DE102012112615B3 - Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Veränderung der Messrichtung eines optoelektronischen Sensors - Google Patents

Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Veränderung der Messrichtung eines optoelektronischen Sensors Download PDF

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Abstract

Optoelektronischer Sensor (10) mit einem beweglichen Optikkopf (12), der einen Lichtsender (16) zum Aussenden eines Sendelichtstrahls (34) in einen Überwachungsbereich (36) und einen Lichtempfänger (20) zum Empfangen eines Empfangslichtstrahls (38) aus dem Überwachungsbereich (36) aufweist, mit einem Lager (40), in dem der Optikkopf (12) in mindestens einer Achse innerhalb eines Winkelbereichs verkippbar gelagert ist, mit einer lagefesten Bewegungseinheit (44) sowie mit einem mit dem Optikkopf (12) verbundenen Führungselement (42), das mit der Bewegungseinheit (44) in Eingriff steht, um den Optikkopf (12) in eine mittels der Bewegungseinheit (44) vorgegebbare Orientierung zu verkippen, dadurch gekennzeichnet, dass das Führungselement (42) ein Führungszapfen ist, der in Verlängerung der optischen Achse des Optikkopfes (12) angeordnet ist, dass ein Ende des Führungszapfens (42) mit dem Optikkopf (12) verbunden ist und das andere Ende des Führungszapfens (42) auf der Bewegungseinheit (44) aufliegt oder in die Bewegungseinheit (44) eingeführt und darin beweglich ist und dass der Sensor (10) eine Steuerung (32) aufweist, die dafür ausgebildet ist, mittels der Bewegungseinheit (44) den Optikkopf (12) kontinuierlich zu verkippen, um einen Raumbereich mit einem vorgegebenen Abtastmuster abzutasten.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen optoelektronischen Sensor mit einem beweglichen Optikkopf sowie ein Verfahren zur Veränderung der Messrichtung eines optoelektronischen Sensors nach dem Oberbegriff von Anspruch 1 beziehungsweise 11.
  • Einstrahlige optoelektronische Sensoren dienen der Messung oder Überwachung auf einer eindimensionalen Messstrecke. Dazu zählen Lichtschranken und Lichttaster. Im Gegensatz zu aufwändigeren Sensoren, beispielsweise Kameras oder Laserscannern, bleibt die Messinformation auf die Messachse begrenzt.
  • Unter den einstrahligen Sensoren gibt es verschiedene Klassen. Einfache Lichtschranken erkennen lediglich, ob sich ein Objekt in ihrem Lichtstrahl befindet. Daneben sind sogenannte Datenlichtschranken bekannt. Dabei wird dem Lichtstrahl eine Information aufmoduliert, die empfangsseitig zurückgewonnen wird. Eine Unterbrechung des Lichtstrahls wird dabei in der Regel auch erkannt, aber diese Art der Überwachung ist nicht Zweck der Datenlichtschranke, sondern vielmehr sollte die Anwesenheit von Objekten in dem als Übertragungsweg genutzten Lichtstrahl nach Möglichkeit vermieden werden. Datenlichtschranken werden meist doppelt ausgeführt und einander für eine bidirektionale Kommunikation gegenüber aufgestellt.
  • Triangulationstaster empfangen ihren im Überwachungsbereich remittierten Sendelichtstrahl unter einem Winkel und triangulieren aus der Ablage des Empfangslichtflecks die Entfernung zu dem angetasteten Objekt. Andere entfernungsmessende Lichttaster nutzen ein Lichtlaufzeitverfahren. Dabei wird zwischen pulsbasierten Verfahren, in denen direkt die Differenz zwischen dem Sende- und Empfangszeitpunkt eines Sendepulses bestimmt wird, und phasenbasierten Verfahren unterschieden, in denen dem Sendelichtstrahl eine Sinusmodulation aufgeprägt und die Phase zu der Modulation des Empfangslichtstrahls gemessen wird. Einen Spezialfall stellen die sogenannten Pulsmittelungsverfahren dar, in denen eine Vielzahl von Sendepulsen ausgesandt, wieder empfangen und statistisch ausgewertet wird, wie beispielsweise in der DE 10 2007 013 714 A1 beschrieben.
  • Üblicherweise werden einstrahlige Sensoren lagefest montiert. Sie besitzen dann eine einzige vorgegebene Messachse und sind nur für lineare Anwendungen geeignet, da eine Raumbetrachtung nicht möglich ist. Bei der Einrichtung muss darauf geachtet werden, dass die Messachse mit der gewünschten Messstrecke übereinstimmt. Diese anfängliche Justierung ist besonders für Datenlichtschranken erforderlich, die aufeinander auszurichten sind, um gegenseitig ihre Lichtstrahlen zu empfangen. Dies erfordert einigen Justageaufwand, zumal häufig infrarotes und damit unsichtbares Licht verwendet wird. Bei einer Dejustierung während des Betriebs ist die Funktion nicht mehr gegeben.
  • Für Laserscanner ist bekannt, den gesamten Messkopf einschließlich Lichtsender und Lichtempfänger zu drehen. Dies legt aber den Überwachungsbereich auf die im Laufe der Drehbewegung abgetastete Scanebene fest und ist ungeeignet, beispielsweise einen Raumwinkelbereich in der Umgebung einer eindimensionalen Messstrecke zu überwachen. Erst recht kann dieses Konzept nicht für die Ausrichtung eines Sensors auf diese Messstrecke genutzt werden.
  • Aus der DE 10 2010 062 161 A1 ist ein handgehaltenes Laserdistanzmessgerät bekannt, welches mit einer Regelung zum Ausgleichen einer natürlichen Zitterbewegung (Tremor) ausgestattet ist. Dazu wird ein Optikaktor eingesetzt, der in einer Ausführungsform die gesamte Optikeinheit verdreht. Dadurch wird die Optikeinheit aus der Ausgangsposition in eine veränderliche Kompensationsposition derart verdreht, dass der Sendepfad im ausgekoppelten Bereich außerhalb des Messgeräts unter Kompensation der Bewegung des Gehäuses während der Messung raumfest stabilisiert ist.
  • Die EP 1 081 459 B1 offenbart ein Tachymeter-Fernrohr, dessen Gehäuse durch zwei Motoreneinheiten für die Horizontalverschwenkung und die Vertikalverschwenkung auf ein Ziel ausgerichtet werden kann.
  • Es ist daher Aufgabe der Erfindung, das Einsatzgebiet der gattungsgemäßen Sensoren zu erweitern.
  • Diese Aufgabe wird durch einen optoelektronischen Sensor mit einem beweglichen Optikkopf sowie ein Verfahren zur Veränderung der Messrichtung eines optoelektronischen Sensors nach Anspruch 1 beziehungsweise 11 gelöst. Dabei geht die Erfindung von dem Grundgedanken aus, dass eine als Optikkopf bezeichnete Optikeinheit mit Lichtsender und Lichtempfänger, welche über ihre Orientierung die einstrahlige Messrichtung vorgibt, für eine Änderung der Messrichtung verkippt wird. Mit Hilfe einer lagefesten Bewegungseinheit, die also nicht mit dem Optikkopf mitbewegt wird und die auf ein Führungselement des Optikkopfes einwirkt, kann die Messrichtung innerhalb eines Winkelbereiches verstellt werden. Dies dient der Abtastung eines Raumwinkelbereichs durch Hin- und Herverkippen des Optikkopfes.
  • Die Erfindung hat den Vorteil, dass ein Einstrahlsystem mit geringem Aufwand für eine Raumüberwachung genutzt werden kann.
  • Das Lager ist bevorzugt ein zweidimensionales Lager, in dem der Optikkopf in einer ersten und einer zweiten Achse verkippbar gelagert ist, wobei die Bewegungseinheit dafür ausgebildet ist, das Führungselement in zwei Dimensionen zu bewegen, um den Optikkopf in der ersten Achse und der zweiten Achse zu verkippen. Die erste und zweite Achse stehen zueinander senkrecht, so dass der Optikkopf in einem Raumwinkelbereich verkippt und damit letztlich zweidimensional bewegt werden kann. Alternativ sind auch eine Lagerung und eine Bewegungseinheit mit nur einem Freiheitsgrad denkbar. Damit wird ein fächerartiges flaches Winkelsegment um die Messstrecke herum überwachbar beziehungsweise eine Justierung in einer Achse möglich.
  • Das Führungselement ist ein Führungszapfen, der an einem freien Ende den Eingriff mit der Bewegungseinheit herstellt. Insbesondere ist der Führungszapfen in Verlängerung der optischen Achse des Optikkopfes angeordnet. Dadurch übersetzt sich die von der Bewegungseinheit verursachte Bewegung bis auf Spiegelung und Skalierung durch Hebeleffekte direkt auf eine Änderung der Messrichtung.
  • Das eine Ende des Führungszapfens ist mit dem Optikkopf verbunden, und das andere Ende des Führungszapfens liegt auf der Bewegungseinheit auf oder ist in die Bewegungseinheit eingeführt und darin beweglich. Die Bewegungseinheit sorgt dann durch Positionsänderung des anderen Endes oder dadurch für eine Änderung der Messrichtung, dass das andere Ende innerhalb der Bewegungseinheit verschoben wird.
  • Die Bewegungseinheit weist bevorzugt eine drehbare Rillenscheibe auf, in deren Rille das Führungselement eingreift. Dies ist eine einfache Möglichkeit, auf das Führungselement einzuwirken, um eine Änderung der Messrichtung zu erreichen. Beispielsweise kann durch eine kreisförmige Rille ein Kegelmantel um eine vorgegebene Richtung abgetastet werden. Es sind aber auch kompliziertere Formgebungen für die Rille denkbar.
  • Die Bewegungseinheit weist bevorzugt zwei gekoppelte Rillenscheiben insbesondere mit einem Übersetzungsverhältnis ungleich eins auf, wobei das Führungselement in einem Schnittpunkt der Rillen eingreift. Dies sorgt für eine noch genauere Führung. Bei einem Übersetzungsverhältnis ungleich eins, welches durch einen unterschiedlichen Umfang der beiden Rillen erreicht wird, wiederholt sich das Bewegungsmuster des Führungselements erst nach mehreren Umdrehungen der Rillenscheiben, so dass auch komplexere Abtastschemata umsetzbar sind.
  • Die Bewegungseinheit weist bevorzugt einen segmentierten Spulenring auf, in dem unterschiedliche Magnetfelder erzeugbar sind, wobei das Führungselement magnetisch ist. Der Begriff Ring ist hier nur topologisch als geschlossene Schleife zu verstehen, beispielsweise ist auch ein Quadrat umfasst. Durch gezieltes Hervorrufen und Variieren von Magnetfeldern in dem Spulenring wird das magnetische Führungselement in gewünschten Bahnen bewegt, um die Messrichtung des Sensors zu verändern.
  • Der Sensor weist eine Steuerung auf, die dafür ausgebildet ist, mittels der Bewegungseinheit den Optikkopf kontinuierlich, insbesondere periodisch zu verkippen. Auf diese Weise wird zur Raumüberwachung ein Winkelbereich entsprechend dem durch die Bewegungseinheit vorgegebenen Verkippungsmuster des Optikkopfes abgetastet. Als Bewegungseinheit ist hierfür besonders der oben genannt Spulenring geeignet, da hier keine Reibung erzeugt und somit eine schnelle, kontinuierliche Bewegung für eine regelmäßige Abtastung mit kurzer Ansprechzeit unterstützt wird.
  • Der Sensor weist bevorzugt eine Steuerung auf, die dafür ausgebildet ist, mittels der Bewegungseinheit den Optikkopf auszurichten, insbesondere derart, dass die Intensität des Empfangslichtstrahls in dem Lichtempfänger optimiert ist. Die Kippbewegung wird hierbei hauptsächlich ausgeführt, um eine geeignete Endstellung entsprechend einer gewünschten Ausrichtung der Messrichtung zu erhalten. Dies kann einmalig bei der Montage des Sensors, aber auch nach Inbetriebnahme während des Betriebs in einer ständigen automatischen Nachführung oder in einer Wartung geschehen. Als Bewegungseinheit sind hierfür besonders die oben genannten Rillenscheiben geeignet. Deren Reibung spielt bei dem einmaligen oder zumindest seltenen und vergleichsweise langsamen Ausrichtvorgang keine wesentliche Rolle. Die Rillenscheibe hat den Vorteil, dass die einmal gefundene Ausrichtung auch dann erhalten bleibt, wenn die Bewegungseinheit inaktiv oder stromlos ist.
  • Der Sensor weist bevorzugt einen Lagesensor auf, um den Kippwinkel in der mindestens einen Achse zu bestimmen. Bei zweidimensional beweglichem Optikkopf ist der Lagesensor vorzugsweise in der Lage, die Ausrichtung sowohl in der ersten als auch in der zweiten Achse zu bestimmen. Damit kann ein Feedback der eingenommenen Verkippung bestimmt werden, beispielsweise um Toleranzen zwischen der Ansteuerung der Bewegungseinheit und der tatsächlichen Stellung des Optikkopfes zu erfassen.
  • Der Optikkopf weist bevorzugt eine dem Lichtsender vorgeordnete Sendelinse und eine dem Lichtempfänger vorgeordnete Empfangslinse auf, wobei insbesondere die Sendelinse im Zentrum der Empfangslinse angeordnet ist. Durch die in die Empfangslinse integrierte Anordnung der Sendelinse wird ein besonders kompakter Aufbau erreicht. Die Sendelinse kann zur vereinfachten Herstellung beispielsweise durch Einspritzen einstückig mit der Empfangslinse ausgebildet sein.
  • Die Empfangslinse weist bevorzugt Abstützelemente auf, mit denen die Empfangslinse in einem durch die Abmessungen der Abstützelemente gegebenen Abstand auf einer Platine des Lichtempfängers befestigt ist. Die Abstützelemente sind beispielsweise als Beinchen ausgebildet und können einstückig mit der Empfangslinse ausgebildet, beziehungsweise angespritzt werden. Durch die Abstützelemente wird dafür gesorgt, dass bei der Herstellung des Sensors auch ohne eigentlichen Justageschritt die Empfangslinse gegenüber dem Lichtempfänger ausgerichtet ist.
  • Der Sensor ist bevorzugt als entfernungsmessender Sensor zu Abstandsbestimmung von Objekten in dem Überwachungsbereich ausgebildet, indem eine Auswertungseinheit die Lichtlaufzeit zwischen Absenden des Sendelichtstrahls und Empfangen des remittierten Empfangslichtstrahls misst. Dabei sind sämtliche einleitend genannten Verfahren, also Pulsverfahren, Phasenverfahren und Pulsmittelungsverfahren möglich. Durch die Entfernung stehen zusätzlich zu einer reinen Anwesenheitsinformation weitere Messdaten aus dem Überwachungsbereich und letztlich dreidimensionale Konturdaten der Objekte in dem durch die Verkippung des Optikkopfes überwachten Raumbereich zur Verfügung.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren kann auf ähnliche Weise weitergebildet werden und zeigt dabei ähnliche Vorteile. Derartige vorteilhafte Merkmale sind in den sich an die unabhängigen Ansprüche anschließenden Unteransprüchen beschrieben.
  • Die Erfindung wird nachstehend auch hinsichtlich weiterer Merkmale und Vorteile beispielhaft anhand von Ausführungsformen und unter Bezug auf die beigefügte Zeichnung näher erläutert. Die Abbildungen der Zeichnung zeigen in:
  • 1 eine Schnittdarstellung eines verkippbaren Optikkopfes;
  • 2 eine schematische Draufsicht auf eine Ausführungsform einer Bewegungseinheit mit einem Spulenring zum Verkippen eines Optikkopfes;
  • 3 eine schematische Draufsicht auf eine weitere Ausführungsform einer Bewegungseinheit mit zwei gekoppelten Rillenscheiben;
  • 4a eine schematische Darstellung einer nicht ausgerichteten Datenlichtschranke; und
  • 4b eine schematische Darstellung der Datenlichtschranke gemäß 4a nach deren Ausrichtung.
  • 1 zeigt eine Schnittdarstellung des Inneren eines Sensors 10 mit einem verkippbaren Optikkopf 12, der einen ersten Leiterplattenabschnitt 14 mit einem Lichtsender 16 und einen zweiten Leiterplattenabschnitt 18 mit einem Lichtempfänger 20 auf. Der erste Leiterplattenabschnitt 14 verdeckt wegen der Schnittdarstellung den Lichtempfänger. In anderen Schnittebenen wird Licht durchgelassen, beispielsweise indem der erste Leiterplattenabschnitt 14 nur einen dünnen Steg zu dem Lichtsender 16 vorsieht. Als Lichtquelle des Lichtsenders 16 eignen sich vor allem Halbleiterlichtquellen, also LEDs, VCSELs (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser) oder andere Laser. Der Lichtempfänger 20 kann eine einfache Photodiode, grundsätzlich aber auch ein CCD- oder CMOS-Chip sein
  • Einer beispielhaft als einfache Sammellinse dargestellten Empfangsoptik 22 sind Befestigungsbeine 24 angespritzt. Die Befestigungsbeine 24 sind durch Öffnungen 26 in dem ersten Leiterplattenabschnitt 14 hindurch gesteckt und in dem zweiten Leiterplattenabschnitt 18 in weiteren Öffnungen 28 montiert oder auf dem zweiten Leiterplattenabschnitt 20 verlötet oder verklebt. Die Empfangsoptik 22 stabilisiert auf diese Weise die räumliche Anordnung der Leiterplattenabschnitte 14, 18 und des Optikkopfes 12 insgesamt und gibt zugleich die Justierung für den Optikkopf 12 und insbesondere die Bildschnittweite vor, also den Abstand zwischen Empfangsoptik 22 und Lichtempfänger 20. Eine wiederum beispielhaft als einfache Sammellinse dargestellte Sendeoptik 30 ist in die Empfangsoptik 22 beispielsweise durch Einspritzen integriert.
  • Die beiden Leiterplattenabschnitte 14, 18 sind jeweils mit einer Auswertungseinheit 32 verbunden, die zugleich als Steuerung des Sensors 10 fungiert. Die Auswertungseinheit 32 ist wie dargestellt außerhalb des Optikkopfes 12 angeordnet und daher nicht mit diesem mitbewegt. Alternativ dazu können aber zumindest Teile der Auswertungseinheit 32 auch im Optikkopf 12 beispielsweise auf den Leiterplattenabschnitten 14, 18 implementiert sein.
  • Der in 1 dargestellte Optikkopf 12 ist beispielhaft zu verstehen. Es sind andere Anordnungen eines einstrahligen optoelektronischen Sensors bekannt, die von der Erfindung ebenfalls umfasst sind. Zudem sind in 1 denkbare weitere Merkmale, wie optionale zusätzliche Leiterkarten zur Steuerung und Auswertung, Anschlüsse, Gehäuse und dergleichen, der besseren Übersichtlichkeit halber weggelassen.
  • Im Betrieb sendet der Lichtsender 16 einen Sendelichtstrahl 34 aus, welcher von der Sendeoptik 30 kollimiert wird. Der Sendelichtstrahl 34 wird an Objekten in einem Überwachungsbereich 36 reflektiert oder remittiert und gelangt dann als Empfangslichtstrahl 38 über die Empfangsoptik 22 zu dem Lichtempfänger 20. Alternativ ist denkbar, dass der Sendelichtstrahl 34 nicht auf ein Objekt trifft und ein Empfangslichtstrahl 38 von einem anderen Lichtsender beispielsweise eines gegenüberstehenden weiteren Sensors oder Sensorteils auf den Lichtempfänger 20 trifft, wie im Beispiel einer Datenlichtschranke weiter unten im Zusammenhang mit 4 noch erläutert.
  • Das Signal des Lichtempfängers 20 wird dann in der Auswertungseinheit 32 bewertet. Im einfachsten Fall wird lediglich anhand der Intensität festgestellt, ob überhaupt ein Objekt angetastet wurde. Vorzugsweise ist aber der Sensor 10 als Entfernungsmesser ausgebildet, und die Auswertungseinheit 32 bestimmt mit einem der einleitend genannten Lichtlaufzeitverfahren die Distanz der erfassten Objekte. Alternativ kann auch eine Modulation des Empfangslichtstrahls 38 ausgewertet werden, um eine darin codierte Information zurückzugewinnen.
  • Der Optikkopf 12 ist in einem Lager 40 in durch Pfeile 43 angedeuteter Weise zweidimensional beweglich oder verkippbar gelagert. Dadurch wird die Messrichtung verändert, also die Richtung, in welche der Sendelichtstrahl 34 ausgesandt und aus welcher der Empfangslichtstrahl 38 empfangen wird. Der zunächst nur eindimensional messende Optikkopf 12 kann dadurch einen durch die Verkippungen festgelegten dreidimensionalen Winkelbereich des Überwachungsbereichs 36 erfassen.
  • Die Verkippung wird durch einen an dem Optikkopf 12 angebrachten Führungszapfen 42 bewirkt, der in Eingriff mit einem in dem Sensor 10 lagefesten und daher nicht mit dem Optikkopf 12 mitbewegten Aktor oder einer Bewegungseinheit 44 steht und durch entsprechende Ansteuerung der Auswertungseinheit 32 in eine gewünschte Position gebracht werden kann. Das Lager 40 kann angefedert sein, damit bei inaktiver Bewegungseinheit 44 der Optikkopf 12 in eine nicht verkippte Ausgangslage zurückkehrt.
  • 2 zeigt eine Ausführungsform der Bewegungseinheit 44 und des Eingriffs mit dem Führungszapfen 42 in schematischer Draufsicht. Die Bewegungseinheit 44 weist einen segmentierten Spulenring auf, und der Führungszapfen 42 ist magnetisch, ragt in den Spulenring hinein und ist innerhalb des Spulenrings frei beweglich. Durch entsprechende Ansteuerung von der Auswertungseinheit 32 werden in dem Spulenring verschiedene Magnetfelder erzeugt, die eine entsprechende Bewegung des Führungszapfens 42 in dem Spulenring bewirken. Dadurch kann der Optikkopf 12 sehr schnell bewegt und damit ein Raumbereich innerhalb des Überwachungsbereichs 36 sehr schnell erfasst werden. Über die Magnetfelder können gewünschte Abtastmuster vorgegeben werden, beispielsweise um den Raumbereich kontinuierlich und insbesondere periodisch in einem durch das Abtastmuster bestimmten Raster abzutasten.
  • 3 zeigt in schematischer Draufsicht eine weitere Ausführungsform der Bewegungseinheit 44 und deren Wirkung auf den Führungszapfen 42. Die Bewegungseinheit 44 weist zwei miteinander gekoppelte drehbare Rillenscheiben 46a–b auf, in denen jeweils eine Rille 48a–b vorgesehen ist. Durch unterschiedlichen Umfang der Rillen 48a–b wird ein Übersetzungsverhältnis ungleich eins für die Kopplung der Rillenscheiben 46a–b erreicht. Der Führungszapfen 42 wird in einem Schnittpunkt der Rillen 48a–b angeordnet. Bei Drehung der Rillenscheiben 46a–b bewegt sich der Führungszapfen 42 in einer durch die Geometrie der Rillen 48a–b vorgegebenen Weise. Aufgrund des Übersetzungsverhältnisses ungleich eins wiederholt sich die Bewegung erst dann wieder, wenn nach mehreren Umdrehungen die Ausgangslage erreicht ist, so dass kompliziertere Bewegungsmuster ermöglicht sind. Abweichend von der Darstellung ist auch denkbar, nur eine Rillenschreibe vorzusehen, wobei dann aber die Abtastmuster auf eine allerdings nahezu beliebig verformbare Schleife beschränkt sind.
  • Prinzipiell kann auch mit einer gekoppelten Rillenscheibe 46a–b eine kontinuierliche Abtastung mit dem durch die Rillen 46a–b vorgegebenen Abtastmuster vorgenommen werden. Ein besonderer Vorteil dieser Bewegungseinheit 44 ist aber, dass die Stellung des Führungszapfens 42 und damit des Optikkopfes 12 erhalten bleibt, wenn die Bewegungseinheit 44 inaktiv beziehungsweise stromlos ist. Dies wird beispielsweise genutzt, um bei der Einrichtung des Sensors 10 am Betriebsort den Optikkopf 12 so lange in einem Raster zu verkippen, bis eine gewünschte Ausrichtung etwa anhand einer maximalen Intensität des Empfangssignals erreicht ist.
  • In beiden Ausführungsbeispielen der Bewegungseinheit 44 genügt ein einziger Aktor, um eine Bewegung in zwei Dimensionen zu bewirken. Alternativ kann aber auch je ein Aktor für die Verkippung in einer Achse vorgesehen oder insgesamt nur eine Achse verkippt werden.
  • In einer weiteren, nicht dargestellten Ausführungsform überwacht ein zusätzlicher Lagesensor die tatsächliche Verkippung des Optikmoduls 12 in einer oder in beiden Achsen. Dies lässt sich beispielsweise für eine Regelung nutzen, bei der eine Ansteuerung für eine gewünschte Verkippung anhand der tatsächlichen Verkippung nachgeführt wird.
  • 4 zeigt eine alternative Ausführungsform des Sensors als Datenlichtschranke 100 in 4a in einem Zustand vor und in 4b nach einer Ausrichtung. Die Datenlichtschranke 100 weist zwei Sensorteile 10a–b auf, die für sich jeweils wie ein anhand der 1 bis 3 erläuterter Sensor 10 aufgebaut sind. Jedes Sensorteil 10a–b umfasst demnach einen gezielt verkippbaren Optikkopf 12 zum Aussenden eines Sendelichtstrahls 34a–b und zum Empfangen eines Empfangslichtstrahls 38a–b. Dabei empfängt das eine Sensorteil 10a–b als Empfangslichtstrahl 38a–b den Sendelichtstrahl 34b–a des anderen Sensorteils 10b–a, dem für eine bidirektionale Kommunikation ein Datenmuster aufmoduliert ist.
  • Diese Kommunikation funktioniert nur bei korrekter Ausrichtung der Datenlichtschranke 100. In der nicht ausgerichteten Konfiguration gemäß 4a empfängt keines der Sensorteile 10a–b einen Empfangslichtstrahl 38a–b. Die Fehlwinkel sind zur Verdeutlichung übertrieben dargestellt, aber das Problem ist wegen der Möglichkeit großer Entfernungen zwischen den Sensorteilen 10a–b, eng begrenzten Strahlquerschnitten und der Verwendung von nicht sichtbarem Infrarotlicht von großer praktischer Relevanz.
  • Erst in einem ausgerichteten Zustand, wie in 4b gezeigt, ist die Datenlichtschranke 100 einsatzbereit. Wegen der erfindungsgemäß vorgesehenen Möglichkeit, die Optikköpfe 12 und damit die Strahlrichtung der Sendelichtstrahlen 34a–b und der Empfangslichtstrahlen 38a–b zu verkippen, wird der erforderliche Ausrichtvorgang erheblich erleichtert und kann sogar automatisiert werden. Dazu verkippen die Sensorteile 10a–b ihren jeweiligen Optikkopf 12 so lange, bis sie ein Signal empfangen, beziehungsweise bis dieses Signal eine maximale Intensität aufweist. Sobald ein Kontakt hergestellt ist, kann die Datenlichtschranke 100 den Kommunikationsweg nutzen, um die gegenseitige Ausrichtung zu koordinieren. Im Betrieb kann die Ausrichtung geprüft und nachgeführt werden, indem die Signalstärke überwacht wird. Besonders geeignet ist hierfür die anhand der 3 erläuterte Bewegungseinheit 44, da sie den einmal erreichten Ausrichtungszustand auch ohne weiteres aktives Einwirken erhält.

Claims (11)

  1. Optoelektronischer Sensor (10) mit einem beweglichen Optikkopf (12), der einen Lichtsender (16) zum Aussenden eines Sendelichtstrahls (34) in einen Überwachungsbereich (36) und einen Lichtempfänger (20) zum Empfangen eines Empfangslichtstrahls (38) aus dem Überwachungsbereich (36) aufweist, mit einem Lager (40), in dem der Optikkopf (12) in mindestens einer Achse innerhalb eines Winkelbereichs verkippbar gelagert ist, mit einer lagefesten Bewegungseinheit (44) sowie mit einem mit dem Optikkopf (12) verbundenen Führungselement (42), das mit der Bewegungseinheit (44) in Eingriff steht, um den Optikkopf (12) in eine mittels der Bewegungseinheit (44) vorgegebbare Orientierung zu verkippen, dadurch gekennzeichnet, dass das Führungselement (42) ein Führungszapfen ist, der in Verlängerung der optischen Achse des Optikkopfes (12) angeordnet ist, dass ein Ende des Führungszapfens (42) mit dem Optikkopf (12) verbunden ist und das andere Ende des Führungszapfens (42) auf der Bewegungseinheit (44) aufliegt oder in die Bewegungseinheit (44) eingeführt und darin beweglich ist und dass der Sensor (10) eine Steuerung (32) aufweist, die dafür ausgebildet ist, mittels der Bewegungseinheit (44) den Optikkopf (12) kontinuierlich zu verkippen, um einen Raumbereich mit einem vorgegebenen Abtastmuster abzutasten.
  2. Sensor (10) nach Anspruch 1. wobei das Lager (40) ein zweidimensionales Lager ist, in dem der Optikkopf (12) in einer ersten und einer zweiten Achse verkippbar gelagert ist und wobei die Bewegungseinheit (44) dafür ausgebildet ist, das Führungselement (42) in zwei Dimensionen zu bewegen, um den Optikkopf (12) in der ersten Achse und der zweiten Achse zu verkippen.
  3. Sensor (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Bewegungseinheit (44) eine drehbare Rillenscheibe (46) aufweist, in deren Rille (48) das Führungselement (42) eingreift.
  4. Sensor (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Bewegungseinheit (44) zwei gekoppelte Rillenscheiben (46a–b) insbesondere mit einem Übersetzungsverhältnis ungleich eins aufweist, wobei das Führungselement (42) in einem Schnittpunkt der Rillen (48a–b) eingreift.
  5. Sensor (10) nach einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei die Bewegungseinheit (44) einen segmentierten Spulenring aufweist, in dem unterschiedliche Magnetfelder erzeugbar sind, und wobei das Führungselement (42) magnetisch ist.
  6. Sensor (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Steuerung (32) dafür ausgebildet ist, den Optikkopf (12) periodisch zu verkippen.
  7. Sensor (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, der einen Lagesensor aufweist, um den Kippwinkel in der mindestens einen Achse zu bestimmen.
  8. Sensor (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Optikkopf (12) eine dem Lichtsender (16) vorgeordnete Sendelinse (30) und eine dem Lichtempfänger (20) vorgeordnete Empfangslinse (22) aufweist, wobei insbesondere die Sendelinse (30) im Zentrum der Empfangslinse (22) angeordnet ist.
  9. Sensor (10) nach Anspruch 8, wobei die Empfangslinse (22) Abstützelemente (24) aufweist, mit denen die Empfangslinse (22) in einem durch die Abmessungen der Abstützelemente (24) gegebenen Abstand auf einer Platine (18) des Lichtempfängers (20) befestigt ist.
  10. Sensor (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, der als entfernungsmessender Sensor zur Abstandsbestimmung von Objekten in dem Überwachungsbereich (36) ausgebildet ist, indem eine Auswertungseinheit (32) die Lichtlaufzeit zwischen Absenden des Sendelichtstrahls (34) und Empfangen des remittierten Empfangslichtstrahls (38) misst.
  11. Verfahren zur Veränderung der Messrichtung eines optoelektronischen Sensors (10), bei dem ein beweglicher Optikkopf (12) mit einem in der Messrichtung ausgerichteten Lichtsender (16) und Lichtempfänger (20) in einem Lager (40) in mindestens einer Achse durch ein mit dem Optikkopf (12) verbundenes Führungselement (42), das in Eingriff mit einer lagefesten Bewegungseinheit (44) steht, von der Bewegungseinheit (44) innerhalb eines Winkelbereichs in eine vorgegebene Orientierung verkippt wird, dadurch gekennzeichnet, dass das als Führungszapfen, der in Verlängerung der optischen Achse des Optikkopfes (12) angeordnet ist, ausgebildete Führungselement (42) mit einem Ende mit dem Optikkopf (12) verbunden ist und mit dem anderen Ende auf der Bewegungseinheit (44) aufliegt oder in die Bewegungseinheit (44) eingeführt und darin beweglich ist, wobei mittels der Bewegungseinheit (44) der Optikkopf (12) kontinuierlich verkippt wird, um einen Raumbereich mit einem vorgegebenen Abtastmuster abzutasten.
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