DE3334000C2

DE3334000C2 -

Info

Publication number: DE3334000C2
Application number: DE19833334000
Authority: DE
Inventors: Hans 7801 Schallstadt De Barth; Manfred Prokopp; Guenter Dipl.-Ing. 6980 Wertheim De Schmidt
Original assignee: Riba-Prueftechnik 7801 Schallstadt De GmbH
Current assignee: Riba-Prueftechnik 7801 Schallstadt De GmbH
Priority date: 1983-09-21
Filing date: 1983-09-21
Publication date: 1992-07-02
Also published as: DE3334000A1

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten, bei dem die Leiterplatten-Anschlußstellen mittels Kontaktnadeln eines Kontaktnadelfeldes kontak tiert werden und vor dem Prüfvorgang elektrische Verbindungen zwischen den Kontaktnadeln und systema tisch angeordneten Anschlüssen eines Prüfrechners er stellt und die Kontaktnadeln ihrer Koordinaten erfaßt werden. Außerdem betrifft die Erfindung eine Einrichtung zum Durchführen des Verfahrens.The invention relates to a method for testing PCB, at which the PCB connection points contact by means of contact needles of a contact needle field be tiert and electrical before the test Connections between the contact needles and systema table arranged connections of a test computer provides and the contact needles of their coordinates detected will. The invention also relates to a Device for performing the method.

Beim Einrichten eines Prüfautomaten zum Überprüfen von Leiterplatten, die beliebig angeordnete, auch außerhalb des üblichen Rasters liegende Bohrungen haben, müssen nach dem Erstellen einer prüflingsbezogenen Tastnadel halterung, Verbindungen zwischen den einzelnen Kon taktnadeln einerseits und systematisch angeordneten Anschlußreihen des Prüfrechners hergestellt werden (DE 30 38 665 A1). Die Kontaktnadeln sind dazu rückseitig z. B. mit Wrap stiften verbunden, an denen Verbindungsdrähte ange schlossen werden können, die andererseits mit den An schlüssen des Prüfrechners verbunden werden. Um eine bezüglich der Prüfpunkte koordinatenmäßig richtige Zuordnung der jeweiligen Prüfpunkte zu dem entsprechenden Rechneranschluß zu haben, ist es bis her erforderlich, die Verdrahtung nach einem ganz be stimmten Schema vorzunehmen und eine Verdrahtungs liste zu erstellen. Dies erfordert jedoch einen erheb lichen Aufwand und insbesondere auch eine hohe Aufmerk samkeit, wobei aber immer noch Verdrahtungsfehler auf treten können, die wiederum in aufwendiger Weise später lokalisiert werden müssen. Bei üblichen Systemen müssen beispielsweise 2000 bis 3000 Drahtverbindungen mit genauer Zuordnung der beiden Anschlußpunkte geschaffen werden. Die dabei erforderliche hohe Konzentration zur Vermeidung von Fehlern führt in nachteiliger Weise auch zur schnellen Überlastung der Arbeitskräfte.When setting up an automatic tester to check Printed circuit boards, the randomly arranged, even outside of the usual grid must have holes after creating a test probe related probe bracket, connections between the individual con Clock needles on the one hand and systematically arranged Connection rows of the test computer are made (DE 30 38 665 A1). The contact needles are z. B. with wrap pins connected to which connecting wires are attached can be concluded, on the other hand with the An the test computer. To coordinate on the checkpoints correct assignment of the respective test points to the it is up to have the appropriate computer connection ago required the wiring after a completely be agreed to make scheme and a wiring to create a list. However, this requires considerable effort effort and especially a high level of attention sam, but still wiring errors can kick, which in turn is expensive later must be located. With usual systems for example with 2000 to 3000 wire connections precise assignment of the two connection points created will. The high concentration required Avoiding mistakes also leads to disadvantageous results for rapid overloading of the workforce.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die Verdrah tung zwischen einem Kontaktnadelfeld und einem Prüfrech ner zu vereinfachen und dabei gleichzeitig Fehler prak tisch weitgehend auszuschließen. Außerdem sollen der dafür notwendige Zeitaufwand reduziert und die sonst erforder lichen Verdrahtungslisten überflüssig werden.The object of the present invention is the wiring between a contact needle field and a test device simplify it and at the same time make mistakes largely excluded table. In addition, the purpose of it necessary time is reduced and the otherwise required wiring lists become superfluous.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einem Verfahren nach Patentanspruch 1 gelöst.This object is achieved according to the invention with a method Claim 1 solved.

Durch dieses Verfahren werden beispielsweise in einem X-Y-Koordinatensystem im ersten Verfahrensschritt Y₀ bis Y_n-Spalten den jeweiligen Prüfrechneranschlußpunk ten zugeordnet, indem für jeden der systematisch ange ordneten und abgespeicherten Prüfrechneranschlüsse die jeweils über die Kontaktverbindung angeschlossene "Y-Spalte" ermittelt wird. Entsprechend wird dann 90° dazu verdreht zeilenweise in X-Richtung eine Zuordnung der systematisch angeordneten Prüfrechneranschlüsse zu den "X-Zeilen" vorgenommen, so daß schließlich die Koordi natenwerte der jeweils mit einem Prüfrechneranschluß ver bundenen Kontaktnadeln erfaßt ist. Dadurch ist insbeson dere auch das Erstellen einer Verdrahtungsliste nicht mehr erforderlich.By this method, for example in an XY coordinate system in the first method step Y ₀ to Y _n columns are assigned to the respective test computer connection points by determining the "Y column" connected via the contact connection for each of the systematically arranged and stored test computer connections. Correspondingly, 90 ° rotated line by line in the X direction, an assignment of the systematically arranged test computer connections to the "X lines" is carried out, so that finally the coordinate values of the contact pins connected to each test computer connection are recorded. This means that it is no longer necessary to create a wiring list.

Zweckmäßigerweise erfolgt die zeilen- bzw. spaltenweise Überbrückung der entsprechend in Reihen lie genden Kontaktnadeln jeweils gleichzeitig über die gesamte Nadelfeldfläche. Dadurch kann mit lediglich zwei Adaptier vorgängen die gesamte, koordinatenmäßige Zuordnung der Prüfrechneranschlüsse und der Kontaktnadeln vorgenommen werden.The line or column-wise bridging of the corresponding rows contact pins at the same time over the entire Needle area. This allows you to adapt with just two the entire, coordinated assignment of Test computer connections and the contact needles made will.

Besonders vorteilhaft ist es, daß die elektrischen Ver bindungen zwischen den Kontaktnadeln und den Anschlüssen des Prüfrechners vor dem Koordinaten-Zuordnen jeweils von einem freien Kontaktnadelanschluß zu einem beliebig anderen freien Prüfrechneranschluß vorgenommen werden. Das Erstellen der Verbindungen ist somit wesentlich ver einfacht, da nur noch darauf geachtet werden muß, daß jeder Kontaktnadelanschluß mit einem Prüfrechneranschluß verbunden ist. Fehler können somit praktisch nicht mehr auftreten.It is particularly advantageous that the electrical Ver connections between the contact needles and the connections of the test computer before assigning coordinates from a free contact needle connection to any one other free test computer connection. The creation of the connections is therefore essential simple, since you only have to make sure that each contact needle connection with a test computer connection connected is. Errors can practically no longer occur.

Eine Einrichtung zum Durchführen des Verfahrens ist im Anspruch 4 angegeben. A device for performing the method is in claim 4 specified.

Mittels der Kontaktstreifenplatte ist ein koordinaten mäßiges, insbesondere zeilenweises bzw. spaltenweises Erfassen der vorhandenen Kontaktstellen nach dem Ver drahten möglich, wobei der Prüfrechner anhand der jeweils erfaßten Verbindungen sowie durch die fest verdrahteten, systematisch angeordneten Anschlußverbindungen einerseits zu seinen Prüfrechneranschlüssen, die mit den Kontakt nadeln verbunden werden und andererseits zu den Kontakt streifen der Kontaktstreifenplatte, eine anschließende Zuordnung durchführen kann. Dadurch ist dann erfaßt, welcher Prüfrechneranschluß mit welchem Koordinatenpunkt verbunden ist, z. B. Prüfrechneranschluß 150 an Koordi natenpunkt X₇/Y₂₀.By means of the contact strip plate, coordinate-based, in particular line-by-line or column-by-line detection of the existing contact points after the wiring is possible, the test computer on the one hand to its test computer connections which needles with the contact on the basis of the connections recorded in each case and by the hard-wired, systematically arranged connection connections can be connected and on the other hand to the contact strip of the contact strip plate, a subsequent assignment can perform. This then detects which test computer connection is connected to which coordinate point, e.g. B. Test computer connection 150 to coordinate point X ₇ / Y _20th

Zweckmäßigerweise entspricht die Größe der Kontaktstrei fenplatte mindestens der der zu überprüfenden Leiter platte. Dadurch können in nur zwei Adaptiervorgängen alle Anschlußkontakte der zu überprüfenden Leiterplatten erfaßt werden.The size of the contact strip suitably corresponds fenplatte at least that of the conductor to be checked plate. This allows you to adapt in just two all connection contacts of the printed circuit boards to be checked be recorded.

Zusätzliche Ausgestaltungen der Erfindung sind in den weiteren Unteransprüchen aufgeführt. Nachstehend ist die Erfindung mit ihren wesentlichen Einzelheiten anhand der Zeichnung noch näher erläutert.Additional embodiments of the invention are in the further subclaims listed. Below is the Invention with its essential details based on the Drawing explained in more detail.

Es zeigt:It shows:

Fig. 1 eine Vorderseitenansicht eines Prüfautomaten, Fig. 1 is a front side view of the test automaton,

Fig. 2 ein zum Teil dargestelltes Nadelfeld mit Verbindungen zu Prüfrechneranschlüssen eines schematisch dargestellten Prüfrechners, Fig. 2 is a partially shown needle box with connections to a test computer Prüfrechneranschlüssen shown schematically,

Fig. 3 eine Aufsicht einer Kontaktstreifenplatte, Fig. 3 is a plan view of a contact strip panel,

Fig. 4 eine perspektivische Teilansicht einer Kontakt streifenplatte und Fig. 4 is a partial perspective view of a contact strip plate and

Fig. 5 eine schematische Darstellung der Zuordnung zwischen einer Kontaktstreifenplatte, einem Nadelfeld und einem Prüfrechner. Fig. 5 is a schematic representation of the assignment between a contact strip plate, a needle field and a test computer.

Ein in Fig. 1 gezeigter Prüfautomat 1 dient zum Überprü fen von insbesondere unbestückten Leiterplatten. Dabei werden die Anschlußenden der auf der Leiterplatte ange ordneten Leiterbahnen kontaktiert und mittels eines Prüf rechners 2 wird dann ermittelt, ob Fehler (Kurzschlüsse oder Unterbrechungen) vorhanden sind. Zum Kontaktieren der Leiterplatte 3 ist ein sogenanntes Nadelfeld 4 mit entsprechend den Anschlußpunkten der Leiterplatte ange ordneten Kontaktnadeln 5 vorgesehen. Während des Adap tier- bzw. Kontaktiervorganges wird die jeweilige, zu überprüfende Leiterplatte 3 gemäß dem Pfeil Pf1 an das Nadelfeld 4 angedrückt.A shown in Fig. 1 inspection machine 1 is used for Überprü fen of bare printed circuit boards in particular. The connection ends of the conductor tracks arranged on the circuit board are contacted and a test computer 2 is then used to determine whether errors (short circuits or interruptions) are present. To contact the circuit board 3 , a so-called needle field 4 is provided with corresponding contact pins 5 corresponding to the connection points of the circuit board. During the adaptation or contacting process, the respective circuit board 3 to be checked is pressed onto the needle field 4 according to the arrow Pf 1 .

Fig. 2 zeigt in einem Teilausschnitt ein Nadelfeld 4, das eine Trägerplatte 6 zum Halten der Kontaktnadeln 5 sowie eine Anschlußplatte 7 aufweist, die hier mit Wrap stiften 8 bestückt ist. Die den Kontaktnadeln 5 zuge wandten Enden der Wrapstifte 8 greifen etwas in die Kontaktnadeln 5 ein und geben diesen somit Halt. Die Kontaktnadeln 5 weisen an ihren oberen freien Enden Kontaktspitzen 9 auf, die hier in Bohrungen 10 von Lei terbahnanschlußenden eingreifen. Fig. 2 shows a partial section of a needle field 4 , which has a carrier plate 6 for holding the contact needles 5 and a connecting plate 7 , which is equipped with wrap pins 8 here. The facing the contact needles 5 ends of the wrap pins 8 engage something in the contact needles 5 and thus give this hold. The contact pins 5 have, at their upper free ends in contact tips 9 terbahnanschlußenden here in bores 10 of Lei engage.

Die Positionen der Kontaktnadeln 5 entsprechen dem Bohr bild der Leiterplatte 3 und dementsprechend werden auch die Trägerplatte 6 sowie die Anschlußplatte 7 durch Ab bohren des Leiterplattenbohrbildes mit Bohrungen zur Auf nahme der Kontaktnadeln 5 bzw. der Wrapstifte 8 ver sehen. The positions of the contact needles 5 correspond to the drilling image of the circuit board 3 and accordingly the carrier plate 6 and the connection plate 7 by drilling from the circuit board drilling pattern with holes for receiving the contact needles 5 and the wrap pins 8 see ver.

Die elektrische Verbindung zwischen dem Nadelfeld 4 und dem Prüfrechner 2 erfolgt durch Verbindungsdrähte 11, die einerseits an die Wrapstifte 8 und andererseits an systematisch angeordnete Prüfrechneranschlüsse 12 ange schlossen werden. Bei dieser Verdrahtung war es bisher erforderlich, daß für jeden Prüfrechner-Anschluß der entsprechende Koordinatenwert der damit jeweils verbun denen Kontaktnadel 5 in einer Verdrahtungsliste festge halten werden. Dadurch läßt sich dann ein vom Prüfrech ner z. B. zwischen seinen Anschlußpunkten Nr. 25 und Nr. 3 er kannter Fehler entsprechend im Nadelfeld durch die zu geordneten Koordinatenwerte ermitteln. Diese aufwendige und systematische Zuordnung der Anschlußstellen für die Verbindungsdrähte 11 mittels Verdrahtungsliste wird nun erfindungsgemäß dadurch vermieden, daß eine in Fig. 3 bis 5 erkennbare Kontaktstreifenplatte 13 verwendet wird, mit der nach dem Verdrahten ermittelt werden kann, wel cher Prüfrechner-Anschluß 12 mit welcher Kontaktnadel 5 verbunden ist.The electrical connection between the needle field 4 and the test computer 2 is made by connecting wires 11 , which are connected on the one hand to the wrap pins 8 and on the other hand to systematically arranged test computer connections 12 . With this wiring, it was previously necessary that for each test computer connection the corresponding coordinate value of the contact needle 5 connected to each of them would be kept in a wiring list. This can then be a test computer ner z. B. between its connection points No. 25 and No. 3 he known error accordingly in the needle field by the assigned coordinate values. This complex and systematic assignment of the connection points for the connecting wires 11 by means of the wiring list is now avoided according to the invention by using a contact strip plate 13 which can be seen in FIGS . 3 to 5 and which, after wiring, can be used to determine which test computer connection 12 with which Contact needle 5 is connected.

Die Kontaktstreifenplatte 13 weist, wie in Fig. 3 beson ders gut erkennbar, parallele Leiterbahnen 14 auf, die systematisch erfaßte Anschlußverbindungen 15 zu dem Prüf rechner 2 aufweisen (vgl. auch Fig. 5). Die Größe der Kontaktstreifenplatte 13 entspricht mindestens der der zu überprüfenden Leiterplatte 3.The contact strip plate 13 has, as can be seen particularly well in FIG. 3, parallel conductor tracks 14 which have systematically recorded connection connections 15 to the test computer 2 (cf. also FIG. 5). The size of the contact strip plate 13 corresponds at least to that of the printed circuit board 3 to be checked.

Die Vorbereitungsarbeiten zum Überprüfen einer Leiter plattenserie beginnen nach dem Erstellen des Nadelfel des 4 mit dem Verdrahten der mit den Kontaktnadeln 5 verbundenen Wrapstifte 8 mit den Prüfrechner-Anschlüssen 12. Bei dieser Verdrahtung ist besonders vorteilhaft, daß während des Verdrahtens nicht darauf geachtet werden muß, welcher Nadelfeld-Anschluß mit welchem Prüfrechner-An schluß 12 verbunden wird, sondern es muß lediglich da rauf geachtet werden, daß ein freier Nadelfeld-Anschluß mit einem beliebig anderen freien Prüfrechner-Anschluß 12 verbunden wird. Diese "wilde" Verdrahtung läßt sich besonders einfach und schnell durchführen und es sind auch dabei praktisch keine Fehlermöglichkeiten gegeben.The preparation work for checking a printed circuit board series begins after the creation of the needle thread of FIG. 4 with the wiring of the wrap pins 8 connected with the contact needles 5 to the test computer connections 12 . With this wiring it is particularly advantageous that during the wiring it is not necessary to pay attention to which needle field connection is connected to which test computer connection 12 , but it is only necessary to ensure that a free needle field connection is connected to any other free test computer connection 12 is connected. This "wild" wiring can be carried out particularly easily and quickly, and there are practically no possible errors.

Um später bei der Prüfung von Leiterplatten Fehler lo kalisieren zu können, bedarf es noch einer Zuordnung der Prüfrechner-Anschlüsse und der jeweils damit verbundenen Nadelfeld-Anschlüsse 16. Dazu wird anstatt einer Leiter platte die Kontaktstreifenplatte 13 auf das Nadelfeld 4 aufgelegt und angedrückt. Dadurch werden entsprechend den Leiterbahnen 14 etwa in Reihe liegende Kontaktnadeln 5 kontaktiert. Die Unterseitenansicht gemäß Fig. 5 läßt gut diese Situation erkennen. Durch den Prüfrechner 2 wird dabei festgehalten, welcher seiner Anschlüsse 12 mit wel cher Leiterbahn 14 der Kontaktstreifenplatte 13 über die entsprechenden Kontaktnadeln 5 verbunden ist. Beispiels weise wird dem Prüfrechner-Anschluß Nr. 17 der Koordina tenwert X₂ zugeordnet. Auch die Prüfrechner-Anschlüsse Nr. 14 und 15 würden im vorliegenden Falle den Koordina tenwert X₂ zugeordnet bekommen. Zur Verdeutlichung sind die vorgenannten Anschlußenden in Fig. 5 strichpunktiert eingekreist. Anschließend wird die Kontaktstreifenplatte 13 in ihrer Ebene um 90° gedreht und wiederum auf das Nadelfeld 4 aufgedrückt. Es wird nun in gleicher Weise wie vorbeschrieben den Prüfrechner-Anschlüssen 12 ent sprechende Y-Koordinatenwerte für die Nadelfeld-Anschlüsse 16 zugeordnet. Für den Prüfrechner-Anschluß Nr. 17 be deutet dies, daß er neben dem im ersten Adaptiervorgang der Kontaktstreifenplatte 13 ihm zugeordneten X-Koordi natenwert X₂ einen Y-Koordinatenpunkt z. B. Y₆ zuge ordnet bekommt, so daß eindeutig dem Prüfrechner-Anschluß Nr. 17 ein genau festgelegter Nadelfeld-Anschluß 16, ge kennzeichnet durch zwei Koordinatenwerte, zugeordnet ist. Damit ist durch zwei einfache Adaptiervorgänge mit Hilfe der Kontaktstreifenplatte 13 in wenigen Minuten eine ko ordinatengemäße Zuordnung der Nadelfeld-Anschlüsse 16 zu den Prüfrechner-Anschlüssen 12 gegeben. Bisher war dazu neben dem erheblichen Aufwand des Erstellens einer Ver drahtungsliste auch in hohem Maße die Gefahr von Ver drahtungsfehlern gegeben, die jetzt durch die praktisch beliebige Verdrahtungsmöglichkeit von einem freien An schluß des Nadelfeldes zu einem beliebigen freien An schluß des Prüfrechners praktisch nicht mehr vorhanden sind.In order to be able to locate faults later when testing printed circuit boards, an assignment of the test computer connections and the associated pin array connections 16 is also required. For this purpose, the contact strip plate 13 is placed on the needle field 4 and pressed instead of a conductor. As a result, contact pins 5 , which are approximately in series, are contacted in accordance with the conductor tracks 14 . The bottom view of FIG. 5 can well recognize this situation. The test computer 2 records which of its connections 12 is connected to the conductor 14 of the contact strip plate 13 via the corresponding contact needles 5 . For example, the test computer connection No. 17 is assigned the coordinate value X ₂ . The test computer connections No. 14 and 15 would be assigned the coordinate value X ₂ in the present case. For clarification, the aforementioned connection ends are circled in dash-dot lines in FIG. 5. The contact strip plate 13 is then rotated in its plane by 90 ° and again pressed onto the needle field 4 . Corresponding Y coordinate values for the needle field connections 16 are now assigned to the test computer connections 12 in the same way as described above. For the test computer terminal no. 17 be this indicates that he next to the first Adaptiervorgang the contact strip plate 13 associated with it X-Koordi natenwert X ₂ z a Y-coordinate point. B. Y _{6 assigned} , so that clearly the test computer connection No. 17 has a precisely defined needle field connection 16 , identified by two coordinate values, is assigned. Thus by two simple Adaptiervorgänge using the contact strip plate 13 in a few minutes, a co ordinatengemäße allocation of the needle box connectors is given 16 to the test computer terminals 12th Up to now, in addition to the considerable effort of creating a wiring list, there was also a high risk of wiring errors, which are practically no longer available due to the practically any wiring options from a free connection to the needle array to any free connection to the test computer .

Wie bereits vorerwähnt, weist die Kontaktstreifenplatte 13 eine mindestens der zu überprüfenden Leiterplatte entsprechende Größe auf, so daß durch nur zwei Adaptier vorgänge in X- bzw. in Y-Richtung sämtliche Nadelfeld- Punkte erfaßt sind. Zweckmäßigerweise sind am Außenrand der Kontaktstreifenplatte 13 Führungsmittel, hier Füh rungslochungen 17 vorgesehen, in die entsprechende Paß stifte 18, die auch für die lagerichtige Anordnung der Leiterplatten 3 vorgesehen sind, eingreifen können. Gegebenenfalls können auch Paßstifte 18 bzw. Führungs lochungen 17 mit unterschiedlichen Durchmessern und/oder Querschnitten verwendet werden, so daß die Kontaktstreifenplatte 13 nur in den beiden vorgesehenen Adaptierlagen aufsetzbar ist.As already mentioned, the contact strip plate 13 has a size which corresponds at least to the circuit board to be checked, so that all needle field points are detected by only two adaptation processes in the X or Y direction. Appropriately, 13 guide means, here Füh approximately perforations 17 are provided on the outer edge of the contact strip plate, pins 18 in the corresponding pass, which are also provided for the correct arrangement of the circuit boards 3 , can intervene. Optionally, dowel pins 18 or guide holes 17 can be used with different diameters and / or cross sections, so that the contact strip plate 13 can only be placed in the two provided adaptation positions.

Die Breite der Leiterbahnen 14 der Kontaktstreifenplatte 13 ist zweckmäßigerweise kleiner als der geringste Ab stand benachbarter Leiterplatten-Anschlußstellen, so daß alle Anschlußstellen während der X-Y-Erfassung durch die Kontaktstreifenplatte 13 kontaktiert werden. Da die Lei terplatten-Anschlüsse 3 in der Regel in einem bestimmten Abstandsraster angeordnet sind, ist es auch zweckmäßig, die Leiterbahnen in diesem Abstandsraster anzuordnen.The width of the conductor tracks 14 of the contact strip plate 13 is advantageously smaller than the smallest From stand adjacent board pads, so that all connection points during the XY detector can be contacted by the contact strip panel. 13 Since the Lei terplatten connections 3 are usually arranged in a certain spacing, it is also appropriate to arrange the conductor tracks in this spacing.

Fig. 4 läßt noch gut eine Weiterbildung der Erfindung erkennen, nach der zwischen den Leiterbahnen 14 der Kontaktstreifenplatte 13 im Querschnitt etwa dreieck förmige Stege 19 aus isolierendem Material vorgesehen sind. Durch diese Stege 19 wird insbesondere auch bei außerhalb eines Rasters liegenden Kontaktnadeln 5 ver mieden, daß diese sind, ist es auch zweckmäßig, die Leiterbahnen in diesem Abstandsraster anzuordnen. Fig. 4 shows a further development of the invention, according to which approximately triangular webs 19 made of insulating material are provided between the conductor tracks 14 of the contact strip plate 13 . Through these webs 19 , in particular even when contact pins 5 lying outside a grid are avoided, that these are, it is also expedient to arrange the conductor tracks in this spacing grid.

Fig. 4 läßt noch gut eine Weiterbildung der Erfindung erkennen, nach der zwischen den Leiterbahnen 14 der Kontaktstreifenplatte 13 im Querschnitt etwa dreieck förmige Stege 19 aus isolierendem Material vorgesehen sind. Durch diese Stege 19 wird insbesondere auch bei außerhalb eines Rasters liegenden Kontaktnadeln 5 ver mieden, daß diese im Zwischenraum zwischen zwei Leiter bahnen 14 zu liegen kommen und dabei entweder keinen Kontakt mit einer Leiterbahn oder aber eine Verbindung benachbarter Leiterbahnen in unerwünschter Weise schafft. Durch die Stege 19 ist somit immer eine eindeutige Zu ordnung der Kontaktnadeln 5 zu einer bestimmten Leiter bahn der Kontaktstreifenplatte 13 gegeben. Abschließend sei noch erwähnt, daß es sich in der Praxis bei Versuchen gezeigt hat, daß das bisher üblic< Fig. 4 shows a further development of the invention, according to which approximately triangular webs 19 made of insulating material are provided between the conductor tracks 14 of the contact strip plate 13 . Through these webs 19 , in particular even when contact pins 5 lying outside a grid are avoided, that they come to lie in the space between two conductor tracks 14 and either do not make contact with a conductor track or create a connection between adjacent conductor tracks in an undesirable manner. Through the webs 19 is therefore always a clear order to the contact needles 5 to a certain conductor path of the contact strip plate 13 is given. In conclusion, it should be mentioned that it has been shown in practice in experiments that this has hitherto been usual <

Claims

1. A method for testing printed circuit boards, in which the circuit board connection points are contacted by means of contact needles of a contact needle field and before the test process electrical connections between the contact needles and systematically arranged connections of a test computer are created and the contact needles of their coordinates are detected, characterized in that To assign the coordinates of the contact needles ( 5 ) of the contact needle field ( 4 ) to the connections ( 12 ) of the test computer ( 2 ), the contact needles ( 5 ) are bridged one after the other row by row and then offset by 90 ° and the data is stored in the test computer and are assigned by this to the connections ( 12 ) of the test computer.

2. The method according to claim 1, characterized in that the row or column-wise over bridging the rows of con tact needles ( 5 ) takes place simultaneously over the entire area of the needle field.

3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that the electrical connections ( 11 ) between the contact needles ( 5 ) and the connections ( 12 ) of the test computer ( 2 ) before the coordinates naten-each assigning a free contact needle Connection ( 16 ) to any other, free test computer connection ( 12 ) can be made.

4. A device for carrying out the method according to claim 1, characterized in that it has a contact strip plate ( 13 ) provided with parallel conductor tracks ( 14 ), the strip-wise systematic connection connections to the test computer ( 2 ) that the contact strip plate ( 13 ) before the test of the printed circuit boards in their place and thereby with their conductor tracks ( 14 ) corresponding rows of contact needles ( 5 ) of the needle field ( 4 ) touches electrically conductive and that the contact strip plate ( 13 ) with its conductor tracks ( 14 ) one after the other in two Layers rotated by 90 ° to one another in one plane can be placed on the needle field ( 4 ).

5. Testing device according to claim 4, characterized in that the size of the contact strip plate ( 13 ) corresponds at least to that of the printed circuit boards ( 3 ).

6. Testing device according to claim 4 or 5, characterized in that the width of the conductor tracks ( 14 ) of the contact strip plate ( 13 ) is smaller than the smallest distance between adjacent circuit board connection points and that the conductor tracks ( 14 ) are arranged in the spacing grid provided in each case.

7. Testing device according to one of claims 4 to 6, characterized in that between the conductor tracks ( 14 ) of the contact strip plate ( 13 ), guiding conditions of insulating material to the adjacent conductor tracks are provided, preferably in cross-section approximately triangular webs ( 19 ).

8. Test device according to one of claims 4 to 7, characterized in that the contact strip plate ( 13 ) with guide means for holding it in the correct position is seen in the two approximately orthogonal support or contact positions.