Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Grundkassette sowie eine Prüfnadelkassette zum Verbinden einer bestückten Leiterplatte mit einer Testeinrichtung zum Testen von bestückten Leiterplatten.The present invention relates to a base cassette and a test needle cartridge for connecting a populated printed circuit board with a test device for testing populated printed circuit boards.
Es ist bekannt, Grundkassetten und Prüfnadelkassetten zum Verbinden einer Testeinrichtung mit einer zu testenden bestückten oder unbestückten Leiterplatte einzusetzen. Beim sogenannten In-Circuit-Test werden bestückte Leiterplatten lediglich auf Fehler in der Leiterbahnführung, wie Kurzschlüsse oder Unterbrechungen, Lötfehler oder Bauteilefehler geprüft. Bei einem Funktionstest werden bestickte Leiterplatten bzw. eingebaute Bauelemente auf Leiterplatten hinsichtlich ihrer Funktion überprüft. Bei allen Tests werden Testkanäle einer Testeinrichtung über die Grundkassette und die Prüfnadelkassette auf Testpunkte auf der zu testenden Leiterplatte gelegt, d. h. elektrisch leitend verbünden, um die entsprechenden Tests durchzuführen.It is known to use basic cassettes and test cassettes for connecting a test device to a populated or unpopulated printed circuit board under test. In the so-called in-circuit test populated printed circuit boards are merely checked for errors in the conductor track guidance, such as short circuits or interruptions, soldering faults or component faults. In a functional test, embroidered printed circuit boards or built-in components on printed circuit boards are checked for their function. In all tests, test channels of a tester are placed over the base cassette and the test needle cartridge at test points on the board to be tested, i. H. electrically conductive to perform the appropriate tests.
Für jeden speziellen Leiterplattentyp bzw. jede spezielle Leiterplattenart wird dabei eine individuelle, spezielle Prüfnadelkassette bereitgestellt, die die Testpunkte auf der speziellen Leiterplatte mittels der in der Prüfnadelkassette angeordneten starren (leitenden) Prüfnadeln mit entsprechenden Anschlusspunkten auf der Grundkassette verbindet. Eine Prüfnadelkassette weist hierbei eine Anzahl von parallel übereinander angeordneten Führungsplatten auf, durch die die Prüfnadeln quer hindurch gehen und in denen die Prüfnadeln gehalten sind. Die Prüfnadeln können hierbei teilweise genau senkrecht, oder auch leicht schräg in Bezug auf die Führungsplatten angeordnet sein, um die teilweise sehr nahe beieinander liegenden Testpunkte einer Leiterplatte auf die in einem größeren Abstand zueinander liegenden Anschlusspunkte der Grundkassette zu entflechten. Die Prüfnadelkassetten können hierbei federnd gelagert sein oder auch nicht. Weiterhin können die Prüfnadeln austauschbar in der Prüfnadelkassette befestigt sein. Derartige Prüfnadelkassetten sind beispielsweise in der DE 19507127 A1 und der DE 202009015172 U1 beschrieben.For each particular type of printed circuit board or PCB, an individualized special test cartridge is provided which connects the test points on the special circuit board by means of the rigid (conducting) probes arranged in the test needle cassette with corresponding connection points on the basic cassette. A test needle cassette in this case has a number of guide plates arranged parallel one above the other, through which the test probes pass transversely and in which the test probes are held. In this case, the test needles may in some cases be arranged exactly perpendicularly, or slightly obliquely with respect to the guide plates, in order to unbundle the test points of a printed circuit board, which are in some cases very close to one another, to the connection points of the basic cassette lying at a greater distance from one another. The test needle cassettes can be resiliently mounted or not. Furthermore, the test needles can be exchangeably mounted in the test needle cartridge. Such test needle cartridges are for example in the DE 19507127 A1 and the DE 202009015172 U1 described.
Grundkassetten dienen zum Verbinden der oben beschriebenen Prüfnadelkassetten mit einer Testeinrichtung. Abhängig von der speziellen Anwendung kann es sich hierbei um universell einsetzbare Grundkassetten handeln, d. h. Grundkassetten, die für eine Vielzahl verschiedener Leiterplatten und Prüfnadelkassetten verwendbar sind. Alternativ sind auch Anwendungen vorstellbar, bei denen eine individualisierte Grundkassette für eine spezielle Leiterplatte bzw. Leiterplattenart und eine spezielle Prüfnadelkassette ausgebildet ist. In wirtschaftlicher Hinsicht ist es natürlich erstrebenswert, möglichst eine universell einsetzbare Grundkassette bereitzustellen, die dann mit individuellen Prüfnadelkassetten kombiniert werden kann.Base cassettes are used to connect the test needle cartridges described above with a test device. Depending on the specific application, these can be universally applicable basic cassettes, i. E. H. Basic cassettes, which can be used for a variety of different printed circuit boards and test cassettes. Alternatively, applications are also conceivable in which an individualized basic cassette is designed for a special printed circuit board or PCB type and a special test needle cassette. In economic terms, it is of course desirable to provide a universal base cassette as much as possible, which can then be combined with individual test needle cassettes.
Ein Beispiel für eine Grundkassette ist in der DE 202009015172 U1 erläutert. Eine Grundkassette umfasst dabei eine Vielzahl von Kontaktelementen mit ersten Anschlusspunkten zur Kontaktierung der Testkanäle einer Testeinrichtung und zweiten Anschlusspunkten zur Kontaktierung der Prüfnadeln der Prüfnadelkassette. Die Kontaktelemente sind in der Regel so ausgebildet, dass sie jeweils eine Art starrer Nadel aufweisen, die auf ihrer Oberseite einen zweiten Anschlusspunkt aufweist oder mit einem derartigen zweiten Anschlusspunkt verbunden ist, und an ihrer Unterseite beispielsweise mittels einer leitenden Drahtverbindung mit einem ersten Anschlusspunkt verbunden ist. Die Nadeln sind in einer Platte gehalten. Durch die Drahtverbindung zwischen den unteren Seiten der Nadeln und den ersten Anschlusspunkten ist es möglich, eine Grundkassette so auszugestalten, dass sie entweder mit einer Testeinrichtung mit einer horizontalen Schnittstelle für die Testkanäle oder mit einer Testeinrichtung mit einer vertikalen Schnittstelle für die Testkanäle verbunden werden kann. Im Gegensatz zu einer derartigen Grundkassette offenbart die DE 19507127 A1 eine Grundplatte bzw. Rasterplatte mit auf einer Platine aufgedruckten ersten und zweiten Anschlusspunkten, welche zur Verbindung einer Prüfnadelkassette mit einer Testeinrichtung dienen. Derartige Rasterplatten sind jedoch nicht flexibel genug einsetzbar.An example of a basic cassette is in the DE 202009015172 U1 explained. A basic cassette comprises a plurality of contact elements with first connection points for contacting the test channels of a test device and second connection points for contacting the test needles of the test needle cassette. The contact elements are usually formed so that they each have a kind of rigid needle having on its upper side a second connection point or is connected to such a second connection point, and is connected at its bottom, for example by means of a conductive wire connection to a first connection point , The needles are held in a plate. By the wire connection between the lower sides of the needles and the first connection points, it is possible to design a basic cassette so that it can be connected either to a test device with a horizontal interface for the test channels or to a test device with a vertical interface for the test channels. In contrast to such a basic cassette discloses the DE 19507127 A1 a base plate or grid plate with printed on a board first and second connection points, which serve to connect a Prüfnadelkassette with a test device. However, such grid plates are not flexible enough to use.
Die vorliegende Erfindung ist daher unter anderem auf die Weiterbildung der erwähnten Grundkassetten gerichtet. Um derartige Grundkassetten für verschieden große Leiterplatten und Leiterplatten mit verschiedener Testpunktdichte verwenden zu können, wäre es ideal, eine möglichst hohe Anzahl von Testkanälen mit einer möglichst hohen Dichte von Testpunkten zur Verfügung zu haben. Die Testverfahren für den Test bestückter Leitungsgruppen bzw. bestückter Baugruppen durch In-Circuit-Test und Funktionstest erfordern jedoch eine relativ aufwendige Messelektronik je Testkanal in der Testeinrichtung, sodass es aus Kostengründen geboten ist, Testeinrichtungen nur mit der wirklich benötigten Anzahl von Testkanälen auszurüsten. Eine kleine Verbesserung bringt der aus der DE 19507127 A1 bekannte Gedanke, in der Rasterplatte (Grundplatte) Kontaktpunkte zu vervielfältigen, sodass mit einem Testkanal der Testeinrichtung zwei oder mehr Testpunkte auf einer Leiterplatte getestet werden können. Abgesehen davon, dass derartige gedruckte Rasterplatten nur bei Testeinrichtungen mit horizontalen Schnittstellen und speziell angepassten Schnittstellen verwendet werden können und die entsprechende Prüfnadelkassette gefederte und damit wesentlich aufwendigere Nadeln benötigt, bedingt schon die Ausführung als gedruckte Leiterbahn erhebliche Einschränkungen. Durch die zumindest in Teilen notwendige parallele Leiterbahnführung bei der Vermultiplizierung der Testkanäle ist zwar eine gewisse Verteilung erreichbar, es bilden sich dennoch ganze Bereiche von Testkanälen, die mit anderen Bereichen in Wechselwirkung stehen. Werden in einer solchen Anordnung durch ein hochpoliges zu testendes Bauteil alle durch die Starrnadeltechnik erreichbaren Testkanäle eines Bereiches belegt, entsteht durch die technische Begrenzung der Rasterplatte zwangsläufig ein anderer Bereich, in dem nur eine sehr geringe Testkanaldichte zur Verfügung steht. Falls zufällig auch in diesem Bereich ein anderes hochpoliges Bauteil liegt, ist eine Kontaktierung aller Pins des Bauteiles dann nicht mehr möglich, obwohl die in Summe verfügbare Kontaktanzahl des Testsystems für die benötigte Testpunktanzahl der Baugruppe ausreichen würde.The present invention is therefore directed, inter alia, to the development of the aforementioned basic cassettes. In order to be able to use such basic cassettes for differently sized printed circuit boards and printed circuit boards with different test point densities, it would be ideal to have the highest possible number of test channels with as high a density of test points as possible. However, the test methods for testing populated line groups or populated assemblies by in-circuit test and function test require a relatively complex measuring electronics per test channel in the test device, so that it is necessary for cost reasons to equip test facilities only with the really required number of test channels. A small improvement brings from the DE 19507127 A1 Known thought, in the grid plate (base plate) to multiply contact points, so that can be tested with a test channel of the test device two or more test points on a circuit board. Apart from the fact that such printed grid plates can only be used in test facilities with horizontal interfaces and specially adapted interfaces and the corresponding Prüfnadelkassette needs sprung and thus much more expensive needles, already requires the design as a printed conductor considerable Restrictions. Although a certain distribution is achievable due to the parallel conductor track guidance, which is necessary at least in part, in the multiplication of the test channels, nevertheless entire areas of test channels which interact with other areas are formed. If, in such an arrangement, all the test channels of a region reachable by the rigid-needle technique are occupied by a high-pole component to be tested, the technical limitation of the grid plate inevitably results in another region in which only a very small test channel density is available. If, by chance, another high-pole component is also located in this area, contact of all pins of the component is then no longer possible, although the total available contact number of the test system would be sufficient for the required test point number of the module.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine verbesserte und effizientere Technik zur Verfügung zu stellen, eine Vielzahl von Testpunkten auf einer bestückten Leiterplatte für In-Circuit und Funktionstests mit den entsprechenden Testkanälen einer für diese Testverfahren vorgesehenen Testeinrichtung zu verbinden.It is therefore an object of the present invention to provide an improved and more efficient technique of connecting a plurality of test points on a populated printed circuit board for in-circuit and functional tests to the corresponding test channels of a test device provided for these test methods.
Diese Aufgabe wird durch eine Grundkassette zum Verbinden einer Testeinrichtung mit einer mit der Grundkassette verbindbaren Prüfnadelkassette zum Testen von bestückten Leiterplatten gemäß Anspruch 1 gelöst, mit ersten Kontaktelementen, wobei jedes erste Kontaktelement jeweils einen ersten Anschlusspunkt zur Verbindung mit einem Testkanal einer Testeinrichtung und einem zweiten Anschlusspunkt zur Verbindung mit einem Kontaktpunkt einer Prüfnadelkassette aufweist, und zweiten Kontaktelementen, wobei zumindest ein Teil der ersten Kontaktelemente mittels Drahtverbindung jeweils mit mindestens einem der zweiten Kontaktelemente verbunden ist, und wobei jedes der zweiten Kontaktelemente einen zweiten Anschlusspunkt zur Verbindung mit einem Kontaktpunkt einer Prüfnadelkassette aufweist, sodass eine Vielzahl von Gruppen aus jeweils mindestens zwei miteinander verbundenen zweiten Anschlusspunkten gebildet sind, wobei die Gruppen so auf der Grundkassette angeordnet sind, dass benachbarte zweite Anschlusspunkte von verschiedenen Gruppen jeweils mit zweiten Anschlusspunkten verbunden sind, die einen Mindestabstand voneinander aufweisen, der größer als der Abstand der benachbarten zweiten Anschlusspunkte ist.This object is achieved by a basic cassette for connecting a test device to a test cassette for testing populated printed circuit boards connectable to the base cassette according to claim 1, with first contact elements, each first contact element each having a first connection point for connection to a test channel of a test device and a second connection point for connection to a contact point of a test needle cartridge, and second contact elements, wherein at least a part of the first contact elements is connected by wire connection to at least one of the second contact elements, and wherein each of the second contact elements has a second connection point for connection to a contact point of a Prüfnadelkassette, so that a plurality of groups are each formed of at least two interconnected second connection points, wherein the groups are arranged on the base cassette, that adjacent second connection points of different groups are each connected to second connection points, which have a minimum distance from one another, which is greater than the distance of the adjacent second connection points.
Die zweiten Kontaktelemente der erfindungsgemäßen Grundkassette weisen somit keine eigenen ersten Anschlusspunkte zur Verbindung mit einem Testkanal einer Testeinrichtung auf, sondern sind mittels der besagten Drahtverbindung mit jeweils einem ersten Kontaktelement verbunden und mittels diesem ersten Kontaktelement mit einem ersten Anschlusspunkt elektrisch leitend verknüpft. Ein jeweiliger Testkanal, der dergestalt mit einem ersten Kontaktelement und mindestens einem zweiten Kontaktelement verbunden ist, wird sozusagen vermultipliziert. Die zweiten Anschlusspunkte eines ersten Kontaktelementes und der mit diesem ersten Kontaktelement verbundenen zweiten Kontaktelemente bilden dabei eine Gruppe, wobei jede Gruppe einem Testkanal zugeordnet ist. Andererseits kann jedem Testkanal eine derartige Gruppe zugeordnet sein, es kann aber auch Testkanäle geben, die nicht einer solchen Gruppe, sondern nur einem ersten Kontaktelement zugeordnet sind.The second contact elements of the basic cassette according to the invention thus do not have their own first connection points for connection to a test channel of a test device, but are connected by means of said wire connection, each with a first contact element and electrically conductively connected by means of this first contact element with a first connection point. A respective test channel, which is connected in such a way with a first contact element and at least one second contact element, is vermultipliziert so to speak. The second connection points of a first contact element and the second contact elements connected to this first contact element form a group, wherein each group is assigned to a test channel. On the other hand, each test channel may be assigned such a group, but there may also be test channels which are not assigned to such a group but only to a first contact element.
Um nun eine möglichst gleichmäßige Verteilung der Gruppen von zweiten Anschlusspunkten auf der Seite oder Oberfläche der Grundkassette zu erreichen, die mit einer Prüfnadelkassette verbunden wird, um beispielsweise das Testen von verschiedenen auseinander liegenden Bereichen mit einer hohen Testpunktdichte und -zahl auf einer zu testenden Leiterplatte zu ermöglichen, schlägt die vorliegende Erfindung vor, erste und zweite Kontaktelemente dergestalt elektrisch leitend zu verbinden, dass die zu verschiedenen Gruppen gehörenden benachbarten zweiten Anschlusspunkte jeweils mit zweiten Anschlusspunkten verbunden sind, die einen Mindestabstand voneinander aufweisen, der größer als der Abstand der benachbarten zweiten Anschlusspunkte ist. Wenn beispielsweise zwei erste Kontaktelemente und damit auch ihre entsprechenden zweiten Anschlusspunkte unmittelbar nebeneinander liegen, d. h. benachbart sind, so sind dann diese beiden ersten Kontaktelemente, wenn sie mit zweiten Kontaktelementen verbunden sind, dergestalt mit den zweiten Kontaktelementen verbunden, dass die beiden zweiten Kontaktelemente und ihre zugehörigen zweiten Anschlusspunkte den besagten Mindestabstand voneinander aufweisen, der größer als der Abstand der benachbarten zweiten Anschlusspunkte der benachbarten ersten Kontaktelemente ist. Diese Regel bezieht sich jedoch nicht nur auf benachbarte erste Kontaktelemente, sondern auch auf benachbarte zweite Kontaktelemente sowie benachbarte erste und zweite Kontaktelemente, wenn sie jeweils mit weiteren zweiten bzw. ersten Kontaktelementen verbunden sind. Der Begriff „benachbart” bezieht sich hierbei auf die unmittelbaren und direkten Nachbarn der jeweiligen zweiten Anschlusspunkte. Sind beispielsweise die zweiten Anschlusspunkte (und die zugehörigen ersten und zweiten Kontaktelemente) in der Draufsicht in einem regelmäßigen Raster angeordnet, d. h. in regelmäßigen horizontalen und vertikalen Reihen nebeneinander, so hat jeder zweite Anschlusspunkt acht unmittelbare Nachbarn, nämlich je zwei horizontale Nachbarn, je zwei vertikale Nachbarn und je zwei Nachbarn in den 45° Richtungen. Diese benachbarten zweiten Anschlusspunkte liegen somit unmittelbar benachbart nebeneinander, ohne dass irgendwelche anderen zweiten Anschlusspunkte dazwischen liegen.In order to achieve the most even distribution possible of the groups of second connection points on the side or surface of the base cassette which is connected to a test needle cartridge, for example, to the testing of different spaced areas with a high test point density and number on a circuit board to be tested The present invention proposes electrically connecting first and second contact elements in such a way that the adjacent second connection points belonging to different groups are respectively connected to second connection points which have a minimum distance from each other that is greater than the distance of the adjacent second connection points , If, for example, two first contact elements and thus also their corresponding second connection points lie directly next to each other, d. H. are adjacent, then these two first contact elements, when they are connected to second contact elements, connected to the second contact elements such that the two second contact elements and their associated second connection points have the said minimum distance from each other, which is greater than the distance of the adjacent second Connection points of the adjacent first contact elements. However, this rule does not only refer to adjacent first contact elements, but also to adjacent second contact elements as well as adjacent first and second contact elements, if they are each connected to further second or first contact elements. The term "adjacent" refers to the immediate and immediate neighbors of the respective second connection points. For example, if the second connection points (and the associated first and second contact elements) in the plan view arranged in a regular grid, d. H. in juxtaposed horizontal and vertical rows, every second connection point has eight immediate neighbors, namely two horizontal neighbors, two vertical neighbors and two neighbors in each of the 45 ° directions. These adjacent second connection points are thus immediately adjacent to each other, without any other second connection points between them.
Vorteilhafter Weise ist nur ein Anteil und nicht alle ersten Kontaktelemente mit mindestens einem der zweiten Kontaktelemente verbunden. Beispielsweise kann es abhängig von der Anwendung von Vorteil sein, wenn mindestens 50%, mindestens 60%, mindestens 70%, mindestens 80% oder mindestens 90% der ersten Kontaktelemente mit mindestens einem der zweiten Kontaktelemente verbunden sind. Alternativ kann es von Vorteil sein, wenn jedes erste Kontaktelement mit mindestens einem der zweiten Kontaktelemente verbunden ist. Advantageously, only a portion and not all the first contact elements are connected to at least one of the second contact elements. For example, depending on the application, it may be advantageous if at least 50%, at least 60%, at least 70%, at least 80% or at least 90% of the first contact elements are connected to at least one of the second contact elements. Alternatively, it may be advantageous if each first contact element is connected to at least one of the second contact elements.
Weiterhin ist es von Vorteil, wenn der Mindestabstand ein Fünftel, ein Viertel, ein Drittel oder die Hälfte der Länge oder der Breite der Grundkassette beträgt.Furthermore, it is advantageous if the minimum distance is a fifth, a quarter, a third or half of the length or the width of the basic cassette.
Weiterhin ist es von Vorteil, wenn der Abstand zwischen miteinander verbundenen zweiten Anschlusspunkten, d. h. der Abstand der zweiten Anschlusspunkte innerhalb einer Gruppe, ein Viertel, ein Drittel, oder die Hälfte der Länge oder der Breite der Grundkassette beträgt.Furthermore, it is advantageous if the distance between interconnected second connection points, i. H. the distance between the second connection points within a group is one fourth, one third, or half the length or width of the basic cassette.
Vorteilhafter Weise, wenn die Seite der Grundkassette, auf der sich die zweiten Anschlusspunkte befinden, in vier, fünf oder mehr gleichgroße Segmente unterteilt ist, liegen die jeweils miteinander verbundenen zweiten Anschlusspunkte einer Gruppe in verschiedenen Segmenten. Die Aufteilung in die gleichgroßen Segmente ist dabei eine gedankliche Hilfskonstruktion, um eine möglichst gleichmäßige Verteilung der vermultiplizierten Testkanäle zu erreichen.Advantageously, when the side of the basic cassette on which the second connection points are located is subdivided into four, five or more equal segments, the respectively connected second connection points of a group lie in different segments. The division into the segments of the same size is an intellectual auxiliary construction in order to achieve the most uniform possible distribution of the multiplied test channels.
Weiterhin vorteilhafter Weise, wenn die Seite der Grundkassette, auf der sich die zweiten Anschlusspunkte befinden, in vier, fünf, sechs oder mehr gleichgroße Segmente unterteilt ist, liegen die zweiten Anschlusspunkte, die mit benachbarten zweiten Anschlusspunkten verbunden und in dem Mindestabstand voneinander angeordnet sind, in verschiedenen Segmenten. Hierbei ist zu beachten, dass, falls eine sehr große Anzahl der ersten Kontaktelemente oder alle ersten Kontaktelemente mit zweiten Kontaktelementen verbunden sind, die gedankliche Unterteilung in eine größere Anzahl von Segmenten, beispielsweise neun, zehn, elf, zwölf oder mehr Segmente notwendig ist, da jeder zweite Anschlusspunkt, wie weiter oben erläutert, acht unmittelbare Nachbarn hat, sodass hier mindestens neun gleichgroße Segmente notwendig sind, um diese Regel zu erfüllen.Further advantageously, when the side of the basic cassette on which the second connection points are located is subdivided into four, five, six or more equal segments, the second connection points, which are connected to adjacent second connection points and are arranged at the minimum distance from each other, in different segments. It should be noted that if a very large number of first contact elements or all first contact elements are connected to second contact elements, the mental division into a larger number of segments, for example nine, ten, eleven, twelve or more segments is necessary every second connection point, as explained above, has eight immediate neighbors, so that here at least nine segments of equal size are necessary to fulfill this rule.
U. a. für Anwendungen mit kombiniertem In-Circuit und Funktionstest ist es vorteilhaft, wenn eine Anzahl der ersten und/oder zweiten Kontaktelemente so ausgestaltet und angeordnet ist, dass ihre zweiten Anschlusspunkte höher als die zweiten Anschlusspunkte der anderen Kontaktelemente liegen, sodass sie beim Verbinden mit einer Prüfnadelkassette die zugeordneten Kontaktpunkte der Prüfnadelkassette berühren, bevor die zweiten Anschlusspunkte der anderen Kontaktelemente die zugeordneten Kontaktpunkte der Prüfnadelkassette berühren. Hierbei ist vorteilhafter Weise die besagte Anzahl von ersten und/oder zweiten Kontaktelementen federnd gelagert und der Federweg entspricht mindestens dem Höhenunterschied zwischen den höher liegenden zweiten Anschlusspunkten der besagten Anzahl von ersten und/oder zweiten Kontaktelementen und den zweiten Anschlusspunkten der anderen Kontaktelemente. Hierbei werden die höher liegenden zweiten Anschlusspunkte vorteilhafter Weise zum Funktions-Testen verwendet, wozu in der Regel eine geringere Anzahl von Testkanälen notwendig ist. Werden diese höher liegenden zweiten Anschlusspunkte bzw. ihre entsprechenden federgelagerten Kontaktelemente heruntergedrückt, so können dann, wenn diese zweiten Anschlusspunkte auf dem Niveau der anderen (niedriger liegenden) zweiten Anschlusspunkte angelangt sind, alle zweiten Anschlusspunkte, die nunmehr in einer Ebene liegen, in voller Anzahl beispielsweise für In-Circuit-Tests zur Verfügung stehen. Ein Vorteil dieser Ausgestaltung ist, dass in der Prüfnadelkassette keine Nadeln unterschiedlicher Länge vorgesehen werden müssen.U. a. for combined in-circuit and functional test applications, it is advantageous if a number of the first and / or second contact elements are configured and arranged such that their second connection points are higher than the second connection points of the other contact elements, so that they connect with a test needle cassette Touch the associated contact points of the test needle cartridge before the second connection points of the other contact elements touch the associated contact points of the test needle cartridge. In this case, advantageously, the said number of first and / or second contact elements is resiliently mounted and the spring travel corresponds at least to the height difference between the higher lying second connection points of said number of first and / or second contact elements and the second connection points of the other contact elements. Here, the higher-lying second connection points are advantageously used for functional testing, for which a smaller number of test channels is usually necessary. If these higher-lying second connection points or their corresponding spring-loaded contact elements are depressed, then, when these second connection points have reached the level of the other (lower) second connection points, all second connection points, which now lie in one plane, in full For example, for in-circuit tests are available. An advantage of this embodiment is that in the Prüfnadelkassette no needles of different lengths must be provided.
Es ist hervorzuheben, dass in der Grundkassette der vorliegenden Erfindung alle Kontaktelemente federnd gelagert sein können, oder alle Kontaktelemente auch starr gelagert sein können. Eine federnde Lagerung hat Vorteile bei bestimmten Anwendungen, ist jedoch kostenintensiver.It should be emphasized that in the basic cassette of the present invention, all contact elements may be resiliently mounted, or all contact elements may also be rigidly mounted. Spring storage has advantages in certain applications but is more costly.
Die vorliegende Erfindung betrifft weiterhin eine Prüfnadelkassette gemäß Anspruch 10, zum Verbinden einer Testeinrichtung mit einer zu testenden Leiterplatte mittels einer mit der Prüfnadelkassette und der Testeinrichtung zu verbindenden Grundkassette gemäß der vorliegenden Erfindung. Die erfindungsgemäße Prüfnadelkassette umfasst Prüfnadeln zum Kontaktieren von Testpunkten auf der Leiterplatte, wobei die Prüfnadeln so angeordnet und ausgerichtet sind, dass sie zumindest einen Teil der zweiten Anschlusspunkte der Grundkassette mit den Testpunkten verbinden. Die vorliegende Erfindung ermöglicht, dank der erfindungsgemäßen Grundkassette, das Berechnen und Konzipieren relative einfacher und kostengünstiger Prüfnadelkassetten für die jeweilige spezielle Leiterplatte oder Leiterplattenart.The present invention further relates to a test needle cartridge according to claim 10, for connecting a test device to a printed circuit board to be tested by means of a basic cassette to be connected to the test needle cartridge and the test device according to the present invention. The test needle cartridge of the present invention includes probes for contacting test points on the circuit board, the probes being arranged and aligned to connect at least a portion of the second terminals of the base cassette to the test points. Thanks to the basic cassette according to the invention, the present invention makes it possible to calculate and design relatively simple and inexpensive test-point cassettes for the particular special printed circuit board or printed circuit board type.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich weiterhin auf die Verwendung einer erfindungsgemäßen Grundkassette und einer erfindungsgemäßen Prüfnadelkassette in einem Testverfahren zum Testen von bestückten Leiterplatten. Hierbei kann aus jeweils einer Gruppe von miteinander verbundenen zweiten Anschlusspunkten nur ein einziger zweiter Anschlusspunkt zum Testen eines Testpunktes auf einer Leiterplatte verwendet werden. Bei speziellen Anwendungen, falls bei einzelnen Leiterplattenarten die von der Leiterplatte benötigte Kontaktanzahl des Testsystems geringer ist als die verfügbare Kontaktanzahl, ist es jedoch von Vorteil, dass in einfacher Form auch bei einem Teil der Gruppen miteinander verbundener zweiter Anschlusspunkte jeweils zwei Anschlusspunkte gleichzeitig mit unterschiedlichen Testpunkten der Leiterplatte verbunden werden können.The present invention further relates to the use of a basic cassette according to the invention and a test needle cassette according to the invention in a test method for testing populated printed circuit boards. In this case, from only one group of interconnected second connection points, only a single second connection point can be used for testing a test point a printed circuit board can be used. In special applications, if the number of contacts of the test system required for the individual circuit board types is less than the available contact number, however, it is advantageous that in a simple form even with a part of the groups of interconnected second connection points two connection points at the same time with different test points the circuit board can be connected.
Weiterhin vorteilhafter Weise werden die zweiten Anschlusspunkte zum In-Circuit-Testen verwendet. Weiterhin vorteilhafter Weise werden die höher liegenden zweiten Anschlusspunkte zum Funktions-Testen verwendet.Further advantageously, the second connection points are used for in-circuit testing. Further advantageously, the higher lying second connection points are used for functional testing.
Die vorliegende Erfindung erlaubt damit in besonders vorteilhafter Weise das Testen von Testpunkten mittels geeigneter Testkanäle einer Testeinrichtung dergestalt, dass das Testen eines Bereiches auf der Leiterplatte mit einer hohen Testpunktdichte nicht zu einer deutlichen Ausdünnung der zur Verfügung stehenden Testpunkte in einem anderen Bereich der Leiterplatte führt.The present invention thus advantageously permits the testing of test points by means of suitable test channels of a test device such that the testing of one area on the printed circuit board with a high test point density does not lead to a significant thinning of the available test points in another area of the circuit board.
In der folgenden Beschreibung wird die vorliegende Erfindung anhand bevorzugter Ausgestaltungen unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert, in denenIn the following description, the present invention will be explained in more detail with reference to preferred embodiments with reference to the accompanying drawings, in which
1 eine schematische Seitenansicht einer erfindungsgemäßen Grundkassette, einer erfindungsgemäßen Prüfnadelkassette und einer Leiterplatte zeigt, 1 1 shows a schematic side view of a basic cassette according to the invention, a test needle cassette according to the invention and a printed circuit board,
2a eine schematische Seitenansicht einer ersten Ausgestaltung einer erfindungsgemäßen Grundkassette zeigt, 2a 1 shows a schematic side view of a first embodiment of a basic cassette according to the invention,
2b eine schematische Seitenansicht einer zweiten Ausgestaltung einer erfindungsgemäßen Grundkassette zeigt, 2 B 1 shows a schematic side view of a second embodiment of a basic cassette according to the invention,
3 eine schematische Draufsicht auf die Oberseite einer erfindungsgemäßen Grundkassette mit den zweiten Anschlusspunkten und einer schematischen Darstellung der Drahtverbindung zwischen ersten und zweiten Kontaktelementen. zeigt, 3 a schematic plan view of the top of a basic cassette according to the invention with the second connection points and a schematic representation of the wire connection between the first and second contact elements. shows,
4 eine schematische Draufsicht auf die Oberseite einer erfindungsgemäßen Grundkassette mit den zweiten Anschlusspunkten und einer schematischen Darstellung der Drahtverbindungen zwischen benachbarten zweiten Anschlusspunkten und weiteren zweiten Anschlusspunkten zeigt, 4 1 shows a schematic plan view of the upper side of a basic cassette according to the invention with the second connection points and a schematic representation of the wire connections between adjacent second connection points and further second connection points,
5 eine schematische Draufsicht auf die Oberseite einer erfindungsgemäßen Grundkassette mit den zweiten Anschlusspunkten und einer schematischen Darstellung der Drahtverbindungen zwischen jeweils einem ersten Kontaktelement und jeweils zwei zweiten Kontaktelementen zeigt, 5 1 shows a schematic plan view of the upper side of a basic cassette according to the invention with the second connecting points and a schematic representation of the wire connections between in each case a first contact element and in each case two second contact elements,
6 eine schematische Draufsicht auf die Oberseite einer erfindungsgemäßen Grundkassette mit den zweiten Anschlusselementen sowie in schematischer Weise die Verbindung von jeweils weit auseinander liegenden miteinander verbundenen ersten und zweiten Kontaktelementen gleichzeitig mit zu testenden Testpunkten auf einer Leiterplatte, 6 a schematic plan view of the top of a basic cassette according to the invention with the second connection elements and in a schematic way the connection of widely spaced interconnected first and second contact elements simultaneously with test points to be tested on a circuit board,
7 eine schematische Seitenansicht von weiteren alternativen Ausgestaltungen einer erfindungsgemäßen Grundkassette und einer erfindungsgemäßen Prüfnadelkassette. 7 a schematic side view of further alternative embodiments of a basic cartridge according to the invention and a test needle cartridge according to the invention.
1 zeigt eine schematische Seiten- bzw. Schnittansicht durch eine erfindungsgemäße Grundkassette 1, eine erfindungsgemäße Prüfnadelkassette 2 und eine zu testende bestückte Leiterplatte 3. In der Darstellung von 1 sind die Grundkassette 1, die Prüfnadelkassette 2 und die Leiterplatte 3 nicht vollständig sondern nur jeweils in einem Ausschnitt dargestellt. In der folgenden Beschreibung werden nur die für das Verständnis und Definition der vorliegenden Erfindung notwendigen Elemente und Funktionen erläutert. Die Grundkassette und Prüfnadelkassette der Erfindung können jedoch weitere Elemente und Funktionen aufweisen, die für das korrekte Funktionieren in der Realität notwendig sind. 1 shows a schematic side or sectional view through a basic cassette according to the invention 1 , A test needle cartridge according to the invention 2 and a populated printed circuit board to be tested 3 , In the presentation of 1 are the basic cassette 1 , the test needle cartridge 2 and the circuit board 3 not completely but only in each case in a section shown. In the following description, only the elements and functions necessary for the understanding and definition of the present invention will be explained. However, the base cassette and test needle cartridge of the invention may have other elements and functions necessary for proper functioning in reality.
Die erfindungsgemäße Grundkassette 1 umfasst eine große Anzahl von ersten Kontaktelementen 4 und zweiten Kontaktelementen 8. Die ersten Kontaktelemente 4 umfassen dabei jeweils eine elektrisch leitende Nadel (bzw. einen Stift) 12, die jeweils mittels einer elektrisch leitenden Drahtverbindung 10 mit einem ersten Anschlusspunkt 5 verbunden sind. Der erste Anschlusspunkt 5 dient jeweils zur Verbindung mit einem Testkanal einer nicht dargestellten Testeinrichtung zum Durchführen von In-Circuit und Funktion-Testen an der zu testenden Leiterplatte 3 bzw. deren Bauteilen. Jede Nadel 12 umfasst weiterhin einen zweiten Anschlusspunkt 6 bzw. ist mit einem derartigen zweiten Anschlusspunkt 6 elektrisch leitend verbunden. Die zweiten Anschlusspunkte 6 dienen zur Verbindung mit der Prüfnadelkassette 2, wie weiter unten näher erläutert wird. Die zweiten Anschlusspunkte 6 sind auf einer Oberseite der Grundkassette 1 in einer zweidimensionalen Anordnung angeordnet, wie es in den schematischen Draufsichten der 3, 4 und 5 zu erkennen ist. Die Nadeln 12 sind dabei in einer Festhalteplatte 11, die nicht elektrisch leitend ist, angeordnet, beispielsweise in Hülsen oder dergleichen. Die ersten Anschlusspunkte 5 sind im dargestellten Beispiel leitende Endpunkte von kleinen elektrisch leitenden Stiften 13, die mit den Drahtverbindungen 10 mit den Unterseiten der Nadeln 12 verbunden sind. Die kleinen Stifte 13 sind in einer Platte 14 gehalten, die ebenfalls nicht elektrisch leitend ist.The basic cassette according to the invention 1 includes a large number of first contact elements 4 and second contact elements 8th , The first contact elements 4 each include an electrically conductive needle (or a pin) 12 , each by means of an electrically conductive wire connection 10 with a first connection point 5 are connected. The first connection point 5 serves in each case for connection to a test channel of a test device, not shown, for performing in-circuit and function testing on the circuit board to be tested 3 or their components. Every needle 12 further comprises a second connection point 6 or is with such a second connection point 6 electrically connected. The second connection points 6 serve for connection to the test needle cartridge 2 , as explained in more detail below. The second connection points 6 are on a top of the basic cassette 1 arranged in a two-dimensional arrangement, as shown in the schematic plan views of 3 . 4 and 5 can be seen. The needles 12 are in a retaining plate 11 , which is not electrically conductive, arranged, for example in sleeves or the like. The first connection points 5 in the example shown, are conductive end points of small, electrically conductive pins 13 that with the wire connections 10 with the bottoms of the needles 12 are connected. The little pins 13 are in a plate 14 held, which is also not electrically conductive.
Die erfindungsgemäße Grundkassette 1 umfasst weiterhin zweite Kontaktelemente 8, die Nadeln (bzw. Stifte) 12' aufweisen, die genauso oder zumindest ähnlich wie die Nadeln 12 der ersten Kontaktelemente 4 ausgestaltet sind. Die in Bezug auf die Nadeln 12 gemachten Erläuterungen und Aussagen treffen auch auf die Nadeln 12' der zweiten Kontaktelemente 8 zu. Jede Nadel 12' hat an ihrer oberen Seite einen zweiten Anschlusspunkt 6', wobei die zweiten Anschlusspunkte 6' genauso (oder zumindest ähnlich) ausgestaltet sind, wie die zweiten Anschlusspunkte 6 der ersten Kontaktelemente. Alle zweiten Anschlusselemente 6 und 6' liegen im in der 1 gezeigten Beispiel in einer Ebene und sind beispielsweise in einem regelmäßigen Raster angeordnet, wie es in den 3, 4 und 5 zu erkennen ist. Es ist jedoch auch vorstellbar, dass die zweiten Anschlusspunkte 6 und 6' in einem beliebigen unregelmäßigen Raster angeordnet sind. Im Unterschied zu den ersten Kontaktelementen 4 sind die Nadeln 12' der zweiten Kontaktelemente 8 nicht direkt mit einem jeweiligen ersten Anschlusspunkt 5 verbunden, sondern sind mittels einer elektrisch leitenden Drahtverbindung 9 an ihrer Unterseite mit einem jeweiligen, ersten Kontaktelement 6 verbunden. Genauer gesagt ist die Unterseite einer Nadel 12' eines zweiten Kontaktelementes 8 mittels einer elektrisch leitenden Drahtverbindung 9 mit einer Unterseite einer Nadel 12 eines ersten Kontaktelementes verbunden. Das bedeutet, dass die beiden Anschlusspunkte 6 und 6' von zwei miteinander verbundenen Nadeln 12 und 12' mit einem einzigen ersten Anschlusspunkt 5 verbunden sind und somit mit einem einzigen Testkanal einer nichtgezeigten Testeinrichtung verbunden werden können. Jedes zweite Kontaktelement 8, d. h. jede Nadel 12' eines zweiten Kontaktelementes 8 ist dergestalt mit einem ersten Kontaktelement 4 verbunden. Es ist andererseits aber nicht notwendig, dass jedes erste Kontaktelement 4, d. h. jede Nadel 12 eines ersten Kontaktelementes 4, mit einem oder mehreren zweiten Kontaktelementen 8 verbunden ist. Beispielsweise können 50% (oder mehr) der ersten Kontaktelemente 4 jeweils mit einem oder mehr zweiten Kontaktelementen 8 verbunden sein. Alternativ können 60% (oder mehr) der ersten Kontaktelemente 4 mit jeweils einem oder mehreren zweiten Kontaktelementen 8 verbunden sein. Weiterhin alternativ können 70% (oder mehr), 80% (oder mehr) oder 90% (oder mehr) der ersten Kontaktelemente 4 jeweils mit einem oder mehreren zweiten Kontaktelementen 8 verbunden sein. In einer alternativen Ausgestaltung ist es möglich, dass alle ersten Kontaktelemente 4 jeweils mit einem oder mehreren zweiten Kontaktelementen 8 verbunden sind. Es ist weiterhin zu sagen, dass ein jeweiliges zweites Kontaktelement 8 nur jeweils mit einem einzigen ersten Kontaktelement 4 verbunden ist, jedoch ein jeweiliges ersten Kontaktelement 4 mit einem oder mehreren zweiten Kontaktelementen 8 verbunden sein kann. Der zweite Anschlusspunkt 6 eines ersten Kontaktelementes 4 und die ein oder mehreren zweiten Anschlusspunkte 6' der mit diesem ersten Kontaktelement 4 verbundenen einer der mehreren zweiten Kontaktelemente 8 werden im Rahmen der vorliegenden Anmeldung als Gruppe bezeichnet. Eine Gruppe von zweiten Anschlusspunkten 6 und 6' ist entsprechend jeweils mit einem einzigen ersten Anschlusspunkt 5 verbunden und kann dergestalt mit einem einzigen Testkanal einer Testeinrichtung verbunden werden.The basic cassette according to the invention 1 further comprises second contact elements 8th , the needles (or pins) 12 ' have the same or at least similar to the needles 12 the first contact elements 4 are designed. The in terms of the needles 12 made explanations and statements also apply to the needles 12 ' the second contact elements 8th to. Every needle 12 ' has a second connection point on its upper side 6 ' , where the second connection points 6 ' the same (or at least similar) are designed as the second connection points 6 the first contact elements. All second connection elements 6 and 6 ' lie in the 1 example shown in a plane and are arranged for example in a regular grid, as in the 3 . 4 and 5 can be seen. However, it is also conceivable that the second connection points 6 and 6 ' are arranged in any irregular grid. In contrast to the first contact elements 4 are the needles 12 ' the second contact elements 8th not directly with a respective first connection point 5 but are connected by means of an electrically conductive wire connection 9 on its underside with a respective, first contact element 6 connected. More precisely, the bottom is a needle 12 ' a second contact element 8th by means of an electrically conductive wire connection 9 with a bottom of a needle 12 connected to a first contact element. That means the two connection points 6 and 6 ' of two connected needles 12 and 12 ' with a single first connection point 5 are connected and thus can be connected to a single test channel of a test device, not shown. Every second contact element 8th ie every needle 12 ' a second contact element 8th is such a way with a first contact element 4 connected. On the other hand, it is not necessary that every first contact element 4 ie every needle 12 a first contact element 4 , with one or more second contact elements 8th connected is. For example, 50% (or more) of the first contact elements 4 each with one or more second contact elements 8th be connected. Alternatively, 60% (or more) of the first contact elements 4 each with one or more second contact elements 8th be connected. Still alternatively, 70% (or more), 80% (or more), or 90% (or more) of the first contact elements 4 each with one or more second contact elements 8th be connected. In an alternative embodiment, it is possible that all the first contact elements 4 each with one or more second contact elements 8th are connected. It is further to say that a respective second contact element 8th only each with a single first contact element 4 is connected, but a respective first contact element 4 with one or more second contact elements 8th can be connected. The second connection point 6 a first contact element 4 and the one or more second connection points 6 ' the with this first contact element 4 connected one of the plurality of second contact elements 8th are referred to in the context of the present application as a group. A group of second connection points 6 and 6 ' is accordingly each with a single first connection point 5 connected and can be connected in such a way with a single test channel of a test device.
In den 2a und 2b sind zwei alternative Ausgestaltungen einer erfindungsgemäßen Grundkassette 1 dargestellt. In der in 2a in einem Ausschnitt dargestellten Ausgestaltung ist die Platte 14, an der die Nadeln 13 der ersten Anschlusspunkte 5 befestigt sind, in einem rechten Winkel an der Platte 11 angebracht, in welcher die Nadeln 12 und 12' der ersten und zweiten Kontaktelemente 4 bzw. 8 befestigt sind. Hierdurch können die Testkanäle einer Testeinrichtung kontaktiert werden, die ein vertikale Schnittfläche für die Kontaktierung der Testkanäle aufweist.In the 2a and 2 B are two alternative embodiments of a basic cassette according to the invention 1 shown. In the in 2a in a detail shown embodiment is the plate 14 at the needles 13 the first connection points 5 are fixed, at a right angle to the plate 11 attached, in which the needles 12 and 12 ' the first and second contact elements 4 respectively. 8th are attached. In this way, the test channels of a test device can be contacted, which has a vertical sectional area for the contacting of the test channels.
In dem in 2b gezeigten Beispiel ist die Platte 14 mit den Nadeln 13 parallel zur Platte 11 an der Unterseite der Grundkassette 1 angeordnet, sodass horizontal angeordnete Testkanäle einer Testeinrichtung kontaktiert werden können. Die Vorteile der Verwendung einer Grundkassette 1 mit Nadeln 12, 12', Drahtverbindungen 10 und Nadeln 13 mit ersten Anschlusspunkten 5 sind daher die flexible Einsetzbarkeit, sowie das erleichterte Reparieren und Austauschen von defekten Teilen. Es ist sogar vorstellbar, dass die Platte 14 schwenkbar und/oder abnehmbar an der Platte 11 befestigt werden kann, sodass eine einzige erfindungsgemäße Grundkassette 1 universell mit verschiedensten Testeinrichtungen verwendet werden kann.In the in 2 B example shown is the plate 14 with the needles 13 parallel to the plate 11 at the bottom of the basic cassette 1 arranged so that horizontally arranged test channels of a test device can be contacted. The advantages of using a basic cassette 1 with needles 12 . 12 ' , Wire connections 10 and needles 13 with first connection points 5 Therefore, the flexible use, as well as the easier repair and replacement of defective parts. It is even conceivable that the plate 14 swiveling and / or removable on the plate 11 can be attached, so that a single inventive basic cassette 1 can be used universally with a variety of test equipment.
Die in 1 dargestellte erfindungsgemäße Prüfnadelkassette 2 umfasst eine Anzahl von parallel in einem Abstand zueinander angeordneten nicht leitenden Führungsplatten 17, die durch entsprechende Abstands- oder Halteelemente 18 miteinander verbunden und aneinander befestigt sind. An der Oberseite der erfindungsgemäßen Prüfnadelkassette 2 ist eine Abschlussplatte 19 angeordnet, an deren Oberseite eine zu testende Leiterplatte 3 angeordnet wird. An der Unterseite der erfindungsgemäßen Prüfnadelkassette 2 ist eine Abschlussplatte 20 angeordnet. Die erfindungsgemäße Prüfnadelkassette 2 ist weiterhin von einem Gehäuse 23 umgeben. Zur Verbindung der zweiten Anschlusspunkte 6, 6' der erfindungsgemäßen Grundkassette 1 mit zu testendenden Testpunkten auf einer Leiterplatte 3 sind elektrisch leitende Prüfnadeln 16 vorgesehen, die durch die Führungsplatten 17 gehalten sind. Die Prüfnadeln 16 erstrecken sich im Wesentlichen quer (quer oder leicht schräg) zu den Führungsplatten 17 und bilden auf der Oberseite der Prüfnadelkassette 2 Kontaktpunkte zum Kontaktieren von Testpunkten auf eine Leiterplatte 3 und auf der Unterseite der Prüfnadelkassette 2 Kontaktpunkte 7 zum Kontaktieren der zweiten Anschlusspunkte 6, 6' der erfindungsgemäßen Grundkassette 1. Hierfür ist in der unteren Platte 20 der Prüfnadelkassette 2 für jede Prüfnadel 16 jeweils eine Bohrung vorgesehen, durch die die Oberseite einer entsprechenden Nadel 12, 12' und der entsprechend zugeordnete zweite Anschlusspunkt 6, 6' die Unterseite jeder Prüfnadel 16 kontaktieren kann. Die Prüfnadeln 16 können senkrecht zu den Platten 17 und/oder leicht schräg zu ihnen angeordnet sein.In the 1 illustrated test needle cartridge according to the invention 2 comprises a number of non-conductive guide plates arranged in parallel spaced relationship 17 , which by appropriate distance or holding elements 18 connected together and attached to each other. At the top of the test needle cartridge according to the invention 2 is a graduation plate 19 arranged at the top of a circuit board to be tested 3 is arranged. At the bottom of the test needle cartridge according to the invention 2 is a graduation plate 20 arranged. The test needle cartridge according to the invention 2 is still from a housing 23 surround. To connect the second connection points 6 . 6 ' the basic cassette according to the invention 1 with test points to be tested on a printed circuit board 3 are electrically conductive probes 16 provided by the guide plates 17 are held. The test pins 16 extend substantially transversely (transversely or slightly obliquely) to the guide plates 17 and form on top of the test needle cartridge 2 Contact points for contacting test points on a printed circuit board 3 and on the bottom of the test needle cartridge 2 Contact points 7 for contacting the second connection points 6 . 6 ' the basic cassette according to the invention 1 , This is in the lower plate 20 the test needle cartridge 2 for each test needle 16 each provided a bore through which the top of a corresponding needle 12 . 12 ' and the correspondingly assigned second connection point 6 . 6 ' the bottom of each test needle 16 can contact. The test pins 16 can be perpendicular to the plates 17 and / or be arranged slightly obliquely to them.
In den 3, 4 und 5 ist jeweils schematisch eine Draufsicht auf die Platte 11 der erfindungsgemäßen Grundkassette 1, genauer gesagt deren Oberseite 15 mit den aus ihr heraus stehenden zweiten Anschlusspunkten 6 und 6' dargestellt. Die erfindungsgemäße Grundkassette 1 hat eine breite B und eine Länge L, die, abgesehen von einem Montagerand, der Breite bzw. Länge der Platte 11 entsprechen. Wie in den 3, 4 und 5 zu erkennen ist, sind die zweiten Anschlusspunkte 6, 6' in einem regelmäßigen Raster jeweils in Linien entlang der Längsrichtung und der Breitenrichtung hintereinander angeordnet. Es sind jedoch auch jegliche andere geometrische regelmäßige oder unregelmäßige Anordnungen der zweiten Anschlusspunkte 6 und 6' im Rahmen der vorliegenden Erfindungen möglich.In the 3 . 4 and 5 is in each case schematically a plan view of the plate 11 the basic cassette according to the invention 1 , more precisely their top 15 with the second connection points out of it 6 and 6 ' shown. The basic cassette according to the invention 1 has a wide B and a length L, which, apart from a mounting edge, the width and length of the plate 11 correspond. As in the 3 . 4 and 5 can be seen, are the second connection points 6 . 6 ' arranged in a regular grid in each case in lines along the longitudinal direction and the width direction one behind the other. However, it is also any other geometric regular or irregular arrangements of the second connection points 6 and 6 ' within the scope of the present inventions possible.
Wie oben erläutert bezeichnet das Wort Gruppe im Rahmen der vorliegenden Anmeldung ein erstes Kontaktelement 4 bzw. dessen zweiten Anschlusspunkt 6 und ein oder mehrere mit diesem ersten Kontaktelement 4 verbundene zweite Kontaktelemente 8 bzw. deren zweite Anschlusspunkte 6'. Erfindungsgemäß sind die Gruppen so auf der Grundkassette 1 angeordnet, dass benachbarte zweite Anschlusspunkte 6, 6' (bzw. benachbarte erste oder zweite Kontaktelemente 4 bzw. 8), die jeweils zu verschiedenen Gruppen gehören, jeweils mit zweiten Anschlusspunkten 6, 6' (bzw. zweiten oder ersten Kontaktelementen 8 bzw. 4) verbunden sind, die einen Mindestabstand voneinander aufweisen, der größer als der Abstand der benachbarten zweiten Anschlusspunkte 6, 6' ist.As explained above, in the context of the present application the word group designates a first contact element 4 or its second connection point 6 and one or more with this first contact element 4 connected second contact elements 8th or their second connection points 6 ' , According to the invention, the groups are on the base cassette 1 arranged that adjacent second connection points 6 . 6 ' (or adjacent first or second contact elements 4 respectively. 8th ), each belonging to different groups, each with second connection points 6 . 6 ' (or second or first contact elements 8th respectively. 4 ), which have a minimum distance from each other, which is greater than the distance of the adjacent second connection points 6 . 6 ' is.
In 3 sind zwei Gruppen aus jeweils einem zweiten Anschlusspunkt 6 und einem zweiten Anschlusspunkt 6' zu erkennen, die – wie ebenfalls schematisch dargestellt – durch eine Drahtverbindung 9 miteinander verbunden sind. Genauer gesagt sind die zugehörigen ersten und zweiten Kontaktelemente 4 bzw. 8 mittels der Drahtverbindung 9 miteinander verbunden. In der schematischen Darstellung von 5 sind zwei derartige Gruppen schematisch dargestellt, wobei jede Gruppe aus einem zweiten Anschlusspunkt 6 a bzw. 6 b besteht, der mit zwei weiteren zweiten Anschlusspunkten 6 a' bzw. 6 b' mittels einer Drahtverbindung 9 verbunden ist. Eine Gruppe kann jedoch, neben dem zweiten Anschlusspunkt 6 des ersten Kontaktelementes 4, auch mehr als zwei zweite Anschlusspunkte 6' aufweisen. In den 3–6 sind zweite Anschlusspunkte 6 von ersten Kontaktelementen als fette Kreise und zweite Anschlusselemente 6' von zweiten Kontaktelementen als normale Kreise dargestellt. In 5 ist zu erkennen, dass die beiden zweiten Anschlusspunkte 6 a und 6 b benachbart sind. Wie in der Beschreibung der Erfindung weiter oben erläutert, bedeutet benachbart das unmittelbare und direkte nebeneinander liegen ohne zwischen liegende andere Anschlusspunkte. Gemäß der Erfindung sind diese beiden zweiten Anschlusspunkte 6 a und 6 b jeweils mit zweiten Anschlusspunkten verbunden, wobei diese zweiten Anschlusspunkte 6 a' und 6 b' jeweils einen Mindestabstand voneinander aufweisen, der größer ist als der Abstand der beiden benachbarten zweiten Anschlusspunkte 6a und 6b . Im in der 5 gezeigten Beispiel ist diese Regel klar erfüllt, da alle zweiten Anschlusspunkte 6 a' und 6 b' nicht direkt nebeneinander liegen und somit einen größeren Abstand zueinander aufweisen als die beiden benachbarten zweiten Anschlusspunkte 6 a und 6 b.In 3 are two groups each consisting of a second connection point 6 and a second connection point 6 ' to recognize, which - as also shown schematically - by a wire connection 9 connected to each other. More specifically, the associated first and second contact elements 4 respectively. 8th by means of the wire connection 9 connected with each other. In the schematic representation of 5 two such groups are shown schematically, each group consisting of a second connection point 6 a or 6 b exists, with two more second connection points 6 a 'resp. 6 b 'by means of a wire connection 9 connected is. However, one group may be next to the second connection point 6 of the first contact element 4 , even more than two second connection points 6 ' exhibit. In the 3 - 6 are second connection points 6 of first contact elements as rich circles and second connection elements 6 ' represented by second contact elements as normal circles. In 5 it can be seen that the two second connection points 6 a and 6 b are adjacent. As explained in the description of the invention above, adjacent means the immediate and directly adjacent to each other without intermediate other connection points. According to the invention, these two are second connection points 6 a and 6 b are each connected to second connection points, these second connection points 6 a 'and 6 b 'each have a minimum distance from each other, which is greater than the distance between the two adjacent second connection points 6a and 6b , I'm in the 5 As shown, this rule is clearly met, since all second connection points 6 a 'and 6 b 'are not directly adjacent to each other and thus have a greater distance from each other than the two adjacent second connection points 6 a and 6 b .
Im in der 4 gezeigten Beispiel ist ein zweiter Anschlusspunkt 6 1 (eines ersten Kontaktelementes 4) gezeigt, der mittels Drahtverbindung 9 mit einem zweiten Anschlusspunkt 6 1' (eines zweiten Kontaktelementes 8) verbunden ist und somit eine Gruppe bildet. Der zweite Anschlusspunkt 6 1 hat acht unmittelbare Nachbarn, d. h. acht unmittelbar benachbarte zweite Anschlusspunkte 6 2', 6 3, 6 4', 6 5, 6 6', 6 7, 6 8' und 6 9'. Es ist hervorzuheben, dass in den Darstellungen der 3 bis 6 die fettgedruckten Kreise jeweils zweite Anschlusspunkte 6 von ersten Kontaktelementen 4 und die normal gedruckten Kreise jeweils zweite Anschlusspunkte 6' von zweiten Kontaktelementen 8 darstellen. Das regelmäßige Abwechseln von zweiten Anschlusspunkten 6 von ersten Kontaktelementen 4 und von zweiten Anschlusspunkten 6' von zweiten Kontaktelementen 8 ist jedoch lediglich beispielhaft und es ist jegliche vorstellbare Anordnung der zweiten Anschlusspunkte 6 und 6' möglich und denkbar. Jeder benachbarte zweite Anschlusspunkt des erwähnten zweiten Anschlusspunktes 6 1 ist ebenfalls mit einem zweiten Anschlusspunkt 6 1' verbunden und bildet somit eine Gruppe, wie in 4 dargestellt ist. Der zweite Anschlusspunkt 6 2' (eines zweiten Kontaktelementes 8) ist mit einem zweiten Anschlusspunkt 6 2 (eines ersten Kontaktelementes 4) verbunden. Der zweite Anschlusspunkt 6 3 (eines ersten Kontaktelementes 4) ist mit einem zweiten Anschlusspunkt 6 3' (eines zweiten Kontaktelementes 8) verbunden. Der zweite Anschlusspunkt 6 4' (eines zweiten Anschlusselementes 8) ist mit einem zweiten Anschlusspunkt 6 4 (eines ersten Kontaktelementes 4) verbunden. Der zweite Anschlusspunkt 6 5 ist mit dem zweiten Anschlusspunkt 6 5' verbunden. Der zweite Anschlusspunkt 6 6' ist mit dem zweiten Anschlusspunkt 6 6 verbunden. Der zweite Anschlusspunkt 6 7 ist mit dem zweiten Anschlusspunkt 6 7' verbunden. Der zweite Anschlusspunkt 6 8' ist mit dem zweiten Anschlusspunkt 6 8 verbunden. Der zweite Anschlusspunkt 6 9 ist mit dem zweiten Anschlusspunkt 6 9' verbunden. Die zweiten Anschlusspunkte 6 1', 6 2, 6 3', 6 4, 6 5', 6 6, 6 7', 6 8, 6 9' sind jedoch jeweils untereinander weiter voneinander entfernt, als der jeweilige Abstand der mit ihnen verbundenen zweiten Anschlusspunkten von ihren Nachbarn. Um dieses Kriterium zu erreichen hilft eine gedankliche Aufteilung der Rasterfläche der zweiten Anschlusspunkte (wie sie in den 3, 4 und 5 dargestellt ist) in Segmente, wie in 4 gezeigt. In 4 ist eine regelmäßige Aufteilung der Rasterfläche der zweiten Anschlusspunkte 6, 6' in zwölf gleich große Segmente dargestellt. Die zweiten Anschlusspunkte, die jeweils mit den einander benachbarten zweiten Anschlusspunkten 6 1, 6 2', 6 3, 6 4', 6 5, 6 6', 6 7, 6 8' und 6 9 verbunden sind, liegen jeweils in verschiedenen Segmenten. Wenn, wie in 4 dargestellt, ein zweiter Anschlusspunkt 6 1 mit einem weiteren zweiten Anschlusspunkt 6 1' verbunden ist und somit eine Gruppe bildet, und alle seine Nachbarn ebenfalls Teil einer jeweiligen Gruppe sind, so sind mindestens zehn regelmäßige Segmente nötig. Falls nicht alle Nachbarn des zweiten Anschlusspunktes 6 1 Teil einer Gruppe sind, so ist es möglich, mit einer Unterteilung in weniger Segmente auszukommen.I'm in the 4 example shown is a second connection point 6 1 (a first contact element 4 ) shown by wire connection 9 with a second connection point 6 1 '(a second contact element 8th ) and thus forms a group. The second connection point 6 1 has eight immediate neighbors, ie eight immediately adjacent second connection points 6 2 ', 6 3 , 6 4 ', 6 5 , 6 6 ', 6 7 , 6 8 'and 6 9 '. It should be emphasized that in the representations of the 3 to 6 the bold circles each have second connection points 6 of first contact elements 4 and the normally printed circles each have second connection points 6 ' of second contact elements 8th represent. The regular alternation of second connection points 6 of first contact elements 4 and from second connection points 6 ' of second contact elements 8th however, it is merely exemplary and it is any conceivable arrangement of the second connection points 6 and 6 ' possible and conceivable. Each adjacent second connection point of said second connection point 6 1 is also with a second connection point 6 1 'and thus forms a group, as in 4 is shown. The second connection point 6 2 '(a second contact element 8th ) is with a second connection point 6 2 (a first contact element 4 ) connected. The second connection point 6 3 (a first contact element 4 ) is with a second connection point 6 3 '(a second contact element 8th ) connected. The second connection point 6 4 '(a second connection element 8th ) is with a second connection point 6 4 (a first contact element 4 ) connected. The second connection point 6 5 is with the second connection point 6 5 'connected. The second connection point 6 6 'is at the second connection point 6 6 connected. The second connection point 6 7 is with the second connection point 6 7 'connected. The second connection point 6 8 'is at the second connection point 6 8 connected. The second connection point 6 9 is with the second connection point 6 9 'connected. The second connection points 6 1 ', 6 2 , 6 3 ', 6 4 , 6 5 ', 6 6 , 6 7 ', 6 8 , 6 However, 9 'are each further apart from each other than the respective distance of their associated second connection points of their neighbors. To achieve this criterion, a mental division of the grid area of the second connection points (as shown in the 3 . 4 and 5 is shown) in segments, as in 4 shown. In 4 is a regular division of the grid area of the second connection points 6 . 6 ' shown in twelve segments of equal size. The second connection points, each with the adjacent second connection points 6 1 , 6 2 ', 6 3 , 6 4 ', 6 5 , 6 6 ', 6 7 , 6 8 'and 6 9 are connected, each lie in different segments. If, as in 4 represented, a second connection point 6 1 with another second connection point 6 1 'is connected and thus forms a group, and all its neighbors are also part of a respective group, so at least ten regular segments are needed. If not all neighbors of the second connection point 6 1 are part of a group, it is possible to get by with a subdivision into fewer segments.
Zusätzlich ist es möglich, Kriterien für die Entfernung miteinander verbundenen zweiten Anschlusspunkten innerhalb einer Gruppe aufzustellen. Beispielsweise kann der Abstand zwischen miteinander verbundenen zweiten Anschlusspunkten 6, 6' innerhalb einer Gruppe ein Viertel, ein Drittel oder die Hälfte der Länge L oder der Breite B der Grundkassette 1 betragen. Zusätzlich oder alternativ können die jeweils miteinander verbundenen zweiten Anschlusspunkte 6, 6' innerhalb einer Gruppe in verschiedenen Segmenten der Rasterplatte von zweiten Anschlusspunkten liegen.In addition, it is possible to set up criteria for the removal of interconnected second connection points within a group. For example, the distance between interconnected second connection points 6 . 6 ' within a group a quarter, a third or a half of the length L or the width B of the basic cassette 1 be. Additionally or alternatively, the respectively connected second connection points 6 . 6 ' lie within a group in different segments of the grid plate of second connection points.
In einer normalen Anwendung der erfindungsgemäßen Grundkassette 1 und der erfindungsgemäßen Prüfnadelkassette 2 wird zum Testen eines jeweiligen Testpunktes einer zu testenden Leiterplatte 3 in der Regel innerhalb einer Gruppe nur ein einziger zweiter Anschlusspunkt 6, 6' der Grundkassette 1 mittels einer jeweiligen Prüfnadel 16 mit einem zu testenden Testpunkt der Leiterplatte 3 verbunden. Die anderen zweiten Anschlusspunkte 6, 6' der zugehörigen Gruppe werden nicht kontaktiert. Die Ausgestaltung und Anordnung der Gruppen gemäß der vorliegenden Erfindung dient im Regelfall dazu, eine möglichst große Auswahl an zu kontaktierenden zweiten Anschlusspunkten 6, 6' zu haben, um auf möglichst viele verschiedene Anforderungen hinsichtlich der Testpunkte auf einer zu testenden Leiterplatte 3 eingehen zu können. Es sind jedoch Anwendungen vorstellbar, bei denen die zwei (oder mehr) zweiten miteinander verbundenen Anschlusspunkte 6, 6' einer Gruppe gleichzeitig mit zu testenden Testpunkten einer Leiterplatte 3 kontaktiert werden, um einen einfachen z. B. In-Circuit-Tests an beiden Testpunkten gleichzeitig durchzuführen. Ein Beispiel ist in 6 dargestellt, in der eine schematische Draufsicht auf die Rasteranordnung der zweiten Anschlusspunkte 6, 6' auf der Oberseite der Grundkassette 1 sowie eine zu testende Leiterplatte 3 mit Testpunkten t schematisch dargestellt sind. Gemäß dem dargestellten Beispiel gehören die beiden zweiten Anschlusspunkte 6 A' und 6 A zu einer gemeinsamen Gruppe, d. h. sind mittels Drahtverbindung 9 miteinander verbunden. Da die beiden zweiten Anschlusspunkte 6 A und 6 A' jedoch relativ weit voneinander entfernt sind und durch eine entsprechende Auswahl sichergestellt wird, dass die auf der zu testenden Platine mit den Testpunkten verbundenen Leiterplatten nur in der Nähe der Testpunkte verlaufen, sind Kurzschlüsse zwischen den beiden gleichzeitig zu testenden Testpunkten t, die über die Prüfnadeln 16 einer erfindungsgemäßen Prüfnadelkassette 3 mit den beiden zweiten Anschlusspunkten 6 A und 6 A' verbunden sind, ausgeschlossen oder zumindest sehr unwahrscheinlich. Es ist daher möglich die beiden Testpunkte t gleichzeitig zu testen. Gleiches gilt für die beiden zweiten Anschlusspunkte 6 B und 6 B', die ebenfalls zu einer Gruppe gehören und jeweils einen weiteren Testpunkt t kontaktieren, sodass diese beiden Testpunkte, die ebenfalls relativ weit auseinander liegen, gleichzeitig getestet werden können. Die vorliegende Erfindung ermöglicht in diesem Anwendungsbeispiel eine weitere Vervielfachung der Anzahl von Testpunkten auf einer zu testenden Leiterplatte 3, die gleichzeitig getestet werden können.In a normal application of the basic cassette according to the invention 1 and the test needle cartridge according to the invention 2 is used to test a respective test point of a circuit board under test 3 usually within a group only a single second connection point 6 . 6 ' the basic cassette 1 by means of a respective test needle 16 with a test point of the circuit board to be tested 3 connected. The other second connection points 6 . 6 ' the associated group will not be contacted. The configuration and arrangement of the groups according to the present invention generally serves to provide the widest possible selection of second connection points to be contacted 6 . 6 ' to have as many different requirements as possible on the test points on a circuit board under test 3 to be able to enter. However, applications are conceivable in which the two (or more) second interconnected connection points 6 . 6 ' a group simultaneously with test points of a printed circuit board to be tested 3 be contacted for a simple z. For example, perform in-circuit tests on both test points simultaneously. An example is in 6 in which a schematic plan view of the grid arrangement of the second connection points 6 . 6 ' on top of the basic cassette 1 and a circuit board to be tested 3 are shown schematically with test points t. According to the illustrated example, the two second connection points belong 6 A 'and 6 A to a common group, ie are by wire connection 9 connected with each other. Because the two second connection points 6 A and 6 A ', however, are relatively far apart and it is ensured by an appropriate selection that the circuit boards connected to the test board with the test points run only in the vicinity of the test points, short circuits between the two test points to be tested at the same t probes 16 a test needle cartridge according to the invention 3 with the two second connection points 6 A and 6 A 'are connected, excluded or at least very unlikely. It is therefore possible to test the two test points t at the same time. The same applies to the two second connection points 6 B and 6 B ', which also belong to a group and each contact another test point t, so that these two test points, which are also relatively far apart, can be tested simultaneously. The present invention allows further multiplication of the number of test points on a printed circuit board to be tested in this application example 3 that can be tested at the same time.
7 zeigt eine ähnliche schematische Schnittansicht wie 1, jedoch mit einer alternativen Ausgestaltung einer erfindungsgemäßen Grundkassette 1. Gemäß dieser alternativen Ausgestaltung der Grundkassette 1 sind neben den ersten und zweiten Kontaktelementen 4 bzw. 8, deren zweiten Anschlusspunkte 6, 6' in einer Ebene liegen, wie in 1 dargestellt und weiter oben erläutert wurde, weitere erste und/oder zweite Kontaktelemente 4, 8 vorgesehen, deren zweiten Anschlusspunkte 6 in der Seitenansicht der Grundkassette 1 höher liegen als die zweiten Anschlusselemente 6, 6' der anderen Kontaktelemente. In 7 ist zu erkennen, dass einige dieser höher liegenden zweiten Anschlusspunkte 6'' von entsprechenden Prüfnadeln 16 der Prüfnadelkassette 2 kontaktiert werden, während die zweiten Anschlusspunkte 6, 6', die niedriger liegen, nicht von entsprechenden Prüfnadeln kontaktiert werden können. Hierdurch ist es möglich, eine Untergruppe von ersten und/oder zweiten Kontaktelementen 4, 8 mit höher liegenden zweiten Anschlusspunkten 6'' vorzusehen, die für besondere Aufgaben vorgesehen sind, beispielsweise zum Funktions-Testen der Bauelemente einer zu testendend Leiterplatte 3. Die Kontaktelemente mit den höher liegenden zweiten Anschlusspunkten 6'' sind vorteilhafter Weise dergestalt federnd gelagert, dass sie durch eine Prüfnadelkassette 3 auf das Niveau der zweiten Anschlusspunkte 6, 6' heruntergedrückt werden können, sodass dann alle zweiten Anschlusspunkte 6, 6' und 6'' für das Testen, beispielsweise In-Circuit-Testen, einer zu testenden Leiterplatte 3 zur Verfügung stehen. Die erfindungsgemäße Grundkassette 1 und die erfindungsgemäße Prüfnadelkassette 2 können dergestalt Elemente aufweisen, die sicherstellen, dass die Prüfnadelkassette 2 in einer ersten Position angeordnet werden kann, in der die jeweils ausgewählten Prüfnadeln 16 nur die höher liegenden zweiten Anschlusspunkte 6'' kontaktieren, und auch in einer zweiten Lage angeordnet werden können, in denen die ausgewählten Prüfnadeln 16 jeweils zweite Anschlusspunkte 6, 6' und 6'' kontaktieren können, die dann alle auf dem gleichen (niedrigen) Niveau liegen. Im in der 7 dargestellten Beispiel ist hierzu auf der Oberseite der Grundkassette 1 eine Schiebeplatte oder Schiebeleiste 21 mit Noppen 22 vorgesehen, wobei die Noppen 22 mit Löchern 23 auf der Unterseite der Unterplatte 20 der Prüfnadelkassette 2 kooperieren. Im in der 7 dargestellten Lagebeispiel ist die Schiebeplatte 21 so verschoben, dass die Noppen 22 nicht in die Löcher 24 eingreifen und die Unterplatte 20 somit auf der Oberseite der Noppen 22 liegt, sodass Prüfnadeln 16 nur die höher liegenden zweiten Anschlusspunkte 6'' kontaktieren können. Wenn die Schiebeplatte 21 so verschoben wird, dass die Noppen 22 in die Löcher 24 eingreifen, so wird die Prüfnadelkassette 2 dergestalt auf der Grundkassette 1 angeordnet, dass Prüfnadeln 16 alle (auf den nunmehr niedrigeren Niveau befindlichen) zweiten Anschlusspunkt 6, 6' und 6'' kontaktieren können. Entsprechend müssen die ersten/zweiten Kontaktelemente 4, 8 mit den höher liegenden zweiten Anschlusspunkten 6'' dergestalt federnd gelagert sein und einen Federweg aufweisen, der dem Höhenunterschied zwischen den höher liegenden zweiten Anschlusspunkten 6'' und den niedrig liegenden zweiten Anschlusspunkten 6 und 6' entspricht. Es ist hervorzuheben, dass die obigen Ausführungen zu der Anordnung und Verbindung von ersten Kontaktelementen 4 und zweiten Kontaktelementen 8 in den erfindungsgemäßen Gruppen auch auf die ersten/zweiten Kontaktelemente 4, 8 mit den höher liegenden zweiten Anschlusspunkten 6'' identisch zutrifft. Kontaktelemente 4, 8 mit höher liegenden zweiten Anschlusspunkten 6'' können untereinander und/oder mit Kontaktelementen 4, 8 mit niedrig liegenden zweiten Anschlusspunkten 6, 6' Gruppen bilden. Es ist beispielsweise möglich, dass ein Kontaktelement 4, 8 mit einem höher liegenden zweiten Anschlusspunkt 6'' jeweils mit einem (oder mehreren) Kontaktelementen mit niedrigeren zweiten Anschlusspunkten 6, 6' eine Gruppe bildet. Die oben im Detail erläuterten Parameter und Einschränkungen gelten jedoch auch hier unverändert. 7 shows a similar schematic sectional view as 1 , but with an alternative embodiment of a basic cassette according to the invention 1 , According to this alternative embodiment of the basic cassette 1 are next to the first and second contact elements 4 respectively. 8th whose second connection points 6 . 6 ' lie in a plane, like in 1 illustrated and explained above, further first and / or second contact elements 4 . 8th provided, whose second connection points 6 in the side view of the basic cassette 1 higher than the second connection elements 6 . 6 ' the other contact elements. In 7 It can be seen that some of these higher lying second connection points 6 '' of appropriate test needles 16 the test needle cartridge 2 be contacted while the second connection points 6 . 6 ' which are lower, can not be contacted by appropriate test probes. This makes it possible to have a Subgroup of first and / or second contact elements 4 . 8th with higher lying second connection points 6 '' provided for special tasks, for example, to functionally test the components of a printed circuit board to be tested 3 , The contact elements with the higher lying second connection points 6 '' are advantageously resiliently mounted in such a way that they pass through a Prüfnadelkassette 3 to the level of the second connection points 6 . 6 ' can be pushed down, so then all second connection points 6 . 6 ' and 6 '' for testing, for example, in-circuit testing, of a printed circuit board under test 3 be available. The basic cassette according to the invention 1 and the test needle cartridge according to the invention 2 For example, they can have elements that ensure that the test needle cartridge 2 can be arranged in a first position, in which the selected test probes 16 only the higher lying second connection points 6 '' contact, and can also be arranged in a second position, in which the selected probes 16 each second connection points 6 . 6 ' and 6 '' can contact, which are then all at the same (low) level. I'm in the 7 The example shown here is on top of the basic cassette 1 a sliding plate or sliding bar 21 with pimples 22 provided, with the nubs 22 with holes 23 on the underside of the lower plate 20 the test needle cartridge 2 cooperate. I'm in the 7 illustrated example is the sliding plate 21 shifted so that the pimples 22 not in the holes 24 engage and the bottom plate 20 thus on the top of the pimples 22 lies, so test probes 16 only the higher lying second connection points 6 '' can contact. If the sliding plate 21 is moved so that the pimples 22 in the holes 24 intervene, so will the test needle cartridge 2 in the same way on the basic cassette 1 arranged that test probes 16 all (at the now lower level) second connection point 6 . 6 ' and 6 '' can contact. Accordingly, the first / second contact elements 4 . 8th with the higher lying second connection points 6 '' be resiliently mounted and have a spring travel, the height difference between the higher lying second connection points 6 '' and the low-lying second connection points 6 and 6 ' equivalent. It should be emphasized that the above statements on the arrangement and connection of first contact elements 4 and second contact elements 8th in the groups according to the invention also on the first / second contact elements 4 . 8th with the higher lying second connection points 6 '' identical applies. contact elements 4 . 8th with higher lying second connection points 6 '' can with each other and / or with contact elements 4 . 8th with low lying second connection points 6 . 6 ' To form groups. For example, it is possible for a contact element 4 . 8th with a higher second connection point 6 '' each with one (or more) contact elements with lower second connection points 6 . 6 ' forms a group. However, the parameters and restrictions explained in detail also apply here unchanged.
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
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DE 19507127 A1 [0003, 0005, 0006] DE 19507127 A1 [0003, 0005, 0006]
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DE 202009015172 U1 [0003, 0005] DE 202009015172 U1 [0003, 0005]
