DE102018215667A1

DE102018215667A1 - Elektrische Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorelements

Info

Publication number: DE102018215667A1
Application number: DE102018215667.0A
Authority: DE
Inventors: Markus Gradl; Vitalis Frolov; Ercan Tunca
Original assignee: Continental Automotive GmbH
Current assignee: Continental Automotive Technologies GmbH
Priority date: 2018-09-14
Filing date: 2018-09-14
Publication date: 2020-03-19

Abstract

Elektrische Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorelements umfasst einen Mikrocontroller (100) und das kapazitive Sensorsystem (200) ein erstes kapazitives Sensorelement (210) und ein zweites kapazitives Sensorelement (220) umfasst, wobei das erste kapazitive Sensorelement (210) und das zweite kapazitive Sensorelement (220) einen kapazitiven Spannungsteiler bilden. Das kapazitive Sensorsystem (200) ist von dem Mikrocontroller (100) mit Spannungspotentialen derart ansteuerbar, dass das kapazitive Sensorsystem (200) in Abhängigkeit von den angelegten Spannungspotentialen in einem ersten oder zweiten Zustand betreibbar ist. Der Mikrocontroller (100) ist derart ausgebildet, dass der Mikrocontroller die an dem kapazitiven Spannungsteiler abgegriffene Spannung im ersten und zweiten Zustand des kapazitiven Sensorsystems (200) auswertet.

Description

Die Erfindung betrifft eine elektrische Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorelements.
Bei berührungsempfindlichen Bedienelementen mit Einzelfunktionstasten und Schiebeelementen beziehungsweise bei berührungsempfindlichen Bildschirmen (Touchscreens) und berührungsempfindlichen Flächenelementen (Touchpads) tritt bei Berührung der Bedienelemente, insbesondere mit einem Finger, eine kapazitive Änderung auf. Um zu ermitteln, ob ein berührungsempfindliches Bedienelement beziehungsweise ein berührungsempfindlicher Sensor tatsächlich berührt worden ist, wird die kapazitive Änderung, die bei der Berührung des Sensorelements/Bedienelements mit dem Finger auftritt, festgestellt beziehungsweise gemessen.
Zur Realisierung eines solchen Verfahrens zum Feststellen beziehungsweise Messen der kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorelements können externe Schaltungen, die beispielsweise mit diskreten Logikbauteilen, Schaltern, Multiplexern, Transistor- oder Operationsverstärkerschaltungen ausgestattet sind, aufgebaut werden. Des Weiteren werden integrierte Speziallösungen in Form von spezialisierten/externen Touch-Controller-ICs mit serieller Anbindung verwendet. Darüber hinaus besteht beispielsweise die Möglichkeit, die Touch-Sensorkapazität durch Umladen über einen Widerstand in seinem zeitlichen Verlauf der Ladespannung direkt, oder als Frequenz in einem Relaxationsoszillator zu vermessen. Bei den üblichen kapazitiven Spannungsteilerverfahren wird zum Beispiel eine in einer CPU vorhandene Haltekapazität als Referenz zur Vergleichsmessung verwendet.
Viele der derzeit bekannten Lösungen erfordern eine Vielzahl an diskreten Bauteilen. Vollintegrierte Touch-Controller-Lösungen erfüllen im Allgemeinen nicht die Kundenanforderungen im Automotive-Umfeld. Einfache oder mehrere Schalter im CAN-Knoten können nur mit einem Doppel-Mikrocontrollersystem (Automotive-Controller und Touch-Controller) ersetzt werden. Touch-fähige Mikrocontroller gibt es kaum in Automotive-Qualifizierung zur CAN-Anbindung.
Faktisch hat derzeit kein spezieller Automotive-Mikrocontroller eine Anbindung für Touch-Sensorik. Viele Ein- und Ausgangsanschlüsse eines Mikrocontrollers bleiben stattdessen unbenutzt. Bei bekannten kapazitiven Spannungsteilerverfahren werden diskrete oder interne Chip-Kapazitäten zum Vergleich als Referenz C₀ verwendet. Deren Temperaturgang unterscheidet sich zur Koppelkapazität C₁ der Sensor-Leiterplatte und führt damit im Unterschied zu der im Folgenden beschriebenen Messmethode (dC = C₁/C₀) zu einem sehr hohen Temperaturgang.
Es besteht ein Bedarf, eine elektrische Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorsystems anzugeben, mit der sich kapazitive Messgrößen zuverlässig erfassen lassen, wobei eine flexible Anpassung an die jeweilige Applikationsanwendung möglich ist.
Eine Ausführungsform einer derartigen elektrischen Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorsystems ist im Patentanspruch 1 angegeben.
Gemäß einer Ausführungsform umfasst die elektrische Schaltungsanordnung einen Mikrocontroller mit mindestens einem Auswerteanschluss zum Anlegen eines durch den Mikrocontroller auszuwertenden Spannungspotentials. Des Weiteren umfasst die Schaltungsanordnung das kapazitive Sensorsystem, das seinerseits ein erstes kapazitives Sensorelement und ein zweites kapazitives Sensorelement umfasst. Das erste kapazitive Sensorelement und das zweite kapazitive Sensorelement sind derart an den Mikrocontroller geschaltet, dass ein kapazitiver Spannungsteiler gebildet wird. Insbesondere ist das kapazitive Sensorsystem an den Auswerteanschluss des Mikrocontrollers angeschlossen.
Das kapazitive Sensorsystem ist von dem Mikrocontroller mit Spannungspotentialen derart ansteuerbar, dass das kapazitive Sensorsystem in Abhängigkeit von den angelegten Spannungspotentialen in einem ersten oder zweiten Zustand betreibbar ist. Der Mikrocontroller ist derart ausgebildet, dass er die an dem Auswerteanschluss anliegende jeweilige Spannung im ersten und zweiten Zustand des kapazitiven Sensorsystems auswertet. In Abhängigkeit von der Auswertung der an dem Auswerteanschluss anliegenden Spannung kann der Mikrocontroller eine kapazitive Änderung an dem kapazitiven Sensorsystem feststellen.
Die angegebene elektrische Schaltungsanordnung ist grundsätzlich für jede Art von Geräten mit kapazitiven Sensoren für mechanische Tasten, berührungsempfindliche Oberflächen, Gesten-, Personen-, Objekterkennung sowie Änderungen von Abständen (Druckerkennung) und Verformung einsetzbar.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand von Figuren, die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung zeigen, näher erläutert. Es zeigen:

1 eine erste Ausführungsform einer elektrischen Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorsystems mit zwei Sensorelementen,
2 eine Ausführungsform eines kapazitiven Sensorsystems mit mehreren kapazitiven Sensorelementen, und
3 eine zweite Ausführungsform einer elektrischen Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorsystems mit vier Sensorelementen.

1 zeigt eine erste Ausführungsform einer elektrischen Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensors 200. Die Schaltungsanordnung umfasst einen Mikrocontroller 100 mit einem Auswerteanschluss EA zum Anlegen eines durch den Mikrocontroller auszuwertenden Spannungspotentials. Der Auswerteanschluss EA kann beispielsweise als ein ADC (Analog-Digital-Wandler)-Eingangsanschluss ausgebildet sein. Das kapazitive Sensorsystem 200 umfasst ein erstes kapazitives Sensorelement 210 und ein zweites kapazitives Sensorelement 220. Das erste kapazitive Sensorelement 210 und das zweite kapazitive Sensorelement 220 bilden einen kapazitiven Spannungsteiler.
Das kapazitive Sensorsystem 200 ist an den Auswerteanschluss EA des Mikrocontrollers 100 angeschlossen. Das kapazitive Sensorsystem 200 ist von dem Mikrocontroller 100 mit Spannungspotentialen derart ansteuerbar, dass das kapazitive Sensorsystem 200 in Abhängigkeit von den angelegten Spannungspotentialen in einem ersten oder zweiten Zustand betreibbar ist. Der Mikrocontroller 100 ist derart ausgebildet, dass der Mikrocontroller die an dem Auswerteanschluss EA anliegende Spannung im ersten und zweiten Zustand des kapazitiven Sensorsystems 200 auswertet.
Der Mikrocontroller 100 ist insbesondere dazu ausgebildet, in Abhängigkeit von der Auswertung der an dem Auswerteanschluss EA anliegenden Spannung, die an dem kapazitiven Spannungsteiler abgegriffen wird, eine kapazitive Änderung an dem kapazitiven Sensorsystem 200 festzustellen.
Wie in 1 gezeigt ist, umfasst der Mikrocontroller 100 mindestens einen ersten Ausgangsanschluss IO1 und mindestens einen zweiten Ausgangsanschluss 102. Das Sensorelement 210 ist zwischen dem Ausgangsanschluss 102 und dem Auswerteanschluss EA an den Mikrocontroller 100 angeschlossen. Das Sensorelement 210 umfasst einen Sensorkondensator C1, wobei eine der Platten des Sensorkondensators C1 an den Ausgangsanschluss 102 und eine andere Platte des Sensorkondensators C1 an den Auswerteanschluss EA angeschlossen ist.
Das Sensorelement 220 ist zwischen dem Ausgangsanschluss IO1 und dem Auswerteanschluss EA an den Mikrocontroller 100 angeschlossen. Das Sensorelement 220 umfasst einen Sensorkondensator C2. Eine Platte des Sensorkondensators C2 ist an den ersten Ausgangsanschluss IO1 angeschlossen, während eine andere Platte des Sensorkondensators C2 an den Auswerteanschluss EA angeschlossen ist.
Die beiden Sensorelemente 210 und 220 beziehungsweise die beiden Sensorkondensatoren C1 und C2 sind an eine gemeinsame Messleitung 300 angeschlossen. Die gemeinsame Messleitung 300 ist an den Auswerteanschluss EA des Mikrocontrollers 100 angeschlossen. Die beiden Sensorelemente 210 und 220 beziehungsweise Sensorkondensatoren C1 und C2 sind über die Messleitung 300 miteinander verbunden.
Der Mikrocontroller 100 ist dazu ausgebildet, zum Betreiben des kapazitiven Sensorelements 200 im ersten Zustand einen ersten Verfahrenszyklus aus den folgenden vier Verfahrensschritten auszuführen. In einem ersten Verfahrensschritt werden die beiden Ausgangsanschlüsse IO1 und IO2 sowie der Auswerteanschluss EA derart angesteuert, dass an den beiden Ausgangsanschlüssen IO1 und 102 und an dem Auswerteanschluss EA ein erstes Spannungspotential, beispielsweise ein niedriger Spannungspegel (low-Pegel) ausgegeben wird. In einem zweiten Verfahrensschritt wird der Auswerteanschluss EA derart angesteuert, dass der Auswerteanschluss EA als Eingangsanschluss betrieben wird. Im Falle eines ADC-Anschlusses wird dieser von dem Mikrocontroller 100 als ADC-Eingangsanschluss geschaltet.
In einem dritten Verfahrensschritt wird der Ausgangsanschluss IO1 von dem Mikrocontroller 100 derart angesteuert, dass an dem Ausgangsanschluss IO1 ein zweites Spannungspotential, beispielsweise ein hohes Spannungspotential (high-Pegel) ausgegeben wird. Das zweite Spannungspotential ist höher als das erste Spannungspotential. Das zweite Spannungspotential kann beispielsweise ein Versorgungspotential sein, während das erste Spannungspotential ein Massepotential sein kann. In einem vierten Verfahrensschritt wird von dem Mikrocontroller 100 eine an dem Auswerteanschluss EA anliegende und an dem kapazitiven Spannungsteiler des Sensorsystems abgegriffene erste Spannung U1 gemessen.
Im Anschluss an die oben genannten Verfahrensschritte zum Betreiben des kapazitiven Sensorsystems 200 im ersten Zustand wird das kapazitive Sensorsystem 200 von dem Mikrocontroller 100 in einem zweiten Zustand betrieben. Zum Betreiben des kapazitiven Sensorsystems 200 im zweiten Zustand führt der Mikrocontroller 100 einen zweiten Verfahrenszyklus aus den folgenden vier Verfahrensschritten durch.
In einem ersten Verfahrensschritt des zweiten Verfahrenszyklus werden die beiden Ausgangsanschlüsse IO1 und 102 sowie der Auswerteanschluss EA derart angesteuert, dass an den beiden Ausgangsanschlüssen IO1 und 102 und auch an dem Auswerteanschluss EA das erste Spannungspotential, beispielsweise das niedrige Spannungspotential (low-Pegel), ausgegeben wird. In einem zweiten Verfahrensschritt des zweiten Verfahrenszyklus wird der Auswerteanschluss EA von dem Mikrocontroller 100 derart angesteuert, dass der Auswerteanschluss EA als Eingangsanschluss betrieben wird. Im Falle eines ADC-Anschlusses wird dieser Anschluss von dem Mikrocontroller 100 als ADC-Eingangsanschluss betrieben.
In einem dritten Verfahrensschritt des zweiten Verfahrenszyklus wird der Ausgangsanschluss 102 derart angesteuert, dass an dem Ausgangsanschluss 102 das zweite Spannungspotential, beispielsweise das hohe Spannungspotential (high-Pegel), ausgegeben wird. Wie im ersten Verfahrenszyklus so kann auch im zweiten Verfahrenszyklus das erste Spannungspotential ein Massepotential sein, während das zweite Spannungspotential ein Versorgungsspannungspotential ist. In einem vierten Verfahrensschritt des zweiten Verfahrenszyklus wird eine an dem Auswerteanschluss EA anliegende und an dem kapazitiven Spannungsteiler abgegriffene zweite Spannung U2 gemessen.
Der Mikrocontroller 100 ist nun dazu ausgebildet, eine Differenz zwischen der ersten Spannung U1 und der zweiten Spannung U2 zu bilden und einen dabei ermittelten Differenzwert DU zu speichern.
Die elektrische Schaltungsanordnung kann eine Speicherschaltung 110 zum Speichern eines Referenzwertes DR umfassen. Die Speicherschaltung 110 kann beispielsweise Teil des Mikrocontrollers 100 sein oder an den Mikrocontroller 100 angeschlossen sein. Der Referenzwert DR gibt eine Differenz zwischen der nach den oben angegebenen Verfahrensschritten gemessenen ersten Spannung U1 und zweiten Spannung U2 an, wenn an dem kapazitiven Sensorsystem 200 keine Berührung stattfindet. Der Referenzwert DR kann beispielsweise ein Spannungsdifferenzwert sein, der bereits bei der Herstellung der elektrischen Schaltungsanordnung in der Speicherschaltung 110 abgespeichert worden ist.
Der Mikrocontroller 100 ist dazu ausgebildet, in Abhängigkeit von einem Vergleich zwischen dem Referenzwert DR und dem Differenzwert DU eine kapazitive Änderung des kapazitiven Sensorsystems 200 zu ermitteln. Der Mikrocontroller 100 ist insbesondere dazu ausgebildet, in Abhängigkeit von dem Vergleich zwischen dem Referenzwert DR und dem Differenzwert DU festzustellen, ob eine Berührung an dem Sensorelement 210 oder an dem Sensorelement 220 erfolgt ist.
Bei einer Berührung von einem der beiden Sensorelemente 210 beziehungsweise 220 mit einem Finger sinkt die jeweilige Kapazität des Sensorkondensators, sodass sich die Gesamtkapazität des kapazitiven Sensorsystems sowohl im ersten als auch im zweiten Zustand ändert. Der Mikrocontroller 100 ist dazu ausgebildet, auszuwerten, ob die Spannungsdifferenz DU größer oder kleiner als der Referenzwert DR ist.
Wenn der ermittelte Differenzwert DU größer als der Referenzwert DR ist, stellt der Mikrocontroller 100 fest, dass das Sensorelement 220 betätigt worden ist beziehungsweise, dass eine Berührung des Sensorelements 220 stattgefunden hat. Um Einflüsse von Rauschen zu vermeiden, wird eine Schaltschwelle S1 = DU - DR eingeführt. Wenn der Mikrocontroller 100 feststellt, dass die Schaltschwelle S1 überschritten ist, erkennt der Mikrocontroller, dass das Sensorelement 220 betätigt worden ist.
Wenn hingegen der Mikrocontroller 100 feststellt, dass die Differenz DU kleiner als der Referenzwert DR ist, stellt der Mikrocontroller 100 fest, dass das Sensorelement 210 betätigt wurde beziehungsweise, dass an dem Sensorelement 210 eine Berührung stattgefunden hat. Um Einflüsse von Rauschen zu vermeiden, wird eine Schaltschwelle S2 = DR - DU eingeführt. Wenn der Mikrocontroller 100 feststellt, dass die Schaltschwelle S2 überschritten ist, erkennt der Mikrocontroller, dass das Sensorelement 210 betätigt worden ist.
2 zeigt eine Ausführungsform des kapazitiven Sensorsystems mit beispielhaft vier Sensorelementen 210, 220, 230 und 240, die beispielsweise jeweils als eine berührungsempfindliche Sensortaste ausgebildet sind. Die einzelnen Sensorelemente 210, 220, 230 und 240 weisen zwei oder mehrere elektrisch leitende, galvanisch getrennte Elektroden auf, die beide gleichzeitig mit einem Finger auf der anderen Seite einer nichtleitenden Abdeckung (Kunststoffoberfläche/Dielektrikum) berührt werden können. Wie in 2 gezeigt ist, können mehrere derartige Sensortasten auf einer gemeinsamen RX-Messleitung 300 zusammengeschaltet sein.
1 zeigt beispielsweise den Anwendungsfall der elektrischen Schaltungsanordnung in einer berührempfindlichen Button-Sensor-Leiste zur Erkennung einer Berührung mit einem Finger, der die kapazitive Änderung bewirkt. 3 zeigt einen weiteren Anwendungsfall der elektrischen Schaltungsanordnung zum Aufbau eines Button-/Touch-Pads in einer Sensormatrix mit haptischer Rückkopplung mit kapazitiver Abstandsmessung einer Haptik-Druckplatte.
Im Unterschied zu der in 1 gezeigten Ausführungsform weist das kapazitive Sensorsystem 200 insgesamt vier oder mehr kapazitive Sensorelemente 210, ..., 240 auf, die an einen Mikrocontroller 100 in Form von kapazitiven Spannungsteilern angeschlossen sind. Das Messverfahren entspricht dem anhand von 1 erläuterten Verfahren.
Da in dem beschriebenen Messverfahren die Kapazitätsänderung der Koppelkapazität im Verhältnis zur Eigenkapazität der gemeinsamen RX-Elektrode gemessen wird, kompensieren sich Temperatureffekte weitgehend. Es werden keine zusätzlichen Bauteile außer gegebenenfalls Widerständen zur Begrenzung von Umladeströmen benötigt. Die Sensorik kann effizient in einer Matrix verschaltet werden. Abhängig von den Anforderungen an Empfindlichkeit oder von den freien Anschlüsse des Mikrocontrollers können prinzipiell beliebig viele Sensoren zusammengefasst werden.
Bezugszeichenliste

100: Mikrocontroller
110: Speicherschaltung
200: kapazitives Sensorsystem
210: kapazitives Sensorelement
220: kapazitives Sensorelement
300: Messleitung
IO: Ausgangsanschluss
EA: Auswerteanschluss
U1: erste Spannung
U2: zweite Spannung
DU: Spannungsdifferenz
DR: Referenzwert

Claims

Elektrische Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer kapazitiven Änderung eines kapazitiven Sensorsystems, umfassend: - einen Mikrocontroller (100) mit mindestens einem Auswerteanschluss (EA) zum Anlegen eines durch den Mikrocontroller (100) auszuwertenden Spannungspotentials, - wobei das kapazitive Sensorsystem (200) ein erstes kapazitives Sensorelement (210) und ein zweites kapazitives Sensorelement (220) umfasst, wobei das erste kapazitive Sensorelement (210) und das zweite kapazitive Sensorelement (220) einen kapazitiven Spannungsteiler bilden, - wobei das kapazitive Sensorsystem (200) an den Auswerteanschluss (EA) des Mikrocontrollers (100) angeschlossen ist, - wobei das kapazitive Sensorsystem (200) von dem Mikrocontroller (100) mit Spannungspotentialen derart ansteuerbar ist, dass das kapazitive Sensorsystem (200) in Abhängigkeit von den angelegten Spannungspotentialen in einem ersten oder zweiten Zustand betreibbar ist, - wobei der Mikrocontroller (100) derart ausgebildet ist, dass der Mikrocontroller die an dem Auswerteanschluss (EA) anliegende jeweilige Spannung im ersten und zweiten Zustand des kapazitiven Sensorsystems (200) auswertet.
Elektrische Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, wobei der Mikrocontroller (100) dazu ausgebildet ist, in Abhängigkeit von der Auswertung der an dem Auswerteanschluss (EA) anliegenden Spannung eine kapazitive Änderung an dem kapazitiven Sensorsystem (200) festzustellen.
Elektrische Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei der Mikrocontroller (100) mindestens einen ersten Ausgangsanschluss (IO1) und mindestens einen zweiten Ausgangsanschluss (102) aufweist.
Elektrische Schaltungsanordnung nach Anspruch 3, wobei das erste Sensorelement (210) zwischen dem zweiten Ausgangsanschluss (102) und dem Auswerteanschluss (EA) an den Mikrocontroller (100) angeschlossen ist.
Elektrische Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 3 oder 4, wobei das zweite Sensorelement (220) zwischen dem ersten Ausgangsanschluss (IO1) und dem Auswerteanschluss (EA) an den Mikrocontroller (100) angeschlossen ist.
Elektrische Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, - wobei das erste und das zweite Sensorelement (210, 220) an eine gemeinsame Messleitung (300) angeschlossen sind, - wobei die gemeinsame Messleitung (300) an den Auswerteanschluss (EA) des Mikrocontrollers (100) angeschlossen ist.
Elektrische Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 3 bis 6, wobei das erste Sensorelement (210) einen ersten Sensorkondensator (C1) umfasst und das zweite Sensorelement (220) einen zweiten Sensorkondensator (C2) umfasst.
Elektrische Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, wobei der Mikrocontroller (100) dazu ausgebildet ist, zum Betreiben des kapazitiven Sensorsystems (200) im ersten Zustand einen ersten Verfahrenszyklus aus der folgenden Verfahrensschritten a) bis d) auszuführen: a) Ansteuern des ersten und zweiten Ausgangsanschlusses (IO1, IO2) und des Auswerteanschlusses (EA) derart, dass an dem ersten und zweiten Ausgangsanschluss (IO1, 102) und an dem Auswerteanschluss (EA) ein erstes Spannungspotential ausgegeben wird, b) Ansteuern des Auswerteanschlusses (EA) derart, dass der Auswerteanschluss (EA) als Eingangsanschluss betrieben wird, c) Ansteuern des ersten Ausgangsanschlusses (IO1) derart, dass an dem ersten Ausgangsanschluss (IO1) ein zweites Spannungspotential ausgeben wird, wobei das zweite Spannungspotential höher als das erste Spannungspotential ist, d) Messen einer an dem Auswerteanschluss (EA) anliegenden ersten Spannung (U1).
Elektrische Schaltungsanordnung nach Anspruch 8, wobei der Mikrocontroller (100) dazu ausgebildet ist, im Anschluss an die Verfahrensschritte a) bis d) zum Betreiben des kapazitiven Sensorsystems (200) im zweiten Zustand einen zweiten Verfahrenszyklus aus der folgenden Verfahrensschritten e) bis h) auszuführen: e) Ansteuern des ersten und zweiten Ausgangsanschlusses (IO1, 102) und des Auswerteanschlusses (EA) derart, dass an dem ersten und zweiten Ausgangsanschluss (IO1, 102) und an dem Auswerteanschluss (EA) das erste Spannungspotential ausgegeben wird, f) Ansteuern des Auswerteanschlusses (EA) derart, dass der Auswerteanschluss (EA) als Eingangsanschluss betrieben wird, g) Ansteuern des zweiten Ausgangsanschlusses (102) derart, dass an dem zweiten Ausgangsanschluss (102) das zweite Spannungspotential ausgeben wird, h) Messen einer an dem Auswerteanschluss (EA) anliegenden zweiten Spannung (U2).
Elektrische Schaltungsanordnung nach Anspruch 9, wobei der Mikrocontroller (100) dazu ausgebildet ist, eine Differenz zwischen der ersten Spannung (U1) und der zweiten Spannung (U2) zu bilden und einen dabei ermittelten Differenzwert (DU) zu speichern.
Elektrische Schaltungsanordnung nach Anspruch 10, - eine Speicherschaltung (110) zum Speichern eines Referenzwertes (DR), wobei der Referenzwert eine Differenz zwischen der ersten Spannung (U1) und der zweiten Spannung (U2) angibt, wenn an dem kapazitiven Sensorsystem (200) keine Berührung stattfindet, - wobei der Mikrocontroller (100) dazu ausgebildet ist, in Abhängigkeit von einem Vergleich zwischen dem Referenzwert und dem Differenzwert eine kapazitive Änderung des kapazitiven Sensorsystems (200) zu ermitteln.
Elektrische Schaltungsanordnung nach Anspruch 11, wobei der Mikrocontroller (100) dazu ausgebildet ist, in Abhängigkeit von dem Vergleich zwischen dem Referenzwert (DR) und dem Differenzwert (DU) festzustellen, ob eine Berührung an dem ersten Sensorelement (210) oder dem zweiten Sensorelement (220) erfolgt ist.