DE102020200371A1 - Facet mirror for an illumination optics for projection lithography - Google Patents

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Abstract

Ein Facettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie hat eine Vielzahl von Facetten (11), die einer Mehrzahl von Facettengruppen (7) zugeordnet sind. Weiterhin ist eine Mehrzahl von Aktoren (26) vorgesehen, wobei jeweils einer der Aktoren (26) genau einer der Facettengruppen (7) zugeordnet ist. Der jeweilige Aktor (26) hat ein Übertragungsmittel (27), welches mit allen Facetten (11) der zugeordneten Facettengruppe (7) mechanisch verbunden ist. Der Aktor (26) ist derart ausgeführt, dass über das Übertragungsmittel (27) eine Verlagerung aller Facetten (11) der zugeordneten Facettengruppe (7) ansteuerbar ist. Es resultiert ein Facettenspiegel, bei dem ein Aktuierungsaufwand für eine gegebene Facetten-Unterteilung des Facettenspiegels handhabbar ist.A facet mirror for illumination optics for projection lithography has a multiplicity of facets (11) which are assigned to a multiplicity of facet groups (7). A plurality of actuators (26) is also provided, one of the actuators (26) being assigned to exactly one of the facet groups (7). The respective actuator (26) has a transmission means (27) which is mechanically connected to all facets (11) of the assigned facet group (7). The actuator (26) is designed such that a displacement of all facets (11) of the assigned facet group (7) can be controlled via the transmission means (27). The result is a facet mirror in which an actuation effort for a given facet subdivision of the facet mirror can be handled.

Description

Die Erfindung betrifft einen Facettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie. Ferner betrifft die Erfindung die Beleuchtungsoptik mit einem derartigen Facettenspiegel, ein Verfahren zur Positionierung der Facetten eines Facettenspiegels einer derartigen Beleuchtungsoptik, ein optisches System mit einer derartigen Beleuchtungsoptik, eine derartige Beleuchtungsoptik oder ein derartiges optisches System mit einer Lichtquelle, eine Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen optischen System, ein Verfahren zur Herstellung eines mikro- bzw. nanostrukturierten Bauteils bzw. einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage sowie ein so hergestelltes strukturiertes Bauteil.The invention relates to a facet mirror for an illumination optics for projection lithography. The invention also relates to the illumination optics with such a facet mirror, a method for positioning the facets of a facet mirror of such an illumination optics, an optical system with such an illumination optics, such an illumination optics or such an optical system with a light source, a projection exposure system with such an optical system , a method for producing a micro- or nano-structured component or such a projection exposure system and a structured component produced in this way.

Eine Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithographie ist bekannt aus der DE 10 2015 200 531 A1 , US 2011/0001947 A1 sowie aus der US 8,817,233 B2 .Illumination optics for EUV projection lithography are known from DE 10 2015 200 531 A1 , US 2011/0001947 A1 as well as from the US 8,817,233 B2 .

Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Facettenspiegel derart weiterzubilden, dass ein Aktuierungsaufwand für eine gegebene Facetten-Unterteilung des Facettenspiegels handhabbar ist.It is an object of the present invention to develop a facet mirror in such a way that an actuation effort for a given facet subdivision of the facet mirror can be handled.

Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß gelöst durch einen Facettenspiegel mit den im Anspruch 1 angegebenen Merkmalen.According to the invention, this object is achieved by a facet mirror with the features specified in claim 1.

Erfindungsgemäß wurde erkannt, dass eine Zuordnung genau eines Aktors zu allen Facetten einer Facettengruppe die Anzahl der Aktoren, die notwendig ist, um die Facetten eines Facettenspiegels, dessen Facettengruppen in einzelne Facetten unterteilt sind, für die Vorgabe verschiedener Beleuchtungssettings anzusteuern, stark reduziert. Es wurde insbesondere erkannt, dass es ausreichend ist, für die Verlagerung aller Facetten jeweils einer Facettengruppe wohl definierte Relativ-Verlagerungspositionen aller Facetten der jeweiligen Facettengruppe vorzugeben. Eine vollständige Unabhängigkeit der Verlagerung aller Facetten einer jeweiligen Facettengruppe ist hingegen nicht erforderlich, so dass eine Verlagerung aller Facetten der jeweiligen Facettengruppe über mehrere unabhängige, genau einer Facettengruppe zugeordnete Aktoren nicht notwendig ist. Die über das Übertragungsmittel ansteuerbare Verlagerung der Facetten kann eine Verlagerung um mindestens einen der Freiheitsgrade der Translation und/oder eine Verlagerung durch mindestens einen der Freiheitsgrade der Rotation sein. Einem Betriebszustand des Übertragungsmittels kann genau einem Satz vorgegebener Verlagerungspositionen der Facetten der dem Aktor zugeordneten Facettengruppen entsprechen. Ein derartiger Betriebszustand kann beispielsweise ein Krümmungs-Betriebszustand sein, bei dem die Facetten der jeweiligen Facettengruppe so verlagert sind, dass die Facettengruppe insgesamt eine vorgegebene Krümmung einer Reflexionsfläche angenähert aufweist. Hierdurch kann eine Brennweite der Facettengruppe zur Optimierung von Abbildungsbedingungen des Facettenspiegels einstellbar vorgegeben werden. Relativ oder zusätzlich kann es sich bei dem Betriebszustand um einen Kipp-Betriebszustand handeln, bei dem alle Facetten der Facettengruppen zur Vorgabe einer Gesamtverkippung der Facettengruppe verlagert und/oder verkippt sind. Die jeweilige Facettengruppe kann die Funktion einer im Stand der Technik oftmals monolithischen Feldfacette eines Feldfacettenspiegels haben. Derartige Feldfacetten sind beispielsweise bekannt aus der US 8,817,233 B2 .According to the invention, it was recognized that an assignment of exactly one actuator to all facets of a facet group greatly reduces the number of actuators required to control the facets of a facet mirror, the facet groups of which are divided into individual facets, for specifying different lighting settings. In particular, it was recognized that it is sufficient to predefine well-defined relative displacement positions of all facets of the respective facet group for the displacement of all facets of a respective facet group. However, complete independence of the displacement of all facets of a respective facet group is not necessary, so that a displacement of all facets of the respective facet group via a plurality of independent actuators assigned to precisely one facet group is not necessary. The displacement of the facets that can be controlled via the transmission means can be a displacement by at least one of the degrees of freedom of translation and / or a displacement by at least one of the degrees of freedom of rotation. An operating state of the transmission means can correspond to exactly one set of predetermined displacement positions of the facets of the facet groups assigned to the actuator. Such an operating state can be, for example, a curvature operating state in which the facets of the respective facet group are displaced in such a way that the facet group as a whole approximately has a predetermined curvature of a reflection surface. In this way, a focal length of the facet group can be predefined in an adjustable manner for optimizing the imaging conditions of the facet mirror. Relatively or additionally, the operating state can be a tilting operating state in which all facets of the facet groups are displaced and / or tilted in order to specify an overall tilting of the facet group. The respective facet group can have the function of a field facet of a field facet mirror, which is often monolithic in the prior art. Such field facets are known, for example, from US 8,817,233 B2 .

Eine Ausführung des Übertragungsmittels nach den Ansprüchen 2 bzw. 3 hat sich zur Vorgabe bestimmter Betriebszustände als besonders geeignet herausgestellt. Es können alternativ oder zusätzlich Anschläge zur Vorgabe entsprechender Facetten-Verlagerungspositionen vorgesehen sein. Die Getriebeelemente können Hebel, Umlenkelemente sowie Übersetzungselemente aufweisen. Die Federelemente können als Druck- und/oder als Zugfedern ausgebildet sein.An embodiment of the transmission means according to claims 2 or 3 has been found to be particularly suitable for specifying certain operating states. Alternatively or in addition, stops can be provided for specifying corresponding facet displacement positions. The transmission elements can have levers, deflection elements and transmission elements. The spring elements can be designed as compression and / or tension springs.

Eine Steuereinheit nach Anspruch 4 führt zur reproduzierbaren Vorgabe der Übertragungsmittel-Betriebszustände. Es kann sich insbesondere um eine programmbierbare Steuereinheit handeln.A control unit according to claim 4 leads to the reproducible specification of the transmission medium operating states. In particular, it can be a programmable control unit.

Bei einer Steuereinheit nach Anspruch 5 ist ein einfacher Wechsel zwischen verschiedenen Betriebszuständen des Übertragungsmittels möglich.In a control unit according to claim 5, a simple change between different operating states of the transmission means is possible.

Positionsparameter nach Anspruch 6, über die ein Übertragungsmittel-Betriebszustand parametrisierbar ist, können Raumkoordinaten der Translation und /oder Winkelkoordinaten der Rotation sein, zum Beispiel mindestens ein Verlagerungsweg in mindestens einer der drei Raumrichtungen und/oder ein Kippwinkel um mindestens eine der drei möglichen, aufeinander senkrecht stehenden Kippachsen.Position parameters according to claim 6, via which a transmission medium operating state can be parameterized, can be spatial coordinates of the translation and / or angular coordinates of the rotation, for example at least one displacement path in at least one of the three spatial directions and / or a tilt angle by at least one of the three possible, one to another vertical tilting axes.

Positionsparameter aus den Ansprüchen 7 und 8 haben sich als besonders geeignet herausgestellt, um Krümmungen bzw. Verkippungen der Facettengruppen herbeizuführen, die für eine Anwendung des Facettenspiegels zur Vorgabe eines bestimmten Beleuchtungssettings besonders geeignet sind. Dem individuellen Kippwinkel bzw. dem globalen Kippwinkel können unterschiedliche weitere Positionsinformationen der Facetten der jeweiligen Facettengruppe zugeordnet sein, zum Beispiel Translationskoordinaten, insbesondere in einer Richtung senkrecht zu einer Reflexions-Anordnungsebene des Facettenspiegels.Position parameters from claims 7 and 8 have proven to be particularly suitable for causing curvatures or tilting of the facet groups, which are particularly suitable for use of the facet mirror for specifying a specific lighting setting. Different further position information of the facets of the respective facet group can be assigned to the individual tilt angle or the global tilt angle, for example translation coordinates, in particular in a direction perpendicular to a reflection arrangement plane of the facet mirror.

Die Vorteile einer Beleuchtungsoptik nach Anspruch 9 entsprechen denen, die vorstehend in Bezugnahme auf den Facettenspiegel bereits erläutert wurden. Jede der Facettengruppen entspricht dann einer Feldfacette einer aus dem Stand der Technik bekannten Beleuchtungsoptik mit monolithischen Feldfacetten, beispielsweise offenbart in der US 8,817,233 B2 .The advantages of an illumination optics according to claim 9 correspond to those which have already been explained above with reference to the facet mirror. Each of the facet groups then corresponds to a field facet of an illumination optics known from the prior art with monolithic field facets, for example disclosed in US Pat US 8,817,233 B2 .

Ein Positionierungsverfahren nach Anspruch 10 ermöglicht es, für ein bestimmtes Beleuchtungssetting die jeweiligen Betriebszustände des jeweiligen Übertragungsmittels jeder Facettengruppe in Form beispielsweise einer Tabelle abzulegen, so dass bei der Auswahl des vorzugebenden Beleuchtungssettings alle Facettengruppen in die diesen Betriebszuständen jeweils zugeordneten Verlagerungspositionen der zugeordneten Facetten gestellt werden. Hierüber lassen sich insbesondere Beleuchtungssettings mit vorteilhaft kleinen Pupillenfüllgraden realisieren, also mit guter Abbildung von Lichtquellen-Spots in einer Pupillenebene der Beleuchtungsoptik.A positioning method according to claim 10 makes it possible to store the respective operating states of the respective transmission means of each facet group for a specific lighting setting in the form of a table, for example, so that when selecting the lighting setting to be specified, all facet groups are placed in the displacement positions of the assigned facets assigned to these operating states. In particular, illumination settings with advantageously small degrees of pupil filling can be realized in this way, that is to say with good imaging of light source spots in a pupil plane of the illumination optics.

Die Vorteile eines optischen Systems nach Anspruch 11, einer Beleuchtungsoptik oder eines optischen Systems nach Anspruch 12, einer Projektionsbelichtungsanlage nach Anspruch 13, eines Herstellungsverfahrens nach Anspruch 14 sowie eines mikro- bzw. nanostrukturierten Bauteils nach Anspruch 15 entsprechen denen, die vorstehend auf Bezugnahme auf die erfindungsgemäße Beleuchtungsoptik sowie den erfindungsgemäßen Facettenspiegel bereits erläutert wurden.The advantages of an optical system according to claim 11, an illumination optics or an optical system according to claim 12, a projection exposure system according to claim 13, a manufacturing method according to claim 14 and a micro- or nanostructured component according to claim 15 correspond to those mentioned above with reference to Illumination optics according to the invention and the facet mirror according to the invention have already been explained.

Bei der Lichtquelle kann es sich um eine EUV-Lichtquelle handeln.The light source can be an EUV light source.

Hergestellt werden kann mit der Projektionsbelichtungsanlage insbesondere ein Halbleiter-Bauteil, beispielsweise ein Speicherchip oder ein Chip zur Datenverarbeitung.In particular, a semiconductor component, for example a memory chip or a chip for data processing, can be produced with the projection exposure system.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand der Zeichnung näher erläutert. In dieser zeigen:

  • 1 schematisch und in Bezug auf eine Beleuchtungsoptik im Meridionalschnitt eine Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithografie;
  • 2 perspektivisch und etwas weniger schematisch eine Führung von Beleuchtungslicht in der Beleuchtungsoptik nach 1 zwischen einem Zwischenfokus und einem Pupillenfacettenspiegel, wobei Randstrahlen zweier Ausleuchtungskanäle zwischen einem Feldfacettenspiegel und dem Pupillenfacettenspiegel hervorgehoben sind.
  • 3 eine Aufsicht auf eine Facettenanordnung einer weiteren Ausführung eines Feldfacettenspiegels der Beleuchtungsoptik der Projektionsbelichtungsanlage nach 1;
  • 4 zwei Facettengruppen, unterteilt in jeweils fünf Facetten des Facettenspiegels nach 3 mit jeweils einem dieser beiden Facettengruppen zugeordneten Aktor, der über ein Übertragungsmittel zur Verlagerung aller Facetten der jeweils zugeordneten Facettengruppe ansteuerbar ist;
  • 5 eine der Facettengruppen nach 4 mit dem dieser Facettengruppe zugeordneten Aktor in einer Neutralstellung der Facetten der Facettengruppe (Neutral-Betriebszustand);
  • 6 die Baugruppe nach 5 in einem Betriebszustand des Übertragungsmittels des Aktors, der einem Satz vorgegebener Verlagerungspositionen der Facetten der Facettengruppe entspricht und durch den eine vorgegebene Krümmung der gesamten Facettengruppe in der Zeichenebene der 6 erzielt ist (Krümmungs-Betriebszustand);
  • 7 in einer zu den 5 und 6 ähnlichen Darstellung die Baugruppe nach 5 in einem weiteren Betriebszustand des Übertragungsmittels des Aktors, bei der die Facetten der Facettengruppe so verlagert sind, dass zum einen eine Krümmung der Facettengruppe und zum anderen eine Gesamtverkippung der Facettengruppe resultiert (Verkippungs-/Krümmungs-Betriebszustand).
Embodiments of the invention are explained in more detail below with reference to the drawing. In this show:
  • 1 a projection exposure system for microlithography schematically and in relation to an illumination optics in meridional section;
  • 2 in perspective and somewhat less schematically a guidance of illuminating light in the illuminating optics according to 1 between an intermediate focus and a pupil facet mirror, with marginal rays of two illumination channels between a field facet mirror and the pupil facet mirror being emphasized.
  • 3 a plan view of a facet arrangement according to a further embodiment of a field facet mirror of the illumination optics of the projection exposure system 1 ;
  • 4th two facet groups, each subdivided into five facets of the facet mirror 3 each with an actuator assigned to these two facet groups, which can be controlled via a transmission means to move all facets of the respectively assigned facet group;
  • 5 one of the facet groups 4th with the actuator assigned to this facet group in a neutral position of the facets of the facet group (neutral operating state);
  • 6th the assembly according to 5 in an operating state of the transmission means of the actuator which corresponds to a set of predetermined displacement positions of the facets of the facet group and by means of which a predetermined curvature of the entire facet group in the plane of the drawing 6th is achieved (curvature mode);
  • 7th in one to the 5 and 6th similar representation the assembly according to 5 in a further operating state of the transmission means of the actuator, in which the facets of the facet group are displaced such that on the one hand a curvature of the facet group and on the other hand a total tilting of the facet group results (tilting / curvature operating state).

Eine Projektionsbelichtungsanlage 1 für die Mikrolithographie dient zur Herstellung eines mikro- beziehungsweise nanostrukturierten elektronischen HalbleiterBauelements. Eine Lichtquelle 2 emittiert zur Beleuchtung genutzte EUV-Strahlung im Wellenlängenbereich beispielsweise zwischen 5 nm und 30 nm. Bei der Lichtquelle 2 kann es sich um eine GDPP-Quelle (Plasmaerzeugung durch Gasentladung, gas discharge produced plasma) oder um eine LPP-Quelle (Plasmaerzeugung durch Wafer, Wafer produced plasma) handeln. Auch eine Strahlungsquelle, die auf einem Synchrotron basiert, ist für die Lichtquelle 2 einsetzbar. Informationen zu einer derartigen Lichtquelle findet der Fachmann beispielsweise in der US 6,859,515 B2 . Zur Beleuchtung und Abbildung innerhalb der Projektionsbelichtungsanlage 1 wird EUV-Beleuchtungslicht beziehungsweise Beleuchtungsstrahlung 3 genutzt. Das EUV-Beleuchtungslicht 3 durchläuft nach der Lichtquelle 2 zunächst einen Kollektor 4, bei dem es sich beispielsweise um einen genesteten Kollektor mit einem aus dem Stand der Technik bekannten Mehrschalen-Aufbau oder alternativ um einen ellipsoidal geformten Kollektor handeln kann. Ein entsprechender Kollektor ist aus der EP 1 225 481 A2 bekannt. Nach dem Kollektor 4 durchtritt das EUV-Beleuchtungslicht 3 zunächst einen Zwischenfokus IF in einer Zwischenfokusebene 5, was zur Trennung des EUV-Beleuchtungslichts 3 von unerwünschten Strahlungs- oder Partikelanteilen genutzt werden kann. Nach Durchlaufen der Zwischenfokusebene 5 trifft das EUV-Beleuchtungslicht 3 zunächst auf einen Feldfacettenspiegel 6. In der Zwischenfokusebene 5 hat ein Gesamtbündel des Beleuchtungslichts 3 eine numerische Apertur NAIF .A projection exposure machine 1 for microlithography is used to manufacture a micro- or nano-structured electronic semiconductor component. A source of light 2 emits EUV radiation used for lighting in the wavelength range, for example, between 5 nm and 30 nm. At the light source 2 it can be a GDPP source (plasma generation by gas discharge, gas discharge produced plasma) or an LPP source (plasma generation by wafer, wafer produced plasma). A radiation source based on a synchrotron is also for the light source 2 applicable. The person skilled in the art can find information on such a light source in, for example US 6,859,515 B2 . For lighting and imaging within the projection exposure system 1 becomes EUV illuminating light or illuminating radiation 3 utilized. The EUV illumination light 3 passes through after the light source 2 first a collector 4th , which can be, for example, a nested collector with a multi-shell structure known from the prior art or, alternatively, an ellipsoidally shaped collector. A corresponding collector is from the EP 1 225 481 A2 known. After this collector 4th the EUV illuminating light passes through 3 first an intermediate focus IF in an intermediate focus plane 5 what to separate the EUV illumination light 3 can be used by unwanted radiation or particles. After passing through the intermediate focus plane 5 hits the EUV illuminating light 3 first on a field facet mirror 6th . In the intermediate focus plane 5 has a total bundle of illuminating light 3 a numerical aperture NA IF .

Grundsätzlich kann als das Beleuchtungslicht 3 auch Licht einer größeren Wellenlänge zum Einsatz kommen, beispielsweise DUV-Licht mit einer Wellenlänge von 193 nm.Basically it can be used as the illuminating light 3 Light with a longer wavelength can also be used, for example DUV light with a wavelength of 193 nm.

Zur Erleichterung der Beschreibung von Lagebeziehungen ist in der Zeichnung jeweils ein kartesisches globales xyz-Koordinatensystem eingezeichnet. Die x-Achse verläuft in der 1 senkrecht zur Zeichenebene und aus dieser heraus. Die y-Achse verläuft in der 1 nach rechts. Die z-Achse verläuft in der 1 nach oben.To facilitate the description of positional relationships, a Cartesian global xyz coordinate system is shown in the drawing. The x-axis runs in the 1 perpendicular to the plane of the drawing and out of it. The y-axis runs in the 1 to the right. The z-axis runs in the 1 up.

Zur Erleichterung der Beschreibung von Lagebeziehungen bei einzelnen optischen Komponenten der Projektionsbelichtungsanlage 1 wird in den nachfolgenden Figuren jeweils auch ein kartesisches lokales xyz- oder xy-Koordinatensystem verwendet. Die jeweiligen lokalen xy-Koordinaten spannen, soweit nichts anderes beschrieben ist, eine jeweilige Hauptanordnungsebene der optischen Komponente, beispielsweise eine Reflexionsebene, auf. Die x-Achsen des globalen xyz-Koordinatensystems und der lokalen xyz- oder xy-Koordinatensysteme verlaufen parallel zueinander. Die jeweiligen y-Achsen der lokalen xyz- oder xy-Koordinatensysteme haben einen Winkel zur y-Achse des globalen xyz-Koordinatensystems, die einem Kippwinkel der jeweiligen optischen Komponente um die x-Achse entspricht.To facilitate the description of positional relationships in individual optical components of the projection exposure system 1 a Cartesian local xyz or xy coordinate system is also used in each of the following figures. Unless otherwise described, the respective local xy coordinates span a respective main arrangement plane of the optical component, for example a reflection plane. The x-axes of the global xyz coordinate system and the local xyz or xy coordinate systems run parallel to one another. The respective y-axes of the local xyz or xy coordinate systems have an angle to the y-axis of the global xyz coordinate system, which corresponds to a tilt angle of the respective optical component about the x-axis.

2 zeigt eine Führung des Beleuchtungslichts 3 zwischen dem Zwischenfokus IF über reflektierende Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6 hin zu Pupillenfacetten 8 eines im Strahlengang des Beleuchtungslicht 3 nachgeordneten Pupillenfacettenspiegel 9. Ausleuchtungskanäle 10 dieser Strahlführung sind durch jeweils eine der Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6 und durch jeweils eine Pupillenfacette 8 des Pupillenfacettenspiegels 9 vorgegeben. In der 2 sind beispielhaft zwei dieser Ausleuchtungskanäle 10 hervorgehoben. 2 shows a guide of the illumination light 3 between the intermediate focus IF via reflective facet groups 7th of the field facet mirror 6th towards pupil facets 8th one in the beam path of the illuminating light 3 downstream pupil facet mirror 9 . Lighting channels 10 this beam guidance are each through one of the facet groups 7th of the field facet mirror 6th and through one pupil facet each 8th of the pupil facet mirror 9 given. In the 2 are two examples of these illumination channels 10 highlighted.

Bei dem Feldfacettenspiegel 6 handelt es sich um einen Facettengruppen-Facettenspiegel.At the field facet mirror 6th it is a facet group facet mirror.

Bei dem Pupillenfacettenspiegel 9 handelt es sich um einen weiteren Facettenspiegel.At the pupil facet mirror 9 it is a further facet mirror.

3 zeigt beispielhaft eine Facettenanordnung von Facetten bzw. Einzelspiegeln 11 des Feldfacettenspiegels 6. Jeweils fünf in der x-Dimension nebeneinander liegende der Facetten 11 sind genau einer der Facettengruppen 7 zugeordnet. Dies ist in der 3 lediglich bei einer der Facettengruppen angedeutet, nämlich der rechts oben angeordneten Facettengruppe 7. Tatsächlich sind alle Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6 in gleicher Weise in der x-Dimension in fünf Facetten 11 unterteilt. Es liegt also im Vergleich zur Anzahl der Facettengruppen 7 die fünffache Anzahl an Facetten 11 vor. Bei alternativen Ausführungen des Feldfacettenspiegels 6 können pro Facettengruppe 7 auch weniger Facetten, beispielsweise 2, 3 oder 4 Facetten 11 oder es können pro Facettengruppe 7 auch mehr Facetten 11, beispielsweise 6, 7, 8, 10, 12, 15, 20, 25 oder noch mehr Facetten 11 vorhanden sein. Auch eine y-Unterteilung der jeweiligen Facettengruppe 7 in Facetten 11 ist möglich, was in der 3 für die Facettengruppe 7 rechts unten angedeutet ist, die in zwei Facetten 11 längs einer gestrichelten Begrenzungslinie unterteilt ist. Auch eine Kombination entsprechend der Unterteilungen einerseits in der x- und andererseits in der y-Dimension pro Facettengruppe 7 ist möglich. Bei den Facetten 11 kann es sich um ebene Spiegel handeln. Alternativ ist es möglich, dass die Facetten 11 konkav oder auch konvex gekrümmt ausgeführt sind. 3 shows an example of a facet arrangement of facets or individual mirrors 11 of the field facet mirror 6th . Five of the facets lying next to each other in the x-dimension 11 are exactly one of the facet groups 7th assigned. This is in the 3 indicated only for one of the facet groups, namely the facet group arranged at the top right 7th . In fact, all are facet groups 7th of the field facet mirror 6th in the same way in the x-dimension in five facets 11 divided. So it is compared to the number of facet groups 7th five times the number of facets 11 in front. With alternative versions of the field facet mirror 6th can per facet group 7th also fewer facets, for example 2, 3 or 4 facets 11 or it can be per facet group 7th also more facets 11 , for example 6, 7, 8, 10, 12, 15, 20, 25 or even more facets 11 to be available. Also a y-subdivision of the respective facet group 7th in facets 11 is possible what is in the 3 for the facet group 7th is indicated at the bottom right, in two facets 11 is divided along a dashed boundary line. Also a combination according to the subdivisions on the one hand in the x and on the other hand in the y dimension per facet group 7th is possible. With the facets 11 it can be a flat mirror. Alternatively it is possible that the facets 11 are executed concave or convexly curved.

Die Facettengruppen 7 sind rechteckig und haben jeweils das gleiche x/y-Aspektverhältnis. Das x/y-Aspektverhältnis kann beispielsweise 12/5, kann 25/4 oder kann 104/8 betragen.The facet groups 7th are rectangular and each have the same x / y aspect ratio. The x / y aspect ratio can, for example, be 12/5, can be 25/4 or can be 104/8.

Die Facettengruppen 7 geben eine Reflexionsfläche des Feldfacettenspiegels 6 vor und sind in vier Spalten angeordnet. Zwischen den beiden mittleren Facettenspalten und auf halber Höhe der Facettenanordnung in der y-Dimension weist die Facettengruppenanordnung des Feldfacettenspiegels 6 Zwischenräume 12 auf, in denen der Feldfacettenspiegel 6 durch Haltespeichen des Kollektors 4 abgeschattet sein kann.The facet groups 7th give a reflective surface of the field facet mirror 6th in front and are arranged in four columns. The facet group arrangement of the field facet mirror points between the two middle facet columns and halfway up the facet arrangement in the y dimension 6th Gaps 12th in which the field facet mirror 6th by holding spokes of the collector 4th can be shadowed.

Die Facetten 11 stellen Einzelspiegel dar, aus denen jeweils eine der Facettengruppen 7 durch eine Mehrzahl derartiger Einzelspiegel aufgebaut ist.The facets 11 represent individual mirrors from which one of the facet groups 7th is constructed by a plurality of such individual mirrors.

Nach Reflexion am Feldfacettenspiegel 6 trifft das in Strahlbüschel beziehungsweise Teilbündel, die den einzelnen Ausleuchtungskanälen 10 zugeordnet sind, aufgeteilte EUV-Beleuchtungslicht 3 auf einen Pupillenfacettenspiegel 9. Die Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6 sind zwischen mehreren Ausleuchtungs-Kippstellungen kippbar, sodass hierdurch ein Strahlengang des von der jeweiligen Facettengruppe 7 reflektierten Beleuchtungslichts 3 in seiner Richtung verändert und damit der Auftreffpunkt des reflektierten Beleuchtungslichts 3 auf dem Pupillenfacettenspiegel 9 verändert werden kann.After reflection on the field facet mirror 6th this is achieved in bundles of rays or partial bundles that form the individual illumination channels 10 are assigned, split EUV illumination light 3 on a pupil facet mirror 9 . The facet groups 7th of the field facet mirror 6th can be tilted between several illumination tilt positions, so that a beam path of the respective facet group 7th reflected illumination light 3 changed in its direction and thus the Point of impact of the reflected illuminating light 3 on the pupil facet mirror 9 can be changed.

Die Pupillenfacetten 8 des Pupillenfacettenspiegels 9 können zeilen- und spaltenweise oder auch hexagonal oder auch in anderer Weise nebeneinander liegend angeordnet sein. Jedem von einer der Facettengruppen 7 reflektierten Teilbündel des EUV-Beleuchtungslicht 3, also jedem Ausleuchtungskanal 10, ist mindestens eine der Pupillenfacetten 8 zugeordnet, so dass jeweils ein beaufschlagtes Paar mit einer der Facettengruppen 7 und einer der Pupillenfacetten 8 den Ausleuchtungskanal 10 für das zugehörige Teilbündel des EUV-Beleuchtungslichts 3 vorgibt. Die kanalweise Zuordnung der Pupillenfacetten 8 zu den Facettengruppen 7 erfolgt abhängig von einer gewünschten Beleuchtung durch die Projektionsbelichtungsanlage 1, die auch als Beleuchtungssetting bezeichnet ist.The pupil facets 8th of the pupil facet mirror 9 can be arranged side by side in rows and columns, or hexagonally or in some other way. Each from one of the facet groups 7th reflected partial bundle of the EUV illuminating light 3 , i.e. every illumination channel 10 , is at least one of the pupil facets 8th assigned, so that in each case an acted upon pair with one of the facet groups 7th and one of the pupil facets 8th the illumination channel 10 for the associated partial bundle of the EUV illuminating light 3 pretends. The channel-wise assignment of the pupil facets 8th to the facet groups 7th takes place as a function of a desired illumination by the projection exposure system 1 , which is also known as a lighting setting.

Der Feldfacettenspiegel 6 hat mehrere hundert der Facettengruppen 7, beispielsweise 300 Facettengruppen 7. Der Pupillenfacettenspiegel 9 kann eine Anzahl der Pupillenfacetten haben, die mindestens genauso groß ist wie die Summe der Kippstellungen aller Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6.The field facet mirror 6th has several hundred of the facet groups 7th , for example 300 facet groups 7th . The pupil facet mirror 9 can have a number of pupil facets which is at least as large as the sum of the tilt positions of all facet groups 7th of the field facet mirror 6th .

Bei einer nicht dargestellten Variante ist der Pupillenfacettenspiegel 9 als MEMS-Spiegelarray mit einer Vielzahl verkippbarer Einzelspiegel aufgebaut, wobei jede der Pupillenfacetten 8 durch eine Mehrzahl derartiger Einzelspiegel gebildet wird. Ein solcher Aufbau des Pupillenfacettenspiegels 9 ist bekannt aus US 2011/0001947 A1 .In a variant not shown, the pupil facet mirror is 9 constructed as a MEMS mirror array with a large number of tiltable individual mirrors, with each of the pupil facets 8th is formed by a plurality of such individual mirrors. Such a structure of the pupil facet mirror 9 is known from US 2011/0001947 A1 .

Über den Pupillenfacettenspiegel 9 (vgl. 1) und eine nachfolgende, aus drei EUV-Spiegeln 14, 15, 16 bestehenden Übertragungsoptik 17 werden die Facettengruppen 7 einander überlagernd in eine Objektebene 18 der Projektionsbelichtungsanlage 1 abgebildet. Der EUV-Spiegel 16 ist als Spiegel für streifenden Einfall (Grazing-Incidence-Spiegel) ausgeführt. In der Objektebene 18 ist ein Objekt in Form eines Retikel 19 angeordnet, von dem mit dem EUV-Beleuchtungslicht 3 ein Ausleuchtungsbereich in Form eines Beleuchtungsfeldes ausgeleuchtet wird, das mit einem Objektfeld 20 einer nachgelagerten Projektionsoptik 21 der Projektionsbelichtungsanlage 1 zusammenfällt. Die Objektfeld-Ausleuchtungskanäle werden im Objektfeld 20 überlagert. Das EUV-Beleuchtungslicht 3 wird vom Retikel 19 reflektiert.Via the pupil facet mirror 9 (see. 1 ) and a subsequent one from three EUV mirrors 14th , 15th , 16 existing transmission optics 17th become the facet groups 7th superimposed on one another in an object plane 18th the projection exposure system 1 pictured. The EUV mirror 16 is designed as a mirror for grazing incidence (grazing incident mirror). In the object level 18th is an object in the form of a reticle 19th arranged, of which with the EUV illumination light 3 an illumination area is illuminated in the form of an illumination field, which is illuminated with an object field 20th a downstream projection optics 21st the projection exposure system 1 coincides. The object field illumination channels are in the object field 20th superimposed. The EUV illumination light 3 is from the reticle 19th reflected.

Die Facettengruppen 7 können eine jeweils rechteckige Außenkontur haben, wie in der 3 dargestellt ist, oder auch eine gekrümmte, bogenförmige Außenkontur, die angepasst sein kann an eine entsprechende Krümmung einer Außenkontur des Objektfeldes 20.The facet groups 7th can each have a rectangular outer contour, as in the 3 is shown, or a curved, arched outer contour which can be adapted to a corresponding curvature of an outer contour of the object field 20th .

Ein Gesamtbündel des Beleuchtungslichts 3 am Objektfeld 20 hat eine objektseitige numerische Apertur NA, die beispielsweise im Bereich zwischen 0,04 und 0,15 liegen kann.A total bundle of illuminating light 3 at the object field 20th has an object-side numerical aperture NA, which can for example be in the range between 0.04 and 0.15.

Die Projektionsoptik 21 bildet das Objektfeld 20 in der Objektebene 18 in ein Bildfeld 22 in einer Bildebene 23 ab. In dieser Bildebene 23 ist ein Wafer 24 angeordnet, der eine lichtempfindliche Schicht trägt, die während der Projektionsbelichtung mit der Projektionsbelichtungsanlage 1 belichtet wird. Bei der Projektionsbelichtung werden sowohl das Retikel 19 als auch der Wafer 24, die von jeweiligen Haltern getragen werden, in y-Richtung synchronisiert gescannt. Die Projektionsbelichtungsanlage 1 ist als Scanner ausgeführt. Die Scanrichtung y wird nachfolgend auch als Objektverlagerungsrichtung bezeichnet.The projection optics 21st forms the object field 20th in the object level 18th in an image field 22nd in one image plane 23 from. In this picture plane 23 is a wafer 24 arranged, which carries a photosensitive layer, which during the projection exposure with the projection exposure system 1 is exposed. During the projection exposure, both the reticle 19th as well as the wafer 24 that are carried by the respective holders are scanned in a synchronized manner in the y-direction. The projection exposure system 1 is designed as a scanner. The scanning direction y is also referred to below as the object displacement direction.

Der Feldfacettenspiegel 6, der Pupillenfacettenspiegel 9 und die Spiegel 14 bis 16 der Übertragungsoptik 17 sind Bestandteile einer Beleuchtungsoptik 25 der Projektionsbelichtungsanlage 1. Bei einer Variante der Beleuchtungsoptik 25, die in der 1 nicht dargestellt ist, kann die Übertragungsoptik 17 auch zum Teil oder ganz entfallen, so dass zwischen dem Pupillenfacettenspiegel 9 und dem Objektfeld 20 kein weiterer EUV-Spiegel, genau ein weiterer EUV-Spiegel oder auch genau zwei weitere EUV-Spiegel angeordnet sein können. Der Pupillenfacettenspiegel 9 kann in einer Eintrittspupillenebene der Projektionsoptik 21 angeordnet sein.The field facet mirror 6th , the pupil facet mirror 9 and the mirrors 14th to 16 the transmission optics 17th are components of a lighting optics 25th the projection exposure system 1 . With a variant of the lighting optics 25th that are in the 1 is not shown, the transmission optics 17th also partially or completely omitted, so that between the pupil facet mirror 9 and the object field 20th no further EUV mirror, exactly one further EUV mirror or exactly two further EUV mirrors can be arranged. The pupil facet mirror 9 can be in an entrance pupil plane of the projection optics 21st be arranged.

Gemeinsam mit der Projektionsoptik 21 bildet die Beleuchtungsoptik 25 ein optisches System der Projektionsbelichtungsanlage 1.Together with the projection optics 21st forms the lighting optics 25th an optical system of the projection exposure system 1 .

4 zeigt zwei nebeneinander liegende Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6 mit jeweils fünf Facetten bzw. Einzelspiegeln 11. X-Abstände zwischen Benachbarten dieser Facetten 11 sind in der 4 übertrieben groß dargestellt. 4th shows two facet groups lying next to each other 7th of the field facet mirror 6th each with five facets or individual mirrors 11 . X-distances between neighbors of these facets 11 are in the 4th shown exaggerated.

Jeweils ein Aktor 26, der in der z-Richtung hinter einer Anordnungsebene der Reflektionsflächen der Facettengruppen 7 angeordnet ist, ist genau einer der Facettengruppen 7 zugeordnet. Beim Aktor 26 kann es sich um einen piezoelektrischen Aktor handeln.One actuator each 26th , the one in the z-direction behind a plane of arrangement of the reflection surfaces of the facet groups 7th is arranged, is exactly one of the facet groups 7th assigned. At the actuator 26th it can be a piezoelectric actuator.

Jeder der Aktoren 26 hat ein Übertragungsmittel 27, das mit den Facetten 11 der zugeordneten Facettengruppe 7 mechanisch verbunden ist, was in den 4 ff. durch Pfeile angedeutet ist. Der jeweilige Aktor 26 ist so ausgeführt, dass über das Übertragungsmittel 27 eine Verlagerung aller Facetten 11 der zugeordneten Facettengruppe 7 ansteuerbar ist. Bei dieser Verlagerung kann es sich um eine Verlagerung um mindestens einen der Freiheitsgrade der Translation und/oder der Rotation handeln. Bei dem Übertragungsmittel 27 kann es sich um ein reines mechanisches Kopplungselement handeln. Mit genau einem angetriebenem Element, nämlich dem jeweiligen Aktor 26, lassen sich über das Übertragungsmittel 27 dann die verschiedenen Verlagerungspositionen der einzelnen Facetten 11 abhängig vom Betriebszustand des Übertragungsmittels 27 vorgeben.Each of the actuators 26th has a means of transmission 27 , that with the facets 11 the assigned facet group 7th mechanically connected is what is in the 4th ff. is indicated by arrows. The respective actuator 26th is designed so that via the transmission medium 27 a shift in all facets 11 the assigned facet group 7th is controllable. This displacement can be a displacement of at least one of the degrees of freedom of translation and / or rotation. In which Means of transmission 27 it can be a purely mechanical coupling element. With exactly one driven element, namely the respective actuator 26th , can be accessed via the transmission medium 27 then the various relocation positions of the individual facets 11 depending on the operating status of the transmission medium 27 pretend.

Einem Betriebszustand des Übertragungsmittels 27 des jeweiligen Aktors 26 entspricht genau ein Satz vorgegebener Verlagerungspositionen der Facetten 11 der dem Aktor 26 zugeordneten Facettengruppe 7.An operating state of the transmission medium 27 of the respective actuator 26th corresponds exactly to a set of predetermined displacement positions of the facets 11 of the actuator 26th assigned facet group 7th .

Das Übertragungsmittel 27 kann als mechanisches Übertragungsmittel mit Getriebeelementen 29 ausgeführt sein, die in der Zeichnung nicht im Einzelnen dargestellt sind und jeweils den Facetten 11 der zugeordneten Facettengruppe 7 entsprechend den angedeuteten mechanischen Verbindungen 28 zugeordnet sind. Alternativ oder zusätzlich kann die mechanische Verbindung 28 des Übertragungsmittels 27 mit den Facetten 11 Federelemente 30 aufweisen, die in der Zeichnung ebenfalls lediglich schematisch für eine der mechanischen Verbindungen 28 angedeutet sind und wiederum jeweils den Facetten 11 der zugeordneten Facettengruppe 7 zugeordnet sind.The means of transmission 27 can be used as a mechanical transmission medium with gear elements 29 be executed, which are not shown in detail in the drawing and each of the facets 11 the assigned facet group 7th according to the mechanical connections indicated 28 assigned. Alternatively or additionally, the mechanical connection 28 of the transmission medium 27 with the facets 11 Spring elements 30th have, which are also only schematically shown in the drawing for one of the mechanical connections 28 are indicated and in turn each of the facets 11 the assigned facet group 7th assigned.

Mit den Aktoren 26 steht eine Steuereinheit 31 der Projektionsbelichtungsanlage 1 in nicht näher dargestellter Weise in Signalverbindung. Über die Steuereinheit 31 können mehrere Betriebszustände des Übertragungsmittels 27 des jeweiligen Aktors 26 angesteuert werden, die sich in den Verlagerungspositionen der Facetten 11 der dem Aktor 26 zugeordneten Facettengruppe 7 unterscheiden.With the actuators 26th there is a control unit 31 the projection exposure system 1 in a manner not shown in signal connection. Via the control unit 31 can have several operating states of the transmission medium 27 of the respective actuator 26th are controlled, which are in the shifting positions of the facets 11 of the actuator 26th assigned facet group 7th distinguish.

5 bis 7 zeigen beispielhaft drei solche Betriebszustände des Übertragungsmittels 27. 5 to 7th show by way of example three such operating states of the transmission medium 27 .

5 zeigt einen Neutral-Betriebszustand des Übertragungsmittels 27, bei dem der Aktor 26 über die Steuereinheit 31 so angesteuert ist, dass die jeweiligen Verlagerungspositionen der Facetten 11 eine insgesamt ebene Facettengruppe 7 ergeben. Alle Facetten 11 haben in diesem Neutral-Betriebszustand die gleiche z-Position und sind zum Beispiel im Vergleich zu einer Neutralebene, parallel zur x-y-Ebene der 5 liegt, nicht verkippt. Auch eine andere Neutral-Kippstellung kann im Neutral-Betriebszustand vorliegen. 5 shows a neutral operating state of the transmission means 27 where the actuator 26th via the control unit 31 is controlled so that the respective shift positions of the facets 11 an overall flat group of facets 7th surrender. All facets 11 have the same z position in this neutral operating state and are, for example, in comparison to a neutral plane, parallel to the xy plane of the 5 lies, not tilted. Another neutral tilt position can also be present in the neutral operating state.

6 zeigt die Baugruppe nach 5 in einem Krümmungs-Betriebszustand des Übertragungsmittels 27 des Aktors 26. Die fünf Facetten 111 , 112 , 113 , 114 und 115 der zugehörigen Facettengruppe 7 sind jeweils um verschiedene Winkel φi um eine zur y-Achse parallele Kippachse verkippt. Für diese Winkel φi gilt folgende Beziehung: φ 1 = n 1 α

Figure DE102020200371A1_0001
φ 2 = n 2 α
Figure DE102020200371A1_0002
φ 3 = n 3 α
Figure DE102020200371A1_0003
φ 4 = n 4 α
Figure DE102020200371A1_0004
φ 5 = n 5 α
Figure DE102020200371A1_0005
6th shows the assembly 5 in a curvature operating state of the transmission means 27 of the actuator 26th . The five facets 11 1 , 11 2 , 11 3 , 11 4 and 11 5 the associated facet group 7th are each at different angles φ i tilted about a tilt axis parallel to the y-axis. For this angle φ i the following relationship applies: φ 1 = n 1 α
Figure DE102020200371A1_0001
φ 2 = n 2 α
Figure DE102020200371A1_0002
φ 3 = n 3 α
Figure DE102020200371A1_0003
φ 4th = n 4th α
Figure DE102020200371A1_0004
φ 5 = n 5 α
Figure DE102020200371A1_0005

Hierbei ist φi (i = 1 bis 5) der Kippwinkel der jeweiligen Facette 11i (i = 1 bis 5). ni ist ein Kippfaktor, der über das jeweilige Übertragungsmittel 27 vorgegeben wird. α ist ein Grund-Kippwinkel, der über den Aktor 26 vorgegeben wird.Here is φ i (i = 1 to 5) the tilt angle of the respective facet 11 i (i = 1 to 5). n i is a tilt factor that is determined by the respective transmission medium 27 is specified. α is a basic tilt angle that is controlled by the actuator 26th is specified.

Beim Krümmungs-Betriebszustand des Übertragungsmittels 27 nach 6 gilt φ1 = φ5 und φ2 = φ4 sowie φ3 = 0. Es gilt also n4 = -n2, n5 = -n1 und n3 = 0.In the curvature operating state of the transmission means 27 after 6th φ 1 = φ 5 and φ 2 = φ 4 as well as φ 3 = 0. So n 4 = -n 2 , n 5 = -n 1 and n 3 = 0 applies.

7 zeigt einen Verkippungs-/ Krümmungs-Betriebszustand des Übertragungsmittels 27. Zusätzlich zu den Kippwinkeln φi , die, nun ausgehend von einer Grund-Kippebene 32, den Kippwinkeln φi des Krümmungs-Betriebszustandes nach 6 entsprechen, liegt beim Verkippungs-/Krümmungs-Betriebszustand nach 7 eine Grundverkippung δ der Grund-Kippebene 32 zur x-y-Ebene, wiederum um eine Kippachse parallel zur y-Achse vor. 7th Fig. 13 shows a tilt / curvature operating state of the transmission means 27 . In addition to the tilt angles φ i , which, now starting from a basic tilting plane 32 , the tilt angles φ i the curvature operating state according to 6th correspond, lies behind in the tilt / curvature operating state 7th a basic tilt δ of the basic tilt plane 32 to the xy plane, again around a tilt axis parallel to the y axis.

Jeweils einer der Betriebszustände nach den 5 bis 7 ist also über jeweils mindestens einen der jeweiligen Facette 11 zugeordneten Positionsparameter parametrisierbar. Bei den Positionsparametern, die über das Übertragungsmittel 27 je nach Betriebszustand vorgegeben werden, handelt es sich um die Raumkoordinaten xo, yo, zo der Translation und/oder um die Winkelkoordinaten α (=ε), β (=φ), γ der Rotation bzw. Verkippung um die jeweilige Koordinatenachse x, y, z. Bei dem Positionsparameter kann es sich also beispielsweise um mindestens einen Kippwinkel handeln und/oder um eine z-Verlagerungskoordinate z0.In each case one of the operating states according to the 5 to 7th is therefore about at least one of the facets 11 assigned position parameters can be parameterized. In the case of the position parameters that are transmitted via the transmission medium 27 are specified depending on the operating state, it is the spatial coordinates xo, yo, zo of the translation and / or the angle coordinates α (= ε), β (= φ), γ of the rotation or tilting around the respective coordinate axis x, y , e.g. The position parameter can thus be, for example, at least one tilt angle and / or a z displacement coordinate z 0 .

Die z-Koordinaten sind beim Krümmungs-Betriebszustand nach 6 so an die Kippwinkel φi angepasst, dass sich insgesamt eine konkave Krümmung der Facettengruppe 7 mit vorgegebenem Krümmungsradius ergibt. Über die Größe der jeweiligen Kippwinkel φi und die hieran angepassten z-Koordinaten der Facetten 11i kann die Größe dieses Gesamt-Krümmungsradius der Facettengruppe 7 angepasst werden. Insgesamt kann also je nach Krümmungs-Betriebszustand des Übertragungsmittels 27 eine Gesamtkrümmung der Facettengruppe 7 und somit eine Brennweite der Facettengruppe 7 eingestellt vorgegeben werden. Dies kann zur Optimierung einer Abbildung des Zwischenfokus IF auf die jeweilige Pupillenfacette 8 des Pupillenfacettenspiegels 9 genutzt werden.The z-coordinates are according to the curvature operating state 6th so to the tilt angle φ i adapted so that there is a concave curvature of the facet group 7th with a given radius of curvature. About the size of the respective tilt angle φ i and the z coordinates of the facets 11 i adapted to this can be the size of this total radius of curvature of the facet group 7th be adjusted. Overall, depending on the operating state of curvature of the transmission means 27 an overall curvature of the facet group 7th and thus a focal length of the facet group 7th set. This can be used to optimize an image of the intermediate focus IF on the respective pupil facet 8th of the pupil facet mirror 9 be used.

Über die gleichzeitig mittels des Kippwinkels δ sowie einen weiteren Kippwinkel ε (Kippung um eine Achse parallel zur x-Achse) kann die Verkippung der gesamten Facettengruppe 7 über den jeweiligen Betriebszustand des Übertragungsmittels 27 vorgegeben werden, so dass eine Facettengruppen-Verkippung entsprechend einer Facettenverkippung resultiert, die zur Vorgabe einer jeweiligen Pupillenfacette 8 einer Mehrzahl von möglichen vorgehbaren Pupillenfacetten 8 zur Einstellung eines Beleuchtungssettings aus einer Mehrzahl möglicher Beleuchtungssettings genutzt werden kann. Entsprechende, zwischen verschiedenen Ausleuchtungs-Kippstellungen verlagerbare Feldfacetten sind bekannt aus der US 8,817,233 B2 , der US 6,658,084 B2 und der US 7,196,841 B2 . Hierüber ist die Vorgabe eines Beleuchtungssettings, also einer Verteilung von Beleuchtungswinkeln zur Ausleuchtung des Objektfeldes, möglich. Beispiele für Beleuchtungssettings sind u.a. bekannt aus der DE 10 2008 021 833 A1 .The tilting of the entire group of facets can be performed simultaneously by means of the tilt angle δ and a further tilt angle ε (tilt about an axis parallel to the x-axis) 7th about the respective operating status of the transmission medium 27 can be specified, so that a facet group tilting corresponding to a facet tilting results, which is used to specify a respective pupil facet 8th a plurality of possible maneuverable pupil facets 8th can be used to set an illumination setting from a plurality of possible illumination settings. Corresponding field facets that can be displaced between different illumination tilt positions are known from US Pat US 8,817,233 B2 , the US 6,658,084 B2 and the US 7,196,841 B2 . This allows the specification of an illumination setting, that is to say a distribution of illumination angles for illuminating the object field. Examples of lighting settings are known from, among others DE 10 2008 021 833 A1 .

Zur Positionierung der Facetten 11 des Feldfacettenspiegels 6 der Beleuchtungsoptik 25 wird folgendermaßen vorgegangen:

  • Zunächst wird der Feldfacettenspiegel 6 mit den Facettengruppen 7 und der Pupillenfacettenspiegel 9 mit den Pupillenfacetten 8 bereitgestellt. Anschließend wird ein Beleuchtungssetting, beispielsweise ein konventionelles Beleuchtungssetting mit Ausleuchtung aller Pupillenfacetten 8 eines zentralen Bereiches des Pupillenfacettenspiegels 9, ein annulares Beleuchtungssetting mit Beleuchtung einer ringförmigen Pupillenfacetten-Anordnung auf dem Pupillenfacettenspiegel 9 oder ein Dipol-, Quadrupol- oder sonstiges Multipol-Setting, wobei eine entsprechende Anzahl von Bereichen von Pupillenfacetten 8 auf dem Pupillenfacettenspiegel 9 beleuchtet werden. Weiterhin wird mit diesem Beleuchtungssetting die verknüpfte Zuordnung der Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6 und der Pupillenfacetten 8 des Pupillenfacettenspiegels 9 zu den Ausleuchtungskanälen 10 entsprechend dem Beleuchtungssetting vorgegeben. Anschließend werden die Übertragungsmittel 27 der Aktoren 26 des Feldfacettenspiegels 6 zur Vorgabe von Verlagerungspositionen aller Facetten 11 der den Aktoren jeweils zugeordneten Facettengruppen 7 des Feldfacettenspiegels 6 über die Steuereinheit 31 angesteuert.
For positioning the facets 11 of the field facet mirror 6th the lighting optics 25th proceed as follows:
  • First is the field facet mirror 6th with the facet groups 7th and the pupil facet mirror 9 with the pupil facets 8th provided. This is followed by an illumination setting, for example a conventional illumination setting with illumination of all pupil facets 8th of a central area of the pupil facet mirror 9 , an annular illumination setting with illumination of an annular pupil facet arrangement on the pupil facet mirror 9 or a dipole, quadrupole or other multipole setting, with a corresponding number of areas of pupil facets 8th on the pupil facet mirror 9 be illuminated. Furthermore, the linked assignment of the facet groups is made with this lighting setting 7th of the field facet mirror 6th and the pupillary facets 8th of the pupil facet mirror 9 to the illumination channels 10 specified according to the lighting setting. Then the transmission means 27 of the actuators 26th of the field facet mirror 6th for specifying relocation positions of all facets 11 of the facet groups assigned to the actuators 7th of the field facet mirror 6th via the control unit 31 controlled.

Die Steuereinheiten steuern dabei jeweils nur den jeweiligen Betriebszustand an. Das Übertragungsmittel 27 setzt dann abhängig von dem angesteuerten Betriebszustand die Verlagerung der jeweiligen Facetten 11 der zugehörigen Facettengruppe 7 um.The control units only control the respective operating state. The means of transmission 27 then sets the shift of the respective facets depending on the activated operating state 11 the associated facet group 7th around.

Zur Herstellung eines mikro- oder nanostrukturierten Bauteils wird die Projektionsbelichtungsanlage 1 folgendermaßen eingesetzt: Zunächst werden die Reflexionsmaske 19 bzw. das Retikel und das Substrat bzw. der Wafer 24 bereitgestellt. Anschließend wird eine Struktur auf dem Retikel 19 auf eine lichtempfindliche Schicht des Wafers 24 mithilfe der Projektionsbelichtungsanlage 1 projiziert. Durch Entwicklung der lichtempfindlichen Schicht wird dann eine Mikro- oder Nanostruktur auf dem Wafer 24 und somit das mikrostrukturierte Bauteil erzeugt.The projection exposure system is used to produce a micro- or nano-structured component 1 used as follows: First, the reflection mask 19th or the reticle and the substrate or the wafer 24 provided. A structure is then created on the reticle 19th onto a photosensitive layer of the wafer 24 using the projection exposure system 1 projected. A micro- or nanostructure is then created on the wafer by developing the light-sensitive layer 24 and thus the microstructured component is generated.

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  • DE 102015200531 A1 [0002]DE 102015200531 A1 [0002]
  • US 2011/0001947 A1 [0002, 0031]US 2011/0001947 A1 [0002, 0031]
  • US 8817233 B2 [0002, 0005, 0011, 0052]US 8817233 B2 [0002, 0005, 0011, 0052]
  • US 6859515 B2 [0017]US 6859515 B2 [0017]
  • EP 1225481 A2 [0017]EP 1225481 A2 [0017]
  • US 6658084 B2 [0052]US 6658084 B2 [0052]
  • US 7196841 B2 [0052]US 7196841 B2 [0052]
  • DE 102008021833 A1 [0052]DE 102008021833 A1 [0052]

Claims (15)

Facettenspiegel (6) für eine Beleuchtungsoptik (25) für die Projektionslithographie, - mit einer Vielzahl von Facetten (11), die einer Mehrzahl von Facettengruppen (7) zugeordnet sind, - mit einer Mehrzahl von Aktoren (26), - wobei jeweils einer der Aktoren (26) genau einer der Facettengruppen (7) zugeordnet ist, - wobei der jeweilige Aktor (26) ein Übertragungsmittel (27) aufweist, welches mit allen Facetten (11) der zugeordneten Facettengruppe (7) mechanisch verbunden ist, - wobei der Aktor (26) derart ausgeführt ist, dass über das Übertragungsmittel (27) eine Verlagerung aller Facetten (11) der zugeordneten Facettengruppe (7) ansteuerbar ist.Facet mirror (6) for an illumination optics (25) for projection lithography, - With a plurality of facets (11) which are assigned to a plurality of facet groups (7) - With a plurality of actuators (26), - One of the actuators (26) being assigned to exactly one of the facet groups (7), - wherein the respective actuator (26) has a transmission means (27) which is mechanically connected to all facets (11) of the assigned facet group (7), - The actuator (26) being designed in such a way that a displacement of all facets (11) of the assigned facet group (7) can be controlled via the transmission means (27). Facettenspiegel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Übertragungsmittel (27) als mechanisches Übertragungsmittel mit Getriebeelementen (29) ausgeführt ist, die jeweils den Facetten (11) der zugeordneten Facettengruppe (7) zugeordnet sind.Facet mirror after Claim 1 , characterized in that the transmission means (27) is designed as a mechanical transmission means with gear elements (29) which are each assigned to the facets (11) of the assigned facet group (7). Facettenspiegel nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Übertragungsmittel (27) Federelemente (30) aufweist, die jeweils den Facetten (11) der zugeordneten Facettengruppe (7) zugeordnet sind.Facet mirror after Claim 1 or 2 , characterized in that the transmission means (27) has spring elements (30) which are each assigned to the facets (11) of the assigned facet group (7). Facettenspiegel nach einem der Ansprüche 1 bis 3, gekennzeichnet durch eine Steuereinheit (31), die mit den Aktoren (26) in Signalverbindung steht.Facet mirror after one of the Claims 1 to 3 , characterized by a control unit (31) which is in signal connection with the actuators (26). Facettenspiegel nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass über die Steuereinheit (31) mehrere Betriebszustände des Übertragungsmittels (27) eines Aktors (26) ansteuerbar sind, die sich in den Verlagerungspositionen der Facetten (11) der dem Aktor (26) zugeordneten Facettengruppe (7) unterscheiden.Facet mirror after Claim 4 , characterized in that several operating states of the transmission means (27) of an actuator (26) can be controlled via the control unit (31) which differ in the displacement positions of the facets (11) of the facet group (7) assigned to the actuator (26). Facettenspiegel nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass jeweils ein Betriebszustand über mindestens einen der jeweiligen Facette (11) zugeordneten Positionsparameter (φ, δ, ε, x, y, z) parametrisierbar ist.Facet mirror after Claim 5 , characterized in that in each case an operating state can be parameterized via at least one position parameter (φ, δ, ε, x, y, z) assigned to the respective facet (11). Facettenspiegel nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass zu den Positionsparametern (φ, δ, ε, x, y, z) mindestens ein individueller Kippwinkel auf φi gehört, über den jeweils eine der Facetten (11) der zugehörigen Facettengruppe (7) im jeweiligen Betriebszustand verkippt wird.Facet mirror after Claim 6 , characterized in that the position parameters (φ, δ, ε, x, y, z) include at least one individual tilt angle on φ i , via which one of the facets (11) of the associated facet group (7) is tilted in the respective operating state . Facettenspiegel nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass zu den Positionsparametern (φ, δ, ε, x, y, z) mindestens ein globaler Kippwinkel (δ) gehört, über den jeweils Facetten (11) der zugehörigen Facettengruppe (7) im jeweiligen Betriebszustand verkippt werden.Facet mirror after Claim 6 or 7th , characterized in that the position parameters (φ, δ, ε, x, y, z) include at least one global tilt angle (δ) via which facets (11) of the associated facet group (7) are tilted in the respective operating state. Beleuchtungsoptik mit einem Facettenspiegel nach einem der Ansprüche 1 bis 8 zur Führung von Beleuchtungslicht-Teilbündeln längs eines Beleuchtungslicht-Strahlengangs in ein Objektfeld (20), in dem eine Lithographiemaske (19) anordenbar ist, und mit einer Übertragungsoptik (17) zu überlagernden Abbildung der Facettengruppen (7) des Facettenspiegels (6) in das Objektfeld (20).Illumination optics with a facet mirror according to one of the Claims 1 to 8th for guiding illuminating light partial bundles along an illuminating light beam path into an object field (20) in which a lithography mask (19) can be arranged, and with an overlaying image of the facet groups (7) of the facet mirror (6) into the Object field (20). Verfahren zur Positionierung der Facetten (11) eines Facettenspiegels (6) einer Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie mit folgenden Schritten: - Bereitstellen eines Facettengruppen-Facettenspiegels (6) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, - Bereitstellen eines weiteren Facettenspiegels (9), wobei Ausleuchtungskanäle (10), über die Beleuchtungslicht (3) durch die Beleuchtungsoptik (25) geführt ist, durch jeweils eine Facettengruppe (7) des Facettengruppen-Facettenspiegels (6) und durch jeweils eine Facette (8) des weiteren Facettenspiegels (9) vorgegeben sind, - Vorgeben eines Beleuchtungssettings und einer mit diesem Beleuchtungssetting verknüpften Zuordnung der Facettengruppen (7) des Facettengruppen-Facettenspiegels (6) und der Facetten (8) des weiteren Facettenspiegels (9) zu den Ausleuchtungskanälen (10), - Ansteuern der Übertragungsmittel (27) der Aktoren (26) des Facettengruppen-Facettenspiegels (6) zur Vorgabe von Verlagerungspositionen aller Facetten (11) der den Aktoren (26) zugeordneten Facettengruppen (7), abhängig vom vorgegebenen Beleuchtungssetting.Method for positioning the facets (11) of a facet mirror (6) of an illumination optics for projection lithography with the following steps: - Providing a facet group facet mirror (6) according to one of the Claims 1 to 8th - Provision of a further facet mirror (9), with illumination channels (10) through which the illumination light (3) is guided through the illumination optics (25), through one facet group (7) of the facet group facet mirror (6) and through one facet (8) of the further facet mirror (9) are specified, - specification of an illumination setting and an assignment of the facet groups (7) of the facet group facet mirror (6) and the facets (8) of the further facet mirror (9) to the illumination channels, which is linked to this lighting setting (10), - controlling the transmission means (27) of the actuators (26) of the facet group facet mirror (6) for specifying displacement positions of all facets (11) of the facet groups (7) assigned to the actuators (26), depending on the specified lighting setting. Optisches System mit einer Beleuchtungsoptik nach Anspruch 9 und mit einer Projektionsoptik (21) zur Abbildung des Objektfeldes (20) in ein Bildfeld (22), in welchem ein Substrat (24) anordenbar ist, auf welches ein Abschnitt des abzubildenden Objekts (10) abzubilden ist.Optical system with lighting optics according to Claim 9 and with projection optics (21) for imaging the object field (20) in an image field (22) in which a substrate (24) can be arranged, onto which a section of the object (10) to be imaged is to be imaged. Beleuchtungsoptik nach Anspruch 9 oder optisches System nach Anspruch 11 mit einer Lichtquelle (2) für das Beleuchtungslicht (3).Lighting optics according to Claim 9 or optical system Claim 11 with a light source (2) for the illuminating light (3). Projektionsbelichtungsanlage (1) mit einem optischen System nach Anspruch 12 und mit einer Lichtquelle (2) für das Beleuchtungslicht (3).Projection exposure system (1) with an optical system Claim 12 and with a light source (2) for the illuminating light (3). Verfahren zur Herstellung eines strukturierten Bauteils mit folgenden Verfahrensschritten: - Bereitstellen eines Retikels (19) und eines Wafers (24), - Projizieren einer Struktur auf dem Retikel (19) auf eine lichtempfindliche Schicht des Wafers (24) mithilfe der Projektionsbelichtungsanlage nach Anspruch 13, - Erzeugen einer Mikro- und/oder Nanostruktur auf dem Wafer (24).Method for producing a structured component with the following method steps: - providing a reticle (19) and a wafer (24), - projecting a structure on the reticle (19) onto a light-sensitive layer of the wafer (24) using the projection exposure system Claim 13 - Generating a micro- and / or nanostructure on the wafer (24). Strukturiertes Bauteil, hergestellt nach einem Verfahren nach Anspruch 14.Structured component, manufactured using a process according to Claim 14 .
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022207546B3 (en) 2022-07-25 2023-10-12 Carl Zeiss Smt Gmbh Facet mirror assembly, lighting optics, optical system, projection exposure system, method for producing a microstructured component and component

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015200531A1 (en) * 2015-01-15 2016-02-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical module
DE102015208512A1 (en) * 2014-09-03 2016-03-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Illumination optics for projection lithography
DE102016217479A1 (en) * 2016-09-14 2017-09-14 Carl Zeiss Smt Gmbh OPTICAL MODULE WITH TILTABLE OPTICAL SURFACES

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015208512A1 (en) * 2014-09-03 2016-03-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Illumination optics for projection lithography
DE102015200531A1 (en) * 2015-01-15 2016-02-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical module
DE102016217479A1 (en) * 2016-09-14 2017-09-14 Carl Zeiss Smt Gmbh OPTICAL MODULE WITH TILTABLE OPTICAL SURFACES

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022207546B3 (en) 2022-07-25 2023-10-12 Carl Zeiss Smt Gmbh Facet mirror assembly, lighting optics, optical system, projection exposure system, method for producing a microstructured component and component

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