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Diese Offenbarung (und Ansprüche) betreffen eine Testumgebung für Automationsaufgaben.
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Testumgebungen sind physisch abgegrenzte Bereiche, in denen zumindest eine Technologie getestet wird. Dies kann eine Maschine sein, dies kann ein Anwendungsfall für eine Maschine sein, ein Querschneiden, eine bewegte (fliegende) Säge oder eine Pick-and-place-Aufgabe, die auch mehrere Aktoren beinhalten kann, wobei die Aktoren eine Verallgemeinerung von Motoren sein sollen, da sie durchaus nicht nur rotatorisch, sondern auch in Längsrichtung antreibend agieren können und auch andere Aktoren angesprochen sind, die zumeist elektrisch angesteuert werden, aber nicht ausschließlich.
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Diese Testumgebungen sind in der Inbetriebnahme schwierig zu organisieren und schwierig systematisch zu erfassen. Heute ist gängig, dass jeder Anwender (für den Hersteller von Antriebstechnik sind dies Kunden) artificial intelligence (AI) und eine eigene Methode hat, eine gelieferte Anlage, die einen oder mehrere Aktoren besitzt, freizugeben. Auch sind eigene Methoden geläufig, die jeder Kunde individuell zum Durchführen von Maschinentests auf Vorrat hält. Grundsätzlich ist das ein Aufwand, ein Zeitaufwand oder ein Kostenaufwand, da diese Tests oder Testfälle zusätzlich zur eigentlichen Technologie erstellt werden müssen.
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Dabei wird oft vergessen, Zeit für die Erstellung der Tests einzuplanen und oft sind die Tests auch nicht so aufgebaut, dass sie viel Information liefern (viel abdecken) und zusätzlich noch einfach auszuwerten sind. Wird zum Beispiel vergessen, ein Signal (das ein Eingangssignal darstellt) zurückzusetzen, dann wird durch diesen Test sogar ein Fehler erzeugt, der möglicherweise gar nicht dokumentiert werden kann oder dokumentiert ist, weil das versehentlich gesetzte Eingangssignal nicht aufgezeichnet worden ist.
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EP 2 037 340 A1 (Siemens) betrifft ein Sicherheitsschaltgerät, das eine Steuereinrichtung aufweist. Es gibt in diesem System einen Testprozess, der eine Überprüfung veranlasst. Ein erstes Datenpaket wird zur Initialisierung des Testprozesses durch das Testmodul erzeugt und auf die Steuereinrichtung übertragen. Das erste Datenpaket wird anschließend ausgewertet und ein zweites Datenpaket zur Übermittlung des Testergebnisses durch die Steuereinrichtung erzeugt. In dieser Fundstelle wird der Testprozess erst erzeugt, bevor er übertragen wird, oder anders herum gefasst, er wird erst vor seiner Übertragung erzeugt.
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Die Erfindung geht einen anderen Weg.
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Eine Aufgabe der Erfindung besteht also darin, eine Testumgebung zu schaffen, die zuverlässiger arbeitet, weniger zeitintensiv ist und eine bessere Qualität der Testergebnisse ergibt. Wenn dazuhin die Testabdeckung (die Aussagekraft der Tests) größer wird, so ist eine solche Lösung besonders erstrebenswert.
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Ermöglicht wird diese Testumgebung durch den beanspruchten Testautomaten (Anspruch 1). Er ist nicht die reale Inbetriebnahme, sondern er testet zuvor eine Inbetriebnahme, respektive einen Betrieb aus. Vor einer realen Inbetriebnahme findet also ein Test statt, der die geforderten Fähigkeiten besitzt und Möglichkeiten realisiert. Im Rahmen der Testumgebung ist zunächst ein Technologiemodul relevant, welches die Technologie repräsentiert, die in Betrieb zu nehmen ist. Von den Technologiemodulen kann es mehrere geben, die unterschiedlich aufgebaut sind, unterschiedliche Eingangssignale und unterschiedliche Ausgangssignale besitzen. Die eingesetzte Technologie, wie sie vom Hersteller als Anlage verkauft wird, wird dabei in dem Technologiemodul abgebildet oder repräsentiert. Das Technologiemodul hat dabei eine Vielzahl von Eingängen und eine Vielzahl von Ausgängen.
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Die Eingänge bestimmen das Verhalten des Technologiemoduls, und später auch angenommener maßen der praktisch eingesetzten Technologie. Die Ausgangssignale oder die Ausgänge, wie es kurz heißt, verändern sich entsprechend der Art der Technologie in dem Technologiemodul und entsprechend den Eingangssignalen. Dabei ist das Verhalten sowohl ein logisches Verhalten, wie auch ein physikalisches Verändern.
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Um den Testautomaten zu vervollständigen, erhält das Technologiemodul einen ihn ansteuernden Signalgenerator. Der Signalgenerator erzeugt Testsignale, und kann diese Testsignale austauschbar erzeugen, indem mehrere vorgefertigte Tests dem Signalgenerator bevorzugt nacheinander und Schritt um Schritt zuspeisbar sind. Daraus werden die genannten Testsignale erzeugt, die dem Technologiemodul als Eingangssignale zugespeist werden. Das Zuspeisen bringt dabei ein Aufzwingen mit sich, bei dem die normalerweise vorhandenen Eingangssignale durch diejenigen Eingangssignale ersetzt werden, welche von dem vorgefertigten Test erzeugt werden (Anspruch 1).
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Zusätzlich kann eine Aufzeichnungseinrichtung vorgesehen sein (Anspruch 2), welche die Testsignale des Signalgenerators aufzeichnet. Diese an das Technologiemodul gespeisten Testsignale werden so dokumentiert. Zusätzlich könnte auch oder kann auch eines oder mehrere der zweiten Vielzahl von Ausgangssignalen aufgezeichnet werden.
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Das Erzwingen eines Eingangssignals beim Technologiemodul kann auch "forciert" genannt werden oder "forcen".
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Die mehreren möglichen Tests (Anspruch 4 bis 6) enthalten vorgefertigte Tests, die dem Signalgenerator zuspeisbar sind, oder mit dem der Signalgenerator geladen werden kann. Diese Tests liegen in einer Bibliothek vor und haben bestimmte Namen, entsprechend ihres Verhaltens zur Bildung der Testsignale. Sie lassen eine einfache Fehlerdiagnose zu, beispielsweise Tests für Sollwerte, langsame Tests oder schnelle Tests (Anspruch 3). Die Tests (auch "Testfälle") können auch auf Erfahrungswerten schon erledigter (gleicher oder ähnlicher) Projekte basieren.
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Mit der erfindungsgemäßen Lösung wird bei der Inbetriebnahme Zeit gespart. Es ergibt sich eine bessere Qualität aufgrund der besseren Testabdeckung. Es ist eine gezieltere Fehlerdiagnose möglich, weil die vorgefertigten Testfälle spezifisch (vorgegeben) sind. Damit ergibt sich auch eine größere Chance, Fehler nachzustellen, in dem Sinne, dass sie reproduzierbar erzeugt werden, um die Ursachen zu ergründen.
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Die Anwendung dieser Testumgebung ist nicht nur beim Kunden möglich, sondern bereits in der Fertigung bei der Erstellung der Anlage, bevor sie ausgeliefert wird. Dies kann als eine weitere beanspruchbare Verwendung oder Anwendung eines Testautomaten angesehen werden (Anspruch 7).
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Der Signalgenerator, der in Verbindung mit dem Technologiemodul als Testautomat benannt wird, simuliert oder stimuliert die Signale. So ist es möglich, den realen Antrieb als Beispiel einer Anlage durch ein einfaches Simulationsmodell zu ersetzen und mit forcierten Signalen als Eingangssignale zu testen. Damit lassen sich Tests durchführen, ohne dass die Maschine als Beispiel der Anlage schon fertig ist.
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Außerdem ist es möglich, Messwert(e) zu verifizieren, die mit einer zuvor durchgeführten Messung im Labor des Herstellers verglichen wird oder werden.
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Z.B. Schleppfehler können gemessen und protokolliert werden, wenn sich ein solcher im Technologiemodul befindet, oder von ihm verursacht wird, entsprechend der darin repräsentierten Technik. Festgestellte Schleppfehler können anhand von Messwerten beschrieben werden, ggf. basierend auf Erfahrungswerten, die dann bei den Tests verwendet werden können.
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Die Einbettung des Signalgenerators als zusätzliches Element bietet die Vielzahl von umschriebenen Möglichkeiten. Der Signalgenerator kann genutzt werden, die eigentlichen Eingänge des Technologiemoduls zu überschreiben, wie das oben skizziert war. Mit diesem überschriebenen Eingang ist es möglich, einen Funktionsbaustein (das Technologiemodul) zur Stimulation automatischer Tests anzubinden. Fehlerquellen können so vermieden werden und als Beispiel kann ein Endlagen-Schalter dienen, der einen Eingang repräsentiert.
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Es wird dabei analysiert: Was passiert mit den Ausgängen des Technologiemoduls, wenn der Endlagen-Schalter ausgelöst wird ? Hier wird dieser Endlagen-Schalter forciert, um die Folgen auszutesten und mit der Dokumentation (Anspruch 2) zu dokumentieren.
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Im Stand der Technik wird das, hier ein kleiner Ausblick auf die bisherige Technik, nur stückweise gemacht. Es gibt dort keine vorgefertigten Testfälle, die Eingangssignale eines Technologiemoduls überschreiben (oder ihnen die Signale des vorgefertigten Tests aufzwingen), normalerweise wird bei jeder Inbetriebnahme nur ein Stück getestet um dann später, wenn alle Stücke getestet worden sind, die Gesamtfunktion zu testen.
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Erfindungsgemäß kann gleich in der Gesamtfunktion getestet werden. Wenn im Stand der Technik zum Beispiel Probeschnitte ohne Material analysiert werden, mit einem Tracing, kann das je nach Auswertung einige Minuten dauern. Zuletzt werden Materialproben untersucht. Ein Fehlerbild wird dann entweder als Fehlermeldung im Logbuch eingetragen oder als ein Geräusch wahrgenommen, beispielsweise als ein Knacken. Manchmal entstehen auch schlechtere Ergebnisse, wie ein ausgefranster Schnitt bei einer beispielsweise längsbewegten Säge mit Schnitt in Querrichtung (zur ihrer Längsbewegung), oder ein welliger Kunststoff, bei Fehlern im Extruder.
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Dies ist schwer auszuwerten, ist aber bislang nicht besser möglich. Anders die oben herausgestellte Erfindung, die es im Gesamtkonzept erlaubt, eine Anlage im Gesamten zu testen, indem die Technologie im Technologie-Modul abgebildet wird, um sie dann mit forcierten Eingangssignalen vor einem realen Lauf zu testen.
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Die Ausführungsformen der Erfindung sind anhand von einem Beispiel oder Beispielen dargestellt und nicht auf eine Weise, in der Beschränkungen aus den Figuren in die Patentansprüche übertragen oder hineingelesen werden. Gleiche Bezugszeichen in den Figuren geben ähnliche Elemente an.
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1 ist eine schematische Ansicht eines Beispiels eines Testautomaten gemäß einer oder mehreren Ausführungsformen der Erfindung.
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2 ein Querschneider als Funktionsbild 50.
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3 eine längs-bewegte, quer-schneidende Säge als Funktionsbild 60.
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1 veranschaulicht eine schematische Ansicht einer Testumgebung. Der Testautomat hat im Kern den Testsignal-Generator 100 und das Technologiemodul 10. Mehrere unterschiedlich reagierende oder unterschiedliche Technologien repräsentierende Module 10', 10'' und 10* sind hier möglich, von diesen Technologien sollen zwei in den 2 und 3 erläutert werden, die dann jeweils repräsentativ in einem Technologie-Modul abgebildet sind oder werden. Beispielsweise der Querschneider 50 von 2 entspricht dann dem Technologiemodul 10'. Oder die längs-bewegte Quersäge 60, auch "fliegende" Säge genannt (obwohl sie nicht fliegen kann), entspräche dem Technologiemodul 10''. Andere Technologien können ebenso abgebildet werden, wofür repräsentativ 10* (und weitere) steht.
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Dem Testautomaten zugeordnet werden können oder sind vorgefertigte Tests 80, die als Blockschaltbild repräsentiert sind, die aber mehrere Testfälle T1, T2, T3, ..., T9 in einer Bibliothek vorhalten können. Jeweils einer dieser Testfälle, beispielsweise T1 wird in den Signalgenerator 100 geladen, um an dessen Ausgang n Signale zu erzeugen, die als Signale E' geführt werden.
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Diese n Signale E' ersetzen die normalen Eingangssignale E des Technologiemoduls 10, wovon es n Stück auf der Eingangsseite EIN gibt, jedenfalls in der abstrahierten Anwendung 10. Bei den Anwendungsfällen (Technologieren), die konkreter sind, so Technologie 50, können weniger als die sechs dargestellten Eingangssignale EIN existieren, bei besonders dem Anwendungsfall 60, der die Technologie der fliegenden Säge betrifft, können auch mehr als die sechs dargestellten Eingänge belegt oder aktiv sein, sodass die Abstraktion des Technologiemoduls, auch plakativ (deskriptiv) "digitaler Prüfling" genannt, mit der ganzen Zahl n Repräsentant für einfachere, komplexere und hochkomplexe Technologien steht.
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Ein weiteres Element der Ergänzung ist die Mehrspur-Aufzeichnung 90, die auch als digitaler Recorder benannt werden könnte, um die n Eingangssignale E' (die zuvor Ausgangssignale des Signalgenerators 100 waren) aufzuzeichnen und damit für Testfälle und Fehleranalysen zur Verfügung stehen. Zusätzlich bestehen die Ausgangssignale AUS auf der Ausgangsseite des Technologiemoduls 10, hier mit der Anzahl m (als eine ganze Zahl, die nicht gleich der Zahl der Eingänge EIN sein muss) repräsentiert; diese können zusätzlich in der Aufzeichnung 90 mit aufgezeichnet werden, um sie gegenüber oder relativ zu den Eingangssignalen E' zu platzieren und zeitgenau miteinander vergleichen zu können.
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Die Eingangssignale E' überschreiben die entsprechenden normalen Eingangssignale E des Technologiemoduls 10. Dies erfolgt in der Art und Weise, wie die Testfälle in den Signalgenerator geladen werden. Es kann auch sein, dass nicht alle Eingangssignale E überschrieben werden, mithin geforced werden, sondern einige so belassen werden, wie sie normalerweise sind.
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Eine Erläuterung der zu testenden Anlagen mit ihren Technologien erfolgt anhand von zwei Beispielen.
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2 zeigt einen Querschneider als Funktionsbild. Eine Bahn B, beispielsweise eine Wellpappe (hier symbolisiert durch die innen liegende Wellenlage und die zwei Decklagen), soll in gleich-bleibende Abschnitte aufgetrennt (zugeschnitten) werden. Dazu sind ein oberer Querschneider und ein unterer Querschneider vorgesehen, jeweils als rotierende Schneideinrichtung. Ein oberer Träger 51, der um eine Welle dreht, hat ein über seinen Außenumfang hinaus-ragendes oberes Messer 51m. In gleicher Weise hat der untere Träger 52, hier als Zylinder dargestellt, ein ebenso hervor-ragendes unteres Messer 52m. Die Messer 51m, 52m sind so aufeinander abgestimmt, dass sie gemeinsam schneiden können, beispielsweise durchdringt das obere Messer 51m die Bahn B und das untere Messer dient als Gegenlager (nach Art einer Schere), wobei die gerade Schneidfläche und die winklig geneigte Schneidfläche passend zueinander abgestimmt sind.
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Beide Schneideinrichtungen 51, 52 (mit jeweiligem Messer 51m, 52m) drehen sich mit einer jeweiligen Winkelgeschwindigkeit, ω1 für die obere Schneideinrichtung 51 und ω2 für die untere Schneideinrichtung 52. In der Technologie des Querschneiders (Quetscher) geht es darum, möglichst schnell also bei schnell laufender Bahn B eine Trennung von in Längen gleich-bleibenden Bahnabschnitten möglich zu machen, die anschließend gestapelt werden oder schuppenförmig auf langsam laufende Fördergute abgelegt werden.
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Die beiden Schneideinrichtungen, die obere Schneideinrichtung 51 und die untere Schneideinrichtung 52 werden jeweils über eigenständig angesteuerte Elektromotoren angetrieben, aufgrund der Geschwindigkeit sind es hochdynamische Antriebe (sogenannten "Drives"). Das Schneiden erfolgt, wie erläutert nach dem Scherenprinzip, wobei das obere Messer 51m, das untere Messer 52m oder beide Messer in die Bahn B eindringen und sie an einer Stelle durchtrennen, um ein kleineres Bahnstück B' der hier beispielsweise gezeigten Wellpappe zu erhalten.
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Ein weiterer Anwendungsfall, also eine weitere Technologie ist diejenige der fliegenden Säge, die anhand der 3a, 3b und 3c erläutert wird. Diese Technologie 60 betrifft auch eine Bahn B, die mit einer Geschwindigkeit v2 bewegt wird. Diese Bahn wird von zwei Walzen geführt, die mit 65a und 65b oberhalb bzw. unterhalb der Bahn B angeordnet sind und sie in Längsrichtung führen und bewegen. Die Vorrichtung 61 zum Schneiden befindet sich unterhalb der Bahn in 3a, und enthält einen Sensor für die Lage und/oder Drehzahl der Welle 68, die eine Wendel ist, oder des Motors 69 selbst, der über einen Inverter als Asynchron-Motor oder als Synchron-Motor angesteuert sein kann. Er treibt die Welle an, die am Sensor 67 angekoppelt ist, und treibt auf der anderen Seite die Wendel 68 an, welche die Sägeeinrichtung 61 in Längsrichtung v bewegt, die ein zur Bahn B ausfahrendes und wieder einfahrendes Sägeblatt 62 besitzt.
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Die beiden Walzen 65a und 65b sind hier so angeordnet, dass die untere Walze 65b der Bahnführung B eine Messung vornehmen kann, die von einem Drehzahlsensor 66 so erfasst wird, dass die Geschwindigkeit v2 dem System bekannt ist, welches die Regelungsaufgabe übernimmt. Dieses System ist hier nicht dargestellt, sondern wird von den Signalen der Drehgeber ebenso gespeist, wie es über den Inverter den Motor 69 antreibt, und auch weitere Signale abgibt, um die Sägeeinrichtung 61 so zu aktivieren, dass das Sägeblatt 62 herausfährt und in Querrichtung zur Bahnlänge die Bahn B so durchtrennt, wie das in Figur 3c gezeigt ist. Die beschleunigte Sägeeinrichtung hat dabei zuvor die Geschwindigkeit der Bahn erreicht und angenommen und während das Sägeblatt 62 nach 3b durch die mitlaufende Bahn hindurch sägt (in Querrichtung), bewegen sich Schneideinrichtung 61 und Bahn B mit gleicher Längsgeschwindigkeit. Sobald die Bahn so abgetrennt ist, dass ein vorderes Stück B" abgetrennt wurde, fällt dieses in -y-Richtung herab, und die Sägeeinrichtung 61 bewegt sich, angetrieben von dem Motor 69, der reversiert, rückwärts zur Ausgangslage zurück, die in 3a gezeigt ist.
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Auch diese Technologie lässt sich als 10'' in das Technologiemodul 10 integrieren. Daraus ergeben sich entsprechende Eingangssignale E und bei Stimulation durch den Signalgenerator 100, ohne dass die Technologie aktiv betrieben werden muss, Ausgangssignale AUS oder A, die Aufschlüsse über die Funktion oder Fehler der Anlage geben. Diese Aussage ist erhältlich, ohne dass die Anlage nach den 2 oder 3 in Betrieb genommen werden muss.
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Um die Gesamtanlage zu testen, erhält der Signalgenerator vorgefertigte Tests Tx. In den folgenden Tabellen sind mehrere vorgefertigte Tests skizzenhaft dargelegt, und zwar mit den Tests T1 bis T9 für das Querschneiden nach 2. Alternativ für die in Längsrichtung bewegte (fliegende) Säge mit den Testfällen oder vorgefertigten Tests T10 bis T18. Eine weitere Alternative bildet die hier nicht dargestellte Technologie des Pick-and-place, die auch als Anwendungsfall oder als Anlage mit 10* als Technologiemodul eingesetzt werden kann. Hier sind die vorgefertigten Tests T20 bis T25, die vorbestimmt oder vorgezeichnet sind, und als ein jeweiliger Einzelfall dem Signalgenerator 100 einprogrammiert werden können.
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So ist ein Testfall T1 ein solcher, bei dem ein langsamer Master vorhanden ist. Beim ersten Durchgang liegt auch nur eine Sollwert-Basis vor, danach ein Schneidgerät. Dieser vorgefertigte Test nennt sich Einkuppeln-Synchron-Schnitt (langsam). Ein anderer Testfall T2 ist der des Auskuppelns, bei dem Auskuppeln-Synchron-Schnitt (langsam) vorgefertigt ist. Ein weiterer Test T3 ist für einen schnellen Master, ebenso das zugehörige oder das gegensätzliche Auskuppeln mit vorgefertigtem Test T4.
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Eine Veränderung der Schnittlänge des Querschneiders 50 ist den Tests T5 und T6 zu sehen, indem diese Tests in den Signalgenerator geladen werden und die zughörigen forcierten Eingangssignale E' die normalen Eingangssignale E des digitalen Prüflings "Querschneider" überschreiben. Beim Wechsel der Schnittlänge gibt es zwei Richtungen, eine ins Schnellere und eine ins Langsamere, wie es die weiter unten-stehende Tabelle mit T5 bzw. T6 erläutert.
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Ein weiterer Testfall T7 kann eine Touch-Probe-Erkennung sein. Auch möglich sind optionale Tests, die fallabhängig sind und alternativ kundenabhängig sind, wenn spezifische Kunden bestimmte Tests verlangen, die andere Kunden nicht verlangen. Diese sind als Tests T8 und T9 als optionale Tests vorgesehen.
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Die Tests für die Säge nach den 3 ergeben sich aus der Tabelle mit den Tests T10 bis T17. Wir verweisen inhaltlich auf diese Tabelle, die weiter unten angegeben ist.
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Auch hier kann ein Test T18 vorgesehen sein, der fallabhängig ist oder kundenabhängig, oder beides ist.
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Für die Technologie des Pick-and-place sind unter anderem die Tests T20 bis T25 vorgesehen, wobei die fallabhängigen oder kundenabhängigen Tests T24 und T25 ebenfalls existieren. Ein herausgegriffener Test für das Pick-and-place ist die virtuelle Achse mit Test T20, die auch in der Bibliothek 80 der vorgefertigten Tests vorhanden ist und in den Signalgenerator 100 geladen werden kann. Sie gibt, entsprechend der vorhergehenden Darstellung, Ausgangssignale als forcierte Eingangssignale E' an den digitalen Prüfling 10* mit "Pick-and-place" Technologie (die zugehörige Technologie ist repräsentativ für oder bildet den digitalen Prüfling ab), um die normalen Eingangssignale E auf der Seite EIN zu ersetzen.
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Eine Umschreibung der Ausgangssignale E' des Signalgenerators für den Test T20 ist das Betreiben des digitalen Prüflings mit mehreren virtuellen Achsen. Soll nur eine jeweilige Achse betrieben und getestet werden, kann der Test T21 verwendet werden. Ein weiterer Test T22 parametriert alle in Betrieb genommenen Achsen des digitalen Prüflings 10*. Ein Bewegungstest T23 ist Bewegungstest Delta genannt und verursacht eine einfache Bewegung am digitalen Prüfling "Pick-and-place", um mit Delta zu verfahren.
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Werden Testlisten erstellt, so beinhalten sie die für eine Abnahme durchzuführenden Testfälle mitsamt der Testparameter in einer chronologischen Reihenfolge.
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Dies kann eine bestimmte, vorgegebene Reihenfolge der für eine Technologie verfügbaren vorgefertigten Tests sein, die individuell aus der Bibliothek abgerufen werden können. Die Bibliothek 80 ist die Summe der verfügbaren vorgefertigten Tests Tx, die nicht nur diejenigen Tests für eine Technologie, sondern für eine Vielzahl von Technologien (von mehreren digitalen Prüflingen) enthält und dann nur diejenigen für den Signalgenerator 100 abgerufen werden, die zu dem gerade aktiven digitalen Prüfling 10 passen und entsprechend der Testliste gerade abgearbeitet werden sollen.
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Ein vorgefertigter Testfall soll schematisch erläutert werden. Geht es um das Testen einer Temperaturregeleinheit, so enthält ein Testfall, der hier keine T-Nummer besitzt, den Sollwert 100 °C, eine Wartezeit von 10 min und eine Toleranz von 1 °C. Soll eine Bewegungsfunktion getestet werden, beispielsweise T20 oder T17, definiert der zugehörige Testfall die Startgeschwindigkeit so beispielsweise 10 m/sec, die Stoppzeit zu 0,5 sec und den Bremseneinfall mit 0,7 sec. Ein weiterer Testfall kann das Einkuppeln sein, so Testfall T10 oder T12 oder T3 oder T1, bei dem eine Mastergeschwindigkeit von 10 m/sec, eine Slave-Startgeschwindigkeit von 0 m/s und eine Synchronisierungszeit von 1 sec vorgegeben ist, bei einer Toleranz von 1 msec.
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Vorgeschlagene Tests für drei angegebene Technologien sind auf den Folgeseiten. Querschneiden
und verschiedenen Tests T1 bis T9 dafür
| Tx | vorgegebener Test (Testfall) | Beschreibung |
| T1 | Einkuppeln-Synchron-Schnitt langsam | Langsamer Master ... Beim ersten Durchgang nur auf Sollwertbasis, dann mit einem Schneidgerät |
| T2 | Auskuppeln-Synchron-Schnitt langsam | " " |
| T3 | Einkuppeln-Synchron-Schnitt schnell | Schneller Master |
| T4 | Auskuppeln-synchron-Schnitt schnell | " " |
| T5 | Wechsel der Schnittlänge – ins Schnellere | Erst untersynchron, dann immer kürzer Schnitte bis hin zu übersynchron |
| T6 | Wechsel der Schnittlänge – ins Langsamere | Erst übersynchron, dann immer längere Schnitte bis hin zu untersynchron |
| T7 | Touch Probe Erkennung | |
| T8 | Option 1 | fall- oder kundenabhängig |
| T9 | Option 2 | fall- oder kundenabhängig |
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Fliegende Säge
und verschiedene Tests T10 bis T17 hierfür
| Tx | vorgegebener Testfall | Beschreibung |
| T10 | Einkuppeln A | Langsamer Master |
| T11 | Auskuppeln A | |
| T12 | Einkuppeln B | Schneller Master |
| T13 | Auskuppeln B | |
| T14 | Wechsel A | ... |
| T15 | Wechsel B | ... |
| T16 | Touch Probe Erkennung | |
| T17 | Rückfahren (zurückkehren) | Erfüllung der Pendelbewegung |
| T18 | ... | fall- oder kundenabhängig |
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Pick and Place
und verschiedene Tests T20 bis T25 hierfür
| Tx | vorgegebener Testfall | Beschreibung |
| T20 | Virtuelle Achsen | Das digitale Technologiemodul mit mehreren virtuellen Achsen betreiben |
| T21 | Einzelachse A | Eine jeweilige einzelne Achse betreiben |
| T22 | Achsgruppe parametrieren | Alle in Betrieb genommenen Achsen parametrieren |
| T23 | Bewegungstest Delta | Einfache Bewegungen machen, um Delta verfahren. |
| T24 | ... | fall- oder kundenabhängig |
| T25 | ... | fall- oder kundenabhängig |
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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