DE102022112765B4 - Detection unit for the spectral analysis of a laser-induced plasma and laser-induced plasma spectrometer - Google Patents
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Abstract
Es wird eine Detektionseinheit (21) für ein Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse (LIBS) eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A), wobei das Plasma (3) mit einem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird. Die Detektionseinheit (21) umfasst eine Objektivhalterung (23) und mehrere von der Objektivhalterung (23) gehaltene Objektive (25A, 25B, 25C, 25D). Jedem der Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) ist ein Detektionskegel (35) zugeordnet, der in einem Überlappungsbereich (37) mit dem Laserstrahl (5) einen Plasmadetektionsbereich (39) ausbildet, aus dem im Fall eines im Plasmadetektionsbereich (39) vorliegenden Plasmas (3) ein Messanteil (33) des Plasmalichts (3A) vom Objektiv (25A, 25B, 25C, 25D) erfasst wird. Die Objektive (25A, 25B, 25C, 25D) sind derart in der Objektivhalterung (23) angeordnet und ausgerichtet, dass die Plasmadetektionsbereiche (39) entlang der Strahlachse (5A) versetzt angeordnet sind und zusammen einen Sichtbereich (41) der Detektionseinheit (21) ausbilden. Die mithilfe des multifokalen Detektionskonzepts erhöhte Tiefenschärfte kann den Messvorgang der Spektralanalyse verkürzen.There is a detection unit (21) for a spectrometer system (1) for the spectral analysis (LIBS) of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3), the plasma (3) being coupled with a laser beam (5A) propagating along a beam axis (5A). 5) is generated on a surface (7A) of a sample (7). The detection unit (21) comprises a lens holder (23) and a plurality of lenses (25A, 25B, 25C, 25D) held by the lens holder (23). Each of the lenses (25A, 25B, 25C, 25D) is assigned a detection cone (35), which forms a plasma detection area (39) in an overlap area (37) with the laser beam (5), from which in the case of a plasma detection area (39) present plasma (3) a measurement component (33) of the plasma light (3A) is detected by the lens (25A, 25B, 25C, 25D). The lenses (25A, 25B, 25C, 25D) are arranged and aligned in the lens holder (23) in such a way that the plasma detection areas (39) are arranged offset along the beam axis (5A) and together form a viewing area (41) of the detection unit (21). form. The increased depth of field using the multifocal detection concept can shorten the measuring process of the spectral analysis.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft Systeme zur laserinduzierten Plasmaspektroskopie, insbesondere eine Detektionseinheit zur spektralen Analyse eines laserinduzierten Plasmas. Ferner betrifft die Erfindung ein Spektrometersystem, insbesondere mit einem mehrere Lichtleitfasern umfassenden Lichtleitsystem.The present invention relates to systems for laser-induced plasma spectroscopy, in particular a detection unit for the spectral analysis of a laser-induced plasma. The invention further relates to a spectrometer system, in particular with a light guiding system comprising a plurality of optical fibers.
Laserinduzierte Plasmaspektroskopie - auch als LIBS (laser induced breakdown spectroscopy) oder LIPS (laser induced plasma spectroscopy) bezeichnet - wird zur Bestimmung einer elementspezifischen Zusammensetzung einer Probe mithilfe eines Plasmas eingesetzt. Das Plasma wird mit hochintensiver, fokussierter Laserstrahlung an der Oberfläche der Probe erzeugt. Vom Plasma emittiertes Licht wird detektiert und spektral ausgewertet, um auf eine elementare Zusammensetzung der Probe zurückzuschließen.Laser-induced plasma spectroscopy - also known as LIBS (laser induced breakdown spectroscopy) or LIPS (laser induced plasma spectroscopy) - is used to determine an element-specific composition of a sample using a plasma. The plasma is generated on the surface of the sample using high-intensity, focused laser radiation. Light emitted by the plasma is detected and spectrally evaluated in order to determine the elemental composition of the sample.
Aus dem Stand der Technik sind LIBS-Systeme bekannt, die für eine korrekte Fokussierung der Laserstrahlung auf die Oberfläche ein Höhenprofil der Probe vermessen und entsprechend das Spektrometer im Abstand anpassen. Eine automatische Fokussiervorrichtung ist z. B. in
Vorteile von LIBS, und allgemein von einer laserbasierten optischen Emissionsspektroskopie, umfassen die kontaktfreie Analyse, die bei einem Abstand zur Probe von z. B. 100 mm, 200 mm oder 500 mm erfolgt und frei von ionisierender Strahlung ist. Beispielhafte Anwendungsbereiche einer der hierin offenbarten und auf LIBS basierenden Materialidentifikation umfassen eine Analyse von homogenen und heterogenen Proben an einer stationären Anlage oder eine Analyse durchlaufender Proben, beispielsweise eine (online) Metallanalytik von auf einem Förderband transportierten Proben. So kann die Materialidentifikation als Vorbereitungsschritt bei einer Materialsortierung eingesetzt werden. Die schnelle Auswertbarkeit der detektierten Spektren kann z. B. bei Förderband-Anlagen Vorschubgeschwindigkeiten von einigen m/s erlauben. LIBS-Systeme können aufgrund der kontaktfreien Analyse hinsichtlich industrieller Arbeitsumgebungen unempfindlich und fehlerresistent ausgebildet werden.Advantages of LIBS, and of laser-based optical emission spectroscopy in general, include non-contact analysis, which can be carried out at a distance from the sample of e.g. B. 100 mm, 200 mm or 500 mm and is free of ionizing radiation. Exemplary areas of application of one of the LIBS-based material identification disclosed herein include an analysis of homogeneous and heterogeneous samples on a stationary system or an analysis of continuous samples, for example (online) metal analysis of samples transported on a conveyor belt. Material identification can be used as a preparatory step for material sorting. The quick evaluation of the detected spectra can, for example, B. allow feed speeds of a few m/s in conveyor belt systems. Due to the contact-free analysis, LIBS systems can be designed to be insensitive and error-resistant in industrial working environments.
Allgemein ist die vorliegende Offenbarung darauf gerichtet, zumindest zum Teil einen oder mehrere Aspekte von bekannten LIBS-basierten Systemen zu verbessern. Einem Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, den Einsatz von LIBS mit einer einfachen Handhabung von Proben zu ermöglichen. Insbesondere ist eine schnelle und zuverlässige Analyse von Proben mit strukturiertem undefinierten (und damit unbekannten) Oberflächenverlauf wesentlich für die Integration von LIBS in industrielle Arbeitsabläufe. Einem weiteren Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, im Rahmen von LIBS ausreichend starke Detektionssignale bereitzustellen, insbesondere auch bei der Analyse von Proben mit einem strukturierten undefinierten Oberflächenverlauf. Einem weiteren Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, ein optisches System, insbesondere für LIBS, anzugeben, das die Nachteile des Standes der Technik insbesondere mit Blick auf Proben mit strukturiertem undefinierten Oberflächenverlauf behebt. Einem weiteren Aspekt dieser Offenbarung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Lichtleitsystem für ein LIBS-System anzugeben, das eine einfache Weiterleitung von Plasmalicht zu einem optischen Spektrometer ermöglicht.In general, the present disclosure is directed at improving, at least in part, one or more aspects of known LIBS-based systems. One aspect of this disclosure is based on the task of enabling the use of LIBS with easy sample handling. In particular, a quick and reliable analysis of samples with structured, undefined (and therefore unknown) surface contours is essential for the integration of LIBS into industrial workflows. Another aspect of this revelation is the task of: LIBS provides sufficiently strong detection signals, especially when analyzing samples with a structured, undefined surface. A further aspect of this disclosure is based on the task of specifying an optical system, in particular for LIBS, which eliminates the disadvantages of the prior art, particularly with regard to samples with a structured, undefined surface shape. A further aspect of this disclosure is based on the task of specifying a light guidance system for a LIBS system that enables simple transmission of plasma light to an optical spectrometer.
Zumindest eine dieser Aufgaben wird gelöst durch eine Detektionseinheit nach Anspruch 1 und durch ein Spektrometersystem nach Anspruch 11. Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben.At least one of these tasks is solved by a detection unit according to claim 1 and by a spectrometer system according to
In einem Aspekt umfasst eine Detektionseinheit für ein Spektrometersystem zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma emittierten Plasmalichts, wobei das Plasma mit einem sich entlang einer Strahlachse ausbreitenden Laserstrahl auf einer Oberfläche einer Probe erzeugt wird (und wobei insbesondere eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts für die Spektralanalyse in einem optischen Spektrometer erfolgt), eine Objektivhalterung und mehrere von der Objektivhalterung gehaltene Objektive. Jedem der Objektive ist ein Detektionskegel zugeordnet, der in einem Überlappungsbereich mit dem Laserstrahl einen Plasmadetektionsbereich ausbildet, aus dem im Fall eines im Plasmadetektionsbereich vorliegenden Plasmas ein Messanteil des Plasmalichts vom Objektiv erfasst wird. Mit anderen Worten liegen Spitzen der Detektionskegel kurz hinter der Laserachse, wodurch die Detektionskegel ein mögliches Plasma im Plasmadetektionsbereich „umarmen“. Die Objektive sind derart in der Objektivhalterung angeordnet und ausgerichtet, dass die Plasmadetektionsbereiche entlang der Strahlachse versetzt angeordnet sind und zusammen einen Sichtbereich der Detektionseinheit ausbilden.In one aspect, a detection unit for a spectrometer system for spectral analysis of a plasma light emitted by a laser-induced plasma, wherein the plasma is generated on a surface of a sample with a laser beam propagating along a beam axis (and in particular a spectral splitting of the plasma light for the spectral analysis in an optical spectrometer), a lens mount and several lenses held by the lens mount. Each of the lenses is assigned a detection cone, which forms a plasma detection area in an overlapping area with the laser beam, from which, in the case of a plasma present in the plasma detection area, a measurement portion of the plasma light is detected by the objective. In other words, tips of the detection cones lie just behind the laser axis, causing the detection cones to “hug” a possible plasma in the plasma detection area. The lenses are arranged and aligned in the lens holder in such a way that the plasma detection areas are arranged offset along the beam axis and together form a viewing area of the detection unit.
Allgemein ist der Sichtbereich der Detektionseinheit ein Bereich entlang der Strahlachse, aus dem die Detektionseinheit Plasmalicht in Form von Messanteilen einzelner Objektive erfassen kann. Die Detektionseinheit kann insbesondere zwei bis 25, beispielsweise vier, fünf, acht, neun oder 15 Objektive umfassen.In general, the field of view of the detection unit is an area along the beam axis from which the detection unit can detect plasma light in the form of measurement components from individual lenses. The detection unit can in particular comprise two to 25, for example four, five, eight, nine or 15 lenses.
In einem weiteren Aspekt weist ein Spektrometersystem zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma emittierten Plasmalichts eine Laserstrahlquelle zur Abgabe eines, insbesondere gepulsten, Laserstrahls auf, wobei das Plasma mit dem sich entlang einer Strahlachse ausbreitenden Laserstrahl auf einer Oberfläche einer Probe erzeugt wird. Ferner umfasst das Spektrometersystem eine Fokussieroptik zur Fokussierung des Laserstrahls auf die Oberfläche der Probe, eine hierin offenbarte Detektionseinheit, und ein optisches Spektrometer zur Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit erfassten Plasmalicht. Plasmadetektionsbereiche der Detektionseinheit sind in einem Abschnitt entlang der Strahlachse angeordnet. Ferner sind die Laserstrahlquelle und die Fokussieroptik dazu ausgebildet, dass bei Positionierung der Oberfläche der Probe in jedem der Plasmadetektionsbereiche ein Plasma erzeugt wird. Hierzu sind zum Beispiel Strahlparameter des Laserstrahls, umfassend insbesondere Pulsdauer und Pulsenergie eines gepulsten Laserstrahls, in Abhängigkeit des Materials der Probe entsprechend eingestellt bzw. einstellbar.In a further aspect, a spectrometer system for the spectral analysis of a plasma light emitted by a laser-induced plasma has a laser beam source for emitting a, in particular pulsed, laser beam, wherein the plasma is generated on a surface of a sample with the laser beam propagating along a beam axis. Furthermore, the spectrometer system includes focusing optics for focusing the laser beam onto the surface of the sample, a detection unit disclosed herein, and an optical spectrometer for spectral analysis of a plasma light detected by the detection unit. Plasma detection areas of the detection unit are arranged in a section along the beam axis. Furthermore, the laser beam source and the focusing optics are designed to generate a plasma in each of the plasma detection areas when the surface of the sample is positioned. For this purpose, for example, beam parameters of the laser beam, including in particular the pulse duration and pulse energy of a pulsed laser beam, are set or adjustable depending on the material of the sample.
In einigen Weiterbildungen können die Plasmadetektionsbereiche sich entlang der Strahlachse teilweise überlappen, ineinander übergehen oder voneinander beabstandet sein. Alternativ oder zusätzlich können sich die Plasmadetektionsbereiche entlang der Strahlachse jeweils über 0,1 mm bis 15 mm (beispielsweise 0,1 mm bis 10 mm) und/oder über 1/10 bis 1/4 des Sichtbereichs erstrecken. Alternativ oder zusätzlich kann die Objektivhaltung eine optische Durchgangsöffnung bereitstellt, durch die die Strahlachse verläuft, wobei eine Lage der Strahlachse insbesondere mittig in der optischen Durchgangsöffnung festgelegt sein kann. Die Objektivhalterung kann insbesondere eine Halterungsplatte aufweisen, in der mehrere Objektivhalterungsöffnungen zur Aufnahme der Objektive und die optische Durchgangsöffnung für den Laserstrahl vorgesehen sind. Die Objektivhalterungsöffnungen können um die optische Durchgangsöffnung herum, und insbesondere um die optische Durchgangsöffnung azimutal verteilt, angeordnet sein. Die Objektivhalterungsöffnungen können als Durchgangsöffnungen oder Aussparungen ausgebildet sein, wobei allgemein auf einer Seite der Halterungsplatte Aperturen der Objektive der Detektionseinheit zur Lichtaufnahme und auf der anderen Seite Lichtausgänge der Objektive zur Einkopplung von Licht in Lichtleitsystem angeordnet sein können.In some developments, the plasma detection areas can partially overlap along the beam axis, merge into one another or be spaced apart from one another. Alternatively or additionally, the plasma detection areas can each extend over 0.1 mm to 15 mm (for example 0.1 mm to 10 mm) and/or over 1/10 to 1/4 of the viewing area along the beam axis. Alternatively or additionally, the lens holder can provide an optical through-opening through which the beam axis runs, wherein a position of the beam axis can be fixed in particular in the middle of the optical through-opening. The lens holder can in particular have a mounting plate in which a plurality of lens holder openings for receiving the lenses and the optical passage opening for the laser beam are provided. The lens holder openings can be arranged around the optical through-opening, and in particular azimuthally distributed around the optical through-opening. The lens mounting openings can be designed as through openings or recesses, with apertures of the lenses of the detection unit for receiving light generally being arranged on one side of the mounting plate and light outputs of the lenses for coupling light into the light guidance system can be arranged on the other side.
In einigen Weiterbildungen kann sich jeder der Detektionskegel (ausgehend von der Apertur eines zugehörigen Objektivs) entlang einer Beobachtungsachse erstrecken, die unter einem Beobachtungswinkel im Bereich von ca. 0° bis ca. 90° zur Strahlachse verläuft. Die Beobachtungswinkel können insbesondere gleich sein, nicht mehr als 3° voneinander abweichen oder in einem Winkelbereich von 45° verteilt sein. Die Objektivhalterung kann insbesondere eine Halterungsplatte aufweisen, in der eine optische Durchgangsöffnung für den Laserstrahl vorgesehen ist, wobei sich die Strahlachse orthogonal zur Halterungsplatte erstreckt. Mindestens einer der Detektionskegel kann sich (ausgehend von der Apertur eines zugehörigen Objektivs) entlang einer Beobachtungsachse erstrecken, die unter einem Beobachtungswinkel in einem Bereich von ca. 0° bis ca. 90°, insbesondere in einem Bereich von ca. 3° bis ca. 60°, beispielsweise im Bereich von ca. 5° bis ca. 25°, zur Strahlachse verläuft.In some developments, each of the detection cones (starting from the aperture of an associated objective) can extend along an observation axis that runs at an observation angle in the range of approximately 0° to approximately 90° to the beam axis. The observation angles can in particular be the same, not differ from each other by more than 3° or be distributed in an angular range of 45°. The lens holder can in particular have a mounting plate in which an optical passage opening for the Laser beam is provided, the beam axis extending orthogonally to the mounting plate. At least one of the detection cones can extend (starting from the aperture of an associated objective) along an observation axis which is at an observation angle in a range of approximately 0° to approximately 90°, in particular in a range of approximately 3° to approximately. 60°, for example in the range from approx. 5° to approx. 25°, to the beam axis.
In einigen Weiterbildungen können die Objektive azimutal (insbesondere azimutal bezüglich der Strahlachse) beabstandet um die Strahlachse angeordnet sein. Die Objektive können insbesondere azimutal gleichverteilt um die Strahlachse angeordnet sein. Mit anderen Worten können Beobachtungsachsen der Objektive ausgehend vom jeweiligen Zentrum der Apertur eines Objektivs in Richtung Strahlachse verlaufen und entsprechend Ebenen definieren, die durch die Strahlachse und die jeweilige Beobachtungsachse verlaufen. Jeder der Ebenen kann ein spezifischer azimutale Winkel bezüglich der Strahlachse zugeordnet sein. Bei vier azimutal gleichverteilten Objektiven unterscheiden sich die azimutalen Winkel benachbarter Objektive beispielsweise um 90°.In some developments, the lenses can be arranged azimuthally (in particular azimuthally with respect to the beam axis) spaced around the beam axis. The lenses can in particular be arranged with the same azimuth distribution around the beam axis. In other words, observation axes of the lenses can run from the respective center of the aperture of an objective in the direction of the beam axis and accordingly define planes that run through the beam axis and the respective observation axis. Each of the planes can be assigned a specific azimuthal angle with respect to the beam axis. For four lenses with the same azimuthal distribution, the azimuthal angles of adjacent lenses differ by 90°, for example.
In einigen Weiterbildungen kann die Detektionseinheit ferner ein optisches Lichtleitsystem umfassen, das mehrere optische Eingängen und einen optischen Ausgang aufweist. Jeder der optischen Eingänge kann optisch mit einem der Objektive verbunden und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv erfassten Messanteils ausgebildet sein. Der optische Ausgang kann zur Abgabe der mit den Objektiven erfassten Messanteile ausgebildet sein. Mit anderen Worten kann der optische Ausgang des Lichtleitsystems als ein gemeinsamer funktioneller Ausgang zur Abgabe der mit dem Objektiven erfassten Messanteile ausgebildet sein.In some developments, the detection unit can further comprise an optical light guide system that has a plurality of optical inputs and an optical output. Each of the optical inputs can be optically connected to one of the lenses and designed to record the measurement portion recorded with the associated lens. The optical output can be designed to output the measurement components recorded with the lenses. In other words, the optical output of the light guide system can be designed as a common functional output for emitting the measurement components recorded with the objective.
In einigen Weiterbildungen kann optische Lichtleitsystem mehrere Lichtleitfasern aufweisen. Jeweils eine Lichteintrittsfläche einer der Lichtleitfasern kann einen der optischen Eingänge ausbilden und das dem optischen Eingang zugeordnete Objektiv kann dazu ausgebildet und angeordnet (insbesondere ausgerichtet) sein, den Plasmadetektionsbereich des zugeordneten Objektivs auf die Lichteintrittsfläche abzubilden. Die Lichtaustrittsflächen der Lichtleitfasern können den optische Ausgang bilden, wobei die Lichtaustrittsflächen insbesondere aneinander angrenzend oder beabstandet, aufgereiht angeordnet sein können. Ferner können die Lichtaustrittsflächen, insbesondere entsprechend der Abfolge der Plasmadetektionsbereiche im Sichtbereich, aufgereiht angeordnet sein. In einigen Weiterbildungen können die Lichtleitfasern ausgangsseitig linear, insbesondere zur Ausrichtung entlang eines Eintrittsspalt eines optischen Spektrometers, in dem beispielsweise eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts für die Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit erfassten Plasmalicht erfolgt, aufgereiht sein. Insbesondere kann ausgangsseitig eine parallele Faserorientierung zur gleichgerichteten Abgabe der Messanteile vorliegen.In some developments, the optical light guide system can have several optical fibers. In each case a light entry surface of one of the optical fibers can form one of the optical inputs and the lens assigned to the optical input can be designed and arranged (in particular aligned) to image the plasma detection area of the assigned lens onto the light entry surface. The light exit surfaces of the optical fibers can form the optical output, whereby the light exit surfaces can in particular be arranged in a row, adjacent or spaced apart from one another. Furthermore, the light exit surfaces can be arranged in a row, in particular according to the sequence of the plasma detection areas in the viewing area. In some developments, the optical fibers can be lined up linearly on the output side, in particular for alignment along an entrance slit of an optical spectrometer, in which, for example, a spectral splitting of the plasma light for the spectral analysis of a plasma light detected by the detection unit takes place. In particular, there can be a parallel fiber orientation on the output side for the rectified delivery of the measurement components.
In einigen Weiterbildungen kann eine Lichtführungszone einer Lichtleitfaser einen Durchmesser z. B. im Bereich von ca. 100 µm bis ca. 1.000 µm (oder mehr), insbesondere im Bereich von ca. 100 µm bis ca. 300 µm, im Bereich von ca. 150 µm bis ca. 250 µm oder im Bereich von ca. 750 µm bis ca. 850 µm, aufweisen.In some developments, a light guide zone of an optical fiber can have a diameter of e.g. B. in the range from approx. 100 µm to approx. 1,000 µm (or more), in particular in the range from approx. 100 µm to approx. 300 µm, in the range from approx. 150 µm to approx. 250 µm or in the range from approx 750 µm to approx. 850 µm.
In einigen Ausführungsformen des Spektrometers kann dieses ein optisches Lichtleitsystem umfassen, das zum Weiterleiten von mit der Detektionseinheit erfassten Messanteilen des Plasmalichts an das optische Spektrometer ausgebildet ist und mehrere optische Eingänge und einen optischen Ausgang umfasst. Jeder der optischen Eingänge kann optisch einem der Objektive zugeordnet und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv erfassten Messanteils ausgebildet sein. Der optische Ausgang kann zur Einkopplung von mit den Objektiven erfassten Messanteilen in das optische Spektrometer ausgebildet sein. Insbesondere kann mindestens eines der Objektive derart ausgebildet und in der Objektivhalterung angeordnet sein, dass ein Messanteil des Plasmalichts, der im Detektionskegel des Objektivs erfasst wird, auf den dem Objektiv zugeordneten optischen Eingang abgebildet wird.In some embodiments of the spectrometer, this may include an optical light guide system, which is designed to forward measurement components of the plasma light detected by the detection unit to the optical spectrometer and includes a plurality of optical inputs and an optical output. Each of the optical inputs can be optically assigned to one of the lenses and designed to record the measurement portion recorded with the assigned lens. The optical output can be designed to couple measurement components recorded with the lenses into the optical spectrometer. In particular, at least one of the lenses can be designed and arranged in the lens holder in such a way that a measurement portion of the plasma light, which is detected in the detection cone of the lens, is imaged onto the optical input assigned to the lens.
In einigen Weiterbildungen kann jedem der aus dem optischen Lichtleitsystem austretenden Messanteile eine Strahlachse zugeordnet sein, und die Strahlachsen können parallel zueinander oder nicht mehr als unter einem Winkel von bis zu ca. 1° oder bis zu ca. 3° zueinander verlaufen.In some developments, each of the measuring components emerging from the optical light guide system can be assigned a beam axis, and the beam axes can run parallel to one another or no more than at an angle of up to approximately 1° or up to approximately 3° to one another.
In einigen Weiterbildungen kann das optische Spektrometer eine Eintrittsapertur, insbesondere einen Eintrittsspalt, ein dispersives optisches Element, insbesondere ein Gitter, Prisma oder Gitterprisma, und einen Detektor umfassen, wobei die Messanteile durch die Eintrittsapertur in das optische Spektrometer eingekoppelt werden können und über das dispersive optische Element spektral aufgelöst zu dem Detektor geführt werden können, um eine den Objektiven der Detektionseinheit zugeordnete spektrale Verteilung auszugeben.In some developments, the optical spectrometer can include an entrance aperture, in particular an entrance slit, a dispersive optical element, in particular a grating, prism or grating prism, and a detector, wherein the measurement components can be coupled into the optical spectrometer through the entrance aperture and via the dispersive optical Element can be guided to the detector in a spectrally resolved manner in order to output a spectral distribution assigned to the lenses of the detection unit.
Beispiele für erfindungsgemäß zu untersuchende Proben/Materialien umfassen homogene und inhomogene Materialien, die insbesondere durch eine ungleichmäßige, nicht-einheitlich räumliche Oberflächenkontur gekennzeichnet sind. Mögliche Proben/zu untersuchende Materialien umfassen Feststoffe, Pulver oder Granulate wie Metalle, Glas, Sand, Salz, Mineralien, Schlacke, Gestein, Mehl, Zucker, (landwirtschaftliche) Bodenproben, Gips, Ton, Kalk, Mergel, Zement, Kohle, Koks, Erz, Emulsionen, Schlämme und insbesondere auch dick/zäh-flüssige Proben wie Schmelzen, z. B. von Glas, Aluminium, Eisen und Roheisen, Salz, usw.Examples of samples/materials to be examined according to the invention include homogeneous and inhomogeneous materials, which are characterized in particular by an uneven, non-uniform spatial surface contour. Possible samples/materials to be examined include Solids, powders or granules such as metals, glass, sand, salt, minerals, slag, rock, flour, sugar, (agricultural) soil samples, gypsum, clay, lime, marl, cement, coal, coke, ore, emulsions, sludges and in particular also thick/viscous-liquid samples such as melts, e.g. B. from glass, aluminum, iron and pig iron, salt, etc.
Im Rahmen der hierin offenbarten Objektive erstreckt sich ein detektierbares Volumen von der Objektivapparatur (allgemein umfasst ein Objektiv ein oder mehrere fokussierende optische Elemente, wie eine fokussierende Linse oder ein fokussierender Spiegel, sowie optional defokussierende optische Elemente, wie eine defokussierende Linse oder ein defokussierender Spiegel, die in einem Gehäuse gehalten sind) in Richtung des zu erfassenden Plasmas. Das mit einem Objektiv detektierbare Volumen wird hierin als Detektionskegel bezeichnet (und ist auch als „Lichtkegel“ eines Objektivs bekannt). Im Rahmen der vorliegenden Offenbarung entspricht ein Detektionskegel somit allgemein einem Volumen, aus dem Licht von einem Objektiv erfasst und zu einem optischen Spektrometer weitergeleitet werden kann. Im Fall einer runden Objektivapertur ist das detektierbare Volumen kegelförmig im engeren Sinne, d. h. mit einem kreisförmigen Querschnitt, ausgebildet. Im Rahmen der vorliegenden Offenbarung umfasst ein Detektionskegel auch eine Kegelgeometrie, die von der Rotationssymmetrie abweicht und somit keine runde Querschnittsgeometrie aufweist. Die Achse des Detektionskegels wird hierin auch als Beobachtungsachse bezeichnet und definiert allgemein eine Beobachtungsrichtung des Objektivs.In the context of the lenses disclosed herein, a detectable volume extends from the lens apparatus (generally, a lens includes one or more focusing optical elements, such as a focusing lens or a focusing mirror, and optionally defocusing optical elements, such as a defocusing lens or a defocusing mirror, which are held in a housing) in the direction of the plasma to be detected. The volume detectable with an objective is referred to herein as the detection cone (and is also known as the “light cone” of an objective). In the context of the present disclosure, a detection cone thus generally corresponds to a volume from which light can be detected by an objective and forwarded to an optical spectrometer. In the case of a round objective aperture, the detectable volume is conical in the narrow sense, i.e. H. with a circular cross section. Within the scope of the present disclosure, a detection cone also includes a cone geometry that deviates from rotational symmetry and therefore does not have a round cross-sectional geometry. The axis of the detection cone is also referred to herein as the observation axis and generally defines an observation direction of the objective.
Bei LIBS stellt ein Überlappungsbereich des Detektionskegels mit dem Laserstrahl einen Plasmadetektionsbereich eines Objektivs dar. Der Detektionskegel erstreckt sich üblicherweise über das Plasma, das vom Laserstrahl im Bereich der Strahlachse des Laserstrahls erzeugt wird, und geht damit über die Strahlachse hinaus, um im Bereich des Plasmas einen an die Größe des Plasmas angepassten Querschnitt zur Detektion eines möglichst großen Messanteils des Plasmalichts aufzuweisen.In LIBS, an overlap area of the detection cone with the laser beam represents a plasma detection area of a lens. The detection cone usually extends over the plasma that is generated by the laser beam in the area of the beam axis of the laser beam, and thus extends beyond the beam axis to be in the area of the plasma to have a cross section adapted to the size of the plasma in order to detect the largest possible measurement portion of the plasma light.
Mit anderen Worten kann jedes Objektiv Plasmalicht eines Plasmas in einem vorgegebenen Raumwinkel bezogen auf einen Fokuspunkt des Objektivs erfassen. Voraussetzung ist, dass das Plasma im, den Raumwinkel des erfassbaren Lichts definierenden, Detektionskegel/Lichtkegel des Objektivs liegt, bevorzugt am spitzen Ende des Detektionskegels/Lichtkegels. Mögliche Ausmaße des Querschnitts des Detektionskegels an der Position des zu detektierenden Plasmas können derart sein, dass sich an der Position des zu detektierenden Plasmas eine Länge in Ausbreitungsrichtung des Detektionskegels ergibt, die z. B. im Bereich von 10 % bis 25 % der Länge des von der Detektionseinheit bereitzustellenden Sichtbereichs (in Ausbreitungsrichtung) umfasst und beispielsweise im Bereich von 0,1 mm bis 10 mm oder z. B. bis 15 mm liegen kann.In other words, each lens can capture plasma light from a plasma at a predetermined solid angle relative to a focal point of the lens. The prerequisite is that the plasma lies in the detection cone/light cone of the lens that defines the solid angle of the detectable light, preferably at the pointed end of the detection cone/light cone. Possible dimensions of the cross section of the detection cone at the position of the plasma to be detected can be such that at the position of the plasma to be detected there is a length in the direction of propagation of the detection cone, which is z. B. in the range of 10% to 25% of the length of the viewing area to be provided by the detection unit (in the direction of propagation) and, for example, in the range of 0.1 mm to 10 mm or z. B. can be up to 15 mm.
Im Rahmen der hierin offenbarten LIBS werden Proben untersucht, die auf der Seite des auftreffenden Laserstrahls eine dreidimensionale Kontur aufweisen, sodass - bei der Durchführung der Messung an verschiedenen Oberflächenbereichen - eine Oberfläche der Probe in Richtung der Strahlachse des Laserstrahls nicht an einem festen Ort liegt, auf den der Laserstrahl fokussiert werden könnte. Die dreidimensionale Form der Probe bewirkt, dass sich auch das Plasma nicht an einem festen Ort in Richtung der Strahlachse ausbildet, sondern in seiner Position entlang der Strahlachse des Laserstrahls variieren kann. Das Ausmaß der möglichen Variation des Orts eines für die spektrale Analyse nutzbaren Plasmas (hierin auch als Plasmazündbereich („laser induced plasma excitation area“) bezeichnet) hängt - neben dem Verlauf der Oberfläche der Probe in Richtung der Strahlachse und der Einkoppelfähigkeit (Absorption) des Materials - von der Fokussierung des Laserstrahls, und insbesondere vom Intensitätsverlauf des Laserstrahls im Fokusbereich, ab. Bei entsprechenden Strahlparametern (Fokusdurchmesser und Fokuslänge) und Laserparametern (Laserleistung, Laserpulsenergie, Laserpulsdauer...) kann sich der mögliche Plasmazündbereich in Richtung der Strahlachse über Bruchteile eines Millimeters bis zu einigen Millimetern (z. B. 2 mm bis 4 mm) oder auch bis zu einigen 10 cm, z. B. bis zu 20 cm, erstrecken.As part of the LIBS disclosed herein, samples are examined which have a three-dimensional contour on the side of the incident laser beam, so that - when carrying out the measurement on different surface areas - a surface of the sample is not in a fixed location in the direction of the beam axis of the laser beam, on which the laser beam could be focused. The three-dimensional shape of the sample means that the plasma does not form at a fixed location in the direction of the beam axis, but can vary in its position along the beam axis of the laser beam. The extent of the possible variation in the location of a plasma that can be used for spectral analysis (herein also referred to as the laser induced plasma excitation area) depends - in addition to the shape of the surface of the sample in the direction of the beam axis and the coupling ability (absorption) of the Material - on the focusing of the laser beam, and in particular on the intensity profile of the laser beam in the focus area. With appropriate beam parameters (focus diameter and focus length) and laser parameters (laser power, laser pulse energy, laser pulse duration...), the possible plasma ignition range in the direction of the beam axis can range from a fraction of a millimeter to a few millimeters (e.g. 2 mm to 4 mm) or even up to a few 10 cm, e.g. B. extend up to 20 cm.
In einigen Ausführungsformen kann eine Umsetzung des multifokalen Konzepts folgende Vorteile aufweisen. Hinsichtlich der Detektion von Plasmalicht wird eine Tiefenschärfe, hier im Sinne eines erfassbaren Tiefenbereichs entlang der Laserausbreitungsrichtung, gegeben durch die Anordnung der Objektive, deutlich vergrößert. Dadurch wird eine Untersuchung von Proben mit ungleichmäßiger Oberflächenform ermöglicht bzw. erleichtert. Auf diese Weise wird das Erfassen von Plasmalicht über den Zündbereich hinweg unabhängig von einer mechanischen Bewegung der Detektionseinheit oder der Probe in Laserstrahlrichtung. Es ergibt sich eine größere Toleranz bezüglich der Lage der Probe/Probenoberfläche und damit der Oberflächengeometrie der Probe. Ferner kann eine Probenvorbereitung wie Glattstreichen eines Pulvers oder Glattpressen einer Oberfläche entfallen.In some embodiments, implementation of the multifocal concept may have the following advantages. With regard to the detection of plasma light, a depth of field, here in the sense of a detectable depth range along the laser propagation direction, given by the arrangement of the lenses, is significantly increased. This makes it possible or easier to examine samples with irregular surface shapes. In this way, the detection of plasma light across the ignition area becomes independent of a mechanical movement of the detection unit or the sample in the laser beam direction. This results in a greater tolerance with regard to the position of the sample/sample surface and thus the surface geometry of the sample. Furthermore, sample preparation such as smoothing a powder or pressing a surface smooth can be omitted.
Beim Design einer Detektionsvorrichtung kann über die optische Auslegung eines einzelnen Objektivs die Tiefenschärfe erhöht werden. Eine durch die optische Auslegung eines einzelnen Objektivs bewirkte größere Tiefenschärfe kann eine Vergrößerung des Abstands zur Probe bedingen, wodurch die Menge an vom Objektiv erfassten Licht verkleinert wird (Verkleinerung des Raumwinkels/Lichtkegels des Objektivs). Um dies zu kompensieren, kann ein Objektiv mit größerer Apertur (größerem Lichtkegel) verwendet werden.When designing a detection device, the depth of field can be increased through the optical design of a single lens. A greater depth of field caused by the optical design of a single lens can be a Increasing the distance to the sample, which reduces the amount of light captured by the objective (reduction of the solid angle/light cone of the objective). To compensate for this, a lens with a larger aperture (larger light cone) can be used.
Im Unterschied zu derartigen Designs/optischen Auslegungen von Objektiven bewirkt das erfinderische multifokale Konzept eine sich über einen größeren Bereich erstreckende Tiefenschärfe durch den Einsatz mehrerer Objektive mit versetzten Plasmadetektionsbereichen. Die versetzten Plasmadetektionsbereiche bewirken, dass Plasmalicht aus einem größeren Tiefenbereich erfassbar wird. Eine Veränderung des Abstands ist nicht notwendig, sodass die Menge des jeweils erfassten Lichts erhalten bleibt.In contrast to such designs/optical configurations of lenses, the inventive multifocal concept achieves a depth of field extending over a larger area through the use of multiple lenses with offset plasma detection areas. The offset plasma detection areas mean that plasma light can be detected from a greater depth range. It is not necessary to change the distance, so the amount of light captured remains the same.
U.a. aufgrund einer größeren Toleranz hinsichtlich des Orts, an dem ein zu erfassendes Plasma erzeugt wird, kann mit dem hierin vorgeschlagenen multifokalen Detektionsansatz eine im Wesentlichen probenvorbereitungsfreie Analyse von (homogenen und heterogenen) Proben an einer stationären Anlage oder eine Analyse von durchlaufenden Proben durchgeführt werden.Due, among other things, to a greater tolerance with regard to the location at which a plasma to be detected is generated, the multifocal detection approach proposed here can be used to carry out a substantially sample preparation-free analysis of (homogeneous and heterogeneous) samples on a stationary system or an analysis of samples in transit.
In einigen Ausführungsformen des multifokalen Konzepts kann - auch bei einer stärker strukturierten dreidimensionalen Oberflächenform einer Probe - eine spektrometrische Untersuchung ohne oder, wenn überhaupt, mit einer nur rudimentären, dem Messvorgang vorausgehenden Höheneinstellung erfolgen.In some embodiments of the multifocal concept - even with a more structured three-dimensional surface shape of a sample - a spectrometric examination can be carried out without or, if at all, with only a rudimentary height adjustment preceding the measurement process.
In einigen Ausführungsformen kann eine Umsetzung des multilateralen Konzepts folgende Vorteile aufweisen. Eine gleichzeitige Betrachtung eines Plasmas kann aus unterschiedlichen Beobachtungsrichtungen erfolgen, wobei die Summe aller „Beobachtungsrichtungen“ als Ergebnis ein gemeinsames spektrales optisches (Ausgangs-)Messsignal bilden. Auch wenn eine der Beobachtungsrichtungen aufgrund der Oberflächenform der Probe oder einem anderen Hindernis geblockt wird, kann noch ein ausreichender Messanteil für die spektrale Analyse zur Verfügung stehen.In some embodiments, implementation of the multilateral concept may have the following advantages. A plasma can be viewed simultaneously from different observation directions, with the sum of all “observation directions” forming a common spectral optical (output) measurement signal. Even if one of the observation directions is blocked due to the surface shape of the sample or another obstacle, a sufficient measurement portion can still be available for the spectral analysis.
In einigen Ausführungsformen des optischen Lichtleitsystems kann die Kombination von n>1 Fasern (z. B. n=2, 3, 4 ...10...15) auf einen (funktionellen) Faserausgang eine vorteilhafte Einspeisung mehrerer Objektive in ein optisches Spektrometer erlauben. Vorteile einer derartigen n-fachen Betrachtung zeigen sich bei der Umsetzung des multifokalen Konzepts sowie des multilateralen Konzepts.In some embodiments of the optical light guide system, the combination of n>1 fibers (e.g. n=2, 3, 4...10...15) on a (functional) fiber output can advantageously feed multiple lenses into an optical spectrometer allow. The advantages of such an n-fold view can be seen in the implementation of the multifocal concept and the multilateral concept.
Hierin werden Konzepte offenbart, die es erlauben, zumindest teilweise Aspekte aus dem Stand der Technik zu verbessern. Insbesondere ergeben sich weitere Merkmale und deren Zweckmäßigkeiten aus der folgenden Beschreibung von Ausführungsformen anhand der Figuren. Von den Figuren zeigen:
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1 eine schematische Übersicht eines LIBS-Systems, -
2 eine Skizze zur Verdeutlichung des multifokalen Konzepts, -
3 eine perspektivische Ansicht eines beispielhaften LIBS-Messkopfs, -
4A und4B eine Aufsicht auf eine erste beispielhafte Halterungsplatte und eine perspektivische Ansicht einer Detektionseinheit (multifokales Konzept), -
5A und5B eine Aufsicht auf eine zweite beispielhafte Halterungsplatte und eine perspektivische Ansicht einer Detektionseinheit (multifokales Konzept), -
6A und6B eine Aufsicht auf eine beispielhafte Halterungsplatte und eine perspektivische Ansicht einer Detektionseinheit (multilaterales Konzept), -
7A bis7E schematische Skizzen zur Verdeutlichung eines beispielhaften mehrere Lichtleitfasern umfassenden Lichtleitsystems, -
8A bis8C schematische Skizzen zur Verdeutlichung einer Einkopplung des Lichtleitsystems aus6 in ein optisches Spektrometer, -
9A und9B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multifokales Konzept, Plasma in einem Plasmadetektionsbereich), -
10A und10B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multifokales Konzept, Plasma innerhalb zweier Plasmadetektionsbereichen), -
11A und11B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multilaterales Konzept, ohne Abschattung), -
12A und12B eine Illustration beispielhafter spektrale Intensitätsverläufe mit zugehöriger Messkonstellation (multilaterales Konzept, mit Abschattung), -
13A bis13C schematische Illustrationen industrieller Anwendungen am Beispiel des multifokalen Konzepts und -
14A bis14C zwei Flussdiagramme und eine Skizze zur Erläuterung von beispielhaften Messvorgängen.
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1 a schematic overview of a LIBS system, -
2 a sketch to illustrate the multifocal concept, -
3 a perspective view of an exemplary LIBS measuring head, -
4A and4B a top view of a first exemplary mounting plate and a perspective view of a detection unit (multifocal concept), -
5A and5B a top view of a second exemplary mounting plate and a perspective view of a detection unit (multifocal concept), -
6A and6B a top view of an exemplary mounting plate and a perspective view of a detection unit (multilateral concept), -
7A until7E schematic sketches to illustrate an exemplary light guide system comprising several optical fibers, -
8A until8C schematic sketches to illustrate coupling of the light guide system6 into an optical spectrometer, -
9A and9B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multifocal concept, plasma in a plasma detection area), -
10A and10B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multifocal concept, plasma within two plasma detection areas), -
11A and11B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multilateral concept, without shading), -
12A and12B an illustration of exemplary spectral intensity curves with the associated measurement constellation (multilateral concept, with shading), -
13A until13C schematic illustrations of industrial applications using the example of the multifocal concept and -
14A until14C two flowcharts and a sketch to explain exemplary measurement processes.
Hierin beschriebene Aspekte basieren zum Teil auf der Erkenntnis, dass der Einsatz von mehreren Objektiven in Kombination mit einem optischen Spektrometer eine Erweiterung des erfassbaren Raumwinkelanteils bei der LIBS ermöglicht. Bei entsprechender Anordnung und Ausrichtung der Objektive kann ein erfasster Tiefenschärfebereich entlang der Strahlachse vergrößert werden (multifokales Konzept). Alternativ oder zusätzlich kann auch der Anteil des erfassten Plasmalichts, das von einem Plasma an einem Ort emittiert wird, vergrößert werden (multilaterales Konzept).Aspects described here are partly based on the knowledge that the use of several lenses in combination with an optical spectrometer enables an expansion of the detectable solid angle component in LIBS. If the lenses are arranged and aligned accordingly, a captured depth of field area can be enlarged along the beam axis (multifocal concept). Alternatively or additionally, the proportion of detected plasma light emitted by a plasma at one location can also be increased (multilateral concept).
Die Erfinder haben erkannt, dass es mithilfe der hierin vorgeschlagenen Konzepte möglich ist, Plasmalicht über einen Sichtbereich entlang der Strahlachse zu erfassen, der länger ist als dieser mit nur einem einzelnen Objektiv unter vergleichbaren Bedingungen gegeben ist. Im Sichtbereich kann die Detektionseinheit eine Tiefenschärfe entlang eines laserseitig bereitgestellten Zündbereichs bereitstellen, die eine Toleranz hinsichtlich der Position der Probe und damit der Position des Plasmas auf der Oberfläche der Probe bewirkt. Anstelle eines Höhenausgleichs gemäß Stand der Technik durch ein mechanisches Verfahren der Detektionseinheit bzw. der Probe (oder ein mechanisches Anpassen der Probenoberfläche an einen Fokuspunkt/an einen punktförmigen Zündbereich) setzt das multifokale Konzept mehrere Plasmadetektionsbereiche ein, die entlang des laserseitig bereitgestellten Zündbereichs angeordnet sind.The inventors have recognized that using the concepts proposed herein, it is possible to capture plasma light over a field of view along the beam axis that is longer than that provided with only a single lens under comparable conditions. In the field of vision, the detection unit can provide a depth of field along an ignition area provided by the laser, which brings about a tolerance with regard to the position of the sample and thus the position of the plasma on the surface of the sample. Instead of height compensation according to the prior art by a mechanical method of the detection unit or the sample (or a mechanical adjustment of the sample surface to a focal point/to a punctiform ignition area), the multifocal concept uses several plasma detection areas that are arranged along the ignition area provided by the laser.
Hierin wird ein Plasmadetektionsbereich bestimmt durch eine Beobachtungsachse und einen Raumwinkel, die einem Objektiv zugeordnet sind. Um insbesondere für mehrere Objektive vergleichbare Bedingungen zum Erfassen von Plasmalicht bereitzustellen (oder z. B. im Sinne eines symmetrisch umgesetzten Aufbaus einer Detektionseinheit), können die Beobachtungsachsen der verschiedenen Objektive unter einem im Wesentlichen gleichen Beobachtungswinkel auf die Strahlachse gerichtet werden, allerdings im Fall des multifokalen Konzepts in Richtung der Strahlachse versetzt.Here, a plasma detection area is determined by an observation axis and a solid angle, which are assigned to a lens. In order to provide comparable conditions for detecting plasma light, in particular for several lenses (or, for example, in the sense of a symmetrically implemented structure of a detection unit), the observation axes of the different lenses can be directed at the beam axis at a substantially same observation angle, but in the case of multifocal concept offset in the direction of the beam axis.
Durch die gemäß dem hierin offenbarten multifokalen Konzept entlang der Strahlachse bereitgestellte Tiefenschärfe kann (ohne Nachpositionieren oder Regeln des Spektrometersystems) für Abschnitte des Oberflächenverlaufs der Probe im entsprechend abgedeckten Tiefenschärfenbereich Plasmalicht erfasst werden, das dann spektral aufgelöst in einem (gemeinsamen) optischen Spektrometer vermessen werden kann. Der erfassbare Signalbeitrag kann somit erhöht werden, wodurch der Messvorgang weniger Zeit benötigen kann, als wenn nur ein Objektiv zur Detektion in einem Plasmadetektionsbereich/an einer Position in Ausbreitungsrichtung eingesetzt wird.Due to the depth of field provided along the beam axis according to the multifocal concept disclosed herein, plasma light can be detected (without repositioning or regulating the spectrometer system) for sections of the surface profile of the sample in the correspondingly covered depth of field area, which can then be measured with spectral resolution in a (common) optical spectrometer . The detectable signal contribution can thus be increased, whereby the measuring process can take less time than if only one lens is used for detection in a plasma detection area/at a position in the propagation direction.
Die Erfinder haben ferner beobachtet, dass beim Einsatz eines einzigen Objektivs zumindest vorübergehend eine räumliche Abschattung eines Detektionskegels und des in diesem zu erfassenden Plasmas vorliegen kann. Die Abschattung wird z. B. durch den Oberflächenverlauf der Probe im Raum hervorgerufen, wie er in der Umgebung des Plasmas vorliegt. Die Erfinder haben nun erkannt, dass es mithilfe mehrerer Objektive möglich wird, Plasmalicht, das in verschiedene Richtungen emittiert wird, zu erfassen und mit einem (gemeinsamen) optischen Spektrometer zu analysieren. Dadurch kann der Einfluss von Abschattungseffekten abgeschwächt werden.The inventors have also observed that when using a single lens, there can be at least temporary spatial shadowing of a detection cone and the plasma to be detected in it. The shading is z. B. caused by the surface shape of the sample in space, as it exists in the environment of the plasma. The inventors have now realized that using multiple lenses makes it possible to capture plasma light that is emitted in different directions and analyze it with a (common) optical spectrometer. This can reduce the influence of shading effects.
Um vergleichbare Signalinformation aus jedem der Objektive zu erhalten, können in einer Ausführungsform möglichst gleiche (z. B. im Wesentlichen identische) Beobachtungswinkel der Objektive in Bezug zur Ausbreitungsrichtung des Laserstrahls vorgesehen werden. Bei einem räumlich größer ausgedehnten Plasma kann dies zusätzlich vermeiden, dass unterschiedliche Plasmabereiche mit möglicherweise unterschiedlichen spektralen Anteilen zu einem Signal zusammengefasst werden.In order to obtain comparable signal information from each of the lenses, in one embodiment the observation angles of the lenses that are as similar as possible (e.g. essentially identical) can be provided in relation to the direction of propagation of the laser beam. In the case of a spatially larger plasma, this can also prevent different plasma areas with possibly different spectral components from being combined into one signal.
Die Erfinder haben ferner erkannt, dass in einer vorteilhaften Ausführungsform ein Lichtleitfaserbündel dazu eingesetzt werden kann, die Messanteile der verschiedenen Objektive zusammenzuführen und gemeinsam - an einem funktionellen Faserausgang des Lichtleitfaserbündels - durch einen Spalt eines optischen Spektrometers zur spektralen Analyse in das optische Spektrometer einzukoppeln. Dazu nehmen die Lichtleitfasern im Betrieb an einem Ende jeweils den Messanteil eines der Objektive auf. Am anderen Ende werden die Lichtleitfasern in einem optischen Stecker zusammengeführt und gehalten und bilden den gemeinsamen funktionellen Faserausgang. Bevorzugt geben die Lichtleitfasern die Messanteile zumindest zu großen Teilen auf die gleichen Zonen des Detektors ab, um möglichst hohe Signalstärken zu erreichen. Beispielsweise können die Lichtleitfasern ihre Messanteile am funktionellen Faserausgang in die gleiche Richtung abgeben. In einigen Ausführungsformen können dafür die Enden der Lichtleitfasern gleich ausgerichtet sein, insbesondere möglichst parallel verlaufen. Ferner können die Lichtleitfasern beispielsweise linear aufgereiht und im eingebauten Zustand entlang des Spalts ausgerichtet werden. Um einen möglichst lokalisierten Ort des funktionellen Faserausgangs und damit der Einkopplung der Messanteile in das optische Spektrometer zu erreichen, können die Lichtleitfasern im optischen Stecker nahe aneinander, bevorzugt direkt nebeneinander, verlaufen.The inventors have further recognized that, in an advantageous embodiment, an optical fiber bundle can be used to bring together the measurement components of the different lenses and to couple them together - at a functional fiber output of the optical fiber bundle - through a gap of an optical spectrometer into the optical spectrometer for spectral analysis. For this purpose, the optical fibers record the measuring portion of one of the lenses at one end during operation. At the other end, the optical fibers are brought together and held in an optical connector and form the common functional fiber output. The optical fibers preferably deliver at least a large portion of the measurement components to the same zones of the detector in order to achieve the highest possible signal strengths. For example, the optical fibers can emit their measurement components at the functional fiber output in the same direction. In some embodiments, the ends of the optical fibers can be aligned in the same way, in particular run as parallel as possible. Furthermore, the optical fibers can, for example, be lined up linearly and aligned along the gap when installed. In order to achieve the most localized possible location of the functional fiber output and thus the coupling of the measurement components into the optical spectrometer, the optical fibers in the optical connector can run close to one another, preferably directly next to one another.
In einigen Ausführungsformen können die Enden der Lichtleitfasern im optischen Stecker unter Winkeln zueinander verlaufen, wobei die Winkel auf die Geometrie des Spektrometers (optischen Wege im Spektrometer) derart abgestimmt sind, dass die Messanteile der Objektive am Detektor des optischen Spektrometers zusätzlich möglichst in ihren Maxima - z. B. in Richtung der linearen Aufreihung - übereinander gelegt werden.In some embodiments, the ends of the optical fibers in the optical connector run at angles to each other, the angles being coordinated with the geometry of the spectrometer (optical paths in the spectrometer) in such a way that the measuring components of the lenses on the detector of the optical spectrometer are also, if possible, in their maximums - e.g. B. in the direction of the linear array - can be placed on top of each other.
Nachfolgend werden in Verbindung mit den Figuren beispielhaft die verschiedenen erfinderischen Konzepte erläutert.The various inventive concepts are explained below by way of example in conjunction with the figures.
Zur Erzeugung des, z. B. gepulsten, Laserstrahls 5 umfasst das Spektrometersystem 1 eine Laserstrahlquelle 9. Die Laserstrahlquelle 9 ist dazu ausgebildet, für die Plasmaerzeugung benötigte Laserstrahlparameter bereitzustellen; beispielhafte Laserstrahlparameter für die Materialanalyse von Mineralien, Salzen, Fe- und NE-Metallen, o.ä. umfassen z. B. Laserpulsenergien im Bereich von <1 mJ bis >100 mJ, Laserpulsdauern im Bereich von <1ns bis >100 ns und eine zentrale Laserwellenlänge z. B. im Infrarot (IR)-Bereich (beispielsweise um 1064 nm), im Ultravioletten (UV)-Bereich oder in einem Wellenlängenbereich dazwischen oder in mehreren Wellenlängenbereichen, d.h. z. B. in einer Kombination aus mehreren Wellenlängen, sowie feste oder einstellbare Repetitionsraten oder Laserpulsburst-Einstellungen. Der Laserstrahl 5 wird z. B. über eine Lichtleitfaser 9A (optional optisch aktiv, wie spektral verbreiternd oder verstärkend) einer Fokussieroptik 11 zugeführt und von dieser auf die Oberfläche 7A der Probe 7 fokussiert. Die Fokussieroptik 11 kann insbesondere als eine Laserkopfkomponente mit Fokussierfunktion wie eine insbesondere auf das Spektrum oder die Pulsdauer oder die Pulsenergie einwirkende aktive Laserkomponente mit Fokussierfunktion ausgebildet sein. Die Ausbreitung des Laserstrahls 5 zwischen Fokussieroptik 11 und Probe 7 erfolgt entlang einer Strahlachse 5A. Beispielhafte Fokusdurchmesser (1/e2-Strahldurchmesser in der Strahltaille) im Bereich von <50 µm bis >250 µm und beispielhafte Fokuslängen (z. B. doppelte Rayleigh-Länge) liegen im Bereich von <5 mm bis >1.000 mm.To generate the, e.g. B. pulsed
Laserparameter können insbesondere derart eingestellt/gewählt werden, dass sich ein Bereich, in dem Plasmaerzeugung stattfinden kann (auch als möglicher Zündbereich bezeichnet), beispielsweise über eine Länge im Bereich von ca. 0,2 mm bis ca. 50 mm, beispielsweise über eine Länge von 2 mm, 5 mm, 20 mm, 200 mm oder 500 mm, entlang der Strahlachse 5A erstreckt.Laser parameters can in particular be set/selected such that a region in which plasma generation can take place (also referred to as a possible ignition region), for example over a length in the range of approximately 0.2 mm to approximately 50 mm, for example over a length of 2 mm, 5 mm, 20 mm, 200 mm or 500 mm, extends along the
Das Spektrometersystem 1 umfasst ferner ein optisches Spektrometer 13 zur Spektralanalyse des Plasmalichts 3A. Das optische Spektrometer 13 ist in
Im Spektrometer 13 ist ein (spektralabhängiger) Strahleingang für das zu analysierende Plasmalicht durch eine Eintrittsapertur 19, üblicherweise ein Eintrittsspalt 19A, festgelegt.In the
Das Spektrometersystem 1 umfasst ferner eine Detektionseinheit 21 mit einer Objektivhalterung 23 und mehreren Objektiven 25A, 25B, 25C, die von der Objektivhalterung 23 gehalten werden. Beispielhaft werden in den Figuren drei Objektive gezeigt, zwei in der Bildebene und eines dahinterliegend. Die hierin offenbarten Konzepte werden mit mehr als einem Objektiv in der Objektivhalterung 23 umgesetzt. Die Anzahl der verwendeten Objektive kann in Abhängigkeit räumlicher und optischer Parameter sowie Parameter des Materials der zu untersuchenden Probe ausgewählt werden; sie liegt z. B. im Bereich von 2 bis 20, beispielsweise bei 4, 5, 8, 9 oder 15 Objektiven.The spectrometer system 1 further comprises a
Das Spektrometersystem 1, insbesondere die Detektionseinheit 21, umfasst ferner ein optisches Lichtleitsystem 27, das die Objektive 25A, 25B, 25C mit dem Spektrometer 13 optisch verbindet. Das Lichtleitsystem 27 stellt mehrere optische Eingänge 29, die jeweils optisch einem der Objektive 25A, 25B, 25C zugeordnet sind, und einen (den Objektiven gemeinsamen, funktionellen) optischen Ausgang 31, der optisch der Eintrittsapertur 19 zugeordnet ist, bereit.The spectrometer system 1, in particular the
Jedes der Objektive 25A, 25B, 25C ist zum Erfassen eines Messanteils 33 des Plasmalichts 3A eingerichtet und umfasst mindestens ein fokussierendes optisches Element (wie eine üblicherweise in einem lichtdichten Gehäuse angeordnete Sammellinse oder einen konkaven Spiegel). Jedem der Objektive 25A, 25B, 25C ist ein Detektionskegel 35 zugeordnet. Die Strahlachse 5A verläuft durch die Detektionskegel 35, wobei die Detektionskegel 35 im Bereich des Laserstrahls 5 eine eingestellte Mindestgröße aufweisen. Jeder der Detektionskegel 35 umfasst in einem Überlappungsbereich mit dem Laserstrahl 5 einen Plasmadetektionsbereich 39, der dem entsprechenden Objektiv 25A, 25B, 25C zugeordnet ist. Beispielsweise weisen die Detektionskegel 35 eine Länge von einer Eintrittsapertur eines Objektivs zum Laserstrahl im Bereich von 100 mm bis 500 mm auf. Beispielhaft wird in
Zur Verwirklichung des multifokalen Konzepts sind die Objektive 25A, 25B, 25C derart in der Halterungsplatte 23A befestigt (allgemein in der Halterung 23 angeordnet und ausgerichtet), dass die Plasmadetektionsbereiche 39 entlang der Strahlachse 5A versetzt angeordnet sind. Insbesondere bei vergleichbaren Beobachtungswinkeln α kann der Versatz in Richtung der Strahlachse 5A durch Variation des radialen Abstands der Objektive 25A, 25B, 25C von der Strahlachse 5A (optional mit variierendem Einschub) erreicht werden. Beispielhaft sind unterschiedliche radiale Abstände R1 und R2 für die Objektive 25A und 25B in
Allgemein kann der Beobachtungswinkel α im Bereich von 0° (über Strahlteiler entlang des Laserstrahls) bis 90° (Beobachtung orthogonal zum Laserstrahl) liegen. Die im Rahmen der Offenbarung beispielhaft gezeigten Beobachtungswinkel α liegen im Bereich von 3° bis 60°, beispielsweise im Bereich von 5° bis 25°. Die Beobachtungsachsen 35A benachbarter Objektive 25A, 25B, 25C laufen von verschiedenen azimutalen Richtungen her auf die Strahlachse 5A zu (azimutaler Winkel in der Ebene senkrecht zur Strahlachse 5A). Im in
Wie in
Jedem der Plasmadetektionsbereiche 39 wird eine Messtiefe entlang der Strahlachse 5A zugeordnet. Die Messtiefe entspricht in
Ferner erkennt man in
Die n-fache Betrachtung des Sichtbereichs mit mehreren (in
Ein n-auf-1-Faserbündel erlaubt eine Einspeisung mehrerer Objektive in ein Spektrometer, wobei mehrere n-auf-1-Bündel für die Einspeisung in mehrere Spektrometer verwendet werden können.An n-to-1 fiber bundle allows multiple lenses to be fed into one spectrometer, where multiple n-to-1 bundles can be used to feed multiple spectrometers.
Die beispielhafte Implementierung des multifokalen Konzepts in der in
Eine alternative Implementierung des multifokalen Konzepts wird in den
Eine beispielhafte Implementierung des multilateralen Konzepts wird in den
Wie in
Man erkennt in
Weitere Erläuterungen zum multilateralen Konzept folgen in Zusammenhang mit den
In den hierin vorgeschlagenen Spektrometersystemen zur multifokalen und/oder multilateralen Beobachtung wird allgemein ein Lichtleitsystem verwendet, um Messanteile des erfassten Plasmalichts von der Detektionseinheit zum optischen Spektrometer zu führen. Neben dem nachfolgend in Zusammenhang mit den
Die schematischen Skizzen der
Jede der Lichtleitfasern ist eingangsseitig in einem optischen Eingangsstecker 61A, beispielsweise in einem SMA-Stecker, fixiert (
Wie in
Ausgangsseitig werden die Lichtleitfasern 45A, 45B, 45C, 45D, die im multifokalen Konzept sowie im multilateralen Konzept jeweils einem Objektiv zugeordnet werden, in einem (gemeinsamen) Ausgangsstecker 61B gefasst (
Die
In einigen Ausführungsformen entspricht die Reihenfolge der Lichtaustrittsflächen 67A, 67B, 67C, 67D der Abfolge der Plasmadetektionsbereiche 39 im Sichtbereich 41. Dadurch werden die zentral liegenden Plasmadetektionsbereiche 39 optimal in das optische Spektrometer eingekoppelt, sodass die zugehörigen Messanteile am effizientesten zur spektralen Analyse beitragen. Bezugnehmend auf die Beispiele zum multifokalen Konzept in
In einer schematisierten Aufsicht auf einen Schnitt durch die „oberste“ Lichtleitfaser 45D (
In der Schnittansicht der
In
Bezugnehmend auf die
Im dargestellten Fall ist das erzeugte Plasma 3 in seiner Ausdehnung vergleichbar mit der Ausdehnung der Messdetektionsbereiche der Objektive, sodass das Plasma 3 im Wesentlichen nur im Messdetektionsbereich 83B vorliegt und entsprechend nur in den Detektionskegel des Objektivs 25B Licht emittiert. Dies erkennt man auch an den Messspektren, die zur Verdeutlichung selektiv für die Messanteile der Objektive 25A und 25B in
Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multifokalen Konzepts optisch verbunden, wird im vorliegenden Fall der
Die Situation der sich ergebenden Messspektren ist in
Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multilateralen Konzepts optisch verbunden, ergibt sich in der beispielhaften Konstellation der
Bezugnehmend auf die
Die Situation der sich ergebenden Messspektren ist in
Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multifokalen Konzepts optisch verbunden, ergibt sich im vorliegenden Fall der
Man erkennt, dass der Messdetektionsbereich 59 nahe der Oberfläche der Probe 7 liegt, jedoch befindet sich Material der Probe 7 zwischen dem Plasma 3 und den Objektiven 25A, 25C. Entsprechend wird Plasmalicht, welches in Richtung der Objektive 25A, 25C emittiert wird, von der Probe 7 abgeschirmt und es kann entsprechend von den Objektiven 25A, 25C nicht erfasst werden.It can be seen that the
Dies erkennt man auch an den Messspektren, die zur Verdeutlichung selektiv für die Messanteile der Objektive 25A und 25B in
Werden erfindungsgemäß alle Objektive mit dem Spektrometer zur Verwirklichung des multilateralen Konzepts optisch verbunden, wird im vorliegenden Fall der
Es ist zu ergänzen, dass jeweils Untergruppen von Objektiven einem eigenen optischen Spektrometer zugeordnet werden können, wobei die Spektrometer (und optional die Lichtleitsysteme) beispielsweise an unterschiedliche zu analysierende Spektralbereiche angepasst sind. Beispielsweise können je vier Objektive Messanteile einem optischen Spektrometer im UV-Bereich und je vier Objektive Messanteile einem optischen Spektrometer im NIR-Bereich über jeweils eigene Lichtleitsysteme zuführen. Alternativ oder ergänzend können Messanteile eines Objektivs beispielsweise in zwei Lichtwege aufgeteilt werden, sodass bei vier Objektiven beispielsweise acht Lichtleitfasern eingesetzt werden, von denen vier Lichtleitfasern einen funktionellen Ausgang für ein optisches Spektrometer im UV-Bereich und vier Lichtleitfasern einen funktionellen Ausgang für ein optisches Spektrometer im NIR-Bereich ausbilden.It should be added that subgroups of lenses can be assigned to their own optical spectrometer, with the spectrometers (and optionally the light guide systems) being adapted, for example, to different spectral ranges to be analyzed. For example, four lenses each can supply measurement components to an optical spectrometer in the UV range and four lenses each can supply measurement components to an optical spectrometer in the NIR range via their own light guide systems. Alternatively or additionally, measurement components of a lens can be divided into two light paths, for example, so that with four lenses, for example, eight optical fibers are used, of which four optical fibers have a functional output for an optical spectrometer in the UV range and four optical fibers have a functional output for an optical spectrometer in the UV range Form NIR range.
Die hierin vorgestellten multifokalen und multilateralen Konzepte der Anordnungen von Objektiven in einer Detektionseinheit eines Spektrometersystems zeigen ihre Vorteile insbesondere beim Erfassen von Emissionsspektren eines zu analysierenden bewegten Objekts (Probe) mit einem in Strahlachse modellierten Oberflächenverlauf. Im Vergleich mit einer räumlich kleiner ausgedehnten Fokuszone erhöht sich durch den in Richtung der Strahlachse erweiterten Sichtbereich der Anteil von Oberflächenabschnitten der Probe, bei denen zum einen ein Plasma erzeugt wird und zum anderen Messanteile dieses Plasmas von der Detektionseinheit erfasst werden können. Entsprechend liegt die Menge an erfassten Daten, die für eine Analyse des Materials benötigt wird, schneller vor. Eine schnelle Analyse der Materialzusammensetzung ist in verschiedenen Anwendungen von Vorteil.The multifocal and multilateral concepts of the arrangements of lenses in a detection unit of a spectrometer system presented here show their advantages in particular when recording emission spectra of a moving object (sample) to be analyzed with a surface profile modeled in the beam axis. In comparison with a spatially smaller focal zone, the proportion of surface sections of the sample in which, on the one hand, a plasma is generated and, on the other hand, measured portions of this plasma can be detected by the detection unit, increases due to the field of view being expanded in the direction of the beam axis. Accordingly, the amount of recorded data required to analyze the material is available more quickly. A quick analysis of the material composition is beneficial in various applications.
Beispielhaft werden in den
Beispielhaft besteht die Probe 105 aus gebrochenen Probenstücken 105A. Die Probenstücke 105A bilden einen in Z-Richtung variierenden Oberflächenverlauf aus, der allgemein undefinierten, d. h. nicht festgelegt, ist. Entsprechend umfasst der Oberflächenverlauf viele Messoberflächenbereiche, bei denen die Oberflächen im vorbestimmten Z-Werte-Bereich des Sichtbereichs 41 liegen. Wird auf diesen Oberflächenbereichen ein Plasma erzeugt, liegt das Plasma im Sichtbereich 41 der Detektionseinheit 23, sodass entsprechend Plasmalicht erfasst werden kann.By way of example, the sample 105 consists of broken sample pieces 105A. The test pieces 105A form a surface course that varies in the Z direction and is generally undefined, i.e. H. not specified. Accordingly, the surface course includes many measurement surface areas in which the surfaces lie in the predetermined Z value range of the
Der Laserstrahl 5 tastet die Probe 105 entlang einer (einstellbaren) Trajektorie ab, beispielsweise indem das Probengefäß 103 in der X-Y-Ebene rotiert wird (angedeutet durch den Pfeil 107) oder durch ein eindimensionales oder zweidimensionales (beispielsweise lineares, reihenförmiges oder rasterförmiges) Abtasten mittels linearer Verschiebung in der X-Y-Ebene, oder einer Kombination von Schwenkbewegung, Translationsbewegung und/oder Rotationsbewegung, sodass die Trajektorie viele Messabschnitte (Trajektorienabschnitte) umfasst. Den Messabschnitten sind Messoberflächenbereichen zugeordnet, in denen eine Detektion von Plasmalicht stattfinden kann. Die Detektionseinheit 23 erfasst immer dann Plasmalicht, wenn der Laserstrahl 5 auf diesen Messoberflächenbereichen entlang der Messabschnitte ein Plasma erzeugt. Je größer sich der Sichtbereich 41 in Z-Richtung erstreckt, desto größer ist der Anteil der Messoberflächenbereiche an der gesamten Oberfläche und entsprechend größer ist der Anteil der Messabschnitte an der Trajektorie. Somit kann das multifokale Konzept die Datenerfassung für die spektrale Analyse beschleunigen.The
Ferner erkennt man, dass bei beispielsweise grobkörnigen Probenstücken 105A auf dem Probengefäß 103 Abschattungseffekte eintreten können. D. h., nicht unter jedem Beobachtungswinkel kann ein Plasma auch detektiert werden. Das hierin offenbarte multilaterale Konzept (nicht explizit in
Eine kurze Detektionszeit, die mithilfe der hierin offenbarten multifokalen und/oder multilateralen Konzepte erreicht werden kann, erlaubt es, die Stücke 113A, 113B hinsichtlich der Materialzusammensetzung auch bei kleinen Stücken und damit kurzen möglichen Messstrecken pro Stück, sowie hohen Passiergeschwindigkeiten und damit einer geringen Anzahl an überhaupt erfassbaren Messspektren von geeignet gelegenen Oberflächenabschnitten zu erkennen und so ein schnelles und/oder hochpräzises Sortierverfahren umzusetzen.A short detection time, which can be achieved using the multifocal and/or multilateral concepts disclosed herein, allows the pieces 113A, 113B to be measured in terms of material composition even with small pieces and therefore short possible measuring distances per piece, as well as high passing speeds and thus a small number to detect any detectable measurement spectra of suitably located surface sections and thus to implement a fast and/or high-precision sorting process.
Eine kurze Detektionszeit, die mithilfe der hierin offenbarten multifokalen und/oder multilateralen Konzepte erreicht werden kann, erlaubt es, die Schlacke 127 hinsichtlich der Materialzusammensetzung auch bei einer hohen Passiergeschwindigkeit zu erkennen und so eine schnelle und/oder hochpräzise Qualitätsüberprüfung umzusetzen.A short detection time, which can be achieved using the multifocal and/or multilateral concepts disclosed herein, allows the slag 127 to be recognized in terms of material composition even at a high passing speed and thus to implement a rapid and/or highly precise quality check.
Allgemein wird der Fachmann anerkennen, dass eine Ausrichtung des Laserstrahls bezüglich einer Oberfläche einer Probe (z. B. bezüglich einer Normalenrichtung der Oberfläche am Ort des erzeugten Plasmas) oder bezüglich einer Auflagefläche, beispielsweise einer Normalenrichtung einer Bodenfläche eines Probengefäßes oder eines Förderbands in einem Winkelbereich von 0° (Einfall parallel zur Normalenrichtung) bis 90° (seitlicher Einfall) wählbar ist, wobei bezüglich etwaiger Abschattungseffekte ein Winkelbereich von 0° bis 80°, insbesondere von 0° bis 60°, Vorteile aufweisen kann. Ferner wird der Fachmann anerkennen, dass eine Ausrichtung des Laserstrahls bezüglich einer Bewegungsrichtung der Probe (z. B. eine Linearbewegung oder eine Rotationsbewegung der Probe) in einem Winkelbereich von 0° (Einfall entgegen der Bewegungsrichtung) über 90° (seitlicher Einfall) bis 180° (Einfall in Bewegungsrichtung) wählbar ist.In general, the person skilled in the art will recognize that an alignment of the laser beam with respect to a surface of a sample (e.g. with respect to a normal direction of the surface at the location of the generated plasma) or with respect to a support surface, for example a normal direction of a bottom surface of a sample vessel or a conveyor belt, in an angular range from 0° (incidence parallel to the normal direction) to 90° (lateral incidence) can be selected, with an angular range of 0° to 80°, in particular from 0° to 60°, being able to have advantages with regard to any shading effects. Furthermore, the person skilled in the art will recognize that an alignment of the laser beam with respect to a direction of movement of the sample (e.g. a linear movement or a rotational movement of the sample) in an angular range from 0° (incidence opposite the direction of movement) to 90° (lateral incidence) to 180 ° (incidence in the direction of movement) can be selected.
Nachfolgend wird ein Messablauf gemäß dem multifokalen Konzept beispielhaft für zwei Messpunkte bezugnehmend auf die
Bereitstellen (Schritt 131) einer Detektionseinheit, die mithilfe mehrerer, entsprechend dem multifokalen Konzept ausgerichteter Objektive einen erweiterten Sichtbereich zur Detektion von Plasmalicht bereitstellt.Providing (step 131) a detection unit that provides an extended field of view for detecting plasma light using multiple lenses aligned according to the multifocal concept.
Positionieren (Schritt 133) eines ersten Oberflächenbereichs einer, beispielsweise auf einem Probengefäß gelagerten, Probe im Sichtbereich der Detektionseinheit.Positioning (step 133) a first surface area of a sample, for example stored on a sample vessel, in the field of vision of the detection unit.
Einstrahlen (Schritt 135) eines Laserstrahls zu Erzeugung eines ersten Plasmas auf dem ersten Oberflächenbereich, wobei Plasmalicht gemäß einem Material der Probe vom ersten Plasma emittiert wird.Irradiating (step 135) a laser beam to generate a first plasma on the first surface region, wherein plasma light is emitted from the first plasma according to a material of the sample.
Erfassen (Schritt 137) eines ersten Messanteils des Plasmalichts mithilfe der Detektionseinheit und Weiterleiten des ersten Messanteils des Plasmalichts zu einem optischen Spektrometer.Detecting (step 137) a first measurement portion of the plasma light using the detection unit and forwarding the first measurement portion of the plasma light to an optical spectrometer.
Bewegen (Schritt 139) der Probe relativ zum Sichtbereich, insbesondere im Rahmen einer kontinuierlichen Relativbewegung zwischen Probe und Detektionseinheit, beispielsweise mithilfe eines Rotationsantriebs und eines Schwenkantriebs des Probengefäßes, sodass ein zweiter Oberflächenbereich der Probe im Sichtbereich positioniert ist.Moving (step 139) the sample relative to the viewing area, in particular as part of a continuous relative movement between the sample and the detection unit, for example using a rotation drive and a pivoting drive of the sample vessel, so that a second surface area of the sample is positioned in the viewing area.
Wiederholen der Schritte des Einstrahlens (135) und des Erfassens (Schritt 137) für den zweiten Oberflächenbereich, sodass ein zweiter Messanteil des Plasmalicht eines zweiten Plasmas zum optischen Spektrometer weitergeleitet wird.Repeating the steps of irradiation (135) and detection (step 137) for the second surface area, so that a second measurement portion of the plasma light of a second plasma is forwarded to the optical spectrometer.
Basierend auf dem ersten Messanteil und dem zweiten Messanteil, Ausgeben (Schritt 141) eines kumulierten optischen Spektrums an einer Recheneinheit und Durchführen einer spektralen Analyse des kumulierten optischen Spektrums zu Bestimmung und Ausgabe der elementaren Zusammensetzung der Probe. Im Rahmen eines Messvorgangs können solange Spektren von verschiedenen Messkonstellation für eine Probe gesammelt werden, und insbesondere unter Nutzung von einem Filteralgorithmus ausgewertet werden, bis eine erforderliche Qualität hinsichtlich der ausgegebenen Analyse erreicht ist.Based on the first measurement portion and the second measurement portion, outputting (step 141) a cumulative optical spectrum to a computing unit and performing a spectral analysis of the cumulative optical spectrum to determine and output the elemental composition of the sample. As part of a measurement process, spectra from different measurement constellations can be collected for a sample and, in particular, evaluated using a filter algorithm until a required quality is achieved with regard to the output analysis.
Nachfolgend wird ein Messablauf gemäß dem multilateralen Konzept beispielhaft für zwei Messpunkte bezugnehmend auf
Bereitstellen (Schritt 151) einer Detektionseinheit, die mithilfe mehrerer, entsprechend dem multilateralen Konzept ausgerichteter Objektive einen erweiterten Raumwinkelbereich zur Detektion von Plasmalicht bereitstellt.Providing (step 151) a detection unit that provides an extended solid angle range for detecting plasma light using multiple lenses aligned according to the multilateral concept.
Positionieren (Schritt 153) eines ersten Oberflächenbereichs einer, beispielsweise auf einem Probengefäß gelagerten, Probe im Sichtbereich der Detektionseinheit.Positioning (step 153) a first surface area of a sample, for example stored on a sample vessel, in the field of vision of the detection unit.
Einstrahlen (Schritt 155) eines Laserstrahls zu Erzeugung eines ersten Plasmas auf dem ersten Oberflächenbereich, wobei Plasmalicht gemäß einem Material der Probe vom ersten Plasma emittiert wird.Irradiating (step 155) a laser beam to generate a first plasma on the first surface region, wherein plasma light is emitted from the first plasma according to a material of the sample.
Erfassen (Schritt 157) eines ersten Messanteils des Plasmalichts mithilfe einer ersten Untergruppe von Objektiven der Detektionseinheit und Weiterleiten des ersten Messanteils des Plasmalichts zu einem optischen Spektrometer.Detecting (step 157) a first measurement portion of the plasma light using a first subgroup of lenses of the detection unit and forwarding the first measurement portion of the plasma light to an optical spectrometer.
Bewegen (Schritt 159) der Probe relativ zum Sichtbereich, insbesondere im Rahmen einer kontinuierlichen Relativbewegung zwischen Probe und Detektionseinheit, beispielsweise mithilfe eines Rotationsantriebs und eines Schwenkantriebs des Probengefäßes, sodass ein zweiter Oberflächenbereich der Probe im Sichtbereich positioniert ist.Moving (step 159) the sample relative to the viewing area, in particular as part of a continuous relative movement between the sample and the detection unit, for example using a rotation drive and a pivoting drive of the sample vessel, so that a second surface area of the sample is positioned in the viewing area.
Wiederholen der Schritte des Einstrahlens (155) und des Erfassens (Schritt 157) für den zweiten Oberflächenbereich, wobei aufgrund der Geometrie der Probe ein zweiter Messanteil eines Plasmalichts eines zweiten Plasmas mithilfe einer zweiten Untergruppe von Objektiven der Detektionseinheit, die sich von der ersten Untergruppe von Objektiven der Detektionseinheit unterscheidet, erfasst wird, sodass der zweite Messanteil zum optischen Spektrometer weitergeleitet wird.Repeating the steps of irradiation (155) and detection (step 157) for the second surface area, whereby, due to the geometry of the sample, a second measurement component of a plasma light of a second plasma is carried out using a second subgroup of objectives of the detection unit, which is different from the first subgroup of Lenses of the detection unit are detected, so that the second measurement component is forwarded to the optical spectrometer.
Basierend auf dem ersten Messanteil und dem zweiten Messanteil, Ausgeben (Schritt 161) eines kumulierten optischen Spektrums an einer Recheneinheit und Durchführen einer spektralen Analyse des kumulierten optischen Spektrums zu Bestimmung und Ausgabe der elementaren Zusammensetzung der Probe. Im Rahmen eines Messvorgangs können solange Spektren von verschiedenen Messkonstellation für eine Probe gesammelt werden, und insbesondere unter Nutzung von einem Filteralgorithmus ausgewertet werden, bis eine erforderliche Qualität hinsichtlich der ausgegebenen Analyse erreicht ist.Based on the first measurement portion and the second measurement portion, outputting (step 161) a cumulative optical spectrum to a computing unit and performing a spectral analysis of the cumulative optical spectrum to determine and output the elemental composition of the sample. As part of a measurement process, spectra from different measurement constellations can be collected for a sample and, in particular, evaluated using a filter algorithm until a required quality is achieved with regard to the output analysis.
Die beiden oben beispielhaft beschriebenen Messabläufe sind nicht auf die Detektion von zwei Plasmen und entsprechend zwei Messanteile begrenzt, sondern erfolgen beispielsweise kontinuierlich für eine Vielzahl von erzeugten Plasmen/Messanteilen, solange sich die Oberfläche der Probe im Sichtbereich erstreckt, und wird, sollte sich die Oberfläche aus dem Sichtbereich heraus bewegen, fortgesetzt, sobald die Oberfläche wieder in den Sichtbereich eintritt.The two measurement processes described above as examples are not limited to the detection of two plasmas and correspondingly two measurement components, but are carried out, for example, continuously for a large number of generated plasmas/measurement components, as long as the surface of the sample extends into the visible range, and will, should the surface move out of the field of view, continuing as soon as the surface re-enters the field of view.
Nachfolgend werden einige Aspekte eines Lichtleitsystems zusammengefasst, wie es z. B. bei einer Umsetzung des multifokalen Konzepts oder des multilateralen Konzepts verwendet werden kann.Some aspects of a light control system are summarized below, such as: B. can be used when implementing the multifocal concept or the multilateral concept.
Aspekt A1. Lichtleitsystem (27) mit mehrere Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D), die mehrere optische Eingängen (29) zur Aufnahme von Licht, insbesondere von Messanteilen (33) von Plasmalicht, und einen optischen Ausgang (31) zur Abgabe des Lichts, insbesondere der erfassten Messanteilen (33) in ein optisches Spektrometer (13), umfassen, wobei erste Enden der Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) jeweils in einem Stecker (61A) gehalten werden und jeweils eine Lichteintrittsfläche (63) als optischen Eingang (29) umfassen und zweite Enden der Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) jeweils eine Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) umfassen und in einem Stecker (61B) gemeinsam gehalten wer-den, wobei die Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) den optische Ausgang (31) bilden.Aspect A1. Light guide system (27) with several optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D), which have several optical inputs (29) for receiving light, in particular measuring components (33) of plasma light, and an optical output (31) for emitting the light, in particular the recorded measurement components (33) in an optical spectrometer (13), wherein first ends of the optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D) are each held in a plug (61A) and each have a light entry surface (63) as an optical input (29) and second ends of the optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D) each comprise a light exit surface (67A, 67B, 67C, 67D) and are held together in a plug (61B), the light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) form the optical output (31).
Aspekt A2. Lichtleitsystem (27) nach Aspekt A1, wobei die Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) ausgangsseitig linear aufgereiht sind und im Wesentlichen parallelen Faserorientierungen aufweisen, sodass die Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) nebeneinander angeordnet sind.Aspect A2. Light guide system (27) according to aspect A1, wherein the optical fibers (45A, 45B, 45C, 45D) are lined up linearly on the output side and have essentially parallel fiber orientations, so that the light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) are arranged next to one another.
Aspekt A3. Lichtleitsystem (27) nach Aspekt A1 oder Aspekt A2, wobei ausgangsseitig dem Licht, insbesondere jedem der aus dem optischen Lichtleitsystem (27) austretenden Messanteilen (33), eine Strahlachse (75A, 75B, 75C, 75D) zugeordnet ist und die Lichtleitfasern (45A, 45B, 45C, 45D) derartig angeordnet sind, dass die Strahlachsen (75A, 75B, 75C, 75D) parallel zueinander oder nicht mehr als unter einem Winkel von bis zu 1° oder bis 3° zueinander verlaufen.Aspect A3. Light guide system (27) according to aspect A1 or aspect A2, wherein on the output side the light, in particular each of the measurement components (33) emerging from the optical light guide system (27), is assigned a beam axis (75A, 75B, 75C, 75D) and the optical fibers (45A , 45B, 45C, 45D) are arranged such that the beam axes (75A, 75B, 75C, 75D) run parallel to one another or no more than at an angle of up to 1° or up to 3° to one another.
Aspekt A4. Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A) mit
einer Laserstrahlquelle (9) zur Abgabe eines, insbesondere gepulsten, Laserstrahls (5), wobei das Plasma (3) mit dem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird,
einer Fokussieroptik (11) zur Fokussierung des Laserstrahls (5) auf die Oberfläche (7A) der Probe (7), insbesondere einer Laserkopfkomponente mit Fokussierfunktion wie eine insbesondere auf das Spektrum oder die Pulsdauer oder die Pulsenergie einwirkende aktive Laserkomponente mit Fokussierfunktion,
einer Detektionseinheit (21) mit mehreren Objektiven und einem Lichtleitsystem (27) nach einem der Aspekte A1 bis A3, wobei jedes der Objektive ausgebildet ist, einen Messanteil (33) des Plasmalichts (3A) aus objektiv-spezifischen oder aus einem gemeinsamen Plasmadetektionsbereich (59) zu erfassen und an einen der optischen Eingängen (29) in das Lichtleitsystem (27) einzukoppeln, und
einem optischen Spektrometer (13) zur Spektralanalyse der mit den Objektiven erfassten Messanteile (33) des Plasmalichts (3A), wobei das optische Spektrometer (13) zur Aufnahme der Messanteile (33) mit dem optischen Ausgang (31) des Lichtleitsystems (27) optisch verbunden ist.Aspect A4. Spectrometer system (1) for the spectral analysis of a plasma light (3A) emitted by a laser-induced plasma (3).
a laser beam source (9) for emitting a, in particular pulsed, laser beam (5), the plasma (3) being generated on a surface (7A) of a sample (7) with the laser beam (5) propagating along a beam axis (5A). ,
a focusing optics (11) for focusing the laser beam (5) onto the surface (7A) of the sample (7), in particular a laser head component with a focusing function such as an active laser component with a focusing function which acts in particular on the spectrum or the pulse duration or the pulse energy,
a detection unit (21) with a plurality of lenses and a light guide system (27) according to one of aspects A1 to A3, wherein each of the lenses is designed to receive a measurement portion (33) of the plasma light (3A) from lens-specific or from a common plasma detection area (59 ) to be detected and coupled to one of the optical inputs (29) in the light guide system (27), and
an optical spectrometer (13) for the spectral analysis of the measurement components (33) of the plasma light (3A) recorded with the lenses, the optical spectrometer (13) for recording the measurement components (33) being optically connected to the optical output (31) of the light guide system (27). connected is.
Nachfolgend werden einige Aspekte des multilateralen Konzepts zusammengefasst.Some aspects of the multilateral concept are summarized below.
Aspekt B1. Detektionseinheit (21) für ein Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A), wobei das Plasma (3) mit einem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird (und wobei insbesondere eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts (3A) für die Spektralanalyse in einem optischen Spektrometer (13) erfolgt), umfassend:
- - eine Objektivhalterung (23'),
- - mehrere von der Objektivhalterung (23') gehaltene Objektive (25A', 25B', 25C', 25D'), wobei jedem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') ein Detektionskegel (35`) zugeordnet ist und die Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') derart in der Objektivhalterung (23') angeordnet und ausgerichtet sind, dass die Detektionskegel (35`) in einem Überlappungsbereich mit dem Laserstrahl (5) einen gemeinsamen Plasmadetektionsbereich (59) ausbilden, aus dem im Fall eines im Plasmadetektionsbereich (59) vorliegenden Plasmas (3) von jedem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') ein Messanteil (33) des Plasmalichts (3A) erfassbar ist.
- - a lens holder (23'),
- - several lenses (25A', 25B', 25C', 25D') held by the lens holder (23'), each of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') being assigned a detection cone (35'). and the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') are arranged and aligned in the lens holder (23') in such a way that the detection cones (35') form a common plasma detection area (59) in an overlap area with the laser beam (5). ) from which, in the case of a plasma (3) present in the plasma detection area (59), a measurement portion (33) of the plasma light (3A) can be detected by each of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D').
Aspekt B2. Detektionseinheit (21 ') nach Aspekt B1, wobei die Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') derart in der Objektivhalterung (23') angeordnet und ausgerichtet sind, dass die Detektionskegel (35`) in unterschiedliche Raumwinkel emittierte Messanteile (33) des Plasmalichts (3A) eines Plasmas (3) erfassen und/oder
wobei die Objektivhaltung (23') eine optische Durchgangsöffnung (43) bereitstellt, durch die die Strahlachse (5A) verläuft, wobei eine Lage der Strahlachse (5A) insbesondere mittig in der optischen Durchgangsöffnung (43) festgelegt ist, und
wobei die Objektivhalterung (23') insbesondere eine Halterungsplatte (23A') aufweist, in der mehrere Objektivhalterungsöffnungen (57A', 57B', 57C', 57D') zur Aufnahme der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') und die optische Durchgangsöffnung (43) für den Laserstrahl (5) vorgesehen sind, und wobei die Objektivhalterungsöffnungen (57A', 57B', 57C', 57D') um die optische Durchgangsöffnung (43) herum angeordnet sind, und insbesondere um die optische Durchgangsöffnung (43) azimutal verteilt sind.Aspect B2. Detection unit (21 ') according to aspect B1, wherein the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') are arranged and aligned in the lens holder (23') in such a way that the detection cones (35') emitted measurement components in different solid angles (33) of the plasma light (3A) of a plasma (3) detect and/or
wherein the lens holder (23') provides an optical through-opening (43) through which the beam axis (5A) runs, a position of the beam axis (5A) being fixed in particular centrally in the optical through-opening (43), and
wherein the lens holder (23') in particular has a mounting plate (23A') in which a plurality of lens holder openings (57A', 57B', 57C', 57D') for receiving the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and the optical passage opening (43) is provided for the laser beam (5), and wherein the lens holder openings (57A', 57B', 57C', 57D') are arranged around the optical through-opening (43), and in particular are distributed azimuthally around the optical through-opening (43).
Aspekt B3. Detektionseinheit (21') nach Aspekt B1 oder B2, wobei jeder der Detektionskegel (35`) sich entlang einer Beobachtungsachse (35A') erstreckt, die unter einem Beobachtungswinkel (α) im Bereich von 0° bis 90° zur Strahlachse (5A) verläuft, wobei die Beobachtungswinkel (α) insbesondere gleich sind, nicht mehr als 3° voneinander abweichen oder in einem Winkelbereich von 45° verteilt sind, und/oder wobei die Objektivhalterung (23`) insbesondere eine Halterungsplatte (23A') aufweist, in der eine optische Durchgangsöffnung (43) für den Laserstrahl (5) vorgesehen ist, wobei die Strahlachse (5A) sich orthogonal zur Halterungsplatte (23A') und mindestens einer der Detektionskegel (35`) sich entlang einer Beobachtungsachse erstreckt, die unter einem Beobachtungswinkel (α) im Bereich von 0° bis 90°, insbesondere 3° bis 60°, beispielsweise im Bereich von 5° bis 25°, zur Strahlachse (5A) verläuft.Aspect B3. Detection unit (21') according to aspect B1 or B2, wherein each of the detection cones (35`) extends along an observation axis (35A') which runs at an observation angle (α) in the range of 0° to 90° to the beam axis (5A). , wherein the observation angles (α) are in particular the same, do not differ from each other by more than 3° or are distributed in an angular range of 45°, and / or wherein the lens holder (23`) in particular has a mounting plate (23A'), in which a optical passage opening (43) is provided for the laser beam (5), the beam axis (5A) being orthogonal to the mounting plate (23A') and at least one of the detection cones (35`) extending along an observation axis which is at an observation angle (α) in the range from 0° to 90°, in particular 3° to 60°, for example in the range from 5° to 25°, to the beam axis (5A).
Aspekt B4. Detektionseinheit (21') nach einem der Aspekte B1 bis B3, wobei benachbarte Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') azimutal beabstandet um die Strahlachse (5A) angeordnet sind und/oder die Beobachtungsachsen (35A') der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') auf einer Kegeloberfläche um die Strahlachse (5A) liegen.Aspect B4. Detection unit (21') according to one of aspects B1 to B3, wherein adjacent lenses (25A', 25B', 25C', 25D') are arranged azimuthally spaced around the beam axis (5A) and/or the observation axes (35A') of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') lie on a cone surface around the beam axis (5A).
Aspekt B5. Detektionseinheit (21') nach einem der Aspekte B1 bis B4, wobei die Detektionseinheit (21) zwei bis 25, bevorzugt vier, Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') umfasst und/oder
wobei die Objektive (25A, 25B', 25C', 25D') azimutal gleichverteilt um die Strahlachse (5A) angeordnet sind.Aspect B5. Detection unit (21') according to one of aspects B1 to B4, wherein the detection unit (21) comprises two to 25, preferably four, lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and/or
wherein the lenses (25A, 25B', 25C', 25D') are arranged equally azimuthally distributed around the beam axis (5A).
Aspekt B6. Detektionseinheit (21) nach einem der Aspekte B1 bis B5, ferner mit einem optischen Lichtleitsystem (27) umfassend
mehrere optische Eingängen (29), wobei jeder der optischen Eingänge (29) optisch mit einem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') verbunden und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteils (33) ausgebildet ist, und
einen optischen Ausgang (31) zur Abgabe der mit den Objektiven (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteile (33).Aspect B6. Detection unit (21) according to one of aspects B1 to B5, further comprising an optical light guide system (27).
a plurality of optical inputs (29), each of the optical inputs (29) being optically connected to one of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and for recording the associated lens (25A', 25B', 25C ', 25D') of the recorded measurement component (33) is formed, and
an optical output (31) for emitting the measurement components (33) recorded with the lenses (25A', 25B', 25C', 25D').
Aspekt B7. Detektionseinheit (21) nach Aspekt B6, wobei das optische Lichtleitsystem (27) mehrere Lichtleitfasern (45) aufweist und wobei jeweils eine Lichteintrittsfläche (63) einer der Lichtleitfasern (45) einen der optischen Eingänge (29) ausbildet und das dem optischen Eingang (29) zugeordnete Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') den Plasmadetektionsbereich (39) auf die Lichteintrittsfläche (63) abbildet.Aspect B7. Detection unit (21) according to aspect B6, wherein the optical light guide system (27) has a plurality of optical fibers (45) and wherein a light entry surface (63) of one of the optical fibers (45) forms one of the optical inputs (29) and that corresponds to the optical input (29 ) assigned lens (25A', 25B', 25C', 25D') images the plasma detection area (39) onto the light entry surface (63).
Aspekt B8. Detektionseinheit (21) nach Aspekt B7, wobei Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) der Lichtleitfasern (45) den optische Ausgang (31) bilden und die Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D), insbesondere aneinander angrenzend oder beabstandet, aufgereiht angeordnet sind.Aspect B8. Detection unit (21) according to aspect B7, wherein light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) of the optical fibers (45) form the optical output (31) and the light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D), in particular adjacent or spaced apart from one another, are arranged in a row.
Aspekt B9. Detektionseinheit (21) nach Aspekt B7 oder B8, wobei Lichtaustrittsflächen (67A, 67B, 67C, 67D) der Lichtleitfasern (45) aufgereiht angeordnet sind und/oder
wobei die Lichtleitfasern (45) ausgangsseitig linear aufgereiht sind, insbesondere zur Ausrichtung entlang eines Eintrittsspalt (19A) eines optischen Spektrometers (13), in dem insbesondere eine spektrale Aufspaltung des Plasmalichts (3A) für die Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit (21) erfassten Plasmalicht (3A) erfolgt, und/oder mit parallelen Faserorientierungen angeordnet sind.Aspect B9. Detection unit (21) according to aspect B7 or B8, wherein light exit surfaces (67A, 67B, 67C, 67D) of the optical fibers (45) are arranged in a row and/or
wherein the optical fibers (45) are lined up linearly on the output side, in particular for alignment along an entrance slit (19A) of an optical spectrometer (13), in which in particular a spectral splitting of the plasma light (3A) for the spectral analysis of one detected by the detection unit (21). Plasma light (3A) occurs and/or is arranged with parallel fiber orientations.
Aspekt B10. Spektrometersystem (1) zur Spektralanalyse eines von einem laserinduzierten Plasma (3) emittierten Plasmalichts (3A) mit
einer Laserstrahlquelle (9) zur Abgabe eines, insbesondere gepulsten, Laserstrahls (5), wobei das Plasma (3) mit dem sich entlang einer Strahlachse (5A) ausbreitenden Laserstrahl (5) auf einer Oberfläche (7A) einer Probe (7) erzeugt wird,
einer Fokussieroptik (11) zur Fokussierung des Laserstrahls (5) auf die Oberfläche (7A) der Probe (7),
einer Detektionseinheit (21) nach einem der vorhergehenden Aspekte, und einem optischen Spektrometer (13) zur Spektralanalyse von einem von der Detektionseinheit (21) erfassten Plasmalicht (3A),
wobei
- - der Plasmadetektionsbereich (59) der Detektionseinheit (21) in einem Abschnitt entlang der Strahlachse (5A) angeordnet ist und
- - die Laserstrahlquelle (9) und die Fokussieroptik (11) derart ausgebildet sind, und insbesondere Strahlparameter des Laserstrahls (5), umfassend insbesondere Pulsdauer und Pulsenergie eines gepulsten Laserstrahls, in Abhängigkeit des Materials der Probe (7) derart eingestellt sind, dass bei Positionierung der Oberfläche (7A) der Probe (7) im Plasmadetektionsbereiche (59) ein Plasma erzeugt wird.
a laser beam source (9) for emitting a, in particular pulsed, laser beam (5), the plasma (3) being generated on a surface (7A) of a sample (7) with the laser beam (5) propagating along a beam axis (5A). ,
a focusing optics (11) for focusing the laser beam (5) on the surface (7A) of the sample (7),
a detection unit (21) according to one of the preceding aspects, and an optical spectrometer (13) for the spectral analysis of a plasma light (3A) detected by the detection unit (21),
where
- - the plasma detection area (59) of the detection unit (21) is arranged in a section along the beam axis (5A) and
- - the laser beam source (9) and the focusing optics (11) are designed in such a way, and in particular beam parameters of the laser beam (5), including in particular the pulse duration and pulse energy of a pulsed laser beam, are set depending on the material of the sample (7) in such a way that when positioned a plasma is generated on the surface (7A) of the sample (7) in the plasma detection areas (59).
Aspekt B11. Spektrometersystem (1) nach Aspekt B10, wobei die Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') und entsprechend die Detektionskegel (35`) derart räumlich angeordnet sind, dass bei einer Abschattung von mindestens einem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') der Messanteil (33') des Plasmalichts (3A) mit einem anderen der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') erfassbar ist.Aspect B11. Spectrometer system (1) according to aspect B10, wherein the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and correspondingly the detection cones (35') are spatially arranged in such a way that when at least one of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') the measurement portion (33') of the Plasma light (3A) can be detected with another of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D').
Aspekt B12. Spektrometersystem (1) nach Aspekt B10 oder B11, ferner mit einem optischen Lichtleitsystem (27), das zum Weiterleiten von mit der Detektionseinheit (21) erfassten Messanteilen des Plasmalichts (3A) an das optische Spektrometer (13) ausgebildet ist und mehrere optische Eingängen (29) und einen optischen Ausgang (31) umfasst,
wobei jeder der optischen Eingänge (29) optisch einem der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') zugeordnet und zur Aufnahme des mit dem zugeordneten Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteils ausgebildet ist, und
der optische Ausgang (31) zur Einkopplung von mit den Objektiven (25A', 25B', 25C', 25D') erfassten Messanteilen in das optische Spektrometer (13) ausgebildet ist.Aspect B12. Spectrometer system (1) according to aspect B10 or B11, further comprising an optical light guide system (27), which is designed to forward measurement components of the plasma light (3A) detected by the detection unit (21) to the optical spectrometer (13) and a plurality of optical inputs ( 29) and an optical output (31),
wherein each of the optical inputs (29) is optically assigned to one of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') and is designed to record the measurement portion recorded with the assigned lens (25A', 25B', 25C', 25D'). is and
the optical output (31) is designed to couple measurement components recorded with the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') into the optical spectrometer (13).
Aspekt B13. Spektrometersystem (1) nach Aspekt B12, wobei jedes der Objektive (25A', 25B', 25C', 25D') derart ausgebildet und in der Objektivhalterung (23') angeordnet ist, dass der Messanteil, der im Detektionskegel (35') eines der Objektiv (25A', 25B', 25C', 25D') erfasst wird, auf den dem Objektiv (25A', 25B', 25C') zugeordneten optischen Eingang (29) abgebildet wird.Aspect B13. Spectrometer system (1) according to aspect B12, wherein each of the lenses (25A', 25B', 25C', 25D') is designed and arranged in the lens holder (23') in such a way that the measurement portion that is in the detection cone (35'). the lens (25A', 25B', 25C', 25D') is captured and imaged onto the optical input (29) assigned to the lens (25A', 25B', 25C').
Aspekt B14. Spektrometersystem (1) nach einem der Aspekte B10 bis B13, wobei jedem der aus dem optischen Lichtleitsystem (27) austretenden Messanteile (33) eine Strahlachse (75A, 75B, 75C, 75D) zugeordnet ist, und die Strahlachsen (75A, 75B, 75C, 75D) parallel zueinander oder nicht mehr als unter einem Winkel von bis zu 1° oder bis zu 3° zueinander verlaufen.Aspect B14. Spectrometer system (1) according to one of aspects B10 to B13, wherein a beam axis (75A, 75B, 75C, 75D) is assigned to each of the measuring components (33) emerging from the optical light guide system (27), and the beam axes (75A, 75B, 75C , 75D) are parallel to each other or no more than at an angle of up to 1° or up to 3° to each other.
Aspekt B15. Spektrometersystem (1) nach einem der Aspekte B11 bis B14, wobei das optische Spektrometer (13) eine Eintrittsapertur (19), insbesondere einen Eintrittsspalt (19A), ein dispersives optisches Element (13A), insbesondere ein Gitter, Prisma oder Gitterprisman (Grisma), und einen Detektor (13B) umfasst, und
wobei die Messanteile (33) durch die Eintrittsapertur (19) in das optische Spektrometer (13) eingekoppelt werden und über das dispersive optische Element (13A) spektral aufgelöst zu dem Detektor (13B) geführt werden, um eine allen Objektiven (25A', 25B', 25C', 25D') der Detektionseinheit (21) zugeordnete spektrale Verteilung (17) auszugeben.Aspect B15. Spectrometer system (1) according to one of aspects B11 to B14, wherein the optical spectrometer (13) has an entrance aperture (19), in particular an entrance slit (19A), a dispersive optical element (13A), in particular a grating, prism or grating prism (grism) , and a detector (13B), and
wherein the measurement components (33) are coupled into the optical spectrometer (13) through the entrance aperture (19) and are guided to the detector (13B) in a spectrally resolved manner via the dispersive optical element (13A) in order to obtain all lenses (25A', 25B ', 25C', 25D') to output the spectral distribution (17) assigned to the detection unit (21).
Es wird explizit betont, dass alle in der Beschreibung und/oder den Ansprüchen offenbarten Merkmale als getrennt und unabhängig voneinander zum Zweck der ursprünglichen Offenbarung ebenso wie zum Zweck des Einschränkens der beanspruchten Erfindung unabhängig von den Merkmalskombinationen in den Ausführungsformen und/oder den Ansprüchen angesehen werden sollen. Es wird explizit festgehalten, dass alle Bereichsangaben oder Angaben von Gruppen von Einheiten jeden möglichen Zwischenwert oder Untergruppe von Einheiten zum Zweck der ursprünglichen Offenbarung ebenso wie zum Zweck des Einschränkens der beanspruchten Erfindung offenbaren, insbesondere auch als Grenze einer Bereichsangabe.It is expressly emphasized that all features disclosed in the description and/or the claims are considered to be separate and independent from each other for the purpose of the original disclosure as well as for the purpose of limiting the claimed invention, regardless of the combinations of features in the embodiments and/or the claims should. It is explicitly stated that all range statements or statements of groups of units disclose every possible intermediate value or subgroup of units for the purpose of the original disclosure as well as for the purpose of limiting the claimed invention, in particular also as a limit of a range statement.
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013209104A1 (en) | 2013-05-16 | 2014-11-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Apparatus and method for spectroscopic analysis |
US9383260B1 (en) | 2008-05-05 | 2016-07-05 | Applied Spectra, Inc. | Laser ablation analysis system |
US20160252398A1 (en) | 2015-02-26 | 2016-09-01 | Sciaps, Inc. | Libs analyzer sample presence detection system and method |
CN107783242A (en) | 2017-10-24 | 2018-03-09 | 太原师范学院 | Automatic focusing mechanism and the block LIBS on-line measuring devices using the device |
US11085882B1 (en) | 2008-05-05 | 2021-08-10 | Applied Spectra, Inc. | Multiphase laser ablation analysis instrument |
-
2022
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9383260B1 (en) | 2008-05-05 | 2016-07-05 | Applied Spectra, Inc. | Laser ablation analysis system |
US11085882B1 (en) | 2008-05-05 | 2021-08-10 | Applied Spectra, Inc. | Multiphase laser ablation analysis instrument |
DE102013209104A1 (en) | 2013-05-16 | 2014-11-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Apparatus and method for spectroscopic analysis |
US20160252398A1 (en) | 2015-02-26 | 2016-09-01 | Sciaps, Inc. | Libs analyzer sample presence detection system and method |
CN107783242A (en) | 2017-10-24 | 2018-03-09 | 太原师范学院 | Automatic focusing mechanism and the block LIBS on-line measuring devices using the device |
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