces passed by, which is recorded using the spectrometer system 117A. However, the position of the pieces with respect to the field of view of the spectrometer system 117A may not be clearly defined, so that the multifocal concept and/or the multilateral concept may have advantages with regard to the detection of measurement components.

Eine kurze Detektionszeit, die mithilfe der hierin offenbarten multifokalen und/oder multilateralen Konzepte erreicht werden kann, erlaubt es, die Stücke 113A, 113B hinsichtlich der Materialzusammensetzung auch bei kleinen Stücken und damit kurzen möglichen Messstrecken pro Stück, sowie hohen Passiergeschwindigkeiten und damit einer geringen Anzahl an überhaupt erfassbaren Messspektren von geeignet gelegenen Oberflächenabschnitten zu erkennen und so ein schnelles und/oder hochpräzises Sortierverfahren umzusetzen.A short detection time, which can be achieved using the multifocal and/or multilateral concepts disclosed herein, allows the pieces 113A, 113B to be measured in terms of material composition even with small pieces and therefore short possible measuring distances per piece, as well as high passing speeds and thus a small number to detect any detectable measurement spectra of suitably located surface sections and thus to implement a fast and/or high-precision sorting process.

13C zeigt eine Anlage 121 zur Bestimmung der Zusammensetzung von Schlacken. Beispielhaft kann eine passende Qualität der Schlacke für den Straßenbau durch Selektion mit LIBS erfasst werden. Die Anlage 121 weist ein Spektrometersystem 123 und eine Förderbandanlage 125 auf. Zu analysierenden Schlacke 127 wird auf einem Förderband 125A der Förderbandanlage 125 am Spektrometersystem 123 vorbeigeführt, wobei der Laserstrahl des Spektrometersystems 123 auf das Förderband 125A gerichtet ist und der Sichtbereich 41 des Spektrometersystems 123 mit einem Abstand zum und oberhalb des Förderbands 125A positioniert ist. Angesichts der variierenden Größe und Form der Schlacke-Stücke bezüglich des Sichtbereichs des Spektrometersystems 123 erlaubt es das multifokale Konzept und/oder das multilaterale Konzept, Messanteile vorteilhaft zu erfassen. 13C shows a system 121 for determining the composition of slag. For example, a suitable quality of slag for road construction can be recorded through selection with LIBS. The system 121 has a spectrometer system 123 and a conveyor belt system 125. Slag 127 to be analyzed is placed on a conveyor belt 125A of the conveyor belt system 125 at the Spektro meter system 123 is guided past, the laser beam of the spectrometer system 123 being directed at the conveyor belt 125A and the viewing area 41 of the spectrometer system 123 being positioned at a distance from and above the conveyor belt 125A. Given the varying size and shape of the slag pieces with respect to the field of view of the spectrometer system 123, the multifocal concept and/or the multilateral concept allows measurement components to be advantageously recorded.

Eine kurze Detektionszeit, die mithilfe der hierin offenbarten multifokalen und/oder multilateralen Konzepte erreicht werden kann, erlaubt es, die Schlacke 127 hinsichtlich der Materialzusammensetzung auch bei einer hohen Passiergeschwindigkeit zu erkennen und so eine schnelle und/oder hochpräzise Qualitätsüberprüfung umzusetzen.A short detection time, which can be achieved using the multifocal and/or multilateral concepts disclosed herein, allows the slag 127 to be recognized in terms of material composition even at a high passing speed and thus to implement a rapid and/or highly precise quality check.

Allgemein wird der Fachmann anerkennen, dass eine Ausrichtung des Laserstrahls bezüglich einer Oberfläche einer Probe (z. B. bezüglich einer Normalenrichtung der Oberfläche am Ort des erzeugten Plasmas) oder bezüglich einer Auflagefläche, beispielsweise einer Normalenrichtung einer Bodenfläche eines Probengefäßes oder eines Förderbands in einem Winkelbereich von 0° (Einfall parallel zur Normalenrichtung) bis 90° (seitlicher Einfall) wählbar ist, wobei bezüglich etwaiger Abschattungseffekte ein Winkelbereich von 0° bis 80°, insbesondere von 0° bis 60°, Vorteile aufweisen kann. Ferner wird der Fachmann anerkennen, dass eine Ausrichtung des Laserstrahls bezüglich einer Bewegungsrichtung der Probe (z. B. eine Linearbewegung oder eine Rotationsbewegung der Probe) in einem Winkelbereich von 0° (Einfall entgegen der Bewegungsrichtung) über 90° (seitlicher Einfall) bis 180° (Einfall in Bewegungsrichtung) wählbar ist.In general, the person skilled in the art will recognize that an alignment of the laser beam with respect to a surface of a sample (e.g. with respect to a normal direction of the surface at the location of the generated plasma) or with respect to a support surface, for example a normal direction of a bottom surface of a sample vessel or a conveyor belt, in an angular range from 0° (incidence parallel to the normal direction) to 90° (lateral incidence) can be selected, with an angular range of 0° to 80°, in particular from 0° to 60°, being able to have advantages with regard to any shading effects. Furthermore, the person skilled in the art will recognize that an alignment of the laser beam with respect to a direction of movement of the sample (e.g. a linear movement or a rotational movement of the sample) in an angular range from 0° (incidence opposite the direction of movement) to 90° (lateral incidence) to 180 ° (incidence in the direction of movement) can be selected.

Nachfolgend wird ein Messablauf gemäß dem multifokalen Konzept beispielhaft für zwei Messpunkte bezugnehmend auf die 14A und 14B zusammengefasst:Below, a measurement process according to the multifocal concept is presented as an example for two measurement points with reference to the 14A and 14B summarized:

Bereitstellen (Schritt 131) einer Detektionseinheit, die mithilfe mehrerer, entsprechend dem multifokalen Konzept ausgerichteter Objektive einen erweiterten Sichtbereich zur Detektion von Plasmalicht bereitstellt.Providing (step 131) a detection unit that provides an extended field of view for detecting plasma light using multiple lenses aligned according to the multifocal concept.

Positionieren (Schritt 133) eines ersten Oberflächenbereichs einer, beispielsweise auf einem Probengefäß gelagerten, Probe im Sichtbereich der Detektionseinheit.Positioning (step 133) a first surface area of a sample, for example stored on a sample vessel, in the field of vision of the detection unit.

Einstrahlen (Schritt 135) eines Laserstrahls zu Erzeugung eines ersten Plasmas auf dem ersten Oberflächenbereich, wobei Plasmalicht gemäß einem Material der Probe vom ersten Plasma emittiert wird.Irradiating (step 135) a laser beam to generate a first plasma on the first surface region, wherein plasma light is emitted from the first plasma according to a material of the sample.

Erfassen (Schritt 137) eines ersten Messanteils des Plasmalichts mithilfe der Detektionseinheit und Weiterleiten des ersten Messanteils des Plasmalichts zu einem optischen Spektrometer.Detecting (step 137) a first measurement portion of the plasma light using the detection unit and forwarding the first measurement portion of the plasma light to an optical spectrometer.

Bewegen (Schritt 139) der Probe relativ zum Sichtbereich, insbesondere im Rahmen einer kontinuierlichen Relativbewegung zwischen Probe und Detektionseinheit, beispielsweise mithilfe eines Rotationsantriebs und eines Schwenkantriebs des Probengefäßes, sodass ein zweiter Oberflächenbereich der Probe im Sichtbereich positioniert ist.Moving (step 139) the sample relative to the viewing area, in particular as part of a continuous relative movement between the sample and the detection unit, for example using a rotation drive and a pivoting drive of the sample vessel, so that a second surface area of the sample is positioned in the viewing area.

Wiederholen der Schritte des Einstrahlens (135) und des Erfassens (Schritt 137) für den zweiten Oberflächenbereich, sodass ein zweiter Messanteil des Plasmalicht eines zweiten Plasmas zum optischen Spektrometer weitergeleitet wird.Repeating the steps of irradiation (135) and detection (step 137) for the second surface area, so that a second measurement portion of the plasma light of a second plasma is forwarded to the optical spectrometer.

Basierend auf dem ersten Messanteil und dem zweiten Messanteil, Ausgeben (Schritt 141) eines kumulierten optischen Spektrums an einer Recheneinheit und Durchführen einer spektralen Analyse des kumulierten optischen Spektrums zu Bestimmung und Ausgabe der elementaren Zusammensetzung der Probe. Im Rahmen eines Messvorgangs können solange Spektren von verschiedenen Messkonstellation für eine Probe gesammelt werden, und insbesondere unter Nutzung von einem Filteralgorithmus ausgewertet werden, bis eine erforderliche Qualität hinsichtlich der ausgegebenen Analyse erreicht ist.Based on the first measurement portion and the second measurement portion, outputting (step 141) a cumulative optical spectrum to a computing unit and performing a spectral analysis of the cumulative optical spectrum to determine and output the elemental composition of the sample. As part of a measurement process, spectra from different measurement constellations can be collected for a sample and, in particular, evaluated using a filter algorithm until a required quality is achieved with regard to the output analysis.

14B zeigt eine Probe 7, die mit einer (relativen) Geschwindigkeit v an einem gepulsten Laserstrahl 5 eines Spektrometersystems 1 vorbei bewegt wird. Die Probe 7 weist ein strukturiertes Oberflächenprofil auf, das sich nur teilweise im Sichtbereich 41 des Spektrometersystems 1 (gegeben durch die Plasmadetektionsbereiche 39) erstreckt. Aufgrund des gepulsten Laserstrahls 5 wurde eine Sequenz von Plasmen auf der Oberfläche der Probe 7 erzeugt und das Plasmalicht entsprechend detektiert und spektral analysiert. Beispielhaft sind ein letztes Plasma 3 sowie die Positionen der vorausgehend erzeugten Plasmen (Kreise) entlang der Oberfläche der Probe 7 angedeutet. 14B shows a sample 7 which is moved past a pulsed laser beam 5 of a spectrometer system 1 at a (relative) speed v. The sample 7 has a structured surface profile that only partially extends in the viewing area 41 of the spectrometer system 1 (given by the plasma detection areas 39). Due to the pulsed laser beam 5, a sequence of plasmas was generated on the surface of the sample 7 and the plasma light was correspondingly detected and spectrally analyzed. By way of example, a final plasma 3 and the positions of the previously generated plasmas (circles) are indicated along the surface of the sample 7.

Nachfolgend wird ein Messablauf gemäß dem multilateralen Konzept beispielhaft für zwei Messpunkte bezugnehmend auf 14C zusammengefasst:Below, a measurement process according to the multilateral concept is presented as an example for two measurement points 14C summarized:

Bereitstellen (Schritt 151) einer Detektionseinheit, die mithilfe mehrerer, entsprechend dem multilateralen Konzept ausgerichteter Objektive einen erweiterten Raumwinkelbereich zur Detektion von Plasmalicht bereitstellt.Providing (step 151) a detection unit that provides an extended solid angle range for detecting plasma light using multiple lenses aligned according to the multilateral concept.

Positionieren (Schritt 153) eines ersten Oberflächenbereichs einer, beispielsweise auf einem Probengefäß gelagerten, Probe im Sichtbereich der Detektionseinheit.Positioning (step 153) a first surface area of a sample, for example stored on a sample vessel, in the field of vision of the detection unit.

Einstrahlen (Schritt 155) eines Laserstrahls zu Erzeugung eines ersten Plasmas auf dem ersten Oberflächenbereich, wobei Plasmalicht gemäß einem Material der Probe vom ersten Plasma emittiert wird.Irradiating (step 155) a laser beam to generate a first plasma on the first surface region, wherein plasma light is emitted from the first plasma according to a material of the sample.

Erfassen (Schritt 157) eines ersten Messanteils des Plasmalichts mithilfe einer ersten Untergruppe von Objektiven der Detektionseinheit und Weiterleiten des ersten Messanteils des Plasmalichts zu einem optischen Spektrometer.Detecting (step 157) a first measurement portion of the plasma light using a first subgroup of lenses of the detection unit and forwarding the first measurement portion of the plasma light to an optical spectrometer.

Bewegen (Schritt 159) der Probe relativ zum Sichtbereich, insbesondere im Rahmen einer kontinuierlichen Relativbewegung zwischen Probe und Detektionseinheit, beispielsweise mithilfe eines Rotationsantriebs und eines Schwenkantriebs des Probengefäßes, sodass ein zweiter Oberflächenbereich der Probe im Sichtbereich positioniert ist.Moving (step 159) the sample relative to the viewing area, in particular as part of a continuous relative movement between the sample and the detection unit, for example using a rotation drive and a pivoting drive of the sample vessel, so that a second surface area of the sample is positioned in the viewing area.

Wiederholen der Schritte des Einstrahlens (155) und des Erfassens (Schritt 157) für den zweiten Oberflächenbereich, wobei aufgrund der Geometrie der Probe ein zweiter Messanteil eines Plasmalichts eines zweiten Plasmas mithilfe einer zweiten Untergruppe von Objektiven der Detektionseinheit, die sich von der ersten Untergruppe von Objektiven der Detektionseinheit unterscheidet, erfasst wird, sodass der zweite Messanteil zum optischen Spektrometer weitergeleitet wird.Repeating the steps of irradiation (155) and detection (step 157) for the second surface area, whereby, due to the geometry of the sample, a second measurement component of a plasma light of a second plasma is carried out using a second subgroup of objectives of the detection unit, which is different from the first subgroup of Lenses of the detection unit are detected, so that the second measurement component is forwarded to the optical spectrometer.

Basierend auf dem ersten Messanteil und dem zweiten Messanteil, Ausgeben (Schritt 161) eines kumulierten optischen Spektrums an einer Recheneinheit und Durchführen einer spektralen Analyse des kumulierten optischen Spektrums zu Bestimmung und Ausgabe der elementaren Zusammensetzung der Probe. Im Rahmen eines Messvorgangs können solange Spektren von verschiedenen Messkonstellation für eine Probe gesammelt werden, und insbesondere unter Nutzung von einem Filteralgorithmus ausgewertet werden, bis eine erforderliche Qualität hinsichtlich der ausgegebenen Analyse erreicht ist.Based on the first measurement portion and the second measurement portion, outputting (step 161) a cumulative optical spectrum to a computing unit and performing a spectral analysis of the cumulative optical spectrum to determine and output the elemental composition of the sample. As part of a measurement process, spectra from different measurement constellations can be collected for a sample and, in particular, evaluated using a filter algorithm until a required quality is achieved with regard to the output analysis.

Die beiden oben beispielhaft beschriebenen Messabläufe sind nicht auf die Detektion von zwei Plasmen und entsprechend zwei Messanteile begrenzt, sondern erfolgen beispielsweise kontinuierlich für eine Vielzahl von erzeugten Plasmen/Messanteilen, solange sich die Oberfläche der Probe im Sichtbereich erstreckt, und wird, sollte sich die Oberfläche aus dem Sichtbereich heraus bewegen, fortgesetzt, sobald die Oberfläche wieder in den Sichtbereich eintritt.The two measurement processes described above as examples are not limited to the detection of two plasmas and correspondingly two measurement components, but are carried out, for example, continuously for a large number of generated plasmas/measurement components, as long as the surface of the sample extends into the visible range, and will, should the surface move out of the field of view, continuing as soon as the surface re-enters the field of view.

Nachfolgend werden einige Aspekte eines Lichtleitsystems zusammengefasst, wie es z. B. bei einer Umsetzung des multifokalen Konzepts oder des multilateralen Konzepts verwendet werden kann.Some aspects of a light control system are summarized below, such as: B. can be used when implementing the multifocal concept or the multilateral concept.

Aspekt A1. Lichtleitsystem (27) mit mehrere Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D), die mehrere optische Eingängen (29) zur Aufnahme von Licht, insbesondere von Messanteilen (33) von Plasmalicht, und einen optischen Ausgang (31) zur Abgabe des Lichts, insbesondere der erfassten Messanteilen (33) in ein optisches Spektrometer (13), umfassen, wobei erste Enden der Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) jeweils in einem Stecker (61A) gehalten werden und jeweils eine Lichteintrittsfläche (63) als optischen Eingang (29) umfassen und zweite Enden der Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) jeweils eine Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) umfassen und in einem Stecker (61B) gemeinsam gehalten wer-den, wobei die Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) den optische Ausgang (31) bilden.Aspect A1. Light guide system (27) with several optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D), which have several optical inputs (29) for receiving light, in particular measuring components (33) of plasma light, and an optical output (31) for emitting the light, in particular the recorded measurement components (33) in an optical spectrometer (13), wherein first ends of the optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D) are each held in a plug (61A) and each have a light entry surface (63) as an optical input (29) and second ends of the optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D) each comprise a light exit surface (67A, 67B, 67C, 67D) and are held together in a plug (61B), the light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) form the optical output (31).

Aspekt A2. Lichtleitsystem (27) nach Aspekt A1, wobei die Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) ausgangsseitig linear aufgereiht sind und im Wesentlichen parallelen Faserorientierungen aufweisen, sodass die Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) nebeneinander angeordnet sind.Aspect A2. Light guide system (27) according to aspect A1, wherein the optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D) are lined up linearly on the output side and have essentially parallel fiber orientations, so that the light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) are arranged next to one another.

Aspekt A3. Lichtleitsystem (27) nach Aspekt A1 oder Aspekt A2, wobei ausgangsseitig dem Licht, insbesondere jedem der aus dem optischen Lichtleitsystem (27) austretenden Messanteilen (33), eine Strahlachse (75A, 75B, 75C, 75D) zugeordnet ist und die Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) derartig angeordnet sind, dass die Strahlachsen (75A, 75B, 75C, 75D) parallel zueinander oder nicht mehr als unter einem Winkel von bis zu 1° oder bis 3° zueinander verlaufen.Aspect A3. Light guide system (27) according to aspect A1 or aspect A2, wherein on the output side the light, in particular each of the measurement components (33) emerging from the optical light guide system (27), is assigned a beam axis (75A, 75B, 75C, 75D) and the optical fibers (45A , 45B, 45C, 45D) are arranged such that the beam axes (75A, 75B, 75C, 75D) run parallel to one another or no more than at an angle of up to 1° or up to 3° to one another.

Aspekt A4. Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A) mit

  • einer Laserstrahlquelle (9) zur Abgabe eines, insbesondere gepulsten, Laserstrahls (5), wobei das Plasma (3) mit dem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird,
  • einer Fokussieroptik (11) zur Fokussierung des Laserstrahls (5) auf die Oberfläche (7A) der Probe (7), insbesondere einer Laserkopfkomponente mit Fokussierfunktion wie eine insbesondere auf das Spektrum oder die Pulsdauer oder die Pulsenergie einwirkende aktive Laserkomponente mit Fokussierfunktion,
  • einer Detektionseinheit (21) mit mehreren Objektiven und einem Lichtleitsystem (27) nach einem der Aspekte A1 bis A3, wobei jedes der Objektive ausgebildet ist, einen Messanteil (33) des Plasmalichts (3A) aus objektiv-spezifischen oder aus einem gemeinsamen Plasmadetektionsbereich (59) zu erfassen und an einen der optischen Eingängen (29) in das Lichtleitsystem (27) einzukoppeln, und
  • einem optischen Spektrometer (13) zur Spektralanalyse der mit den Objektiven erfassten Messanteile (33) des Plasmalichts (3A), wobei das optische Spektrometer (13) zur Aufnahme der Messanteile (33) mit dem optischen Ausgang (31) des Lichtleitsystems (27) optisch verbunden ist.
Aspect A4. Spectrometer system (1) for the spectral analysis of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3).
  • a laser beam source (9) for emitting a, in particular pulsed, laser beam (5), the plasma (3) being generated on a surface (7A) of a sample (7) with the laser beam (5) propagating along a beam axis (5A). ,
  • a focusing optics (11) for focusing the laser beam (5) onto the surface (7A) of the sample (7), in particular a laser head component with a focusing function such as an active laser component with a focusing function which acts in particular on the spectrum or the pulse duration or the pulse energy,
  • a detection unit (21) with several lenses and a light guide system (27) according to one of aspects A1 to A3, wherein each of the lenses is designed to detect a measurement portion (33) of the plasma light (3A) from lens-specific or from a common plasma detection area (59) and to one of the optical inputs (29) in the to couple in the light guide system (27), and
  • an optical spectrometer (13) for the spectral analysis of the measurement components (33) of the plasma light (3A) recorded with the lenses, the optical spectrometer (13) for recording the measurement components (33) being optically connected to the optical output (31) of the light guide system (27). connected is.

Nachfolgend werden einige Aspekte des multilateralen Konzepts zusammengefasst.Some aspects of the multilateral concept are summarized below.

Aspekt B1. Detektionseinheit (21) für ein Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A), wobei das Plasma (3) mit einem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird (und wobei insbesondere eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts (3A) für die Spektralanalyse in einem optischen Spektrometer (13) erfolgt), umfassend:

  • - eine Objektivhalterung (23'),
  • - mehrere von der Objektivhalterung (23') gehaltene Objektive (25A', 25B', 25C', 25D'), wobei jedem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') ein Detektionskegel (35`) zugeordnet ist und die Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') derart in der Objektivhalterung (23') angeordnet und ausgerichtet sind, dass die Detektionskegel (35`) in einem Überlappungsbereich mit dem Laserstrahl (5) einen gemeinsamen Plasmadetektionsbereich (59) ausbilden, aus dem im Fall eines im Plasmadetektionsbereich (59) vorliegenden Plasmas (3) von jedem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') ein Messanteil (33) des Plasmalichts (3A) erfassbar ist.
Aspect B1. Detection unit (21) for a spectrometer system (1) for the spectral analysis of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3), the plasma (3) being on a surface (3) with a laser beam (5) propagating along a beam axis (5A). 7A) of a sample (7) is generated (and in particular a spectral splitting of the plasma light (3A) for spectral analysis takes place in an optical spectrometer (13)), comprising:
  • - a lens holder (23'),
  • - several lenses (25A', 25B', 25C', 25D') held by the lens holder (23'), each of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') being assigned a detection cone (35'). and the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') are arranged and aligned in the lens holder (23') in such a way that the detection cones (35') form a common plasma detection area (59) in an overlap area with the laser beam (5). ) from which, in the case of a plasma (3) present in the plasma detection area (59), a measurement portion (33) of the plasma light (3A) can be detected by each of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D').

Aspekt B2. Detektionseinheit (21') nach Aspekt B1, wobei die Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') derart in der Objektivhalterung (23') angeordnet und ausgerichtet sind, dass die Detektionskegel (35`) in unterschiedliche Raumwinkel emittierte Messanteile (33) des Plasmalichts (3A) eines Plasmas (3) erfassen und/oder

  • wobei die Objektivhaltung (23') eine optische Durchgangsöffnung (43) bereitstellt, durch die die Strahlachse (5A) verläuft, wobei eine Lage der Strahlachse (5A) insbesondere mittig in der optischen Durchgangsöffnung (43) festgelegt ist, und
  • wobei die Objektivhalterung (23') insbesondere eine Halterungsplatte (23A') aufweist, in der mehrere Objektivhalterungsöffnungen (57A', 57B', 57C', 57D') zur Aufnahme der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') und die optische Durchgangsöffnung (43) für den Laserstrahl (5) vorgesehen sind, und wobei die Objektivhalterungsöffnungen (57A', 57B', 57C', 57D') um die optische Durchgangsöffnung (43) herum angeordnet sind, und insbesondere um die optische Durchgangsöffnung (43) azimutal verteilt sind.
Aspect B2. Detection unit (21') according to aspect B1, wherein the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') are arranged and aligned in the lens holder (23') in such a way that the detection cones (35') emitted measurement components in different solid angles (33) of the plasma light (3A) of a plasma (3) detect and/or
  • wherein the lens holder (23') provides an optical through-opening (43) through which the beam axis (5A) runs, a position of the beam axis (5A) being fixed in particular centrally in the optical through-opening (43), and
  • wherein the lens holder (23') in particular has a mounting plate (23A') in which a plurality of lens holder openings (57A', 57B', 57C', 57D') for receiving the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and the optical through-hole (43) is provided for the laser beam (5), and wherein the lens holder openings (57A', 57B', 57C', 57D') are arranged around the optical through-hole (43), and in particular around the optical through-opening (43) are distributed azimuthally.

Aspekt B3. Detektionseinheit (21') nach Aspekt B1 oder B2, wobei jeder der Detektionskegel (35`) sich entlang einer Beobachtungsachse (35A') erstreckt, die unter einem Beobachtungswinkel (α) im Bereich von 0° bis 90° zur Strahlachse (5A) verläuft, wobei die Beobachtungswinkel (α) insbesondere gleich sind, nicht mehr als 3° voneinander abweichen oder in einem Winkelbereich von 45° verteilt sind, und/oder wobei die Objektivhalterung (23`) insbesondere eine Halterungsplatte (23A') aufweist, in der eine optische Durchgangsöffnung (43) für den Laserstrahl (5) vorgesehen ist, wobei die Strahlachse (5A) sich orthogonal zur Halterungsplatte (23A') und mindestens einer der Detektionskegel (35`) sich entlang einer Beobachtungsachse erstreckt, die unter einem Beobachtungswinkel (α) im Bereich von 0° bis 90°, insbesondere 3° bis 60°, beispielsweise im Bereich von 5° bis 25°, zur Strahlachse (5A) verläuft.Aspect B3. Detection unit (21') according to aspect B1 or B2, wherein each of the detection cones (35`) extends along an observation axis (35A') which runs at an observation angle (α) in the range of 0° to 90° to the beam axis (5A). , wherein the observation angles (α) are in particular the same, do not differ from each other by more than 3° or are distributed in an angular range of 45°, and / or wherein the lens holder (23`) in particular has a mounting plate (23A'), in which a optical passage opening (43) is provided for the laser beam (5), the beam axis (5A) being orthogonal to the mounting plate (23A') and at least one of the detection cones (35`) extending along an observation axis which is at an observation angle (α) in the range from 0° to 90°, in particular 3° to 60°, for example in the range from 5° to 25°, to the beam axis (5A).

Aspekt B4. Detektionseinheit (21') nach einem der Aspekte B1 bis B3, wobei benachbarte Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') azimutal beabstandet um die Strahlachse (5A) angeordnet sind und/oder die Beobachtungsachsen (35A') der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') auf einer Kegeloberfläche um die Strahlachse (5A) liegen.Aspect B4. Detection unit (21') according to one of aspects B1 to B3, wherein adjacent lenses (25A', 25B', 25C', 25D') are arranged azimuthally spaced around the beam axis (5A) and/or the observation axes (35A') of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') lie on a cone surface around the beam axis (5A).

Aspekt B5. Detektionseinheit (21') nach einem der Aspekte B1 bis B4, wobei die Detektionseinheit (21) zwei bis 25, bevorzugt vier, Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') umfasst und/oder

  • wobei die Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') azimutal gleichverteilt um die Strahlachse (5A) angeordnet sind.
Aspect B5. Detection unit (21') according to one of aspects B1 to B4, wherein the detection unit (21) comprises two to 25, preferably four, lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and/or
  • wherein the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') are arranged equally azimuthally distributed around the beam axis (5A).

Aspekt B6. Detektionseinheit (21) nach einem der Aspekte B1 bis B5, ferner mit einem optischen Lichtleitsystem (27) umfassend

  • mehrere optische Eingängen (29), wobei jeder der optischen Eingänge (29) optisch mit einem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') verbunden und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteils (33) ausgebildet ist, und
  • einen optischen Ausgang (31) zur Abgabe der mit den Objektiven (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteile (33).
Aspect B6. Detection unit (21) according to one of aspects B1 to B5, further comprising an optical light guide system (27).
  • a plurality of optical inputs (29), each of the optical inputs (29) being optically connected to one of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and for recording the associated lens (25A', 25B', 25C ', 25D') of the recorded measurement component (33) is formed, and
  • an optical output (31) for emitting the measurement components (33) recorded with the lenses (25A', 25B', 25C', 25D').

Aspekt B7. Detektionseinheit (21) nach Aspekt B6, wobei das optische Lichtleitsystem (27) mehrere Lichtleitfasern (45) aufweist und wobei jeweils eine Lichteintrittsfläche (63) einer der Lichtleitfasern (45) einen der optischen Eingänge (29) ausbildet und das dem optischen Eingang (29) zugeordnete Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') den Plasmadetektionsbereich (39) auf die Lichteintrittsfläche (63) abbildet.Aspect B7. Detection unit (21) according to aspect B6, wherein the optical light guide system (27) has a plurality of optical fibers (45) and wherein a light entry surface (63) of one of the optical fibers (45) forms one of the optical inputs (29) and that corresponds to the optical input (29 ) assigned lens (25A', 25B', 25C', 25D') images the plasma detection area (39) onto the light entry surface (63).

Aspekt B8. Detektionseinheit (21) nach Aspekt B7, wobei Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) der Lichtleitfasern (45) den optische Ausgang (31) bilden und die Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D), insbesondere aneinander angrenzend oder beabstandet, aufgereiht angeordnet sind.Aspect B8. Detection unit (21) according to aspect B7, wherein light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) of the optical fibers (45) form the optical output (31) and the light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D), in particular adjacent or spaced apart from one another, are arranged in a row.

Aspekt B9. Detektionseinheit (21) nach Aspekt B7 oder B8, wobei Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) der Lichtleitfasern (45) aufgereiht angeordnet sind und/oder

  • wobei die Lichtleitfasern (45) ausgangsseitig linear aufgereiht sind, insbesondere zur Ausrichtung entlang eines Eintrittsspalt (19A) eines optischen Spektrometers (13), in dem insbesondere eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts (3A) für die Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit (21) erfassten Plasmalicht (3A) erfolgt, und/oder mit parallelen Faserorientierungen angeordnet sind.
Aspect B9. Detection unit (21) according to aspect B7 or B8, wherein light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) of the optical fibers (45) are arranged in a row and/or
  • wherein the optical fibers (45) are lined up linearly on the output side, in particular for alignment along an entrance slit (19A) of an optical spectrometer (13), in which in particular a spectral splitting of the plasma light (3A) for the spectral analysis of one detected by the detection unit (21). Plasma light (3A) occurs and/or is arranged with parallel fiber orientations.

AspektB10. Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A) mit

  • einer Laserstrahlquelle (9) zur Abgabe eines, insbesondere gepulsten, Laserstrahls (5), wobei das Plasma (3) mit dem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird,
  • einer Fokussieroptik (11) zur Fokussierung des Laserstrahls (5) auf die Oberfläche (7A) der Probe (7),
  • einer Detektionseinheit (21) nach einem der vorhergehenden Aspekte, und
  • einem optischen Spektrometer (13) zur Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit (21) erfassten Plasmalicht (3A),
wobei
  • - der Plasmadetektionsbereich (59) der Detektionseinheit (21) in einem Abschnitt entlang der Strahlachse (5A) angeordnet ist und
  • - die Laserstrahlquelle (9) und die Fokussieroptik (11) derart ausgebildet sind, und insbesondere Strahlparameter des Laserstrahls (5), umfassend insbesondere Pulsdauer und Pulsenergie eines gepulsten Laserstrahls, in Abhängigkeit des Materials der Probe (7) derart eingestellt sind, dass bei Positionierung der Oberfläche (7A) der Probe (7) im Plasmadetektionsbereiche (59) ein Plasma erzeugt wird.
AspectB10. Spectrometer system (1) for the spectral analysis of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3).
  • a laser beam source (9) for emitting a, in particular pulsed, laser beam (5), the plasma (3) being generated on a surface (7A) of a sample (7) with the laser beam (5) propagating along a beam axis (5A). ,
  • a focusing optics (11) for focusing the laser beam (5) on the surface (7A) of the sample (7),
  • a detection unit (21) according to one of the preceding aspects, and
  • an optical spectrometer (13) for the spectral analysis of a plasma light (3A) detected by the detection unit (21),
where
  • - the plasma detection area (59) of the detection unit (21) is arranged in a section along the beam axis (5A) and
  • - the laser beam source (9) and the focusing optics (11) are designed in such a way, and in particular beam parameters of the laser beam (5), including in particular the pulse duration and pulse energy of a pulsed laser beam, are set depending on the material of the sample (7) in such a way that when positioned a plasma is generated on the surface (7A) of the sample (7) in the plasma detection areas (59).

Aspekt B11. Spektrometersystem (1) nach Aspekt B10, wobei die Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') und entsprechend die Detektionskegel (35`) derart räumlich angeordnet sind, dass bei einer Abschattung von mindestens einem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') der Messanteil (33') des Plasmalichts (3A) mit einem anderen der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') erfassbar ist.Aspect B11. Spectrometer system (1) according to aspect B10, wherein the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and correspondingly the detection cones (35') are spatially arranged in such a way that when at least one of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') the measuring component (33') of the plasma light (3A) can be detected with another of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D').

Aspekt B12. Spektrometersystem (1) nach Aspekt B10 oder B11, ferner mit einem optischen Lichtleitsystem (27), das zum Weiterleiten von mit der Detektionseinheit (21) erfassten Messanteilen des Plasmalichts (3A) an das optische Spektrometer (13) ausgebildet ist und mehrere optische Eingängen (29) und einen optischen Ausgang (31) umfasst,

  • wobei jeder der optischen Eingänge (29) optisch einem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') zugeordnet und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteils ausgebildet ist, und
  • der optische Ausgang (31) zur Einkopplung von mit den Objektiven (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteilen in das optische Spektrometer (13) ausgebildet ist.
Aspect B12. Spectrometer system (1) according to aspect B10 or B11, further comprising an optical light guide system (27), which is designed to forward measurement components of the plasma light (3A) detected by the detection unit (21) to the optical spectrometer (13) and a plurality of optical inputs ( 29) and an optical output (31),
  • wherein each of the optical inputs (29) is optically assigned to one of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and is designed to record the measurement portion recorded with the assigned lens (25A', 25B', 25C', 25D'). is and
  • the optical output (31) is designed to couple measurement components recorded with the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') into the optical spectrometer (13).

Aspekt B13. Spektrometersystem (1) nach Aspekt B12, wobei jedes der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') derart ausgebildet und in der Objektivhalterung (23') angeordnet ist, dass der Messanteil, der im Detektionskegel (35') eines der Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') erfasst wird, auf den dem Objektiv (25A', 25B', 25C') zugeordneten optischen Eingang (29) abgebildet wird.Aspect B13. Spectrometer system (1) according to aspect B12, wherein each of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') is designed and arranged in the lens holder (23') in such a way that the measurement portion that is in the detection cone (35'). the lens (25A', 25B', 25C', 25D') is captured and imaged onto the optical input (29) assigned to the lens (25A', 25B', 25C').

Aspekt B14. Spektrometersystem (1) nach einem der Aspekte B10 bis B13, wobei jedem der aus dem optischen Lichtleitsystem (27) austretenden Messanteile (33) eine Strahlachse (75A, 75B, 75C, 75D) zugeordnet ist, und die Strahlachsen (75A, 75B, 75C, 75D) parallel zueinander oder nicht mehr als unter einem Winkel von bis zu 1° oder bis zu 3° zueinander verlaufen.Aspect B14. Spectrometer system (1) according to one of aspects B10 to B13, wherein a beam axis (75A, 75B, 75C, 75D) is assigned to each of the measuring components (33) emerging from the optical light guide system (27), and the beam axes (75A, 75B, 75C , 75D) are parallel to each other or no more than at an angle of up to 1° or up to 3° to each other.

Aspekt B15. Spektrometersystem (1) nach einem der Aspekte B11 bis B14, wobei das optische Spektrometer (13) eine Eintrittsapertur (19), insbesondere einen Eintrittsspalt (19A), ein dispersives optisches Element (13A), insbesondere ein Gitter, Prisma oder Gitterprisman (Grisma), und einen Detektor (13B) umfasst, und

  • wobei die Messanteile (33) durch die Eintrittsapertur (19) in das optische Spektrometer (13) eingekoppelt werden und über das dispersive optische Element (13A) spektral aufgelöst zu dem Detektor (13B) geführt werden, um eine allen Objektiven (25A', 25B', 25C', 25D') der Detektionseinheit (21) zugeordnete spektrale Verteilung (17) auszugeben.
Aspect B15. Spectrometer system (1) according to one of aspects B11 to B14, wherein the optical spectrometer (13) has an entrance aperture (19), in particular an entrance slit (19A), a dispersive optical element (13A), in particular a grating, Prism or grating prism (grisma), and a detector (13B), and
  • wherein the measurement components (33) are coupled into the optical spectrometer (13) through the entrance aperture (19) and are guided to the detector (13B) in a spectrally resolved manner via the dispersive optical element (13A) in order to obtain all lenses (25A', 25B ', 25C', 25D') to output the spectral distribution (17) assigned to the detection unit (21).

Es wird explizit betont, dass alle in der Beschreibung und/oder den Ansprüchen offenbarten Merkmale als getrennt und unabhängig voneinander zum Zweck der ursprünglichen Offenbarung ebenso wie zum Zweck des Einschränkens der beanspruchten Erfindung unabhängig von den Merkmalskombinationen in den Ausführungsformen und/oder den Ansprüchen angesehen werden sollen. Es wird explizit festgehalten, dass alle Bereichsangaben oder Angaben von Gruppen von Einheiten jeden möglichen Zwischenwert oder Untergruppe von Einheiten zum Zweck der ursprünglichen Offenbarung ebenso wie zum Zweck des Einschränkens der beanspruchten Erfindung offenbaren, insbesondere auch als Grenze einer Bereichsangabe.It is expressly emphasized that all features disclosed in the description and/or the claims are considered to be separate and independent from each other for the purpose of the original disclosure as well as for the purpose of limiting the claimed invention, regardless of the combinations of features in the embodiments and/or the claims should. It is explicitly stated that all range statements or statements of groups of units disclose every possible intermediate value or subgroup of units for the purpose of the original disclosure as well as for the purpose of limiting the claimed invention, in particular also as a limit of a range statement.

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

  • CN 107783242 A [0003]CN 107783242 A [0003]
  • US 11085882 [0003]US 11085882 [0003]

Claims (15)

Detektionseinheit (21) für ein Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A), wobei das Plasma (3) mit einem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird, umfassend: - eine Objektivhalterung (23), - mehrere von der Objektivhalterung (23) gehaltene Objektive (25A, 25B, 25C, 25D), wobei jedem der Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) ein Detektionskegel (35) zugeordnet ist, der in einem Überlappungsbereich (37) mit dem Laserstrahl (5) einen Plasmadetektionsbereich (39) ausbildet, aus dem im Fall eines im Plasmadetektionsbereich (39) vorliegenden Plasmas (3) ein Messanteil (33) des Plasmalichts (3A) vom Objektiv (25A, 25B, 25C, 25D) erfasst wird, und die Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) derart in der Objektivhalterung (23) angeordnet und ausgerichtet sind, dass die Plasmadetektionsbereiche (39) entlang der Strahlachse (5A) versetzt angeordnet sind und zusammen einen Sichtbereich (41) der Detektionseinheit (21) ausbilden.Detection unit (21) for a spectrometer system (1) for the spectral analysis of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3), the plasma (3) being on a surface (3) with a laser beam (5) propagating along a beam axis (5A). 7A) of a sample (7) is generated, comprising: - a lens holder (23), - several lenses (25A, 25B, 25C, 25D) held by the lens holder (23), whereby Each of the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) is assigned a detection cone (35), which forms a plasma detection area (39) in an overlap area (37) with the laser beam (5), from which in the case of a plasma detection area (39) present plasma (3) a measurement component (33) of the plasma light (3A) is detected by the lens (25A, 25B, 25C, 25D), and the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) are arranged and aligned in the lens holder (23) in such a way that the plasma detection areas (39) are arranged offset along the beam axis (5A) and together form a viewing area (41) of the detection unit (21) form. Detektionseinheit (21) nach Anspruch 1, wobei die Plasmadetektionsbereiche (39) - sich entlang der Strahlachse (5A) teilweise überlappen, ineinander übergehen oder voneinander beabstandet sind und/oder - sich entlang der Strahlachse (5A) jeweils über 0,1 mm bis 15 mm und/oder über 1/10 bis 1/4 des Sichtbereichs (41) erstrecken und/oder wobei die Objektivhaltung (23) eine optische Durchgangsöffnung (43) bereitstellt, durch die die Strahlachse (5A) verläuft, wobei eine Lage der Strahlachse (5A) insbesondere mittig in der optischen Durchgangsöffnung (43) festgelegt ist, und wobei die Objektivhalterung (23) insbesondere eine Halterungsplatte (23A) aufweist, in der mehrere Objektivhalterungsöffnungen zur Aufnahme der Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) und die optische Durchgangsöffnung (43) für den Laserstrahl (5) vorgesehen sind, und wobei die Objektivhalterungsöffnungen um die optische Durchgangsöffnung (43) herum, und insbesondere um die optische Durchgangsöffnung (43) azimutal verteilt, angeordnet sind.Detection unit (21). Claim 1 , wherein the plasma detection areas (39) - partially overlap, merge into one another or are spaced apart from one another along the beam axis (5A) and/or - each extend over 0.1 mm to 15 mm along the beam axis (5A) and/or over 1/ 10 to 1/4 of the viewing area (41) and / or wherein the lens holder (23) provides an optical passage opening (43) through which the beam axis (5A) runs, with a position of the beam axis (5A) in particular in the middle of the optical Through opening (43) is fixed, and wherein the lens holder (23) in particular has a mounting plate (23A) in which a plurality of lens holder openings for receiving the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) and the optical through opening (43) for the laser beam ( 5) are provided, and wherein the lens holder openings are arranged around the optical through-opening (43), and in particular azimuthally distributed around the optical through-opening (43). Detektionseinheit (21) nach Anspruch 1 oder 2, wobei jeder der Detektionskegel (35) sich entlang einer Beobachtungsachse (35A) erstreckt, die unter einem Beobachtungswinkel (α) im Bereich von 0° bis 90° zur Strahlachse (5A) verläuft, wobei die Beobachtungswinkel (α) insbesondere gleich sind, nicht mehr als 3° voneinander abweichen oder in einem Winkelbereich von 45° verteilt sind, und/oder wobei die Objektivhalterung (23) insbesondere eine Halterungsplatte (23A) aufweist, in der eine optische Durchgangsöffnung (43) für den Laserstrahl (5) vorgesehen ist, wobei die Strahlachse (5A) sich orthogonal zur Halterungsplatte (23A) und mindestens einer der Detektionskegel (35) sich entlang einer Beobachtungsachse (35A) erstreckt, die unter einem Beobachtungswinkel (α) im Bereich von 0° bis 90°, insbesondere 3° bis 60°, beispielsweise im Bereich von 5° bis 25°, zur Strahlachse (5A) verläuft.Detection unit (21). Claim 1 or 2 , wherein each of the detection cones (35) extends along an observation axis (35A) which runs at an observation angle (α) in the range from 0° to 90° to the beam axis (5A), the observation angles (α) being in particular the same deviate from each other by more than 3° or are distributed in an angular range of 45°, and/or the lens holder (23) in particular has a holder plate (23A) in which an optical passage opening (43) is provided for the laser beam (5), wherein the beam axis (5A) extends orthogonally to the mounting plate (23A) and at least one of the detection cones (35) extends along an observation axis (35A) which is at an observation angle (α) in the range from 0° to 90°, in particular 3° to 60°, for example in the range from 5° to 25°, to the beam axis (5A). Detektionseinheit (21) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) azimutal beabstandet um die Strahlachse (5A) angeordnet sind und/oder wobei die Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) azimutal gleichverteilt um die Strahlachse (5A) angeordnet sind.Detection unit (21) according to one of the Claims 1 until 3 , wherein the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) are arranged azimuthally spaced around the beam axis (5A) and / or wherein the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) are arranged azimuthally equally distributed around the beam axis (5A). Detektionseinheit (21) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die Detektionseinheit (21) zwei bis 25, insbesondere vier, Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) umfasst.Detection unit (21) according to one of the Claims 1 until 4 , wherein the detection unit (21) comprises two to 25, in particular four, lenses (25A, 25B, 25C, 25D). Detektionseinheit (21) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, ferner mit einem optischen Lichtleitsystem (27) umfassend mehrere optische Eingängen (29), wobei jeder der optischen Eingänge (29) optisch mit einem der Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) verbunden und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv (25A, 25B, 25C, 25D) erfassten Messanteils (33) ausgebildet ist, und einen optischen Ausgang (31), der zur Abgabe der mit den Objektiven (25A, 25B, 25C, 25D) erfassten Messanteile (33) ausgebildet ist.Detection unit (21) according to one of the Claims 1 until 5 , further with an optical light guide system (27) comprising a plurality of optical inputs (29), each of the optical inputs (29) being optically connected to one of the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) and for receiving the associated lens (25A , 25B, 25C, 25D). Detektionseinheit (21) nach Anspruch 6, wobei das optische Lichtleitsystem (27) mehrere Lichtleitfasern (45) aufweist und wobei jeweils eine Lichteintrittsfläche (63) einer der Lichtleitfasern (45) einen der optischen Eingänge (29) ausbildet und das dem optischen Eingang (29) zugeordnete Objektiv (25A, 25B, 25C, 25D) dazu ausgebildet und angeordnet ist, den Plasmadetektionsbereich (39) des zugeordneten Objektivs (25A, 25B, 25C, 25D) auf die Lichteintrittsfläche (63) abzubilden.Detection unit (21). Claim 6 , wherein the optical light guide system (27) has a plurality of optical fibers (45) and wherein a light entry surface (63) of one of the optical fibers (45) forms one of the optical inputs (29) and the lens (25A, 25B) assigned to the optical input (29). , 25C, 25D) is designed and arranged to image the plasma detection area (39) of the associated lens (25A, 25B, 25C, 25D) onto the light entry surface (63). Detektionseinheit (21) nach Anspruch 7, wobei Lichtaustrittsflächen (51A, 51B, 51C, 51D) der Lichtleitfasern (45) den optische Ausgang (31) bilden und die Lichtaustrittsflächen (51A, 51B, 51C, 51D), insbesondere aneinander angrenzend oder beabstandet, aufgereiht angeordnet sind.Detection unit (21). Claim 7 , wherein light exit surfaces (51A, 51B, 51C, 51D) of the optical fibers (45) form the optical output (31) and the light exit surfaces (51A, 51B, 51C, 51D), in particular adjacent or spaced apart, are arranged in a row. Detektionseinheit (21) nach Anspruch 7 oder 8, wobei Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) der Lichtleitfasern (45), insbesondere entsprechend der Abfolge der Plasmadetektionsbereiche (39) im Sichtbereich (33), aufgereiht angeordnet sind und/oder wobei die Lichtleitfasern (45) ausgangsseitig linear aufgereiht, insbesondere zur Ausrichtung entlang eines Eintrittsspalt (19A) eines optischen Spektrometers (13), in dem insbesondere eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts (3A) für die Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit (21) erfassten Plasmalicht (3A) erfolgt, und/oder mit parallelen Faserorientierungen angeordnet sind.Detection unit (21). Claim 7 or 8th , wherein light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) of the optical fibers (45), in particular according to the sequence of the plasma detection areas (39) in the viewing area (33), are arranged in a row and / or the optical fibers (45) on the output side lined up linearly, in particular for alignment along an entrance slit (19A) of an optical spectrometer (13), in which in particular a spectral splitting of the plasma light (3A) takes place for the spectral analysis of a plasma light (3A) detected by the detection unit (21), and/ or are arranged with parallel fiber orientations. Detektionseinheit (21) nach einem der Ansprüche 7 bis 9, wobei eine Lichtführungszone einer Lichtleitfaser einen Durchmesser im Bereich von 100 µm bis 1.000 µm, insbesondere im Bereich von 100 µm bis 300 µm, im Bereich von 150 µm bis 250 µm oder im Bereich von 750 µm bis 850 µm, aufweisen.Detection unit (21) according to one of the Claims 7 until 9 , wherein a light guide zone of an optical fiber has a diameter in the range from 100 µm to 1,000 µm, in particular in the range from 100 µm to 300 µm, in the range from 150 µm to 250 µm or in the range from 750 µm to 850 µm. Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A) mit einer Laserstrahlquelle (9) zur Abgabe eines, insbesondere gepulsten, Laserstrahls (5), wobei das Plasma (3) mit dem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird, einer Fokussieroptik (11) zur Fokussierung des Laserstrahls (5) auf die Oberfläche (7A) der Probe (7), einer Detektionseinheit (21) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, und einem optischen Spektrometer (13) zur Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit (21) erfassten Plasmalicht (3A), wobei - Plasmadetektionsbereiche (39) der Detektionseinheit (21) in einem Abschnitt entlang der Strahlachse (5A) angeordnet sind und - die Laserstrahlquelle (9) und die Fokussieroptik (11) derart ausgebildet sind, dass bei Positionierung der Oberfläche (7A) der Probe (7) in jedem der Plasmadetektionsbereiche (39) ein Plasma erzeugt wird.Spectrometer system (1) for the spectral analysis of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3). a laser beam source (9) for emitting a, in particular pulsed, laser beam (5), the plasma (3) being generated on a surface (7A) of a sample (7) with the laser beam (5) propagating along a beam axis (5A). , a focusing optics (11) for focusing the laser beam (5) on the surface (7A) of the sample (7), a detection unit (21) according to one of the preceding claims, and an optical spectrometer (13) for the spectral analysis of a plasma light (3A) detected by the detection unit (21), where - Plasma detection areas (39) of the detection unit (21) are arranged in a section along the beam axis (5A) and - The laser beam source (9) and the focusing optics (11) are designed such that a plasma is generated in each of the plasma detection areas (39) when the surface (7A) of the sample (7) is positioned. Spektrometersystem (1) nach Anspruch 11, ferner mit einem optischen Lichtleitsystem (27), das zum Weiterleiten von mit der Detektionseinheit (21) erfassten Messanteilen des Plasmalichts (3A) an das optische Spektrometer (13) ausgebildet ist und mehrere optische Eingängen (29) und einen optischen Ausgang (31) umfasst, wobei jeder der optischen Eingänge (29) optisch einem der Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) zugeordnet und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv (25A, 25B, 25C, 25D) erfassten Messanteils (33) ausgebildet ist, und der optischen Ausgang (31) zur Einkopplung von mit den Objektiven (25A, 25B, 25C, 25D) erfassten Messanteilen (33) in das optische Spektrometer (13) ausgebildet ist.Spectrometer system (1). Claim 11 , further with an optical light guide system (27), which is designed to forward measurement components of the plasma light (3A) detected by the detection unit (21) to the optical spectrometer (13) and a plurality of optical inputs (29) and an optical output (31) comprises, wherein each of the optical inputs (29) is optically assigned to one of the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) and is designed to record the measurement portion (33) recorded with the assigned lens (25A, 25B, 25C, 25D), and the optical output (31) is designed to couple measurement components (33) recorded with the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) into the optical spectrometer (13). Spektrometersystem (1) nach Anspruch 12, wobei mindestens eines der Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) derart ausgebildet und in der Objektivhalterung (23) angeordnet ist, dass ein Messanteil (33) des Plasmalichts (3A), der im Detektionskegel des Objektivs (25A, 25B, 25C, 25D) erfasst wird, auf den dem Objektiv (25A, 25B, 25C, 25D) zugeordneten optischen Eingang (29) abgebildet wird.Spectrometer system (1). Claim 12 , wherein at least one of the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) is designed and arranged in the lens holder (23) in such a way that a measuring component (33) of the plasma light (3A) which is in the detection cone of the lens (25A, 25B, 25C , 25D), is imaged onto the optical input (29) assigned to the lens (25A, 25B, 25C, 25D). Spektrometersystem (1) nach Anspruch 12 oder 13, wobei jedem der aus dem optischen Lichtleitsystem (27) austretenden Messanteile (33) eine Strahlachse (75A, 75B, 75C, 75D) zugeordnet ist, und die Strahlachsen (75A, 75B, 75C, 75D) parallel zueinander sind oder nicht mehr als unter einem Winkel von bis zu 1° oder bis zu 3° zueinander verlaufen.Spectrometer system (1). Claim 12 or 13 , wherein each of the measuring components (33) emerging from the optical light guide system (27) is assigned a beam axis (75A, 75B, 75C, 75D), and the beam axes (75A, 75B, 75C, 75D) are parallel to one another or no more than below at an angle of up to 1° or up to 3° to each other. Spektrometersystem (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 14, wobei das optische Spektrometer (13) eine Eintrittsapertur (19), insbesondere einen Eintrittsspalt (19A), ein dispersives optisches Element (13A), insbesondere ein Gitter, Prisma oder Gitterprisma, und einen Detektor (13B) umfasst, und wobei die Messanteile (33) durch die Eintrittsapertur (19) in das optische Spektrometer (13) eingekoppelt werden und über das dispersive optische Element (13A) spektral aufgelöst zu dem Detektor (13B) geführt werden, um eine den Objektiven (25A, 25B, 25C, 25D) der Detektionseinheit (21) zugeordnete spektrale Verteilung (17) auszugeben.Spectrometer system (1) according to one of the Claims 11 until 14 , wherein the optical spectrometer (13) comprises an entrance aperture (19), in particular an entrance slit (19A), a dispersive optical element (13A), in particular a grating, prism or grating prism, and a detector (13B), and wherein the measurement components ( 33) are coupled into the optical spectrometer (13) through the entrance aperture (19) and are guided to the detector (13B) in a spectrally resolved manner via the dispersive optical element (13A) in order to produce one of the lenses (25A, 25B, 25C, 25D). to output the spectral distribution (17) assigned to the detection unit (21).
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