DE102015101343A1 - CVD reactor with three-dimensionally structured process chamber ceiling - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Beschichten von Substraten, wobei durch eine Gaszuführung Prozessgase in eine Prozesskammer eines CVD-Reaktors gebracht werden, die sich auf dem darin angeordneten und von einer Heizeinrichtung beheizten Substrat und auf Oberflächen von Komponenten (10) der Prozesskammer pyrolytisch zerlegen und eine Beschichtung der Oberfläche bilden, wobei mindestens eine Oberfläche einer Komponente (10) durch räumliche Strukturierungselemente (11, 12) gebildete Teilflächen aufweist. Erfindungsgemäß unterteilen die Strukturierungselemente (12) die Oberfläche in eine Vielzahl von in einer gemeinsamen Ebene liegende Teilflächen (11) und sind Gräben oder Rippen.The invention relates to a device for coating substrates, are brought by a gas supply process gases in a process chamber of a CVD reactor, which pyrolytically decomposed on the therein and heated by a heater substrate and surfaces of components (10) of the process chamber form a coating of the surface, wherein at least one surface of a component (10) by spatial structuring elements (11, 12) formed part surfaces. According to the invention, the structuring elements (12) divide the surface into a multiplicity of partial surfaces (11) lying in a common plane and are trenches or ribs.
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Beschichten von Substraten sowie eine in einer derartigen Vorrichtung verwendbare Komponente.The invention relates to a device and a method for coating substrates as well as a component which can be used in such a device.
Derartige Verfahren bzw. Vorrichtungen sind beispielsweise aus den
Die
Die
Bei dem bekannten Verfahren wird durch die Gaszuführung ein aus einer metallorganischen Komponente und einem Hydrid bestehendes Prozessgas von einem Trägergas in die Prozesskammer gebracht. Die metallorganische Komponente enthält ein Element der III-Hauptgruppe, beispielsweise Ga, In oder Al. Das Hydrid enthält ein Element der V-Hauptgruppe, beispielsweise N, P, As. Das Trägergas ist Wasserstoff. Die Substrate liegen auf einem Suszeptor auf, der den Boden der Prozesskammer ausbildet. Der Suszeptor wird von unten her mit einer Heizeinrichtung beheizt, so dass die Oberflächen der auf dem Suszeptor aufliegenden Substrate eine Depositionstemperatur erreichen, bei der sich die Prozessgase pyrolytisch zerlegen und auf der Oberfläche eine Beschichtung abscheiden.In the known method, a gas consisting of an organometallic component and a hydride process gas is brought from a carrier gas in the process chamber by the gas supply. The organometallic component contains an element of the III main group, for example Ga, In or Al. The hydride contains an element of the V main group, for example N, P, As. The carrier gas is hydrogen. The substrates rest on a susceptor which forms the bottom of the process chamber. The susceptor is heated from below with a heating device, so that the surfaces of the substrates resting on the susceptor reach a deposition temperature at which the process gases decompose pyrolytically and deposit a coating on the surface.
In der Prozesskammer gibt es Komponenten, die eine dem Prozessgas ausgesetzte Oberfläche aufweisen. Eine derartige Komponente kann beispielsweise die Prozesskammerdecke sein, die Gasaustrittfläche des shower heads, der Boden der Prozesskammer oder ein Gasauslasselement, welches ringförmig die Prozesskammer umgibt. Darüber hinaus können anderweitige Komponenten innerhalb der Prozesskammer angeordnet sein. Die mindestens eine Komponente besitzt eine Oberfläche, die dem Prozessgas ausgesetzt ist. Die Oberfläche kann darüber hinaus auch eine erhöhte Temperatur aufweisen. Während des Abscheideprozesses belegt sich die Oberfläche der Komponente mit einer Beschichtung. Vor jedem Abscheidezyklus wird die Prozesskammer von einer Be- und Entladetemperatur auf eine Prozesstemperatur aufgeheizt. Nach dem Beschichtungsprozess wird die Prozesskammer wieder auf eine Be- und Entladetemperatur abgekühlt. Dabei erwärmt sich die Temperatur der Oberfläche der Komponente um mehrere hundert Grad bzw. kühlt sich um mehrere hundert Grad ab. Die Komponente besteht üblicherweise aus Kohlenstoff oder aus Molybdän, sie kann aber auch aus einem keramischen Werkstoff oder aus Quarz bestehen. Diese Oberflächen werden während der Beschichtungsschritte mit parasitären Belegungen beschichtet. Aufgrund einer Verschiedenheit des Wärmeausdehnungskoeffizienten der Schicht und der die Oberfläche bildenden Komponente kommt es beim Aufheizen bzw. Abkühlen zu Scherspannungen zwischen der parasitären Beschichtung und der sie tragenden Oberfläche der Komponente. Dies hat insbesondere nach mehreren Prozessschritten, bei denen die Beschichtung eine vergleichsweise große Schichtdicke erreicht hat, die Folge, dass Abschnitte der Beschichtung abscheren oder abblättern. Die dabei erfolgte Partikelbildung führt zu Ausschüssen bei den beschichteten Substraten, wenn die Partikel sich auf einem der Substrate niederschlagen.In the process chamber there are components which have a surface exposed to the process gas. Such a component can be, for example, the process chamber ceiling, the gas outlet surface of the shower head, the bottom of the process chamber or a gas outlet element which surrounds the process chamber in a ring shape. In addition, other components may be disposed within the process chamber. The at least one component has a surface that is exposed to the process gas. In addition, the surface may also have an elevated temperature. During the deposition process, the surface of the component becomes covered with a coating. Before each deposition cycle, the process chamber is heated from a loading and unloading temperature to a process temperature. After the coating process, the process chamber is cooled again to a loading and unloading temperature. The temperature of the surface of the component heats up by several hundred degrees or cools by several hundred degrees. The component usually consists of carbon or of molybdenum, but it can also consist of a ceramic material or of quartz. These surfaces are coated with parasitic coatings during the coating steps. Due to a difference in the coefficient of thermal expansion of the layer and the component forming the surface, during the heating or cooling, shear stresses occur between the parasitic coating and the surface of the component carrying it. This has the consequence, in particular after several process steps in which the coating has reached a comparatively large layer thickness, that sections of the coating shear or peel off. The resulting particle formation leads to committees in the coated substrates when the particles precipitate on one of the substrates.
Derartige parasitäre Belegungen bilden sich insbesondere an der Prozesskammerdecke bzw. der Gasaustrittsfläche eines „shower heads”. Diese Komponenten bestehen üblicherweise aus Graphit. Die Rückseite dieser Komponente besitzt eine von der den Prozessgasen exponierten Oberfläche abgewandte Fläche, die beschichtet ist. Diese Rückseite ist pyrolytisch beschichtet, damit das poröse Graphit gasdicht ist.Such parasitic coatings are formed, in particular, on the process chamber ceiling or the gas outlet surface of a "shower head". These components usually consist of graphite. The back side of this component has an area facing away from the surface exposed to the process gases, which is coated. This reverse side is pyrolytically coated so that the porous graphite is gas-tight.
Zum Stand der Technik gehört ferner die in der
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Anzahl der Reinigungszyklen bei einer gattungsgemäßen Vorrichtung zu vermindern.The invention has for its object to reduce the number of cleaning cycles in a generic device.
Gelöst wird die Aufgabe durch die in den Ansprüchen angegebene Erfindung, wobei jeder Anspruch grundsätzlich eine eigenständige Lösung der Aufgabe darstellt.The object is achieved by the invention specified in the claims, each claim is basically an independent solution to the problem.
Zunächst und im Wesentlichen wird eine besondere Strukturierung der dem Prozessgas ausgesetzten Oberfläche der Komponente vorgeschlagen. Die Oberfläche bekommt erfindungsgemäß eine räumliche Strukturierung, mit der verhindert wird, dass die Beschichtung durch die beim Abkühlen oder Aufheizen auftretenden Scherspannungen zwischen Beschichtung und Oberfläche abschert. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden durch eine Gaszuführung Prozessgase in die Prozesskammer gebracht. In der Prozesskammer befinden sich Substrate, die von einer Heizeinrichtung auf eine Depositionstemperatur beheizt werden. In der Prozesskammer befinden sich weitere Komponenten, die Oberflächen aufweisen, die dem in die Prozesskammer eingespeisten Prozessgas ausgesetzt sind und die beim Durchführen des Abscheideprozesses auf eine erhöhte Temperatur aufgeheizt werden und die sich nach dem Abscheideprozess wieder abkühlen. Durch eine pyrolytische Oberflächenreaktion werden die Oberflächen der Substrate und die Oberfläche der Komponente mit einer Beschichtung beschichtet, wobei der Temperaturausdehnungskoeffizient der auf der Oberfläche der Komponente abgeschiedenen Beschichtung ein anderer ist als der Temperaturausdehnungskoeffizient der die Oberfläche ausbildenden Komponente. Erfindungsgemäß ist die Oberfläche dieser Komponente derart räumlich strukturiert, dass die Beschichtung durch die beim Abkühlen und Aufheizen auftretenden Scherspannungen zwischen Beschichtung und Oberfläche nicht abschert. Es ist vorgesehen, dass die Vorrichtung eine Oberfläche einer Komponente aufweist, die durch Strukturelemente in Teilflächen unterteilt ist. Die sich durch die Strukturelemente gebildeten Teilflächen liegen in einer gemeinsamen Ebene. Die Strukturelemente können Gräben oder Rippen sein, mit denen die Teilflächen von benachbarten Teilflächen getrennt sind. Die Teilflächen können rechteckige Formen oder runde Formen aufweisen. Sie können schachbrettartig oder hexagonal angeordnet sein. Die Teilflächen sind ebene Flächen. Die Teilflächen besitzen eine minimale Erstreckungslänge und eine maximale Erstreckungslänge. Sie besitzen eine minimale Oberfläche, die dem Kreisäquivalent mit einem Durchmesser der geringsten Erstreckungslänge entspricht. Sie besitzen eine maximale Oberfläche, die dem Kreisäquivalent mit einem Durchmesser der maximalen Erstreckungslänge entspricht. Die minimale Erstreckungslänge beträgt bevorzugt 0,01 mm. Die maximale Erstreckungslänge kann 5 mm, 3 mm, 2 mm oder bevorzugt 1 mm betragen. Bevorzugt werden die Teilflächen von Rechteckflächen ausgebildet, die eine Kantenlänge von etwa 0,5 mm besitzen. Die die Teilflächen voneinander trennenden Strukturelemente können eine Vertikalerstreckung quer zur Erstreckungsrichtung der Fläche besitzen, die im Bereich 0,1 mm bis 1 mm, bevorzugt in einem Bereich 0,1–0,5 mm liegt. Optimal ist eine Vertikalerstreckung von 0,35 mm. Es wird als besonders bevorzugt angesehen, wenn die Strukturierungselemente Gräben mit Schrägflanken sind, wobei Flankenwinkel im Bereich von 30–80°, insbesondere im Bereich von 50–70° bevorzugt sind. Bevorzugt liegt der Flankenwinkel bei 60°, es ergibt sich dadurch eine gitternetzartige Struktur von Schrägflanken aufweisenden Gräben, die rechteckige Teilflächen voneinander trennen. Der Werkstoff der Komponente ist bevorzugt Graphit. Die von der strukturierten Oberfläche weg weisende Oberfläche der Komponente kann gasdicht mit einer pyro-c-Beschichtung beschichtet sein. Es ist aber auch vorgesehen, dass die zur Prozesskammer weisende Oberfläche der Komponente derartig beschichtet ist. Insbesondere ist vorgesehen, dass die Komponente eine Oberflächenbeschichtung SiC oder TaC besitzt. Die erfindungsgemäße Komponente kann ein Wandungselement der Prozesskammer, eine Prozesskammerdecke, ein Prozesskammerboden, ein Gaseinlassorgan oder ein Gasauslassorgan sein. Die Komponente kann aus mehreren Teilen bestehen. Sie besitzt zumindest eine Oberfläche, die in der zuvor beschriebenen Weise strukturiert ist. Die dabei entstehenden Teilflächen können die Flächen von Pyramiden oder von Pyramidenstümpfen sein. Die Strukturierung erfolgt bevorzugt mit einem spannabhebenden Verfahren, bspw. durch Einfräsen oder Einschleifen von Gräben in eine glattwandige Oberfläche. Die Grabentiefe ist bevorzugt größer als die zulässige Abscheiderate der Beschichtungsanlage. Mit der Beschichtungsanlage wird aufeinanderfolgend eine Vielzahl von Beschichtungsprozessen durchgeführt, bei denen mehrfach ein Substratwechsel stattfindet. Erst nach einer Vielzahl derartiger Prozessschritte wird die Prozesskammer bspw. durch Einleiten eines Ätzgases gereinigt. Es ist aber auch vorgesehen, die beschichteten Komponenten außerhalb der Prozesskammer zu reinigen. Durch die erfindungsgemäße Strukturierung der Oberfläche der Komponente ist die Anzahl der Reinigungszyklen vermindert worden. Die Anzahl der Prozessschritte, die zwischen zwei Reinigungsschritten durchgeführt werden können, ist vergrößert worden. Die einzelnen Flächen werden durch Gräben, insbesondere sich kreuzende Gräben, gegen benachbarte Teilflächen abgegrenzt. Die Gräben können einen V-förmigen Querschnitt aufweisen. Es ist aber auch möglich, dass die Gräben einen gerundeten Querschnitt aufweisen. Es kann sich somit im Querschnitt eine Wellenform ausbilden. First and foremost, a special structuring of the surface of the component exposed to the process gas is proposed. According to the invention, the surface acquires a spatial structuring which prevents the coating from shearing off between the coating and the surface due to the shear stresses occurring during cooling or heating. In the method according to the invention process gases are brought into the process chamber by a gas supply. In the process chamber are substrates that are heated by a heater to a deposition temperature. In the process chamber there are further components which have surfaces which are exposed to the process gas fed into the process chamber and which are heated to an elevated temperature during the execution of the deposition process and which cool down again after the deposition process. By means of a pyrolytic surface reaction, the surfaces of the substrates and the surface of the component are coated with a coating, the coefficient of thermal expansion of the coating deposited on the surface of the component being different from the coefficient of thermal expansion of the surface-forming component. According to the invention, the surface of this component is spatially structured such that the coating does not shear off due to the shear stresses between the coating and the surface which occur during cooling and heating. It is envisaged that the device has a surface of a component which is subdivided into partial areas by structural elements. The partial surfaces formed by the structural elements lie in a common plane. The structural elements may be trenches or ribs with which the partial surfaces are separated from adjacent partial surfaces. The faces may have rectangular shapes or round shapes. They can be arranged like a checkerboard or a hexagon. The faces are flat surfaces. The partial surfaces have a minimum extension length and a maximum extension length. They have a minimum surface area corresponding to the circle equivalent with a diameter of the smallest extension length. They have a maximum surface area corresponding to the circle equivalent with a diameter of the maximum extension length. The minimum extension length is preferably 0.01 mm. The maximum extension length may be 5 mm, 3 mm, 2 mm or preferably 1 mm. The partial surfaces are preferably formed by rectangular surfaces which have an edge length of approximately 0.5 mm. The structural elements separating the partial surfaces can have a vertical extension transverse to the direction of extent of the surface, which is in the range of 0.1 mm to 1 mm, preferably in a range of 0.1-0.5 mm. Optimal is a vertical extension of 0.35 mm. It is considered to be particularly preferred if the structuring elements are trenches with inclined flanks, wherein flank angles in the range of 30-80 °, in particular in the range of 50-70 ° are preferred. Preferably, the flank angle is 60 °, this results in a grid-like structure of inclined flanks having trenches that separate rectangular faces from each other. The material of the component is preferably graphite. The surface of the component pointing away from the structured surface may be coated in a gas-tight manner with a pyro-c coating. However, it is also envisaged that the surface of the component facing the process chamber is coated in this way. In particular, it is provided that the component has a surface coating SiC or TaC. The component according to the invention may be a wall element of the process chamber, a process chamber ceiling, a process chamber floor, a gas inlet element or a gas outlet element. The component can consist of several parts. It has at least one surface, which is structured in the manner described above. The resulting partial surfaces can be the surfaces of pyramids or of truncated pyramids. The structuring is preferably carried out by means of a tension-lifting process, for example by milling or grinding trenches into a smooth-walled surface. The trench depth is preferably greater than the permissible deposition rate of the coating system. With the coating system, a plurality of coating processes is carried out in succession, in which multiple substrate changes take place. Only after a plurality of such process steps is the process chamber cleaned, for example, by introducing an etching gas. However, it is also intended to clean the coated components outside the process chamber. Due to the structuring according to the invention of the surface of the component, the number of cleaning cycles has been reduced. The number of process steps that can be performed between two cleaning steps has been increased. The individual areas are delimited by trenches, in particular intersecting trenches, against adjacent partial areas. The trenches may have a V-shaped cross section. But it is also possible that the trenches have a rounded cross-section. It can thus form a waveform in cross section.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand beigefügter Zeichnungen erläutert. Es zeigen:Embodiments of the invention are explained below with reference to accompanying drawings. Show it:
Bei dem in der
Im Zentrum der Prozesskammer befindet sich ein Gaseinlassorgan
Unterhalb des Suszeptors
Eine Zerlegung der Prozessgasse und ein Abscheideprozess findet nicht nur auf den Substraten
Die
Bei den zuvor beschriebenen Ausführungsbeispielen wird mit der Bezugsziffer
Einen vergrößerten Ausschnitt einer derartigen Oberfläche einer Komponente
Aus der
Die
Die
Die Oberflächenstrukturierungen
Es kommt lediglich zu Rissen in der Beschichtung die aber entlang der Randstrukturierungselemente
Die Rückseitenfläche in der Komponente ist mit pyro-c beschichtet.The back surface in the component is coated with pyro-c.
Die vorstehenden Ausführungen dienen der Erläuterung der von der Anmeldung insgesamt erfassten Erfindungen, die den Stand der Technik zumindest durch die folgenden Merkmalskombinationen jeweils auch eigenständig weiterbilden, nämlich:
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Strukturierungselemente
A device characterized in that the
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Strukturierungselemente
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Teilflächen
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Strukturierungselemente
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Strukturierungselemente
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Strukturierungselemente
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Oberfläche und/oder eine von der Oberfläche weg weisende Rückseite der Komponente
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die räumliche Strukturierung der Oberfläche durch eine mechanische Bearbeitung erzeugt ist.A device, which is characterized in that the spatial structuring of the surface is produced by a mechanical processing.
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Komponente ein Wandungselement der Prozesskammer, eine Prozesskammerdecke
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Teilfläche
Eine Komponente, die dadurch gekennzeichnet ist, dass durch eine räumliche Strukturierung der Oberfläche verhindert ist, dass eine Beschichtung durch die beim Abkühlen oder Aufheizen auftretenden Scherspannungen zwischen Beschichtung und Oberfläche abschert.A component characterized in that a spatial structuring of the surface prevents a coating from shearing between the coating and the surface due to the shear stresses occurring during cooling or heating.
Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass auf den Teilflächen
Alle offenbarten Merkmale sind (für sich, aber auch in Kombination untereinander) erfindungswesentlich. In die Offenbarung der Anmeldung wird hiermit auch der Offenbarungsinhalt der zugehörigen/beigefügten Prioritätsunterlagen (Abschrift der Voranmeldung) vollinhaltlich mit einbezogen, auch zu dem Zweck, Merkmale dieser Unterlagen in Ansprüche vorliegender Anmeldung mit aufzunehmen. Die Unteransprüche charakterisieren mit ihren Merkmalen eigenständige erfinderische Weiterbildungen des Standes der Technik, insbesondere um auf Basis dieser Ansprüche Teilanmeldungen vorzunehmen.All disclosed features are essential to the invention (individually, but also in combination with one another). The disclosure of the associated / attached priority documents (copy of the prior application) is hereby also incorporated in full in the disclosure of the application, also for the purpose of including features of these documents in claims of the present application. The subclaims characterize with their features independent inventive developments of the prior art, in particular to make on the basis of these claims divisional applications.
Bezugszeichenliste LIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- Reaktorreactor
- 22
- Suszeptorsusceptor
- 33
- Substratsubstratum
- 44
- ProzesskammerdeckeProcess chamber ceiling
- 55
- GasaustrittsflächeDischarge area
- 66
- GasaustrittsorganGas output member
- 77
- GasaustrittsöffnungGas outlet
- 88th
- Gasauslassorgangas outlet
- 99
- Heizungheater
- 1010
- Komponentecomponent
- 1111
- Teilflächesubarea
- 1212
- Gräbentrenches
- aa
- Breitewidth
- bb
- Längelength
- tt
- Tiefedepth
- SS
- Rotationsachseaxis of rotation
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- DE 102005056320 A1 [0002, 0018] DE 102005056320 A1 [0002, 0018]
- DE 102008055582 A1 [0002, 0018] DE 102008055582 A1 [0002, 0018]
- DE 102009043840 A1 [0003, 0022] DE 102009043840 A1 [0003, 0022]
- US 2014/0230722 A1 [0004] US 2014/0230722 A1 [0004]
- US 6132566 [0008] US 6132566 [0008]
- US 2013/0003785 A1 [0008] US 2013/0003785 A1 [0008]
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---|---|
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Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3606959A1 (en) * | 1986-03-04 | 1987-09-10 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | DEVICE FOR PLASMA TREATMENT OF SUBSTRATES IN A PLASMA DISCHARGE EXCITED BY HIGH FREQUENCY |
EP0797753B1 (en) * | 1994-08-30 | 1999-03-24 | Vortek Industries Ltd. | Rapid thermal processing apparatus and method |
US6132566A (en) | 1998-07-30 | 2000-10-17 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for sputtering ionized material in a plasma |
US20020036064A1 (en) * | 1999-12-02 | 2002-03-28 | Tegal Corporation | Reactor with heated and textured electrodes and surfaces |
US6450117B1 (en) * | 2000-08-07 | 2002-09-17 | Applied Materials, Inc. | Directing a flow of gas in a substrate processing chamber |
DE102005056320A1 (en) | 2005-11-25 | 2007-06-06 | Aixtron Ag | CVD reactor with a gas inlet member |
DE102008055582A1 (en) | 2008-12-23 | 2010-06-24 | Aixtron Ag | MOCVD reactor with cylindrical gas inlet member |
DE102009043840A1 (en) | 2009-08-24 | 2011-03-03 | Aixtron Ag | CVD reactor with strip-like gas inlet zones and method for depositing a layer on a substrate in such a CVD reactor |
US20120258280A1 (en) * | 2011-04-11 | 2012-10-11 | Applied Materials, Inc. | Extended life textured chamber components and method for fabricating same |
US20130003785A1 (en) | 2009-08-18 | 2013-01-03 | Broadcom Corporation | Method and System for Interference Suppression Using Information From Non-Listened Base Stations |
US20140230722A1 (en) | 2011-08-05 | 2014-08-21 | Showa Denko K.K. | Epitaxial wafer manufacturing device and manufacturing method |
-
2015
- 2015-01-29 DE DE102015101343.6A patent/DE102015101343A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3606959A1 (en) * | 1986-03-04 | 1987-09-10 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | DEVICE FOR PLASMA TREATMENT OF SUBSTRATES IN A PLASMA DISCHARGE EXCITED BY HIGH FREQUENCY |
EP0797753B1 (en) * | 1994-08-30 | 1999-03-24 | Vortek Industries Ltd. | Rapid thermal processing apparatus and method |
US6132566A (en) | 1998-07-30 | 2000-10-17 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for sputtering ionized material in a plasma |
US20020036064A1 (en) * | 1999-12-02 | 2002-03-28 | Tegal Corporation | Reactor with heated and textured electrodes and surfaces |
US6450117B1 (en) * | 2000-08-07 | 2002-09-17 | Applied Materials, Inc. | Directing a flow of gas in a substrate processing chamber |
DE102005056320A1 (en) | 2005-11-25 | 2007-06-06 | Aixtron Ag | CVD reactor with a gas inlet member |
DE102008055582A1 (en) | 2008-12-23 | 2010-06-24 | Aixtron Ag | MOCVD reactor with cylindrical gas inlet member |
US20130003785A1 (en) | 2009-08-18 | 2013-01-03 | Broadcom Corporation | Method and System for Interference Suppression Using Information From Non-Listened Base Stations |
DE102009043840A1 (en) | 2009-08-24 | 2011-03-03 | Aixtron Ag | CVD reactor with strip-like gas inlet zones and method for depositing a layer on a substrate in such a CVD reactor |
US20120258280A1 (en) * | 2011-04-11 | 2012-10-11 | Applied Materials, Inc. | Extended life textured chamber components and method for fabricating same |
US20140230722A1 (en) | 2011-08-05 | 2014-08-21 | Showa Denko K.K. | Epitaxial wafer manufacturing device and manufacturing method |
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