DE102012201497A1 - Mirror shell for e.g. collector unit used in microlithography projection system, sets angle between axis of symmetry of cylindrical surface and grids to specific value - Google Patents
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Abstract
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Spiegelschale zur Reflektion von Beleuchtungsstrahlung mit einer Wellenlänge im Bereich von 5–15nm unter einem Reflektionswinkel < 35° zur Oberflächentangentialebene. Ferner betrifft die Erfindung eine Kollektoreinheit umfassend eine derartige Spiegelschale, eine Quelleinheit mit einer derartigen Spiegelschale, einen Abformkörper zur Herstellung einer derartigen Spiegelschale und Herstellungsverfahren für den Abformkörper und die Spiegelschale. The present invention relates to a mirror shell for reflecting illumination radiation having a wavelength in the range of 5-15 nm under a reflection angle <35 ° to the surface tangential plane. Furthermore, the invention relates to a collector unit comprising such a mirror shell, a source unit with such a mirror shell, an impression body for producing such a mirror shell and manufacturing method for the impression body and the mirror shell.
Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlagen dienen zur Herstellung von mikrostrukturierten Bauelementen mittels eines fotolithographischen Verfahrens. Dabei wird eine strukturtragende Maske, das sogenannte Retikel, mit Hilfe einer Lichtquelleneinheit und einer Beleuchtungsoptik beleuchtet und mit Hilfe einer Projektionsoptik auf eine fotosensitive Schicht abgebildet. Hierzu ist die strukturtragende Maske in einer Objektebene der Projektionsoptik angeordnet und die fotosensitive Schicht am Ort einer Bildebene einer Projektionsoptik. Dabei stellt die Lichtquelleneinheit eine Strahlung zur Verfügung, die in die Beleuchtungsoptik geleitet wird. Die Beleuchtungsoptik dient dazu am Ort der strukturtragenden Maske eine gleichmäßige Ausleuchtung mit einer vorbestimmten winkelabhängigen Intensitätsverteilung zur Verfügung zu stellen. Hierzu sind innerhalb der Beleuchtungsoptik verschiedene geeignete optische Elemente vorgesehen. Die so ausgeleuchtete strukturtragende Maske wird mit Hilfe der Projektionsoptik auf eine fotosensitive Schicht abgebildet. Dabei wird das Auflösungsvermögen einer solchen Projektionsoptik unter anderem von der Wellenlänge der verwendeten Strahlung beeinflusst. So können umso kleinere Strukturen abgebildet werden, je kleiner die Wellenlänge λ der verwendeten Strahlung ist. Aus diesem Grund ist es vorteilhaft, Strahlung im Bereich des extremen Ultraviolett (EUV) d.h. mit der Wellenlänge λ = 5nm – 15nm zu verwenden.Microlithography projection exposure equipment is used to fabricate microstructured devices by a photolithographic process. In this case, a structure-carrying mask, the so-called reticle, is illuminated with the aid of a light source unit and an illumination optical unit and imaged onto a photosensitive layer with the aid of projection optics. For this purpose, the structure-supporting mask is arranged in an object plane of the projection optics, and the photosensitive layer at the location of an image plane of a projection optics. In this case, the light source unit provides radiation which is conducted into the illumination optics. The illumination optics serves to provide a uniform illumination with a predetermined angle-dependent intensity distribution at the location of the structure-supporting mask. For this purpose, various suitable optical elements are provided within the illumination optics. The structure-bearing mask, which is illuminated in this way, is imaged onto a photosensitive layer with the aid of projection optics. The resolution of such a projection optics is influenced, inter alia, by the wavelength of the radiation used. Thus, the smaller the wavelength λ of the radiation used, the smaller structures can be imaged. For this reason, it is advantageous to use radiation in the extreme ultraviolet (EUV) range, i.e., in the extreme ultraviolet (EUV) range. with the wavelength λ = 5nm - 15nm.
Derartige Strahlung wird typischerweise erzeugt, indem ein Materialtarget in einen Plasmazustand überführt wird, so dass es Beleuchtungsstrahlung mit einer Wellenlänge λ im Bereich von 5nm–15nm emittiert. Dabei gibt es zwei grundlegende Möglichkeiten, das Plasma zu erzeugen. Zum einen kann das Materialtarget mit Hilfe von Laserpulsen erhitzt werden bis es in den Plasmazustand übergeht. Man spricht von sogenannten Laser produced Plasmaquellen (LPP-Quellen). Zum anderen kann das Plasma auch mit Hilfe einer Bogenentladung hergestellt werden. Derartige Quellen werden als discharge produced Plasmaquellen (DPP-Quellen) bezeichnet. Plasmaquellen zur Erzeugung von EUV-Strahlung haben den Nachteil, dass Sie keine monochromatische Strahlung bereitstellen. Stattdessen wird ein breites Strahlungsspektrum emittiert. Zur Abbildung der strukturtragenden Maske trägt dagegen nur ein sehr engbandiger Wellenlängenbereich bei. Je nach Konfiguration von Beleuchtungsoptik und Projektionsoptik liegt dieser engbandige Bereich bei 13,3–13,7nm oder bei 6,5–6,9nm. Jegliche Strahlung mit einer Wellenlänge außerhalb des jeweiligen Bereiches führt zu unerwünschter Erwärmung des optischen Systems, falls die Strahlung im optischen System absorbiert wird, oder zu Fehlbelichtungen der fotosensitiven Schicht, falls die Strahlung durch das optische System weitergeleitet wird. Aus diesem Grund kommen in derartigen Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlagen Spektralfilter zum Einsatz, die Strahlung der unerwünschten Wellenlängen rechtzeitig herausfiltern. Derartige Filterelemente sind z.B. in der
Bei Laserplasmaquellen kommt hinzu, dass neben der vom Plasma emittierten unerwünschten Strahlung auch noch Reste der Laserstrahlung selbst in das optische System gelangen kann. Derartige Strahlung hat typischerweise eine Wellenlänge von 10,6µm und liegt damit im Infrarotbereich.In the case of laser plasma sources, in addition to the unwanted radiation emitted by the plasma, even remnants of the laser radiation itself can enter the optical system. Such radiation typically has a wavelength of 10.6 μm and is therefore in the infrared range.
Die Spektralfilter dürfen jedoch die zur Abbildung verwendete EUV-Strahlung nicht zu stark abschwächen. Daher werden derartige Spektralfilter typischerweise nicht als separates optisches Element ausgeführt. Stattdessen wird die Spektralfilterwirkung in ein bereits vorhandenes optisches Element der Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage integriert. Hierfür kommt insbesondere die Kollektoreinheit in Betracht, da es sich hierbei um das erste optische Element innerhalb des Strahlenganges handelt, so dass die unerwünschte Strahlung so früh wie möglich aus dem Strahlengang herausgefiltert werden kann. Kollektoreinheiten dienen dazu die vom Plasma emittierte Strahlung zu sammeln und in das Beleuchtungssystem zu führen. Hierbei unterscheidet man zwischen zwei verschiedenen Arten von Kollektoreinheiten. Bei sogenannten normal incidence Kollektoren trifft die emittierte Strahlung unter einem Reflektionswinkel > 45° zur Oberflächentangetialebene auf die Kollektoroberfläche. Bei sogenannten gracing incidence Kollektoren trifft die Beleuchtungsstrahlung dagegen unter streifenden Einfall, d.h. unter einem Reflektionswinkel < 45° zur Oberflachentangentialebene auf die Kollektoroberfläche. Die Ausbildung eines normal incidence Kollektors mit einem Spektralfilter ist z.B. aus der
Spezielle Beugungsgitter, die unter gracing incidence betrieben werden, sind zum Beispiel aus der Astrophysik bekannt. Siehe hierzu
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Off-plane gratings for Constellation-X, R. McEntaffer et al, Proc SPIE 4851 (2003), pp. 549 - –
Gratings in a conical diffraction mounting for an extreme-ultraviolet time-delay-compensated monochromator, M. Pascolini et al., APPLIED OPTICS, Vol. 45, No. 14, 2006, pp. 3253 - –
Efficiency of a grazing-incidence off-plane grating in the soft-x-ray region, Seely et al., APPLIED OPTICS, Vol. 45, No. 8, 2006, pp. 1680
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Off-plane gratings for Constellation-X, R. McEntaffer et al., Proc. SPIE 4851 (2003), p. 549 - -
Gratings in a conical diffraction mounting for extreme-ultraviolet time-delay-compensated monochromator, M. Pascolini et al., APPLIED OPTICS, Vol. 14, 2006, pp. 3253 - -
Efficiency of a grazing-incidence off-plane grating in the soft-x-ray region, Seely et al., APPLIED OPTICS, Vol. 8, 2006, pp. 1680
Ausgehend von dem bekannten Stand der Technik ist es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung einen gracing incidence Kollektor mit einem Spektralfilter bereitzustellen, der einfach und kostengünstig herzustellen ist. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch eine Spiegelschale zur Reflektion von Beleuchtungsstrahlung mit einer Wellenlänge im Bereich von 5–15nm unter einem Reflektionswinkel kleiner als 35° zur Oberflächentangentialebene. Die Spiegelschale umfasst dabei einen Spiegelgrundkörper, der rotationssymmetrisch um eine Symmetrieachse ausgebildet ist und ein periodisches Beugungsgitter mit Gitterstegen und Gitterfurchen, das auf mindestens einem Teil des Spiegelgrundkörpers angeordnet ist. Dabei schließen die auf eine, um die Symmetrieachse rotationssymmetrische, Zylinderfläche radialprojizierten Gitterstege mit der Symmetrieachse einen Winkel ein, der kleiner ist als 5°. Diese spezielle Orientierung der Gitterstege ermöglicht es, Beugungsgitter und Spiegelgrundkörper mit Hilfe von Elektroformen kostengünstig herzustellen.Starting from the known prior art, it is the object of the present invention to provide a gracing incidence collector with a spectral filter which is simple and inexpensive to produce. This object is achieved by a mirror shell for reflecting illumination radiation having a wavelength in the range of 5-15 nm at a reflection angle of less than 35 ° to the surface tangential plane. The mirror shell in this case comprises a mirror base body which is rotationally symmetrical about an axis of symmetry and a periodic diffraction grating with grating webs and grid grooves, which is arranged on at least a part of the mirror base body. The grid webs radially projecting onto a cylinder surface, which is rotationally symmetrical about the axis of symmetry, enclose with the axis of symmetry an angle which is smaller than 5 °. This special orientation of the grid bars makes it possible to inexpensively produce diffraction gratings and mirror bases by means of electroforms.
Das Elektroformen von Spiegelschalen ist z.B. aus der
Neben dem Galvanisieren sind auch andere Replikationsverfahren zur Herstellung von Spiegelschalen fachüblich. Siehe hierzu zum Beispiel
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Production of Thin-Walled Lightweight CFRP/EPOXY X-Ray Mirrors for the XMM Telescope, D. Pauschinger et al., Proceedings of SPIE 1742, 235 (1992) - –
WFXT Technology Overview, Pareschi et al., Proceedings of the "Wide Field X-ray Telescope" workshop held in Bologna on 25–26 Nov 2009
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Production of Thin-Walled Lightweight CFRP / EPOXY X-Ray Mirrors for the XMM Telescope, D. Pauschinger et al., Proceedings of SPIE 1742, 235 (1992) - -
WFXT Technology Overview, Pareschi et al., Proceedings of the "Wide Field X-ray Telescope" workshop Held in Bologna on 25-26 Nov 2009
In diesen beiden Verfahren wird zunächst ein mechanischer Grundkörper hergestellt, auf den die Spiegelschale aufgebracht wird. Parallel wird auf einen Abformkörper eine Schicht aufgebracht, die später als reflektierende Schicht der Spiegelschale dient. Nun wird der Abformkörper in den Grundkörper verbracht, so dass zwischen Grundkörper und Abformköper ein Spalt von wenigen Hundert Mikrometer verbleibt. Dieser Spalt wird mit Epoxidharz gefüllt. Durch einen Temperaturschock wird abschließend der Abformkörper von der Spiegelschale getrennt. Damit ergibt sich eine Spiegelschale aus mechanischem Grundkörper, ausgehärtetem Epoxidharz und der Beschichtung, die nun nicht mehr mit dem Abformgrundkörper sondern mit dem Epoxidharz verbunden ist.In these two methods, first of all a mechanical base body is produced on which the mirror shell is applied. In parallel, a layer is applied to an impression body, which later serves as a reflective layer of the mirror shell. Now, the impression body is moved into the base body so that a gap of a few hundred micrometers remains between the base body and the impression body. This gap is filled with epoxy resin. By a temperature shock, the impression body is finally separated from the mirror shell. This results in a mirror shell made of mechanical body, cured epoxy resin and the coating, which is no longer connected to the impression body but with the epoxy resin.
Bei allen diesen Herstellungsverfahren wird die Spiegelschale vom Abformkörper mittels eines Temperaturschocks getrennt (CTE-Trennung, Coefficient of Thermal Expansion). Der Trennspalt zwischen Abformkörper und Spiegelschale ist dabei nur wenige Mikrometer groß. Dies hat den Fachmann bislang davon abgehalten, im gleichen Verfahrensschritt eine Spiegelschale mit Beugungsgitter herzustellen, da die Höhe der Gitterstege typischerweise in der gleichen Größenordnung liegen wie die Breite des Trennspaltes.In all these manufacturing processes, the mirror shell is separated from the impression body by means of a thermal shock (CTE separation, coefficient of thermal expansion). The separating gap between the impression body and the mirror shell is only a few micrometers in size. This has hitherto prevented the person skilled in the art from producing a mirror shell with diffraction gratings in the same method step, since the height of the grid webs is typically of the same order of magnitude as the width of the separation gap.
Dadurch, dass die erfindungsgemäße Spiegelschale Gitterstege aufweist, die derart ausgestaltet sind, dass die auf eine um die Symmetrieachse rotationssymmetrische Zylinderfläche radial projizierten Gitterstege mit der Symmetrieachse einen Winkel einschließen, der kleiner ist als 5°, kann der bekannte Abformprozess verwendet werden. Insbesondere kann die Spiegelschale vom Abformkörper abgenommen werden, ohne die Gitterstege zu beschädigen.Due to the fact that the mirror shell according to the invention has lattice webs which are designed in such a way that the lattice webs projecting radially onto a cylinder surface rotationally symmetrical about the symmetry axis enclose an angle with the axis of symmetry which is smaller than 5 °, the known molding process can be used. In particular, the mirror shell can be removed from the impression body, without damaging the grid bars.
Bei einer speziellen Ausgestaltung schließen die radialprojizierten Gitterstege mit der Symmetrieachse einen Winkel kleiner 1° ein, so dass die Gitterstege und die Symmetrieachse im Wesentlichen in einer Ebene liegen. Hierdurch wird das Abnehmen der Spiegelschale vom Abformkörper bei der Herstellung noch weiter vereinfacht.In a specific embodiment, the radially projected grid webs with the axis of symmetry form an angle of less than 1 °, so that the grid webs and the axis of symmetry lie substantially in one plane. As a result, the removal of the mirror shell from the impression body during manufacture is further simplified.
Eine einstückige Ausführung von Spiegelgrundkörper und Beugungsgitter lässt sich mit dem beschriebenen Verfahren besonders kostengünstig herstellen.A one-piece design of mirror body and diffraction grating can be with the produce described process particularly cost.
Eine Ausführung des Beugungsgitters als Binärgitter ist besonders einfach herzustellen. Dagegen ermöglicht eine Ausführung des Beugungsgitters als geblaztes Beugungsgitter eine stärkere Beeinflussung, wie groß der gebeugte Anteil der Strahlung in den jeweiligen Beugungsordnungen ist.An embodiment of the diffraction grating as a binary grid is particularly easy to manufacture. In contrast, an embodiment of the diffraction grating as a blazed diffraction grating makes it possible to influence more strongly how large the diffracted portion of the radiation is in the respective diffraction orders.
Durch eine Ausgestaltung des Beugungsgitters zur Beugung von Strahlung im Wellenlängenbereich 10–12µm wird erreicht, dass die bei einer Laserplasmaquelle verbleibenden Reste der Laserstrahlung aus dem Strahlengang gefiltert werden.An embodiment of the diffraction grating for diffracting radiation in the wavelength range 10-12 μm ensures that the remainders of the laser radiation remaining at a laser plasma source are filtered out of the beam path.
Die Erfindung ist besonders vorteilhaft einsetzbar bei einer Kollektoreinheit zur Führung von Beleuchtungsstrahlung mit einer Wellenlänge im Bereich von 5–15 nm mit einer Mehrzahl von Spiegelschalen, die ineinander um eine gemeinsame Symmetrieachse angeordnet sind, und wobei die Beleuchtungsstrahlung jeweils unter einem Reflektionswinkel kleiner als 35° zur Oberflächentangentialebene auf die Spiegelschalen auftrifft. Erfindungsgemäß umfasst dann mindestens eine der Spiegelschalen ein beschriebenes Beugungsgitter. Bei einer solchen erfindungsgemäßen Kollektoreinheit trifft die Beleuchtungsstrahlung im Wesentlichen längs zu den Gitterstreben auf die Spiegelschale. Dies hat den zusätzlichen Vorteil, dass die Beleuchtungsstrahlung mit einer Wellenlänge im Bereich von 5–15 nm nicht durch das Beugungsgitter beeinflusst wird. Wären die Gitterstreben quer zur einfallenden Beleuchtungsstrahlung orientiert, so würde es zu Abschattungseffekten an den Gitterstreben kommen, sobald die Beleuchtungsstrahlung auf die Stirnflächen der Gitterstreben trifft. Dort auftreffende Strahlung wird nicht in die gewünschte Richtung reflektiert. Unter Verwendung der erfindungsgemäßen Spiegelschale trifft die Beleuchtungsstrahlung dagegen längs der Gitterstreben auf die Spiegelschale und somit nicht auf die Stirnflächen der Gitterstreben sondern nur auf die Oberseite der Gitterstreben und die Unterseite der Gitterfurchen. Die erfindungsgemäße Spiegelschale reflektiert die Beleuchtungsstrahlung daher mit hoher Effizienz in die gewünschte Richtung und dient dennoch als Spektralfilter für Strahlung mit unerwünschten Wellenlängen. Da das Beugungsgitter typischerweise so ausgelegt ist, dass es Strahlung mit Wellenlängen beugt, die sich von der Wellenlänge der Beleuchtungsstrahlung stark unterscheiden, ist die Beugungswirkung auf die Beleuchtungsstrahlung selbst zu vernachlässigen. Bei einer speziellen Ausgestaltung ist das Beugungsgitter zur Beugung von Strahlung im Wellenlängenbereich 10–12µm ausgestaltet. Diese Wellenlänge ist um ca. 1000mal größer als die Wellenlänge der Beleuchtungsstrahlung im Bereich 5–15nm. Daher führt das Beugungsgitter auch zu keiner Beugung der Beleuchtungsstrahlung.The invention can be used particularly advantageously in a collector unit for guiding illumination radiation having a wavelength in the range of 5-15 nm with a plurality of mirror shells, which are arranged one inside the other about a common axis of symmetry, and wherein the illumination radiation is less than 35 ° in each case at a reflection angle to the surface tangential plane impinges on the mirror shells. According to the invention, at least one of the mirror shells then comprises a described diffraction grating. In such a collector unit according to the invention, the illumination radiation strikes the mirror shell substantially along the lattice struts. This has the additional advantage that the illumination radiation having a wavelength in the range of 5-15 nm is not affected by the diffraction grating. If the lattice struts were oriented transversely to the incident illumination radiation, shadowing effects would occur on the lattice struts as soon as the illumination radiation strikes the end faces of the lattice struts. There incident radiation is not reflected in the desired direction. By contrast, using the mirror shell according to the invention, the illumination radiation strikes the mirror shell along the lattice struts and thus not onto the end faces of the lattice struts but only on the upper side of the lattice struts and the underside of the lattice grooves. The mirror shell according to the invention therefore reflects the illumination radiation with high efficiency in the desired direction and nevertheless serves as a spectral filter for radiation having undesired wavelengths. Since the diffraction grating is typically designed to diffract radiation having wavelengths that greatly differ from the wavelength of the illumination radiation, the diffraction effect on the illumination radiation itself is negligible. In a special embodiment, the diffraction grating is designed to diffract radiation in the wavelength range 10-12 μm. This wavelength is about 1000 times larger than the wavelength of the illumination radiation in the range 5-15nm. Therefore, the diffraction grating also leads to no diffraction of the illumination radiation.
Speziell lässt sich die Erfindung anwenden bei die Spiegelschalen, die ringförmige asphärische Segmente umfassen, insbesondere bei Spiegelschalen, die aus einem ringförmiges Segment eines Ellipsoiden und einem ringförmigen Segment eines Hyperboloiden bestehen. Derartige Wolterkollektoren sind aus der Röntgenastronomie und der EUV-Lithographie bekannt. Specifically, the invention can be applied to the mirror shells comprising annular aspherical segments, in particular mirror shells consisting of an annular segment of an ellipsoid and an annular segment of a hyperboloid. Such Wolter collectors are known from X-ray astronomy and EUV lithography.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine Lichtquelleinheit zur Bereitstellung von Beleuchtungsstrahlung mit einer Wellenlänge im Bereich von 5–15 nm. Dabei umfasst die Lichtquelleneinheit einen Laser zur Erzeugung von Laserstrahlung mit einer Laserwellenlänge und ein Materialtarget, das bei Bestrahlung mit der Laserstrahlung in einen Plasmazustand übergeht und die Beleuchtungsstrahlung emittiert. Weiterhin umfasst die Lichtquelleinheit mindestens eine beschriebene Spiegelschale zum Sammeln der Beleuchtungsstrahlung mit einem Beugungsgitter, das zur Beugung der Wellenlänge der Laserstrahlung ausgebildet ist. Hierdurch wird erreicht, dass die bei verbleibenden Reste der Laserstrahlung aus dem Strahlengang gefiltert werden.The invention further relates to a light source unit for providing illumination radiation having a wavelength in the range of 5-15 nm. In this case, the light source unit comprises a laser for generating laser radiation having a laser wavelength and a material target, which changes into a plasma state upon irradiation with the laser radiation and the Illuminating radiation emitted. Furthermore, the light source unit comprises at least one described mirror shell for collecting the illumination radiation with a diffraction grating, which is designed to diffract the wavelength of the laser radiation. This ensures that the remaining residues of the laser radiation are filtered out of the beam path.
Weiterhin betrifft die Erfindung einen Abformkörper zur Herstellung einer vorbeschriebenen Spiegelschale. Dabei umfasst der Abformkörper einen Abformgrundkörper, der rotationssymmetrisch um eine Symmetrieachse ausgebildet ist, und ein periodisches Abformgitter mit Abformstegen und Abformfurchen, das auf mindestens einem Teil des Abformgrundköpers angeordnet ist. Erfindungsgemäß schließen die auf eine um die Symmetrieachse rotationssymmetrische Zylinderfläche radialprojizierten Abformfurchen mit der Symmetrieachse einen Winkel ein, der kleiner ist als 5°. Diese spezielle Orientierung der Abformfurchen ermöglicht es, durch Abformen mit dem Abformköper eine Spiegelschale aus Spiegelgrundkörper und Beugungsgitter kostengünstig herzustellen.Furthermore, the invention relates to an impression body for producing a prescribed mirror shell. In this case, the impression body comprises a molding base, which is rotationally symmetrical about an axis of symmetry, and a periodic impression grid with Abformstegen and Abformfurchen, which is arranged on at least a portion of Abformgrundköpers. According to the invention, the impression grooves radially projecting onto a cylindrical surface that is rotationally symmetrical about the symmetry axis include an angle with the axis of symmetry which is smaller than 5 °. This special orientation of the indentation grooves makes it possible, by molding with the Abformköper a mirror shell of mirror body and diffraction grating cost-effectively.
Bei einer speziellen Ausgestaltung schließen die radialprojizierten Abformfurchen mit der Symmetrieachse einen Winkel kleiner 1° ein, so dass die Abformfurchen und die Symmetrieachse im Wesentlichen in einer Ebene liegen. Hierdurch wird das Abnehmen der Spiegelschale vom Abformkörper bei der Herstellung noch weiter vereinfacht.In a specific embodiment, the radially projected Abformfurchen include with the axis of symmetry an angle of less than 1 °, so that the Abformfurchen and the axis of symmetry lie substantially in one plane. As a result, the removal of the mirror shell from the impression body during manufacture is further simplified.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Abformgrundkörper und das Abformgitter einstückig ausgeführt sind, da dies eine einfache Herstellung und eine besonders stabile Verbindung zwischen Abformgrundkörper und Abformgitter ermöglicht.It is particularly advantageous if the impression base body and the impression lattice are made in one piece, since this allows a simple production and a particularly stable connection between the impression base body and the impression lattice.
Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Herstellung eines derartigen Abformkörpers. Bei diesem Verfahren werden in einen rotationssymmetrischen Abformrohling mit Hilfe von Diamantbearbeitung Abformfurchen eingebracht werden, so dass sich eine einstückige Ausführung aus Abformgrundkörper und Abformgitter ergibt. Hierdurch lassen sich sehr präzise Abformfurchen erreichen.The invention further relates to a method for producing such Abformkörpers. In this process, in a rotationally symmetrical Abformrohling with the aid of Diamond machining impression grooves are introduced, so that there is a one-piece design of Abformgrundkörper and impression grid. As a result, very precise Abformfurchen can be achieved.
Weiterhin betrifft die Erfindung auch ein Verfahren zur Herstellung einer beschriebenen Spiegelschale. Dabei umfasst das Verfahren mindestens die folgenden Schritte:
- a. Bereitstellen eines beschriebenen Abformkörpers mit Abformfurchen
- b. Abscheiden eines Trennschichtsystems auf der Oberfläche des Abformkörpers
- c. Formen einer Spiegelschale mit Gitterstegen auf dem Trennschichtsystems, so dass die Gitterstege den Abformfurchen entsprechen und die Gitterfurchen den Abformstegen.
- d. Ablösen der Spiegelschale am Trennschichtsystem vom Abformkörper.
- a. Providing a described Abformkörpers with Abformfurchen
- b. Depositing a separating layer system on the surface of the impression body
- c. Forming a mirror shell with lattice webs on the release layer system, so that the lattice webs correspond to the Abformfurchen and the lattice grooves the Abformstegen.
- d. Peeling off the mirror shell on the separating layer system from the impression body.
Dabei kann das Formen der Spiegelschale zum Beispiel durch Elektroformen geschehen. Alternativ kann auch ein geeigneter Hohlraum mit Epoxidharz aufgefüllt werden.The shaping of the mirror shell can be done, for example, by electroforming. Alternatively, a suitable cavity can be filled with epoxy resin.
Erfindungsgemäß ermöglicht dieses Verfahren die gleichzeitige Herstellung von Spiegelgrundkörper und Beugungsgitter, was besonders effizient ist. Weiterhin können im Wesentlichen bekannte Galvanik-Techniken zur Herstellung der Spiegelschale verwendet werden.According to the invention, this method allows the simultaneous production of mirror body and diffraction grating, which is particularly efficient. Furthermore, essentially known electroplating techniques can be used to produce the mirror shell.
Näher erläutert wird die Erfindung anhand der Zeichnungen.The invention will be explained in more detail with reference to the drawings.
Die Bezugszeichen sind so gewählt, dass Objekte, die in
Hierbei ist d der Abstand zwischen den Gitterstreben
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
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- WO 2004021086 [0003] WO 2004021086 [0003]
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- WO 2008145364 A2 [0008] WO 2008145364 A2 [0008]
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