DE102021120087A1

DE102021120087A1 - Emv-testkammer und verfahren

Info

Publication number: DE102021120087A1
Application number: DE102021120087.3A
Authority: DE
Inventors: Santhosh Kumar Panneerselvam; Yunus-Emre Mizrap; Volker Uebele; Thomas Illing
Original assignee: Valeo Schalter und Sensoren GmbH
Current assignee: Valeo Schalter und Sensoren GmbH
Priority date: 2021-08-03
Filing date: 2021-08-03
Publication date: 2023-02-09

Abstract

EMV-Testkammer (200; 300; 400; 500) zum Testen einer elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente (102) für ein Fahrzeug (100), aufweisendeine Öffnung (206; 306; 406; 506),ein erstes und ein zweites bewegliches Bauelement (207, 207', 208; 307, 308; 407, 408; 507, 508, 520), undeine Betätigungseinrichtung (217; 317; 417; 517), welche dazu eingerichtet ist, die Öffnung (206; 306; 406; 506) wahlweise mit Hilfe des ersten (207, 207'; 307; 407; 507) oder des zweiten Bauelements (208; 308; 408; 508, 520) zu verschließen, wobei das erste Bauelement (207, 207'; 307; 407; 507) eine an seiner Innenseite (209, 209'; 309) angebrachte Testeinrichtung (210, 210'; 310) zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente (102) aufweist, wobei die Testeinrichtung (210, 210'; 310) in einem Innenraum (203; 303; 403; 503) der EMV-Testkammer (200; 300; 400; 500) angeordnet ist, wenn das erste Bauelement (207, 207'; 307; 407; 507) die Öffnung (206; 306; 406; 506) verschließt.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine EMV-Testkammer und ein Verfahren zum Testen einer elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente für ein Fahrzeug.
Eine Prüfung der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) ist verpflichtend für alle elektronischen Produkte. Dabei wird einerseits die Immunität des elektronischen Produkts gegenüber externen elektromagnetischen Strahlen und Störungen getestet. Außerdem wird die Emission elektromagnetischer Strahlung des Produkts selbst ermittelt. Die EMV-Prüfung folgt internationaler, nationaler und produktspezifischer Standards. Sie wird üblicherweise in einer abgeschirmten EMV-Testkammer durchgeführt.
Bei der EMV-Prüfung ist es erforderlich, die elektromagnetische Immunität und Emission in einem breiten Frequenzbereich (z. B. von 100 kHz bis 6 GHz) und in kleinen Frequenzschritten (z. B. Schritte von 1 MHz oder 5 MHz) zu charakterisieren. Bei der Immunitätsprüfung wird insbesondere getestet, ob und unter welchen elektromagnetischen Einflüssen und Störungen das Produkt (noch) störungsfrei und zuverlässig funktioniert. Um die gesamte vorgeschriebene Frequenzbandbreite zu testen, sind verschiedene Messaufbauten nötig und werden verschiedene Messmethoden (z. B. Antennenmessung und induktiv gekoppelte Messung bzw. bulk current injection (BCI)) eingesetzt. Aufgrund der erforderlichen (wiederholten) Änderungen des Messaufbaus ist die Ausführung der vollständigen Messreihe zur Charakterisierung der elektromagnetischen Verträglichkeit eines Testobjekts (equipment under test (EUT)) sehr zeitaufwendig. Insbesondere die Charakterisierung der elektromagnetischen Immunität eines Testobjekts kann beispielsweise mehrere Tage dauern.
Im Bereich der Fahrzeugindustrie gibt es einerseits kleine EMV-Testkammern für die EMV-Prüfung einzelner elektronischer Komponenten eines Fahrzeugs. Daneben gibt es auch gro-ße EMV-Testkammern für die EMV-Prüfung ganzer Fahrzeuge. In der CN 110 988 555 A wird eine EMV-Testkammer für ein ganzes Fahrzeug offenbart, bei welcher eine Attrappe auf Schienen in der Testkammer bewegt wird, um einen laufenden Fußgänger zu simulieren.
Vor diesem Hintergrund besteht eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, eine verbesserte EMV-Testkammer und ein verbessertes Verfahren zum Testen einer elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente für ein Fahrzeug zu schaffen.
Demgemäß wird eine EMV-Testkammer zum Testen einer elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente für ein Fahrzeug vorgeschlagen. Die EMV-Testkammer weist auf:

eine Öffnung,
ein erstes und ein zweites bewegliches Bauelement, und
eine Betätigungseinrichtung, welche dazu eingerichtet ist, die Öffnung wahlweise mit Hilfe des ersten oder des zweiten Bauelements zu verschließen, wobei das erste Bauelement eine an seiner Innenseite angebrachte Testeinrichtung zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente aufweist, und wobei die Testeinrichtung in einem Innenraum der EMV-Testkammer angeordnet ist, wenn das erste Bauelement die Öffnung verschließt.

Die EMV-Testkammer dient zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV, engl. „electromagnetic compatibility (EMC)) einer elektronischen Komponente für ein Fahrzeug. Insbesondere dient sie zum Testen der elektromagnetischen Immunität der elektronischen Komponente. Dabei können verschiedene Messmethoden (z. B. strahlungsgekoppelte Messung, induktiv gekoppelte Messung, kapazitiv gekoppelte Messung) zum Einsatz kommen. Bei manchen Messmethoden ist es erforderlich, dass - außer der eingesetzten Testeinrichtung - keine weiteren elektrisch leitenden Geräte oder Vorrichtungen in der Nähe der zu testenden elektronischen Komponente vorhanden sind. Bei kleinen EMV-Testkammern, die für die Prüfung einzelner Komponenten eines Produkts eingesetzt werden, ist es erforderlich, dass solche weiteren elektrisch leitenden Geräte oder Vorrichtungen aus der Testkammer gänzlich entfernt werden.
Dadurch, dass das erste Bauelement eine an seiner Innenseite angebrachte Testeinrichtung aufweist, kann die Testeinrichtung durch Verschließen der Öffnung im Innenraum der Testkammer einfach bereitgestellt werden. Insbesondere handelt es sich bei dem Bereitstellen der Testeinrichtung im Innenraum der Testkammer und dem Verschließen der Öffnung der Testkammer um einen einzigen Vorgang. Die Testeinrichtung kann auch wieder schnell und vollständig aus der Testkammer entfernt werden, indem das erste Bauelement durch das zweite Bauelement in der Öffnung ersetzt wird.
Die EMV-Testkammer ist dazu eingerichtet, das Eindringen oder die ungewünschte Reflektion elektromagnetischer Störstrahlung zu verhindern. Die EMV-Testkammer weist insbesondere eine elektromagnetische Schirmung auf, zum Beispiel in Form einer geschlossenen elektrisch leitfähigen Hülle. Außerdem weist die EMV-Testkammer elektromagnetische Absorber bzw. Absorptionsmaterial an ihren Innenwänden auf. Die Schirmung funktioniert nach dem Prinzip des Faradayschen Käfigs und sorgt dafür, dass elektromagnetische Strahlung weder in den Raum eindringen noch aus ihm hinaus gelangen kann. Elektromagnetische Absorber an den Innenwänden bewirken, dass die zu prüfende Strahlung nicht reflektiert wird. Auf diese Weise werden vergleichbare und unveränderliche Prüfbedingungen hergestellt.
Die elektronische Komponente für das Fahrzeug kann jede elektronische Komponente des Fahrzeugs sein. Bei der elektronischen Komponente kann es sich auch um eine Gruppe mehrerer elektronischer Einzelkomponenten des Fahrzeugs handeln. Die elektronische Komponente, die in der EMV-Testkammer auf ihre elektromagnetische Verträglichkeit geprüft wird, wird auch DUT (device under test) bzw. EUT (equipment under test) genannt.
Die Öffnung ist insbesondere eine Öffnung in einer Wand der Testkammer. Durch die Öffnung wird insbesondere ein Zugang in den Innenraum der Testkammer bereitgestellt, um beispielsweise die Testeinrichtung von außerhalb der Testkammer in den Innenraum der Testkammer zu bewegen.
Das erste und zweite bewegliche Bauelement dienen insbesondere jeweils zum Verschlie-ßen der Öffnung. Insbesondere kann sowohl mit dem ersten Bauelement als auch mit dem zweiten Bauelement ein und dieselbe Öffnung verschlossen werden.
Insbesondere kann zu einem ersten Zeitpunkt die Öffnung mit dem ersten Bauelement verschlossen sein. In diesem Zustand kann im Innern der Testkammer eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente mittels der an dem ersten Bauelement angebrachten Testeinrichtung durchgeführt werden. Insbesondere kann zu einem zweiten von dem ersten Zeitpunkt verschiedenen Zeitpunkt die Öffnung mit dem zweiten Bauelement verschlossen sein. In diesem Zustand kann in Ausführungsformen im Innern der Testkammer eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente ohne der an dem ersten Bauelement angebrachten Testeinrichtung durchgeführt werden. Beispielsweise kann in diesem Zustand eine EMV-Prüfung mit einer anderen Testeinrichtung, die sich bereits in der Testkammer befindet oder die auf anderem Wege in die Testkammer hineinbewegt wird, durchgeführt werden.
Die Betätigungseinrichtung weist beispielsweise mechanische Elemente, Aktoren und/oder eine oder mehrere Steuereinheiten zum Bewegen des ersten und zweiten Bauelements auf.
Gemäß einer Ausführungsform weist das zweite Bauelement auf:

an seiner Innenseite vollflächig ein Absorptionsmaterial zur Absorption elektromagnetischer Strahlung, oder
eine an seiner Innenseite angebrachte weitere Testeinrichtung zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente, wobei die weitere Testeinrichtung in dem Innenraum der EMV-Testkammer angeordnet ist, wenn das zweite Bauelement die Öffnung verschließt.

Aufgrund des Ersetzens des ersten Bauelements durch das zweite Bauelement kann einfach eine elektromagnetische Strahlung absorbierende Fläche (Absorptionsmaterial) bereitgestellt werden. Dies bspw. für weitere Tests in der EMV-Kammer, allerding ohne die ggf. dann elektromagnetisch störende (nicht benutzte) Testeinrichtung. Oder aber das erste Bauelement wird durch ein zweites Bauelement ersetzt, das eine weitere (zweite) Testeinrichtung trägt. Diese ist von der (ersten) Testeinrichtung des ersten Bauelements verschieden. Mit der weiteren bzw. zweiten Testeinrichtung können dann weitere Tests durchgeführt werden, die von den mit der ersten Testvorrichtung durchgeführten verschieden sind.
Damit, dass das zweite Bauelement vollflächig das Absorptionsmaterial aufweist, ist gemeint, dass das zweite Bauelement im Wesentlichen nur der Strahlungsabsorption dient und gerade keine Testeinrichtung trägt.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist die Öffnung eine Türöffnung oder eine Luke.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist das erste und/oder das zweite Bauelement eine Tür oder eine Klappe.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform weist die Testkammer eine Seitenwand und eine Deckenwand auf, wobei die Öffnung in der Seitenwand oder der Deckenwand angeordnet ist.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform weist die EMV-Testkammer ein drittes bewegliches Bauelement auf, das eine an seiner Innenseite angebrachte weitere Testeinrichtung aufweist, wobei die weitere Testeinrichtung in dem Innenraum der Testkammer angeordnet ist, wenn das dritte Bauelement die Öffnung verschließt,
wobei die Betätigungseinrichtung dazu eingerichtet ist, die Öffnung wahlweise mit Hilfe des ersten, des zweiten oder des dritten Bauelements zu verschließen.
Dadurch kann, wenn die Öffnung der Testkammer mit dem ersten Bauelement verschlossen ist, eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente mit Hilfe der an dem ersten Bauelement innenseitig angebrachten Testeinrichtung durchgeführt werden. Außerdem kann, wenn die Öffnung der Testkammer mit dem dritten Bauelement verschlossen ist, eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente mit Hilfe der an dem dritten Bauelement innenseitig angebrachten weiteren Testeinrichtung durchgeführt werden. Insbesondere kann wahlweise die Testeinrichtung und die weitere Testeinrichtung im Innenraum der Testkammer am Ort der Öffnung bereitgestellt werden.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform weist die EMV-Testkammer eine weitere Öffnung und ein weiteres erstes und ein weiteres zweites bewegliches Bauelement auf, wobei
das weitere erste Bauelement eine an seiner Innenseite angebrachte weitere Testeinrichtung aufweist, wobei die weitere Testeinrichtung in dem Innenraum der Testkammer angeordnet ist, wenn das weitere erste Bauelement die Öffnung verschließt,
das weitere zweite Bauelement aufweist:

an seiner Innenseite vollflächig ein Absorptionsmaterial zur Absorption elektromagnetischer Strahlung, oder
eine an seiner Innenseite angebrachte weitere Testeinrichtung zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente, wobei die weitere Testeinrichtung in dem Innenraum der EMV-Testkammer angeordnet ist, wenn das weitere zweite Bauelement die Öffnung verschließt, und
die Betätigungseinrichtung dazu eingerichtet ist, die weitere Öffnung wahlweise mit Hilfe des weiteren ersten oder weiteren zweiten Bauelements zu verschließen.

In dem Zustand, in dem die Öffnung der Testkammer mit dem ersten Bauelement verschlossen ist, welches die Testeinrichtung aufweist, und die weitere Öffnung mit dem weiteren zweiten Bauelement verschlossen ist, kann eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente mit Hilfe der an dem ersten Bauelement angebrachten Testeinrichtung durchgeführt werden.
In dem Zustand, in dem die Öffnung der Testkammer mit dem zweiten Bauelement verschlossen ist und die weitere Öffnung mit dem weiteren ersten Bauelement verschlossen ist, welches die weitere Testeinrichtung aufweist, kann eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente mit Hilfe der an dem weiteren ersten Bauelement angebrachten weiteren Testeinrichtung durchgeführt werden.
Da die an dem ersten Bauelement angebrachte Testeinrichtung durch Schließen des ersten Bauelements am Ort der (ersten) Öffnung bereitgestellt wird, und die an dem weiteren ersten Bauelement angebrachte weitere Testeinrichtung durch Schließen des weiteren ersten Bauelements am Ort der weiteren Öffnung (zweite Öffnung) bereitgestellt wird, können die Testeinrichtung und die weitere Testeinrichtung an zwei voneinander verschiedenen Orten im Innenraum der Testkammer zum Messen bereitgestellt werden.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist Betätigungseinrichtung dazu eingerichtet, die Öffnung und/oder die weitere Öffnung automatisiert, insbesondere vollautomatisiert, wahlweise mit Hilfe
des ersten oder zweiten Bauelements,
des ersten, zweiten oder dritten Bauelements, und/oder
des weiteren ersten oder des weiteren zweiten Bauelements zu verschließen.
Dadurch kann die EMV-Prüfung der elektronischen Komponente, insbesondere die Prüfung der elektromagnetischen Immunität, mit Hilfe verschiedener Testeinrichtungen und über einen breiten Frequenzbereich (voll)automatisiert durchgeführt werden. Dadurch kann beispielsweise die gesamte erforderliche Messreihe zur Charakterisierung der elektromagnetischen Immunität einer elektronischen Komponente ohne manuelles Eingreifen durchgeführt werden. Dadurch kann beispielsweise die gesamte Messreihe ohne Pausen durchgeführt werden. Insbesondere können auch Nacht- und Wochenendzeiten zur Messung genutzt werden. Dadurch können Herstellungskosten und Herstellungszeiten der elektronischen Komponente reduziert werden.
Ein automatisiertes Verschließen der (weiteren) Öffnung mit Hilfe des jeweiligen Bauelements umfasst ein halb- oder vollautomatisiertes Bewegen des Bauelements von einer Parkposition in die (weitere) Öffnung oder umgekehrt. Ein vollautomatisiertes Bewegen meint ein ausschließlich maschinelles Durchführen aller für die Bewegung erforderlichen Schritte ohne menschliche Interaktion. Ein halbautomatisiertes Durchführen bedeutet, dass ein Teil der Schritte ausschließlich maschinell, ein anderer Teil mit menschlicher Interaktion durchgeführt wird.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform weist die Betätigungseinrichtung Schienen auf, und weist das jeweilige Bauelement Rollen zum Fahren in den Schienen auf.
Dadurch kann das jeweilige Bauelement auf den Schienen fahrend von einer Parkposition außerhalb der Testkammer zur Öffnung oder zur weiteren Öffnung der Testkammer bewegt werden, um dort die Öffnung oder die weitere Öffnung zu verschließen. Außerdem kann das jeweilige Bauelement aus der Öffnung oder weiteren Öffnung wieder heraus und in die Parkposition zurückbewegt werden.
Beispielsweise weist die Betätigungseinrichtung eine Plattform auf, auf welcher die Schienen montiert sind. Beispielsweise umfassen die Schienen zwei parallel angeordnete Schienen, welche jeweils eine Nut aufweisen zur rollenden oder gleitenden Aufnahme der an dem jeweiligen Bauelement angebrachten Rollen. Die Schienen können auch ein erstes Paar von zwei parallelen Schienen aufweisen, und ein dazu im Winkel angeordnetes zweites Paar von zwei parallelen Schienen, so dass das jeweilige Bauelement entlang des erstens Paars Schienen fahren kann und sodann in abbiegender Weise entlang des zweiten Paars Schienen. Für jedes Bauelement kann insbesondere ein eigenes Schienenpaar oder mehrere eigene Schienenpaare vorgesehen sein, so dass jedes Bauelement entlang seines Schienenpaars/seiner Schienenpaare einen eigenen Weg fahren kann.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform weist die Testeinrichtung oder weitere Testeinrichtung eine Antenne, insbesondere eine Hornantenne, eine logarithmisch-periodische Antenne, eine logarithmisch-periodische Dipolantenne und/oder eine stapelbare logarithmisch-periodische Antenne, und/oder eine Robotikeinrichtung oder einen Roboterarm auf.
Ein der (ggf. jeweiligen) Antenne zugeordneter HF(Hochfrequenz)-Verstärker kann stationär, insbesondere außerhalb des Innenraums der EMV-Testkammer, angeordnet sein. Der HF-Verstärker bewegt sich also insbesondere während eines Tauschs der Bauelemente nicht. Der HF-Verstärker kann dazu mittels Kabel mit der entsprechenden Antenne verbunden sein.
Eine Änderung der Polarisierung einer Antenne kann pneumatisch erfolgen, was aus EMV-Sicht vorteilhaft ist.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist die Robotikeinrichtung und/oder der Roboterarm dazu eingerichtet, die elektronische Komponente zu positionieren, und/oder
ist die Robotikeinrichtung und/oder der Roboterarm dazu eingerichtet, eine Induktionseinrichtung an der elektronischen Komponente zu positionieren zur Ausführung einer induktiven Verträglichkeitsprüfung der elektronischen Komponente, und/oder
ist die Antenne, insbesondere die Hornantenne, die logarithmisch-periodische Antenne, die logarithmisch-periodische Dipolantenne und/oder die stapelbare logarithmisch-periodische Antenne, dazu eingerichtet, eine strahlungsgekoppelte Verträglichkeitsprüfung der elektronischen Komponente auszuführen.
Insbesondere ist die Robotikeinrichtung und/oder der Roboterarm dazu eingerichtet, die Induktionseinrichtung an einem Kabel, Kabelstrang und/oder einem Kabelbaum der elektronischen Komponente zu positionieren. Insbesondere ist die Robotikeinrichtung und/oder der Roboterarm dazu eingerichtet, die Induktionseinrichtung an der elektronischen Komponente in verschiedenen Abständen zur elektronischen Komponente zu positionieren.
Die induktive Verträglichkeitsprüfung ist insbesondere eine induktiv gekoppelte Verträglichkeitsprüfung. Die Induktionseinrichtung weist beispielsweise eine Stromeinprägeeinrichtung, eine Stromkoppeleinrichtung, eine Stromkoppelzange, eine BCI-Probe (Bulk Current Injection) und/oder eine Induktionsspule auf. Bei der induktiven Immunitätsprüfung wird beispielsweise durch die Induktionseinrichtung ein (z. B. hochfrequenter) Strom beispielsweise in das Kabel bzw. den Kabelbaum der elektronischen Komponente eingeprägt. Beispielsweise wird ein Gleichstrom mit einer Stärke von 200 mA - 300 mA eingeprägt. Es kann aber auch eine andere (z. B. in internationalen, nationalen oder produktspezifischen Standards festgelegte) Stromstärke und/oder Wechselstrom zum Einsatz kommen. Die Induktionseinrichtung wird dazu beispielsweise in verschiedenen Abständen zu der elektronischen Komponente an dem Kabel bzw. Kabelbaum angeordnet. Dann wird für jeden Abstand getestet, ob die elektronische Komponente trotz des eingeprägten Stroms wie gewünscht funktioniert. Beispielsweise wird die Induktionseinrichtung in Abständen von 150 mm, 450 mm und 750 mm von der elektronischen Komponente durch die Robotikeinrichtung bzw. den Roboterarm positioniert. Die Induktionseinrichtung kann aber auch in anderen (z. B. in internationalen, nationalen oder produktspezifischen Standards festgelegten) Abständen zu der elektronischen Komponente positioniert werden.
Die strahlungsgekoppelte Verträglichkeitsprüfung erfolgt im Fernfeld der elektronischen Komponente, in dem eine kapazitive oder induktive Kopplung vernachlässigbar ist und die messbaren Effekte auf elektromagnetischen Feldern im Raum beruhen. Die strahlungsgekoppelte Verträglichkeitsprüfung erfolgt insbesondere mit Hilfe von Antennen, welche elektromagnetische Strahlung zur Immunitätsprüfung der elektronischen Komponente aussenden und elektromagnetische Strahlung der elektronischen Komponente zur Emissionsprüfung erfassen. Um den gesamten zu prüfenden Frequenzbereich abzudecken sind insbesondere mehrere verschiedene Antennen nötig. Beispielsweise wird eine logarithmisch-periodische Antenne, logarithmisch-periodische Dipolantenne und/oder stapelbare logarithmisch-periodische Antenne für einen Bereich relativ niedriger Frequenzen (z. B. einen Frequenzbereich von 150 MHz bis 1 GHz) eingesetzt. Beispielsweise wird eine Hornantenne für einen Bereich relativ hoher Frequenzen (1 GHz bis 6 GHz) eingesetzt. Es können aber auch andere Antennen oder andere Frequenzbereiche, z. B. solche, die in internationalen, nationalen oder produktspezifischen Standards vorgeschrieben sind, angewendet werden.
Beispielsweise ist eine erste Antenne, z. B. eine Hornantenne, an dem ersten Bauelement angebracht zur strahlungsgekoppelten Verträglichkeitsprüfung der elektronischen Komponente in einem ersten Frequenzbereich.
Beispielsweise ist eine zweite Antenne, z. B. eine logarithmisch-periodische Antenne, logarithmisch-periodische Dipolantenne und/oder stapelbare logarithmisch-periodische Antenne an dem zweiten oder dritten Bauelement oder dem weiteren ersten Bauelement angebracht zur strahlungsgekoppelten Verträglichkeitsprüfung der elektronischen Komponente in einem zweiten - vom ersten verschiedenen - Frequenzbereich.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist eine Breite, Tiefe und/oder Höhe der Testkammer 10 Meter oder kleiner, 8 Meter oder kleiner, 6 Meter oder kleiner, 5 Meter oder kleiner und/oder 4 Meter oder kleiner.
Insbesondere ist die EMV-Testkammer zum Testen von einzelnen elektronischen Komponenten oder Gruppen von elektronischen Komponenten im Automobilbereich ausgelegt, nicht aber für das Testen von Endprodukten, d.h. das Testen ganzer Fahrzeuge.
Beispielsweise betragen die in der EMV-Testkammer möglichen Messabstände zwischen Antenne und Messobjekt 9 Meter oder kleiner, 7 Meter oder kleiner, 5 Meter oder kleiner, 4 Meter oder kleiner und/oder 3 Meter oder kleiner.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist die elektronische Komponente ein Sensor für das Fahrzeug, insbesondere eine Fahrzeugkamera.
In Ausführungsformen weist das jeweilige Bauelement eine elektromagnetische Schirmung auf, und/oder weist das jeweilige Bauelement eine Federanordnung zur elektromagnetischen Schirmung auf.
Die elektromagnetische Schirmung ist, zum Beispiel eine elektrisch leitfähige Platte oder Lochplatte innerhalb des jeweiligen Bauelements. Zusammen mit der Schirmung der restlichen EMV-Kammer funktioniert sie nach dem Prinzip des Faradayschen Käfigs und sorgt dafür, dass elektromagnetische Strahlung auch nicht durch die mit dem jeweiligen Bauelement verschlossene (weitere) Öffnung in den Innenraum eindringen oder aus ihm heraus gelangen kann.
Um ein Entweichen oder Eindringen elektromagnetischer Strahlung auch zwischen dem jeweiligen Bauelement und einem Rand der Öffnung zu verhindern, kann das jeweilige Bauelement im Randbereich auch eine Federanordnung zur elektromagnetischen Schirmung aufweisen, welche die elektrisch leitfähige Platte des Bauelements und die Schirmung der restlichen EMV-Testkammer elektrisch kontaktiert.
Gemäß einem zweiten Aspekt wird ein Verfahren zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente für ein Fahrzeug in einer EMV-Testkammer, welche eine Öffnung und ein erstes und ein zweites bewegliches Bauelement zum Verschließen der Öffnung aufweist, bereitgestellt. Das Verfahren umfasst die Schritte:

a) Verschließen der Öffnung mit dem ersten Bauelement,
b) Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente mit Hilfe einer an dem ersten Bauelement angebrachten Testeinrichtung, und
c) Tauschen des ersten Bauelements gegen das zweite Bauelement in der Öffnung.

Gemäß einer Ausführungsform weist das zweite Bauelement an seiner Innenseite vollflächig ein Absorptionsmaterial zur Absorption elektromagnetischer Strahlung oder eine weitere Testeinrichtung auf, wobei das Verfahren weiterhin aufweist:

d) Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente, wobei elektromagnetische Strahlung in der EMV-Testkammer von dem Absorptionsmaterial absorbiert wird oder wobei das Prüfen mithilfe der weiteren Testeinrichtung erfolgt.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform werden die Schritte a) bis c) oder die Schritte a) bis d) automatisiert ausgeführt.
Ein automatisiertes Ausführen umfasst ein halb- oder vollautomatisiertes Ausführen der Schritte. Ein vollautomatisiertes Ausführen der Schritte meint ein ausschließlich maschinelles Ausführen der Schritte ohne menschliche Interaktion. Ein halbautomatisiertes Ausführen bedeutet, dass ein Teil der Schritte ausschließlich maschinell, ein anderer Teil mit menschlicher Interaktion ausgeführt wird. Bei dem halbautomatisierten Ausführen kann insbesondere vorgesehen sein, dass zumindest zwei aufeinander folgende Schritte ausschließlich maschinell ohne menschliche Interaktion durchgeführt werden.
Gemäß einem dritten Aspekt wird ein Verfahren zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente für ein Fahrzeug in einer EMV-Testkammer vorgeschlagen. Das Verfahren umfasst die Schritte:

a1) Hineinbewegen einer Testeinrichtung in einen Innenraum der Testkammer,
b1) Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente mit Hilfe der Testeinrichtung, und
c1) Herausbewegen der Testeinrichtung aus dem Innenraum der Testkammer,

In Ausführungsformen des dritten Aspekts weist das Verfahren außerdem die Schritte auf:

d1) Hineinbewegen einer weiteren Testvorrichtung in die Testkammer, und
e1) Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente mit Hilfe der weiteren Testeinrichtung.

In Ausführungsformen des dritten Aspekts werden die Schritte a1) bis c1) oder die Schritte a1) bis e1) automatisiert, insbesondere vollautomatisiert, durchgeführt.
Die für die vorgeschlagene EMV-Testkammer beschriebenen Ausführungsformen und Merkmale gelten für die vorgeschlagenen Verfahren entsprechend, und umgekehrt.
Weitere mögliche Implementierungen der Erfindung umfassen auch nicht explizit genannte Kombinationen von zuvor oder im Folgenden bezüglich der Ausführungsbeispiele beschriebenen Merkmale oder Ausführungsformen. Dabei wird der Fachmann auch Einzelaspekte als Verbesserungen oder Ergänzungen zu der jeweiligen Grundform der Erfindung hinzufügen.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Aspekte der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche sowie der im Folgenden beschriebenen Ausführungsbeispiele der Erfindung. Im Weiteren wird die Erfindung anhand von bevorzugten Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die beigelegten Figuren näher erläutert.

1 zeigt ein Fahrzeug mit einer elektronischen Komponente;
2 zeigt eine perspektivische Ansicht einer EMV-Testkammer zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente aus 1 gemäß einer ersten Ausführungsform;
3 zeigt eine Seitenansicht einer ersten Tür der EMV-Testkammer aus 2 gemäß einer Ausführungsform;
4 zeigt eine Seitenansicht einer ersten Tür der EMV-Testkammer aus 2 gemäß einer weiteren Ausführungsform;
5 zeigt eine Seitenansicht einer zweiten Tür der EMV-Testkammer aus 2 gemäß einer Ausführungsform;
6 veranschaulicht eine elektromagnetische Schirmung der ersten oder zweiten Tür aus 3 - 4 in einer Seitenansicht;
7 veranschaulicht eine elektromagnetische Schirmung der ersten oder zweiten Tür aus 3 - 4 in einer Draufsicht;
8 zeigt eine EMV-Testkammer gemäß einer zweiten Ausführungsform;
9 zeigt eine Seitenansicht einer Tür der EMV-Testkammer aus 8;
10 zeigt eine EMV-Testkammer gemäß einer dritten Ausführungsform;
11 zeigt eine EMV-Testkammer gemäß einer vierten Ausführungsform;
12 zeigt ein Flussablaufdiagramm zur Veranschaulichung eines Verfahrens gemäß einer Ausführungsform zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente in einer EMV-Testkammer aus 2, 8, 10 oder 11; und
13 zeigt ein Flussablaufdiagramm zur Veranschaulichung eines Verfahrens gemäß einer Ausführungsform zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente in einer EMV-Testkammer aus 2, 8, 10 oder 11.

In den Figuren sind gleiche oder funktionsgleiche Elemente mit denselben Bezugszeichen versehen worden, sofern nichts anderes angegeben ist.
Obwohl die vorliegende Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen beschrieben wurde, ist sie vielfältig modifizierbar.
1 zeigt eine schematische Ansicht eines Fahrzeugs 100. Das Fahrzeug 100 ist insbesondere ein Kraftfahrzeug, zum Beispiel ein Personenkraftwagen. In anderen Beispielen kann das Fahrzeug 100 auch ein Lastkraftwagen, Bus oder ein anderes Kraftfahrzeug sein. Das Fahrzeug 100 weist beispielsweise an einer vorderen Windschutzscheibe 101 eine Frontkamera 102 auf.
Bei der Herstellung der Frontkamera 102, welche unter anderem beispielsweise einen Bildsensor, einen Bildprozessor, einen Speicher und dergleichen aufweist, ist eine Überprüfung der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) vor dem Einbau in ein Fahrzeug 100 erforderlich.
Die elektromagnetische Verträglichkeit einer elektronischen Komponente, wie beispielsweise der Frontkamera 102, wird in einem abgeschirmten Raum, wie beispielsweise der in 2 gezeigten EMV-Testkammer 200, getestet. Die Testkammer 200 gemäß einer ersten Ausführungsform weist vier Seitenwände 201, eine Deckenwand 202 und eine Bodenwand (ohne Bezugszeichen) auf, welche einen Innenraum 203 der Testkammer 200 begrenzen. Die Testkammer 200 weist außerdem eine Eingangstür 204 zum Betreten der Testkammer 200 auf.
Die Außenmaße der Testkammer 200 sind beispielsweise eine Breite B von 5,5 Metern, eine Tiefe T von 5,2 Metern und eine Höhe H von 3,6 Metern. Die Testkammer 200 kann aber auch andere Maße haben.
In der Testkammer 200 ist die zu prüfende elektronische Komponente 102 beispielsweise auf einem Tisch 205 angeordnet. Der Tisch 205 umfasst vorzugsweise eine Oberfläche aus nichtleitendem Material, z. B. Holz, mit einer Schicht aus leitendem Material, z. B. einer Kupferplatte, darüber, und ggf. einer weiteren Isolierschicht darüber. So kann eine Fahrzeugumgebung geeignet simuliert werden.
Die EMV-Testkammer 200 weist eine Öffnung 206 in einer der Seitenwände 201 auf. Zudem weist die EMV-Testkammer 200 eine erste Tür 207 und eine zweite Tür 208 auf, welche wahlweise zum Verschließen der Öffnung 206 dienen.
Wie in 3 in einer Seitenansicht der ersten Tür 207 gezeigt, ist an einer - im verschlossenen Zustand der ersten Tür 207 - dem Innenraum 203 der Testkammer 200 zugewandten Innenseite 209 der ersten Tür 207 eine Testeinrichtung 210 befestigt. Die Testeinrichtung 210 in dem Beispiel von 3 ist eine Hornantenne, welche mittels einer Halterung 211 beabstandet zu der Innenseite 209 angebracht ist. Auf der Innenseite 209 der Tür 207 ist vorzugsweise ein Absorptionsmaterial 220 angebracht, welches eine Reflektion elektromagnetischer Strahlung an der Innenseite 209 verhindert. Ein Abstand A zwischen dem Absorptionsmaterial 220 und der Testeinrichtung 210 beträgt beispielsweise mindestens 0,5 m.
In einem anderen Beispiel kann die Testeinrichtung 210' auch eine logarithmisch-periodische Antenne (kurz: log-periodische Antenne) sein, die an der Innenseite 209' der ersten Tür 207' mittels einer Halterung 211' angebracht ist, wie in 4 dargestellt. Die jeweilige Antenne 210 kann eine nicht gezeigte Verstärkereinheit (hier auch als HF-Verstärker bezeichnet) aufweisen, welche wahlweise an der Tür 207 befestigt oder außerhalb der EMV-Testkammer 200 angeordnet ist.
Die zweite Tür 208 weist an ihrer Innenseite 212 (5) keine Testeinrichtung auf, sondern ist an ihrer Innenseite 212 vollflächig (d.h., über die gesamte Innenseite 212) mit einem Absorptionsmaterial 213 versehen, um eine Reflektion elektromagnetischer Strahlung an der Innenseite 212 zu verhindern.
Es wird angemerkt, dass die gesamte Testkammer 200 - obwohl in den Figuren nicht gezeigt - an ihren Innenwänden ein Absorptionsmaterial ähnlich dem Absorptionsmaterial 213, 220 aufweist. Insbesondere weist auch die Innenseite 209' der ersten Tür 207' - obwohl in 4 nicht gezeigt - zusätzlich zu der Testeinrichtung 210' ein Absorptionsmaterial ähnlich dem Absorptionsmaterial 220 auf.
Darüber hinaus weist die gesamte Testkammer 200 - obwohl in den Figuren nicht gezeigt - in ihren Seiten-, Decken- und Bodenwänden 201, 202 eine elektromagnetische Schirmung beispielsweise in Form einer durchgehenden elektrisch leitfähigen Hülle auf. Auch die Türen 204, 207, 207', 208 (2) weisen eine entsprechende elektromagnetische Schirmung 214 über ihre gesamte Haupterstreckungsrichtung auf, wie schematisch in 6 in einer Seitenansicht gezeigt. Zudem weisen die Türen 204, 207, 207', 208 in einem Randbereich 215 Federfingerelemente 216 auf.
Die EMV-Testkammer 200 weist weiterhin eine Betätigungsvorrichtung 217 (2) auf zum vollautomatisierten Öffnen und Verschließen der Öffnung 206 mit wahlweise der ersten Tür 207, 207' und der zweiten Tür 208. Die Betätigungsvorrichtung 217 weist mehrere Schienen 218 auf, in denen die jeweilige Tür 207, 207' beispielswiese mittels Rollen (nicht gezeigt) laufen kann. Die Betätigungsvorrichtung 217 weist außerdem eine Steuereinheit 219 auf zum vollautomatisierten Steuern der Türen 207, 207', 208. Die Betätigungsvorrichtung 217 kann zudem eine Antriebsvorrichtung, ein oder mehrere Aktoren oder dergleichen aufweisen.
Im Folgenden wird mit Bezug zu den 1 - 6 und 12 ein Verfahren zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente 102 in der EMV-Testkammer 200 gemäß einer Ausführungsform beschrieben.
In einem ersten Schritt S1 des Verfahrens wird die Testeinrichtung 210, 210' (z. B. die Hornantenne 210 oder die log-periodische Antenne 210') mittels der Betätigungsvorrichtung 217 in den Innenraum 203 der EMV-Testkammer 200 vollautomatisiert hineinbewegt. Insbesondere wird dabei die erste Tür 207, 207' vollautomatisiert von einer Parkposition P1 in die Öffnung 206 bewegt und die Öffnung 206 mit der ersten Tür 207, 207' vollautomatisiert verschlossen, so dass die an der Tür 207, 207' angebrachte Testeinrichtung 210, 210' im Innenraum 203 der Testkammer 200 bereitgestellt wird.
In einem zweiten Schritt S2 des Verfahrens wird die elektromagnetische Verträglichkeit der elektronischen Komponente 102 mit Hilfe der Testeinrichtung 210, 210' charakterisiert.
In einem dritten Schritt S3 des Verfahrens wird die Testeinrichtung 210, 210' aus dem Innenraum 203 der Testkammer 200 mittels der Betätigungsvorrichtung 217 vollautomatisiert herausbewegt. Insbesondere wird dabei die erste Tür 207, 207' vollautomatisiert aus der Öffnung 206 herausbewegt, so dass die an der Tür 207, 207' angebrachte Testeinrichtung 210, 210' aus dem Innenraum 203 der Testkammer 200 herausbewegt und zu der Parkposition P1 zurückbewegt wird.
In einem vierten Schritt S4 des Verfahrens wird die zweite Tür 208 aus einer Parkposition P2 mittels der Betätigungsvorrichtung 217 vollautomatisiert in die Öffnung 206 bewegt und die Öffnung 206 mit der zweiten Tür 208 verschlossen.
In einem dann durchgeführten (weiteren) EMV-Test (bzw. EMV-Charakterisierung) gemäß Schritt S5 absorbiert das Absorptionsmaterial 213 an der Innenseite der Tür 208 elektromagnetische Strahlung. Diese Strahlung wird beispielsweise von einer hier nicht gezeigten, im Innenraum 203 befindlichen (weiteren) Testeinrichtung erzeugt. Alternativ ist an der zweiten Tür 208 innenseitig eine weitere Testeinrichtung beispielsweise in Form einer Antenne 210, 210' oder Robotikeinrichtung 310 (siehe 8) angebracht, wobei die Antenne 210, 210' bzw. die Robotikeinrichtung 310 im Rahmen des weiteren EMV-Tests eingesetzt werden.
In 8 ist eine EMV-Testkammer 300 gemäß einer zweiten Ausführungsform gezeigt. Im Folgenden werden vorwiegend Unterschiede zur ersten Ausführungsform beschrieben.
Die EMV-Testkammer 300 weist - anstatt oder zusätzlich zu einer in einer Seitenwand 301 der Testkammer 300 angebrachten Öffnung (ähnlich der Öffnung 206, 2) - eine Öffnung 306 an einer Deckenwand 302 auf. Außerdem weist die EMV-Testkammer 300 - anstatt oder zusätzlich zu Türen zum Verschließen einer Öffnung in einer Seitenwand (ähnlich den Türen 207, 208, 2) - eine erste Tür 307 und eine zweite Tür 308 zum Verschließen der Öffnung 306 in der Deckenwand 302 auf.
Die erste Tür 307 weist eine an ihrer Innenseite 309 (9) angebrachte Testeinrichtung 310 in Form eines Roboterarms 310 auf. Die zweite Tür 308 weist keine Testeinrichtung auf, sondern weist vielmehr an ihrer Innenseite vollflächig ein Absorptionsmaterial ähnlich dem Absorptionsmaterial 213 in 5 auf.
Die EMV-Testkammer 300 gemäß der zweiten Ausführungsform weist außerdem eine Betätigungseinrichtung 317 umfassend Schienen 318, eine Hebevorrichtung 319, eine Steuereinheit 320 und dergleichen auf.
Im Folgenden wird mit Bezug zu den 8 - 9 und 13 ein Verfahren zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente 102 in der EMV-Testkammer 300 gemäß einer Ausführungsform beschrieben.
In einem ersten Schritt S1' des Verfahrens wird die Testeinrichtung 310 (der Roboterarm 310) mittels der Betätigungsvorrichtung 317 in den Innenraum 303 der EMV-Testkammer 300 vollautomatisiert hineinbewegt. Insbesondere wird dabei die erste Tür 307 aus einer Parkposition P3 außerhalb der Testkammer 300 vollautomatisiert mittels der Hebevorrichtung 319 in die Öffnung 306 bewegt und die Öffnung 306 vollautomatisiert mit der ersten Tür 307 verschlossen, so dass der an der Tür 307 angebrachte Roboterarm 310 im Innenraum 303 der Testkammer 300 bereitgestellt wird.
In einem zweiten Schritt S2' des Verfahrens wird die elektromagnetische Verträglichkeit der elektronischen Komponente 102 mit Hilfe der Testeinrichtung 310 charakterisiert. Insbesondere wird die elektromagnetische Immunität der elektronischen Komponente 102 mittels einer induktiven Kopplung charakterisiert. Insbesondere wird eine Stromkoppelzange 321 mit Hilfe des Roboterarms 310 in verschiedenen Abständen d zur elektronischen Komponente 102 angeordnet und dort um einen Kabelstrang 322 der elektronischen Komponente 102 gelegt.
Nach Beendigung der induktiv gekoppelten Messung wird in einem dritten Schritt S3' des Verfahrens der Roboterarm 310 aus dem Innenraum 303 der Testkammer 300 mittels der Betätigungsvorrichtung 317 vollautomatisiert herausbewegt. Insbesondere wird dabei die erste Tür 307 vollautomatisiert aus der Öffnung 306 herausbewegt, so dass der an der Tür 307 angebrachte Roboterarm 310 aus dem Innenraum 303 der Testkammer 300 herausbewegt und die Parkposition P3 bewegt wird.
In einem vierten Schritt S4' des Verfahrens wird die zweite Tür 308 aus einer Parkposition P4 außerhalb der Testkammer 300 mittels der Betätigungsvorrichtung 317, 318 vollautomatisiert in die Öffnung 306 bewegt und die Öffnung 306 vollautomatisiert mit der zweiten Tür 308 verschlossen.
Bezüglich des dann folgenden weiteren EMV-Tests (Schritt S5') gelten die vorstehenden Ausführungen zu Schritt S5 entsprechend.
In einer Ausführungsform, in der die EMV-Testkammer sowohl die Öffnung 206 (2) als auch die Öffnung 306 (8) und die entsprechenden Türen 207, 208, 307, 308 aufweist, können die Schritte S1' bis S5' an die Schritte S1 bis S5 angehängt werden. Insbesondere können in diesem Fall die Schritte S1-S5 und S1'-S5' nahtlos und vollautomatisch ausgeführt werden.
In 10 ist eine EMV-Testkammer 400 gemäß einer dritten Ausführungsform gezeigt. Im Folgenden werden vorwiegend Unterschiede zur ersten Ausführungsform beschrieben.
Die EMV-Testkammer 400 weist zusätzlich zu einer Öffnung 406 in einer Seitenwand 401 (identisch zu der Öffnung 206, 2) eine weitere Öffnung 420 in einer der Seitenwände 401 auf. Außerdem weist die EMV-Testkammer 400 zusätzlich zu den Türen 407 und 408 (identisch zu den Türen 207, 208) eine weitere erste Tür 421 und eine weitere zweite Tür 422 auf. An einer Innenseite der Tür 407 ist eine Hornantenne (ähnlich der Hornantenne 210, 3) angebracht. Weiterhin ist an einer Innenseite 423 (10) der weiteren ersten Tür 421 eine log-periodische Antenne 424 angebracht.
Die EMV-Testkammer 400 weist eine Betätigungsvorrichtung 417 auf, welche, wie die Betätigungsvorrichtung 217 (2), Schienen 418 und eine Steuereinheit 419 aufweist. Zusätzlich weist die Betätigungsvorrichtung 417 weitere Schienen 425 auf, welche beispielsweise ein erstes Schienenpaar 426 und ein dazu senkrecht angeordnetes zweites Schienenpaar 427 aufweist.
Mit Hilfe der EMV-Testkammer 400 kann zu einem ersten Zeitpunkt die Öffnung 406 mit der ersten Tür 407 verschlossen sein, und kann die weitere Öffnung 420 mit der weiteren zweiten Tür 422 verschlossen sein. In diesem Zustand kann im Innern 403 der Testkammer 400 eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente 102 mittels der an der ersten Tür 407 angebrachten Testeinrichtung 210 (Hornantenne 210, 3) durchgeführt werden. Da an der weiteren zweiten Tür 422 keine Testeinrichtung, sondern nur Absorptionsmaterial (ähnlich dem Absorptionsmaterial 213, 5) angebracht ist, wird die Messung mit der Hornantenne 210 nicht durch andere in dem Innenraum 403 befindliche Testeinrichtungen gestört.
Dann kann zu einem zweiten Zeitpunkt die Öffnung 406 mit der zweiten Tür 408 verschlossen sein, und kann die weitere Öffnung 420 mit der weiteren ersten Tür 421 verschlossen sein. In diesem Zustand kann im Innern 403 der Testkammer 400 eine EMV-Prüfung der elektronischen Komponente 102 mit der an der weiteren ersten Tür 421 angebrachten log-periodischen Antenne 424 erfolgen. Da an der zweiten Tür 408, die nun die Öffnung 406 verschließt, keine Testeinrichtung, sondern nur Absorptionsmaterial (ähnlich dem Absorptionsmaterial 213, 5) angebracht ist, wird die Messung mit der log-periodischen Antenne 424 nicht durch andere in dem Innenraum 403 befindliche Testeinrichtungen gestört.
Insbesondere wird die elektromagnetische Immunität der elektronischen Komponenten 102 mit Hilfe der Hornantenne 210 in einem ersten Frequenzbereich (z. B. von 1 GHz bis 6 GHz) getestet, und wird die elektromagnetische Immunität der elektronischen Komponenten 102 mit Hilfe der log-periodischen Antenne 424 in einem zweiten Frequenzbereich (z. B. von 150 MHz bis 1 GHz) getestet.
In 11 ist eine EMV-Testkammer 500 gemäß einer vierten Ausführungsform gezeigt. Im Folgenden werden vorwiegend Unterschiede zur ersten Ausführungsform beschrieben.
Die EMV-Testkammer 500 weist zusätzlich zu einer ersten und zweiten Tür 507, 508 (identisch zu der ersten und zweiten Tür 207, 208, 2) eine dritte Tür 520 auf. Eine Öffnung 506 (identisch zu der Öffnung 206, 2) kann wahlweise mit der ersten, der zweiten und der dritten Tür 507, 508, 520 verschlossen werden. Die erste Tür 507 weist an einer Innenseite eine Hornantenne (ähnlich der Hornantenne 210, 3) auf. Die dritte Tür 520 weist an einer Innenseite 521 eine log-periodische Antenne 522 auf (ähnlich wie die Tür 207' in 4).
Die EMV-Testkammer 500 weist außerdem eine Betätigungsvorrichtung 517 mit einem vielfältigen Schienensystem 518 und einer Steuereinheit (in 11 nicht gezeigt) zum vollautomatisierten Bewegen der Türen 507, 508, 520 auf.
Bezugszeichenliste

100: Fahrzeug
101: Windschutzscheibe
102: elektronische Komponente (Frontkamera)
200: EMV-Testkammer
201: Seitenwand
202: Deckenwand
203: Innenraum
204: Eingangstür
205: Tisch
206: Öffnung
207: bewegliches Bauelement (Tür)
207': bewegliches Bauelement (Tür)
208: bewegliches Bauelement (Tür)
209: Innenseite
210: Testeinrichtung
210': Testeinrichtung
211: Halterung
211': Halterung
212: Innenseite
213: Absorptionsmaterial
214: Schirmung
215: Randbereich
216: Federelement
217: Betätigungsvorrichtung
218: Schienen
219: Steuereinheit
220: Absorptionsmaterial
300: EMV-Testkammer
301: Seitenwand
302: Deckenwand
303: Innenraum
306: Öffnung
307: bewegliches Bauelement (Tür)
308: bewegliches Bauelement (Tür)
309: Innenseite
310: Testeinrichtung (Roboterarm)
317: Betätigungsvorrichtung
318: Schienen
319: Hebevorrichtung
320: Steuereinheit
321: Stromkoppelzange
322: Kabelstrang
400: EMV-Testkammer
401: Seitenwand
403: Innenraum
406: Öffnung
407: bewegliches Bauelement (Tür)
408: bewegliches Bauelement (Tür)
417: Betätigungsvorrichtung
418: Schienen
419: Steuereinheit
420: Öffnung
421: bewegliches Bauelement (Tür)
422: bewegliches Bauelement (Tür)
423: Innenseite
424: Testeinrichtung (Antenne)
425: Schienen
426: Schienenpaar
427: Schienenpaar
500: EMV-Testkammer
506: Öffnung
507: bewegliches Bauelement (Tür)
508: bewegliches Bauelement (Tür)
517: Betätigungsvorrichtung
518: Schienensystem
520: bewegliches Bauelement (Tür)
521: Innenseite
522: Testeinrichtung (Antenne)
A: Abstand
B: Breite
H: Höhe
P1-P4: Parkposition
S1-S5: Verfahrensschritte
S1'-S5': Verfahrensschritte
T: Tiefe

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur

CN 110988555 A [0004]

Claims

EMV-Testkammer (200; 300; 400; 500) zum Testen einer elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente (102) für ein Fahrzeug (100), aufweisend eine Öffnung (206; 306; 406; 506), ein erstes und ein zweites bewegliches Bauelement (207, 207', 208; 307, 308; 407, 408; 507, 508, 520), und eine Betätigungseinrichtung (217; 317; 417; 517), welche dazu eingerichtet ist, die Öffnung (206; 306; 406; 506) wahlweise mit Hilfe des ersten (207, 207'; 307; 407; 507) oder des zweiten Bauelements (208; 308; 408; 508, 520) zu verschließen, wobei das erste Bauelement (207, 207'; 307; 407; 507) eine an seiner Innenseite (209, 209'; 309) angebrachte Testeinrichtung (210, 210'; 310) zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente (102) aufweist, wobei die Testeinrichtung (210, 210'; 310) in einem Innenraum (203; 303; 403; 503) der EMV-Testkammer (200; 300; 400; 500) angeordnet ist, wenn das erste Bauelement (207, 207'; 307; 407; 507) die Öffnung (206; 306; 406; 506) verschließt.
EMV-Testkammer nach Anspruch 1, wobei das zweite Bauelement (208; 308; 408; 508, 521) aufweist: an seiner Innenseite (212) vollflächig ein Absorptionsmaterial (213) zur Absorption elektromagnetischer Strahlung, oder eine an seiner Innenseite (521) angebrachte weitere Testeinrichtung (522) zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente (102), wobei die weitere Testeinrichtung (522) in dem Innenraum (203) der EMV-Testkammer (500) angeordnet ist, wenn das zweite Bauelement (520) die Öffnung (506) verschließt.
EMV-Testkammer nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Öffnung (206; 306; 406; 506) eine Türöffnung oder eine Luke ist und/oder wobei das erste und/oder das zweite Bauelement (207, 207', 208; 307, 308; 407, 408; 507, 508, 520) eine Tür oder eine Klappe ist und/oder wobei die EMV-Testkammer (200) eine Seitenwand (201; 401) und eine Deckenwand (302) aufweist, wobei die Öffnung (206; 306; 406; 506) in der Seitenwand (201; 401) oder der Deckenwand (302) angeordnet ist.
EMV-Testkammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, aufweisend ein drittes bewegliches Bauelement (520), das eine an seiner Innenseite (521) angebrachte weitere Testeinrichtung (522) aufweist, wobei die weitere Testeinrichtung (522) in dem Innenraum (203) der Testkammer (500) angeordnet ist, wenn das dritte Bauelement (520) die Öffnung (506) verschließt, wobei die Betätigungseinrichtung (517) dazu eingerichtet ist, die Öffnung (506) wahlweise mit Hilfe des ersten (507), des zweiten (508) oder des dritten Bauelements (520) zu verschließen.
EMV-Testkammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, aufweisend eine weitere Öffnung (420), und ein weiteres erstes (421) und ein weiteres zweites bewegliches Bauelement (422; 520), wobei das weitere erste Bauelement (421) eine an seiner Innenseite (423) angebrachte weitere Testeinrichtung (424) aufweist, wobei die weitere Testeinrichtung (424) in dem Innenraum (403) der Testkammer (400) angeordnet ist, wenn das weitere erste Bauelement (421) die Öffnung (420) verschließt, das weitere zweite Bauelement (422; 520) aufweist: an seiner Innenseite (212) vollflächig ein Absorptionsmaterial (213) zur Absorption elektromagnetischer Strahlung, oder eine an seiner Innenseite (521) angebrachte weitere Testeinrichtung (522) zum Testen der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente (102), wobei die weitere Testeinrichtung (522) in dem Innenraum (403) der EMV-Testkammer (400) angeordnet ist, wenn das weitere zweite Bauelement (520) die Öffnung (420) verschließt, und die Betätigungseinrichtung (417) dazu eingerichtet ist, die weitere Öffnung (420) wahlweise mit Hilfe des weiteren ersten (421) oder weiteren zweiten Bauelements (422; 520) zu verschließen.
EMV-Testkammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Betätigungseinrichtung (217; 317; 417; 517) dazu eingerichtet ist, die Öffnung (206; 306; 406; 506) und/oder die weitere Öffnung (420) automatisiert, insbesondere vollautomatisiert, wahlweise mit Hilfe des ersten oder zweiten Bauelements (207, 207', 208; 307, 308; 407, 408; 507, 508), des ersten, zweiten oder dritten Bauelements (507, 508, 520), und/oder des weiteren ersten oder des weiteren zweiten Bauelements (421, 422) zu verschließen.
EMV-Testkammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Betätigungseinrichtung (217; 317; 417; 517) Schienen (218; 318; 418; 518) aufweist, und das jeweilige Bauelement (207, 207', 208; 307, 308; 407, 408, 421, 422; 507, 508, 520) Rollen zum Fahren in den Schienen (218; 318; 418; 518) aufweist.
EMV-Testkammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Testeinrichtung (210, 210'; 310) oder weitere Testeinrichtung (424; 522) eine Antenne (210, 210'; 424; 522), insbesondere eine Hornantenne (210), eine logarithmisch-periodische Antenne (210'; 424; 522), eine logarithmisch-periodische Dipolantenne (210'; 424; 522) und/oder eine stapelbare logarithmisch-periodische Antenne (210'; 424; 522), und/oder eine Robotikeinrichtung (310) und/oder einen Roboterarm (310) aufweist.
EMV-Testkammer nach Anspruch 8, wobei die Robotikeinrichtung (310) und/oder der Roboterarm (310) dazu eingerichtet ist, die elektronische Komponente (102) zu positionieren, und/oder wobei die Robotikeinrichtung (310) und/oder der Roboterarm (310) dazu eingerichtet ist, eine Induktionseinrichtung (321) an der elektronischen Komponente (102) zur Ausführung einer induktiven Verträglichkeitsprüfung der elektronischen Komponente (102) zu positionieren, und/oder wobei die Antenne (210, 210'; 424; 522), insbesondere die Hornantenne (210), die logarithmisch-periodische Antenne (210'; 424; 522), die logarithmisch-periodische Dipolantenne (210'; 424; 522) und/oder die stapelbare logarithmisch-periodische Antenne (210'; 424; 522), dazu eingerichtet ist, eine strahlungsgekoppelte Verträglichkeitsprüfung der elektronischen Komponente (102) auszuführen.
EMV-Testkammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei eine Breite (B), Tiefe (T) und/oder Höhe (H) der Testkammer 10 Meter oder kleiner, 8 Meter oder kleiner, 6 Meter oder kleiner, 5 Meter oder kleiner und/oder 4 Meter oder kleiner ist.
EMV-Testkammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die elektronische Komponente (102) ein Sensor für das Fahrzeug (100), insbesondere eine Fahrzeugkamera (102), ist.
Verfahren zum Testen einer elektromagnetischen Verträglichkeit einer elektronischen Komponente (102) für ein Fahrzeug (100) in einer EMV-Testkammer (200; 300; 400; 500), welche eine Öffnung (206; 306; 406; 506) und ein erstes und ein zweites bewegliches Bauelement (207, 207', 208; 307, 308; 407, 408; 507, 508, 520) zum Verschließen der Öffnung (206; 306; 406; 506) aufweist, mit den Schritten: a) Verschließen (S1) der Öffnung (206; 306; 406; 506) mit dem ersten Bauelement (207, 207'; 307; 407; 507), b) Prüfen (S2) der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente (102) mit Hilfe einer an dem ersten Bauelement (207, 207'; 307; 407; 507) angebrachten Testeinrichtung (210, 210'; 310), und c) Tauschen (S3, S4) des ersten Bauelements (207, 207'; 307; 407; 507) gegen das zweite Bauelement (208; 308; 408; 508, 520) in der Öffnung (206; 306; 406; 506).
Verfahren nach Anspruch 12, wobei das zweite Bauelement (208; 308; 408; 508, 521) an seiner Innenseite (212; 521) vollflächig ein Absorptionsmaterial (213) zur Absorption elektromagnetischer Strahlung oder eine weitere Testeinrichtung (522) aufweist, wobei das Verfahren weiterhin aufweist: d) Prüfen (S5) der elektromagnetischen Verträglichkeit der elektronischen Komponente (102), wobei elektromagnetische Strahlung in der EMV-Testkammer (200) von dem Absorptionsmaterial (213) absorbiert wird oder wobei das Prüfen (S5) mithilfe der weiteren Testeinrichtung (522) erfolgt.
Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, wobei die Schritte a) bis c) oder die Schritte a) bis d) automatisiert ausgeführt werden.