DE102015002094B3 - Method for determining the thickness of a rolled strip - Google Patents

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Roland Priem
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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Walzbandes mit einem oberen und einem unteren Laserabstandssensor, die jeweils eine Einrichtung zur Belichtungssteuerung aufweisen, und einer Auswerteelektronik. Das Problem derzeit bekannter Verfahren besteht darin, dass die Messfrequenz relativ niedrig ist und sich hierdurch Nachteile hinsichtlich der Genauigkeit des Messprozesses ergeben. Die Lösung des Problems ergibt sich aus den folgenden Verfahrensschritten gemäß den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruchs 1: – Jeder Laserabstandssensor meldet seine individuell berechnete Belichtungszeit für die nächste Messwertaufnahme an die Auswerteelektronik; – Die Auswerteelektronik berechnet für jeden Laserabstandssensor den optimalen Startpunkt der nächsten Belichtung, wobei die Berechnung so durchgeführt wird, dass eine möglichst symmetrische zeitliche Überlappung der Messungen erreicht wird; – Die Auswerteelektronik übermittelt einen individuellen Impuls zum Start der Messung an jeden Laserabstandssensor.The invention relates to a method for determining the thickness of a rolled strip with an upper and a lower laser distance sensor, each having a device for exposure control, and an evaluation. The problem of currently known methods is that the measuring frequency is relatively low, which results in disadvantages with regard to the accuracy of the measuring process. The solution of the problem results from the following method steps according to the characterizing features of claim 1: each laser distance sensor reports its individually calculated exposure time for the next measured value recording to the evaluation electronics; - The transmitter calculates for each laser distance sensor the optimal starting point of the next exposure, wherein the calculation is performed so that the most symmetrical temporal overlap of the measurements is achieved; - The transmitter transmits an individual pulse to start the measurement to each laser distance sensor.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Walzbandes mit einem oberen und einem unteren Laserabstandssensor, die jeweils eine Einrichtung zur Belichtungssteuerung aufweisen, und einer Auswerteelektronik.The invention relates to a method for determining the thickness of a rolled strip with an upper and a lower laser distance sensor, each having a device for exposure control, and an evaluation.

Ein derartiges Verfahren ist aus dem druckschriftlich nicht belegbaren Stand der Technik allgemein bekannt. Hierbei führt der obere wie auch der untere Laserabstandssensor jeweils eine Abstandsmessung aus, das heißt er misst den Abstand vom Sensor bis zur Bandoberfläche beziehungsweise Bandunterfläche. Aus der Summe der beiden Abstandsmesswerte (oberer und unterer Sensor) und einer Konstanten (Abstand der beiden Sensoren zueinander) wird ein Dickenmesswert berechnet. Die Dickenmesswerte werden anschließend noch gefiltert, bevor sie dem entsprechenden Bandabschnitt zugeordnet werden. Aus einer Vielzahl von Dickenmesswerten entsteht dann das Dickenprofil für einen sogenannten Walzstich. Bei diesem bekannten Verfahren wird von der Auswerteelektronik zunächst für beide Laserabstandssensoren gemeinsam vor dem Start der Abstandsmessungen die maximal mögliche Belichtungszeit errechnet. Diese ergibt sich einerseits durch die technischen Möglichkeiten der beiden Messgeräte sowie der nachgeschalteten Datenverarbeitung und den Verlust von Laserleistung durch Alterung und die Verringerung der Transparenz des Sensorfensters. Andererseits haben bei der Berechnung der maximalen Belichtungszeit auch die Oberflächenbeschaffenheit und die Erscheinung des Walzbandes, wie z. B. Farbe, Rauigkeit, Glanz, Benetzung, eine Bedeutung.Such a method is generally known from the prior art document which can not be assigned by reference. In this case, the upper as well as the lower laser distance sensor each performs a distance measurement, that is, it measures the distance from the sensor to the belt surface or lower belt surface. From the sum of the two distance measured values (upper and lower sensor) and a constant (distance of the two sensors to each other), a thickness measured value is calculated. The thickness readings are then filtered before being assigned to the corresponding band section. From a large number of thickness measured values, the thickness profile for a so-called roll pass arises. In this known method, the maximum possible exposure time is first calculated by the evaluation electronics for both laser distance sensors together before the start of the distance measurements. This results on the one hand from the technical possibilities of the two measuring devices and the downstream data processing and the loss of laser power due to aging and the reduction of the transparency of the sensor window. On the other hand, in the calculation of the maximum exposure time, the surface texture and the appearance of the rolled strip, such. As color, roughness, gloss, wetting, a meaning.

Somit wird beim Stand der Technik, unabhängig von der tatsächlichen Belichtungszeit jedes einzelnen Laserabstandssensors, von der Auswerteelektronik die maximale Belichtungszeit festgelegt, welche so groß gewählt ist, dass vor Beginn der nächsten Abstandsmessungen mit Sicherheit auch die vorherigen Abstandsmessungen abgeschlossen sind.Thus, in the prior art, regardless of the actual exposure time of each individual laser distance sensor, the transmitter determines the maximum exposure time, which is chosen so large that before the next distance measurements with certainty, the previous distance measurements are completed.

Dies bedeutet konkret, dass die Auswerteeinheit vor Beginn eines Walzstichs – also vor einer Verringerung der Dicke des Walzbandes innerhalb einer Rollenanordnung – die maximale Belichtungszeit für beide Laserabstandssensoren statisch festlegt. In diese Festlegung gehen zum Beispiel die erwartete Oberflächenbeschaffenheit des Bandes und die maximale Laserleistung der beiden Abstandssensoren ein. Da die Festlegung für den gesamten Walzstich gilt, muss eine Worst-Case-Annahme getroffen werden, die erreichbare Messfrequenz ist dementsprechend gering. Zusätzlich besteht die Gefahr, dass bei zu hoch eingestellter Messfrequenz auf einem längeren zusammenhängenden Bandabschnitt wegen Unterbelichtung keine Dickenwerte ermittelt werden können. Dies kann letztendlich auch zum Versagen der Walzenregelung führen.Specifically, this means that before the start of a rolling pass - ie before a reduction in the thickness of the rolled strip within a roller assembly - the evaluation unit statically sets the maximum exposure time for both laser distance sensors. This definition includes, for example, the expected surface condition of the strip and the maximum laser power of the two distance sensors. Since the specification applies to the entire rolling pass, a worst-case assumption must be made, the achievable measuring frequency is correspondingly low. In addition, there is the danger that, if the measurement frequency is set too high, no thickness values can be determined on a longer contiguous band section due to underexposure. This can eventually lead to failure of the roller control.

Zusammenfassend weist dieses Verfahren nach dem Stand der Technik somit den Nachteil auf, dass die Messfrequenz relativ niedrig ist und sich hierdurch Nachteile hinsichtlich der Genauigkeit des Messprozesses ergeben. In diesem Zusammenhang ist zu berücksichtigen, dass die heute geforderte Messgenauigkeit sich im Bereich von wenigen μm (1 μm = 10–6 m) bewegt.In summary, this method according to the prior art thus has the disadvantage that the measuring frequency is relatively low, resulting in disadvantages with regard to the accuracy of the measuring process. In this context, it should be noted that the measurement accuracy required today is in the range of a few μm (1 μm = 10 -6 m).

Des Weiteren ist aus der WO 1996 003 616 A1 ein Banddickenmessgerät bekannt, welches die Optik zur Messung der Banddicke mittels zweier Laserabstandssensoren offenbart.Furthermore, from the WO 1996 003 616 A1 a strip thickness measuring device is known, which discloses the optics for measuring the strip thickness by means of two laser distance sensors.

Ausgehend von dem zunächst beschriebenen Stand der Technik besteht die Aufgabe der Erfindung deshalb darin, ein neues Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Walzbandes mit einem oberen und einem unteren Laserabstandssensor zu schaffen, welches einerseits eine höhere Messfrequenz aufweist und andererseits den Alterungsprozess der Messgeräte automatisch kompensiert.Based on the prior art described above, the object of the invention is therefore to provide a new method for determining the thickness of a rolled strip with an upper and a lower laser distance sensor, which on the one hand has a higher measuring frequency and on the other hand automatically compensates the aging process of the measuring devices.

Die Lösung der Aufgabe ergibt sich aus den Merkmalen des Anspruchs 1, welcher durch folgende Verfahrensschritte gekennzeichnet ist:

  • – Jeder Laserabstandssensor meldet seine individuell berechnete Belichtungszeit für die nächste Messwertaufnahme an die Auswerteelektronik;
  • – Die Auswerteelektronik berechnet für jeden Laserabstandssensor den optimalen Startpunkt der nächsten Belichtung, wobei die Berechnung so durchgeführt wird, dass eine möglichst symmetrische zeitliche Überlappung der Messungen erreicht wird;
  • – Die Auswerteelektronik übermittelt einen individuellen Impuls zum Start der Messung an jeden Laserabstandssensor.
The solution of the problem results from the features of claim 1, which is characterized by the following method steps:
  • - Each laser distance sensor reports its individually calculated exposure time for the next measurement acquisition to the transmitter;
  • - The transmitter calculates for each laser distance sensor the optimal starting point of the next exposure, wherein the calculation is performed so that the most symmetrical temporal overlap of the measurements is achieved;
  • - The transmitter transmits an individual pulse to start the measurement to each laser distance sensor.

Das erfindungsgemäße Verfahren hat den wesentlichen Vorteil, dass die Messfrequenz einerseits vergrößert wird und andererseits sich die Genauigkeit des Messprozesses vergrößert.The inventive method has the significant advantage that the measurement frequency is increased on the one hand and on the other hand, the accuracy of the measurement process increases.

Wesentlich für das erfindungsgemäße Verfahren ist hierbei, dass die Auswerteelektronik bei der Steuerung und Regelung der Dickenmessungen nicht von einer „langen” statischen Belichtungszeit ausgeht, sondern die „kürzere” individuelle Belichtungszeit der einzelnen Laserabstandssensoren berücksichtigt. Diese werden in Abhängigkeit von der Oberflächenbeschaffenheit und Erscheinung des Walzbandes, wie z. B. Farbe, Rauigkeit, Glanz, Benetzung etc. und andererseits auch unter Berücksichtigung der sich auf der Zeitachse ergebenden altersbedingten Veränderungen der einzelnen Komponenten des Laserabstandssensors ermittelt.In this case, it is essential for the method according to the invention that the evaluation electronics do not assume a "long" static exposure time in the control and regulation of the thickness measurements, but take into account the "shorter" individual exposure time of the individual laser distance sensors. These are depending on the surface texture and appearance of the rolled strip, such. As color, roughness, gloss, wetting, etc. and on the other hand, taking into account the resulting on the time axis determined age-related changes of the individual components of the laser distance sensor.

Im Ergebnis wird erfindungsgemäß bei jeder Dickenmessung die Differenz zwischen der größten individuell berechneten Belichtungszeit der Laserabstandssensoren und der maximalen Belichtungszeit (nach dem Stand der Technik) eingespart, so dass deutlich mehr Messungen pro Zeiteinheit durchgeführt werden können.As a result, according to the invention, the difference between the largest individually calculated exposure time of the laser distance sensors and the maximum exposure time (according to the prior art) is saved with each thickness measurement, so that significantly more measurements per unit of time can be carried out.

Hinzu kommt auf vorteilhafte Weise, dass die Messungen des oberen und unteren Abstandssensors auf optimale Weise synchronisiert sind und auch Bandschwingungen aufgrund der höheren Messfrequenz wesentlich besser kompensiert werden können.In addition, it is advantageous that the measurements of the upper and lower distance sensor are synchronized in an optimal way and also band vibrations due to the higher measurement frequency can be compensated much better.

Des Weiteren ist zu beachten, dass auf unerwartet hohen Lichtbedarf flexibel reagiert werden kann. Statt eines Komplettausfalls durch Unterbelichtung kommt es nur zu einer vorübergehenden Verschlechterung der Messgenauigkeit. Die Walzenspaltregelung kann weiter betrieben werden.Furthermore, it should be noted that it is possible to respond flexibly to unexpectedly high light requirements. Instead of a complete failure due to underexposure, there is only a temporary deterioration of the measurement accuracy. The nip control can continue to operate.

Bei einer vorteilhaften Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens beträgt die Frequenz der Dickenmessung zwischen > 30 kHz und < 100 kHz.In an advantageous embodiment of the method according to the invention, the frequency of the thickness measurement is between> 30 kHz and <100 kHz.

Zusammenfassend ermöglicht das erfindungsgemäße Verfahren eine deutlich höhere Genauigkeit der Dickenmessungen aufgrund einer größeren Anzahl von Messungen pro Zeiteinheit.In summary, the inventive method allows a much higher accuracy of the thickness measurements due to a larger number of measurements per unit time.

Weitere Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung eines Ausführungsbeispiels. Es zeigen:Further advantages of the invention will become apparent from the following description of an embodiment. Show it:

1 eine teilweise schematische Darstellung eines Walzwerks, 1 a partial schematic representation of a rolling mill,

2 eine Teildarstellung des Bereichs II in 1, 2 a partial representation of the area II in 1 .

3 eine Darstellung der „Messfrequenz” nach dem Stand der Technik und 3 a representation of the "measurement frequency" according to the prior art and

4 eine Darstellung der „Messfrequenz” nach dem erfindungsgemäßen Verfahren. 4 a representation of the "measurement frequency" according to the inventive method.

In der 1 ist teilweise schematisch ein Walzwerk W dargestellt. Man erkennt, dass während des Walzprozesses ein Band 11 in Bewegungsrichtung x transportiert wird. Das Band 11 wird durch zahlreiche Rollenanordnungen 12 unterstützt und in x-Richtung bewegt, wobei zwischen den Rollenanordnungen 12 jeweils Walzgerüste 13 angeordnet sind, welche in Bewegungsrichtung x jeweils einen sich verringernden Walzspalt 14 aufweisen.In the 1 partially a rolling mill W is shown schematically. It can be seen that during the rolling process, a band 11 is transported in the direction of movement x. The ribbon 11 is due to numerous role arrangements 12 supported and moved in the x-direction, taking between the role arrangements 12 each rolling stands 13 are arranged, which in the direction of movement x each have a decreasing roll gap 14 exhibit.

In Bewegungsrichtung x vor und nach jedem Walzgerüst 13 ist jeweils eine Vorrichtung 15 zur Bestimmung der Dicke bewegter, bandförmiger und plattenförmiger Werkstoffe angeordnet, mit denen Dickenunregelmäßigkeiten im Band 11 vor dem Walzgerüst 13 beziehungsweise die Dicke des Bandes 11 nach einem Walzvorgang in einem Walzgerüst 13 gemessen wird. Im vorliegenden Fall handelt es sich um einen dreistufigen Walzprozess, wobei das dünne Bandendprodukt 11 letztlich zu einem Coil 16 aufgerollt wird.In the direction of movement x before and after each roll stand 13 each is a device 15 arranged to determine the thickness of moving, band-shaped and plate-shaped materials, with which thickness irregularities in the band 11 in front of the rolling stand 13 or the thickness of the band 11 after a rolling process in a rolling stand 13 is measured. In the present case, it is a three-stage rolling process, wherein the thin end product 11 ultimately to a coil 16 being rolled up.

In der 2 ist der mit II in der 1 gekennzeichnete Bereich vergrößert dargestellt. Man erkennt das Walzgerüst 13 mit zwei äußeren Stützwalzen 17 und zwei inneren Arbeitswalzen 18, die den Walzspalt 14 definieren.In the 2 is the one with II in the 1 marked area shown enlarged. You can see the mill stand 13 with two outer support rollers 17 and two inner work rolls 18 that the nip 14 define.

Die Vorrichtung zur Dickenmessung 15 wird aus einem oberen Laserabstandssensor 19 und einem unteren Laserabstandssensor 20 gebildet. Im Bereich des oberen Laserabstandssensors 19 ist darüber hinaus eine Auswerteelektronik 21 vorhanden, deren Funktion nachfolgend beschrieben wird.The device for thickness measurement 15 becomes an upper laser distance sensor 19 and a lower laser distance sensor 20 educated. In the area of the upper laser distance sensor 19 is also an evaluation electronics 21 exist whose function is described below.

In der 3 ist auf einer Zeitachse y das Verfahren zur Dickenbestimmung eines Walzbandes 11 mittels des oberen Laserabstandssensors 19 und des unteren Laserabstandssensors 20 nach dem Stand der Technik dargestellt.In the 3 is on a time axis y the method for determining the thickness of a rolled strip 11 by means of the upper laser distance sensor 19 and the lower laser distance sensor 20 represented according to the prior art.

Man erkennt, dass die Abstandsmessungen der beiden Laserabstandssensoren 19 und 20 an einem gemeinsamen Startpunkt 22 begonnen werden. Davon ausgehend ist des Weiteren dargestellt, dass die Belichtungszeiten 23 und 24 des oberen Laserabstandssensors 19 und des unteren Laserabstandssensors 20 unterschiedlich sind. Diese unterschiedlichen Belichtungszeiten 23 und 24 kommen einerseits dadurch zustande, dass sich die Komponenten im Messgerät durch einen Alterungsprozess verändern. Hierbei geht es beispielsweise um den Verlust von Laserleistung durch Alterung, die Änderung der Transparenz der Sensorfenster oder die Alterung des Detektors. Andererseits kommen Faktoren hinzu, die sich auf die Oberflächenbeschaffenheit des Walzbandes zum Messzeitpunkt beziehen, wie z. B. Farbe, Rauigkeit, Glanz, Benetzung des Walzbandes.It can be seen that the distance measurements of the two laser distance sensors 19 and 20 at a common starting point 22 to be started. On this basis, it is further shown that the exposure times 23 and 24 of the upper laser distance sensor 19 and the lower laser distance sensor 20 are different. These different exposure times 23 and 24 On the one hand, this is due to the fact that the components in the measuring device change as a result of an aging process. This concerns, for example, the loss of laser power due to aging, the change in the transparency of the sensor windows or the aging of the detector. On the other hand, factors are added that relate to the surface condition of the rolled strip at the time of measurement, such. As color, roughness, gloss, wetting of the rolled strip.

Zeitlich schließt sich an die längste Belichtungszeit 23 oder 24 eines Laserabstandssensors 19, 20 eine Rechenzeit 25 an, in der aus den Ergebnissen der beiden Abstandsmessungen der Laserabstandssensoren 19 und 20 eine Dickenmessung errechnet wird.Time closes to the longest exposure time 23 or 24 a laser distance sensor 19 . 20 a calculation time 25 in, from the results of the two distance measurements of the laser distance sensors 19 and 20 a thickness measurement is calculated.

Hinzu kommt eine so genannte statische Sicherheitsspanne 26, welche auf die längste Belichtungszeit 23, 24 eines der beiden Laserabstandssensoren 19 und 20 sowie die Rechenzeit 25 aufgeschlagen wird. In Summe entspricht dann die längste Belichtungszeit 23, 24 der Laserabstandssensoren 19, 20 zuzüglich der Rechenzeit 25 und der Sicherheitsspanne 26 der maximal möglichen Belichtungszeit. Erst nachdem die maximale Belichtungszeit vergangen ist, können somit am gemeinsamen Startpunkt 22 neue Abstandsmessungen der Laserabstandssensoren 19 und 20 in Gang gesetzt werden.In addition, there is a so-called static safety margin 26 , which is the longest exposure time 23 . 24 one of the two laser distance sensors 19 and 20 as well as the computing time 25 is pitched. In total, then corresponds to the longest exposure time 23 . 24 the laser distance sensors 19 . 20 plus the computing time 25 and the safety margin 26 the maximum possible exposure time. Only after the maximum exposure time has passed, can thus at the common starting point 22 new distance measurements of the laser distance sensors 19 and 20 be set in motion.

Die maximal mögliche Belichtungszeit (Belichtungszeit 23/24 + Rechenzeit 25 + Sicherheitsspanne 26) wird vor dem Start von Abstandsmessungen von der Auswerteelektronik 21 festgelegt. Diese maximale Belichtungszeit oder anders gesagt, die sich daraus ergebende Messfrequenz, wird einerseits bestimmt durch die technischen Daten der Laserabstandssensoren 19 und 20 sowie des nachgeschalteten Datenverarbeitungssystems und andererseits – wie oben bereits dargelegt – durch den Alterungsprozess der Komponenten des Messgerätes wie auch die Oberflächenbeschaffenheiten des Walzbandes.The maximum possible exposure time (exposure time 23 / 24 + Computing time 25 + Safety margin 26 ) is made before the start of distance measurements from the transmitter 21 established. This maximum exposure time or, in other words, the resulting measurement frequency, on the one hand determined by the technical data of the laser distance sensors 19 and 20 and the downstream data processing system and on the other hand - as already explained above - by the aging process of the components of the measuring device as well as the surface properties of the rolled strip.

Aufgrund dieser statischen Festlegung der maximalen Belichtungszeit liegt damit die Frequenz der Abstandsmessung bei maximal 30 kHz, wobei dies daran liegt, dass eine Abstandsmessung aufgrund der statischen Sicherheitsspanne 26 insgesamt ungefähr 28 μs dauert.Due to this static determination of the maximum exposure time, the frequency of the distance measurement is at a maximum of 30 kHz, which is because a distance measurement due to the static safety margin 26 a total of about 28 μs takes.

In der 4 ist letztlich das erfindungsgemäße Verfahren auf einer Zeitachse y dargestellt. Wiederum erkennt man den oberen Laserabstandssensor 19 und den unteren Laserabstandssensor 20.In the 4 Finally, the inventive method is shown on a time axis y. Again you can see the upper laser distance sensor 19 and the lower laser distance sensor 20 ,

Voraussetzung für den dort dargestellten zeitlichen Verlauf der Abstandsmessungen ist das wesentliche Erfindungsmerkmal des Verfahrens, dass jeder Laserabstandssensor 19, 20 vor der Abstandsmessung seine individuelle Belichtungszeit 23, 24 der Auswerteelektronik 21 meldet und diese den optimalen Startpunkt für jeden Laserabstandssensor 19, 20 berechnet und einen individuellen Impuls zum Start der Messung an jeden Laserabstandssensor 19, 20 schickt.Prerequisite for the time course of the distance measurements shown there is the essential feature of the invention method that each laser distance sensor 19 . 20 before the distance measurement its individual exposure time 23 . 24 the transmitter 21 reports and this the optimal starting point for each laser distance sensor 19 . 20 calculated and an individual pulse to start the measurement to each laser distance sensor 19 . 20 sends.

Grundsätzlich besteht auch die Möglichkeit, dass die Auswertelektronik 21 die Belichtungszeiten 23, 24 für beide Abstandssensoren 19, 20 anhand der bei den letzten Messungen verwendeten Belichtungszeiten 23, 24 abschätzt. Sie gibt dann für beide Abstandssensoren 19, 20 ein gemeinsames Belichtungsfenster vor. Die Abstandssensoren 19, 20 belichten jeweils in der Mitte dieses Fensters mit der von ihnen gewünschten Zeit.In principle, there is also the possibility that the evaluation electronics 21 the exposure times 23 . 24 for both distance sensors 19 . 20 based on the exposure times used in the last measurements 23 . 24 estimates. She then gives for both distance sensors 19 . 20 a common exposure window. The distance sensors 19 . 20 Illuminate each in the middle of this window with the time you want.

Daraus ergeben sich – wie in 4 dargestellt – individuelle Startpunkte 27.1 und 27.2 der Abstandsmessungen der Laserabstandssensoren 19 und 20 und die Tatsache, dass die Belichtungszeiten 23 und 24 der Laserabstandssensoren 19 und 20 im Hinblick auf eine Zentrierachse 28 der Messungen zentriert werden.This results - as in 4 shown - individual starting points 27.1 and 27.2 the distance measurements of the laser distance sensors 19 and 20 and the fact that the exposure times 23 and 24 the laser distance sensors 19 and 20 with regard to a centering axis 28 the measurements are centered.

Erfindungsgemäß schließt sich dann lediglich die Rechenzeit 25 an, wobei dann sofort erneut an den individuellen Startpunkten 27.1 und 27.2 des oberen Laserabstandssensors 19 und des unteren Laserabstandssensors 20 eine Abstandsmessung beginnen kann.According to the invention then only the computing time closes 25 at which then immediately again at the individual starting points 27.1 and 27.2 of the upper laser distance sensor 19 and the lower laser distance sensor 20 a distance measurement can begin.

Im Ergebnis bedeutet dies, dass durch die tatsächliche, dynamische Erfassung, Berechnung und Berücksichtigung der längsten Belichtungszeiten 23, 24 der beiden Laserabstandssensoren 19 und 20 auf die beim Stand der Technik notwendige Sicherheitsspanne 26 verzichtet werden kann und im Ergebnis eine deutlich höhere Frequenz von bis zu 100 kHz erreichbar ist.As a result, this means that through the actual, dynamic acquisition, calculation and consideration of the longest exposure times 23 . 24 the two laser distance sensors 19 and 20 on the necessary safety margin in the prior art 26 can be omitted and the result is a significantly higher frequency of up to 100 kHz can be achieved.

Letztlich wird dadurch eine deutlich genauere und auch schnellere Dickenmessung des Walzbandes 11 erreicht, wodurch zugleich auch der Walzspalt 14 genauer und schneller geregelt werden kann. Dies führt zu Endprodukten, welche – wie von den Kunden verlangt – geringere Dickenabweichungen aufweisen.Ultimately, this is a much more accurate and faster thickness measurement of the rolled strip 11 achieved, whereby at the same time the nip 14 can be regulated more accurately and faster. This leads to end products, which - as required by the customer - have lower thickness deviations.

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

1010
Vorrichtungcontraption
1111
Walzbandrolled strip
1212
Rollenanordnungenroller assemblies
1313
Walzgerüstrolling mill
1414
Walzspaltnip
1515
Vorrichtung zur DickenmessungDevice for measuring thickness
1616
Coilcoil
1717
äußere Stützwalzeouter support roller
1818
innere Arbeitswalzeinner stripper
1919
oberer LaserabstandssensorUpper laser distance sensor
2020
unterer Laserabstandssensorlower laser distance sensor
2121
Auswerteelektronikevaluation
2222
gemeinsame Startpunkte der Messung beim Stand der Technik (3)common starting points of the measurement in the prior art ( 3 )
2323
Belichtungszeit 23 von 19 exposure time 23 from 19
2424
Belichtungszeit 24 von 20 exposure time 24 from 20
2525
Rechenzeitcomputing time
2626
statische Sicherheitsspanne für maximale Belichtungszeitstatic safety margin for maximum exposure time
27.127.1
individuelle Startpunkte der Messung von 19 und 20 individual starting points of the measurement of 19 and 20
27.227.2
individuelle Startpunkte der Messung von 19 und 20 individual starting points of the measurement of 19 and 20
2828
„Zentrierachse” der Messungen"Centering axis" of the measurements
xx
Bewegungsrichtung des Walzbandes 11 Direction of movement of the rolled strip 11
yy
ZeitTime

Claims (2)

Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Walzbandes (11) mit einem oberen und einem unteren Laserabstandssensor (19, 20), die jeweils eine Einrichtung zur Belichtungssteuerung aufweisen, und einer Auswerteelektronik (21), gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte: – Jeder Laserabstandssensor (19, 20) meldet seine individuell berechnete Belichtungszeit (23, 24) für die nächste Messwertaufnahme an die Auswerteelektronik (21); – Die Auswerteelektronik (21) berechnet für jeden Laserabstandssensor (19, 20) individuell den optimalen Startpunkt der nächsten Belichtung (27.1, 27.2), wobei die Berechnung so durchgeführt wird, dass eine möglichst symmetrische zeitliche Überlappung der Messungen erreicht wird; – Die Auswerteelektronik (21) übermittelt einen individuellen Impuls zum Start der Messung an jeden Laserabstandssensor (19, 20).Method for determining the thickness of a rolled strip ( 11 ) with an upper and a lower laser distance sensor ( 19 . 20 ), each having a device for exposure control, and an evaluation ( 21 ), characterized by the following method steps: each laser distance sensor ( 19 . 20 ) reports its individually calculated exposure time ( 23 . 24 ) for the next measurement acquisition to the evaluation electronics ( 21 ); - The transmitter ( 21 ) calculated for each laser distance sensor ( 19 . 20 ) individually the optimal starting point of the next exposure ( 27.1 . 27.2 ), wherein the calculation is performed in such a way that the most symmetrical temporal overlapping of the measurements is achieved; - The transmitter ( 21 ) transmits an individual impulse to start the measurement to each laser distance sensor ( 19 . 20 ). Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenz der Dickenmessung zwischen > 30 kHz und < 100 kHz beträgt.A method according to claim 1, characterized in that the frequency of the thickness measurement is between> 30 kHz and <100 kHz.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996003616A1 (en) * 1994-07-21 1996-02-08 Wangner Systems Corporation Apparatus and method for measuring the caliper of papermaking fabric in a non-contacting manner

Patent Citations (1)

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